JP2000216098A - 固体デバイス製造装置 - Google Patents

固体デバイス製造装置

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JP2000216098A
JP2000216098A JP11014223A JP1422399A JP2000216098A JP 2000216098 A JP2000216098 A JP 2000216098A JP 11014223 A JP11014223 A JP 11014223A JP 1422399 A JP1422399 A JP 1422399A JP 2000216098 A JP2000216098 A JP 2000216098A
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JP
Japan
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gas
film forming
supplied
forming container
gas supply
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JP11014223A
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English (en)
Inventor
Masato Terasaki
昌人 寺崎
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 あるガス使用部にガスを供給中に、他のガス
使用部にガスを供給する場合、ガスの粘性等に関係な
く、ガスを供給中のガス使用部に供給されるガスの流量
が一時的に変動することを抑制することができるように
する。 【解決手段】 CVD装置は、2つの成膜容器21
(1),22(2)を有する。これら2つの成膜容器2
1(1),22(2)には、それぞれガス供給ライン2
2(1),21(2)が設けられている。これら2つの
ガス供給ライン22(1),21(2)は、共通ガス供
給ライン23を介してガスタンク24に接続されてい
る。また、これら2つのガス供給ライン22(1),2
1(2)には、それぞれ螺旋状配管224(1),22
4(2)とオリフィス225(1),225(2)とが
設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体デバイスの製
造工程で用いられる装置であって、ガスを使用する固体
デバイス製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】固体デバイス(半導体デバイスや液晶表
示デバイス等)の製造工程では、ガスを使用する固体デ
バイス製造装置が用いられることがある。
【0003】例えば、基板(半導体デバイスのウェーハ
や液晶表示デバイスのガラス基板等)の表面に所定の薄
膜を形成する場合は、ガスを使った化学反応によって成
膜を行うCVD(Chemical Vapor Deposition)装置が
用いられることがある。
【0004】このCVD装置としては、枚葉式のCVD
装置がある。この枚葉式のCVD装置においては、通
常、複数の成膜容器が用いられる。この複数の成膜容器
では、同じガスが用いられることがある。
【0005】このような場合、CVD装置においては、
通常、各成膜容器ごとにガス供給ラインを設け、1つの
ガス供給源からこれら複数のガス供給ラインを介して複
数の成膜容器にガスを供給するようになっている。
【0006】図5は、このようなガス供給システムを備
えた枚葉式のCVD装置の構成を示す図である。図に
は、2つの成膜容器を備えた装置を代表として示す。
【0007】図示の装置は、2つの成膜容器11
(1),11(2)のそれぞれにガス供給ライン12
(1),12(2)を設け、ガスタンク13から共通ガ
ス供給ライン14を介して供給されるガスを、ガス供給
ライン12(1),12(2)を介して対応する成膜容
器11(1),11(2)に供給するようになってい
る。
【0008】なお、ガス供給ライン12(1),12
(2)には、配管121(1),121(2)、バルブ
122(1),122(2),125(1),125
(2)、ガスフィルタ123(1),123(2)、流
量制御器124(1),124(2)等が設けられてい
る。また、共通ガス供給ライン14には、配管141等
が設けられている。
【0009】しかしながら、このような構成では、ガス
供給ライン12(1)を介して成膜容器11(1)にガ
スを供給中に、ガス供給ライン12(2)を介して成膜
容器11(2)にガスを供給する場合、成膜容器11
(1)に供給されるガスが一時的に大きく変動するとい
う問題がある。これを、図5を参照しながら説明する。
【0010】今、成膜容器11(1)にガスを供給し、
成膜容器11(2)にガスを供給していないものとす
る。この場合、ガス供給ライン12(2)において、バ
ルブ122(2)より下流の部分では、減圧状態になっ
ている。これは、成膜容器11(2)に収容されている
基板の成膜処理が終了し、この成膜容器11(2)の内
部を真空排気する場合、バルブ122(2)より下流の
部分も一緒に真空排気されるからである。
【0011】この状態で、成膜容器11(2)で次の基
板の成膜処理を実行するために、ガス供給ライン12
(2)のバルブ122(2),125(2)を開いて、
成膜容器11(2)にガスを供給するものとする。この
場合、バルブ122(2)の上流側より下流側の方が圧
力が低いため、共通ガス供給ライン14の配管141を
流れているガスが、一時的に、配管121(2)に大量
に流れ込む。
【0012】これにより、配管141の圧力が低下す
る。その結果、ガス供給ライン12(1)の配管121
(1)を流れていたガスが一時的に逆流し、ガス供給ラ
イン12(2)の配管121(2)に流れる。これによ
り、成膜容器11(1)に供給されるガスが一時的に大
きく減少する。
【0013】しかしながら、このとき、流量制御器12
4(1)が成膜容器11(1)に供給されるガスを増加
させようとする。これにより、成膜容器11(1)に供
給されるガスは、一時的に減少した後、増加する。
【0014】図6は、この変動の様子を示す特性図であ
る。図において、横軸は、時間を示し、縦軸は、成膜容
器11(1),11(2)に供給されるガスの流量を示
す。また、横軸において、t1は、成膜容器11(1)
に対するガスの供給開始時刻を示し、t2は、成膜容器
11(2)に対するガスの供給開始時刻を示す。さら
に、C1は、成膜容器11(1)に供給されるガスの流
量の変化を示し、C2は、成膜容器11(2)に供給さ
れるガスの流量の変化を示す。
【0015】図示のごとく、成膜容器11(1)にガス
を供給中に、成膜容器11(2)にガスを供給すると、
その時点で、成膜容器11(1)に供給されるガスの流
量が一時的に減少した後(図6の破線部AのA1参
照)、増加する(図6の破線部AのA2参照)。
【0016】なお、この問題は、成膜容器11(2)に
ガスを供給中に、成膜容器11(1)にガスを供給する
場合も生じる。
【0017】この問題を解決するために、従来は、図7
に示すように、ガス供給ライン12(1),12(2)
にレギュレータ126(1),126(2)を設けるこ
とにより、ガス供給ライン12(1),12(2)の配
管コンダクタンスを下げるようになっていた。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成では、ガスの流量の変動を十分に抑制すること
ができないという問題があった。
【0019】すなわち、レギュレータ126(1),1
26(2)は、ガスの逆流を抑制することができるもの
の、ガスの圧力の一時的な変動によるガスの流量の一時
的な変動を抑制することができない。これにより、従来
の構成では、成膜容器11(1)(または11(2))
にガスを供給中に、成膜容器11(2)(または11
(1))にガス供給する場合、成膜容器11(1)(ま
たは11(2))に供給されるガスの流量の一時的な変
動を十分に抑制することができなかった。
【0020】特に、従来の構成では、ガスがH2ガス等
のような粘性の小さなガスである場合に、この傾向が強
かった。また、従来の構成では、供給配管の太さや供給
ガスの圧力により、抑制効果が異なるという問題があっ
た。
【0021】そこで、本発明は、あるガス使用部にガス
を供給中に、他のガス使用部にガスを供給する場合、ガ
スの粘性等に関係なく、ガスを供給中のガス使用部に供
給されるガスの流量の一時的な変動を抑制することがで
きる固体デバイス製造装置を提供することを目的とす
る。
【0022】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1記載の固体デバイス製造装置は、固体デバイ
スの製造工程で用いられる装置であって、ガスを使用す
る装置において、ガスを使用する複数のガス使用部と、
この複数のガス使用部のそれぞれに設けられ、1つのガ
ス供給源から対応するガス使用部にガスを供給するもの
であって、螺旋状配管を有する複数のガス供給ラインと
を備えたことを特徴とする。
【0023】この請求項1記載の装置では、各ガス供給
ラインに螺旋状配管が設けられている。これにより、各
ガス供給ラインの配管長を長くすることができる。その
結果、ガスの溜まり部分を多くすることができる。これ
により、螺旋状配管の下流側または上流側でガスの圧力
が低下しても、この低下を螺旋状配管で吸収することが
できる。以上から、あるガス使用部にガスを供給中に、
他のガス使用部にガスを供給する場合、ガスの粘性等に
関係なく、ガスを供給中のガス使用部に供給されるガス
の流量が一時的に変動することを抑制することができ
る。
【0024】また、請求項2記載の固体デバイス製造装
置は、請求項1記載の装置と同じような装置において、
複数のガス供給ラインがそれぞれオリフィスを有するこ
とを特徴とする。
【0025】この請求項2記載の装置では、各ガス供給
ラインにオリフィスが設けられている。これにより、各
ガス供給ラインの配管を部分的に細くすることができ
る。その結果、オリフィスの下流側または上流側でガス
の圧力が低下しても、オリフィスの上流側または下流側
からオリフィスの下流側または上流側にガスを流れるの
を抑制することができる。以上から、あるガス使用部に
ガスを供給中に、他のガス使用部にガスを供給する場
合、ガスの粘性等に関係なく、ガスを供給中のガス使用
部に供給されるガスの流量が一時的に変動することを抑
制することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態を詳細に説明する。
【0027】[1]一実施の形態 [1−1]構成 図1は、本発明の一実施の形態の構成を示す図である。
なお、以下の説明では、本発明を枚葉式のCVD装置に
適用した場合を代表として説明する。
【0028】図示のCVD装置は、2つの成膜容器21
(1),21(2)を有する。これら2つの成膜容器2
1(1),21(2)には、それぞれガス供給ライン2
2(1),22(2)が設けられている。このガス供給
ライン22(1),22(2)の下流側端部は、対応す
る成膜容器21(1),21(2)に接続され、上流側
端部は、共通ガス供給ライン23の下流側端部に接続さ
れている。この共通ガス供給ライン23の上流側端部
は、ガスタンク24に接続されている。
【0029】ガス供給ライン22(1),22(2)
は、それぞれ配管221(1),221(2)を有す
る。この配管221(1),221(2)には、それぞ
れレギュレータ222(1),222(2)、ガスフィ
ルタ223(1),223(2)と、螺旋状配管224
(1),224(2)、オリフィス225(1),22
5(2)、バルブ226(1),226(2)、流量制
御器227(1),227(2)、バルブ228
(1),228(2)等が挿入されている。この場合、
これらは、この順序で上流側から順次挿入されている。
共通ガス供給ライン23も、配管231等を有する。
【0030】なお、ガス供給ライン22(1),22
(2)は、例えば、CVD装置側に設けられ、共通ガス
供給ライン23とガスタンク24は、例えば、工場の設
備として設けられる。
【0031】図2は、螺旋状配管224(1),224
(2)の構成を示す斜視図である。図示のごとく、螺旋
状配管224(1),224(2)は、配管を螺旋状に
巻回した構成を有する。
【0032】図3は、オリフィス225(1),225
(2)の構成を示す図である。ここで、図3(a)は、
オリフィス225(1),225(2)の平面構造を示
す平面図であり、同図(b)は、オリフィス225
(1),225(2)を配管221(1),221
(2)に挿入した状態を示す側断面図である。
【0033】図3(a)に示すごとく、オリフィス22
5(1),225(2)は、円板1aの中央部に小さな
穴2aを開けたような構成を有する。また、このオリフ
ィス224(1),224(2)は、図3(b)に示す
ごとく、配管221(1),221(2)の内部に、ガ
スの流れる方向に対して垂直となるように挿入されてい
る。
【0034】[1−2]動作 上記構成において、動作を説明する。
【0035】成膜容器21(1)で成膜処理を行う場合
は、バルブ226(1),228(1)が開かれる。こ
れにより、ガスタンク24から共通ガス供給ライン23
とガス供給ライン22(1)を介して成膜容器21
(1)にガスが供給される。その結果、成膜容器21
(1)に収容されている基板の表面に所定の薄膜が形成
される。
【0036】この場合、成膜容器21(1)に供給され
るガスの流量は、流量制御器227(1)によって目標
値に設定される。また、配管221(1)内の圧力は、
レギュレータ222(1)によって流量制御器227
(1)の動作圧力まで下げられる。さらに、成膜容器2
1(1)に供給されるガスに含まれる不純物は、フィル
タ223(1)によって除去される。
【0037】この成膜処理が終了すると、上流側のバル
ブ226(1)が閉じられる。これにより、成膜容器2
1(1)に対するガスの供給が停止する。この後、真空
排気処理が実行される。これにより、成膜容器21
(1)が真空排気される。また、ガス供給ライン22
(1)のうち、バルブ226(1)より下流側の部分も
同時に真空排気される。その結果、この部分は、減圧状
態に設定される。この真空排気処理が終了すると、下流
側のバルブ228(1)が閉じられる。
【0038】以下、同様に、1枚の基板の成膜処理が終
了するたびに、上述した動作が繰り返される。なお、詳
細な説明は省略するが、成膜容器21(2)で成膜処理
を行う場合も同じような動作が行われる。
【0039】このように動作する装置において、今、例
えば、成膜容器21(1)にガスが供給され、成膜容器
21(2)にガスが供給されていないものとする。この
場合、ガス供給ライン22(2)では、ガスがバルブ2
26(2)の位置で止まった状態になっている。したが
って、この場合、バルブ226(2)の下流側は、減圧
状態になっている。
【0040】この状態で、成膜容器21(2)にガスを
供給するために、ガス供給ライン22(2)のバルブ2
26(2),228(2)を開いたとする。この場合、
バルブ226(2)の下流側が減圧状態になっているた
め、共通ガス供給ライン23の配管231を流れている
ガスが、一時的に、配管221(2)に大量に流れ込む
可能性がある。
【0041】しかしながら、本実施の形態では、バルブ
226(2)の上流側に、螺旋状配管224(2)とオ
リフィス225(2)とが設けられている。これによ
り、バルブ226(2)の上流側で、ガス供給ライン2
2(1)の配管コンダクタンスを下げることができる。
その結果、配管231を流れているガスが配管221
(2)に一時的に大量に流れ込むことを防止することが
できる。
【0042】すなわち、ガス供給ライン22(2)に螺
旋状配管224(2)を設けることにより、このガス供
給ライン22(2)の配管長を長くすることができる。
これにより、ガスの溜まり部分が多くすることができ
る。その結果、バルブ226(2)を開くことによっ
て、螺旋状配管224(2)の下流側の圧力が低下して
も、この低下を螺旋状配管224(2)で吸収すること
ができる。これにより、この場合、配管231から配管
221(2)に一時的に大量のガスが流れ込むのを防止
することができる。
【0043】同様に、ガス供給ライン22(2)にオリ
フィス225(2)を設けることにより、このガス供給
ライン22(2)の配管221(2)を部分的に細くす
ることができる。これにより、バルブ226(2)を開
くことによって、オリフィス225(2)の下流側の圧
力が低下しても、オリフィス225(2)の上流側から
下流側にガスを流れるのを抑制することができる。その
結果、配管231から配管221(2)に一時的に大量
のガスが流れ込むのを防止することができる。
【0044】配管231から配管221(2)に一時的
に大量のガスが流れ込むのを防止することができること
により、配管231内のガスの圧力が一時的に低下する
ことを抑制することができる。これにより、ガス供給ラ
イン22(1)の配管221(1)を流れるガスの流量
が一時的に減少することを抑制することができる。その
結果、成膜容器21(1)に供給されるガスの流量が一
時的に減少することを抑制することができる。
【0045】また、配管221(1)を流れるガスの流
量が一時的に減少することを抑制することができること
により、流量制御器227(1)に供給されるガスの流
量が一時的に減少することを抑制することができる。こ
れにより、この流量制御器227(1)によって、成膜
容器21(1)に供給されるガスを増加させるための制
御が行われることを抑制することができる。その結果、
成膜容器21(1)に供給されるガスの流量が一時的に
増加することを抑制することができる。
【0046】以上から、成膜容器21(1)にガスを供
給中に、成膜容器21(2)にガスを供給する場合、成
膜容器21(1)に供給されるガスの流量が一時的に変
動することを抑制することができる。
【0047】なお、仮に、成膜容器21(2)にガスを
供給することによって、配管231内のガスの圧力が一
時的に低下したとしても、成膜容器21(1)に供給さ
れるガスの流量が一時的に変動することを抑制すること
ができる。これは、ガス供給ライン22(1)のバルブ
226(1)の上流側にも、螺旋状配管224(1)と
オリフィス225(1)とが設けられているからであ
る。
【0048】すなわち、ガス供給ライン22(1)に螺
旋状配管224(1)を設けることにより、このガス供
給ライン22(1)の配管長を長くすることができる。
これにより、ガスの溜まり部分が多くすることができ
る。その結果、螺旋状配管224(1)の上流側の圧力
が低下しても、この低下を螺旋状配管224(1)で吸
収することができる。これにより、この場合、螺旋状配
管224(1)の下流側で、ガスの流量が一時的に減少
するのを抑制することができる。
【0049】また、ガス供給ライン22(1)にオリフ
ィス225(1)を設けることにより、このガス供給ラ
イン22(1)の配管221(1)を部分的に細くする
ことができる。これにより、螺旋状配管224(1)の
上流側の圧力が低下しても、オリフィス225(1)の
下流側から上流側にガスを流れるのを抑制することがで
きる。その結果、この場合、オリフィス225(1)の
下流側で、ガスの流量が一時的に減少するのを抑制する
ことができる。
【0050】螺旋状配管224(1)とオリフィス22
5(1)の下流側で、ガスの流量が一時的に減少するの
を抑制することができることにより、成膜容器21
(1)と流量制御器227(1)に供給されるガスの流
量が一時的に減少することを抑制することができる。ま
た、流量制御器227(1)に供給されるガスの流量が
一時的に減少することを抑制することができることによ
り、この流量制御器227(1)によって、成膜容器2
1(1)に供給されるガスを増加させるための制御が行
われることを抑制することができる。その結果、成膜容
器21(1)に供給されるガスの流量が一時的に増加す
ることを抑制することができる。
【0051】以上から、仮に、成膜容器21(2)にガ
スを供給することによって、配管231内のガスの圧力
が一時的に低下したとしても、成膜容器21(1)に供
給されるガスの流量が一時的に変動することを抑制する
ことができる。
【0052】図4は、この様子を示す特性図である。図
において、横軸は、時間を示し、縦軸は、ガスの流量を
示す。また、t1,t2は、成膜容器21(1),21
(2)へのガスの供給開始時刻を示し、C1,C2は、
成膜容器21(1),21(2)に供給されるガスの流
量の変化を示す。図示のごとく、本実施の形態では、成
膜容器21(1)にガスを供給中に、成膜容器21
(2)にガスを供給しても、成膜容器21(1)に供給
されるガスの流量が一時的に変動することがない(図4
の破線部A参照)。
【0053】実験では、ガスがSiH4ガス、NH3ガ
ス、H2ガス、PH3ガス、N2ガスのいずれであって
も、流量変動をほぼ零にすることができることが確かめ
られている。また、実験では、配管の太さやガスの圧力
に関係なく、流量変動をほぼ零にすることができること
が確かめられている。
【0054】なお、詳細な説明は省略するが、成膜容器
21(2)にガスを供給中に、成膜容器21(1)にガ
スを供給する場合も、同じようにして、成膜容器21
(2)に供給されるガスの流量が一時的に変動すること
を抑制することができる。
【0055】[1−5]効果以上詳述した本実施の形態
によれば、次のような効果を得ることができる。
【0056】(1)まず、本実施の形態によれば、ガス
供給ライン22(1),22(2)に螺旋状配管223
(1),223(2)とオリフィス224(1),22
4(2)とを設けるようにしたので、ガス供給ライン2
2(1),22(2)の配管コンダクタンスを下げるこ
とができる。これにより、成膜容器21(1)にガスを
供給中に、成膜容器21(2)にガスを供給する場合、
成膜容器21(1)に供給されるガスの流量が一時的に
変動することを抑制することができる。これは、成膜容
器21(2)にガスを供給中に、成膜容器21(1)に
ガスを供給する場合も同じである。
【0057】(2)また、本実施の形態によれば、ガス
供給ライン22(1),22(2)に、螺旋状配管22
4(1),224(2)とオリフィス225(1),2
25(2)とのいずれか一方ではなく、両方を設けるよ
うになっている。これにより、いずれか一方を設ける場
合より、ガスの変動を抑制する効果を高めることができ
る。
【0058】(3)さらに、本実施の形態によれば、螺
旋状配管224(1),224(2)とオリフィス22
5(1),225(2)とをバルブ226(1),22
6(2)の上流側に設けるようになっている。これによ
り、バルブ226(1),226(2)を閉じて、真空
排気処理を行う場合、螺旋状配管224(1),224
(2)とオリフィス225(1),225(2)とをバ
ルブ226(1),226(2)と流量制御器227
(1),227(2)との間に設ける場合より、真空排
気時間を短縮することができる。
【0059】また、このような構成によれば、成膜容器
21(1)にガスを供給中に、成膜容器21(2)にガ
スを供給する場合、成膜容器21(1)側の螺旋状配管
224(1)およびオリフィス225(1)と、成膜容
器21(2)側の螺旋状配管224(2)およびオリフ
ィス225(2)とで、成膜容器21(1)に供給され
るガスの一時的な変動を抑制することができる。これに
より、螺旋状配管224(1),224(2)とオリフ
ィス225(1),225(2)とをバルブ226
(1),226(2)と流量制御器227(1),22
7(2)との間に設ける場合より、流量変動の抑制効果
を高めることができる。これは、成膜容器21(2)に
ガスを供給中に、成膜容器21(1)にガスを供給する
場合も同じである。
【0060】[2]その他の実施の形態 以上、本発明の一実施の形態を詳細に説明したが、本発
明は、上述したような実施の形態に限定されるものでは
ない。
【0061】(1)例えば、先の実施の形態では、螺旋
状配管224(1),224(2)とオリフィス225
(1),225(2)とをバルブ226(1),226
(2)の上流側に設ける場合を説明した。しかしなが
ら、本発明は、これらを流量制御器227(1),22
7(2)の上流側に設ける構成であれば、別の位置に設
けるようにしてもよい。例えば、バルブ226(1),
226(2)と流量制御器227(1),227(2)
との間に設けるようにしてもよい。
【0062】このような構成であっても、成膜容器21
(1)にガスを供給中に、成膜容器21(2)にガスを
供給する場合、成膜容器21(1)側の螺旋状配管22
4(1)とオリフィス225(1)とによって、成膜容
器21(1)に供給されるガスの一時的な変動を抑制す
ることができる。これは、成膜容器21(2)にガスを
供給中に、成膜容器21(1)にガスを供給する場合も
同じである。なお、螺旋状配管224(1),224
(2)とオリフィス225(1),225(2)とを流
量制御器227(1),227(2)の上流側に設ける
必要があるのは、流量制御器227(1),227
(2)に供給されるガスの流量の変動を抑制する必要が
あるからである。
【0063】また、本発明は、螺旋状配管224
(1),224(2)とオリフィス225(1),22
5(2)とのいずれか一方をバルブ226(1),22
6(2)の上流側に設け、他方をバルブ226(1),
226(2)と流量制御器227(1),227(2)
との間に設けるようにしてもよい。
【0064】(2)また、先の実施の形態では、2つの
成膜容器21(1),21(2)にガスを供給する場合
に、本発明を適用する場合を説明した。しかしながら、
本発明は、3つ以上の成膜容器にガスを供給する場合に
も適用することができる。また、本発明は、成膜容器以
外の容器にガスを供給する場合にも適用することができ
る。例えば、本発明は、ロードロック用の容器にガスを
供給する場合にも適用することができる。さらに、本発
明は、成膜容器とロードロック容器にガスを供給する場
合にも適用することができる。さらにまた、本発明は、
容器以外のガス使用部にガスを供給する場合にも適用す
ることができる。
【0065】(3)さらに、先の実施の形態では、本発
明を枚葉式のCVD装置に適用する場合を説明した。し
かしながら、本発明は、CVD装置以外の固体デバイス
製造装置にも適用することができる。また、本発明は、
枚葉式の装置だけでなく、バッチ式の装置にも適用する
ことができる。
【0066】(4)この他にも、本発明は、その要旨を
逸脱しない範囲で種々様々変形実施可能なことは勿論で
ある。
【0067】
【発明の効果】以上詳述したように請求項1または2記
載の固体デバイス製造装置によれば、ガス供給ラインに
螺旋状配管またはオリフィスを設けるようにしたので、
ガス供給ラインの配管コンダクタンスを下げることがで
きる。これにより、あるガス使用部にガスを供給中に、
他のガス使用部にガスを供給する場合、ガスを供給中の
ガス使用部に供給されるガスの流量が一時的に変動する
ことを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の構成を示す図である。
【図2】本発明の一実施の形態における螺旋状配管の構
成を示す図である。
【図3】本発明の一実施の形態におけるオリフィスの構
成を示す図である。
【図4】本発明の一実施の形態の動作を説明するための
特性図である。
【図5】従来の枚葉式のCVD装置の一例の構成を示す
図である。
【図6】従来の枚葉式のCVD装置の一例の動作を説明
するための特性図である。
【図7】従来の枚葉式のCVD装置の他の例の構成を示
す図である。
【符号の説明】
21(1),21(2)…成膜容器、22(1),22
(2)…ガス供給ライン、23…共通ガス供給ライン、
24…ガスタンク、221(1),221(2)…配
管、222(1),222(2)…レギュレータ、22
3(1),223(2)…ガスフィルタ、224
(1),224(2)…螺旋状配管、225(1),2
25(2)…オリフィス、226(1),226
(2),228(1),228(2)…バルブ、227
(1),227…流量制御器、1a…円板、2a…穴。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固体デバイスの製造工程で用いられる装
    置であって、ガスを使用する固体デバイス製造装置にお
    いて、 前記ガスを使用する複数のガス使用部と、 この複数のガス使用部のそれぞれに設けられ、1つのガ
    ス供給源から対応するガス使用部に前記ガスを供給する
    ものであって、螺旋状配管を有する複数のガス供給ライ
    ンとを備えたことを特徴とする固体デバイス製造装置。
  2. 【請求項2】 固体デバイスの製造工程で用いられる装
    置であって、ガスを使用する固体デバイス製造装置にお
    いて、 前記ガスを使用する複数のガス使用部と、 この複数のガス使用部のそれぞれに設けられ、1つのガ
    ス供給源から対応するガス使用部に前記ガスを供給する
    ものであって、オリフィスを有する複数のガス供給ライ
    ンとを備えたことを特徴とする固体デバイス製造装置。
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