JP2000112661A - Method for adjusting optical axis of scanning light for optical scanning touch panel - Google Patents

Method for adjusting optical axis of scanning light for optical scanning touch panel

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JP2000112661A
JP2000112661A JP27905198A JP27905198A JP2000112661A JP 2000112661 A JP2000112661 A JP 2000112661A JP 27905198 A JP27905198 A JP 27905198A JP 27905198 A JP27905198 A JP 27905198A JP 2000112661 A JP2000112661 A JP 2000112661A
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Japan
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light
scanning
retroreflector
optical axis
optical
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Susumu Suzuki
進 鈴木
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Fujitsu General Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily adjust an optical axis of scanning light for performing optical scanning of a specified position (e.g. a center part) of a retroreflective body even when the scanning light is the light in the invisible region. SOLUTION: An optical scanning touch panel for performing the optical scanning of a retroreflector 13 by the scanning light 18 outputted from a light emitting part by rotation of a scan mirror is constituted by forming slits Sas, Sbs and Sae, Sbe with approximately the same width as beam diameter of the scanning light 18 at a starting position and an ending position of the optical scanning of the retroreflector 13 and providing photodetectors 30as to 30be to face the slits Sas to Sbe on the opposite side of an optical scanning surface of the retroreflector 13 and optical axis adjusting mechanism (mechanism for adjusting a mounting angle of optical scanning units 11a, 11b and a substrate 10 by a screw) for adjusting the optical axis of the scanning light 18 and the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that a detected value of the photodetectors 30as to 30be provided at the starting position and the ending position of the optical scanning becomes maximum.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スキャンミラーの
回転によって発光部から出力した光で再帰性反射体を光
走査し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラ
ーの反射を介して受光部で受光する光走査型タッチパネ
ルの走査光光軸調整方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to optical scanning of a retroreflector with light output from a light emitting section by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received via reflection of the scan mirror. The present invention relates to a method of adjusting a scanning light optical axis of a light scanning type touch panel that receives light at a unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光走査型タッチパネルは図11に
示すように構成されていた。すなわち、10は表示装置
の表示画面の前面に設けられる光学フィルタなどの角形
の基板で、この基板10の1方辺の側面の両隅に光走査
ユニット11a、11bを配置し、基板10の一面の光
走査ユニット11a、11bの取付け部を除く3方辺に
細長いフレーム12が固着され、このフレーム12の内
側面に再帰性反射体13が取り付けられている。この再
帰性反射体13は例えばテープ形状に形成され、前記フ
レーム12の内側面に貼着されている。
2. Description of the Related Art A conventional optical scanning type touch panel is configured as shown in FIG. That is, reference numeral 10 denotes a rectangular substrate such as an optical filter provided on the front surface of the display screen of the display device, and optical scanning units 11a and 11b are arranged at both corners on one side of the substrate 10, and one surface of the substrate 10 An elongated frame 12 is fixed to three sides of the optical scanning units 11a and 11b except for a mounting portion, and a retroreflector 13 is attached to an inner surface of the frame 12. The retroreflector 13 is formed in a tape shape, for example, and is adhered to the inner surface of the frame 12.

【0003】光走査ユニット11aは、図12に示すよ
うに、ユニット支持板25の固定部(図示省略)が基板
10に接着剤などで固着され、この固定部と一体の略L
字形の支持部27の上にユニット本体14が載せられ角
度調整自在に取り付けられている。ユニット本体14
は、下面に前記支持部27に遊嵌する略L字形のL字溝
15が形成され、内部には、半導体レーザ装置などの発
光素子(例えばレーザダイオード)16と、受光素子1
7が収納され、上面には、発光素子16から出力した走
査光としてのレーザ光18(以下、単に光18と記述す
る)を屈折させる屈折プリズム19と、この屈折させた
光18を透過させるハーフミラー20を具備したプリズ
ム21と、スキャンミラー22とが設けられ、このスキ
ャンミラー22はパルスモータ23により回転自在に設
けられている。光走査ユニット11bは光走査ユニット
11aと同様に構成されている。
In the optical scanning unit 11a, as shown in FIG. 12, a fixed portion (not shown) of a unit support plate 25 is fixed to a substrate 10 with an adhesive or the like, and a substantially L portion integrated with the fixed portion is provided.
The unit main body 14 is mounted on the letter-shaped support portion 27 and is attached so that the angle can be adjusted. Unit body 14
The lower surface is formed with a substantially L-shaped L-shaped groove 15 which is loosely fitted to the support portion 27, and a light-emitting element (eg, a laser diode) 16 such as a semiconductor laser device and a light-receiving element 1
7, a refraction prism 19 for refracting laser light 18 (hereinafter simply referred to as light 18) as scanning light output from the light emitting element 16 and a half for transmitting the refracted light 18 are provided on the upper surface. A prism 21 having a mirror 20 and a scan mirror 22 are provided. The scan mirror 22 is rotatably provided by a pulse motor 23. The optical scanning unit 11b has the same configuration as the optical scanning unit 11a.

【0004】そして、発光素子16から出力した光18
が屈折プリズム19で屈折し、ハーフミラー20及びプ
リズム21を透過してスキャンミラー22で反射し再帰
性反射体13に照射する。この再帰性反射体13では、
入射光と略同一光路を戻りスキャンミラー22で反射
し、プリズム21のハーフミラー20で反射屈折して受
光素子17で受光される。パルスモータ23によるスキ
ャンミラー22の回転により光18は角度θ(例えば約
90°)だけ走査される。この光走査範囲内に対象物
(例えば指やペン)24が有ると、この対象物24によ
って光18が遮断されるので、受光素子17の受光エネ
ルギーに基づいて対象物24の角度θが検出される。光
走査ユニット11a、11bのそれぞれの走査で検出さ
れた対象物24の角度をθ1、θ2とすると、対象物2
4で指示された座標面上(基板10上)の位置Pの座標
(Px,Py)が三角測量の原理によって求められる。
The light 18 output from the light emitting element 16 is
Is refracted by the refraction prism 19, passes through the half mirror 20 and the prism 21, is reflected by the scan mirror 22, and irradiates the retroreflector 13. In this retroreflector 13,
The reflected light is reflected by the scan mirror 22 on the substantially same optical path as the incident light, is reflected and refracted by the half mirror 20 of the prism 21, and is received by the light receiving element 17. The light 18 is scanned by an angle θ (for example, about 90 °) by the rotation of the scan mirror 22 by the pulse motor 23. If there is an object (for example, a finger or a pen) 24 in this optical scanning range, the light 18 is blocked by the object 24, and the angle θ of the object 24 is detected based on the light receiving energy of the light receiving element 17. You. Assuming that the angles of the object 24 detected in the respective scans of the optical scanning units 11a and 11b are θ1 and θ2, the object 2
The coordinates (Px, Py) of the position P on the coordinate plane (on the substrate 10) designated by 4 are obtained by the principle of triangulation.

【0005】すなわち、図13に模式的に示すように、
基板10上の光走査ユニット11aから光走査ユニット
11bまでの長さをLとすると、 Py=Px・tanθ1…(1) Py=(L−Px)・tanθ2…(2) の関係が成立するので、この式(1)(2)に基づいて Px={tanθ2/(tanθ1+tanθ2)}・L…(3) Py={tanθ1・tanθ2/(tanθ1+tanθ2)}・L…(4) が求められる。
[0005] That is, as schematically shown in FIG.
Assuming that the length from the optical scanning unit 11a to the optical scanning unit 11b on the substrate 10 is L, the following relationship holds: Py = Px · tan θ1 (1) Py = (L−Px) · tan θ2 (2) Based on the equations (1) and (2), Px = {tan θ2 / (tan θ1 + tan θ2)} · L (3) Py = {tan θ1 / tan θ2 / (tan θ1 + tan θ2)} · L (4)

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図11
に示した従来例では、光18を再帰性反射体13の所定
位置(例えば中央部)に照射するための走査光光軸調整
が煩雑になるという問題点があった。特に光18が不可
視光(例えば赤外光)の場合(通常不可視光の場合が多
い)、走査光光軸調整が煩雑になるという問題点があっ
た。
However, FIG.
In the conventional example shown in (1), there is a problem that the adjustment of the scanning light optical axis for irradiating the light 18 to a predetermined position (for example, the center) of the retroreflector 13 becomes complicated. In particular, when the light 18 is invisible light (for example, infrared light) (usually, invisible light is often used), there is a problem that the adjustment of the scanning light optical axis becomes complicated.

【0007】本発明は、上述の問題点に鑑みなされたも
ので、発光部(例えばレーザダイオード)から出力した
光(例えばレーザ光)が不可視光(例えば赤外光)の場
合でも、光を再帰性反射体の所定位置(例えば中央部)
に照射するための走査光光軸調整を簡単に行うことがで
きるようにすることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems. Even when light (for example, laser light) output from a light emitting unit (for example, laser diode) is invisible light (for example, infrared light), light is recursively reflected. Position (for example, the center) of the reflective body
It is an object of the present invention to make it possible to easily adjust the optical axis of a scanning light for irradiating light.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る走
査光光軸調整方法は、スキャンミラーの回転によって発
光部から出力した光で再帰性反射体を光走査し、この再
帰性反射体で反射した光をスキャンミラーの反射を介し
て受光部で受光する光走査型タッチパネルにおいて、再
帰性反射体の光走査の開始位置と終了位置に走査光のビ
ーム径とほぼ同一幅のスリットを形成し、再帰性反射体
の光走査面の反対側にスリットに臨む光検出器を設け、
走査光の光軸を調整する光軸調整機構を設け、光検出器
の検出値が最大となるように光軸調整機構を調整するこ
とを特徴とする。光走査の開始位置と終了位置に設けら
れた光検出器の検出値が最大となるように光軸調整機構
を調整するので、走査光が不可視光の場合でも、走査光
が再帰性反射体の所定位置(例えば中央部)を走査する
ように調整する光軸調整を、簡単に行うことができる。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for adjusting the optical axis of a scanning light, wherein the retroreflector is optically scanned with light output from a light emitting unit by rotation of a scanning mirror. In the optical scanning touch panel that receives the light reflected by the light-receiving unit through the reflection of the scan mirror, slits with the same width as the beam diameter of the scanning light are formed at the start and end positions of the optical scanning of the retroreflector And, provided a photodetector facing the slit on the opposite side of the optical scanning surface of the retroreflector,
An optical axis adjusting mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light is provided, and the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the detection value of the photodetector is maximized. Since the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detection values of the photodetectors provided at the start position and the end position of the optical scanning become maximum, even when the scanning light is invisible light, the scanning light is reflected by the retroreflector. The optical axis adjustment for adjusting the scanning so as to scan a predetermined position (for example, the center) can be easily performed.

【0009】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、再帰性反射体にスリットを形成しないで走査光の光
軸を調整できるようにするために、再帰性反射体にスリ
ットを形成する代わりに、再帰性反射体を取り付けるフ
レームの光走査の開始位置と終了位置に対応した位置に
スリットを形成し、フレームの再帰性反射体取付面の反
対側にスリットに臨む光検出器を設け、フレームのスリ
ット部に再帰性反射体を取り付ける前に、光検出器の検
出値が最大となるように光軸調整機構を調整する。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, a slit is formed in the retroreflector so that the optical axis of the scanning light can be adjusted without forming a slit in the retroreflector. Instead, a slit is formed at a position corresponding to the start position and the end position of the optical scanning of the frame to which the retroreflector is attached, and a photodetector facing the slit is provided on the opposite side of the retroreflector mounting surface of the frame, Before attaching the retroreflector to the slit portion of the frame, the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detection value of the photodetector is maximized.

【0010】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、再帰性反射体にスリットを形成せずに走査光の光軸
を調整できるようにするために、再帰性反射体にスリッ
トを形成する代わりに、再帰性反射体を取り付けるフレ
ームの光走査の開始位置と終了位置に対応した位置にス
リットを形成し、フレームの再帰性反射体取付面の反対
側にスリットに臨む光検出器を設け、フレームに再帰性
反射体を取り付ける前に、光検出器の検出値が最大とな
るように光軸調整機構を調整する。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect, a slit is formed in the retroreflector so that the optical axis of the scanning light can be adjusted without forming the slit in the retroreflector. Instead, a slit is formed at a position corresponding to the optical scanning start and end positions of the frame on which the retroreflector is mounted, and a photodetector facing the slit is provided on the opposite side of the retroreflector mounting surface of the frame. Before the retroreflector is attached to the frame, the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detection value of the photodetector is maximized.

【0011】請求項4の発明に係る走査光光軸調整方法
は、スキャンミラーの回転によって発光部から出力した
光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射体で反射
した光をスキャンミラーの反射を介して受光部で受光す
る光走査型タッチパネルにおいて、再帰性反射体の光走
査の開始位置と終了位置の近傍の光走査面側に、走査光
のビーム径とほぼ同一幅のスリットが形成された調整用
治具を設け、走査光の光軸を調整する光軸調整機構を設
け、受光部の受光エネルギーが最大となるように光軸調
整機構を調整することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method of adjusting a scanning light optical axis, wherein a light output from a light emitting section by rotation of a scan mirror is used to optically scan a retroreflector, and light reflected by the retroreflector is scanned. In an optical scanning type touch panel that receives light at a light receiving unit through reflection of a mirror, a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is provided on the optical scanning surface near the start position and the end position of optical scanning of the retroreflector. Is provided, an optical axis adjusting mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light is provided, and the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving unit is maximized.

【0012】光走査の開始位置と終了位置に設けられた
受光部の受光エネルギーが最大となるように光軸調整機
構を調整するので、走査光が不可視光の場合でも、この
走査光が再帰性反射体の所定位置(例えば中央部)を走
査するように調整する走査光光軸調整を、簡単に行うこ
とができる。さらに、受光部の受光エネルギーが最大と
なるように光軸調整機構を調整するので、請求項1〜3
の発明のように再帰性反射体やフレームにスリットを設
ける必要がないとともに、光検出器を設ける必要もな
い。
Since the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving portions provided at the start position and the end position of the optical scanning becomes maximum, even if the scanning light is invisible light, the scanning light is recursive. The optical axis of the scanning light, which is adjusted to scan a predetermined position (for example, the center) of the reflector, can be easily performed. Further, the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving section is maximized.
It is not necessary to provide a slit in the retroreflective body or the frame unlike the invention of the above-mentioned invention, and it is not necessary to provide a photodetector.

【0013】請求項5の発明は、請求項4の発明におい
て、走査光が不可視光の赤外光の場合でも、走査光の大
体の位置を目で確認できるようにするために、発光部は
赤外領域のレーザ光を出力するレーザダイオードとして
なり、調整用治具の光走査面側に、レーザ光の入射によ
り可視光を発光する発光フィルムを貼着する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, even when the scanning light is invisible infrared light, the light emitting portion is provided so that the approximate position of the scanning light can be visually confirmed. A laser diode that outputs laser light in the infrared region, and a light-emitting film that emits visible light upon incidence of the laser light is attached to the light scanning surface of the adjustment jig.

【0014】請求項6の発明は、請求項1、2、3、4
又は5記載の発明において、光軸調整機構の構成を簡単
にするために、光軸調整機構を、発光部、受光部及びス
キャンミラーを固定したユニット本体と、座標面を形成
する基板に固定したユニット支持板と、ユニット本体を
ユニット支持板に角度調整可能に取り付ける複数のねじ
とで構成する。
The invention according to claim 6 is the invention according to claims 1, 2, 3, and 4.
Or, in the invention described in 5 above, in order to simplify the configuration of the optical axis adjustment mechanism, the optical axis adjustment mechanism is fixed to the unit body on which the light emitting unit, the light receiving unit and the scan mirror are fixed, and to the substrate forming the coordinate plane. It comprises a unit support plate and a plurality of screws for attaching the unit body to the unit support plate so as to adjust the angle.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明による光走査型タッ
チパネルの走査光光軸調整方法の一実施形態例を図1以
下の図面を用いて説明する。図1はフロントベッセルの
図示を省略した光走査型タッチパネルの平面図を示すも
ので、この図において図11〜図13と同一部分は同一
符号とする。図1において、10は基板、11a、11
bは光走査ユニット、12はフレーム12、13は再帰
性反射体で、これらは図11と同様に構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a scanning light optical axis adjusting method for an optical scanning type touch panel according to the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view of an optical scanning type touch panel in which a front vessel is not shown. In FIG. 1, the same parts as those in FIGS. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a substrate, 11a, 11
b is an optical scanning unit, 12 is a frame 12, and 13 is a retroreflector, which are configured in the same manner as in FIG.

【0016】前記フレーム12及び再帰性反射体13の
前記光走査ユニット11a、11bによる光走査の開始
位置と終了位置には、図2及び図3にも示すように、走
査光としての光18のビーム径とほぼ同一幅のスリット
Sas、SbsとSae、Sbeが形成されている。前
記再帰性反射体13の光走査面の反対側には、前記スリ
ットSas、SbsとSae、Sbeに臨む光検出器と
してのフォトダイオード30as、30bsと30a
e、30beが設けられている。このフォトダイオード
30as、30bsと30ae、30beは、フロント
ベッセル31の外縁部32から内側へ突設したリブ33
に固定され、対応するスリットSas、SbsとSa
e、Sbeを通った光18を検出する。前記基板10と
フロントベッセル31は、支柱34とホルダ35とねじ
36とで互いに固定的に取り付けられている。37は透
明なフィルタ膜、38はプラズマディスプレイの表示画
面部を表す。
As shown in FIGS. 2 and 3, a light 18 as a scanning light is located at a start position and an end position of the frame 12 and the retroreflector 13 for optical scanning by the optical scanning units 11a and 11b. Slits Sas, Sbs and Sae, Sbe having substantially the same width as the beam diameter are formed. On the opposite side of the light scanning surface of the retroreflector 13, photodiodes 30as, 30bs and 30a as photodetectors facing the slits Sas, Sbs and Sae and Sbe.
e and 30be are provided. The photodiodes 30as, 30bs and 30ae, 30be are provided with ribs 33 projecting inward from the outer edge 32 of the front vessel 31.
And the corresponding slits Sas, Sbs and Sa
e, Light 18 passing through Sbe is detected. The substrate 10 and the front vessel 31 are fixedly attached to each other with a support column 34, a holder 35, and screws 36. 37 denotes a transparent filter film, and 38 denotes a display screen portion of the plasma display.

【0017】前記光走査ユニット11aは、図4、図5
及び図12に示すように、ユニット支持板25の固定部
26が基板10に接着剤などで固着され、この固定部2
6と一体の略L字形の支持部27の上にユニット本体1
4が載せられ角度調整自在に取り付けられている。すな
わち、前記ユニット本体14は、下面に前記支持部27
に遊嵌する略L字形のL字溝15が形成され、内部には
発光素子16と、受光素子17が収納され、上面には、
発光素子16から出力した光18を屈折させる屈折プリ
ズム19と、この屈折させた光18を透過させるハーフ
ミラー20を具備したプリズム21と、スキャンミラー
22とが設けられ、このスキャンミラー22はパルスモ
ータ23により回転自在に設けられている。前記光走査
ユニット11bは前記光走査ユニット11aと同様に構
成されている。
The optical scanning unit 11a is shown in FIGS.
As shown in FIG. 12, a fixing portion 26 of the unit support plate 25 is fixed to the substrate 10 with an adhesive or the like.
The unit body 1 is placed on a substantially L-shaped support portion 27 integrated with
4 is mounted and mounted so that the angle can be freely adjusted. That is, the unit main body 14 is provided with the support portion 27 on the lower surface.
A light-emitting element 16 and a light-receiving element 17 are housed therein.
A refraction prism 19 for refracting the light 18 output from the light emitting element 16, a prism 21 having a half mirror 20 for transmitting the refracted light 18, and a scan mirror 22 are provided. The scan mirror 22 is a pulse motor. 23 so as to be freely rotatable. The optical scanning unit 11b has the same configuration as the optical scanning unit 11a.

【0018】前記ユニット支持板25の支持部27に
は、図5に示すように、L字形の両端部と曲り部の3か
所に位置してばね受け孔40、40、40が穿設され、
このばね受け孔40、40、40の中央には、ねじ孔4
1、41、41が形成されている。また、前記ユニット
本体14のL字溝15部分にも、前記ばね受け孔40、
40、40と一致してねじ差し込み孔42、42、42
が穿設され、ばね43、43、43を介在してねじ4
4、44、44で取り付けられている。前記ユニット本
体14、ユニット支持板25及びねじ44、44、44
は光軸調整機構を構成し、3つのねじ44、44、44
のねじ孔41、41、41へのねじ込み度合いを調整す
ることによって、再帰性反射体13の光走査面を走査す
る光18の光軸を変えることができる。
As shown in FIG. 5, spring receiving holes 40, 40, and 40 are formed in the support portion 27 of the unit support plate 25 at three positions, that is, both ends of the L-shape and a bent portion. ,
At the center of the spring receiving holes 40, 40, 40, screw holes 4 are provided.
1, 41, 41 are formed. Further, the spring receiving hole 40,
Screw insertion holes 42, 42, 42 corresponding to 40, 40
Are drilled, and screws 4 are inserted through springs 43, 43, 43.
4, 44, 44 are attached. The unit body 14, the unit support plate 25, and the screws 44, 44, 44
Constitutes an optical axis adjusting mechanism, and three screws 44, 44, 44
By adjusting the degree of screwing into the screw holes 41, 41, 41, the optical axis of the light 18 that scans the optical scanning surface of the retroreflector 13 can be changed.

【0019】前記発光素子16には、図6に示すよう
に、レーザドライバ50が結合し、前記パルスモータ2
3にはモータドライバ51が結合している。前記受光素
子17には、その受光エネルギーに相当した電流を電圧
に変換する電流・電圧変換回路52、A/D(アナログ
/ディジタル)変換回路53及び1次反射光分離回路5
4が順次結合し、この1次反射光分離回路54は、前記
A/D変換回路53の出力信号の中から前記スキャンミ
ラー22の1次反射光(受光エネルギー最大)に相当す
る信号を分離して光走査開始パルスを出力する。55は
計測用クロックを出力する発振器、56はカウンタで、
このカウンタ56は前記1次反射光分離回路54で得ら
れた光走査開始パルスの1周期における前記発振器55
の計測用クロックを計数する。60は比較器で、この比
較器60は、前記電流・電圧変換回路52の出力電圧を
基準電圧と比較し、前記対象物24で遮断された光に相
当する対象物検出信号を出力する。前記フォトダイオー
ド30as、30aeには、その受光エネルギーに相当
した電流を電圧に変換する電流・電圧変換回路62、6
3が結合し、この電流・電圧変換回路62、63の出力
側にはA/D変換回路64、65が結合している。
As shown in FIG. 6, a laser driver 50 is connected to the light emitting element 16, and the pulse motor 2
A motor driver 51 is connected to 3. The light receiving element 17 includes a current / voltage conversion circuit 52 for converting a current corresponding to the received light energy into a voltage, an A / D (analog / digital) conversion circuit 53, and a primary reflected light separation circuit 5.
4 are sequentially coupled, and the primary reflected light separation circuit 54 separates a signal corresponding to the primary reflected light (maximum received light energy) of the scan mirror 22 from the output signal of the A / D conversion circuit 53. And outputs an optical scanning start pulse. 55 is an oscillator for outputting a measuring clock, 56 is a counter,
The counter 56 controls the oscillator 55 in one cycle of the optical scanning start pulse obtained by the primary reflected light separation circuit 54.
Is counted. A comparator 60 compares the output voltage of the current / voltage conversion circuit 52 with a reference voltage, and outputs an object detection signal corresponding to the light blocked by the object 24. The photodiodes 30as and 30ae have current / voltage conversion circuits 62 and 6 for converting a current corresponding to the received light energy into a voltage.
A / D conversion circuits 64 and 65 are connected to the output side of the current / voltage conversion circuits 62 and 63, respectively.

【0020】70はMPU(マイクロプロセッサユニッ
ト)で、このMPU70は、ROM(リードオンリメモ
リ)、RAM(ランダムアクセスメモリ)、カウンタ及
びレジスタを具備し、前記カウンタ56の計数値信号と
前記比較器60の対象物検出信号に基づいて対象物24
の走査角度θ1を演算する。また、前記MPU70は、
後述する光走査ユニット11bの受光素子の受光エネル
ギーに基づくカウンタの計数値信号と比較器の対象物検
出信号に基づいて対象物24の走査角度θ2を演算す
る。さらに、前記MPU70は、求めた角度θ1、θ2
を前記式(3)(4)にあてはめて演算することによ
り、対象物24で指示された座標面上(基板10上)の
位置Pの座標(Px,Py)を求め、対応した信号(例
えば座標表示信号)を表示装置72へ出力する。また、
前記MPU70は、前記A/D変換回路64、65の出
力信号に基づき、前記フォトダイオード30as、30
aeの受光エネルギーに相当した信号を前記表示装置7
2へ出力し、この受光エネルギーに相当したレベル値を
表示する。
Reference numeral 70 denotes an MPU (microprocessor unit). The MPU 70 includes a ROM (read only memory), a RAM (random access memory), a counter, and a register. Object 24 based on the object detection signal of
Is calculated. Further, the MPU 70
The scanning angle θ2 of the object 24 is calculated based on the count value signal of the counter based on the light receiving energy of the light receiving element of the optical scanning unit 11b described later and the object detection signal of the comparator. Further, the MPU 70 determines the angles θ1, θ2
Is applied to the above equations (3) and (4) to calculate the coordinates (Px, Py) of the position P on the coordinate plane (on the substrate 10) indicated by the object 24, and to obtain a corresponding signal (for example, (A coordinate display signal) to the display device 72. Also,
The MPU 70 controls the photodiodes 30as, 30as based on output signals of the A / D conversion circuits 64, 65.
ae corresponding to the received light energy of the display device 7
2 and a level value corresponding to the received light energy is displayed.

【0021】前記光走査ユニット11bの発光素子、パ
ルスモータには、前記光走査ユニット11aと同様にレ
ーザドライバ、モータドライバが結合している。前記光
走査ユニット11bの受光素子には、前記光走査ユニッ
ト11aと同様に、電流・電圧変換回路、A/D変換回
路、1次反射光分離回路、発振器、カウンタ及び比較器
が結合し、このカウンタの計数値信号と比較器の対象物
検出信号は前記MPU70に出力している。
A laser driver and a motor driver are connected to the light emitting element and the pulse motor of the optical scanning unit 11b, similarly to the optical scanning unit 11a. As in the optical scanning unit 11a, a current-voltage conversion circuit, an A / D conversion circuit, a primary reflected light separation circuit, an oscillator, a counter and a comparator are coupled to the light receiving element of the optical scanning unit 11b. The count value signal of the counter and the object detection signal of the comparator are output to the MPU 70.

【0022】前記フォトダイオード30bs、30be
には、前記フォトダイオード30as、30aeと同様
に、その受光エネルギーに相当した電流を電圧に変換す
る電流・電圧変換回路、A/D変換回路が順次結合し、
このA/D変換回路(図6では図示省略)の出力信号に
基づき、前記MPU70は前記フォトダイオード30b
s、30beの受光エネルギーに相当した信号を表示装
置72へ出力し、この受光エネルギーに相当したレベル
値を表示する。
The photodiodes 30bs and 30be
In the same manner as the photodiodes 30as and 30ae, a current / voltage conversion circuit for converting a current corresponding to the received light energy to a voltage and an A / D conversion circuit are sequentially coupled,
Based on the output signal of this A / D conversion circuit (not shown in FIG. 6), the MPU 70
A signal corresponding to the received energy of s, 30be is output to the display device 72, and a level value corresponding to the received energy is displayed.

【0023】つぎに、図1〜図6に示した光走査型タッ
チパネルにおいて、本発明による走査光光軸調整方法を
実施する作用を説明する。 A:まず、光走査ユニット11aによる光走査の走査光
光軸調整について説明する。 (イ)光走査の開始位置と終了位置に設けられたフォト
ダイオード30as、30aeの受光エネルギーに相当
した電流が、電流・電圧変換回路62、63で電圧に変
換され、A/D変換回路64、65でディジタル信号に
変換されてMPU70に入力し、このMPU70からの
出力信号に基づいて表示装置72がフォトダイオード3
0as、30aeの受光エネルギーに相当したレベル値
を表示する。 (ロ)この表示装置72の表示を見ながら、フォトダイ
オード30as、30aeの検出値が最大となるよう
に、光軸調整機構の3つのねじ44、44、44のねじ
孔41、41、41へのねじ込み度合いを調整する。フ
ォトダイオード30as、30aeの検出値が最大とな
るのは、再帰性反射体13の光走査面を走査する光18
の光軸がスリットSas、Saeの長手方向の中心軸と
一致したときである。このため、光18が不可視光の場
合でも、光18が再帰性反射体13の所定位置(例えば
中央部)を走査するように調整する走査光光軸調整を、
簡単に行うことができる。
Next, the operation of the scanning optical axis adjusting method according to the present invention in the optical scanning type touch panel shown in FIGS. 1 to 6 will be described. A: First, the adjustment of the scanning optical axis of the optical scanning by the optical scanning unit 11a will be described. (A) The current corresponding to the received light energy of the photodiodes 30as and 30ae provided at the start position and the end position of the optical scanning is converted into a voltage by the current / voltage conversion circuits 62 and 63, and the A / D conversion circuit 64 The digital signal is converted into a digital signal at 65 and input to the MPU 70. Based on the output signal from the MPU 70, the display device 72
A level value corresponding to the received energy of 0as, 30ae is displayed. (B) While watching the display on the display device 72, insert the three screws 44, 44, 44 of the optical axis adjusting mechanism into the screw holes 41, 41, 41 so that the detection values of the photodiodes 30as, 30ae become maximum. Adjust the degree of screwing. The detection values of the photodiodes 30as and 30ae are maximized when the light 18 that scans the optical scanning surface of the retroreflector 13 is used.
Is coincident with the central axis in the longitudinal direction of the slits Sas and Sae. For this reason, even when the light 18 is an invisible light, a scanning light optical axis adjustment for adjusting the light 18 to scan a predetermined position (for example, a center portion) of the retroreflector 13 is performed.
Easy to do.

【0024】B:つぎに、光走査ユニット11bによる
光走査の走査光光軸調整について説明する。 (イ)光走査の開始位置と終了位置に設けられたフォト
ダイオード30bs、30beの受光エネルギーに相当
した電流が電流・電圧変換回路で電圧に変換され、A/
D変換回路でディジタル信号に変換されてMPU70に
入力し、このMPU70からの出力信号に基づいて表示
装置72がフォトダイオード30bs、30beの受光
エネルギーに相当したレベル値を表示するのは、前記A
の(イ)と同様である。 (ロ)この表示装置72の表示を見ながら、フォトダイ
オード30bs、30beの検出値が最大となるよう
に、光軸調整機構の3つのねじ44、44、44のねじ
孔41、41、41へのねじ込み度合いを調整する(す
なわち再帰性反射体13の光走査面を走査する光18の
光軸がスリットSbs、Sbeの長手方向の中心軸と一
致するように調整する)のも、前記Aの(ロ)と同様で
ある。このため、光18が再帰性反射体13の所定位置
を走査するように調整する走査光光軸調整を、簡単に行
うことができる。
B: Next, the adjustment of the scanning optical axis of the optical scanning by the optical scanning unit 11b will be described. (A) A current corresponding to the received light energy of the photodiodes 30bs and 30be provided at the start position and the end position of the optical scanning is converted into a voltage by a current / voltage conversion circuit, and A / A
The digital signal is converted into a digital signal by the D conversion circuit and is input to the MPU 70. Based on the output signal from the MPU 70, the display device 72 displays the level value corresponding to the received light energy of the photodiodes 30bs and 30be in the above-mentioned A.
(A). (B) While watching the display on the display device 72, insert the three screws 44, 44, 44 of the optical axis adjusting mechanism into the screw holes 41, 41, 41 so that the detection values of the photodiodes 30bs, 30be become maximum. (That is, the optical axis of the light 18 that scans the optical scanning surface of the retroreflector 13 so that the optical axis of the light 18 coincides with the central axis in the longitudinal direction of the slits Sbs and Sbe). Same as (b). For this reason, the scanning light optical axis adjustment for adjusting the light 18 to scan the predetermined position of the retroreflector 13 can be easily performed.

【0025】C:つぎに、対象物24で指示された基板
10上の座標位置の検出作用について説明する。 (イ)パルスモータ23で回転するスキャンミラー22
の回転により、発光素子16から出力した光18で再帰
性反射体13を光走査し、この再帰性反射体13で反射
した光18はスキャンミラー22を介して受光素子17
で受光される。この(イ)の作用は光走査ユニット11
aにおける作用であるが、光走査ユニット11bにおい
ても同様に作用する。
C: Next, the operation of detecting the coordinate position on the substrate 10 designated by the object 24 will be described. (A) Scan mirror 22 rotated by pulse motor 23
Rotates the retroreflector 13 with the light 18 output from the light emitting element 16, and the light 18 reflected by the retroreflector 13 passes through the scan mirror 22 to the light receiving element 17.
Is received at. This operation (a) is performed by the optical scanning unit 11.
Although the operation is performed at a, the same operation is performed in the optical scanning unit 11b.

【0026】(ロ)受光素子17の受光エネルギーに相
当した電流は電流・電圧変換回路52で電圧に変換さ
れ、A/D変換回路53でディジタル信号に変換され、
1次反射光分離回路54に入力し、1次反射光分離回路
54からスキャンミラー22の1次反射光に相当する光
走査開始パルスが出力する。この光走査開始パルスの1
周期における計測用クロックがカウンタ56で計数さ
れ、計数値信号がMPU70に出力する。
(B) The current corresponding to the light receiving energy of the light receiving element 17 is converted into a voltage by a current / voltage conversion circuit 52, and is converted into a digital signal by an A / D conversion circuit 53.
The light is input to the primary reflected light separation circuit 54, and an optical scanning start pulse corresponding to the primary reflected light of the scan mirror 22 is output from the primary reflected light separation circuit 54. This optical scanning start pulse 1
The measurement clock in the cycle is counted by the counter 56, and a count signal is output to the MPU 70.

【0027】(ハ)電流・電圧変換回路52の出力電圧
は比較器60で基準電圧と比較され、比較器60から対
象物24による遮断光に相当する対象物検出信号がMP
U70に出力する。MPU70はカウンタ56の計数値
信号と比較器60の対象物検出信号に基づいて対象物2
4の走査角度θ1を演算する。この(ロ)(ハ)の作用
は光走査ユニット11aにおける作用であるが、光走査
ユニット11bにおいても同様に作用し、MPU70が
対象物24の走査角度θ2を演算する。そして、MPU
70は、求めた角度θ1、θ2を式(3)(4)にあて
はめた演算をして、対象物24で指示された座標面上の
位置Pの座標(Px,Py)を求め、対応した信号を表
示装置72へ出力する。
(C) The output voltage of the current / voltage conversion circuit 52 is compared with a reference voltage by the comparator 60, and the comparator 60 outputs an object detection signal corresponding to light blocked by the object 24 to the MP.
Output to U70. The MPU 70 determines the target 2 based on the count signal of the counter 56 and the target detection signal of the comparator 60.
4 is calculated. The operations (b) and (c) are operations in the optical scanning unit 11a, but also operate in the optical scanning unit 11b, and the MPU 70 calculates the scanning angle θ2 of the object 24. And MPU
70 calculates the coordinates (Px, Py) of the position P on the coordinate plane designated by the object 24 by performing an operation by applying the obtained angles θ1 and θ2 to the equations (3) and (4). The signal is output to the display device 72.

【0028】前記実施形態例では、再帰性反射体及びフ
レームにスリットを形成した場合について説明したが、
本発明はこれに限るものでなく、フレームにのみスリッ
トを形成した場合についても本発明を利用することがで
きる。例えば、図7及び図8に示すように、フレーム1
2の光走査の開始位置と終了位置に対応した位置に光1
8のビーム径とほぼ同一幅のスリットSas、Sbsと
Sae、Sbeを形成し、フレーム12のスリット部以
外に再帰性反射体13を貼着し、フレーム12のスリッ
ト部に再帰性反射体13を貼着する前に、フォトダイオ
ード30as、30bs、30ae、30beの検出値
が最大となるように光軸調整機構の3つのねじ44、4
4、44のねじ孔41、41、41へのねじ込み度合い
を調整するようにしてもよい。この場合、光軸調整後に
フレーム12のスリット部を含む再帰性反射体13の未
貼着部分に、再帰性反射体13を貼着する。
In the above embodiment, the case where slits are formed in the retroreflector and the frame has been described.
The present invention is not limited to this, and the present invention can be used even when a slit is formed only in the frame. For example, as shown in FIGS.
Light 1 at a position corresponding to the start position and end position of
8, slits Sas, Sbs and Sae, Sbe having substantially the same width as the beam diameter of 8 are formed, and a retroreflector 13 is attached to the slits of the frame 12 except for the slits. Before attaching, the three screws 44, 4 of the optical axis adjustment mechanism are set so that the detection values of the photodiodes 30as, 30bs, 30ae, 30be become maximum.
The degree of screwing of the screws 4 and 44 into the screw holes 41 may be adjusted. In this case, after adjusting the optical axis, the retroreflector 13 is attached to the non-adhered portion of the retroreflector 13 including the slit portion of the frame 12.

【0029】または、図7及び図8に示す実施形態例に
おいて、フレーム12のスリット部以外に再帰性反射体
13を取付けたた状態で光軸調整をするのでなく、フレ
ーム12の全体に再帰性反射体13を取付ける前に、フ
ォトダイオード30as、30bs、30ae、30b
eの検出値が最大となるように光軸調整機構の3つのね
じ44、44、44のねじ孔41、41、41へのねじ
込み度合いを調整するようにしてもよい。この場合、光
軸調整後にフレーム12の全体に再帰性反射体13を貼
着する。
Alternatively, in the embodiment shown in FIGS. 7 and 8, instead of adjusting the optical axis in a state in which the retroreflector 13 is attached to a portion other than the slit portion of the frame 12, the recursive Before mounting the reflector 13, the photodiodes 30as, 30bs, 30ae, 30b
The degree of screwing of the three screws 44, 44, 44 of the optical axis adjusting mechanism into the screw holes 41, 41, 41 may be adjusted so that the detected value of e becomes maximum. In this case, the retroreflector 13 is attached to the entire frame 12 after the optical axis adjustment.

【0030】前記実施形態例では、フレーム及び再帰性
反射体、又はフレームにスリットを形成した場合につい
て説明したが、本発明はこれに限るものでなく、フレー
ム及び再帰性反射体、又はフレームにスリットを形成す
る代わりに、調整用治具を用いた場合についても利用す
ることができる。例えば、図9及び図10に示すよう
に、フレーム12及び再帰性反射体13の光走査の開始
位置と終了位置にスリットを形成せずに、代わりに光1
8のビーム径とほぼ同一幅のスリットSas、Sbsと
Sae、Sbe(図ではSasについてのみ図示)を形
成した矩形板状の調整用治具80as、80bsと80
ae、80be(図では80asについてのみ図示)を
用いるようにしてもよい。
In the above embodiment, the case where the slit is formed in the frame and the retroreflector or the frame has been described. However, the present invention is not limited to this, and the slit is formed in the frame and the retroreflector or the frame. Can be used in the case where an adjustment jig is used instead of forming the above. For example, as shown in FIG. 9 and FIG. 10, the slits are not formed at the start position and the end position of the optical scanning of the frame 12 and the retroreflector 13, and
8, rectangular plate-shaped adjustment jigs 80as, 80bs and 80 each having slits Sas, Sbs, Sae, and Sbe (only Sas is shown in the figure) having substantially the same width as the beam diameter of FIG.
ae, 80be (only 80as is shown in the figure) may be used.

【0031】すなわち、再帰性反射体13の光走査の開
始位置と終了位置の近傍の光走査面側に調整用治具80
as、80bsと80ae、80beを着脱可能に取り
付け、光走査の開始位置と終了位置における受光素子1
7の受光エネルギーが最大となるように、光軸調整機構
の3つのねじ44、44、44のねじ孔41、41、4
1へのねじ込み度合いを調整する。この場合、図6のフ
ォトダイオード30as、30ae、電流・電圧変換回
路62、63及びA/D変換回路64、65を省略する
とともに、図6に点線で示すように、A/D変換回路5
3の出力をMPU70へ直接出力する線路82を追加
し、MPU70に、A/D変換回路53の出力に基づい
て受光素子17の受光エネルギーに相当する信号を表示
装置72へ出力し、光走査の開始位置と主うりょう位置
における検出値(レベル値)を表示せしめる機能を付加
する。
That is, the adjustment jig 80 is provided on the optical scanning surface side near the optical scanning start position and the end position of the retroreflector 13.
as, 80bs and 80ae, 80be detachably attached, and the light receiving element 1 at the start position and the end position of optical scanning
7, the screw holes 41, 41, 4 of the three screws 44, 44, 44 of the optical axis adjusting mechanism are set so that the received light energy of the optical axis 7 becomes maximum.
Adjust the degree of screwing into 1. In this case, the photodiodes 30as and 30ae, the current / voltage conversion circuits 62 and 63, and the A / D conversion circuits 64 and 65 in FIG. 6 are omitted, and the A / D conversion circuit 5 as shown by a dotted line in FIG.
3 is added to the MPU 70, and a signal corresponding to the light receiving energy of the light receiving element 17 is output to the MPU 70 based on the output of the A / D conversion circuit 53. A function is added to display the detected values (level values) at the start position and the main rail position.

【0032】前記調整用治具80as、80bs、80
ae、80beの表面には、光18(レーザ光)の入射
により可視光を発光する発光フィルム(図示省略)が貼
着している。この発光フィルムは、例えば、赤外光によ
り螢光や燐光を発光する螢光体や燐光体の粉末を結合剤
を用いて透明フィルムに塗布して形成されている。この
ため、光軸調整の始めに光18が調整用治具80as、
80bs、80ae、80beの表面のどの辺に入射し
ているかを目で確認することができ、光軸調整に要する
時間を短くすることができる。この発光フィルムの貼着
を省略したものにも本発明を利用できる。
The adjusting jigs 80as, 80bs, 80
A light-emitting film (not shown) that emits visible light upon incidence of light 18 (laser light) is attached to the surfaces of ae and 80be. The light-emitting film is formed, for example, by applying a phosphor or phosphor powder that emits fluorescence or phosphorescence by infrared light to a transparent film using a binder. Therefore, at the beginning of the optical axis adjustment, the light 18 is applied to the adjustment jig 80as,
Which side of the surface of the 80bs, 80ae, and 80be is incident can be visually confirmed, and the time required for optical axis adjustment can be shortened. The present invention can also be used in a case where the light emitting film is not attached.

【0033】前記実施形態例では、光軸調整時に、MP
Uの出力側に結合した表示装置を用いて、フォトダイオ
ードの光検出最大又は受光素子の受光エネルギー最大を
目視できるように構成したが、本発明はこれに限るもの
でなく、図6の電流・電圧変換回路62及び63又は5
2の出力信号をオシロスコープに導き、このオシロスコ
ープでフォトダイオード30as、30aeの光検出最
大又は受光素子17の受光エネルギー最大を目視できる
ように構成した場合についても利用することができる。
In the above embodiment, when adjusting the optical axis, the MP
The display device coupled to the output side of U was used to make it possible to visually check the maximum light detection of the photodiode or the maximum light reception energy of the light receiving element. However, the present invention is not limited to this. Voltage conversion circuits 62 and 63 or 5
The present invention can also be used in a case where the output signal of No. 2 is led to an oscilloscope, and the oscilloscope is configured so that the maximum light detection of the photodiodes 30as and 30ae or the maximum light reception energy of the light receiving element 17 can be observed.

【0034】前記実施形態例では、光軸調整機構を、発
光部、受光部及びスキャンミラーを固定したユニット本
体と、座標面を形成する基板に固定したユニット支持板
と、ユニット本体をユニット支持板に角度調整可能に取
り付ける複数のねじとで構成し、複数のねじのねじ孔へ
のねじ込み度合いを調整することによって走査光の光軸
を調整した場合について説明したが、本発明はこれに限
るものでなく、走査光の光軸を調整するものであればよ
い。
In the above embodiment, the optical axis adjusting mechanism comprises a unit body to which a light emitting unit, a light receiving unit and a scan mirror are fixed, a unit support plate fixed to a substrate forming a coordinate plane, and a unit support plate to which the unit body is fixed. A plurality of screws attached to the screw holes so that the angles can be adjusted, and the case where the optical axis of the scanning light is adjusted by adjusting the degree of screwing of the plurality of screws into the screw holes has been described. However, the present invention is not limited to this. Instead, any device that adjusts the optical axis of the scanning light may be used.

【0035】[0035]

【発明の効果】請求項1の発明に係る走査光光軸調整方
法は、再帰性反射体の光走査の開始位置と終了位置に走
査光のビーム径とほぼ同一幅のスリットを形成し、再帰
性反射体の光走査面の反対側にスリットに臨む光検出器
を設け、走査光の光軸を調整する光軸調整機構を設け、
光走査の開始位置と終了位置に設けられた光検出器の検
出値が最大となるように光軸調整機構を調整するように
構成したので、走査光が不可視光の場合でも、走査光が
再帰性反射体の所定位置(例えば中央部)を走査するよ
うに調整する走査光光軸調整を、簡単に行うことができ
る。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a method for adjusting the optical axis of a scanning light, wherein a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is formed at a starting position and an ending position of optical scanning of the retroreflector. Providing a photodetector facing the slit on the opposite side of the optical scanning surface of the reflective reflector, providing an optical axis adjustment mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light,
Since the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the detection values of the photodetectors provided at the start position and the end position of the optical scanning become maximum, even if the scanning light is invisible light, the scanning light is recursive. The optical axis of the scanning light, which is adjusted to scan at a predetermined position (for example, the center) of the chromatic reflector, can be easily performed.

【0036】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、再帰性反射体にスリットを形成する代わりに、再帰
性反射体を取り付けるフレームの光走査の開始位置と終
了位置に対応した位置にスリットを形成し、フレームの
再帰性反射体取付面の反対側にスリットに臨む光検出器
を設け、フレームのスリット部に再帰性反射体を取り付
ける前に、光検出器の検出値が最大となるように光軸調
整機構を調整するように構成したので、再帰性反射体に
スリットを形成しないで走査光の光軸を調整できる。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, instead of forming a slit in the retroreflector, the frame on which the retroreflector is attached is located at a position corresponding to the start position and the end position of optical scanning. Form a slit, provide a photodetector facing the slit on the opposite side of the retroreflector mounting surface of the frame, and before mounting the retroreflector on the slit portion of the frame, the detection value of the photodetector is maximized Since the optical axis adjusting mechanism is adjusted as described above, the optical axis of the scanning light can be adjusted without forming a slit in the retroreflector.

【0037】請求項3の発明は、請求項1の発明におい
て、再帰性反射体にスリットを形成する代わりに、再帰
性反射体を取り付けるフレームの光走査の開始位置と終
了位置に対応した位置にスリットを形成し、フレームの
再帰性反射体取付面の反対側にスリットに臨む光検出器
を設け、フレームに再帰性反射体を取り付ける前に、光
検出器の検出値が最大となるように光軸調整機構を調整
するように構成したので、再帰性反射体にスリットを形
成しないで走査光の光軸を調整できる。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, instead of forming a slit in the retroreflector, the frame on which the retroreflector is mounted is located at a position corresponding to the start position and the end position of optical scanning. A slit is formed, and a photodetector facing the slit is provided on the opposite side of the retroreflector mounting surface of the frame.Before mounting the retroreflector on the frame, the light is detected so that the detection value of the photodetector is maximized. Since the axis adjusting mechanism is configured to be adjusted, the optical axis of the scanning light can be adjusted without forming a slit in the retroreflector.

【0038】請求項4の発明に係る走査光光軸調整方法
は、スキャンミラーの回転によって発光部から出力した
光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射体で反射
した光をスキャンミラーの反射を介して受光部で受光す
る光走査型タッチパネルにおいて、再帰性反射体の光走
査の開始位置と終了位置の近傍の光走査面側に、走査光
のビーム径とほぼ同一幅のスリットが形成された調整用
治具を設け、走査光の光軸を調整する光軸調整機構を設
け、受光部の受光エネルギーが最大となるように光軸調
整機構を調整するように構成したので、走査光が不可視
光の場合でも、走査光が再帰性反射体の所定位置(例え
ば中央部)を走査するように調整する走査光光軸調整
を、簡単に行うことができる。さらに、受光部の受光エ
ネルギーが最大となるように光軸調整機構を調整するの
で、請求項1〜3の発明のように再帰性反射体やフレー
ムにスリットを設ける必要がないとともに、光検出器を
設ける必要もない。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a method of adjusting a scanning light optical axis, wherein a light output from a light emitting section by rotation of a scan mirror is used to optically scan a retroreflector, and light reflected by the retroreflector is scanned. In an optical scanning type touch panel that receives light at a light receiving unit through reflection of a mirror, a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is provided on the optical scanning surface near the start position and the end position of optical scanning of the retroreflector. Since an adjustment jig provided with is provided, an optical axis adjustment mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light is provided, and the optical axis adjustment mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving unit is maximized. Even when the scanning light is invisible light, the scanning light optical axis adjustment for adjusting the scanning light to scan a predetermined position (for example, the center) of the retroreflector can be easily performed. Furthermore, since the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving unit is maximized, it is not necessary to provide a slit in the retroreflector or the frame as in the invention of claims 1 to 3, and the photodetector It is not necessary to provide.

【0039】請求項5の発明は、請求項4の発明におい
て、発光部を赤外領域のレーザ光を出力するレーザダイ
オードとし、調整用治具の光走査面側に、レーザ光の入
射により可視光を発光する発光フィルムを貼着するよう
にしたので、走査光が赤外領域のレーザ光のときに再帰
性反射体を走査する走査光の大体の位置を目で確認で
き、調整時間を短くすることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the fourth aspect of the present invention, the light emitting portion is a laser diode for outputting a laser beam in the infrared region, and the laser beam is incident on the optical scanning surface side of the adjusting jig by the incidence of the laser beam. Since the light emitting film that emits light is attached, the approximate position of the scanning light that scans the retroreflector when the scanning light is laser light in the infrared region can be visually confirmed, and the adjustment time is shortened. can do.

【0040】請求項6の発明は、請求項1、2、3、4
又は5記載の発明において、光軸調整機構を、発光部、
受光部及びスキャンミラーを固定したユニット本体と、
座標面を形成する基板に固定したユニット支持板と、ユ
ニット本体をユニット支持板に角度調整可能に取り付け
る複数のねじとで構成したので、光軸調整機構の構成を
簡単にすることができる。
The invention according to claim 6 is the invention according to claims 1, 2, 3, and 4.
Or In the invention according to 5, wherein the optical axis adjustment mechanism comprises: a light emitting unit;
A unit body to which the light receiving unit and the scan mirror are fixed;
Since the unit support plate fixed to the substrate forming the coordinate plane and the plurality of screws for attaching the unit body to the unit support plate so that the angle can be adjusted are provided, the configuration of the optical axis adjustment mechanism can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による走査光光軸調整方法の一実施形態
例を実施する光走査型タッチパネルの平面図である。
FIG. 1 is a plan view of an optical scanning type touch panel for implementing an embodiment of a scanning optical axis adjusting method according to the present invention.

【図2】図1における再帰性反射体13部分のA−A線
拡大断面図である。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view taken along line AA of a portion of the retroreflector 13 in FIG.

【図3】図2における再帰性反射体13部分のB−B線
拡大断面図である。
FIG. 3 is an enlarged cross-sectional view taken along the line BB of the retroreflector 13 in FIG. 2;

【図4】図1における光走査ユニット11a部分のC−
C線拡大断面図である。
FIG. 4 is a diagram showing C- of the optical scanning unit 11a in FIG. 1;
It is a C-line enlarged sectional view.

【図5】図1及び図4の光走査ユニット11a、11b
の分解斜視図で、本発明方法で用いる光軸調整機構の分
解斜視図でもある。
FIG. 5 is a diagram showing optical scanning units 11a and 11b shown in FIGS. 1 and 4;
5 is an exploded perspective view of the optical axis adjusting mechanism used in the method of the present invention.

【図6】本発明による走査光光軸調整方法の一実施形態
例を実施する光走査型タッチパネルの回路部分のブロッ
ク図である。
FIG. 6 is a block diagram of a circuit portion of an optical scanning type touch panel for implementing an embodiment of a scanning optical axis adjusting method according to the present invention.

【図7】本発明の他の実施形態例を示すもので、図2に
対応した拡大断面図である。
7 shows another embodiment of the present invention and is an enlarged sectional view corresponding to FIG.

【図8】図7における再帰性反射体13部分のD−D線
拡大断面図である。
8 is an enlarged cross-sectional view taken along line DD of a portion of the retroreflector 13 in FIG. 7;

【図9】本発明のさらに他の実施形態例を示すもので、
フレーム12及び再帰性反射体13又はフレーム12に
スリットを形成する代わりに、調整用治具80asを用
いた場合の調整用治具80as部分の拡大断面図であ
る。
FIG. 9 shows still another embodiment of the present invention.
It is an expanded sectional view of the adjustment jig 80as part when the adjustment jig 80as is used instead of forming a slit in the frame 12 and the retroreflective body 13 or the frame 12.

【図10】図9における調整用治具80as部分のE−
E線拡大断面図である。
FIG. 10 is a diagram showing E- of the adjustment jig 80as portion in FIG. 9;
It is an E line expanded sectional view.

【図11】従来例における光走査型タッチパネルの平面
図である。
FIG. 11 is a plan view of an optical scanning type touch panel in a conventional example.

【図12】図11における光走査ユニット11a、11
bの取付け状態を示す側面図である。
FIG. 12 shows the optical scanning units 11a and 11 in FIG.
It is a side view which shows the attachment state of b.

【図13】座標検出のための三角測量の原理を示す説明
図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing the principle of triangulation for coordinate detection.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…基板(座標面の一例)、 11a、11b…光走
査ユニット、 13…再帰性反射体、 16…発光素子
(例えばレーザダイオード)、 17…受光素子、 1
8…発光素子16から出力した光(例えばレーザ光)、
22…スキャンミラー、 23…パルスモータ(モー
タの一例)、 24…対象物、 25…ユニット支持
板、 26…固定部、 27…支持部、 30as、3
0ae、30bs、30be…フォトダイオード(光検
出器の一例)、 31…フロントベッセル、 32…フ
ロントベッセル31の外縁部、 33…リブ、 34…
支柱、 35…ホルダ、 36…ねじ、 37…フィル
タ膜、 38…表示画面部、40…ばね受け孔、 41
…ねじ孔、 42…ねじ差し込み孔、 43…ばね、
44…ねじ(光軸調整機構の一例の主要部)、 50…
レーザドライバ、51…モータドライバ、 52、6
2、63…電流・電圧変換回路、 53、64、65…
A/D変換回路、 54…1次反射光分離回路、 55
…発振器、56…カウンタ、 60…比較器、 70…
MPU(マイクロプロセッサ)、72…表示装置、 8
0as、80ae、80bs、80be…調整用治具、
Sas、Sae、Sbs、Sbe…スリット、 θ、θ
1、θ2…走査角度。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... board | substrate (an example of a coordinate plane) 11a, 11b ... Optical scanning unit, 13 ... Retroreflective body, 16 ... Light emitting element (for example, laser diode), 17 ... Light receiving element, 1
8. Light output from the light emitting element 16 (eg, laser light)
Reference numeral 22: scan mirror, 23: pulse motor (an example of a motor), 24: target object, 25: unit support plate, 26: fixing portion, 27: support portion, 30as, 3
0ae, 30bs, 30be: photodiode (an example of a photodetector), 31: front vessel, 32: outer edge of front vessel 31, 33 ... rib, 34 ...
Supports, 35: Holder, 36: Screw, 37: Filter membrane, 38: Display screen, 40: Spring receiving hole, 41
... Screw hole, 42 ... Screw insertion hole, 43 ... Spring,
44 screws (main parts of an example of an optical axis adjustment mechanism);
Laser driver, 51 ... Motor driver, 52, 6
2, 63 ... current / voltage conversion circuit, 53, 64, 65 ...
A / D conversion circuit, 54... Primary reflected light separation circuit, 55
... oscillator, 56 ... counter, 60 ... comparator, 70 ...
MPU (microprocessor), 72 display device, 8
0as, 80ae, 80bs, 80be ... jig for adjustment,
Sas, Sae, Sbs, Sbe ... Slit, θ, θ
1, θ2: scanning angle.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】スキャンミラーの回転によって発光部から
出力した光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射
体で反射した光をスキャンミラーの反射を介して受光部
で受光する光走査型タッチパネルにおいて、前記再帰性
反射体の光走査の開始位置と終了位置に走査光のビーム
径とほぼ同一幅のスリットを形成し、前記再帰性反射体
の光走査面の反対側に前記スリットに臨む光検出器を設
け、前記走査光の光軸を調整する光軸調整機構を設け、
前記光検出器の検出値が最大となるように前記光軸調整
機構を調整することを特徴とする光走査型タッチパネル
の走査光光軸調整方法。
1. An optical scanning method in which a retroreflector is optically scanned with light output from a light emitting unit by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received by a light receiving unit via reflection of the scan mirror. In the touch panel, a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is formed at the start position and the end position of the optical scanning of the retroreflector, and the slit is formed on the opposite side of the optical scanning surface of the retroreflector. Providing an optical detector facing, providing an optical axis adjustment mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light,
A method for adjusting a scanning light optical axis of an optical scanning type touch panel, wherein the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that a detection value of the photodetector is maximized.
【請求項2】スキャンミラーの回転によって発光部から
出力した光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射
体で反射した光をスキャンミラーの反射を介して受光部
で受光する光走査型タッチパネルにおいて、前記再帰性
反射体を取り付けるフレームの光走査の開始位置と終了
位置に対応した位置に走査光のビーム径とほぼ同一幅の
スリットを形成し、前記フレームの再帰性反射体取付面
の反対側に前記スリットに臨む光検出器を設け、前記走
査光の光軸を調整する光軸調整機構を設け、前記フレー
ムのスリット部に前記再帰性反射体を取り付ける前に、
前記光検出器の検出値が最大となるように前記光軸調整
機構を調整することを特徴とする光走査型タッチパネル
の走査光光軸調整方法。
2. A light scanning device in which a retroreflector is optically scanned with light output from a light emitting unit by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received by a light receiving unit via reflection of the scan mirror. In the type touch panel, a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is formed at a position corresponding to the start position and the end position of the optical scanning of the frame on which the retroreflector is mounted, and the retroreflector mounting surface of the frame is formed. Provide a photodetector facing the slit on the opposite side, provide an optical axis adjustment mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light, before attaching the retroreflector to the slit portion of the frame,
A method for adjusting a scanning light optical axis of an optical scanning type touch panel, wherein the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that a detection value of the photodetector is maximized.
【請求項3】スキャンミラーの回転によって発光部から
出力した光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射
体で反射した光をスキャンミラーの反射を介して受光部
で受光する光走査型タッチパネルにおいて、前記再帰性
反射体を取り付けるフレームの光走査の開始位置と終了
位置に対応した位置に走査光のビーム径とほぼ同一幅の
スリットを形成し、前記フレームの再帰性反射体取付面
の反対側に前記スリットに臨む光検出器を設け、前記走
査光の光軸を調整する光軸調整機構を設け、前記フレー
ムに前記再帰性反射体を取り付ける前に、前記光検出器
の検出値が最大となるように前記光軸調整機構を調整す
ることを特徴とする光走査型タッチパネルの走査光光軸
調整方法。
3. An optical scanning method in which a retroreflector is optically scanned by light output from a light emitting unit by rotation of a scan mirror, and light reflected by the retroreflector is received by a light receiving unit via reflection of the scan mirror. In the type touch panel, a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is formed at a position corresponding to the start position and the end position of the optical scanning of the frame on which the retroreflector is mounted, and the retroreflector mounting surface of the frame is formed. Provide a photodetector facing the slit on the opposite side of the slit, provide an optical axis adjustment mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light, before attaching the retroreflector to the frame, the detection value of the photodetector Adjusting the optical axis adjusting mechanism so that the maximum value is obtained.
【請求項4】スキャンミラーの回転によって発光部から
出力した光で再帰性反射体を光走査し、この再帰性反射
体で反射した光をスキャンミラーの反射を介して受光部
で受光する光走査型タッチパネルにおいて、前記再帰性
反射体の光走査の開始位置と終了位置の近傍の光走査面
側に、走査光のビーム径とほぼ同一幅のスリットが形成
された調整用治具を設け、前記走査光の光軸を調整する
光軸調整機構を設け、前記受光部の受光エネルギーが最
大となるように前記光軸調整機構を調整することを特徴
とする光走査型タッチパネルの走査光光軸調整方法。
4. A light scanning device which optically scans a retroreflector with light output from a light emitting unit by rotation of a scan mirror, and receives light reflected by the retroreflector at a light receiving unit via reflection of the scan mirror. In the type touch panel, on the optical scanning surface side near the start position and the end position of the optical scanning of the retroreflector, an adjustment jig provided with a slit having substantially the same width as the beam diameter of the scanning light is provided, An optical axis adjusting mechanism for adjusting the optical axis of the scanning light, wherein the optical axis adjusting mechanism is adjusted so that the light receiving energy of the light receiving unit is maximized. Method.
【請求項5】発光部は赤外領域のレーザ光を出力するレ
ーザダイオードとしてなり、調整用治具の光走査面側
に、前記レーザ光の入射により可視光を発光する発光フ
ィルムを貼着してなる請求項4記載の光走査型タッチパ
ネルの走査光光軸調整方法。
5. A light emitting portion is a laser diode for outputting laser light in an infrared region, and a light emitting film for emitting visible light by incidence of the laser light is attached to the light scanning surface of the adjusting jig. The method for adjusting a scanning light optical axis of an optical scanning type touch panel according to claim 4.
【請求項6】光軸調整機構は、発光部、受光部及びスキ
ャンミラーを固定したユニット本体と、座標面を形成す
る基板に固定したユニット支持板と、前記ユニット本体
を前記ユニット支持板に角度調整可能に取り付ける複数
のねじとからなる請求項1、2、3、4又は5記載の光
走査型タッチパネルの走査光光軸調整方法。
6. An optical axis adjusting mechanism, comprising: a unit body to which a light emitting unit, a light receiving unit, and a scan mirror are fixed; a unit support plate fixed to a substrate forming a coordinate plane; and an angle between the unit body and the unit support plate. 6. The method for adjusting a scanning light optical axis of an optical scanning type touch panel according to claim 1, comprising a plurality of screws that are attached so as to be adjustable.
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