JP2000051213A - Ultrasonic probe and ultrasonic diagnosing device - Google Patents

Ultrasonic probe and ultrasonic diagnosing device

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JP2000051213A
JP2000051213A JP10228054A JP22805498A JP2000051213A JP 2000051213 A JP2000051213 A JP 2000051213A JP 10228054 A JP10228054 A JP 10228054A JP 22805498 A JP22805498 A JP 22805498A JP 2000051213 A JP2000051213 A JP 2000051213A
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JP
Japan
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probe
connector
diagnostic apparatus
main body
ultrasonic diagnostic
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JP10228054A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Shibanuma
浩幸 芝沼
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the breakage of an electronic switch circuit in the connector of an ultrasonic probe by detecting the falling-off of the connector of the ultrasonic probe and the connector of an ultrasonic diagnosing device main body just before the falling-off and inhibiting a high voltage pulse. SOLUTION: The ultrasonic probe in the state of being freely attachable and detachable to/from the device main body is composed of a probe head 3 mounting plural oscillator 2, a probe connector 5 incorporating an electronic switch circuit 4 for switching electrical connection between the plural oscillators and the device main body and a cable 10 electrically connecting the plural oscillators 2 and the circuit 4. The connector 5 is provided with a power source pin 6 for fetching the driving power of the circuit 4, a signal pin 7 for fetching the driving signal of an oscillator, and short pins 8 and 9 for detecting the falling-off of a connector shorter than the pin 6 and the pin 7.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、駆動する振動子の
切換を、プローブコネクタに内蔵された電子スイッチ回
路により実現している超音波プローブ及び超音波診断装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic probe and an ultrasonic diagnostic apparatus in which switching of a vibrator to be driven is realized by an electronic switch circuit built in a probe connector.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波の医学的な応用としては種々の装
置があるが、その主流は超音波パルス反射法を用いて生
体の軟部組織の断層像を超音波診断装置である。この超
音波診断装置は無侵襲検査法で、組織の断層像を表示す
るものであり、X線診断装置、X線コンピュータ断層撮
影装置(CTスキャン)、磁気共鳴映像装置(MRI)
および核医学診断装置などの他の画像装置に比べて、リ
アルタイム表示が可能、装置が小型で安価、X線などの
被曝がなく安全性が高く、さらに超音波ドプラ法により
血流イメージングが可能であるなどの独自の特徴を有し
ている。
2. Description of the Related Art There are various medical applications of ultrasonic waves, and the mainstream is an ultrasonic diagnostic apparatus for tomographic images of soft tissues of a living body using an ultrasonic pulse reflection method. This ultrasonic diagnostic apparatus displays a tomographic image of a tissue by a non-invasive examination method, and includes an X-ray diagnostic apparatus, an X-ray computed tomography apparatus (CT scan), and a magnetic resonance imaging apparatus (MRI).
Compared with other imaging devices such as nuclear medicine diagnostic devices, real-time display is possible, the device is small and inexpensive, there is no exposure to X-rays, etc., and the blood flow imaging is possible by ultrasonic Doppler method. It has unique features such as

【0003】このため心臓、腹部、乳腺、泌尿器および
産婦人科などでその活用範囲は広い。特に、超音波プロ
ーブを体表から割り当てるだけの簡単な操作で心臓の拍
動や胎児の動きの様子がリアルタイム表示で得られ、か
つ安全性が高いため繰り返して検査が行えるほか、ベッ
ドサイドへ移動していっての検査も容易に行えるなど簡
便である。
[0003] For this reason, its utilization range is wide in heart, abdomen, mammary gland, urology, obstetrics and gynecology, and the like. In particular, heartbeats and fetal movements can be obtained on a real-time display with a simple operation simply by assigning an ultrasonic probe from the body surface, and it is highly safe, so repeated examinations can be performed and moving to the bedside The inspection is simple and easy.

【0004】このような超音波診断装置の多くは、診断
対象によって、様々な種類のプローブを装置本体を差し
替えられるようになっている。例えば、経直腸や経膣等
の体腔に挿入しやすいように棒状形態に作られている体
腔用プローブ、バイプレーンで観察できる経食道用プロ
ーブ、肋骨間から心臓等をのぞき見るのに適しているペ
ンシルタイプの心臓用プローブ、穿刺針ガイドの付いた
穿刺用プローブ、小児用の小さなプローブ、浅部から深
部まで広い視野を確保している腹部診断に最適なプロー
ブ等があり、今後はこのような専門化、多様化がますま
す進んでいく傾向にあるといえる。
[0004] In many of such ultrasonic diagnostic apparatuses, various types of probes can be replaced with the main body of the apparatus depending on the object to be diagnosed. For example, a probe for a body cavity formed in a rod shape so as to be easily inserted into a body cavity such as a transrectal or a vagina, a transesophageal probe observable on a biplane, and suitable for peeping a heart or the like from between ribs. Pencil-type heart probes, puncture probes with puncture needle guides, small children's probes, probes ideal for abdominal diagnosis that secure a wide field of view from shallow to deep, etc. It can be said that the specialization and diversification are more and more advanced.

【0005】このような傾向の中で例えばリニア電子走
査型の超音波プローブでは、図8に示すように、そのプ
ローブコネクタ51内に電子スイッチ回路52を装備し
て、コネクタピン、特に送信パルス(高電圧パルス)を
装置本体59から取り込み、またエコー信号を装置本体
59に受け渡すための信号ピン53の必要数をなるべく
少なくするものが登場している。リニア電子走査の動き
としては、周知の通り、プローブヘッド54内で一列に
並んでいる振動子55の中の例えば10個の振動子をひ
とまとめに駆動し、この10個の振動子を送受信毎に電
子的に順次切り換えていくものであり、この振動子の電
子的な切り換えを担当しているのが、電子スイッチ回路
52である。この電子スイッチ回路52は、C−MOS
トランジスタをスイッチ素子として構成されており、こ
の電源電圧はピン(電源ピン)6を介して装置本体59
から受けている。
In such a tendency, for example, in a linear electronic scanning type ultrasonic probe, as shown in FIG. 8, an electronic switch circuit 52 is provided in a probe connector 51, and connector pins, especially transmission pulses ( A device has been introduced in which the required number of signal pins 53 for taking in high-voltage pulses from the device main body 59 and transferring the echo signal to the device main body 59 is reduced as much as possible. As is well known, for example, the linear electronic scanning is performed by driving, for example, ten vibrators among the vibrators 55 arranged in a line in the probe head 54 at a time, and transmitting the ten vibrators every transmission and reception. Electronic switching is sequentially performed, and an electronic switch circuit 52 is in charge of electronically switching the vibrator. The electronic switch circuit 52 includes a C-MOS
The transistor is configured as a switch element, and this power supply voltage is supplied to the device main body 59 via a pin (power supply pin) 6.
Received from.

【0006】このようなプローブコネクタ51内に電子
スイッチ回路52を装備するタイプでは、電子スイッチ
回路52にその電源電圧が正常に印加されているか否か
を装置本体側で検知できる手段が不可欠である。これ
は、電子スイッチ回路52の破壊、その多くはC−MO
Sトランジスタの破壊を防止するためである。
In the type in which the electronic switch circuit 52 is provided in the probe connector 51, means for detecting whether or not the power supply voltage is normally applied to the electronic switch circuit 52 by the apparatus body is indispensable. . This is the destruction of the electronic switch circuit 52, many of which are C-MO
This is to prevent the destruction of the S transistor.

【0007】具体的には、電源ピン56の脱落や折れ、
さらには接触不良等の様々な原因により、電子スイッチ
回路52にその電源電圧が正常に印加されていないと
き、当然のこととして、C−MOSトランジスタは正常
に機能しない。例えば、オンすべきC−MOSトランジ
スタが実際にはオフの状態にあるという事態が起こり得
る。このような事態で、当該C−MOSトランジスタ
に、電源電圧の数十倍という非常に高い高電圧パルスが
印加されると、C−MOSトランジスタは一瞬にして破
壊されてしまう。これを防止するために、電子スイッチ
回路52にその電源電圧が正常に印加されているか否か
を装置本体側で検知して、もし、電子スイッチ回路52
にその電源電圧が正常に印加されていないときには、高
電圧パルスの印加を禁止(インヒビット)するのであ
る。
Specifically, the power supply pins 56 fall off or break,
Further, when the power supply voltage is not normally applied to the electronic switch circuit 52 due to various causes such as a contact failure or the like, the C-MOS transistor does not normally function normally. For example, a situation may occur in which a C-MOS transistor to be turned on is actually in an off state. In such a situation, when a very high voltage pulse of several tens times the power supply voltage is applied to the C-MOS transistor, the C-MOS transistor is instantaneously destroyed. In order to prevent this, the apparatus main body detects whether or not the power supply voltage is normally applied to the electronic switch circuit 52.
When the power supply voltage is not normally applied, the application of the high voltage pulse is inhibited (inhibited).

【0008】この検知手段の最も一般的な構造として
は、プローブコネクタ51内で電源ピン56の電圧を論
理積回路57で論理積にかけて、両電圧が正常であると
きに、論理積回路57からピン58を介して装置本体5
9に電源供給有無信号を“H”レベルで供給し、逆に、
両電圧のうち少なくとも一方が異常、つまり電圧が所定
レベルまで達していないときに、電源供給有無信号が
“L”レベルに切り換わるようになっている。一方、装
置本体59では、電源供給有無信号の信号レベルに従っ
て、“H”レベルでは送信パルス制御部からパルサにイ
ネーブル信号(許可信号)を出力し、逆に、“L”レベ
ルでは送信パルス制御部からパルサにインヒビット信号
(禁止信号)を出力して、高電圧パルスの出力を禁止す
るようになっている。
The most general structure of this detecting means is to multiply the voltage of the power supply pin 56 in the probe connector 51 by a logical product circuit 57 and, when both voltages are normal, the logical product circuit 57 Device body 5 through 58
9, the power supply presence / absence signal is supplied at the “H” level.
When at least one of the two voltages is abnormal, that is, when the voltage has not reached the predetermined level, the power supply presence / absence signal switches to the “L” level. On the other hand, in the device main body 59, according to the signal level of the power supply presence / absence signal, the transmission pulse control unit outputs an enable signal (permission signal) to the pulser at the "H" level, and conversely, the transmission pulse control unit at the "L" level. Outputs an inhibit signal (prohibition signal) to the pulser to prohibit the output of the high-voltage pulse.

【0009】しかし、このような検知手段には、次のよ
うな不具合が発生する可能性がある。図9に示すよう
に、電源ピンが装置本体側のコネクタのピンホールから
抜けてから、パルサがインヒビット状態になって高電圧
パルスが実際に停止されるまでに、極短時間とはいえあ
る程度のタイムラグΔt1があり、この間には高電圧パ
ルスの印加は継続されている。このとき万が一にも信号
ピンが接続状態にあれば、C−MOSトランジスタはお
そらく破壊されてしまう。
However, such a detecting means may have the following problems. As shown in FIG. 9, it takes a very short time from when the power supply pin is pulled out of the pinhole of the connector on the apparatus body side to when the pulsar enters the inhibit state and the high-voltage pulse is actually stopped. There is a time lag Δt1, during which application of the high voltage pulse is continued. If the signal pins are connected at this time, the C-MOS transistor will probably be destroyed.

【0010】このような状況、つまり電源ピンは抜けて
いるが、信号ピンは抜けていないという事態は、実際に
はそれほどの頻度で起こるとは考えられないが、通常は
検知用のピン58がピン配列の端に設けられているた
め、プローブコネクタが装置本体側のコネクタから斜め
に抜かれ又は斜めに脱落して電源ピンが信号ピンよりも
先に抜けてしまうという状況では起こる可能性がある。
[0010] Such a situation, that is, a situation where the power supply pin is disconnected but the signal pin is not disconnected is not considered to actually occur so frequently, but usually the detection pin 58 is not provided. Since the probe connector is provided at the end of the pin array, it may occur in a situation where the probe connector is obliquely detached or dropped obliquely from the connector on the device main body side, and the power supply pin comes out before the signal pin.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、超音
波プローブのコネクタと超音波診断装置本体のコネクタ
との脱落をその直前に検知して、高電圧パルスにインヒ
ビットをかけることにより、超音波プローブのコネクタ
内の電子スイッチ回路の破壊を防止することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to detect a disconnection between a connector of an ultrasonic probe and a connector of a main body of an ultrasonic diagnostic apparatus immediately before that, and apply an inhibit to a high voltage pulse to thereby realize an ultra-high voltage pulse. An object of the present invention is to prevent destruction of an electronic switch circuit in a connector of a sound wave probe.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明においては、プロ
ーブコネクタは、それに内蔵されている電子スイッチ回
路の駆動電力取り込み用の電源ピン及び振動子の駆動信
号取り込み用の信号ピンよりもコネクタ脱落検知用の短
ピンが短く構成されている。プローブコネクタが装置本
体側のコネクタから脱落するとき、コネクタ脱落検知用
の短ピンが、電源ピン及び信号ピンよりも必ず先に抜け
る。従って、電源ピン及び信号ピンが実際に抜ける前
に、高電圧パルスの発生をインヒビット(禁止)するこ
とができるので、電源ピンは抜けているが、信号ピンは
抜けていないという状態で、高電圧パルスが印加されて
しまい、電子スイッチ回路が破壊されるという事態を防
止することができる。
According to the present invention, a probe connector detects a connector drop more than a power supply pin for taking in drive power of an electronic switch circuit incorporated therein and a signal pin for taking in a drive signal of a vibrator. Short pin is configured to be short. When the probe connector falls off from the connector on the apparatus main body side, the short pins for detecting connector disconnection always come off before the power supply pins and the signal pins. Therefore, the generation of the high voltage pulse can be inhibited (prohibited) before the power supply pin and the signal pin are actually disconnected, so that the power supply pin is disconnected but the signal pin is not disconnected, and the high voltage pulse is generated. A situation in which a pulse is applied and the electronic switch circuit is destroyed can be prevented.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明を
好ましい実施形態により説明する。図1に、本実施形態
の主要部分であるところの超音波プローブのコネクタと
装置本体のコネクタとの接続部分の構成を示している。
超音波プローブ1は、複数の振動子2が装備されている
プローブヘッド3と、複数の振動子2と装置本体のコネ
クタ11との電気的な接続を切り替えるための電子スイ
ッチ回路4が内蔵されているプローブコネクタ5と、複
数の振動子2と電子スイッチ回路4とを電気的に接続す
るケーブル10とから構成されており、超音波診断装置
の装置本体とコネクタ5により着脱自在になっている。
例えばリニア電子走査であれば、プローブヘッド3の振
動子2の中の例えば10個の振動子をひとまとめに駆動
し、この10個の振動子を送受信毎に電子的に順次切り
換えていくものであり、この振動子の電子的な切り換え
を担当しているのが、電子スイッチ回路4である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a connection portion between a connector of an ultrasonic probe and a connector of an apparatus main body, which is a main portion of the present embodiment.
The ultrasonic probe 1 includes a probe head 3 provided with a plurality of transducers 2 and an electronic switch circuit 4 for switching electrical connection between the plurality of transducers 2 and the connector 11 of the apparatus main body. A probe connector 5 and a cable 10 for electrically connecting the plurality of transducers 2 and the electronic switch circuit 4 are provided, and are detachably attached to the ultrasonic diagnostic apparatus main body and the connector 5.
For example, in the case of linear electronic scanning, for example, ten vibrators in the vibrators 2 of the probe head 3 are collectively driven, and these ten vibrators are electronically switched for each transmission and reception. The electronic switching circuit 4 is responsible for electronically switching the vibrator.

【0014】プローブコネクタ5には、電子スイッチ回
路4の駆動電力取り込み用の電源ピン(第1コンタク
ト)6と、振動子の駆動信号取り込み用の信号ピン(第
2コンタクト)7と、図示しないが電子スイッチ回路4
のクロック信号や制御信号等のために必要なピンとが一
列又は複数列で配列されており、これらピン6,7の両
側に、ペアをなすコネクタ脱落検知用の短ピン(第3コ
ンタクト)8,9が分かれて配置されている。このペア
をなす短ピン8,9は、コネクタ5内部で電気的に接続
されている。
The probe connector 5 has a power supply pin (first contact) 6 for taking in the drive power of the electronic switch circuit 4 and a signal pin (second contact) 7 for taking in the drive signal of the vibrator (not shown). Electronic switch circuit 4
And pins necessary for a clock signal, a control signal, and the like are arranged in one or more rows, and short pins (third contacts) 8, 3 9 are arranged separately. The pair of short pins 8 and 9 are electrically connected inside the connector 5.

【0015】電源ピン6、信号ピン7、その他のピン
は、一定の長さで形成されている。一方、短ピン8,9
は、これら電源ピン6、信号ピン7、その他のピンより
も短く、ピン6,7の1/2の長さに又はピン6,7の
長さの1/2より短く形成されている。これにより、ス
キャン動作中に、不測の事態により、プローブコネクタ
1が装置本体側のコネクタ11から脱落するとき、コネ
クタ脱落検知用の短ピン8,9の少なくとも一方が、電
源ピン6及び信号ピン7よりも必ず先に抜けて、電源ピ
ン6及び信号ピン7が実際に抜ける前に、パルサからの
高電圧パルスの発生をインヒビット(禁止)することが
できるので、電源ピン6は抜けているが、信号ピン7は
抜けていないという状態で、高電圧パルスが印加されて
しまい、電子スイッチ回路4が破壊されるという事態を
防止することができる。この動作の詳細については、後
述する。
The power pins 6, the signal pins 7, and other pins are formed with a fixed length. On the other hand, short pins 8, 9
Are shorter than the power supply pins 6, the signal pins 7, and the other pins, and are formed to be half the length of the pins 6 and 7 or shorter than half the length of the pins 6 and 7. Accordingly, when the probe connector 1 falls off from the connector 11 on the apparatus main body side due to an unexpected situation during the scanning operation, at least one of the short pins 8 and 9 for detecting the connector falling off is connected to the power supply pin 6 and the signal pin 7. Before the power pin 6 and the signal pin 7 are actually released, the generation of the high-voltage pulse from the pulser can be inhibited (prohibited), so that the power pin 6 is disconnected. In a state where the signal pin 7 is not disconnected, it is possible to prevent a situation in which the high voltage pulse is applied and the electronic switch circuit 4 is destroyed. Details of this operation will be described later.

【0016】装置本体側のコネクタのピンホール16,
17,18,19にはそれぞれ、プローブ側のピン6,
7,8,9がそれぞれ挿入されて互いにコンタクトをと
るようになっている。電源ピン6に対応するピンホール
16は、電子スイッチ回路4のための電源の出力端子に
つながっている。信号ピン7に対応するピンホール17
は、高電圧パルス(送信パルス)を発生するパルサの出
力端子と受信回路内のプリアンプの入力端子につながっ
ている。
The connector pinholes 16 on the device body side
17, 18, and 19 respectively have pins 6 and 6 on the probe side.
7, 8, 9 are respectively inserted so as to make contact with each other. A pinhole 16 corresponding to the power supply pin 6 is connected to a power supply output terminal for the electronic switch circuit 4. Pinhole 17 corresponding to signal pin 7
Is connected to an output terminal of a pulser that generates a high-voltage pulse (transmission pulse) and an input terminal of a preamplifier in a receiving circuit.

【0017】一方の短ピン8に対応するピンホール18
は、装置本体内でVccという電源電圧を発生するコネク
タ脱落検知用の電源につながっている。また、他方の短
ピン9に対応するピンホール19は、装置本体内で接地
(GND)されている。これにより、短ピン8,9がそ
れぞれのピンホール18,19から抜けていなくてコン
タクトが正常であれば、ピンホール18の電位は降下す
るし、短ピン8,9の両方又はいずれか一方でもそれぞ
れのピンホール18,19から抜けていてコンタクトが
正常でなければ、ピンホール18の電位は降下しない。
両者の識別は、例えば、ピンホール18の電位を、電源
電圧Vccの略1/2に設定されている参照電圧Vref と
比較器20で比較することにより、実現することができ
る。比較器20の出力レベルは、例えば、短ピン8,9
がそれぞれのピンホール18,19から抜けていなくて
コンタクトが正常なとき、“L(low )”のレベルに維
持され、一方、短ピン8,9の両方又はいずれか一方で
もそれぞれのピンホール18,19から抜けていてコン
タクトが正常でないときには、“H(high)”のレベル
に変化する。
A pinhole 18 corresponding to one short pin 8
Is connected to a power supply for detecting connector disconnection which generates a power supply voltage of Vcc in the apparatus main body. A pinhole 19 corresponding to the other short pin 9 is grounded (GND) in the apparatus main body. Accordingly, if the short pins 8 and 9 are not removed from the respective pin holes 18 and 19 and the contact is normal, the potential of the pin hole 18 drops, and either or both of the short pins 8 and 9 are not generated. If the contact is not normal due to disconnection from the respective pinholes 18 and 19, the potential of the pinhole 18 does not drop.
The discrimination between the two can be realized, for example, by comparing the potential of the pinhole 18 with the reference voltage Vref set to approximately 略 of the power supply voltage Vcc by the comparator 20. The output level of the comparator 20 is, for example, the short pins 8, 9
Is maintained at the "L (low)" level when the contact is normal without disconnecting from the respective pinholes 18 and 19, while both or one of the short pins 8, 9 is in the respective pinholes 18 and 19. , 19, the contact is not normal and changes to the "H (high)" level.

【0018】比較器20の出力レベルがLのとき、送信
パルス制御部は、パルサにイネーブル信号(許可信号)
を出力して、振動子を駆動するための高周波の高電圧パ
ルスの発生を許可する。一方、比較器20の出力レベル
がLからHに変化したとき、送信パルス制御部は、パル
サにインヒビット信号(禁止信号)を出力して、振動子
を駆動するための高周波の高電圧パルスの発生を禁止す
る。
When the output level of the comparator 20 is L, the transmission pulse control section sends an enable signal (permission signal) to the pulser.
To allow generation of a high-frequency high-voltage pulse for driving the vibrator. On the other hand, when the output level of the comparator 20 changes from L to H, the transmission pulse control unit outputs an inhibit signal (prohibition signal) to the pulser to generate a high-frequency high-voltage pulse for driving the vibrator. Ban.

【0019】図2には、本実施形態によるスキャン動作
中に、不測の事態により、プローブコネクタ1が装置本
体側のコネクタ11から脱落するときのインヒビットの
動きについて示している。プローブコネクタ5が装置本
体側のコネクタ11から脱落しかかっているという状況
では、短ピン8,9は電源ピン6よりも短いので、短ピ
ン8,9の両方又はいずれか一方は、電源ピン6よりも
先に抜ける。換言すると、短ピン8,9の両方又はいず
れか一方が抜けてから、電源ピン6が抜けるまでに、タ
イムラグΔt2が生じる。
FIG. 2 shows the movement of the inhibit when the probe connector 1 drops off from the connector 11 of the apparatus main body due to an unexpected situation during the scanning operation according to the present embodiment. In a situation in which the probe connector 5 is coming off from the connector 11 on the apparatus main body side, the short pins 8 and 9 are shorter than the power supply pin 6, and therefore both or one of the short pins 8 and 9 is connected to the power supply pin 6. Also exits first. In other words, there is a time lag Δt2 from when one or both of the short pins 8 and 9 are disconnected to when the power pin 6 is disconnected.

【0020】短ピン8,9の両方又はいずれか一方が抜
けると、装置本体側のピンホール18の電位は降下す
る。これにより、比較器20の出力レベルはLからHに
変化する。この変化を受けて送信パルス制御部からパル
サにインヒビット信号が出力され、振動子を駆動するた
めの高周波の高電圧パルスの発生が禁止される。
When one or both of the short pins 8 and 9 are removed, the potential of the pinhole 18 on the apparatus main body side drops. As a result, the output level of the comparator 20 changes from L to H. In response to this change, an inhibit signal is output from the transmission pulse control unit to the pulser, and the generation of a high-frequency high-voltage pulse for driving the vibrator is prohibited.

【0021】ここで、短ピン8,9の両方又はいずれか
一方が実際に抜けてから、パルサがインヒビット状態に
なるまでのタイムラグはΔt1である。電子スイッチ回
路4の破壊は、電源ピン6は抜けているが、信号ピン7
は抜けていないという状況で、高電圧パルスが印加され
ることにより起こるのであるから、電源ピン6が抜ける
前にパルサにインヒビットがかかれば、電子スイッチ回
路4の破壊は防止できる。つまり、電子スイッチ回路4
の破壊の防止は、Δt1<Δt2という条件で実現され
得る。逆に言えば、パルサにインヒビットがかかる前
に、電源ピン6が抜けてしまえば、電子スイッチ回路4
は破壊されてしまう可能性がある。このような状況をで
きるだけ減らすには、短ピン8,9の両方又はいずれか
一方が実際に抜けてから、パルサがインヒビット状態に
なるまでのタイムラグΔt1は基本的に固定的であるの
で、短ピン8,9の両方又はいずれか一方が抜けてか
ら、電源ピン6が抜けるまでのタイムラグΔt2をでき
るだけ長くして、しかしその一方で短ピン8,9の両方
又はいずれか一方の抜けが敏感すぎてもいけないわけ
で、これら相反する仕様を考慮すると、発明者の試験に
よると、上述したように、短ピン8,9を、電源ピン
6、信号ピン7、その他のピンの1/2の長さにすれ
ば、殆どのケースで、Δt1<Δt2という条件を達成
して、電子スイッチ回路4の破壊を防止することができ
たものである。
Here, the time lag from when one or both of the short pins 8 and 9 are actually pulled out until the pulser enters the inhibit state is Δt1. When the electronic switch circuit 4 is broken, the power supply pin 6 is disconnected, but the signal pin 7 is disconnected.
This is caused by the application of a high-voltage pulse in a situation where the electronic switch circuit 4 has not been disconnected. Therefore, if the pulsar is inhibited before the power supply pin 6 is disconnected, the electronic switch circuit 4 can be prevented from being destroyed. That is, the electronic switch circuit 4
Can be achieved under the condition of Δt1 <Δt2. Conversely, if the power supply pin 6 is disconnected before the inhibit is applied to the pulsar, the electronic switch circuit 4
Could be destroyed. In order to reduce such a situation as much as possible, the time lag Δt1 from when one or both of the short pins 8 and 9 are actually removed to when the pulser enters the inhibit state is basically fixed. The time lag Δt2 from when one or both of the pins 8 and 9 are removed to when the power supply pin 6 is removed is made as long as possible, but on the other hand, the removal of both or one of the short pins 8 and 9 is too sensitive. Considering these conflicting specifications, according to the test of the inventor, as described above, the short pins 8 and 9 are connected to the power supply pin 6, the signal pin 7, and a half of the length of the other pins. Thus, in most cases, the condition of Δt1 <Δt2 is achieved, and the destruction of the electronic switch circuit 4 can be prevented.

【0022】なお、上述の説明では、短ピン8に対応す
る電源側のピンホール18の電位変化を比較器20でと
らえて、短ピン8,9の両方又はいずれか一方の抜けを
検知するようになっていたが、図3に示すように、短ピ
ン9に対応するグランド側のピンホール19の電位変化
を比較器20でとらえて、短ピン8,9の両方又はいず
れか一方の抜けを検知するようにしてもよい。
In the above description, the potential change of the pinhole 18 on the power supply side corresponding to the short pin 8 is detected by the comparator 20 to detect the omission of one or both of the short pins 8 and 9. As shown in FIG. 3, the potential change of the pinhole 19 on the ground side corresponding to the short pin 9 is captured by the comparator 20, and both or one of the short pins 8 and 9 is omitted. You may make it detect.

【0023】また、本実施形態は図4に示すようにピン
28が矩形(円形でも良い)の2次元状に配列されてい
るタイプのコネクタにも発展させることができる。この
ようなタイプでは、プローブコネクタ22が装置本体側
のコネクタ21から脱落する殆どのケースで、その四隅
のいずれかから始まるので、それをいち早く検知するこ
とができるように、四隅にコネクタ脱落検知用の短ピン
23,24,25,26を配置する。この4本の短ピン
23,24,25,26のうちいずれか1本でもピンホ
ール33,34,35,36から抜ければ、それを検知
できるように、4本の短ピン23,24,25,26の
うち3本の短ピン23,24,25にピンホール33,
34,35を介して個別に電源Vccに接続し、その3本
の短ピン23,24,25をコネクタ22内部で論理積
回路27を介して残りの短ピン26に接続する。そし
て、この短ピン26に対応するピンホール36の電位変
化を比較器20で捕らえる。このように構成すれば、プ
ローブコネクタ22が装置本体側のコネクタ21から四
隅のいずれかから脱落し始めても、それをいち早く検知
することができる。
The present embodiment can also be extended to a connector of a type in which the pins 28 are arranged in a two-dimensional rectangular (or circular) shape as shown in FIG. In such a type, in most cases where the probe connector 22 falls off from the connector 21 on the apparatus main body side, the probe connector 22 starts from one of the four corners. Short pins 23, 24, 25, 26 are arranged. If any one of the four short pins 23, 24, 25, 26 comes out of the pinholes 33, 34, 35, 36, the four short pins 23, 24, 25, 26 can be detected. , 26, three short pins 23, 24, 25 have pin holes 33,
The short pins 23, 24, 25 are individually connected to the power supply Vcc via 34, 35, and connected to the remaining short pins 26 via an AND circuit 27 inside the connector 22. Then, a change in the potential of the pinhole 36 corresponding to the short pin 26 is captured by the comparator 20. With this configuration, even if the probe connector 22 starts dropping from any of the four corners from the connector 21 on the apparatus main body side, it can be detected quickly.

【0024】また、本実施形態は、図5、図6に示すよ
うなレバーロック式コネクタにも適用できる。プローブ
コネクタ(プラグ)63を装置本体側のコネクタ(レセ
プタクル)62に差し込むと、プローブコネクタ63の
コンタクト65が、装置本体側のコネクタ62のコンタ
クトホール64に挿入され、またプローブコネクタ63
の棒状のアクチュエータ66が、装置本体側のコネクタ
62のアクチュエータホール68に挿入される。この状
態(図6(b))では、プローブコネクタ63のコンタ
クト65は、装置本体側のコネクタ62のコンタクトホ
ール64内のコンタクト67には電気的に結合されな
い。次に、レバー61を半回転することにより、アクチ
ュエータ66が移動し、それによりプローブコネクタ6
3のコンタクト65が押し下げられ、最終的に、装置本
体側のコネクタ62のコンタクトホール64内のコンタ
クト67に電気的に結合される。
This embodiment can also be applied to a lever lock type connector as shown in FIGS. When the probe connector (plug) 63 is inserted into the connector (receptacle) 62 on the device main body side, the contact 65 of the probe connector 63 is inserted into the contact hole 64 of the connector 62 on the device main body side.
Is inserted into the actuator hole 68 of the connector 62 on the apparatus main body side. In this state (FIG. 6B), the contacts 65 of the probe connector 63 are not electrically coupled to the contacts 67 in the contact holes 64 of the connector 62 on the apparatus main body side. Next, the actuator 66 is moved by half-turning the lever 61, whereby the probe connector 6 is moved.
The third contact 65 is pushed down, and is finally electrically connected to the contact 67 in the contact hole 64 of the connector 62 on the apparatus main body side.

【0025】プローブコネクタ63には、プローブコネ
クタ63内の電子スイッチ回路の駆動電力取り込み用の
電源コンタクト、電子スイッチ回路制御用のコンタク
ト、振動子の駆動信号取り込み用の信号コンタクト等の
他に、コネクタ脱落検知用のコンタクトが設けられてい
る。これに応じて、装置本体側のコネクタ62にも、電
源用コンタクト等の他に、コネクタ脱落検知用のコンタ
クトが設けられている。
The probe connector 63 includes a power contact for taking in drive power of an electronic switch circuit in the probe connector 63, a contact for controlling an electronic switch circuit, a signal contact for taking in a drive signal of an oscillator, and the like. A contact for drop-out detection is provided. Accordingly, the connector 62 on the apparatus main body side is also provided with a contact for detecting connector detachment in addition to the power supply contact and the like.

【0026】図7(a)に、プローブコネクタ63のコ
ネクタ脱落検知用のコンタクト71と、それに対応する
装置本体側のコネクタ62のコンタクト81とを示し、
図7(b)に、プローブコネクタ63の電源用のコンタ
クト72と、それに対応する装置本体側のコネクタ62
のコンタクト82とを示している。なお、電子スイッチ
回路制御用のコンタクト、振動子の駆動信号取り込み用
の信号コンタクト等は、図示した電源用のコンタクト7
2とコンタクト82と同じである。
FIG. 7A shows a contact 71 for detecting a connector dropout of the probe connector 63 and a corresponding contact 81 of the connector 62 on the apparatus main body side.
FIG. 7B shows a power supply contact 72 of the probe connector 63 and a corresponding connector 62 on the apparatus main body side.
Are shown. The contact for controlling the electronic switch circuit, the signal contact for taking in the drive signal of the vibrator, etc.
2 and the contact 82.

【0027】プローブコネクタ63のコネクタ脱落検知
用のコンタクト71に対応する装置本体側のコネクタ6
2のコンタクト81は、その先端部分が曲げられてい
る。一方、プローブコネクタ63の電源用のコンタクト
72に対応する装置本体側のコネクタ62のコンタクト
82は、曲げられていなくて、ストレートに形成されて
いる。このような構造上の違いにより、コンタクト7
1,72がそれぞれコンタクト81,82に電気的に結
合している状態から、不測の事態により、プローブコネ
クタ63が、装置本体側のコネクタ62から脱落すると
き、コネクタ脱落検知用のコンタクト71と装置本体側
のコンタクト81との電気的結合は、電源コンタクト7
2と装置本体側のコンタクト82との電気的結合より
も、先に切れる。
The connector 6 on the apparatus main body side corresponding to the contact 71 for detecting connector detachment of the probe connector 63.
The tip of the second contact 81 is bent. On the other hand, the contacts 82 of the connector 62 on the apparatus main body corresponding to the power contacts 72 of the probe connector 63 are not bent but formed straight. Due to such a structural difference, the contact 7
When the probe connector 63 drops off from the connector 62 on the apparatus main body side due to an unexpected situation from a state where the contacts 71 and 72 are electrically connected to the contacts 81 and 82, respectively, the contact 71 for detecting connector dropout and the apparatus The electrical connection with the main body side contact 81
2 is cut earlier than the electrical connection between the contact 2 and the contact 82 on the apparatus main body side.

【0028】このように構成すれば、プローブコネクタ
63が装置本体側のコネクタ62から脱落しても、それ
をいち早く検知して、電子スイッチ回路の駆動電源が切
れる前に振動子駆動用の高電圧パルスにインヒビットを
かけることができ、これにより、超音波プローブのコネ
クタ内の電子スイッチ回路の破壊を防止することができ
る。本発明は、上述してきたような実施形態に限定され
ることなく、種々変形して実施可能であることは言うま
でもない。
With this configuration, even if the probe connector 63 falls off from the connector 62 on the apparatus main body side, it is detected as soon as possible, and the high voltage for driving the vibrator is detected before the drive power of the electronic switch circuit is cut off. The pulse can be inhibited, thereby preventing the electronic switch circuit in the connector of the ultrasonic probe from being destroyed. It is needless to say that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented with various modifications.

【0029】[0029]

【発明の効果】本発明によれば、プローブコネクタは、
それに内蔵されている電子スイッチ回路の駆動電力取り
込み用の電源ピン及び振動子の駆動信号取り込み用の信
号ピンよりもコネクタ脱落検知用の短ピンが短いので、
プローブコネクタが装置本体側のコネクタから脱落する
とき、コネクタ脱落検知用の短ピンが、電源ピン及び信
号ピンよりも必ず先に抜ける。従って、電源ピン及び信
号ピンが実際に抜ける前に、高電圧パルスの発生をイン
ヒビット(禁止)することができるので、電源ピンは抜
けているが、信号ピンは抜けていないという状態で、高
電圧パルスが印加されてしまい、電子スイッチ回路が破
壊されるという事態を防止することができる。
According to the present invention, the probe connector comprises:
Since the short pin for detecting the connector dropout is shorter than the power supply pin for capturing the driving power of the electronic switch circuit incorporated therein and the signal pin for capturing the driving signal of the vibrator,
When the probe connector falls off from the connector on the apparatus main body side, the short pins for detecting connector disconnection always come off before the power supply pins and the signal pins. Therefore, the generation of the high voltage pulse can be inhibited (prohibited) before the power supply pin and the signal pin are actually disconnected, so that the power supply pin is disconnected but the signal pin is not disconnected, and the high voltage pulse is generated. A situation in which a pulse is applied and the electronic switch circuit is destroyed can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る超音波診断装置本体と
プローブ部とのコネクタ部分の構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram of a connector portion between an ultrasonic diagnostic apparatus main body and a probe section according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の構成によるコネクタ脱落時のインヒビッ
ト動作のタイミング図。
FIG. 2 is a timing chart of an inhibit operation at the time of disconnection of a connector according to the configuration of FIG. 1;

【図3】第1の変形例による超音波診断装置本体とプロ
ーブ部とのコネクタ部分の構成図。
FIG. 3 is a configuration diagram of a connector part between an ultrasonic diagnostic apparatus main body and a probe unit according to a first modified example.

【図4】第2の変形例による超音波診断装置本体とプロ
ーブ部とのコネクタ部分の構成図。
FIG. 4 is a configuration diagram of a connector part between an ultrasonic diagnostic apparatus main body and a probe unit according to a second modified example.

【図5】第3の変形例による超音波診断装置本体側のコ
ネクタの外観図。
FIG. 5 is an external view of a connector on the ultrasonic diagnostic apparatus main body side according to a third modified example.

【図6】図5のプローブコネクタと超音波診断装置本体
側のコネクタとの電気的結合の手順を示す断面図。
FIG. 6 is an exemplary sectional view showing a procedure of electrical connection between the probe connector of FIG. 5 and a connector on the ultrasonic diagnostic apparatus main body side;

【図7】第3の変形例におけるコネクタ脱落検知用のコ
ンタクトと電源コンタクトとの比較図。
FIG. 7 is a diagram illustrating a comparison between a contact for detecting connector detachment and a power supply contact according to a third modified example.

【図8】従来の超音波診断装置本体とプローブ部とのコ
ネクタ部分の構成図。
FIG. 8 is a configuration diagram of a connector part between a conventional ultrasonic diagnostic apparatus main body and a probe part.

【図9】図8の構成によるコネクタ脱落時のインヒビッ
ト動作のタイミング図。
FIG. 9 is a timing chart of an inhibit operation at the time of disconnection of the connector according to the configuration of FIG. 8;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…プローブ、 2…振動子、 3…プローブヘッド、 4…電子スイッチ回路、 5…プローブコネクタ(プラグ)、 6…電源ピン、 7…信号ピン、 8…コネクタ脱落検知用の短ピン、 9…コネクタ脱落検知用の短ピン、 10…ケーブル、 11…装置本体側コネクタ(レセプタクル)、 16…電源ピンホール、 17…信号ピンホール、 18…短ピンホール、 19…短ピンホール、 20…比較器。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Probe, 2 ... Vibrator, 3 ... Probe head, 4 ... Electronic switch circuit, 5 ... Probe connector (plug), 6 ... Power supply pin, 7 ... Signal pin, 8 ... Short pin for detecting connector detachment, 9 ... Short pin for detecting connector detachment, 10: Cable, 11: Connector (receptacle) on the device body side, 16: Power pin hole, 17: Signal pin hole, 18: Short pin hole, 19: Short pin hole, 20: Comparator .

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 超音波診断装置本体と着脱自在に構成さ
れている超音波プローブにおいて、 複数の振動子が装備されているプローブヘッドと、前記
複数の振動子と前記超音波診断装置本体との電気的な接
続を切り替えるための電子スイッチ回路が内蔵されてい
るプローブコネクタと、前記複数の振動子と前記電子ス
イッチ回路とを電気的に接続するケーブルとから構成さ
れ、 前記プローブコネクタには、前記電子スイッチ回路の駆
動電力取り込み用の電源ピンと、前記振動子の駆動信号
取り込み用の信号ピンと、前記電源ピン及び前記信号ピ
ンよりも短いコネクタ脱落検知用の短ピンとが設けられ
ていることを特徴とする超音波プローブ。
1. An ultrasonic probe detachably mounted on an ultrasonic diagnostic apparatus main body, comprising: a probe head provided with a plurality of transducers; and a plurality of transducers and the ultrasonic diagnostic apparatus main body. A probe connector having a built-in electronic switch circuit for switching electrical connection; and a cable for electrically connecting the plurality of vibrators and the electronic switch circuit. A power supply pin for capturing drive power of an electronic switch circuit, a signal pin for capturing a drive signal of the vibrator, and a short pin for detecting connector disconnection shorter than the power supply pin and the signal pin are provided. Ultrasonic probe.
【請求項2】 前記短ピンはペアで設けられ、このペア
の短ピンは前記プローブコネクタ内で電気的に接続され
ていることを特徴とする請求項1記載の超音波プロー
ブ。
2. The ultrasonic probe according to claim 1, wherein the short pins are provided in pairs, and the short pins of the pair are electrically connected in the probe connector.
【請求項3】 前記短ピンは複数設けられ、この複数の
短ピンのうちの1つには残りの短ピンが前記プローブコ
ネクタ内で論理積回路を介して電気的に接続されている
ことを特徴とする請求項1記載の超音波プローブ。
3. The method according to claim 1, wherein a plurality of the short pins are provided, and one of the plurality of short pins is electrically connected to a remaining short pin via an AND circuit in the probe connector. The ultrasonic probe according to claim 1, wherein:
【請求項4】 超音波診断装置本体と着脱自在に構成さ
れている超音波プローブにおいて、 複数の振動子が装備されているプローブヘッドと、前記
複数の振動子と前記超音波診断装置本体との電気的な接
続を切り替えるための電子スイッチ回路が内蔵されてい
るプローブコネクタと、前記複数の振動子と前記電子ス
イッチ回路とを電気的に接続するケーブルとから構成さ
れ、 前記プローブコネクタには、前記電子スイッチ回路の駆
動電力取り込み用の第1コンタクトと、前記振動子の駆
動信号取り込み用の第2コンタクトと、前記第1コンタ
クト及び前記第2コンタクトよりも先に前記超音波診断
装置本体側との電気的な接続が切れるように構成されて
いるコネクタ脱落検知用の第3コンタクトとが設けられ
ていることを特徴とする超音波プローブ。
4. An ultrasonic probe configured to be detachable from an ultrasonic diagnostic apparatus main body, comprising: a probe head provided with a plurality of transducers; and a plurality of transducers and the ultrasonic diagnostic apparatus main body. A probe connector having a built-in electronic switch circuit for switching electrical connection; and a cable for electrically connecting the plurality of vibrators and the electronic switch circuit. A first contact for capturing drive power of an electronic switch circuit, a second contact for capturing drive signal of the vibrator, and the first contact and the second contact before the ultrasonic diagnostic apparatus main body side. An ultrasonic probe provided with a third contact for detecting disconnection of a connector, which is configured to disconnect the electrical connection. Over drive.
【請求項5】 前記第3コンタクトはペアで設けられ、
このペアの第3コンタクトは前記プローブコネクタ内で
電気的に接続されていることを特徴とする請求項4記載
の超音波プローブ。
5. The third contact is provided as a pair,
The ultrasonic probe according to claim 4, wherein the third contacts of the pair are electrically connected within the probe connector.
【請求項6】 前記第3コンタクトは複数設けられ、こ
の複数の第3コンタクトのうちの1つには残りの第3コ
ンタクトが前記プローブコネクタ内で論理積回路を介し
て電気的に接続されていることを特徴とする請求項4記
載の超音波プローブ。
6. A plurality of the third contacts are provided, and one of the plurality of third contacts is electrically connected to a remaining third contact via an AND circuit in the probe connector. The ultrasonic probe according to claim 4, wherein:
【請求項7】 超音波診断装置本体と、この超音波診断
装置本体と着脱自在に構成されている超音波プローブと
からなる超音波診断装置において、 前記超音波プローブは、複数の振動子が装備されている
プローブヘッドと、前記複数の振動子と前記超音波診断
装置本体との電気的な接続を切り替えるための電子スイ
ッチ回路が内蔵されているプローブコネクタと、前記複
数の振動子と前記電子スイッチ回路とを電気的に接続す
るケーブルとから構成され、 前記プローブコネクタには、前記電子スイッチ回路の駆
動電力取り込み用の電源ピンと、前記振動子の駆動信号
取り込み用の信号ピンと、前記電源ピン及び前記信号ピ
ンよりも短いコネクタ脱落検知用の短ピンとが設けら
れ、 前記超音波診断装置本体には、前記短ピンの電圧変化に
より前記プローブコネクタの脱落を検知する検知手段が
設けられていることを特徴とする超音波診断装置。
7. An ultrasonic diagnostic apparatus comprising an ultrasonic diagnostic apparatus main body and an ultrasonic probe detachably mounted on the ultrasonic diagnostic apparatus main body, wherein the ultrasonic probe is equipped with a plurality of transducers. Probe head, a probe connector having a built-in electronic switch circuit for switching electrical connection between the plurality of transducers and the ultrasonic diagnostic apparatus main body, and the plurality of transducers and the electronic switch. A cable for electrically connecting a circuit, and the probe connector has a power pin for capturing driving power of the electronic switch circuit, a signal pin for capturing driving signal of the vibrator, the power pin and the power pin. A short pin for detecting connector disconnection that is shorter than the signal pin; and the ultrasonic diagnostic apparatus main body is provided with a short pin due to a voltage change of the short pin. An ultrasonic diagnostic apparatus, further comprising a detecting means for detecting a drop of the probe connector.
【請求項8】 前記短ピンはペアで設けられ、このペア
の短ピンは前記プローブコネクタ内で電気的に接続され
ていて、 前記超音波診断装置本体の前記検知手段には前記ペアの
短ピンの一方に電圧を印加するための手段と、前記ペア
の短ピンの他方の電圧を参照電圧と比較するための手段
とを有することを特徴とする請求項7記載の超音波診断
装置。
8. The short pins of the pair are provided in pairs, and the short pins of the pair are electrically connected in the probe connector, and the detecting means of the ultrasonic diagnostic apparatus main body includes the short pins of the pair. 8. The ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 7, further comprising: means for applying a voltage to one of the pair, and means for comparing the other voltage of the short pins of the pair with a reference voltage.
【請求項9】 前記短ピンは複数設けられ、この複数の
短ピンのうちの1つには残りの短ピンが前記プローブコ
ネクタ内で論理積回路を介して電気的に接続されてい
て、 前記超音波診断装置本体の前記検知手段には前記残りの
短ピン各々に電圧を印加するための手段と、前記論理積
回路の出力を入力するための手段とを有することを特徴
とする請求項7記載の超音波診断装置。
9. A plurality of short pins are provided, and one of the plurality of short pins is electrically connected to a remaining short pin via an AND circuit in the probe connector, 8. The ultrasonic diagnostic apparatus body according to claim 7, wherein the detecting means includes means for applying a voltage to each of the remaining short pins, and means for inputting an output of the AND circuit. An ultrasonic diagnostic apparatus as described in the above.
【請求項10】 超音波診断装置本体と、この超音波診
断装置本体と着脱自在に構成されている超音波プローブ
とからなる超音波診断装置において、 前記超音波プローブは、複数の振動子が装備されている
プローブヘッドと、前記複数の振動子と前記超音波診断
装置本体との電気的な接続を切り替えるための電子スイ
ッチ回路が内蔵されているプローブコネクタと、前記複
数の振動子と前記電子スイッチ回路とを電気的に接続す
るケーブルとから構成され、 前記プローブコネクタには、前記電子スイッチ回路の駆
動電力取り込み用の第1コンタクトと、前記振動子の駆
動信号取り込み用の第2コンタクトと、前記第1コンタ
クト及び前記第2コンタクトよりも先に前記超音波診断
装置本体側との電気的な接続が切れるように構成されて
いるコネクタ脱落検知用の第3コンタクトとが設けら
れ、 前記超音波診断装置本体には、前記短ピンの電圧変化に
より前記プローブコネクタの脱落を検知する手段が設け
られていることを特徴とする超音波診断装置。
10. An ultrasonic diagnostic apparatus comprising: an ultrasonic diagnostic apparatus main body; and an ultrasonic probe detachably mounted on the ultrasonic diagnostic apparatus main body, wherein the ultrasonic probe is provided with a plurality of transducers. Probe head, a probe connector having a built-in electronic switch circuit for switching electrical connection between the plurality of transducers and the ultrasonic diagnostic apparatus main body, and the plurality of transducers and the electronic switch. A cable for electrically connecting a circuit, a first contact for capturing drive power of the electronic switch circuit, a second contact for capturing drive signal of the vibrator, A connector configured to disconnect the electrical connection with the ultrasonic diagnostic apparatus main body before the first contact and the second contact. A third contact for detecting dropout of the probe connector; and a means for detecting dropping of the probe connector by a voltage change of the short pin in the ultrasonic diagnostic apparatus main body. Diagnostic device.
【請求項11】 前記第3コンタクトはペアで設けら
れ、このペアの第3コンタクトは前記プローブコネクタ
内で電気的に接続されていて、 前記超音波診断装置本体の前記検知手段には前記ペアの
第3コンタクトの一方に電圧を印加するための手段と、
前記ペアの第3コンタクトの他方の電圧を参照電圧と比
較するための手段とを有することを特徴とする請求項1
0記載の超音波診断装置。
11. The third contact is provided in a pair, the third contact of the pair is electrically connected in the probe connector, and the detecting means of the ultrasonic diagnostic apparatus main body includes the third contact of the pair. Means for applying a voltage to one of the third contacts;
Means for comparing the other voltage of the third contact of the pair with a reference voltage.
0. The ultrasonic diagnostic apparatus according to item 0.
【請求項12】 前記第3コンタクトは複数設けられ、
この複数の第3コンタクトのうちの1つには残りの第3
コンタクトが前記プローブコネクタ内で論理積回路を介
して電気的に接続されていて、 前記超音波診断装置本体の前記検知手段には前記残りの
第3コンタクト各々に電圧を印加するための手段と、前
記論理積回路の出力を入力するための手段とを有するこ
とを特徴とする請求項10記載の超音波診断装置。
12. A plurality of third contacts are provided,
One of the plurality of third contacts has a remaining third contact.
Means for applying a voltage to each of the remaining third contacts to the detection means of the ultrasonic diagnostic apparatus main body, wherein the contacts are electrically connected via a logical product circuit in the probe connector; 11. An ultrasonic diagnostic apparatus according to claim 10, further comprising means for inputting an output of said AND circuit.
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