JP2000235590A

JP2000235590A - 論理シミュレーション方法及び装置

Info

Publication number: JP2000235590A
Application number: JP3602899A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Takahashi; 博高橋
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1999-02-15
Filing date: 1999-02-15
Publication date: 2000-08-29
Anticipated expiration: 2019-02-15
Also published as: JP4011778B2

Abstract

(57)【要約】【課題】不定状態を扱えない２値シミュレータでシミュ
レーションする場合、回路動作の異常箇所を特定し、回
路動作のデバッグに貢献する論理シミュレーションを可
能とする論理シミュレーション方法および装置を提供す
る。【解決手段】ディジタルＬＳＩ回路の２値シミュレーシ
ョンを実行する場合において、回路及びテストベンチ中
に不定値に関連する情報があるかどうか検索し（ステッ
プ１００）、不定値に関連する情報があればそれを出力
し（ステップ１３０）、不定値を「０」か「１」に置き
換えて２値シミュレーションモデルを生成し（ステップ
１１０）、２値シミュレーションを実行する（ステップ
１２０）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ディジタルＬＳＩ
回路設計、特にハードウェア記述言語によって設計され
るディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションを
「０」と「１」の２値で行なう論理シミュレーション方
法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】計算機を用いたディジタルＬＳＩ回路設
計のＤＡシステムにおいて、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬやＶ
ＨＤＬなどのハードウェア記述言語による回路設計が行
なわれている。ここで、ディジタル回路においては、信
号値を「０」、「１」、「ｘ」、「ｚ」で表し、「０」
は電圧ロウ状態、「１」は電圧ハイ状態、「ｘ」は不定
状態もしくは不定値、「ｚ」はハイインピーダンス状態
を示す。設計されたディジタルＬＳＩ回路の論理の検証
として、ソフトウエアシミュレータによる回路動作の検
証が行なわれており、「０」、「１」のみを扱う２値シ
ミュレーションや、「０」、「１」に加えて「ｘ」や
「ｚ」を含めた多値シミュレーションが行なわれてい
る。ソフトウエアシミュレータにより回路動作の検証を
行なうためには、設計した回路データと回路を動作させ
るテストベンチが必要であり、これによりディジタルＬ
ＳＩ回路の論理シミュレーションを実行する。今日、シ
ミュレーション速度向上のため、シミュレーション速度
が高速な２値シミュレーション及び一部の信号線のみ多
値として扱う２値多値混在シミュレーションが頻繁に行
なわれるようになってきている。ただし、２値シミュレ
ーションは、不定状態を扱うことができないため、不定
値に関連した回路に対しては多値シミュレーションとシ
ミュレーション結果が一致しないことがあるという問題
がある。

【０００３】２値シミュレーションを行なう場合、図２
７に示すように、従来の論理シミュレーション方法は、
シミュレーションデータとして、回路及びテストベンチ
情報を入力とし、入力されたシミュレーションデータ中
に不定値「ｘ」があるかどうか判定するステップ１００
と、不定値「ｘ」を「０」または「１」に置き換え、２
値シミュレーションモデルを生成するステップ１１０
と、２値シミュレーションを実行するステップ１２０か
らなっている。

【０００４】また、図２８に示すように、従来の論理シ
ミュレーション装置は、回路情報３００とテストベンチ
情報３１０を入力とし、シミュレーションモデル情報３
３０を出力する２値シミュレーション生成手段３２０
と、２値シミュレーションモデル情報３３０を入力とし
２値シミュレーションを実行し、結果３５０を出力する
２値シミュレーション手段３４０からなっている。

【０００５】ここで、ハードウェア記述言語の一つであ
るＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬにより記述された回路及びテス
トベンチの２値シミュレーションの具体例を図２９に示
す。まず、不定値に関係する回路記述３０１とテストベ
ンチ３１１を読み込んで解析し、その中の不定値「ｘ」
を「０」か「１」に置換し、２値シミュレーションモデ
ル３３１を作成する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】従来の論理シミュレー
ション方法及び装置では、不定値を回路動作を考慮せず
に「ｘ」を「０」または「１」に置き換えるために、回
路動作が設計者の意図と異なり、シミュレーション結果
が期待値と一致しない場合があるという問題があった、
また、不定値「ｘ」に関係する記述情報が外部に出力さ
れないため、期待値と一致しない場合の回路のデバッグ
が困難という問題があった。

【０００７】したがって、この発明の目的は、不定状態
を扱えない２値シミュレータでシミュレーションする場
合でも、回路動作の異常箇所の特定、及び回路動作のデ
バッグに貢献する論理シミュレーションを可能とする論
理シミュレーション方法および装置を提供することであ
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の論理シミ
ュレーション方法は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミ
ュレーションの２値シミュレーションを実行する方法で
あって、回路及びテストベンチ情報を入力とし、回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された信号線の不定状態に関する回路及びテストベン
チ情報を抽出し出力する第２のステップと、回路及びテ
ストベンチ情報より、２値シミュレーションモデルを生
成する第３のステップと、２値シミュレーションモデル
に基づき２値シミュレーションを実行する第４のステッ
プとを含むものである。

【０００９】請求項１記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、検索
結果を出力する論理シミュレーション方法を提供するこ
とができ、２値シミュレーション時に問題となる多値と
２値のシミュレーションで期待値が異なる可能性のある
不定値「ｘ」に関係する記述を自動的に把握できる。

【００１０】請求項２記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の不定状態に関する回路及びテストベンチ
情報を検索する第１のステップと、検索された信号線の
不定状態に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し出
力する第２のステップと、回路及びテストベンチ情報
と、不定状態に関する回路及びテストベンチ情報より、
不定状態に関する回路及びテストベンチを、回路及びテ
ストベンチの記述を同じ機能で異なる記述となるよう
に、不定状態を含まない等価な回路及びテストベンチに
置換して、２値シミュレーションモデルを生成する第３
のステップと、２値シミュレーションモデルに基づき２
値シミュレーションを実行する第４のステップとを含む
ものである。

【００１１】請求項２記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、不定値「ｘ」を用いない回路記
述に置換する論理シミュレーション方法を提供すること
ができ、多値と等価な２値シミュレーションを自動的に
行うことができる。

【００１２】請求項３記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の不定状態に関する回路及びテストベンチ
情報を検索する第１のステップと、検索された信号線の
不定状態に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し出
力する第２のステップと、回路及びテストベンチ情報
と、不定状態に関する回路及びテストベンチ情報より、
不定状態に関する回路及びテストベンチについて、不定
状態を判定する信号線を追加し、かつ不定状態を含まな
い等価な回路及びテストベンチに置換して、２値シミュ
レーションモデルを生成する第３のステップと、２値シ
ミュレーションモデルに基づき２値シミュレーションを
実行する第４のステップとを含むものである。

【００１３】請求項３記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、不定か不定でないかを判定する
フラグを用いた回路記述に置換する論理シミュレーショ
ン方法を提供することができる。

【００１４】請求項４記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回
路及びテストベンチ情報を抽出し出力する第２のステッ
プと、回路及びテストベンチ情報より、２値シミュレー
ションモデルを生成する第３のステップと、２値シミュ
レーションモデルに基づき２値シミュレーションを実行
する第４のステップとを含むものである。

【００１５】請求項４記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、初
期化されていない入力信号線、もしくは不定値「ｘ」が
初期値として入力される回路記述を検索し、検索結果を
出力する論理シミュレーション方法を提供することがで
きる。

【００１６】請求項５記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回
路及びテストベンチ情報を抽出し出力する第２のステッ
プと、回路及びテストベンチ情報と、信号線の未初期化
及び不定値の入力に関する回路及びテストベンチ情報よ
り、未初期化及び不定値の入力がされる信号線の初期値
を、未初期化及び不定値の入力がされる信号線が回路及
びテストベンチ中に値として定義されていない値に決定
し、２値シミュレーションモデルを生成する第３のステ
ップと、２値シミュレーションモデルに基づき２値シミ
ュレーションを実行する第４のステップとを含むもので
ある。

【００１７】請求項５記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、初
期化されていない入力信号線、もしくは不定値が入力さ
れる回路記述を検索し、該当する回路記述があれば、該
当する回路記述からその入力値（初期値）を「０」か
「１」に決定する論理シミュレーション方法を提供する
ことができる。

【００１８】請求項６記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の未初期化及び不定値の入力、及び不定状
態に関する回路及びテストベンチ情報を検索する第１の
ステップと、検索された信号線の未初期化及び不定値の
入力、及び不定状態が伝播する回路及びテストベンチ中
の信号線情報を抽出し出力する第２のステップと、回路
及びテストベンチ情報より、２値シミュレーションモデ
ルを生成する第３のステップと、２値シミュレーション
モデルに基づき２値シミュレーションを実行する第４の
ステップとを含むものである。

【００１９】請求項６記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝搬する可
能性のある信号線を全て検索し、検索結果を出力する論
理シミュレーション方法を提供することができる。

【００２０】請求項７記載の論理シミュレーション方法
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する方法であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に記憶素子に関する回路及びテストベンチ情報を検
索する第１のステップと、検索された記憶素子に関する
回路及びテストベンチ情報を抽出し出力する第２のステ
ップと、回路及びテストベンチ情報と、記憶素子に関す
る回路及びテストベンチ情報より、記憶素子の初期化が
されたかどうか判定する信号線を追加し、２値シミュレ
ーションモデルを生成する第３のステップと、２値シミ
ュレーションモデルに基づき２値シミュレーションを実
行する第４のステップとを含むものである。

【００２１】請求項７記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、記
憶素子があるかどうか検索し記憶素子があれば、記憶素
子の初期化が行なわれたかどうかを初期化フラグにより
観測する論理シミュレーション方法を提供することがで
き、レジスタ配列やメモリの初期化忘れを防止できる。

【００２２】請求項８記載の論理シミュレーション装置
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する装置であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の不定状態に関する回路及びテストベンチ
情報を検索し、検索された信号線の不定状態に関する回
路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段と、回路
及びテストベンチ情報より、２値シミュレーションモデ
ルを生成する手段と、２値シミュレーションモデルに基
づき２値シミュレーションを実行する手段を具備したも
のである。

【００２３】請求項８記載の論理シミュレーション装置
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、検索
結果を出力する論理シミュレーション装置を提供するこ
とができる。

【００２４】請求項９記載の論理シミュレーション装置
は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの２
値シミュレーションを実行する装置であって、回路及び
テストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ情
報中に信号線の不定状態に関する回路及びテストベンチ
情報を検索し、検索された信号線の不定状態に関する回
路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段と、不定
状態に関する回路及びテストベンチを不定状態を含まな
い等価な回路及びテストベンチに置換するための方法お
よび置換優先度を置換規約ライブラリとして具備し、回
路及びテストベンチ情報と、不定状態に関する回路及び
テストベンチ情報より、２値シミュレーションモデルを
生成する手段と、２値シミュレーションモデルに基づき
２値シミュレーションを実行する手段を具備したもので
ある。

【００２５】請求項９記載の論理シミュレーション装置
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、不定値「ｘ」に関係
する回路記述を不定値「ｘ」を用いない回路記述に変換
するための情報をライブラリとして具備し、シミュレー
ションデータとして入力された回路及びテストベンチ情
報に、不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索
し、該当する回路記述があれば、ライブラリに従い、不
定値「ｘ」を用いない回路記述に置換する論理シミュレ
ーション装置を提供することができる。

【００２６】請求項１０記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
２値シミュレーションを実行する装置であって、回路及
びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ
情報中に信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回
路及びテストベンチ情報を検索し、検索された信号線の
未初期化及び不定値の入力に関する回路及びテストベン
チ情報を抽出し出力する手段と、回路及びテストベンチ
情報より、２値シミュレーションモデルを生成する手段
と、２値シミュレーションモデルに基づき２値シミュレ
ーションを実行する手段を具備したものである。

【００２７】請求項１０記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
初期化されていない入力信号線、もしくは不定値「ｘ」
が初期値として入力される回路記述を検索し、検索結果
を出力する論理シミュレーション装置を提供することが
できる。

【００２８】請求項１１記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
２値シミュレーションを実行する装置であって、回路及
びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ
情報中に信号線の未初期化及び不定値の入力に関する回
路及びテストベンチ情報を検索し、検索された信号線の
未初期化及び不定値の入力に関する回路及びテストベン
チ情報を抽出し出力する手段と、信号線の未初期化及び
不定値の入力に関する回路及びテストベンチについて未
初期化及び不定値の入力がされる信号線の初期値を決定
する方法および決定優先度を初期化規約ライブラリとし
て具備し、回路及びテストベンチ情報と、信号線の未初
期化及び不定値の入力に関する回路及びテストベンチ情
報より、２値シミュレーションモデルを生成する手段
と、２値シミュレーションモデルに基づき２値シミュレ
ーションを実行する手段を具備したものである。

【００２９】請求項１１記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、未初期化もしくは
不定値「ｘ」が入力値の時、「０」か「１」に入力値を
指定する情報をライブラリとして具備し、シミュレーシ
ョンデータとして入力された回路及びテストベンチ情報
に、初期化されていない入力信号線、もしくは不定値が
入力される回路記述を検索し、該当する回路記述があれ
ば、ライブラリに従い、その初期入力値を「０」か
「１」に指定する論理シミュレーション装置を提供する
ことができる。

【００３０】請求項１２記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
２値シミュレーションを実行する装置であって、回路及
びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ
情報中に信号線の未初期化及び不定値の入力、及び不定
状態に関する回路及びテストベンチ情報を検索し、検索
された信号線の未初期化及び不定値の入力、及び不定状
態が伝播する回路及びテストベンチ中の信号線情報を抽
出し出力する手段と、回路及びテストベンチ情報より、
２値シミュレーションモデルを生成する手段と、２値シ
ミュレーションモデルに基づき２値シミュレーションを
実行する手段を具備したものである。

【００３１】請求項１２記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該
当する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝搬する
可能性のある信号線を全て検索し、検索結果を出力する
論理シミュレーション装置を提供することができる。

【００３２】請求項１３記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
２値多値混在シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテ
ストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の入
力、及び不定状態に関する回路及びテストベンチ情報を
検索し、検索された信号線の未初期化及び不定値の入
力、及び不定状態が伝播する回路及びテストベンチ中の
信号線情報を抽出し出力する手段と、シミュレータ毎の
２値多値混在シミュレーションを行う設定方法を多値指
定規約ライブラリとして具備し、回路及びテストベンチ
情報と、信号線の未初期化及び不定値の入力、及び不定
状態が伝播する回路及びテストベンチ中の信号線情報よ
り、２値多値混在シミュレーションモデルを生成する手
段と、２値多値混在シミュレーションモデルに基づき２
値多値混在シミュレーションを実行する手段を具備した
ものである。

【００３３】請求項１３記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、部分的に信号線毎
に多値のシミュレーションを実行できるシミュレータと
多値の指定方法をライブラリとして具備し、シミュレー
ションデータとして入力された回路及びテストベンチ情
報に、不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索
し、該当する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝
搬する可能性のある信号線を全て検索し、ライブラリに
従い、不定値「ｘ」が伝搬する信号線を多値指定とする
論理シミュレーション装置を提供することができ、不定
値入力による回路の誤動作を検証でき、回路設計効率が
向上する。

【００３４】請求項１４記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
２値シミュレーションを実行する装置であって、回路及
びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベンチ
情報中に記憶素子に関する回路及びテストベンチ情報を
検索し、検索された記憶素子に関する回路及びテストベ
ンチ情報を抽出し出力する手段と、回路及びテストベン
チ情報と、記憶素子に関する回路及びテストベンチ情報
より、記憶素子の初期化がされたかどうか判定する信号
線を追加し、２値シミュレーションモデルを生成する手
段と、２値シミュレーションモデルに基づき２値シミュ
レーションを実行する手段を具備したものである。

【００３５】請求項１４記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
記憶素子があるかどうか検索し、記憶素子があれば、記
憶素子の初期化が行なわれたかどうかを初期化フラグに
より観測する論理シミュレーション装置を提供すること
ができる。

【００３６】請求項１５記載の論理シミュレーション装
置は、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーションの
並列２値シミュレーションを実行する装置であって、回
路及びテストベンチ情報を入力とし、回路及びテストベ
ンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の入力に関す
る回路及びテストベンチ情報を検索し、検索された信号
線の未初期化及び不定値の入力に関する回路及びテスト
ベンチ情報を抽出し出力する手段と、未初期化及び不定
値の入力がされる信号線に対し、全て「０」、全て
「１」、及び少なくとも一通りのランダムに「０」か
「１」に指定する少なくとも三通りの信号線の初期値を
生成する手段と、回路及びテストベンチ情報と、信号線
の未初期化及び不定値の入力に関する回路及びテストベ
ンチ情報と、少なくとも三通りの信号線の初期値より、
少なくとも三通りのシミュレーションを並列で行う、並
列２値シミュレーションモデルを生成する手段と、前並
列２値シミュレーションモデルに基づき並列２値シミュ
レーションを実行する手段と、回路及びテストベンチ情
報と、並列２値シミュレーションの結果より、各シミュ
レーションの結果の不一致箇所を解析し、解析結果とし
て出力し、また並列２値シミュレーションの実行を制御
する手段を具備したものである。

【００３７】請求項１５記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
初期化されていない入力信号線、もしくは不定値が初期
値として入力される回路記述を検索し、回路記述があれ
ば、その初期値を、全て「０」、全て「１」、少なくと
も一通りのランダムに「０」か「１」の組合せとし、少
なくとも３つの並列シミュレーション可能な論理シミュ
レータにより同時にシミュレーションを行ない、その期
待値を観測し、観測結果を出力する論理シミュレーショ
ン装置を提供することができる。

【００３８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１から図２６を用いて説明する。

【００３９】（実施の形態１）この発明の請求項１に対
応する第１の実施の形態の論理シミュレーション方法の
フロー図を図１に、具体例を図２に示す。Ｖｅｒｉｌｏ
ｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを入力
とし、不定値情報を出力する場合を第１の実施の形態と
する。

【００４０】図１に示すように、論理シミュレーション
方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及
びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう前
に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている不定
値「ｘ」の情報を検索し、出力する。

【００４１】ステップ１００は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に不定値「ｘ」があるかどうか検
索する。

【００４２】ステップ１３０は、ステップ１００で検索
した不定値「ｘ」の場所とその記述を出力する。

【００４３】ステップ１１０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に不定値「ｘ」があれば、その
値を「０」か「１」に置き換えて２値シミュレーション
モデルを生成する。

【００４４】ステップ１２０は、ステップ１１０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【００４５】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」を検索し、その結果を出力する具体例
を図１６に示し、図１のフロー図に沿って説明する。

【００４６】回路記述３０２は、６行目に不定値「ｘ」
の記述を持ち、テストベンチ記述３１２は、１行目に不
定値「ｘ」の記述を持つ。

【００４７】ステップ１００により、回路記述３０２及
びテストベンチ記述３１２中の不定値「ｘ」を検索す
る。

【００４８】ステップ１３０により、不定値「ｘ」の検
索結果として、不定値記述情報３７１を出力する。不定
値記述情報３７１には、回路記述６行目とテストベンチ
記述１行目に不定値「x」の記述があることとその記述
を出力する。

【００４９】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に不定値「ｘ」がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
回路及びテストベンチの２値シミュレーション時のデバ
ッグ性が向上する。

【００５０】（実施の形態２）この発明の請求項８に対
応する第２の実施の形態の論理シミュレーション装置の
構成図を図３に示す。ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計され
た回路情報及びテストベンチを入力とし、不定値情報を
出力する場合を第２の実施の形態とする。

【００５１】図３に示すように、論理シミュレーション
装置は、回路及びテストベンチ中の不定値情報抽出手段
３６０と、２値シミュレーションモデル生成手段３２０
と、２値シミュレーション実行手段３４０から構成され
ている。

【００５２】不定値情報抽出手段３６０は、回路情報３
００とテストベンチ情報３１０を入力とし、それらの中
に不定値「ｘ」があるかどうか検索し、検索結果を不定
値情報３７０として出力する。

【００５３】２値シミュレーションモデル生成手段３２
０は、回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力
とし、２値シミュレーションを行うためのシミュレーシ
ョンモデル３３０を生成する。回路情報３００とテスト
ベンチ情報３１０内に不定値「ｘ」があれば、それを
「０」か「１」に置き換えて２値シミュレーションモデ
ル３３０を生成する。

【００５４】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル３３０を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【００５５】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に不定値「ｘ」がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
回路及びテストベンチの２値シミュレーション時のデバ
ッグ性が向上する。

【００５６】（実施の形態３）この発明の請求項２に対
応する第３の実施の形態の論理シミュレーション方法の
フロー図を図４に、具体例を図５に示す。Ｖｅｒｉｌｏ
ｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを入力
とし、２値シミュレーションモデルを生成する場合を第
３の実施の形態とする。

【００５７】図４に示すように、論理シミュレーション
方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及
びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう前
に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている不定
値「ｘ」の情報を検索し、不定値「ｘ」を用いない等価
な２値シミュレーションモデルを生成する。

【００５８】ステップ１００は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に不定値「ｘ」があるかどうか検
索する。

【００５９】ステップ１３０は、ステップ１００で検索
した不定値「ｘ」の場所とその記述を出力する。

【００６０】ステップ１４０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に不定値「ｘ」があれば、不定
値「ｘ」が関係する記述を不定値「ｘ」を用いない等価
な記述に置き換えて２値シミュレーションモデルを生成
する。

【００６１】ステップ１２０は、ステップ１４０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【００６２】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」を検索し、不定値「ｘ」を用いない等
価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図５に
示し、図４のフロー図に沿って説明する。

【００６３】回路記述３０３は、１行目に不定値「ｘ」
の記述を持ち、テストベンチ記述３１３は、不定値
「ｘ」の記述を持たない。

【００６４】ステップ１００により、回路記述３０３及
びテストベンチ記述３１３中の不定値「ｘ」を検索す
る。

【００６５】ステップ１３０により、不定値「ｘ」の検
索結果として、不定値記述情報３７２を出力する。不定
値記述情報３７２には、回路記述１行目に不定値「ｘ」
の記述があることとその記述を出力する。

【００６６】ステップ１４０により、回路記述３０３及
びテストベンチ記述３１３、不定値記述情報３７２から
２値シミュレーションモデル３３２を生成する。不定値
記述情報３７２より、回路記述の１行目に、信号線ｒｓ
ｔが「ｘ」または「１」であれば処理Ａ、信号線ｒｓｔ
が「ｘ」または「１」でなければ処理Ｂという記述を得
る。ここで、信号線ｒｓｔが「ｘ」または「１」でない
とは、信号線ｒｓｔが「０」でないということと等価で
あるため、この部分を置き換えて２値シミュレーション
モデル３３２を生成する。

【００６７】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に不定値「ｘ」がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
また、不定値「ｘ」が関係する記述を不定値「ｘ」を用
いない等価な記述に自動的に置き換えて２値シミュレー
ションを行うため、２値シミュレーションにおいて、多
値シミュレーションと同じ結果が得られる。

【００６８】（実施の形態４）この発明の請求項３に対
応する第４の実施の形態の論理シミュレーション方法の
フロー図を図６に、具体例を図７に示す。Ｖｅｒｉｌｏ
ｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを入力
とし、２値シミュレーションモデルを生成する場合を第
４の実施の形態とする。

【００６９】図６に示すように、論理シミュレーション
方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及
びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう前
に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている不定
値「ｘ」の情報を検索し、不定状態判定フラグにより、
不定値「ｘ」を用いない等価な２値シミュレーションモ
デルを生成する。

【００７０】ステップ１００は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に不定値「ｘ」があるかどうか検
索する。

【００７１】ステップ１３０は、ステップ１００で検索
した不定値「ｘ」の場所とその記述を出力する。

【００７２】ステップ１４１は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に不定値「ｘ」があれば、該当
する信号線が不定状態かどうかを判定する信号線を不定
状態判定フラグとして追加し、不定値「ｘ」が関係する
記述を不定値「ｘ」を用いない等価な記述に置き換えて
２値シミュレーションモデルを生成する。

【００７３】ステップ１２０は、ステップ１４１で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【００７４】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」を検索し、不定値「ｘ」を用いない等
価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図７に
示し、図６のフロー図に沿って説明する。

【００７５】回路記述３０４は、１行目に不定値「ｘ」
の記述を持ち、テストベンチ記述３１４は、１行目に不
定値「ｘ」の記述を持つ。

【００７６】ステップ１００により、回路記述３０４及
びテストベンチ記述３１４中の不定値「ｘ」を検索す
る。

【００７７】ステップ１３０により、不定値「ｘ」の検
索結果として、不定値記述情報３７３を出力する。不定
値記述情報３７３には、回路記述１行目とテストベンチ
記述１行目とに、不定値「ｘ」の記述があることとその
記述を出力する。

【００７８】ステップ１４１により、回路記述３０４及
びテストベンチ記述３１４、不定値記述情報３７３から
２値シミュレーションモデル３３３を生成する。不定値
記述情報３７３より、回路記述の１行目に、信号線ｒｓ
ｔが「ｘ」であれば処理Ａ、信号線ｒｓｔが「ｘ」でな
ければ処理Ｂという記述と、テストベンチ記述の１行目
に、信号線ｒｓｔの初期値が「ｘ」であるという記述を
得る。ここで、信号線ｒｓｔが「ｘ」であるかどうかを
判断するため不定状態判定フラグとして信号線ｒｓｔ＿
ｆｌｇを追加する。信号線ｒｓｔが「ｘ」であるとき、
信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇを「１」とし、信号線ｒｓｔが
「ｘ」でないとき、信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇを「０」とす
る。信号線ｒｓｔの初期値が「ｘ」であり、信号線ｒｓ
ｔが「ｘ」であれば処理Ａ、信号線ｒｓｔが「ｘ」でな
ければ処理Ｂという記述は、信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇの初
期値が「１」であり、信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇが「１」で
あれば処理Ａ、信号線ｒｓｔが「１」でなければ処理Ｂ
ということと等価であるため、この部分を置き換えて２
値シミュレーションモデル３３３を生成する。

【００７９】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に不定値「ｘ」がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
また、不定状態判定フラグとして信号線を追加すること
で、不定値「ｘ」が関係する記述を不定値「ｘ」を用い
ない等価な記述に自動的に置き換えて２値シミュレーシ
ョンを行うため、２値シミュレーションにおいて、多値
シミュレーションと同じ結果が得られる。

【００８０】（実施の形態５）この発明の請求項９に対
応する第５の実施の形態の論理シミュレーション装置の
構成図を図８に、具体例を図９に示す。Ｖｅｒｉｌｏｇ
ＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを入力と
し、２値シミュレーションモデルを生成する場合を第５
の実施の形態とする。

【００８１】図８に示すように、論理シミュレーション
装置は、回路及びテストベンチ中の不定値情報抽出手段
３６０と、２値シミュレーションモデル生成手段３８０
と、２値シミュレーション実行手段３４０から構成され
ている。

【００８２】不定値情報抽出手段３６０は、回路情報３
００とテストベンチ情報３１０を入力とし、それらの中
に不定値「ｘ」があるかどうか検索し、検索結果を不定
値情報３７０として出力する。

【００８３】２値シミュレーションモデル生成手段３８
０は、不定値記述変換規約ライブラリ３９０を具備し、
回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力とし、
２値シミュレーションを行うためのシミュレーションモ
デル４００を生成する。不定値記述変換規約ライブラリ
３９０は、不定値「ｘ」を処理する記述を、２値
「０」、「１」により等価な処理をする記述に置き換え
る規約を記載する。回路情報３００とテストベンチ情報
３１０内に不定値「ｘ」があれば、不定値記述変換規約
ライブラリ３９０に従い、不定値「ｘ」を用いない等価
な回路に置き換えて２値シミュレーションモデル４００
を生成する。

【００８４】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル４００を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【００８５】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」を検索し、不定値「ｘ」を用いない等
価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図９に
示し、図８の構成図に沿って説明する。

【００８６】回路記述３０４は、１行目に不定値「ｘ」
の記述を持ち、テストベンチ記述３１４は、１行目に不
定値「ｘ」の記述を持つ。

【００８７】不定値情報抽出手段３６０により、回路記
述３０４及びテストベンチ記述３１４中の不定値「ｘ」
を検索し、不定値記述情報３７３を出力する。不定値記
述情報３７３には、回路記述１行目とテストベンチ記述
１行目とに、不定値「ｘ」の記述があることとその記述
を出力する。

【００８８】２値シミュレーションモデル生成手段３８
０により、不定記述変換規約ライブラリ３９１、回路記
述３０４及びテストベンチ記述３１４、不定値記述情報
３７３から２値シミュレーションモデル４０１を生成す
る。不定記述変換規約ライブラリ３９１は、論理的な等
価で且つ不定値を用いない記述へ変換する手法１と、不
定状態判断フラグにより論理的に等価で且つ不定値を用
いない記述へ変換する手法２を持つ。手法１の優先度を
１、手法２の優先度を２とし、手法１の方が手法２より
優先とする。不定値記述情報３７３より、回路記述の１
行目に、信号線ｒｓｔが「ｘ」であれば処理Ａ、信号線
ｒｓｔが「ｘ」でなければ処理Ｂという記述と、テスト
ベンチ記述の１行目に、信号線ｒｓｔの初期値が「ｘ」
であるという記述を得る。ここで、信号線ｒｓｔが
「ｘ」であるかどうかを、２値「０」、「１」では記述
できないため、手法２を採用し、信号線ｒｓｔが「ｘ」
であるかどうかを判断するため不定状態判定フラグとし
て信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇを追加する。信号線ｒｓｔが
「ｘ」であるとき、信号線ｒｓｔ＿ｆｌｇを「１」と
し、信号線ｒｓｔが「ｘ」でないとき、信号線ｒｓｔ＿
ｆｌｇを「０」とする。信号線ｒｓｔの初期値が「ｘ」
であり、信号線ｒｓｔが「ｘ」であれば処理Ａ、信号線
ｒｓｔが「ｘ」でなければ処理Ｂという記述は、信号線
ｒｓｔ＿ｆｌｇの初期値が「１」であり、信号線ｒｓｔ
＿ｆｌｇが「１」であれば処理Ａ、信号線ｒｓｔが
「１」でなければ処理Ｂということと等価であるため、
この部分を置き換えて２値シミュレーションモデル４０
１を生成する。

【００８９】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に不定値「ｘ」がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
また、不定記述変換規約ライブラリに登録された方法に
より、不定値「ｘ」が関係する記述を不定値「ｘ」を用
いない等価な記述に自動的に置き換えて２値シミュレー
ションを行うため、２値シミュレーションにおいて、多
値シミュレーションと同じ結果が得られる。

【００９０】（実施の形態６）この発明の請求項４に対
応する第６の実施の形態の論理シミュレーション方法の
フロー図を図１０に、具体例を図１１に示す。Ｖｅｒｉ
ｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを
入力とし、入力不定情報を出力する場合を第６の実施の
形態とする。

【００９１】図１０に示すように、論理シミュレーショ
ン方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報
及びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう
前に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている信
号線への入力不定情報を検索し、出力する。

【００９２】ステップ１５０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があるかどうか検索する。

【００９３】ステップ１６０は、ステップ１５０で検索
した信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力の場所と
その記述を出力する。

【００９４】ステップ１１０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があれば、その値を「０」か「１」とし２
値シミュレーションモデルを生成する。

【００９５】ステップ１２０は、ステップ１１０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【００９６】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力を検索
し、その結果を出力する具体例を図１１に示し、図１０
のフロー図に沿って説明する。

【００９７】回路記述３０５は、１行目に信号線ｃｎｔ
ｌ、６行目に信号線ｒｓｔの記述を持ち、テストベンチ
記述３１４は、１行目に不定値「ｘ」の入力記述を持
つ。

【００９８】ステップ１５０により、回路記述３０５及
びテストベンチ記述３１４中の信号線の未初期化及び不
定値「ｘ」の入力を検索する。

【００９９】ステップ１６０により、信号線の未初期化
及び不定値「ｘ」の入力の検索結果として、入力不定記
述情報４２１を出力する。入力不定記述情報４２１に
は、回路記述６行目の信号線ｒｓｔが未初期化とテスト
ベンチ記述１行目に不定値「x」の入力記述があること
とその記述を出力する。

【０１００】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力がど
こにどのように記述されているかを回路及びテストベン
チ設計者が知ることができ、回路及びテストベンチの２
値シミュレーション時のデバッグ性が向上する。

【０１０１】（実施の形態７）この発明の請求項１０に
対応する第７の実施の形態の論理シミュレーション装置
の構成図を図１２に示す。ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計
された回路情報及びテストベンチを入力とし、入力不定
情報を出力する場合を第７の実施の形態とする。

【０１０２】図１２に示すように、論理シミュレーショ
ン装置は、回路及びテストベンチ中の信号線の未初期化
及び不定値「ｘ」の入力情報抽出手段４１０と、２値シ
ミュレーションモデル生成手段３２０と、２値シミュレ
ーション実行手段３４０から構成されている。

【０１０３】信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入
力情報抽出手段４１０は、回路情報３００とテストベン
チ情報３１０を入力とし、それらの中に信号線の未初期
化及び不定値「ｘ」の入力があるかどうか検索し、検索
結果を信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力情報４
２０として出力する。

【０１０４】２値シミュレーションモデル生成手段３２
０は、回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力
とし、２値シミュレーションを行うためのシミュレーシ
ョンモデル３３０を生成する。回路情報３００とテスト
ベンチ情報３１０内に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があれば、それを「０」か「１」とし２値
シミュレーションモデル３３０を生成する。

【０１０５】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル３３０を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【０１０６】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力がど
こにどのように記述されているかを回路及びテストベン
チ設計者が知ることができ、回路及びテストベンチの２
値シミュレーション時のデバッグ性が向上する。

【０１０７】（実施の形態８）この発明の請求項５に対
応する第８の実施の形態の論理シミュレーション方法の
フロー図を図１３に、具体例を図１４に示す。Ｖｅｒｉ
ｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを
入力とし、２値シミュレーションモデルを生成する場合
を第８の実施の形態とする。

【０１０８】図１３に示すように、論理シミュレーショ
ン方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報
及びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう
前に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている入
力不定情報を検索し、入力値が不定であっても不定値
「ｘ」を用いない等価な２値シミュレーションモデルを
生成する。

【０１０９】ステップ１５０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があるかどうか検索する。

【０１１０】ステップ１６０は、ステップ１５０で検索
した信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力の場所と
その記述を出力する。

【０１１１】ステップ１７０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があれば、その信号線の接続先及び記述に
より、値を「０」か「１」に決定し、２値シミュレーシ
ョンモデルを生成する。

【０１１２】ステップ１２０は、ステップ１７０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【０１１３】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力を検索
し、入力値が不定であっても不定値「ｘ」を用いない等
価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図１４
に示し、図１３のフロー図に沿って説明する。

【０１１４】回路記述３０６は、１行目に信号線ｃｎｔ
ｌ、６行目に信号線ｒｓｔの記述を持ち、テストベンチ
記述３１４は、１行目に不定値「ｘ」の入力記述を持
つ。

【０１１５】ステップ１５０により、回路記述３０６及
びテストベンチ記述３１４中の信号線の未初期化及び不
定値「ｘ」の入力を検索する。

【０１１６】ステップ１６０により、信号線の未初期化
及び不定値「ｘ」の入力の検索結果として、入力不定記
述情報４２２を出力する。入力不定記述情報４２２に
は、回路記述６行目の信号線ｒｓｔが未初期化とテスト
ベンチ記述１行目に不定値「ｘ」の入力記述があること
とその記述を出力する。

【０１１７】ステップ１７０により、回路記述３０６及
びテストベンチ記述３１４、入力不定記述情報４２２か
ら２値シミュレーションモデル３３４を生成する。入力
不定記述情報４２２から、信号線ｃｎｔｌの初期入力値
が不定値「ｘ」であることと、信号線ｒｓｔの初期化が
されておらず、共に不定であることを得る。回路及びテ
ストベンチ情報と、信号線の未初期化及び不定値の入力
に関する回路及びテストベンチ情報より、未初期化及び
不定値の入力がされる信号線の初期値を、未初期化及び
不定値の入力がされる信号線が回路及びテストベンチ中
に値として定義されていない値に決定する。ここで、回
路記述３０６の１行目より、信号線ｃｎｔｌが「０」で
あればという記述が得られる。初期入力が不定であると
いうことは、「０」ではないということで、この記述で
あれば２値シミュレーションでは「１」と等価となる。
よって、信号線ｃｎｔｌの初期入力値を「１」と決定す
る。また、回路記述３０６の６行目より、信号線ｒｓｔ
が「１」であればという記述が得られる。初期入力が不
定であるということは、「１」ではないということで、
この記述であれば２値シミュレーションでは「０」と等
価となる。よって、信号線ｒｓｔの初期入力値を「０」
と決定する。信号線ｃｎｔｌの初期入力値を「１」、信
号線ｒｓｔの初期入力値を「０」とする記述を追加し
て、２値シミュレーションモデル３３４を生成する。
シミュレーション対象の回路及びテストベンチ中に信号
線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力がどこにどのよう
に記述されているかを回路及びテストベンチ設計者が知
ることができ、また、信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力が関係する記述を、入力値が不定であって
も不定値「ｘ」を用いない等価な記述に自動的に置き換
えて２値シミュレーションを行うため、２値シミュレー
ションにおいて、多値シミュレーションと同じ結果が得
られる。

【０１１８】（実施の形態９）この発明の請求項１１に
対応する第９の実施の形態の論理シミュレーション装置
の構成図を図１５に、具体例を図１６に示す。Ｖｅｒｉ
ｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベンチを
入力とし、２値シミュレーションモデルを生成する場合
を第９の実施の形態とする。

【０１１９】図１５に示すように、論理シミュレーショ
ン装置は、回路及びテストベンチ中の信号線の未初期化
及び不定値「ｘ」の入力情報抽出手段４１０と、２値シ
ミュレーションモデル生成手段４３０と、２値シミュレ
ーション実行手段３４０から構成されている。

【０１２０】信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入
力情報抽出手段４１０は、回路情報３００とテストベン
チ情報３１０を入力とし、それらの中に信号線の未初期
化及び不定値「ｘ」の入力があるかどうか検索し、検索
結果を信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力情報４
２０として出力する。

【０１２１】２値シミュレーションモデル生成手段４３
０は、入力初期値規約ライブラリ４４０を具備し、回路
情報３００とテストベンチ情報３１０を入力とし、２値
シミュレーションを行うためのシミュレーションモデル
４５０を生成する。入力初期値規約ライブラリ４４０
は、信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力につい
て、２値「０」、「１」により等価な処理となる入力信
号値を決定するための規約を記載する。回路情報３００
とテストベンチ情報３１０内に信号線の未初期化及び不
定値「ｘ」の入力があれば、入力初期値規約ライブラリ
４４０に従い、入力値が不定であっても不定値「ｘ」を
用いない等価な回路に置き換えて２値シミュレーション
モデル４５０を生成する。

【０１２２】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル４５０を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【０１２３】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力を検索
し、入力値が不定であっても不定値「ｘ」を用いない等
価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図２２
に示し、図９の構成図に沿って説明する。

【０１２４】回路記述３０６は、１行目に信号線ｃｎｔ
ｌ、６行目に信号線ｒｓｔの記述を持ち、テストベンチ
記述３１４は、１行目に不定値「ｘ」の入力記述を持
つ。

【０１２５】信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入
力情報抽出手段４１０により、回路記述３０６及びテス
トベンチ記述３１４中の信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力を検索し、入力不定記述情報４２２を出力
する。入力不定記述情報４２２には、回路記述６行目の
信号線ｒｓｔが未初期化とテストベンチ記述１行目に不
定値「ｘ」の入力記述があることとその記述を出力す
る。

【０１２６】２値シミュレーションモデル生成手段４３
０により、入力初期値規約ライブラリ４４１、回路記述
３０６及びテストベンチ記述３１４、入力不定記述情報
４２２から２値シミュレーションモデル４５１を生成す
る。入力初期値規約ライブラリ４４１は、回路記述の条
件式に明記されていない値に初期値を指定する手法１
と、無条件に「０」に指定する手法２を持つ。手法１の
優先度を１、手法２の優先度を２とし、手法１の方が手
法２より優先とする。入力不定記述情報４２２から、信
号線ｃｎｔｌの初期入力値が不定値「ｘ」であるここ
と、信号線ｒｓｔの初期化がされておらず、共に不定で
あることを得る。ここでは、初期入力値が不定な信号線
の接続先の回路記述の条件式を参照できるため、手法１
を採用する。ここで、回路記述３０６の１行目より、信
号線ｃｎｔｌが「０」であればという記述が得られる。
初期入力が不定であるということは、「０」ではないと
いうことで、この記述であれば２値シミュレーションで
は「１」と等価となる。よって、信号線ｃｎｔｌの初期
入力値を「１」と決定する。また、回路記述３０６の６
行目より、信号線ｒｓｔが「１」であればという記述が
得られる。初期入力が不定であるということは、「１」
ではないということで、この記述であれば２値シミュレ
ーションでは「０」と等価となる。よって、信号線ｒｓ
ｔの初期入力値を「０」と決定する。信号線ｃｎｔｌの
初期入力値を「１」、信号線ｒｓｔの初期入力値を
「０」とする記述を追加して、２値シミュレーションモ
デル４５１を生成する。

【０１２７】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力がど
こにどのように記述されているかを回路及びテストベン
チ設計者が知ることができ、また、入力初期値規約ライ
ブラリに登録された方法により、信号線の未初期化及び
不定値「ｘ」の入力が関係する記述を、入力値が不定で
あっても不定値「ｘ」を用いない等価な記述に自動的に
置き換えて２値シミュレーションを行うため、２値シミ
ュレーションにおいて、多値シミュレーションと同じ結
果が得られる。

【０１２８】（実施の形態１０）この発明の請求項６に
対応する第１０の実施の形態の論理シミュレーション方
法のフロー図を図１７に、具体例を図１８に示す。Ｖｅ
ｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベン
チを入力とし、入力不定情報を出力する場合を第１０の
実施の形態とする。

【０１２９】図１７に示すように、論理シミュレーショ
ン方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報
及びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう
前に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている不
定値「ｘ」が伝播する信号線を検索し、出力する。

【０１３０】ステップ１８０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に未初期化の信号線及び不定値
「ｘ」があるかどうか検索する。

【０１３１】ステップ１９０は、ステップ１８０で検索
した未初期化の信号線及び不定値「ｘ」が伝播する信号
線の場所とその記述を出力する。

【０１３２】ステップ１１０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があれば、その値を「０」か「１」とし２
値シミュレーションモデルを生成する。

【０１３３】ステップ１２０は、ステップ１１０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【０１３４】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」の伝播する信号線を検索し、その結果
を出力する具体例を図２３に示し、図１０のフロー図に
沿って説明する。

【０１３５】回路記述３０７は、信号線ｄａｔａＡが伝
播する信号線ｄａｔａＢ、信号線ｄａｔａＢが伝播する
信号線ｄａｔａＣを持ち、テストベンチ記述３１５は、
信号線ｄａｔａＡへの不定値「ｘ」の入力記述を持つ。

【０１３６】ステップ１８０により、回路記述３０５及
びテストベンチ記述３１４中の未初期化の信号線及び不
定値「ｘ」の入力を検索する。

【０１３７】ステップ１９０により、未初期化の信号線
及び不定値「ｘ」の伝播する信号線の検索結果として、
不定値伝播信号線情報４７１を出力する。不定値伝播信
号線情報４７１には、回路記述の信号線ｄａｔａＡ、ｄ
ａｔａＢ、ｄａｔａＣ、及びがテストベンチ記述の信号
線ｄａｔａＡに不定値が伝播することを出力する。

【０１３８】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中のどの信号線に不定値「ｘ」が伝播するかを回路
及びテストベンチ設計者が知ることができ、回路及びテ
ストベンチの２値シミュレーション時のデバッグ性が向
上する。

【０１３９】（実施の形態１１）この発明の請求項１２
に対応する第１１の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図を図１９に示す。ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで
設計された回路情報及びテストベンチを入力とし、入力
不定情報を出力する場合を第１１の実施の形態とする。

【０１４０】図１９に示すように、論理シミュレーショ
ン装置は、回路及びテストベンチ中の不定値「ｘ」の不
定値伝播信号線情報抽出手段４６０と、２値シミュレー
ションモデル生成手段３２０と、２値シミュレーション
実行手段３４０から構成されている。

【０１４１】不定値伝播信号線情報抽出手段４６０は、
回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力とし、
それらの中に未初期化の信号線及び不定値「ｘ」が伝播
する信号線があるかどうか検索し、検索結果を不定値伝
播信号線情報４７０として出力する。

【０１４２】２値シミュレーションモデル生成手段３２
０は、回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力
とし、２値シミュレーションを行うためのシミュレーシ
ョンモデル３３０を生成する。回路情報３００とテスト
ベンチ情報３１０内に信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力があれば、それを「０」か「１」とし２値
シミュレーションモデル３３０を生成する。

【０１４３】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル３３０を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【０１４４】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中のどの信号線に不定値「ｘ」が伝播するかを回路
及びテストベンチ設計者が知ることができ、回路及びテ
ストベンチの２値シミュレーション時のデバッグ性が向
上する。

【０１４５】（実施の形態１２）この発明の請求項１３
に対応する第１２の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図を図２０に、具体例を図２１に示す。Ｖｅ
ｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベン
チを入力とし、２値多値混在シミュレーションモデルを
生成する場合を第１２の実施の形態とする。

【０１４６】図２０に示すように、論理シミュレーショ
ン装置は、回路及びテストベンチ中の不定値「ｘ」の不
定値伝播信号線情報抽出手段４６０と、２値多値混在シ
ミュレーションモデル生成手段４８０と、２値多値混在
シミュレーション実行手段５１０から構成されている。

【０１４７】不定値伝播信号線情報抽出手段４６０は、
回路情報３００とテストベンチ情報３１０を入力とし、
それらの中に未初期化の信号線及び不定値「ｘ」が伝播
する信号線があるかどうか検索し、検索結果を不定値伝
播信号線情報４７０として出力する。

【０１４８】２値多値混在シミュレーションモデル生成
手段４８０は、多値指定規約ライブラリ４９０を具備
し、回路情報３００とテストベンチ情報３１０、不定値
伝播信号線情報４７０を入力とし、２値多値混在シミュ
レーションを行うためのシミュレーションモデル５００
を生成する。多値指定規約ライブラリ４９１は、２値多
値混在シミュレーションが可能なシミュレータ毎に、そ
の多値指定の方法を記載する。回路情報３００とテスト
ベンチ情報３１０内に不定値の伝播する信号線があれ
ば、多値指定規約ライブラリ４９０に従い、特定の信号
線のみ多値を扱う２値多値混在シミュレーションモデル
５００を生成する。

【０１４９】２値多値混在シミュレーション実行手段５
１０は、２値多値混在シミュレーションモデル５００を
入力とし、２値多値混在シミュレーションを実行し、シ
ミュレーション結果３５０を出力する。

【０１５０】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、不定値「ｘ」が伝播する信号線を検索し、不定値が
伝播する信号線のみ多値として２値多値混在入力値シミ
ュレーションモデルを生成する具体例を図２１に示し、
図２０の構成図に沿って説明する。

【０１５１】回路記述３０７は、信号線ｄａｔａＡが伝
播する信号線ｄａｔａＢ、信号線ｄａｔａＢが伝播する
信号線ｄａｔａＣを持ち、テストベンチ記述３１５は、
信号線ｄａｔａＡへの不定値「ｘ」の入力記述を持つ。

【０１５２】不定値伝播信号線情報抽出手段４６０によ
り、回路記述３０７及びテストベンチ記述３１５中の未
初期化の信号線及び不定値「ｘ」の入力を検索し、未初
期化の信号線及び不定値「ｘ」の伝播する信号線の検索
結果として、不定値伝播信号線情報４７１を出力する。
不定値伝播信号線情報４７１には、回路記述３０７の信
号線ｄａｔａＡ、ｄａｔａＢ、ｄａｔａＣ、及びテスト
ベンチ記述３１５の信号線ｄａｔａＡに不定値が伝播す
ることを出力する。

【０１５３】２値多値混在シミュレーションモデル生成
手段４８０により、多値指定規約ライブラリ４９１、回
路記述３０７及びテストベンチ記述３１５、不定値伝播
信号線情報４７１から２値多値混在シミュレーションモ
デル５０１を生成する。

【０１５４】多値指定規約ライブラリ４９１は、信号線
の宣言末尾に／＊４ｓｔａｔｅ＊／を追加すること
で、多値信号線と認識するシミュレータＡと、信号線の
宣言を４ｓｔａｔｅｒｅｇで行うことで多値信号線と認
識するシミュレータＢを持つ。ここでは、シミュレータ
Ａを使用するものとする。

【０１５５】不定値伝播信号線情報抽出手段４６０か
ら、回路記述３０７の信号線ｄａｔａＡ、ｄａｔａＢ、
ｄａｔａＣ、及びテストベンチ記述３１５の信号線ｄａ
ｔａＡに不定値が伝播することを得て、多値指定規約ラ
イブラリ４９１に従い、信号線ｄａｔａＡ、ｄａｔａ
Ｂ、ｄａｔａＣの宣言末尾に／＊４ｓｔａｔｅ＊／
を追加し、２値多値混在シミュレーションモデル５０１
を生成する。

【０１５６】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中のどの信号線に不定値「ｘ」が伝播するかを回路
及びテストベンチ設計者が知ることができ、また、自動
的に２値多値混在シミュレーションを行うシミュレーシ
ョンモデルを生成でき、設計効率が向上する。

【０１５７】（実施の形態１３）この発明の請求項７に
対応する第１３の実施の形態の論理シミュレーション方
法のフロー図を図２２に、具体例を図２３に示す。Ｖｅ
ｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベン
チを入力とし、２値シミュレーションモデルを生成する
場合を第１３の実施の形態とする。

【０１５８】図２２に示すように、論理シミュレーショ
ン方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報
及びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう
前に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている記
憶素子の情報を検索し、記憶素子初期化フラグを用いた
等価な２値シミュレーションモデルを生成する。

【０１５９】ステップ２００は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述に記憶素子があるかどうか検索す
る。

【０１６０】ステップ２１０は、ステップ２００で検索
した記憶素子の場所とその記述を出力する。

【０１６１】ステップ２２０は、入力された回路情報及
びテストベンチの記述中に記憶素子があれば、記憶素子
初期化フラグを用いた等価な２値シミュレーションモデ
ルを生成する。

【０１６２】ステップ１２０は、ステップ２２０で生成
された２値シミュレーションモデルに対し、２値シミュ
レーションを実行する。

【０１６３】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、記憶素子を検索し、記憶素子初期化フラグを用いた
等価なシミュレーションモデルを生成する具体例を図２
５に示し、図２２のフロー図に沿って説明する。

【０１６４】回路記述３０８は、記憶素子記述を持た
ず、テストベンチ記述３１６は、記憶素子記述としてレ
ジスタ配列の記述を持つ。

【０１６５】ステップ２００により、回路記述３０８及
びテストベンチ記述３１６中の記憶素子記述を検索す
る。

【０１６６】ステップ２１０により、記憶素子記述の検
索結果として、記憶素子情報５３１を出力する。記憶素
子情報５３１には、テストベンチ記述にレジスタ配列の
記述があることとその記述を出力する。

【０１６７】ステップ２２０により、回路記述３０８及
びテストベンチ記述３１６、記憶素子情報５３１から２
値シミュレーションモデル５５１を生成する。記憶素子
情報５３１より、テストベンチ記述３１６にレジスタ配
列ｍｅｍがあることを得て、レジスタ配列ｍｅｍと同じ
配列を持つ初期化フラグをｍｅｍ＿ｆｌｇとして追加す
る。回路記述３０８及びテストベンチ記述３１６中にレ
ジスタ配列ｍｅｍの初期化記述があるかどうか検索し、
あれば初期化直後に初期化フラグｍｅｍ＿ｆｌｇを
「１」とする記述を追加し、２値シミュレーションモデ
ル５５１を生成する。

【０１６８】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に記憶素子記述がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
また、２値シミュレーションにおいて、記憶素子の初期
化をしたかどうかを確認でき、設計検証の精度が向上す
る。

【０１６９】（実施の形態１４）この発明の請求項１４
に対応する第１４の実施の形態の論理シミュレーション
方法のフロー図を図２４に示す。ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬ
で設計された回路情報及びテストベンチを入力とし、２
値シミュレーションモデルを生成する場合を第１４の実
施の形態とする。

【０１７０】図２４に示すように、論理シミュレーショ
ン方法は、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報
及びテストベンチによる２値シミュレーションを行なう
前に、回路情報及びテストベンチ中に記述されている記
憶素子の情報を検索し、記憶素子初期化フラグを用いた
等価な２値シミュレーションモデルを生成する。

【０１７１】記憶素子情報抽出手段５２０は、入力され
た回路情報３００及びテストベンチ情報３１０の記述に
記憶素子があるかどうか検索し、検索した記憶素子の場
所とその記述を記憶素子情報５３０として出力する。

【０１７２】２値シミュレーションモデル生成手段５４
０は、入力された回路情報及びテストベンチの記述中に
記憶素子があれば、記憶素子初期化フラグを用いた等価
な２値シミュレーションモデル５５０を生成する。

【０１７３】２値シミュレーション実行手段３４０は、
２値シミュレーションモデル５５０を入力とし、２値シ
ミュレーションを実行し、シミュレーション結果３５０
を出力する。

【０１７４】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に記憶素子記述がどこにどのように記述されてい
るかを回路及びテストベンチ設計者が知ることができ、
また、２値シミュレーションにおいて、記憶素子の初期
化をしたかどうかを確認でき、設計検証の精度が向上す
る。

【０１７５】（実施の形態１５）この発明の請求項１５
に対応する第１５の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図を図２５に、具体例を図２６に示す。Ｖｅ
ｒｉｌｏｇＨＤＬで設計された回路情報及びテストベン
チを入力とし、並列２値シミュレーションが可能なシミ
ュレータにより、入力信号が不定な場合の回路動作シミ
ュレーションを行う場合を第１５の実施の形態とする。

【０１７６】図２５に示すように、論理シミュレーショ
ン装置は、回路及びテストベンチ中の信号線の未初期化
及び不定値「ｘ」の入力情報抽出手段４１０と、初期値
生成手段５６０と、並列２値シミュレーションモデル生
成手段５８０と、並列２値シミュレーション実行手段６
００と、シミュレーション結果解析手段６２０から構成
されている。

【０１７７】信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入
力情報抽出手段４１０は、回路情報３００とテストベン
チ情報３１０を入力とし、それらの中に信号線の未初期
化及び不定値「ｘ」の入力があるかどうか検索し、検索
結果を信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力情報４
２０として出力する。

【０１７８】初期値生成手段５６０は、信号線の未初期
化及び不定値「ｘ」の入力情報４２０を入力とし、入力
値が不定の全信号線に対し、全て「０」、全て「１」、
少なくとも一つのランダムに「０」か「１」を決定した
組み合わせの少なくとも三通りの信号線初期値情報５７
０を出力する。

【０１７９】並列２値シミュレーションモデル生成手段
５８０は、回路情報３００とテストベンチ情報３１０、
信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入力情報抽出手
段４１０の未初期化及び不定値入力情報４２０と初期値
情報５７０を入力とし、並列２値シミュレーションを行
うためのシミュレーションモデル５９０を生成する。回
路情報３００とテストベンチ情報３１０内に信号線の未
初期化及び不定値「ｘ」の入力があれば、それを初期値
情報５７０に従い指定し、並列２値シミュレーションモ
デル５９０を生成する。並列２値シミュレーションモデ
ル５９０は、少なくとも三通りの組み合わせを持つ初期
値情報５７０に対応した少なくとも三通りのシミュレー
ションを並列に行うモデルとする。

【０１８０】並列２値シミュレーション実行手段６００
は、並列２値シミュレーションモデル５９０を入力と
し、並列２値シミュレーションを実行し、シミュレーシ
ョン結果６１０を出力する。

【０１８１】シミュレーション結果解析手段６２０は、
回路情報３００とテストベンチ情報３１０、シミュレー
ション結果６１０を入力とし、並列２値シミュレーショ
ン間での期待値不一致箇所を解析し、不一致の状況と関
係する回路及びテストベンチ情報を解析結果情報６３０
として出力する。また、並列２値シミュレーション中に
信号線の期待値不一致が発生したら並列２値シミュレー
ション実行手段６００を制御し、並列２値シミュレーシ
ョンを中断させる。

【０１８２】入力された回路及びテストベンチの記述か
ら、信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力を検索
し、並列シミュレーション用の初期値情報を生成する具
体例を図２６に示し、図２５の構成図に沿って説明す
る。

【０１８３】テストベンチ記述３１７は、未初期化の入
力信号線ｄｉｎＡ、ｄｉｎＢ、ｄｉｎＣを持つ。

【０１８４】信号線の未初期化または不定値「ｘ」の入
力情報抽出手段４１０により、回路記述３００及びテス
トベンチ記述３１７中の信号線の未初期化及び不定値
「ｘ」の入力を検索し、入力不定記述情報４２３を出力
する。入力不定記述情報４２３には、テストベンチ記述
に未初期化の入力信号線ｄｉｎＡ、ｄｉｎＢ、ｄｉｎＣ
があることとその記述を出力する。

【０１８５】初期値生成手段５６０により、入力不定記
述情報４２３中の未初期化の入力信号線ｄｉｎＡ、ｄｉ
ｎＢ、ｄｉｎＣの値を全て「０」に初期化する初期値情
報５７２、全て「１」に初期化する初期値情報５７３、
ランダムに「０」か「１」と初期化し、信号線ｄｉｎ
Ａ、ｄｉｎＣを「１」に、信号線ｄｉｎＢを「０」とし
た初期化情報５７４を初期化情報５７１として生成す
る。

【０１８６】並列２値シミュレーションモデル生成手段
５８０では、三通りの初期化情報を持つ初期化情報５７
１に従い、三通りの入力値の異なる並列２値シミュレー
ションモデル５９０を生成する。

【０１８７】シミュレーション対象の回路及びテストベ
ンチ中に信号線の未初期化及び不定値「ｘ」の入力がど
こにどのように記述されているかを回路及びテストベン
チ設計者が知ることができる。また、不定入力信号に複
数組み合わせの２値入力信号を与えることにより、回路
の不定値入力時の動作検証を２値シミュレーションで自
動的に行うことができ、回路及びテストベンチのデバッ
グ性が向上する。

【０１８８】

【発明の効果】請求項１記載の論理シミュレーション方
法によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、検
索結果を出力する論理シミュレーション方法を提供する
ことができ、２値シミュレーション時に問題となる多値
と２値のシミュレーションで期待値が異なる可能性のあ
る不定値「ｘ」に関係する記述を自動的に把握できる。

【０１８９】請求項２記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、不定値「ｘ」を用いない回路記
述に置換する論理シミュレーション方法を提供すること
ができ、多値と等価な２値シミュレーションを自動的に
行うことができる。

【０１９０】請求項３記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、不定か不定でないかを判定する
フラグを用いた回路記述に置換する論理シミュレーショ
ン方法を提供することができる。

【０１９１】請求項４記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、初
期化されていない入力信号線、もしくは不定値「ｘ」が
初期値として入力される回路記述を検索し、検索結果を
出力する論理シミュレーション方法を提供することがで
きる。

【０１９２】請求項５記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、初
期化されていない入力信号線、もしくは不定値が入力さ
れる回路記述を検索し、該当する回路記述があれば、該
当する回路記述からその入力値（初期値）を「０」か
「１」に決定する論理シミュレーション方法を提供する
ことができる。

【０１９３】請求項６記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該当
する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝搬する可
能性のある信号線を全て検索し、検索結果を出力する論
理シミュレーション方法を提供することができる。

【０１９４】請求項７記載の論理シミュレーション方法
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、記
憶素子があるかどうか検索し記憶素子があれば、記憶素
子の初期化が行なわれたかどうかを初期化フラグにより
観測する論理シミュレーション方法を提供することがで
き、レジスタ配列やメモリの初期化忘れを防止できる。

【０１９５】請求項８記載の論理シミュレーション装置
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、シミュレーションデ
ータとして入力された回路及びテストベンチ情報に、不
定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、検索
結果を出力する論理シミュレーション装置を提供するこ
とができる。

【０１９６】請求項９記載の論理シミュレーション装置
によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーショ
ンを２値で実行する場合において、不定値「ｘ」に関係
する回路記述を不定値「ｘ」を用いない回路記述に変換
するための情報をライブラリとして具備し、シミュレー
ションデータとして入力された回路及びテストベンチ情
報に、不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索
し、該当する回路記述があれば、ライブラリに従い、不
定値「ｘ」を用いない回路記述に置換する論理シミュレ
ーション装置を提供することができる。

【０１９７】請求項１０記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
初期化されていない入力信号線、もしくは不定値「ｘ」
が初期値として入力される回路記述を検索し、検索結果
を出力する論理シミュレーション装置を提供することが
できる。

【０１９８】請求項１１記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、未初期化もしくは
不定値「ｘ」が入力値の時、「０」か「１」に入力値を
指定する情報をライブラリとして具備し、シミュレーシ
ョンデータとして入力された回路及びテストベンチ情報
に、初期化されていない入力信号線、もしくは不定値が
入力される回路記述を検索し、該当する回路記述があれ
ば、ライブラリに従い、その初期入力値を「０」か
「１」に指定する論理シミュレーション装置を提供する
ことができる。

【０１９９】請求項１２記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索し、該
当する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝搬する
可能性のある信号線を全て検索し、検索結果を出力する
論理シミュレーション装置を提供することができる。

【０２００】請求項１３記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、部分的に信号線毎
に多値のシミュレーションを実行できるシミュレータと
多値の指定方法をライブラリとして具備し、シミュレー
ションデータとして入力された回路及びテストベンチ情
報に、不定値「ｘ」に関係する情報があるかどうか検索
し、該当する回路記述があれば、その不定値「ｘ」が伝
搬する可能性のある信号線を全て検索し、ライブラリに
従い、不定値「ｘ」が伝搬する信号線を多値指定とする
論理シミュレーション装置を提供することができ、不定
値入力による回路の誤動作を検証でき、回路設計効率が
向上する。

【０２０１】請求項１４記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
記憶素子があるかどうか検索し、記憶素子があれば、記
憶素子の初期化が行なわれたかどうかを初期化フラグに
より観測する論理シミュレーション装置を提供すること
ができる。

【０２０２】請求項１５記載の論理シミュレーション装
置によれば、ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレーシ
ョンを２値で実行する場合において、シミュレーション
データとして入力された回路及びテストベンチ情報に、
初期化されていない入力信号線、もしくは不定値が初期
値として入力される回路記述を検索し、回路記述があれ
ば、その初期値を、全て「０」、全て「１」、少なくと
も一通りのランダムに「０」か「１」の組合せとし、少
なくとも３つの並列シミュレーション可能な論理シミュ
レータにより同時にシミュレーションを行ない、その期
待値を観測し、観測結果を出力する論理シミュレーショ
ン装置を提供することができる。

【図面を簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施の形態の論理シミュレー
ション方法のフロー図である。

【図２】第１の実施の形態の論理シミュレーション方法
の具体例を示す図である。

【図３】第２の実施の形態の論理シミュレーション装置
の構成図である。

【図４】第３の実施の形態の論理シミュレーション方法
のフロー図である。

【図５】第３の実施の形態の論理シミュレーション方法
の具体例を示す図である。

【図６】第４の実施の形態の論理シミュレーション方法
のフロー図である。

【図７】第４の実施の形態の論理シミュレーション方法
の具体例を示す図である。

【図８】第５の実施の形態の論理シミュレーション装置
のの構成図である。

【図９】第５の実施の形態の論理シミュレーション装置
の具体例を示す図である。

【図１０】第６の実施の形態の論理シミュレーション方
法のフロー図である。

【図１１】第６の実施の形態の論理シミュレーション方
法の具体例を示す図である。

【図１２】第７の実施の形態の論理シミュレーション装
置の一実施例の構成図である。

【図１３】第８の実施の形態の論理シミュレーション方
法のフロー図である。

【図１４】第８の実施の形態の論理シミュレーション方
法の具体例を示す図である。

【図１５】第９の実施の形態の論理シミュレーション装
置の構成図である。

【図１６】第９の実施の形態の論理シミュレーション装
置の具体例を示す図である。

【図１７】第１０の実施の形態の論理シミュレーション
方法のフロー図である。

【図１８】第１０の実施の形態の論理シミュレーション
方法の具体例を示す図である。

【図１９】第１１の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図である。

【図２０】第１２の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図である。

【図２１】第１２の実施の形態の論理シミュレーション
装置の具体例を示す図である。

【図２２】第１３の実施の形態の論理シミュレーション
方法のフロー図である。

【図２３】第１３の実施の形態の論理シミュレーション
方法の具体例を示す図である。

【図２４】第１４の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図である。

【図２５】第１５の実施の形態の論理シミュレーション
装置の構成図である。

【図２６】第１５の実施の形態の論理シミュレーション
装置の具体例を示す図である。

【図２７】従来の論理シミュレーション方法のフロー図
である。

【図２８】従来の論理シミュレーション装置の構成図で
ある。

【図２９】従来の論理シミュレーション方法の具体例を
示す図である。

【符号の説明】

１００回路及びテストベンチ中に不定値があるかどう
か検索するステップ１１０不定値を「０」か「１」に置き換えて２値シミ
ュレーションモデルを生成するステップ１２０２値シミュレーションを実行するステップ１３０不定値情報を出力するステップ１４０不定値を含まない等価なモデルに変換するステ
ップ１４１不定状態判定フラグを用いた不定値を含まない
等価なモデルに変換し、２値シミュレーションモデルを
生成するステップ１５０回路及びテストベンチ中に未初期化及び不定入
力があるかどうか検索するステップ１６０未初期化及び不定入力情報を出力するステップ１７０未初期化及び不定入力の接続先から初期値を決
定し、２値シミュレーションモデルを生成するステップ１８０回路及びテストベンチ中に不定値、未初期化及
び不定入力があるかどうか検索するステップ１９０不定値伝播信号線を抽出するステップ２００回路及びテストベンチ中に記憶素子記述がある
かどうか検索するステップ２１０記憶素子情報を出力するステップ２２０記憶素子初期化フラグを用いた等価なモデルに
変換し、２値シミュレーションモデルを生成するステッ
プ３００回路情報３０１回路情報３０２回路情報３０３回路情報３０４回路情報３０５回路情報３０６回路情報３０７回路情報３０８回路情報３１０テストベンチ情報３１１テストベンチ情報３１２テストベンチ情報３１３テストベンチ情報３１４テストベンチ情報３１５テストベンチ情報３１６テストベンチ情報３１７テストベンチ情報３２０２値シミュレーションモデル生成手段３３０２値シミュレーションモデル情報３３１２値シミュレーションモデル情報３３２２値シミュレーションモデル情報３３３２値シミュレーションモデル情報３３４２値シミュレーションモデル情報３４０２値シミュレーション実行手段３５０シミュレーション結果３６０不定値情報抽出手段３７０不定値情報３７１不定値情報３７２不定値情報３７３不定値情報３８０２値シミュレーションモデル生成手段３９０不定値記述変換規約ライブラリ３９１不定値記述変換規約ライブラリ４００２値シミュレーションモデル情報４０１２値シミュレーションモデル情報４１０未初期化及び不定値入力情報抽出手段４２０未初期化及び不定値入力情報４２１未初期化及び不定値入力情報４２２未初期化及び不定値入力情報４２３未初期化及び不定値入力情報４３０２値シミュレーションモデル生成手段４４０入力初期値規約ライブラリ４４１入力初期値規約ライブラリ４５０２値シミュレーションモデル情報４５１２値シミュレーションモデル情報４６０不定値伝播信号線情報抽出手段４７０不定値伝播信号線情報４７１不定値伝播信号線情報４８０２値多値混在シミュレーションモデル生成手段４９０多値指定規約ライブラリ４９１多値指定規約ライブラリ５００２値多値混在シミュレーションモデル情報５０１２値多値混在シミュレーションモデル情報５１０２値多値混在シミュレーション実行手段５２０記憶素子情報抽出手段５３０記憶素子情報５３１記憶素子情報５４０２値シミュレーションモデル生成手段５５０２値シミュレーションモデル情報５５１２値シミュレーションモデル情報５６０初期値生成手段５７０初期値情報５７１初期値情報５７２初期値情報５７３初期値情報５７４初期値情報５８０並列２値シミュレーションモデル生成手段５９０並列２値シミュレーションモデル情報６００並列２値シミュレーション実行手段６１０シミュレーション結果６２０シミュレーション結果解析手段６３０シミュレーション結果解析情報

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された前記信号線の不定状態に関する回路及びテスト
ベンチ情報を抽出し出力する第２のステップと、前記回
路及びテストベンチ情報より、２値シミュレーションモ
デルを生成する第３のステップと、前記２値シミュレー
ションモデルに基づき２値シミュレーションを実行する
第４のステップとを含む論理シミュレーション方法。
【請求項２】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された前記信号線の不定状態に関する回路及びテスト
ベンチ情報を抽出し出力する第２のステップと、前記回
路及びテストベンチ情報と、前記不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報より、不定状態に関する回路及び
テストベンチを、回路及びテストベンチの記述を同じ機
能で異なる記述となるように、不定状態を含まない等価
な回路及びテストベンチに置換して、２値シミュレーシ
ョンモデルを生成する第３のステップと、前記２値シミ
ュレーションモデルに基づき２値シミュレーションを実
行する第４のステップとを含む論理シミュレーション方
法。
【請求項３】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索する第１のステップと、検
索された前記信号線の不定状態に関する回路及びテスト
ベンチ情報を抽出し出力する第２のステップと、前記回
路及びテストベンチ情報と、前記不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報より、不定状態に関する回路及び
テストベンチについて、不定状態を判定する信号線を追
加し、かつ不定状態を含まない等価な回路及びテストベ
ンチに置換して、２値シミュレーションモデルを生成す
る第３のステップと、前記２値シミュレーションモデル
に基づき２値シミュレーションを実行する第４のステッ
プとを含む論理シミュレーション方法。
【請求項４】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力に関する回路及びテストベンチ情報を検索する第１
のステップと、検索された前記信号線の未初期化及び不
定値の入力に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し
出力する第２のステップと、前記回路及びテストベンチ
情報より、２値シミュレーションモデルを生成する第３
のステップと、前記２値シミュレーションモデルに基づ
き２値シミュレーションを実行する第４のステップとを
含む論理シミュレーション方法。
【請求項５】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力に関する回路及びテストベンチ情報を検索する第１
のステップと、検索された前記信号線の未初期化及び不
定値の入力に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し
出力する第２のステップと、前記回路及びテストベンチ
情報と、前記信号線の未初期化及び不定値の入力に関す
る回路及びテストベンチ情報より、前記未初期化及び不
定値の入力がされる信号線の初期値を、前記未初期化及
び不定値の入力がされる信号線が回路及びテストベンチ
中に値として定義されていない値に決定し、２値シミュ
レーションモデルを生成する第３のステップと、前記２
値シミュレーションモデルに基づき２値シミュレーショ
ンを実行する第４のステップとを含む論理シミュレーシ
ョン方法。
【請求項６】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力、及び不定状態に関する回路及びテストベンチ情報
を検索する第１のステップと、検索された前記信号線の
未初期化及び不定値の入力、及び不定状態が伝播する回
路及びテストベンチ中の信号線情報を抽出し出力する第
２のステップと、前記回路及びテストベンチ情報より、
２値シミュレーションモデルを生成する第３のステップ
と、前記２値シミュレーションモデルに基づき２値シミ
ュレーションを実行する第４のステップとを含む論理シ
ミュレーション方法。
【請求項７】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する方法であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に記憶素子に関する回路及びテス
トベンチ情報を検索する第１のステップと、検索された
記憶素子に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し出
力する第２のステップと、前記回路及びテストベンチ情
報と、前記記憶素子に関する回路及びテストベンチ情報
より、記憶素子の初期化がされたかどうか判定する信号
線を追加し、２値シミュレーションモデルを生成する第
３のステップと、前記２値シミュレーションモデルに基
づき２値シミュレーションを実行する第４のステップと
を含む論理シミュレーション方法。
【請求項８】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索し、検索された前記信号線
の不定状態に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し
出力する手段と、前記回路及びテストベンチ情報より、
２値シミュレーションモデルを生成する手段と、前記２
値シミュレーションモデルに基づき２値シミュレーショ
ンを実行する手段を具備した論理シミュレーション装
置。
【請求項９】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレー
ションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の不定状態に関する回路
及びテストベンチ情報を検索し、検索された前記信号線
の不定状態に関する回路及びテストベンチ情報を抽出し
出力する手段と、不定状態に関する回路及びテストベン
チを不定状態を含まない等価な回路及びテストベンチに
置換するための方法および置換優先度を置換規約ライブ
ラリとして具備し、前記回路及びテストベンチ情報と、
前記不定状態に関する回路及びテストベンチ情報より、
２値シミュレーションモデルを生成する手段と、前記２
値シミュレーションモデルに基づき２値シミュレーショ
ンを実行する手段を具備した論理シミュレーション装
置。
【請求項１０】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力に関する回路及びテストベンチ情報を検索し、検索
された前記信号線の未初期化及び不定値の入力に関する
回路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段と、前
記回路及びテストベンチ情報より、２値シミュレーショ
ンモデルを生成する手段と、前記２値シミュレーション
モデルに基づき２値シミュレーションを実行する手段を
具備した論理シミュレーション装置。
【請求項１１】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力に関する回路及びテストベンチ情報を検索し、検索
された前記信号線の未初期化及び不定値の入力に関する
回路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段と、信
号線の未初期化及び不定値の入力に関する回路及びテス
トベンチについて未初期化及び不定値の入力がされる信
号線の初期値を決定する方法および決定優先度を初期化
規約ライブラリとして具備し、前記回路及びテストベン
チ情報と、前記信号線の未初期化及び不定値の入力に関
する回路及びテストベンチ情報より、２値シミュレーシ
ョンモデルを生成する手段と、前記２値シミュレーショ
ンモデルに基づき２値シミュレーションを実行する手段
を具備した論理シミュレーション装置。
【請求項１２】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定値の
入力、及び不定状態に関する回路及びテストベンチ情報
を検索し、検索された前記信号線の未初期化及び不定値
の入力、及び不定状態が伝播する回路及びテストベンチ
中の信号線情報を抽出し出力する手段と、前記回路及び
テストベンチ情報より、２値シミュレーションモデルを
生成する手段と、前記２値シミュレーションモデルに基
づき２値シミュレーションを実行する手段を具備した論
理シミュレーション装置。
【請求項１３】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの２値多値混在シミュレーションを実行する装
置であって、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前
記回路及びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び
不定値の入力、及び不定状態に関する回路及びテストベ
ンチ情報を検索し、検索された前記信号線の未初期化及
び不定値の入力、及び不定状態が伝播する回路及びテス
トベンチ中の信号線情報を抽出し出力する手段と、シミ
ュレータ毎の２値多値混在シミュレーションを行う設定
方法を多値指定規約ライブラリとして具備し、前記回路
及びテストベンチ情報と、前記信号線の未初期化及び不
定値の入力、及び不定状態が伝播する回路及びテストベ
ンチ中の信号線情報より、２値多値混在シミュレーショ
ンモデルを生成する手段と、前記２値多値混在シミュレ
ーションモデルに基づき２値多値混在シミュレーション
を実行する手段を具備した論理シミュレーション装置。
【請求項１４】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの２値シミュレーションを実行する装置であっ
て、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回路及
びテストベンチ情報中に記憶素子に関する回路及びテス
トベンチ情報を検索し、検索された前記記憶素子に関す
る回路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段と、
前記回路及びテストベンチ情報と、前記記憶素子に関す
る回路及びテストベンチ情報より、記憶素子の初期化が
されたかどうか判定する信号線を追加し、２値シミュレ
ーションモデルを生成する手段と、前記２値シミュレー
ションモデルに基づき２値シミュレーションを実行する
手段を具備した論理シミュレーション装置。
【請求項１５】ディジタルＬＳＩ回路の論理シミュレ
ーションの並列２値シミュレーションを実行する装置で
あって、回路及びテストベンチ情報を入力とし、前記回
路及びテストベンチ情報中に信号線の未初期化及び不定
値の入力に関する回路及びテストベンチ情報を検索し、
検索された前記信号線の未初期化及び不定値の入力に関
する回路及びテストベンチ情報を抽出し出力する手段
と、前記未初期化及び不定値の入力がされる信号線に対
し、全て「０」、全て「１」、及び少なくとも一通りの
ランダムに「０」か「１」に指定する少なくとも三通り
の前記信号線の初期値を生成する手段と、前記回路及び
テストベンチ情報と、前記信号線の未初期化及び不定値
の入力に関する回路及びテストベンチ情報と、少なくと
も三通りの前記信号線の初期値より、少なくとも三通り
のシミュレーションを並列で行う、並列２値シミュレー
ションモデルを生成する手段と、前並列２値シミュレー
ションモデルに基づき並列２値シミュレーションを実行
する手段と、前記回路及びテストベンチ情報と、前記並
列２値シミュレーションの結果より、各シミュレーショ
ンの結果の不一致箇所を解析し、解析結果として出力
し、また前記並列２値シミュレーションの実行を制御す
る手段を具備した論理シミュレーション装置。