JP2000161937A - Surface inspection device for cylindrical object - Google Patents

Surface inspection device for cylindrical object

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JP2000161937A
JP2000161937A JP10334717A JP33471798A JP2000161937A JP 2000161937 A JP2000161937 A JP 2000161937A JP 10334717 A JP10334717 A JP 10334717A JP 33471798 A JP33471798 A JP 33471798A JP 2000161937 A JP2000161937 A JP 2000161937A
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JP
Japan
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inspection
image
defect
inclined surface
works
Prior art date
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JP10334717A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshikazu Nakano
義和 中野
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Tsubakimoto Chain Co
Original Assignee
Tsubakimoto Chain Co
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide which can highly efficiently inspect the both end faces of cylindrical works and whole surface of the works including outer peripheral surfaces, without requiring rotation of works nor using special mechanisms for switch the front sides and rear sides of the works. SOLUTION: A surface inspection device for cylindrical object is provided with an inspection table 21, having a slope on which cylindrical works 1 roll on their outer peripheral surfaces, a passage sensor 4 which detects that the works 1 passed through the slope 21, and a stroboscopic light source 51 which illuminate the area, where the works 1 passing on the slope 21 must pass through from both sides a prescribed time, after the works 1 pass through the detecting position of the sensor 4. The inspection device is also provided with an optical unit 5, which guides reflected light rays from both end faces of the works 1 irradiated with the light from the light source 51, so that an image pickup device 6 picks up the images of both end faces of the works 1 on one screen and a computer 7, which detects the surface defects on both end faces of the works 1 from the brightness of the images of the end faces picked up by means of the device 6 and surfaces defects on the outer peripheral surfaces of the works 1 from the positions of the images of both end faces of the works 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は円柱状物体の表面形
状を画像処理により検査する装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting the surface shape of a cylindrical object by image processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】画像処理により種々の物体、たとえば工
業製品,農産物の表面を検査する技術が広く普及してい
る。特に、検査対象物体(ワーク)の表面の微妙な凹
凸,傷等を検査する場合には、正反射画像が利用され
る。具体的には、ワークの検査対象の表面に対して光源
から光を照射し、その正反射光をカメラのレンズ中心に
入射するように設計された光学系を利用して撮像する
と、ワークの検査対象表面が理想的な状態である場合に
は全域が明るい画像が得られるが、凹凸,傷等がある場
合にはその部分からの正反射光がカメラレンズに達しな
いため、理想的な状態に比して若干暗くなった画像が得
られる。このような正反射画像の特性を利用することに
より、得られた画像の明暗の分布状態及びその比率、暗
い部分の絶対量等から欠陥の有無または許容範囲内であ
るか否かを判定することが可能になる。
2. Description of the Related Art Techniques for inspecting the surface of various objects, such as industrial products and agricultural products, by image processing have become widespread. In particular, when inspecting subtle irregularities, scratches, and the like on the surface of the inspection target object (work), a specular reflection image is used. Specifically, when light is emitted from a light source to a surface to be inspected of a work and an image is taken using an optical system designed so that specularly reflected light is incident on the center of a camera lens, the work is inspected. When the target surface is in an ideal state, a bright image can be obtained over the entire area. However, when there are irregularities, scratches, etc., specular reflection light from that part does not reach the camera lens. A slightly darker image is obtained. By utilizing such characteristics of the specular reflection image, it is possible to determine the presence or absence of a defect or whether or not the defect is within an allowable range from the distribution state of light and darkness and the ratio of the obtained image, the absolute amount of a dark part, and the like. Becomes possible.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な正反射光を利用した表面検査技術では、ワークの全表
面を検査するためにはワークの面数だけ検査を反復する
か、またはワークの面数全てを同時に検査することが可
能な光学系を用意する必要がある。たとえば円柱状のワ
ークの全表面を検査するには、両端面と外周面とを同時
に検査することが可能なように光学系を工夫するか、ま
たは何らかの機構を利用してワークを回転させ、または
表裏を入れ換えることにより各面を個別に検査する必要
がある。しかし、前者では装置構成に別途コストを要
し、またそのメンテナンスも必要になり、後者ではワー
ク一個当たりの検査に必要な時間がより長くなると共に
ワークを回転させ、または表裏を入れ換える機械的な機
構が余分に必要になるという問題が生じる。
However, in the surface inspection technique using specular reflection light as described above, in order to inspect the entire surface of the work, the inspection is repeated by the number of faces of the work, or the work is inspected. It is necessary to prepare an optical system capable of simultaneously inspecting all surfaces. For example, to inspect the entire surface of a cylindrical work, devise the optical system so that both end surfaces and the outer peripheral surface can be inspected simultaneously, or rotate the work using some mechanism, or Each side must be individually inspected by swapping the front and back. However, in the former case, the equipment configuration requires additional cost and maintenance, and in the latter case, the time required for inspection per work is longer, and the mechanical mechanism that rotates the work or swaps the front and back. Is required.

【0004】本発明は以上のような事情に鑑みてなされ
たものであり、円柱状のワークの両端面を、また外周面
をも含めた全表面をワークを回転させる必要なしに、ま
た表裏を入れ換えるための特別な機構を用いることもな
しに、高効率で検査することが可能な装置の提供を目的
とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is not necessary to rotate a work on both end surfaces of a columnar work and on the entire surface including an outer peripheral surface, and it is also necessary to turn the work on both sides. It is an object of the present invention to provide a device capable of performing inspection with high efficiency without using a special mechanism for replacement.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の円柱状物体の表
面検査装置は、円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を
検査するための検査装置であって、検査対象物体を転動
させる傾斜面を有する検査台と、前記傾斜面の中途の位
置で前記傾斜面上を通過する検査対象物体の端面を撮像
する撮像装置と、該撮像装置により撮像された検査対象
物体の端面の画像の明るさを検出することにより検査対
象物体の端面の表面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備
えたことを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION A cylindrical object surface inspection apparatus according to the present invention is an inspection apparatus for inspecting a surface defect of a cylindrical object to be inspected. An inspection table having a surface, an imaging device for imaging the end surface of the inspection target object passing on the inclined surface at a position halfway on the inclined surface, and brightness of an image of the end surface of the inspection object imaged by the imaging device And a defect detecting device for detecting a surface defect on an end face of the inspection target object by detecting the defect.

【0006】このような本発明の円柱状物体の表面検査
装置では、検査台の傾斜面を転動する検査対象物体の端
面が撮像装置により撮像され、この撮像された検査対象
物体の端面の画像の明るさが検出されることにより検査
対象物体の端面の表面欠陥が検査される。
In such a surface inspection apparatus for a columnar object according to the present invention, the end face of the inspection object rolling on the inclined surface of the inspection table is imaged by the imaging device, and the image of the imaged end face of the inspection object is taken. Is detected, the surface defect on the end face of the inspection object is inspected.

【0007】また本発明の円柱状物体の表面検査装置
は、円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を検査するた
めの検査装置であって、検査対象物体を転動させる傾斜
面を有する検査台と、前記傾斜面の中途の第1の位置で
前記傾斜面上を検査対象物体が通過したことを検出する
センサと、前記傾斜面の前記第1の位置よりも下側の第
2の位置で前記傾斜面上を通過すべき検査対象物体の端
面を、前記センサにより検査対象物体の通過が検出され
た時点から所定時間経過後に撮像する撮像装置と、該撮
像装置により撮像された画像中における検査対象物体の
端面の画像の位置を検出することにより検査対象物体の
外周面の表面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備えたこ
とを特徴とする。
A surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention is an inspection apparatus for inspecting a surface defect of an object to be inspected for a cylindrical object, wherein the inspection table has an inclined surface for rolling the object to be inspected. A sensor that detects that the inspection object has passed over the inclined surface at a first position in the middle of the inclined surface, and a second position that is lower than the first position on the inclined surface. An image pickup apparatus for picking up an end face of an object to be inspected to pass on the inclined surface after a lapse of a predetermined time from the time when the passage of the object to be inspected is detected by the sensor; A defect detection device that detects a surface defect on an outer peripheral surface of the inspection target object by detecting a position of an image of an end surface of the target object.

【0008】このような本発明の円柱状物体の表面検査
装置では、検査台の傾斜面を転動する検査対象物体の通
過が傾斜面の中途の第1の位置でセンサにより検出さ
れ、傾斜面の第1の位置よりも下側の第2の位置で傾斜
面上を通過すべき検査対象物体の端面がセンサにより検
査対象物体の通過が検出された時点から所定時間経過後
に撮像装置により撮像されるので、撮像された画像中に
おける検査対象物体の端面の画像の位置、換言すれば第
1の位置から第2の位置まで転動するに要した時間を検
出することにより検査対象物体の外周面の表面欠陥が検
査される。
In the surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention, the passage of the inspection object rolling on the inclined surface of the inspection table is detected by the sensor at the first position in the middle of the inclined surface. An image of the end surface of the inspection object to be passed on the inclined surface at the second position lower than the first position is imaged by the imaging device after a predetermined time has elapsed from when the passage of the inspection object is detected by the sensor. Therefore, the outer peripheral surface of the inspection object is detected by detecting the position of the image of the end surface of the inspection object in the captured image, in other words, the time required for rolling from the first position to the second position. Are inspected for surface defects.

【0009】更に本発明の円柱状物体の表面検査装置
は、円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を検査するた
めの検査装置であって、検査対象物体を転動させる傾斜
面を有する検査台と、前記傾斜面の中途の第1の位置で
前記傾斜面上を検査対象物体が通過したことを検出する
センサと、前記傾斜面の前記第1の位置よりも下側の第
2の位置で前記傾斜面上を通過すべき検査対象物体の端
面を、前記センサにより検査対象物体の通過が検出され
た時点から所定時間経過後に撮像する撮像装置と、該撮
像装置により撮像された検査対象物体の端面の画像の明
るさを検出することにより検査対象物体の端面の表面欠
陥を検出し、撮像された画像中における検査対象物体の
端面の画像の位置を検出することにより検査対象物体の
外周面の表面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備えたこ
とを特徴とする。
Further, a surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention is an inspection apparatus for inspecting a surface defect of an inspection object of a cylindrical object, wherein the inspection table has an inclined surface for rolling the inspection object. A sensor that detects that the inspection object has passed over the inclined surface at a first position in the middle of the inclined surface, and a second position that is lower than the first position on the inclined surface. An imaging device that captures an end surface of the inspection target object that should pass on the inclined surface after a lapse of a predetermined time from the time when the passage of the inspection target object is detected by the sensor; and an imaging device that captures an end surface of the inspection target object captured by the imaging device. By detecting the surface defect of the end surface of the inspection object by detecting the brightness of the image of the end surface, and detecting the position of the image of the end surface of the inspection object in the captured image, the outer peripheral surface of the inspection object is detected. Surface defects Characterized by comprising a defect detecting device for output.

【0010】このような本発明の円柱状物体の表面検査
装置では、検査対象物体の端面の表面欠陥及び外周面の
表面欠陥を同時に検査することが可能になる。
The apparatus for inspecting the surface of a cylindrical object according to the present invention can simultaneously inspect the surface defect on the end surface and the surface defect on the outer peripheral surface of the inspection object.

【0011】また更に本発明の円柱状物体の表面検査装
置は、上述の各発明において、前記第2の位置において
前記検査台を挟んで対向して配置された二つの照明装置
と、各照明装置側からの照明光を透過し、照明された検
査対象物体の両端面からの反射光をそれぞれ所定の方向
へ反射する二つのビームスプリッタと、これらの二つの
ビームスプリッタからの反射光を両者が交差するような
方向へ反射する二つの反射鏡と、これらの二つの反射鏡
からの反射光をその交差位置において同一方向へ反射す
る光学装置とを含む光学ユニットを更に備え、前記撮像
装置は、前記光学装置からの反射光を撮像することによ
り検査対象物体の両端面を1画面に撮像すべくなしてあ
ることを特徴とする。
Further, the surface inspection apparatus for a columnar object according to the present invention, in each of the above-mentioned inventions, comprises two illumination devices disposed opposite to each other across the inspection table at the second position, and each illumination device. Two beam splitters that transmit the illumination light from the side and reflect the reflected light from both end faces of the illuminated inspection object in predetermined directions, respectively, and the two intersect the reflected light from these two beam splitters Further comprising an optical unit including two reflecting mirrors for reflecting in such directions, and an optical device for reflecting the reflected light from these two reflecting mirrors in the same direction at the intersection thereof, wherein the imaging device is The apparatus is characterized in that both end faces of the inspection object are imaged on one screen by imaging reflected light from the optical device.

【0012】このような本発明の円柱状物体の表面検査
装置では、第2の位置において検査対象物体の両端面が
二つの照明装置によりそれぞれ照明され、その反射光光
学ユニットにより案内されることにより、撮像装置は検
査対象物体の両端面を1画面に撮像することが可能にな
る。従って、本発明を上述の各発明と組み合わせること
により、検査対象物体の両端面を同時に、また更に外周
面も同時に検査することが可能になる。
In such a surface inspection apparatus for a columnar object according to the present invention, both end faces of the object to be inspected are illuminated by the two illumination devices at the second position, and guided by the reflected light optical units. In addition, the imaging device can image both end faces of the inspection target object on one screen. Therefore, by combining the present invention with each of the above-described inventions, it is possible to inspect both end surfaces of the object to be inspected at the same time, and also to inspect the outer peripheral surface at the same time.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づいて詳述する。以下の実施の形態におい
ては、中実の円柱状物体を検査対象物体(ワーク)とし
ているが、中空の円筒状の物体、更には蓮根状の断面を
有する物体であってもよい。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings showing the embodiments. In the following embodiments, a solid cylindrical object is used as the inspection target object (work), but may be a hollow cylindrical object or an object having a lotus root-shaped cross section.

【0014】図1は本発明に係る円柱状物体の表面検査
装置により検査対象とされる円柱状のワーク(検査対象
物体)を示す模式図である。このような円柱状のワーク
1の表面は、両端面S1及びS2と外周面S3とで構成されて
いる。
FIG. 1 is a schematic view showing a columnar workpiece (object to be inspected) to be inspected by a columnar object surface inspection apparatus according to the present invention. The surface of such a cylindrical work 1 is constituted by both end surfaces S1 and S2 and an outer peripheral surface S3.

【0015】図2は本発明に係る円柱状物体の表面検査
装置 (以下、本発明装置と言う) の一構成例を示す模式
図である。検査台2は一定勾配の平坦な傾斜面21を有
し、この傾斜面21の上流部分にワーク1がその外周面S3
を接する状態で、換言すれば傾斜面21を転動し得る状態
で切り出し部3によりせき止められている。切り出し部
3はコンピュータ7から与えられる指示に応じてそのピ
ストン30を上下動させることにより、ワーク1を一つず
つ解放する。切り出し部3により解放されたワーク1は
白抜き矢符に示されているように検査台2の傾斜面21上
を下流部分へ向けて転動する。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the configuration of a surface inspection apparatus for a columnar object according to the present invention (hereinafter referred to as the apparatus of the present invention). The inspection table 2 has a flat inclined surface 21 having a constant gradient.
Are in contact with, in other words, in a state in which the inclined surface 21 can be rolled, and are blocked by the cutout portion 3. The cutting section 3 releases the works 1 one by one by moving its piston 30 up and down according to an instruction given from the computer 7. The work 1 released by the cut-out unit 3 rolls on the inclined surface 21 of the inspection table 2 toward the downstream portion as shown by a white arrow.

【0016】検査台2の傾斜面21の下流部分には、ワー
ク1の通過を検出するための通過センサ4と、更にその
下流部分に光学ユニット5とが設置されており、更に光
学ユニット5に対して適宜の位置に撮像装置(CCDカ
メラ)6が配置されている。通過センサ4はたとえば、
検査台2の傾斜面21上のワーク1が転動する領域を挟ん
で発光素子と受光素子とを対向配置し、傾斜面21上を上
流側から下側へ転動するワーク1により両素子間での光
線の送受が遮断されるような形式のセンサであり、その
検出結果はコンピュータ7に与えられている。コンピュ
ータ7は、ワーク1がこの通過センサ4の位置を通過し
た場合にそのタイミングから計時を開始し、外周形状が
正常なワーク1が撮像装置6による最適の撮像位置を通
過するべき時間が経過したタイミングにおいて光学ユニ
ット5のストロボ光源51R, 51Lを発光させる。そしてこ
のタイミングに同期してコンピュータ7は撮像装置6に
撮像を行なわせる。
A passage sensor 4 for detecting the passage of the workpiece 1 is provided at a downstream portion of the inclined surface 21 of the inspection table 2, and an optical unit 5 is further provided at a downstream portion thereof. On the other hand, an imaging device (CCD camera) 6 is arranged at an appropriate position. The passage sensor 4 is, for example,
The light-emitting element and the light-receiving element are arranged to face each other across the region on the inclined surface 21 of the inspection table 2 where the work 1 rolls, and the work 1 that rolls on the inclined surface 21 from the upstream side to the lower side interposes the two elements. The sensor is of a type in which the transmission and reception of the light beam is interrupted, and the detection result is given to the computer 7. When the work 1 passes through the position of the passage sensor 4, the computer 7 starts timing from that timing, and the time when the work 1 having a normal outer peripheral shape should pass through the optimal imaging position by the imaging device 6 has elapsed. At the timing, the strobe light sources 51R and 51L of the optical unit 5 emit light. Then, in synchronization with this timing, the computer 7 causes the imaging device 6 to perform imaging.

【0017】なお、撮像装置6により得られた画像はた
とえば8ビット階調のデジタルデータとしてコンピュー
タ7に与えられる。
The image obtained by the imaging device 6 is provided to the computer 7 as digital data of, for example, 8-bit gradation.

【0018】図3は光学ユニット5の詳細な構成例を示
す模式図である。光学ユニット5は、適宜の距離をおい
て対向配置された二つのストロボ光源51R, 51Lと、ビー
ムスプリッタ52R, 52L及び反射鏡53R, 53L, 54等で構成
されている。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a detailed configuration example of the optical unit 5. The optical unit 5 is composed of two strobe light sources 51R and 51L which are arranged facing each other at an appropriate distance, beam splitters 52R and 52L, and reflecting mirrors 53R, 53L and 54.

【0019】両ストロボ光源51R, 51Lは共にワーク1の
両端面の形状に一致した円形の発光部分を有している。
両ストロボ光源51R, 51Lを結ぶ直線上にはまた、ストロ
ボ光源51R 側からの光は通過させるがストロボ光源51R
側へ向かう光は45度方向へ反射するビームスプリッタ52
L がストロボ光源51L に近い位置に、ストロボ光源51R
側からの光は通過させるがストロボ光源51R 側へ向かう
光はビームスプリッタ52L での反射光と平行になるよう
に45度方向へ反射するビームスプリッタ52R がストロボ
光源51L に近い位置にそれぞれ配置されている。
Both strobe light sources 51R and 51L have circular light emitting portions corresponding to the shapes of both end faces of the work 1.
On the straight line connecting the two strobe light sources 51R and 51L, the light from the strobe light source 51R side is passed, but the strobe light source 51R
Beam splitter 52 that reflects light toward the side in a 45-degree direction
L is located near the strobe light source 51L, and the strobe light source 51R
The beam splitter 52R is arranged at a position close to the strobe light source 51L, which allows light from the side to pass, but reflects the light toward the strobe light source 51R in a 45-degree direction so as to be parallel to the reflected light from the beam splitter 52L. I have.

【0020】両ビームスプリッタ52L, 52Rは、ビームス
プリッタ52L により反射された光の光路とビームスプリ
ッタ52R により反射された光の光路とが平行になるよう
に配置されており、それぞれの反射方向には反射鏡53L,
53Rが配置されている。これらの反射鏡53L, 53Rはそれ
ぞれビームスプリッタ52L, 52R側からの反射光を両者が
交差するような方向へそれぞれ反射する。両反射鏡53L,
53Rの反射光が交差する位置には二つの反射面を有する
光学装置、具体的にはプリズムミラー54が配置されてお
り、その二つの反射面は、それぞれへ入射した光を同一
方向へ反射するように角度が設定されている。そして、
撮像装置6はこのプリズムミラー54の二つの反射面での
反射光がレンズ中心に入射するように配置されている。
The two beam splitters 52L and 52R are arranged so that the optical path of the light reflected by the beam splitter 52L and the optical path of the light reflected by the beam splitter 52R are parallel to each other. 53L reflector,
53R is arranged. These reflecting mirrors 53L and 53R respectively reflect the reflected light from the beam splitters 52L and 52R in directions such that they intersect. 53L double reflector,
At the position where the reflected light of 53R intersects, an optical device having two reflecting surfaces, specifically a prism mirror 54, is arranged, and the two reflecting surfaces reflect light incident on each in the same direction. The angle is set as follows. And
The imaging device 6 is arranged such that the light reflected on the two reflecting surfaces of the prism mirror 54 enters the center of the lens.

【0021】そして、このような構成の光学ユニット5
が、両ストロボ光源51R, 51Lの発光部の中心を結ぶ直線
が、検査台2の傾斜面21上を転動するワーク1の中心に
一致するように、且つワーク1の両端面と直交するよう
に、通過センサ4の検出位置よりは下流の検査台2の適
宜の位置に配置されている。
The optical unit 5 having such a configuration
However, the straight line connecting the centers of the light emitting portions of the two strobe light sources 51R and 51L is aligned with the center of the work 1 rolling on the inclined surface 21 of the inspection table 2 and orthogonal to both end faces of the work 1. In addition, it is arranged at an appropriate position on the inspection table 2 downstream of the detection position of the passage sensor 4.

【0022】このような光学ユニット5によると、検査
台2の傾斜面21上の両ストロボ光源51R, 51Lを結ぶ直線
上の中央にワーク1が存在する場合に、両ストロボ光源
51R,51Lが発光するとその光は、ビームスプリッタ52L,
52Rを透過してワーク1の両端面でそれぞれの発光源で
ある両ストロボ光源51R, 51Lの方向へ反射し、ビームス
プリッタ52L, 52Rでそれぞれ反射鏡53L, 53Rの方向へ平
行に反射し、更に反射鏡53L, 53Rでそれぞれプリズムミ
ラー54方向へ反射し、最後にプリズムミラー54の二つの
反射面で撮像装置6のレンズ方向へ平行に反射される。
従って、撮像装置6はワーク1の両端面からの反射光を
一つのレンズで捉えることが出来るので、ワーク1の両
端面の画像を1画面に撮像することが出来る。
According to such an optical unit 5, when the work 1 exists at the center of a straight line connecting the two strobe light sources 51R and 51L on the inclined surface 21 of the inspection table 2, the two strobe light sources are used.
When 51R and 51L emit light, the light is emitted to the beam splitter 52L,
The light passes through 52R and is reflected at both end faces of the work 1 in the direction of the two strobe light sources 51R and 51L, which are the respective light emitting sources. The light is reflected by the reflecting mirrors 53L and 53R in the direction of the prism mirror 54, and finally reflected by the two reflecting surfaces of the prism mirror 54 in a direction parallel to the lens direction of the imaging device 6.
Therefore, the imaging device 6 can capture the reflected light from both end surfaces of the work 1 with one lens, so that images of both end surfaces of the work 1 can be taken on one screen.

【0023】図4は上述のような光学ユニット5を通し
て正常なワーク1を撮像装置6で撮像した場合の画像60
を示す模式図である。上述のような構成の光学ユニット
5では、ワーク1の両端面を同時に1画面に撮像するこ
とが出来るので、撮像装置6で得られた画像60には左右
対称にワーク1の左側端面の画像61L 及び右側端面の画
像61R が撮像されている。そして、図4に示されている
正常なワーク1の画像では、両端面の画像61L, 61Rは共
にそれぞれからの正反射光により均一な明るさに撮像さ
れている。なお、この図4及び後述する図5において、
参照符号CLは画像60の中心線を、矢符D1は画像60におけ
るワーク1の移動方向をそれぞれ示している。
FIG. 4 shows an image 60 obtained when the normal work 1 is imaged by the imaging device 6 through the optical unit 5 as described above.
FIG. In the optical unit 5 having the above-described configuration, since both end faces of the work 1 can be simultaneously imaged on one screen, an image 61L of the left end face of the work 1 is symmetrically displayed on the image 60 obtained by the imaging device 6. And an image 61R of the right end face. Then, in the image of the normal work 1 shown in FIG. 4, the images 61L and 61R of both end faces are both imaged to have uniform brightness by the regular reflection light from each. In FIG. 4 and FIG. 5 described later,
Reference numeral CL indicates the center line of the image 60, and arrow D1 indicates the moving direction of the work 1 in the image 60.

【0024】図5は右側端面に欠陥があるワーク1を上
述のような光学ユニット5を通して撮像装置6で撮像し
た場合の画像60を示す模式図である。この図5に示され
ている欠陥があるワーク1の画像では欠陥がない左側端
面の画像61L は上述の図4に示されている両端面61L, 6
1Rの画像と同様に均一な明るさであるが、欠陥がある右
側端面の画像61R には欠陥部分からの正反射光が撮像装
置6には到達しないため、欠陥部分に対応する部分Fが
暗い(明度が低い)状態に撮像されている。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an image 60 when the work 1 having a defect on the right end face is picked up by the image pickup device 6 through the optical unit 5 as described above. In the image of the work 1 having the defect shown in FIG. 5, the image 61L of the left end face having no defect is the end face 61L, 6L shown in FIG.
Although the brightness is uniform as in the 1R image, the portion F corresponding to the defective portion is dark in the image 61R on the right end face having the defect because the specularly reflected light from the defective portion does not reach the imaging device 6. The image is captured in a state (lightness is low).

【0025】図6は上述のようなワーク1の欠陥を有す
る端面から得られた画像をコンピュータ7により解析す
る手法を説明するための画像の濃度(明るさ)波形を示
すグラフである。図5に示されているワーク1の欠陥を
有する右端面の画像61R を検査円DCにおいてたとえば 2
56階調(8ビット)でサンプリングした場合、図6に示
されているように、欠陥がない部分に比して欠陥部分F
は大きく明るさが低下している。従って、コンピュータ
7はこのような検出欠陥を適宜のしきい値THでスライス
することにより、容易に欠陥の有無を検出することが可
能になる。
FIG. 6 is a graph showing a density (brightness) waveform of an image for explaining a method of analyzing the image obtained from the end face having the defect of the work 1 by the computer 7 as described above. An image 61R of the right end face having a defect of the work 1 shown in FIG.
When sampling is performed at 56 gradations (8 bits), as shown in FIG.
Is greatly reduced in brightness. Therefore, the computer 7 can easily detect the presence or absence of a defect by slicing such a detected defect at an appropriate threshold value TH.

【0026】ところで、ワーク1の外周面に欠陥がある
か否かは上述のような手法では検査することは出来な
い。しかし、通過センサ4をワーク1が通過したタイミ
ングを基準としてそのワーク1の撮像装置6が撮像した
画像60上での位置を検出することにより、ワーク1の外
周面の欠陥の有無を検出することが可能である。具体的
には、ワーク1の外周面に何らかの欠陥が存在する場合
には、欠陥が存在しない場合に比して転がり摩擦がわず
かではあっても、増大する方向に変化する。
Incidentally, whether or not there is a defect on the outer peripheral surface of the work 1 cannot be inspected by the above-described method. However, by detecting the position of the workpiece 1 on the image 60 captured by the imaging device 6 based on the timing at which the workpiece 1 has passed the passage sensor 4, it is possible to detect the presence or absence of a defect on the outer peripheral surface of the workpiece 1. Is possible. More specifically, when there is any defect on the outer peripheral surface of the work 1, even if the rolling friction is slight, it changes in a direction to increase, as compared with the case where no defect exists.

【0027】図7は外周面に欠陥があるワーク1を上述
のような光学ユニット5を通して撮像装置6で撮像した
場合の画像60を示す模式図である。ワーク1が通過セン
サ4の位置を通過したタイミングから所定時間後に撮像
装置6により撮像した場合に、外周面に欠陥がないワー
ク1を撮像した場合にはたとえば図4に示されている画
像60と同様の位置P0にワーク1の両端面の画像61L, 61R
の中心が撮像されるが、外周面に欠陥があるワーク1を
撮像した画像60では図7に示されているようにそれとは
異なる位置P1にワーク1の両端面の画像61L, 61Rの中心
が撮像される。このように、撮像装置6により撮像され
た画像60中においてワーク1の両端面の画像61L, 61Rの
中心の位置を検出し、両者の偏差Dを求めることによ
り、コンピュータ7はワーク1の外周面の欠陥の有無を
検出することが可能になる。
FIG. 7 is a schematic diagram showing an image 60 when the work 1 having a defect on the outer peripheral surface is picked up by the image pickup device 6 through the optical unit 5 as described above. When the image pickup device 6 takes an image after a predetermined time from the timing when the work 1 has passed the position of the passage sensor 4, and when the work 1 having no defect on the outer peripheral surface is taken, for example, an image 60 shown in FIG. Images 61L and 61R of both end faces of work 1 at similar position P0
In the image 60 obtained by imaging the work 1 having a defect on the outer peripheral surface, the centers of the images 61L and 61R of the both end surfaces of the work 1 are located at different positions P1 as shown in FIG. It is imaged. In this way, the computer 7 detects the center position of the images 61L and 61R of the both end faces of the work 1 in the image 60 picked up by the image pickup device 6 and obtains the deviation D between them, so that the computer 7 Can be detected.

【0028】図8は本発明装置によりワーク1を検査す
る際のコンピュータ7による制御手順を示すフローチャ
ートである。以下、このフローチャートを参照してコン
ピュータ7により実行される検査手順を説明する。
FIG. 8 is a flowchart showing a control procedure by the computer 7 when inspecting the work 1 by the apparatus of the present invention. Hereinafter, the inspection procedure executed by the computer 7 will be described with reference to this flowchart.

【0029】まず、コンピュータ7は切り出し部3に制
御信号を与えて1個のワーク1を解放させ (ステップS1
1)、通過センサ4から検出信号が与えられるまで待機す
る (ステップS12)。切り出し部3により解放されたワー
ク1は検査台2の傾斜面21を下側へ向かって転動を開始
し、やがて通過センサ4の検出位置を通過する。この時
点において、通過センサ4からコンピュータ7へ検出信
号が与えられるので (ステップS12 で"YES")、コンピュ
ータ7は計時を開始する (ステップS13)。
First, the computer 7 gives a control signal to the cutting section 3 to release one work 1 (step S1).
1), and waits until a detection signal is given from the passage sensor 4 (step S12). The work 1 released by the cutout unit 3 starts rolling downward on the inclined surface 21 of the inspection table 2, and eventually passes through the detection position of the passage sensor 4. At this time, since a detection signal is given from the passage sensor 4 to the computer 7 ("YES" in step S12), the computer 7 starts counting time (step S13).

【0030】所定時間T1の計時が終了すると、換言すれ
ばワーク1が通過センサ4により検出された時点から所
定時間T1が経過すると (ステップS13 で"YES")、コンピ
ュータ7はストロボ光源51を発光させ (ステップS14)、
また同時に撮像装置6に同調して撮像を行なわせ、その
結果得られた画像のデータを取り込む (ステップS15)。
When the clocking of the predetermined time T1 ends, in other words, when the predetermined time T1 has elapsed from the time when the workpiece 1 is detected by the passage sensor 4 ("YES" in step S13), the computer 7 emits light from the strobe light source 51. (Step S14),
At the same time, the imaging device 6 is caused to perform imaging in synchronization, and the data of the image obtained as a result is taken in (step S15).

【0031】撮像装置6から画像を取り込んだコンピュ
ータ7は、前述の図6に示されているような手法で濃度
波形を求め、適宜のしきい値でスライスすることにより
ワーク1の両端面の表面欠陥の有無,程度を判断する
(ステップS16)。また、コンピュータ7は撮像装置7か
ら取り込んだ画像中でのワーク1の両端面が撮像されて
いる位置を検出することにより、ワーク1の外周面の表
面欠陥の有無,程度を判断し (ステップS17)、必要に応
じてディスプレイに出力したり、または欠陥を有するワ
ークを図示されていない装置によりリジェクトする等の
処理を行なう (ステップS18)。
The computer 7 which has taken in the image from the image pickup device 6 obtains the density waveform by the method as shown in FIG. Judge the presence and degree of defects
(Step S16). Further, the computer 7 determines whether or not there is a surface defect on the outer peripheral surface of the work 1 by detecting a position where both end surfaces of the work 1 are imaged in the image taken from the imaging device 7 (step S17). ), And performs processing such as outputting to a display as necessary or rejecting a work having a defect by a device not shown (step S18).

【0032】以上のような手順を実行することにより、
コンピュータ7は1個のワークの両端面及び外周面の表
面欠陥の有無,程度を判断し、その結果を適宜の出力装
置、たとえば CRTディスプレイ等に出力して一順の手順
を終了するが、引き続きステップS11 へ処理を戻して次
のワーク1の検査を行なうことも勿論可能である。
By executing the above procedure,
The computer 7 judges the presence and degree of surface defects on both end surfaces and the outer peripheral surface of one work, outputs the result to an appropriate output device, for example, a CRT display or the like, and ends the sequential procedure. It is of course possible to return the processing to step S11 and inspect the next work 1.

【0033】なお、上述の実施の形態においては、ワー
ク1の両端面と外周面とを同時に検査するようにしてい
るが、たとえばワーク1の外周面を検査する必要がない
場合には通過センサ4は必要ではなく、撮像装置6によ
り最適な画像が得られる位置でワーク1が撮像出来るよ
うにすればよく、またたとえばワーク1の外周面のみを
検査する場合には光学ユニット5及び撮像装置6は必要
ではなく、通過センサ4と同様のセンサを適宜の間隔で
二組配置し、両センサ間をワーク1が通過する時間を計
測するような構成をとることも勿論可能である。更に、
光学ユニットを使用せず、検査台2の両側に撮像装置6
を対向配置してワーク1の両端面の画像を同時に撮像す
るような構成も勿論可能である。
In the above-described embodiment, both end surfaces and the outer peripheral surface of the work 1 are inspected at the same time. However, for example, when it is not necessary to inspect the outer peripheral surface of the work 1, the passage sensor 4 is required. Is not necessary, and it is sufficient that the work 1 can be imaged at a position where an optimum image can be obtained by the imaging device 6. For example, when inspecting only the outer peripheral surface of the work 1, the optical unit 5 and the imaging device 6 It is not necessary, and it is of course possible to adopt a configuration in which two sets of sensors similar to the passage sensor 4 are arranged at appropriate intervals and the time that the work 1 passes between both sensors is measured. Furthermore,
Without using the optical unit, the imaging devices 6 are provided on both sides of the inspection table 2.
It is needless to say that a configuration is possible in which the images of both end faces of the work 1 are simultaneously taken by arranging the images to face each other.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上に詳述したように本発明に係る円柱
状物体の表面検査装置によれば、円柱状の検査対象物体
が斜面を転動している間にその端面を撮像することによ
り、外部から特別なエネルギーを加えることなしに、円
柱状の検査対象物体の端面の表面検査を行なうことが可
能になる。
As described above in detail, according to the surface inspection apparatus for a columnar object according to the present invention, the end surface of the columnar inspection object is imaged while rolling on the slope. In addition, the surface inspection of the end face of the cylindrical inspection object can be performed without applying special energy from the outside.

【0035】また本発明に係る円柱状物体の表面検査装
置によれば、円柱状の検査対象物体が斜面を転動してい
る間において第1の位置を通過した時点から所定時間経
過後に第2の位置でその端面を撮像することにより、第
1の位置から第2の位置まで転動するに要した時間が検
出され、結果的に検査対象物体の外周面の表面欠陥の検
査が行なわれる。
According to the surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention, the second object is passed after a predetermined time elapses from the time when the cylindrical object to be inspected passes through the first position while rolling on the slope. By capturing an image of the end face at the position, the time required for rolling from the first position to the second position is detected, and as a result, a surface defect on the outer peripheral surface of the inspection object is inspected.

【0036】更に本発明に係る円柱状物体の表面検査装
置によれば、上述のような円柱状の検査対象物体の端面
及び外周面の表面検査を組み合わせることにより検査対
象物体の全表面の欠陥検査が行なえるため、検査対象物
体を回転させたり、または表裏を入れ換えるための特別
な機構も不要になるため、低コストで、メンテナンスも
不要になる。
Further, according to the surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention, the defect inspection of the entire surface of the inspection object is performed by combining the surface inspection of the end surface and the outer peripheral surface of the cylindrical inspection object as described above. Since a special mechanism for rotating the object to be inspected or exchanging the front and back is not required, the cost is low and maintenance is not required.

【0037】また更に、本発明に係る円柱状物体の表面
検査装置によれば、第2の位置において検査対象物体の
両端面を照明装置により両側からそれぞれ照明し、その
反射を光学ユニットにより1台の撮像装置へ案内するこ
とにより、撮像装置は検査対象物体の両端面を1画面に
撮像することが可能になる。従って、本発明を上述の各
発明と組み合わせることにより、1台の撮像装置にて検
査対象物体の両端面を同時に、また更に外周面も同時に
検査することが可能になる。
Further, according to the surface inspection apparatus for a cylindrical object according to the present invention, both end faces of the object to be inspected are illuminated from both sides by the illumination device at the second position, and the reflection is performed by one optical unit. The image pickup apparatus can image both end faces of the inspection target object on one screen. Therefore, by combining the present invention with each of the above-described inventions, it is possible to inspect both end faces of the inspection target object at the same time and further simultaneously inspect the outer peripheral face with one imaging device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
検査対象とされる円柱状の検査対象物体を示す模式図で
ある。
FIG. 1 is a schematic view showing a columnar inspection target object to be inspected by a columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置の一構
成例を示す模式図である。
FIG. 2 is a schematic view showing one configuration example of a columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図3】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置の光学
ユニットの詳細な構成例を示す模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a detailed configuration example of an optical unit of the columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図4】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
正常な検査対象物体を撮像した場合の画像を示す模式図
である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing an image when a normal inspection object is imaged by the cylindrical object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図5】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
右側端面に欠陥がある検査対象物体を撮像した場合の画
像を示す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an image when the inspection object having a defect on the right end face is imaged by the columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図6】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
右側端面に欠陥がある検査対象物体を撮像した画像を解
析する手法を説明するための画像の濃度波形を示すグラ
フである。
FIG. 6 is a graph showing a density waveform of an image for explaining a method of analyzing an image obtained by capturing an image of an inspection object having a defect on a right end face by the columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図7】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
外周面に欠陥がある検査対象物体を撮像した場合の画像
を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing an image when an inspection object having a defect on an outer peripheral surface is imaged by the columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【図8】本発明に係る円柱状物体の表面検査装置により
検査対象物体を検査する際の手順を示すフローチャート
である。
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for inspecting an inspection target object by the columnar object surface inspection apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査対象物体 2 検査台 4 通過センサ 5 光学ユニット 6 撮像装置 7 コンピュータ 21 検査台の傾斜面 51L,51R ストロボ光源 52L,52R ビームスプリッタ 53L,53R 反射鏡 54 プリズムミラー REFERENCE SIGNS LIST 1 object to be inspected 2 inspection table 4 pass sensor 5 optical unit 6 imaging device 7 computer 21 inclined surface of inspection table 51L, 51R strobe light source 52L, 52R beam splitter 53L, 53R reflector 54 prism mirror

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を
検査するための検査装置において、 検査対象物体を転動させる傾斜面を有する検査台と、 前記傾斜面の中途の位置で前記傾斜面上を通過する検査
対象物体の端面を撮像する撮像装置と、 該撮像装置により撮像された検査対象物体の端面の画像
の明るさを検出することにより検査対象物体の端面の表
面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備えたことを特徴と
する円柱状物体の表面検査装置。
1. An inspection apparatus for inspecting a surface defect of an object to be inspected for a cylindrical object, comprising: an inspection table having an inclined surface for rolling the object to be inspected; and the inclined surface at a position halfway on the inclined surface. An imaging device for imaging an end surface of an inspection object passing therethrough; and a defect for detecting a surface defect on the end surface of the inspection object by detecting brightness of an image of the end surface of the inspection object imaged by the imaging device. A surface inspection device for a cylindrical object, comprising: a detection device.
【請求項2】 円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を
検査するための検査装置において、 検査対象物体を転動させる傾斜面を有する検査台と、 前記傾斜面の中途の第1の位置で前記傾斜面上を検査対
象物体が通過したことを検出するセンサと、 前記傾斜面の前記第1の位置よりも下側の第2の位置で
前記傾斜面上を通過すべき検査対象物体の端面を、前記
センサにより検査対象物体の通過が検出された時点から
所定時間経過後に撮像する撮像装置と、 該撮像装置により撮像された画像中における検査対象物
体の端面の画像の位置を検出することにより検査対象物
体の外周面の表面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備え
たことを特徴とする円柱状物体の表面検査装置。
2. An inspection apparatus for inspecting a surface defect of an inspection object of a columnar object, comprising: an inspection table having an inclined surface for rolling the inspection object; and a first position in the middle of the inclined surface. A sensor for detecting that the inspection object has passed on the inclined surface; and an end surface of the inspection object to be passed on the inclined surface at a second position below the first position of the inclined surface. An image capturing apparatus that captures an image after a lapse of a predetermined time from a point in time when the passage of the inspection target object is detected by the sensor, and by detecting a position of an image of an end face of the inspection target object in an image captured by the imaging apparatus. A defect detection device for detecting a surface defect on the outer peripheral surface of the inspection target object.
【請求項3】 円柱状物体の検査対象物体の表面欠陥を
検査するための検査装置において、 検査対象物体を転動させる傾斜面を有する検査台と、 前記傾斜面の中途の第1の位置で前記傾斜面上を検査対
象物体が通過したことを検出するセンサと、 前記傾斜面の前記第1の位置よりも下側の第2の位置で
前記傾斜面上を通過すべき検査対象物体の端面を、前記
センサにより検査対象物体の通過が検出された時点から
所定時間経過後に撮像する撮像装置と、 該撮像装置により撮像された検査対象物体の端面の画像
の明るさを検出することにより検査対象物体の端面の表
面欠陥を検出し、撮像された画像中における検査対象物
体の端面の画像の位置を検出することにより検査対象物
体の外周面の表面欠陥を検出する欠陥検出装置とを備え
たことを特徴とする円柱状物体の表面検査装置。
3. An inspection apparatus for inspecting a surface defect of an inspection object of a cylindrical object, comprising: an inspection table having an inclined surface for rolling the inspection object; and a first position halfway on the inclined surface. A sensor for detecting that the inspection object has passed on the inclined surface; and an end surface of the inspection object to be passed on the inclined surface at a second position below the first position of the inclined surface. An imaging device for imaging a predetermined time after the passage of the inspection object by the sensor is detected by the sensor; and detecting the brightness of an image of an end surface of the inspection object captured by the imaging device. A defect detection device that detects a surface defect on an end surface of the object and detects a surface defect on an outer peripheral surface of the inspection object by detecting a position of an image of the end surface of the inspection object in a captured image. To Surface inspection apparatus of a cylindrical object to symptoms.
【請求項4】 前記第2の位置において前記検査台を挟
んで対向して配置された二つの照明装置と、 各照明装置側からの照明光を透過し、照明された検査対
象物体の両端面からの反射光をそれぞれ所定の方向へ反
射する二つのビームスプリッタと、 これらの二つのビームスプリッタからの反射光を両者が
交差するような方向へ反射する二つの反射鏡と、 これらの二つの反射鏡からの反射光をその交差位置にお
いて同一方向へ反射する光学装置とを含む光学ユニット
を更に備え、 前記撮像装置は、前記光学装置からの反射光を撮像する
ことにより検査対象物体の両端面を1画面に撮像すべく
なしてあることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか
に記載の円柱状物体の表面検査装置。
4. Two illumination devices arranged opposite to each other across the inspection table at the second position, and both end surfaces of the illuminated inspection object, which transmit illumination light from each illumination device side. Two beam splitters for reflecting the reflected light from the two in a predetermined direction, two reflecting mirrors for reflecting the reflected light from these two beam splitters in a direction where the two intersect, and these two reflections An optical unit that reflects the light reflected from the mirror in the same direction at the intersection thereof, the optical unit further comprising: an imaging unit configured to image both ends of the inspection target object by imaging the reflected light from the optical device. 4. The apparatus for inspecting the surface of a cylindrical object according to claim 1, wherein the apparatus is configured to capture an image on one screen.
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