JP2000102527A - X-ray diagnostic instrument - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、X線管による被
検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器であるX線
面センサから出力されるX線検出データに基づき透過X
線画像が得られるよう構成されたX線診断装置に係り、
透過X線像検出器であるX線面センサの検出感度を入射
X線量に見合った適切な感度にするための技術に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transmission X-ray based on X-ray detection data output from an X-ray surface sensor, which is a transmission X-ray image detector, when an X-ray tube irradiates a subject with X-rays.
The present invention relates to an X-ray diagnostic apparatus configured to obtain a line image,
The present invention relates to a technique for setting the detection sensitivity of an X-ray surface sensor, which is a transmission X-ray image detector, to an appropriate sensitivity corresponding to an incident X-ray dose.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、病院等の医療機関に設置されてい
るX線透視撮影装置(X線診断装置)は、図12に示す
ように、天板51の上に載置された患者(被検体)Mを
挟んでX線管52と透過X線像検出器であるイメージイ
ンテンシファイア(適宜「I・I管」と略記)53とが
対向配置となるようにして配設されており、X線管52
による患者MへのX線照射に伴ってI・I管53から透
過X線画像用のX線検出データが出力される構成になっ
ている。2. Description of the Related Art Conventionally, an X-ray fluoroscopic apparatus (X-ray diagnostic apparatus) installed in a medical institution such as a hospital or the like has a patient (patient) placed on a top 51 as shown in FIG. An X-ray tube 52 and an image intensifier 53 (abbreviated as “II tube” as appropriate), which is a transmission X-ray image detector, are disposed so as to face each other with the sample M interposed therebetween. X-ray tube 52
As a result, X-ray detection data for a transmitted X-ray image is output from the I / I tube 53 in accordance with the X-ray irradiation on the patient M by the above.
【0003】ただ、I・I管53は大容積の重量物であ
ることから取り付け構造が複雑化する。そこで、図13
に示すように、I・I管の代わりにフラットパネル型X
線センサ54を透過X線像検出器として用いた装置が提
案されている。フラットパネル型X線センサ54は、多
数個のX線検出素子が縦横に配列されているX線面セン
サであって、I・I管に比べると遙に薄型かつ軽量であ
ることから簡潔な取り付け構造で事足りるという利点が
ある。However, since the II tube 53 is a heavy object having a large volume, the mounting structure is complicated. Therefore, FIG.
As shown in the figure, a flat panel X
An apparatus using the line sensor 54 as a transmission X-ray image detector has been proposed. The flat panel type X-ray sensor 54 is an X-ray surface sensor in which a large number of X-ray detecting elements are arrayed vertically and horizontally. There is an advantage that a structure is sufficient.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
フラットパネル型X線センサ54を用いたX線透視撮影
装置は、透過X線画像にハレーションが出やすいという
問題がある。従来のフラットパネル型X線センサ54で
は、入射X線量が少なくてもX線検出データの強度を十
分確保するため、X線検出素子に付与する印加電圧を上
げて検出感度を高くしているので、図14において実線
Naで示すように、入射X線量が少し多くなるとX線検
出データが忽ちに飽和してしまう。つまり、印加電圧が
高いフラットパネル型X線センサ54の場合は、いわゆ
るダイナミックレンジDaが非常に狭くて、ハレーショ
ンが起こり易いのである。However, the X-ray fluoroscopic apparatus using the flat panel type X-ray sensor 54 has a problem that halation easily occurs in a transmitted X-ray image. In the conventional flat panel X-ray sensor 54, in order to secure sufficient intensity of X-ray detection data even when the incident X-ray dose is small, the applied voltage applied to the X-ray detection element is increased to increase the detection sensitivity. As shown by the solid line Na in FIG. 14, when the amount of incident X-ray is slightly increased, the X-ray detection data is immediately saturated. That is, in the case of the flat panel type X-ray sensor 54 having a high applied voltage, the so-called dynamic range Da is very narrow, and halation easily occurs.
【0005】フラットパネル型X線センサ54のX線検
出素子に付与する印加電圧を下げれば、検出感度は低く
なり、図14において一点鎖線Nbで示すように、X線
検出データが飽和し始める入射X線量が多い方へ移行す
る。つまり、印加電圧が低いフラットパネル型X線セン
サ54の場合は、いわゆるダイナミックレンジDbが非
常に広くなることから、ハレーションが起こり難くな
る。しかし、フラットパネル型X線センサ54の検出感
度が低いと、X線検出データのS/N比が悪化して、最
終的な透過X線画像の画質が低下するという別の問題を
招来する。[0005] If the applied voltage applied to the X-ray detecting element of the flat panel type X-ray sensor 54 is reduced, the detection sensitivity is lowered, and as shown by the dashed line Nb in FIG. Move to the one with the higher X-ray dose. That is, in the case of the flat panel type X-ray sensor 54 to which the applied voltage is low, the so-called dynamic range Db becomes very wide, so that halation hardly occurs. However, if the detection sensitivity of the flat panel type X-ray sensor 54 is low, the S / N ratio of the X-ray detection data is deteriorated, which causes another problem that the quality of the final transmitted X-ray image is deteriorated.
【0006】この発明は、上記問題点に鑑み、透過X線
像検出器であるX線面センサの検出感度を入射X線量に
見合った適切な感度にすることができるX線診断装置を
提供することを課題とする。The present invention has been made in view of the above problems, and provides an X-ray diagnostic apparatus capable of setting the detection sensitivity of an X-ray surface sensor, which is a transmission X-ray image detector, to an appropriate sensitivity corresponding to an incident X-ray dose. That is the task.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、この発明に係るX線診断装置は、被検体を挟んで
X線管と透過X線像検出器が対向配置となるように配設
されているとともに、X線管による被検体へのX線照射
に伴って透過X線像検出器から出力されるX線検出デー
タに基づき透過X線画像が得られるよう構成されたX線
診断装置において、透過X線像検出器として、多数個の
X線検出素子が縦横に配列されているX線面センサを備
えているとともに、X線検出データの強度レベルに応じ
てX線面センサのX線検出素子に付与する印加電圧を変
えて検出感度を調節する印加電圧制御手段を備えてい
る。In order to solve the above-mentioned problems, an X-ray diagnostic apparatus according to the present invention is arranged such that an X-ray tube and a transmission X-ray image detector are opposed to each other with a subject interposed therebetween. X-rays that are provided and configured to obtain a transmission X-ray image based on X-ray detection data output from a transmission X-ray image detector when the X-ray tube irradiates the subject with X-rays The diagnostic apparatus includes, as a transmitted X-ray image detector, an X-ray surface sensor in which a number of X-ray detection elements are arranged vertically and horizontally, and an X-ray surface sensor according to the intensity level of the X-ray detection data. And an applied voltage control means for adjusting the detection sensitivity by changing the applied voltage applied to the X-ray detecting element.
【0008】また、請求項2の発明は、請求項1に記載
のX線診断装置において、X線面センサは全X線検出素
子が少なくとも2つのグループに分けられて各グループ
毎に独立して印加電圧が付与される構成となっていると
ともに、印加電圧制御手段は各グループ毎に印加電圧を
変化させられる構成となっている。According to a second aspect of the present invention, in the X-ray diagnostic apparatus according to the first aspect, the X-ray surface sensor is configured such that all the X-ray detecting elements are divided into at least two groups and each group is independently provided. The configuration is such that the applied voltage is applied, and the applied voltage control means can change the applied voltage for each group.
【0009】また、請求項3の発明は、請求項1または
2に記載のX線診断装置において、印加電圧制御手段に
よる印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度レベル
の変動を補償するデータ強度補償手段を備えている。According to a third aspect of the present invention, there is provided the X-ray diagnostic apparatus according to the first or second aspect, wherein the data for compensating for a change in the intensity level of the X-ray detection data accompanying a change in the applied voltage by the applied voltage control means. An intensity compensation means is provided.
【0010】〔作用〕次に、この発明のX線診断装置に
よるX線撮影の際のX線検出素子の印加電圧制御作用を
説明する。この発明のX線診断装置によるX線撮影にお
いては、X線管によるX線照射に伴ってX線面センサか
ら出力されるX線検出データの強度レベルに応じて印加
電圧制御手段が行う制御により、X線面センサのX線検
出素子に付与する印加電圧が変化させられる。具体的に
は、X線検出データの強度レベルが高すぎる時は、検出
感度が高すぎてダイナミックレンジが狭くなっており、
透過X線画像にハレーションが出る可能性が大きい。そ
こで、印加電圧制御手段の制御によって、X線検出素子
に付与する印加電圧が引下げられ、X線検出素子の検出
感度が適切な感度となって、ダイナミックレンジが広が
る結果、ハレーションが起こらなくなる。[Operation] Next, the operation of controlling the applied voltage of the X-ray detecting element during X-ray imaging by the X-ray diagnostic apparatus of the present invention will be described. In the X-ray imaging by the X-ray diagnostic apparatus according to the present invention, the control performed by the applied voltage control means according to the intensity level of the X-ray detection data output from the X-ray surface sensor with the X-ray irradiation by the X-ray tube is performed. The applied voltage applied to the X-ray detection element of the X-ray surface sensor is changed. Specifically, when the intensity level of the X-ray detection data is too high, the detection sensitivity is too high and the dynamic range is narrow,
Halation is likely to occur in the transmitted X-ray image. Thus, under the control of the applied voltage control means, the applied voltage applied to the X-ray detection element is reduced, the detection sensitivity of the X-ray detection element becomes appropriate, and the dynamic range is widened. As a result, halation does not occur.
【0011】請求項2のX線診断装置では、グループに
分けされたX線検出素子の各グループのX線検出データ
に応じて印加電圧制御手段が各グループ毎に印加電圧制
御を行って、各グループのX線検出素子に適切な印加電
圧を付与する。その結果、各グループのX線検出素子の
検出感度がそのグループの状況に合ったより適切な感度
になる。In the X-ray diagnostic apparatus according to the second aspect, the applied voltage control means controls the applied voltage for each group according to the X-ray detection data of each group of the X-ray detecting elements divided into groups. An appropriate applied voltage is applied to the X-ray detection elements of the group. As a result, the detection sensitivity of the X-ray detection elements in each group becomes more appropriate according to the situation of the group.
【0012】請求項3のX線診断装置では、データ強度
補償手段によって、印加電圧の変化に伴うX線検出デー
タの強度レベルの変動が補償され、印加電圧の変化にか
かわらず、X線検出データの強度レベルが一定に保たれ
る。In the X-ray diagnostic apparatus according to the third aspect, the data intensity compensating means compensates for the change in the intensity level of the X-ray detection data due to the change in the applied voltage, so that the X-ray detection data is independent of the change in the applied voltage. Is kept constant.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、この発明のX線診断装置の
一実施例を図面を参照しながら説明する。図1は実施例
に係るX線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図、
図2はX線面センサであるフラットパネル型X線センサ
(適宜「パネル型X線センサ」と略記)の印加電圧制御
系の構成を示すブロック図、図3はパネル型X線センサ
の基本構成を示す平面図、図4はパネル型X線センサの
内部構成を示す部分断面図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the X-ray diagnostic apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an entire configuration of an X-ray fluoroscopic apparatus according to an embodiment,
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an applied voltage control system of a flat panel X-ray sensor (appropriately abbreviated as “panel X-ray sensor”) as an X-ray surface sensor, and FIG. 3 is a basic configuration of the panel X-ray sensor. FIG. 4 is a partial sectional view showing the internal configuration of the panel X-ray sensor.
【0014】実施例のX線透視撮影装置は、図1に示す
ように、天板1の上に載置された被検体Mを挟んでX線
管2と透過X線像検出器であるパネル型X線センサ3と
が対向配置となるようにして配設されており、X線管2
による被検体MへのX線照射に伴ってパネル型X線セン
サ3の検出エリアに被検体Mの撮影部位(関心部位)の
透過X線像が投影される。パネル型X線センサ3は、図
3に示すように、縦横に配列されている多数個のX線検
出素子XDを検出エリアに備えていて、検出エリアに投
影された透過X線像が、X線検出素子XDで電気信号に
変換された後、信号収集部4により読み出されて透過X
線画像用のX線検出データとして出力される。パネル型
X線センサ3は、イメージインテンシファイアとは違
い、薄型の軽量物であるので、パネル型X線センサ3の
取り付けには大がかりな構造を必要としない。As shown in FIG. 1, an X-ray fluoroscopic apparatus according to an embodiment includes an X-ray tube 2 and a panel as a transmission X-ray image detector with a subject M placed on a top plate 1 interposed therebetween. The X-ray tube 2 is disposed so as to face the X-ray sensor 3.
As a result, the transmitted X-ray image of the imaging region (interest) of the subject M is projected onto the detection area of the panel-type X-ray sensor 3 in accordance with the X-ray irradiation of the subject M. As shown in FIG. 3, the panel type X-ray sensor 3 has a large number of X-ray detection elements XD arranged in a matrix in a detection area, and a transmitted X-ray image projected on the detection area is X-ray image. After being converted into an electric signal by the line detection element XD, it is read out by the signal
It is output as X-ray detection data for a line image. Unlike the image intensifier, the panel-type X-ray sensor 3 is thin and lightweight, and therefore does not require a large-scale structure for mounting the panel-type X-ray sensor 3.
【0015】天板1は、被検体Mを載置した状態で天板
駆動部5のコントロールにより前後・左右或いは上下に
移動させられる。つまり天板1を移動させて、被検体M
の撮影部位を装置の撮影位置へセットさせるのである。
X線管2は、照射制御部6のコントロールにより適当な
タイミングで通常はパルス状X線を被検体Mの撮影部位
へ照射する。実施例装置は、X線透視撮影およびX線写
真撮影(ブッキ撮影)を選択的に実行できるX線透視撮
影装置であり、X線透視撮影の場合は少ない目の線量で
連続的にX線が次々照射され、X線写真撮影の場合は多
い目の線量で単発的にX線が照射される。なお、天板駆
動部5のコントロールや、照射制御部6のコントロール
は、キーボード7やハンドスイッチ8からの入力操作等
に伴って撮影制御部9から適時に出力される指令信号に
従って行われる構成となっている。The top 1 is moved forward and backward, left and right or up and down under the control of the top driving unit 5 with the subject M placed thereon. That is, the top plate 1 is moved to
Is set to the imaging position of the apparatus.
The X-ray tube 2 normally irradiates a pulsed X-ray to an imaging region of the subject M at an appropriate timing under the control of the irradiation control unit 6. The apparatus according to the embodiment is an X-ray fluoroscopic apparatus capable of selectively performing X-ray fluoroscopic imaging and X-ray photography (book photography). In the case of X-ray fluoroscopic imaging, X-rays are continuously emitted with a small eye dose. X-rays are emitted one after another, and in the case of X-ray photography, X-rays are emitted one by one with a large eye dose. The control of the top driving unit 5 and the control of the irradiation control unit 6 are performed in accordance with a command signal output from the imaging control unit 9 in a timely manner in accordance with an input operation from the keyboard 7 or the hand switch 8. Has become.
【0016】一方、信号収集部4から出力されたX線検
出データは、(後に詳述する)データ強度補償部10お
よび切替スイッチ11を経て、X線検出データをディジ
タル信号に変換するAD変換部12へ送り込まれる。A
D変換部12の後段には、ディジタル化されたX線検出
データを記憶する検出データメモリ13、検出データメ
モリ12に記憶されたX線検出データにエッジ強調やフ
ィルタリングなどの必要な画像処理を施すことによりX
線画像を仕上げるデータ処理部14、および、仕上げら
れたX線透視画像を記憶するX線画像メモリ15が、続
けて配設されている。On the other hand, the X-ray detection data output from the signal collecting unit 4 passes through a data intensity compensating unit 10 (to be described in detail later) and a changeover switch 11, and is converted into an AD conversion unit for converting the X-ray detection data into a digital signal. It is sent to 12. A
In the subsequent stage of the D conversion unit 12, a detection data memory 13 for storing digitized X-ray detection data, and necessary image processing such as edge enhancement and filtering is performed on the X-ray detection data stored in the detection data memory 12. By X
A data processing unit 14 for finishing a line image and an X-ray image memory 15 for storing a finished X-ray fluoroscopic image are continuously provided.
【0017】さらに、実施例装置には、X線画像メモリ
15に記憶された透過X線画像を表示する表示モニタ1
6や、透過X線画像をディジタル画像のままで記憶して
保存する画像保存メモリ18、あるいは、透過X線画像
をシートに焼き付けてX線写真として出力する焼き付け
器(レーザイメージャー)17が設置されている。普
通、X線透視撮影では、透過X線画像がDA変換部19
でアナログ信号に変換されて表示モニタ16の画面に連
続的に映し出される。また、X線写真撮影では、透過X
線画像が焼き付けられたシートが、焼き付け器18から
X線写真とし出力される。Further, a display monitor 1 for displaying a transmission X-ray image stored in the X-ray image memory 15 is provided in the embodiment apparatus.
6, an image storage memory 18 for storing and storing a transmission X-ray image as a digital image, or a printer (laser imager) 17 for printing a transmission X-ray image on a sheet and outputting it as an X-ray photograph. Have been. Normally, in X-ray fluoroscopy, a transmitted X-ray image is
Is converted into an analog signal and is continuously displayed on the screen of the display monitor 16. In radiography, transmission X
The sheet on which the line image is printed is output from the printer 18 as an X-ray photograph.
【0018】続いて、パネル型X線センサ3まわりの構
成を具体的に説明する。パネル型X線センサ3における
X線検出素子XDの配列としては、例えば横(x)方向
1024,縦(y)方向1024の正方形マトリックス
構成が挙げられる。X線検出素子XDの読み出しは、撮
影制御部9から送出されるx,y走査信号(スイープ信
号)に従って行われる。Next, the configuration around the panel type X-ray sensor 3 will be specifically described. The arrangement of the X-ray detection elements XD in the panel-type X-ray sensor 3 includes, for example, a square matrix configuration in a horizontal (x) direction 1024 and a vertical (y) direction 1024. The reading of the X-ray detection element XD is performed according to an x, y scanning signal (sweep signal) sent from the imaging control unit 9.
【0019】実施例装置のパネル型X線センサ3は、い
わゆる直接変換タイプのセンサであり、図4に示すよう
に、入射X線を電荷に変換するX線変換層20と、X線
変換層20で生じた電荷を検出する素子が縦横にマトリ
ックス状に配置形成されている検出アレイ層21との積
層構造となっている。直接変換タイプのセンサの場合、
X線変換層20が入射X線を直に電荷に変換するセレン
層やCdZnTe層などからなり、検出アレイ層21の
表面に電荷検出素子22として表面電極23に対向形成
された電荷収集電極でもって電荷の検出を行いコンデン
サC1に蓄電するとともに蓄積電荷がTFT(Thin Fil
m Transister:薄膜トランジスタ) 24を介して取り出
される構成となっており、1個の電荷検出素子22と、
その上のX線変換層20の一部分と、コンデンサC1お
よびTFT24とで1個のX線検出素子XDが形成され
ていることになる。また、表面電極23には印加電圧電
源部31から印加電圧が供給される。The panel type X-ray sensor 3 of the embodiment device is a so-called direct conversion type sensor, and as shown in FIG. 4, an X-ray conversion layer 20 for converting incident X-rays into electric charges, and an X-ray conversion layer. The device has a laminated structure with a detection array layer 21 in which elements for detecting charges generated in 20 are arranged vertically and horizontally in a matrix. For direct conversion type sensors,
The X-ray conversion layer 20 is made of a selenium layer or a CdZnTe layer that directly converts incident X-rays into charges, and has a charge collection electrode formed on the surface of the detection array layer 21 as a charge detection element 22 so as to face the surface electrode 23. The charge is detected and stored in the capacitor C1, and the stored charge is stored in the TFT (Thin Fil).
m Transister: a thin film transistor) 24, and one charge detection element 22;
One X-ray detection element XD is formed by a part of the X-ray conversion layer 20 thereon, the capacitor C1 and the TFT 24. Further, an applied voltage is supplied to the surface electrode 23 from an applied voltage power supply unit 31.
【0020】そして、パネル型X線センサ3では、図5
に示すように、各X線検出素子XD,…,XDがそれぞ
れTFT24を介して縦横に走る読出し配線25,26
に接続されている。読出し配線25は、それぞれ横
(x)読出し駆動部27に接続されているとともに、読
山し配線26はプリアンプ29群を介してマルチプレク
サ30に接続されている。横読出し駆動部27およびマ
ルチプレクサ30へ読出し用のx,y走査信号が送り込
まれることになる。パネル型X線センサ3の各X線検出
素子XDの特定は横方向・縦方向の配列に沿って各X線
検出素子XDへ順番に割り付けられている0〜1023
のアドレスに基づいて行われるので、読出し用の走査信
号は、それぞれ横(x)方向アドレスまたは縦(y)方
向アドレスを指定する信号となる。In the panel type X-ray sensor 3, FIG.
., XD are read wirings 25, 26 running vertically and horizontally through TFTs 24, respectively.
It is connected to the. The readout wirings 25 are connected to a horizontal (x) readout drive unit 27, respectively, and the readout wirings 26 are connected to a multiplexer 30 via a group of preamplifiers 29. The x and y scanning signals for reading are sent to the horizontal reading drive unit 27 and the multiplexer 30. The identification of each X-ray detection element XD of the panel type X-ray sensor 3 is sequentially assigned to each X-ray detection element XD along an array in the horizontal direction and the vertical direction.
, The scanning signal for reading out is a signal for designating a horizontal (x) direction address or a vertical (y) direction address, respectively.
【0021】横の走査信号に従って横読出し駆動部27
から読出し配線25に対して読出し用の電圧が印加され
るのに伴い、各検出素子XDが列単位に順に選択され
る。そして、縦の走査信号に従ってマルチプレクサ30
が切り換えられることにより、選択された列の各X線検
出素子XDのX線検出データが順に信号収集部4の各プ
リアンプ29およびマルチプレクサ30を経て収集され
出力される。パネル型X線センサ3からのX線検出デー
タの読出し方式は、概ね通常のTVカメラなどの映像検
出器に準ずる構成である。実施例のセンサ3の場合に
は、信号収集部4を構成する読出し駆動部27や、プリ
アンプ29およびマルチプレクサ30も、パネル型X線
センサ3の検出アレイ層21の表面周縁に設置されてい
て、一段と集積化が図られた構成となっている。また、
パネル型X線センサ3から得られたX線検出データを記
憶する検出データメモリ13やX線透視画像を記憶する
X線画像メモリ15は、パネル型X線センサ3でのX線
検出素子XDの縦横マトリック構成に対応したマトリッ
クス構成を持つフレームメモリ方式の記憶デバイスが使
われている。In accordance with a horizontal scanning signal, a horizontal read driving section 27
As a voltage for reading is applied to the read wiring 25 from, each detection element XD is sequentially selected in column units. The multiplexer 30 according to the vertical scanning signal
Is switched, the X-ray detection data of each X-ray detection element XD in the selected column is sequentially collected and output via each preamplifier 29 and multiplexer 30 of the signal collection unit 4. The method of reading out the X-ray detection data from the panel type X-ray sensor 3 is almost the same as that of a general video detector such as a TV camera. In the case of the sensor 3 of the embodiment, the read-out drive unit 27, the preamplifier 29, and the multiplexer 30, which constitute the signal collection unit 4, are also installed on the surface periphery of the detection array layer 21 of the panel type X-ray sensor 3, The structure is further integrated. Also,
The detection data memory 13 for storing X-ray detection data obtained from the panel X-ray sensor 3 and the X-ray image memory 15 for storing X-ray fluoroscopic images are provided by the X-ray detection elements XD of the panel X-ray sensor 3. A frame memory type storage device having a matrix configuration corresponding to the vertical and horizontal matrix configuration is used.
【0022】そして、実施例装置には、X線検出素子X
Dの検出感度を決める印加電圧をパネル型X線センサ3
の表面電極23へ付与する印加電圧電源部31を備える
とともに、この発明の特徴的な構成として、X線検出デ
ータの強度レベルに応じてパネル型X線センサ3のX線
検出素子XDに付与する印加電圧を変える印加電圧制御
部32と、印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度
レベルの変動を補償するデータ強度補償部10を備えて
いる。The apparatus of the embodiment includes an X-ray detecting element X.
The applied voltage which determines the detection sensitivity of D is applied to the panel type X-ray sensor 3.
Of the panel type X-ray sensor 3 according to the intensity level of the X-ray detection data as a characteristic configuration of the present invention. An applied voltage control unit 32 for changing the applied voltage and a data intensity compensating unit 10 for compensating for a change in the intensity level of the X-ray detection data due to a change in the applied voltage are provided.
【0023】これに加えて、実施例装置のパネル型X線
センサ3では、全X線検出素子XDが4つのグループG
a〜Gdに分けられていて、図6に示すように、表面電
極23が、4つのグループGa〜Gdのエリアと丁度対
応するようにして4つの分割電極23a〜23dに区分
けされた形態で形成されており、印加電圧制御部32に
よって、各分割電極23a〜23dの印加電圧が対応す
るグループGa〜GdのX線検出データに応じて変化さ
せられる構成となっている。続いて、この発明の特徴的
な構成を、より具体的に説明する。In addition, in the panel type X-ray sensor 3 of the apparatus of the embodiment, all the X-ray detecting elements XD have four groups G.
a to Gd, and as shown in FIG. 6, the surface electrode 23 is formed in a form divided into four divided electrodes 23a to 23d just corresponding to the areas of the four groups Ga to Gd. The voltage applied to the divided electrodes 23a to 23d is changed by the applied voltage controller 32 in accordance with the X-ray detection data of the corresponding groups Ga to Gd. Subsequently, a characteristic configuration of the present invention will be described more specifically.
【0024】印加電圧制御部32は、撮影制御部9から
受信するX線透視撮影・X線写真撮影のいずれかを指定
する術式信号と、照射制御部6から受信するX線照射を
教える照射信号とに応じて撮影モード制御部33から印
加電圧制御部32へ出される指令に従って制御を実行す
ることになる。印加電圧制御部32は、図2に示すよう
に、4個の電極別電圧制御部32a〜32dを有してい
て、電極別電圧制御部32aがグループGaのX線検出
素子XDの印加電圧制御を担当し、電極別電圧制御部3
2bがグループGbのX線検出素子XDの印加電圧制御
を担当し、電極別電圧制御部32cがグループGcのX
線検出素子XDの印加電圧制御を担当し、電極別電圧制
御部32dがグループGdのX線検出素子XDの印加電
圧制御を担当する構成になっている。一方、印加電圧電
源部31は4個の独立電源31a〜31dを有してお
り、独立電源31aが電極別電圧制御部32aの制御に
応じて印加電圧を分割電極23aに印加し、独立電源3
1bが電極別電圧制御部32bの制御に応じて印加電圧
を分割電極23bに印加し、独立電源31cが電極別電
圧制御部32cの制御に応じて印加電圧を分割電極23
cに印加し、独立電源31dが電極別電圧制御部32d
の制御に応じて印加電圧を分割電極23dに印加すると
いう構成になっている。The applied voltage control unit 32 receives an operation signal for designating any of X-ray fluoroscopy and X-ray photography received from the imaging control unit 9 and irradiation for instructing X-ray irradiation received from the irradiation control unit 6. The control is executed in accordance with a command issued from the imaging mode control unit 33 to the applied voltage control unit 32 in response to the signal. As shown in FIG. 2, the applied voltage control unit 32 has four electrode-based voltage control units 32a to 32d, and the electrode-based voltage control unit 32a controls the applied voltage of the X-ray detection element XD of the group Ga. And the voltage control unit 3 for each electrode
2b is in charge of controlling the applied voltage of the X-ray detection element XD of the group Gb, and the voltage control unit 32c for each electrode is
The configuration is in charge of controlling the applied voltage of the line detection element XD, and the voltage control unit 32d for each electrode is in charge of controlling the applied voltage of the X-ray detection element XD of the group Gd. On the other hand, the applied voltage power supply unit 31 has four independent power supplies 31a to 31d, and the independent power supply 31a applies an applied voltage to the divided electrodes 23a under the control of the electrode-specific voltage control unit 32a.
1b applies an applied voltage to the divided electrodes 23b according to the control of the electrode-specific voltage control unit 32b, and the independent power supply 31c applies the applied voltage to the divided electrodes 23 under the control of the electrode-specific voltage control unit 32c.
c, and the independent power supply 31 d
Is applied to the divided electrode 23d in accordance with the control of.
【0025】各グループGa〜GdのX線検出素子XD
の検出感度は、各分割電極23a〜23dに付与される
印加電圧の大きさに比例した感度となる。すなわち、高
い印加電圧の場合、図7(a)に示すように、X線検出
素子XDの検出感度(X線検出データの強度/入射X線
量)が高くて、ダイナミックレンジDaは狭くなり、低
い印加電圧の場合、図7(b)に示すように、X線検出
素子XDの検出感度(X線検出データの強度/入射X線
量)が低くて、ダイナミックレンジDbは広くなる。実
施例のX線透視撮影装置の場合、最初、独立電源31a
〜31dは検出感度が十分な感度となるよう高い印加電
圧を各分割電極23a〜23dへ付与する。X-ray detecting elements XD of each group Ga to Gd
Is a sensitivity proportional to the magnitude of the applied voltage applied to each of the divided electrodes 23a to 23d. That is, in the case of a high applied voltage, as shown in FIG. 7A, the detection sensitivity (intensity of X-ray detection data / incident X-ray dose) of the X-ray detection element XD is high, and the dynamic range Da is narrow and low. In the case of the applied voltage, as shown in FIG. 7B, the detection sensitivity (intensity of X-ray detection data / incident X-ray dose) of the X-ray detection element XD is low, and the dynamic range Db is wide. In the case of the X-ray fluoroscopic apparatus of the embodiment, first, the independent power supply 31a
To 31d apply a high applied voltage to each of the divided electrodes 23a to 23d so that the detection sensitivity is sufficient.
【0026】X線透視撮影の場合、グループGaのX線
検出信号XDから出力されるX線検出データが切替スイ
ッチ34の接点n1から接点a1を経由して順に電極別
電圧制御部32aへ送り込まれ、データ強度の平均値が
求出されるとともに、図8(a)に示すように、予め定
められた閾値Vmと比較されて、X線検出データ強度の
平均値が閾値Vmより低ければ、そのまま現在の印加電
圧VAを与え続ける。反対にX線検出データ強度の平均
値が閾値Vmより高ければ、検出感度が高すぎるので、
図8(b)に示すように、電極別電圧制御部32aは独
立電源31aによる現在の印加電圧VAを少し下げて印
加電圧VBとなるよう制御を変更する。また、図8
(b)に示すように、X線検出データの平均値が閾値V
mよりなお高ければ、X線透視撮影の場合、X線照射が
継続的に行われて繰り返しX線検出データが読み出され
て出力されるので、二つ先のデータ出力サイクルにおい
て、印加電圧VBをさらに少し下げて印加電圧VCにな
るよう再び印加電圧の引下げ制御が行われる。In the case of X-ray fluoroscopy, X-ray detection data output from the X-ray detection signal XD of the group Ga is sequentially sent from the contact n1 of the switch 34 to the voltage control unit 32a via the contact a1. 8A, the average value of the data intensity is calculated, and as shown in FIG. 8A, the average value of the X-ray detection data intensity is compared with a predetermined threshold value Vm. The application of the current applied voltage VA is continued. Conversely, if the average value of the X-ray detection data intensities is higher than the threshold value Vm, the detection sensitivity is too high.
As shown in FIG. 8B, the voltage control unit 32a changes the control so that the current applied voltage VA from the independent power supply 31a is slightly reduced to become the applied voltage VB. FIG.
As shown in (b), the average value of the X-ray detection data is
If it is still higher than m, in the case of X-ray fluoroscopy, X-ray irradiation is continuously performed and X-ray detection data is repeatedly read and output. Is further reduced a little, and the reduction control of the applied voltage is performed again so as to become the applied voltage VC.
【0027】つまり、X線透視撮影の場合、電極別電圧
制御部32aは、X線検出データ強度の平均値が閾値よ
り低いと、検出感度が適当な感度となるまで印加電圧を
低くする制御の変更が繰り返されるのである。他の3つ
の電極別電圧制御部32b〜32dによる印加電圧の制
御も、切替スイッチ34の接点a1が接点b1〜d1に
変わる程度の他は、電極別電圧制御部32aの場合と実
質的に同様であるので説明は省略する。なお、実施例装
置の場合、図8(b)に示すように、X線検出データが
2回読み出される間に1回の印加電圧制御動作が行われ
る。勿論、X線検出データが1回読み出される毎に1回
の印加電圧制御動作が行われてもよい。That is, in the case of X-ray fluoroscopy, if the average value of the X-ray detection data intensity is lower than the threshold value, the electrode-based voltage control unit 32a performs control for reducing the applied voltage until the detection sensitivity becomes appropriate. The changes are repeated. The control of the applied voltage by the other three electrode-specific voltage controllers 32b to 32d is substantially the same as that of the electrode-specific voltage controller 32a, except that the contact a1 of the changeover switch 34 is changed to the contacts b1 to d1. Therefore, the description is omitted. In the case of the embodiment device, as shown in FIG. 8B, one applied voltage control operation is performed while the X-ray detection data is read twice. Of course, each time the X-ray detection data is read once, the applied voltage control operation may be performed once.
【0028】X線写真撮影の場合、X線照射開始から予
め定められた時間が経過した時点Tdで、例えばグルー
プGaのX線検出データが切替スイッチ34の接点n1
から接点a1を経由して順に電極別電圧制御部32aへ
送り込まれ、データ強度の平均値が求出される。求めら
れた平均値が、図9(a)に示すように、予め定められ
た閾値Vnと比較されて、X線検出データ強度の平均値
Vnが閾値より低ければ、そのまま現在の印加電圧Va
を与え続ける。反対にX線検出データ強度の平均値が閾
値Vnより高ければ、検出感度が高すぎるので、図9
(b)に示すように、電極別電圧制御部32aは独立電
源31aによる現在の印加電圧Vaを下げてX線照射が
終了する時点TeにおいてX線検出データが飽和しない
と予測される印加電圧Vbとなるよう制御を変更する。
同様に他の電極別電圧制御部32b〜32dも印加電圧
の制御を行う。なお、切替スイッチ34の接点は、読み
出されたX線検出データのグループに対応するよう撮影
制御部9の指令信号によって切替えられる。In the case of X-ray photography, at a time Td when a predetermined time has elapsed from the start of X-ray irradiation, for example, the X-ray detection data of the group Ga is changed to the contact n1 of the changeover switch 34.
Are sequentially sent to the electrode-specific voltage control section 32a via the contact point a1, and the average value of the data intensity is calculated. The calculated average value is compared with a predetermined threshold value Vn as shown in FIG. 9A, and if the average value Vn of the X-ray detection data intensity is lower than the threshold value, the current applied voltage Va is directly used.
Keep giving. Conversely, if the average of the X-ray detection data intensities is higher than the threshold value Vn, the detection sensitivity is too high.
As shown in (b), the voltage control unit 32a for each electrode lowers the current applied voltage Va by the independent power supply 31a and applies the applied voltage Vb at which the X-ray detection data is predicted not to be saturated at the time Te when the X-ray irradiation ends. Change the control so that
Similarly, the other electrode-based voltage controllers 32b to 32d also control the applied voltage. The contact of the changeover switch 34 is switched by a command signal of the imaging control unit 9 so as to correspond to the group of the read X-ray detection data.
【0029】他方、データ強度補償部10は、利得可変
型増幅部10a〜10dを備えており、利得可変型増幅
部10aはグループGaのX線検出データに対する補償
処理を行い、利得可変型増幅部10bはグループGbの
X線検出データに対する補償処理を行い、利得可変型増
幅部10cはグループGcのX線検出データに対する補
償処理を行い、利得可変型増幅部10dはグループGd
のX線検出データに対する補償処理を行うよう構成され
ている。On the other hand, the data intensity compensating section 10 includes variable gain type amplifying sections 10a to 10d. The variable gain type amplifying section 10a performs a compensation process on the X-ray detection data of the group Ga, and 10b performs compensation processing on the X-ray detection data of the group Gb, the variable gain amplifier 10c performs compensation processing on the X-ray detection data of the group Gc, and the variable gain amplifier 10d performs the group Gd.
Is configured to perform compensation processing on the X-ray detection data.
【0030】X線透視撮影でも、X線写真撮影でも、利
得可変型増幅部10aは、電極別電圧制御部32aの制
御出力による利得制御で、印加電圧の変化によるX線検
出データの強度レベルの変動を補償する。すなわち、電
極別電圧制御部32aの制御出力が印加電圧を下げる指
令であったとすると、検出感度が下がりX線検出データ
の強度レベルも低下するから、利得可変型増幅部10a
は電極別電圧制御部32aの制御出力で利得を上げ、切
替スイッチ11の接点n1から接点a1を経由して順に
送り込むまれるX線検出データを十分に増幅して元の強
度レベルに戻す。元の強度レベルを維持したX線検出デ
ータは、切替スイッチ11の接点a2から接点n2を経
由してAD変換部12へ送り出される。In both X-ray fluoroscopy and X-ray photography, the gain-variable amplifying unit 10a controls the intensity of X-ray detection data by changing the applied voltage by controlling the gain of the control output of the voltage control unit 32a for each electrode. Compensate for fluctuations. That is, if the control output of the electrode-specific voltage control unit 32a is a command to lower the applied voltage, the detection sensitivity decreases and the intensity level of the X-ray detection data also decreases.
Increases the gain with the control output of the electrode-specific voltage control unit 32a, and sufficiently amplifies the X-ray detection data sequentially sent from the contact n1 of the changeover switch 11 via the contact a1 to the original intensity level. The X-ray detection data maintaining the original intensity level is sent from the contact a2 of the changeover switch 11 to the AD converter 12 via the contact n2.
【0031】したがって、利得可変型増幅部10aの利
得は印加電圧と逆比例するようにコントロールされるこ
とになる。他の3つの利得可変型増幅部10b〜10d
による利得制御も、切替スイッチ11の接点a2が接点
b2〜d2に変わる程度の他は、利得可変型増幅部10
aの場合と実質的に同様であるので説明は省略する。な
お、切替スイッチ11の接点は、撮影制御部9の指令信
号に従って増幅処理対象のX線検出データのグループに
合わせて切替えられる。上述したような強度レベルの変
動を補償することにより、表示モニタ16などに映し出
される出力画像は、印加電圧の変化の影響が現れていな
い滑らかな階調変化の画像になる。Therefore, the gain of the variable gain amplifier 10a is controlled so as to be inversely proportional to the applied voltage. Other three variable gain type amplifiers 10b to 10d
The gain control by the variable gain amplifier 10 except that the contact a2 of the changeover switch 11 is changed to the contacts b2 to d2.
The description is omitted because it is substantially the same as the case a. The contact of the changeover switch 11 is switched in accordance with a group of X-ray detection data to be amplified according to a command signal from the imaging control unit 9. By compensating for the variation in the intensity level as described above, the output image displayed on the display monitor 16 or the like becomes an image having a smooth gradation change in which the influence of the change in the applied voltage does not appear.
【0032】続いて、以上に説明した構成を有する実施
例装置により撮影が行われる際のX線検出素子XDの印
加電圧の制御動作を、図面を参照しながら説明する。先
にX線透視撮影の場合を説明する。図10は、実施例装
置によるX線透視撮影における印加電圧制御の進行状況
を示すフローチャートである。 〔ステップS1〕天板1の上に被検体Mを載せた後、天
板1を移動させて被検体Mの撮影部位を撮影位置ヘセッ
トしておいて、ハンドスイッチ8によりX線透視撮影を
指令する。Next, the operation of controlling the voltage applied to the X-ray detecting element XD when the image is taken by the embodiment apparatus having the above-described configuration will be described with reference to the drawings. First, the case of X-ray fluoroscopy will be described. FIG. 10 is a flowchart showing the progress of applied voltage control in X-ray fluoroscopy by the apparatus of the embodiment. [Step S1] After placing the subject M on the top 1, the top 1 is moved to set the imaging region of the subject M to the imaging position, and the hand switch 8 instructs X-ray fluoroscopy. I do.
【0033】〔ステップS2〕X線が継続的に被検体M
に照射されるのに伴ってX線検出素子XDからX線検出
データが順に読みだされて電極別電圧制御部32a〜3
2dへ送り込まれる。[Step S2] X-rays are continuously emitted from the subject M
The X-ray detection data is sequentially read out from the X-ray detection element XD as the light is irradiated to
It is sent to 2d.
【0034】〔ステップS3〕各電極別電圧制御部32
a〜32dによってX線検出データの平均値と閾値Vm
との比較が行われることにより各分割電極23a〜23
dの印加電圧の適否がチェックされる。チェックの結
果、印加電圧が適当であれば、ステップS5へ進む。印
加電圧が適当でなければ、次のステップS4へ進む。[Step S3] Each electrode voltage controller 32
a to 32d, the average value of the X-ray detection data and the threshold value Vm
Are compared with each other, so that the divided electrodes 23a to 23a
The appropriateness of the applied voltage d is checked. As a result of the check, if the applied voltage is appropriate, the process proceeds to step S5. If the applied voltage is not appropriate, the process proceeds to the next step S4.
【0035】〔ステップS4〕印加電圧が適当でないグ
ループに対応する独立電源31a〜31dの印加電圧お
よび利得可変型増幅部10a〜10dの利得が、電極別
電圧制御部の制御出力により適当な電圧および利得へ変
化させられる。[Step S4] The applied voltages of the independent power supplies 31a to 31d and the gains of the variable gain amplifiers 10a to 10d corresponding to the groups for which the applied voltages are not appropriate are adjusted to appropriate voltages by the control output of the electrode voltage control unit. Changed to gain.
【0036】〔ステップS5〕撮影が続行されるのであ
れば、ステップS2に戻り、以下のステップが繰り返し
行われる。撮影が済んだのであれば、印加電圧制御も終
了である。なお、印加電圧の制御と平行して、X線検出
データは強度レベルの変動を補償された後に透過X線画
像に仕上げられて表示モニタ16の画面に表示される。[Step S5] If photographing is to be continued, the process returns to step S2, and the following steps are repeated. If the photographing is completed, the applied voltage control is also completed. In parallel with the control of the applied voltage, the X-ray detection data is processed into a transmission X-ray image after the fluctuation of the intensity level is compensated, and is displayed on the screen of the display monitor 16.
【0037】次に、X線写真撮影の場合を説明する。図
11は、実施例装置によるX線写真撮影における印加電
圧制御の進行状況を示すフローチャートである。 〔ステップU1〕天板1の上に被検体Mを載せた後、天
板1を移動させて被検体Mの撮影部位を撮影位置ヘセッ
トしておいて、ハンドスイッチ8によりX線写真撮影を
指令する。Next, the case of X-ray photography will be described. FIG. 11 is a flowchart illustrating the progress of applied voltage control in X-ray photography by the apparatus of the embodiment. [Step U1] After placing the subject M on the top 1, the top 1 is moved to set the imaging region of the subject M at the imaging position, and the hand switch 8 is used to instruct X-ray photography. I do.
【0038】〔ステップU2〕X線が被検体Mに照射さ
れ始めてから一定時間が経過して時点Teに達すると、
各グループGa〜GdのX線検出素子XDのX線検出デ
ータの読み出しが行われて電極別電圧制御部32a〜3
2dへ送り込まれる。[Step U2] When a certain period of time has elapsed since the start of irradiation of the subject M with X-rays and the time point Te is reached,
The X-ray detection data of the X-ray detection elements XD of each of the groups Ga to Gd are read out, and the voltage control units for each electrode 32a to 32d are read out.
It is sent to 2d.
【0039】〔ステップU3〕各電極別電圧制御部32
a〜32dによって読み出されたX線検出データの平均
値と閾値Vnとの比較が行われることにより各分割電極
23a〜23dの印加電圧の適否がチェックされる。チ
ェックの結果、印加電圧が適当であれば、ステップU5
へ進む。印加電圧が適当でなければ、次のステップU4
へ進む。[Step U3] Each electrode voltage controller 32
By comparing the average value of the X-ray detection data read by a to 32d with the threshold value Vn, it is checked whether the applied voltages to the divided electrodes 23a to 23d are appropriate. As a result of the check, if the applied voltage is appropriate, step U5
Proceed to. If the applied voltage is not appropriate, the next step U4
Proceed to.
【0040】〔ステップU4〕印加電圧が適当でないグ
ループに対応する独立電源31a〜31dの印加電圧お
よび利得可変型増幅部10a〜10dの利得が、電極別
電圧制御部の制御出力により適当な電圧および利得へ変
化させられる。[Step U4] The applied voltages of the independent power supplies 31a to 31d and the gains of the variable gain amplifiers 10a to 10d corresponding to the groups for which the applied voltages are not appropriate are adjusted to appropriate voltages by the control output of the electrode voltage control unit. Changed to gain.
【0041】〔ステップU5〕撮影が済むまで適当な印
加電圧を維持する。撮影が済んだのであれば、印加電圧
制御も終了である。なお、印加電圧の制御と並行して、
X線検出データは透過X線画像に仕上げられて焼き付け
器17によってシートに焼き付けられた上でX線写真と
して出力される。[Step U5] An appropriate applied voltage is maintained until photographing is completed. If the photographing is completed, the applied voltage control is also completed. In parallel with the control of the applied voltage,
The X-ray detection data is formed into a transmission X-ray image, printed on a sheet by a printer 17 and output as an X-ray photograph.
【0042】以上に詳述したように、実施例のX線透視
撮影装置によれば、パネル型X線センサ3のX線検出素
子XDに付与する印加電圧が、X線管2のX線照射に伴
ってパネル型X線センサ3から実際に出力されるX線検
出データの強度レベルに応じて変化させられ、X線検出
素子XDの検出感度が自動的に適切な感度に変更される
ことから、ハレーションが画像に出るのを防止できると
ともに、X線検出データのS/N比が良くなって画質が
向上する。As described in detail above, according to the X-ray fluoroscopic apparatus of the embodiment, the applied voltage applied to the X-ray detecting element XD of the panel type X-ray sensor 3 is controlled by the X-ray irradiation of the X-ray tube 2. Is changed in accordance with the intensity level of the X-ray detection data actually output from the panel type X-ray sensor 3 and the detection sensitivity of the X-ray detection element XD is automatically changed to an appropriate sensitivity. In addition to preventing halation from appearing in the image, the S / N ratio of the X-ray detection data is improved and the image quality is improved.
【0043】また、実施例装置によれば、4つのグルー
プGa〜Gdに分けられているX線検出素子XDの各グ
ループGa〜GdのX線検出データに応じてX線検出素
子の印加電圧が与えられ、各グループGa〜Gdの検出
感度がそれぞれのグループの状況に見合ったより適切な
感度になることから、ハレーションをより確実に防止で
きるとともに、SN比が非常に良くなって画質がさらに
良くなる。Further, according to the apparatus of the embodiment, the applied voltage of the X-ray detection element is changed according to the X-ray detection data of each group Ga to Gd of the X-ray detection element XD divided into four groups Ga to Gd. Given, the detection sensitivity of each of the groups Ga to Gd becomes more appropriate in accordance with the situation of each group, so that halation can be more reliably prevented, and the SN ratio becomes very good, and the image quality further improves. .
【0044】加えて、実施例装置によれば、検出感度改
善のための印加電圧の変化に伴うX線検出データの強度
レベルの変動が補償されるので、印加電圧の変化にかか
わらず、X線検出データの強度レベルは透過X線の強度
に応じたものになる結果、高品質のX線画像を得ること
ができる。In addition, according to the apparatus of the embodiment, the fluctuation of the intensity level of the X-ray detection data accompanying the change of the applied voltage for improving the detection sensitivity is compensated. As a result, the intensity level of the detection data corresponds to the intensity of the transmitted X-ray, so that a high-quality X-ray image can be obtained.
【0045】この発明は、上記の実施例に限られるもの
ではなく、以下のように変形実施することも可能であ
る。 (1)実施例装置は、X線透視撮影またはX線写真撮影
の両方が行える構成であったが、この発明の装置は、X
線透視撮影とX線写真撮影のいずれか一方だけが行える
構成であってもよい。The present invention is not limited to the above embodiment, but may be modified as follows. (1) The apparatus of the embodiment has a configuration in which both X-ray fluoroscopy and X-ray photography can be performed.
A configuration in which only one of fluoroscopy and X-ray photography can be performed may be employed.
【0046】(2)実施例では、X線検出素子が4つの
グループに分けられて各グループごとに印加電圧が変化
させられる構成であったが、この発明の装置は、X線検
出素子のグループ分けが全く行われていなくて全X線検
出素子の印加電圧が一律に変化させられるような構成で
あってもよい。また、逆に、この発明の装置は、全X線
検出素子のそれぞれの印加電圧が各素子毎に制御される
ような構成であっても構わない。(2) In the embodiment, the X-ray detecting elements are divided into four groups, and the applied voltage is changed for each group. The configuration may be such that the division is not performed at all and the applied voltage to all the X-ray detection elements can be changed uniformly. Conversely, the apparatus of the present invention may have a configuration in which the applied voltage of all the X-ray detection elements is controlled for each element.
【0047】(3)実施例装置では、直接変換タイプの
X線面センサが用いられていたけれど、この発明の装置
に用いられるX線面センサは、印加電圧の変化に伴って
検出感度が変化するタイプのX線面センサでありさえす
れば事足りる。(3) The apparatus used in the embodiment employs a direct conversion type X-ray surface sensor. However, the X-ray surface sensor used in the apparatus of the present invention has a change in detection sensitivity with a change in applied voltage. Any type of X-ray surface sensor is sufficient.
【0048】[0048]
【発明の効果】以上に詳述したように、請求項1の発明
のX線診断装置によれば、X線撮影実行の際、X線面セ
ンサのX線検出素子に付与する印加電圧が、X線管によ
る被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器から出
力されるX線検出データの強度レベルに応じて変化させ
られ、X線検出素子の検出感度が自動的に適切な感度に
なる構成を備えていることから、透過X線画像にハレー
ションが出るのを防止することができると同時に、X線
検出データのS/N比が良くなって透過X線画像の画質
が向上する。As described above in detail, according to the X-ray diagnostic apparatus of the first aspect of the present invention, the voltage applied to the X-ray detecting element of the X-ray surface sensor during X-ray imaging is When the X-ray tube irradiates the subject with X-rays, it is changed according to the intensity level of the X-ray detection data output from the transmitted X-ray image detector, and the detection sensitivity of the X-ray detection element is automatically adjusted appropriately With this configuration, it is possible to prevent halation from appearing in the transmitted X-ray image, and at the same time, to improve the S / N ratio of the X-ray detection data and improve the image quality of the transmitted X-ray image. improves.
【0049】請求項2のX線診断装置では、少なくとも
2つのグループに分けられているX線検出素子の各グル
ープのX線検出データに応じてX線検出素子の印加電圧
が与えられ、各グループの検出感度がそれぞれのグルー
プの状況に合ったより適切な感度になるので、ハレーシ
ョンが出るのを確実に防止することができるとともに、
S/N比が非常に良くなって透過X線画像の画質がさら
に向上する。In the X-ray diagnostic apparatus according to the second aspect, the applied voltage of the X-ray detection element is given according to the X-ray detection data of each group of the X-ray detection elements divided into at least two groups. Detection sensitivity is more appropriate for the situation of each group, so it is possible to reliably prevent halation from occurring,
The S / N ratio is extremely improved, and the image quality of the transmitted X-ray image is further improved.
【0050】請求項3のX線診断装置では、印加電圧制
御手段による印加電圧の変化に伴うX線検出データの強
度レベルの変動が補償されるので、印加電圧の変化の影
響がX線画像に現れない。その結果、請求項3の発明に
よれば、さらに高品質のX線画像を得ることができる。In the X-ray diagnostic apparatus according to the third aspect, since the change in the intensity level of the X-ray detection data due to the change in the applied voltage by the applied voltage control means is compensated, the influence of the change in the applied voltage affects the X-ray image. It does not appear. As a result, according to the invention of claim 3, an X-ray image with higher quality can be obtained.
【図1】実施例のX線透視撮影装置の全体構成を示すブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of an X-ray fluoroscopic apparatus according to an embodiment.
【図2】実施例のパネル型X線センサの印加電圧制御系
の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of an applied voltage control system of the panel X-ray sensor according to the embodiment.
【図3】実施例のパネル型X線センサの基本構成を示す
平面図である。FIG. 3 is a plan view illustrating a basic configuration of a panel-type X-ray sensor according to an embodiment.
【図4】実施例のパネル型X線センサの内部構成を示す
部分断面図である。FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing the internal configuration of the panel X-ray sensor of the embodiment.
【図5】実施例のパネル型X線センサまわりの回路構成
を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram illustrating a circuit configuration around a panel-type X-ray sensor according to the embodiment.
【図6】実施例のパネル型X線センサの表面電極形成面
を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a surface electrode forming surface of the panel X-ray sensor of the embodiment.
【図7】実施例のパネル型X線センサにおける入射X線
量とX線検出データの強度の関係を示すグラフである。FIG. 7 is a graph showing the relationship between the incident X-ray dose and the intensity of X-ray detection data in the panel X-ray sensor of the example.
【図8】X線透視撮影時のパネル型X線センサのX線検
出データの強度、および、印加電圧の経時変化を示すグ
ラフである。FIG. 8 is a graph showing the intensity of X-ray detection data of a panel-type X-ray sensor at the time of X-ray fluoroscopy, and a change with time of an applied voltage.
【図9】X線写真撮影時のパネル型X線センサのX線検
出データの強度、および、印加電圧の経時変化を示すグ
ラフである。FIG. 9 is a graph showing the intensity of X-ray detection data of a panel-type X-ray sensor at the time of X-ray photography, and the change over time in applied voltage.
【図10】X線透視撮影時の印加電圧制御の進行状況を
示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing the progress of applied voltage control during X-ray fluoroscopy.
【図11】X線写真撮影時の印加電圧制御の進行状況を
示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart illustrating the progress of applied voltage control during X-ray photography.
【図12】従来のX線透視撮影装置の要部構成を示す模
式図である。FIG. 12 is a schematic diagram showing a main part configuration of a conventional X-ray fluoroscopic apparatus.
【図13】従来の他のX線透視撮影装置の要部構成を示
す模式図である。FIG. 13 is a schematic diagram showing a main part configuration of another conventional X-ray fluoroscopic apparatus.
【図14】従来の他のX線透視撮影装置のパネル型X線
センサの入射X線量とX線検出データの強度の関係を示
すグラフである。FIG. 14 is a graph showing the relationship between the incident X-ray dose of a panel X-ray sensor of another conventional X-ray fluoroscopic apparatus and the intensity of X-ray detection data.
1 …天板 2 …X線管 3 …フラットパネル型X線センサ 4 …信号収集部 6 …照射制御部 9 …撮影制御部 10 …データ強度補償部 23a〜23d…分割電極 31 …印加電圧電源部 32 …印加電圧制御部 Ga〜Gd …グループ M …被検体 XD …X線検出素子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Top plate 2 ... X-ray tube 3 ... Flat panel type X-ray sensor 4 ... Signal collecting unit 6 ... Irradiation control unit 9 ... Imaging control unit 10 ... Data intensity compensating units 23a to 23d ... Divided electrodes 31 ... Applied voltage power supply unit 32: applied voltage control unit Ga to Gd: group M: subject XD: X-ray detection element
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G088 EE01 FF02 GG21 JJ05 KK32 KK40 LL15 4C093 AA05 CA06 CA35 EB13 EB17 EB18 EB30 FA32 FA45 FA59 FC17 FC18 4M118 AA10 AB01 BA05 CA14 CA22 CB05 FB09 FB13 FB16 GA10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G088 EE01 FF02 GG21 JJ05 KK32 KK40 LL15 4C093 AA05 CA06 CA35 EB13 EB17 EB18 EB30 FA32 FA45 FA59 FC17 FC18 4M118 AA10 AB01 BA05 CA14 CA22 CB05 FB10 FB10
Claims (3)
が対向配置となるように配設されているとともに、X線
管による被検体へのX線照射に伴って透過X線像検出器
から出力されるX線検出データに基づき透過X線画像が
得られるよう構成されたX線診断装置において、透過X
線像検出器として、多数個のX線検出素子が縦横に配列
されているX線面センサを備えているとともに、X線検
出データの強度レベルに応じてX線面センサのX線検出
素子に付与する印加電圧を変えて検出感度を調節する印
加電圧制御手段を備えていることを特徴とするX線診断
装置。An X-ray tube and a transmission X-ray image detector are disposed so as to face each other with a subject interposed therebetween, and the X-ray tube is transmitted along with X-ray irradiation of the subject by the X-ray tube. An X-ray diagnostic apparatus configured to obtain a transmission X-ray image based on X-ray detection data output from a line image detector,
An X-ray surface sensor in which a large number of X-ray detection elements are arranged vertically and horizontally as a line image detector, and the X-ray detection element of the X-ray surface sensor is used in accordance with the intensity level of the X-ray detection data. An X-ray diagnostic apparatus comprising: an applied voltage control unit that adjusts detection sensitivity by changing an applied voltage to be applied.
X線面センサは全X線検出素子が少なくとも2つのグル
ープに分けられて各グループ毎に独立して印加電圧が付
与される構成となっているとともに、印加電圧制御手段
は各グループ毎に印加電圧を変化させられる構成となっ
ているX線診断装置。2. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, wherein
The X-ray surface sensor has a configuration in which all the X-ray detecting elements are divided into at least two groups, and an applied voltage is independently applied to each group. X-ray diagnostic apparatus having a configuration that can be changed.
おいて、印加電圧制御手段による印加電圧の変化に伴う
X線検出データの強度レベルの変動を補償するデータ強
度補償手段を備えているX線診断装置。3. The X-ray diagnostic apparatus according to claim 1, further comprising a data intensity compensating means for compensating a change in the intensity level of the X-ray detection data accompanying a change in the applied voltage by the applied voltage control means. X-ray diagnostic equipment.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10273069A JP2000102527A (en) | 1998-09-28 | 1998-09-28 | X-ray diagnostic instrument |
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JP (1) | JP2000102527A (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1998
- 1998-09-28 JP JP10273069A patent/JP2000102527A/en active Pending
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