JP2000090251A - Imaging device - Google Patents

Imaging device

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JP2000090251A
JP2000090251A JP10272492A JP27249298A JP2000090251A JP 2000090251 A JP2000090251 A JP 2000090251A JP 10272492 A JP10272492 A JP 10272492A JP 27249298 A JP27249298 A JP 27249298A JP 2000090251 A JP2000090251 A JP 2000090251A
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layer
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裕康 山田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an imaging device capable of being made thin in thickness and to reduce its producing cost. SOLUTION: Address light guide paths 2 are formed in practically parallel at a prescribed interval and guide incident light. An organic EL layer 12 is formed at one part of plural address light guide paths 2, is emitted corresponding to an impressed voltage and guides light to the address light guide paths 2. Data electrode 21 are successively formed at positions, where address sequential EL light emitting parts 10 are not formed, vertically to the address light guide paths 2 at a prescribed interval while storing prescribed charges. An optically conductive layer 23 is formed over plural address light guide paths 2 and plural data electrodes 21 and the resistance value of a part, to which light is made incident, is lowered. An insulated lightproof layer 22 shields light so as not to make light emitted from the address light guide path 2 directly incident to the optically conductive layer 23 on the data electrode 21. A transparent electrode 24 is grounded, laminated and formed on the optically conductive layer 23.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、物体の像を読み取
る撮像素子に関し、特に、光を使用して物体の像を読み
とる撮像素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image sensor for reading an image of an object, and more particularly to an image sensor for reading an image of an object using light.

【0002】[0002]

【従来の技術】光を用いて物体の像を読み取る撮像装置
として、指紋センサが知られている。
2. Description of the Related Art A fingerprint sensor is known as an imaging device for reading an image of an object using light.

【0003】指紋は、各個人で特有の形状を有するもの
であり、パターンマッチングによる照合も行いやすいこ
とから、指紋センサは特定の個人を識別するために広く
用いられている。
[0003] Fingerprints have a unique shape for each individual, and are easy to perform matching by pattern matching. Therefore, fingerprint sensors are widely used to identify specific individuals.

【0004】物体の像を読み取る部分である撮像素子に
CCD(Charge Coupled Device )を使用した指紋セン
サには、例えば、図8に示すようなものがある。
FIG. 8 shows an example of a fingerprint sensor using a CCD (Charge Coupled Device) as an image sensor which reads an image of an object.

【0005】図8に示す指紋センサは、全反射フィルム
60aを貼付した直角プリズム60と、光源61と、レ
ンズ62と、CCD63と、から構成されている。この
指紋センサで指紋のパターンを読み取る場合、読み取る
対象となる指紋の面を全反射フィルム60aに接触させ
るように、指FGを直角プリズム60上に載置する。
[0005] The fingerprint sensor shown in FIG. 8 includes a right-angle prism 60 to which a total reflection film 60 a is attached, a light source 61, a lens 62, and a CCD 63. When a fingerprint pattern is read by this fingerprint sensor, the finger FG is placed on the right-angle prism 60 so that the surface of the fingerprint to be read comes into contact with the total reflection film 60a.

【0006】この状態で、光源61から直角プリズム6
0に入射された光は、全反射フィルム60aの指紋の凸
部(実際には、この部分のみが全反射フィルム60aと
接触する)で光が吸収され、また、指紋の凹部でほぼ反
射され、レンズ62によってCCD63に結像される。
そして、CCD63が結像された光を検知することで、
指紋のパターンを読み取る。
In this state, the right-angle prism 6 is
The light incident on 0 is absorbed by the convex portion of the fingerprint of the total reflection film 60a (actually, only this portion comes into contact with the total reflection film 60a), and is substantially reflected by the concave portion of the fingerprint, An image is formed on the CCD 63 by the lens 62.
Then, the CCD 63 detects the formed light,
Read the fingerprint pattern.

【0007】また、上記以外の撮像装置としては、撮像
素子としてCCDの代わりにダブルゲート構造のTFT
(Thin-Film Transistor;薄膜トランジスタ)を使用し
たものもある。
As an image pickup device other than the above, a double-gate TFT is used instead of a CCD as an image pickup device.
(Thin-Film Transistor).

【0008】このようなTFTを使用した2次元撮像装
置では、このTFTをXYマトリックスアレイに組ん
で、そのデータ線から画素毎の画像情報を読み出してい
る。
In a two-dimensional image pickup apparatus using such a TFT, the TFTs are arranged in an XY matrix array, and image information for each pixel is read from the data line.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た指紋センサでは、直角プリズム60によって光源61
からの光の角度を変える必要があり、さらにレンズ62
によってCCD63に結像させなければならない。この
ため、装置全体を薄型に構成することは困難である等の
問題がある。
However, in the fingerprint sensor described above, the light source 61 is formed by the right-angle prism 60.
It is necessary to change the angle of the light from
Therefore, an image must be formed on the CCD 63. For this reason, there is a problem that it is difficult to make the entire apparatus thin.

【0010】一方、ダブルゲート構造のTFTを用いた
撮像装置では、基板に高融点ガラスを使用し、素子形成
にCVD(Chemical Vapor Deposition;化学気相堆
積)等を行うので、生産コストが高いという問題があ
る。
On the other hand, an imaging device using a TFT having a double gate structure uses a high melting point glass for a substrate and performs CVD (Chemical Vapor Deposition) or the like for element formation, so that the production cost is high. There's a problem.

【0011】従って、本発明は、装置全体を薄型に構成
することが可能な撮像素子を提供することを目的とす
る。
Accordingly, it is an object of the present invention to provide an image pickup device capable of making the entire apparatus thin.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明の第1の観点にかかる撮像素子は、互いに
離間されて実質的に平行に形成され、入射された光を導
く複数の導光路と、前記複数の導光路のそれぞれの一部
に対応して形成され、印加された電圧に応じて発光し、
前記複数の導光路のそれぞれに光を導く複数の発光素子
と、互いに離間されて実質的に平行に、かつ前記複数の
導光路と所定の角度をなし、前記複数の発光素子が形成
されていない位置に形成されている複数の第1の電極
と、少なくとも前記複数の導光路と前記複数の第1の電
極との交点の位置に前記第1の電極と積層して形成さ
れ、所定の波長域の光が入射されると抵抗値が変化する
光導電層と、前記光導電層に、前記導光路から出射され
た光が直接入射しないように、光を遮る光遮断手段と、
前記光導電層が形成されている位置に対応して前記複数
の第1の電極と対向して前記光導電層に積層して形成さ
れた第2の電極と、を備えることを特徴とする。
In order to achieve the above object, an image pickup device according to a first aspect of the present invention is formed so as to be spaced apart from each other and to be formed substantially in parallel to guide incident light. A light guide path, and formed corresponding to a part of each of the plurality of light guide paths, emits light according to the applied voltage,
A plurality of light emitting elements that guide light to each of the plurality of light guide paths, and are separated from each other and substantially parallel to each other, and form a predetermined angle with the plurality of light guide paths, and the plurality of light emitting elements are not formed. A plurality of first electrodes formed at positions, and a plurality of first electrodes laminated at least at positions of intersections of the plurality of light guide paths and the plurality of first electrodes, and a predetermined wavelength range A photoconductive layer whose resistance changes when light is incident thereon, and a light blocking unit that blocks light so that light emitted from the light guide path does not directly enter the photoconductive layer.
A second electrode formed on the photoconductive layer so as to face the plurality of first electrodes corresponding to a position where the photoconductive layer is formed.

【0013】本発明によれば、撮像対象物に光を照射す
ることができ、撮像対象物に応じて反射された光による
光導電層の抵抗値の変化で、撮像対象物の形状や濃淡を
検出することができる。また、撮像対象物に照射する光
は、複数の導光路を介してそれぞれ対応する発光素子か
ら導けばよい。従って、この撮像素子を適用した撮像装
置では、直角プリズム等を使用する必要がなく、撮像装
置全体を薄型に構成することができる。
According to the present invention, it is possible to irradiate an object to be imaged with light, and to change the shape and shading of the object to be imaged by changing the resistance value of the photoconductive layer due to light reflected according to the object. Can be detected. Further, the light to be applied to the object to be imaged may be guided from the corresponding light emitting elements via a plurality of light guide paths. Therefore, in an imaging device to which this imaging device is applied, it is not necessary to use a right-angle prism or the like, and the entire imaging device can be configured to be thin.

【0014】また、導光路や、第1又は第2の電極を微
細に構成しておけば、光導電層をフォトリソグラフィー
やエッチングといった処理を施して複雑にパターニング
する必要がなくなる。従って、撮像装置の生産コストを
低減することができる。
Further, if the light guide path and the first or second electrode are finely structured, it is not necessary to perform complicated patterning of the photoconductive layer by performing a process such as photolithography or etching. Therefore, the production cost of the imaging device can be reduced.

【0015】前記発光素子と前記光導電層は、その層厚
方向で互いに重なり合うことがないように隔てられて配
置されてもよい。
[0015] The light emitting element and the photoconductive layer may be arranged so as to be separated from each other in the layer thickness direction so as not to overlap with each other.

【0016】前記複数の第1の電極は、光に対して非透
過性を有する材料で構成され、かつ前記光導電層と前記
複数の導光路との間に形成され、前記光遮断手段を兼ね
てもよい。
The plurality of first electrodes are made of a material having light non-transmissivity, and are formed between the photoconductive layer and the plurality of light guide paths, and also serve as the light blocking means. You may.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の第1の実施の形態
にかかるフォトセンサについて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a photo sensor according to a first embodiment of the present invention will be described.

【0018】図1は、フォトセンサを構成する撮像部2
0とアドレス順次EL発光部10の構成を示す図であ
る。図1(a)は、撮像部20とアドレス順次EL発光
部10を上から見たときの構成を示す平面図である。図
1(b)は、図1(a)のA−Aに沿って切断したとき
の断面の構成を示している。
FIG. 1 shows an image pickup section 2 constituting a photo sensor.
FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of an EL light emitting unit 10 in the order of 0 and address. FIG. 1A is a plan view illustrating a configuration when the imaging unit 20 and the address sequential EL light emitting unit 10 are viewed from above. FIG. 1B shows a cross-sectional configuration when cut along AA in FIG. 1A.

【0019】図1(a)、(b)に示すように、ガラス
等で構成される基板1上には、撮像部20とアドレス順
次EL発光部10との間に伸延して複数のアドレス導光
路2が互いに実質的に平行に形成されている。アドレス
導光路2は、アドレス順次EL発光部10で発せられた
光を導き、光導電層23中に放射して撮像対象物に照射
させる。
As shown in FIGS. 1A and 1B, a plurality of address guides extend between an image pickup section 20 and an address sequential EL light emitting section 10 on a substrate 1 made of glass or the like. The light paths 2 are formed substantially parallel to each other. The address light guide path 2 guides the light emitted from the EL light emitting unit 10 in the address order, radiates the light into the photoconductive layer 23, and irradiates the object to be imaged.

【0020】アドレス順次EL発光部10は、アノード
電極11と、有機EL(エレクトロルミネッセンス)層
12と、カソード電極13と、封止膜14と、から構成
される。
The address-sequential EL light-emitting section 10 includes an anode electrode 11, an organic EL (electroluminescence) layer 12, a cathode electrode 13, and a sealing film 14.

【0021】アノード電極11は、ITO(Indium Tin
Oxide)等で構成される透明電極である。そして、アノ
ード電極11は、図1(a)に示すように、アドレス導
光路2と同一本数形成され、図1(b)に示すように、
アドレス導光路2の一端部上に形成される。
The anode electrode 11 is made of ITO (Indium Tin).
Oxide). As shown in FIG. 1A, the same number of the anode electrodes 11 as the number of the address light guide paths 2 are formed, and as shown in FIG.
It is formed on one end of the address light guide path 2.

【0022】有機EL層12は、アノード電極11の一
部を覆うようにアドレス順次EL発光部10の全面に形
成され、例えば、アノード電極11側に形成された正孔
輸送層(図示せず)とカソード電極13側に形成された
電子輸送性発光層(図示せず)とから構成される。正孔
輸送層は、化学式1に示すα−NPDで形成される。
The organic EL layer 12 is formed on the entire surface of the EL light emitting section 10 in order of address so as to cover a part of the anode electrode 11. For example, a hole transport layer (not shown) formed on the anode electrode 11 side And an electron transporting light emitting layer (not shown) formed on the cathode electrode 13 side. The hole transport layer is formed of α-NPD represented by Chemical Formula 1.

【0023】[0023]

【化1】 Embedded image

【0024】電子輸送性発光層は、化学式2に示すBe
bq2で形成される。
The electron transporting light emitting layer is composed of Be
bq2.

【0025】[0025]

【化2】 Embedded image

【0026】有機EL層12は、所定の電圧を印加され
ると所定の波長域の光を発光する。この場合、有機EL
層12は緑色の波長域の光を発し、この波長域は、後述
する撮像部20の光導電層23が有する分光感度特性に
含まれるものとなる。この有機EL層12で発せられた
光は、アドレス導光路2に入射され、アドレス導光路2
中を伝わって、撮像部20中に放射される。
The organic EL layer 12 emits light in a predetermined wavelength range when a predetermined voltage is applied. In this case, the organic EL
The layer 12 emits light in a green wavelength range, and this wavelength range is included in a spectral sensitivity characteristic of a photoconductive layer 23 of the imaging unit 20 described later. The light emitted from the organic EL layer 12 enters the address light guide path 2 and is
The light travels through the inside and is emitted into the imaging unit 20.

【0027】カソード電極13は、MgAg、MgI
n、AlLi等で形成された電極であり、有機EL層1
2上の全面に形成される。また、カソード電極13の電
位は、ゼロとなるように接地されている。
The cathode electrode 13 is made of MgAg, MgI
n, an electrode formed of AlLi or the like, and an organic EL layer 1
2 on the entire surface. Further, the potential of the cathode electrode 13 is grounded so as to be zero.

【0028】封止膜14は、有機EL層12、カソード
電極13等への酸素又は水の浸入を防止するために、図
1(b)に示すように、カソード電極13上に形成され
る。なお、封止膜14は、無機又は有機樹脂等を積層し
たものでもよい。
The sealing film 14 is formed on the cathode electrode 13 as shown in FIG. 1 (b) in order to prevent oxygen or water from entering the organic EL layer 12, the cathode electrode 13 and the like. Note that the sealing film 14 may be formed by laminating an inorganic or organic resin or the like.

【0029】撮像部20は、データ電極21と、遮光層
22と、光導電層23と、透明電極24と、保護フィル
ム25と、から構成されている。
The imaging section 20 includes a data electrode 21, a light-shielding layer 22, a photoconductive layer 23, a transparent electrode 24, and a protective film 25.

【0030】遮光層22は、アドレス導光路2から伝搬
される光を遮光する材料からなり、図1(a)に示すよ
うに、アドレス導光路2に対して実質的に垂直になるよ
うに、ある所定間隔で互いに実質的に平行に複数のアド
レス導光路2にまたがって形成される。
The light-shielding layer 22 is made of a material that shields light propagating from the address light guide 2, and is substantially perpendicular to the address light guide 2 as shown in FIG. The plurality of address light guide paths 2 are formed substantially parallel to each other at a predetermined interval.

【0031】データ電極21は、図1(a)及び(b)
に示すように、遮光層22上に形成される。ただし、ア
ドレス導光路2から放射された光が、データ電極21の
上部に直接入射しないようにするため、データ電極21
は、図に示すように、遮光層22の幅よりも狭く形成さ
れる。また、データ電極21は、MgAg、MgIn、
AlLi等で形成される。
The data electrodes 21 are shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b).
As shown in FIG. However, in order to prevent light emitted from the address light guide path 2 from directly entering the upper part of the data electrode 21, the data electrode 21
Is formed narrower than the width of the light shielding layer 22, as shown in the figure. Further, the data electrode 21 is made of MgAg, MgIn,
It is formed of AlLi or the like.

【0032】光導電層23は、図1(b)に示すよう
に、アドレス導光路2、遮光層22、及び、データ電極
21上に形成される。この光導電層23は、CdS(硫
化カドミウム)や、化学式3に示すエオシン(eosine)
を含むZnO(酸化亜鉛)等の、可視光線(波長:約4
00nm〜800nm)に分光感度特性を有する光導電
物質である。
The photoconductive layer 23 is formed on the address light guide 2, the light shielding layer 22, and the data electrode 21, as shown in FIG. The photoconductive layer 23 is made of CdS (cadmium sulfide) or eosine shown in Chemical Formula 3.
Visible light (wavelength: about 4) such as ZnO (zinc oxide) containing
(00 nm to 800 nm).

【0033】[0033]

【化3】 Embedded image

【0034】光導電層23では、可視光線(以下、単に
「光」という)を吸収すると、光が吸収された箇所の内
部にキャリア、即ち正孔と電子が生成される。従って、
光が照射された箇所では、抵抗が小さくなる。一方、光
導電層23の光が入射されない箇所は、抵抗値が高く、
絶縁状態になっている。図1(b)からわかるように、
アドレス導光路2から光が放射されたとき、その光は遮
光層22によって妨げられるため、データ電極21の上
部の光導電層23はアドレス導光路2からの光により直
接導電性を示すことはない。
When the photoconductive layer 23 absorbs visible light (hereinafter, simply referred to as "light"), carriers, that is, holes and electrons are generated inside the portion where the light is absorbed. Therefore,
The resistance is reduced at the location where the light is applied. On the other hand, the portion of the photoconductive layer 23 where light is not incident has a high resistance value,
It is insulated. As can be seen from FIG.
When light is emitted from the address light guide path 2, the light is blocked by the light blocking layer 22, so that the photoconductive layer 23 above the data electrode 21 does not directly show conductivity due to the light from the address light guide path 2. .

【0035】透明電極24は、ITO等で形成された可
視光を透過する電極であり、図1(b)に示すように、
光導電層23上の全面に形成され接地されている。
The transparent electrode 24 is an electrode formed of ITO or the like and transmitting visible light. As shown in FIG.
It is formed on the entire surface of the photoconductive layer 23 and is grounded.

【0036】保護フィルム25は、透明のガラス、プラ
スチック等であり、透明電極24上に形成され、撮像部
20を外部環境(ほこり等)から保護する。物体の像
は、保護フィルム25を通して得られるので、200D
PI以上の解像度を得る場合は、保護フィルム25の厚
さは60μm以下であることが望ましい。
The protective film 25 is made of transparent glass, plastic, or the like, is formed on the transparent electrode 24, and protects the imaging unit 20 from an external environment (such as dust). Since the image of the object is obtained through the protective film 25, 200D
When obtaining a resolution higher than PI, the thickness of the protective film 25 is desirably 60 μm or less.

【0037】以上に示したアドレス順次EL発光部10
と撮像部20は、図1(b)に示すように、同一基板1
上に形成され、アドレス導光路2でつながっているが、
互いに離間した位置に形成されている。従って、高温等
に弱い有機分子を用いた有機EL層12を、撮像部20
を形成した後に形成する方が望ましい。
The address sequential EL light emitting section 10 described above
And the imaging unit 20, as shown in FIG.
It is formed on the top and is connected by the address light guide path 2,
They are formed at positions separated from each other. Therefore, the organic EL layer 12 using organic molecules that are vulnerable to high temperatures,
It is more desirable to form after forming.

【0038】なお、アドレス導光路2は、上記したよう
に、アドレス順次EL発光部10で発せられた光を、撮
像部20中に放射できるような屈折率を有する。すなわ
ち、基板1の屈折率がアドレス導光路2の屈折率より小
さく設定されているため、アドレス順次EL発光部10
で発せられた光は、アドレス導光路2を透過し、アドレ
ス導光路2中をほぼ反射しながら損失が少なく伝わり、
撮像部20中では、アドレス導光路2の屈折率が光導電
層23の屈折率と等しいか小さく設定されているため、
アドレス導光路2と光導電層23との界面から光導電層
23中に放射される。
As described above, the address light guide path 2 has a refractive index such that the light emitted from the address-sequential EL light emitting section 10 can be radiated into the image pickup section 20. That is, since the refractive index of the substrate 1 is set to be smaller than the refractive index of the address light guide path 2, the address-sequential EL light emitting section 10
Is transmitted through the address light guide path 2 and transmitted through the address light guide path 2 with little loss while being substantially reflected in the address light guide path 2.
In the imaging unit 20, the refractive index of the address light guide path 2 is set equal to or smaller than the refractive index of the photoconductive layer 23.
The light is emitted into the photoconductive layer 23 from the interface between the address light guide path 2 and the photoconductive layer 23.

【0039】次に、上記の撮像部20とアドレス順次E
L発光部10の駆動システムについて説明する。
Next, the image pickup section 20 and the address sequential E
A drive system of the L light emitting unit 10 will be described.

【0040】図2は、この駆動システムの構成を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of this drive system.

【0041】アドレス順次EL発光部10と撮像部20
の駆動システムは、図2に示すアドレスドライバ回路3
0と、データライン信号読み出し回路40と、コントロ
ール部50と、から構成される。
The address sequential EL light emitting section 10 and the image pickup section 20
The driving system of FIG.
0, a data line signal readout circuit 40, and a control unit 50.

【0042】撮像部20の部分は、等価回路を示してい
る。図中の破線は、アドレス導光路2を示しており、可
変抵抗は、アドレス導光路2とデータ電極21とが交差
する位置付近のデータ電極21上の光導電層23を示し
ている。上記したように、光導電層23は、光が入射し
ていない状態では絶縁状態になっているので、この可変
抵抗の抵抗値は最大になっている。
The portion of the image pickup section 20 shows an equivalent circuit. The broken line in the drawing indicates the address light guide path 2, and the variable resistor indicates the photoconductive layer 23 on the data electrode 21 near the position where the address light guide path 2 and the data electrode 21 intersect. As described above, since the photoconductive layer 23 is in an insulated state when no light is incident thereon, the resistance value of the variable resistor is maximized.

【0043】アドレスドライバ回路30は、複数のアノ
ード電極11に接続され、コントロール部50からの制
御信号に従って、アノード電極11に順次電圧を印加
し、アドレス導光路2に選択的に光を入射させる。従っ
て、アドレス導光路2は、一本ずつ選択されて、光を撮
像部20中に放射する。
The address driver circuit 30 is connected to the plurality of anode electrodes 11, sequentially applies a voltage to the anode electrodes 11 according to a control signal from the control unit 50, and selectively emits light to the address light guide path 2. Therefore, the address light guide paths 2 are selected one by one and emit light into the imaging unit 20.

【0044】データライン信号読み出し回路40は、複
数のデータ電極21に接続され、コントロール部50か
らの制御信号に応答して、データ電極21をある一定の
電位にする。上記したように、アドレス導光路2から選
択されて放射された光は遮光層22によって遮られてい
るので、この状態からは光導電層23の抵抗値は変化し
ない。しかし、撮像部20上に物体があり、この物体の
光反射率が高いと、アドレス導光路2から放射された光
は反射され、光導電層23に再入射する。この反射光
は、いくらか角度を持って反射されているので、物体が
存在する付近にある光導電層23(特にアドレス導光路
2とデータ電極21とが交差する位置(この位置には、
アドレス導光路2から直接光が放射されない))の抵抗
値が局所的に低下する。
The data line signal reading circuit 40 is connected to the plurality of data electrodes 21 and makes the data electrodes 21 have a certain potential in response to a control signal from the control unit 50. As described above, since the light selected and emitted from the address light guide path 2 is blocked by the light shielding layer 22, the resistance value of the photoconductive layer 23 does not change from this state. However, if an object is present on the imaging unit 20 and the light reflectance of the object is high, the light emitted from the address light guide 2 is reflected and reenters the photoconductive layer 23. Since the reflected light is reflected at some angle, the photoconductive layer 23 (especially the position where the address light guide path 2 and the data electrode 21 intersect each other in the vicinity where the object exists (the position
The light is not directly emitted from the address light guide path 2).

【0045】例えば、可変抵抗Rの上部に光反射性の高
い物体が存在すると、再入射した反射光によって抵抗R
の抵抗値が低下する。そして、この抵抗Rにつながって
いるデータ電極21では、蓄えられていた電荷が抵抗R
を通って透明電極24へ逃げて、その電位が変化する。
データライン信号読み出し回路40は、このデータ電極
21の電位変化も検出し、その検出結果を検出信号とし
てコントロール部50に出力する。
For example, if an object having high light reflectivity exists above the variable resistor R, the reflected light re-enters the resistor R.
Decrease in resistance value. Then, in the data electrode 21 connected to the resistor R, the stored electric charge is transferred to the resistor R.
And escapes to the transparent electrode 24 to change its potential.
The data line signal read circuit 40 also detects the potential change of the data electrode 21 and outputs the detection result to the control unit 50 as a detection signal.

【0046】コントロール部50は、後述する種々の制
御信号を出力して、アドレスドライバ回路30とデータ
ライン信号読み出し回路40の動作をコントロールす
る。
The control section 50 outputs various control signals to be described later to control the operations of the address driver circuit 30 and the data line signal reading circuit 40.

【0047】次に、以上のような構成のフォトセンサの
動作について、図3を参照して説明する。
Next, the operation of the photosensor having the above configuration will be described with reference to FIG.

【0048】図3は、撮像部20上に撮像対象物(例え
ば、指紋)を置き、その像を読みとっている状態を示し
ている。
FIG. 3 shows a state where an object to be imaged (for example, a fingerprint) is placed on the image pickup section 20 and the image is read.

【0049】初めに、コントロール部50は、データラ
イン信号読み出し回路40に、データ電極21を一定の
電位(0V以外)にするよう命令する帯電信号を出力す
る。
First, the control section 50 outputs a charging signal to the data line signal reading circuit 40 to instruct the data electrode 21 to have a constant potential (other than 0 V).

【0050】データライン信号読み出し回路40は、コ
ントロール部50からの帯電信号に応答して、データ電
極21を正又は負に帯電させる。
The data line signal reading circuit 40 charges the data electrode 21 positively or negatively in response to the charging signal from the control unit 50.

【0051】次に、コントロール部50は、アドレス順
次EL発光部10のアノード電極11に選択的に電圧を
印加するよう、アドレスドライバ回路30に電圧印加信
号を出力する。なお、アノード電極11への電圧印加
は、一本ずつ順に行われる。
Next, the control section 50 outputs a voltage application signal to the address driver circuit 30 so as to selectively apply a voltage to the anode electrode 11 of the address sequential EL light emitting section 10. The voltage application to the anode electrode 11 is performed one by one in order.

【0052】アドレスドライバ回路30は、コントロー
ル部50からの電圧印加信号に従って、アノード電極1
1に電圧を印加する。
The address driver circuit 30 responds to a voltage application signal from the control unit 50 by
1 is applied with a voltage.

【0053】アドレス順次EL発光部10では、アノー
ド電極11に電圧が印加されると、その部分の有機EL
層12に、膜厚方向の電圧が印加される。従って、電圧
が印加された部分の有機EL層12が発光する。
In the address sequential EL light emitting section 10, when a voltage is applied to the anode electrode 11, the organic EL of that portion is applied.
A voltage in the thickness direction is applied to the layer 12. Therefore, the organic EL layer 12 in the portion where the voltage is applied emits light.

【0054】有機EL層12が発光した光は、光が発光
された部分にあるアドレス導光路2に入射される。
The light emitted from the organic EL layer 12 is incident on the address light guide path 2 in the portion where the light is emitted.

【0055】アドレス導光路2に入射された光は、アド
レス導光路2中を伝わりながら、撮像部20では、光導
電層23との界面から光導電層23中に放射される。以
上のようにして、アドレス導光路2は、一本ずつ選択さ
れ、光を光導電層23中に放射する。
Light incident on the address light guide path 2 is radiated from the interface with the photoconductive layer 23 into the photoconductive layer 23 in the imaging section 20 while traveling through the address light guide path 2. As described above, the address light guide paths 2 are selected one by one and emit light into the photoconductive layer 23.

【0056】アドレス導光路2から選択されて放射され
た光は、撮像部20の遮光層22の間から、図3に示す
ように、光導電層23、透明電極24、及び、保護フィ
ルム25を透過して、撮像対象物に照射される。
Light selected and emitted from the address light guide path 2 passes through the photoconductive layer 23, the transparent electrode 24, and the protective film 25 from between the light shielding layers 22 of the imaging section 20 as shown in FIG. The light passes through and irradiates the imaging target.

【0057】撮像対象物が、例えば指紋の場合、この光
は、指紋の凹部に対応する保護フィルム25の界面で反
射され、撮像部20に再入射する。一方指紋の凸部に対
応する保護フィルム25の界面では、光が指紋凸部を介
して保護フィルム25から外に逃げるために対応するデ
ータ電極21上の光導電層23にはほとんど入射されな
い。この反射光の入射強度は、図3に示すように、撮像
対象物の形状、即ち、撮像対象物が保護フィルム25に
接しているか否かということに応じて変化する。撮像対
象物が保護フィルム25に接している部分では、光は効
率よく反射されないが、保護フィルム25に接していな
い部分では、光は効率よく反射される。
When the object to be imaged is, for example, a fingerprint, this light is reflected at the interface of the protective film 25 corresponding to the concave portion of the fingerprint, and reenters the imaging unit 20. On the other hand, at the interface of the protective film 25 corresponding to the convex part of the fingerprint, light escapes from the protective film 25 through the fingerprint convex part, so that the light hardly enters the photoconductive layer 23 on the corresponding data electrode 21. As shown in FIG. 3, the incident intensity of the reflected light changes depending on the shape of the imaging target, that is, whether the imaging target is in contact with the protective film 25 or not. Light is not efficiently reflected in a portion where the imaging target is in contact with the protective film 25, but light is efficiently reflected in a portion not in contact with the protective film 25.

【0058】撮像対象物が保護フィルム25に接してい
ない部分で反射された光は、撮像部20の光導電層23
(特に、アドレス導光路2とデータ電極21とが交差す
る位置)に再入射する。
The light reflected at the portion where the object to be imaged is not in contact with the protective film 25 is transmitted to the photoconductive layer 23 of the imaging section 20.
(Especially, a position where the address light guide path 2 and the data electrode 21 cross each other).

【0059】アドレス導光路2とデータ電極21とが交
差する位置における光導電層23で反射光が入射した部
分では、上記したように、正孔−電子対が生成されるた
め、その部分の抵抗が小さくなる。従って、撮像対象物
(指紋凹部)での反射光によって光導電層23の抵抗が
小さくなった部分に相当するデータ電極21に蓄えられ
ている電荷が光導電層23を通って透明電極24に流
れ、そのデータ電極21の電位が変化する。
At the portion where the reflected light is incident on the photoconductive layer 23 at the position where the address light guide path 2 and the data electrode 21 intersect, a hole-electron pair is generated as described above. Becomes smaller. Therefore, the charge stored in the data electrode 21 corresponding to the portion where the resistance of the photoconductive layer 23 is reduced by the light reflected by the imaging object (fingerprint concave portion) flows to the transparent electrode 24 through the photoconductive layer 23. , The potential of the data electrode 21 changes.

【0060】データライン信号読み出し回路40は、コ
ントロール部50からの制御信号に従ってデータ電極2
1の電位変化を検出し、検出信号としてコントロール部
50に出力する。
The data line signal readout circuit 40 controls the data electrode 2 according to the control signal from the control unit 50.
1 is detected and output to the control unit 50 as a detection signal.

【0061】コントロール部50は、データライン信号
読み出し回路40から入力された検出信号をデータとし
て蓄積する。
The control section 50 stores the detection signal input from the data line signal read circuit 40 as data.

【0062】そして、コントロール部50は、次の行の
アドレス導光路2を発光させて撮像するために、データ
ライン信号読み出し回路40に帯電信号を出力する。
Then, the control section 50 outputs a charging signal to the data line signal readout circuit 40 in order to make the address light guide path 2 of the next row emit light and capture an image.

【0063】以後の動作は、上記と同様である。また、
以上の動作は、アドレス順次EL発光部10のアノード
電極11に、順に電圧を印加していき、全てのアノード
電極11に電圧が印加されるまで繰り返される。即ち、
アドレス導光路2に順に光が入射され、全てのアドレス
導光路2に光が入射されるまで繰り返される。そして、
蓄積された撮像対象物の像は、像の再生や照合に使用さ
れる。
The subsequent operation is the same as described above. Also,
The above operation is sequentially applied to the anode electrodes 11 of the EL light emitting section 10 in order of the address, and is repeated until the voltages are applied to all the anode electrodes 11. That is,
Light is sequentially incident on the address light guide paths 2, and this operation is repeated until light is incident on all the address light guide paths 2. And
The stored image of the imaging object is used for reproducing and collating the image.

【0064】次に、以上に示した処理によって得られる
像について、図4を用いて、説明する。
Next, an image obtained by the above-described processing will be described with reference to FIG.

【0065】図4は、撮像部20上にドーナツ状の凹部
を有し、凹部以外が平坦である物体が載置された状態を
示している。
FIG. 4 shows a state where an object having a donut-shaped concave portion on the imaging section 20 and a flat portion other than the concave portion is placed.

【0066】撮像部20を通っているアドレス導光路2
とデータ電極21は、図4に示すように、それぞれ、1
1本(A1〜A11)、13本(D1〜D13)あると
する。また、物体の底面は撮像部20の保護フィルム2
5に接触しているとする。従って、物体の凹部により保
護フィルム25に接触していない部分に対応するアドレ
ス導光路2とデータ電極21との交点は、図4の丸で囲
んだ点である。
The address light guide 2 passing through the imaging unit 20
And data electrode 21 are, as shown in FIG.
It is assumed that there are one (A1 to A11) and thirteen (D1 to D13). The bottom surface of the object is the protective film 2 of the imaging unit 20.
Assume that it is in contact with 5. Therefore, the intersection of the address light guide path 2 and the data electrode 21 corresponding to the portion that is not in contact with the protective film 25 due to the concave portion of the object is the point circled in FIG.

【0067】初めに、データライン信号読み出し回路4
0が、データ電極21を帯電させる。撮像部20の光導
電層23にはまだ光が入射していないので、光導電層2
3は、絶縁状態である。
First, the data line signal reading circuit 4
0 charges the data electrode 21. Since light has not yet entered the photoconductive layer 23 of the imaging unit 20, the photoconductive layer 2
3 is an insulating state.

【0068】次に、アドレスドライバ回路30が、順に
アノード電極11に電圧を印加する。これにより、有機
EL層12が発光し、順にアドレス導光路2に光が入射
される。
Next, the address driver circuit 30 sequentially applies a voltage to the anode electrode 11. As a result, the organic EL layer 12 emits light, and the light is sequentially incident on the address light guide path 2.

【0069】アドレス導光路2から放射された光が、撮
像対象物の凹部によって保護フィルム25で反射されて
撮像部20に再入射すると、その部分の光導電層23の
抵抗が小さくなる。図4では、アドレス導光路A3が光
を放射したとき、物体の凹部が存在する部分に相当する
光導電層23の部分、即ちアドレス導光路A3のA3−
1からA3−2に相当する部分近傍の光導電層23の抵
抗が小さくなる。
When the light radiated from the address light guide path 2 is reflected by the protective film 25 by the concave portion of the object to be imaged and re-enters the image pickup section 20, the resistance of the photoconductive layer 23 at that portion decreases. In FIG. 4, when the address light guide A3 emits light, a portion of the photoconductive layer 23 corresponding to a portion where the concave portion of the object exists, that is, A3-A3 of the address light guide A3.
The resistance of the photoconductive layer 23 near the portion corresponding to A1 to A3-2 decreases.

【0070】この抵抗値の低下によって、データ電極2
1に蓄えられている電荷は、光導電層23の抵抗値が低
下した部分を通って透明電極24から逃げていく。従っ
て、撮像対象物が接触していない部分に相当するデータ
電極21の電位が変化する。即ち、データ電極D6、D
7、及び、D8の電位が変化する。
The data electrode 2
The charge stored in 1 escapes from the transparent electrode 24 through the portion of the photoconductive layer 23 where the resistance value has decreased. Therefore, the potential of the data electrode 21 corresponding to a portion where the imaging target is not in contact changes. That is, the data electrodes D6, D
7, and the potential of D8 changes.

【0071】コントロール部50は、アドレス導光路A
3に光を入射するようにアドレスドライバ回路30に電
圧印加信号を出力し、また、データライン信号読み出し
回路40から、データ電極D6、D7、及び、D8の電
位が低下したという検出信号を受け取る。従って、コン
トロール部50は、例えば、(A3,D6)、(A3,
D7)、(A3,D8)というようにして、物体が存在
しない部分に対応する点(図4の点a、b、c)をデー
タとして蓄積することができる。
The control unit 50 includes an address light guide A
A voltage application signal is output to the address driver circuit 30 so that light is incident on the data line 3, and a detection signal indicating that the potential of the data electrodes D6, D7, and D8 has dropped is received from the data line signal read circuit 40. Therefore, for example, the control unit 50 outputs (A3, D6), (A3,
The points (points a, b, and c in FIG. 4) corresponding to the portion where the object does not exist can be stored as data as D7) and (A3, D8).

【0072】アドレス導光路A11まで光が入射される
と、物体が接触していない部分に対応する点(図4で、
丸で囲んだ点)が、データとして蓄積される。
When light is incident on the address light guide path A11, a point corresponding to a portion where the object is not in contact (FIG. 4,
(Circled points) are stored as data.

【0073】このデータを使用して、例えば、データ電
極のD1からD13をX座標、アドレス導光路のA1か
らA11をY座標にすれば、図4の丸で囲んだ点が、図
5のように再現される。この再現像は、アドレス導光路
2とデータ電極21の本数を増やし、点の数を多くする
ことによって、より正確に物体の像を表すことができ
る。このアドレス導光路2とデータ電極21の本数は、
撮像の目的に応じて、実験等によって決定される。
Using this data, for example, the X-coordinate of D1 to D13 of the data electrode and the Y-coordinate of A1 to A11 of the address light guide path, the circled point in FIG. 4 becomes as shown in FIG. Will be reproduced. In the re-development, by increasing the number of the address light guide paths 2 and the data electrodes 21 and increasing the number of points, the image of the object can be represented more accurately. The number of the address light guide path 2 and the number of the data electrodes 21 are as follows.
It is determined by an experiment or the like according to the purpose of imaging.

【0074】以上のようにアドレス導光路2とデータ電
極21を目的に応じて設定し、それに伴ってアノード電
極11と遮光層22を微細加工しておけば、光導電層2
3、透明電極24、有機EL層12、及び、カソード電
極13をパターニングする必要がなくなる。また、基板
1に高融点ガラスを使用する必要もなくなり、撮像部2
0の生産コストを低減することができる。
As described above, if the address light guide path 2 and the data electrode 21 are set according to the purpose, and the anode electrode 11 and the light shielding layer 22 are finely processed accordingly, the photoconductive layer 2
3. There is no need to pattern the transparent electrode 24, the organic EL layer 12, and the cathode electrode 13. Further, it is not necessary to use a high melting point glass for the substrate 1, and the imaging unit 2
0 production costs can be reduced.

【0075】また、上記したように、有機EL層12に
よって発せられた光がアドレス導光路2を介して撮像対
象物に照射されるので、直角プリズム等を使用する必要
がなくなり、フォトセンサ全体を薄型に構成することが
できる。
Further, as described above, since the light emitted by the organic EL layer 12 is irradiated on the object to be imaged through the address light guide path 2, there is no need to use a right-angle prism or the like, and the entire photosensor is used. It can be made thin.

【0076】また、以上のようにして得られる物体の形
状をデータとして予めメモリ等に記憶しておき、撮像で
得られた物体の形状が、メモリ内のデータに合うか否か
ということを判定することもできる。これは、例えば、
指紋の照合等に応用できる。
The shape of the object obtained as described above is stored in advance in a memory or the like as data, and it is determined whether or not the shape of the object obtained by imaging matches the data in the memory. You can also. This is, for example,
It can be applied to fingerprint collation.

【0077】次に、本発明の第2の実施の形態にかかる
フォトセンサについて説明する。
Next, a photo sensor according to a second embodiment of the present invention will be described.

【0078】このフォトセンサは、第1の実施の形態で
示したフォトセンサのアドレス順次EL発光部10が、
基板を挟んで撮像部20と対向するような構成になって
いる。
In this photo sensor, the address sequential EL light emitting unit 10 of the photo sensor shown in the first embodiment is
The configuration is such that it faces the imaging unit 20 with the substrate interposed therebetween.

【0079】図6は、このフォトセンサの構成を示す図
である。図6(a)は、フォトセンサを上から見た平面
図である。図6(b)は、(a)のフォトセンサをB−
Bで切断したときの断面の構造を示している。図6
(c)は、(a)のフォトセンサをC−Cで切断したと
きの断面の構造を示している。また、図中で参照番号が
図1中の番号と同じものは、図1と同じものを示す。
FIG. 6 is a diagram showing the structure of this photosensor. FIG. 6A is a plan view of the photosensor as viewed from above. FIG. 6B shows the photosensor of FIG.
3 shows a cross-sectional structure when cut at B. FIG.
(C) shows a cross-sectional structure when the photosensor of (a) is cut by CC. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 1 indicate the same as those in FIG.

【0080】このフォトセンサが、第1の実施の形態で
示したフォトセンサと大きく異なる点は、アドレス導光
路を使用せず、ルーバー基板4を用い、撮像部20が形
成されている面と異なる面に、アノード電極11’、有
機EL層12’、カソード電極13’及び封止膜14’
から成るアドレス順次EL発光部10’が形成されてい
ることである。
This photosensor is largely different from the photosensor shown in the first embodiment in that it does not use an address light guide path, uses a louver substrate 4, and is different from a surface on which an image pickup section 20 is formed. On the surface, an anode electrode 11 ', an organic EL layer 12', a cathode electrode 13 ', and a sealing film 14'
The address sequential EL light-emitting portion 10 ′ is formed.

【0081】ルーバー基板4は、アノード電極11’に
沿って設けられたアドレス光に対し透過率の高い導光部
4aと導光部4aの両側をアドレス光に対し高い反射性
を示す反射部4bを有する。したがって、複数のうち所
定のアノード電極11’から入射された光は、ルーバー
基板4の複数の導光部4aのうちの所定ものにのみ入射
され、そのまま導光部4aのみを透過し光導電層23に
向けて直進するか、反射部4bで反射を繰り返してほぼ
進行方向が直進方向に制御されてから導光部4aから光
導電層23に向けて出射される。
The louver substrate 4 has a light guide portion 4a provided along the anode electrode 11 'and having a high transmittance for address light, and a reflection portion 4b having high reflectivity for the address light on both sides of the light guide portion 4a. Having. Accordingly, the light incident from the predetermined anode electrode 11 ′ out of the plurality of light is incident only on a predetermined one of the plurality of light guides 4 a of the louver substrate 4, and passes through only the light guide 4 a as it is to form the photoconductive layer. The light travels straight toward the light guide layer 23 or is repeatedly reflected by the reflector 4b so that the traveling direction is controlled substantially in the straight travel direction, and then the light is emitted from the light guide 4a toward the photoconductive layer 23.

【0082】複数のアノード電極11’には、第1の実
施の形態と同様に、一つずつ順に電圧が印加される。な
お、アノード電極11’は、図6に示すように、実質的
にデータ電極21に直交するように、互いに平行に形成
されている。
Voltage is sequentially applied to the plurality of anode electrodes 11 'one by one, as in the first embodiment. As shown in FIG. 6, the anode electrodes 11 'are formed substantially parallel to each other so as to be substantially orthogonal to the data electrodes 21.

【0083】そして、アノード電極11’へ所定の電圧
を印加することによって有機EL層12’で発せられた
光は、ルーバー基板4の反射部4b間で反射され、隣に
漏れることはないので、実質的にアドレス導光路2と同
様の機能を果たすことになる。
The light emitted from the organic EL layer 12 ′ by applying a predetermined voltage to the anode electrode 11 ′ is reflected between the reflection portions 4 b of the louver substrate 4 and does not leak to the next. The function substantially the same as that of the address light guide path 2 is performed.

【0084】これ以外の部分の機能や動作、その駆動シ
ステムや撮像方法は、第1の実施の形態で示したのと実
質的に同様である。
The functions and operations of the other parts, the driving system and the imaging method are substantially the same as those shown in the first embodiment.

【0085】以上のように有機EL層12’とデータ電
極21を目的に応じて設定し、それに伴ってアノード電
極11’と遮光層22を微細加工しておけば、光導電層
23、透明電極24、有機EL層12’、及び、カソー
ド電極13’をパターニングする必要がなくなる。ま
た、基板に高融点ガラスを使用する必要もなくなり、フ
ォトセンサの生産コストを低減することができる。
As described above, if the organic EL layer 12 ′ and the data electrode 21 are set according to the purpose and the anode electrode 11 ′ and the light-shielding layer 22 are finely processed, the photoconductive layer 23, the transparent electrode 24, there is no need to pattern the organic EL layer 12 'and the cathode electrode 13'. Further, it is not necessary to use a high-melting glass for the substrate, and the production cost of the photosensor can be reduced.

【0086】また、上記したように、有機EL層12’
によって発せられた光が直接、撮像対象物に照射される
ので、直角プリズム等を使用する必要がなくなり、フォ
トセンサ全体を薄型に構成することができる。
As described above, the organic EL layer 12 ′
Since the light emitted by the light source is directly applied to the object to be imaged, there is no need to use a right-angle prism or the like, and the entire photosensor can be configured to be thin.

【0087】本発明は、上記の第1、第2の実施の形態
に限られず、種々の変形、応用が可能である。以下、本
発明に適用可能な上記の実施の形態の変形態様につい
て、説明する。
The present invention is not limited to the first and second embodiments described above, and various modifications and applications are possible. Hereinafter, modifications of the above-described embodiment applicable to the present invention will be described.

【0088】第1の実施の形態で示したアドレス導光路
2は、基板に溝等を形成し、この溝を導光路としてもよ
い。
In the address light guide 2 shown in the first embodiment, a groove or the like may be formed in the substrate, and this groove may be used as the light guide.

【0089】また、光導電層23は、画素(アドレス導
光路2又はアノード電極11’とデータ電極21との交
点)に応じて島状、又は、図7に示すように、データ電
極21より狭い幅で、ライン状に形成してもよい。この
ようにすると、データ電極21によって、アドレス導光
路2から光導電層23に入射する光が妨げられるので、
遮光層22を省くことができる。この場合、光導電層2
3の間は、光を透過する層間絶縁樹脂27で形成され
る。
The photoconductive layer 23 has an island shape depending on the pixel (the intersection between the address light guide path 2 or the anode electrode 11 ′ and the data electrode 21) or is narrower than the data electrode 21 as shown in FIG. It may be formed in a line with a width. In this case, the light that enters the photoconductive layer 23 from the address light guide path 2 is blocked by the data electrode 21,
The light shielding layer 22 can be omitted. In this case, the photoconductive layer 2
3 is formed of an interlayer insulating resin 27 that transmits light.

【0090】さらに、保護フィルム25は、薄膜フィル
ムとしてもよい。この場合は、光導電層23が外部環境
に対して強いものとなる。
Further, the protective film 25 may be a thin film. In this case, the photoconductive layer 23 becomes strong against the external environment.

【0091】また、透明電極24及びカソード電極13
は、一枚でなく、それぞれデータ電極21とアノード電
極11に対応するように、同じパターンで形成されても
よい。さらに、透明電極24は、画素(アドレス導光路
2又はアノード電極11’とデータ電極21との交点)
に対応する位置にのみ形成されてもよい。
The transparent electrode 24 and the cathode electrode 13
May be formed in the same pattern so as to correspond to the data electrode 21 and the anode electrode 11, respectively, instead of one sheet. Further, the transparent electrode 24 is formed of a pixel (an intersection between the address light guide path 2 or the anode electrode 11 ′ and the data electrode 21).
May be formed only at the position corresponding to.

【0092】第2の実施の形態で示した基板(ルーバー
基板4)は、ルーバー基板を備えたガラス基板でもよ
く、ルーバー基板の代わりに光ファイバプレートを薄く
切り出した基板でもよい。光ファイバプレートは、長尺
方向がアノード電極11’と光導電層23とを結ぶ最短
の線分の方向に実質的に等しい透明な複数のファイバが
束になった状態で光反射性のハニカム形状の筒内に収容
された構造であり、アノード電極11’から入射された
光が光導電層23に向けて進行するように設定されてい
る。
The substrate (louver substrate 4) shown in the second embodiment may be a glass substrate provided with a louver substrate, or may be a substrate obtained by cutting out an optical fiber plate in place of the louver substrate. The optical fiber plate has a light-reflective honeycomb shape in a state in which a plurality of transparent fibers are bundled in a longitudinal direction substantially equal to a direction of a shortest line connecting the anode electrode 11 ′ and the photoconductive layer 23. And is set such that light incident from the anode electrode 11 ′ proceeds toward the photoconductive layer 23.

【0093】また、フォトセンサは、撮像部20の光導
電層23に入射する反射光量の違いによる、光導電層2
3の抵抗値の変化を利用しているので、撮像対象物は、
指紋のように凹凸のある物だけでなく、反射率の異なる
ものであれば何でもよい。例えば、白い紙の上に黒で書
かれた像では、その白の部分と黒の部分の反射率は異な
るので、その像を上記の方法で読みとることができる。
従って、以上で示したフォトセンサは、スキャナとして
も使用できる。
The photosensor is provided with a photoconductive layer 2 based on the difference in the amount of reflected light incident on the photoconductive layer 23 of the imaging section 20.
Since the change in the resistance value of 3 is used, the object to be imaged is
Not only an object having irregularities such as a fingerprint but also an object having a different reflectance may be used. For example, in an image written in black on white paper, the reflectance of the white portion is different from that of the black portion, so that the image can be read by the above method.
Therefore, the photo sensor described above can also be used as a scanner.

【0094】さらに、以上で示したフォトセンサで、光
の入射に対してその抵抗値が緩やかに変化する光導電層
23を使用し、予め入射光量に対する抵抗値の時間変化
等がわかっている場合は、データ電極21の電位を時間
のタイミングを取って計測することによって、撮像対象
物の階調を読むことができる。また、光導電層23にこ
のようなものが適用できる場合には、カーボンブラック
のようにデータ電極21が光に対して非透過性を有すれ
ば、これが遮光層22を兼ねることができる。
Further, in the above-described photosensor, when the photoconductive layer 23 whose resistance value gradually changes with respect to the incidence of light is used, and the temporal change of the resistance value with respect to the amount of incident light is known in advance. Can read the gray scale of the imaging target by measuring the potential of the data electrode 21 with time. Further, when such a material can be applied to the photoconductive layer 23, if the data electrode 21 has a non-transmissive property with respect to light, such as carbon black, the data electrode 21 can also serve as the light shielding layer 22.

【0095】また、第1の実施の形態で示した撮像部2
0は、基板1上に透明電極24、光導電層23が順に積
層されて形成され、光導電層23上にデータ電極21、
遮光層22が形成され、その上に保護フィルム25が積
層されて形成された構成にしてもよい。この場合は、光
を保護フィルム25から基板1の方向に入射し、撮像対
象物を基板1の表面に接触させるようにする。
Further, the image pickup unit 2 shown in the first embodiment
No. 0 indicates that the transparent electrode 24 and the photoconductive layer 23 are sequentially laminated on the substrate 1 and the data electrode 21 and the photoconductive layer 23 are formed on the photoconductive layer 23.
The light shielding layer 22 may be formed, and the protective film 25 may be laminated thereon. In this case, light is incident from the protective film 25 in the direction of the substrate 1 so that the object to be imaged contacts the surface of the substrate 1.

【0096】[0096]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
により、撮像装置に直角プリズムを使用する必要がなく
なる。また、発光層や導電層で複雑なパターニングを行
う必要がない。
As is apparent from the above description, according to the present invention, it is not necessary to use a right-angle prism in an imaging device. Further, there is no need to perform complicated patterning on the light emitting layer and the conductive layer.

【0097】従って、良好な撮像を行い、生産コストを
低減した撮像素子を提供することができる。
Therefore, it is possible to provide an image pickup device which performs good image pickup and reduces production cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1の実施の形態にかかるフォトセンサの撮像
部とアドレス順次EL発光部の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an image capturing unit and an address sequential EL light emitting unit of a photo sensor according to a first embodiment.

【図2】撮像部とアドレス順次EL発光部の駆動システ
ムを示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a drive system of an imaging unit and an address sequential EL light emitting unit.

【図3】撮像対象物の像を撮像している状態を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which an image of an imaging target is being captured;

【図4】撮像対象物を読みとるときの動作を説明するた
めの図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining an operation when reading an imaging target.

【図5】撮像のデータを再現した状態を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state in which data of an image is reproduced.

【図6】第2の実施の形態にかかるフォトセンサの構成
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of a photosensor according to a second embodiment.

【図7】撮像部の光導電層の他の構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating another configuration of the photoconductive layer of the imaging unit.

【図8】従来の撮像装置の構成例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a configuration example of a conventional imaging device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・基板、2・・・アドレス導光路、4・・・ルーバー基
板、4a・・・導光部、4b・・・反射部、10・・・アドレス
順次EL発光部、11・・・アノード電極、12・・・有機E
L層、13・・・カソード電極、14・・・封止膜、10’・・
・アドレス順次EL発光部、11’・・・アノード電極、1
2’・・・有機EL層、13’・・・カソード電極、14’・・
・封止膜、20・・・撮像部、21・・・データ電極、22・・・
遮光層、23・・・光導電層、24・・・透明電極、25・・・
保護フィルム、27・・・層間絶縁樹脂、30・・・アドレス
ドライバ回路、40・・・データライン信号読み出し回
路、50・・・コントロール部、60・・・直角プリズム、6
0a・・・全反射フィルム、61・・・光源、62・・・レン
ズ、63・・・CCD、FG・・・指
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate, 2 ... Address light guide path, 4 ... Louver board, 4a ... Light guide part, 4b ... Reflection part, 10 ... Address sequential EL light emission part, 11 ... Anode electrode, 12 ... Organic E
L layer, 13: cathode electrode, 14: sealing film, 10 '
・ Address sequential EL light emitting section, 11 ′...
2 '... organic EL layer, 13' ... cathode electrode, 14 '...
・ Sealing film, 20 ・ ・ ・ Imaging unit, 21 ・ ・ ・ Data electrode, 22 ・ ・ ・
Light-shielding layer, 23 ... Photoconductive layer, 24 ... Transparent electrode, 25 ...
Protective film, 27: interlayer insulating resin, 30: address driver circuit, 40: data line signal readout circuit, 50: control unit, 60: right angle prism, 6
0a: Total reflection film, 61: Light source, 62: Lens, 63: CCD, FG: Finger

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】互いに離間されて実質的に平行に形成さ
れ、入射された光を導く複数の導光路と、 前記複数の導光路のそれぞれの一部に対応して形成さ
れ、印加された電圧に応じて発光し、前記複数の導光路
のそれぞれに光を導く複数の発光素子と、 互いに離間されて実質的に平行に、かつ前記複数の導光
路と所定の角度をなし、前記複数の発光素子が形成され
ていない位置に形成されている複数の第1の電極と、 少なくとも前記複数の導光路と前記複数の第1の電極と
の交点の位置に前記第1の電極と積層して形成され、所
定の波長域の光が入射されると抵抗値が変化する光導電
層と、 前記光導電層に、前記導光路から出射された光が直接入
射しないように、光を遮る光遮断手段と、 前記光導電層が形成されている位置に対応して前記複数
の第1の電極と対向して前記光導電層に積層して形成さ
れた第2の電極と、 を備えることを特徴とする撮像素子。
1. A plurality of light guides formed to be substantially parallel to each other and separated from each other to guide incident light; and an applied voltage formed corresponding to a part of each of the plurality of light guides. A plurality of light emitting elements that emit light in accordance with and guide light to each of the plurality of light guide paths; and a plurality of light emitting elements that are spaced apart from each other and substantially parallel to each other and form a predetermined angle with the plurality of light guide paths. A plurality of first electrodes formed at positions where elements are not formed; and a layer formed by laminating the first electrodes at least at intersections of the plurality of light guide paths and the plurality of first electrodes. A photoconductive layer whose resistance changes when light in a predetermined wavelength range is incident thereon; and a light blocking means for blocking light such that light emitted from the light guide path is not directly incident on the photoconductive layer. Corresponding to the position where the photoconductive layer is formed. First electrode and opposite to the imaging device, characterized in that and a second electrode formed by laminating the photoconductive layer.
【請求項2】前記発光素子と前記光導電層は、その層厚
方向で互いに重なり合うことがないように隔てられて配
置されることを特徴とする請求項1に記載の撮像素子。
2. The imaging device according to claim 1, wherein the light emitting element and the photoconductive layer are arranged so as not to overlap each other in a layer thickness direction.
【請求項3】前記複数の第1の電極は、光に対して非透
過性を有する材料で構成され、かつ前記光導電層と前記
複数の導光路との間に形成され、前記光遮断手段を兼ね
ることを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像素子。
3. The light-blocking means, wherein the plurality of first electrodes are made of a material having light non-transmissivity, and are formed between the photoconductive layer and the plurality of light guide paths. The image pickup device according to claim 1, wherein the image pickup device also functions as:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7200288B2 (en) 2001-12-04 2007-04-03 Canon Kabushiki Kaisha Image reading using irradiated light
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