JP2000235701A - Bias current control method of magnetic resistance head, and fixed magnetic recorder and magnetic disk thereof - Google Patents
Bias current control method of magnetic resistance head, and fixed magnetic recorder and magnetic disk thereofInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果を利
用した磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方法と固定磁
気記録装置とその磁気ディスク関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for controlling a bias current of a magnetoresistive head utilizing a magnetoresistance effect, a fixed magnetic recording apparatus, and a magnetic disk thereof.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、固定磁気記録装置(HDD:ハー
ドディスクドライブ)の大半は、年々増加する記録密度
の要求に伴いMR(磁気抵抗)ヘッドを採用している。
MRヘッドとは外部磁界によりその電気抵抗が変化す
る、いわゆる磁気抵抗効果を利用した再生方式である。
このHDDには、MRヘッドと薄膜ヘッドとが一体に複
合されたMR/インダクティブ複合型ヘッドが用いられ
ているものがある。このMR/インダクティブ複合型ヘ
ッドは、薄膜ヘッドを用いてデータの書き込みを行い、
この薄膜ヘッドに隣接して配置されているMRヘッドを
用いてデータの読み出しを行う。従って、MRヘッドは
読み出し専用であるが、薄膜ヘッドに比べて得られる再
生出力が大きく、また再生出力が磁気ディスクの周速に
依存しないため、書き込み用の薄膜ヘッドより読み出す
トラック幅を小さくしておくことで、読み出し時の隣接
トラックからの影響を小さくできる等の特長を有してい
る。このため、現状のHDD用のヘッドとして広く利用
されている。更に今後はMR素子の感度を改善したGM
R(ジャイアント磁気抵抗)ヘッドも実用化されつつあ
る。2. Description of the Related Art In recent years, most of fixed magnetic recording devices (HDDs: hard disk drives) employ MR (magnetoresistive) heads in accordance with the demand for recording density which is increasing year by year.
The MR head is a reproducing method using the so-called magnetoresistance effect, the electric resistance of which is changed by an external magnetic field.
Some HDDs use a combined MR / inductive head in which an MR head and a thin film head are integrally combined. This MR / inductive combined type head writes data using a thin film head,
Data is read using an MR head arranged adjacent to the thin film head. Therefore, although the MR head is read-only, the reproduction output obtained is larger than that of the thin-film head, and since the reproduction output does not depend on the peripheral speed of the magnetic disk, the track width read from the thin-film head for writing is reduced. By doing so, there is an advantage that the influence of adjacent tracks during reading can be reduced. Therefore, it is widely used as a current HDD head. GM with improved sensitivity of MR element
R (giant magnetoresistive) heads are also being put to practical use.
【0003】しかし、MRヘッドはその動作原理からバ
イアス電流を必要とし、このバイアス電流を最適にコン
トロールしないと、再生信号波形が歪んでしまうという
問題がある。これは前記バイアス電流によるバイアス点
のずれによって、再生信号波形の正負どちらか一方が飽
和することによって起きるもので、この場合の再生信号
波形は正負で非対称となってしまう。However, the MR head requires a bias current due to its operation principle, and if the bias current is not controlled optimally, there is a problem that the reproduced signal waveform is distorted. This is caused by either the positive or negative of the reproduced signal waveform being saturated due to the shift of the bias point due to the bias current. In this case, the reproduced signal waveform becomes positive and negative and asymmetric.
【0004】このように、MRヘッドのバイアス電流を
最適にコントロールするためのは、以下の3つの問題を
解決する必要がある。1つ目の問題は、MRヘッドの寸
法ばらつきによるヘッド抵抗値のばらつきである。MR
ヘッドの寸法は益々小さくなりつつあるのが、寸法ばら
つきの許容度は寸法自身のように急速に改善してはいな
い。最近の装置の設計例によると、MRストライプ高に
対するばらつきは+/−33%の変化を許し、最高対最
低の比に関しては、2:1の比がある。更に、MRスト
ライプの幅(電流の方向における長さ)のばらつきは+
/−20%である。MRストライプの厚さの許容度は+
/−10%である。これらが独立した変動と考えられる
場合、その素子の抵抗における全体的な変動は約+/−
40%、又は2.33:1の高低比である。In order to optimally control the bias current of the MR head, it is necessary to solve the following three problems. The first problem is variation in head resistance due to dimensional variation in the MR head. MR
Although head dimensions are becoming smaller and smaller, the tolerance for dimensional variations has not improved as fast as the dimensions themselves. According to recent device design examples, variation with MR stripe height allows a +/- 33% change, with a 2: 1 ratio for the highest to lowest ratio. Further, the variation in the width (length in the direction of current) of the MR stripe is +
/ -20%. MR stripe thickness tolerance is +
/ −10%. If these are considered independent variations, the overall variation in the resistance of the element will be about +/-
A height ratio of 40%, or 2.33: 1.
【0005】複数個(例えば、80個)のMRヘッドの
ヘッド抵抗値を実測してみると、図17に示すように、
ヘッド抵抗値がばらついていることが分かる。横軸はヘ
ッド抵抗値、縦軸は個数を示す。ヘッド抵抗値のばらつ
き分布は設計値を中心とした正規分布となるが、個々の
MRヘッドではそれぞれセンサー部の抵抗値が異なって
いる。When the head resistance values of a plurality (for example, 80) of MR heads are actually measured, as shown in FIG.
It can be seen that the head resistance varies. The horizontal axis indicates the head resistance value, and the vertical axis indicates the number. The variation distribution of the head resistance value is a normal distribution centering on the design value, but the resistance value of the sensor section is different in each MR head.
【0006】寸法上の大きなばらつきに起因する問題
は、単一装置内に種々のヘッドがある場合、電力消費に
おいて大きな相違が生じることに影響を与えることにな
る。更に、電流に対する断面(MRストライプ高x厚
さ)が大きく変化する時、電流密度も連動して変化す
る。製品の寿命は、電流密度の3乗に逆相関している。
通常のバイアス方法はすべてのヘッドに対して一定の直
流電流を使用するので、低いストライプ高及び薄い層厚
にすると、その結果として、高い抵抗及び高い電流密度
が生じる。その結果生じる電力消費は、高く且つ厚いス
トライプとを有したものよりもずっと大きな温度上昇、
即ち発熱を生じさせる。従って、温度及び電流密度は、
ストライプ高の低く且つ薄いMR素子に対して、それの
高く且つ厚い素子に比べて、平均寿命がずっと短い原因
となりうる。[0006] Problems due to large dimensional variations will affect large differences in power consumption when there are various heads in a single device. Furthermore, when the cross section (MR stripe height x thickness) with respect to the current changes significantly, the current density also changes in conjunction with it. Product life is inversely related to the cube of current density.
Since the normal biasing method uses a constant DC current for all heads, low stripe heights and thin layer thicknesses result in high resistance and high current density. The resulting power consumption is much higher than that with high and thick stripes,
That is, heat is generated. Therefore, the temperature and current density are
The average lifetime can be much shorter for low and thin MR elements with low stripe height than for high and thick elements.
【0007】もう1つの考えられることは、抵抗を高く
する要素がすべて信号レベルも高くするということであ
る。従って、最良の信号対雑音比は、最も高い抵抗のヘ
ッドを選択することである。従って、低いストライプ
高、薄い層、及び広い幅のストライプは、良好な信号対
雑音比を生成することが可能となるが、反面、高く、厚
く、幅狭いストライプは、劣った信号対雑音比を生じ
る。従って、一定のバイアス電流は、良好な信号と短い
寿命との間を妥協させるものでなければならない。Another possibility is that any element that increases the resistance will also increase the signal level. Therefore, the best signal-to-noise ratio is to choose the head with the highest resistance. Thus, low stripe heights, thin layers, and wide width stripes can produce good signal-to-noise ratios, while high, thick, narrow stripes have poor signal-to-noise ratios. Occurs. Therefore, a constant bias current must compromise between good signal and short lifetime.
【0008】複数個(例えば、4個)のMRヘッドに対
してそのバイアス電流値を変化させたときの出力の変化
は、図18に示すような波形となり、出力値が最も大き
くなるときのバイアス電流が読み込むときの最適なバイ
アス電流となるので、読み込むときの最適なバイアス電
流特性が個々のヘッドで異なっていることが分かる。2
つ目の問題は、良好な電子的信号対雑音比が前置増幅器
回路の設計に依存するということである。前置増幅器の
設計は、利用可能な前置増幅器回路への電源電圧が低減
したためや、目標とする消費電力量が低減したために、
大きな制限をもっている。現在の設計では、一般的に
は、単一の+5ボルト電源(+/−5%)を有するもの
である。又、ヘッドの抵抗の変動は、ヘッド及びリード
線に起因する電圧降下のために、動作可能なバイアス電
流の値に制限を加える。過剰に大きな電流が高抵抗のヘ
ッドを流れる場合、前置増幅器段は飽和してその信号を
歪ませ、性能の低下を招く可能性を有している。A change in output when a bias current value is changed for a plurality (for example, four) of MR heads has a waveform as shown in FIG. Since the current becomes the optimum bias current at the time of reading, it can be seen that the optimum bias current characteristic at the time of reading differs for each head. 2
The second problem is that a good electronic signal to noise ratio depends on the design of the preamplifier circuit. The preamplifier design was designed to reduce the power supply voltage to the available preamplifier circuit, or to reduce the target power consumption.
Has major restrictions. Current designs typically have a single +5 volt power supply (+/- 5%). Fluctuations in the resistance of the head also limit the operable bias current value due to the voltage drop caused by the head and the leads. If excessively large current flows through the high resistance head, the preamplifier stage may saturate and distort the signal, leading to reduced performance.
【0009】3つ目の問題は、MRヘッド内のリードに
関する抵抗漸増現象(GRIP)である。固定磁気記録
装置の生涯にわたって、MRヘッド抵抗に数オームの増
加が見られた場合、予期した以上に性能に与える影響が
大きくなる。従って、製造時において設計マージンがあ
まりにも少ないものは、その後その製品の生涯において
抵抗が増加する時、前置増幅器の飽和を誘起して大きな
性能損失を生じさせることがある。A third problem is a gradual increase in resistance (GRIP) of the leads in the MR head. If the resistance of the MR head increases by several ohms over the lifetime of the fixed magnetic recording device, the effect on performance will be greater than expected. Thus, too little design margin in manufacturing can induce pre-amplifier saturation when resistance increases over the life of the product, resulting in significant performance loss.
【0010】以上のような3つの問題を解決するため
に、従来のHDDとしては、特開平7−201005号
公報に記載されたものが一般に知られている。このHD
Dは、図19に示すように、複数個(例えば、4個)の
MRヘッド31a〜31dと前置増幅器32とGEM
(Generalized Error Measurement )33とヘッド/デ
ィスク・アセンブリ・コントローラ34とマイクロプロ
セッサ35とで構成されている。このHDDは、製造時
に各ヘッドの最適なバイアス電流値をディスク面に記憶
しておき、電源が投入されると、それらの値をランダム
アクセスメモリに転送し各ヘッド切り替えコマンドの実
行時に前記ランダムアクセスメモリにしてバイアス電流
をアクテイブなMRヘッドに印加してMRヘッドを測定
し、GEM33によってバイアス電流の再最適化と更新
を行い、更新したバイアス電流をMRヘッドに印加する
ものである。In order to solve the above three problems, a conventional HDD disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-201005 is generally known. This HD
D denotes a plurality (for example, four) of MR heads 31a to 31d, a preamplifier 32, and a GEM as shown in FIG.
(Generalized Error Measurement) 33, a head / disk assembly controller 34, and a microprocessor 35. In this HDD, the optimum bias current value of each head is stored on the disk surface at the time of manufacture, and when the power is turned on, these values are transferred to a random access memory, and the random access memory is executed when each head switching command is executed. The bias current is applied to the active MR head as a memory, the MR head is measured, the bias current is reoptimized and updated by the GEM 33, and the updated bias current is applied to the MR head.
【0011】MRヘッドの測定は、図20に示す回路で
実現している。例えば、MRヘッド31aを測定する場
合には、スイッチ36a,37aのみを導通状態に接続
してフィードバック制御回路40からバイアス電流を供
給し、コンデンサ39の電圧を測定した測定値Vcap
と既知のバイアス電流値IbとからMRヘッドのヘッド
抵抗値Rmrを算出する。このMRヘッド抵抗値Rmr
は、次に示す(式1)に基づいて算出する。The measurement of the MR head is realized by the circuit shown in FIG. For example, when measuring the MR head 31a, only the switches 36a and 37a are connected in a conductive state, a bias current is supplied from the feedback control circuit 40, and the measured value Vcap obtained by measuring the voltage of the capacitor 39 is obtained.
And the known bias current value Ib, the head resistance value Rmr of the MR head is calculated. This MR head resistance value Rmr
Is calculated based on the following (Equation 1).
【0012】 Rmr=(Vcap−Vbe)/Ib ・・・・ (式1) 算出したMRヘッドのヘッド抵抗値Rmrに基づいて最
適な電流値を決定する。このように従来のHDDでは、
電源投入毎に、工場出荷時にディスク面に記録したMR
ヘッドのヘッド抵抗値に基づいてバイアス電流値の最適
化を行っている。Rmr = (Vcap−Vbe) / Ib (1) An optimum current value is determined based on the calculated head resistance value Rmr of the MR head. Thus, in the conventional HDD,
MR recorded on the disk surface at factory shipment every time the power is turned on
The bias current value is optimized based on the head resistance value of the head.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の固
定磁気記録装置では、電源投入時に、工場出荷時にディ
スク面に記録したMRヘッドのヘッド抵抗値に基づいて
バイアス電流値の最適化を行うので、MRヘッド特性が
時間の経過とともに時々刻々と変化することに対応でき
ない。よって、MRヘッド抵抗値が変化した場合、工場
出荷時に最適であると判断されたバイアス電流値が生涯
にわたり使われたり、あるいは前回の計測にて最適であ
ると判断されたバイアス電流値が次回の周期的な再最適
化の更新時まで採用されていることになる。このバイア
ス電流値は必ずしも現状のヘッドの最適な値である保証
はなく、ヘッド出力特性が劣化しエラーレートが悪化す
ることがある。一般的にヘッドの寿命は電流密度の3乗
に反比例しているので必要以上のバイアス電流を流すと
平均寿命を縮めることになるという問題がある。However, in the conventional fixed magnetic recording apparatus, when the power is turned on, the bias current value is optimized based on the head resistance value of the MR head recorded on the disk surface at the time of shipment from the factory. It is not possible to cope with the head characteristics changing every moment with the passage of time. Therefore, when the MR head resistance value changes, the bias current value determined to be optimal at the time of shipment from the factory is used for a lifetime, or the bias current value determined to be optimal in the previous measurement is the next bias current value. It will be adopted until the time of periodic reoptimization update. This bias current value is not always guaranteed to be the optimum value of the current head, and the head output characteristics may deteriorate and the error rate may deteriorate. In general, the life of the head is inversely proportional to the cube of the current density. Therefore, if an excessive bias current is supplied, the average life is shortened.
【0014】また、抵抗変化による寿命の判断について
は保証起動回数との比較でしかなく、実際の抵抗変化の
有無を検知することができないので、正確に寿命を判断
できないという問題がある。ところで、磁気ディスクか
ら読み出した信号の処理に、読み出し信号の振幅値を直
接用いるパーシャルレスポンスなどの振幅検出型の再生
方式を用いる固定磁気記録装置が主流になりつつある。
このような固定磁気記録装置でMRヘッドを用いた場
合、MRヘッドによる再生信号が歪んで、本来はベース
ラインを基準にして正負で同一レベルであるはずの波形
の絶対値が異なってしまった場合、検出された再生信号
の振幅巾のアシンメトリが大きくなってしまうという問
題が生じる。この振幅巾の誤差はMRヘッドで読み出し
た再生信号のエラーレートを悪化させ、システム全体の
信頼性を損ねてしまうという不具合を生じる。また、従
来通りのピーク検出型の再生方式を用いた固定磁気記録
装置で、前記MRヘッドを用いた場合に再生信号に同様
の歪みが生じると、再生信号波形のピークにおける微分
値は前記波形が飽和した側で小さくなるため、やはりノ
イズの影響が大きくなり、同様に再生信号のエラーレー
トを悪化させてしまう。Further, the determination of the life based on the resistance change is only a comparison with the guaranteed number of starts, and it is not possible to detect the presence or absence of the actual resistance change, so that there is a problem that the life cannot be accurately determined. Meanwhile, a fixed magnetic recording device using an amplitude detection type reproduction method such as a partial response that directly uses the amplitude value of a read signal for processing a signal read from a magnetic disk is becoming mainstream.
When an MR head is used in such a fixed magnetic recording device, the reproduced signal from the MR head is distorted, and the absolute values of the waveforms that should have the same positive and negative levels with respect to the baseline are different. As a result, the asymmetry of the detected amplitude of the reproduced signal becomes large. This error in the amplitude width causes a problem that the error rate of the reproduction signal read by the MR head is deteriorated and the reliability of the entire system is impaired. Also, in a fixed magnetic recording apparatus using a conventional peak detection type reproducing method, when the same distortion occurs in the reproduced signal when the MR head is used, the differential value at the peak of the reproduced signal waveform is not equal to the waveform. Since it becomes smaller on the saturated side, the influence of noise also increases, and similarly, the error rate of the reproduced signal deteriorates.
【0015】このようにデータ読み出し用にMRヘッド
を用い、且つパーシャルレスポンス等の振幅検出型の再
生方式を採用した固定磁気記録装置では、MRヘッドの
バイアス電流を最適に調整しないと、再生信号のエラー
レートが悪化してしまうという不具合が生じるにも拘ら
ず、MRヘッドのバイアス電流を最適に調整する方法が
確立されていないという欠点があった。尚、MRヘッド
を用い且つ、ピーク検出型の再生方式を採用した固定磁
気記録装置でも、MRヘッドのバイアス電流を最適に調
整しないと、ノイズの影響が大きくなって再生信号のエ
ラーレートが悪化するため、同様の欠点がある。As described above, in a fixed magnetic recording apparatus using an MR head for reading data and employing a reproducing method of an amplitude detection type such as a partial response, unless the bias current of the MR head is adjusted optimally, the reproduction signal cannot be reproduced. Despite the problem that the error rate deteriorates, there has been a drawback that a method for optimally adjusting the bias current of the MR head has not been established. Even in a fixed magnetic recording apparatus using an MR head and employing a peak detection type reproducing method, unless the bias current of the MR head is adjusted optimally, the influence of noise increases and the error rate of the reproduced signal deteriorates. Therefore, there is a similar disadvantage.
【0016】本発明は、MRヘッドのバイアス電流の最
適化を固定磁気記録装置の動作中に適宜実行可能とし、
前記MRヘッドからの再生信号波形の飽和による非対称
歪みを抑え、データ読み出し時のエラーレートを低減す
る磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方法と固定磁気記
録装置とその磁気ディスクを提供することを目的とす
る。According to the present invention, optimization of a bias current of an MR head can be appropriately performed during operation of a fixed magnetic recording apparatus,
An object of the present invention is to provide a bias current control method for a magnetoresistive head, a fixed magnetic recording device, and a magnetic disk for suppressing an asymmetric distortion due to saturation of a reproduction signal waveform from the MR head and reducing an error rate during data reading. .
【0017】[0017]
【課題を解決するための手段】本発明の磁気抵抗ヘッド
のバイアス電流制御方法は、MRヘッドのバイアス電流
を最適化する計測をMRヘッドの動作に応じて固定磁気
記録装置の動作中に適宜実行し、前記MRヘッドのバイ
アス電流値を前記の計測した最適なバイアス電流値に更
新して記憶し、前記MRヘッドに前記の記憶した最適な
バイアス電流を供給し、磁気ディスクに記録されたデー
タを読み取るものである。According to the bias current control method for a magnetoresistive head of the present invention, measurement for optimizing the bias current of an MR head is appropriately performed during the operation of a fixed magnetic recording apparatus in accordance with the operation of the MR head. Then, the bias current value of the MR head is updated and stored to the measured optimum bias current value, the stored optimum bias current is supplied to the MR head, and the data recorded on the magnetic disk is read. To read.
【0018】本発明によると、MRヘッドのバイアス電
流の最適化を固定磁気記録装置の動作中に適宜実行で
き、前記MRヘッドからの再生信号波形の飽和による非
対称歪みを抑え、データ読み出し時のエラーレートを低
減することができる。According to the present invention, the bias current of the MR head can be appropriately optimized during the operation of the fixed magnetic recording apparatus, the asymmetric distortion due to the saturation of the reproduction signal waveform from the MR head can be suppressed, and the error in reading data can be reduced. The rate can be reduced.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、磁気ディスクに記録されたデータを読み取る磁気抵
抗ヘッドに供給するバイアス電流を制御するに際し、前
記磁気抵抗ヘッドが前記磁気ディスクにアクセスする毎
にその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する計
測を実行し、前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前
記の計測した最適なバイアス電流値に更新して記憶し、
前記磁気抵抗ヘッドに前記の記憶した最適なバイアス電
流を供給して前記データを読み取る磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流制御方法としたものであり、磁気抵抗ヘッド
のバイアス電流の最適化を磁気抵抗ヘッドの動作に応じ
て固定磁気記録装置の動作中に適宜実行でき、動作中の
磁気抵抗ヘッド特性が時間の経過とともに時々刻々と変
化する場合であっても最適なバイアス電流を維持するの
ことができ、磁気抵抗ヘッドからの再生信号波形の飽和
による非対称歪みを抑えることができ、データ読み出し
時のエラーレートを低減することができ、磁気抵抗ヘッ
ドに最適なバイアス電流を供給するので、必要以上のバ
イアス電流を流すことを防止でき、過電流によって平均
寿命を縮めることを防止できる。According to the first aspect of the present invention, when controlling a bias current supplied to a magnetoresistive head for reading data recorded on a magnetic disk, the magnetoresistive head is connected to the magnetic disk. Performing a measurement for optimizing the bias current value of the magnetoresistive head each time the access is performed, updating the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value, and storing the updated bias current value.
A bias current control method for a magneto-resistive head for reading the data by supplying the stored optimal bias current to the magneto-resistive head. Can be appropriately performed during the operation of the fixed magnetic recording apparatus, and even if the characteristics of the magnetoresistive head during operation change every moment over time, the optimum bias current can be maintained. Asymmetry distortion due to saturation of the reproduction signal waveform from the resistance head can be suppressed, the error rate at the time of data reading can be reduced, and the optimum bias current is supplied to the magnetoresistive head. Flowing can be prevented, and shortening of the average life due to overcurrent can be prevented.
【0020】本発明の請求項2に記載の発明は、磁気デ
ィスクに記録されたデータを読み取る磁気抵抗ヘッドに
供給するバイアス電流を制御するに際し、前記磁気抵抗
ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流値を最適化する計測を実行し、前記磁気抵抗
ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した最適なバイア
ス電流値に更新して記憶し、前記磁気抵抗ヘッドに前記
の記憶した最適なバイアス電流を供給して前記データを
読み取る磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方法とした
ものであり、前述の本発明の請求項1に記載の磁気抵抗
ヘッドのバイアス電流制御方法と同様の効果を有する。According to a second aspect of the present invention, in controlling a bias current to be supplied to a magnetoresistive head for reading data recorded on a magnetic disk, when the magnetoresistive head enters an operation waiting state, the magnetoresistive head becomes inactive. A measurement for optimizing the bias current value of the head is performed, the bias current value of the magnetoresistive head is updated to the measured optimal bias current value and stored, and the stored optimal current value is stored in the magnetoresistive head. This is a method of controlling a bias current of a magnetoresistive head for reading the data by supplying a bias current, and has the same effect as the method of controlling a bias current of a magnetoresistive head according to the first aspect of the present invention.
【0021】本発明の請求項3に記載の発明は、磁気デ
ィスクにデータを記録しそのデータを磁気抵抗ヘッドで
読み取る固定磁気記録装置において、前記磁気抵抗ヘッ
ドが前記磁気ディスクにアクセスする毎にその磁気抵抗
ヘッドのバイアス電流値を最適化する計測を実行する最
適化計測手段と、前記最適化計測手段を制御し、前記磁
気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した最適な
バイアス電流値に更新して記憶し、前記の更新記憶した
最適なバイアス電流を前記磁気抵抗ヘッドに供給する指
示を出力する処理手段とを設けた固定磁気記録装置とし
たものであり、本発明の請求項1に記載の磁気抵抗ヘッ
ドのバイアス電流制御方法を実現することができる。According to a third aspect of the present invention, in a fixed magnetic recording apparatus for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, each time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk, An optimization measuring means for performing a measurement for optimizing a bias current value of the magnetoresistive head, and controlling the optimization measuring means to update the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value. 2. A fixed magnetic recording apparatus according to claim 1, further comprising processing means for outputting an instruction to supply said optimum bias current updated and stored to said magnetoresistive head. The bias current control method for the magnetoresistive head described above can be realized.
【0022】本発明の請求項4に記載の発明は、磁気デ
ィスクにデータを記録しそのデータを磁気抵抗ヘッドで
読み取る固定磁気記録装置において、前記磁気抵抗ヘッ
ドが動作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドのバイア
ス電流値を最適化する計測を実行する最適化計測手段
と、前記最適化計測手段を制御し、前記磁気抵抗ヘッド
のバイアス電流値を前記の計測した最適なバイアス電流
値に更新して記憶し、前記の更新記憶した最適なバイア
ス電流を前記磁気抵抗ヘッドに供給する指示を出力する
処理手段とを設けた固定磁気記録装置としたものであ
り、本発明の請求項2に記載の磁気抵抗ヘッドのバイア
ス電流制御方法を実現することができる。According to a fourth aspect of the present invention, in a fixed magnetic recording apparatus for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, when the magnetoresistive head is in an operation waiting state, the magnetoresistive head is not required. Controlling the optimization measuring means for executing the measurement for optimizing the bias current value of the magnetic head, and updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimum bias current value. And a processing unit for outputting an instruction to supply the updated and stored optimum bias current to the magnetoresistive head. 3. The magnetoresistive device according to claim 2, wherein It is possible to realize a head bias current control method.
【0023】本発明の請求項5に記載の発明は、固定磁
気記録装置を制御する中央処理演算部を動作させるため
の制御ルーチンを記録した磁気ディスクであって、前記
制御ルーチンを、磁気抵抗ヘッドが磁気ディスクにアク
セスする毎にその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値の最
適化を図る第1のステップと、前記磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流値を前記の計測した最適なバイアス電流値に
更新して記憶する第2のステップと、前記磁気抵抗ヘッ
ドに前記の更新記憶した最適なバイアス電流を供給する
第3のステップとで構成し、この制御ルーチンを記録し
た磁気ディスクとしたものであり、磁気ディスクに記録
された制御ルーチンを実行することで磁気抵抗ヘッドの
バイアス電流値の最適化を実行することができる。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a magnetic disk on which a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording apparatus is recorded, wherein the control routine comprises a magnetoresistive head. A first step of optimizing the bias current value of the magnetoresistive head each time the user accesses the magnetic disk, and updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimum bias current value And a third step of supplying the updated and stored optimum bias current to the magnetoresistive head. The control routine is recorded on a magnetic disk. By executing the recorded control routine, the bias current value of the magnetoresistive head can be optimized.
【0024】本発明の請求項6に記載の発明は、第1の
ステップを、磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとそ
の磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値の最適化を図るよう
構成した請求項5記載の磁気ディスクとしたものであ
り、前述の本発明の請求項5に記載の磁気ディスクと同
様の効果を有する。本発明の請求項7に記載の発明は、
磁気ディスクにデータを記録しそのデータを磁気抵抗ヘ
ッドで読み取る固定磁気記録装置において、前記磁気抵
抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性を記憶する記憶手段
と、前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁
気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する計測手段と、前
記の計測したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出する演
算手段とを設けた固定磁気記録装置としたものであり、
温度センサを別途設けることなく、磁気抵抗ヘッドを温
度センサとして用いることができ、温度を監視すること
ができる。According to a sixth aspect of the present invention, in the first step, the bias current value of the magnetoresistive head is optimized when the magnetoresistive head enters an operation waiting state. And has the same effect as the magnetic disk according to claim 5 of the present invention. The invention according to claim 7 of the present invention provides
In a fixed magnetic recording device for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, a storage means for storing a temperature characteristic of a head resistance value of the magnetoresistive head; A fixed magnetic recording apparatus provided with a measuring means for measuring a head resistance value of the magnetoresistive head, and an arithmetic means for calculating a temperature based on the measured head resistance value,
The magnetoresistive head can be used as a temperature sensor without separately providing a temperature sensor, and the temperature can be monitored.
【0025】本発明の請求項8に記載の発明は、固定磁
気記録装置を制御する中央処理演算部を動作させるため
の制御ルーチンを記録した磁気ディスクであって、前記
制御ルーチンを、磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度
特性を記憶する第1のステップと、前記磁気抵抗ヘッド
が動作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドのヘッド抵
抗値を計測する第2のステップと、前記の計測したヘッ
ド抵抗値に基づいて温度を算出する第3のステップとで
構成し、この制御ルーチンを記録した磁気ディスクとし
たものであり、磁気ディスクに記録された制御ルーチン
を実行することで磁気抵抗ヘッドを温度センサとして用
いることができる。According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a magnetic disk recording a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording apparatus, wherein the control routine includes a magnetoresistive head. A first step of storing a temperature characteristic of the head resistance value of the head, a second step of measuring a head resistance value of the magnetoresistive head when the head is in an operation waiting state, and a head resistance value measured as described above. And a third step of calculating the temperature based on the magnetic disk. The control routine is recorded on the magnetic disk. By executing the control routine recorded on the magnetic disk, the magnetoresistive head is used as a temperature sensor. Can be used.
【0026】本発明の請求項9に記載の発明は、磁気デ
ィスクに記録したデータを読み取る磁気抵抗ヘッドを複
数有する固定磁気記録装置において、前記の複数の磁気
抵抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性をそれぞれ記憶す
る記憶手段と、前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態にな
るとその磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する計測
手段と、前記の計測した複数の磁気抵抗ヘッドのヘッド
抵抗値と前記温度特性とに基づいて温度を算出し、前記
の算出した温度に基づいて磁気抵抗ヘッドの特性劣化の
度合いを予測する予測手段とを設けた固定磁気記録装置
としたものであり、磁気抵抗ヘッドの経年変化を監視す
ることができ、本固定磁気記録装置の寿命を予測するこ
とができる。According to a ninth aspect of the present invention, in a fixed magnetic recording apparatus having a plurality of magnetoresistive heads for reading data recorded on a magnetic disk, the temperature characteristics of the head resistance values of the plurality of magnetoresistive heads are determined. A storage means for storing each; a measuring means for measuring a head resistance value of the magnetoresistive head when the magnetoresistive head is in an operation waiting state; a head resistance value of the plurality of measured magnetoresistive heads and the temperature characteristic; And a predicting means for predicting the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head based on the calculated temperature. Monitoring can be performed, and the life of the fixed magnetic recording device can be predicted.
【0027】本発明の請求項10に記載の発明は、予測
手段からの磁気抵抗ヘッドの特性劣化の度合いを警告す
る警告手段を設けた請求項9記載の固定磁気記録装置と
したものであり、ユーザに警告を発することができる。
本発明の請求項11に記載の発明は、磁気ディスクにデ
ータを記録しそのデータを磁気抵抗ヘッドで読み取る固
定磁気記録装置において、前記磁気ディスクの特定の位
置に突起物を設け、前記磁気抵抗ヘッドが前記突起物上
を通過するときの出力変動量に基づいて前記磁気抵抗ヘ
ッドの浮上量の変動を監視する監視手段を設けた固定磁
気記録装置としたものであり、磁気抵抗ヘッドの浮上量
の変動を監視することができ、クラッシュを未然に防止
することができる。According to a tenth aspect of the present invention, there is provided the fixed magnetic recording apparatus according to the ninth aspect, further comprising warning means for warning the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head from the predicting means. A warning can be issued to the user.
The invention according to claim 11, wherein in the fixed magnetic recording device for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, a protrusion is provided at a specific position on the magnetic disk. Is a fixed magnetic recording apparatus provided with monitoring means for monitoring the fluctuation of the flying height of the magnetoresistive head based on the amount of output fluctuation when passing over the protrusion. Fluctuations can be monitored and crashes can be prevented.
【0028】本発明の請求項12に記載の発明は、出力
変動量が閾値を超えると警告する警告手段を設けた請求
項11記載の固定磁気記録装置としたものであり、ユー
ザにクラッシュの危険性があることを警告することがで
きる。本発明の請求項13に記載の発明は、固定磁気記
録装置を制御する中央処理演算部を動作させるための制
御ルーチンを記録した磁気ディスクであって、前記制御
ルーチンを、前記磁気抵抗ヘッドの突起物上を通過する
ときの出力変動量を計測し記憶する第1のステップと、
前記の記憶した出力変動量が閾値を超えているかどうか
を判定する第2のステップと、前記の閾値を超えると警
告をする第3のステップとで構成し、この制御ルーチン
を記録した磁気ディスクとしたものであり、磁気ディス
クに記録された制御ルーチンを実行することで磁気抵抗
ヘッドの浮上量の変動を監視することができる。According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided the fixed magnetic recording apparatus according to the eleventh aspect, further comprising a warning unit that warns when the amount of output fluctuation exceeds a threshold value. Can be warned. According to a thirteenth aspect of the present invention, there is provided a magnetic disk on which a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording apparatus is recorded, wherein the control routine includes a projection of the magnetoresistive head. A first step of measuring and storing an output fluctuation amount when passing over an object;
A magnetic disk on which this control routine is recorded, comprising a second step of determining whether or not the stored output fluctuation amount exceeds a threshold value, and a third step of issuing a warning when the stored output fluctuation amount exceeds the threshold value; By executing the control routine recorded on the magnetic disk, the fluctuation of the flying height of the magnetoresistive head can be monitored.
【0029】本発明の請求項14に記載の発明は、第1
のステップを、磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になると
その磁気抵抗ヘッドの突起物上を通過するときの出力変
動量を計測し記憶するよう構成した請求項13記載の磁
気ディスクとしたものであり、前述の本発明の請求項1
3に記載の磁気ディスクと同様の効果を有する。以下、
本発明の磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方法と固定
磁気記録装置とその磁気ディスクを具体的な実施の形態
に基づいて説明する。According to a fourteenth aspect of the present invention, the first
14. The magnetic disk according to claim 13, wherein, when the magnetoresistive head is in an operation waiting state, the amount of output fluctuation when passing over a protrusion of the magnetoresistive head is measured and stored, Claim 1 of the present invention described above.
3 has the same effect as the magnetic disk described in No. 3. Less than,
A bias current control method for a magnetoresistive head, a fixed magnetic recording device, and a magnetic disk thereof according to the present invention will be described based on specific embodiments.
【0030】(実施の形態1)本発明の実施の形態1の
固定磁気記録装置は、図1に示すように、ヘッド構成部
1のMR(磁気抵抗)ヘッドが磁気ディスク2にアクセ
スする毎にそのMRヘッドのバイアス電流値を最適化す
る計測を実行する最適化計測手段10と、最適化計測手
段10を制御し、MRヘッドのバイアス電流値を前記の
計測した最適なバイアス電流値に更新して記憶し、前記
の更新記憶した最適なバイアス電流をMRヘッドに供給
する指示を出力する処理手段としてのマイクロコンピュ
ータ8とを設けたものである。(Embodiment 1) In a fixed magnetic recording apparatus according to Embodiment 1 of the present invention, as shown in FIG. 1, each time an MR (magnetic resistance) head of a head component 1 accesses a magnetic disk 2, The optimization measuring means 10 for executing the measurement for optimizing the bias current value of the MR head, and the optimization measuring means 10 are controlled, and the bias current value of the MR head is updated to the measured optimum bias current value. And a microcomputer 8 as processing means for outputting an instruction to supply the updated bias-optimized bias current to the MR head.
【0031】最適化計測手段10は、磁気ディスク2と
前置増幅器3とデータチャンネル4とGEM5とハード
ディスクコントローラ6とバッファ7とで構成されてい
る。磁気ディスク2には、図2に示すように、通常、内
周から外周までに複数本の円周状のトラックを有してお
り、各トラックには複数のサーボ領域Aとデータ領域B
とが形成されており、MRヘッドがデータ領域Bにアク
セスしてデータの読み取りまたは書き込みを行う場合に
は、必ずサーボ領域Aに書き込まれている位置情報を読
み出して確認した後に所望の場所にアクセスするため、
本実施の形態1の磁気ディスク2には、全てのサーボ領
域Aの直後に計測パターン領域C(サーボ領域Aとデー
タ領域Bの最初のデータである第1のデータとの間の領
域)を設け、この計測パターン領域Cにバイアス電流値
の最適化を図るための信号対雑音比を計測する計測パタ
ーンを形成している。どのデータ領域Bにアクセスする
場合でも、必ず、データ領域Bのデータを読み出すまた
は書き込む前にこの計測パターン領域Cにアクセスして
計測パターンを通過することになる。図3に示すよう
に、どのトラックにおいても同一の計測パターンが複数
形成されている。この計測パターン領域Cには、図4に
示すように、工場出荷時に一定の周期性を持つ信号が書
き込まれて記録されている。この一定の周期性を持つ信
号は、1〜127T(Tは、MRヘッドの性能で決定さ
れる時間であり、例えば5nsとする。)を一周期とす
るパターンでプリコードデータと示した信号である。The optimization measuring means 10 comprises a magnetic disk 2, a preamplifier 3, a data channel 4, a GEM 5, a hard disk controller 6, and a buffer 7. As shown in FIG. 2, the magnetic disk 2 usually has a plurality of circumferential tracks from the inner circumference to the outer circumference, and each track has a plurality of servo areas A and data areas B.
When reading or writing data by accessing the data area B by the MR head, be sure to read and confirm the position information written in the servo area A and then access the desired location. To do
In the magnetic disk 2 of the first embodiment, a measurement pattern area C (an area between the servo area A and the first data which is the first data of the data area B) is provided immediately after all the servo areas A. In the measurement pattern area C, a measurement pattern for measuring a signal-to-noise ratio for optimizing a bias current value is formed. Regardless of which data area B is accessed, the measurement pattern area C is always accessed and passed through the measurement pattern before the data in the data area B is read or written. As shown in FIG. 3, a plurality of identical measurement patterns are formed on any track. As shown in FIG. 4, a signal having a certain periodicity is written and recorded in the measurement pattern area C at the time of shipment from the factory. The signal having the constant periodicity is a signal indicated as precode data in a pattern having one cycle of 1 to 127 T (T is a time determined by the performance of the MR head, for example, 5 ns). is there.
【0032】ヘッド構造部1は、MRヘッドを有してお
り、前置増幅器3に通じる線にそれぞれ接続されてい
る。前置増幅器3の出力は、データチャンネル4に供給
される。アドレスされたMRヘッドは、図20に示した
それぞれのスイッチが設定されることによってバイアス
電流源(図示せず)に接続される。GEM5は、汎用誤
差測定機能を有し信号対雑音比の測定を実行するもので
あり、従来のディジタルオシロスコープ及びロジックア
ナライザのような計測テストシステムデータ記憶装置及
び回復システムを接続することによって実現されていた
テストシステムを、オンボードにて本固定磁気記録装置
自身で実行できるように設計されている。The head structure 1 has an MR head and is connected to a line leading to the preamplifier 3. The output of the preamplifier 3 is supplied to a data channel 4. The addressed MR head is connected to a bias current source (not shown) by setting the respective switches shown in FIG. The GEM 5 has a general-purpose error measurement function and performs measurement of a signal-to-noise ratio, and is realized by connecting a measurement test system data storage device such as a conventional digital oscilloscope and a logic analyzer and a recovery system. The test system is designed so that it can be executed on-board by the fixed magnetic recording apparatus itself.
【0033】バッファ7には、工場出荷時の各MRヘッ
ドの最適なバイアス電流値と、図4に示した1〜127
Tを一周期とするプリコードデータをサンプリングして
規格化した理想的な信号波形とを、予め格納している。
ここで、この固定磁気記録装置において、MRヘッドの
バイアス電流値を最適なバイアス電流値に更新する動作
について説明する。The buffer 7 stores the optimum bias current value of each MR head at the time of shipment from the factory, and 1 to 127 shown in FIG.
An ideal signal waveform obtained by sampling the precode data having T as one cycle and standardizing the sampled data is stored in advance.
Here, an operation of updating the bias current value of the MR head to the optimum bias current value in the fixed magnetic recording device will be described.
【0034】ハードディスクコントローラ6は、磁気デ
ィスク2にアクセスする指示をマイクロコンピュータ8
から受けると、高速回転する磁気ディスク2の所望の位
置にアクセスするようMRヘッドを有するヘッド構造部
1を制御する。MRヘッドが磁気ディスク2の所望のサ
ーボ領域Aにアクセスした後に計測パターン領域Cにア
クセスすると、MRヘッドにバイアス電流を供給する電
流源(図示せず)を例えば7mAにしてMRヘッドに供
給して、GEM5によって、計測パターンを読み出した
図5に示すような実際の再生波形と、バッファ7に格納
されている規格化した理想的な信号波形とのレベル差を
一周期分(1〜127T)比較分析して信号対雑音比を
算出する。次に、前記電流源を8mAにして前述と同様
に信号対雑音比を算出する。このように前記電流源を1
1mAとなるまで、前述と同様に信号対雑音比を算出す
る。バイアス電流の変化に対する信号対雑音比の変化
は、図6に示すように、ピークを有する波形となる。The hard disk controller 6 issues an instruction to access the magnetic disk 2 to the microcomputer 8
, The head structure 1 having the MR head is controlled so as to access a desired position of the magnetic disk 2 rotating at a high speed. When the MR head accesses the desired servo area A of the magnetic disk 2 and then accesses the measurement pattern area C, a current source (not shown) for supplying a bias current to the MR head is set to, for example, 7 mA and supplied to the MR head. , GEM5, and compares the level difference between the actual reproduced waveform as shown in FIG. 5 from which the measurement pattern is read out and the standardized ideal signal waveform stored in the buffer 7 for one cycle (1 to 127T). Analyze to calculate the signal-to-noise ratio. Next, the signal-to-noise ratio is calculated in the same manner as described above with the current source set to 8 mA. Thus, the current source is set to 1
The signal-to-noise ratio is calculated in the same manner as described above until the current reaches 1 mA. The change in the signal-to-noise ratio with respect to the change in the bias current has a waveform having a peak as shown in FIG.
【0035】具体的に、実際に測定した各バイアス電流
値に対する信号対雑音比が、前記電流源7mA時の信号
対雑音比25dB、前記電流源8mA時の信号対雑音比
26dB、前記電流源9mA時の信号対雑音比26.8
dB、前記電流源10mA時の信号対雑音比27dB、
前記電流源11mA時の信号対雑音比26.9dBでで
ありその波形がaであるとすると、信号対雑音比が最も
大きい時のバイアス電流値が最適なバイアス電流値であ
ることから、マイクロコンピュータ8は10mAを最適
なバイアス電流値であると判定する。Specifically, the signal-to-noise ratio for each actually measured bias current value is 25 dB when the current source is 7 mA, 26 dB when the current source is 8 mA, and 9 mA when the current source is 8 mA. Signal-to-noise ratio of 26.8
dB, signal-to-noise ratio 27 dB at the time of the current source 10 mA,
Assuming that the signal-to-noise ratio at the time of the current source 11 mA is 26.9 dB and the waveform is a, the bias current value when the signal-to-noise ratio is the largest is the optimum bias current value. 8 judges that 10 mA is the optimum bias current value.
【0036】なお、このMRヘッドではバイアス電流を
7mA〜11mAの範囲で計測しているが、バッファ7
には、このMRヘッドの工場出荷時の最適なバイアス電
流、または、少なくとも以前に計測を行っている場合は
前回の計測時の最適なバイアス電流を格納しており、こ
こではバッファ7に最適なバイアス電流値を9mAであ
るとして格納しているので、9mAを中心に例えば±2
mAの範囲内で実際の再生波形を計測している。In this MR head, the bias current is measured in the range of 7 mA to 11 mA.
Stores the optimum bias current of the MR head at the time of shipment from the factory, or at least the optimum bias current of the previous measurement if measurement has been performed before. Since the bias current value is stored as 9 mA, for example, ± 2 around 9 mA
The actual reproduced waveform is measured within the range of mA.
【0037】マイクロコンピュータ8は、バッファ7に
格納されている最適とされるバイアス電流値(9mA)
を新たな最適なバイアス電流値(10mA)に更新記録
するよう指示する。マイクロコンピュータ8は、更新記
録した新たな最適なバイアス電流値(10mA)をMR
ヘッドに供給するよう指示する。The microcomputer 8 calculates the optimum bias current value (9 mA) stored in the buffer 7.
Is updated to a new optimum bias current value (10 mA). The microcomputer 8 updates the new optimum bias current value (10 mA) that has been updated and recorded with the MR.
Instruct the head to supply.
【0038】このように構成したため、MRヘッドのバ
イアス電流の最適化をMRヘッドの動作に応じて固定磁
気記録装置の動作中に適宜実行でき、動作中のMRヘッ
ド特性が時間の経過とともに時々刻々と変化する場合で
あっても最適なバイアス電流を維持するのことができ、
MRヘッドからの再生信号波形の飽和による非対称歪み
を抑えることができ、データ読み出し時のエラーレート
を低減することができ、MRヘッドに最適なバイアス電
流を供給するので、必要以上のバイアス電流を流すこと
を防止でき、過電流によって平均寿命を縮めることを防
止できる。With such a configuration, the bias current of the MR head can be optimized during the operation of the fixed magnetic recording apparatus in accordance with the operation of the MR head, and the characteristics of the MR head during the operation can be changed with time. Even if it changes, the optimal bias current can be maintained,
Asymmetry distortion due to saturation of the reproduction signal waveform from the MR head can be suppressed, the error rate at the time of data reading can be reduced, and an optimum bias current is supplied to the MR head. This can prevent the average life from being shortened by the overcurrent.
【0039】この実施の形態1では、マイクロコンピュ
ータ8には固定磁気記録装置を制御するよう動作させる
ための制御ルーチンを設けているが、MRヘッドが磁気
ディスク2にアクセスする毎にそのMRヘッドのバイア
ス電流値の最適化を図る第1のステップと、前記MRヘ
ッドのバイアス電流値を前記の計測した最適なバイアス
電流値に更新して記憶する第2のステップと、前記MR
ヘッドに前記の更新記憶した最適なバイアス電流を供給
する第3のステップとで構成した制御ルーチンを、磁気
ディスク2のプログラムを格納するためのディスクウエ
ア(DISKWARE)に記録した場合やバッファ7に記録した
場合であっても、同様の効果を有する。In the first embodiment, the microcomputer 8 is provided with a control routine for operating the fixed magnetic recording apparatus so as to control the fixed magnetic recording apparatus. A first step of optimizing a bias current value; a second step of updating and storing the bias current value of the MR head to the measured optimum bias current value; and
The control routine consisting of the third step of supplying the updated and stored optimal bias current to the head is recorded in diskware (DISKWARE) for storing the program of the magnetic disk 2 or recorded in the buffer 7. Even if it does, the same effect is obtained.
【0040】(実施の形態2)本発明の実施の形態2の
固定磁気記録装置は、図7に示すように、前述の実施の
形態1の最適化計測手段10に替えて、MR(磁気抵
抗)ヘッドが動作待ち状態になるとそのMRヘッドのバ
イアス電流値を最適化する計測を実行する最適化計測手
段11を設け、磁気ディスク12には前述の実施の形態
1の計測パターン領域Cを形成せず計測パターンも有さ
ないようにしたものである。(Embodiment 2) As shown in FIG. 7, a fixed magnetic recording apparatus according to Embodiment 2 of the present invention replaces the optimized measuring means 10 of Embodiment 1 with an MR (magnetic resistance). When the head is in the operation waiting state, an optimization measuring means 11 for executing a measurement for optimizing a bias current value of the MR head is provided, and the measurement pattern area C of the first embodiment is formed on the magnetic disk 12. No measurement pattern is provided.
【0041】この最適化計測手段11は、複数(例え
ば、2個)の前置増幅器3a,3bとデータチャンネル
4とGEM13とハードディスクコントローラ14とバ
ッファ15とで構成されている。MRヘッドを有するヘ
ッド構造部1a,1bは、何れの前置増幅器3a,3b
にも接続可能なように構成されている。前置増幅器3
a,3bの出力は、データチャンネル4に供給される。
アドレスされたMRヘッドは、図20に示したそれぞれ
のスイッチが設定されることによってバイアス電流を供
給する電流源(図示せず)に接続される。The optimization measuring means 11 comprises a plurality (for example, two) of preamplifiers 3a and 3b, a data channel 4, a GEM 13, a hard disk controller 14, and a buffer 15. The head structures 1a and 1b having the MR head are provided with any of the preamplifiers 3a and 3b.
It is configured so that it can also be connected. Preamplifier 3
The outputs of a and 3b are supplied to data channel 4.
The addressed MR head is connected to a current source (not shown) for supplying a bias current by setting the respective switches shown in FIG.
【0042】GEM13は、汎用誤差測定機能を有しM
Rヘッド抵抗値Rmrの測定を実行するものであり、従
来のディジタルオシロスコープ及びロジックアナライザ
のような計測テストシステムデータ記憶装置及び回復シ
ステムを接続することによって実現されていたテストシ
ステムを、オンボードにて本固定磁気記録装置自身で実
行できるように設計されている。The GEM 13 has a general-purpose error measurement function.
A test system for measuring the R head resistance value Rmr, which is realized by connecting a measurement test system data storage device and a recovery system such as a conventional digital oscilloscope and a logic analyzer, to an on-board test system It is designed so that it can be executed by the fixed magnetic recording device itself.
【0043】バッファ15には、工場出荷時の各MRヘ
ッドの最適なバイアス電流値を予め格納している。MR
ヘッドの最適なバイアス電流は、例えば、MRヘッド抵
抗の関数としてセットされている。ここで、この固定磁
気記録装置において、MRヘッドのバイアス電流値を最
適なバイアス電流値に更新する動作について説明する。The buffer 15 previously stores the optimum bias current value of each MR head at the time of shipment from the factory. MR
The optimal bias current for the head is set, for example, as a function of the MR head resistance. Here, an operation of updating the bias current value of the MR head to the optimum bias current value in the fixed magnetic recording device will be described.
【0044】通常データをヘッド構造部1aから前置増
幅器3aを通じて行っていて、ヘッド構造部1bが動作
待ち状態になると、ハードディスクコントローラ14
は、マイクロコンピュータ8からの指示を受けて前置増
幅器3bをヘッド構造部1bに接続するよう制御する。
MRヘッドの測定は、ヘッド構造部1a,1bの近傍に
配置された前置増幅器3a,3bのBHV(Buffered H
ead Voltage Monitor )端子にて、ヘッド間の電圧値V
mrを検出する。Normal data is transmitted from the head structure section 1a through the preamplifier 3a, and when the head structure section 1b is in an operation waiting state, the hard disk controller 14
Controls the preamplifier 3b to be connected to the head structure 1b in response to an instruction from the microcomputer 8.
The measurement of the MR head is performed by using a BHV (Buffered H) of the preamplifiers 3a and 3b arranged near the head structures 1a and 1b.
ead Voltage Monitor) terminal, the voltage value between heads V
Mr is detected.
【0045】ハードディスクコントローラ14では、次
に示す(式2)に基づいてMRヘッド抵抗値Rmrを算
出する。ただし、MRヘッドに供給される前記電流源か
らの電流値Ibは固定電流値で既知である。 Rmr=Vmr/Ib ・・・・ (式2) ハードディスクコントローラ14では、MRヘッドのヘ
ッド抵抗値Rmrに応じた最適なバイアス電流値Ibを
統計的に求めた図8に示す対応特性に従って、最適なバ
イアス電流値Ibを決定する。BHV端子からの信号は
アナログ出力であり、ハードディスクコントローラ14
でアナログ信号をデジタル信号に変換する。The hard disk controller 14 calculates the MR head resistance value Rmr based on the following (Equation 2). However, the current value Ib from the current source supplied to the MR head is known as a fixed current value. Rmr = Vmr / Ib (Equation 2) In the hard disk controller 14, the optimum bias current value Ib corresponding to the head resistance value Rmr of the MR head is statistically determined and the optimum bias current value Ib is determined according to the corresponding characteristic shown in FIG. The bias current value Ib is determined. The signal from the BHV terminal is an analog output.
Converts an analog signal into a digital signal.
【0046】具体的には、前記電流源からの電流値Iを
9mAに設定していてBHV端子で検出した電圧値Vm
rが0.3Vであったとすると、MRヘッドのヘッド抵
抗値Rmrは前述の(式2)に基づいて約33.3Ωで
あると算出し、MRヘッドのヘッド抵抗値Rmr(約3
3.3Ω)が30〜35Ωの範囲内であるので、図8に
示す対応特性に従って最適なバイアス電流値Ibを9.
5mAに決定する。この最適なバイアス電流値(9.5
mA)は、例えば、4ビットのシリアルデータ(001
0)としてバッファ15に格納される。Specifically, the current value I from the current source is set to 9 mA, and the voltage value Vm detected at the BHV terminal is Vm.
Assuming that r is 0.3 V, the head resistance value Rmr of the MR head is calculated to be about 33.3 Ω based on (Equation 2) described above, and the head resistance value Rmr of the MR head (about 3
3.3 Ω) is within the range of 30 to 35 Ω, so that the optimum bias current value Ib is set to 9.9 according to the corresponding characteristics shown in FIG.
Determine 5 mA. This optimum bias current value (9.5
mA) is, for example, 4-bit serial data (001).
0) is stored in the buffer 15.
【0047】ヘッド構造部1bには、4ビットのシリア
ルデータ(0010)が送られてセットされ、通常の動
作状態には最適なバイアス電流値(9.5mA)がMR
ヘッドに供給される。ヘッド構造部1bが通常の動作状
態になり、ヘッド構造部1aが動作待ち状態になると、
ハードディスクコントローラ14は、マイクロコンピュ
ータ8からの指示を受けて前置増幅器3bをヘッド構造
部1bに接続するよう制御し、前述と同様にヘッド構造
部1aのMRヘッドのバイアス電流の最適化を実行す
る。In the head structure 1b, 4-bit serial data (0010) is sent and set, and in a normal operation state, an optimum bias current value (9.5 mA) is set to MR.
Supplied to the head. When the head structure 1b enters a normal operation state and the head structure 1a enters an operation waiting state,
The hard disk controller 14 controls to connect the preamplifier 3b to the head structure 1b in response to an instruction from the microcomputer 8, and optimizes the bias current of the MR head of the head structure 1a as described above. .
【0048】なお、現行の固定磁気記録装置においてシ
ステム側は論理的にセクタを管理し、セクタ毎に読み書
きをする。しかしながら物理的にどのMRヘッドをどの
セクタにアクセスさせるかはドライブ側の設計により決
められるのでユーザー側はこれに注意する必要はない。
現状ではトラックシークに要する時間よりもヘッドスイ
ッチングに要する時間の方が短いものが多く、このた
め、あるセクタに書き込んだ後、次のセクタに移る場合
ヘッドスイッチングを優先させることが多い。即ち、頻
繁にMRヘッドの切り替えが行われているわけである。In the current fixed magnetic recording apparatus, the system logically manages sectors, and performs reading and writing for each sector. However, it is not necessary for the user to pay attention to which MR head is physically accessed to which sector, depending on the design of the drive.
At present, the time required for head switching is shorter than the time required for track seek in many cases. Therefore, when writing to one sector and then moving to the next sector, head switching is often given priority. That is, the switching of the MR head is frequently performed.
【0049】このように構成したため、MRヘッドのバ
イアス電流の最適化をMRヘッドの動作待ち状態に実行
でき、動作中のMRヘッド特性が時間の経過とともに時
々刻々と変化する場合であっても最適なバイアス電流を
維持するのことができ、MRヘッドからの再生信号波形
の飽和による非対称歪みを抑えることができ、データ読
み出し時のエラーレートを低減することができ、MRヘ
ッドに最適なバイアス電流を供給するので、必要以上の
バイアス電流を流すことを防止でき、過電流によって平
均寿命を縮めることを防止できる。With this configuration, the bias current of the MR head can be optimized while the MR head is in an operation waiting state, and the bias current can be optimized even when the MR head characteristics during operation change every moment with time. Bias current can be maintained, the asymmetric distortion due to the saturation of the reproduction signal waveform from the MR head can be suppressed, the error rate at the time of data reading can be reduced, and the optimum bias current for the MR head can be reduced. Since the supply is performed, it is possible to prevent the bias current from flowing more than necessary, and to prevent the average life from being shortened by the overcurrent.
【0050】また、磁気ディスク12には、前述の実施
の形態1のような計測パターンを形成するための計測パ
ターン領域Cを不必要にすることができる。この実施の
形態2では、マイクロコンピュータ8には固定磁気記録
装置を制御するよう動作させるための制御ルーチンを設
けているが、MRヘッドが動作待ち状態になるとそのM
Rヘッドのバイアス電流値の最適化を図る第1のステッ
プと、前記MRヘッドのバイアス電流値を前記の計測し
た最適なバイアス電流値に更新して記憶する第2のステ
ップと、前記MRヘッドに前記の更新記憶した最適なバ
イアス電流を供給する第3のステップとで構成した制御
ルーチンを、磁気ディスク12のプログラムを格納する
ためのディスクウエア(DISKWARE)に記録した場合やバ
ッファ15に記録した場合であっても、同様の効果を有
する。Further, the measurement pattern area C for forming the measurement pattern as in the first embodiment can be made unnecessary on the magnetic disk 12. In the second embodiment, the microcomputer 8 is provided with a control routine for operating the fixed magnetic recording apparatus so as to control the fixed magnetic recording apparatus.
A first step of optimizing the bias current value of the R head, a second step of updating and storing the bias current value of the MR head to the measured optimum bias current value, and A case where the control routine constituted by the third step of supplying the updated and stored optimum bias current is recorded in diskware (DISKWARE) for storing the program of the magnetic disk 12 or in a case where the control routine is recorded in the buffer 15 Has the same effect.
【0051】この実施の形態2では、前置増幅器を複数
設けているが、前置増幅器を単数とする場合であって
も、何れのMRヘッドも磁気ディスク12にアクセスし
ない動作待ち状態において、MRヘッドのヘッド抵抗値
を計測し最適なバイアス電流値を設定することができ
る。 (実施の形態3)本発明の実施の形態3の固定磁気記録
装置は、図9に示すように、前述の実施の形態2のバッ
ファ15を、MRヘッドのヘッド抵抗値の温度特性も記
憶するバッファ16とし、前述の実施の形態2のマイク
ロコンピュータ8を、計測したヘッド抵抗値に基づいて
温度を算出する演算機能も追加したマイクロコンピュー
タ17としたものである。In the second embodiment, a plurality of preamplifiers are provided. However, even when the preamplifier is singular, the MR head does not access the magnetic disk 12 in an operation waiting state. The optimum bias current value can be set by measuring the head resistance value of the head. (Embodiment 3) In a fixed magnetic recording apparatus according to Embodiment 3 of the present invention, as shown in FIG. 9, the buffer 15 of Embodiment 2 also stores the temperature characteristics of the head resistance value of the MR head. As the buffer 16, the microcomputer 8 of the second embodiment described above is replaced with a microcomputer 17 to which an arithmetic function for calculating a temperature based on a measured head resistance value is added.
【0052】バッファ16には、それぞれのMRヘッド
のヘッド抵抗値の温度特性を記憶している。MRヘッド
のヘッド抵抗値はMR素子の設計にて異なるが、複数
(例えば、6個)のMRヘッドの温度変化によるヘッド
抵抗値の変化を見てみると、ヘッド抵抗値の温度依存特
性は、図10に示すように、温度に対してほぼ線形に変
化しており、線形近似が可能であることが分かる。ヘッ
ド抵抗値の温度勾配は設計時に既知である。The buffer 16 stores the temperature characteristics of the head resistance value of each MR head. Although the head resistance value of the MR head differs depending on the design of the MR element, looking at the change in the head resistance value due to the temperature change of a plurality of (for example, six) MR heads, the temperature-dependent characteristic of the head resistance is As shown in FIG. 10, it changes almost linearly with temperature, and it can be seen that linear approximation is possible. The temperature gradient of the head resistance value is known at the time of design.
【0053】例えば、ある機種の温度勾配が0.15Ω
/℃であるとする。20℃の一定温度での出荷検査工程
時に、ヘッド抵抗値が25Ωであるとする。この出荷時
の既知の温度でのヘッド抵抗値をバッファ16に格納す
る。ヘッド抵抗値と温度の関係は、図11に示すように
なる。ここで、この固定磁気記録装置において、MRヘ
ッドのヘッド抵抗値を計測して温度管理を行う動作につ
いて説明する。For example, the temperature gradient of a certain model is 0.15Ω.
/ ° C. It is assumed that the head resistance value is 25Ω during the shipping inspection process at a constant temperature of 20 ° C. The head resistance value at a known temperature at the time of shipment is stored in the buffer 16. The relationship between the head resistance value and the temperature is as shown in FIG. Here, an operation of measuring the head resistance value of the MR head and performing temperature management in the fixed magnetic recording device will be described.
【0054】前述の実施の形態2と同様に、ヘッド構造
部1bのMRヘッドが動作待ち状態になると、ハードデ
ィスクコントローラ14は、マイクロコンピュータ17
からの指示を受けて前置増幅器3bをヘッド構造部1b
に接続するよう制御し、前置増幅器3bのBHV端子に
てヘッド間の電圧値Vmrを計測し、MRヘッドに供給
される電流源(図示せず)からの電流値Ibは固定電流
値で既知であることから、前述の(式2)に基づいてM
Rヘッド抵抗値Rmrを算出する。As in the second embodiment, when the MR head of the head structure 1b enters the operation waiting state, the hard disk controller 14
The preamplifier 3b is connected to the head structure 1b
And the voltage value Vmr between the heads is measured at the BHV terminal of the preamplifier 3b. The current value Ib from a current source (not shown) supplied to the MR head is a fixed current value. Therefore, based on the above (Equation 2), M
The R head resistance value Rmr is calculated.
【0055】マイクロコンピュータ17は、計測したヘ
ッド抵抗値に基づいて温度を算出する。例えば、計測し
たヘッド抵抗値が26.5Ωであるとすると、マイクロ
コンピュータ17は、図11に示したヘッド抵抗値の温
度依存特性に基づいて30℃であると算出する。The microcomputer 17 calculates the temperature based on the measured head resistance value. For example, if the measured head resistance is 26.5Ω, the microcomputer 17 calculates that the temperature is 30 ° C. based on the temperature dependence of the head resistance shown in FIG.
【0056】また、ヘッド構造部1bに替えてヘッド構
造部1aのMRヘッドが動作待ち状態になると、ハード
ディスクコントローラ14は、前置増幅器3aをヘッド
構造部1aに接続するよう制御し、前述と同様にヘッド
抵抗値を計測して温度を算出する。MRヘッドの切り替
えが頻繁に行われるので、頻繁にMRヘッドのヘッド抵
抗値が計測されて温度が算出されることになる。When the MR head of the head structure section 1a is put into the operation waiting state instead of the head structure section 1b, the hard disk controller 14 controls the preamplifier 3a to be connected to the head structure section 1a. Then, the head resistance value is measured to calculate the temperature. Since the switching of the MR head is frequently performed, the head resistance value of the MR head is frequently measured and the temperature is calculated.
【0057】このように構成したため、ヘッド抵抗値を
監視することにより温度の管理を行うことができる。ハ
ードディスクの動作保証温度は設計により異なっている
が、例えば、動作保証温度が0℃から50℃までとする
と、図11に示したヘッド抵抗値の温度依存特性により
ヘッド抵抗値が22Ω〜29.5Ωまでの範囲であるこ
とが補償範囲内であると推測できる。もし、ヘッド抵抗
値が22Ω〜29.5Ωの範囲外であった場合は周辺温
度が保証範囲外であると推測できる。また、この保証範
囲外である環境温度にて引き続き本装置の使用すると、
最悪の場合では本装置やデータなどが破壊される危険性
がある。従って、ユーザに警告を発するための警告手段
をインターフェース8に接続し、計測したヘッド抵抗値
が22Ω〜29.5Ωの範囲外であると、インターフェ
ース8を通じて警告信号を警告手段に発することでユー
ザに警告を発することができ、本装置やデータなどの破
壊を防止することができる。With this configuration, the temperature can be managed by monitoring the head resistance value. The operation assurance temperature of the hard disk differs depending on the design. For example, if the operation assurance temperature is from 0 ° C. to 50 ° C., the head resistance value is 22Ω to 29.5Ω due to the temperature dependence of the head resistance value shown in FIG. It can be inferred that the range up to is within the compensation range. If the head resistance value is out of the range of 22Ω to 29.5Ω, it can be estimated that the ambient temperature is out of the guaranteed range. Also, if you continue to use this device at an environmental temperature outside the guaranteed range,
In the worst case, there is a risk that the apparatus and data are destroyed. Therefore, a warning means for issuing a warning to the user is connected to the interface 8, and when the measured head resistance value is out of the range of 22Ω to 29.5Ω, a warning signal is issued to the warning means through the interface 8 to the user. A warning can be issued, and destruction of the apparatus and data can be prevented.
【0058】この実施の形態3では、マイクロコンピュ
ータ17には固定磁気記録装置を制御するよう動作させ
るための制御ルーチンを設けているが、MRヘッドのヘ
ッド抵抗値の温度特性を記憶する第1のステップと、前
記MRヘッドが動作待ち状態になるとそのMRヘッドの
ヘッド抵抗値を計測する第2のステップと、前記の計測
したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出する第3のステ
ップとで構成した制御ルーチンを、磁気ディスク12の
プログラムを格納するためのディスクウエア(DISKWAR
E)などに記録した場合であっても、同様の効果を有す
る。In the third embodiment, the microcomputer 17 is provided with a control routine for operating the fixed magnetic recording apparatus so as to control the fixed magnetic recording apparatus. However, the microcomputer 17 stores a temperature characteristic of the head resistance value of the MR head. A step of measuring a head resistance value of the MR head when the MR head is in an operation waiting state, and a third step of calculating a temperature based on the measured head resistance value. The control routine is executed by diskware (DISKWAR) for storing the program of the magnetic disk 12.
The same effect is obtained even when recording is performed in E) or the like.
【0059】(実施の形態4)本発明の実施の形態4の
固定磁気記録装置は、図12に示すように、前述の実施
の形態3のマイクロコンピュータ17を、計測した複数
のMRヘッドのヘッド抵抗値と温度特性とに基づいて温
度を算出し、前記の算出した温度に基づいてMRヘッド
の特性劣化の度合いを予測する機能も追加したマイクロ
コンピュータ18としたものである。(Embodiment 4) As shown in FIG. 12, a fixed magnetic recording apparatus according to Embodiment 4 of the present invention comprises a plurality of MR heads measured by the microcomputer 17 of Embodiment 3 described above. The microcomputer 18 further includes a function of calculating a temperature based on the resistance value and the temperature characteristic and predicting the degree of the characteristic deterioration of the MR head based on the calculated temperature.
【0060】前述の実施の形態3と同様に、MRヘッド
が動作待ち状態になるとそのMRヘッドのヘッド抵抗値
を算出してバッファ16に格納し、全てのMRヘッドの
ヘッド抵抗値を計測した計測値を格納する。また、計測
を必要とする複数のMRヘッドのヘッド抵抗値を計測し
た計測値を格納するようにしても良い。一般に、これら
複数のMRヘッドは、絶えず動作したり動作待ちになっ
たりしている。As in the third embodiment, when the MR head is in the operation waiting state, the head resistance value of the MR head is calculated and stored in the buffer 16, and the measurement is performed by measuring the head resistance values of all the MR heads. Stores a value. Further, a measured value obtained by measuring the head resistance value of a plurality of MR heads requiring measurement may be stored. Generally, these multiple MR heads are constantly operating or waiting for operation.
【0061】マイクロコンピュータ18は、バッファ1
6に格納した計測した複数のMRヘッドのヘッド抵抗値
に基づいてそれぞれの温度を算出する。全体に対して突
出した温度を示すMRヘッドがあれば、このMRヘッド
を経年変化したものであると予測する。このように構成
したため、ヘッド抵抗値またはその変化をバッファ16
に格納しておき、最新の値に対しての変動を常に監視す
ることで経年変化を予測することができる。一般的にヘ
ッド抵抗値が周辺温度が一定であるにもかかわらず大き
く変化するということは、MR素子が経年変化している
と推測される。しかしながら、抵抗変化が周辺温度によ
るものなのか経年変化に起因するかという判別はサーマ
ルアスペリティ(TA)現象による瞬間的に抵抗値が上
昇する場合を除けば単一のヘッドのみの監視では困難で
あるので、複数のMRヘッドを用いることによって、ヘ
ッド抵抗値の変化が周辺温度によるものなのか、あるい
は恒久的なものなのかを推定することができる。例えば
MRヘッドが4個ある固定磁気記録装置において、4個
のMRヘッド全てのヘッド抵抗値が変化しているときは
温度変化の為であると考えられる。また4個のMRヘッ
ドの中で、1個のMRヘッドのヘッド抵抗値のみが変化
したときはこのMRヘッドが特性的に工場出荷時に対し
て変化していると考えられる。設計時の検討によりヘッ
ド抵抗値がどの程度変化すると性能に重大な影響を及ぼ
すのかというデータを統計的に取得する。The microcomputer 18 has a buffer 1
6, the respective temperatures are calculated based on the measured head resistance values of the plurality of MR heads. If there is an MR head that shows a prominent temperature with respect to the whole, it is predicted that this MR head has changed over time. With this configuration, the head resistance value or its change is stored in the buffer 16.
, And the secular change can be predicted by constantly monitoring the change with respect to the latest value. In general, the fact that the head resistance value largely changes even though the ambient temperature is constant is presumed that the MR element has changed over time. However, it is difficult to determine whether the resistance change is due to the ambient temperature or due to aging, except for the case where the resistance value rises momentarily due to the thermal asperity (TA) phenomenon, by monitoring only a single head. Therefore, by using a plurality of MR heads, it is possible to estimate whether the change in the head resistance is due to the ambient temperature or permanent. For example, in a fixed magnetic recording apparatus having four MR heads, when the head resistance values of all four MR heads change, it is considered that this is due to a temperature change. When only the head resistance value of one of the four MR heads changes, it is considered that the MR head characteristically changes from the factory shipment. By studying the design, data on how much the head resistance value has a significant effect on the performance is statistically acquired.
【0062】例えば温度の要因以外にてヘッド抵抗値が
10%以上変動しているときはMR素子に何らかのダメ
ージが与えられていると考えられ、ディスク装置の寿命
が近いと思われる機種については抵抗値の経年変化を常
に監視しながら10%以上の変化が生じているか否かを
常時出荷前の値と比較する。もし変化が10%を超える
ようであれば、メディア上に記録しているユーザのデー
タが消失したり、装置が破壊される可能性がある。For example, when the head resistance value fluctuates by 10% or more due to factors other than temperature, it is considered that the MR element has been damaged in some way. While constantly monitoring the aging of the value, it is constantly compared with the value before shipment whether or not a change of 10% or more has occurred. If the change exceeds 10%, the user's data recorded on the media may be lost or the device may be destroyed.
【0063】従って、ユーザに特性劣化の度合いを警告
する警告手段19をインターフェース8に接続し、変化
が10%を超える場合には、インターフェース8を通じ
て警告信号を警告手段19に発することでユーザに警告
を発することができ、ユーザに特性劣化の度合いを警告
することができ、本装置やデータなどの破壊を防止する
ことができる。Therefore, the warning means 19 for warning the user of the degree of characteristic deterioration is connected to the interface 8, and when the change exceeds 10%, a warning signal is issued to the warning means 19 through the interface 8 to warn the user. Can be issued to warn the user of the degree of characteristic deterioration, and destruction of the apparatus and data can be prevented.
【0064】(実施の形態5)本発明の実施の形態5の
固定磁気記録装置は、図13に示すように、磁気ディス
ク20の特定の位置に突起物としてのバンプ23を設
け、MR(磁気抵抗)ヘッドがバンプ23の上を通過す
るときの出力変動量に基づいて前記MRヘッドの浮上量
の変動を監視する監視手段21を設けたものである。(Embodiment 5) In a fixed magnetic recording apparatus according to Embodiment 5 of the present invention, as shown in FIG. Resistance) A monitoring means 21 is provided for monitoring the variation of the flying height of the MR head based on the output variation when the head passes over the bumps 23.
【0065】磁気ディスク20の表面上には、図14に
示すように、バンプ23を磁気ディスク20と同一の材
質で形成している。バンプ23の底面の直径は、例えば
2.0〜3.0μmとし、バンプ23の高さは例えば
0.1〜0.15μmとしている。このバンプ23は、
磁気ディスク20に複数形成しても良い。レーザーゾー
ンテクスチャー技術を用いて、磁気ディスク20の表面
上に所望のバンプ23を形成している。MRヘッドは抵
抗値の変化を検出し出力することが基本原理になってい
るがセンサ部分の熱的安定性が重要になってくる。通常
の動作においてはMRの部分が磁気ディスク20の表面
上の異常な突起部分に触れると瞬時にヘッド抵抗値が上
昇し出力変動が起こる。一般にこの現象をサーマルアス
ペリティ(TA)と呼んでおり磁気ディスク設計におい
ては、回路的にこの現象を補正したり、磁気ディスクの
平滑度を向上させたりして改善に取り組んでいる。As shown in FIG. 14, bumps 23 are formed of the same material as the magnetic disk 20 on the surface of the magnetic disk 20. The diameter of the bottom surface of the bump 23 is, for example, 2.0 to 3.0 μm, and the height of the bump 23 is, for example, 0.1 to 0.15 μm. This bump 23
A plurality of magnetic disks may be formed on the magnetic disk 20. The desired bumps 23 are formed on the surface of the magnetic disk 20 by using the laser zone texture technique. The basic principle of the MR head is to detect and output a change in the resistance value, but the thermal stability of the sensor part becomes important. In a normal operation, when the MR portion touches an abnormal projection on the surface of the magnetic disk 20, the head resistance increases instantaneously, causing output fluctuation. Generally, this phenomenon is called thermal asperity (TA), and in magnetic disk design, this phenomenon is corrected in a circuit or the smoothness of the magnetic disk is improved to improve the magnetic disk.
【0066】このサーマルアスペリティ現象は、出力の
変動の度合は同じバンプであれば浮上量が低くなるほど
衝突が激しくなるので変動が大きくなる。ここで、この
固定磁気記録装置において、MRヘッドの出力値を計測
してクラッシュを未然に防止する動作について説明す
る。前置増幅器3は、マイクロコンピュータ22からの
指示を受けると、ヘッド構造部1のMRヘッドがディス
ク20の所定の位置に形成されたバンプ23の上を通過
する度にMRヘッドのヘッド抵抗値が上昇してMRヘッ
ドの出力値が上昇することを観測する。In the thermal asperity phenomenon, if the degree of fluctuation of the output is the same for bumps, the lower the flying height, the greater the collision. Here, the operation of the fixed magnetic recording device for measuring the output value of the MR head to prevent a crash beforehand will be described. When receiving an instruction from the microcomputer 22, the preamplifier 3 changes the head resistance value of the MR head every time the MR head of the head structure 1 passes over the bump 23 formed at a predetermined position on the disk 20. It is observed that the output value rises and the output value of the MR head rises.
【0067】監視手段21は、予め製造時にMRヘッド
がこのバンプ23の上を通過する時の出力変動量を初期
値として記憶している。マイクロコンピュータ22から
の指示を受けると定期的にその出力変動量を測定し、こ
の測定値と初期値とを比較して浮上量を変化を推測し、
クラッシュの危険性を監視する。具体的には、良好な浮
上量である場合には、図15に示すように、バンプ23
の上を通過したときの出力変動量は例えば100mV程
度であり、監視手段21には製造時のMRヘッドの出力
変動量100mVを初期値として予め記憶している。監
視手段21には、例えば変動量が20%以上大きくなっ
たときにはクラッシュの危険性があるとしてクラッシュ
の危険性があるとする閾値を120mVと設定してお
く。定期的に出力変動量を測定し浮上量が低下している
場合には、図16に示すように、バンプ23の上を通過
したときの出力変動量は上昇し170mV程度となり、
閾値120mVを上回っているとして、インターフェー
ス8を介して警告信号を警告手段に出力し、ユーザにク
ラッシュの危険性があることを知らしめる。The monitoring means 21 previously stores, as an initial value, the amount of output fluctuation when the MR head passes over the bump 23 during manufacturing. Upon receiving an instruction from the microcomputer 22, the output fluctuation amount is periodically measured, and the measured value is compared with an initial value to estimate a change in the flying height,
Monitor the risk of crash. Specifically, when the flying height is good, as shown in FIG.
Is about 100 mV, for example, and the monitoring means 21 previously stores the output fluctuation of the MR head 100 mV at the time of manufacture as an initial value. In the monitoring means 21, for example, when the fluctuation amount becomes larger than 20%, there is set a threshold value of 120 mV assuming that there is a danger of a crash and that there is a danger of a crash. If the flying height is reduced by periodically measuring the output fluctuation amount, as shown in FIG. 16, the output fluctuation amount when passing over the bump 23 increases to about 170 mV,
Assuming that the threshold value is exceeded, a warning signal is output to the warning means via the interface 8 to notify the user of the danger of a crash.
【0068】このように構成したため、出力変動量を監
視することで、MRヘッドの浮上量を変化を推測するこ
とができ、変動量が所定値以上になると事前にユーザに
クラッシュの危険性があることを警告することができ、
本装置やデータなどの破壊を防止することができる。こ
の実施の形態5では、マイクロコンピュータ22には固
定磁気記録装置を制御するよう動作させるための制御ル
ーチンを設けているが、MRヘッドのバンプ23の上を
通過するときの出力変動量を計測し記憶する第1のステ
ップと、前記の記憶した出力変動量が閾値を超えている
かどうかを判定する第2のステップと、前記の閾値を超
えると警告をする第3のステップとで構成した制御ルー
チンを、磁気ディスク20のプログラムを格納するため
のディスクウエア(DISKWARE)などに記録した場合であ
っても、同様の効果を有する。With this configuration, by monitoring the output fluctuation amount, it is possible to estimate a change in the flying height of the MR head. If the fluctuation amount becomes a predetermined value or more, there is a risk of the user crashing in advance. Can be warned that
Destruction of the apparatus and data can be prevented. In the fifth embodiment, the microcomputer 22 is provided with a control routine for operating the fixed magnetic recording device so as to control the fixed magnetic recording device. However, the microcomputer 22 measures the amount of output fluctuation when passing over the bumps 23 of the MR head. A control routine including a first step of storing, a second step of determining whether the stored output fluctuation amount exceeds a threshold value, and a third step of issuing a warning when the stored output fluctuation amount exceeds the threshold value. Is recorded in diskware (DISKWARE) or the like for storing the program of the magnetic disk 20.
【0069】この実施の形態5では、通常の動作中のM
Rヘッドの出力変動量を計測して記憶しているが、動作
待ち状態のMRヘッドの出力変動量を計測して記憶する
場合であっても、同様の効果を有する。また、前述の各
実施の形態では、再生専用ヘッドをMR(磁気抵抗)ヘ
ッドとしているが、GMR(ジャイアント磁気抵抗)ヘ
ッドとする場合であっても、同様の効果を有する。In the fifth embodiment, M during normal operation
Although the output fluctuation amount of the R head is measured and stored, the same effect is obtained even when the output fluctuation amount of the MR head in the operation waiting state is measured and stored. Further, in each of the embodiments described above, the read-only head is an MR (magnetoresistive) head, but the same effect can be obtained even when a GMR (giant magnetoresistance) head is used.
【0070】[0070]
【発明の効果】以上のように本発明の請求項1に記載の
磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方法によれば、磁気
抵抗ヘッドが磁気ディスクにアクセスする毎にその磁気
抵抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する計測を実行
し、前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測
した最適なバイアス電流値に更新して記憶し、前記磁気
抵抗ヘッドに前記の記憶した最適なバイアス電流を供給
して前記磁気ディスクに記録されたデータを読み取るこ
とにより、磁気抵抗ヘッドのバイアス電流の最適化を磁
気抵抗ヘッドの動作に応じて固定磁気記録装置の動作中
に適宜実行でき、動作中の磁気抵抗ヘッド特性が時間の
経過とともに時々刻々と変化する場合であっても最適な
バイアス電流を維持するのことができ、磁気抵抗ヘッド
からの再生信号波形の飽和による非対称歪みを抑えるこ
とができ、データ読み出し時のエラーレートを低減する
ことができ、磁気抵抗ヘッドに最適なバイアス電流を供
給するので、必要以上のバイアス電流を流すことを防止
でき、過電流によって平均寿命を縮めることを防止でき
る。As described above, according to the bias current control method of the magnetoresistive head according to the first aspect of the present invention, each time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk, the bias current value of the magnetoresistive head is changed. Executing the measurement to optimize, updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value, and supplying the stored optimal bias current to the magnetoresistive head. By reading the data recorded on the magnetic disk, the bias current of the magnetoresistive head can be appropriately optimized during the operation of the fixed magnetic recording apparatus according to the operation of the magnetoresistive head, and the characteristics of the magnetoresistive head during the operation can be optimized. Can maintain the optimum bias current even when the time varies with the passage of time, and the reproduction signal waveform from the magnetoresistive head Asymmetric distortion due to saturation can be suppressed, the error rate during data reading can be reduced, and the optimum bias current is supplied to the magnetoresistive head. This can prevent the average life from being shortened.
【0071】具体的には、磁気抵抗ヘッドのバイアス電
流の最適化を磁気抵抗ヘッドの動作に応じて固定磁気記
録装置の動作中に適宜実行できることによって、磁気抵
抗ヘッドにおけるコンポーネントの可変性、増幅器回路
の可変性、及び抵抗漸増現象による性能の低下を防止で
きる。実際の使用下においても環境が変動するたびにバ
イアス電流の最適値を更新することができ、本装置の時
系列に伴う特性の劣化を防止することができる。また常
温でのマージンを抑えて設計することができ製品の歩留
まりの向上が図れる。More specifically, optimization of the bias current of the magnetoresistive head can be appropriately performed during the operation of the fixed magnetic recording apparatus in accordance with the operation of the magnetoresistive head. And a decrease in performance due to a gradual increase in resistance can be prevented. Even in actual use, the optimum value of the bias current can be updated each time the environment changes, and deterioration of the characteristics of the device with time can be prevented. Further, the design can be performed with a margin at room temperature suppressed, and the yield of products can be improved.
【0072】また、本発明の請求項2に記載の磁気抵抗
ヘッドのバイアス電流制御方法によれば、磁気抵抗ヘッ
ドが動作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドのバイア
ス電流値を最適化する計測を実行し、前記磁気抵抗ヘッ
ドのバイアス電流値を前記の計測した最適なバイアス電
流値に更新して記憶し、前記磁気抵抗ヘッドに前記の記
憶した最適なバイアス電流を供給して磁気ディスクに記
録されたデータを読み取ることにより、前述の本発明の
請求項1に記載の磁気抵抗ヘッドのバイアス電流制御方
法と同様の効果を有する。According to the bias current control method for a magnetoresistive head according to the second aspect of the present invention, when the magnetoresistive head enters an operation waiting state, measurement for optimizing the bias current value of the magnetoresistive head is executed. Then, the bias current value of the magnetoresistive head is updated and stored to the measured optimum bias current value, and the stored optimal bias current is supplied to the magnetoresistive head and recorded on the magnetic disk. By reading the data, the same effect as the above-described method of controlling the bias current of the magnetoresistive head according to claim 1 of the present invention is obtained.
【0073】また、本発明の請求項3に記載の固定磁気
記録装置によれば、磁気抵抗ヘッドが磁気ディスクにア
クセスする毎にその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を
最適化する計測を実行する最適化計測手段と、前記最適
化計測手段を制御し、前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電
流値を前記の計測した最適なバイアス電流値に更新して
記憶し、前記の更新記憶した最適なバイアス電流を前記
磁気抵抗ヘッドに供給する指示を出力する処理手段とを
設けたことにより、本発明の請求項1に記載の磁気抵抗
ヘッドのバイアス電流制御方法を実現することができ
る。According to the fixed magnetic recording apparatus of the third aspect of the present invention, each time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk, an optimum measurement for optimizing the bias current value of the magnetoresistive head is executed. Controlling the optimization measuring means, updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value, and storing the updated and stored optimal bias current. By providing the processing means for outputting an instruction to be supplied to the magnetoresistive head, the bias current control method for a magnetoresistive head according to claim 1 of the present invention can be realized.
【0074】また、本発明の請求項4に記載の固定磁気
記録装置によれば、請求項3に記載の固定磁気記録装置
の最適化計測手段を、磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態に
なるとその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を最適化す
る計測を実行する最適化計測手段に替えたことにより、
本発明の請求項2に記載の磁気抵抗ヘッドのバイアス電
流制御方法を実現することができる。According to the fixed magnetic recording device of the fourth aspect of the present invention, the optimization measuring means of the fixed magnetic recording device according to the third aspect of the present invention uses the optimization measuring means when the magnetoresistive head enters an operation waiting state. By changing to an optimized measurement unit that performs measurement to optimize the bias current value of the resistance head,
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of controlling a bias current of a magnetoresistive head.
【0075】また、本発明の請求項5に記載の磁気ディ
スクによれば、固定磁気記録装置を制御する中央処理演
算部を動作させるための制御ルーチンを、磁気抵抗ヘッ
ドが磁気ディスクにアクセスする毎にその磁気抵抗ヘッ
ドのバイアス電流値の最適化を図る第1のステップと、
前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した
最適なバイアス電流値に更新して記憶する第2のステッ
プと、前記磁気抵抗ヘッドに前記の更新記憶した最適な
バイアス電流を供給する第3のステップとで構成して記
録したことにより、磁気ディスクに記録された制御ルー
チンを実行することで磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値
の最適化を実行することができる。According to the magnetic disk of the present invention, the control routine for operating the central processing unit for controlling the fixed magnetic recording device is changed every time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk. A first step of optimizing a bias current value of the magnetoresistive head;
A second step of updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value, and a third step of supplying the updated and stored optimal bias current to the magnetoresistive head. With the configuration and recording of the steps, the bias current value of the magnetoresistive head can be optimized by executing the control routine recorded on the magnetic disk.
【0076】また、本発明の請求項6に記載の磁気ディ
スクによれば、前述の請求項5に記載の第1のステップ
を、磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのバイアス電流値の最適化を図る第1のステッ
プに替えたことにより、前述の本発明の請求項5に記載
の磁気ディスクと同様の効果を有する。また、本発明の
請求項7に記載の固定磁気記録装置によれば、磁気抵抗
ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性を記憶する記憶手段
と、前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁
気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する計測手段と、前
記の計測したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出する演
算手段とを設けたことにより、温度センサを別途設ける
ことなく、磁気抵抗ヘッドを温度センサとして用いるこ
とができ、温度を監視することができる。According to the magnetic disk of the present invention, when the magnetoresistive head enters the operation waiting state, the bias current of the magnetoresistive head is changed to the first step. By replacing the first step of optimizing the value, the same effect as that of the magnetic disk according to claim 5 of the present invention can be obtained. Further, according to the fixed magnetic recording apparatus of the present invention, the storage means for storing the temperature characteristics of the head resistance value of the magnetoresistive head, and the magnetoresistive head when the magnetoresistive head enters an operation waiting state. The use of a magnetoresistive head as a temperature sensor without providing a temperature sensor separately by providing a measuring means for measuring the head resistance value of the above and a calculating means for calculating the temperature based on the measured head resistance value Can monitor the temperature.
【0077】また、本発明の請求項8に記載の磁気ディ
スクによれば、固定磁気記録装置を制御する中央処理演
算部を動作させるための制御ルーチンを、磁気抵抗ヘッ
ドのヘッド抵抗値の温度特性を記憶する第1のステップ
と、前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁
気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する第2のステップ
と、前記の計測したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出
する第3のステップとで構成して記録したことにより、
磁気ディスクに記録された制御ルーチンを実行すること
で磁気抵抗ヘッドを温度センサとして用いることができ
る。According to the magnetic disk of the present invention, the control routine for operating the central processing unit for controlling the fixed magnetic recording device is provided by a temperature characteristic of the head resistance value of the magnetoresistive head. , A second step of measuring a head resistance value of the magnetoresistive head when the magnetoresistive head is in an operation waiting state, and calculating a temperature based on the measured head resistance value. By composing and recording in the third step,
By executing the control routine recorded on the magnetic disk, the magnetoresistive head can be used as a temperature sensor.
【0078】また、本発明の請求項9に記載の固定磁気
記録装置によれば、複数の磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗
値の温度特性をそれぞれ記憶する記憶手段と、前記磁気
抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッド
のヘッド抵抗値を計測する計測手段と、前記の計測した
複数の磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値と前記温度特性と
に基づいて温度を算出し、前記の算出した温度に基づい
て磁気抵抗ヘッドの特性劣化の度合いを予測する予測手
段とを設けたことにより、磁気抵抗ヘッドの経年変化を
監視することができ、本固定磁気記録装置の寿命を予測
することができる。According to the fixed magnetic recording device of the present invention, the storage means for storing the temperature characteristics of the head resistance values of the plurality of magnetoresistive heads, respectively, and the magnetoresistive head is in an operation waiting state. Measuring means for measuring a head resistance value of the magnetoresistive head, and calculating a temperature based on the measured head resistance values of the plurality of magnetoresistive heads and the temperature characteristic, based on the calculated temperature. And the prediction means for predicting the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head, it is possible to monitor the secular change of the magnetoresistive head, and to predict the life of the fixed magnetic recording apparatus.
【0079】また、本発明の請求項10に記載の固定磁
気記録装置によれば、前述の請求項9に記載の固定磁気
記録装置に、予測手段からの磁気抵抗ヘッドの特性劣化
の度合いを警告する警告手段を設けたことにより、ユー
ザに警告を発することができる。また、本発明の請求項
11に記載の固定磁気記録装置によれば、磁気ディスク
の特定の位置に突起物を設け、磁気抵抗ヘッドが前記突
起物上を通過するときの出力変動量に基づいて前記磁気
抵抗ヘッドの浮上量の変動を監視する監視手段を設けた
ことにより、磁気抵抗ヘッドの浮上量の変動を監視する
ことができ、クラッシュを未然に防止することができ
る。According to the fixed magnetic recording device of the present invention, the fixed magnetic recording device of the ninth aspect warns the predicting means of the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head. By providing the warning means, a warning can be issued to the user. Further, according to the fixed magnetic recording device of the present invention, a protrusion is provided at a specific position on the magnetic disk, and based on the output fluctuation amount when the magnetoresistive head passes over the protrusion. By providing the monitoring means for monitoring the variation in the flying height of the magnetoresistive head, the variation in the flying height of the magnetoresistive head can be monitored, and a crash can be prevented.
【0080】また、本発明の請求項12に記載の固定磁
気記録装置によれば、前述の請求項11記載の固定磁気
記録装置に、出力変動量が閾値を超えると警告する警告
手段を設けたことにより、ユーザにクラッシュの危険性
があることを警告することができる。また、本発明の請
求項13に記載の磁気ディスクによれば、固定磁気記録
装置を制御する中央処理演算部を動作させるための制御
ルーチンを、磁気抵抗ヘッドの突起物上を通過するとき
の出力変動量を計測し記憶する第1のステップと、前記
の記憶した出力変動量が閾値を超えているかどうかを判
定する第2のステップと、前記の閾値を超えると警告を
する第3のステップとで構成して記録したことにより、
磁気ディスクに記録された制御ルーチンを実行すること
で磁気抵抗ヘッドの浮上量の変動を監視することができ
る。Further, according to the fixed magnetic recording apparatus of the present invention, the fixed magnetic recording apparatus of the above-mentioned claim is provided with a warning means for warning that the output fluctuation exceeds a threshold value. This can warn the user that there is a risk of crash. According to the magnetic disk of the present invention, a control routine for operating the central processing unit for controlling the fixed magnetic recording apparatus is provided with an output when passing over the protrusion of the magnetoresistive head. A first step of measuring and storing a fluctuation amount, a second step of determining whether the stored output fluctuation amount exceeds a threshold value, and a third step of giving a warning when the stored output fluctuation amount exceeds the threshold value. By composing and recording
By executing the control routine recorded on the magnetic disk, it is possible to monitor the fluctuation of the flying height of the magnetoresistive head.
【0081】また、本発明の請求項14に記載の磁気デ
ィスクによれば、前述の請求項13に記載の磁気ディス
クの第1のステップを、磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態
になるとその磁気抵抗ヘッドの突起物上を通過するとき
の出力変動量を計測し記憶する第1のステップに替えた
ことにより、前述の本発明の請求項13に記載の磁気デ
ィスクと同様の効果を有する。Further, according to the magnetic disk of the present invention, the first step of the magnetic disk according to the above-mentioned claim 13 is performed when the magnetoresistive head is in an operation waiting state. By replacing the first step of measuring and storing the amount of output fluctuation when passing over the protrusion, the same effect as that of the magnetic disk according to claim 13 of the present invention can be obtained.
【図1】本発明の実施の形態1の固定磁気記録装置の構
成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a fixed magnetic recording device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】同実施の形態1の磁気ディスクの記録面のフォ
ーマットを示す説明図FIG. 2 is an explanatory diagram showing a format of a recording surface of the magnetic disk according to the first embodiment;
【図3】同実施の形態1の磁気ディスクの計測パターン
領域を示す説明図FIG. 3 is an explanatory diagram showing a measurement pattern area of the magnetic disk according to the first embodiment;
【図4】同実施の形態1の計測パターン領域の計測パタ
ーンを示す説明図FIG. 4 is an explanatory diagram showing a measurement pattern in a measurement pattern area according to the first embodiment;
【図5】同実施の形態1の計測パターン領域を再生した
時の再生波形図FIG. 5 is a reproduction waveform diagram when the measurement pattern area of the first embodiment is reproduced.
【図6】同実施の形態1のバイアス電流変化に対する信
号対雑音比の変化を示す説明図FIG. 6 is an explanatory diagram showing a change in a signal-to-noise ratio with respect to a change in a bias current according to the first embodiment;
【図7】本発明の実施の形態2の固定磁気記録装置の構
成を示すブロック図FIG. 7 is a block diagram illustrating a configuration of a fixed magnetic recording device according to a second embodiment of the present invention;
【図8】同実施の形態2のヘッド抵抗値に応じた最適な
バイアス電流値を示す対応図FIG. 8 is a correspondence diagram showing an optimum bias current value according to the head resistance value of the second embodiment.
【図9】本発明の実施の形態3の固定磁気記録装置の構
成を示すブロック図FIG. 9 is a block diagram showing a configuration of a fixed magnetic recording device according to a third embodiment of the present invention.
【図10】同実施の形態3のヘッド抵抗値の温度依存性
を示す特性図FIG. 10 is a characteristic diagram showing temperature dependence of a head resistance value according to the third embodiment.
【図11】同実施の形態3のヘッド抵抗値の温度対応図FIG. 11 is a temperature correspondence diagram of a head resistance value according to the third embodiment.
【図12】本発明の実施の形態4の固定磁気記録装置の
構成を示すブロック図FIG. 12 is a block diagram illustrating a configuration of a fixed magnetic recording device according to a fourth embodiment of the present invention.
【図13】本発明の実施の形態5の固定磁気記録装置の
構成を示すブロック図FIG. 13 is a block diagram showing a configuration of a fixed magnetic recording device according to a fifth embodiment of the present invention.
【図14】同実施の形態5のバンプの形状を示す概略外
観図FIG. 14 is a schematic external view showing the shape of a bump according to the fifth embodiment.
【図15】同実施の形態5の良好な場合のTA現象によ
る出力変動量を示す波形図FIG. 15 is a waveform chart showing an output fluctuation amount due to a TA phenomenon in a good case of the fifth embodiment.
【図16】同実施の形態5の異常な場合のTA現象によ
る出力変動量を示す波形図FIG. 16 is a waveform chart showing an output fluctuation amount due to a TA phenomenon in an abnormal case according to the fifth embodiment.
【図17】従来のMRヘッドのヘッド抵抗値のばらつき
を示す抵抗値分布図FIG. 17 is a resistance value distribution diagram showing a variation in head resistance value of a conventional MR head.
【図18】従来のヘッド出力のバイアス電流依存性を示
す波形図FIG. 18 is a waveform diagram showing the bias current dependency of the conventional head output.
【図19】従来の固定磁気記録装置の構成を示すブロッ
ク図FIG. 19 is a block diagram showing a configuration of a conventional fixed magnetic recording device.
【図20】従来のMRヘッドのヘッド抵抗値を測定する
要部の構成を示すブロック図FIG. 20 is a block diagram showing a configuration of a main part for measuring a head resistance value of a conventional MR head.
1 ヘッド構造部 1a、1b ヘッド構造部 2、12 磁気ディスク 3 前置増幅器 3a、3b 前置増幅器 4 データチャンネル 5、13 GEM 6、14 ハードディスクコントローラ 7、15 バッファ 8、16 マイクロコンピュータ 9 インターフェース 10、11 最適化計測手段 17、18 マイクロコンピュータ 19 警告手段 20 磁気ディスク 21 監視手段 22 マイクロコンピュータ 23 バンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Head structure part 1a, 1b Head structure part 2, 12 Magnetic disk 3 Preamplifier 3a, 3b Preamplifier 4 Data channel 5, 13 GEM 6, 14 Hard disk controller 7, 15 Buffer 8, 16 Microcomputer 9 Interface 10, DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Optimization measuring means 17, 18 Microcomputer 19 Warning means 20 Magnetic disk 21 Monitoring means 22 Microcomputer 23 Bump
Claims (14)
る磁気抵抗ヘッドに供給するバイアス電流を制御するに
際し、 前記磁気抵抗ヘッドが前記磁気ディスクにアクセスする
毎にその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する
計測を実行し、 前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した
最適なバイアス電流値に更新して記憶し、 前記磁気抵抗ヘッドに前記の記憶した最適なバイアス電
流を供給して前記データを読み取る磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流制御方法。When controlling a bias current supplied to a magnetoresistive head for reading data recorded on a magnetic disk, the bias current value of the magnetoresistive head is optimized each time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk. Executing the measurement to update the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value and storing the updated bias current value, supplying the stored optimal bias current to the magnetoresistive head, and A bias current control method for a magnetoresistive head that reads data.
る磁気抵抗ヘッドに供給するバイアス電流を制御するに
際し、 前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する計測を実行し、 前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した
最適なバイアス電流値に更新して記憶し、 前記磁気抵抗ヘッドに前記の記憶した最適なバイアス電
流を供給して前記データを読み取る磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流制御方法。2. A method for controlling a bias current to be supplied to a magnetoresistive head for reading data recorded on a magnetic disk, wherein the bias current value of the magnetoresistive head is optimized when the magnetoresistive head is in an operation waiting state. The bias current value of the magnetoresistive head is updated to the measured optimal bias current value and stored, and the data is read by supplying the stored optimal bias current to the magnetoresistive head. A bias current control method for a magnetoresistive head.
を磁気抵抗ヘッドで読み取る固定磁気記録装置におい
て、 前記磁気抵抗ヘッドが前記磁気ディスクにアクセスする
毎にその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する
計測を実行する最適化計測手段と、 前記最適化計測手段を制御し、前記磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流値を前記の計測した最適なバイアス電流値に
更新して記憶し、前記の更新記憶した最適なバイアス電
流を前記磁気抵抗ヘッドに供給する指示を出力する処理
手段とを設けた固定磁気記録装置。3. A fixed magnetic recording apparatus for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, wherein a bias current value of the magnetoresistive head is optimized each time the magnetoresistive head accesses the magnetic disk. An optimization measuring means for executing the measurement to be performed, controlling the optimization measuring means, updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimal bias current value, and storing and updating the updated bias current value. A fixed magnetic recording apparatus provided with processing means for outputting an instruction to supply an optimum bias current to the magnetoresistive head.
を磁気抵抗ヘッドで読み取る固定磁気記録装置におい
て、 前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのバイアス電流値を最適化する計測を実行する
最適化計測手段と、 前記最適化計測手段を制御し、前記磁気抵抗ヘッドのバ
イアス電流値を前記の計測した最適なバイアス電流値に
更新して記憶し、前記の更新記憶した最適なバイアス電
流を前記磁気抵抗ヘッドに供給する指示を出力する処理
手段とを設けた固定磁気記録装置。4. A fixed magnetic recording apparatus for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, wherein when the magnetoresistive head is in an operation waiting state, measurement for optimizing a bias current value of the magnetoresistive head is performed. Optimizing measuring means to be executed, controlling the optimizing measuring means, updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimum bias current value, and updating and storing the optimum stored bias. Processing means for outputting an instruction to supply current to the magnetoresistive head.
部を動作させるための制御ルーチンを記録した磁気ディ
スクであって、 前記制御ルーチンを、 磁気抵抗ヘッドが磁気ディスクにアクセスする毎にその
磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値の最適化を図る第1の
ステップと、 前記磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値を前記の計測した
最適なバイアス電流値に更新して記憶する第2のステッ
プと、 前記磁気抵抗ヘッドに前記の更新記憶した最適なバイア
ス電流を供給する第3のステップとで構成し、この制御
ルーチンを記録した磁気ディスク。5. A magnetic disk on which a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording device is recorded, wherein the control routine is executed each time a magnetoresistive head accesses the magnetic disk. A first step of optimizing a bias current value of the resistance head; a second step of updating and storing the bias current value of the magnetoresistive head to the measured optimum bias current value; And a third step of supplying the updated and stored optimum bias current to the head, and recording the control routine.
待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドのバイアス電流値
の最適化を図るよう構成した請求項5記載の磁気ディス
ク。6. The magnetic disk according to claim 5, wherein the first step is configured to optimize a bias current value of the magnetoresistive head when the magnetoresistive head enters an operation waiting state.
を磁気抵抗ヘッドで読み取る固定磁気記録装置におい
て、 前記磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性を記憶す
る記憶手段と、 前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する計測手段と、 前記の計測したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出する
演算手段とを設けた固定磁気記録装置。7. A fixed magnetic recording device for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, a storage means for storing a temperature characteristic of a head resistance value of the magnetoresistive head, wherein the magnetoresistive head operates. A fixed magnetic recording apparatus comprising: a measuring unit for measuring a head resistance value of the magnetoresistive head in a waiting state; and a calculating unit for calculating a temperature based on the measured head resistance value.
部を動作させるための制御ルーチンを記録した磁気ディ
スクであって、 前記制御ルーチンを、 磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性を記憶する第
1のステップと、 前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する第2のステップと、 前記の計測したヘッド抵抗値に基づいて温度を算出する
第3のステップとで構成し、この制御ルーチンを記録し
た磁気ディスク。8. A magnetic disk recording a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording device, the control routine storing a temperature characteristic of a head resistance value of a magnetoresistive head. A first step, a second step of measuring a head resistance value of the magnetoresistive head when the magnetoresistive head is in an operation waiting state, and a third step of calculating a temperature based on the measured head resistance value And a magnetic disk in which the control routine is recorded.
磁気抵抗ヘッドを複数有する固定磁気記録装置におい
て、 前記の複数の磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値の温度特性
をそれぞれ記憶する記憶手段と、 前記磁気抵抗ヘッドが動作待ち状態になるとその磁気抵
抗ヘッドのヘッド抵抗値を計測する計測手段と、 前記の計測した複数の磁気抵抗ヘッドのヘッド抵抗値と
前記温度特性とに基づいて温度を算出し、前記の算出し
た温度に基づいて磁気抵抗ヘッドの特性劣化の度合いを
予測する予測手段とを設けた固定磁気記録装置。9. A fixed magnetic recording apparatus having a plurality of magnetoresistive heads for reading data recorded on a magnetic disk, a storage means for storing temperature characteristics of head resistance values of the plurality of magnetoresistive heads, respectively, Measuring means for measuring a head resistance value of the magnetoresistive head when the head is in an operation waiting state; and calculating a temperature based on the measured head resistance values of the plurality of magnetoresistive heads and the temperature characteristic, A fixed magnetic recording apparatus provided with prediction means for predicting the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head based on the calculated temperature.
化の度合いを警告する警告手段を設けた請求項9記載の
固定磁気記録装置。10. The fixed magnetic recording apparatus according to claim 9, further comprising warning means for warning the degree of characteristic deterioration of the magnetoresistive head from the prediction means.
タを磁気抵抗ヘッドで読み取る固定磁気記録装置におい
て、 前記磁気ディスクの特定の位置に突起物を設け、 前記磁気抵抗ヘッドが前記突起物上を通過するときの出
力変動量に基づいて前記磁気抵抗ヘッドの浮上量の変動
を監視する監視手段を設けた固定磁気記録装置。11. A fixed magnetic recording device for recording data on a magnetic disk and reading the data with a magnetoresistive head, wherein a protrusion is provided at a specific position on the magnetic disk, and the magnetoresistive head passes over the protrusion. A fixed magnetic recording apparatus provided with monitoring means for monitoring a change in a flying height of the magnetoresistive head based on an output change amount when the magnetic head is driven.
告手段を設けた請求項11記載の固定磁気記録装置。12. The fixed magnetic recording apparatus according to claim 11, further comprising warning means for warning that the amount of output fluctuation exceeds a threshold value.
算部を動作させるための制御ルーチンを記録した磁気デ
ィスクであって、 前記制御ルーチンを、 前記磁気抵抗ヘッドの突起物上を通過するときの出力変
動量を計測し記憶する第1のステップと、 前記の記憶した出力変動量が閾値を超えているかどうか
を判定する第2のステップと、 前記の閾値を超えると警告をする第3のステップとで構
成し、この制御ルーチンを記録した磁気ディスク。13. A magnetic disk on which a control routine for operating a central processing unit for controlling a fixed magnetic recording apparatus is recorded, wherein the control routine is executed when the magnetic disk passes over a protrusion of the magnetoresistive head. A first step of measuring and storing the amount of output fluctuation; a second step of determining whether the stored amount of output fluctuation exceeds a threshold; and a third step of issuing a warning if the amount of output fluctuation exceeds the threshold. And a magnetic disk on which this control routine is recorded.
作待ち状態になるとその磁気抵抗ヘッドの突起物上を通
過するときの出力変動量を計測し記憶するよう構成した
請求項13記載の磁気ディスク。14. The magnetic recording apparatus according to claim 13, wherein the first step is configured to measure and store an output fluctuation amount when the magnetoresistive head passes over a protrusion of the magnetoresistive head when the magnetoresistive head is in an operation waiting state. disk.
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