JP2000102527A - X-ray diagnostic instrument - Google Patents

X-ray diagnostic instrument

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JP2000102527A
JP2000102527A JP27306998A JP27306998A JP2000102527A JP 2000102527 A JP2000102527 A JP 2000102527A JP 27306998 A JP27306998 A JP 27306998A JP 27306998 A JP27306998 A JP 27306998A JP 2000102527 A JP2000102527 A JP 2000102527A
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applied voltage
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applied
sensor
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JP27306998A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Okamoto
Osamu Sasaki
理 佐々木
剛 岡本
Original Assignee
Shimadzu Corp
株式会社島津製作所
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make a detection sensitivity of an X-ray surface sensor for detecting a transmission X-ray image suitable for the volume of incident X-rays.
SOLUTION: In this radiography instrument, an applied voltage source 31 changes voltages to be applied to plural groups of X-ray detecting elements, which are set inside a panel type X-ray sensor 3, by the group based on the control by an applied voltage control part 32. The applied voltage control part 32 controls the voltages to be applied according to the level of strength of X-ray detection data outputted from the plural groups of X-ray detecting elements when X-rays are irradiated from an X-ray tube 2. Therefore, the detection sensitivity of the X-ray detecting elements in each group is made appropriate, so that the halation of a transmission X-ray image can be prevented and the quality of the image can be improved.
COPYRIGHT: (C)2000,JPO

Description

【発明の詳細な説明】 DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】 [0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、X線管による被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器であるX線面センサから出力されるX線検出データに基づき透過X BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention, transmission X based on X-ray detection data outputted from the X-ray plane sensor is a transmission X-ray image detector in accordance with the X-ray irradiation to a subject by the X-ray tube
線画像が得られるよう構成されたX線診断装置に係り、 Relates to X-ray diagnostic apparatus configured such that the line image is obtained,
透過X線像検出器であるX線面センサの検出感度を入射X線量に見合った適切な感度にするための技術に関する。 The detection sensitivity of the X-ray plane sensor is a transmission X-ray image detector to techniques for the appropriate sensitivity commensurate with the incident X-ray dose.

【0002】 [0002]

【従来の技術】従来、病院等の医療機関に設置されているX線透視撮影装置(X線診断装置)は、図12に示すように、天板51の上に載置された患者(被検体)Mを挟んでX線管52と透過X線像検出器であるイメージインテンシファイア(適宜「I・I管」と略記)53とが対向配置となるようにして配設されており、X線管52 Conventionally, X-rays fluoroscopic apparatus installed in a medical institution such as a hospital (X-ray diagnostic apparatus), as shown in FIG. 12, the patient (to be placed on the top plate 51 sample) image intensifier (as appropriate with "I · I tube" hereinafter) 53 and is disposed so as to be opposed an X-ray tube 52 and transmitted X-ray image detector across the M, X-ray tube 52
による患者MへのX線照射に伴ってI・I管53から透過X線画像用のX線検出データが出力される構成になっている。 It has a configuration in which the X-ray detection data for transmitted X-ray image from the I · I tubes 53 is output along with the X-ray irradiation to the patient M by.

【0003】ただ、I・I管53は大容積の重量物であることから取り付け構造が複雑化する。 [0003] However, I · I tubes 53 mounting structure is complicated because it is heavy in the large volume. そこで、図13 Then, as shown in FIG. 13
に示すように、I・I管の代わりにフラットパネル型X As shown in, flat panel instead of I · I tubes X
線センサ54を透過X線像検出器として用いた装置が提案されている。 Apparatus using a line sensor 54 as a transmitted X-ray image detector is proposed. フラットパネル型X線センサ54は、多数個のX線検出素子が縦横に配列されているX線面センサであって、I・I管に比べると遙に薄型かつ軽量であることから簡潔な取り付け構造で事足りるという利点がある。 Flat panel X-ray sensor 54, the plurality of X-ray detection elements an X-ray plane sensor is arranged vertically and horizontally, concise attachment because it is thin and lightweight much compared to I · I tubes there is the advantage that suffice in the structure.

【0004】 [0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記のフラットパネル型X線センサ54を用いたX線透視撮影装置は、透過X線画像にハレーションが出やすいという問題がある。 [SUMMARY OF THE INVENTION However, X-ray fluoroscopic apparatus using the flat panel X-ray sensor 54 has a problem that the transmitted X-ray image prone halation. 従来のフラットパネル型X線センサ54では、入射X線量が少なくてもX線検出データの強度を十分確保するため、X線検出素子に付与する印加電圧を上げて検出感度を高くしているので、図14において実線Naで示すように、入射X線量が少し多くなるとX線検出データが忽ちに飽和してしまう。 In conventional flat panel X-ray sensor 54, in order to sufficiently secure the strength of the X-ray detection data even less incident X-rays is, since the higher the detection sensitivity by increasing the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements , as shown by the solid line Na in FIG 14, X-ray detection data when the incident X-ray amount becomes little more is saturated Tachimachini. つまり、印加電圧が高いフラットパネル型X線センサ54の場合は、いわゆるダイナミックレンジDaが非常に狭くて、ハレーションが起こり易いのである。 That is, when the applied voltage is high flat panel X-ray sensor 54 is a so-called dynamic range Da is very narrow, is the likely to occur halation.

【0005】フラットパネル型X線センサ54のX線検出素子に付与する印加電圧を下げれば、検出感度は低くなり、図14において一点鎖線Nbで示すように、X線検出データが飽和し始める入射X線量が多い方へ移行する。 [0005] By lowering the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements of the flat panel X-ray sensor 54, the detection sensitivity is lowered, as shown in FIG. 14 by a dashed line Nb, incident X-ray detection data begins to saturate migrate towards the X-ray dose is large. つまり、印加電圧が低いフラットパネル型X線センサ54の場合は、いわゆるダイナミックレンジDbが非常に広くなることから、ハレーションが起こり難くなる。 That is, when the applied voltage is low flat panel X-ray sensor 54, since the so-called dynamic range Db is very wide, halation becomes difficult to occur. しかし、フラットパネル型X線センサ54の検出感度が低いと、X線検出データのS/N比が悪化して、最終的な透過X線画像の画質が低下するという別の問題を招来する。 However, the detection sensitivity of the flat panel X-ray sensor 54 is low, the S / N ratio of the X-ray detection data is deteriorated, the quality of the final transmitted X-ray image is lead to another problem of a decrease.

【0006】この発明は、上記問題点に鑑み、透過X線像検出器であるX線面センサの検出感度を入射X線量に見合った適切な感度にすることができるX線診断装置を提供することを課題とする。 [0006] The present invention, in view of the above problems, to provide an X-ray diagnostic apparatus capable of appropriate sensitivity commensurate with the incident X-rays the detection sensitivity of the X-ray plane sensor is a transmission X-ray image detector it is an object of the present invention.

【0007】 [0007]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するために、この発明に係るX線診断装置は、被検体を挟んでX線管と透過X線像検出器が対向配置となるように配設されているとともに、X線管による被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器から出力されるX線検出データに基づき透過X線画像が得られるよう構成されたX線診断装置において、透過X線像検出器として、多数個のX線検出素子が縦横に配列されているX線面センサを備えているとともに、X線検出データの強度レベルに応じてX線面センサのX線検出素子に付与する印加電圧を変えて検出感度を調節する印加電圧制御手段を備えている。 In order to solve the above problems BRIEF SUMMARY OF THE INVENTION, X-ray diagnostic apparatus according to the present invention, as the X-ray tube across a subject transmitted X-ray image detector is disposed facing together are arranged, X-rays that transmitted X-ray images based on X-ray detection data outputted from the transmission X-ray image detector is configured so as to obtain with the X-ray irradiation to a subject by the X-ray tube in the diagnostic apparatus, a transmission X-ray image detector, together with the plurality of X-ray detecting elements is provided with an X-ray plane sensor is arranged vertically and horizontally, X-ray plane sensor in accordance with the intensity level of the X-ray detection data and a voltage application control means for adjusting the detection sensitivity by changing the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements.

【0008】また、請求項2の発明は、請求項1に記載のX線診断装置において、X線面センサは全X線検出素子が少なくとも2つのグループに分けられて各グループ毎に独立して印加電圧が付与される構成となっているとともに、印加電圧制御手段は各グループ毎に印加電圧を変化させられる構成となっている。 Further, the invention of claim 2, in X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, X-ray plane sensor independently in all X-ray detecting elements are divided into at least two groups each group with applied voltage are configured to be applied, the applied voltage control means has a structure that is to change the applied voltage to each group.

【0009】また、請求項3の発明は、請求項1または2に記載のX線診断装置において、印加電圧制御手段による印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動を補償するデータ強度補償手段を備えている。 Further, the invention of claim 3, data to compensate for the X-ray diagnostic apparatus according to claim 1 or 2, variation of the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage by the applied voltage control means and a intensity compensation means.

【0010】〔作用〕次に、この発明のX線診断装置によるX線撮影の際のX線検出素子の印加電圧制御作用を説明する。 [0010] [Operation] Next, the voltage application control the action of X-ray detecting element when X-ray imaging by X-ray diagnostic apparatus according to the present invention. この発明のX線診断装置によるX線撮影においては、X線管によるX線照射に伴ってX線面センサから出力されるX線検出データの強度レベルに応じて印加電圧制御手段が行う制御により、X線面センサのX線検出素子に付与する印加電圧が変化させられる。 In X-ray imaging by X-ray diagnostic apparatus according to the present invention, the control performed by the applied voltage control means in accordance with the intensity level of the X-ray detection data outputted in association with the X-ray irradiation by the X-ray tube X-ray plane sensor , the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements of the X-ray plane sensor is changed. 具体的には、X線検出データの強度レベルが高すぎる時は、検出感度が高すぎてダイナミックレンジが狭くなっており、 Specifically, when the intensity level of the X-ray detection data is too high, and the dynamic range becomes narrower detection sensitivity is too high,
透過X線画像にハレーションが出る可能性が大きい。 It is likely to halation enters the transmitted X-ray image. そこで、印加電圧制御手段の制御によって、X線検出素子に付与する印加電圧が引下げられ、X線検出素子の検出感度が適切な感度となって、ダイナミックレンジが広がる結果、ハレーションが起こらなくなる。 Therefore, by controlling the applied voltage control means, pulled down the applied voltage to be applied to the X-ray detecting element, so the detection sensitivity is appropriate sensitivity of the X-ray detection element, the dynamic range is widened result, it does not occur halation.

【0011】請求項2のX線診断装置では、グループに分けされたX線検出素子の各グループのX線検出データに応じて印加電圧制御手段が各グループ毎に印加電圧制御を行って、各グループのX線検出素子に適切な印加電圧を付与する。 [0011] In X-ray diagnostic apparatus according to claim 2, applied voltage control means in accordance with the X-ray detection data for each group of divided X-ray detection elements to the group performing the applied voltage control for each group, each grant appropriate voltage applied to the X-ray detecting elements of the group. その結果、各グループのX線検出素子の検出感度がそのグループの状況に合ったより適切な感度になる。 As a result, the detection sensitivity of the X-ray detecting elements of each group is appropriate sensitivity than appropriate to the status of the group.

【0012】請求項3のX線診断装置では、データ強度補償手段によって、印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動が補償され、印加電圧の変化にかかわらず、X線検出データの強度レベルが一定に保たれる。 [0012] In X-ray diagnostic apparatus according to claim 3, the data intensity compensation means, variations in the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage is compensated, regardless of the change in the applied voltage, the X-ray detection data intensity level of is kept constant.

【0013】 [0013]

【発明の実施の形態】以下、この発明のX線診断装置の一実施例を図面を参照しながら説明する。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, will be described with reference to the drawings An embodiment of an X-ray diagnostic apparatus according to the present invention. 図1は実施例に係るX線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図、 Figure 1 is a block diagram showing the overall arrangement of an X-ray fluoroscopic apparatus according to the embodiment,
図2はX線面センサであるフラットパネル型X線センサ(適宜「パネル型X線センサ」と略記)の印加電圧制御系の構成を示すブロック図、図3はパネル型X線センサの基本構成を示す平面図、図4はパネル型X線センサの内部構成を示す部分断面図である。 Figure 2 is a block diagram showing a configuration of an applied voltage control system of the flat panel X-ray sensor (abbreviated as "panel X-ray sensor") is an X-ray plane sensor, FIG. 3 is a basic configuration of the panel-type X-ray sensor the plan view of FIG. 4 is a partial sectional view showing an internal structure of the panel X-ray sensor.

【0014】実施例のX線透視撮影装置は、図1に示すように、天板1の上に載置された被検体Mを挟んでX線管2と透過X線像検出器であるパネル型X線センサ3とが対向配置となるようにして配設されており、X線管2 [0014] X-ray fluoroscopic apparatus embodiment, as shown in FIG. 1, an X-ray tube 2 and transmitted X-ray image detector across the patient M placed on the top plate 1 panel and type X-ray sensor 3 is disposed so as to be opposed, X-rays tube 2
による被検体MへのX線照射に伴ってパネル型X線センサ3の検出エリアに被検体Mの撮影部位(関心部位)の透過X線像が投影される。 Transmission X-ray image of the imaging region of the object M (region of interest) is projected on the detection area with the X-ray irradiation panel X-ray sensor 3 to a subject M by. パネル型X線センサ3は、図3に示すように、縦横に配列されている多数個のX線検出素子XDを検出エリアに備えていて、検出エリアに投影された透過X線像が、X線検出素子XDで電気信号に変換された後、信号収集部4により読み出されて透過X Panel X-ray sensor 3, as shown in FIG. 3, have a large number are arranged in a matrix-number of X-ray detection elements XD in the detection area, transmitted X-ray image projected on the detection area, X after being converted into an electric signal by the line detection element XD, it is read out by the signal acquisition unit 4 transmitted X
線画像用のX線検出データとして出力される。 It is output as the X-ray detection data for line image. パネル型X線センサ3は、イメージインテンシファイアとは違い、薄型の軽量物であるので、パネル型X線センサ3の取り付けには大がかりな構造を必要としない。 Panel X-ray sensor 3, unlike image intensifier, because it is lightweight of thin, does not require extensive construction for mounting the panel X-ray sensor 3.

【0015】天板1は、被検体Mを載置した状態で天板駆動部5のコントロールにより前後・左右或いは上下に移動させられる。 The top plate 1 is moved left and right or up and down before and after the control of the top drive unit 5 while supporting the patient M. つまり天板1を移動させて、被検体M That is, by moving the top board 1, the subject M
の撮影部位を装置の撮影位置へセットさせるのである。 Cause set the imaging region to the imaging position of the device.
X線管2は、照射制御部6のコントロールにより適当なタイミングで通常はパルス状X線を被検体Mの撮影部位へ照射する。 X-ray tube 2, usually applying a pulse-like X-ray to the imaging region of the subject M at a suitable timing by the control of the irradiation controller 6. 実施例装置は、X線透視撮影およびX線写真撮影(ブッキ撮影)を選択的に実行できるX線透視撮影装置であり、X線透視撮影の場合は少ない目の線量で連続的にX線が次々照射され、X線写真撮影の場合は多い目の線量で単発的にX線が照射される。 Examples apparatus, an X-ray fluoroscopic apparatus which X-ray fluoroscopy and X-ray photographed (Bukki photographing) can be selectively performed continuously X-ray with a small eye dose in the case of X-ray fluoroscopy is one after another irradiation, sporadic X-ray in many eyes of the dose in the case of X-ray photography is irradiated. なお、天板駆動部5のコントロールや、照射制御部6のコントロールは、キーボード7やハンドスイッチ8からの入力操作等に伴って撮影制御部9から適時に出力される指令信号に従って行われる構成となっている。 Incidentally, control and the top driving unit 5, the control of the irradiation controller 6, configuration and which is performed in accordance with a command signal outputted from the imaging control unit 9 in accordance with the input operation from the keyboard 7 or the hand switch 8 in a timely manner going on.

【0016】一方、信号収集部4から出力されたX線検出データは、(後に詳述する)データ強度補償部10および切替スイッチ11を経て、X線検出データをディジタル信号に変換するAD変換部12へ送り込まれる。 [0016] On the other hand, X-ray detection data outputted from the signal collection unit 4, through the data intensity compensation unit 10 and the changeover switch 11 (described later in detail), AD converter for converting an X-ray detection data into a digital signal It is fed to 12. A
D変換部12の後段には、ディジタル化されたX線検出データを記憶する検出データメモリ13、検出データメモリ12に記憶されたX線検出データにエッジ強調やフィルタリングなどの必要な画像処理を施すことによりX The subsequent stage of D converter 12, the detected data memory 13 for storing the digitized X-ray detection data, performs necessary image processing such as edge enhancement and filtering the X-ray detection data stored in the detected data memory 12 X by
線画像を仕上げるデータ処理部14、および、仕上げられたX線透視画像を記憶するX線画像メモリ15が、続けて配設されている。 The data processing unit 14 to finish the line image, and, the X-ray image memory 15 for storing the X-ray fluoroscopic image was finished, are arranged in succession.

【0017】さらに、実施例装置には、X線画像メモリ15に記憶された透過X線画像を表示する表示モニタ1 Furthermore, in the embodiment device, a display monitor 1 for displaying the transmitted X-ray image stored in the X-ray image memory 15
6や、透過X線画像をディジタル画像のままで記憶して保存する画像保存メモリ18、あるいは、透過X線画像をシートに焼き付けてX線写真として出力する焼き付け器(レーザイメージャー)17が設置されている。 6 and the image storage memory 18 and stores the stored transmission X-ray image remains digital image or, installed baking unit (laser imager) 17 for outputting the transmission X-ray image as an X-ray photograph printed on the sheet It is. 普通、X線透視撮影では、透過X線画像がDA変換部19 Normally, the X-ray fluoroscopy, the transmitted X-ray image DA converter 19
でアナログ信号に変換されて表示モニタ16の画面に連続的に映し出される。 In is continuously displayed on the screen of the display monitor 16 is converted into an analog signal. また、X線写真撮影では、透過X In addition, in the X-ray photography, transmission X
線画像が焼き付けられたシートが、焼き付け器18からX線写真とし出力される。 Sheet the line image burned is output from baking unit 18 and the X-ray photograph.

【0018】続いて、パネル型X線センサ3まわりの構成を具体的に説明する。 [0018] Subsequently, detailed explanation of the configuration around the panel X-ray sensor 3. パネル型X線センサ3におけるX線検出素子XDの配列としては、例えば横(x)方向1024,縦(y)方向1024の正方形マトリックス構成が挙げられる。 The sequence of the X-ray detection element XD in panel X-ray sensor 3, for example, the horizontal (x) direction 1024, a square matrix arrangement of the vertical (y) direction 1024 and the like. X線検出素子XDの読み出しは、撮影制御部9から送出されるx,y走査信号(スイープ信号)に従って行われる。 Reading X-ray detection elements XD is, x sent from the imaging control unit 9 is carried out according to y scan signal (sweep signal).

【0019】実施例装置のパネル型X線センサ3は、いわゆる直接変換タイプのセンサであり、図4に示すように、入射X線を電荷に変換するX線変換層20と、X線変換層20で生じた電荷を検出する素子が縦横にマトリックス状に配置形成されている検出アレイ層21との積層構造となっている。 The panel X-ray sensor 3 embodiment device is a sensor of a so-called direct conversion type, as shown in FIG. 4, the X-ray conversion layer 20 for converting incident X-rays into electric charges, X-ray conversion layer element for detecting the charges generated by 20 is a laminated structure of the detector array layer 21 disposed in a matrix shape in vertical and horizontal. 直接変換タイプのセンサの場合、 In the case of direct conversion type of sensor,
X線変換層20が入射X線を直に電荷に変換するセレン層やCdZnTe層などからなり、検出アレイ層21の表面に電荷検出素子22として表面電極23に対向形成された電荷収集電極でもって電荷の検出を行いコンデンサC1に蓄電するとともに蓄積電荷がTFT(Thin Fil X-ray conversion layer 20 is made from selenium layer and CdZnTe layer to be converted to directly charge the incident X-ray, with a charge collecting electrode that is opposed formed on the surface electrode 23 on the surface of the detector array layer 21 as a charge detection element 22 accumulated charge TFT (Thin Fil well as stored in the capacitor C1 performs detection of the charge
m Transister:薄膜トランジスタ) 24を介して取り出される構成となっており、1個の電荷検出素子22と、 A thin film transistor) has a configuration which is taken out via 24, one of the charge detection device 22,: m Transistor
その上のX線変換層20の一部分と、コンデンサC1およびTFT24とで1個のX線検出素子XDが形成されていることになる。 A portion of the X-ray conversion layer 20 thereon, so that one X-ray detecting elements XD in the capacitor C1 and TFT24 are formed. また、表面電極23には印加電圧電源部31から印加電圧が供給される。 Further, the surface electrode 23 is applied a voltage is supplied from the applied voltage power supply unit 31.

【0020】そして、パネル型X線センサ3では、図5 [0020] Then, the panel X-ray sensor 3, FIG. 5
に示すように、各X線検出素子XD,…,XDがそれぞれTFT24を介して縦横に走る読出し配線25,26 As shown, each X-ray detecting elements XD, ..., read line running vertically and horizontally through the XD, each TFT 24 25 and 26
に接続されている。 It is connected to the. 読出し配線25は、それぞれ横(x)読出し駆動部27に接続されているとともに、読山し配線26はプリアンプ29群を介してマルチプレクサ30に接続されている。 Read line 25, along with being connected to the horizontal (x) read driving unit 27, respectively, 読山 wire 26 is connected to a multiplexer 30 through a preamplifier 29 group. 横読出し駆動部27およびマルチプレクサ30へ読出し用のx,y走査信号が送り込まれることになる。 x for reading a lateral read driving unit 27 and the multiplexer 30, so that the y scan signals are fed. パネル型X線センサ3の各X線検出素子XDの特定は横方向・縦方向の配列に沿って各X線検出素子XDへ順番に割り付けられている0〜1023 Each specific X-ray detecting elements XD panel type X-ray sensor 3 is allocated in sequence along the sequence of the transverse-longitudinal direction to the X-ray detecting elements XD 0 to 1023
のアドレスに基づいて行われるので、読出し用の走査信号は、それぞれ横(x)方向アドレスまたは縦(y)方向アドレスを指定する信号となる。 Since performed on the basis of the address, scan signals for reading, the respective signal specifying a horizontal (x) direction address or vertical (y) direction address.

【0021】横の走査信号に従って横読出し駆動部27 The horizontal reading accordance horizontal scanning signal driver 27
から読出し配線25に対して読出し用の電圧が印加されるのに伴い、各検出素子XDが列単位に順に選択される。 Along with the voltage for reading is applied to the read line 25 from each detector element XD are sequentially selected in row units. そして、縦の走査信号に従ってマルチプレクサ30 Then, the multiplexer 30 in accordance with vertical scan signals
が切り換えられることにより、選択された列の各X線検出素子XDのX線検出データが順に信号収集部4の各プリアンプ29およびマルチプレクサ30を経て収集され出力される。 By is switched, it is collected through each preamplifier 29 and the multiplexer 30 of the X-ray detection data sequentially signal acquisition portion 4 of each X-ray detecting elements XD of a selected column output. パネル型X線センサ3からのX線検出データの読出し方式は、概ね通常のTVカメラなどの映像検出器に準ずる構成である。 Reading method of X-ray detection data from panel X-ray sensor 3 is substantially equivalent to the video detector, such as a conventional TV camera configuration. 実施例のセンサ3の場合には、信号収集部4を構成する読出し駆動部27や、プリアンプ29およびマルチプレクサ30も、パネル型X線センサ3の検出アレイ層21の表面周縁に設置されていて、一段と集積化が図られた構成となっている。 In the case of the sensor 3 in the embodiment, and read driver 27 constituting the signal acquisition unit 4, the preamplifier 29 and multiplexer 30 also have been placed on the peripheral surfaces of the detector array layer 21 of panel X-ray sensor 3, further it has a configuration in which integration has been achieved. また、 Also,
パネル型X線センサ3から得られたX線検出データを記憶する検出データメモリ13やX線透視画像を記憶するX線画像メモリ15は、パネル型X線センサ3でのX線検出素子XDの縦横マトリック構成に対応したマトリックス構成を持つフレームメモリ方式の記憶デバイスが使われている。 X-ray image memory 15 for storing the detected data memory 13 and the X-ray fluoroscopic image storing X-ray detection data obtained from a panel type X-ray sensor 3, the X-ray detecting elements XD in panel X-ray sensor 3 storage devices of the frame memory system having a matrix structure corresponding to the vertical and horizontal matrix configuration is used.

【0022】そして、実施例装置には、X線検出素子X [0022] Then, the example apparatus, X-ray detection element X
Dの検出感度を決める印加電圧をパネル型X線センサ3 D panel X-ray sensor the applied voltage that determines the detection sensitivity of the 3
の表面電極23へ付与する印加電圧電源部31を備えるとともに、この発明の特徴的な構成として、X線検出データの強度レベルに応じてパネル型X線センサ3のX線検出素子XDに付与する印加電圧を変える印加電圧制御部32と、印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動を補償するデータ強度補償部10を備えている。 It provided with a voltage applied power source 31 for imparting to the surface electrode 23, as a characteristic configuration of the present invention, applied to the X-ray detecting elements XD panel type X-ray sensor 3 in accordance with the intensity level of the X-ray detection data and the applied voltage control unit 32 to change the applied voltage, and a data intensity compensator 10 to compensate for variations in the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage.

【0023】これに加えて、実施例装置のパネル型X線センサ3では、全X線検出素子XDが4つのグループG [0023] In addition, the panel X-ray sensor 3 embodiment device, the entire X-ray detecting element XD four groups G
a〜Gdに分けられていて、図6に示すように、表面電極23が、4つのグループGa〜Gdのエリアと丁度対応するようにして4つの分割電極23a〜23dに区分けされた形態で形成されており、印加電圧制御部32によって、各分割電極23a〜23dの印加電圧が対応するグループGa〜GdのX線検出データに応じて変化させられる構成となっている。 And it is divided into A~Gd, as shown in FIG. 6, the surface electrode 23, formed in just corresponding manner is divided into four divided electrodes 23a~23d form the four groups Ga~Gd area It is, by the applied voltage control unit 32, the applied voltage of the divided electrodes 23a~23d is in the configuration to be changed in accordance with the X-ray detection data of the corresponding group Ga-Gd. 続いて、この発明の特徴的な構成を、より具体的に説明する。 Subsequently, the characteristic configuration of the present invention will be described more specifically.

【0024】印加電圧制御部32は、撮影制御部9から受信するX線透視撮影・X線写真撮影のいずれかを指定する術式信号と、照射制御部6から受信するX線照射を教える照射信号とに応じて撮影モード制御部33から印加電圧制御部32へ出される指令に従って制御を実行することになる。 The applied voltage control unit 32, the irradiation teach a surgical procedure signal that specifies one of the X-ray fluoroscopic · X-ray photography received from the imaging control unit 9, the X-ray radiation received from the irradiation controller 6 It will execute the control in accordance with a command issued from the photographing mode control section 33 to the applied voltage control unit 32 in accordance with the signal. 印加電圧制御部32は、図2に示すように、4個の電極別電圧制御部32a〜32dを有していて、電極別電圧制御部32aがグループGaのX線検出素子XDの印加電圧制御を担当し、電極別電圧制御部3 Applied voltage control unit 32, as shown in FIG. 2, have four electrodes by the voltage control unit 32 a to 32 d, application electrode by the voltage control unit 32a is of the X-ray detection element XD groups Ga voltage control charge of the electrode by the voltage controller 3
2bがグループGbのX線検出素子XDの印加電圧制御を担当し、電極別電圧制御部32cがグループGcのX 2b is responsible for the voltage application control of the X-ray detecting elements XD group Gb, electrodes by the voltage control unit 32c is a group Gc X
線検出素子XDの印加電圧制御を担当し、電極別電圧制御部32dがグループGdのX線検出素子XDの印加電圧制御を担当する構成になっている。 Responsible for the applied voltage control line detecting element XD, electrodes by the voltage control unit 32d has a configuration wherein charge of applied voltage control of the X-ray detecting elements XD group Gd. 一方、印加電圧電源部31は4個の独立電源31a〜31dを有しており、独立電源31aが電極別電圧制御部32aの制御に応じて印加電圧を分割電極23aに印加し、独立電源3 On the other hand, the applied voltage power supply unit 31 has four independent power supply 31 a to 31 d, by applying a voltage applied to the divided electrode 23a under the control of an independent power source 31a is electrode specific voltage control unit 32a, independent source 3
1bが電極別電圧制御部32bの制御に応じて印加電圧を分割電極23bに印加し、独立電源31cが電極別電圧制御部32cの制御に応じて印加電圧を分割電極23 1b applies a voltage applied to the divided electrode 23b according to the control electrode by voltage controller 32b, it divides the applied voltage independent source 31c in response to the control electrode by the voltage control unit 32c electrode 23
cに印加し、独立電源31dが電極別電圧制御部32d Is applied to c, independent source 31d is electrode specific voltage control unit 32d
の制御に応じて印加電圧を分割電極23dに印加するという構成になっている。 It has a configuration that applies an applied voltage to the divided electrode 23d under the control of.

【0025】各グループGa〜GdのX線検出素子XD [0025] X-ray detection element XD of each group Ga~Gd
の検出感度は、各分割電極23a〜23dに付与される印加電圧の大きさに比例した感度となる。 Detection sensitivity is a sensitivity in proportion to the magnitude of the applied voltage applied to the divided electrodes 23 a to 23 d. すなわち、高い印加電圧の場合、図7(a)に示すように、X線検出素子XDの検出感度(X線検出データの強度/入射X線量)が高くて、ダイナミックレンジDaは狭くなり、低い印加電圧の場合、図7(b)に示すように、X線検出素子XDの検出感度(X線検出データの強度/入射X線量)が低くて、ダイナミックレンジDbは広くなる。 That is, when the high applied voltage, as shown in FIG. 7 (a), higher detection sensitivity of the X-ray detection element XD (intensity / incident X-ray dose of the X-ray detection data), the dynamic range Da becomes narrower, lower If the applied voltage, as shown in FIG. 7 (b), and the detection sensitivity of the X-ray detection element XD (intensity / incident X-ray dose of the X-ray detection data) is low, the dynamic range Db becomes wider. 実施例のX線透視撮影装置の場合、最初、独立電源31a For X-ray fluoroscopic apparatus embodiment, the first independent power source 31a
〜31dは検出感度が十分な感度となるよう高い印加電圧を各分割電極23a〜23dへ付与する。 ~31d imparts high applied voltage so that the detection sensitivity is sufficient sensitivity to the divided electrodes 23 a to 23 d.

【0026】X線透視撮影の場合、グループGaのX線検出信号XDから出力されるX線検出データが切替スイッチ34の接点n1から接点a1を経由して順に電極別電圧制御部32aへ送り込まれ、データ強度の平均値が求出されるとともに、図8(a)に示すように、予め定められた閾値Vmと比較されて、X線検出データ強度の平均値が閾値Vmより低ければ、そのまま現在の印加電圧VAを与え続ける。 In the case of X-ray fluoroscopy, X-rays detected data output from the X-ray detection signals XD group Ga is fed to sequentially electrodes by the voltage control unit 32a via the contacts a1 from the contact n1 of the switch 34 , together with the average value of the data strength is issued determined, as shown in FIG. 8 (a), is compared with a threshold value Vm predetermined, if the average value of the X-ray detection data intensity is lower than the threshold value Vm, as continue to provide the current of the applied voltage VA. 反対にX線検出データ強度の平均値が閾値Vmより高ければ、検出感度が高すぎるので、 Is higher than the average value is the threshold value Vm of the X-ray detection data intensity Conversely, the detection sensitivity is too high,
図8(b)に示すように、電極別電圧制御部32aは独立電源31aによる現在の印加電圧VAを少し下げて印加電圧VBとなるよう制御を変更する。 As shown in FIG. 8 (b), the electrode by the voltage control unit 32a changes the control so as to be slightly lowered applied voltage VB current the applied voltage VA by an independent power source 31a. また、図8 In addition, FIG. 8
(b)に示すように、X線検出データの平均値が閾値V (B), the threshold mean value of X-ray detection data V
mよりなお高ければ、X線透視撮影の場合、X線照射が継続的に行われて繰り返しX線検出データが読み出されて出力されるので、二つ先のデータ出力サイクルにおいて、印加電圧VBをさらに少し下げて印加電圧VCになるよう再び印加電圧の引下げ制御が行われる。 If still higher than m, the case of X-ray fluoroscopy, the X-ray irradiation is continuously performed by repeating X-ray detection data is read and output, in two destination of data output cycle, the applied voltage VB It cuts control of further again applied voltage so that the applied voltage VC is lowered a little bit is performed.

【0027】つまり、X線透視撮影の場合、電極別電圧制御部32aは、X線検出データ強度の平均値が閾値より低いと、検出感度が適当な感度となるまで印加電圧を低くする制御の変更が繰り返されるのである。 [0027] That is, in the case of X-ray fluoroscopy, the electrode by the voltage control unit 32a, when the average value of the X-ray detection data intensity is lower than the threshold value, the control sensitivity is low applied voltage until the appropriate sensitivity than a change is repeated. 他の3つの電極別電圧制御部32b〜32dによる印加電圧の制御も、切替スイッチ34の接点a1が接点b1〜d1に変わる程度の他は、電極別電圧制御部32aの場合と実質的に同様であるので説明は省略する。 Also controls the voltage applied by the other three electrodes by the voltage control unit 32b-32d, the other to the extent that the contact a1 of the changeover switch 34 is changed to the contact b1~d1 is substantially similar to the case of the electrode by the voltage control unit 32a since it is description thereof is omitted. なお、実施例装置の場合、図8(b)に示すように、X線検出データが2回読み出される間に1回の印加電圧制御動作が行われる。 In the case of the embodiment device, as shown in FIG. 8 (b), 1 time of the applied voltage control operation while the X-ray detection data is read is performed twice. 勿論、X線検出データが1回読み出される毎に1回の印加電圧制御動作が行われてもよい。 Of course, once the applied voltage control operation may be performed every time the X-ray detection data is read out once.

【0028】X線写真撮影の場合、X線照射開始から予め定められた時間が経過した時点Tdで、例えばグループGaのX線検出データが切替スイッチ34の接点n1 [0028] When the X-ray photography, when Td of a predetermined time from the X-ray irradiation start has elapsed, for example X-ray detection data of the group Ga is switch 34 contacts n1
から接点a1を経由して順に電極別電圧制御部32aへ送り込まれ、データ強度の平均値が求出される。 Sent to turn the electrode by the voltage control unit 32a via the contacts a1 from the average value of the data strength is issued determined. 求められた平均値が、図9(a)に示すように、予め定められた閾値Vnと比較されて、X線検出データ強度の平均値Vnが閾値より低ければ、そのまま現在の印加電圧Va Mean values ​​obtained are, as shown in FIG. 9 (a), is compared with the threshold Vn to a predetermined, if lower than the average value Vn threshold of the X-ray detection data intensity, as it is currently applied voltage Va
を与え続ける。 Continue to provide. 反対にX線検出データ強度の平均値が閾値Vnより高ければ、検出感度が高すぎるので、図9 Is higher than the average value is the threshold Vn of the X-ray detection data intensity Conversely, the detection sensitivity is too high, 9
(b)に示すように、電極別電圧制御部32aは独立電源31aによる現在の印加電圧Vaを下げてX線照射が終了する時点TeにおいてX線検出データが飽和しないと予測される印加電圧Vbとなるよう制御を変更する。 (B), the applied voltage electrode by the voltage control unit 32a X-ray detection data at the time Te the current applied voltage Va was lowered by X-ray irradiation by an independent power source 31a ends is not expected to saturate Vb to change the control so as to be.
同様に他の電極別電圧制御部32b〜32dも印加電圧の制御を行う。 Similarly for controlling other electrodes by the voltage control unit 32b~32d also applied voltage. なお、切替スイッチ34の接点は、読み出されたX線検出データのグループに対応するよう撮影制御部9の指令信号によって切替えられる。 Note that contact of the changeover switch 34 is switched by a command signal of the imaging control unit 9 so as to correspond to a group of X-ray detection data read out.

【0029】他方、データ強度補償部10は、利得可変型増幅部10a〜10dを備えており、利得可変型増幅部10aはグループGaのX線検出データに対する補償処理を行い、利得可変型増幅部10bはグループGbのX線検出データに対する補償処理を行い、利得可変型増幅部10cはグループGcのX線検出データに対する補償処理を行い、利得可変型増幅部10dはグループGd [0029] On the other hand, the data intensity compensation unit 10 is provided with a variable gain type amplifier unit 10 a to 10 d, the variable gain type amplifier unit 10a performs compensation processing for the X-ray detection data of the group Ga, the variable gain type amplifier unit 10b performs compensation processing for the X-ray detection data of the group Gb, the variable gain type amplifier unit 10c performs compensation processing for the X-ray detection data of the group Gc, the variable gain type amplifier unit 10d group Gd
のX線検出データに対する補償処理を行うよう構成されている。 And it is configured to perform compensation processing for the X-ray detection data.

【0030】X線透視撮影でも、X線写真撮影でも、利得可変型増幅部10aは、電極別電圧制御部32aの制御出力による利得制御で、印加電圧の変化によるX線検出データの強度レベルの変動を補償する。 [0030] in X-ray fluoroscopy, even X-ray photography, the variable gain type amplifier unit 10a, the gain control by the control output of the electrode by the voltage control unit 32a, the applied voltage changes due to the intensity level of the X-ray detection data to compensate for the change. すなわち、電極別電圧制御部32aの制御出力が印加電圧を下げる指令であったとすると、検出感度が下がりX線検出データの強度レベルも低下するから、利得可変型増幅部10a That is, when the control output electrode by the voltage control unit 32a is assumed to be a command to lower the applied voltage, because the detection sensitivity also decreases the intensity level of the edge X-ray detection data, the variable gain type amplifier unit 10a
は電極別電圧制御部32aの制御出力で利得を上げ、切替スイッチ11の接点n1から接点a1を経由して順に送り込むまれるX線検出データを十分に増幅して元の強度レベルに戻す。 It increases the gain control output of the electrode by the voltage control unit 32a, back to its original intensity level sufficiently amplify the X-ray detection data or being fed sequentially via the contacts a1 from the contact n1 of the switch 11. 元の強度レベルを維持したX線検出データは、切替スイッチ11の接点a2から接点n2を経由してAD変換部12へ送り出される。 X-ray detection data maintaining the original intensity level is fed via the contact n2 from the contact a2 of the switch 11 to the AD converter 12.

【0031】したがって、利得可変型増幅部10aの利得は印加電圧と逆比例するようにコントロールされることになる。 [0031] Thus, the gain of the variable gain type amplifier unit 10a will be controlled in proportion the applied voltage and the reverse. 他の3つの利得可変型増幅部10b〜10d Other three variable gain amplifier unit 10b~10d
による利得制御も、切替スイッチ11の接点a2が接点b2〜d2に変わる程度の他は、利得可変型増幅部10 Also the gain control by the other to the extent that the contact a2 of the switch 11 is changed to the contact b2~d2, the gain variable amplifying section 10
aの場合と実質的に同様であるので説明は省略する。 Substantially as described is the same as that of a will be omitted. なお、切替スイッチ11の接点は、撮影制御部9の指令信号に従って増幅処理対象のX線検出データのグループに合わせて切替えられる。 Note that contact of the changeover switch 11 is switched in accordance with the group of X-ray detection data of the amplification process target in accordance with a command signal of the imaging control unit 9. 上述したような強度レベルの変動を補償することにより、表示モニタ16などに映し出される出力画像は、印加電圧の変化の影響が現れていない滑らかな階調変化の画像になる。 By compensating for variations in the intensity level as described above, the output image displayed on a display monitor 16, a smooth gradation change of an image effect of the change in the applied voltage does not appear.

【0032】続いて、以上に説明した構成を有する実施例装置により撮影が行われる際のX線検出素子XDの印加電圧の制御動作を、図面を参照しながら説明する。 [0032] Subsequently, the control operation of the voltage applied to the X-ray detecting elements XD when shooting by Examples apparatus having the configuration described is carried out above will be described with reference to the drawings. 先にX線透視撮影の場合を説明する。 Previously described in the case of X-ray fluoroscopy. 図10は、実施例装置によるX線透視撮影における印加電圧制御の進行状況を示すフローチャートである。 Figure 10 is a flowchart showing the progress of the applied voltage control in the X-ray fluoroscopy according to the embodiment device. 〔ステップS1〕天板1の上に被検体Mを載せた後、天板1を移動させて被検体Mの撮影部位を撮影位置ヘセットしておいて、ハンドスイッチ8によりX線透視撮影を指令する。 [Step S1] after placing the patient M on the top board 1, by moving the top board 1 in advance by photographing position Hesetto the imaging region of the subject M, command the X-ray fluoroscopy by hand switch 8 to.

【0033】〔ステップS2〕X線が継続的に被検体M [0033] [Step S2] X-rays continuously subject M
に照射されるのに伴ってX線検出素子XDからX線検出データが順に読みだされて電極別電圧制御部32a〜3 X-ray detection data from the X-ray detecting elements XD along with being irradiated is read out sequentially electrodes by the voltage control unit to 32a~3
2dへ送り込まれる。 It is fed to the 2d.

【0034】〔ステップS3〕各電極別電圧制御部32 [0034] [Step S3] each electrode by the voltage control unit 32
a〜32dによってX線検出データの平均値と閾値Vm Mean value of X-ray detection data by a~32d and the threshold Vm
との比較が行われることにより各分割電極23a〜23 The divided electrodes by comparison with is performed 23a~23
dの印加電圧の適否がチェックされる。 Appropriateness of the applied voltage of d is checked. チェックの結果、印加電圧が適当であれば、ステップS5へ進む。 As a result of checking, the applied voltage if appropriate, the process proceeds to step S5. 印加電圧が適当でなければ、次のステップS4へ進む。 If the applied voltage is not appropriate, the process advances to step S4.

【0035】〔ステップS4〕印加電圧が適当でないグループに対応する独立電源31a〜31dの印加電圧および利得可変型増幅部10a〜10dの利得が、電極別電圧制御部の制御出力により適当な電圧および利得へ変化させられる。 The gain of the applied voltage and the variable gain type amplifier unit 10a~10d independent power 31a~31d of [Step S4] applied voltage corresponding to the group that is not appropriate, a suitable voltage by the control output of the electrode by the voltage control unit and It is changed to the gain.

【0036】〔ステップS5〕撮影が続行されるのであれば、ステップS2に戻り、以下のステップが繰り返し行われる。 [0036] If the [step S5] shooting is continued, the process returns to step S2, are performed repeatedly following steps. 撮影が済んだのであれば、印加電圧制御も終了である。 If the I finished shooting, the applied voltage control is also the end. なお、印加電圧の制御と平行して、X線検出データは強度レベルの変動を補償された後に透過X線画像に仕上げられて表示モニタ16の画面に表示される。 Incidentally, in parallel with the control of the applied voltage, the X-ray detection data is finished to a transmitted X-ray image is displayed on the screen of the display monitor 16 after being compensated for variations in the intensity level.

【0037】次に、X線写真撮影の場合を説明する。 [0037] Next, a description will be given of the case of X-ray photography. 図11は、実施例装置によるX線写真撮影における印加電圧制御の進行状況を示すフローチャートである。 Figure 11 is a flowchart showing the progress of the applied voltage control in the X-ray photography according to an embodiment apparatus. 〔ステップU1〕天板1の上に被検体Mを載せた後、天板1を移動させて被検体Mの撮影部位を撮影位置ヘセットしておいて、ハンドスイッチ8によりX線写真撮影を指令する。 [Step U1] after placing the patient M on the top board 1, by moving the top board 1 in advance by photographing position Hesetto the imaging region of the subject M, command the X-ray photography by the hand switch 8 to.

【0038】〔ステップU2〕X線が被検体Mに照射され始めてから一定時間が経過して時点Teに達すると、 [0038] When [Step U2] X-ray reaches the time Te has elapsed a predetermined time from the start is applied to the subject M,
各グループGa〜GdのX線検出素子XDのX線検出データの読み出しが行われて電極別電圧制御部32a〜3 Reading the X-ray detection data is performed electrode by the voltage control unit of the X-ray detecting elements XD of each group Ga-Gd 32A~3
2dへ送り込まれる。 It is fed to the 2d.

【0039】〔ステップU3〕各電極別電圧制御部32 [0039] [Step U3] the electrodes by the voltage control unit 32
a〜32dによって読み出されたX線検出データの平均値と閾値Vnとの比較が行われることにより各分割電極23a〜23dの印加電圧の適否がチェックされる。 Compliance of the applied voltage divided electrodes 23a~23d is checked by comparing the average value with the threshold Vn of the X-ray detection data read out by a~32d is performed. チェックの結果、印加電圧が適当であれば、ステップU5 As a result of checking, the applied voltage if appropriate, step U5
へ進む。 To advance. 印加電圧が適当でなければ、次のステップU4 If the applied voltage is not suitable, the next step U4
へ進む。 To advance.

【0040】〔ステップU4〕印加電圧が適当でないグループに対応する独立電源31a〜31dの印加電圧および利得可変型増幅部10a〜10dの利得が、電極別電圧制御部の制御出力により適当な電圧および利得へ変化させられる。 The gain of the applied voltage and the variable gain type amplifier unit 10a~10d independent power 31a~31d of [Step U4] applied voltage corresponding to the group that is not appropriate, a suitable voltage by the control output of the electrode by the voltage control unit and It is changed to the gain.

【0041】〔ステップU5〕撮影が済むまで適当な印加電圧を維持する。 [0041] [Step U5] maintain the proper applied voltage to the photographing it suffices. 撮影が済んだのであれば、印加電圧制御も終了である。 If the I finished shooting, the applied voltage control is also the end. なお、印加電圧の制御と並行して、 In parallel with the control of the applied voltage,
X線検出データは透過X線画像に仕上げられて焼き付け器17によってシートに焼き付けられた上でX線写真として出力される。 X-ray detection data is output as an X-ray photograph on burned into the sheet by the baking unit 17 are finished to the transmission X-ray image.

【0042】以上に詳述したように、実施例のX線透視撮影装置によれば、パネル型X線センサ3のX線検出素子XDに付与する印加電圧が、X線管2のX線照射に伴ってパネル型X線センサ3から実際に出力されるX線検出データの強度レベルに応じて変化させられ、X線検出素子XDの検出感度が自動的に適切な感度に変更されることから、ハレーションが画像に出るのを防止できるとともに、X線検出データのS/N比が良くなって画質が向上する。 [0042] As described above in detail, according to the X-ray fluoroscopic imaging apparatus of the embodiment, the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements XD panel type X-ray sensor 3, X-ray irradiation of the X-ray tube 2 varied depending on the intensity level of the actual X-ray detection data outputted from the panel X-ray sensor 3 with the, since the detection sensitivity of the X-ray detection element XD is automatically changed to the appropriate sensitivity , together with the halation can be prevented from leaving the image, the image quality is improved better the S / N ratio of the X-ray detection data.

【0043】また、実施例装置によれば、4つのグループGa〜Gdに分けられているX線検出素子XDの各グループGa〜GdのX線検出データに応じてX線検出素子の印加電圧が与えられ、各グループGa〜Gdの検出感度がそれぞれのグループの状況に見合ったより適切な感度になることから、ハレーションをより確実に防止できるとともに、SN比が非常に良くなって画質がさらに良くなる。 Further, according to the embodiment device, the voltage applied to the X-ray detecting element according to the four X-ray detection data of each group Ga~Gd X-ray detection elements XD which are divided into groups Ga~Gd given, since the detection sensitivity of each group Ga~Gd is appropriate sensitivity than commensurate with the status of each group, together with the halation can be more reliably prevented, image quality is better SN ratio becomes very good .

【0044】加えて、実施例装置によれば、検出感度改善のための印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動が補償されるので、印加電圧の変化にかかわらず、X線検出データの強度レベルは透過X線の強度に応じたものになる結果、高品質のX線画像を得ることができる。 [0044] In addition, according to the embodiment device, the variation of the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage for detection sensitivity improvement is compensated, regardless of the change in the applied voltage, the X-ray intensity level of the detection data results become those corresponding to the intensity of the transmitted X-rays, it is possible to obtain a high-quality X-ray images.

【0045】この発明は、上記の実施例に限られるものではなく、以下のように変形実施することも可能である。 [0045] The invention is not limited to the embodiments described above, it is also possible to modified as follows. (1)実施例装置は、X線透視撮影またはX線写真撮影の両方が行える構成であったが、この発明の装置は、X (1) Example device, there is constructed a constitution capable of performing both X-ray fluoroscopy or X-ray photography apparatus of the present invention, X
線透視撮影とX線写真撮影のいずれか一方だけが行える構成であってもよい。 It may be either one only can be performed configuration line fluoroscopic imaging and X-ray photography.

【0046】(2)実施例では、X線検出素子が4つのグループに分けられて各グループごとに印加電圧が変化させられる構成であったが、この発明の装置は、X線検出素子のグループ分けが全く行われていなくて全X線検出素子の印加電圧が一律に変化させられるような構成であってもよい。 [0046] (2) In the embodiment, the X-ray detection element has a configuration in which the applied voltage for each group divided into four groups is varied, the apparatus of the invention, a group of X-ray detecting elements applied voltage divided not be performed at all the full X-ray detector element may be configured as is changed uniformly. また、逆に、この発明の装置は、全X線検出素子のそれぞれの印加電圧が各素子毎に制御されるような構成であっても構わない。 Conversely, apparatus of the invention, each of the voltage applied to the total X-ray detecting elements may be configured to be controlled for each device.

【0047】(3)実施例装置では、直接変換タイプのX線面センサが用いられていたけれど、この発明の装置に用いられるX線面センサは、印加電圧の変化に伴って検出感度が変化するタイプのX線面センサでありさえすれば事足りる。 [0047] (3) in Example apparatus, but has been used is X-ray plane sensor of the direct conversion type, X-ray plane sensor used in the apparatus of the invention, the detection sensitivity changes with the change in the applied voltage suffice if only a type X-ray surface sensor for.

【0048】 [0048]

【発明の効果】以上に詳述したように、請求項1の発明のX線診断装置によれば、X線撮影実行の際、X線面センサのX線検出素子に付与する印加電圧が、X線管による被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器から出力されるX線検出データの強度レベルに応じて変化させられ、X線検出素子の検出感度が自動的に適切な感度になる構成を備えていることから、透過X線画像にハレーションが出るのを防止することができると同時に、X線検出データのS/N比が良くなって透過X線画像の画質が向上する。 As detailed above, according to the present invention, according to X-ray diagnostic apparatus of the invention of claim 1, when X-ray imaging run, the applied voltage to be applied to the X-ray detecting elements of the X-ray plane sensor, varied depending on the intensity level of the X-ray detection data outputted from the transmission X-ray image detector in accordance with the X-ray irradiation to a subject by the X-ray tube, automatically correct detection sensitivity of the X-ray detecting elements since it is a structure to be such sensitivity, at the same time it is possible to prevent the halation to the transmission X-ray image is out, the image quality of the transmitted X-ray image S / N ratio of the X-ray detection data becomes better improves.

【0049】請求項2のX線診断装置では、少なくとも2つのグループに分けられているX線検出素子の各グループのX線検出データに応じてX線検出素子の印加電圧が与えられ、各グループの検出感度がそれぞれのグループの状況に合ったより適切な感度になるので、ハレーションが出るのを確実に防止することができるとともに、 [0049] In X-ray diagnostic apparatus according to claim 2, the applied voltage of the X-ray detection elements in accordance with the X-ray detection data for each group of X-ray detecting elements are divided into at least two groups is given, each group since the detection sensitivity of is appropriate sensitivity than appropriate to the status of each group, it is possible to reliably prevent the halation out,
S/N比が非常に良くなって透過X線画像の画質がさらに向上する。 Quality of the transmitted X-ray image S / N ratio is very good is further improved.

【0050】請求項3のX線診断装置では、印加電圧制御手段による印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動が補償されるので、印加電圧の変化の影響がX線画像に現れない。 [0050] In X-ray diagnostic apparatus according to claim 3, the variation of the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage by applying the voltage control means is compensated, the influence of the change in the applied voltage to the X-ray image It does not appear. その結果、請求項3の発明によれば、さらに高品質のX線画像を得ることができる。 As a result, according to the invention of claim 3, it is possible to obtain further high-quality X-ray images.

【図面の簡単な説明】 BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

【図1】実施例のX線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図である。 1 is a block diagram showing the overall arrangement of an X-ray fluoroscopic apparatus embodiment.

【図2】実施例のパネル型X線センサの印加電圧制御系の構成を示すブロック図である。 2 is a block diagram showing a configuration of an applied voltage control system of the panel X-ray sensor of Example.

【図3】実施例のパネル型X線センサの基本構成を示す平面図である。 3 is a plan view showing a basic structure of a panel X-ray sensor of Example.

【図4】実施例のパネル型X線センサの内部構成を示す部分断面図である。 4 is a partial sectional view showing an internal structure of the panel X-ray sensor of Example.

【図5】実施例のパネル型X線センサまわりの回路構成を示すブロック図である。 5 is a block diagram showing a circuit configuration around panel X-ray sensor of Example.

【図6】実施例のパネル型X線センサの表面電極形成面を示す平面図である。 6 is a plan view showing the surface electrode forming surface of the panel X-ray sensor of Example.

【図7】実施例のパネル型X線センサにおける入射X線量とX線検出データの強度の関係を示すグラフである。 7 is a graph showing the relationship between the intensity of the incident X-ray dose and the X-ray detection data in panel X-ray sensor of Example.

【図8】X線透視撮影時のパネル型X線センサのX線検出データの強度、および、印加電圧の経時変化を示すグラフである。 [8] the intensity of the X-ray detection data panel X-ray sensor during X-ray fluoroscopy, and a graph showing the temporal change in the applied voltage.

【図9】X線写真撮影時のパネル型X線センサのX線検出データの強度、および、印加電圧の経時変化を示すグラフである。 [9] the intensity of the X-ray detection data panel X-ray sensor during X-ray photography, and a graph showing the temporal change in the applied voltage.

【図10】X線透視撮影時の印加電圧制御の進行状況を示すフローチャートである。 10 is a flowchart showing the progress of the application voltage control during X-ray fluoroscopy.

【図11】X線写真撮影時の印加電圧制御の進行状況を示すフローチャートである。 11 is a flowchart showing the progress of the applied voltage control at the time of X-ray photography.

【図12】従来のX線透視撮影装置の要部構成を示す模式図である。 It is a schematic diagram showing a main configuration of Figure 12 conventional X-ray fluoroscopic apparatus.

【図13】従来の他のX線透視撮影装置の要部構成を示す模式図である。 13 is a schematic diagram showing a configuration of a main part of another conventional X-ray fluoroscopic apparatus.

【図14】従来の他のX線透視撮影装置のパネル型X線センサの入射X線量とX線検出データの強度の関係を示すグラフである。 14 is a graph showing the relationship between the intensity of the incident X-ray dose and the X-ray detection data panel X-ray sensor of another conventional X-ray fluoroscopic apparatus.

【符号の説明】 DESCRIPTION OF SYMBOLS

1 …天板 2 …X線管 3 …フラットパネル型X線センサ 4 …信号収集部 6 …照射制御部 9 …撮影制御部 10 …データ強度補償部 23a〜23d…分割電極 31 …印加電圧電源部 32 …印加電圧制御部 Ga〜Gd …グループ M …被検体 XD …X線検出素子 1 ... top plate 2 ... X-ray tube 3 ... flat panel X-ray sensor 4 ... signal acquisition unit 6 ... emission controller 9 ... photographing control section 10 ... data intensity compensation unit 23 a to 23 d ... divided electrodes 31 ... application voltage power supply unit 32 ... applied voltage control unit Ga-Gd ... group M ... subject XD ... X-ray detecting elements

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G088 EE01 FF02 GG21 JJ05 KK32 KK40 LL15 4C093 AA05 CA06 CA35 EB13 EB17 EB18 EB30 FA32 FA45 FA59 FC17 FC18 4M118 AA10 AB01 BA05 CA14 CA22 CB05 FB09 FB13 FB16 GA10 ────────────────────────────────────────────────── ─── front page of continued F-term (reference) 2G088 EE01 FF02 GG21 JJ05 KK32 KK40 LL15 4C093 AA05 CA06 CA35 EB13 EB17 EB18 EB30 FA32 FA45 FA59 FC17 FC18 4M118 AA10 AB01 BA05 CA14 CA22 CB05 FB09 FB13 FB16 GA10

Claims (3)

    【特許請求の範囲】 [The claims]
  1. 【請求項1】被検体を挟んでX線管と透過X線像検出器が対向配置となるように配設されているとともに、X線管による被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器から出力されるX線検出データに基づき透過X線画像が得られるよう構成されたX線診断装置において、透過X With 1. A X-ray tube across a subject transmitted X-ray image detector is arranged so as to be opposed, transmission with the X-ray tube in X-ray irradiation to a subject X in X-ray diagnostic apparatus configured to transmitted X-ray images based on X-ray detection data outputted from the linear image detector is obtained, the transmitted X
    線像検出器として、多数個のX線検出素子が縦横に配列されているX線面センサを備えているとともに、X線検出データの強度レベルに応じてX線面センサのX線検出素子に付与する印加電圧を変えて検出感度を調節する印加電圧制御手段を備えていることを特徴とするX線診断装置。 As a line image detector, together with the plurality of X-ray detecting elements is provided with an X-ray plane sensor are arranged in a matrix, the X-ray detecting elements of the X-ray plane sensor in accordance with the intensity level of the X-ray detection data X-ray diagnostic apparatus characterized by comprising an applied voltage control means for adjusting the detection sensitivity by changing the applied voltage applied to.
  2. 【請求項2】請求項1に記載のX線診断装置において、 2. A X-ray diagnostic apparatus according to claim 1,
    X線面センサは全X線検出素子が少なくとも2つのグループに分けられて各グループ毎に独立して印加電圧が付与される構成となっているとともに、印加電圧制御手段は各グループ毎に印加電圧を変化させられる構成となっているX線診断装置。 With X-ray plane sensor has a configuration in which the applied voltage and independently total X-ray detecting elements are divided into at least two groups each group is given, it applied voltage control means applies a voltage to each of the groups configuration for changing the the going on X-ray diagnostic apparatus.
  3. 【請求項3】請求項1または2に記載のX線診断装置において、印加電圧制御手段による印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベルの変動を補償するデータ強度補償手段を備えているX線診断装置。 3. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1 or 2, a data intensity compensation means for compensating for variations in the intensity level of the X-ray detection data associated with the change in the applied voltage by the applied voltage control means X-ray diagnostic apparatus.
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