JP2000131190A - Lens meter - Google Patents

Lens meter

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JP2000131190A
JP2000131190A JP10304054A JP30405498A JP2000131190A JP 2000131190 A JP2000131190 A JP 2000131190A JP 10304054 A JP10304054 A JP 10304054A JP 30405498 A JP30405498 A JP 30405498A JP 2000131190 A JP2000131190 A JP 2000131190A
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JP
Japan
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lens
measuring
inspected
marking
light receiving
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Pending
Application number
JP10304054A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shinichi Kobayashi
信一 小林
Hidekazu Yanagi
英一 柳
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lens meter for measuring the center thickness of a lens by utilizing an existing configuration without using any instrument such as a vernier calipers and at the same time obtaining the refractive index of the lens from the center thickness. SOLUTION: A lens meter is provided with an operation control circuit 23 for obtaining the optical characteristics of a lens L to be inspected based on an output signal from line sensors 21 and 22 by projecting measurement luminous flux that is transmitted through the lens L to be inspected to the line sensors 21 and 22 (light reception means). The lens meter is also provided with a marking point device 25 for outputting dimension data by measuring the curvature shape, thickness, and the like of the refraction surface of the lens L to be inspected, and at the same time the operation control circuit 23 is designed to obtain the refractive index of the lens L to be inspected from the dimension data and the optical characteristics of the operation control circuit 23.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、被検レンズの光学特
性を測定するレンズメータに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lens meter for measuring the optical characteristics of a test lens.

【0002】[0002]

【従来の技術】ガラス材やプラスチック等のレンズ素材
の屈折率を求める方法としては、被検物で頂角が既知で
あるプリズムを作り、このプリズムによる光線の偏角量
より求める方法と、被検物の表面の反射率より求める方
法が知られている。
2. Description of the Related Art As a method of obtaining the refractive index of a lens material such as a glass material or a plastic, a prism having a known apex angle is formed on a test object, and the prism is obtained from the amount of deflected light rays by the prism. A method is known in which the reflectance is obtained from the reflectance of the surface of the specimen.

【0003】しかしながら、前者の場合はプリズムを作
らなければならず、既にレンズの形状をした被検物の測
定はできない。また、後者の場合は、眼鏡レンズの表面
に反射防止や、傷付き防止等のコートが施されている場
合が多く、反射率の測定ができない。
[0003] However, in the former case, a prism must be formed, and it is not possible to measure an object already in the shape of a lens. In the latter case, the surface of the spectacle lens is often provided with a coating such as an anti-reflection or an anti-scratch, so that the reflectance cannot be measured.

【0004】また、レンズ形状をした被検物の屈折率を
測定する方法も各種提案されている。例えば、空気中と
水中での屈折力(度数)の差から屈折率を求める方法も
あるが、レンズを水中に浸すため、測定が煩雑となる
上、水中に没した場合は水とレンズ材との屈折率差が小
さくなり、空気中での場合に比べレンズの見掛けの数が
弱くなるため、レンズメータの測定感度を高くしなけれ
ばならない。
Various methods have been proposed for measuring the refractive index of a lens-shaped test object. For example, there is a method of calculating the refractive index from the difference between the refractive power (degree) in air and water. However, since the lens is immersed in water, the measurement becomes complicated. Since the difference in refractive index of the lens becomes smaller and the apparent number of lenses becomes weaker than in air, the measurement sensitivity of the lens meter must be increased.

【0005】さらに、別の方法として光の干渉を用いて
レンズの実際の厚みと光路長の差から屈折率を求める方
法も考えられているが、複雑で、専用の光学系が必要と
なるものであった。
Further, as another method, a method of obtaining the refractive index from the difference between the actual thickness of the lens and the optical path length by using light interference has been considered, but it is complicated and requires a dedicated optical system. Met.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従って、簡単な構成で
レンズの屈折率を求めることが望まれている。
Therefore, it is desired to determine the refractive index of a lens with a simple configuration.

【0007】また、例えば眼鏡店では、片側の眼鏡レン
ズを破損した客が来店して、この客から眼鏡の修理を依
頼された場合、左右の度数が同程度であればほぼ同じ屈
折率の材料で処方することが望ましい。
In a spectacle shop, for example, when a customer who has damaged one of the spectacle lenses visits the store and requests the customer to repair the spectacles, a material having substantially the same refractive index if the left and right powers are approximately the same. It is desirable to prescribe with.

【0008】しかし、客の持ち込んだ眼鏡レンズの屈折
率は不明であることが多い。レンズにメーカ名や種類が
隠しマークとしてレンズ表面に刻印されている場合もあ
るが、レンズ表面にコートが付けられていたり、傷が多
かったりすると、メーカ名や種類を隠しマークから特定
することが困難である場合が多い。
However, the refractive index of a spectacle lens brought by a customer is often unknown. In some cases, the manufacturer's name or type is engraved on the lens surface as a hidden mark, but if the lens surface is coated or has many scratches, the manufacturer's name or type can be identified from the hidden mark. Often difficult.

【0009】しかも、一般に、レンズでは、同じ度数の
ものでも屈折率によってレンズの中心厚が異なることが
知られている。即ち、高屈折率の材料で作られた眼鏡レ
ンズは同じ度数のものであっても中心厚が薄い。
In addition, it is generally known that the center thickness of a lens differs depending on the refractive index even if the lens has the same power. That is, a spectacle lens made of a material having a high refractive index has a small center thickness even if it has the same power.

【0010】これらの結果、単純にレンズの屈折度数を
測定して、同じ屈折度数のレンズを用いて眼鏡を修理し
ても、眼鏡の左右のレンズの中心厚が異なることも考え
られ、好ましくない。
As a result, even if the refractive power of the lens is simply measured and the eyeglasses are repaired using a lens having the same refractive power, the center thickness of the left and right lenses of the eyeglasses may be different, which is not preferable. .

【0011】尚、熟練者であれば、レンズの度数と、中
心厚から屈折率を概略推定することも可能である。
Incidentally, a skilled person can roughly estimate the refractive index from the lens power and the center thickness.

【0012】しかし、経験の浅い人の場合は、レンズの
度数とレンズの中心厚からレンズメーカのカタログと比
較して屈折率を得なければならず、手間がかかるもので
ある。しかも、従来は、レンズメータが中心厚を測定す
る機構を有していないため、レンズの中心厚を測定する
のにノギス等の器具を用いなければならず、手間がかか
るものであった。
However, in the case of an inexperienced person, it is necessary to obtain a refractive index from the lens power and the center thickness of the lens as compared with a catalog of a lens maker, which is troublesome. Moreover, conventionally, since the lens meter does not have a mechanism for measuring the center thickness, it has been necessary to use an instrument such as a caliper to measure the center thickness of the lens, which is troublesome.

【0013】そこで、この発明は、ノギス等の器具を用
いずに既存の構成を利用してレンズの中心厚を測定でき
ると共に、この中心厚からレンズの屈折率を求めること
ができるレンズメータを提供することを目的とするもの
である。
Accordingly, the present invention provides a lens meter that can measure the center thickness of a lens using an existing configuration without using instruments such as calipers, and can determine the refractive index of the lens from the center thickness. It is intended to do so.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、請求項1の発明は、被検レンズを透過する測定光束
を受光手段に投影して、受光手段からの出力信号を基に
前記被検レンズの光学特性を求める演算手段を有するレ
ンズメータにおいて、前記被検レンズの寸法を測定して
寸法データを出力する測定手段を備えると共に、前記演
算手段は前記寸法データと前記光学特性から前記被検レ
ンズの屈折率を求める様に設定されているレンズメータ
としたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a measuring light beam transmitted through a lens to be inspected is projected on a light receiving means, and the measuring light flux is projected on the basis of an output signal from the light receiving means. In a lens meter having arithmetic means for calculating optical characteristics of a lens to be measured, the lens meter includes a measuring means for measuring dimensions of the lens to be measured and outputting dimensional data, and the arithmetic means is configured to calculate the optical characteristics from the dimensional data and the optical characteristics. The lens meter is set so as to obtain the refractive index of the test lens.

【0015】請求項2の発明は、前記測定手段は、上下
動して前記被検レンズの上面に当接させられる少なくと
も3本の移動部材と、前記移動部材の移動位置を検出す
る検出手段とを備え、前記演算手段は、前記検出手段か
らの検出信号を基に前記被検レンズの屈折面の面形状デ
ータを前記寸法データとして求める様に設定されている
ことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, the measuring means includes at least three moving members which are moved up and down to contact the upper surface of the lens to be inspected, and detecting means for detecting a moving position of the moving member. Wherein the calculation means is set so as to obtain surface shape data of the refraction surface of the lens to be measured as the dimension data based on a detection signal from the detection means.

【0016】請求項3の発明は、前記移動部材は前記被
検レンズの軸方向指示用の印点をする印点針であること
を特徴とする。
The invention according to a third aspect is characterized in that the moving member is a marking needle for marking the axial direction of the lens to be inspected.

【0017】請求項4の発明は、前記検出手段は、前記
移動部材の上端部に設けられた反射面と、前記反射面に
測定光束を投影する測定光投影手段と、前記測定光束の
前記反射面で反射する反射光を受光する一次元又は二次
元の受光センサを備えることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, the detecting means includes: a reflecting surface provided at an upper end of the moving member; a measuring light projecting means for projecting a measuring light beam on the reflecting surface; A one-dimensional or two-dimensional light-receiving sensor that receives light reflected by the surface is provided.

【0018】請求項5の発明は、移動部材の位置を検出
する受光センサは前記被検レンズの光学特性を測定する
受光センサと共通であることを特徴とする。
The invention according to claim 5 is characterized in that the light receiving sensor for detecting the position of the moving member is common to the light receiving sensor for measuring the optical characteristics of the lens to be inspected.

【0019】請求項6の発明は、前記演算手段は、前記
受光手段から得られた光学特性のうちの屈折度数と、前
記面形状データから被検レンズの屈折率及び材質を求め
ることを特徴とする。
The invention according to claim 6 is characterized in that the calculating means obtains the refractive index and the material of the lens to be inspected from the refractive power of the optical characteristics obtained from the light receiving means and the surface shape data. I do.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施例を図面に
基づいて説明する。 (1)第1実施例 <構成>図5において、1はレンズメータの本体、2は
本体1の前側下端部に設けられたキーボード、3,4は
キーボード2の左端部に設けられたスイッチ、5はキー
ボード2の中央部に設けられた複数のメンブレンスイッ
チ、6はキーボード2の右端部に設けられたテンキーで
ある。そして、スイッチ3,4、複数のメンブレンスイ
ッチ5、テンキー6等の機能の説明は省略したが、光学
特性の測定時にはスイッチ3,4、複数のメンブレンス
イッチ5、テンキー6等が用いられる。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (1) First Embodiment <Structure> In FIG. 5, 1 is a main body of a lens meter, 2 is a keyboard provided at a lower front end of the main body 1, 3 and 4 are switches provided at a left end of the keyboard 2, Reference numeral 5 denotes a plurality of membrane switches provided at the center of the keyboard 2, and reference numeral 6 denotes a numeric keypad provided at the right end of the keyboard 2. The description of the functions of the switches 3 and 4, the plurality of membrane switches 5, the numeric keypad 6, and the like is omitted, but the switches 3 and 4, the plurality of membrane switches 5, the numeric keypad 6, and the like are used when measuring the optical characteristics.

【0021】また、本体1の上端部にはCRT又は液晶
ディスプレイ等の表示装置7が表示手段として設けら
れ、本体1の側部にはプリンタ8が設けられ、本体1の
前側面には上光学部品収納部9及び下光学部品収納部1
0が上下に間隔をおいて突設されている。この光学部品
下収納部10の上端にはレンズ受テーブル11が一体に
設けられている。このテーブル11上には筒状のレンズ
受12が装着されている。
A display device 7 such as a CRT or a liquid crystal display is provided on the upper end of the main body 1 as a display means, a printer 8 is provided on a side of the main body 1, and an upper optical device is provided on a front side surface of the main body 1. Component storage unit 9 and lower optical component storage unit 1
0 are protrudingly provided at intervals above and below. A lens receiving table 11 is integrally provided at an upper end of the optical component lower storage section 10. On this table 11, a cylindrical lens receiver 12 is mounted.

【0022】この上光学部品収納部9及び下光学部品収
納部10には、これらに跨る測定光学系(図1参照)が
設けられている。この測定光学系は、上光学部品収納部
9内に配設された受光光学系9aと、下光学部品収納部
10内に配設された照明光学系10aを有する。
The upper optical component storage section 9 and the lower optical component storage section 10 are provided with a measuring optical system (see FIG. 1) extending over them. The measuring optical system has a light receiving optical system 9a provided in the upper optical component storage unit 9 and an illumination optical system 10a provided in the lower optical component storage unit 10.

【0023】この照明光学系10aは、光源としてのL
ED(発光ダイオード)13,ピンホール14,レンズ
15,スリット等のパターン板16,反射ミラー17,
レンズ18等を、この順に有する。また、受光光学系9
aは、コリメータレンズ19,反射ミラー20,一対の
平行な一次元のラインセンサ(ラインCCD)21,2
2を受光手段(受光センサ)として有する。尚、本実施
例では、一対の平行なラインセンサ21,22を受光手
段として有するが、このラインセンサ21,22に代え
て二次元のエリアCCD(エリアセンサ)を受光手段
(受光センサ)とすることもできる。
This illumination optical system 10a has an L
ED (light emitting diode) 13, pinhole 14, lens 15, pattern plate 16 such as slit, reflection mirror 17,
The lens 18 and the like are provided in this order. Also, the light receiving optical system 9
a denotes a collimator lens 19, a reflection mirror 20, a pair of parallel one-dimensional line sensors (line CCDs) 21 and
2 as light receiving means (light receiving sensor). In this embodiment, a pair of parallel line sensors 21 and 22 are provided as light receiving means. Instead of the line sensors 21 and 22, a two-dimensional area CCD (area sensor) is used as a light receiving means (light receiving sensor). You can also.

【0024】このラインセンサ21,22からの出力信
号は、演算制御回路(演算手段)23に入力される。こ
の演算制御回路23は、LEDを発光制御すると共に、
一次元のラインセンサ21,22からの出力信号を基に
被検レンズLのS(球面度数),C(円柱度数),A
(円柱軸角度),P(プリズム量)等の屈折特性(光学
特性)を表示装置7の画面7aに表示するようになって
いる。
The output signals from the line sensors 21 and 22 are input to a calculation control circuit (calculation means) 23. The arithmetic control circuit 23 controls the light emission of the LED,
Based on the output signals from the one-dimensional line sensors 21 and 22, S (spherical power), C (cylindrical power), A
Refraction characteristics (optical characteristics) such as (cylindrical axis angle) and P (prism amount) are displayed on the screen 7 a of the display device 7.

【0025】また、本体1の正面には、光学部品収納部
9,10間に位置させて、レンズ抑え装置(レンズ抑え
機構)24がレンズ抑え手段として設けられていると共
に、印点装置(印点機構)25が印点手段(軸打装置)
として設けられている。この印点装置25は、図6,図
7に示した様に、被検レンズの屈折面の寸法としての曲
率(面形状データ)を寸法データとして測定する形状測
定手段、及び、被検レンズの厚さ(寸法)を寸法データ
として測定する厚さ測定手段を兼用している。尚、レン
ズ抑え装置24には、周知の構造が採用されているの
で、その詳細な説明は省略する。
A lens holding device (lens holding mechanism) 24 is provided on the front of the main body 1 between the optical component housings 9 and 10 as lens holding means, and a marking device (marking device). Point mechanism) 25 is a marking means (shafting device)
It is provided as. As shown in FIGS. 6 and 7, the marking device 25 includes a shape measuring means for measuring a curvature (surface shape data) as a dimension of a refraction surface of the lens to be measured as dimension data, and a shape measuring device for the lens to be measured. It also serves as a thickness measuring means for measuring thickness (dimension) as dimension data. Since a well-known structure is employed for the lens holding device 24, a detailed description thereof will be omitted.

【0026】印点装置25は、図6〜図8に示した様
に、上下に延びる支持軸26,26を有する。この支持
軸26,26は、上部が本体1の正面に図示しない位置
で上下動可能に保持されていると共に、図示しないバネ
手段で上方の所定位置に付勢されている。この支持軸2
6,26の上下の位置は、支持軸26,26に連動する
ポテンショメータ26aで検出できるようになってい
る。
The marking device 25 has vertically extending support shafts 26, 26 as shown in FIGS. The support shafts 26, 26 are vertically movably held at a position (not shown) at the front of the main body 1, and are urged to a predetermined upper position by a spring means (not shown). This support shaft 2
The upper and lower positions of 6, 6 can be detected by a potentiometer 26a linked to the support shafts 26, 26.

【0027】また、印点装置25は、支持軸26,26
の下端部に固定されたブラケット27と、この左右に延
び且つブラケット27軸線回りに回動自在に保持された
回動軸28と、回動軸28の一端部に固定された板状の
操作レバー29と、回動軸28に左右に所定間隔をおい
て固定された3つの筺体30を有する。
The marking device 25 includes support shafts 26, 26.
A bracket 27 fixed to the lower end of the bracket 27, a rotating shaft 28 extending to the left and right and rotatably held around the axis of the bracket 27, and a plate-shaped operating lever fixed to one end of the rotating shaft 28 29, and three housings 30 fixed to the rotating shaft 28 on the left and right at predetermined intervals.

【0028】この筺体30は図8に示した様に操作レバ
ー29の板面と平行な方向に延びる支持壁30a,30
bを有する。しかも、印点装置25は、操作レバー29
の板面と直交する方向に延びる検出軸31を有する。こ
の検出軸31は支持壁30a,30bを貫通して筺体3
0の外部に突出している。
As shown in FIG. 8, the housing 30 has support walls 30a and 30 extending in a direction parallel to the plate surface of the operation lever 29.
b. In addition, the marking device 25 is
Has a detection shaft 31 extending in a direction orthogonal to the plate surface of the detection shaft. The detection shaft 31 penetrates through the support walls 30a and 30b and
0 protrudes outside.

【0029】また、検出軸31の筺体30内の部分に
は、図8中上下に間隔をおいてバネ受用のフランジ31
a及び移動規制用のフランジ31bが形成されていると
共に、フランジ31a,31b間に位置させてラック3
1cが形成されている。そして、支持壁30aとフラン
ジ31aとの間にはコイルスプリング32が介装されて
いて、このコイルスプリング32によりフランジ31b
が支持壁30bに当接させられている。
The detection shaft 31 has a flange 31 for receiving the spring, which is vertically spaced in FIG.
a and a flange 31b for movement restriction, and the rack 3 is located between the flanges 31a and 31b.
1c is formed. A coil spring 32 is interposed between the support wall 30a and the flange 31a.
Are in contact with the support wall 30b.

【0030】更に、印点装置25は、筺体30に取り付
けたポテンショメータ(検出手段)33と、ポテンショ
メータ33の出力軸に固定され且つラック31cに噛合
するピニオン34と、検出軸(移動部材)31のフラン
ジ31b側の外端に一体に設けられたアーム35と、ア
ーム35の先端部に取り付けられた保持部36と、保持
部36に取り付けられた印点ピン(移動部材としての印
点針)37と、本体1の正面に図5の様に取り付けられ
たインク供給装置38(図6参照)を有する。このポテ
ンショメータ33からの出力信号は演算制御回路23に
入力される様になっている。尚、操作レバー29とアー
ム35は平行に設けられ、検出軸31と印点ピン37は
平行に設けられ、これら操作レバー29,アーム35,
印点ピン37はクランク状に設けられている。
Further, the marking device 25 includes a potentiometer (detecting means) 33 attached to the housing 30, a pinion 34 fixed to the output shaft of the potentiometer 33 and meshing with the rack 31c, and a detecting shaft (moving member) 31. An arm 35 integrally provided at the outer end on the side of the flange 31b, a holding portion 36 attached to the tip of the arm 35, and a marking pin (a marking needle as a moving member) 37 attached to the holding portion 36. And an ink supply device 38 (see FIG. 6) attached to the front of the main body 1 as shown in FIG. The output signal from the potentiometer 33 is input to the arithmetic and control circuit 23. The operation lever 29 and the arm 35 are provided in parallel, and the detection shaft 31 and the marking pin 37 are provided in parallel.
The marking pin 37 is provided in a crank shape.

【0031】インク供給装置38は、図9,図10に示
した様に、有底で浅い方形状の容器本体39と、容器本
体39内に配設され且つインクを染み込ませたスポン
ジ,多孔質部材等のインク保持体40と、容器本体39
の正面側の開口を覆う蓋体41と、蓋体41の正面に配
設されたスライド板42と、蓋体41に取り付けられて
スライド板42を蓋体41に左右にスライド可能に保持
している保持板43を有する。
As shown in FIGS. 9 and 10, the ink supply device 38 includes a container body 39 having a bottom and a shallow rectangular shape, a sponge disposed in the container body 39 and impregnated with ink, and a porous material. An ink holder 40 such as a member, and a container body 39
A cover 41 that covers the opening on the front side of the cover 41, a slide plate 42 disposed in front of the cover 41, and a slide plate 42 attached to the cover 41 so that the slide plate 42 is slidably held on the cover 41 left and right. Holding plate 43.

【0032】この蓋体41には左右に等間隔をおいて3
つの窓孔41a,41b,41cが形成され、保持板4
3には窓孔41a,41b,41cに対応する窓孔43
a,43b,43cが形成されている。また、スライド
板42には窓孔41a,41b,41cと同じ間隔の窓
孔42a,42b,42cが形成されている。この窓孔
42a,42b,42cは、スライド板42が図9の如
く左側に移動させられた状態では、窓孔41a,41
b,41cに夫々一致させられると共に、窓孔43a,
43b,43cにそれぞれ一致させられるようになって
いる。また、スライド板42が図10の如く右側に移動
させられた状態では、スライド板42が窓孔41a,4
1b,41cがを覆うようになっている。 <作用>次に、この様な構成のレンズメータの作用を説
明する。
The lid 41 is provided at equal intervals on the left and right
Window holes 41a, 41b, 41c are formed, and the holding plate 4
3 is a window hole 43 corresponding to the window holes 41a, 41b, 41c.
a, 43b and 43c are formed. Further, window holes 42a, 42b, 42c are formed in the slide plate 42 at the same intervals as the window holes 41a, 41b, 41c. When the slide plate 42 is moved to the left as shown in FIG.
b, 41c, respectively, and the window holes 43a,
43b, 43c. When the slide plate 42 is moved to the right as shown in FIG.
1b and 41c cover. <Operation> Next, the operation of the lens meter having such a configuration will be described.

【0033】被検レンズLの屈折特性(光学特性)測定
後の印点時には、スライド板42を図9の如く左側に移
動させて、窓孔42a,42b,42cを窓孔41a,
41b,41cに夫々一致させると共に窓孔43a,4
3b,43cにそれぞれ一致させる。この状態では、3
つの印点ピン37の先端をインク保持体40に接触させ
ることができる。従って、3つの印点ピン37の先端に
インク保持体40からのインクを付着させて、被検レン
ズLに従来と同様に印点を行うことができる。
At the time of the mark after the measurement of the refraction characteristics (optical characteristics) of the lens L to be inspected, the slide plate 42 is moved to the left as shown in FIG. 9 so that the window holes 42a, 42b and 42c are moved to the window holes 41a and 41a.
41b, 41c and window holes 43a, 4c respectively.
3b and 43c. In this state, 3
The tips of the two marking pins 37 can be brought into contact with the ink holding member 40. Therefore, by applying the ink from the ink holder 40 to the tips of the three marking pins 37, the marking can be performed on the lens L in the same manner as in the related art.

【0034】また、通常は、図10の如くスライド板4
1を右側に移動させて、窓孔41a,41b,41cを
スライド板41で覆っておいて、印点ピン37の先端が
インク保持体40に接触しないようにしておく。従っ
て、この状態では印点ピン37の先端にインクが付いて
いない状態となっている。この状態で、被検レンズLの
前側屈折面Lf及び後側屈折面Lbのカーブの測定を以下
の様にして行う。 i.前側屈折面Lfの形状(カーブすなわち曲率)測定 被検レンズLを図1の如く前側屈折面Lfを上にしてレ
ンズ受12上に載置して、被検レンズLの光学中心を測
定光学系の光軸に合わせると共に、被検レンズLに円柱
軸がある場合には円柱軸を左右方向に向けてX軸に合わ
せる。この状態で、レンズ抑え装置25により被検レン
ズLをレンズ受12上に抑えさせる。
Normally, as shown in FIG.
1 is moved to the right to cover the window holes 41a, 41b and 41c with the slide plate 41 so that the tip of the marking pin 37 does not contact the ink holding member 40. Therefore, in this state, the tip of the marking pin 37 is not inked. In this state, the curves of the front refracting surface Lf and the rear refracting surface Lb of the test lens L are measured as follows. i. Measurement of Shape (Curve, Curvature) of Front Refraction Surface Lf The test lens L is placed on the lens receiver 12 with the front refraction surface Lf facing up as shown in FIG. 1, and the optical center of the test lens L is measured. In addition to aligning with the optical axis of the optical system, when the lens L to be inspected has a cylindrical axis, the cylindrical axis is aligned with the X axis in the left-right direction. In this state, the lens L to be inspected is held on the lens receiver 12 by the lens holding device 25.

【0035】次に、操作レバー29を図6の状態から図
7の様に水平に倒して、印点ピン37を上下に向けた
後、支持軸26を下方に付勢する図示しないバネ(スプ
リング)のバネ力に抗して操作レバー29を下方に押圧
変位させる。これに伴い、支持軸26に連動するポテン
ショメータ26aからの出力信号が演算制御回路23に
入力される。
Next, the operating lever 29 is tilted horizontally from the state shown in FIG. 6 as shown in FIG. 7, the marking pin 37 is turned up and down, and a spring (not shown) for urging the support shaft 26 downward is shown. The operating lever 29 is pressed and displaced downward against the spring force of (2). Accordingly, an output signal from the potentiometer 26a linked to the support shaft 26 is input to the arithmetic and control circuit 23.

【0036】そして、更に操作レバー29を下方に押圧
変位させて、3つの印点ピン37,37,37を被検レ
ンズLの前側屈折面Lfに当接させる。この際、各3つ
の筺体30,30,30はスプリング32のバネ力に抗
して下方に変位させられ、各筺体30のポテンショメー
タ33からの検出信号が演算制御回路23に面形状デー
タ及び厚さデータ等の寸法データとして入力される。
Then, the operating lever 29 is further depressed and displaced downward to bring the three marking pins 37, 37, 37 into contact with the front refracting surface Lf of the lens L to be measured. At this time, each of the three housings 30, 30, 30 is displaced downward against the spring force of the spring 32, and the detection signal from the potentiometer 33 of each housing 30 is transmitted to the arithmetic control circuit 23 by the surface shape data and the thickness. It is input as dimensional data such as data.

【0037】この演算制御回路23は、ポテンショメー
タ26a及び3つのポテンショメータ33からの出力信
号を受けると、これらの出力信号から3つの印点ピン3
7,37,37の先端の高さを演算により求め、RAM
12に記憶させる。演算制御回路23は、3つの印点ピ
ン37,37,37の高さと間隔から被検レンズLの前
側屈折面Lfのカーブ及びカーブの高さ方向の位置を求
めて、RAM12に記憶させる。 ii.後側屈折面Lbの形状(カーブ)測定 一方、被検レンズLを図2の如く後側屈折面Lbを上に
してレンズ受12上に載置して、被検レンズLの光学中
心を測定光学系の光軸に合わせると共に、被検レンズL
に円柱軸がある場合には円柱軸を左右方向に向けてX軸
に合わせる。この状態で、レンズ抑え装置25により被
検レンズLをレンズ受12上に抑えさせる。
The arithmetic control circuit 23 receives the output signals from the potentiometer 26a and the three potentiometers 33,
The height of the tip of 7, 37, 37 is obtained by calculation, and RAM
12 is stored. The arithmetic control circuit 23 obtains the curve of the front refraction surface Lf of the lens L to be inspected and the position of the curve in the height direction from the heights and the intervals of the three marking pins 37, 37, and 37 and stores them in the RAM 12. ii. Measurement of Shape (Curve) of Rear Refraction Surface Lb On the other hand, the test lens L is placed on the lens receiver 12 with the rear refraction surface Lb facing up as shown in FIG. To the optical axis of the measurement optical system,
When there is a cylindrical axis, the cylindrical axis is oriented in the left-right direction and aligned with the X axis. In this state, the lens L to be inspected is held on the lens receiver 12 by the lens holding device 25.

【0038】次に、上述と同様に操作レバー29を図6
の状態から図7の様に水平に倒して、印点ピン37を上
下に向けた後、支持軸26を下方に付勢する図示しない
バネ(スプリング)のバネ力に抗して操作レバー29を
下方に押圧変位させる。これに伴い、支持軸26に連動
するポテンショメータ26aからの出力信号が演算制御
回路23に入力される。
Next, the operating lever 29 is moved to the position shown in FIG.
7, the operating lever 29 is turned horizontally against the spring force of a spring (not shown) for urging the support shaft 26 downward after the marking pin 37 is turned up and down as shown in FIG. It is pressed and displaced downward. Accordingly, an output signal from the potentiometer 26a linked to the support shaft 26 is input to the arithmetic and control circuit 23.

【0039】そして、更に操作レバー29を下方に押圧
変位させて、3つの印点ピン37,37,37を被検レ
ンズLの後側屈折面Lbに当接させる。この際、各3つ
の筺体30,30,30はスプリング32のバネ力に抗
して下方に変位させられ、各筺体30のポテンショメー
タ33からの検出信号が演算制御回路23に面形状デー
タ及び厚さデータ等の寸法データとして入力される。
Then, the operation lever 29 is further depressed and displaced downward to bring the three marking pins 37, 37, 37 into contact with the rear refracting surface Lb of the lens L to be measured. At this time, each of the three housings 30, 30, 30 is displaced downward against the spring force of the spring 32, and the detection signal from the potentiometer 33 of each housing 30 is transmitted to the arithmetic control circuit 23 by the surface shape data and the thickness. It is input as dimensional data such as data.

【0040】この演算制御回路23は、ポテンショメー
タ26a及び3つのポテンショメータ33からの出力信
号を受けると、これらの出力信号から3つの印点ピン3
7の先端の高さを演算により求め、RAM12に記憶さ
せる。演算制御回路23は、3つの印点ピン37,3
7,37の高さと間隔から被検レンズLの後側屈折面L
bのカーブ及びカーブの高さ方向の位置を求めて、RA
M12に記憶させる。 iii.レンズの中心厚さの算出 演算制御回路23は、上述の様に被検レンズLの前側屈
折面Lfと後側屈折面Lbのカーブ及びカーブの高さ方向
の位置のデータを求めると、これらのデータから被検レ
ンズLの半径方向における各位置の厚さを求めてRAM
12に記憶させる。この各位置の厚さには被検レンズL
の中心厚も含まれる。iv.光学特性測定次に、LED1
3を発光させて、LED13からの測定光束をピンホー
ル14,レンズ15,パターン板16のリング穴16
a,反射ミラー17,レンズ18を介して被検レンズL
に入射させる。これにより、パターン板16のリング穴
16aを透過した円形の測定光束が被検レンズLを透過
する。この被検レンズLを透過した測定光束は、コリメ
ータレンズ19,反射ミラー20を介して一対の平行な
ラインセンサ21,22に図3,図4の如く部分的に投
影される。このラインセンサ21,22からの出力(出
力信号)は演算制御回路23に入力されることになる。
When the arithmetic control circuit 23 receives output signals from the potentiometer 26a and the three potentiometers 33, the three control pins 3
The height of the tip of 7 is calculated by calculation and stored in the RAM 12. The arithmetic control circuit 23 has three marking pins 37, 3
The rear refracting surface L of the test lens L is determined from the height and the distance
Find the curve b and the position of the curve in the height direction and calculate RA
It is stored in M12. iii. Calculation of lens center thickness When the arithmetic control circuit 23 obtains the data of the curve of the front refraction surface Lf and the rear refraction surface Lb of the lens L to be measured and the position of the curve in the height direction as described above, From these data, the thickness of each position in the radial direction of the test lens L is obtained,
12 is stored. The thickness of each position corresponds to the lens L to be inspected.
Center thickness is also included. iv. Optical property measurement Next, LED1
3 to emit light, and the measurement light flux from the LED 13 is transmitted to the pinhole 14, the lens 15, and the ring hole 16 of the pattern plate 16.
a, the lens L to be inspected via the reflection mirror 17 and the lens 18
Incident on Thus, the circular measurement light beam transmitted through the ring hole 16a of the pattern plate 16 transmits through the lens L to be measured. The measurement light beam transmitted through the test lens L is partially projected onto a pair of parallel line sensors 21 and 22 via a collimator lens 19 and a reflection mirror 20, as shown in FIGS. Outputs (output signals) from the line sensors 21 and 22 are input to the arithmetic and control circuit 23.

【0041】この測定において、演算制御回路23は、
表示装置7の画面7aに測定光学系の光軸を示す十字線
が表示させると共に、ラインセンサ21,22の出力か
ら得られるプリズム量から被検レンズLの光軸を画面7
aに表示させる。従って、画面7aを見ながら被検レン
ズLを移動させて、被検レンズLの光軸を十字線の交点
(測定光学系の測定光軸)に一致させ、この一致点にお
ける屈折度数を測定する。
In this measurement, the arithmetic control circuit 23
A cross line indicating the optical axis of the measurement optical system is displayed on the screen 7a of the display device 7, and the optical axis of the lens L to be measured is displayed on the screen 7 based on the amount of prism obtained from the outputs of the line sensors 21 and 22.
a. Therefore, the test lens L is moved while looking at the screen 7a so that the optical axis of the test lens L coincides with the intersection of the crosshairs (the measurement optical axis of the measurement optical system), and the refractive power at this coincidence point is measured. .

【0042】尚、被検レンズLがレンズ受12上に載置
されていない場合、即ち被検レンズLが測定光路途中に
配設されていない場合、或は、被検レンズLに円柱軸が
ない場合には、図3に示した様に円形パターン16a´
の一部がラインセンサ21,22上に投影される。ま
た、被検レンズLに円柱軸がある場合には、図4に示し
た様に楕円形状パターン16a´´の一部がラインセン
サ21,22上に投影される。 v.被検レンズLの屈折率 ここで、レンズの頂点屈折率をS、レンズ表面(前側屈
折面Lf)の曲率をr1,レンズ裏面(後側屈折面Lb)
の曲率をr2、レンズの中心厚さをd、レンズの屈折率
をnとすると、頂点屈折率Sが既知であれば被検レンズ
Lの屈折率nを次の式から求めることができる。
Incidentally, when the test lens L is not mounted on the lens receiver 12, that is, when the test lens L is not disposed in the middle of the measuring optical path, or when the test lens L has a cylindrical axis. Otherwise, as shown in FIG. 3, the circular pattern 16a '
Are projected onto the line sensors 21 and 22. When the test lens L has a cylindrical axis, a part of the elliptical pattern 16a '' is projected onto the line sensors 21 and 22 as shown in FIG. v. Refractive index of the lens L to be inspected Here, the vertex refractive index of the lens is S, the curvature of the lens surface (front refractive surface Lf) is r1, and the lens back surface (rear refractive surface Lb).
Let r2 be the curvature of the lens, d be the center thickness of the lens, and n be the refractive index of the lens. If the apex refractive index S is known, the refractive index n of the test lens L can be obtained from the following equation.

【0043】 ここで、レンズの頂点屈折率Sは、レンズメーターの基
本機能として求めることができる。
[0043] Here, the vertex refractive index S of the lens can be obtained as a basic function of the lens meter.

【0044】従って、上述したように、i.で求めた被検
レンズLの前側屈折面Lfのカーブ(曲率r1)、ii.で
求めた被検レンズLの後側屈折面Lbのカーブ(曲率r
2)、iii.で求めた被検レンズLの中心厚d及びレンズ
の頂点屈折率Sから被検レンズLの屈折率nを求めるこ
とができる。しかも、この被検レンズの厚さや屈折率を
求めることで、被検レンズの材質等を求めることもでき
る。ところで、顧客が眼鏡(メガネ)における左右の眼
鏡レンズの一方を破損した場合等において、この破損し
た眼鏡レンズを新たなものにしたい場合に、破損してい
ない他方の眼鏡レンズの屈折率(屈折特性)の程度が被
検レンズLの厚さとの関係から大まかに求めることがで
きれば、即ち被検レンズLの屈折の程度が高屈折率、中
屈折率、低屈折率のいずれであるかを求めることができ
ればよい。従って、上述の様に印点ピン(印点針)37
を用いて求めた被検レンズLの屈折率nは、必ずしも高
精度で求めることができないが、被検レンズLの屈折の
程度が高屈折率、中屈折率、低屈折率のいずれであるか
が簡易に判定できるので、レンズのメーカーや材質と屈
折率や厚さ等の関係レンズデータを予めコンピュータの
記録手段に記録しておいて、測定により求めた被検レン
ズLの屈折の程度が記録手段に記録したレンズデータの
いずれに近いかをコンピュータにより比較させて検出す
ることにより、破損していない方の眼鏡レンズの材質や
メーカ等を知ることができ、この結果から破損していな
い方の眼鏡レンズの材質と同じか略同じ材質のレンズを
用いて破損した側のレンズ枠の眼鏡レンズを作ることが
できる。
Accordingly, as described above, the curve (curvature r1) of the front refraction surface Lf of the lens L to be measured obtained in i., And the curve (curvature) of the rear refraction surface Lb of the lens L to be measured obtained in ii. r
2), the refractive index n of the test lens L can be obtained from the center thickness d of the test lens L and the vertex refractive index S of the lens obtained in iii. In addition, by obtaining the thickness and the refractive index of the lens to be measured, the material and the like of the lens to be measured can be obtained. By the way, when the customer breaks one of the left and right spectacle lenses in the spectacles (glasses), and wants to replace the damaged spectacle lens with a new one, the refractive index (refractive characteristic of the other undamaged spectacle lens) is changed. ) Can be roughly determined from the relationship with the thickness of the lens L to be measured, that is, whether the degree of refraction of the lens L to be measured is a high refractive index, a medium refractive index, or a low refractive index. I just want to be able. Therefore, as described above, the marking pin (the marking needle) 37
The refractive index n of the test lens L obtained by using the formula (1) cannot always be obtained with high accuracy. However, the degree of refraction of the test lens L is any of a high refractive index, a medium refractive index, and a low refractive index. Can be easily determined, the relationship between the lens manufacturer and material and the lens data such as the refractive index and thickness are recorded in advance in the recording means of the computer, and the degree of refraction of the test lens L obtained by the measurement is recorded. By comparing and detecting which of the lens data recorded in the means is closer by a computer, it is possible to know the material and manufacturer of the undamaged spectacle lens, and from the result, the undamaged spectacle lens A spectacle lens having a damaged lens frame can be made using a lens having the same or substantially the same material as that of the spectacle lens.

【0045】また、眼鏡の破損していない方の眼鏡レン
ズ(被検レンズ)の屈折特性をレンズメーターで測定す
ることにより、この測定結果から眼鏡レンズが累進レン
ズであることがわかった場合、上述の3つの印点ピン
(印点針)27で測定する眼鏡レンズの屈折面のカーブ
は累進レンズである眼鏡レンズの遠用部において求め
る。即ち、上述の3つの印点ピン(印点針)27で眼鏡
レンズの遠用部を測定して、遠用部における眼鏡レンズ
の屈折面のカーブを求める。
When the refraction characteristics of the spectacle lens (test lens) in which the spectacles are not damaged are measured by a lens meter, and the measurement result indicates that the spectacle lens is a progressive lens, The curve of the refraction surface of the spectacle lens measured by the three marking pins (marking needles) 27 is obtained at the distance portion of the spectacle lens which is a progressive lens. That is, the distance portion of the spectacle lens is measured by the above-described three mark pins (mark point needles) 27, and the curve of the refractive surface of the spectacle lens in the distance portion is obtained.

【0046】この場合、カーブ値はできるだけ累進部に
近い側で測定する。尚、この眼鏡レンズの屈折特性から
累進レンズか否かを求める測定光学系の構成は、一つの
測定光束を用いる構成のものでも、レンズアレイや多数
の絞りを用いて多数の測定光束を用いるものでもよい。
一つの測定光束を用いる構成のものでは、被検レンズを
測定光軸に対して累進部がある位置を予測して前後に移
動させたときに、球面度数(加入度数)の大きな変化が
あれば累進部であることが分かる。また、レンズアレイ
や多数の絞りを用いて多数の測定光束を用いるもので
は、円柱度数の分布や球面度数の分布から遠用部と累進
部を求めることができる。
In this case, the curve value is measured on the side as close to the progressive part as possible. The configuration of the measuring optical system for determining whether or not the lens is a progressive lens from the refraction characteristics of the spectacle lens may be a configuration using a single measurement light beam, or a configuration using a large number of measurement light beams using a lens array or a large number of apertures. May be.
In the configuration using one measurement light beam, when the test lens is moved back and forth by predicting the position where the progressive portion exists with respect to the measurement optical axis, if there is a large change in the spherical power (addition power), It turns out that it is a progressive part. In the case of using a large number of measurement light beams by using a lens array or a large number of apertures, the distance portion and the progressive portion can be obtained from the distribution of the cylindrical power and the distribution of the spherical power.

【0047】更に、上述の3つの印点ピン(印点針)2
7の軸線を結ぶ面がレンズ受12の光軸から本体1の正
面壁とは反対方向に多少オフセットされる様に、3つの
印点ピン(印点針)27を配置することで、眼鏡レンズ
(被検レンズ)が単レンズであるかか累進レンズである
かを気にすることなく、眼鏡レンズの屈折面のカーブを
測定できる。これは、眼鏡レンズが累進レンズである場
合、通常、眼鏡(メガネ)の眼鏡レンズはレンズ枠の幾
何学中心より下側(眼鏡を装用している状態での下側)
にくることになるので、左右上下に延びる板面を有する
当て板を本体1に前後に移動可能に設けると共に、この
当て板に左右動可能な鼻当支持部材を設けて、この鼻当
支持部材に眼鏡の鼻当を支持させて、眼鏡レンズの屈折
特性を測定する場合、眼鏡のレンズ枠は下側(眼鏡を装
用している状態での下側)が当て板に当接する様にして
測定することになる。この結果、この様な鼻当支持部材
を有するレンズメーターでは、レンズ枠の略中央にレン
ズメーターの測定光軸がくるように眼鏡レンズを配置す
ることで、3つの印点ピン(印点針)27がレンズ枠の
幾何学中心より眼鏡のブリッジがある側で眼鏡レンズに
当接することになるので、即ち、累進レンズの場合には
3つの印点ピン(印点針)27が眼鏡レンズの遠用部に
当接することになるので、眼鏡レンズ(被検レンズ)が
単レンズであるかか累進レンズであるかを気にすること
なく、眼鏡レンズの屈折面のカーブを測定できる。 vi.その他 尚、被検レンズLの両面(両屈折面)のカーブ(面形状
データである曲率),カーブの各位置の高さ,厚さ等の
寸法データを求める構成としては、本実施例に限定され
るものではなく、以下に説明するような実施例の構成を
用いることもできる。 (2)第2実施例 図11〜図19は、この発明の第2実施例を示したもの
である。
Further, the above-mentioned three marking pins (marking needles) 2
By arranging the three marking pins (marking needles) 27 such that the surface connecting the axes of 7 is slightly offset from the optical axis of the lens receiver 12 in the direction opposite to the front wall of the main body 1, the eyeglass lens The curve of the refraction surface of the spectacle lens can be measured without regard to whether the (test lens) is a single lens or a progressive lens. This is because, when the spectacle lens is a progressive lens, the spectacle lens of the spectacles (glasses) is usually lower than the geometric center of the lens frame (the lower side when wearing spectacles).
Therefore, a backing plate having a plate surface extending in the left, right, up and down directions is provided on the main body 1 so as to be able to move back and forth, and a left and right movable nose support member is provided on the backing plate. When measuring the refraction characteristics of the spectacle lens by supporting the nose pad of the spectacles, make sure that the lower side of the spectacle lens frame (the lower side with the spectacles on) is in contact with the backing plate Will do. As a result, in a lens meter having such a nose pad supporting member, the eyeglass lens is arranged so that the measurement optical axis of the lens meter is located substantially at the center of the lens frame, and thus three mark pins (mark needles) are provided. Since 27 is in contact with the spectacle lens on the side where the spectacle bridge is located from the geometric center of the lens frame, that is, in the case of a progressive lens, three marking pins (marking needles) 27 are located far from the spectacle lens. Since the lens is in contact with the lens, the curve of the refracting surface of the spectacle lens can be measured without worrying whether the spectacle lens (test lens) is a single lens or a progressive lens. vi. Others The configuration of obtaining the dimensional data such as the curve (curvature that is the surface shape data) on both surfaces (both refracting surfaces) of the lens L to be measured and the height and thickness of each position of the curve is described in this embodiment. However, the present invention is not limited to this, and the configuration of the embodiment as described below can also be used. (2) Second Embodiment FIGS. 11 to 19 show a second embodiment of the present invention.

【0048】本実施例は、第1実施例における印点装置
25のポテンショメータ26aや筺体30内の構造を省
略すると共に、図16,図17に示した様に3つの各保
持部36に印点ピン(移動部材である印点針)37を上
下動可能に保持させている。この保持部36は図18に
示した様に中空に形成されている。
In this embodiment, the structure of the potentiometer 26a and the housing 30 of the marking device 25 in the first embodiment is omitted, and the three holding portions 36 are marked as shown in FIGS. A pin (marking needle as a moving member) 37 is held so as to be vertically movable. The holding portion 36 is formed hollow as shown in FIG.

【0049】印点ピン37は、下部ピン44と上部ピン
45から構成されている。下部ピン44は、保持部36
の下壁36aを貫通し、上端部に抜け止め防止のフラン
ジ44aと雄ネジ部44bが設けられている。
The marking pin 37 is composed of a lower pin 44 and an upper pin 45. The lower pin 44 is
The lower wall 36a is penetrated, and a flange 44a and a male screw portion 44b are provided at the upper end to prevent the cap 44 from falling off.

【0050】また、上部ピン45は大径軸部45aと小
径軸部45bから構成されている。この小径軸部45b
には図18(c)の如く回り止め用の平坦面45cが形成
され、この小径軸部45bは保持部36の上壁36bを
貫通して保持部36内に挿入されている。そして、この
小径軸部45bの下端部には下部ピン44の雄ネジ部4
4bが同軸上で螺着されている。しかも、上壁36bと
フランジ44aとの間にはスプリング46が介装され
て、フランジ44aを下壁36aに当接させている。更
に、上部ピン45の上端部には軸線と45゜の角度の反
射面45dが形成されている。この様な印点ピン37は
左右に等ピッチで3つ設けられている。
The upper pin 45 has a large-diameter shaft portion 45a and a small-diameter shaft portion 45b. This small diameter shaft portion 45b
As shown in FIG. 18C, a flat surface 45c for preventing rotation is formed. The small-diameter shaft portion 45b penetrates the upper wall 36b of the holding portion 36 and is inserted into the holding portion 36. The male screw 4 of the lower pin 44 is provided at the lower end of the small-diameter shaft 45b.
4b is screwed coaxially. In addition, a spring 46 is interposed between the upper wall 36b and the flange 44a to make the flange 44a contact the lower wall 36a. Further, a reflection surface 45d at an angle of 45 ° with respect to the axis is formed at the upper end of the upper pin 45. Three such mark pins 37 are provided on the left and right at an equal pitch.

【0051】上光学系収納部9の下部には、図13の様
に3つの各印点ピン37に対応させた3つのLED46
a,46b,46cが測定光投影手段として図示しない
位置で取り付けられている。この各LED46a,46
b,46cは、演算制御回路23により発光制御され
て、可視光を発光するようになっている。
At the lower part of the upper optical system housing 9, three LEDs 46 corresponding to the three marking pins 37 as shown in FIG.
Reference numerals a, 46b, and 46c are attached at positions (not shown) as measurement light projection means. These LEDs 46a, 46
b and 46c are controlled by the arithmetic and control circuit 23 to emit visible light.

【0052】更に、コリメータレンズ19の直下にパタ
ーン板47が配設されている。このマスクパターン板4
7は、赤外光を透過し且つ可視光を遮断するマスク層4
9を透明基板48に設けたものである。このマスク層4
9には互いに平行なスリット49a,49bが図11,
図12及び図14に示した様に形成されている。このス
リット49a,49bの向きは、これらを透過するスリ
ット光束がラインセンサ21,22上に投影されたと
き、スリットパターン49a´,49b´として図15
の二点鎖線の如くラインセンサ21,22の延びる方向
と直交する様に設定されている。
Further, a pattern plate 47 is provided immediately below the collimator lens 19. This mask pattern plate 4
Reference numeral 7 denotes a mask layer 4 that transmits infrared light and blocks visible light.
9 is provided on a transparent substrate 48. This mask layer 4
9, slits 49a and 49b parallel to each other are provided in FIG.
It is formed as shown in FIGS. The directions of the slits 49a and 49b are defined as slit patterns 49a 'and 49b' when the slit light beams transmitted therethrough are projected on the line sensors 21 and 22.
Is set so as to be orthogonal to the direction in which the line sensors 21 and 22 extend as indicated by the two-dot chain line.

【0053】従って、第1実施例の様に被検レンズLを
レンズ受12上にセットした後に、図16の状態から操
作レバー29を水平に倒して印点ピン37を図17の如
く上下に向けると共に、操作レバー29を下方に移動操
作して3つの印点ピン37を図11又は図12の如く被
検レンズLの前側屈折面Lf又は後側屈折面Lbに当接さ
せる。この際、各印点ピン37がスプリング46のバネ
力に抗して上下動して、各印点ピン37の下端が被検レ
ンズLの屈折面LfまたはLbに夫々当接する。この際
の、各印点ピン37の反射面45dの高さは被検レンズ
Lの屈折面Lf,Lbの曲率(カーブ)に応じて異なる。
Therefore, after setting the lens L to be inspected on the lens receiver 12 as in the first embodiment, the operating lever 29 is tilted horizontally from the state of FIG. 16 and the marking pin 37 is moved up and down as shown in FIG. At the same time, the operation lever 29 is moved downward to bring the three marking pins 37 into contact with the front refracting surface Lf or the rear refracting surface Lb of the test lens L as shown in FIG. 11 or FIG. At this time, each marking pin 37 moves up and down against the spring force of the spring 46, and the lower end of each marking pin 37 contacts the refracting surface Lf or Lb of the lens L to be measured. At this time, the height of the reflecting surface 45d of each mark pin 37 differs depending on the curvature (curve) of the refracting surfaces Lf and Lb of the lens L to be measured.

【0054】この状態でLED46a,46b,46c
を順に発光させて、各印点ピン37の被検レンズLへの
接触点の高さを求める。この求め方は、各印点ピン37
で同様であるので、LED46aとこれに対応する印点
ピン37との関係を説明し、他については省略する。
In this state, the LEDs 46a, 46b, 46c
Are sequentially emitted, and the height of the contact point of each mark pin 37 with the lens L to be measured is determined. The method of obtaining this is as follows.
Therefore, the relationship between the LED 46a and the corresponding marking pin 37 will be described, and the other will be omitted.

【0055】今、LED46aを発光させると、このL
ED46aからの光束はLED46aに対応する印点ピ
ン37の反射面45dに向けて照射される。そして、反
射面47で反射した光束は、スリット49a,49bを
透過してスリット光となった後に、コリメータレンズ1
9,反射ミラー20を介して一対のラインセンサ21,
22の上に図15の二点鎖線の如く投影パターン49a
´,49b´として投影される。図19は、スリット4
9aを透過する光束を模式的に示したものである。
Now, when the LED 46a emits light, this L
The light beam from the ED 46a is emitted toward the reflection surface 45d of the marking pin 37 corresponding to the LED 46a. The luminous flux reflected by the reflection surface 47 passes through the slits 49a and 49b to become slit light, and thereafter, the collimator lens 1
9, a pair of line sensors 21 via a reflection mirror 20,
A projection pattern 49a on the reference numeral 22 as shown by a two-dot chain line in FIG.
, 49b '. FIG.
9 schematically shows a light beam transmitted through 9a.

【0056】このラインセンサ21と投影パターン49
a´,49b´との交点P1,P1´の間隔及びライン
センサ22と投影パターン49a´,49b´との交点
P2,P2´の間隔から、LED46aに対応する印点
ピン37の下端すなわち印点ピン37の被検レンズLへ
の接触点の高さを求めることができる。
The line sensor 21 and the projection pattern 49
From the distance between the intersection points P1 and P1 'with the a' and 49b 'and the distance between the intersection points P2 and P2' with the line sensor 22 and the projection patterns 49a 'and 49b', the lower end of the mark pin 37 corresponding to the LED 46a, that is, the mark point. The height of the contact point of the pin 37 with the test lens L can be determined.

【0057】この様な測定を残りのLED46b,46
cを発光させて、残りの2つの印点ピン37の下端すな
わち印点ピン37の被検レンズLへの接触点の高さを求
めることができる。しかも、この様な測定は、被検レン
ズLの屈折面Lf,Lbに対してそれぞれ行って、被検レ
ンズLの屈折面Lf,Lbの曲率(カーブ)を求めると共
に被検レンズLbの厚さを求める。 (3)第3実施例 第2実施例では、3つの各印点ピン37の各反射面45
dを用いてLED46a,46b,46cからの光束を
パターン板47側にそれぞれ案内しているが、必ずしも
これに限定されるものではない。例えば、第2実施例に
おけるLED46a,46b,46cを省略すると共
に、3つの各印点ピン37の反射面45dを省略して、
図20に示した様に3つの各印点ピン37,37,37
の上端部にLED46a´,46b´,46c´を直接
取り付けた構成としてもよい。
Such measurement is performed for the remaining LEDs 46b and 46b.
By causing c to emit light, the height of the lower end of the remaining two marking pins 37, that is, the height of the contact point of the marking pin 37 with the lens L to be measured can be obtained. In addition, such measurement is performed on each of the refraction surfaces Lf and Lb of the lens L to be measured to determine the curvatures (curves) of the refraction surfaces Lf and Lb of the lens L to be measured and to determine the thickness of the lens Lb to be measured. Ask for. (3) Third Embodiment In the second embodiment, each reflecting surface 45 of each of the three marking pins 37.
The light beams from the LEDs 46a, 46b, 46c are guided to the pattern plate 47 side by using d, however, the invention is not necessarily limited to this. For example, the LEDs 46a, 46b, and 46c in the second embodiment are omitted, and the reflecting surfaces 45d of the three marking pins 37 are omitted.
As shown in FIG. 20, each of the three marking pins 37, 37, 37
The LEDs 46a ', 46b', and 46c 'may be directly attached to the upper end of the.

【0058】この場合にも、3つの印点ピン37の被検
レンズへの接触位置(接触高さ)に応じて、LED46
a´,46b´,46c高さが変わるので、LED46
a´,46b´,46c´の光束が直接パターン板47
側に向けて照射されることになる。この構成以外の構成
及び作用・効果は第2実施例と同じであるので、その説
明は省略する。 (4)第4実施例 図21,図22は、この発明の実施の形態の第4実施例
を示したものである。本実施例では、レンズ受テーブル
11に大径の光案内孔50(光案内部)を設けている。
In this case as well, the LEDs 46 correspond to the contact positions (contact heights) of the three mark pins 37 with the lens to be inspected.
Since the heights of a ', 46b', and 46c change, the LED 46
The light fluxes a ′, 46b ′ and 46c ′ are directly
It will be irradiated towards the side. The configuration, operation, and effects other than this configuration are the same as those of the second embodiment, and thus description thereof will be omitted. (4) Fourth Embodiment FIGS. 21 and 22 show a fourth embodiment of the embodiment of the present invention. In this embodiment, the lens receiving table 11 is provided with a large-diameter light guide hole 50 (light guide portion).

【0059】しかも、本実施例では、図22に示した様
に光案内孔50の左右の部分に沿って略半円形に延びる
円弧状の突部51,51をレンズ受テーブル11にレン
ズ受として設けると共に、突部51,51の一端部間に
位置させて光案内孔50に開放するスリット状の切欠5
2をレンズ受テーブル11に設けている。この切欠52
は本体2の正面に対して直交する方向(前後方向)に延
びている。
Further, in this embodiment, as shown in FIG. 22, arc-shaped projections 51, 51 extending substantially semicircularly along the left and right portions of the light guide hole 50 are used as lens receivers on the lens receiving table 11. A slit-shaped notch 5 that is provided between the one end of the protrusions 51 and 51 and opened to the light guide hole 50.
2 is provided on the lens receiving table 11. This notch 52
Extends in a direction (front-back direction) orthogonal to the front of the main body 2.

【0060】また、このレンズ受テーブル11の下方に
は、光学部品下収納部10内に位置させたレンズ高さ検
出手段(測定手段)53がレンズ位置検出手段(距離特
定手段)として配設されている。このレンズ高さ検出手
段53は、光源54とラインセンサ(受光センサ)55
から構成されている。この光源54(測定光投影手段)
は光学部品下収納部10の前壁10aの内面にブラケッ
ト10bを介して取り付けられ、ラインセンサ55はレ
ンズ受テーブル11の下面に前後方向に向けて取り付け
られている。
Below the lens receiving table 11, a lens height detecting means (measuring means) 53 located in the optical component lower storage section 10 is provided as lens position detecting means (distance specifying means). ing. The lens height detecting means 53 includes a light source 54 and a line sensor (light receiving sensor) 55.
It is composed of This light source 54 (measuring light projection means)
Is mounted on the inner surface of the front wall 10a of the lower optical component storage section 10 via the bracket 10b, and the line sensor 55 is mounted on the lower surface of the lens receiving table 11 in the front-rear direction.

【0061】しかも、この光源54は、光案内孔50を
介して円弧状の突部51,51の略中央に向けて測定光
束54aを投影するようになっている。しかも、突部5
1,51上に載置された被検レンズLの後側屈折面Lb
(下面)で反射した測定光束54aがラインセンサ55
に投影される様になっている。そして、測定光束54a
のラインセンサ55への投影位置によって、レンズ受テ
ーブル11の上面から被検レンズLの後側屈折面Lbの
中央部の高さ(被検レンズLの測定光軸上の位置)が求
められるようになっている。
The light source 54 projects the measurement light beam 54a through the light guide hole 50 toward substantially the center of the arc-shaped projections 51, 51. Moreover, the protrusion 5
The rear refractive surface Lb of the test lens L mounted on the first and the first lens 51.
The measurement light beam 54a reflected by the (lower surface) is
It is projected on. Then, the measurement light beam 54a
From the upper surface of the lens receiving table 11 to the height of the center of the rear refracting surface Lb of the test lens L (the position of the test lens L on the measurement optical axis). It has become.

【0062】尚、図22(a)では、測定光束を投影する
光投影手段を光源54のみとした例を示したが、必ずし
もこれに限定されるものではない。例えば、図22(b)
に示したように、光源54からの測定光束をレンズ55
と反射ミラー56を介して被検レンズLに向けて投影す
る様にした照明光学系Sを光投影手段としてもよい。こ
の実施例では、光学部品下収納部10の前壁10aに反
射ミラー56を固定している。また、レンズ55は図示
を省略した保持手段を介してブラケット10bに取り付
けられている。
FIG. 22 (a) shows an example in which the light projecting means for projecting the measurement light beam is only the light source 54, but the invention is not necessarily limited to this. For example, FIG.
As shown in the figure, the measurement light beam from the light source 54 is
The illumination optical system S configured to project the light toward the test lens L via the reflection mirror 56 may be used as the light projection unit. In this embodiment, a reflection mirror 56 is fixed to the front wall 10a of the optical component lower storage section 10. In addition, the lens 55 is attached to the bracket 10b via holding means (not shown).

【0063】しかも、反射ミラー56は固定している
が、この反射ミラー56をガルバノミラーに代えて、光
源54からの測定光束を操作することにより、レンズ5
5の下面の面形状データ(曲率)及び高さ等の寸法デー
タを求めることができる。 (5)第5実施例 図23(a)は、この発明の実施の形態の第5実施例を示
したものである。図23(a)に示した高さ測定手段60
(距離特定手段)すなわち測定手段は、光学部品下収納
部10内に装着したポテンショメータ(検出手段)61
と、このポテンショメータ61の入力軸61aに基端部
を固定したL字状の測定アーム62を移動部材として有
する。
Moreover, the reflecting mirror 56 is fixed, but the reflecting mirror 56 is replaced with a galvanomirror, and the lens 5 is operated by operating the measuring light beam from the light source 54.
Surface data (curvature) and dimensional data such as height of the lower surface of 5 can be obtained. (5) Fifth Embodiment FIG. 23 (a) shows a fifth embodiment of the embodiment of the present invention. The height measuring means 60 shown in FIG.
(Distance specifying means), ie, the measuring means is a potentiometer (detecting means) 61 mounted in the optical component lower storage section 10.
And an L-shaped measuring arm 62 whose base end is fixed to an input shaft 61a of the potentiometer 61 as a moving member.

【0064】この測定アーム62とレンズ受テーブル1
1との間にはバネ圧の弱いスプリング63が介装されて
いて、このスプリング63は測定アーム62を上方に付
勢している。しかも、測定アーム62の先端部62aは
上方に向けられていて、この先端部62aにはプローブ
64が装着されている。尚、測定アーム62は不使用時
には退避位置(図23(a)中、右方)に図示しないソレ
ノイド等で回動させて退避させるようにする。
The measuring arm 62 and the lens receiving table 1
A spring 63 having a low spring pressure is interposed between the spring 1 and the spring 1 and biases the measuring arm 62 upward. Moreover, the distal end 62a of the measuring arm 62 is directed upward, and a probe 64 is mounted on the distal end 62a. When not in use, the measuring arm 62 is retracted by being rotated by a solenoid (not shown) or the like to a retracted position (right side in FIG. 23A).

【0065】本実施例では、スプリング63のバネ力に
よりプローブ64が被検レンズ40に当接した位置のポ
テンショメータ61からの出力を基に、レンズ受テーブ
ル11の上面から被検レンズLの後側屈折面Lbの中央
部の高さ(被検レンズLの測定光軸上の位置)が求めら
れるようになっている。 (6)第6実施例 図23(b)は、この発明の実施の形態の第6実施例を示
したものである。本実施例では、被検レンズLの後側屈
折面Lbを半径方向にトレースするトレース手段70が
高さ測定手段(距離特定手段)として光学部品下収納部
10内に配設されている。
In this embodiment, based on the output from the potentiometer 61 at the position where the probe 64 abuts on the lens 40 to be inspected by the spring force of the spring 63, the rear side of the lens L from the upper surface of the lens receiving table 11 The height of the center of the refraction surface Lb (the position on the measurement optical axis of the lens L to be measured) is determined. (6) Sixth Example FIG. 23 (b) shows a sixth example of the embodiment of the present invention. In the present embodiment, a tracing means 70 for tracing the rear refraction surface Lb of the lens L to be inspected in the radial direction is provided in the lower optical component storage section 10 as height measuring means (distance specifying means).

【0066】このトレース手段70は、光学部品下収納
部10内に固定したブラケット71と、ブラケット71
上に前後に間隔をおいて互いに平行に植立固定したガイ
ドロッド72,72と、ガイドロッド72,72間に平
行に配設され且つブラケット71に回転自在に保持され
た送りネジ73と、ブラケット71に固定され且つ送り
ネジ73を正逆回転駆動するパルスモータ74と、ガイ
ドロッド72,72に上下動可能に支持され且つ送りネ
ジ73により上下駆動されるスライドベース75を有す
る。
The tracing means 70 includes a bracket 71 fixed in the optical component lower storage section 10 and a bracket 71.
Guide rods 72, 72 fixedly erected parallel to each other at an interval in the front-rear direction, a feed screw 73 disposed in parallel between the guide rods 72, 72 and rotatably held by the bracket 71, It has a pulse motor 74 fixed to 71 and driving the feed screw 73 to rotate forward and reverse, and a slide base 75 supported by the guide rods 72 and 72 so as to be vertically movable and driven up and down by the feed screw 73.

【0067】また、トレース手段70は、スライドベー
ス75に上下に向けて平行に保持されたガイドレール7
6,76と、ガイドレール76,76に上下動可能に保
持されたスライダ(移動部材)77と、スライドベース
75の上端とスライダ77との間に介装されてスライダ
77を上方にバネ付勢しているスプリング78と、スラ
イダ77の上下方向への移動位置を検出するマグネスケ
ール79を検出手段として有する。このマグネスケール
79は、ガイドレール76と平行にスライドベース75
に保持された磁気スケール本体79aと、スライダ77
に保持されて読み取りヘッド79bを有する。この読み
取りヘッド79bは、スライダ77の上下移動量を磁気
スケール本体79aと共働して検出し、検出信号を出力
する。
The tracing means 70 includes a guide rail 7 held in parallel with the slide base 75 vertically.
, 76, a slider (moving member) 77 movably held by the guide rails 76, 76, and a slider 77 that is interposed between the upper end of the slide base 75 and the slider 77 to bias the slider 77 upward. And a magnescale 79 for detecting the vertical movement position of the slider 77. The magnescale 79 is provided on the slide base 75 in parallel with the guide rail 76.
The magnetic scale body 79a held by the
And has a read head 79b. The read head 79b detects the amount of vertical movement of the slider 77 in cooperation with the magnetic scale main body 79a, and outputs a detection signal.

【0068】更に、トレース手段70は、スライダ77
前後に向けて移動自在に保持された測定アーム(移動部
材)80と、測定アーム80に設けられたラック81
と、ラック81に噛合するピニオン82と、ピニオン8
2を駆動するパルスモータ83を有する。このパルスモ
ータ83は、スライダ77に固定されている。また、測
定アーム80は、上方に向けて延びる先端部80aを備
えていて、L字状に形成されている。この先端部80a
にはプローブ84が装着されている。
Further, the tracing means 70 includes a slider 77
A measuring arm (moving member) 80 movably held back and forth, and a rack 81 provided on the measuring arm 80
, A pinion 82 meshing with the rack 81, and a pinion 8
2 for driving the pulse motor 83. The pulse motor 83 is fixed to the slider 77. The measurement arm 80 has an end portion 80a extending upward, and is formed in an L-shape. This tip 80a
Is mounted with a probe 84.

【0069】この様な構成においてスライドベース75
は、パルスモータ74により送りネジ73を回転駆動制
御することにより、使用時に(i)に位置させ、不使用時
に(ii)に位置させる。また、測定アーム80の先端部8
0aすなわちプローブ84は、パルスモータ82の駆動
制御により、使用時の初期に(イ)に位置させ、不使用
時に(ロ)に位置させる。
In such a configuration, the slide base 75
By controlling the rotation of the feed screw 73 by the pulse motor 74, the feed screw 73 is positioned at (i) when used and is positioned at (ii) when not used. Further, the tip 8 of the measuring arm 80
The probe 0a, that is, the probe 84 is positioned at (A) at the beginning of use and at (B) when not in use by the drive control of the pulse motor 82.

【0070】図23(b)は、トレース手段70を使用時
の初期位置に設定した状態を示している。この状態で
は、スプリング78のバネ力によりプローブ84が被検
レンズLの後側屈折面Lbの中央に当接している。この
プローブ84の当接位置は、ブラケット71の上面の位
置(ii)から(i)までの移動量と、プローブ84が被検レ
ンズLの後側屈折面Lbに当接している位置のマグネス
ケール79からの出力から知ることができる。
FIG. 23 (b) shows a state where the tracing means 70 is set at the initial position when used. In this state, the probe 84 is in contact with the center of the rear refracting surface Lb of the test lens L by the spring force of the spring 78. The contact position of the probe 84 is determined by the amount of movement from the position (ii) to (i) on the upper surface of the bracket 71 and the magnescale of the position where the probe 84 is in contact with the rear refractive surface Lb of the lens L to be measured. It can be seen from the output from 79.

【0071】この位置から、パルスモータ82を駆動制
御して測定アーム80を右方に移動させると、プローブ
84が被検レンズLの後側屈折面Lbの曲面の作用によ
りスプリング78のバネ力に抗して下方に押圧変位させ
られ、スライダ77が測定アーム70と一体に下方に変
位させられる。この際、パルスモータ82の駆動量(駆
動パルス数)から測定アーム80のプローブ84の右方
への移動量が求められると共に、マグネスケール79に
よりスライダ77の下方への移動量が検出される。従っ
て、このプローブ84の右方への移動位置とマグネスケ
ール79からの出力信号(測定信号)を対応させること
で、被検レンズLの後側屈折面Lbの半径方向における
曲面形状(曲率)を高さの変化としてもとめることがで
きる。これにより、被検レンズLの周辺部における屈折
度の補正も容易にできる。 (7)その他 また、第1〜第3実施例の構造と第4〜第6実施例の構
成を組み合わせても良い。この場合には、第1〜第3実
施例におけるように「被検レンズLの一面側の形状測定
及び高さ測定をした後、被検レンズLを裏返しにして測
定する様なこと」は必要なくなり、測定光路に一度セッ
トするだけで被検レンズLの両面の形状(カーブ)及び
カーブの各位置の高さを測定して、被検レンズLの厚さ
を求めることができる。
From this position, when the pulse motor 82 is driven and controlled to move the measuring arm 80 to the right, the probe 84 receives the spring force of the spring 78 by the curved surface of the rear refractive surface Lb of the lens L to be measured. The slider 77 is displaced downward in opposition, and the slider 77 is displaced downward integrally with the measurement arm 70. At this time, the moving amount of the probe 84 of the measuring arm 80 to the right is obtained from the driving amount (the number of driving pulses) of the pulse motor 82, and the moving amount of the slider 77 downward is detected by the magnescale 79. Accordingly, by associating the rightward movement position of the probe 84 with the output signal (measurement signal) from the magnescale 79, the curved surface shape (curvature) in the radial direction of the rear refraction surface Lb of the lens L to be measured is changed. It can be obtained as a change in height. Thereby, it is possible to easily correct the refractive index in the peripheral portion of the lens L to be measured. (7) Others The structures of the first to third embodiments may be combined with the configurations of the fourth to sixth embodiments. In this case, it is necessary to “measure the shape of the surface of the lens L to be measured and the height thereof and then turn the lens to be measured L upside down” as in the first to third embodiments. In other words, the thickness of the test lens L can be obtained by measuring the shape (curve) of both surfaces of the test lens L and the height of each position of the curve only by setting the test lens L once.

【0072】[0072]

【発明の効果】この発明は以上説明したように、請求項
1の発明は、被検レンズを透過する測定光束を受光手段
に投影して、受光手段からの出力信号を基に前記被検レ
ンズの光学特性を求める演算手段を有するレンズメータ
において、前記被検レンズの寸法を測定して寸法データ
を出力する測定手段を備えると共に、前記演算手段は前
記寸法データと前記光学特性から前記被検レンズの屈折
率を求める様に設定されている構成としたので、ノギス
等の器具を用いずにレンズの中心厚を測定できると共
に、この中心厚からレンズの屈折率を求めることができ
る。
As described above, according to the present invention, according to the first aspect of the present invention, the measuring light beam transmitted through the lens to be measured is projected onto the light receiving means, and the lens to be measured is output based on the output signal from the light receiving means. A lens meter having arithmetic means for calculating the optical characteristics of the lens to be measured, wherein the measuring means measures the dimensions of the lens to be measured and outputs dimensional data, and the arithmetic means measures the lens to be inspected from the dimensional data and the optical characteristics. The refractive index of the lens is determined so that the center thickness of the lens can be measured without using an instrument such as a caliper, and the refractive index of the lens can be determined from the center thickness.

【0073】請求項2の発明は、前記測定手段は、上下
動して前記被検レンズの上面に当接させられる少なくと
も3本の移動部材と、前記移動部材の移動位置を検出す
る検出手段とを備え、前記演算手段は、前記検出手段か
らの検出信号を基に前記被検レンズの屈折面の面形状デ
ータを前記寸法データとして求める様に設定されている
構成としたので、簡単な構成でレンズの中心厚を測定で
きる。
According to a second aspect of the present invention, the measuring means comprises at least three moving members which move up and down to contact the upper surface of the lens to be measured, and detecting means for detecting a moving position of the moving member. And the arithmetic means is configured to determine the surface shape data of the refraction surface of the test lens as the dimensional data based on the detection signal from the detection means. The center thickness of the lens can be measured.

【0074】請求項3の発明は、前記移動部材は前記被
検レンズの軸方向指示用の印点をする印点針である構成
としたので、ノギス等の器具を用いずに既存の構成を利
用してレンズの中心厚を簡易に測定できると共に、この
中心厚からレンズの屈折率を求めることができる。
According to a third aspect of the present invention, the moving member is a marking needle for marking a point for indicating the axial direction of the lens to be inspected. Therefore, the existing structure can be used without using a tool such as a caliper. The center thickness of the lens can be easily measured by using this, and the refractive index of the lens can be obtained from the center thickness.

【0075】請求項4の発明は、前記検出手段は、前記
移動部材の上端部に設けられた反射面と、前記反射面に
測定光束を投影する測定光投影手段と、前記測定光束の
前記反射面で反射する反射光を受光する一次元又は二次
元の受光センサを備える構成としたので、移動部材の移
動位置を正確に求めることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, the detecting means includes: a reflecting surface provided at an upper end of the moving member; a measuring light projecting means for projecting a measuring light beam on the reflecting surface; Since a one-dimensional or two-dimensional light receiving sensor that receives light reflected by the surface is provided, the moving position of the moving member can be accurately obtained.

【0076】請求項5の発明は、移動部材の位置を検出
する受光センサは前記被検レンズの光学特性を測定する
受光センサと共通である構成としたので、移動部材の位
置検出用の受光センサを省略して、部品店数を少なくで
きる。
According to a fifth aspect of the present invention, since the light receiving sensor for detecting the position of the moving member is common to the light receiving sensor for measuring the optical characteristics of the lens to be inspected, the light receiving sensor for detecting the position of the moving member is provided. Can be omitted to reduce the number of parts stores.

【0077】請求項6の発明は、前記演算手段は、前記
受光手段から得られた光学特性のうちの屈折度数と、前
記面形状データから被検レンズの屈折率及び材質を求め
る構成としたので、眼鏡レンズの一方が破損した場合等
においても、同じ材質のレンズを用いた眼鏡レンズを使
用することができる。
According to a sixth aspect of the present invention, the arithmetic means is configured to obtain the refractive index and the material of the lens to be inspected from the refractive power of the optical characteristics obtained from the light receiving means and the surface shape data. Even when one of the spectacle lenses is damaged, a spectacle lens using a lens of the same material can be used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の第1実施例を示すレンズメータの測
定光学系を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a measurement optical system of a lens meter according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した測定光学系の使用状態を示す説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a use state of the measurement optical system shown in FIG.

【図3】図1,2に示した測定光学系の受光センサと測
定光束との関係を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a light receiving sensor of a measurement optical system shown in FIGS.

【図4】図1,2に示した測定光学系のラインセンサと
測定光束との関係を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a relationship between a line sensor and a measurement light beam of the measurement optical system shown in FIGS.

【図5】図1〜図3に示した測定光学系を備えるレンズ
メータの概略斜視図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view of a lens meter including the measuring optical system shown in FIGS.

【図6】図5に示した印点機構の部分の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a portion of the marking mechanism shown in FIG. 5;

【図7】図6に示した印点機構の作用説明図である。FIG. 7 is an operation explanatory view of the marking mechanism shown in FIG. 6;

【図8】図7の使用状態における印点機構の部分断面図
である。
FIG. 8 is a partial cross-sectional view of the marking mechanism in the use state of FIG. 7;

【図9】図5に示したインク供給装置の水平断面図であ
る。
9 is a horizontal sectional view of the ink supply device shown in FIG.

【図10】図9のインク供給装置の作用説明図である。FIG. 10 is a diagram illustrating the operation of the ink supply device of FIG. 9;

【図11】この発明の第2実施例を示すレンズメータの
光学系の説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of an optical system of a lens meter according to a second embodiment of the present invention.

【図12】図11に示した光学系の使用状態を示す説明
図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing a use state of the optical system shown in FIG. 11;

【図13】図11の印点ピント光源との関係を示す説明
図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a relationship with the focus light source of the mark point in FIG. 11;

【図14】図11に示したパターン板の説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram of the pattern plate shown in FIG.

【図15】図11に示したパターン板によるスリットパ
ターンとラインセンサとの関係を示す説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a relationship between a slit pattern formed by the pattern plate shown in FIG. 11 and a line sensor.

【図16】図11の測定光学系を備えるレンズメータの
印点機構の概略斜視図である。
FIG. 16 is a schematic perspective view of a marking mechanism of a lens meter including the measurement optical system of FIG. 11;

【図17】図16の印点機構の作用説明図である。FIG. 17 is an operation explanatory view of the marking mechanism of FIG. 16;

【図18】(a)は図16,図17の印点機構の部分断面
図、(b)は(a)のA−A線における断面図である。
18A is a partial cross-sectional view of the marking mechanism shown in FIGS. 16 and 17, and FIG. 18B is a cross-sectional view taken along line AA of FIG.

【図19】図11〜図18の構成を有するレンズメータ
の作用説明図である。
FIG. 19 is an operation explanatory view of the lens meter having the configuration of FIGS. 11 to 18;

【図20】この発明の第3実施例を示すレンズメータの
光学系の説明図である。
FIG. 20 is an explanatory diagram of an optical system of a lens meter according to a third embodiment of the present invention.

【図21】この発明の第4実施例を示すレンズメータの
概略斜視図である。
FIG. 21 is a schematic perspective view of a lens meter according to a fourth embodiment of the present invention.

【図22】(a)は図21のレンズメータのレンズ載置台
の説明図、(b)は(a)のB−B線に沿う断面図、(c)は(b)
の変形例を示す説明図である。
22 (a) is an explanatory view of a lens mounting table of the lens meter of FIG. 21, (b) is a sectional view taken along line BB of (a), (c) is (b)
It is explanatory drawing which shows the modification of.

【図23】(a)はこの発明の第5実施例を示すレンズメ
ータの要部断面図、(b)はこの発明の第6実施例を示す
レンズメータの要部断面図である。
FIG. 23 (a) is a sectional view of a principal part of a lens meter according to a fifth embodiment of the present invention, and FIG. 23 (b) is a sectional view of a principal part of a lens meter according to a sixth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

L…被検レンズ 21,22…ラインセンサ(受光手段、受光センサ) 23…演算制御回路(演算手段) 25…印点装置(測定手段) 33・・・ポテンショメータ(検出手段) 37・・・印点ピン(印点針、移動部材) 45d・・・反射面 46a,46b,46c・・・LED(測定光投影手段) 53・・・レンズ高さ測定手段 54・・・光源(測定光投影手段) 55・・・ラインセンサ(受光手段、受光センサ) 60・・・高さ測定手段 61・・・ポテンショメータ(検出手段) 62・・・測定アーム(移動部材) 79・・・マグネスケール(検出手段) 80・・・測定アーム(移動部材)) L: lens to be tested 21, 22, line sensor (light receiving means, light receiving sensor) 23: arithmetic control circuit (calculating means) 25: marking device (measuring means) 33: potentiometer (detecting means) 37 ... mark Point pin (marking needle, moving member) 45d: Reflecting surface 46a, 46b, 46c: LED (measuring light projecting means) 53: Lens height measuring means 54: Light source (measuring light projecting means) 55 ... line sensor (light receiving means, light receiving sensor) 60 ... height measuring means 61 ... potentiometer (detecting means) 62 ... measuring arm (moving member) 79 ... magnescale (detecting means) ) 80 ・ ・ ・ Measuring arm (moving member)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検レンズを透過する測定光束を受光手
段に投影して、受光手段からの出力信号を基に前記被検
レンズの光学特性を求める演算手段を有するレンズメー
タにおいて、 前記被検レンズの寸法を測定して寸法データを出力する
測定手段を備えると共に、前記演算手段は前記寸法デー
タと前記光学特性から前記被検レンズの屈折率を求める
様に設定されていることを特徴とするレンズメータ。
1. A lens meter having an arithmetic unit for projecting a measurement light beam transmitted through a lens to be inspected to a light receiving unit and obtaining optical characteristics of the lens to be inspected based on an output signal from the light receiving unit. Measuring means for measuring the dimensions of the lens and outputting the dimension data, and wherein the calculating means is set so as to obtain the refractive index of the lens to be inspected from the dimension data and the optical characteristics. Lens meter.
【請求項2】 前記測定手段は、上下動して前記被検レ
ンズの上面に当接させられる少なくとも3本の移動部材
と、前記移動部材の移動位置を検出する検出手段とを備
え、 前記演算手段は、前記検出手段からの検出信号を基に前
記被検レンズの屈折面の面形状データを前記寸法データ
として求める様に設定されていることを特徴とする請求
項1に記載のレンズメータ。
2. The arithmetic unit according to claim 1, wherein the measuring unit includes at least three moving members that move up and down to contact an upper surface of the lens to be measured, and a detecting unit that detects a moving position of the moving member. 2. The lens meter according to claim 1, wherein the means is set so as to obtain surface shape data of the refraction surface of the lens to be inspected as the dimension data based on a detection signal from the detection means.
【請求項3】 前記移動部材は前記被検レンズの軸方向
指示用の印点をする印点針であることを特徴とする請求
項2に記載のレンズメータ。
3. The lens meter according to claim 2, wherein the moving member is a marking needle which serves as a marking point for indicating an axial direction of the lens to be inspected.
【請求項4】 前記検出手段は、前記移動部材の上端部
に設けられた反射面と、前記反射面に測定光束を投影す
る測定光投影手段と、前記測定光束の前記反射面で反射
する反射光を受光する一次元又は二次元の受光センサを
備えることを特徴とする請求項2又は3に記載のレンズ
メータ。
4. The detecting means includes: a reflecting surface provided at an upper end of the moving member; a measuring light projecting means for projecting a measuring light beam on the reflecting surface; and a reflection of the measuring light beam reflected by the reflecting surface. The lens meter according to claim 2, further comprising a one-dimensional or two-dimensional light receiving sensor that receives light.
【請求項5】 移動部材の位置を検出する受光センサは
前記被検レンズの光学特性を測定する受光センサと共通
であることを特徴とする請求項4に記載のレンズメー
タ。
5. The lens meter according to claim 4, wherein a light receiving sensor for detecting a position of the moving member is common to a light receiving sensor for measuring an optical characteristic of the lens to be inspected.
【請求項6】 前記演算手段は、前記受光手段から得ら
れた光学特性のうちの屈折度数と、前記面形状データか
ら被検レンズの屈折率及び材質を求めることを特徴とす
る請求項1〜5のいずれか一つに記載のレンズメータ。
6. The apparatus according to claim 1, wherein said calculating means obtains a refractive index and a material of the lens to be measured from the refractive power of the optical characteristics obtained from the light receiving means and the surface shape data. 5. The lens meter according to any one of 5.
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