JP2000135668A - Wafer end part processing device - Google Patents

Wafer end part processing device

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JP2000135668A
JP2000135668A JP31031898A JP31031898A JP2000135668A JP 2000135668 A JP2000135668 A JP 2000135668A JP 31031898 A JP31031898 A JP 31031898A JP 31031898 A JP31031898 A JP 31031898A JP 2000135668 A JP2000135668 A JP 2000135668A
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wafer
pad
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unit holding
pad holder
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JP31031898A
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Yasushi Muto
寧 武藤
Shinji Tsuji
慎司 辻
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YAC Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To process the end part of a wafer by a simplified device. SOLUTION: This device is provided with a table 2 to rotate by sucking and holding a wafer 3; a unit holding member 6 provided at the upper side of the table 2; a linear shaft 11 provided movable up and down to the unit holding member 6; a pad holder 14 provided at the lower end of the linear shaft 11 through a spherical bearing 13; a ring form pad 20 fixed to the pad holder 14 corresponding to the end of the wafer 3; a cylinder 31 provided to the unit holding member 6, to press the pad holder 14, and a specific pressure to press the wafer 3 by the pad 20 is applied; and a cylinder 33 to feed a slurry on the wafer 3 at the inner side of the pad 20.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ウェーハ端部の研
磨、清浄化等の処理装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a processing apparatus for polishing and cleaning a wafer edge.

【0002】[0002]

【従来の技術】ウェーハの端部は、パターンニングの際
の露光ずれ等により異常パターンが発生し易い。この異
常パターンは、後工程中に脱落して異物となり易い。ま
た後工程のチャッキング等により前記異常パターンが脱
落することがある。この脱落した異物は清浄なパターン
部に付着することがある。そこで、ウェーハの縁から約
3mmの範囲を各工程毎に清浄化することが行われてい
る。
2. Description of the Related Art An abnormal pattern is apt to occur at the edge of a wafer due to a shift in exposure during patterning. This abnormal pattern is likely to fall off during a post-process and become a foreign substance. In addition, the abnormal pattern may fall off due to chucking or the like in a later process. The dropped foreign matter may adhere to a clean pattern portion. Therefore, a range of about 3 mm from the edge of the wafer is cleaned for each process.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明のは、ウェーハ
の端部処理を簡素化された装置で行うことができるウェ
ーハ端部処理装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a wafer edge processing apparatus capable of performing a wafer edge processing with a simplified apparatus.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の第1の手段は、ウェーハを吸着保持して回転
するテーブルと、このテーブルの上方に配設されたユニ
ット保持部材と、このユニット保持部材の中央に軸受を
介して上下動自在に設けられたリニアシャフトと、この
リニアシャフトの下端に球面軸受を介して設けられたパ
ッドホルダーと、前記ウェーハの端部に対応して前記パ
ッドホルダーに固定されたリング状のパッドと、前記ユ
ニット保持部材に設けられ、前記パッドホルダーを押圧
し、前記パッドがウェーハを押圧する一定圧を加圧する
シリンダーと、前記パッドの内側のウェーハ上にスラリ
ーを供給するシリンジとを備えたことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a table for rotating a table by holding a wafer by suction, a unit holding member disposed above the table, and A linear shaft provided vertically movable via a bearing in the center of the unit holding member, a pad holder provided via a spherical bearing at a lower end of the linear shaft, and a pad holder corresponding to an end of the wafer. A ring-shaped pad fixed to a pad holder, a cylinder provided on the unit holding member, pressing the pad holder, and pressing a constant pressure at which the pad presses the wafer, and a cylinder on the wafer inside the pad. And a syringe for supplying the slurry.

【0005】上記課題を解決するための本発明の第2の
手段は、上記第1の手段において、前記パッドの下面に
は、外周から内周に向けて前記テーブルの回転方向に傾
斜した排液溝が形成されていることを特徴とする。
A second means of the present invention for solving the above-mentioned problems is that, in the above-mentioned first means, a drainage liquid inclined on the lower surface of the pad from the outer periphery to the inner periphery in the rotation direction of the table is provided. It is characterized in that a groove is formed.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図1及び
図2により説明する。図1に示すように、図示しないモ
ータで回転させられる回転軸1の上端には、テーブル2
が固定されており、回転軸1及びテーブル2の中心に
は、図示しない真空源より真空吸引される吸引穴1a、
2aが形成されている。テーブル2の上面外周は、リン
グ部2bとなっており、リング部2b内にウェーハ3が
載置される。テーブル2の上面には、リング状溝2cが
形成され、このリング状溝2cに連通するようにパイプ
4の一端が接続され、パイプ4の他端は、必要に応じて
水を注入する注入口4aとなっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, a table 2 is provided at the upper end of a rotating shaft 1 rotated by a motor (not shown).
Is fixed, and a suction hole 1a for vacuum suction from a vacuum source (not shown) is provided in the center of the rotating shaft 1 and the table 2.
2a is formed. The outer periphery of the upper surface of the table 2 is a ring portion 2b, and the wafer 3 is placed in the ring portion 2b. A ring-shaped groove 2c is formed on the upper surface of the table 2, and one end of a pipe 4 is connected so as to communicate with the ring-shaped groove 2c. The other end of the pipe 4 has an inlet for injecting water as needed. 4a.

【0007】テーブル2の上方には、装置の固定部5に
位置決め固定される円板状のユニット保持部材6が配設
されている。ユニット保持部材6の外周は、固定部5の
内周部5aによって径方向が位置決めされる。ユニット
保持部材6の回転方向を位置決めするために、固定部5
には位置決め穴5bが形成され、ユニット保持部材6に
は位置決め穴5bに挿入される位置決めピン7が固定さ
れている。固定部5に載置されたユニット保持部材6
は、押さえ爪8をボルト9で固定部5に締め付けること
により固定部5に固定される。なお、図には1個の押さ
え爪8を図示したが、押さえ爪8は固定部5に等間隔に
3個設けられている。
Above the table 2, there is provided a disk-shaped unit holding member 6 which is positioned and fixed to the fixing portion 5 of the apparatus. The outer periphery of the unit holding member 6 is positioned in the radial direction by the inner periphery 5 a of the fixing portion 5. In order to position the rotation direction of the unit holding member 6, the fixing portion 5
Is formed with a positioning hole 5b, and a positioning pin 7 inserted into the positioning hole 5b is fixed to the unit holding member 6. Unit holding member 6 placed on fixing portion 5
Is fixed to the fixing portion 5 by tightening the holding claw 8 with the bolt 9. Although one holding claw 8 is shown in the figure, three holding claws 8 are provided on the fixed portion 5 at equal intervals.

【0008】ユニット保持部材6には、中央に軸受部6
aが形成され、軸受部6aには軸受10が固定されてい
る。軸受10には、リニアシャフト11が上下動自在に
設けられ、リニアシャフト11の上方部にはストッパー
12が固定されている。リニアシャフト11の下端に
は、球面軸受13のボール付シャフト13aが固定さ
れ、球面軸受13の外輪13bにはパッドホルダー14
が固定されている。
The unit holding member 6 has a bearing 6 at the center.
a is formed, and the bearing 10 is fixed to the bearing portion 6a. A linear shaft 11 is provided on the bearing 10 so as to be vertically movable, and a stopper 12 is fixed above the linear shaft 11. A ball-mounted shaft 13a of a spherical bearing 13 is fixed to a lower end of the linear shaft 11, and a pad holder 14 is attached to an outer ring 13b of the spherical bearing 13.
Has been fixed.

【0009】パッドホルダー14の下面には、ウェーハ
3の外周より約3mm内側の部分にリング状突起14a
が形成され、リング状突起14aの外側には図2に示す
ウレタン系のパッド20が固定されている。パッド20
は、硬度の高い下側パッド21と、柔軟性を有する上側
パッド21とからなっており、下側パッド21には、排
液溝21aが形成されている。排液溝21aは外周から
内周に向けてテーブル2の回転方向23に傾斜して形成
されている。
On the lower surface of the pad holder 14, a ring-shaped protrusion 14a is
Are formed, and a urethane pad 20 shown in FIG. 2 is fixed to the outside of the ring-shaped projection 14a. Pad 20
Is composed of a lower pad 21 having high hardness and an upper pad 21 having flexibility. The lower pad 21 is formed with a drain groove 21a. The drain groove 21a is formed to be inclined in the rotation direction 23 of the table 2 from the outer periphery to the inner periphery.

【0010】パッドホルダー14には回り止め用穴14
bが形成され、回り止め用穴14bにはユニット保持部
材6に固定された回り止め用ピン30が遊嵌されてい
る。またユニット保持部材6には、パッドホルダー14
の外周上面部に対応してエアーシリンダー31が等間隔
に3個固定され、エアーシリンダー31の作動ロッドに
は押圧ピン32が固定されている。パッドホルダー14
には、リング状突起14aより内側にスラリー滴下用穴
14cが形成されている。スラリー滴下用穴14cに対
応してユニット保持部材6にはシリンジ33が固定さ
れ、シリンジ33には逆止弁付ニードル34が固定され
ている。なお、35は取っ手を示す。
The pad holder 14 has a hole 14 for preventing rotation.
b is formed, and a detent pin 30 fixed to the unit holding member 6 is loosely fitted in the detent hole 14b. The unit holding member 6 includes a pad holder 14.
Three air cylinders 31 are fixed at equal intervals corresponding to the outer peripheral upper surface of the air cylinder 31, and a pressing pin 32 is fixed to an operating rod of the air cylinder 31. Pad holder 14
Is formed with a slurry dropping hole 14c inside the ring-shaped projection 14a. A syringe 33 is fixed to the unit holding member 6 corresponding to the slurry dropping hole 14c, and a needle 34 with a check valve is fixed to the syringe 33. In addition, 35 shows a handle.

【0011】次に作用について説明する。ユニット保持
部材6を取り外した状態で、テーブル2上にウェーハ3
を載置する。そして、吸引穴1a、2aへの真空をオン
にすると、ウェーハ3はテーブル2に吸着保持される。
次に位置決めピン7を固定部5の位置決め穴5bに合わ
せて挿入し、ユニット保持部材6を固定部5上に載置す
る。これにより、パッドホルダー14に設けられたパッ
ド20がウェーハ3の端部に載置される。次に押さえ爪
8をボルト9で締め付け、ユニット保持部材6を固定部
5に固定する。
Next, the operation will be described. With the unit holding member 6 removed, the wafer 3 is placed on the table 2.
Is placed. When the vacuum to the suction holes 1a and 2a is turned on, the wafer 3 is suction-held on the table 2.
Next, the positioning pins 7 are inserted in alignment with the positioning holes 5 b of the fixing portion 5, and the unit holding member 6 is placed on the fixing portion 5. As a result, the pad 20 provided on the pad holder 14 is placed on the edge of the wafer 3. Next, the holding claws 8 are tightened with bolts 9 to fix the unit holding member 6 to the fixing portion 5.

【0012】次にエアーシリンダー31にエアーが供給
され、押圧ピン32が下降してパッドホルダー14を押
し、パッド20がウェーハ3を一定圧で押圧する。続い
て回転軸1が回転し、テーブル2と共にウェーハ3も回
転する。ここで、パッドホルダー14は3本のエアーシ
リンダー31で加圧され、またパッドホルダー14は球
面軸受13でフローティングするように支持されている
ので、パッドホルダー14はウェーハ3の回転振れの影
響を受けず、常に一定の圧力が掛かる。
Next, air is supplied to the air cylinder 31, and the pressing pin 32 descends to press the pad holder 14, and the pad 20 presses the wafer 3 at a constant pressure. Subsequently, the rotating shaft 1 rotates, and the wafer 3 rotates together with the table 2. Here, the pad holder 14 is pressurized by three air cylinders 31, and the pad holder 14 is supported by the spherical bearings 13 so as to float. Constant pressure is always applied.

【0013】また同時にシリンジ33内のスラリーが逆
止弁付ニードル34よりスラリー滴下用穴14cを通し
てウェーハ3上に定期的に一定量滴下される。このスラ
リーとして研磨液を用いた場合には、ウェーハ3の端部
のパターンをパッド20によって研磨除去する。スラリ
ーとして純水を用いた場合には、ウェーハ3の端部の異
物を除去する。またパッド20の内側のウェーハ3上に
滴下されたスラリーは、ウェーハ3の回転によりパッド
20の排液溝21aを通って外部に排出される。
At the same time, a certain amount of slurry in the syringe 33 is periodically dropped on the wafer 3 from the needle 34 with a check valve through the slurry dropping hole 14c. When a polishing liquid is used as the slurry, the pattern at the end of the wafer 3 is polished and removed by the pad 20. In the case where pure water is used as the slurry, foreign matter at the end of the wafer 3 is removed. The slurry dropped on the wafer 3 inside the pad 20 is discharged to the outside through the drain groove 21 a of the pad 20 by the rotation of the wafer 3.

【0014】端部処理後、エアーシリンダー31のエア
ー供給がオフとなって押圧ピン32が上昇し、また回転
軸1の回転は停止する。そこで、ボルト9を緩めて押さ
え爪8を外し、取っ手35を持ち上げてユニット保持部
材6を装置より取り外す。次に注入口4aよりパイプ4
に水を注入すると、水はテーブル2のリング状溝2cに
供給される。これにより、ウェーハ3のテーブル2への
密着状態が緩和され、ウェーハ3は取外し易くなる。ウ
ェーハ3をテーブル2より取外すと、一連の工程が終了
する。
After the end processing, the air supply to the air cylinder 31 is turned off, the pressing pin 32 rises, and the rotation of the rotary shaft 1 stops. Then, the bolt 9 is loosened to release the holding claw 8, and the handle 35 is lifted to remove the unit holding member 6 from the apparatus. Next, pipe 4
Is supplied to the ring-shaped groove 2 c of the table 2. Thereby, the state of close contact of the wafer 3 with the table 2 is reduced, and the wafer 3 is easily removed. When the wafer 3 is removed from the table 2, a series of steps is completed.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明によれば、ウェーハを吸着保持し
て回転するテーブルと、このテーブルの上方に配設され
たユニット保持部材と、このユニット保持部材の中央に
軸受を介して上下動自在に設けられたリニアシャフト
と、このリニアシャフトの下端に球面軸受を介して設け
られたパッドホルダーと、前記ウェーハの端部に対応し
て前記パッドホルダーに固定されたリング状のパッド
と、前記ユニット保持部材に設けられ、前記パッドホル
ダーを押圧し、前記パッドがウェーハを押圧する一定圧
を加圧するシリンダーと、前記パッドの内側のウェーハ
上にスラリーを供給するシリンジとを備えた構成よりな
るので、ウェーハの端部処理を簡素化された装置で行う
ことができる。
According to the present invention, a table which rotates while sucking and holding a wafer, a unit holding member disposed above the table, and a vertically movable center of the unit holding member via a bearing. A linear shaft, a pad holder provided at the lower end of the linear shaft via a spherical bearing, a ring-shaped pad fixed to the pad holder corresponding to an end of the wafer, and the unit Provided on a holding member, the pad presses the pad holder, the pad is configured to include a cylinder that presses a constant pressure that presses a wafer and a syringe that supplies a slurry onto the wafer inside the pad, Wafer edge processing can be performed with a simplified apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のウェーハ端部処理装置の一実施の形態
を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a wafer edge processing apparatus according to the present invention.

【図2】パッドを示し、(a)は下面図、(b)は断面
図である。
FIGS. 2A and 2B show a pad, wherein FIG. 2A is a bottom view and FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 テーブル 3 ウェーハ 6 ユニット保持部材 10 軸受 11 リニアシャフト 13 球面軸受 14 パッドホルダー 20 パッド 21a 排液溝 31 エアーシリンダー 33 シリンジ 2 Table 3 Wafer 6 Unit holding member 10 Bearing 11 Linear shaft 13 Spherical bearing 14 Pad holder 20 Pad 21a Drainage groove 31 Air cylinder 33 Syringe

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ウェーハを吸着保持して回転するテーブ
ルと、このテーブルの上方に配設されたユニット保持部
材と、このユニット保持部材の中央に軸受を介して上下
動自在に設けられたリニアシャフトと、このリニアシャ
フトの下端に球面軸受を介して設けられたパッドホルダ
ーと、前記ウェーハの端部に対応して前記パッドホルダ
ーに固定されたリング状のパッドと、前記ユニット保持
部材に設けられ、前記パッドホルダーを押圧し、前記パ
ッドがウェーハを押圧する一定圧を加圧するシリンダー
と、前記パッドの内側のウェーハ上にスラリーを供給す
るシリンジとを備えたことを特徴とするウェーハ端部処
理装置。
1. A table which rotates by sucking and holding a wafer, a unit holding member disposed above the table, and a linear shaft which is vertically movable via a bearing at the center of the unit holding member. A pad holder provided at the lower end of the linear shaft via a spherical bearing, a ring-shaped pad fixed to the pad holder corresponding to the end of the wafer, and provided on the unit holding member, A wafer edge processing apparatus, comprising: a cylinder that presses the pad holder and pressurizes a constant pressure at which the pad presses a wafer; and a syringe that supplies slurry onto the wafer inside the pad.
【請求項2】 前記パッドの下面には、外周から内周に
向けて前記テーブルの回転方向に傾斜した排液溝が形成
されていることを特徴とする請求項1記載のウェーハ端
部処理装置。
2. The wafer edge processing apparatus according to claim 1, wherein a drain groove is formed on a lower surface of the pad, the drain groove being inclined in a rotation direction of the table from an outer periphery to an inner periphery. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008200787A (en) * 2007-02-19 2008-09-04 Toppan Printing Co Ltd Surface polishing machine
CN115771086A (en) * 2022-11-15 2023-03-10 重庆大学 Universal grinding machanism that floats

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