JP2000055644A - In-line measuring system - Google Patents

In-line measuring system

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JP2000055644A
JP2000055644A JP10228447A JP22844798A JP2000055644A JP 2000055644 A JP2000055644 A JP 2000055644A JP 10228447 A JP10228447 A JP 10228447A JP 22844798 A JP22844798 A JP 22844798A JP 2000055644 A JP2000055644 A JP 2000055644A
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誠 海江田
Eiichi Tsunoda
栄一 角田
Nobuyuki Nakazawa
信行 中澤
Koichi Komatsu
浩一 小松
Koji Suzuki
浩二 鈴木
Ryoichi Yoshiki
良一 吉木
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce idleness for a system, and to eliminate inconvenience for system update. SOLUTION: In this measuring system, a control generalizing device 5 for controlling generally respective in-line measuring instruments 3a, 3b introduces image informations for a work required for recognition of the work from the measuring instruments 3a, 3b, to generate individual informations (work pattern, position, important dimension and the like) of the work based on the image informations. The respective measuring instruments 3a, 3b select parametric part programs based on the individual informations, and execute the respective part programs using the individual informations as arguments. Since recognition processing is conducted generally in the control generalizing device 5, a data base or the like required for the processing is used in common.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、搬送ラインに沿っ
てインライン測定機が配置されたインライン測定システ
ムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an in-line measuring system in which an in-line measuring machine is arranged along a transport line.

【0002】[0002]

【従来の技術】搬送ラインを介して搬送される形状の異
なる種々のワークを自動測定するシステムは従来から知
られている(例えば特開昭60−35210号)。この
種のシステムでは、ライン上流に配置された撮像装置で
ワークを撮像し、その撮像結果からワークの形状を判別
し、ライン下流に配置されたメジャリングロボットを判
別形状に対応したプログラムで動作させるようにしてい
る。
2. Description of the Related Art A system for automatically measuring various works having different shapes conveyed through a conveyance line has been conventionally known (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 60-35210). In this type of system, a workpiece is imaged by an imaging device arranged upstream of the line, the shape of the workpiece is determined from the imaging result, and a measuring robot arranged downstream of the line is operated by a program corresponding to the determined shape. Like that.

【0003】このシステムのように、ワークの寸法測定
を三次元測定機で行う場合、三次元測定機の使用プロー
ブやプローブの移動経路等は、三次元測定機を制御する
ためのパートプログラムによって与えられる。従って、
ワークが同種の形状であっても、その置かれている位置
や、内径、外径、高さ等の寸法値が異なると、それぞれ
の位置及び寸法値に対応したパートプログラムをそれぞ
れ作成し、準備しておかなければならない。
[0003] When a dimension measurement of a work is performed by a CMM as in this system, a probe used by the CMM and a moving path of the probe are given by a part program for controlling the CMM. Can be Therefore,
Even if the work has the same shape, if the position where it is placed and the dimensional value such as inner diameter, outer diameter, height, etc. are different, create part programs corresponding to each position and dimensional value and prepare Must be kept.

【0004】そこで、本出願人は、外部情報取り込み手
段として各ワークを撮像してその位置、寸法及び形状を
認識する手段を設け、この外部情報取り込み手段からの
位置、寸法、形状等の外部情報をパラメトリックなパー
トプログラムの引数として与えることにより、置かれた
位置や各寸法値が異なる種々のワークを1種類のパート
プログラムによって測定可能にした測定システムを提案
している(特開平8−14876号)。
Accordingly, the applicant has provided means for capturing each work as external information capturing means and recognizing the position, size and shape of the work. External information such as the position, dimensions and shape from the external information capturing means is provided. Is proposed as an argument of a parametric part program, so that various kinds of workpieces having different positions and different dimensional values can be measured by one kind of part program (Japanese Patent Application Laid-Open No. H8-14876). ).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかし、搬送ラインに
沿って複数のインライン測定機が配置された測定システ
ムにおいて、各インライン測定機に上述した外部情報取
り込み手段を設けると、各インライン測定機での認識処
理の過程で同様のデータベースを参照することになるた
め、データベースがシステム全体として重複すると共
に、データベースの変更に際して、各インライン測定機
のデータベースを全て変更しなければならないため、シ
ステム更新の手間がかかるという問題がある。また、こ
の種の認識処理は、搬送ラインに設けられた工作機械で
も必要となることがあり、この場合、工作機械とインラ
イン測定機とでデータベースが重複することになる。
However, in a measuring system in which a plurality of in-line measuring machines are arranged along a transport line, if the above-mentioned external information taking-in means is provided for each of the in-line measuring machines, the in-line measuring machines are not provided. Since the same database is referred to during the recognition process, the database is duplicated as a whole system, and when the database is changed, the database of each in-line measurement device must be changed. There is such a problem. In addition, this type of recognition processing may be necessary even for a machine tool provided on a transport line, and in this case, the database is duplicated between the machine tool and the inline measuring machine.

【0006】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、システムの無駄を削減し、システ
ム更新の手間も省くことができるインライン測定システ
ムを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an in-line measurement system capable of reducing waste of the system and saving time for updating the system.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係るインライン
測定システムは、被測定物を搬送する搬送ラインに沿っ
て配置され前記搬送ライン上の被測定物を順次測定する
1又は複数のインライン測定機と、前記インライン測定
機を制御する制御統括装置と、この制御統括装置と前記
各インライン測定機との間で必要な情報を転送する通信
手段とを備えたインライン測定システムであって、前記
制御統括装置は、前記搬送ライン上の被測定物の認識に
必要な情報を前記インライン測定機から前記通信手段を
介して導入し、この情報に基づいてデータベースを参照
して前記被測定物の個別情報を生成し前記通信手段を介
して前記インライン測定機に伝送するものであり、前記
インライン測定機は、被測定物の個別情報を通信手段を
介して導入し、この個別情報が引数として入力されるパ
ラメトリックパートプログラムに基づいて測定動作を実
行するものであることを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An in-line measuring system according to the present invention comprises one or more in-line measuring devices arranged along a transport line for transporting an object to be measured and sequentially measuring the object on the transport line. An in-line measurement system comprising: a control control device for controlling the in-line measuring device; and communication means for transferring necessary information between the control control device and each of the in-line measuring devices. The apparatus introduces information necessary for recognition of the device under test on the transport line from the in-line measuring device via the communication unit, and refers to a database based on this information to obtain individual information of the device under test. The in-line measuring device generates and transmits the individual information of the device under test via the communication means, and transmits the information to the in-line measuring device via the communication means. Characterized in that it is intended to perform a measurement operation based on the parametric part program individual information is input as an argument.

【0008】また、本発明に係る他のインライン測定シ
ステムは、被測定物を搬送する搬送ラインに沿って配置
され前記搬送ライン上の被測定物を順次測定する1又は
複数のインライン測定機と、前記インライン測定機を制
御する制御統括装置と、この制御統括装置と前記各イン
ライン測定機との間で必要な情報を転送する通信手段と
を備えたインライン測定システムであって、前記制御統
括装置は、前記搬送ライン上の被測定物の認識に必要な
情報を前記インライン測定機から前記通信手段を介して
導入し、この情報に基づいてデータベースを参照して前
記被測定物の個別情報を生成すると共に、この個別情報
が引数として入力されるパラメトリックパートプログラ
ムを選択して個別情報と一緒に前記通信手段を介して前
記インライン測定機に伝送するものであり、前記インラ
イン測定機は、被測定物の個別情報及び選択されたパラ
メトリックパートプログラムを通信手段を介して導入
し、前記個別情報が引数として入力される前記パラメト
リックパートプログラムに基づいて測定動作を実行する
ものであることを特徴とする。
[0008] Further, another in-line measuring system according to the present invention comprises one or more in-line measuring machines arranged along a transport line for transporting an object to be measured and sequentially measuring the object to be measured on the transport line; An in-line measurement system including a control control device that controls the in-line measuring device, and a communication unit that transfers necessary information between the control control device and each of the in-line measuring devices, wherein the control control device includes: Introducing information necessary for recognizing the device under test on the transport line from the in-line measuring device via the communication unit, and referring to a database based on this information to generate individual information of the device under test. At the same time, select a parametric part program in which this individual information is input as an argument and, together with the individual information, perform the in-line measurement via the communication means. The in-line measuring device introduces the individual information of the device under test and the selected parametric part program via communication means, and based on the parametric part program in which the individual information is input as an argument. In which the measuring operation is performed.

【0009】本発明によれば、各インライン測定機を統
括的に制御する制御統括装置が、インライン測定機から
被測定物の認識に必要な情報を導入し、この情報に基づ
いて被測定物の個別情報を生成する。この個別情報を引
数として入力されるパラメトリックパートプログラムを
選択すると共に、個別情報を引数として使用して各イン
ライン測定機での測定処理を行うようにしている。そし
て、個別情報生成のために必要な認識処理は、制御統括
装置で統括的に実行するようにしているので、認識に必
要なデータベースを各インライン測定機や工作機械等で
共有することができ、システムの無駄が省けるうえ、デ
ータベースの更新等も統一的に行えるので、作業効率が
向上する。
According to the present invention, the control and control device that controls each of the in-line measuring devices collectively introduces information necessary for recognizing the device to be measured from the in-line measuring device, and based on this information, the device to be measured. Generate individual information. A parametric part program input with the individual information as an argument is selected, and measurement processing in each in-line measuring device is performed using the individual information as an argument. And, since the recognition process required for generating individual information is performed in a centralized manner by the control and control device, the database required for recognition can be shared by each inline measuring machine, machine tool, etc. Since the waste of the system can be eliminated and the database can be updated in a unified manner, the work efficiency is improved.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照してこの
発明の実施例に係るインライン測定システムについて説
明する。図1は、このシステムの概略構成を示すブロッ
ク図である。このシステムでは、搬送装置1によって形
成される搬送ラインに沿ってマシニングセンター、研削
盤、洗浄機等の工作機械2a,2b,2cと、インライ
ン測定機3a,3bとが配置されており、搬送ラインに
沿って流れる被測定物(ワーク)の加工から検査まで一
貫して行えるようになっている。搬送装置1を制御する
搬送制御装置1a、工作機械2a,2b,2c及びイン
ライン測定機3a,3bは、通信手段としてのRS23
2C等のシリアルバス4を介して制御統括装置5に接続
され、この制御統括装置5によって統括的に制御される
ようになっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an in-line measurement system according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of this system. In this system, machine tools 2a, 2b, 2c such as a machining center, a grinding machine, and a washing machine, and in-line measuring machines 3a, 3b are arranged along a transfer line formed by the transfer device 1. It is possible to consistently perform processing from inspection of the workpiece (work) flowing along it to inspection. The transport control device 1a for controlling the transport device 1, the machine tools 2a, 2b, 2c and the in-line measuring machines 3a, 3b are connected to an RS23 as communication means.
The control and control device 5 is connected to the control and control device 5 via a serial bus 4 such as 2C, and is controlled by the control and control device 5.

【0011】インライン測定機3a,3bとしては、例
えば多次元座標測定機、画像測定機、表面性状測定機等
が使用される。インライン測定機3aが三次元測定機で
あるとすると、例えば図2のように構成される。図2に
おいて、インライン測定機3aは、タッチシグナルプロ
ーブを有する三次元測定機11、その測定ステージを移
動するためのステージ移動機構12、測定ステージにセ
ットされた被測定物(ワーク)を撮像するためのCCD
カメラ等の撮像装置13及びこれらを制御したり測定値
や画像情報を外部に出力するための三次元測定機制御装
置14を備えている。三次元測定機制御装置14は、制
御統括装置からの制御データや三次元測定機11からの
測定データに基づいて三次元測定機11及びステージ移
動機構12を制御するコントローラ15と、三次元測定
機11からの測定データを処理する三次元測定機データ
処理装置16と、このデータ処理装置16で処理された
測定結果や撮像装置13からの画像データをシリアルバ
ス4に出力したり、シリアルバス4からの制御データを
取り込む外部制御装置17とを有する。
As the in-line measuring machines 3a and 3b, for example, a multi-dimensional coordinate measuring machine, an image measuring machine, a surface texture measuring machine and the like are used. Assuming that the in-line measuring device 3a is a three-dimensional measuring device, the configuration is, for example, as shown in FIG. In FIG. 2, an in-line measuring device 3a includes a three-dimensional measuring device 11 having a touch signal probe, a stage moving mechanism 12 for moving the measuring stage, and an image of an object to be measured (work) set on the measuring stage. CCD
An image capturing device 13 such as a camera and a coordinate measuring machine control device 14 for controlling these devices and outputting measured values and image information to the outside are provided. The CMM control device 14 includes a controller 15 that controls the CMM 11 and the stage moving mechanism 12 based on control data from the control control device and measurement data from the CMM 11, and a CMM A CMM data processing device 16 for processing the measurement data from the data processing device 11 and outputting the measurement results processed by the data processing device 16 and the image data from the imaging device 13 to the serial bus 4, And an external control device 17 that takes in the control data of

【0012】また、インライン測定機3bが画像測定機
であるとすると、例えば図3のように構成される。図3
において、インライン測定機3bは、撮像装置21を含
む画像測定機22、その測定ステージを移動するための
ステージ移動機構23及びこれらを制御したり測定値や
画像情報を外部に出力するための画像測定機制御装置2
4を備えている。画像測定機制御装置24も、三次元測
定機制御装置14と同様に、コントローラ25、画像測
定機データ処理装置26及び外部制御装置27を備えて
いる。
Assuming that the in-line measuring device 3b is an image measuring device, the configuration is as shown in FIG. 3, for example. FIG.
, An in-line measuring device 3b includes an image measuring device 22 including an imaging device 21, a stage moving mechanism 23 for moving the measuring stage, and an image measuring device for controlling these and outputting measured values and image information to the outside. Machine control device 2
4 is provided. The image measuring device control device 24 also includes a controller 25, an image measuring device data processing device 26, and an external control device 27, similarly to the coordinate measuring device control device 14.

【0013】図4は、図2に示したインライン測定機3
aにおける三次元測定機データ処理装置16及び外部制
御装置17の機能ブロック図である。三次元測定機デー
タ処理装置16には、三次元測定機11の測定制御を行
うためのパターン別パラメトリックパートプログラム
(以下、「PPプログラム」と呼ぶ)データベース3
1、PPプログラム選択部32、PPプログラム実行部
33,測定データ処理部34及び変数レジスタ35が備
えられている。外部制御装置17には、データ入出力部
36,測定・制御指令解読部37及び測定結果解読部3
8が設けられている。
FIG. 4 shows the in-line measuring device 3 shown in FIG.
3A is a functional block diagram of the coordinate measuring machine data processing device 16 and the external control device 17 in FIG. The CMM data processing device 16 has a pattern-specific parametric part program (hereinafter referred to as a “PP program”) database 3 for performing measurement control of the CMM 11.
1, a PP program selection unit 32, a PP program execution unit 33, a measurement data processing unit 34, and a variable register 35 are provided. The external control device 17 includes a data input / output unit 36, a measurement / control command decoding unit 37, and a measurement result decoding unit 3.
8 are provided.

【0014】撮像装置13からの画像データは、データ
入出力部36を介して制御統括装置5から指令された撮
像指令期間中のみビデオ信号としてシリアルバス4に出
力される。この画像データに基づいて後述する処理によ
り制御統括装置5で生成されたワークの個別情報を含む
制御統括装置5から与えられる各種の制御データは、デ
ータ入出力部36を介して測定・制御指令解読部37に
与えられ解読される。ここで個別情報に含まれるワーク
位置及びワーク主要寸法の情報は変数レジスタ35に与
えられ、個別情報に含まれるワークパターン情報や測定
・制御指令は、PPプログラム選択部32に供給され
る。PPプログラム選択部32は、ワークパターン情報
に基づいてパターン別PPプログラムデータベース31
から指定されたパターンのPPプログラムを選択し、こ
れをPPプログラム実行部34に供給する。PPプログ
ラム実行部34は、供給されたPPプログラムの引数の
部分に変数レジスタ35に格納された個別情報を代入
し、且つ三次元測定機11からの測定データを参照しつ
つPPプログラムを実行する。これにより得られた測定
データは、測定データ処理部34から測定結果解読部3
8に送られ、PPプログラム実行部33からの情報に基
づいて解読されてデータ入出力部36を介してシリアル
バス4に出力される。
The image data from the image pickup device 13 is output to the serial bus 4 as a video signal only during the image pickup instruction commanded by the control and control device 5 via the data input / output unit 36. Various control data provided from the control control device 5 including the individual information of the work generated by the control control device 5 based on the image data by the processing described later are measured / control command decoding via the data input / output unit 36. It is provided to the section 37 and decrypted. Here, the information of the work position and the work main dimension included in the individual information is given to the variable register 35, and the work pattern information and the measurement / control command included in the individual information are supplied to the PP program selection unit 32. The PP program selection unit 32 stores a pattern-specific PP program database 31 based on the work pattern information.
The PP program of the designated pattern is selected from and the supplied program is supplied to the PP program execution unit 34. The PP program execution unit 34 substitutes the individual information stored in the variable register 35 for the argument part of the supplied PP program, and executes the PP program while referring to the measurement data from the coordinate measuring machine 11. The measurement data thus obtained is sent from the measurement data processing unit 34 to the measurement result decoding unit 3
8, decrypted based on information from the PP program execution unit 33, and output to the serial bus 4 via the data input / output unit 36.

【0015】一方、制御統括装置5は、図5に示すよう
に、内部バス40を介して相互に接続されたCPU4
1、メモリ42及び入出力インタフェース43と、この
入出力インタフェース43を介して内部バス40に接続
された外部制御装置44、画像処理装置45、入力装置
46、出力装置47及び補助記憶装置48とにより構成
されている。外部制御装置44は、制御データを外部の
シリアルバス4に対して入出力すると共に、外部から供
給される画像データを画像処理装置45に供給する。画
像処理装置45は、供給された画像データを処理してワ
ークの個別情報を認識する。入力装置46は、キーボー
ド、操作パネル等であり、出力装置47は、CRTディ
スプレイ、プリンタ等である。補助記憶装置48は、ハ
ードディスク、フロッピーディスク、光磁気ディスク
(MO)等である。
On the other hand, as shown in FIG. 5, the control and supervising device 5 includes a CPU 4 connected to each other via an internal bus 40.
1, a memory 42, an input / output interface 43, and an external control device 44, an image processing device 45, an input device 46, an output device 47, and an auxiliary storage device 48 connected to the internal bus 40 via the input / output interface 43. It is configured. The external control device 44 inputs and outputs control data to and from the external serial bus 4 and supplies image data supplied from the outside to the image processing device 45. The image processing device 45 processes the supplied image data to recognize the individual information of the work. The input device 46 is a keyboard, an operation panel, and the like, and the output device 47 is a CRT display, a printer, and the like. The auxiliary storage device 48 is a hard disk, a floppy disk, a magneto-optical disk (MO), or the like.

【0016】図6は、この制御統括装置5の機能ブロッ
ク図である。この制御統括装置5は、外部制御装置44
以外の部分で制御・統括処理装置51を構成する。外部
制御装置44は、図4の外部制御装置17と同様に、デ
ータ入出力部52、測定・制御指令解読部53及び測定
・制御結果解読部54を備えている。また、制御・統括
処理装置51は、画像処理部55,座標系修正部56,
ワークの個別情報データベース57及びシーケンス制御
部58を備えて構成されている。
FIG. 6 is a functional block diagram of the control control device 5. The control control device 5 includes an external control device 44.
The control / overall processing device 51 is configured by the other parts. The external control device 44 includes a data input / output unit 52, a measurement / control command decoding unit 53, and a measurement / control result decoding unit 54, similarly to the external control device 17 of FIG. The control / overall processing device 51 includes an image processing unit 55, a coordinate system correction unit 56,
A work individual information database 57 and a sequence control unit 58 are provided.

【0017】外部から与えられる画像データは、データ
入出力部52を介して画像処理部55に与えられる。画
像処理部55は、画像データからワークパターン、ワー
ク位置、ワーク主要寸法等を認識する。座標系修正部5
6は、認識されたワーク位置に基づいて、画像処理座標
系におけるワーク位置を、三次元測定機座標系における
位置に修正する。そして、得られたワークパターン、ワ
ーク主要寸法及び修正ワーク位置の情報は、個別情報と
してワークの個別情報データベース57に与えられる。
一方、シーケンス制御部58は、測定・制御結果解読部
54を介して外部から測定結果を入力し、この測定結果
が個別情報と対応してデータベース57に登録される。
ワークの個別情報は、インライン測定機3a,3bでの
PPプログラムの選択情報及び引数として測定・制御指
令解読部53及びデータ入出力部52を介してインライ
ン測定機3a,3bに出力される。
Image data supplied from the outside is supplied to an image processing unit 55 via a data input / output unit 52. The image processing unit 55 recognizes a work pattern, a work position, a work main dimension, and the like from the image data. Coordinate system correction unit 5
6 corrects the work position in the image processing coordinate system to a position in the coordinate system of the three-dimensional measuring machine based on the recognized work position. Then, the obtained information on the work pattern, the work main dimension and the corrected work position is given to the work individual information database 57 as individual information.
On the other hand, the sequence control unit 58 inputs a measurement result from the outside via the measurement / control result decoding unit 54, and the measurement result is registered in the database 57 in association with the individual information.
The individual information of the work is output to the inline measuring devices 3a and 3b via the measurement / control command decoding unit 53 and the data input / output unit 52 as selection information and arguments of the PP program in the inline measuring devices 3a and 3b.

【0018】次に、このように構成された本システムの
動作について説明する。図7は、制御統括装置5のタス
ク実行状態を示すタイムチャートであり横軸は時間であ
る。図7(a)に示すように、制御統括装置5は、搬送
ラインを流れる複数のワークに対してマルチタスクで測
定処理を実行する。例えばインライン測定機3aによっ
てワークWAに対する測定シーケンスAの実行を開始
し、このワークWAの測定が完了しないうちに、測定シ
ーケンスBを起動してワークWBの測定を開始するとい
う処理を実行する。また、図7(b)に示すように、同
一のワークWAに対して測定シーケンスXと測定シーケ
ンスYによる測定を行う必要がある場合には、制御統括
装置5において、測定シーケンスZに、測定シーケンス
Xと測定シーケンスYの実行を行う2命令を記述するこ
とで、両方の測定を自動的且つ連続的に行うことが可能
である。これをマクロ機能と呼ぶ。なお、これらの測定
シーケンスと並行して異常監視タスクが常時実行され、
各部の異常を常時モニタするようにしている。
Next, the operation of the present system configured as described above will be described. FIG. 7 is a time chart showing the task execution state of the control and control device 5, and the horizontal axis is time. As shown in FIG. 7A, the control and control device 5 executes the measurement processing on a plurality of works flowing on the transport line by multitasking. For example, the in-line measuring device 3a starts the execution of the measurement sequence A on the work WA, and before the measurement of the work WA is completed, starts the measurement sequence B to start the measurement of the work WB. Further, as shown in FIG. 7B, when it is necessary to perform measurement using the measurement sequence X and the measurement sequence Y on the same work WA, the control By describing two instructions for executing X and the measurement sequence Y, both measurements can be performed automatically and continuously. This is called a macro function. Note that the abnormality monitoring task is always executed in parallel with these measurement sequences,
Each part is constantly monitored for abnormalities.

【0019】図8は、異常監視タスクのフローチャート
である。搬送装置1、ステージ移動機構12,23及び
測定機11,22からの異常イベントをそれぞれ検出し
(S110,S120,S130)、搬送、ステージ及
び測定の停止命令を出力し(S111,121,13
1)、異常データを入力して(S112,S122,S
132)表示する(S113,S123,S133)。
これを繰り返す。測定機11,22の異常有無の自己診
断を行うには、例えば一定時間間隔で、校正値既知のマ
スターワークを測定して、その測定値の変化をチェック
する等の方法が考えられる。ここでは、各部の異常検出
のみを例として上げているが、実際の搬送装置や三次元
測定機等が、各種の情報、例えば現在実行しているパー
トプログラムの進行状況等をリアルタイムに出力できる
場合には、これらの情報も常時モニターして、その内容
の表示等を行わせることも可能である。
FIG. 8 is a flowchart of the abnormality monitoring task. Abnormal events are detected from the transfer device 1, the stage moving mechanisms 12 and 23, and the measuring machines 11 and 22, respectively (S110, S120, S130), and a stop command for transfer, stage and measurement is output (S111, 121, 13).
1) Input the abnormal data (S112, S122, S
132) Display (S113, S123, S133).
Repeat this. In order to perform self-diagnosis of the abnormality of the measuring devices 11 and 22, for example, a method of measuring a master work with a known calibration value and checking a change in the measurement value at regular time intervals may be considered. Here, only the abnormality detection of each part is described as an example, but an actual transport device or a three-dimensional measuring machine can output various kinds of information in real time, such as the progress of a currently executed part program. In such a case, it is also possible to constantly monitor such information and display the contents thereof.

【0020】図9は、制御統括装置5での測定シーケン
スの実行手順を示すフローチャートである。まず、オペ
レータにより入力装置(操作パネル)46から測定シー
ケンスの名称や番号を指定して、一連の測定を開始す
る。測定シーケンスには、複数のインライン測定機3
a,3bによる測定手順(ワークの種類や使用する測定
機の順番)が決められている。測定シーケンスは、予め
補助記憶装置48から入力したり、キーボード等を使用
してワークの個別情報データベース57へ格納してお
く。測定シーケンスが指定されて実行が開始されると
(S1)、測定シーケンスの内容(命令)はシーケンス
制御部58の制御のもとデータベース57から順次取り
出されて測定・制御指令解読部53で解釈され、その内
容によって搬送装置1やインライン測定機3a,3bに
指令が出力される(S2)。このとき、搬送装置1及び
測定機3a,3bとの指令やデータの実際の送受信は外
部制御装置44によって後述する通信処理に従って行わ
れる。
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for executing a measurement sequence in the control and control unit 5. First, the operator designates the name and number of the measurement sequence from the input device (operation panel) 46 and starts a series of measurements. The measurement sequence includes multiple in-line measuring instruments 3
The measurement procedure (the type of the work and the order of the measuring machines to be used) is determined by a and 3b. The measurement sequence is input in advance from the auxiliary storage device 48 or stored in the work individual information database 57 using a keyboard or the like. When the measurement sequence is designated and execution is started (S1), the contents (commands) of the measurement sequence are sequentially taken out of the database 57 under the control of the sequence control unit 58 and interpreted by the measurement / control command decoding unit 53. According to the contents, a command is output to the transport device 1 and the in-line measuring devices 3a and 3b (S2). At this time, the actual transmission and reception of commands and data between the transport device 1 and the measuring devices 3a and 3b are performed by the external control device 44 in accordance with communication processing described later.

【0021】搬送装置1と該当測定機3a又は3bが休
止中でなければ待機するが、休止中であれば該当測定機
3a又は3bへのワーク搬入を指示し(S3,S4)、
搬送装置1中のワーク置き場から該当測定機3a又は3
bへワークを搬入する。搬入が完了したら(S5)、制
御統括装置5は、後述する測定タスクを起動し(S
6)、以後、このフローの処理と測定タスクとが同時に
実行されるマルチタスク処理となる。測定タスクが完了
したら(S7)、該当測定機3a又は3bからワーク搬
出の指令を出力し(S8)、測定機3a又は3bから搬
送装置1中のワーク置き場へワークを戻す。搬出が完了
したら(S9)、測定シーケンスが全て完了であるかど
うかを確認し(S10)、測定シーケンスの命令を全て
実行した場合は先頭に戻って次の測定シーケンスの実行
指示を待つ(S10)。
If the transporting apparatus 1 and the corresponding measuring machine 3a or 3b are not in a halt state, the process stands by.
The corresponding measuring machine 3a or 3
Load the work into b. When the loading is completed (S5), the control and control device 5 starts a measurement task described later (S5).
6) Hereafter, a multitask process in which the process of this flow and the measurement task are executed simultaneously. When the measurement task is completed (S7), a command to carry out the work is output from the corresponding measuring machine 3a or 3b (S8), and the work is returned from the measuring machine 3a or 3b to the work place in the transfer device 1. When the unloading is completed (S9), it is checked whether or not all the measurement sequences are completed (S10). When all the instructions of the measurement sequence have been executed, the process returns to the top and waits for an instruction to execute the next measurement sequence (S10). .

【0022】次に、測定タスクの詳細を説明する。図1
0は、測定タスクのフローチャートである。測定開始時
に制御統括装置5が撮像指令を測定機3a又は3bに出
力すると、ワークがパレット等に載置されて撮像領域に
搬入され、撮像装置13によってワークが一定期間だけ
撮像され、制御統括装置5に画像データが入力される
(S21)。このとき、ワークに照明光を適当な方向か
ら当てることにより、図11に示すような、ワークの部
分と背景とのコントラストが強調された明確な画像情報
を得ることができる。画像データが画像処理部55に供
給されると、画像処理部55では供給された画像データ
から予備情報を算出する(S22)。即ち、図12に示
すように、画像データは、2値化部61で2値化された
のち、輪郭抽出部62で2値画像のエッジ部分が抽出さ
れる。続いて、パターンマッチングの処理効率を高める
ため、特徴抽出部63で輪郭情報から特徴部分を抽出
し、この特徴部分と基本パターン記憶部64に格納され
ているいくつかの基本パターンとが照合部65で照合さ
れる。これにより、求められたワークパターンに基づい
て、位置算出部66及び主要寸法算出部67が画像の特
徴部分からワークの位置及び内径、外形、高さ、幅等の
主要寸法を算出する。これによりワークパターン、ワー
ク位置及びワーク主要寸法からなる予備情報が求められ
る(S22)。
Next, details of the measurement task will be described. FIG.
0 is a flowchart of the measurement task. When the control control device 5 outputs an imaging command to the measuring device 3a or 3b at the start of the measurement, the work is placed on a pallet or the like and is carried into the imaging region, and the work is imaged by the imaging device 13 for a certain period. 5 is input with image data (S21). At this time, by irradiating the work with illumination light from an appropriate direction, clear image information in which the contrast between the work part and the background is enhanced as shown in FIG. 11 can be obtained. When the image data is supplied to the image processing unit 55, the image processing unit 55 calculates preliminary information from the supplied image data (S22). That is, as shown in FIG. 12, after the image data is binarized by the binarization unit 61, the edge part of the binary image is extracted by the contour extraction unit 62. Subsequently, in order to increase the processing efficiency of pattern matching, a feature portion is extracted from the contour information by the feature extraction unit 63, and this feature portion and some basic patterns stored in the basic pattern storage unit 64 are compared with the matching unit 65. Is collated. Thereby, based on the obtained work pattern, the position calculating section 66 and the main dimension calculating section 67 calculate the main dimensions such as the position and the inner diameter, the outer shape, the height, and the width of the work from the characteristic portion of the image. As a result, preliminary information including a work pattern, a work position, and a work main dimension is obtained (S22).

【0023】次に、画像処理部55で求められた画像処
理座標系におけるワーク位置を、座標系修正部56で三
次元測定機座標系におけるワーク位置に変換し(S2
3)、変換後のワーク位置と画像処理部55から与えら
れるワークパターン及びワーク主要寸法をワークの個別
情報データベース57に格納する(S24)。続いて、
シーケンス制御部58の制御のもとで、これらのワーク
パターン、ワーク位置及びワーク主要寸法のデータがイ
ンライン測定機3a又は3bに伝送され、PPプログラ
ムの選択指令(S25)、続いて変数レジスタ35への
格納指令(S26)が順次出力される。ステージ搬入指
令(S27)が出力されると、インライン測定機3aの
コントローラ15の制御のもとでステージ移動機構12
が動作して、スライドテーブルが撮像領域から測定領域
に予め定められた移動量だけ移動され、ワークが測定領
域に搬送される。
Next, the work position in the image processing coordinate system obtained by the image processing unit 55 is converted into a work position in the coordinate system of the coordinate measuring machine by the coordinate system correction unit 56 (S2).
3) The work position after the conversion, the work pattern and the work main dimension given from the image processing unit 55 are stored in the work individual information database 57 (S24). continue,
Under the control of the sequence control unit 58, the data of the work pattern, the work position and the work main dimension are transmitted to the in-line measuring machine 3a or 3b, and a PP program selection command (S25) is sent to the variable register 35. Are sequentially output. When the stage loading command (S27) is output, the stage moving mechanism 12 is controlled under the control of the controller 15 of the in-line measuring device 3a.
Is operated, the slide table is moved from the imaging area to the measurement area by a predetermined movement amount, and the work is transported to the measurement area.

【0024】ワークの搬送が完了すると(S28)、測
定指令が転送され(S29)、PPプログラム実行部3
3が起動され、選択されたPPプログラムが実行され
る。PPプログラムは、プローブの移動量や選択プロー
ブを特定する情報等が変数として与えられており、様々
な大きさのワークに柔軟に対応できるようになってい
る。図13及び図14は、PPプログラムの一例を示す
図である。ここでV1,V2,V3,…,U9,U1
0,L9等は変数であり、これらに対応する数値は、画
像処理部55から与えられたり、PPプログラム内部の
演算によって求められ、変数レジスタ35に格納され
る。この例は、円筒の内径及び外径測定の例で、例えば
V1は円筒の深さ、V2は測定点数、V3は径、V20
は測定すべき断面数、U9はプローブ種類を示してい
る。
When the transfer of the work is completed (S28), the measurement command is transferred (S29), and the PP program execution unit 3
3 is started, and the selected PP program is executed. The PP program is provided with variables such as the amount of movement of the probe and information specifying the selected probe, and can flexibly cope with works of various sizes. 13 and 14 are diagrams illustrating an example of the PP program. Here, V1, V2, V3,..., U9, U1
Numerals 0, L9 and the like are variables. Numerical values corresponding to these variables are given from the image processing unit 55, obtained by an operation inside the PP program, and stored in the variable register 35. This example is an example of measuring the inner and outer diameters of a cylinder. For example, V1 is the depth of the cylinder, V2 is the number of measurement points, V3 is the diameter, V20
Indicates the number of sections to be measured, and U9 indicates the type of probe.

【0025】PPプログラム実行部33は、PPプログ
ラムの実行の過程で、変数レジスタ35の内容を随時参
照し、プローブの移動コマンドと必要な移動量とをコン
トローラ15に供給して三次元測定機11のタッチ・シ
グナル・プローブをPPプログラムに従って移動させ
る。これにより、自動測定が実行される。また、PPプ
ログラム実行部33は、この測定の過程で得られた実際
の三次元測定値から、ワークの位置を求め、予め与えら
れたワーク位置を実際の測定値から求めたワーク位置で
置き換える。これにより、以後の測定は、新たに求めら
れた正確なワーク位置を基準として実行される。
In the course of executing the PP program, the PP program execution unit 33 refers to the contents of the variable register 35 as needed, and supplies a probe movement command and a necessary movement amount to the controller 15 to supply the same to the CMM 11. Is moved according to the PP program. Thereby, automatic measurement is performed. In addition, the PP program execution unit 33 obtains the position of the work from the actual three-dimensional measurement values obtained in the course of the measurement, and replaces the predetermined work position with the work position obtained from the actual measurement values. As a result, the subsequent measurement is performed with reference to the newly obtained accurate work position.

【0026】測定が終了したら(S30)、インライン
測定機3aから制御統括装置5に測定データを伝送する
ように指令を出力し(S31)、測定データをシリアル
バス4を介して入力し(S32)、データ入出力部5
2、測定・制御結果解読部54及びシーケンス制御部5
8を介してワークの個別情報データベース57に測定デ
ータを格納する(S33)。そして、ステージ移動機構
12の搬出指令を出力して(S34)、ワークを測定領
域から撮像領域に移動させる。搬出が完了したら測定動
作を終了する(S35)。
When the measurement is completed (S30), a command to transmit the measurement data from the in-line measuring device 3a to the control and control device 5 is output (S31), and the measurement data is input via the serial bus 4 (S32). , Data input / output unit 5
2. Measurement / control result decoding unit 54 and sequence control unit 5
The measured data is stored in the individual information database 57 of the work through the interface 8 (S33). Then, a carry-out command of the stage moving mechanism 12 is output (S34), and the work is moved from the measurement area to the imaging area. When the unloading is completed, the measurement operation ends (S35).

【0027】図15及び図16は、以上の過程でインラ
イン測定機3aの外部制御装置17が実行すべき処理の
手順を示したフローチャートである。まず、指令又はイ
ベントは、制御統括装置5からの指令と三次元測定機1
1からのイベントとが存在するので、いずれからの指令
又はイベントかを確認し(S41)、制御統括装置5か
らの指令の場合には、その指令の内容に応じた処理を実
行する。この例では、指令として撮像指令(S42)、
PPプログラム選択指令(S44)、変数レジスタ格納
指令(S46)、ステージ搬入指令(S48)、測定指
令(S50)、測定データ送出指令(S52)及びステ
ージ搬出指令(S54)があるが、これらの指令に対し
て、それぞれ画像データのシリアルバス4への出力(S
43)、PPプログラムの選択指示(S45)、変数レ
ジスタの格納指示(S47)、ステージ搬入指示(S4
9)、測定指示(S51)、測定データのシリアルバス
4への送出(S53)、ステージ搬出指示(S55)を
それぞれ実行する。
FIGS. 15 and 16 are flowcharts showing the procedure of the process to be executed by the external control device 17 of the in-line measuring device 3a in the above process. First, a command or an event includes a command from the control control device 5 and the coordinate measuring machine 1.
Since there is an event from No. 1, it is checked from which command or event (S 41), and in the case of a command from the control and control device 5, a process corresponding to the content of the command is executed. In this example, as an instruction, an imaging instruction (S42),
There are a PP program selection command (S44), a variable register storage command (S46), a stage loading command (S48), a measurement command (S50), a measurement data sending command (S52), and a stage unloading command (S54). Output the image data to the serial bus 4 (S
43), a PP program selection instruction (S45), a variable register storage instruction (S47), a stage loading instruction (S4)
9), a measurement instruction (S51), transmission of measurement data to the serial bus 4 (S53), and a stage unloading instruction (S55) are executed.

【0028】また、三次元測定機11からのイベントの
場合(S61)、ステージ搬入完了イベント(S6
2)、測定完了イベント(S64)、ステージ搬出完了
イベント(S66)、ステージ異常イベント(S6
8)、測定異常イベント(S70)等が存在し、これら
イベントに対して、それぞれステージ搬入完了(S6
3)、測定完了(S65)、ステージ搬出完了(S6
7)、ステージ異常(S70)、測定異常(S72)を
それぞれ知らせる情報をシリアルバス4に出力する。
In the case of an event from the coordinate measuring machine 11 (S61), a stage loading completion event (S6)
2), measurement completion event (S64), stage unloading completion event (S66), stage abnormal event (S6)
8), a measurement abnormal event (S70), etc., and the stage loading is completed for each of these events (S6).
3) Measurement completed (S65), stage unloading completed (S6)
7) Output information to the serial bus 4 to notify the stage abnormality (S70) and the measurement abnormality (S72).

【0029】なお、制御統括装置5の外部制御装置44
も基本的にはこれと同様の処理を行うので、その詳細に
ついては割愛する。このシステムによれば、制御統括装
置5で各インライン測定機3a,3bのワークの情報を
統括的に認識し、その認識結果を各インライン測定機3
a,3bに返し、これによりPPプログラムの引数とし
て、またPPプログラムの選択に利用するようにしてい
るので、ワークの認識処理のための回路や認識処理に使
用するデータベース等の重複がなく、システムのコスト
低減とデータベースの変更のときの対処が容易であると
いう効果を奏する。
The external control device 44 of the control control device 5
Also performs basically the same processing as this, and thus details are omitted. According to this system, the control and supervising device 5 comprehensively recognizes the information of the work of each of the inline measuring devices 3a and 3b, and recognizes the recognition result.
a, 3b, which is used as an argument of the PP program and for selection of the PP program. Therefore, there is no duplication of a circuit for recognition processing of a work, a database used for recognition processing, and the like. This makes it possible to reduce the cost and easily cope with the change of the database.

【0030】なお、以上の実施例では、インライン測定
機3aにパターン別PPプログラムデータベース31及
びPPプログラム選択部32を設けたが、これを制御統
括装置5側に設け、選択されたPPプログラムを通信手
段を介して各インライン測定機に伝送するようにしても
良い。
In the above embodiment, the pattern-specific PP program database 31 and the PP program selecting section 32 are provided in the in-line measuring machine 3a, but these are provided in the control and control device 5 to communicate the selected PP program. The data may be transmitted to each in-line measuring device via the means.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、個
別情報生成のために必要な認識処理は、制御統括装置で
統括的に実行するようにしているので、認識に必要なデ
ータベースを各インライン測定機や工作機械等で共有す
ることができ、システムの無駄が省けるうえ、データベ
ースの更新等も統一的に行えるので、作業効率が向上す
るという効果を奏する。
As described above, according to the present invention, since the recognition processing required for generating individual information is performed by the control and control device in an integrated manner, a database required for recognition is created. Since it can be shared by each in-line measuring machine, machine tool, etc., the waste of the system can be reduced and the database can be updated in a unified manner.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施例に係るインライン測定システ
ムの概略ブロック図である。
FIG. 1 is a schematic block diagram of an in-line measurement system according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同システムのインライン測定機のブロック図
である。
FIG. 2 is a block diagram of an in-line measuring device of the system.

【図3】 同システムの他のインライン測定機のブロッ
ク図である。
FIG. 3 is a block diagram of another in-line measuring device of the same system.

【図4】 同インライン測定機の三次元測定機制御装置
の詳細機能ブロック図である。
FIG. 4 is a detailed functional block diagram of the coordinate measuring machine control device of the in-line measuring machine.

【図5】 同システムにおける制御統括装置のブロック
図である。
FIG. 5 is a block diagram of a control control device in the system.

【図6】 同制御統括装置の機能ブロック図である。
る。
FIG. 6 is a functional block diagram of the control control device.
You.

【図7】 同システムのタスク実行状態を示すタイムチ
ャートである。
FIG. 7 is a time chart showing a task execution state of the system.

【図8】 同システムの異常監視タスクを示すフローチ
ャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing an abnormality monitoring task of the system.

【図9】 同システムの測定シーケンス実行タスクのフ
ローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart of a measurement sequence execution task of the system.

【図10】 同システムの測定タスクのフローチャート
である。
FIG. 10 is a flowchart of a measurement task of the system.

【図11】 同システムにおける撮像装置による画像デ
ータの例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of image data obtained by an imaging device in the system.

【図12】 同システムにおける制御統括装置の画像処
理部の機能ブロック図である。
FIG. 12 is a functional block diagram of an image processing unit of the control control device in the system.

【図13】 同システムで使用されるPPプログラムの
一例を示す図である。
FIG. 13 is a diagram showing an example of a PP program used in the system.

【図14】 図14の続きのプログラムを示す図であ
る。
FIG. 14 is a diagram showing a program following FIG. 14;

【図15】 同システムにおける外部制御装置の処理手
順を示すフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart showing a processing procedure of an external control device in the system.

【図16】 図15の続きのフローチャートである。FIG. 16 is a continuation of the flowchart in FIG. 15;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…搬送装置、1a…搬送制御装置、2a〜2c…工作
機械、3a,3b…インライン測定機、4…シリアルバ
ス、5…制御統括装置。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Conveying apparatus, 1a ... Conveying control apparatus, 2a-2c ... Machine tool, 3a, 3b ... In-line measuring machine, 4 ... Serial bus, 5 ... Control supervision apparatus.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中澤 信行 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 小松 浩一 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 鈴木 浩二 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 吉木 良一 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 Fターム(参考) 2F069 AA04 AA31 AA99 GG01 GG04 GG07 GG58 HH30 JJ13 NN00 PP06  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Nobuyuki Nakazawa 1-1-20 Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Mitutoyo Co., Ltd. (72) Koichi Komatsu 1-1-20-1, Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa No. Mitutoyo Co., Ltd. (72) Inventor Koji Suzuki 1-20-1 Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture (72) Inventor Ryoichi Yoshiki 1-1-20 Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Shares F term (reference) in Mitutoyo Corporation 2F069 AA04 AA31 AA99 GG01 GG04 GG07 GG58 HH30 JJ13 NN00 PP06

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被測定物を搬送する搬送ラインに沿って
配置され前記搬送ライン上の被測定物を順次測定する1
又は複数のインライン測定機と、 前記インライン測定機を制御する制御統括装置と、 この制御統括装置と前記各インライン測定機との間で必
要な情報を転送する通信手段とを備えたインライン測定
システムであって、 前記制御統括装置は、前記搬送ライン上の被測定物の認
識に必要な情報を前記インライン測定機から前記通信手
段を介して導入し、この情報に基づいてデータベースを
参照して前記被測定物の個別情報を生成し前記通信手段
を介して前記インライン測定機に伝送するものであり、 前記インライン測定機は、被測定物の個別情報を通信手
段を介して導入し、この個別情報が引数として入力され
るパラメトリックパートプログラムに基づいて測定動作
を実行するものであることを特徴とするインライン測定
システム。
1. A measuring device arranged along a transport line for transporting an object to be measured and sequentially measuring the object on the transport line.
Or a plurality of in-line measuring machines, an in-line measuring system comprising a control device for controlling the in-line measuring device, and a communication means for transferring necessary information between the control controlling device and each of the in-line measuring devices. The control and control device introduces information necessary for recognizing the object to be measured on the transport line from the in-line measuring device via the communication means, and refers to a database based on the information to determine the object to be measured. The individual information of the measured object is generated and transmitted to the in-line measuring device via the communication unit.The in-line measuring device introduces the individual information of the device under test via the communication unit, and the individual information is An in-line measurement system for performing a measurement operation based on a parametric part program input as an argument.
【請求項2】 被測定物を搬送する搬送ラインに沿って
配置され前記搬送ライン上の被測定物を順次測定する1
又は複数のインライン測定機と、 前記インライン測定機を制御する制御統括装置と、 この制御統括装置と前記各インライン測定機との間で必
要な情報を転送する通信手段とを備えたインライン測定
システムであって、 前記制御統括装置は、前記搬送ライン上の被測定物の認
識に必要な情報を前記インライン測定機から前記通信手
段を介して導入し、この情報に基づいてデータベースを
参照して前記被測定物の個別情報を生成すると共に、こ
の個別情報が引数として入力されるパラメトリックパー
トプログラムを選択して個別情報と一緒に前記通信手段
を介して前記インライン測定機に伝送するものであり、 前記インライン測定機は、被測定物の個別情報及び選択
されたパラメトリックパートプログラムを通信手段を介
して導入し、前記個別情報が引数として入力される前記
パラメトリックパートプログラムに基づいて測定動作を
実行するものであることを特徴とするインライン測定シ
ステム。
2. A method for measuring an object to be measured on a transfer line, which is arranged along a transfer line for transferring the object to be measured.
Or a plurality of in-line measuring machines, an in-line measuring system comprising a control device for controlling the in-line measuring device, and a communication means for transferring necessary information between the control controlling device and each of the in-line measuring devices. The control and control device introduces information necessary for recognizing the object to be measured on the transport line from the in-line measuring device via the communication means, and refers to a database based on the information to determine the object to be measured. Generating individual information of the measurement object, selecting a parametric part program in which the individual information is input as an argument, and transmitting the selected parametric part program together with the individual information to the in-line measuring device via the communication means; The measuring device introduces the individual information of the device under test and the selected parametric part program through communication means, and An in-line measurement system for performing a measurement operation based on the parametric part program to which information is input as an argument.
【請求項3】 前記インライン測定機は、被測定物を撮
像する撮像手段を備えると共に、この撮像手段で得られ
た画像情報を前記被測定物の認識に必要な情報として前
記通信手段を介して前記制御統括装置に伝送し、 前記制御統括装置は、伝送された画像情報から被測定物
の形状及び位置を個別情報として認識する画像処理装置
を備えていることを特徴とする請求項1又は2記載のイ
ンライン測定システム。
3. The in-line measuring device includes an image pickup unit for picking up an image of an object to be measured, and converts image information obtained by the image pickup unit into information necessary for recognition of the object to be measured via the communication unit. The image processing apparatus according to claim 1, wherein the image processing apparatus transmits an image to the control control apparatus, and the control control apparatus includes an image processing apparatus that recognizes a shape and a position of the measured object from the transmitted image information as individual information. Inline measurement system as described.
【請求項4】 前記インライン測定機は、 前記パラメトリックパートプログラムを記憶したパート
プログラム格納手段と、 前記個別情報に基づいて前記パートプログラム格納手段
から1つのパートプログラムを選択するパートプログラ
ム選択手段と、 このパートプログラム選択手段で選択されたパートプロ
グラムに前記個別情報を引数として与えて実行するパー
トプログラム実行手段とを備えたものである請求項1記
載のインライン測定システム。
4. A part program storage means storing the parametric part program; a part program selection means for selecting one part program from the part program storage means based on the individual information; 2. The inline measurement system according to claim 1, further comprising: a part program executing means for executing the part program selected by the part program selecting means by giving the individual information as an argument.
【請求項5】 前記制御統括装置は、 前記パラメトリックパートプログラムを記憶したパート
プログラム格納手段と、 前記個別情報に基づいて前記パートプログラム格納手段
から1つのパートプログラムを選択するパートプログラ
ム選択手段と、 このパートプログラム選択手段で選択されたパートプロ
グラムを前記個別情報と共に前記通信手段を介して前記
インライン測定機に転送する手段とを備えたものである
請求項2記載のインライン測定システム。
5. The control and control device includes: a part program storage unit that stores the parametric part program; a part program selection unit that selects one part program from the part program storage unit based on the individual information; 3. The in-line measurement system according to claim 2, further comprising: means for transferring the part program selected by the part program selection means together with the individual information to the in-line measurement device via the communication means.
【請求項6】 前記搬送装置の被測定物の搬送に同期し
て、被測定物の個別情報を制御統括装置から前記通信手
段へ送出する請求項1又は2記載のインライン測定シス
テム。
6. The inline measurement system according to claim 1, wherein the individual information of the object to be measured is transmitted from the control and control device to the communication unit in synchronization with the conveyance of the object to be measured by the carrier device.
【請求項7】 前記制御統括装置は、前記被測定物の個
別情報と共に前記インライン測定機からの測定結果を格
納する個別情報データベースを備えたことを特徴とする
請求項1〜6のいずれか1項記載のインライン測定シス
テム。
7. The control control device according to claim 1, further comprising an individual information database for storing the measurement result from the in-line measuring device together with the individual information of the device under test. Inline measurement system according to the item.
【請求項8】 前記制御統括装置は、前記インライン測
定機からの異常イベントを常時監視するものであること
を特徴とする請求項1〜7のいずれか1項記載のインラ
イン測定システム。
8. The in-line measurement system according to claim 1, wherein the control and supervising device constantly monitors an abnormal event from the in-line measurement device.
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01175097A (en) * 1987-12-28 1989-07-11 Mitsutoyo Corp Measured data collecting processing system
JPH03100407A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measuring network system
JPH03100408A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measuring station for measuring network system
JPH03100409A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measurement supporting device
JPH0462410A (en) * 1990-06-30 1992-02-27 Mitsutoyo Corp Measurement assisting device
JPH06161533A (en) * 1992-11-25 1994-06-07 Sanyo Electric Co Ltd Control system for three-dimensional measuring device
JPH0719854A (en) * 1993-07-05 1995-01-20 Tokyo Seimitsu Co Ltd Automatic operating method for measuring instrument
JPH0814876A (en) * 1994-06-28 1996-01-19 Mitsutoyo Corp System for automatically measuring dimensions of workpiece
JPH10339630A (en) * 1997-06-10 1998-12-22 Mitsutoyo Corp 3-dimension measuring system

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01175097A (en) * 1987-12-28 1989-07-11 Mitsutoyo Corp Measured data collecting processing system
JPH03100407A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measuring network system
JPH03100408A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measuring station for measuring network system
JPH03100409A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Mitsutoyo Corp Measurement supporting device
JPH0462410A (en) * 1990-06-30 1992-02-27 Mitsutoyo Corp Measurement assisting device
JPH06161533A (en) * 1992-11-25 1994-06-07 Sanyo Electric Co Ltd Control system for three-dimensional measuring device
JPH0719854A (en) * 1993-07-05 1995-01-20 Tokyo Seimitsu Co Ltd Automatic operating method for measuring instrument
JPH0814876A (en) * 1994-06-28 1996-01-19 Mitsutoyo Corp System for automatically measuring dimensions of workpiece
JPH10339630A (en) * 1997-06-10 1998-12-22 Mitsutoyo Corp 3-dimension measuring system

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