JP2000131342A - Contactor for electronic part - Google Patents

Contactor for electronic part

Info

Publication number
JP2000131342A
JP2000131342A JP10298868A JP29886898A JP2000131342A JP 2000131342 A JP2000131342 A JP 2000131342A JP 10298868 A JP10298868 A JP 10298868A JP 29886898 A JP29886898 A JP 29886898A JP 2000131342 A JP2000131342 A JP 2000131342A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contactor
insulating substrate
electronic component
contact electrode
electrically insulating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10298868A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigeyuki Maruyama
茂幸 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP10298868A priority Critical patent/JP2000131342A/en
Publication of JP2000131342A publication Critical patent/JP2000131342A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide sure electric connection between an electronic part and a contact electrode even with narrower inter-electrode pitch, in a contactor for an electronic part used for operation test of an electronic part such as LSI and LCD. SOLUTION: With an insulating substrate 11-1 and a contact electrode 12A provided, the contact electrode 12A contacts an electrode 15 of a device 14A to provide an electric connection. Here, a displacement part wherein the insulating substrate 11-1 is provided with an opening part 20-1 to allow displacement, and a non-displacement part 30-1 which is hard to be displaced relative to the displacement part, are provided. Thus, even with a variation in height of the contact electrode 12A, etc., a displacement part (a part of the insulating substrate 11-1 where the opening part 20-1 is formed) is displaced to absorb the variation in height.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は電子部品用コンタク
タに係り、特にLSI,LCDなどの電子部品の動作試
験に用いる電子部品用コンタクタに関する。近年、電子
部品(例えば、LSIデバイス,LCDデバイス等。以
下、デバイスという)の高集積化、高密度実装化の勢い
は著しく、デバイスの電極(外部接続端子)自身も当
然、微細化、多ピン化する傾向にある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contactor for electronic parts, and more particularly to a contactor for electronic parts used for an operation test of electronic parts such as LSI and LCD. In recent years, electronic components (eg, LSI devices, LCD devices, etc .; hereinafter, referred to as devices) have been remarkably increasing in the degree of integration and high density mounting, and the electrodes (external connection terminals) of the devices themselves have, of course, been miniaturized and multi-pinned. It tends to be.

【0002】このような微細な電極を多数有するデバイ
スに対して一括でコンタクトできる電子部品用コンタク
タの供給は大変困難なものとなってきており、デバイス
の開発と同時に準備しておかねばならない重要な技術に
なりつつある。また、パッケージングされたデバイス
も、CSP(Chip size Package) 等は端子ピッチが狭
く、従来のソケットの技術では安定したコンタクト性が
安価に得られずに深刻な課題となっている。
[0002] It has become very difficult to supply a contactor for an electronic component that can collectively contact such a device having a large number of such fine electrodes, and an important contactor must be prepared at the same time as the development of the device. It is becoming a technology. Also, packaged devices, such as CSP (Chip Size Package) and the like, have a narrow terminal pitch, and the conventional socket technology has not been able to obtain stable contact properties at a low cost, which poses a serious problem.

【0003】しかしそれにも増して深刻なのは、パッケ
ージングされていない状態(ベアチップ状態,或いはウ
エハー状態)のデバイスへのコンタクトである。例え
ば、携帯機器(携帯電話、携帯端末、テレビ一体化ビデ
オ等)は小型・軽量化が図られており、このためにデバ
イスをベアチップのまま機器の基板に実装する方向にあ
る。また、複数のLSIチップを組み込んだLSIパッ
ケージであるMCM(Multi Chip Module) 化が進んでい
る昨今では、パッケージングされていない状態、即ちベ
アチップやウエハー状態のLSIを試験すること(KGD:K
nown Good Die)が、避けて通れない。
[0003] However, what is more serious is a contact to a device in an unpackaged state (bare chip state or wafer state). For example, portable devices (cellular phones, portable terminals, television integrated videos, etc.) have been reduced in size and weight. For this reason, there is a tendency to mount the device as a bare chip on a substrate of the device. In recent years, with the development of MCM (Multi Chip Module), which is an LSI package incorporating a plurality of LSI chips, it is necessary to test LSIs in an unpackaged state, that is, in a bare chip or wafer state (KGD: K
nown Good Die)

【0004】しかし、これらベアチップやウエハーの電
極は狭ピッチな上に、特にウエハーに関しては膨大なコ
ンタクト数が必要なため従来のソケットや針式のプロー
ブカードのように、機械的な個々のバネを組み込むよう
なコンタクタでは技術的に対応が出来ない。また、LC
Dの端子も狭ピッチ化が進み、また膨大な端子数であ
る。よって、これらのデバイスに対し一括コンタクトで
きる電子部品用コンタクタの提供が望まれている。
[0004] However, these bare chip and wafer electrodes have a narrow pitch and require a large number of contacts, especially for the wafer. Therefore, mechanical individual springs are required as in conventional sockets and needle-type probe cards. A contactor that incorporates it cannot technically respond. Also, LC
The pitch of the terminals of D is also becoming narrower and the number of terminals is enormous. Therefore, it has been desired to provide a contactor for electronic components that can collectively contact these devices.

【0005】[0005]

【従来の技術】そこで、ベアチップやウエハー状態のデ
バイス(LSI,LCD等)に対し、一括コンタクトで
きる電子部品用コンタクタとして、メンブレン式コンタ
クタが提案されている。図1及び図2は、従来の一例で
あるメンブレン式コンタクタ1A,1Bを示している。
図1に示すメンブレン式コンタクタ1Aは、フラット電
極2を有したデバイス3A(電子部品)に対応した電子
部品用コンタクタであり、図2に示すメンブレン式コン
タクタ1Bは、突起電極4を有したデバイス3B(電子
部品)に対応した電子部品用コンタクタである。
2. Description of the Related Art A membrane type contactor has been proposed as a contactor for electronic parts capable of making a collective contact with a device (LSI, LCD, etc.) in a bare chip or wafer state. 1 and 2 show membrane type contactors 1A and 1B as an example of the related art.
A membrane type contactor 1A shown in FIG. 1 is a contactor for an electronic component corresponding to a device 3A (electronic component) having a flat electrode 2, and a membrane type contactor 1B shown in FIG. It is a contactor for electronic parts corresponding to (electronic parts).

【0006】このメンブレン式コンタクタ1A,1B
は、ポリイミド(P1)等の電気的絶縁基板5上に、C
u等の金属層のパッド(図に現れず)を形成し、その上
にコンタクト電極6A,6Bを形成した構成とされてい
る。メンブレン式コンタクタ1Aは、デバイス3Aがフ
ラット電極2を有しているため、コンタクト電極6Aは
突起電極とされており、例えばメッキ法により形成され
ている。また、メンブレン式コンタクタ1Bは、デバイ
ス3Bが突起電極4を有しているため、コンタクト電極
6Bは平板状電極とされている。
[0006] The membrane type contactors 1A, 1B
Is formed on an electrically insulating substrate 5 such as polyimide (P1).
A pad (not shown) of a metal layer such as u is formed, and contact electrodes 6A and 6B are formed thereon. In the membrane type contactor 1A, since the device 3A has the flat electrode 2, the contact electrode 6A is a protruding electrode, and is formed by, for example, a plating method. In the membrane type contactor 1B, since the device 3B has the protruding electrode 4, the contact electrode 6B is a flat electrode.

【0007】コンタクト電極6A,6Bは、主として銅
(Cu),ニッケル(Ni)が用いられることが多い
が、コンタクト電極6A,6Bとしての性能を考えて、
このCu或いはNiの上面に金(Au)メッキを施すの
が一般的である。また、デバイス3A,3Bの動作試験
を行なうテスター等と電気信号の授受を行うため、メン
ブレン式コンタクタ1A,1Bの外周部には外部接続端
子が設けられている。また、この外部接続端子と各コン
タクト電極6A,6Bを導通させるため、電気的絶縁基
板5上には配線層(図示せず)が配設されている。
For the contact electrodes 6A and 6B, copper (Cu) and nickel (Ni) are mainly used in many cases, but considering the performance as the contact electrodes 6A and 6B,
In general, gold (Au) plating is performed on the upper surface of Cu or Ni. Further, in order to exchange electric signals with a tester or the like for performing an operation test of the devices 3A and 3B, external connection terminals are provided on the outer peripheral portions of the membrane type contactors 1A and 1B. Further, a wiring layer (not shown) is provided on the electrically insulating substrate 5 in order to conduct the external connection terminals and the respective contact electrodes 6A and 6B.

【0008】これらのメンブレン式コンタクタ1A,1
Bは、メッキ技法を用いてコンタクト電極6A,6Bを
形成するため、電極間ピッチを狭ピッチ化することがで
き、位置精度も出しやすい。また、多数のコンタクト電
極6A,6Bを同時に形成できる、更にファンアウトす
る配線部も合わせて持っているので狭ピッチデバイス3
A,3Bへのコンタクト、試験に対しては大変有効な手
段である。
[0008] These membrane type contactors 1A, 1
In the case of B, since the contact electrodes 6A and 6B are formed by using a plating technique, the pitch between the electrodes can be reduced, and the positional accuracy can be easily obtained. Further, since a large number of contact electrodes 6A and 6B can be formed at the same time and a wiring portion for fan-out is also provided, a narrow pitch device 3 is provided.
This is a very effective means for contacting and testing A and 3B.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記した従
来のメンブレン式コンタクタ1A,1Bでは、電気的絶
縁基板5の剛性の影響で、個々のコンタクト電極6A,
6Bの可動範囲が狭い。これは、メンブレン式コンタク
タ全般にいえることであるが、コンタクト電極6A,6
Bが均一の剛性を有する電気的絶縁基板5上に形成され
ている構成では、個々のコンタクト電極6A,6Bが自
由に可動することができず、隣接したコンタクト電極6
A,6Bの位置の影響を受けやすい。
However, in the above-mentioned conventional membrane type contactors 1A and 1B, the individual contact electrodes 6A and 6A are affected by the rigidity of the electrically insulating substrate 5.
The movable range of 6B is narrow. This can be said for all the membrane type contactors, but the contact electrodes 6A, 6A
In the configuration in which B is formed on the electrically insulating substrate 5 having uniform rigidity, the individual contact electrodes 6A and 6B cannot move freely, and the adjacent contact electrodes 6A and 6B do not move.
It is easily affected by the positions of A and 6B.

【0010】即ち、図1に示されるように、中央部に位
置するコンタクト電極6A-1に対し隣接する両側のコン
タクト電極6Aの高さが高い場合、或いは図2に示され
るように、中央部に位置する突起電極4-1に対し隣接す
る両側の突起電極4の高さが高い場合は、デバイス3
A,3Bとコンタクトした場合に、両側のコンタクト電
極6A或いは突起電極4が中央のコンタクト電極6A-1
或いは突起電極4-1より低く沈み込むと、電気的絶縁基
板5の撓みにより中央のコンタクト電極6A-1及び突起
電極4-1も下降を余儀なくされ、コンタクト電極6A-1
とデバイス3A、或いは突起電極4-1とコンタクト電極
6Bとの電気的接続が確実に行なえないおそれがある。
That is, as shown in FIG. 1, when the height of the contact electrodes 6A on both sides adjacent to the contact electrode 6A-1 located at the center is high, or as shown in FIG. When the height of the protruding electrodes 4 on both sides adjacent to the protruding electrode 4-1 located at
A, 3B, the contact electrodes 6A on both sides or the protruding electrodes 4 are in contact with the central contact electrode 6A-1.
Alternatively, if it sinks below the protruding electrode 4-1, the central contact electrode 6A-1 and the protruding electrode 4-1 are forced to descend due to the bending of the electrically insulating substrate 5, and the contact electrode 6A-1 is lowered.
There is a possibility that electrical connection between the contact electrode 6A and the device 3A or between the bump electrode 4-1 and the contact electrode 6B may not be reliably established.

【0011】また、この問題は電極ピッチが狭くなるほ
ど顕著になるため、今後更に進むデバイスの狭ピッチ化
を考えると、何らかの解決手段を盛り込まないかぎり全
端子に安定したコンタクトすることは不可能に近くな
る。一方、メンブレン式コンタクタ1A,1Bを使用す
る際、電気的絶縁基板5の反力だけではデバイス3A,
3Bとのコンタクト力を支えきれないため、一般的にゴ
ム等の弾性のある補強部材でバックアップ(補強)する
ことが多い。
Further, since this problem becomes more pronounced as the electrode pitch becomes narrower, it is almost impossible to make stable contact with all the terminals unless some solution is taken into consideration, in order to further narrow the device pitch in the future. Become. On the other hand, when using the membrane type contactors 1A, 1B, the devices 3A,
Since the contact force with the 3B cannot be supported, it is generally backed up (reinforced) by an elastic reinforcing member such as rubber.

【0012】しかるに、デバイス3A,3Bがメンブレ
ン式コンタクタ1A,1Bにコンタクトする際、突起電
極4或いはコンタクト電極6Aの高さにバラツキがあ
り、上記のように電気的絶縁基板5が不均一に変位した
場合、補強部材も圧縮されて沈み込み十分な補強効果が
得られない。つまり、電気的絶縁基板5及び補強部材の
夫々で接続不良となる現象が2重に生じるため、電気的
接続の信頼性が極端に損なわれるという問題があった。
However, when the devices 3A and 3B contact the membrane type contactors 1A and 1B, the height of the protruding electrode 4 or the contact electrode 6A varies, and the electrically insulating substrate 5 is displaced unevenly as described above. In this case, the reinforcing member is also compressed and sinks, and a sufficient reinforcing effect cannot be obtained. That is, since the phenomenon of connection failure occurs twice in each of the electrically insulating substrate 5 and the reinforcing member, the reliability of electrical connection is extremely impaired.

【0013】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、電極間ピッチが狭ピッチ化しても確実に電子部品
とコンタクト電極との電気的接続を行いうる電子部品用
コンタクタを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and provides an electronic component contactor capable of reliably performing an electrical connection between an electronic component and a contact electrode even when the pitch between electrodes is reduced. With the goal.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴
とするものである。請求項1記載の発明は、電気的絶縁
基板と、この電気的絶縁基板の電子部品の端子形成位置
に対応した位置に設けられたコンタクト電極とを具備
し、前記電子部品の端子と接触することにより、電気的
な接続を得る電子部品用コンタクタにおいて、前記電気
的絶縁基板に、容易に変位可能な構成とされた変位部
と、この変位部に対して変位しにくい構成とされ不変位
部とを設けたことを特徴とするものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention is characterized by taking the following means. The invention according to claim 1 includes an electrical insulating substrate, and a contact electrode provided at a position corresponding to a terminal forming position of the electronic component on the electrical insulating substrate, wherein the contact electrode is in contact with the terminal of the electronic component. Thus, in the electronic component contactor that obtains electrical connection, the electrical insulating substrate has a displacement portion configured to be easily displaceable, and a non-displacement portion configured to be hardly displaced with respect to the displacement portion. Is provided.

【0015】また、請求項2記載の発明は、前記請求項
1記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記変位部
は、前記電気的絶縁基板の隣接する前記コンタクト電極
間に開口部を設けることにより変位可能な構成とされて
いることを特徴とするものである。また、請求項3記載
の発明は、前記請求項1または2記載の電子部品用コン
タクタにおいて、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト
電極が配設された面と反対側の面に、配線層が形成され
てなることを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first aspect, the displacement portion is displaced by providing an opening between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate. It is characterized in that it has a possible configuration. According to a third aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first or second aspect, a wiring layer is formed on a surface of the electrically insulating substrate opposite to a surface on which the contact electrodes are provided. It is characterized by being done.

【0016】また、請求項4記載の発明は、前記請求項
3記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記開口部
は、前記電気的絶縁基板と共に前記配線層を貫通して形
成されていることを特徴とするものである。また、請求
項5記載の発明は、前記請求項2乃至4のいずれかに記
載の電子部品用コンタクタにおいて、前記開口部は、ス
リット,長円穴,及び長方形の切り込みの内、いずれか
一の構成であることを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the third aspect, the opening is formed through the wiring layer together with the electrically insulating substrate. It is assumed that. According to a fifth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to any one of the second to fourth aspects, the opening is any one of a slit, an oblong hole, and a rectangular cut. It is characterized by having a configuration.

【0017】また、請求項6記載の発明は、前記請求項
2乃至4のいずれかに記載の電子部品用コンタクタにお
いて、前記開口部を、前記コンタクト電極の外周に沿っ
て形成したことを特徴とするものである。また、請求項
7記載の発明は、前記請求項2乃至4のいずれかに記載
の電子部品用コンタクタにおいて、前記開口部は、個々
の前記コンタクト電極毎に複数設けられた小開口部によ
り構成されていることを特徴とするものである。
According to a sixth aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to any one of the second to fourth aspects, the opening is formed along the outer periphery of the contact electrode. Is what you do. According to a seventh aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to any one of the second to fourth aspects, the opening is constituted by a plurality of small openings provided for each of the contact electrodes. It is characterized by having.

【0018】また、請求項8記載の発明は、前記請求項
1記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記変位部
は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極と対向す
る位置に開口部を設けることにより変位可能な構成とさ
れていることを特徴とするものである。
According to an eighth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first aspect, the displacement portion has an opening at a position facing the contact electrode on the electrically insulating substrate. It is characterized by being configured to be displaceable.

【0019】また、請求項9記載の発明は、前記請求項
8記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記電気的絶
縁基板の前記コンタクト電極が配設された面と反対側の
面に、配線層が形成されてなることを特徴とするもので
ある。また、請求項10記載の発明は、前記請求項9記
載の電子部品用コンタクタにおいて、前記開口部は、前
記電気的絶縁基板と共に前記配線層を貫通して形成され
ていることを特徴とするものである。
According to a ninth aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to the eighth aspect, a wiring layer is provided on a surface of the electrically insulating substrate opposite to a surface on which the contact electrodes are provided. It is characterized by being formed. According to a tenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the ninth aspect, the opening is formed through the wiring layer together with the electrically insulating substrate. It is.

【0020】また、請求項11記載の発明は、前記請求
項8乃至9のいずれかに記載の電子部品用コンタクタに
おいて、前記開口部は、複数の前記コンタクト電極をま
たがって設けられていることを特徴とするものである。
また、請求項12記載の発明は、前記請求項1記載の電
子部品用コンタクタにおいて、前記変位部は、前記電気
的絶縁基板の隣接する前記コンタクト電極間に肉薄部を
設けることにより変位可能な構成とされていることを特
徴とするものである。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to any one of the eighth to ninth aspects, the opening is provided across a plurality of the contact electrodes. It is a feature.
According to a twelfth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first aspect, the displacement portion can be displaced by providing a thin portion between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate. It is characterized by that.

【0021】また、請求項13記載の発明は、前記請求
項12記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記肉薄
部は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極が配設
された面に第1の凹部を設けると共に、その反対側の面
に第2の凹部を設けることにより形成されることを特徴
とするものである。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to the twelfth aspect, the thin portion includes a first concave portion provided on a surface of the electrically insulating substrate on which the contact electrode is provided. And a second concave portion provided on the opposite surface.

【0022】また、請求項14記載の発明は、前記請求
項12記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記変位
部は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極と対向
する位置に肉薄部を設けることにより変位可能な構成と
されていることを特徴とするものである。
According to a fourteenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the twelfth aspect, the displacement portion is provided with a thin portion at a position facing the contact electrode on the electrically insulating substrate. It is characterized by being configured to be displaceable.

【0023】また、請求項15記載の発明は、前記請求
項1記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記変位部
は、前記電気的絶縁基板の隣接する前記コンタクト電極
間の物理的特性を変化させることにより変位可能な構成
とされていることを特徴とするものである。
According to a fifteenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first aspect, the displacement portion changes a physical characteristic between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate. Characterized in that it is configured to be displaceable.

【0024】また、請求項16記載の発明は、前記請求
項1記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記電気的
絶縁基板の隣接する前記コンタクト電極間位置が軟化状
態となるよう物理的特性を変化させることにより前記変
位部を形成し、前記コンタクト電極と対向する位置が硬
化状態となるよう物理的特性を変化させることにより前
記不変位部を形成してなることを特徴とするものであ
る。
According to a sixteenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the first aspect, the physical characteristics are changed so that the position between the adjacent contact electrodes on the electrically insulating substrate is in a softened state. In this case, the displacement portion is formed, and the non-displacement portion is formed by changing physical characteristics so that a position facing the contact electrode is in a hardened state.

【0025】また、請求項17記載の発明は、前記請求
項15または16記載の電子部品用コンタクタにおい
て、前記電気的絶縁基板として感光性樹脂を用い、選択
的に光照射を行なうことにより前記変位部のみを変位可
能な特性に変化させたことを特徴とするものである。
According to a seventeenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the fifteenth or sixteenth aspect, the displacement is achieved by selectively irradiating light with a photosensitive resin as the electrically insulating substrate. Only the portion is changed to a displaceable characteristic.

【0026】また、請求項18記載の発明は、前記請求
項1乃至17のいずれかに記載の電子部品用コンタクタ
において、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極の
配設側と反対側に、前記電子部品の装着時のコンタクト
圧力に対して前記電気的絶縁基板を補強する補強部材を
設けたことを特徴とするものである。
The invention according to claim 18 is the contactor for an electronic component according to any one of claims 1 to 17, wherein the electrical insulating substrate has the contactor on the side opposite to the contact electrode side. A reinforcing member for reinforcing the electrical insulating substrate with respect to a contact pressure at the time of mounting the electronic component is provided.

【0027】また、請求項19記載の発明は、前記請求
項18記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記補強
部材は、弾性体よりなることを特徴とするものである。
また、請求項20記載の発明は、前記請求項18または
19記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記補強部
材は、前記電気的絶縁基板に形成された前記変位部と対
応する部分に凹部を形成すると共に、前記不変位部と対
向する部分に該不変位部と当接する凸部を形成してなる
構成であることを特徴とするものである。
According to a nineteenth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the eighteenth aspect, the reinforcing member is made of an elastic body.
According to a twentieth aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to the eighteenth or nineteenth aspect, the reinforcing member forms a recess at a portion corresponding to the displacement portion formed on the electrically insulating substrate. In addition, a configuration is provided in which a convex portion that contacts the non-displaceable portion is formed at a portion facing the non-displaceable portion.

【0028】また、請求項21記載の発明は、前記請求
項18または19記載の電子部品用コンタクタにおい
て、前記補強部材に多数の開口部を形成し、前記補強部
材が前記コンタクト電極の動きに影響されずに前記電気
的絶縁基板を均一に補強するよう構成したことを特徴と
するものである。
According to a twenty-first aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the eighteenth or nineteenth aspect, a large number of openings are formed in the reinforcing member, and the reinforcing member affects the movement of the contact electrode. Instead, the electrically insulating substrate is configured to be uniformly reinforced.

【0029】また、請求項22記載の発明は、前記請求
項18または19記載の電子部品用コンタクタにおい
て、前記補強部材を弾性を有する薄膜のチューブ状弾性
体により構成し、該チューブ状弾性体内部の流体圧力で
前記電気的絶縁基板を補強する構成としたことを特徴と
するものである。
According to a twenty-second aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the eighteenth or nineteenth aspect, the reinforcing member is formed of an elastic thin-film tubular elastic body, and the inside of the tubular elastic body is formed. Wherein the fluid pressure is to reinforce the electrically insulating substrate.

【0030】また、請求項23記載の発明は、前記請求
項1乃至17のいずれかに記載の電子部品用コンタクタ
において、前記電気的絶縁基板の前記電子部品とのコン
タクト側とは反対側に、前記コンタクト電極の位置に対
応した位置に導通性のパッドを有する配線基板を設けた
ことを特徴とするものである。
According to a twenty-third aspect of the present invention, in the electronic component contactor according to any one of the first to seventeenth aspects, the electrical insulating substrate is provided on a side opposite to a contact side with the electronic component, A wiring board having a conductive pad is provided at a position corresponding to the position of the contact electrode.

【0031】また、請求項24記載の発明は、前記請求
項23記載の電子部品用コンタクタにおいて、前記電気
的絶縁基板と前記配線基板との間に、補強部材として異
方性導通弾性体を設けたことを特徴とするものである。
上記した各手段は、次のように作用する。
According to a twenty-fourth aspect of the present invention, in the contactor for an electronic component according to the twenty-third aspect, an anisotropic conductive elastic body is provided as a reinforcing member between the electrically insulating substrate and the wiring substrate. It is characterized by having.
Each of the means described above operates as follows.

【0032】請求項1記載の発明によれば、電子部品の
端子形成位置にコンタクト電極が配設された電気的絶縁
基板に、容易に変位可能な構成とされた変位部と、この
変位部に対して変位しにくい構成とされ不変位部とを設
けたことにより、絶縁基板の剛性を部分的に変化させる
ことができ、個々のコンタクト電極を変位し易くするこ
とができる。
According to the first aspect of the present invention, a displacing portion configured to be easily displaceable on an electrical insulating substrate having a contact electrode provided at a terminal forming position of an electronic component; The provision of the non-displaceable portion, which is configured to be difficult to be displaced, makes it possible to partially change the rigidity of the insulating substrate, thereby facilitating displacement of the individual contact electrodes.

【0033】よって、コンタクト電極或いは電子部品の
端子に高さのバラツキがあっても、電気的絶縁基板(変
位部)が変位することによりこのバラツキを吸収するこ
とができ、これにより電子部品と各コンタクト電極とを
均一な状態で接続することが可能となる。また、請求項
2記載の発明によれば、電気的絶縁基板の隣接するコン
タクト電極間に開口部を設け変位部を形成することによ
り、このコンタクト電極間の位置は不変位部に対して変
位し易くなる。即ち、個々のコンタクト電極は、隣接す
るコンタクト電極に影響を及ぼすことなく変位すること
が可能となる。
Therefore, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height, the variation can be absorbed by displacing the electrically insulating substrate (displacement portion). The contact electrode can be connected in a uniform state. According to the second aspect of the present invention, the position between the contact electrodes is displaced with respect to the non-displacement portion by providing the opening between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate to form the displacement portion. It will be easier. That is, each contact electrode can be displaced without affecting adjacent contact electrodes.

【0034】よって、コンタクト電極或いは電子部品の
端子に高さのバラツキがあり、特定のコンタクト電極が
大きく変位し、これに伴い電気的絶縁基板が大きく変位
しても、コンタクト電極間に位置する変位部においてこ
の大きな変位は吸収され、隣接したコンタクト電極が連
動して変位することを防止することができる。従って、
コンタクト電極或いは電子部品の端子に高さのバラツキ
があったとしても、電子部品と各コンタクト電極とを均
一な状態で安定して接続することが可能となり、接続信
頼性の向上を図ることができる。
Therefore, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height and a specific contact electrode is largely displaced and the electrically insulating substrate is greatly displaced accordingly, the displacement located between the contact electrodes is displaced. This large displacement is absorbed in the portion, and it is possible to prevent adjacent contact electrodes from being displaced in conjunction with each other. Therefore,
Even if the height of the contact electrode or the terminal of the electronic component varies, the electronic component and each contact electrode can be stably connected in a uniform state, and the connection reliability can be improved. .

【0035】また、請求項3及び請求項9記載の発明に
よれば、電気的絶縁基板のコンタクト電極が配設された
面と反対側の面に配線層を形成したことにより、コンタ
クト電極が狭ピッチ化しても、配線層のパターンを自由
度を持って構成することができる。また、請求項4及び
請求項10記載の発明によれば、電気的絶縁基板と共に
配線層を貫通して開口部を形成したことにより、配線層
が変位部の変位を妨げることを防止することができ、よ
って配線層のパターン設計の自由度を維持しつつ、電子
部品とコンタクト電極との電気的接続をより確実に行な
うことが可能となる。
According to the third and ninth aspects of the present invention, the wiring layer is formed on the surface of the electrically insulating substrate opposite to the surface on which the contact electrodes are provided, so that the contact electrodes are narrowed. Even with the pitch, the pattern of the wiring layer can be configured with a degree of freedom. According to the fourth and tenth aspects of the present invention, since the opening is formed through the wiring layer together with the electrically insulating substrate, it is possible to prevent the wiring layer from hindering the displacement of the displacement portion. Therefore, the electrical connection between the electronic component and the contact electrode can be more reliably performed while maintaining the degree of freedom in the pattern design of the wiring layer.

【0036】また、請求項5記載の発明によれば、開口
部をスリット,長円穴,及び長方形の切り込みの内、い
ずれか一の構成としたことにより、容易に変位部を形成
することができる。また、スリットの長さ,長円穴の長
径及び短径,長方形の切り込みの大きさを適宜調整する
ことにより、変位部の変位量を任意に調節することが可
能となる。
According to the fifth aspect of the present invention, the displacement portion can be easily formed by using any one of a slit, an oval hole, and a rectangular notch. it can. Also, by appropriately adjusting the length of the slit, the major and minor diameters of the oblong hole, and the size of the rectangular cut, the displacement amount of the displacement portion can be arbitrarily adjusted.

【0037】また、請求項6記載の発明によれば、開口
部をコンタクト電極の外周に沿って形成したことによ
り、電子部品の端子がマトリックス状に配設され、よっ
て一のコンタクト電極に対し隣接するコンタクト電極が
囲繞するよう配設された構成であっても、上記一のコン
タクト電極は隣接するコンタクト電極に拘束されること
なく自由に変位できる。これにより、コンタクト電極と
電子部品の端子との電気的接続はより確実に行なわれ、
信頼性の向上を図ることができる。
According to the sixth aspect of the present invention, since the openings are formed along the outer periphery of the contact electrodes, the terminals of the electronic component are arranged in a matrix, and therefore, the terminals are adjacent to one contact electrode. Even if the contact electrodes are arranged so as to surround them, the one contact electrode can be freely displaced without being restricted by the adjacent contact electrodes. Thereby, the electrical connection between the contact electrode and the terminal of the electronic component is more reliably performed,
Reliability can be improved.

【0038】また、請求項7記載の発明によれば、開口
部を個々のコンタクト電極毎に複数設けられた小開口部
により構成したことにより、小開口部の数により変位部
の変位量を任意に調節することが可能となる。また、請
求項8記載の発明によれば、電気的絶縁基板のコンタク
ト電極と対向する位置に開口部を設けることにより変位
部が変位可能となるよう構成したことにより、変位部が
変位する際、電気的絶縁基板と共にコンタクト電極も変
位するため、コンタクト電極或いは電子部品の端子のバ
ラツキを確実に吸収することができる。よって、コンタ
クト電極と電子部品の端子との電気的接続を確実に行な
うことができる。
According to the seventh aspect of the present invention, since the openings are constituted by a plurality of small openings provided for each contact electrode, the displacement amount of the displacement portion can be arbitrarily determined according to the number of the small openings. It becomes possible to adjust to. Further, according to the invention described in claim 8, since the displacement section is configured to be displaceable by providing an opening at a position facing the contact electrode of the electrically insulating substrate, when the displacement section is displaced, Since the contact electrode is displaced together with the electrically insulating substrate, variations in the contact electrode or the terminal of the electronic component can be reliably absorbed. Therefore, the electrical connection between the contact electrode and the terminal of the electronic component can be reliably performed.

【0039】また、請求項11記載の発明によれば、開
口部を複数のコンタクト電極をまたがるよう設けたこと
により、個々のコンタクト電極毎に開口部を形成するの
に比べ、開口部の加工を容易に行なうことができ、また
隣接するコンタクト電極間の電気的絶縁基板を除去して
しまうため電気的絶縁基板の変位をよりフレキシブルに
行なわせることができる。
According to the eleventh aspect of the present invention, since the opening is provided so as to straddle the plurality of contact electrodes, the processing of the opening can be performed as compared with the case where the opening is formed for each contact electrode. This can be easily performed, and the electrical insulating substrate between adjacent contact electrodes is removed, so that the electrical insulating substrate can be more flexibly displaced.

【0040】また、請求項12記載の発明によれば、電
気的絶縁基板の隣接するコンタクト電極間に肉薄部を設
けることにより変位部を形成したことにより、コンタク
ト電極或いは電子部品の端子に高さのバラツキがあって
も、肉薄とされた変位部が変位することによりこのバラ
ツキを吸収することができ、これにより電子部品と各コ
ンタクト電極とを均一な状態で接続することが可能とな
る。
According to the twelfth aspect of the present invention, the displacement portion is formed by providing the thin portion between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate, so that the height of the contact electrode or the terminal of the electronic component is increased. Even if there is such a variation, the variation can be absorbed by the displacement of the thinned displacement portion, so that the electronic component and each contact electrode can be connected in a uniform state.

【0041】また、開口部を形成した場合には変位部の
形成位置に配線層の形成は行なえないが、肉薄部上には
配線層を形成することが可能であるため、配線層の形成
エリアの自由度を向上させることができる。また、本発
明の構成は、コンタクト電極間が狭ピッチであり、よっ
て電気的絶縁基板を貫通する開口部を形成するのが困難
な場合に有効である。
When an opening is formed, a wiring layer cannot be formed at a position where a displacement portion is formed, but since a wiring layer can be formed on a thin portion, an area for forming a wiring layer can be formed. Degree of freedom can be improved. Further, the configuration of the present invention is effective when the pitch between the contact electrodes is narrow, and it is difficult to form an opening penetrating the electrically insulating substrate.

【0042】また、請求項13記載の発明によれば、電
気的絶縁基板のコンタクト電極配設面に第1の凹部を設
けると共にその反対側面に第2の凹部を設けることによ
り肉薄部を形成したことにより、コンタクト電極が配設
される部位以外が凹んだ構成となる。このため、コンタ
クト電極配設面となる上面においては、電子部品の電極
形成以外の部位(回路面等)に電気的絶縁基板が接触す
ることを防止することができる。また、下面において
は、電気的絶縁基板に補強部材を設けた際、電気的絶縁
基板と補強部材は部分接触となり、圧力を効率よくコン
タクト電極に伝えることができる。
According to the thirteenth aspect of the present invention, the thin portion is formed by providing the first concave portion on the contact electrode disposing surface of the electrically insulating substrate and providing the second concave portion on the opposite side surface. This results in a configuration in which the portion other than the portion where the contact electrode is provided is recessed. For this reason, it is possible to prevent the electrically insulating substrate from coming into contact with a portion (circuit surface or the like) other than the electrode formation of the electronic component on the upper surface serving as the contact electrode disposition surface. On the lower surface, when the reinforcing member is provided on the electrically insulating substrate, the electrically insulating substrate and the reinforcing member are in partial contact, and the pressure can be efficiently transmitted to the contact electrode.

【0043】また、請求項14記載の発明によれば、電
気的絶縁基板のコンタクト電極と対向する位置に肉薄部
を設けることにより変位部を形成したことにより、変位
部においては電気的絶縁基板と共にコンタクト電極が変
位することにより、コンタクト電極或いは電子部品の端
子のバラツキを吸収することができる。よって、コンタ
クト電極と電子部品の端子との電気的接続を確実に行な
うことができる。また、肉薄部上にコンタクト電極を形
成することができるため、開口部上にコンタクト電極を
形成する構成に比べ、コンタクト電極の大きさや配設位
置の設定に自由度を持たせることができる。
According to the fourteenth aspect of the present invention, the displacement portion is formed by providing the thin portion at a position facing the contact electrode of the electrically insulating substrate, so that the displacement portion is formed together with the electrically insulating substrate. The displacement of the contact electrode can absorb variations in the contact electrode or the terminal of the electronic component. Therefore, the electrical connection between the contact electrode and the terminal of the electronic component can be reliably performed. In addition, since the contact electrode can be formed on the thin portion, the degree of freedom in setting the size and arrangement position of the contact electrode can be increased as compared with the configuration in which the contact electrode is formed on the opening.

【0044】また、請求項15記載の発明によれば、電
気的絶縁基板の隣接するコンタクト電極間の物理的特性
を変化させることにより変位部を形成したことにより、
電気的絶縁基板に開口部或いは肉薄部を形成することな
く変位部を変位させることが可能となり、よって変位部
と不変位部を有する電気的絶縁基板を容易に形成するこ
とができる。
According to the fifteenth aspect of the present invention, the displacement portion is formed by changing physical characteristics between adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate.
The displacement portion can be displaced without forming an opening or a thin portion in the electrically insulating substrate, and therefore, the electrically insulating substrate having the displacement portion and the non-displacement portion can be easily formed.

【0045】また、電気的絶縁基板の上面及び下面の双
方において凹凸は存在しないため、配線層のパターン形
成の自由度をより向上させることができる。更に、電気
的絶縁基板は全体にわたり均一の厚さとなるため、その
取り扱い性を向上させることができる。また、請求項1
6記載の発明によれば、電気的絶縁基板の隣接するコン
タクト電極間位置が軟化状態となるよう物理的特性を変
化させ変位部を形成すると共に、コンタクト電極と対向
する位置が硬化状態となるよう物理的特性を変化させ不
変位部を形成したことにより、コンタクト電極或いは電
子部品の端子に高さのバラツキがあっても、軟化状態と
された変位部が変位することによりこのバラツキを吸収
することができ、これにより電子部品と各コンタクト電
極とを均一な状態で接続することが可能となる。また、
コンタクト電極と対向する位置に設けられた不変位部は
硬化状態となっているため、コンタクト電極と電子部品
との接続を確実に行なうことができる。
Further, since there is no unevenness on both the upper surface and the lower surface of the electrically insulating substrate, the degree of freedom in forming a wiring layer pattern can be further improved. Furthermore, since the electrically insulating substrate has a uniform thickness over the whole, the handleability can be improved. Claim 1
According to the invention described in claim 6, physical properties are changed so that a position between adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate is in a softened state, a displacement portion is formed, and a position facing the contact electrode is in a hardened state. Even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height due to the formation of the non-displacement portion by changing the physical characteristics, the variation is absorbed by the displacement of the softened displacement portion. This makes it possible to connect the electronic component and each contact electrode in a uniform state. Also,
Since the non-displacement portion provided at a position facing the contact electrode is in a hardened state, the connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed.

【0046】また、請求項17記載の発明によれば、電
気的絶縁基板として感光性樹脂を用い、選択的に光照射
を行なうことにより変位部のみを変位可能な特性に変化
させる構成としたことにより、フォトリソグラフィ技術
を利用することができ、よって容易にかつ精度良く変位
部及び不変位部を形成することができる。
According to the seventeenth aspect of the present invention, a photosensitive resin is used as the electrically insulating substrate, and only the displacement portion is changed to a displaceable characteristic by selectively performing light irradiation. Accordingly, the photolithography technique can be used, and thus the displacement portion and the non-displacement portion can be easily and accurately formed.

【0047】また、請求項18及び請求項19記載の発
明によれば、電気的絶縁基板のコンタクト電極配設側と
反対側に、電子部品の装着時のコンタクト圧力に対して
電気的絶縁基板を補強する補強部材を設けたことによ
り、コンタクト電極と電子部品との電気的接続をより確
実に行なうことができる。即ち、一般的に電気的絶縁基
板の剛性だけでは、電子部品とのコンタクト力を受け止
めるだけの剛性がないため、確実な接続が行なわれない
おそれがある。しかるに、電気的絶縁基板の裏面側(コ
ンタクト電極配設側と反対側)にゴム等の弾性体よりな
る補強部材を配設することにより、電子部品とのコンタ
クト力を確実に受け止めることが可能となり、コンタク
ト電極と電子部品との電気的接続性を向上させることが
できる。
According to the eighteenth and nineteenth aspects of the present invention, the electrically insulating substrate is provided on the side of the electrically insulating substrate opposite to the contact electrode side with respect to the contact pressure at the time of mounting the electronic component. By providing the reinforcing member for reinforcement, the electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be more reliably performed. That is, in general, only the rigidity of the electrically insulating substrate does not have enough rigidity to receive a contact force with the electronic component, and thus there is a possibility that a reliable connection may not be performed. However, by arranging a reinforcing member made of an elastic material such as rubber on the back side of the electrically insulating substrate (the side opposite to the side where the contact electrodes are provided), it is possible to reliably receive the contact force with the electronic component. In addition, the electrical connectivity between the contact electrode and the electronic component can be improved.

【0048】また、請求項20及び請求項21記載の発
明によれば、補強部材の変位部と対応する部分に凹部ま
たは開口部を形成すると共に、不変位部と対向する部分
に凸部を形成したことにより、補強部材を電気的絶縁基
板の変位に追随して変位させることができる。即ち、前
記したように電気的絶縁基板に変位部及び不変位部を形
成することにより、コンタクト電極或いは電子部品の端
子に高さのバラツキに応じて変位部が変位し、これによ
り上記の高さバラツキに拘わらずコンタクト電極と電子
部品との確実な接続を図ることができる。よって、補強
部材を設けた際、この補強部材が上記変位部の変位を阻
害する構成であっては、コンタクト電極と電子部品との
電気的接続が適正に図れなくなるおそれがある。
According to the twentieth and twenty-first aspects of the present invention, a recess or an opening is formed in a portion of the reinforcing member corresponding to the displacement portion, and a projection is formed in a portion facing the non-displacement portion. Thus, the reinforcing member can be displaced following the displacement of the electrically insulating substrate. That is, as described above, by forming the displacement portion and the non-displacement portion on the electrically insulating substrate, the displacement portion is displaced in accordance with the variation in the height of the contact electrode or the terminal of the electronic component. Reliable connection between the contact electrode and the electronic component can be achieved regardless of the variation. Therefore, when the reinforcing member is provided, if the reinforcing member inhibits the displacement of the displacement portion, the electrical connection between the contact electrode and the electronic component may not be properly established.

【0049】しかるに、補強部材の変位部と対応する部
分に凹部または開口部を形成すると共に、不変位部と対
向する部分に凸部を形成することにより、補強部材は電
気的絶縁基板に追随して変位可能な構成となり、電気的
絶縁基板を均一に補強することが可能となり、よってコ
ンタクト電極と電子部品との電気的接続を確実に行なう
ことができる。
However, by forming a concave portion or an opening in a portion corresponding to the displacement portion of the reinforcing member and forming a convex portion in a portion facing the non-displacement portion, the reinforcing member follows the electrically insulating substrate. As a result, the electrically insulating substrate can be uniformly reinforced, and the electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed.

【0050】また、請求項22記載の発明によれば、補
強部材を弾性を有する薄膜のチューブ状弾性体により構
成し、このチューブ状弾性体内部の流体圧力で電気的絶
縁基板を補強する構成としたことにより、内部の流体
(気体,液体を含む)の圧力を調整することにより、コ
ンタクト電極と電子部品の端子との間に作用するコンタ
クト力を調整することが可能となる。また、コンタクト
電極或いは電子部品の端子の高さバラツキについては、
チューブ状弾性体の弾性変形により吸収されるため、コ
ンタクト電極と電子部品との電気的接続を確実に行なう
ことができる。
According to the twenty-second aspect of the present invention, the reinforcing member is formed of a thin film tubular elastic body having elasticity, and the electrically insulating substrate is reinforced by the fluid pressure inside the tubular elastic body. Thus, by adjusting the pressure of the internal fluid (including gas and liquid), the contact force acting between the contact electrode and the terminal of the electronic component can be adjusted. In addition, regarding the height variation of the contact electrode or the terminal of the electronic component,
Since it is absorbed by the elastic deformation of the tubular elastic body, electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed.

【0051】また、請求項23記載の発明によれば、電
気的絶縁基板の電子部品とのコンタクト側とは反対側
に、コンタクト電極の位置に対応した位置に導通性のパ
ッドを有する配線基板を設けたことにより、電気的絶縁
基板に配線を引き回す必要がなくなり、コンタクト電極
の更なる高密度配置を可能とすることができる。
According to the twenty-third aspect of the present invention, a wiring board having a conductive pad at a position corresponding to a position of a contact electrode is provided on a side of an electrically insulating substrate opposite to a side of contact with an electronic component. With the provision, the wiring does not need to be routed on the electrically insulating substrate, and the contact electrodes can be arranged at a higher density.

【0052】また、電気的絶縁基板上に配線層を引き回
すと、配線層の厚さ分だけ剛性が増し、電気的絶縁基板
のフレキシビリティが損なわれる。しかるに、配線基板
を設ることにより、電気的絶縁基板に配線層を設ける必
要がなくなり、電気的絶縁基板のフレキシビリティを担
保することができる。更に、配線基板には開口部等は設
けられていないため、電気的絶縁基板に配線を形成する
構成に比べて配線の引き回しの自由度を向上させること
ができる。
When the wiring layer is routed on the electrically insulating substrate, the rigidity is increased by the thickness of the wiring layer, and the flexibility of the electrically insulating substrate is impaired. However, by providing the wiring substrate, it is not necessary to provide a wiring layer on the electrically insulating substrate, and the flexibility of the electrically insulating substrate can be secured. Further, since the wiring board is not provided with an opening or the like, the degree of freedom of wiring can be improved as compared with a configuration in which wiring is formed in an electrically insulating substrate.

【0053】更に、請求項24記載の発明によれば、電
気的絶縁基板と配線基板との間に補強材として機能する
異方性導通弾性体を設けたことにより、配線基板に反り
等の高さバラツキが存在していたとしても、異方性導通
弾性体が弾性変形することによりこの高さバラツキを吸
収することができる。また、異方性導通弾性体は電気的
絶縁基板の補強部材とても機能するため、コンタクト電
極或いは電子部品の端子に高さのバラツキがあっても、
異方性導通弾性体が変位することによりこのバラツキを
吸収することができ、よって電子部品と各コンタクト電
極とを確実に接続することが可能となる。
According to the twenty-fourth aspect of the present invention, since the anisotropic conductive elastic body functioning as a reinforcing material is provided between the electrically insulating substrate and the wiring board, the wiring board has high warpage or the like. Even if there is a variation, the height variation can be absorbed by the elastic deformation of the anisotropic conductive elastic body. In addition, since the anisotropic conductive elastic body functions very much as a reinforcing member of the electrically insulating substrate, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height,
This variation can be absorbed by the displacement of the anisotropic conductive elastic body, so that the electronic component and each contact electrode can be reliably connected.

【0054】[0054]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面と共に説明する。図3及び図4は、本発明の第1
実施例である電子部品用コンタクタ10−1 (以下、単
にコンタクタという)を示している。図3はコンタクタ
10−1 の側断面図であり、図4は電子部品14A(以
下、デバイスという)を装着した状態のコンタクタ10
−1 を示している。本実施例に係るコンタクタ10−1
は、大略すると電気的絶縁基板11−1 (以下、単に絶
縁基板という)とコンタクト電極12Aとにより構成さ
れている。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 3 and 4 show the first embodiment of the present invention.
1 illustrates an electronic component contactor 10-1 (hereinafter simply referred to as a contactor) according to an embodiment. FIG. 3 is a side sectional view of the contactor 10-1, and FIG. 4 is a contactor 10 with an electronic component 14A (hereinafter, referred to as a device) mounted thereon.
-1. Contactor 10-1 according to the present embodiment
Is roughly composed of an electrically insulating substrate 11-1 (hereinafter simply referred to as an insulating substrate) and a contact electrode 12A.

【0055】このコンタクタ10−1 は、図示されるよ
うにLSI等の半導体デバイス14Aが装着され、この
装着状態においてデバイス14Aに対して電気的動作検
査を行う時に用いられるものである。尚、以下の説明で
は、電子部品として半導体デバイス14A,14Bを用
いた例について説明するが、以下各実施例で説明するコ
ンタクタは、外部接続端子としてフラット状或いは球状
の接続端子を有した種々の電子部品の検査に適用できる
ものである。
As shown, the contactor 10-1 has a semiconductor device 14A such as an LSI mounted thereon, and is used when an electrical operation test is performed on the device 14A in this mounted state. In the following description, an example in which the semiconductor devices 14A and 14B are used as electronic components will be described. However, the contactors described in the embodiments below have various types having flat or spherical connection terminals as external connection terminals. It can be applied to inspection of electronic components.

【0056】以下、半導体検査装置10Aの具体的構成
について説明する。絶縁基板11−1 はポリイミド等の
絶縁樹脂材料により形成されたフィルム状の部材であり
若干の可撓性を有している。この絶縁基板11−1 のデ
バイス14Aが装着される側の面には、例えば銅(C
u)よりなるパッド13が形成されており、このパッド
13上には突起形状のコンタクト電極12Aが形成され
ている。
Hereinafter, a specific configuration of the semiconductor inspection apparatus 10A will be described. The insulating substrate 11-1 is a film-like member formed of an insulating resin material such as polyimide and has a slight flexibility. For example, copper (C) is provided on the surface of the insulating substrate 11-1 on the side on which the device 14A is mounted.
A pad 13 made of u) is formed, and a projecting contact electrode 12A is formed on the pad 13.

【0057】このコンタクト電極12Aは、例えばメッ
キ法,蒸着法,スパッタリング法等を用いることによ
り、デバイス14に形成されているフラット電極15の
形成位置と対向する位置に精度よく形成されている。ま
た、コンタクト電極12Aの材質としては例えば銅(C
u),ニッケル(Ni)を用いることができ、更に電気
的接続性を向上させる面から、銅或いはニッケルよりな
る基部の表面に金(Au)メッキを施した構成とされて
いる。
The contact electrode 12A is accurately formed at a position opposed to the formation position of the flat electrode 15 formed on the device 14 by using, for example, a plating method, a vapor deposition method, a sputtering method, or the like. The material of the contact electrode 12A is, for example, copper (C
u) and nickel (Ni) can be used, and in order to further improve the electrical connectivity, the surface of the base made of copper or nickel is plated with gold (Au).

【0058】一方、絶縁基板11−1 には複数の開口部
20−1 が形成されており、この開口部20−1 の形成
位置は、前記したコンタクト電極12Aの間の位置に設
定されている。この開口部20−1 を形成する具体的な
方法としては、レーザー法,エッチング法,プレス打ち
抜き法等を用いることが可能である。レーザ法を用いた
場合には、狭い幅,及び小さい径の開口部20−1 を設
ける場合に有利である。これは、他の形成方法では開口
部断面がテーパ(抜きテーパ)状となるのに対し、レー
ザ法を用いた場合には開口部断面が垂立面となるからで
ある。しかるに、加工コストの面からは、レーザ法では
個々の開口部20−1をひとつずつ形成するため加工効
率が悪く、複数の開口部20−1 を一括的に形成できる
他の方法に比べて高くなる欠点がある。
On the other hand, a plurality of openings 20-1 are formed in the insulating substrate 11-1, and the formation position of the openings 20-1 is set at a position between the contact electrodes 12A. . As a specific method for forming the opening 20-1, a laser method, an etching method, a press punching method, or the like can be used. The use of the laser method is advantageous when the opening 20-1 having a narrow width and a small diameter is provided. This is because the cross section of the opening is tapered (pulled taper) in another forming method, whereas the cross section of the opening is a vertical surface when the laser method is used. However, in terms of processing cost, the laser method forms the individual openings 20-1 one by one, so the processing efficiency is poor, and is higher than other methods that can form a plurality of openings 20-1 collectively. There are disadvantages.

【0059】また、エッチング法は、プレス加工では対
応できない狭ピッチ、あるいは狭い幅の開口部20−1
を形成する場合に有利である。また、上記したレーザ法
と異なり、コンタクト電極12A間に多数の開口部20
−1 を一括して形成できるため、加工コストの提言を図
ることができる。しかし、エッチング法により設けられ
る開口部20−1 の断面は、図7(A)に示すコンタク
タ10−3 のように、エッチング開始方向が広く終端面
が狭いテーパ形状となる(同図は、絶縁基板11−2 の
下面側からエッチングを開始した例である) 。このた
め、コンタクト電極12A間のピッチがある程度の狭ピ
ッチになると(具体的にはピッチが絶縁基板11−2 の
厚さに近くなると)、エッチング法では隣接する開口部
20−2 が繋がってしまい、コンタクタ10−1 として
の機能を損ねてしまう。即ち、コンタクタ10−1 の裏
面が平面でなくなり、凹凸面、あるいは稜線ばかりにな
ってしまう。
In the etching method, the opening 20-1 having a narrow pitch or a narrow width which cannot be handled by press working.
It is advantageous when forming. Also, unlike the laser method described above, a large number of openings 20 are provided between the contact electrodes 12A.
Since −1 can be collectively formed, it is possible to propose a processing cost. However, the cross section of the opening 20-1 provided by the etching method has a tapered shape in which the etching start direction is wide and the end surface is narrow, as in the contactor 10-3 shown in FIG. 7A. This is an example in which etching is started from the lower surface side of the substrate 11-2). For this reason, when the pitch between the contact electrodes 12A becomes a certain narrow pitch (specifically, when the pitch becomes close to the thickness of the insulating substrate 11-2), adjacent openings 20-2 are connected by the etching method. This impairs the function of the contactor 10-1. That is, the back surface of the contactor 10-1 is not a flat surface, but has only an uneven surface or a ridgeline.

【0060】この問題点を避けるためには、図7
(B)に示すコンタクタ10−4 のように、エッチング
を絶縁基板11−3 の両側から行うことにより開口部2
0−3 を形成する、又は図7(C)に示すコンタクタ
10−5 のように、絶縁基板11−5 に対するエッチン
グ方向を各開口部20−4 毎に表、裏を交互に変える等
の方法が考えられる。
To avoid this problem, FIG.
As shown in the contactor 10-4 shown in FIG. 8B, the opening 2 is formed by performing etching from both sides of the insulating substrate 11-3.
0-3 or a method of alternately changing the front and back sides of the insulating substrate 11-5 for each opening 20-4 as in a contactor 10-5 shown in FIG. 7C. Can be considered.

【0061】また、プレス打ち抜き法は、コンタクト電
極12A間のピッチが広く、開口部20−1 の幅(径)
が大きくても問題ない場合に適用できる。加工コストが
安価であるため、この方法がとれるピッチの場合は最も
有利な工法である。上記のように開口部20−1 を設け
ることにより、絶縁基板11−1 の開口部20−1 が形
成された部位、即ち各コンタクト電極12Aの間の位置
は変位し易い(変形し易い)構成となる。即ち、開口部
20−1 を設けることにより、絶縁基板11−1 は容易
に変位する変位部(この変位部は開口部20−1 の形成
位置と対応するため、以下の説明では変位部を開口部2
0−1 と等価のものとして説明する)と、この開口部2
0−1 に対して変位しにくい不変位部30−1 (本実施
例では、コンタクト電極12Aの直下位置が不変位部3
0−1 となる)とを有した構成となる。
In the press punching method, the pitch between the contact electrodes 12A is wide and the width (diameter) of the opening 20-1 is large.
It can be applied when there is no problem even if is large. Since the processing cost is inexpensive, the pitch which can be used for this method is the most advantageous method. By providing the opening 20-1 as described above, the portion of the insulating substrate 11-1 where the opening 20-1 is formed, that is, the position between the contact electrodes 12A is easily displaced (deformable). Becomes That is, by providing the opening 20-1, the insulating substrate 11-1 is easily displaced by a displacement portion (this displacement portion corresponds to the position where the opening portion 20-1 is formed. Part 2
0-1) and the opening 2
0-1 which is hardly displaced with respect to 0-1 (in this embodiment, the position immediately below the contact electrode 12A is
0-1).

【0062】本実施例の構成とすることにより、コンタ
クト電極12A或いはデバイス14Aのフラット電極1
5(端子)に高さのバラツキが存在しても、確実にコン
タクト電極12Aとデバイス14Aとの電気的接続を図
ることができる。以下、これについて説明する。ここで
は、図3に示すように、絶縁基板11−1 に形成された
コンタクト電極12Aの高さにバラツキが存在している
例について説明する。図3に示す例では、中央部に位置
するコンタクト電極12A−1 が、両側に位置するコン
タクト電極12Aに対してΔh1だけ高さが低くなって
いる。このような場合、図1に示した従来構成(開口部
20−1 が設けられていない構成)のコンタクタ1Aを
用いた場合には、中央部に位置するコンタクト電極6A
−1 がデバイス3Aと接続できなくなることは前述した
通りである。
With the configuration of this embodiment, the flat electrode 1 of the contact electrode 12A or the device 14A can be formed.
Even if there is a variation in the height of the terminal 5 (terminal), the electrical connection between the contact electrode 12A and the device 14A can be reliably achieved. Hereinafter, this will be described. Here, an example in which the height of the contact electrode 12A formed on the insulating substrate 11-1 varies as shown in FIG. 3 will be described. In the example shown in FIG. 3, the height of the contact electrode 12A-1 located at the center is lower than that of the contact electrodes 12A located on both sides by Δh1. In such a case, when the contactor 1A of the conventional configuration (the configuration in which the opening 20-1 is not provided) shown in FIG.
As described above, -1 cannot be connected to the device 3A.

【0063】しかるに、コンタクト電極12Aの間に変
位部として機能する開口部20−1を設けたことによ
り、図4に示すように特定のコンタクト電極12A(コ
ンタクト電極12A−1 の両側部のコンタクト電極)が
大きく変位し、これに伴い絶縁基板11−1 が大きく変
位しても、各コンタクト電極12A間に位置する開口部
20−1 (変位部)においてこの大きな変位は吸収され
る。
However, by providing the opening 20-1 functioning as a displacement portion between the contact electrodes 12A, as shown in FIG. 4, the specific contact electrode 12A (the contact electrode on both sides of the contact electrode 12A-1) is provided. ) Is greatly displaced and the insulating substrate 11-1 is greatly displaced accordingly, the large displacement is absorbed by the openings 20-1 (displacement portions) located between the contact electrodes 12A.

【0064】即ち、図4に示すコンタクト電極12A−
1 の両側に形成された開口部20−1 は、他の部位にお
ける開口部20−1 よりも大きく変位し(この変位量を
図中矢印ΔH1で示す)、隣接したコンタクト電極12
A−1 が連動して変位することを防止することができ
る。尚、上記した例ではコンタクト電極12Aに高さバ
ラツキが存在している例を示したが、デバイス14Aの
フラット電極15に高さバラツキが存在している時も同
様である。
That is, the contact electrodes 12A-
1 are displaced more than the openings 20-1 in other portions (the amount of displacement is indicated by an arrow ΔH1 in the figure), and the adjacent contact electrodes 12 are displaced.
A-1 can be prevented from interlockingly displacing. Note that, in the above example, an example in which the height variation exists in the contact electrode 12A is shown, but the same applies when the height variation exists in the flat electrode 15 of the device 14A.

【0065】従って、コンタクト電極12A或いはデバ
イス14Aのフラット電極15に高さのバラツキがあっ
たとしても、本実施例の構成に係るコンタクタ10−1
によれば、開口部20−1 により個々のコンタクト電極
12Aは独立して変位することができる。よって、コン
タクト電極12Aとデバイス14Aとを均一な状態で安
定して接続することが可能となり、接続信頼性の向上を
図ることができる。
Therefore, even if the contact electrode 12A or the flat electrode 15 of the device 14A has a variation in height, the contactor 10-1 according to the configuration of the present embodiment is provided.
According to this, the individual contact electrodes 12A can be independently displaced by the openings 20-1. Therefore, the contact electrode 12A and the device 14A can be stably connected in a uniform state, and the connection reliability can be improved.

【0066】次に、第2実施例について説明する。図5
及び図6は、第2実施例であるコンタクタ10−2 を示
している。図5はコンタクタ10−2 の側断面図であ
り、図6はデバイス14Bを装着した状態のコンタクタ
10−2 を示している。尚、図5及び図6において、図
3及び図4を用いて説明した第1実施例に係るコンタク
タ10−1 と同一構成については同一符号を付してその
説明を省略する。また、以下説明する各実施例において
も同様とする。
Next, a second embodiment will be described. FIG.
FIG. 6 shows a contactor 10-2 according to a second embodiment. FIG. 5 is a side sectional view of the contactor 10-2, and FIG. 6 shows the contactor 10-2 with the device 14B mounted. 5 and 6, the same components as those of the contactor 10-1 according to the first embodiment described with reference to FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. The same applies to the embodiments described below.

【0067】前記した第1実施例では、デバイス14A
の接続端子はフラット電極15により形成されており、
よって接続性を向上させる点からコンタクタ10−1 に
突起状のコンタクト電極12Aを形成した構成としてい
た。これに対し、本実施例の対象となるデバイス14B
は、接続端子として突起電極16(バンプ)を有した構
成とされている。
In the first embodiment, the device 14A
Are formed by the flat electrode 15, and
Therefore, in order to improve the connectivity, the contactor 10-1 is formed with the protruding contact electrode 12A. On the other hand, the device 14B which is the object of this embodiment
Are configured to have protruding electrodes 16 (bumps) as connection terminals.

【0068】このため、本実施例に係るコンタクタ10
−2 は、絶縁基板11−1 にフラット状のコンタクト電
極12Bを形成した構成としている。また、本実施例に
係るコンタクタ10−2 は、第1実施例と同様に、絶縁
基板11−1 に開口部20−1 (変位部)と不変位部3
0−1 とを有した構成とされている。ところで、突起電
極16を有したデバイス14Bでは、突起電極16の高
さにバラツキ(図5に矢印Δh2で示す)が発生し易い
ことが知られている。しかるに、本実施例のように開口
部20−1 を有した構成の絶縁基板11−1 を用いるこ
とにより、図6に示すように特定の突起電極16(突起
電極16−1 の両側部の突起電極)により絶縁基板11
−1 が大きく変位しても、この変位は突起電極16−1
と接続するコンタクト電極12Bの両側部に形成さた開
口部20−1 (変位部)が大きく変位する(この変位量
を図6に矢印ΔH2で示す)ことにより吸収される。
For this reason, the contactor 10 according to the present embodiment
No. -2 has a configuration in which a flat contact electrode 12B is formed on the insulating substrate 11-1. Further, the contactor 10-2 according to the present embodiment includes the opening 20-1 (displacement portion) and the non-displacement portion 3 in the insulating substrate 11-1 similarly to the first embodiment.
0-1. By the way, it is known that in the device 14B having the protruding electrodes 16, the height of the protruding electrodes 16 tends to vary (indicated by an arrow Δh2 in FIG. 5). However, by using the insulating substrate 11-1 having the opening 20-1 as in the present embodiment, as shown in FIG. 6, the specific projection electrode 16 (the projections on both sides of the projection electrode 16-1) can be formed. Electrode) to the insulating substrate 11
−1 is greatly displaced, the displacement is
The openings 20-1 (displacement portions) formed on both sides of the contact electrode 12B connected to the contact electrode 12B are absorbed by a large displacement (this displacement is indicated by an arrow ΔH2 in FIG. 6).

【0069】よって、突起電極16に高さバラツキが存
在していも、本実施例の構成に係るコンタクタ10−2
によれば、開口部20−1 の存在によりコンタクト電極
12Bは個々に独立して変位する。このため、コンタク
ト電極12Bとデバイス14B(突起電極16)とを均
一な状態で安定して接続することが可能となり、接続信
頼性の向上を図ることができる。
Therefore, even if the projection electrode 16 has a height variation, the contactor 10-2 according to the configuration of the present embodiment can be used.
According to this, the contact electrodes 12B are individually and independently displaced by the presence of the openings 20-1. Therefore, the contact electrode 12B and the device 14B (the protruding electrode 16) can be stably connected in a uniform state, and the connection reliability can be improved.

【0070】続いて、第3実施例について説明する。図
8は、第3実施例に係るコンタクタ10−6 を示してい
る。本実施例に係るコンタクタ10−6 は、絶縁基板1
1−5 のコンタクと電極12Bが形成される側の面(以
下、上面という)と反対側の面(以下、下面という)
に、配線層21Aを形成したことを特徴としている。こ
の配線層21Aとコンタクト電極12Bは、絶縁基板1
1−5 を上下に貫通して形成されたビア22により電気
的に接続された構成となっている。
Next, a third embodiment will be described. FIG. 8 shows a contactor 10-6 according to the third embodiment. The contactor 10-6 according to the present embodiment includes an insulating substrate 1
The surface opposite to the surface on which the contact 1-5 and the electrode 12B are formed (hereinafter referred to as the upper surface) (hereinafter referred to as the lower surface)
In addition, a wiring layer 21A is formed. The wiring layer 21A and the contact electrode 12B are
1-5 are electrically connected to each other by a via 22 penetrating vertically.

【0071】また、絶縁基板11−5 には、上記した各
実施例と同様に変位部として機能する開口部20−1 が
形成されているが、本実施例では配線層21Aの開口部
20−1 と対向する位置にも配線層開口部23が形成さ
れており、よって開口部20−1 と配線層開口部23
は、連続することにより絶縁基板11−5 を上下に貫通
する開口を形成している。
The opening 20-1 functioning as a displacement portion is formed in the insulating substrate 11-5 as in the above-described embodiments. In this embodiment, the opening 20-1 of the wiring layer 21A is formed. The wiring layer opening 23 is also formed at a position opposing the wiring layer opening 1, so that the opening 20-1 and the wiring layer opening 23 are formed.
Form an opening vertically penetrating the insulating substrate 11-5 by being continuous.

【0072】本実施例のように、絶縁基板11−5 の下
面に配線層21Aを形成することにより、下面にはコン
タクト電極12Bは存在しないため、配線層21Aのパ
ターンを任意に設定することができる。また、絶縁基板
11−5 に開口部20−1 を形成すると共に、配線層2
1Aにも配線層開口部23を形成することにより、配線
層23が変位部(即ち、絶縁基板11−5 の開口部20
−1 が形成されている部位)の変位を妨げることを防止
することができる。よって、配線層21Aのパターン設
計の自由度を維持しつつ、デバイス14Bとコンタクト
電極12Bとの電気的接続をより確実に行なうことが可
能となる。
Since the wiring layer 21A is formed on the lower surface of the insulating substrate 11-5 as in this embodiment, the contact electrode 12B does not exist on the lower surface, so that the pattern of the wiring layer 21A can be set arbitrarily. it can. An opening 20-1 is formed in the insulating substrate 11-5, and the wiring layer 2 is formed.
By forming the wiring layer opening 23 also in 1A, the wiring layer 23 is displaced (that is, the opening 20 of the insulating substrate 11-5).
(A part where −1 is formed) can be prevented. Therefore, the electrical connection between the device 14B and the contact electrode 12B can be performed more reliably while maintaining the degree of freedom in the pattern design of the wiring layer 21A.

【0073】また、図9は第4実施例であるコンタクタ
10−7 を示している。本実施例に係るコンタクタ10
−7 は、前記した第3実施例であるコンタクタ10−6
と略同一の構成とされている。しかるに、第3実施例の
コンタクタ10−6 は配線層21Aにも配線層開口部2
3が形成されていたのに対し、本実施例に係るコンタク
タ10−7 では配線層21Bに開口部が形成されていな
い点で相違した構成とされている。即ち、本実施例のコ
ンタクタ10−7 は、配線層21Bにより開口部20−
1 の底部が塞がれた構成となっている。
FIG. 9 shows a contactor 10-7 according to a fourth embodiment. Contactor 10 according to the present embodiment
-7 is the contactor 10-6 of the third embodiment described above.
And the configuration is substantially the same. However, the contactor 10-6 according to the third embodiment also includes the wiring layer opening 2 in the wiring layer 21A.
3, the contactor 10-7 according to the present embodiment has a different configuration in that no opening is formed in the wiring layer 21B. That is, the contactor 10-7 of the present embodiment has the opening 20- through the wiring layer 21B.
1 has a closed bottom.

【0074】本実施例に係るコンタクタ10−7 は、上
記したように開口部20−1 の形成位置も配線エリアと
して用いてるため、配線層21Bの配設パターンの自由
度を更に向上させることができる。但し、開口部20−
1 にも配線層21Bを形成することにより、開口部20
−1 の形成位置近傍における絶縁基板11−6 (変位
部)の変位は第3実施例に比べて劣る構成となるが、コ
ンタクタ10−7 に要求される変位量が小さい場合にお
いては、本実施例の構成の方が有利である。また、配線
層21Bの厚さを絶縁基板11−6 の厚さに比べて薄く
設定することにより、変位部の変位を確保することがで
きる。
In the contactor 10-7 according to the present embodiment, since the formation position of the opening 20-1 is also used as the wiring area as described above, the degree of freedom of the arrangement pattern of the wiring layer 21B can be further improved. it can. However, the opening 20-
By forming the wiring layer 21B also in the first
The displacement of the insulating substrate 11-6 (displacement portion) in the vicinity of the position where the −1 is formed is inferior to that of the third embodiment. However, when the displacement amount required for the contactor 10-7 is small, this embodiment is not applicable. The example configuration is more advantageous. In addition, by setting the thickness of the wiring layer 21B to be smaller than the thickness of the insulating substrate 11-6, the displacement of the displacement portion can be secured.

【0075】続いて、第5実施例について説明する。図
10は、第5実施例であるコンタクタ10−8 を示して
いる。図10(A)はコンタクタ10−8 の要部を拡大
して示す平面図であり、図10(B)は図10(A)に
おけるY1−Y1線に沿う断面図であり、図10(C)
は図10(A)におけるX1−X1線に沿う断面図であ
る。
Next, a fifth embodiment will be described. FIG. 10 shows a contactor 10-8 according to a fifth embodiment. FIG. 10A is an enlarged plan view showing a main part of the contactor 10-8, FIG. 10B is a sectional view taken along line Y1-Y1 in FIG. 10A, and FIG. )
FIG. 11 is a sectional view taken along line X1-X1 in FIG.

【0076】本実施例に係るコンタクタ10−8 は、開
口部20−5 をスリットにより形成したことを特徴とす
るものである。このスリットよりなる開口部20−5
は、各コンタクト電極12Aの間位置に、コンタクト電
極12Aと接続した配線パターン17の延在方向に略平
行となるよう形成されている。よって、開口部20−5
を長く形成しても、配線パターン17の邪魔になるよう
なことはない。
The contactor 10-8 according to the present embodiment is characterized in that the opening 20-5 is formed by a slit. Opening 20-5 consisting of this slit
Are formed at positions between the contact electrodes 12A so as to be substantially parallel to the extending direction of the wiring pattern 17 connected to the contact electrodes 12A. Therefore, the opening 20-5
Is not obstructed by the wiring pattern 17 even if it is formed long.

【0077】ところで、スリットよりなる開口部20−
5 の長手方向長さは、その近傍における絶縁基板11−
7 の変位量に影響を及ぼし、開口部20−5 が長いほど
(即ち、開口面積が大きいほど)、絶縁基板11−7 の
変位量は大きくなる。しかるに、コンタクト電極12A
間のピッチは前記したように狭ピッチ化する傾向にあ
り、コンタクト電極12Aの列設方向にはその幅寸法を
拡げることは困難である。これは、特に端子構造がペリ
フェラルであるデバイス14A,14Bにおいて顕著で
ある。
By the way, the opening 20-
5 is the length of the insulating substrate 11-
7, the longer the opening 20-5 (ie, the larger the opening area), the larger the displacement of the insulating substrate 11-7. However, the contact electrode 12A
As described above, the pitch between them tends to be narrow, and it is difficult to increase the width in the direction in which the contact electrodes 12A are arranged. This is particularly noticeable in the devices 14A and 14B whose terminal structures are peripherals.

【0078】しかるに、開口部20−5 をスリット形状
とすることにより、隣接するコンタクト電極12A間の
ピッチを狭ピッチ化しつつ、絶縁基板11−7 の変位部
における変位量を大きくすることができる。また、スリ
ットの長さを適宜調整することにより、変位部の変位量
を任意に調節することも可能である。更に、開口部20
−5 (スリット)の形成方法は前記したように種々あ
り、適宜形成方法を選定することにより、開口部20−
5 を容易かつ精度よく形成することができる。
However, by forming the opening 20-5 in a slit shape, the pitch between the adjacent contact electrodes 12A can be narrowed and the displacement amount of the displacement portion of the insulating substrate 11-7 can be increased. Also, by appropriately adjusting the length of the slit, the displacement amount of the displacement portion can be arbitrarily adjusted. Further, the opening 20
−5 There are various methods for forming the (slit) as described above.
5 can be easily and accurately formed.

【0079】よって、本実施例のように開口部20−5
をスリットにより構成とすることにより、絶縁基板11
−7 の変位部(開口部20−5 の近傍位置)における変
位を確保しつつ、かつコンタクト電極12Aの狭ピッチ
化を図ることができる。尚、開口部20−5 の形状はス
リットに限定されるものではなく、長円穴,長方形状の
切り込み等であっても同様の効果を実現することができ
る。
Therefore, as in the present embodiment, the opening 20-5 is used.
Is constituted by slits, the insulating substrate 11
It is possible to reduce the pitch of the contact electrodes 12A while securing the displacement at the displacement portion (position near the opening 20-5) indicated by -7. The shape of the opening 20-5 is not limited to the slit, and the same effect can be achieved by using an oval hole or a rectangular cut.

【0080】続いて、第6実施例について説明する。図
11は、第6実施例であるコンタクタ10−9 を示して
いる。図11(A)はコンタクタ10−9 の要部平面図
であり、図11(B)は図11(A)におけるX2−X
2線に沿う断面図である。本実施例に係るコンタクタ1
0−9 では、開口部20−6 をコンタクト電極12Aの
外周に沿って形成したことを特徴とするものである。こ
の開口部20−6は、配線パターン17の形成位置を除
き、コンタクト電極12Aを囲繞するよう形成されてい
る。
Next, a sixth embodiment will be described. FIG. 11 shows a contactor 10-9 according to a sixth embodiment. FIG. 11A is a plan view of a main part of the contactor 10-9, and FIG. 11B is a sectional view taken along line X2-X in FIG.
It is sectional drawing which follows a 2 line. Contactor 1 according to the present embodiment
0-9, the opening 20-6 is formed along the outer periphery of the contact electrode 12A. The opening 20-6 is formed so as to surround the contact electrode 12A except for the position where the wiring pattern 17 is formed.

【0081】本実施例の構成によれば、デバイス14
A,14Bのフラット電極15或いは突起電極16がマ
トリックス状に配設された構造(例えば、エリアバンプ
構造等)において、確実にフラット電極15,突起電極
16と、コンタクト電極12A,12Bとの電気的接続
を図ることができる。即ち、エリアバンプ構造等のよう
に、一のコンタクト電極12Aに対し隣接するコンタク
ト電極12Aがその回りを囲むように(囲繞するよう
に)配設された構成では、前記した各実施例の構成に係
る開口部では、各コンタクト電極12Aを独立して変位
させることは困難である。
According to the structure of this embodiment, the device 14
In a structure in which the flat electrodes 15 or the protruding electrodes 16 of A and 14B are arranged in a matrix (for example, an area bump structure), the electrical connection between the flat electrodes 15 and the protruding electrodes 16 and the contact electrodes 12A and 12B is ensured. Connection can be established. That is, in a configuration in which a contact electrode 12A adjacent to one contact electrode 12A is disposed so as to surround (surround) the periphery thereof, as in an area bump structure, etc. In such an opening, it is difficult to independently displace each contact electrode 12A.

【0082】しかるに、本実施例のように、開口部20
−6 を個々のコンタクト電極12A毎に、これを囲繞す
るよう形成することにより、一のコンタクト電極12A
を隣接する他のコンタクト電極12Aに拘束されること
なく自由に変位させることが可能となる。よって、本実
施例によれば、コンタクト電極12Aとデバイス14
A,14Bとの電気的接続をより確実に行なうことが可
能となり、よって電気的な接続信頼性の向上を図ること
ができる。
However, as in the present embodiment, the opening 20
-6 is formed for each contact electrode 12A so as to surround the contact electrode 12A.
Can be freely displaced without being constrained by the adjacent contact electrode 12A. Therefore, according to the present embodiment, the contact electrode 12A and the device 14
A and 14B can be more reliably electrically connected to each other, so that the reliability of the electrical connection can be improved.

【0083】続いて、第7乃至第9実施例について説明
する。図12は、第7乃至第9実施例に係るコンタクタ
10−10〜10−12を示している。この各実施例に係る
コンタクタ10−10〜10−12は、開口部20−7 〜2
0−9 を個々のコンタクト電極12A,12B毎に複数
設けられた小開口部により構成したことを特徴とするも
のである。
Next, seventh to ninth embodiments will be described. FIG. 12 shows contactors 10-10 to 10-12 according to the seventh to ninth embodiments. The contactors 10-10 to 10-12 according to the respective embodiments have openings 20-7 to 2-7.
0-9 is constituted by a plurality of small openings provided for each of the contact electrodes 12A and 12B.

【0084】図12(A)に示す第7実施例に係るコン
タクタ10−10は、コンタクト電極12Aの間に複数
(本実施例では4個)の小孔を列設することにより開口
部20−7 を構成したものである。また、図12(B)
に示す第8実施例に係るコンタクタ10−11は、コンタ
クト電極12Bを囲繞するように複数(本実施例では3
個)の円弧状スリットを形成することにより開口部20
−8 を構成したものである。
In the contactor 10-10 according to the seventh embodiment shown in FIG. 12A, a plurality of (four in this embodiment) small holes are arranged between the contact electrodes 12A to form an opening 20-. 7 is constructed. FIG. 12B
The contactors 10-11 according to the eighth embodiment shown in FIG.
) To form the opening 20.
−8.

【0085】更に、図12(C)に示す第9実施例に係
るコンタクタ10−12は、コンタクト電極12Bを囲繞
するように複数(本実施例では4個)の小孔を形成する
ことにより開口部20−9 を構成したものである。特
に、図12(C)に矢印Aで示す小孔は、隣接するコン
タクト電極12Bの共通した開口部20−9 として機能
している。
Further, the contactor 10-12 according to the ninth embodiment shown in FIG. 12C has a plurality of (four in this embodiment) small holes formed so as to surround the contact electrode 12B. This constitutes the section 20-9. In particular, the small hole indicated by arrow A in FIG. 12C functions as a common opening 20-9 of the adjacent contact electrode 12B.

【0086】第7乃至第9実施例に係るコンタクタ10
−10〜10−12の構成とすることによっても、前記した
第6実施例に係るコンタクタ10−9 と同様の作用効果
を実現することができ、また各20−7 〜20−9 は小
開口部により構成されているため、この大きさ及び個数
を適宜選定することにより、変位部に発生する変位量を
調整することができる。よって、デバイス14A,14
Bが装着される際、均一なコンタクト圧でコンタクト電
極12A,12Bと各電極15,16を接続することが
できる。
Contactor 10 according to the seventh to ninth embodiments
With the configuration of -10 to 10-12, the same operation and effect as the contactor 10-9 according to the sixth embodiment described above can be realized, and each of 20-7 to 20-9 has a small opening. The displacement amount generated in the displacement portion can be adjusted by appropriately selecting the size and the number of the displacement portions. Therefore, devices 14A, 14
When B is mounted, the contact electrodes 12A and 12B and the electrodes 15 and 16 can be connected with a uniform contact pressure.

【0087】続いて、第10実施例について説明する。
図13は、第10実施例に係るコンタクタ10−13を示
している。図13(A)はデバイス14Bが装着される
前のコンタクタ10−13を示す断面図であり、図13
(B)はデバイス14Bが装着された後のコンタクタ1
0−13を示す断面図である。
Next, a tenth embodiment will be described.
FIG. 13 shows a contactor 10-13 according to the tenth embodiment. FIG. 13A is a sectional view showing the contactor 10-13 before the device 14B is mounted.
(B) is the contactor 1 after the device 14B is mounted.
It is sectional drawing which shows 0-13.

【0088】前記した各実施例では、変位部を構成する
開口部20−1 〜20−9 を絶縁基板11−1 〜11−
11のコンタクト電極12A,12Bの近傍位置(即ち、
コンタクト電極12A,12Bの配設位置と異なる位
置)に形成していた。これに対し、本実施例に係るコン
タクタ10−13では、図13(A)に示されるように、
絶縁基板11−12のコンタクト電極12Bと対向する位
置に開口部20−10を設けたことを特徴とするものであ
る。よって、本実施例に係るコンタクタ10−13では、
コンタクト電極12Bの配設位置の下部が変位部とな
る。また、コンタクト電極12Aは、開口部20−10の
上部を塞ぐように配設された構造となる。
In each of the above-described embodiments, the openings 20-1 to 20-9 constituting the displacement portion are formed in the insulating substrates 11-1 to 11-.
11 near the contact electrodes 12A and 12B (that is,
(A position different from the arrangement position of the contact electrodes 12A and 12B). On the other hand, in the contactor 10-13 according to the present embodiment, as shown in FIG.
An opening 20-10 is provided on the insulating substrate 11-12 at a position facing the contact electrode 12B. Therefore, in the contactor 10-13 according to the present embodiment,
The lower part of the arrangement position of the contact electrode 12B is a displacement part. Further, the contact electrode 12A has a structure arranged so as to cover the upper part of the opening 20-10.

【0089】上記構成とされたコンタクタ10−13によ
れば、図13(B)に示されるように、デバイス14B
が装着された際、開口部20−10が形成されているコン
タクト電極12Bの直下位置が変位部として変位するこ
ととなり、またこの絶縁基板11−12の変位に伴い金属
膜により構成されているコンタクト電極12Bも変位す
る。
According to the contactor 10-13 having the above configuration, as shown in FIG.
Is mounted, the position immediately below the contact electrode 12B in which the opening 20-10 is formed is displaced as a displacement portion, and the contact made of a metal film is displaced with the displacement of the insulating substrate 11-12. The electrode 12B is also displaced.

【0090】このように、本実施例に係るコンタクタ1
0−13では、デバイス14Bにより押圧される部位(即
ち、コンタクト電極12Bの形成位置)が直接変位する
構成となる。また、この変位は絶縁基板11−12の変位
と、コンタクト電極12Bの変位が共に重なり合った変
位となるため、前記した各実施例のように絶縁基板11
−12のみの変位に比べて実質的な変位量を増大させるこ
とができる。よって、コンタクト電極12B,或いは突
起電極16の高さバラツキを確実に吸収することがで
き、コンタクト電極12Bとデバイス14Bとの電気的
接続を確実に行なうことができる。
As described above, the contactor 1 according to the present embodiment
In the case of 0-13, the portion pressed by the device 14B (that is, the formation position of the contact electrode 12B) is directly displaced. Further, since this displacement is a displacement in which the displacement of the insulating substrate 11-12 and the displacement of the contact electrode 12B are overlapped, the displacement of the insulating substrate 11
The substantial displacement can be increased as compared with the displacement of −12 alone. Therefore, the height variation of the contact electrode 12B or the protruding electrode 16 can be reliably absorbed, and the electrical connection between the contact electrode 12B and the device 14B can be reliably performed.

【0091】続いて、第11及び第12実施例について
説明する。図14は第11実施例に係るコンタクタ10
−14を示す断面図であり、図15は第12実施例に係る
コンタクタ10−15を示す断面図である。また、各図は
デバイス14Bを装着した状態をそれぞれ示している。
本実施例に係る構成は、先に図8及び図9を用いて説明
した第3実施例及び第4実施例に係るコンタクタ10−
6,10−7 と類似した構成とされている。即ち、第3
及び第4実施例に係るコンタクタ10−6,10−7 で
は、コンタクト電極12Bの間位置に開口部20−1 を
形成した絶縁基板11−5,11−6 の下面に配線層21
A,21Bを形成した構成としていた。
Next, the eleventh and twelfth embodiments will be described. FIG. 14 shows a contactor 10 according to an eleventh embodiment.
FIG. 15 is a sectional view showing -14, and FIG. 15 is a sectional view showing a contactor 10-15 according to the twelfth embodiment. Each drawing shows a state where the device 14B is mounted.
The configuration according to the present embodiment is different from the contactor 10-according to the third and fourth embodiments described above with reference to FIGS. 8 and 9.
The configuration is similar to that of 6, 10-7. That is, the third
In the contactors 10-6 and 10-7 according to the fourth embodiment, the wiring layers 21 are formed on the lower surfaces of the insulating substrates 11-5 and 11-6 in which the openings 20-1 are formed between the contact electrodes 12B.
A and 21B were formed.

【0092】これに対し、第11及び第12実施例に係
るコンタクタ10−14,10−15は、コンタクト電極1
2Bと対向する位置に開口部20−10を形成した絶縁基
板11−13, 11−14の下面に配線層21A,21Bを
形成したことを特徴とするものである。また、第11実
施例に係るコンタクタ10−14は配線層21Bが開口部
20−10を覆うよう形成されており、また第12実施例
に係るコンタクタ10−15は配線層21Aに開口部20
−10と連通する配線層開口部23が形成されている。
On the other hand, the contactors 10-14 and 10-15 according to the eleventh and twelfth embodiments have the
It is characterized in that wiring layers 21A and 21B are formed on the lower surfaces of insulating substrates 11-13 and 11-14 having openings 20-10 formed at positions facing 2B. The contactor 10-14 according to the eleventh embodiment has the wiring layer 21B formed so as to cover the opening 20-10, and the contactor 10-15 according to the twelfth embodiment has the opening 20 formed in the wiring layer 21A.
A wiring layer opening 23 communicating with −10 is formed.

【0093】よって、第11及び第12実施例に係るコ
ンタクタ10−14,10−15によれば、絶縁基板11−
13,11−14の下面に配線層21A,21Bが形成され
ることにより、配線層21A,21Bのパターンを任意
に設定することができる。また、第12実施例に係るコ
ンタクタ10−15によれば、絶縁基板11−13に開口部
20−10を形成すると共に、配線層21Aにも配線層開
口部23を形成することにより、配線層23が変位部
(即ち、絶縁基板11−13の開口部20−10が形成され
ている部位)の変位を妨げることを防止することができ
る。
Therefore, according to the contactors 10-14 and 10-15 according to the eleventh and twelfth embodiments, the insulating substrate 11-
By forming the wiring layers 21A and 21B on the lower surfaces of the layers 13 and 11-14, the patterns of the wiring layers 21A and 21B can be set arbitrarily. According to the contactor 10-15 according to the twelfth embodiment, the opening 20-10 is formed in the insulating substrate 11-13, and the wiring layer opening 23 is formed in the wiring layer 21A. 23 can be prevented from hindering the displacement of the displacement portion (that is, the portion of the insulating substrate 11-13 where the opening 20-10 is formed).

【0094】このように、開口部20−10をコンタクト
電極12Bと対向する位置に配設した構成においても、
絶縁基板11−13,11−14の下面に配線層23A,2
3Bを形成することは可能であり、配線の引き廻しの自
由度を向上させることができ、またコンタクト電極12
Bの高密度化にも対応することができる。続いて、第1
3実施例について説明する。
As described above, even in the configuration in which the opening 20-10 is provided at a position facing the contact electrode 12B,
The wiring layers 23A, 23A are provided on the lower surfaces of the insulating substrates 11-13, 11-14.
3B can be formed, the degree of freedom of wiring can be improved, and the contact electrodes 12B can be formed.
It is possible to cope with high density of B. Then, the first
Three embodiments will be described.

【0095】図16は、第13実施例に係るコンタクタ
10−16の要部を拡大して示す斜視図である。本実施例
に係るコンタクタ10−16は、開口部20−11が複数の
コンタクト電極12Aをまたがるよう設けたことを特徴
とするものである。同図に示す例では、開口部20−11
は二つのコンタクト電極12Aをまたぐよう絶縁基板1
1−15に形成されている。このように、絶縁基板11−
15に複数のコンタクト電極12Aをまたがるよう開口部
20−11を形成することにより、個々のコンタクト電極
12A毎に開口部を形成するのに比べ、開口部20−11
の加工を容易に行なうことができる。
FIG. 16 is an enlarged perspective view showing a main part of a contactor 10-16 according to the thirteenth embodiment. The contactor 10-16 according to the present embodiment is characterized in that the opening 20-11 is provided so as to straddle the plurality of contact electrodes 12A. In the example shown in FIG.
Is the insulating substrate 1 so as to straddle the two contact electrodes 12A.
1-15. Thus, the insulating substrate 11-
By forming the openings 20-11 so as to straddle the plurality of contact electrodes 12A in the opening 15, the openings 20-11 are formed as compared with forming the openings for each individual contact electrode 12A.
Can be easily processed.

【0096】また、隣接するコンタクト電極12A間の
電気的絶縁基板を除去してしまうため絶縁基板11−15
の変位をよりフレキシブルに行なわせることができ、コ
ンタクト電極12A及びデバイス14A,14Bの各電
極15,16の高さバラツキを確実に吸収することが可
能となる。続いて、第14実施例について説明する。
Further, since the electrically insulating substrate between the adjacent contact electrodes 12A is removed, the insulating substrate 11-15 is removed.
Of the contact electrode 12A and the height variations of the electrodes 15 and 16 of the devices 14A and 14B can be reliably absorbed. Next, a fourteenth embodiment will be described.

【0097】図17は、第14実施例であるコンタクタ
10−17を示す断面図である。本実施例に係るコンタク
タ10−17は、絶縁基板11−16の隣接するコンタクト
電極間12Aに凹部24Aを形成することにより、絶縁
基板11−16に肉薄部25Aを形成したことを特徴とす
るものである。この凹部24Aの形成は、例えばエッチ
ング法を用いることにより、容易にかつ精度よく形成す
ることができる。
FIG. 17 is a sectional view showing a contactor 10-17 according to a fourteenth embodiment. The contactor 10-17 according to the present embodiment is characterized in that a thin portion 25A is formed in the insulating substrate 11-16 by forming a concave portion 24A between adjacent contact electrodes 12A of the insulating substrate 11-16. It is. The concave portion 24A can be easily and accurately formed by using, for example, an etching method.

【0098】この肉薄部25Aは、凹部が形成されてい
ない肉厚の部位(コンタクト電極12Aと対向する位
置)に比べて変位し易い構成となっており、よって肉薄
部25Aは変位部を構成する。また、コンタクト電極1
2Aと対向する肉厚部分は変位がしにくいため、不変位
部30−13を構成する。本実施例に係るコンタクタ10
−17によれば、コンタクト電極12A或いはデバイス1
4A,14Bの電極15,16に高さのバラツキがあっ
ても、変位部として機能する肉薄部25Aが変位するこ
とによりこのバラツキを吸収することができ、よってデ
バイス14A,14Bと各コンタクト電極12Aとを均
一な状態で接続することが可能となる。
The thin portion 25A is configured to be easily displaced as compared with a thick portion where a concave portion is not formed (a position facing the contact electrode 12A). Therefore, the thin portion 25A constitutes a displacement portion. . Also, contact electrode 1
Since the thick portion opposed to 2A is hard to be displaced, it constitutes the non-displacement portion 30-13. Contactor 10 according to the present embodiment
According to -17, the contact electrode 12A or the device 1
Even if the electrodes 15 and 16 of the electrodes 4A and 14B have variations in height, the variations can be absorbed by the displacement of the thin portion 25A functioning as a displacement portion, and thus the devices 14A and 14B and the contact electrodes 12A can be absorbed. Can be connected in a uniform state.

【0099】また、前記した各実施例のように絶縁基板
に開口部を形成した構成では、開口部の形成位置に配線
層の形成は行いにくく、また開口部上に配線層を形成し
ても強度出し等の点で問題が残る。しかるに、本実施例
のように肉薄部25Aを変位部とすることにより、肉薄
部25A上には配線層を形成することが可能となり、配
線層の形成エリアの自由度を向上させることができる。
尚、本実施例の構成は、隣接するコンタクト電極12A
の間が狭ピッチであり、よって絶縁基板11−16を貫通
する開口部を形成するのが困難な場合に有効である。
Further, in the configuration in which the opening is formed in the insulating substrate as in each of the above-described embodiments, it is difficult to form the wiring layer at the position where the opening is formed, and even if the wiring layer is formed on the opening. Problems remain in terms of strength and the like. However, by using the thin portion 25A as a displacement portion as in this embodiment, a wiring layer can be formed on the thin portion 25A, and the degree of freedom of the wiring layer formation area can be improved.
The structure of the present embodiment is different from that of the adjacent contact electrode 12A.
This is effective when it is difficult to form an opening that penetrates the insulating substrate 11-16 because of the narrow pitch between them.

【0100】続いて、第15実施例について説明する。
図18は、第15実施例であるコンタクタ10−18を示
す断面図である。本実施例に係るコンタクタ10−18
は、電気的絶縁基板11−17のコンタクト電極12Aを
配設する面に第1の凹部26を形成すると共に、その反
対側面に第2の凹部27を設けることにより肉薄部25
Bを形成したことを特徴としている。この第1及び第2
の凹部26,27の形成は、例えばエッチング法を用
い、電気的絶縁基板11−17の両面に夫々エッチング処
理を行なうことにより、容易にかつ精度よく形成するこ
とができる。
Next, a fifteenth embodiment will be described.
FIG. 18 is a sectional view showing a contactor 10-18 according to a fifteenth embodiment. Contactor 10-18 according to the present embodiment
Is formed by forming a first concave portion 26 on the surface of the electrically insulating substrate 11-17 on which the contact electrode 12A is provided, and by providing a second concave portion 27 on the opposite side.
B is formed. The first and second
The concave portions 26 and 27 can be easily and accurately formed by performing an etching process on both surfaces of the electrically insulating substrate 11-17 by using, for example, an etching method.

【0101】本実施例に係るコンタクタ10−18では、
コンタクト電極12Aが配設される部位以外は凹んだ構
成となる。このため、コンタクト電極12Aが配設され
た上面においては、デバイス14A,14Bの電極形成
以外の部位(即ち、回路面等)に絶縁基板11−17が接
触することを防止することができる。また、下面におい
ては、後述する実施例で述べるように、絶縁基板11−
17に補強部材を設けた場合には(図21参照)、絶縁基
板11−17と補強部材は部分接触となり、圧力を効率よ
くコンタクト電極12Aに伝えることができる。よっ
て、デバイス14A,14Bとコンタクト電極12Aと
の電気的接続を確実に行なうことができる。尚、本実施
例の構成は、絶縁基板11−17の内層に配線層(電源、
GND層含む)を有している場合などに有効である。
In the contactor 10-18 according to the present embodiment,
Except for the portion where the contact electrode 12A is provided, the configuration is concave. For this reason, on the upper surface on which the contact electrode 12A is provided, it is possible to prevent the insulating substrate 11-17 from coming into contact with a portion other than the electrode formation of the devices 14A and 14B (that is, a circuit surface or the like). Further, on the lower surface, as described in an embodiment to be described later, the insulating substrate 11-
When the reinforcing member is provided on 17 (see FIG. 21), the insulating substrate 11-17 and the reinforcing member are in partial contact, and the pressure can be efficiently transmitted to the contact electrode 12A. Therefore, the electrical connection between the devices 14A and 14B and the contact electrode 12A can be reliably performed. In this embodiment, the wiring layer (power supply,
This is effective in the case of having a GND layer).

【0102】続いて、第16実施例について説明する。
図19は、第16実施例であるコンタクタ10−19を示
す断面図である。本実施例では、絶縁基板11−18のコ
ンタクト電極12Bと対向する位置に凹部24Cを形成
し、これにより変位部となる肉薄部25Cを形成したこ
とを特徴とするものである。この凹部24Cもエッチン
グ等により容易かつ精度よく形成することができる。
Next, a sixteenth embodiment will be described.
FIG. 19 is a sectional view showing a contactor 10-19 according to a sixteenth embodiment. The present embodiment is characterized in that a concave portion 24C is formed at a position facing the contact electrode 12B of the insulating substrate 11-18, thereby forming a thin portion 25C serving as a displacement portion. The recess 24C can also be easily and accurately formed by etching or the like.

【0103】本実施例のように、絶縁基板11−18のコ
ンタクト電極12Bと対向する位置に肉薄部25Cを形
成することにより、デバイス14Bが装着され突起電極
16によりコンタクト電極12Bが押圧された際、肉薄
部25Cと共にコンタクト電極12Bが変位し、これに
よりコンタクト電極12B,突起電極16の高さバラツ
キを吸収することができる。
As in the present embodiment, the device 14B is mounted and the contact electrode 12B is pressed by the protruding electrode 16 by forming the thin portion 25C at a position facing the contact electrode 12B on the insulating substrate 11-18. Then, the contact electrode 12B is displaced together with the thin portion 25C, so that the height variation of the contact electrode 12B and the protruding electrode 16 can be absorbed.

【0104】また、肉薄部25C上にコンタクト電極1
2Bを形成することができるため、図13に示した第1
0実施例に係るコンタクタ10−13に比べ、コンタクト
電極12Bの大きさや配設位置の設定に自由度を持たせ
ることができる。尚、本実施例の構成では、コンタクト
電極12Bの大きさ(径)に対し肉薄部25Cの面積を
大きく設定することが可能であり、よって変位部として
機能する肉薄部25Cの変位量を大きくすることが可能
である。よって、突起電極16及びコンタクト電極12
Bの高さバラツキをより確実に吸収することができ、安
定した電気的接続を図ることができる。
Further, the contact electrode 1 is formed on the thin portion 25C.
2B can be formed, so that the first
Compared to the contactor 10-13 according to the zeroth embodiment, the degree of freedom in setting the size and arrangement position of the contact electrode 12B can be increased. In the configuration of the present embodiment, the area of the thin portion 25C can be set to be larger than the size (diameter) of the contact electrode 12B, and thus the displacement of the thin portion 25C functioning as a displacement portion is increased. It is possible. Therefore, the projection electrode 16 and the contact electrode 12
Variations in the height of B can be more reliably absorbed, and stable electrical connection can be achieved.

【0105】続いて、第17実施例について説明する。
図20は第17実施例であるコンタクタ10−20を示し
ており、図20(A)はデバイス14Aを装着した状態
のコンタクタ10−20を示す断面図であり、図20
(B)はコンタクタ10−20の要部を拡大して示す斜視
図である。本実施例に係るコンタクタ10−20は、絶縁
基板11-19 としてTAB(TapeAutomated Bonding)
テープ材を用いたことを特徴とするものである。このT
ABテープ材としては、50μm の厚さを有するポリイ
ミド(P1)フィルムと、厚さ18μm の銅(Cu)膜
で形成された配線層とにより構成される、最も代表的な
TABテープ材を用いることが可能である。
Next, a seventeenth embodiment will be described.
FIG. 20 shows a contactor 10-20 according to a seventeenth embodiment, and FIG. 20A is a cross-sectional view showing the contactor 10-20 with the device 14A mounted.
(B) is an enlarged perspective view showing a main part of the contactor 10-20. The contactor 10-20 according to the present embodiment uses TAB (Tape Automated Bonding) as the insulating substrate 11-19.
It is characterized by using a tape material. This T
The most typical TAB tape material composed of a polyimide (P1) film having a thickness of 50 μm and a wiring layer formed of a copper (Cu) film having a thickness of 18 μm is used as the AB tape material. Is possible.

【0106】このTABテープ材を用いて図20に示さ
れるような開口部20−1 を有したコンタクタ10−20
を形成したところ、コンタクト電極12A等の高さバラ
ツキを吸収する効果が確認できた。本実施例によれば、
入手し易い上記構成のTABテープ材を利用するため、
コンタクタ10−20を安価に製造することができる。続
いて、第18実施例について説明する。
Using this TAB tape material, a contactor 10-20 having an opening 20-1 as shown in FIG.
As a result, the effect of absorbing the variation in height of the contact electrode 12A and the like was confirmed. According to the present embodiment,
In order to use the TAB tape material of the above configuration that is easily available,
The contactors 10-20 can be manufactured at low cost. Next, an eighteenth embodiment will be described.

【0107】本実施例に係るコンタクタ10−21は、図
21に示されるように、絶縁基板11−1 のコンタクト
電極12Aが形成された上面と反対側の面(下面)に補
強部材31−1 を設けたことを特徴とするものである。
この補強部材31−1 は、例えばゴム等の弾性体材料に
により形成され、デバイス14A,14Bの装着時のコ
ンタクト圧力に対して絶縁基板11−1 を補強する機能
を奏する。
As shown in FIG. 21, the contactor 10-21 according to the present embodiment has a reinforcing member 31-1 on the surface (lower surface) of the insulating substrate 11-1 opposite to the upper surface on which the contact electrodes 12A are formed. Is provided.
The reinforcing member 31-1 is formed of an elastic material such as rubber, for example, and has a function of reinforcing the insulating substrate 11-1 against contact pressure when the devices 14A and 14B are mounted.

【0108】一般的に、ポリイミド等の樹脂よりなる絶
縁基板11−1 の剛性だけでは、デバイス14A,14
Bとのコンタクト力を受け止めるだけの剛性がないた
め、確実な接続が行なわれないおそれがある。特に、開
口部21−1 が形成された絶縁基板11−1 では、この
傾向が強い。しかるに、本実施例に係るコンタクタ10
−21のように、絶縁基板11−1 の下面に弾性体よりな
る補強部材31−1 を配設することにより、デバイス1
4A,14Bの装着時において印加されるコンタクト力
は、絶縁基板11−1 を介して補強部材31−1 にて確
実に受け止められる。このため、絶縁基板11−1 のみ
でコンタクト力を受ける構成に比べ、コンタクタ10−
21全体しての剛性は向上するため、コンタクト電極12
Aとデバイス14A,14Bとの電気的接続性を向上さ
せることができる。
Generally, the stiffness of the insulating substrate 11-1 made of a resin such as polyimide alone is not enough for the devices 14A and 14A.
Since there is not enough rigidity to receive the contact force with B, reliable connection may not be performed. This tendency is particularly strong in the insulating substrate 11-1 in which the opening 21-1 is formed. However, the contactor 10 according to the present embodiment
As shown in -21, by arranging a reinforcing member 31-1 made of an elastic body on the lower surface of the insulating substrate 11-1, the device 1
The contact force applied when mounting 4A, 14B is reliably received by reinforcing member 31-1 via insulating substrate 11-1. For this reason, compared to a configuration in which the contact force is received only by the insulating substrate 11-1, the contactor 10-
21 The contact electrode 12
The electrical connection between A and the devices 14A and 14B can be improved.

【0109】続いて、第18実施例及び第19実施例に
ついて説明する。図22は第18実施例に係るコンタク
タ10−22を示す断面図であり、図23(A)は第19
実施例に係るコンタクタ10−23を示す断面図である。
この各実施例に係るコンタクタ10−22, 10−23も、
絶縁基板11−1 の下面に補強部材31−2 ,31−3
が配設されており、コンタクタ全体としての剛性の向上
を図った構成とされている。
Next, an eighteenth embodiment and a nineteenth embodiment will be described. FIG. 22 is a sectional view showing a contactor 10-22 according to the eighteenth embodiment, and FIG.
It is sectional drawing which shows the contactor 10-23 concerning an Example.
Contactors 10-22 and 10-23 according to the respective embodiments are also
The reinforcing members 31-2 and 31-3 are provided on the lower surface of the insulating substrate 11-1.
Are provided to improve the rigidity of the contactor as a whole.

【0110】第18実施例に係るコンタクタ10−22
は、図22に示されるように、補強部材31−2 の開口
部20−1 と対応する部分に凹部32を形成すると共
に、不変位部30−1 と対向する部分に凸部33を形成
したことを特徴とするものである。このように、開口部
20−1 と対応する部分に凹部32を形成することによ
り、補強部材31−2 を絶縁基板11−1 の変位に追随
して変位させることが可能となる。
A contactor 10-22 according to the eighteenth embodiment
As shown in FIG. 22, a recess 32 was formed at a portion corresponding to the opening 20-1 of the reinforcing member 31-2, and a projection 33 was formed at a portion facing the non-displacement portion 30-1. It is characterized by the following. In this manner, by forming the concave portion 32 in a portion corresponding to the opening 20-1, the reinforcing member 31-2 can be displaced following the displacement of the insulating substrate 11-1.

【0111】即ち、前記したように絶縁基板11−1 に
変位部(開口部20−1 )及び不変位部30−1 を形成
することにより、コンタクト電極12A等に高さバラツ
キが存在しても開口部20−1 が形成された絶縁基板1
1−1 が変位し、これにより高さバラツキに拘わらずコ
ンタクト電極12Aとデバイス14Aとの確実な電気的
接続を図ることができる。ところが、補強部材31−2
を設けた際、この補強部材31−2 が絶縁基板11−1
(特に、変位部)の変位を阻害する構成であっては、コ
ンタクト電極12Aとデバイス14Aを確実に接続する
ことができない可能性がある。
That is, as described above, the displacement portion (opening portion 20-1) and the non-displacement portion 30-1 are formed in the insulating substrate 11-1 so that the contact electrode 12A and the like may have a height variation. Insulating substrate 1 with opening 20-1 formed
1-1 is displaced, whereby reliable electrical connection between the contact electrode 12A and the device 14A can be achieved regardless of the height variation. However, the reinforcing member 31-2
When this is provided, the reinforcing member 31-2 is attached to the insulating substrate 11-1.
In a configuration in which the displacement of the (particularly, the displacement portion) is inhibited, there is a possibility that the contact electrode 12A and the device 14A cannot be reliably connected.

【0112】しかるに、補強部材31−2 の開口部20
−1(変位部)と対応する部分に凹部32を形成し、かつ
不変位部30−1 と対向する部分に凸部33を形成する
ことにより、補強部材31−2 は絶縁基板11−1 に追
随して変位可能な構成となる。これにより、絶縁基板1
1−1 を均一に補強することが可能となり、よってコン
タクト電極12Aとデバイス14Aとの電気的接続を確
実に行なうことができる。
However, the opening 20 of the reinforcing member 31-2
By forming the concave portion 32 at a portion corresponding to -1 (displacement portion) and forming the convex portion 33 at a portion facing the non-displacement portion 30-1, the reinforcing member 31-2 is attached to the insulating substrate 11-1. It becomes the structure which can be displaced following. Thereby, the insulating substrate 1
1-1 can be uniformly reinforced, so that the electrical connection between the contact electrode 12A and the device 14A can be reliably performed.

【0113】また、第19実施例に係るコンタクタ10
−23は、図23に示されるように、補強部材31−3 の
開口部20−1 と対応する部分に補強部材側開口部34
Aを形成したことを特徴とするものである。よって、不
変位部30−1 のみが補強部材31−3 に当接する構成
となる。本実施例の構成によっても、前記した第18実
施例と同様に、補強部材31−3 を絶縁基板11−1 の
変位に追随して変位させることが可能となり、コンタク
ト電極12Aとデバイス14Aとの電気的接続を確実に
行なうことができる。
Further, the contactor 10 according to the nineteenth embodiment
23, as shown in FIG. 23, a reinforcing member side opening 34 is formed in a portion corresponding to the opening 20-1 of the reinforcing member 31-3.
A is formed. Therefore, only the non-displacement portion 30-1 comes into contact with the reinforcing member 31-3. According to the configuration of this embodiment, similarly to the eighteenth embodiment, the reinforcing member 31-3 can be displaced following the displacement of the insulating substrate 11-1, and the contact electrode 12A and the device 14A can be displaced. Electrical connection can be reliably performed.

【0114】図23(B)〜(D)は、補強部材31−
3 に形成される補強部材側開口部34Aの各種態様を示
している。図23(B)は、補強部材31−4 に穴を形
成することにより補強部材側開口部34Bを構成したも
のである。また、図23(C)は、補強部材31−5 に
スリットを形成することにより補強部材側開口部34C
を構成したものである。
FIGS. 23B to 23D show the reinforcing members 31-.
3 shows various aspects of the reinforcing member side opening 34A formed in FIG. FIG. 23B shows a structure in which a hole is formed in the reinforcing member 31-4 to form the reinforcing member side opening 34B. FIG. 23C shows that the reinforcing member side opening 34C is formed by forming a slit in the reinforcing member 31-5.
It is what constituted.

【0115】更に、図23(D)は、補強部材31−6
自体をネット状のエラストマーを用い、網目を補強部材
側開口部として用いたものである。尚、補強部材側開口
部の構成は上記したものに限定れさるものではなく、他
の構成とすることも可能である。続いて、第21実施例
について説明する。
FIG. 23 (D) shows the reinforcing member 31-6.
In this case, a net-like elastomer is used, and the mesh is used as a reinforcing member side opening. Note that the configuration of the reinforcing member side opening is not limited to the above-described configuration, and other configurations are also possible. Subsequently, a twenty-first embodiment will be described.

【0116】図24は、第21実施例であるコンタクタ
10−24を示す断面図である。先に図21乃至図23を
用い説明した第18乃至第20実施例に係るコンタクタ
10−21〜10−23では、ゴム等よりなるブロック状の
補強部材31−1 〜31−3を用いた例を示した。これ
に対し、本実施例に係るコンタクタ10−24では、補強
部材31−7 を弾性を有する薄膜よりなるチューブ状弾
性体により構成したことを特徴とするものである。この
補強部材31−7 を構成するチューブ状弾性体には、図
示しない流体(本実施例では空気)供給装置が接続され
ており、補強部材31−7 に対し流体の供給及び排出を
行いうる構成となっている。上記構成とされた補強部材
31−7 は、他の実施例に係る補強部材31−1 〜31
−3 と同様に、絶縁基板11−1 の下面に当接するよう
配設される。
FIG. 24 is a sectional view showing a contactor 10-24 according to a twenty-first embodiment. In the contactors 10-21 to 10-23 according to the eighteenth to twentieth embodiments described above with reference to FIGS. 21 to 23, examples in which block-shaped reinforcing members 31-1 to 31-3 made of rubber or the like are used. showed that. On the other hand, the contactor 10-24 according to the present embodiment is characterized in that the reinforcing member 31-7 is formed of a tubular elastic body made of an elastic thin film. A fluid (air in this embodiment) supply device (not shown) is connected to the tubular elastic body constituting the reinforcing member 31-7, and the fluid can be supplied to and discharged from the reinforcing member 31-7. It has become. The reinforcing member 31-7 having the above-described configuration is similar to the reinforcing members 31-1 to 31 according to the other embodiments.
Similarly to -3, it is provided so as to be in contact with the lower surface of the insulating substrate 11-1.

【0117】従って、本実施例に係るコンタクタ10−
24は、チューブ状弾性体よりなる補強部材31−7 の流
体圧力で絶縁基板11−1 を補強する構成となる。この
構成によれば、流体供給装置を駆動制御し補強部材31
−7 内の内部流体圧力を調整することにより、コンタク
ト電極12Aとデバイス14Aとの間に作用するコンタ
クト圧を調整することが可能となる。また、コンタクト
電極12A,フラット電極15の高さバラツキについて
は、チューブ状弾性体よりなる補強部材31−7 の弾性
変形により吸収されるため、コンタクト電極12Aとデ
バイス14Aとの電気的接続を確実に行なうことができ
る。
Therefore, the contactor 10-
Reference numeral 24 denotes a configuration in which the insulating substrate 11-1 is reinforced by the fluid pressure of the reinforcing member 31-7 made of a tubular elastic body. According to this configuration, the drive of the fluid supply device is controlled and the reinforcing member 31 is controlled.
By adjusting the internal fluid pressure in −7, the contact pressure acting between the contact electrode 12A and the device 14A can be adjusted. In addition, the variation in height between the contact electrode 12A and the flat electrode 15 is absorbed by the elastic deformation of the reinforcing member 31-7 made of a tubular elastic body, so that the electrical connection between the contact electrode 12A and the device 14A is ensured. Can do it.

【0118】続いて、第25実施例について説明する。
図25は、第25実施例に係るコンタクタ10−25の要
部を拡大した斜視図である。本実施例に係るコンタクタ
10−25は、絶縁基板11−1 の外周部に配線パターン
17を介してコンタクト電極12Aと電気的に導通する
外部接続端子35を設けたものである。
Subsequently, a twenty-fifth embodiment will be described.
FIG. 25 is an enlarged perspective view of a main part of a contactor 10-25 according to the twenty-fifth embodiment. The contactor 10-25 according to the present embodiment is provided with an external connection terminal 35 that is electrically connected to the contact electrode 12A via the wiring pattern 17 on the outer peripheral portion of the insulating substrate 11-1.

【0119】前記したように、コンタクト電極12Aの
配列ピッチはデバイス14Aの電極ピッチに拘束される
ため狭ピッチとなる。しかるに、本実施例のように狭ピ
ッチで配設されコンタクト電極12Aから外部接続端子
35まで配線パターン17を引き出すことにより、外部
接続端子35の配列ピッチをコンタクト電極12Aの配
列ピッチに対して広くすることができ、コンタクタ10
−25が接続されるテスター(デバイスの動作試験を行な
う)との接続を容易に行なうことができる。
As described above, the arrangement pitch of the contact electrodes 12A is narrow because it is restricted by the electrode pitch of the device 14A. However, by arranging the wiring patterns 17 from the contact electrodes 12A to the external connection terminals 35 arranged at a narrow pitch as in the present embodiment, the arrangement pitch of the external connection terminals 35 is made wider than the arrangement pitch of the contact electrodes 12A. Can contactor 10
Connection with a tester (for performing an operation test of a device) to which −25 is connected can be easily performed.

【0120】続いて、第23実施例について説明する。
図26は、第23実施例に係るコンタクタ10−26を示
す断面図である。本実施例に係るコンタクタ10−26
は、絶縁基板11−20の下面(デバイス14Aとのコン
タクト側とは反対側面)に、配線基板37Aを設けたこ
とを特徴とするものである。
Next, a twenty-third embodiment will be described.
FIG. 26 is a sectional view showing a contactor 10-26 according to the twenty-third embodiment. Contactor 10-26 according to the present embodiment
Is characterized in that a wiring substrate 37A is provided on the lower surface of the insulating substrate 11-20 (the side opposite to the contact side with the device 14A).

【0121】この配線基板37Aは可撓性を有する絶縁
性基板の内部に内部配線38が形成された構成とされて
おり、この内部配線38の一端部は基板上面に形成され
た接続パッド39と接続しており、他端部は基板下面に
形成された外部端子40に接続している。また、絶縁基
板11−20の下面には、コンタクタ電極12Aとビア2
2を介して接続された基板接続用電極36Aが形成され
ている。前記した接続パッド39の形成位置は、この基
板接続用電極36Aの形成位置と対応するよう構成され
ている。従って、配線基板37A上に絶縁基板11−20
を装着することにより、コンタクト電極12Aは、ビア
22,基板接続用電極36A,接続パッド39,内部配
線38を介して外部端子40と電気的に接続した構成と
なる。
The wiring board 37A has a structure in which an internal wiring 38 is formed inside a flexible insulating substrate. One end of the internal wiring 38 is connected to a connection pad 39 formed on the upper surface of the substrate. The other end is connected to an external terminal 40 formed on the lower surface of the substrate. The contactor electrode 12A and the via 2 are provided on the lower surface of the insulating substrate 11-20.
A substrate connection electrode 36A connected through the second electrode 2 is formed. The formation position of the connection pad 39 is configured to correspond to the formation position of the substrate connection electrode 36A. Therefore, the insulating substrate 11-20 is placed on the wiring board 37A.
Is attached, the contact electrode 12A is electrically connected to the external terminal 40 via the via 22, the substrate connection electrode 36A, the connection pad 39, and the internal wiring 38.

【0122】本実施例のように、絶縁基板11−20の下
面に配線基板37Aを設けることにより、絶縁基板11
−20で配線を引き回す必要がなくなり、コンタクト電極
12Aの更なる高密度配置を可能とすることができる。
また、絶縁基板上に配線層を引き回すと、配線層の厚さ
分だけ剛性が増して絶縁基板のフレキシビリティが損な
われることは前述した通りであるが、本実施例のように
配線基板37Aを設ることにより絶縁基板11−20に配
線層を設ける必要がなくなり、よって絶縁基板11−20
のフレキシビリティを確保することができる。
By providing the wiring board 37A on the lower surface of the insulating substrate 11-20 as in the present embodiment, the insulating substrate 11-20 is provided.
At -20, it is not necessary to route the wiring, and it is possible to arrange the contact electrodes 12A at a higher density.
Also, as described above, when the wiring layer is routed on the insulating substrate, the rigidity is increased by the thickness of the wiring layer and the flexibility of the insulating substrate is impaired, as described above. This eliminates the need to provide a wiring layer on the insulating substrate 11-20.
Flexibility can be ensured.

【0123】更に、配線基板27Aには開口部等は設け
られていないため、絶縁基板11−20に配線を形成する
構成に比べて配線の引き回しの自由度を向上させること
ができる。よって、本実施例によれば、コンタクト電極
12Aの高密度化を図りつつ、コンタクト電極12Aと
デバイス14Aとを確実に接続させることができる。
尚、配線基板27Aは、少なくとも絶縁基板11−20の
変位に追随して変位しうる可撓性を有している必要があ
る。
Further, since the wiring board 27A is not provided with an opening or the like, the degree of freedom of wiring can be improved as compared with the configuration in which wiring is formed on the insulating substrate 11-20. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to reliably connect the contact electrode 12A and the device 14A while increasing the density of the contact electrode 12A.
Note that the wiring board 27A needs to have flexibility such that it can be displaced at least following the displacement of the insulating substrate 11-20.

【0124】続いて、第24実施例について説明する。
図27は、第24実施例であるコンタクタ10−27の断
面図である。本実施例に係るコンタクタ10−27は、絶
縁基板11−21と配線基板37Bとの間に異方性導通弾
性体よりなる補強部材31−8 を設けたことを特徴とす
るものである。この補強部材31−8 は、ゴム等の弾性
体に複数のワイヤ41を埋設した構成とされている。ま
た、ワイヤ41の配設位置は、コンタクタ電極12Aの
形成位置と対応するよう設定されている。
Next, a twenty-fourth embodiment will be described.
FIG. 27 is a sectional view of a contactor 10-27 according to a twenty-fourth embodiment. The contactor 10-27 according to the present embodiment is characterized in that a reinforcing member 31-8 made of an anisotropic conductive elastic body is provided between an insulating substrate 11-21 and a wiring board 37B. The reinforcing member 31-8 has a configuration in which a plurality of wires 41 are embedded in an elastic body such as rubber. Further, the arrangement position of the wire 41 is set to correspond to the formation position of the contactor electrode 12A.

【0125】配線基板37Bは内部に内部配線38が形
成された構成とされており、この内部配線38の一端部
は基板上面に形成された接続パッド39と接続してお
り、他端部は基板下面に形成された外部端子40に接続
している。また、絶縁基板11−21の下面には、コンタ
クタ電極12Aとビア22を介して接続された基板接続
用電極36Bが形成されている。前記した接続パッド3
9及び基板接続用電極36Bの形成位置は、ワイヤ41
の配設位置と対応するよう構成されている。
The wiring board 37B has an internal wiring 38 formed therein. One end of the internal wiring 38 is connected to a connection pad 39 formed on the upper surface of the substrate, and the other end is connected to the substrate. It is connected to an external terminal 40 formed on the lower surface. On the lower surface of the insulating substrate 11-21, a substrate connection electrode 36B connected to the contactor electrode 12A via the via 22 is formed. Connection pad 3 described above
9 and the substrate connection electrode 36B are formed at the wire 41
Are arranged so as to correspond to the disposition position.

【0126】従って、配線基板37B上に補強部材31
−8 及び絶縁基板11−21を装着することにより、コン
タクト電極12Aは、ビア22,基板接続用電極36
B,ワイヤ41,接続パッド39,内部配線38を介し
て外部端子40と電気的に接続した構成となる。上記の
ように、本実施例においても絶縁基板11−21の下面に
ワイヤ41を有する補強部材31−8 を介して配線基板
37Bを設けることにより、絶縁基板11−21で配線を
引き回す必要がなくなり、コンタクト電極12Aの更な
る高密度配置を可能とすることができる。
Therefore, the reinforcing member 31 is placed on the wiring board 37B.
-8 and the insulating substrate 11-21, the contact electrode 12A becomes the via 22 and the substrate connecting electrode 36.
B, wires 41, connection pads 39, and internal wiring 38 are electrically connected to external terminals 40. As described above, also in the present embodiment, the wiring board 37B is provided on the lower surface of the insulating substrate 11-21 via the reinforcing member 31-8 having the wire 41, so that it is not necessary to route the wiring on the insulating substrate 11-21. Further, it is possible to further arrange the contact electrodes 12A at a high density.

【0127】また、配線基板37Bに反り等の高さバラ
ツキが存在していたとしても、異方性導通弾性体よりな
る補強部材31−8 が弾性変形することにより、この高
さバラツキを吸収することができる。また、コンタクト
電極12A或いはデバイス14Aのフラット電極15に
高さのバラツキがあっても、異方性導通弾性体である補
強部材31−8 が変位することによりこの高さバラツキ
を吸収することができ、よってコンタクト電極12Aと
デバイス14Aとを確実に接続することができる。
Further, even if the wiring board 37B has a height variation such as warpage, the height variation is absorbed by the elastic deformation of the reinforcing member 31-8 made of an anisotropic conductive elastic body. be able to. In addition, even if the contact electrode 12A or the flat electrode 15 of the device 14A has a height variation, the height variation can be absorbed by the displacement of the reinforcing member 31-8, which is an anisotropic conductive elastic body. Therefore, the contact electrode 12A and the device 14A can be reliably connected.

【0128】続いて、第25実施例について説明する。
図28及び図29は第25実施例であるコンタクタ20
−28を示す断面図であり、図28はデバイス14Aが装
着される前のコンタクタ20−28を示し、図29はデバ
イス14Aが装着された後のコンタクタ20−28を示し
ている。本実施例に係るコンタクタ20−28は、絶縁基
板11−22の物理的特性を変化させることにより、絶縁
基板11−22に変位部42と不変位部30−16を形成し
たことを特徴とするものである。変位部42の形成位置
は、先に図3を用いて説明した第1実施例に係るコンタ
クタ10−1 に形成した開口部20−1 と同様に、隣接
するコンタクタ電極12Aの間位置に設定されている。
Next, a twenty-fifth embodiment will be described.
28 and 29 show a contactor 20 according to a twenty-fifth embodiment.
FIG. 28 is a cross-sectional view showing −28. FIG. 28 shows the contactor 20-28 before the device 14A is mounted, and FIG. 29 shows the contactor 20-28 after the device 14A is mounted. The contactor 20-28 according to the present embodiment is characterized in that the displacement part 42 and the non-displacement part 30-16 are formed on the insulating substrate 11-22 by changing the physical characteristics of the insulating substrate 11-22. Things. The formation position of the displacement portion 42 is set to a position between the adjacent contactor electrodes 12A, similarly to the opening 20-1 formed in the contactor 10-1 according to the first embodiment described above with reference to FIG. ing.

【0129】本実施例のように、絶縁基板11−22の物
理的特性を変化させることにより、絶縁基板11−22に
変位部42及び不変位部30−16を形成する方法につい
て説明する。本実施例では、絶縁基板11−22の材料と
して感光性樹脂を用いている。この感光性樹脂として
は、光(例えば、UV光)を照射することにより硬化
し、光照射を行なわない場合には所定の弾性を維持する
特性を有するものが望ましい。
A method of forming the displacement portion 42 and the non-displacement portion 30-16 on the insulating substrate 11-22 by changing the physical characteristics of the insulating substrate 11-22 as in this embodiment will be described. In this embodiment, a photosensitive resin is used as the material of the insulating substrate 11-22. Desirably, the photosensitive resin has a property of being cured by irradiation with light (for example, UV light) and maintaining a predetermined elasticity when light irradiation is not performed.

【0130】コンタクタ10−28を形成するには、先ず
上記特性を有する感光性樹脂を平板状に成形する。そし
て、この平板状感光性樹脂にコンタクト電極12Aを配
設し、その上で平板状感光性樹脂のコンタクト電極配設
側と異なる側の面にマスク43を配設する。このマスク
43には、予めコンタクト電極12Aの配設位置と対応
する位置に開口が形成されている。そして、図30に示
されるように、このマスク43を介して平板状感光性樹
脂に光照射を行なう。これにより、平板状感光性樹脂の
コンタクト電極12Aの配設位置には光が照射され、こ
の照射位置は光硬化して不変位部30−16が形成され
る。また、光が照射されない部分は、前記した所定の弾
性を保持するため変位部42となる。
In order to form the contactor 10-28, first, a photosensitive resin having the above characteristics is formed into a flat plate. Then, a contact electrode 12A is provided on the plate-shaped photosensitive resin, and a mask 43 is provided on a surface of the plate-shaped photosensitive resin which is different from the side on which the contact electrode is provided. An opening is formed in the mask 43 in advance at a position corresponding to the arrangement position of the contact electrode 12A. Then, as shown in FIG. 30, the flat photosensitive resin is irradiated with light through the mask 43. As a result, light is irradiated to the position where the contact electrode 12A of the plate-shaped photosensitive resin is provided, and the irradiated position is light-cured to form the non-displaceable portion 30-16. In addition, a portion not irradiated with light serves as a displacement portion 42 for maintaining the above-described predetermined elasticity.

【0131】このように、本実施例の製造方法を採用す
ることにより、フォトリソグラフィ技術を利用し、感光
性樹脂に選択的に光照射を行なうことにより変位部42
及び不変位部30−16を形成するため、容易にかつ精度
良く絶縁基板11−22を形成することができる。尚、上
記した実施例では、感光性樹脂を用い光照射を選択的に
行なうことにより変位部42及び不変位部30−16を形
成したが、絶縁基板11−22の形成方法はこれに限定さ
れるものではなく、例えば熱硬化樹脂を用い、選択的に
加熱処理することにより樹脂の物理特性を変化させ変位
部42及び不変位部30−16を形成してもよく、またX
線硬化樹脂を用い、選択的にX線照射を行なうことによ
り樹脂の物理特性を変化させ変位部42及び不変位部3
0−16を形成してもよい。更に、樹脂の物理特性を変化
させることにより変位部42及び不変位部30−16を形
成できる方法であれば、他の方法を用いる構成としても
よい。
As described above, by adopting the manufacturing method of this embodiment, the displacement portion 42 is selectively irradiated with light on the photosensitive resin using the photolithography technique.
In addition, since the non-displacement portion 30-16 is formed, the insulating substrate 11-22 can be easily and accurately formed. In the above-described embodiment, the displacement portion 42 and the non-displacement portion 30-16 are formed by selectively performing light irradiation using a photosensitive resin, but the method of forming the insulating substrate 11-22 is not limited thereto. Instead, for example, a thermosetting resin may be used, and the heat treatment may be selectively performed to change the physical properties of the resin to form the displacement portion 42 and the non-displacement portion 30-16.
By selectively irradiating X-rays with the use of a radiation-curable resin, the physical properties of the resin are changed, and the displacement portion 42 and the non-displacement portion 3 are changed.
0-16 may be formed. Furthermore, any other method may be used as long as the displacement portion 42 and the non-displacement portion 30-16 can be formed by changing the physical properties of the resin.

【0132】本実施例に係るコンタクタ10−28は、上
記のように変形量の大きい変位部42が隣接するコンタ
クト電極12Aの間に形成されているため、コンタクト
電極12A或いはフラット電極15に高さバラツキが存
在していても、第1実施例と同様に変位部42が変位す
ることによりこれを吸収することができ、よってコンタ
クト電極12Aとデバイス14Aとを均一な状態で安定
して接続することが可能となり、接続信頼性の向上を図
ることができる。
In the contactor 10-28 according to the present embodiment, since the displacement portion 42 having a large amount of deformation is formed between the adjacent contact electrodes 12A as described above, the height of the contact portion 10A or the flat electrode 15 is increased. Even if there is a variation, the displacement can be absorbed by the displacement of the displacement portion 42 as in the first embodiment, so that the contact electrode 12A and the device 14A can be stably connected in a uniform state. And connection reliability can be improved.

【0133】続いて、第26実施例について説明する。
図31及び図32は、第26実施例であるコンタクタ1
0−29を示す断面図であり、図31はデバイス14Bを
装着する前のコンタクタ10−29を示し、図32はデバ
イス14Bを装着した後のコンタクタ10−29を示して
いる。前記した第25実施例では、デバイス14Aの接
続端子はフラット電極15により形成されており、よっ
て接続性を向上させる点からコンタクタ10−28に突起
状のコンタクト電極12Aを形成した構成としていた。
これに対し、本実施例の対象となるデバイス14Bは、
接続端子として突起電極16(バンプ)を有した構成と
されている。
Next, a twenty-sixth embodiment will be described.
FIGS. 31 and 32 show a contactor 1 according to a twenty-sixth embodiment.
FIG. 31 is a cross-sectional view showing the contactor 10-29 before mounting the device 14B, and FIG. 32 shows the contactor 10-29 after mounting the device 14B. In the above-described twenty-fifth embodiment, the connection terminal of the device 14A is formed by the flat electrode 15, so that the contactor 10-28 is formed with the protruding contact electrode 12A from the viewpoint of improving the connectivity.
In contrast, the device 14B according to the present embodiment is:
It has a configuration having protruding electrodes 16 (bumps) as connection terminals.

【0134】このため、本実施例に係るコンタクタ10
−29は、絶縁基板11−22にフラット状のコンタクト電
極12Bを形成した構成としている。また、本実施例に
係るコンタクタ10−29も、第25実施例と同様に、絶
縁基板11−22の物理的特性を変化させることにより、
絶縁基板11−22に変位部42及び不変位部30−16を
形成した構成とされている。
Therefore, the contactor 10 according to the present embodiment is
No. -29 has a configuration in which a flat contact electrode 12B is formed on an insulating substrate 11-22. Further, the contactor 10-29 according to the present embodiment also changes the physical characteristics of the insulating substrate 11-22 as in the twenty-fifth embodiment, thereby
The displacement part 42 and the non-displacement part 30-16 are formed on the insulating substrate 11-22.

【0135】よって、突起電極16或いはコンタクト電
極12Bに高さバラツキが存在していも、本実施例の構
成に係るコンタクタ10−29によれば、変位部42によ
りコンタクト電極12Bは個々に独立して変位する。こ
のため、コンタクト電極12Bとデバイス14B(突起
電極16)とを均一な状態で安定して接続することが可
能となり、接続信頼性の向上を図ることができる。
Therefore, even if the bump electrode 16 or the contact electrode 12B has a height variation, according to the contactor 10-29 according to the configuration of the present embodiment, the contact electrode 12B is individually and independently formed by the displacement portion 42. Displace. Therefore, the contact electrode 12B and the device 14B (the protruding electrode 16) can be stably connected in a uniform state, and the connection reliability can be improved.

【0136】続いて、第27実施例について説明する。
図33は、第27実施例に係るコンタクタ10−30を示
す断面図である。本実施例に係るコンタクタ10−30
は、物理特性を変化させることにより変位部42及び不
変位部30−16が形成された絶縁基板11−22をゴム等
の弾性材料よりなる補強部材31−1 上に配設した構成
としたことを特徴とするものである。
Next, a description will be given of a twenty-seventh embodiment.
FIG. 33 is a sectional view showing a contactor 10-30 according to the twenty-seventh embodiment. Contactor 10-30 according to the present embodiment
Is a configuration in which the insulating substrate 11-22 on which the displacement portion 42 and the non-displacement portion 30-16 are formed by changing the physical characteristics is disposed on a reinforcing member 31-1 made of an elastic material such as rubber. It is characterized by the following.

【0137】本実施例で用いてる絶縁基板11−22は、
先に説明したポリイミド等の樹脂よりなる絶縁基板と同
様に、その単体の剛性だけでは、デバイス14A,14
Bとのコンタクト力を受け止めるだけの剛性がなく、確
実な接続が行なわれないおそれがある。よって、本実施
例では、先に図21乃至図23を用いて説明した第18
乃至第20実施例と同様に、絶縁基板11−22の下面に
弾性体よりなる補強部材31−1 を配設したものであ
る。この構成とすることにより、デバイス14Aの装着
時において印加されるコンタクト力は、絶縁基板11−
22を介して補強部材31−1 にて確実に受け止められる
ため、絶縁基板11−22のみでコンタクト力を受ける構
成に比べ、コンタクタ10−30全体しての剛性を向上さ
せることができる。よって、コンタクト電極12Aとデ
バイス14A,14Bとの電気的接続性を向上させるこ
とができる。
The insulating substrate 11-22 used in this embodiment is
As with the insulating substrate made of a resin such as polyimide described above, the stiffness of the simple substance alone is not sufficient for the devices 14A and 14A.
There is no rigidity enough to receive the contact force with B, and there is a possibility that reliable connection may not be made. Therefore, in the present embodiment, the eighteenth embodiment described with reference to FIGS.
As in the twentieth to twentieth embodiments, a reinforcing member 31-1 made of an elastic body is provided on the lower surface of the insulating substrate 11-22. With this configuration, the contact force applied when mounting the device 14A is reduced
Since it is reliably received by the reinforcing member 31-1 via the contact 22, the rigidity of the contactor 10-30 as a whole can be improved as compared with a configuration in which the contact force is received only by the insulating substrate 11-22. Therefore, the electrical connectivity between the contact electrode 12A and the devices 14A and 14B can be improved.

【0138】尚、上記した各実施例の説明では、説明及
び図示の便宜上、突起状のコンタクト電極12A、或い
は平板状のコンタクト電極12Bの何れか一方の例を挙
げて説明したが、各実施例における構成は図示されたコ
ンタクタ電極構造に限定されるものではなく、突起状の
コンタクト電極12A及び平板状のコンタクト電極12
Bの何れに対しても適用できるものである。
In the description of each embodiment described above, for convenience of description and illustration, one of the protruding contact electrode 12A and the plate-shaped contact electrode 12B has been described. Is not limited to the illustrated contactor electrode structure, but includes a protruding contact electrode 12A and a flat contact electrode 12A.
B can be applied to any of B.

【0139】[0139]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば、次に述べる
種々の効果を実現することができる。請求項1及び請求
項2記載の発明によれば、絶縁基板の剛性を部分的に変
化させることができ、個々のコンタクト電極を変位し易
くすることができる。よって、コンタクト電極或いは電
子部品の端子に高さのバラツキがあっても、電気的絶縁
基板(変位部)が変位することによりこのバラツキを吸
収することができ、これにより電子部品と各コンタクト
電極とを均一な状態で接続することが可能となる。
According to the present invention as described above, the following various effects can be realized. According to the first and second aspects of the invention, the rigidity of the insulating substrate can be partially changed, and the individual contact electrodes can be easily displaced. Therefore, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height, the variation can be absorbed by the displacement of the electrically insulating substrate (displacement portion). Can be connected in a uniform state.

【0140】また、請求項3及び請求項9記載の発明に
よれば、コンタクト電極が狭ピッチ化しても、配線層の
パターンを自由度を持って構成することができる。ま
た、請求項4及び請求項10記載の発明によれば、配線
層が変位部の変位を妨げることを防止することができ、
よって配線層のパターン設計の自由度を維持しつつ、電
子部品とコンタクト電極との電気的接続をより確実に行
なうことが可能となる。
According to the third and ninth aspects of the present invention, the pattern of the wiring layer can be configured with a high degree of freedom even if the pitch of the contact electrodes is reduced. According to the fourth and tenth aspects of the present invention, it is possible to prevent the wiring layer from hindering the displacement of the displacement portion,
Therefore, the electrical connection between the electronic component and the contact electrode can be more reliably performed while maintaining the degree of freedom in the pattern design of the wiring layer.

【0141】また、請求項5記載の発明によれば、容易
に変位部を形成することができ、また変位部の変位量を
任意に調節することが可能となる。また、請求項6記載
の発明によれば、電子部品の端子がマトリックス状に配
設されたような場合であっても、一のコンタクト電極は
隣接するコンタクト電極に拘束されることなく自由に変
位できるため、コンタクト電極と電子部品の端子との電
気的接続をより確実に行なうことができる。
According to the fifth aspect of the present invention, the displacement portion can be easily formed, and the displacement amount of the displacement portion can be arbitrarily adjusted. According to the sixth aspect of the invention, even when the terminals of the electronic component are arranged in a matrix, one contact electrode can be freely displaced without being restricted by the adjacent contact electrode. Therefore, the electrical connection between the contact electrode and the terminal of the electronic component can be more reliably performed.

【0142】また、請求項7記載の発明によれば、開口
部を個々のコンタクト電極毎に複数設けられた小開口部
により構成したことにより、小開口部の数により変位部
の変位量を任意に調節することが可能となる。また、請
求項8記載の発明によれば、変位部が変位する際、電気
的絶縁基板と共にコンタクト電極も変位するため、コン
タクト電極或いは電子部品の端子のバラツキを確実に吸
収することができる。
According to the seventh aspect of the present invention, since the openings are constituted by a plurality of small openings provided for each contact electrode, the amount of displacement of the displacement portion can be arbitrarily determined according to the number of small openings. It becomes possible to adjust to. According to the invention of claim 8, when the displacement portion is displaced, the contact electrode is also displaced together with the electrically insulating substrate, so that the variation in the contact electrode or the terminal of the electronic component can be reliably absorbed.

【0143】また、請求項11記載の発明によれば、開
口部を複数のコンタクト電極をまたがるよう設けたこと
により、個々のコンタクト電極毎に開口部を形成するの
に比べ、開口部の加工を容易に行なうことができる。ま
た、隣接するコンタクト電極間の電気的絶縁基板を除去
してしまうため、電気的絶縁基板の変位をよりフレキシ
ブルに行なわせることができる。
According to the eleventh aspect of the present invention, since the opening is provided so as to straddle the plurality of contact electrodes, the processing of the opening can be performed as compared with the case where the opening is formed for each contact electrode. It can be done easily. Further, since the electrically insulating substrate between the adjacent contact electrodes is removed, the displacement of the electrically insulating substrate can be performed more flexibly.

【0144】また、請求項12記載の発明によれば、コ
ンタクト電極或いは電子部品の端子に高さのバラツキが
あっても、肉薄とされた変位部が変位することによりこ
のバラツキを吸収することができ、電子部品と各コンタ
クト電極とを均一な状態で接続することが可能となる。
また、肉薄部上には配線層を形成することが可能である
ため、配線層の形成エリアの自由度を向上させることが
できる。
According to the twelfth aspect of the present invention, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height, the variation can be absorbed by the displacement of the thinned displacement portion. As a result, the electronic component and each contact electrode can be connected in a uniform state.
In addition, since a wiring layer can be formed on the thin portion, the degree of freedom of the formation area of the wiring layer can be improved.

【0145】また、請求項13記載の発明によれば、コ
ンタクト電極配設面となる上面においては、電子部品の
電極形成以外の部位(回路面等)に電気的絶縁基板が接
触することを防止することができる。また、下面におい
ては、電気的絶縁基板に補強部材を設けた際、電気的絶
縁基板と補強部材は部分接触となり、圧力を効率よくコ
ンタクト電極に伝えることができる。
According to the thirteenth aspect of the present invention, on the upper surface serving as the contact electrode disposing surface, it is possible to prevent the electrically insulating substrate from coming into contact with a portion (circuit surface or the like) other than the electrode formation of the electronic component. can do. On the lower surface, when the reinforcing member is provided on the electrically insulating substrate, the electrically insulating substrate and the reinforcing member are in partial contact, and the pressure can be efficiently transmitted to the contact electrode.

【0146】また、請求項14記載の発明によれば、変
位部において電気的絶縁基板と共にコンタクト電極が変
位するため、コンタクト電極或いは電子部品の端子のバ
ラツキを吸収することができ、よってコンタクト電極と
電子部品の端子との電気的接続を確実に行なうことがで
きる。また、肉薄部上にコンタクト電極を形成すること
ができるため、開口部上にコンタクト電極を形成する構
成に比べ、コンタクト電極の大きさや配設位置の設定に
自由度を持たせることができる。
According to the fourteenth aspect of the present invention, since the contact electrode is displaced together with the electrically insulating substrate in the displaced portion, the variation in the contact electrode or the terminal of the electronic component can be absorbed. Electrical connection with the terminal of the electronic component can be reliably performed. In addition, since the contact electrode can be formed on the thin portion, the degree of freedom in setting the size and arrangement position of the contact electrode can be increased as compared with the configuration in which the contact electrode is formed on the opening.

【0147】また、請求項15記載の発明によれば、電
気的絶縁基板に開口部或いは肉薄部を形成することなく
変位部を変位させることが可能となり、変位部と不変位
部を有する電気的絶縁基板を容易に形成することができ
る。また、電気的絶縁基板の上面及び下面の双方におい
て凹凸は存在しないため、配線層のパターン形成の自由
度をより向上させることができる。更に、電気的絶縁基
板は全体にわたり均一の厚さとなるため、その取り扱い
性を向上させることができる。
According to the fifteenth aspect of the present invention, the displacement portion can be displaced without forming an opening or a thin portion in the electrically insulating substrate. An insulating substrate can be easily formed. Further, since there is no unevenness on both the upper surface and the lower surface of the electrically insulating substrate, the degree of freedom in forming a pattern of the wiring layer can be further improved. Furthermore, since the electrically insulating substrate has a uniform thickness over the whole, the handleability can be improved.

【0148】また、請求項16記載の発明によれば、コ
ンタクト電極或いは電子部品の端子に高さのバラツキが
あっても、軟化状態とされた変位部が変位することによ
りこのバラツキを吸収することができ、電子部品と各コ
ンタクト電極とを均一な状態で接続することが可能とな
る。また、コンタクト電極と対向する位置に設けられた
不変位部は硬化状態となっているため、コンタクト電極
と電子部品との接続を確実に行なうことができる。
According to the sixteenth aspect of the present invention, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height, the variation is absorbed by the displacement of the softened displacement portion. This makes it possible to connect the electronic component and each contact electrode in a uniform state. Further, since the non-displacement portion provided at the position facing the contact electrode is in a hardened state, the connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed.

【0149】また、請求項17記載の発明によれば、フ
ォトリソグラフィ技術を利用することにより変位部及び
不変位部を形成することができ、よって容易にかつ精度
良く変位部及び不変位部を形成することができる。ま
た、請求項18及び請求項19記載の発明によれば、電
気的絶縁基板の裏面側(コンタクト電極配設側と反対
側)にゴム等の弾性体よりなる補強部材を配設したこと
により、電子部品とのコンタクト力を確実に受け止める
ことが可能となり、コンタクト電極と電子部品との電気
的接続性を向上させることができる。
According to the seventeenth aspect of the present invention, the displacement portion and the non-displacement portion can be formed by utilizing the photolithography technology, and therefore, the displacement portion and the non-displacement portion can be formed easily and accurately. can do. Further, according to the inventions of claims 18 and 19, the reinforcing member made of an elastic body such as rubber is provided on the back side of the electrically insulating substrate (the side opposite to the side where the contact electrodes are provided). The contact force with the electronic component can be reliably received, and the electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be improved.

【0150】また、請求項20及び請求項21記載の発
明によれば、補強部材は電気的絶縁基板に追随して変位
可能な構成となり、電気的絶縁基板を均一に補強するこ
とが可能となり、よってコンタクト電極と電子部品との
電気的接続を確実に行なうことができる。また、請求項
22記載の発明によれば、内部の流体の圧力を調整する
ことにより、コンタクト電極と電子部品の端子との間に
作用するコンタクト力を調整することが可能となる。ま
た、コンタクト電極或いは電子部品の端子の高さバラツ
キについては、チューブ状弾性体の弾性変形により吸収
されるため、コンタクト電極と電子部品との電気的接続
を確実に行なうことができる。
According to the twentieth and twenty-first aspects of the present invention, the reinforcing member can be displaced following the electrically insulating substrate, so that the electrically insulating substrate can be uniformly reinforced. Therefore, the electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed. Further, according to the invention of claim 22, by adjusting the pressure of the internal fluid, it is possible to adjust the contact force acting between the contact electrode and the terminal of the electronic component. In addition, the variation in height of the contact electrode or the terminal of the electronic component is absorbed by the elastic deformation of the tubular elastic body, so that the electrical connection between the contact electrode and the electronic component can be reliably performed.

【0151】また、請求項23記載の発明によれば、電
気的絶縁基板に配線を引き回す必要がなくなり、コンタ
クト電極の更なる高密度配置を可能とすることができ
る。また、電気的絶縁基板に配線層を設ける必要がなく
なり、電気的絶縁基板のフレキシビリティを担保するこ
とができる。また、配線基板には開口部等は設けられて
いないため、電気的絶縁基板に配線を形成する構成に比
べて配線の引き回しの自由度を向上させることができ
る。
According to the twenty-third aspect of the present invention, it is not necessary to route wiring on the electrically insulating substrate, and it is possible to arrange contact electrodes at a higher density. Further, it is not necessary to provide a wiring layer on the electrically insulating substrate, and the flexibility of the electrically insulating substrate can be secured. Further, since an opening or the like is not provided in the wiring substrate, the degree of freedom of wiring can be improved as compared with a configuration in which wiring is formed in an electrically insulating substrate.

【0152】更に、請求項24記載の発明によれば、配
線基板に反り等の高さバラツキが存在していたとして
も、異方性導通弾性体が弾性変形することによりこの高
さバラツキを吸収することができる。また、異方性導通
弾性体は電気的絶縁基板の補強部材とても機能するた
め、コンタクト電極或いは電子部品の端子に高さのバラ
ツキがあっても、異方性導通弾性体が変位することによ
りこのバラツキを吸収することができ、よって電子部品
と各コンタクト電極とを確実に接続することが可能とな
る。
Further, according to the present invention, even if the wiring board has a height variation such as warpage, the height variation is absorbed by the anisotropic conductive elastic body being elastically deformed. can do. In addition, since the anisotropic conductive elastic body functions as a reinforcing member of the electrically insulating substrate, even if the contact electrode or the terminal of the electronic component has a variation in height, the anisotropic conductive elastic body is displaced. Variations can be absorbed, so that the electronic component and each contact electrode can be reliably connected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来の一例である電子部品用コンタクタを示す
図である(その1)。
FIG. 1 is a view showing an example of a conventional electronic component contactor (part 1).

【図2】従来の一例である電子部品用コンタクタを示す
図である(その2)。
FIG. 2 is a view showing an example of a conventional contactor for electronic components (part 2).

【図3】本発明の第1実施例であるコンタクタ(電子部
品用コンタクタ)を説明するための図である(その
1)。
FIG. 3 is a view for explaining a contactor (electronic component contactor) according to a first embodiment of the present invention (part 1);

【図4】本発明の第1実施例であるコンタクタを説明す
るための図である(その2)。
FIG. 4 is a view for explaining a contactor according to the first embodiment of the present invention (part 2).

【図5】本発明の第2実施例であるコンタクタを説明す
るための図である(その1)。
FIG. 5 is a view for explaining a contactor according to a second embodiment of the present invention (part 1).

【図6】本発明の第2実施例であるコンタクタを説明す
るための図である(その2)。
FIG. 6 is a view for explaining a contactor according to a second embodiment of the present invention (part 2).

【図7】開口部の変形例を説明するための図である。FIG. 7 is a view for explaining a modification of the opening.

【図8】本発明の第3実施例であるコンタクタを説明す
るための図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining a contactor according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4実施例であるコンタクタを説明す
るための図である。
FIG. 9 is a view for explaining a contactor according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第5実施例であるコンタクタを説明
するための図である。
FIG. 10 is a view for explaining a contactor according to a fifth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第6実施例であるコンタクタを説明
するための図である。
FIG. 11 is a view for explaining a contactor according to a sixth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第7乃至第9実施例であるコンタク
タを説明するための図である。
FIG. 12 is a view for explaining contactors according to seventh to ninth embodiments of the present invention.

【図13】本発明の第10実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 13 is a view for explaining a contactor according to a tenth embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第11実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 14 is a view for explaining a contactor according to an eleventh embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第12実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 15 is a view for explaining a contactor according to a twelfth embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第13実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 16 is a view for explaining a contactor according to a thirteenth embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第14実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 17 is a view for explaining a contactor according to a fourteenth embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第15実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 18 is a view for explaining a contactor according to a fifteenth embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第16実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 19 is a view for explaining a contactor according to a sixteenth embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第17実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 20 is a view for explaining a contactor according to a seventeenth embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第18実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 21 is a view for explaining a contactor according to an eighteenth embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第19実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 22 is a diagram illustrating a contactor according to a nineteenth embodiment of the present invention.

【図23】(A)は本発明の第20実施例であるコンタ
クタを説明するための図であり、(B)〜(D)は補強
部材の変形例を示す図である。
FIG. 23A is a view for explaining a contactor according to a twentieth embodiment of the present invention, and FIGS. 23B to 23D are views showing modified examples of a reinforcing member.

【図24】本発明の第21実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 24 is a diagram illustrating a contactor according to a twenty-first embodiment of the present invention.

【図25】本発明の第22実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 25 is a view for explaining a contactor according to a twenty-second embodiment of the present invention.

【図26】本発明の第23実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 26 is a view for explaining a contactor according to a twenty-third embodiment of the present invention.

【図27】本発明の第24実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 27 is a diagram illustrating a contactor according to a twenty-fourth embodiment of the present invention.

【図28】本発明の第25実施例であるコンタクタを説
明するための図である(その1)。
FIG. 28 is a view for explaining a contactor according to a twenty-fifth embodiment of the present invention (part 1).

【図29】本発明の第25実施例であるコンタクタを説
明するための図である(その2)。
FIG. 29 is a view for explaining a contactor according to a twenty-fifth embodiment of the present invention (part 2).

【図30】変位部と不変位部の形成方法を説明するため
の図である。
FIG. 30 is a diagram for explaining a method of forming a displacement portion and a non-displacement portion.

【図31】本発明の第26実施例であるコンタクタを説
明するための図である(その1)。
FIG. 31 is a view for explaining a contactor according to a twenty-sixth embodiment of the present invention (part 1).

【図32】本発明の第26実施例であるコンタクタを説
明するための図である(その2)。
FIG. 32 is a view for explaining a contactor according to a twenty-sixth embodiment of the present invention (part 2).

【図33】本発明の第27実施例であるコンタクタを説
明するための図である。
FIG. 33 is a diagram illustrating a contactor according to a twenty-seventh embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10−1 〜10−30コンタクタ 11−1 〜11−22絶縁基板 12A,12B コンタクト電極 14A,14B デバイス 15 フラット電極 16 突起電極 17 配線パターン 20−1 〜20−11開口部 21A,21B 配線層 22 ビア 23 配線層開口部 24A,24B,24C,32 凹部 25A,25B,25C 肉薄部 26 第1の凹部 27 第2の凹部 30−1 〜30−16不変位部 31−1 〜31−8 補強部材 33 凸部 34A,34B,34C 補強部材側開口部 35 外部接続端子 37A,37B 配線基板 41 ワイヤ 42 変位部 43 マスク 10-1 to 10-30 Contactor 11-1 to 11-22 Insulating substrate 12A, 12B Contact electrode 14A, 14B Device 15 Flat electrode 16 Protruding electrode 17 Wiring pattern 20-1 to 20-11 Opening 21A, 21B Wiring layer 22 Via 23 Wiring layer opening 24A, 24B, 24C, 32 Concave part 25A, 25B, 25C Thin part 26 First concave part 27 Second concave part 30-1 to 30-16 Non-displacement part 31-1 to 31-8 Reinforcement member 33 Convex part 34A, 34B, 34C Reinforcement member side opening 35 External connection terminal 37A, 37B Wiring board 41 Wire 42 Displacement part 43 Mask

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電気的絶縁基板と、 該電気的絶縁基板の電子部品の端子形成位置に対応した
位置に設けられたコンタクト電極とを具備し、 該電子部品の端子と接触することにより、電気的な接続
を得る電子部品用コンタクタにおいて、 前記電気的絶縁基板に、 容易に変位可能な構成とされた変位部と、該変位部に対
して変位しにくい構成とされ不変位部とを設けたことを
特徴とする電子部品用コンタクタ。
An electric insulating substrate, comprising: a contact electrode provided at a position corresponding to a terminal forming position of an electronic component on the electric insulating substrate; In the electronic component contactor for obtaining an effective connection, the electrical insulating substrate is provided with a displacement portion configured to be easily displaceable and a non-displacement portion configured to be hardly displaced with respect to the displacement portion. A contactor for electronic components, characterized in that:
【請求項2】 請求項1記載の電子部品用コンタクタに
おいて、 前記変位部は、前記電気的絶縁基板の隣接する前記コン
タクト電極間に開口部を設けることにより変位可能な構
成とされていることを特徴とする電子部品用コンタク
タ。
2. The contactor for an electronic component according to claim 1, wherein the displacement portion is configured to be displaceable by providing an opening between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate. Characterized contactors for electronic components.
【請求項3】 請求項1または2記載の電子部品用コン
タクタにおいて、 前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極が配設された
面と反対側の面に、配線層が形成されてなることを特徴
とする電子部品用コンタクタ。
3. The electronic component contactor according to claim 1, wherein a wiring layer is formed on a surface of the electrically insulating substrate opposite to a surface on which the contact electrodes are provided. Contactor for electronic components.
【請求項4】 請求項3記載の電子部品用コンタクタに
おいて、 前記開口部は、前記電気的絶縁基板と共に前記配線層を
貫通して形成されていることを特徴とする電子部品用コ
ンタクタ。
4. The electronic component contactor according to claim 3, wherein the opening is formed through the wiring layer together with the electrically insulating substrate.
【請求項5】 請求項2乃至4のいずれかに記載の電子
部品用コンタクタにおいて、 前記開口部は、スリット,長円穴,及び長方形の切り込
みの内、いずれか一の構成であることを特徴とする電子
部品用コンタクタ。
5. The contactor for an electronic component according to claim 2, wherein the opening has one of a slit, an oblong hole, and a rectangular cut. Contactor for electronic components.
【請求項6】 請求項2乃至4のいずれかに記載の電子
部品用コンタクタにおいて、 前記開口部を、前記コンタクト電極の外周に沿って形成
したことを特徴とする電子部品用コンタクタ。
6. The contactor for an electronic component according to claim 2, wherein the opening is formed along an outer periphery of the contact electrode.
【請求項7】 請求項2乃至4のいずれかに記載の電子
部品用コンタクタにおいて、 前記開口部は、個々の前記コンタクト電極毎に複数設け
られた小開口部により構成されていることを特徴とする
電子部品用コンタクタ。
7. The electronic component contactor according to claim 2, wherein the opening is formed by a plurality of small openings provided for each of the contact electrodes. Contactors for electronic components.
【請求項8】 請求項1記載の電子部品用コンタクタに
おいて、 前記変位部は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電
極と対向する位置に開口部を設けることにより変位可能
な構成とされていることを特徴とする電子部品用コンタ
クタ。
8. The contactor for an electronic component according to claim 1, wherein the displacement portion is configured to be displaceable by providing an opening at a position facing the contact electrode on the electrically insulating substrate. Contactor for electronic parts characterized by the above-mentioned.
【請求項9】 請求項8記載の電子部品用コンタクタに
おいて、 前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極が配設された
面と反対側の面に、配線層が形成されてなることを特徴
とする電子部品用コンタクタ。
9. The electronic component contactor according to claim 8, wherein a wiring layer is formed on a surface of the electrically insulating substrate opposite to a surface on which the contact electrodes are provided. Contactor for electronic components.
【請求項10】 請求項9記載の電子部品用コンタクタ
において、 前記開口部は、前記電気的絶縁基板と共に前記配線層を
貫通して形成されていることを特徴とする電子部品用コ
ンタクタ。
10. The contactor for an electronic component according to claim 9, wherein the opening is formed through the wiring layer together with the electrically insulating substrate.
【請求項11】 請求項8乃至9のいずれかに記載の電
子部品用コンタクタにおいて、 前記開口部は、複数の前記コンタクト電極をまたがって
設けられていることを特徴とする電子部品用コンタク
タ。
11. The contactor for an electronic component according to claim 8, wherein the opening is provided across a plurality of the contact electrodes.
【請求項12】 請求項1記載の電子部品用コンタクタ
において、 前記変位部は、前記電気的絶縁基板の隣接する前記コン
タクト電極間に肉薄部を設けることにより変位可能な構
成とされていることを特徴とする電子部品用コンタク
タ。
12. The electronic component contactor according to claim 1, wherein the displacement portion is configured to be displaceable by providing a thin portion between adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate. Characterized contactors for electronic components.
【請求項13】 請求項12記載の電子部品用コンタク
タにおいて、 前記肉薄部は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電
極が配設された面に第1の凹部を設けると共に、その反
対側の面に第2の凹部を設けることにより形成されるこ
とを特徴とする電子部品用コンタクタ。
13. The contactor for an electronic component according to claim 12, wherein the thin portion has a first concave portion on a surface of the electrically insulating substrate on which the contact electrode is provided, and a surface on the opposite side. A contactor for an electronic component, wherein the contactor is formed by providing a second concave portion in the contactor.
【請求項14】 請求項12記載の電子部品用コンタク
タにおいて、 前記変位部は、前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電
極と対向する位置に肉薄部を設けることにより変位可能
な構成とされていることを特徴とする電子部品用コンタ
クタ。
14. The electronic component contactor according to claim 12, wherein the displacement portion is configured to be displaceable by providing a thin portion at a position facing the contact electrode on the electrically insulating substrate. Contactor for electronic parts characterized by the above-mentioned.
【請求項15】 請求項1記載の電子部品用コンタクタ
において、 前記変位部は、前記電気的絶縁基板の隣接する前記コン
タクト電極間の物理的特性を変化させることにより変位
可能な構成とされていることを特徴とする電子部品用コ
ンタクタ。
15. The electronic component contactor according to claim 1, wherein the displacement portion is configured to be displaceable by changing physical characteristics between adjacent contact electrodes of the electrical insulating substrate. A contactor for electronic components, characterized in that:
【請求項16】 請求項1記載の電子部品用コンタクタ
において、 前記電気的絶縁基板の隣接する前記コンタクト電極間位
置が軟化状態となるよう物理的特性を変化させることに
より前記変位部を形成し、 前記コンタクト電極と対向する位置が硬化状態となるよ
う物理的特性を変化させることにより前記不変位部を形
成してなることを特徴とする電子部品用コンタクタ。
16. The electronic component contactor according to claim 1, wherein the displacement portion is formed by changing physical characteristics so that a position between the adjacent contact electrodes of the electrically insulating substrate is in a softened state. A contactor for an electronic component, wherein the non-displacement portion is formed by changing physical characteristics so that a position facing the contact electrode is in a hardened state.
【請求項17】 請求項15または16記載の電子部品
用コンタクタにおいて、 前記電気的絶縁基板として感光性樹脂を用い、選択的に
光照射を行なうことにより前記変位部のみを変位可能な
特性に変化させたことを特徴とする電子部品用コンタク
タ。
17. The contactor for an electronic component according to claim 15, wherein the electrically insulating substrate is made of a photosensitive resin, and selectively illuminated with light to change the characteristic so that only the displacement portion can be displaced. A contactor for electronic components, wherein
【請求項18】 請求項1乃至17のいずれかに記載の
電子部品用コンタクタにおいて、 前記電気的絶縁基板の前記コンタクト電極の配設側と反
対側に、前記電子部品の装着時のコンタクト圧力に対し
て前記電気的絶縁基板を補強する補強部材を設けたこと
を特徴とする電子部品用コンタクタ。
18. The contactor for an electronic component according to claim 1, wherein a contact pressure at the time of mounting the electronic component on a side of the electrically insulating substrate opposite to a side on which the contact electrode is provided. A contactor for an electronic component, further comprising a reinforcing member for reinforcing the electrically insulating substrate.
【請求項19】 請求項18記載の電子部品用コンタク
タにおいて、 前記補強部材は、弾性体よりなることを特徴とする電子
部品用コンタクタ。
19. The contactor for an electronic component according to claim 18, wherein the reinforcing member is made of an elastic body.
【請求項20】 請求項18または19記載の電子部品
用コンタクタにおいて、 前記補強部材は、 前記電気的絶縁基板に形成された前記変位部と対応する
部分に凹部を形成すると共に、前記不変位部と対向する
部分に該不変位部と当接する凸部を形成してなる構成で
あることを特徴とする電子部品用コンタクタ。
20. The contactor for an electronic component according to claim 18, wherein the reinforcing member forms a concave portion at a portion corresponding to the displacement portion formed on the electrically insulating substrate, and the non-displacement portion. A contactor for an electronic component, characterized in that a convex portion that contacts the non-displaceable portion is formed in a portion facing the non-displaceable portion.
【請求項21】 請求項18または19記載の電子部品
用コンタクタにおいて、 前記補強部材に多数の開口部を形成し、前記補強部材が
前記コンタクト電極の動きに影響されずに前記電気的絶
縁基板を均一に補強するよう構成したことを特徴とする
電子部品用コンタクタ。
21. The electronic component contactor according to claim 18 or 19, wherein a number of openings are formed in the reinforcing member, and the reinforcing member forms the electrically insulating substrate without being affected by the movement of the contact electrode. A contactor for an electronic component, wherein the contactor is configured to be uniformly reinforced.
【請求項22】 請求項18または19記載の電子部品
用コンタクタにおいて、 前記補強部材を弾性を有する薄膜のチューブ状弾性体に
より構成し、該チューブ状弾性体内部の流体圧力で前記
電気的絶縁基板を補強する構成としたことを特徴とする
電子部品用コンタクタ。
22. The contactor for an electronic component according to claim 18, wherein the reinforcing member is formed of a thin-film tubular elastic body having elasticity, and the electrical insulating substrate is formed by a fluid pressure inside the tubular elastic body. A contactor for electronic components, characterized in that the contactor is configured to reinforce the electronic component.
【請求項23】 請求項1乃至17のいずれかに記載の
電子部品用コンタクタにおいて、 前記電気的絶縁基板の前記電子部品とのコンタクト側と
は反対側に、前記コンタクト電極の位置に対応した位置
に導通性のパッドを有する配線基板を設けたことを特徴
とする電子部品用コンタクタ。
23. The contactor for an electronic component according to claim 1, wherein a position corresponding to a position of said contact electrode is provided on a side of said electrically insulating substrate opposite to a side of contact with said electronic component. A contactor for electronic parts, wherein a wiring board having conductive pads is provided on the contactor.
【請求項24】 請求項23記載の電子部品用コンタク
タにおいて、 前記電気的絶縁基板と前記配線基板との間に、補強部材
として異方性導通弾性体を設けたことを特徴とする電子
部品用コンタクタ。
24. The electronic component contactor according to claim 23, wherein an anisotropic conductive elastic body is provided as a reinforcing member between the electrically insulating substrate and the wiring substrate. Contactor.
JP10298868A 1998-10-20 1998-10-20 Contactor for electronic part Pending JP2000131342A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10298868A JP2000131342A (en) 1998-10-20 1998-10-20 Contactor for electronic part

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10298868A JP2000131342A (en) 1998-10-20 1998-10-20 Contactor for electronic part

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000131342A true JP2000131342A (en) 2000-05-12

Family

ID=17865237

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10298868A Pending JP2000131342A (en) 1998-10-20 1998-10-20 Contactor for electronic part

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000131342A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005109576A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Omron Corporation Anisotropic electrically conductive film
KR100815460B1 (en) * 2004-01-16 2008-03-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Electric connecting device and contactor
JP2010266467A (en) * 2010-08-27 2010-11-25 Renesas Electronics Corp Method for manufacturing semiconductor integrated circuit device
JP2011081004A (en) * 2010-10-27 2011-04-21 Hoya Corp Contact component for wafer batch contact board, and manufacturing method of the same
JP2021524029A (en) * 2018-05-16 2021-09-09 テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ High-performance probe card at high frequencies
WO2021193579A1 (en) * 2020-03-25 2021-09-30 日本電産リード株式会社 Inspection probe and inspection device
WO2023074198A1 (en) * 2021-10-27 2023-05-04 株式会社ヨコオ Flexible substrate and testing jig

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100815460B1 (en) * 2004-01-16 2008-03-20 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Electric connecting device and contactor
WO2005109576A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Omron Corporation Anisotropic electrically conductive film
CN100435418C (en) * 2004-05-11 2008-11-19 欧姆龙株式会社 Anisotropic electrically conductive film
US7537459B2 (en) 2004-05-11 2009-05-26 Omron Corporation Anisotropic conductive film
JP2010266467A (en) * 2010-08-27 2010-11-25 Renesas Electronics Corp Method for manufacturing semiconductor integrated circuit device
JP2011081004A (en) * 2010-10-27 2011-04-21 Hoya Corp Contact component for wafer batch contact board, and manufacturing method of the same
JP2021524029A (en) * 2018-05-16 2021-09-09 テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ High-performance probe card at high frequencies
JP7416725B2 (en) 2018-05-16 2024-01-17 テクノプローべ ソシエタ ペル アチオニ High-performance probe card at high frequencies
WO2021193579A1 (en) * 2020-03-25 2021-09-30 日本電産リード株式会社 Inspection probe and inspection device
WO2023074198A1 (en) * 2021-10-27 2023-05-04 株式会社ヨコオ Flexible substrate and testing jig

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100502119B1 (en) Contact structure and assembly mechanism thereof
US7847384B2 (en) Semiconductor package and manufacturing method thereof
US7244125B2 (en) Connector for making electrical contact at semiconductor scales
KR100366747B1 (en) Method for testing semiconductor wafers
US7217139B2 (en) Interconnect assembly for a probe card
US20100176831A1 (en) Probe Test Card with Flexible Interconnect Structure
JP5788166B2 (en) Connection terminal structure, manufacturing method thereof, and socket
US20080246501A1 (en) Probe Card With Stacked Substrate
US7407823B2 (en) Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device
KR20090094841A (en) Reinforced contact elements
US20120258636A1 (en) Connecting terminal structure, socket and electronic package
US20070052071A1 (en) Semiconductor package and manufacturing method thereof
JP2012129014A (en) Socket
JP3927783B2 (en) Semiconductor parts
JP2000131342A (en) Contactor for electronic part
US20040012405A1 (en) Probe card with full wafer contact configuration
KR20010030144A (en) Probe structure
JP4999398B2 (en) Wiring board
KR100484325B1 (en) Probe card
JP4250844B2 (en) Semiconductor device
KR100858027B1 (en) Probe assembly of probe card and manufacturing method thereof
KR100491780B1 (en) Probe card
KR100771476B1 (en) Electric Connecting Device
CN117751294A (en) Semiconductor package testing device
KR19990030098A (en) Pre-operation test device

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030318