JP2000121388A - Optical encoder - Google Patents

Optical encoder

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JP2000121388A
JP2000121388A JP10301701A JP30170198A JP2000121388A JP 2000121388 A JP2000121388 A JP 2000121388A JP 10301701 A JP10301701 A JP 10301701A JP 30170198 A JP30170198 A JP 30170198A JP 2000121388 A JP2000121388 A JP 2000121388A
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JP
Japan
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light
scale
light receiving
optical encoder
reflected light
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JP10301701A
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Japanese (ja)
Inventor
Koichi Kudo
宏一 工藤
Hideo Maeda
英男 前田
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an encoder in which a high-accuracy and very small interval positioning arrangement between a scale and a detecting head is not required, whose whole constitution is simple and which is miniaturized. SOLUTION: Beams of incident light Li (Li1 to Li3) from a light source 10 are changed into beams of parallel light by a lens 11 so as to be incident on the sinusoidal optical characteristic face 13a of a scale 13. Beams of reflected light Lr (Lr1 to Lr3) from the optical characteristic face 13a are received by a light receiving element 12. When sinusoidal photoelectric conversion outputs which are obtained by detecting a change in a quantity of received light which is repeated periodically by the movement of the scale 13 are counted, the movement distance of the scale 13 is detected. When phase difference signals at a 1/4 pitch are compared, the movement direction of the scale 13 is detected. The beams of very-small-spot incident light Li are incident on the optical characteristic face 13a. The beams of reflected light Lr can be detected at high resolution and with high accuracy. A sufficient interval can be set between a detecting head 15 and the optical characteristic face 13a. A damage accident due to their mutual contact is prevented. The movement due to the vibration in a direction at right angles to the movement direction of the scale 13 can be permitted. An optical encoder can be constituted in such a way that its complicated positioning adjustment is not required as a whole, that it is simple and that it is miniaturized.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光源と光源からの
検査光が照射されるスケールとが、相対的に移動され、
検査光のスケールでの反射光に基づいて光源とスケール
の相対的な位置の変化を検出する光学式エンコーダに関
する。
The present invention relates to a light source and a scale to which test light from a light source is irradiated are relatively moved.
The present invention relates to an optical encoder that detects a change in a relative position between a light source and a scale based on reflected light of a scale of inspection light.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光学式エンコーダは、図20に示
すような構成となっていて、所定の格子定数の光学格子
を備えたスケール3に近接対向して、スケール3と同一
の格子定数の光学格子と該光学格子と1/4波長ずれた
光学格子とを備えたインデックススケール4が配設さ
れ、インデックススケール4の2種の光学格子位置に対
向して、検出器5、5´がそれぞれ配置されている。
2. Description of the Related Art A conventional optical encoder has a configuration as shown in FIG. 20 and is closely opposed to a scale 3 provided with an optical grating having a predetermined lattice constant and has the same lattice constant as the scale 3. An index scale 4 having an optical grating and an optical grating shifted from the optical grating by 光学 wavelength is provided, and detectors 5 and 5 ′ are respectively opposed to two kinds of optical grating positions of the index scale 4. Are located.

【0003】この光学式エンコーダでは、光源1からの
光をコリメートレンズ2で平行光の検査光として、スケ
ール3に照射し、スケール3を矢印6方向に移動させる
と、スケール3の光学格子とインデックススケール4の
互いに1/4波長ずれた光学格子とをそれぞれ通過する
検査光が、検出器5、5´でそれぞれ検出される。この
ために、検出器5、5´では、スケール3とインデック
ススケール4との光学格子により、スケール3の移動に
対応する受光光量の変化がそれぞれ検出され、光電変換
された検出信号を計数することにより、スケール3の移
動量と移動方向とが検出される。
In this optical encoder, light from a light source 1 is irradiated on a scale 3 as collimated inspection light by a collimating lens 2 and the scale 3 is moved in the direction of an arrow 6. Inspection lights respectively passing through the optical gratings of the scale 4 shifted by 1 / wavelength are detected by the detectors 5 and 5 ′, respectively. For this purpose, the detectors 5 and 5 'detect changes in the amount of received light corresponding to the movement of the scale 3 by the optical grating of the scale 3 and the index scale 4, and count the photoelectrically converted detection signals. Thus, the moving amount and moving direction of the scale 3 are detected.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】前述の従来の光学式エ
ンコーダでは、検出の分解能を上げるためには、格子定
数の小さいスケール3を使用する必要があるが、この場
合に高コントラストを維持するためには、スケール3と
インデックススケール4とを、微小間隔で対向配置しな
くてはならず、両者の接触による損傷が生じ易く、ま
た、微小な塵埃の付着によっても、検出値に大きな誤差
が生じることがある。
In the above-mentioned conventional optical encoder, it is necessary to use a scale 3 having a small lattice constant in order to increase the detection resolution. In this case, however, in order to maintain a high contrast. In this case, the scale 3 and the index scale 4 must be arranged to face each other at a minute interval, so that damage due to contact between them is liable to occur, and a large error occurs in the detection value even due to minute dust adhesion. Sometimes.

【0005】さらに、従来の光学式エンコーダでは、光
源1とコリメートレンズ2を収容したヘッド部が、スケ
ール3に近接対向して配置されるために、スケール3が
ヘッド部の光軸方向に振動すると、両者の接触による損
傷を生じ易いという問題も存在する。
Further, in the conventional optical encoder, since the head section containing the light source 1 and the collimating lens 2 is disposed close to and opposed to the scale 3, when the scale 3 vibrates in the optical axis direction of the head section. Also, there is a problem that damage is easily caused by contact between the two.

【0006】本発明は、前述したようなこの種の光学式
エンコーダの動作の現状に鑑みてなされたものであり、
その目的は、スケールと検出ヘッド間の高精度の微小間
隔での位置決め配置が不要で、全体の構成が簡単で小型
化された光学式エンコーダを提供することにある。
[0006] The present invention has been made in view of the current state of operation of such an optical encoder as described above.
It is an object of the present invention to provide an optical encoder which does not require a highly precise positioning between a scale and a detection head at a minute interval, has a simple overall configuration, and is miniaturized.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明は、光源からの検査光を、光の
反射特性が相対移動方向に周期的且つ連続的に繰り返し
変化する光学特性面を備えたスケールに照射し、前記光
源と前記スケールとが、前記相対移動方向に相対的に移
動され、前記検査光の前記光学特性面からの反射光が、
受光手段で受光され、該受光手段の受光量に基づいて、
前記光源と前記スケールとの相対位置の変化を検出する
光学式エンコーダであり、前記光学特性面には、同一の
凹凸表面形状が周期的且つ連続的に繰り返し形成されて
いることを特徴とするものである。
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, the inspection light from the light source repeatedly and periodically changes its light reflection characteristic periodically and continuously in the direction of relative movement. By irradiating a scale having an optical characteristic surface, the light source and the scale are relatively moved in the relative movement direction, and reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface is
Received by the light receiving means, based on the amount of light received by the light receiving means,
An optical encoder for detecting a change in a relative position between the light source and the scale, wherein the same uneven surface shape is periodically and continuously repeated on the optical characteristic surface. It is.

【0008】同様に前記目的を達成するために、請求項
2記載の発明は、光源からの検査光を、光の反射特性が
相対移動方向に周期的且つ連続的に繰り返し変化する光
学特性面を備えたスケールに照射し、前記光源と前記ス
ケールとが、前記相対移動方向に相対的に移動され、前
記検査光の前記光学特性面からの反射光が、受光手段で
受光され、該受光手段の受光量に基づいて、前記光源と
前記スケールとの相対位置の変化を検出する光学式エン
コーダであり、前記光学特性面には、隣接する二面が、
水平基軸に対して、所定の傾斜角度で互いに対向して配
列されたV溝の単位配列が、周期的に連続して繰り返し
形成され、前記反射面からの反射光を、前記相対位置の
変化に応じて入射光量を変化させて、前記受光手段に導
光する導光手段が設けられていることを特徴とするもの
である。
[0008] Similarly, in order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 2 is directed to an optical characteristic surface in which inspection light from a light source periodically and continuously changes its reflection characteristic periodically and continuously in the direction of relative movement. Irradiating the scale provided, the light source and the scale are relatively moved in the relative movement direction, the reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface is received by light receiving means, the light receiving means An optical encoder that detects a change in the relative position between the light source and the scale based on the amount of received light, and the optical characteristic surface has two adjacent surfaces.
A unit array of V-grooves arranged opposite to each other at a predetermined inclination angle with respect to the horizontal base axis is periodically and repeatedly formed, and the reflected light from the reflecting surface is changed in the relative position. Light guide means for guiding the light to the light receiving means by changing the amount of incident light in accordance therewith is provided.

【0009】同様に前記目的を達成するために、請求項
3記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記所
定の傾斜角度が45°であることを特徴とするものであ
る。
[0009] Similarly, to achieve the above object, a third aspect of the present invention is characterized in that, in the second aspect of the present invention, the predetermined inclination angle is 45 °.

【0010】同様に前記目的を達成するために、請求項
4記載の発明は、請求項2または請求項3記載の発明に
対して、前記受光手段の直前に、前記導光手段が導光す
る前記反射光の位置に対応して透過光量が変化するマス
ク体が配置されていることを特徴とするものである。
Similarly, in order to achieve the above object, the invention according to claim 4 is different from the invention according to claim 2 or 3 in that the light guide means guides the light immediately before the light receiving means. A mask body in which the amount of transmitted light changes corresponding to the position of the reflected light is provided.

【0011】同様に前記目的を達成するために、請求項
5記載の発明は、請求項4記載の発明において、前記マ
スク体が、前記相対移動に対応して前記導光手段が導光
する前記反射光の移動方向に、前記反射光を透過する開
口の幅が変化する構造であることを特徴とするものであ
る。
[0011] Similarly, in order to achieve the above object, according to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, the mask body is configured such that the light guide means guides the light corresponding to the relative movement. The width of the opening through which the reflected light is transmitted changes in the direction of movement of the reflected light.

【0012】同様に前記目的を達成するために、請求項
6記載の発明は、請求項4記載の発明において、前記マ
スク体が、前記相対移動に対応して前記導光手段が導光
する前記反射光の移動方向に、前記反射光の透過率が変
化する構造であることを特徴とするものである。
[0012] Similarly, in order to achieve the above object, according to a sixth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, the mask body is configured so that the light guiding means guides the light in accordance with the relative movement. The structure is such that the transmittance of the reflected light changes in the moving direction of the reflected light.

【0013】同様に前記目的を達成するために、請求項
7記載の発明は、請求項1ないし請求項3の何れかに記
載の発明において、前記受光手段は、前記相対移動に対
応する受光面上の前記反射光の移動方向に、複数に分割
された受光領域を有することを特徴とするものである。
[0013] Similarly, in order to achieve the above object, the invention according to claim 7 is the invention according to any one of claims 1 to 3, wherein the light receiving means is a light receiving surface corresponding to the relative movement. A light receiving area divided into a plurality in the moving direction of the reflected light is provided.

【0014】同様に前記目的を達成するために、請求項
8記載の発明は、請求項1ないし請求項3の何れかに記
載の発明において、前記受光手段は、前記相対移動に対
応する受光面上の前記反射光の移動の中心部とその周辺
部に分割された受光領域を有することを特徴とするもの
である。
According to another aspect of the present invention, in order to achieve the above-mentioned object, the light-receiving means may include a light-receiving surface corresponding to the relative movement. It is characterized by having a divided light receiving area at the center of the movement of the reflected light and at the periphery thereof.

【0015】同様に前記目的を達成するために、請求項
9記載の発明は、請求項4ないし請求項6の何れかに記
載の発明に対して、前記マスク体と前記受光手段間に、
前記マスク体からの前記反射光を前記受光手段の受光面
に収束するレンズが設けられていることを特徴とするも
のである。
Similarly, in order to achieve the above object, a ninth aspect of the present invention is the same as the fourth aspect of the invention, except that the distance between the mask body and the light receiving means is smaller than that of the fourth aspect.
A lens for converging the reflected light from the mask body on a light receiving surface of the light receiving means is provided.

【0016】同様に前記目的を達成するために、請求項
10記載の発明は、請求項1ないし請求項3の何れかに
記載の発明に対して、前記光源から複数の検査光を作成
し、これら複数の検査光を、同時に前記スケールの前記
光学特性面に照射する複数検査光照射手段が設けられて
いることを特徴とするものである。
Similarly, in order to achieve the above object, a tenth aspect of the present invention provides a method according to any one of the first to third aspects, wherein a plurality of inspection lights are created from the light source. A plurality of inspection light irradiating means for simultaneously irradiating the plurality of inspection lights to the optical characteristic surface of the scale is provided.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】[第1の実施の形態]本発明の第
1の実施の形態を、図1及び図2を参照して説明する。
図1は本実施の形態の構成を示す正面説明図、図2は本
実施の形態の構成を示す側面説明図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS [First Embodiment] A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is an explanatory front view showing the configuration of the present embodiment, and FIG. 2 is an explanatory side view showing the configuration of the present embodiment.

【0018】本実施の形態では、図1及び図2に示すよ
うに、光源10、レンズ11及び受光素子12を収容し
た検出ヘッド15が、検出ヘッド15に対して、矢印X
方向に移動するスケール13に対向して配設されてお
り、スケール15の検出ヘッド15との対向面には、断
面が周期T1の正弦波状の光学特性面13aが形成され
ている。光源10としては、収差の発生しにくい微小ス
ポットの検査光が発生される半導体レーザが使用され、
レンズ11としては、光源10からの検査光を平行光に
コリメートする機能を有するものが使用され、受光素子
12としては、フォトダイオードが使用される。
In the present embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the detection head 15 containing the light source 10, the lens 11, and the light receiving element 12
An optical characteristic surface 13a having a cross section of a period T1 and having a sine wave shape is formed on a surface of the scale 15 facing the detection head 15. As the light source 10, a semiconductor laser that generates inspection light for a minute spot where aberration is unlikely to be generated is used.
A lens having a function of collimating the inspection light from the light source 10 into parallel light is used as the lens 11, and a photodiode is used as the light receiving element 12.

【0019】このような構成の本実施の形態の動作を説
明する。本実施の形態では、図2に示すように、光源1
0からの入射光Liが、レンズ11に入射されて平行光
にコリメートされて、スケール13の光学特性面13a
に検査光として入射され、光学特性面13aからの反射
光Lrが受光素子12で受光される。この場合、図1に
示すように、検出ヘッド15に対して、スケール13を
矢印X方向に移動させると、光源10からの検査光は、
入射光Li1、Li2、Li3・・のように、光学特性
面13aへの入射位置が連続的に変化して行き、光学特
性面13aからの反射光は、反射光Lr1、Lr2、L
r3・・のように、反射角を変化させて、光学特性面1
3aから反射する。
The operation of this embodiment having such a configuration will be described. In the present embodiment, as shown in FIG.
The incident light Li from 0 is incident on the lens 11 and collimated into parallel light, and the optical characteristic surface 13a of the scale 13
And the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13 a is received by the light receiving element 12. In this case, as shown in FIG. 1, when the scale 13 is moved in the direction of the arrow X with respect to the detection head 15, the inspection light from the light source 10
The incident position on the optical characteristic surface 13a continuously changes like the incident light Li1, Li2, Li3..., And the reflected light from the optical characteristic surface 13a is reflected light Lr1, Lr2, L
By changing the reflection angle as in r3.
3a.

【0020】このために、スケール13の移動に伴っ
て、周期的に繰り返される正弦波状の光学特性面13a
からの反射光Lrの受光素子12での受光量も周期的に
繰り返して変化する。従って、本実施の形態では、受光
素子12により光電変換される出力信号も正弦波として
出力され、この出力信号をカウントすることにより、ス
ケール13の移動距離が検出され、また、1/4ピッチ
の位相差のA相信号とB相信号とを比較することによ
り、スケール13の移動方向が検出される。
For this reason, the sinusoidal optical characteristic surface 13a that is periodically repeated with the movement of the scale 13
The amount of light received by the light receiving element 12 from the reflected light Lr changes periodically and repeatedly. Therefore, in the present embodiment, the output signal photoelectrically converted by the light receiving element 12 is also output as a sine wave, and the movement distance of the scale 13 is detected by counting this output signal. The direction of movement of the scale 13 is detected by comparing the phase difference A and B phase signals.

【0021】このように、本実施の形態によると、半導
体レーザの光源10からの検査光は、微小スポットであ
り、この検査光がレンズ11で、平行光にコリメートさ
れて、光学特性面13aに入射光Liとして入射され、
光学特性面13aからの反射光Lrが受光素子12で受
光されるので、高分解能での高精度の反射光Lrの検出
が可能になる。
As described above, according to the present embodiment, the inspection light from the light source 10 of the semiconductor laser is a minute spot, and this inspection light is collimated into parallel light by the lens 11 and is applied to the optical characteristic surface 13a. Incident as the incident light Li,
Since the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13a is received by the light receiving element 12, it is possible to detect the reflected light Lr with high resolution and high accuracy.

【0022】また、検出ヘッド15とスケール13の光
学特性面13aとを、充分間隔を保持して配置すること
ができ、相互の接触による損傷事故を防止し、さらにス
ケール13の移動方向に直角方向への振動などの移動を
許容することが可能になり、全体も複雑な位置決め調整
のない簡単で小型化された構成とすることが可能にな
る。
Further, the detection head 15 and the optical characteristic surface 13a of the scale 13 can be arranged with a sufficient space therebetween, thereby preventing damages due to mutual contact and preventing the scale 13 from moving in a direction perpendicular to the moving direction of the scale 13. This makes it possible to allow movements such as vibrations to the outside, so that it is possible to provide a simple and compact configuration without any complicated positioning adjustment.

【0023】[第2の実施の形態]本発明の第2の実施
の形態を、図3ないし図6を参照して説明する。図3は
本実施の形態の構成を示す説明図、図4は本実施の形態
の受光動作の説明図、図5は本実施の形態の受光量変化
の説明図、図6は本実施の形態の検出ヘッドの傾斜時の
説明図である。
[Second Embodiment] A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 is an explanatory diagram showing the configuration of the present embodiment, FIG. 4 is an explanatory diagram of a light receiving operation of the present embodiment, FIG. 5 is an explanatory diagram of a change in the amount of received light of the present embodiment, and FIG. FIG. 5 is an explanatory diagram when the detection head is tilted.

【0024】本実施の形態では、図3に示すように、第
1の実施の形態の断面が正弦波状の光学特性面13aに
代えて、スケール13の光学特性面13bには、隣接す
る二面が、水平基軸に対して、45。の傾斜角度で互い
に対向して配列されたV溝の単位配列が、周期的に連続
して繰り返し形成されている。また、検出ヘッド15A
には、半透明反射面16aを備えたビームスプリッタ1
6が新に収容され、このビームスプリッタ16が、レン
ズ11Aと光学特性面13b間に配設され、受光素子1
2は、受光面を検査光の光軸に平行にして、ビームスプ
リッタ16の側方に配設されている。
In this embodiment, as shown in FIG. 3, instead of the optical characteristic surface 13a having a sinusoidal cross section of the first embodiment, two adjacent surfaces are provided on the optical characteristic surface 13b of the scale 13. But 45 with respect to the horizontal base axis. The unit arrangement of the V-grooves arranged to face each other at an inclination angle of is periodically and continuously formed repeatedly. In addition, the detection head 15A
Has a beam splitter 1 having a translucent reflecting surface 16a.
6 is newly accommodated. The beam splitter 16 is disposed between the lens 11A and the optical characteristic surface 13b.
Numeral 2 is disposed on the side of the beam splitter 16 with the light receiving surface parallel to the optical axis of the inspection light.

【0025】本実施の形態のその他の部分の構成は、す
でに図1及び図2を参照して説明した第1の実施の形態
と同一なので、重複する説明は行わない。
The configuration of the other parts of the present embodiment is the same as that of the first embodiment already described with reference to FIGS. 1 and 2, and therefore, will not be described repeatedly.

【0026】本実施の形態では、光源10からの入射光
Liが、レンズ11に入射され、平行光にコリメートさ
れて、ビームスプリッタ16に検査光として入射され、
半透明反射面16aを透過した検査光は、スケール13
の光学特性面13bのV溝の単位配列を構成する一方の
面に入射され、入射された検査光は、該一方の面から水
平方向に反射して、V溝の単位配列を構成する隣接する
他方の面に入射し、該他方の面で反射して、入射する検
査光と平行な反射光として、ビームスプリッタ16に入
射する。ビームスプリッタ16に入射した反射光の内
で、半透明反射面16aで水平方向に反射した反射光
は、受光素子12に受光面に対して直角に入射し、スケ
ール13の移動に対応する受光量で受光素子12により
受光される。
In the present embodiment, the incident light Li from the light source 10 is incident on the lens 11, is collimated into parallel light, and is incident on the beam splitter 16 as inspection light.
The inspection light transmitted through the translucent reflection surface 16a is
The inspection light that is incident on one surface of the optical characteristic surface 13b constituting the unit array of the V-grooves is reflected in the horizontal direction from the one surface and the adjacent inspection light that constitutes the unit arrangement of the V-grooves The light enters the other surface, is reflected by the other surface, and enters the beam splitter 16 as reflected light parallel to the incident inspection light. Of the reflected light incident on the beam splitter 16, the reflected light reflected in the horizontal direction on the translucent reflecting surface 16 a is incident on the light receiving element 12 at right angles to the light receiving surface, and the amount of light received corresponding to the movement of the scale 13. Is received by the light receiving element 12.

【0027】この場合の受光動作を説明すると、図4
(a)では、入射光Liに対するスケール13の光学特
性面13bからの反射光Lrは、受光素子12の受光面
に僅かに入射し、受光素子12は反射光Lrを低受光強
度で受光するが、スケール13が移動して同図(b)の
状態となると、反射光Lrが全て受光素子12の受光面
に達し、受光素子12の受光強度は最大となり、さらに
スケール13が移動して、同図(c)の状態となると、
受光素子12の受光強度はやや低下する。
The light receiving operation in this case will be described.
In (a), the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13b of the scale 13 with respect to the incident light Li slightly enters the light receiving surface of the light receiving element 12, and the light receiving element 12 receives the reflected light Lr with low light receiving intensity. When the scale 13 moves to the state shown in FIG. 3B, all of the reflected light Lr reaches the light receiving surface of the light receiving element 12, the light receiving intensity of the light receiving element 12 becomes maximum, and the scale 13 further moves. When the state shown in FIG.
The light receiving intensity of the light receiving element 12 slightly decreases.

【0028】図5は受光素子12のこの受光動作を示す
もので、同図(a)に示すように、図4(a)の状態で
は、受光素子12の受光面17に対して、入射光Li
は、小さな受光領域18aに入射し、同図(b)に示す
ように、図4(b)の状態では、入射光Liは、受光素
子12の受光面17の全面を受光領域18bとして入射
し、同図(c)に示すように、図4(c)の状態では、
入射光Liは中間面積の受光領域18cに入射する。
FIG. 5 shows this light receiving operation of the light receiving element 12, and as shown in FIG. 4A, in the state of FIG. Li
Is incident on the small light receiving area 18a, and as shown in FIG. 4B, in the state of FIG. 4B, the incident light Li is incident on the entire light receiving surface 17 of the light receiving element 12 as the light receiving area 18b. As shown in FIG. 4C, in the state of FIG.
The incident light Li enters the light receiving region 18c having an intermediate area.

【0029】このようにして、スケール13の移動に伴
って、周期的に繰り返される単位V溝が連続形成された
光学特性面13aからの反射光Lrの受光素子12での
受光量も周期的に繰り返して変化し、受光素子12によ
り光電変換される出力信号もV溝に対応して出力され
る。従って、この出力信号をカウントすることにより、
スケール13の移動距離が検出され、また、1/4ピッ
チの位相差のA相信号とB相信号とを比較することによ
り、スケール13の移動方向が検出される。
As described above, with the movement of the scale 13, the amount of light received by the light receiving element 12 of the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13a on which the unit V groove that is periodically repeated is continuously formed is also periodically changed. An output signal which changes repeatedly and is photoelectrically converted by the light receiving element 12 is also output corresponding to the V-groove. Therefore, by counting this output signal,
The moving distance of the scale 13 is detected, and the moving direction of the scale 13 is detected by comparing the A-phase signal and the B-phase signal having a phase difference of 1/4 pitch.

【0030】特に、本実施の形態では、図6に示すよう
に、測定時に何らかの理由により、検出ヘッド15Aが
傾斜したとしても、スケール13の光学特性面13aの
単位のV溝の溝角度が90゜であるために、入射光Li
と反射光Lrとは、常に平行となり、半透明反射面16
aで反射される反射光Lrは、常に受光素子12の受光
面に直角に入射し、光の拡散が完全に防止され、検出ヘ
ッド15Aの傾斜を補償して、常に高精度のスケールの
移動量の測定が可能になる。
In particular, in this embodiment, as shown in FIG. 6, even if the detection head 15A is tilted for some reason during measurement, the groove angle of the V-groove in the unit of the optical characteristic surface 13a of the scale 13 is 90 °.゜, the incident light Li
And the reflected light Lr are always parallel, and the translucent reflection surface 16
The reflected light Lr reflected at a is always incident on the light receiving surface of the light receiving element 12 at a right angle, the diffusion of the light is completely prevented, the inclination of the detection head 15A is compensated, and the movement amount of the scale with high accuracy is always obtained. Can be measured.

【0031】このように、本実施の形態によると、すで
に説明した第1の実施の形態で得られる効果に加えて、
ビームスプリッタ16によって、スケール13の光学特
性面13aからの反射光Lrを、受光素子12方向に有
効に収束し、受光素子12による反射光Lrの検出強度
範囲を拡大し、検出感度を高めて、スケール13と検出
ヘッド15A間距離に依存せず、スケール13の移動量
と移動方向のより高精度の検出が可能になると共に、測
定時の検出ヘッド15Aの傾斜を補償して、常に、高精
度の検出を行うことが可能になる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the effects obtained in the first embodiment already described,
By the beam splitter 16, the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13a of the scale 13 is effectively converged in the direction of the light receiving element 12, the detection intensity range of the reflected light Lr by the light receiving element 12 is expanded, and the detection sensitivity is increased. Independently of the distance between the scale 13 and the detection head 15A, it is possible to detect the movement amount and the movement direction of the scale 13 with higher accuracy, and to compensate for the inclination of the detection head 15A at the time of measurement, and to always obtain high accuracy. Can be detected.

【0032】[第3の実施の形態]本発明の第3の実施
の形態を、図7を参照して説明する。図7は本実施の形
態の構成を示す説明図である。
Third Embodiment A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 7 is an explanatory diagram showing the configuration of the present embodiment.

【0033】本実施の形態は、すでに説明した第2の実
施の形態に対して、スケール13の光学特性面13cに
は、隣接する二面が、水平基軸に対して、45゜より小
さい傾斜角度で互いに対向して配列されたV溝の単位配
列が、周期的に連続して繰り返し形成されている。従っ
て、本実施の形態では、単位のV溝の溝角度が90゜よ
り大きくなる。
This embodiment is different from the above-described second embodiment in that two adjacent surfaces have an inclination angle smaller than 45 ° with respect to the horizontal base axis on the optical characteristic surface 13c of the scale 13. The unit arrangement of the V-grooves arranged to face each other is repeatedly formed periodically and continuously. Therefore, in the present embodiment, the groove angle of the unit V groove is larger than 90 °.

【0034】本実施の形態のその他の部分の構成は、す
でに説明した第2の実施の形態と同一なので、重複する
説明は行わない。
The configuration of the other parts of the present embodiment is the same as that of the second embodiment already described, and therefore will not be described repeatedly.

【0035】本実施の形態では、光源10からの入射光
Liが、レンズ11に入射されて平行光にコリメートさ
れて、ビームスプリッタ16に検査光として入射され、
半透明反射面16aを透過した検査光は、スケール13
の光学特性面13cのV溝の単位配列を構成する一方の
面に入射され、入射された検査光は、該一方の面から反
射して、V溝の単位配列を構成する隣接する他方の面に
入射し、該他方の面で反射して、入射する検査光とほぼ
平行な反射光として、ビームスプリッタ16に入射す
る。ビームスプリッタ16に入射した反射光の内で、半
透明反射面16aで反射した反射光は、受光素子12に
方向に射出され、スケール13の移動に対応して、受光
面に達する反射光が受光素子12で受光される。
In this embodiment, the incident light Li from the light source 10 is incident on the lens 11 and collimated into parallel light, and is incident on the beam splitter 16 as inspection light.
The inspection light transmitted through the translucent reflection surface 16a is
The inspection light that is incident on one surface of the unit array of the V-grooves of the optical characteristic surface 13c is reflected from the one surface, and the other adjacent surface that constitutes the unit array of the V-grooves And reflected by the other surface, and is incident on the beam splitter 16 as reflected light substantially parallel to the incident inspection light. Of the reflected light incident on the beam splitter 16, the reflected light reflected on the translucent reflecting surface 16a is emitted toward the light receiving element 12, and the reflected light reaching the light receiving surface is received according to the movement of the scale 13. The light is received by the element 12.

【0036】このようにして、スケール13の移動に伴
って、周期的に繰り返される単位V溝が連続形成された
光学特性面13cからの反射光Lrの受光素子12での
受光量も周期的に繰り返して変化し、受光素子12によ
り光電変換される出力信号もV溝に対応して出力され
る。従って、この出力信号をカウントすることにより、
スケール13の移動距離が検出され、また、1/4ピッ
チの位相差のA相信号とB相信号とを比較することによ
り、スケール13の移動方向が検出される。
As described above, as the scale 13 moves, the amount of light received by the light receiving element 12 of the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13c in which the unit V grooves that are periodically repeated are continuously formed is also periodically changed. An output signal which changes repeatedly and is photoelectrically converted by the light receiving element 12 is also output corresponding to the V-groove. Therefore, by counting this output signal,
The moving distance of the scale 13 is detected, and the moving direction of the scale 13 is detected by comparing the A-phase signal and the B-phase signal having a phase difference of 1/4 pitch.

【0037】本実施の形態によると、すでに説明した第
1の実施の形態で得られる効果に加えて、ビームスプリ
ッタ16によって、スケール13の光学特性面13cか
らの反射光Lrを、受光素子12方向に有効に収束し、
受光素子12による反射光Lrの検出強度範囲を拡大
し、検出感度を高めて、スケール13と検出ヘッド15
B間距離に依存せず、スケール13の移動量と移動方向
のより高精度の検出が可能になる。
According to the present embodiment, in addition to the effects obtained in the first embodiment already described, the beam splitter 16 allows the reflected light Lr from the optical characteristic surface 13c of the scale 13 to be transmitted to the light receiving element 12 Converges effectively to
The detection intensity range of the reflected light Lr by the light receiving element 12 is expanded to increase the detection sensitivity, and the scale 13 and the detection head 15 are increased.
The movement amount and movement direction of the scale 13 can be detected with higher accuracy without depending on the distance between B.

【0038】[第4の実施の形態]本発明の第4の実施
の形態を、図8ないし図10を参照して説明する。
[Fourth Embodiment] A fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0039】本実施の形態は、図8に示すように、すで
に、図3を参照して説明した第2の実施の形態に対し
て、検出ヘッド15Aに代えて、新にフィルタ20と受
光レンズ21を追加収容した検出ヘッド15Bが使用さ
れ、受光素子12の直前に受光レンズ21が配設され、
ビームスプリッタ16と受光レンズ21間に、反射光L
rの入射位置により透過光量が異なるフィルタ20が配
設されている。
As shown in FIG. 8, this embodiment is different from the second embodiment already described with reference to FIG. 3 in that a filter 20 and a light receiving lens are newly provided in place of the detection head 15A. A detection head 15B additionally containing 21 is used, and a light receiving lens 21 is disposed immediately before the light receiving element 12,
Between the beam splitter 16 and the light receiving lens 21, the reflected light L
A filter 20 having a different amount of transmitted light depending on the incident position of r is provided.

【0040】このフィルタ20としては、図9に示すよ
うに、ビームスプリッタ16の半透明反射面16aから
の反射光Lrの入射位置の変化方向Xに対して、反射光
Lrの通過幅が変化している開口部22が形成されたフ
ィルタ20Aを使用することができる。また、図10に
示すように、ビームスプリッタ16の半透明反射面16
aからの反射光Lrの入射位置の変化方向Xに対して、
厚みを変化させることにより、反射光Lrの透過率を変
化させたフィルタ20Bを使用することができる。
As shown in FIG. 9, the pass width of the reflected light Lr of the filter 20 changes with respect to the change direction X of the incident position of the reflected light Lr from the translucent reflecting surface 16a of the beam splitter 16. The filter 20A in which the opening 22 is formed can be used. Further, as shown in FIG. 10, the translucent reflection surface 16 of the beam splitter 16 is provided.
With respect to the change direction X of the incident position of the reflected light Lr from a,
By changing the thickness, the filter 20B in which the transmittance of the reflected light Lr is changed can be used.

【0041】本実施の形態のその他の部分の構成は、す
でに説明した第2の実施の形態と同一なので、重複する
説明は行わない。
The configuration of the other parts of the present embodiment is the same as that of the second embodiment already described, and therefore, will not be described repeatedly.

【0042】本実施の形態では、フィルタ20として、
図9に示す開口部22を備えたフィルタ20Aを使用し
た場合について説明すると、ビームスプリッタ16の半
透明反射面16aからの反射光Lrは、スケール13の
移動位置に対応したフィルタ20A上の位置に入射す
る。このために、その位置の開口部22の開口度に応じ
た光量の反射光Lrが、受光レンズ21によって、受光
素子12の光軸方向に収束されて受光素子12に入射し
受光される。
In this embodiment, as the filter 20,
The case where the filter 20A having the opening 22 shown in FIG. 9 is used will be described. The reflected light Lr from the translucent reflecting surface 16a of the beam splitter 16 is located at a position on the filter 20A corresponding to the moving position of the scale 13. Incident. For this reason, the amount of reflected light Lr corresponding to the degree of opening of the opening 22 at that position is converged by the light receiving lens 21 in the optical axis direction of the light receiving element 12 and is incident on the light receiving element 12 and received.

【0043】このようにして、スケール13の移動に伴
って、周期的に繰り返される単位V溝が連続形成された
光学特性面13bからの反射光Lrの受光素子12での
受光量は、フィルタ20Aの開口部22の開口幅に比例
して周期的に繰り返して変化し、受光素子12により光
電変換される出力信号もV溝に対応して出力される。
As described above, the amount of light Lr reflected by the light receiving element 12 from the optical characteristic surface 13b on which the unit V-groove periodically repeated with the movement of the scale 13 is continuously formed by the filter 20A. The output signal, which is periodically and repeatedly changed in proportion to the opening width of the opening portion 22 of FIG.

【0044】この場合、1周期内での光量変化が、フィ
ルタ20Aの反射光Lrの入射位置に対応しているの
で、受光素子12の出力信号をカウントすることによ
り、スケール13の移動距離が検出され、また、受光素
子12の出力信号の強度によって、反射光Lrの位置を
高精度で検出し、受光素子12の出力信号の増加或いは
減少により、スケール13の移動方向が直ちに検出され
る。
In this case, since the change in the amount of light within one cycle corresponds to the incident position of the reflected light Lr of the filter 20A, the moving distance of the scale 13 is detected by counting the output signal of the light receiving element 12. Further, the position of the reflected light Lr is detected with high accuracy based on the intensity of the output signal of the light receiving element 12, and the moving direction of the scale 13 is immediately detected by increasing or decreasing the output signal of the light receiving element 12.

【0045】なお、フィルタ20として、図10に示す
フィルタ20Bを使用した場合も同様で、反射光Lrの
矢印Xで示すフィルタ20Bへの入射位置に応じて、反
射光Lrの透過率が変化するために、受光素子12の出
力信号の強度が、矢印X方向にリニアに変化し、受光素
子12の出力信号の強度によって、反射光Lrの位置を
高精度で検出し、受光素子12の出力信号の増加或いは
減少により、スケール13の移動方向が直ちに検出され
る。
The same applies to the case where the filter 20B shown in FIG. 10 is used as the filter 20, and the transmittance of the reflected light Lr changes according to the incident position of the reflected light Lr on the filter 20B indicated by the arrow X. Therefore, the intensity of the output signal of the light receiving element 12 changes linearly in the direction of the arrow X, and the intensity of the output signal of the light receiving element 12 detects the position of the reflected light Lr with high accuracy. The movement direction of the scale 13 is immediately detected by the increase or decrease of the distance.

【0046】このように、本実施の形態によると、すで
に説明した第2の実施の形態で得られる効果に加えて、
受光素子12の出力信号の増加或いは減少の検出によ
り、スケール13の移動方向が判定可能になり、受光素
子12の1/4ピッチの位相差のA相信号とB相信号と
を比較する回路が不要となり、全体の構成を簡単にし小
型化することが可能になる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects obtained in the second embodiment already described,
By detecting the increase or decrease of the output signal of the light receiving element 12, the moving direction of the scale 13 can be determined, and a circuit for comparing the A-phase signal and the B-phase signal of the phase difference of 1/4 pitch of the light receiving element 12 is provided. This is unnecessary, and the entire configuration can be simplified and downsized.

【0047】[第5の実施の形態]本発明の第5の実施
の形態を、図11及び図12を参照して説明する。
[Fifth Embodiment] A fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0048】本実施の形態は、すでに説明した第1の実
施の形態ないし第3の実施の形態の何れかに対して、受
光素子12として受光面の領域を2分割して、各領域の
出力信号の差演算が実行可能な受光素子12Aが使用さ
れている。
This embodiment is different from any of the first to third embodiments described above in that the area of the light receiving surface as the light receiving element 12 is divided into two and the output of each area is divided. A light receiving element 12A capable of performing a signal difference calculation is used.

【0049】本実施の形態のその他の部分の構成は、す
でに説明した第1の実施の形態ないし第3の実施の形態
の何れかと同一なので、重複する説明は行わない。
The configuration of the other parts of the present embodiment is the same as any of the first to third embodiments described above, and will not be described again.

【0050】本実施の形態では、受光素子12Aの受光
領域23A、23Bのそれぞれについて、スケール13
からの反射光Lrの光量が検出され、検出値の差演算が
行われる。反射光Lrが受光領域23B側から受光領域
23A側に移動した場合には、検出値の差演算値は図1
2に示すような特性を示し、図のゼロクロスポイント
は、反射光Lrが受光素子12Aの受光面の中央に位置
していることを示す。
In this embodiment, the scale 13 is provided for each of the light receiving areas 23A and 23B of the light receiving element 12A.
The amount of reflected light Lr from is detected, and the difference between the detected values is calculated. When the reflected light Lr moves from the light receiving area 23B side to the light receiving area 23A side, the difference calculated value of the detection values is as shown in FIG.
2, the zero cross point in the figure indicates that the reflected light Lr is located at the center of the light receiving surface of the light receiving element 12A.

【0051】このように、本実施の形態によると、請求
項1ないし請求項3の何れかで得られる効果に加えて、
受光素子12Aの受光領域23A、23Bのそれぞれに
ついて、スケール13からの反射光Lrの光量が検出さ
れ、その差演算が行われるので、反射光Lrの受光素子
12Aの受光面上の位置を高精度で検出することが可能
になる。
As described above, according to the present embodiment, in addition to the effects obtained in any one of claims 1 to 3,
For each of the light receiving areas 23A and 23B of the light receiving element 12A, the amount of the reflected light Lr from the scale 13 is detected and the difference calculation is performed, so that the position of the reflected light Lr on the light receiving surface of the light receiving element 12A can be determined with high accuracy. It becomes possible to detect with.

【0052】[第6の実施の形態]本発明の第6の実施
の形態を、図13を参照して説明する。図13は本実施
の形態の受光素子の構成を示す説明図である。
[Sixth Embodiment] A sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 13 is an explanatory diagram showing the configuration of the light receiving element of the present embodiment.

【0053】本実施の形態は、すでに説明した第1の実
施の形態ないし第3の実施の形態の何れかに対して、受
光素子12として受光面を中心部と周辺部の領域に2分
割して、各領域の出力信号の差演算が実行可能な受光素
子12Bが使用されている。本実施の形態のその他の部
分の構成は、すでに説明した第1の実施の形態ないし第
3の実施の形態の何れかと同一なので、重複する説明は
行わない。
This embodiment is different from any of the first to third embodiments described above in that the light receiving surface is divided into a central part and a peripheral part as the light receiving element 12. Thus, a light receiving element 12B capable of executing a difference calculation of the output signal of each area is used. The configuration of the other portions of the present embodiment is the same as any of the first to third embodiments described above, and therefore, will not be described repeatedly.

【0054】本実施の形態では、受光素子12Bの受光
領域24A、24Bのそれぞれについて、スケール13
からの反射光Lrの光量が検出され、検出値の差演算が
行われ、得られた演算値に基づいて、反射光Lrの受光
素子12Bの受光面上の位置が求められる。
In this embodiment, the scale 13 is provided for each of the light receiving areas 24A and 24B of the light receiving element 12B.
The amount of reflected light Lr from is detected, the difference between the detected values is calculated, and the position of the reflected light Lr on the light receiving surface of the light receiving element 12B is determined based on the obtained calculated value.

【0055】このように、本実施の形態によると、請求
項1ないし請求項3の何れかで得られる効果に加えて、
受光素子12Bの受光領域24A、24Bのそれぞれに
ついて、スケール13からの反射光Lrの光量が検出さ
れ、その差演算が行われるので、反射光Lrの受光素子
12Bの受光面上の位置を高精度で検出することが可能
になる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the effects obtained in any one of claims 1 to 3,
For each of the light receiving areas 24A and 24B of the light receiving element 12B, the amount of the reflected light Lr from the scale 13 is detected and the difference calculation is performed, so that the position of the reflected light Lr on the light receiving surface of the light receiving element 12B can be determined with high accuracy. It becomes possible to detect with.

【0056】[第7の実施の形態]本発明の第7の実施
の形態を、図14を参照して説明する。図14は本実施
の形態の要部の構成を示す説明図である。
[Seventh Embodiment] A seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 14 is an explanatory diagram showing a configuration of a main part of the present embodiment.

【0057】本実施の形態は、すでに説明した第1の実
施の形態ないし第3の実施の形態の何れかに対して、受
光素子12C、12Dを使用し、受光素子12Cでは、
受光面の中心部に入射する反射光Lrが受光され、受光
素子12Dでは、受光面の周辺部に入射する反射光Lr
が受光されるように構成されている。即ち、本実施の形
態では、図14に示すように、受光素子として12C、
12Dが配設され、スケール13からの反射光Lrが、
ビームスプリッタ37に入射るされ、半透明反射面37
aを透過する光は、フィルタ20Bを介して受光素子1
2Cに入射され、半透明反射面37aで反射される光
は、フィルタ20Dを介して受光素子12Dに入射され
る。
This embodiment uses the light receiving elements 12C and 12D with respect to any one of the first to third embodiments described above.
The reflected light Lr incident on the central portion of the light receiving surface is received, and the light receiving element 12D receives the reflected light Lr incident on the peripheral portion of the light receiving surface.
Is configured to be received. That is, in the present embodiment, as shown in FIG.
12D is disposed, and the reflected light Lr from the scale 13 is
The light enters the beam splitter 37 and is reflected by the translucent reflection surface 37.
a through the filter 20B.
The light incident on 2C and reflected on the translucent reflection surface 37a is incident on the light receiving element 12D via the filter 20D.

【0058】フィルタ20Bには、中心部に透光領域2
5Aが形成され、その周辺には遮光領域25Bが形成さ
れており、フィルタ20Cには、中心部に遮光領域26
Bが形成され、その周辺には透光領域26Aが形成され
ている。
The filter 20B has a light-transmitting region 2 at the center.
5A are formed, and a light shielding area 25B is formed around the light shielding area 5A.
B is formed, and a light-transmitting region 26A is formed around it.

【0059】本実施の形態のその他の部分の構成は、す
でに説明した第1の実施の形態ないし第3の実施の形態
の何れかと同一なので、重複する説明は行わない。
The structure of the other parts of the present embodiment is the same as any of the first to third embodiments described above, and will not be described again.

【0060】本実施の形態では、受光素子12C、12
Dののそれぞれについて、スケール13からの反射光L
rの光量が検出され、検出値の差演算が行われ、得られ
る演算値に基づいて、反射光Lrの受光面上での位置が
求められる。
In this embodiment, the light receiving elements 12C, 12C
D, the reflected light L from the scale 13
The light amount of r is detected, the difference between the detected values is calculated, and the position of the reflected light Lr on the light receiving surface is obtained based on the calculated value.

【0061】このように、本実施の形態によると、請求
項1ないし請求項3の何れかで得られる効果に加えて、
受光素子12C、12Dによって、スケール13からの
反射光Lrの受光素子12Cの受光面の中心部の光量
と、受光素子12Dの周辺部の光量が検出され、その差
演算が行われるので、反射光Lrの受光素子12C、1
2Dの受光面上の位置を高精度で検出することが可能に
なる。
As described above, according to this embodiment, in addition to the effects obtained in any one of claims 1 to 3,
The light receiving elements 12C and 12D detect the amount of reflected light Lr from the scale 13 at the center of the light receiving surface of the light receiving element 12C and the amount of light around the light receiving element 12D, and the difference calculation is performed. Lr light receiving element 12C, 1
It is possible to detect the position on the light receiving surface of 2D with high accuracy.

【0062】[第8の実施の形態]本発明の第8の実施
の形態を、図15ないし図19を参照して説明する。図
15は本実施の形態の光照射動作の説明図、図16は本
実施の形態の長楕円ビーム形成の説明図、図17は本実
施の形態の長方形ビーム形成の説明図、図18は本実施
の形態の複数長方形ビーム形成の説明図、図19は実施
の形態の複数ビーム検出のマスク体の構成を示す説明図
である。
[Eighth Embodiment] An eighth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 15 is an explanatory diagram of the light irradiation operation of the present embodiment, FIG. 16 is an explanatory diagram of the formation of the elliptical beam of the present embodiment, FIG. 17 is an explanatory diagram of the rectangular beam formation of the present embodiment, and FIG. FIG. 19 is an explanatory diagram of the formation of a plurality of rectangular beams according to the embodiment, and FIG. 19 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a mask body for detecting a plurality of beams according to the embodiment.

【0063】本実施の形態の第1の方式は、図15に示
すように、従来の方式において、検査光スポットLs1
が微小焦点光であるために、スケール13上に付着する
例えば微小塵埃による汚部35によって生じるスケール
13の移動量の検出誤差を補償する方式を提供するもの
である。
As shown in FIG. 15, the first method of this embodiment is different from the conventional method in that the inspection light spot Ls1 is different from the conventional method.
Is a micro-focus light, and provides a method of compensating for a detection error of a movement amount of the scale 13 caused by a dirty portion 35 caused by, for example, minute dust adhering on the scale 13.

【0064】本実施の形態の第1の方式では、第1の実
施の形態ないし第7の実施の形態の何れかに対して、図
16に示すように、円筒レンズ30によって、長楕円検
査光Ls2を形成し、この長楕円検査光Ls2を、図1
5に示すようにスケール13上に入射させるような構成
にしてある。この場合、円筒レンズ30の使用に代え
て、光源10からの光を、図17に示すような開口部3
2が形成されたスリット31を通過させて、長方形の検
査光Lsaを形成してもよい。
According to the first method of the present embodiment, as shown in FIG. 16, an elliptic inspection light is formed by a cylindrical lens 30 as compared with any of the first to seventh embodiments. Ls2 is formed, and this oblong inspection light Ls2 is
As shown in FIG. 5, the light is incident on the scale 13. In this case, instead of using the cylindrical lens 30, the light from the light source 10 is transmitted through the opening 3 as shown in FIG.
The inspection light Lsa having a rectangular shape may be formed by passing through the slit 31 in which 2 is formed.

【0065】この第1の方式によると、スケール13の
移動方向に直角に伸びた検査光が、スケール13の光学
特性面に入射するので、微小な塵埃による汚部35の悪
影響を補償して、スケール13の移動量と方向とを高精
度で検出することが可能になる。
According to the first method, the inspection light extending at right angles to the moving direction of the scale 13 is incident on the optical characteristic surface of the scale 13, so that the adverse effect of the dirt portion 35 due to minute dust is compensated for. The movement amount and direction of the scale 13 can be detected with high accuracy.

【0066】本実施の形態の第2の方式では、さらにス
ケール13の汚染に強い機能を持たせるために、光源1
0からの光を、図18に示すように、複数の長方形状の
開口部32a〜32fが形成されたスリット31Aを通
過させて、図15に示すように、スケール13の光学特
性面に、等間隔で互いに平行に形成された複数の長方形
状の検査光Ls3a〜Ls3eを同時に入射させる。
In the second system of the present embodiment, the light source 1 is provided in order to make the scale 13 more resistant to contamination.
The light from 0 passes through a slit 31A in which a plurality of rectangular openings 32a to 32f are formed as shown in FIG. 18, and is applied to the optical characteristic surface of the scale 13 as shown in FIG. A plurality of rectangular inspection lights Ls3a to Ls3e formed in parallel with each other at intervals are made to enter simultaneously.

【0067】そして、複数の長方形状の検査Ls3a〜
Ls3eのスケール13の光学特性面からの反射光Lr
を、図19に示すように楔形の開口部36a〜36fが
形成されたフィルタ20D、或いはすでに図10で説明
したフィルタ20Bを介して、受光素子で受光すること
により、かなり広い汚部35がスケール13に形成され
ていても、汚部35の悪影響を補償して、スケール13
の移動量と方向とを高精度で検出することが可能にな
る。
Then, a plurality of rectangular inspections Ls3a to
Light Lr reflected from the optical characteristic surface of the scale 13 of Ls3e
Is received by the light receiving element through the filter 20D in which the wedge-shaped openings 36a to 36f are formed as shown in FIG. 19, or the filter 20B already described in FIG. 13, the scale 13 compensates for the adverse effects of the contaminated portion 35.
It is possible to detect the movement amount and direction of the object with high accuracy.

【0068】このように、本実施の形態によると、スケ
ール13に光学特性に悪影響を及ぼす汚部35が付着し
ている場合でも、スケール13の移動方向に直角方向に
長い長楕円形、或いは長方形状の検査光を、望ましくは
複数個同時にスケール13の光学特性面に入射すること
により、汚部35の悪影響を補償して、スケール13の
移動量と方向とを高精度で検出することが可能になる。
As described above, according to the present embodiment, even when the dirty portion 35 which adversely affects the optical characteristics is attached to the scale 13, the oblong shape or the rectangular shape long in the direction perpendicular to the moving direction of the scale 13 is provided. It is possible to detect the movement amount and direction of the scale 13 with high accuracy by compensating for the adverse effect of the contaminated portion 35 by simultaneously inputting a plurality of inspection light beams into the optical characteristic surface of the scale 13 at the same time. become.

【0069】なお、本発明は、以上の実施の形態に限定
されるものではなく、例えば受光手段としては、光位置
検出センサ(PSD)、ラインセンサなど各種の検出器
を使用することが可能であり、光学特性面として、立方
体の一つのコーナを切断したコーナーキューブを連続し
た面として、どの方向か入射光でも、入射方向と逆方向
に反射するようにし、スケールの移動方向の角度のみな
らず、スケールの移動方向に垂直方向の角度の検出も可
能で、さらにスケールとして、屈折率分布を備えた裏面
反射を利用するスケールを使用することが可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, various detectors such as a light position detecting sensor (PSD) and a line sensor can be used as the light receiving means. As an optical characteristic surface, as a continuous surface, a corner cube cut at one corner of a cube, incident light in any direction is reflected in the opposite direction to the incident direction, not only the angle of the scale movement direction but also It is also possible to detect the angle in the direction perpendicular to the direction in which the scale moves, and it is also possible to use a scale that utilizes backside reflection with a refractive index distribution as the scale.

【0070】[0070]

【発明の効果】請求項1記載の発明によると、光源から
の検査光を、光の反射特性が相対移動方向に周期的且つ
連続的に繰り返し変化するように、同一の凹凸表面形状
が周期的且つ連続的に繰り返し形成された光学特性面を
備えたスケールに照射され、光源とスケールとが、相対
移動方向に相対的に移動され、検査光の光学特性面から
の反射光を受光する受光手段の受光量に基づいて、光源
とスケールとの相対位置の変化が検出されるので、光源
と受光手段を収容する検出ヘッドと、スケールとを互い
に接触しない充分な間隔を保持して配設して、接触によ
る損傷を避け、スケールの相対移動方向に直角方向への
移動を許容することが可能になり、さらに複雑な位置決
め調整のない簡単で小型化された構成とすることが可能
になる。
According to the first aspect of the present invention, the same uneven surface shape of the inspection light from the light source is periodically changed so that the reflection characteristic of the light periodically and continuously changes in the relative movement direction. Light receiving means for irradiating a scale having an optical characteristic surface formed continuously and repeatedly, moving the light source and the scale relatively in a relative movement direction, and receiving reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface Since the change in the relative position between the light source and the scale is detected based on the amount of received light, the detection head accommodating the light source and the light receiving means and the scale are arranged with sufficient spacing so as not to contact each other. In addition, it is possible to avoid damage due to contact and to allow movement of the scale in a direction perpendicular to the relative movement direction of the scale, and it is possible to achieve a simple and compact configuration without complicated positioning adjustment.

【0071】請求項2記載の発明によると、光源からの
検査光が、隣接する二面が、水平基軸に対して所定の傾
斜角度で互いに対向して配列されたV溝の単位配列が、
周期的に連続して繰り返し形成されており、光の反射特
性が相対移動方向に周期的且つ連続的に繰り返し変化す
る光学特性面を備えたスケールに照射され、光源とスケ
ールとが、相対移動方向に相対的に移動され、検査光の
光学特性面からの反射光が、導光手段により、相対位置
の変化に応じて入射光量を変化させて受光される受光手
段の受光量に基づいて、光源とスケールとの相対位置の
変化が検出されるので、請求項1記載の発明で得られる
効果に加えて、受光手段を光源の光軸に直角に接近配置
して、全体の構成をコンパクトにすることが可能にな
り、導光手段が反射光を受光手段の受光面に光の拡散の
少ない状態で入射するので、反射光強度の高精度の検出
が可能になる。
According to the second aspect of the present invention, the unit array of the V-grooves in which the inspection light from the light source is arranged so that two adjacent surfaces face each other at a predetermined inclination angle with respect to the horizontal base axis,
The light source and the scale are illuminated on a scale having an optical characteristic surface which is periodically and repeatedly formed, and whose light reflection characteristic periodically and continuously changes repeatedly in a relative movement direction. The reflected light from the optical characteristic surface of the inspection light is moved relative to the light source, and the light guide unit changes the incident light amount according to the change in the relative position and receives the light. Since the change in the relative position between the light source and the scale is detected, in addition to the effects obtained by the first aspect, the light receiving means is disposed close to the optical axis of the light source at right angles, and the overall configuration is made compact. Since the light guide means makes the reflected light incident on the light receiving surface of the light receiving means in a state where the light is less diffused, it is possible to detect the reflected light intensity with high accuracy.

【0072】請求項3記載の発明によると、光源からの
検査光が、水平基軸に対して、入射面と反射面とが、4
5。の傾斜角度で互いに対向隣接して配列されたV溝の
単位配列が、周期的に連続して繰り返し形成されてお
り、光の反射特性が相対移動方向に周期的且つ連続的に
繰り返し変化する光学特性面を備えたスケールに照射さ
れ、光源とスケールとが、相対移動方向に相対的に移動
され、検査光の光学特性面からの反射光が、導光手段に
より、相対位置の変化に応じて入射光量を変化させて受
光される受光手段の受光量に基づいて、光源とスケール
との相対位置の変化が検出されるので、請求項2記載の
発明で得られる効果に加えて、たとえ、光源と受光手段
を収容する検出ヘッドが傾いても、受光手段の受光面に
は常に直角に反射光が入射され、光の拡散の全くない状
態で、反射光強度のより高精度の検出が可能になる。
According to the third aspect of the present invention, the inspection light from the light source is arranged such that the incident surface and the reflection surface are at 4 degrees with respect to the horizontal base axis.
5. The unit array of V-grooves that are arranged adjacent to each other at an inclination angle of the above is periodically and continuously formed repeatedly, and the optical reflection characteristic periodically and continuously repeatedly changes in the relative movement direction. Irradiated on a scale having a characteristic surface, the light source and the scale are relatively moved in the relative movement direction, and the reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface is changed by the light guide means according to the change in the relative position. A change in the relative position between the light source and the scale is detected based on the amount of light received by the light receiving means that receives the light by changing the amount of incident light. Even if the detection head that houses the light receiving means is tilted, the reflected light is always incident on the light receiving surface of the light receiving means at a right angle, enabling more accurate detection of the reflected light intensity without any light diffusion. Become.

【0073】請求項4記載の発明によると、請求項2ま
たは請求項3記載の発明で得られる効果に加えて、受光
手段の直前に配置されるマスク体により、導光手段が導
光する反射光の位置に対応して、反射光の透過光量が変
化するので、反射光の受光手段の受光面に一方向に的確
に位置付けて、反射光強度の的確で高精度の検出が可能
になる。
According to the fourth aspect of the present invention, in addition to the effects obtained by the second or third aspect of the present invention, the light guide means guides the reflected light by the mask disposed immediately before the light receiving means. Since the transmitted light amount of the reflected light changes according to the position of the light, the reflected light can be accurately positioned in one direction on the light receiving surface of the light receiving means of the reflected light, and the reflected light intensity can be accurately detected with high accuracy.

【0074】請求項5記載の発明によると、相対移動に
対応して導光手段が導光する反射光の移動方向に、反射
光を透過する開口の幅が変化する構造のマスク体を用い
て、請求項4記載の発明で得られる効果が実現される。
According to the fifth aspect of the present invention, the width of the opening through which the reflected light is transmitted is changed in the moving direction of the reflected light guided by the light guiding means in accordance with the relative movement. The effect obtained by the invention described in claim 4 is realized.

【0075】請求項6記載の発明によると、相対移動に
対応して導光手段が導光する反射光の移動方向に、反射
光の透過率が変化する構造のマスク体を用いて、請求項
4記載の発明で得られる効果が実現される。
According to the sixth aspect of the present invention, a mask body having a structure in which the transmittance of the reflected light changes in the moving direction of the reflected light guided by the light guiding means in response to the relative movement. The effects obtained by the invention described in Item 4 are realized.

【0076】請求項7記載の発明によると、請求項1な
いし請求項3の何れかに記載の発明で得られる効果に加
えて、受光手段には、相対移動に対応する受光面上の反
射光の移動方向に、複数に分割された受光領域が設けら
れているので、各受光領域の検出信号の差演算により、
受光位置を高精度で検出することが可能になる。
According to the seventh aspect of the present invention, in addition to the effect obtained by the first aspect of the present invention, the reflected light on the light receiving surface corresponding to the relative movement is provided to the light receiving means. In the moving direction of, there are provided a plurality of divided light receiving areas, so that the difference between the detection signals of the respective light receiving areas is calculated.
The light receiving position can be detected with high accuracy.

【0077】請求項8記載の発明によると、請求項1な
いし請求項3の何れかに記載の発明で得られる効果に加
えて、受光手段には、相対移動に対応する受光面上の反
射光の移動の中心部とその周辺部に分割された受光領域
が設けられているので、中心部の検出信号と周辺部の検
出信号の差演算により、受光位置を高精度で検出するこ
とが可能になる。
According to the eighth aspect of the present invention, in addition to the effects obtained by the first aspect of the present invention, the reflected light on the light receiving surface corresponding to the relative movement is provided to the light receiving means. The light receiving area is divided into the central part of the movement and the peripheral part, so it is possible to detect the light receiving position with high accuracy by calculating the difference between the detection signal of the central part and the detection signal of the peripheral part. Become.

【0078】請求項9記載の発明によると、請求項4な
いし請求項6の何れかに記載の発明で得られる効果に加
えて、マスク体と受光手段間に設けたレンズにより、マ
スク体からの反射光が受光手段の受光面に収束されるの
で、反射光強度の効率的で高精度の検出が可能になる。
According to the ninth aspect of the present invention, in addition to the effects obtained by any one of the fourth to sixth aspects, a lens provided between the mask body and the light receiving means allows the lens body to receive light from the mask body. Since the reflected light is converged on the light receiving surface of the light receiving means, efficient and highly accurate detection of the reflected light intensity becomes possible.

【0079】請求項10記載の発明によると、請求項1
ないし請求項3の何れかに記載の発明で得られる効果に
加えて、複数検査光照射手段により、光源から複数の検
査光が作成され、これら複数の検査光が、同時にスケー
ルの光学特性面に照射されるので、塵埃などによるスケ
ールの汚損を補償して、常に反射光強度の高精度の検出
が可能になる。
According to the tenth aspect, the first aspect is provided.
In addition to the effects obtained by the invention according to any one of claims 3 to 7, a plurality of inspection lights are generated from a light source by a plurality of inspection light irradiation units, and the plurality of inspection lights are simultaneously applied to the optical characteristic surface of the scale. Since the irradiation is performed, the contamination of the scale due to dust or the like is compensated, and the reflected light intensity can always be detected with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態の構成を示す正面説
明図である。
FIG. 1 is an explanatory front view showing a configuration of a first exemplary embodiment of the present invention.

【図2】同実施の形態の構成を示す側面説明図である。FIG. 2 is an explanatory side view showing the configuration of the embodiment.

【図3】本発明の第2の実施の形態の構成を示す説明図
である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a configuration of a second exemplary embodiment of the present invention.

【図4】同実施の形態の受光動作の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a light receiving operation of the embodiment.

【図5】同実施の形態の受光量変化の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a change in received light amount according to the embodiment.

【図6】同実施の形態の検出ヘッドの傾斜時の説明図で
ある。
FIG. 6 is an explanatory diagram when the detection head according to the embodiment is tilted.

【図7】本発明の第3の実施の形態の構成を示す説明図
である。
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a third exemplary embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第4の実施の形態の構成を示す説明図
である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a configuration of a fourth embodiment of the present invention.

【図9】同実施の形態のフィルタの構成例を示す説明図
である。
FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating a configuration example of a filter according to the embodiment;

【図10】同実施の形態のフィルタの構成例を示す説明
図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram illustrating a configuration example of a filter according to the embodiment;

【図11】本発明の第5の実施の形態の受光素子の構成
を示す説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a light receiving element according to a fifth embodiment of the present invention.

【図12】同実施の形態の受光信号の強度特性を示す特
性図である。
FIG. 12 is a characteristic diagram showing intensity characteristics of a received light signal of the embodiment.

【図13】本発明の第6の実施の形態の受光素子の構成
を示す説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a light receiving element according to a sixth embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第7の実施の形態の要部の構成を示
す説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing a configuration of a main part of a seventh embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第8の実施の形態の光照射動作の説
明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram of a light irradiation operation according to the eighth embodiment of the present invention.

【図16】同実施の形態の長楕円ビーム形成の説明図で
ある。
FIG. 16 is an explanatory diagram of long elliptical beam formation according to the first embodiment.

【図17】同実施の形態の長方形ビーム形成の説明図で
ある。
FIG. 17 is an explanatory diagram of rectangular beam formation of the embodiment.

【図18】同実施の形態の複数長方形ビーム形成の説明
図である。
FIG. 18 is an explanatory diagram of forming a plurality of rectangular beams according to the embodiment.

【図19】同実施の形態の複数ビーム検出のマスク体の
構成を示す説明図である。
FIG. 19 is an explanatory diagram showing a configuration of a mask body for multiple beam detection according to the embodiment.

【図20】従来の光学式エンコーダの構成を示す説明図
である。
FIG. 20 is an explanatory diagram showing a configuration of a conventional optical encoder.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 光源 11 レンズ 12 受光素子 12A 受光素子 12B 受光素子 13 スケール 13a 光学特性面 13b 光学特性面 13c 光学特性面 15 検出ヘッド 15A 検出ヘッド 15B 検出ヘッド 16 ビームスプリッタ 20 フィルタ 20A フィルタ 20B フィルタ 20C フィルタ 20D フィルタ Reference Signs List 10 light source 11 lens 12 light receiving element 12A light receiving element 12B light receiving element 13 scale 13a optical characteristic surface 13b optical characteristic surface 13c optical characteristic surface 15 detection head 15A detection head 15B detection head 16 beam splitter 20 filter 20A filter 20B filter 20C filter 20D filter

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA07 AA20 BB15 DD02 DD03 FF15 GG01 HH13 HH18 JJ07 KK01 MM02 MM16 MM26 QQ21 QQ51 UU05 UU06 UU07 2F103 BA17 BA37 BA43 CA03 DA01 EA05 EA15 EA21 EB01 EB11 EB22 EB32 EB35 ED07 ED21 FA11 FA15  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA07 AA20 BB15 DD02 DD03 FF15 GG01 HH13 HH18 JJ07 KK01 MM02 MM16 MM26 QQ21 QQ51 UU05 UU06 UU07 2F103 BA17 BA37 BA43 CA03 DA01 EA05 EA15 EB15 EB21

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源からの検査光を、光の反射特性が相
対移動方向に周期的且つ連続的に繰り返し変化する光学
特性面を備えたスケールに照射し、前記光源と前記スケ
ールとが、前記相対移動方向に相対的に移動され、前記
検査光の前記光学特性面からの反射光が、受光手段で受
光され、該受光手段の受光量に基づいて、前記光源と前
記スケールとの相対位置の変化を検出する光学式エンコ
ーダであり、 前記光学特性面には、同一の凹凸表面形状が周期的且つ
連続的に繰り返し形成されていることを特徴とする光学
式エンコーダ。
An inspection light from a light source is irradiated on a scale having an optical characteristic surface whose light reflection characteristic periodically and continuously changes in the direction of relative movement, and the light source and the scale are connected to the scale. Moved relatively in the relative movement direction, the reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface is received by the light receiving means, based on the amount of light received by the light receiving means, the relative position of the light source and the scale An optical encoder for detecting a change, wherein the same irregular surface shape is periodically and continuously repeated on the optical characteristic surface.
【請求項2】 光源からの検査光を、光の反射特性が相
対移動方向に周期的且つ連続的に繰り返し変化する光学
特性面を備えたスケールに照射し、前記光源と前記スケ
ールとが、前記相対移動方向に相対的に移動され、前記
検査光の前記光学特性面からの反射光が、受光手段で受
光され、該受光手段の受光量に基づいて、前記光源と前
記スケールとの相対位置の変化を検出する光学式エンコ
ーダであり、 前記光学特性面には、隣接する二面が、水平基軸に対し
て、所定の傾斜角度で互いに対向して配列されたV溝の
単位配列が、周期的に連続して繰り返し形成され、 前記反射面からの反射光を、前記相対位置の変化に応じ
て入射光量を変化させて、前記受光手段に導光する導光
手段が設けられていることを特徴とする光学式エンコー
ダ。
2. A scale having an optical characteristic surface whose light reflection characteristic periodically and continuously changes repeatedly in a relative movement direction with inspection light from a light source, wherein the light source and the scale are configured to Moved relatively in the relative movement direction, the reflected light of the inspection light from the optical characteristic surface is received by the light receiving means, based on the amount of light received by the light receiving means, the relative position of the light source and the scale An optical encoder that detects a change, wherein the optical characteristic surface has a unit array of V-grooves in which two adjacent surfaces are arranged to face each other at a predetermined inclination angle with respect to a horizontal base axis. Light guide means for changing the amount of incident light according to the change in the relative position and guiding the reflected light from the reflection surface to the light receiving means is provided. Optical encoder.
【請求項3】 請求項2記載の光学式エンコーダにおい
て、前記所定の傾斜角度が45°であることを特徴とす
る光学式エンコーダ。
3. An optical encoder according to claim 2, wherein said predetermined inclination angle is 45 °.
【請求項4】 請求項2または請求項3記載の光学式エ
ンコーダに対して、前記受光手段の直前に、前記導光手
段が導光する前記反射光の位置に対応して透過光量が変
化するマスク体が配置されていることを特徴とする光学
式エンコーダ。
4. The optical encoder according to claim 2, wherein the amount of transmitted light changes corresponding to the position of the reflected light guided by the light guiding means immediately before the light receiving means. An optical encoder, wherein a mask body is arranged.
【請求項5】 請求項4記載の光学式エンコーダにおい
て、前記マスク体が、前記相対移動に対応して前記導光
手段が導光する前記反射光の移動方向に、前記反射光を
透過する開口の幅が変化する構造であることを特徴とす
る光学式エンコーダ。
5. The optical encoder according to claim 4, wherein the mask body has an opening for transmitting the reflected light in a moving direction of the reflected light guided by the light guiding means in response to the relative movement. An optical encoder characterized in that it has a structure in which the width of the lens changes.
【請求項6】 請求項4記載の光学エンコーダにおい
て、前記マスク体が、前記相対移動に対応して前記導光
手段が導光する前記反射光の移動方向に、前記反射光の
透過率が変化する構造であることを特徴とする光学式エ
ンコーダ。
6. The optical encoder according to claim 4, wherein the mask body changes the transmittance of the reflected light in a moving direction of the reflected light guided by the light guiding means in response to the relative movement. An optical encoder characterized in that the optical encoder has a structure to perform.
【請求項7】 請求項1ないし請求項3の何れかに記載
の光学式エンコーダにおいて、前記受光手段は、前記相
対移動に対応する受光面上の前記反射光の移動方向に、
複数に分割された受光領域を有することを特徴とする光
学式エンコーダ。
7. The optical encoder according to claim 1, wherein the light receiving unit is configured to move the reflected light on a light receiving surface corresponding to the relative movement in a moving direction of the reflected light.
An optical encoder having a plurality of divided light receiving regions.
【請求項8】 請求項1ないし請求項3の何れかに記載
の光学式エンコーダにおいて、前記受光手段は、前記相
対移動に対応する受光面上の前記反射光の移動の中心部
とその周辺部に分割された受光領域を有することを特徴
とする光学式エンコーダ。
8. The optical encoder according to claim 1, wherein said light receiving means comprises a central portion of a movement of said reflected light on a light receiving surface corresponding to said relative movement and a peripheral portion thereof. An optical encoder having a light receiving region divided into a plurality of light receiving regions.
【請求項9】 請求項4ないし請求項6の何れかに記載
の光学式エンコーダに対して、前記マスク体と前記受光
手段間に、前記マスク体からの前記反射光を前記受光手
段の受光面に収束するレンズが設けられていることを特
徴とする光学式エンコーダ。
9. The optical encoder according to claim 4, wherein said light receiving surface of said light receiving means receives said reflected light from said mask body between said mask body and said light receiving means. An optical encoder, comprising: a lens that converges on a lens.
【請求項10】 請求項1ないし請求項3の何れかに記
載の光学式エンコーダに対して、前記光源から複数の検
査光を作成し、これら複数の検査光を、同時に前記スケ
ールの前記光学特性面に照射する複数検査光照射手段が
設けられていることを特徴とする光学式エンコーダ。
10. The optical encoder according to claim 1, wherein a plurality of inspection light beams are generated from the light source, and the plurality of inspection light beams are simultaneously transmitted to the optical characteristic of the scale. An optical encoder comprising a plurality of inspection light irradiation means for irradiating a surface.
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