JP2000164772A - Auxiliary printed wiring board for area array package ic, ic test method, and repairing method of printed wiring board - Google Patents

Auxiliary printed wiring board for area array package ic, ic test method, and repairing method of printed wiring board

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JP2000164772A
JP2000164772A JP10332188A JP33218898A JP2000164772A JP 2000164772 A JP2000164772 A JP 2000164772A JP 10332188 A JP10332188 A JP 10332188A JP 33218898 A JP33218898 A JP 33218898A JP 2000164772 A JP2000164772 A JP 2000164772A
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JP
Japan
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wiring board
printed wiring
auxiliary
area array
hole
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JP10332188A
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Japanese (ja)
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Takehiko Akashi
武彦 明石
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Nippon Avionics Co Ltd
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Nippon Avionics Co Ltd
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an auxiliary printed wiring board which enables a spare area array package IC to be mounted without producing solder bridges or solder balls when pads are damaged or come off when a surface-mounted part is dismounted from a printed wiring broad, a repairing operation to be carried out for a printed wiring board by the use of a strap wiring, and ICs and a printed wiring board to be tested keeping the ICs mounted on the wiring board. SOLUTION: An area array package IC auxiliary printed wiring board 20 is used being sandwiched in between an area array package IC 12 equipped with a large number of connection terminals arranged two-dimensionally nearly like grids and a printed wiring board 10 surface-mounted with the package IC 12, where the auxiliary printed wiring board 20 is equipped with a board larger than the package IC 12, a large number of through holes 24 bored in the wiring board 2 at positions corresponding to the connection terminals of the IC 12, a large number of auxiliary pads 26 formed on the one surface of the board 20 and located outside the package IC 12, and a wiring pattern that connects the auxiliary pads 26 to the through-holes 24.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、エリアアレイパ
ッケージICをプリント配線板に実装した状態でICや
プリント配線板のテストを行ったり、プリント配線板の
補修に用いるための補助プリント配線板と、これを用い
たICテスト方法と、プリント配線板の修復方法とに関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an auxiliary printed wiring board for testing an IC or a printed wiring board with an area array package IC mounted on the printed wiring board or for repairing the printed wiring board. The present invention relates to an IC test method using the same and a method for repairing a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年電子回路を用いた装置の小型化、軽
量化が進んでいる。このためICやLSI、あるいはハ
イブリッドICなど(以下単にICという)の実装密度
を上げることが求められている。
2. Description of the Related Art In recent years, devices using electronic circuits have been reduced in size and weight. Therefore, it is required to increase the mounting density of an IC, an LSI, a hybrid IC, or the like (hereinafter simply referred to as an IC).

【0003】このような要求に応えるものとして、IC
パッケージの接続端子をボール型の突起にして格子状に
配列したBGA(Ball Grid Array)が従来より知られ
ている。このように格子状に二次元的に配置した表面実
装用の接続端子を有するパッケージは、エリアアレイパ
ッケージと言われている。
[0003] In order to meet such demands, ICs
A BGA (Ball Grid Array) in which connection terminals of a package are arranged in a grid by using ball-shaped protrusions is conventionally known. A package having the surface-mounting connection terminals two-dimensionally arranged in a lattice like this is called an area array package.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このようなエリアアレ
イパッケージICは、プリント配線板に実装してしまう
と接続端子がパッケージとプリント配線板との間に隠れ
てしまう。このためICのテストを行うことができなく
なる。一方不良な部品があった場合には、プリント配線
板からこの不良部品を取外して交換する必要が生じる
が、この部品取外しの際にプリント配線板の接続用パッ
ドを破損し脱落させることがある。
When such an area array package IC is mounted on a printed wiring board, connection terminals are hidden between the package and the printed wiring board. This makes it impossible to test the IC. On the other hand, if there is a defective component, it is necessary to remove the defective component from the printed wiring board and replace it. However, when the component is removed, the connection pads of the printed wiring board may be damaged and fall off.

【0005】パッケージの実装状態で、パッケージの外
側にリードが露出している表面実装型部品(SMD、Su
rface Mounting Device)の場合には、交換する新しい
部品のリードを、糸はんだとはんだゴテを用いた手作業
でこの破損して脱落したパッドを除くパッドにはんだ接
続し、その後、この破損し脱落したパッドに接続すべき
リードをストラップ布線(絶縁被覆した細線であり、ジ
ャンパ線ともいう)で必要な箇所に接続することにより
修復することが可能である。
[0005] In the package mounting state, a surface mount type component (SMD, Su
In the case of rface mounting device), the lead of the new part to be replaced is soldered to the pad except for the broken and dropped pad by hand using thread solder and a soldering iron, and then the broken and dropped pad The lead can be repaired by connecting the lead to be connected to the pad to a necessary portion with a strap cloth (a thin wire coated with insulation and also called a jumper wire).

【0006】またこの露出したリード端子に直接テスト
用プローブを接触させて(プロービング)テスト装置に
接続し、ICやプリント配線板のテストを行うことも可
能である。 しかし実装状態で端子やリードが外部に露
出しないエリヤアレイパッケージICの場合にはこのよ
うなことができない。
It is also possible to directly test (probing) a test probe by contacting the exposed lead terminal with a test device to test an IC or a printed wiring board. However, this cannot be done in the case of an area array package IC in which the terminals and leads are not exposed to the outside in the mounted state.

【0007】すなわちこのような交換用の新しいICを
実装する時には、通常プリント配線板のこのIC用の全
ての接続パッドにスクリーン印刷用マスクを用いて一度
にはんだペーストを供給し、新しいICを載せてリフロ
ーはんだ付けするので、破損したパッドだけにはんだペ
ーストを供給しないようにするのは困難である。このよ
うにして破損したパッドの位置にはんだペーストが供給
されリフロー(溶融)させると、このはんだが周囲に移
動して回路パターン間をつなぐはんだブリッジを発生さ
せたりはんだボールが発生し、不良発生の原因となる。
That is, when mounting such a new IC for replacement, usually, a solder paste is supplied to all the connection pads of the printed wiring board at once using a screen printing mask, and the new IC is mounted. Because of the reflow soldering, it is difficult to prevent the solder paste from being supplied only to the damaged pad. When the solder paste is supplied to the position of the damaged pad and reflowed (melted), the solder moves around and generates a solder bridge connecting circuit patterns or a solder ball, thereby causing a defect. Cause.

【0008】またこのICでは接続端子がパッケージの
下面(底面)にあるため、前記のようなストラップ布線
を用いた修復は不可能である。同様に接続端子にプロー
ブを直接接触させることができないので、ICのテスト
を行うこともできなくなる。
Further, in this IC, since the connection terminals are located on the lower surface (bottom surface) of the package, it is impossible to perform the repair using the strap wiring as described above. Similarly, since the probe cannot be brought into direct contact with the connection terminal, the IC cannot be tested.

【0009】この発明はこのような事情に鑑みなされた
ものであり、プリント配線板から表面実装部品を取外し
た際にパッドが破損したり脱落した場合に、はんだブリ
ッジやはんだボールを発生させることなく交換用のエリ
アアレイパッケージICを実装することを可能にすると
共に、ストラップ布線を用いた修復を可能にし、またI
Cを搭載したままICやプリント配線板のテストを行う
ことを可能にする補助プリント配線板を提供することを
第1の目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and does not generate a solder bridge or a solder ball when a pad is damaged or falls off when a surface-mounted component is removed from a printed wiring board. It is possible to mount a replacement area array package IC, and to perform repair using strap wiring, and
It is a first object of the present invention to provide an auxiliary printed wiring board which enables a test of an IC or a printed wiring board with C mounted.

【0010】またこの補助プリント配線板を用いたIC
テスト方法を提供することを第2の目的とする。さらに
この補助プリント配線板を用いたプリント配線板の修復
方法を提供することを第3の目的とする。
An IC using the auxiliary printed wiring board
A second object is to provide a test method. It is a third object of the present invention to provide a method for repairing a printed wiring board using the auxiliary printed wiring board.

【0011】[0011]

【発明の構成】この発明によれば第1の目的は、略格子
状に二次元に配列された多数の接続端子を有するエリア
アレイパッケージICとこのICが表面実装されるプリ
ント配線板との間に挟んで使用されるエリアアレイパッ
ケージIC用の補助プリント配線板であって、 前記I
Cのパッケージより大きい基板と、この基板の前記IC
の各接続端子に対応する位置に形成された多数のスルー
ホールと、前記基板の一方の面に形成され前記ICのパ
ッケージより外側に位置する多数の補助パッドと、前記
補助パッドとスルーホールとを接続する配線パターンと
を備えることを特徴とするエリアアレイパッケージIC
用の補助プリント配線板、により達成される。
According to the present invention, a first object is to provide a circuit between an area array package IC having a large number of connection terminals arranged two-dimensionally in a substantially lattice pattern and a printed wiring board on which this IC is surface-mounted. An auxiliary printed wiring board for an area array package IC used sandwiched between
A substrate larger than the package of C, and the IC of the substrate
A large number of through holes formed at positions corresponding to the respective connection terminals, a large number of auxiliary pads formed on one surface of the substrate and located outside the package of the IC, and the auxiliary pad and the through hole. An area array package IC comprising a wiring pattern to be connected.
Auxiliary printed wiring board for

【0012】補助プリント配線板の基板としては、フレ
キシブルプリント配線板が適するが、厚さ0.1mmのガ
ラス布エポキシ材を用いたFR−4(NEMA記号、J
IS記号のGE4Fに相当する)などの薄い(0.1mm
以下が望ましい)硬基板であってもよい。この補助プリ
ント配線板の表面あるいは表裏両面は、ランドやパッド
などを除いて絶縁層で被覆するのが望ましい。基板にフ
レキシブルプリント配線板を用いた場合は、通常カバー
レイで表面が覆われるから、これが絶縁層となる。
As a substrate of the auxiliary printed wiring board, a flexible printed wiring board is suitable, but FR-4 (NEMA symbol, J) using a glass cloth epoxy material having a thickness of 0.1 mm.
(Equivalent to IS symbol GE4F)
The following may be preferable.) A hard substrate may be used. It is desirable that the surface of the auxiliary printed wiring board or both the front and back surfaces be covered with an insulating layer except for lands and pads. When a flexible printed wiring board is used for the substrate, the surface is usually covered with a cover lay, and this serves as an insulating layer.

【0013】プリント配線板のパッド径(直径)を約
0.5mmとした場合には、スルーホールの内径はこれよ
り小さくし、スルーホールの上下端のランドの外径(直
径)はこれより0.1〜0.2mm大きくするのが望まし
い。配線パターンは他のスルーホールに接触しないよう
に形成することが必要であり、スルーホール間を通した
り、基板の表裏両面を使って形成してもよいし、さらに
基板を多層として内層に配線パターンを形成してもよ
い。この場合必要に応じてスルーホールやビアホールに
よって表裏の回路パターンを接続する。
When the pad diameter (diameter) of the printed wiring board is about 0.5 mm, the inner diameter of the through hole is smaller than this, and the outer diameter (diameter) of the land at the upper and lower ends of the through hole is less than 0 mm. It is desirable to increase the size by 0.1 to 0.2 mm. The wiring pattern needs to be formed so as not to contact other through holes, may be formed between the through holes, or may be formed using both the front and back surfaces of the board, or the wiring pattern may be formed on the inner layer as a multilayer board. May be formed. In this case, front and back circuit patterns are connected by through holes and via holes as necessary.

【0014】この補助プリント配線板を用いれば、この
ICを表面実装した状態でテストプローブを補助パッド
に接触させてテストすることができる。すなわちこの補
助プリント配線板を、スルーホールがプリント配線板の
パッドに一致する所定位置に接着剤などを用いて固定
し、その上からメタルマスクなどを用いて各スルーホー
ルのランドにはんだペーストを供給し、ICを載せてリ
フローはんだ付けすればよい。
By using this auxiliary printed wiring board, a test can be performed by bringing a test probe into contact with an auxiliary pad while the IC is surface-mounted. That is, this auxiliary printed wiring board is fixed at a predetermined position where the through-holes match the pads of the printed wiring board using an adhesive or the like, and the solder paste is supplied to the lands of each through-hole using a metal mask or the like from above. Then, the IC may be mounted and reflow soldering may be performed.

【0015】パッドが破損したり脱落したプリント配線
板を修復するためには、前記のようにしてICをリフロ
ーはんだ付けした後、不良なパッドに対応する補助パッ
ドをストラップ布線を用いて所定箇所に接続すればよ
い。例えば補助パッドを他のリード付き電子部品のリー
ドに接続する際には、このリードにストラップ布線の端
をカギ型に曲げて引っ掛けてはんだ付けすればよい。ス
ルーホールに接続する時にはこのスルーホールに他の部
品のリードと一緒に挿入しはんだ付けすればよい。
In order to repair a printed wiring board in which a pad is damaged or dropped, an IC is reflow-soldered as described above, and an auxiliary pad corresponding to the defective pad is fixed at a predetermined position using a strap wiring. Just connect it to. For example, when connecting the auxiliary pad to a lead of another electronic component with a lead, the end of the strap wiring may be bent into a key shape, hooked, and soldered to this lead. When connecting to a through-hole, it may be inserted into this through-hole together with the lead of another component and soldered.

【0016】[0016]

【作用】補助プリント配線板をプリント配線板の所定位
置に固定した後、この補助プリント配線板の上からはん
だペーストを供給し、ICを載せてからリフローするか
ら、リフローにより溶融したはんだ(溶融はんだ)は、
毛細管現象によってスルーホール内に入る。この溶融は
んだはスルーホールを通ってプリント配線板のパッドと
スルーホールの下のランドとの間隙に流入する。またス
ルーホールの上のランドとICの接続端子との間隙を埋
める。このためプリント配線板のパッドとICの接続端
子とがスルーホールおよびはんだを介して接続される。
After the auxiliary printed wiring board is fixed at a predetermined position on the printed wiring board, a solder paste is supplied from above the auxiliary printed wiring board, the IC is mounted thereon, and then the reflow is performed. )
It enters the through hole by capillary action. The molten solder flows into the gap between the pad of the printed wiring board and the land below the through hole through the through hole. The gap between the land on the through hole and the connection terminal of the IC is filled. Therefore, the pads of the printed wiring board and the connection terminals of the IC are connected via the through holes and the solder.

【0017】プリント配線板のパッドが破損したり脱落
した位置には、補助プリント配線板のスルーホールの下
のランドが対向している。このためリフローされた溶融
はんだはスルーホール内に流入してスルーホール下端に
到達しても、毛細管現象によってスルーホール内に保持
され、またスルーホールの下のランドに表面張力によっ
て付着して周囲に飛散することがない。従って溶融はん
だがプリント配線板の表面上で移動してはんだブリッジ
を発生させたりはんだボールを発生させることがなくな
る。
A land below the through hole of the auxiliary printed wiring board is opposed to a position where the pad of the printed wiring board is damaged or falls off. Therefore, even if the reflowed molten solder flows into the through-hole and reaches the lower end of the through-hole, it is retained in the through-hole by capillary action, and adheres to the land below the through-hole due to surface tension and becomes There is no scattering. Therefore, the molten solder does not move on the surface of the printed wiring board to generate a solder bridge or a solder ball.

【0018】[0018]

【実施態様】図1は本発明の一実施態様の分解斜視図、
図2はその一部の拡大断面図、図3は正規の実装状態を
示す断面図、図4はプリント配線板のパッドが脱落した
場合の実装状態を示す断面図、図5は各部の寸法説明
図、図6はこの補助プリント配線板を用いたICテスト
方法の説明図、図7は同じくプリント配線板の修復方法
の説明図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of one embodiment of the present invention.
2 is an enlarged cross-sectional view of a part thereof, FIG. 3 is a cross-sectional view showing a normal mounting state, FIG. 4 is a cross-sectional view showing a mounting state when a pad of a printed wiring board is dropped off, and FIG. FIGS. 6 and 7 are explanatory diagrams of an IC test method using the auxiliary printed wiring board, and FIG. 7 is an explanatory diagram of a printed wiring board repairing method.

【0019】これらの図において符号10は多層プリン
ト配線板、12はエリアアレイパッケージICである。
IC12はその下面に格子状に配列された多数の突起状
の接続端子14を有する。プリント配線板10の表面
(上面)には、このIC12の接続端子14に対応する
ように格子状に配列された多数のパッド16が形成され
ている。パッド16はプリント配線板10に形成した内
層回路やビヤホールあるいはスルーホール等に接続され
ている。
In these figures, reference numeral 10 denotes a multilayer printed wiring board, and 12 denotes an area array package IC.
The IC 12 has a large number of projecting connection terminals 14 arranged in a lattice on the lower surface thereof. On the surface (upper surface) of the printed wiring board 10, a large number of pads 16 arranged in a grid pattern corresponding to the connection terminals 14 of the IC 12 are formed. The pad 16 is connected to an inner layer circuit formed on the printed wiring board 10, a via hole, a through hole, or the like.

【0020】20は補助プリント配線板であり、IC1
2のパッケージよりも大きい。この補助プリント配線板
20の基板22はフレキシブルプリント配線板や、薄い
(例えば0.1mm厚ぐらい)ガラス布エポキシ材を用い
たNEMA記号[FR−4]の硬基板で作られたものが
適する。この基板22には、接続端子14あるいはパッ
ド16の位置に対応するように格子状に配列された多数
のスルーホール24と、これらスルーホール24よりも
外側すなわち基板20の外周側に位置する補助パッド2
6と、これら補助パッド26をスルーホール24に接続
する回路パターン28とが形成されている。
Reference numeral 20 denotes an auxiliary printed wiring board,
Larger than package 2. The substrate 22 of the auxiliary printed wiring board 20 is preferably made of a flexible printed wiring board or a hard board of NEMA symbol [FR-4] using a thin (for example, about 0.1 mm thick) glass cloth epoxy material. The substrate 22 has a large number of through holes 24 arranged in a lattice pattern corresponding to the positions of the connection terminals 14 or the pads 16, and auxiliary pads located outside the through holes 24, that is, on the outer peripheral side of the substrate 20. 2
6 and a circuit pattern 28 for connecting these auxiliary pads 26 to the through holes 24 are formed.

【0021】ここに補助パッド26は接続端子14ある
いはスルーホール24と同数である。これらスルーホー
ル24、補助パッド26、回路パターン28は公知のフ
ォトエッチング法やめっき法を用いることにより形成す
ることができる。例えばまず基板22の両面に銅箔を接
着し、フォトエッチング法によってスルーホール24の
ランド30、30と、補助パッド26と回路パターン2
8とを形成する。そしてスルーホール24の小孔を加工
した後この小孔とランド30、30以外をめっきレジス
トで覆い、無電界めっき後に銅めっきを行いめっき層3
2を形成する。
The number of auxiliary pads 26 is equal to the number of connection terminals 14 or through holes 24. These through holes 24, auxiliary pads 26, and circuit patterns 28 can be formed by using a known photoetching method or plating method. For example, first, copper foil is adhered to both surfaces of the substrate 22, and the lands 30, 30 of the through hole 24, the auxiliary pad 26, and the
8 are formed. Then, after processing the small holes of the through holes 24, the small holes and the lands 30 and 30 are covered with a plating resist, and after electroless plating, copper plating is performed.
Form 2

【0022】1つのスルーホール24に対する回路パタ
ーン28は、格子状に配列された他のスルーホール24
のランド30間を通して対応する補助パッド26に接続
されている。なお回路パターン28はカバーレイなどの
絶縁層(図示せず)で覆われるが、この絶縁層は十分に
薄くして図3のようにIC12を載せた時にIC12の
パッケージ下面に接触しないようにする。
The circuit pattern 28 for one through hole 24 is different from the other through holes 24 arranged in a lattice.
Are connected to the corresponding auxiliary pads 26 between the lands 30. The circuit pattern 28 is covered with an insulating layer (not shown) such as a coverlay. The insulating layer is sufficiently thin so that the IC 12 does not come into contact with the lower surface of the package when the IC 12 is mounted as shown in FIG. .

【0023】スルーホール24のランド30の外径(直
径)Aは、図5に示すようにプリント配線板10のパッ
ド16の径Bよりも大きくし、またスルーホール24の
内径Cはパッド16の径Bよりも小さくするのが望まし
い。例えばパッド径Bが0.5mmの場合にはランド径A
はパッド径Bより0.1〜0.2mm大きくし、スルーホ
ール内径Cはパッド径Bより0.1〜0.2mm小さくす
る。このように径を設定することにより、後記するよう
にリフロー時に溶融はんだが安定してパッド16に付着
し、接続信頼性を向上させると共に、パッド16が脱落
している場合に溶融はんだをスルーホール24に確実に
保持してその移動を規制する効果が大きくなる。
The outer diameter (diameter) A of the land 30 of the through hole 24 is larger than the diameter B of the pad 16 of the printed wiring board 10 as shown in FIG. It is desirable that the diameter be smaller than the diameter B. For example, if the pad diameter B is 0.5 mm, the land diameter A
Is 0.1 to 0.2 mm larger than the pad diameter B, and the inner diameter C of the through hole is smaller than the pad diameter B by 0.1 to 0.2 mm. By setting the diameter in this way, the molten solder stably adheres to the pad 16 at the time of reflow, as described later, to improve the connection reliability. In addition, when the pad 16 is dropped, the molten solder passes through the through hole. 24, and the effect of restricting the movement by holding it securely is increased.

【0024】この補助プリント配線板20を用いる場合
には、まず図6(A)に示すようにIC12の搭載位置
に瞬間接着剤などを用いて固着する。この時スルーホー
ル24がプリント配線板10のパッド16に重なるよう
に位置合わせするのは勿論である(図2参照)。次にこ
の補助プリント配線板20の上にメタルマスク34を重
ねて、図2(B)に示すようにスキージ36を用いては
んだペースト38を各スルーホール24上に供給する
(図2参照)。
When using this auxiliary printed wiring board 20, first, as shown in FIG. 6A, it is fixed to the mounting position of the IC 12 using an instant adhesive or the like. At this time, it goes without saying that the through-hole 24 is positioned so as to overlap the pad 16 of the printed wiring board 10 (see FIG. 2). Next, a metal mask 34 is overlaid on the auxiliary printed wiring board 20, and a solder paste 38 is supplied onto each through hole 24 using a squeegee 36 as shown in FIG. 2B (see FIG. 2).

【0025】各スルーホール24に適正量のはんだペー
スト38を載せた後、IC12の接続端子14をスルー
ホール24に位置合わせして、図6(C)に示すように
IC12を載せる。そして図2(D)に示すようにリフ
ロー炉に入れて加熱し、はんだペースト38を溶融させ
る。溶融はんだ38Aは図3に示すように、毛細管現象
によってスルーホール24内に流入し、プリント配線板
10のパッド16と下のランド30との間隙を満たし、
さらにスルーホール24内と、IC12の接続端子14
と上のランド30との間隙を埋める。
After an appropriate amount of solder paste 38 is placed in each through hole 24, the connection terminals 14 of the IC 12 are aligned with the through holes 24, and the IC 12 is placed as shown in FIG. 6C. Then, as shown in FIG. 2 (D), the solder paste 38 is placed in a reflow furnace and heated to melt the solder paste 38. As shown in FIG. 3, the molten solder 38A flows into the through hole 24 by capillary action, filling the gap between the pad 16 of the printed wiring board 10 and the land 30 below.
Further, the inside of the through hole 24 and the connection terminal 14 of the IC 12
And the gap between the upper land 30 is filled.

【0026】またプリント配線板10のパッド16が脱
落した位置に対向するスルーホール24では、図4に示
すようにスルーホール24の毛細管現象と下のランド3
0の表面張力によって溶融はんだ38Aが下のランド3
0の下面に保持される。このため溶融はんだ38Aは周
囲に移動せず、周囲のパッド16間や回路パターン間を
接続するはんだブリッジを形成することがない。同様に
はんだボールを形成するおそれもない。
Further, in the through hole 24 facing the position where the pad 16 of the printed wiring board 10 has fallen off, as shown in FIG.
With the surface tension of 0, the molten solder 38A causes the lower land 3
0 is held on the lower surface. Therefore, the molten solder 38A does not move to the surroundings, and a solder bridge connecting between the surrounding pads 16 and between circuit patterns is not formed. Similarly, there is no risk of forming solder balls.

【0027】このようにIC12を搭載した後、IC1
2やプリント配線板10のテストを行う場合には、図6
(E)に示すように、IC12の外側に露出した補助プ
リント配線板20の補助パッド26にテストプローブ4
0を接触させればよい。この結果IC12の接続端子1
4が外部に露出していなくてもテストを行うことが可能
になる。
After mounting the IC 12 in this manner, the IC 1
2 and FIG.
As shown in (E), the test probe 4 is attached to the auxiliary pad 26 of the auxiliary printed wiring board 20 exposed outside the IC 12.
0 may be contacted. As a result, connection terminal 1 of IC 12
The test can be carried out even if 4 is not exposed to the outside.

【0028】プリント配線板10のパッド16が破損し
たり脱落している場合には、前記図6と同様に補助プリ
ント配線板20を用いてIC12を搭載した後、図7に
示すストラップ布線42を用いて補修する。すなわち破
損したり脱落したパッド16に対向するスルーホール2
4に接続された補助パッド26を予め探し出しておき、
この補助パッド26にストラップ布線42の一端を手作
業ではんだ付けする。そしてこのストラップ布線42の
他端を所定の接続箇所、例えば他の実装部品44のリー
ドに引っ掛けてはんだ付けすればよい。なおこの場合に
は補助プリント配線板20の不要な部分をナイフなどで
切り取っておいてもよい。
If the pads 16 of the printed wiring board 10 are damaged or fall off, the IC 12 is mounted using the auxiliary printed wiring board 20 in the same manner as in FIG. 6, and then the strap wiring 42 shown in FIG. Repair using That is, the through hole 2 facing the broken or dropped pad 16
Find the auxiliary pad 26 connected to 4 in advance,
One end of the strap wiring 42 is manually soldered to the auxiliary pad 26. Then, the other end of the strap wiring 42 may be hooked to a predetermined connection point, for example, a lead of another mounting component 44 and soldered. In this case, an unnecessary portion of the auxiliary printed wiring board 20 may be cut out with a knife or the like.

【0029】[0029]

【発明の効果】請求項1の発明は以上のように、エリア
アレイパッケージICの接続端子に対応する位置に設け
たスルーホールと、ICパッケージより外側に位置する
補助パッドと、これらスルーホールと補助パッドとを接
続する回路パターンとを備える補助プリント配線板であ
るから、これをICとプリント配線板との間に挟んでI
Cを搭載することによりプリント配線板の一部のパッド
が破損したり脱落した場合にもはんだブリッジやはんだ
ボールを発生させることなくICを実装することがで
き、ストラップ布線を用いて補修することができ、また
ICを搭載したままICやプリント配線板のテストを行
うことが可能になる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the through holes provided at the positions corresponding to the connection terminals of the area array package IC, the auxiliary pads located outside the IC package, and the through holes and the auxiliary Since this is an auxiliary printed wiring board provided with a circuit pattern for connecting to a pad, the auxiliary printed wiring board is sandwiched between the IC and the printed wiring board.
By mounting C, the IC can be mounted without generating solder bridges or solder balls even if some pads of the printed wiring board are damaged or dropped, and repair using strap wiring In addition, it is possible to test an IC or a printed wiring board with the IC mounted.

【0030】この補助プリント配線板はフレキシブルプ
リント配線板を基板とすれば、十分に薄くして、不要な
部分は容易に切り落とすことができて便利である(請求
項2)。
If the flexible printed wiring board is used as the substrate, the auxiliary printed wiring board can be made sufficiently thin and unnecessary portions can be easily cut off, which is convenient.

【0031】スルーホールの内径はプリント配線板のパ
ッド径より小さくし、スルーホールのランド径はこのパ
ッド径より大きくした場合には、スルーホールの毛細管
現象を有効利用できると共にパッドが欠落している場合
に溶融はんだをスルーホールのランドに確実に保持でき
る(請求項3)。補助プリント配線板の回路パターンは
表面に形成してもよいが(請求項4)、表面と裏面を利
用して形成してもよく、この場合には適宜位置にスルー
ホールやビアホールを設ければよい(請求項5)。請求
項6によればこの補助プリント配線板を用いたICのテ
スト方法が、また請求項7によればプリント配線板の修
復方法が得られる。
If the inner diameter of the through hole is smaller than the pad diameter of the printed wiring board and the land diameter of the through hole is larger than this pad diameter, the capillary effect of the through hole can be effectively used and the pad is missing. In this case, the molten solder can be reliably held on the land of the through hole (claim 3). The circuit pattern of the auxiliary printed wiring board may be formed on the front surface (claim 4), but may be formed using the front surface and the back surface. In this case, if a through hole or a via hole is provided at an appropriate position. Good (claim 5). According to claim 6, a method of testing an IC using the auxiliary printed wiring board is obtained, and according to claim 7, a method of repairing the printed wiring board is obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施態様の分解斜視図FIG. 1 is an exploded perspective view of one embodiment of the present invention.

【図2】その一部の拡大断面図FIG. 2 is an enlarged sectional view of a part thereof.

【図3】正規の実装状態を示す断面図FIG. 3 is a sectional view showing a normal mounting state.

【図4】パッドが欠落した場合の実装状態を示す図FIG. 4 is a diagram showing a mounting state when a pad is missing;

【図5】各部の寸法説明図FIG. 5 is an explanatory diagram of dimensions of each part.

【図6】ICのテスト方法の説明図FIG. 6 is an explanatory diagram of an IC test method.

【図7】プリント配線板の修復方法の説明図FIG. 7 is an explanatory view of a method for repairing a printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 プリント配線板 12 IC 14 接続端子 16 パッド 20 補助プリント配線板 22 基板 24 スルーホール 26 補助パッド 28 回路パターン 30 ランド 32 めっき層 34 メタルマスク 38 はんだクリーム 38A 溶融はんだ 40 テストプローブ 42 ストラップ布線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Printed wiring board 12 IC 14 Connection terminal 16 pad 20 Auxiliary printed wiring board 22 Substrate 24 Through hole 26 Auxiliary pad 28 Circuit pattern 30 Land 32 Plating layer 34 Metal mask 38 Solder cream 38A Melt solder 40 Test probe 42 Strap wiring

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/34 510 G01R 31/28 S ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H05K 3/34 510 G01R 31/28 S

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 略格子状に二次元に配列された多数の接
続端子を有するエリアアレイパッケージICとこのIC
が表面実装されるプリント配線板との間に挟んで使用さ
れるエリアアレイパッケージIC用の補助プリント配線
板であって、 前記ICのパッケージより大きい基板と、この基板の前
記ICの各接続端子に対応する位置に形成された多数の
スルーホールと、前記基板の一方の面に形成され前記I
Cのパッケージより外側に位置する多数の補助パッド
と、前記補助パッドとスルーホールとを接続する配線パ
ターンとを備えることを特徴とするエリアアレイパッケ
ージIC用の補助プリント配線板。
1. An area array package IC having a large number of connection terminals two-dimensionally arranged in a substantially lattice shape, and the IC
Is an auxiliary printed wiring board for an area array package IC which is used sandwiched between a printed wiring board to be surface-mounted, and a substrate larger than the package of the IC and a connection terminal of each of the ICs of the substrate. A plurality of through holes formed at corresponding positions, and the I-hole formed on one surface of the substrate;
An auxiliary printed wiring board for an area array package IC, comprising: a number of auxiliary pads located outside a package of C; and a wiring pattern connecting the auxiliary pads and through holes.
【請求項2】 基板はフレキシブルプリント配線板であ
る請求項1のエリアアレイパッケージIC用の補助プリ
ント配線板。
2. The auxiliary printed wiring board for an area array package IC according to claim 1, wherein the substrate is a flexible printed wiring board.
【請求項3】 前記スルーホールの内径は前記プリント
配線板の接続端子用のパッド径より小さく、前記スルー
ホールのランド外径は前記プリント配線板の接続端子用
のパッド径より大きい請求項1または2のエリアアレイ
パッケージIC用の補助プリント配線板。
3. The printed circuit board according to claim 1, wherein the inner diameter of the through hole is smaller than the pad diameter of the connection terminal of the printed wiring board, and the land outer diameter of the through hole is larger than the pad diameter of the connection terminal of the printed wiring board. 2. Auxiliary printed wiring board for area array package IC.
【請求項4】 少なくとも一部の配線パターンは、前記
基板の表面に他のスルーホールと接触しないように形成
されている請求項1〜3のいずれかのエリアアレイパッ
ケージIC用の補助プリント配線板。
4. The auxiliary printed wiring board for an area array package IC according to claim 1, wherein at least a part of the wiring pattern is formed on the surface of the substrate so as not to contact another through hole. .
【請求項5】 少なくとも一部の配線パターンは、前記
基板の裏面に形成され前記補助パッドにスルーホールま
たはビアホールによって接続されている請求項1〜3の
いずれかのエリアアレイパッケージIC用の補助プリン
ト配線板。
5. The auxiliary print for an area array package IC according to claim 1, wherein at least a part of the wiring pattern is formed on a back surface of the substrate and connected to the auxiliary pad by a through hole or a via hole. Wiring board.
【請求項6】 前記請求項1〜5のいずれかの補助プリ
ント配線板を、プリント配線板の所定位置に固定し、そ
の上からスルーホールのランドにはんだペーストを供給
した後、エリアアレイパッケージICを載せてリフロー
はんだ付けし、補助プリント配線板の補助パッドにテス
トプローブを接触させてテストすることを特徴とするI
Cのテスト方法。
6. The area array package IC after fixing the auxiliary printed wiring board according to any one of claims 1 to 5 at a predetermined position of the printed wiring board and supplying a solder paste from above to a land of a through hole. And carrying out reflow soldering and contacting a test probe with an auxiliary pad of an auxiliary printed wiring board to perform a test.
C test method.
【請求項7】 前記請求項1〜5のいずれかの補助プリ
ント配線板を、プリント配線板の所定位置に固定し、そ
の上からスルーホールのランドにはんだペーストを供給
した後、エリアアレイパッケージICを載せてリフロー
はんだ付けし、補助プリント配線板の補助パッドをスト
ラップ布線を用いて他の所定の接続箇所に接続すること
を特徴とするエリアアレイパッケージIC用プリント配
線板の修復方法。
7. The area array package IC after fixing the auxiliary printed wiring board according to any one of claims 1 to 5 at a predetermined position of the printed wiring board and supplying a solder paste from above to a land of a through hole. And reflow soldering, and connecting the auxiliary pad of the auxiliary printed wiring board to another predetermined connection portion using a strap wiring.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486531B1 (en) * 2002-09-18 2005-05-03 엘지전자 주식회사 Apparatus for testing ic package
WO2010096171A2 (en) * 2009-02-18 2010-08-26 Teradyne, Inc. Test access component for automatic testing of circuit assemblies
WO2017052728A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Intel Corporation Bridge device for interfacing a packaged device with a substrate

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100486531B1 (en) * 2002-09-18 2005-05-03 엘지전자 주식회사 Apparatus for testing ic package
WO2010096171A2 (en) * 2009-02-18 2010-08-26 Teradyne, Inc. Test access component for automatic testing of circuit assemblies
WO2010096171A3 (en) * 2009-02-18 2010-12-09 Teradyne, Inc. Test access component for automatic testing of circuit assemblies
US8604820B2 (en) 2009-02-18 2013-12-10 Teradyne, Inc. Test access component for automatic testing of circuit assemblies
WO2017052728A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Intel Corporation Bridge device for interfacing a packaged device with a substrate
US10477684B2 (en) 2015-09-25 2019-11-12 Intel Corporation Apparatus, system, and method including a bridge device for interfacing a package device with a substrate

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