JP2000029980A - 光学的読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ＬＥＤ光源の経年変化による劣化を自動的に補
償して製品寿命を延ばし、長期にわたり十分な読み取り
能力を維持できる光学的読取装置を提供する。 【解決手段】ＬＥＤ光源の劣化を経年時間で推定する。
３００００時間の経過で（Ｓ４０：ＹＥＳ）、劣化補償
処理その１を実行し（Ｓ６０）、５００００時間の経過
で（Ｓ７０：ＹＥＳ）、劣化補償処理その２を実行する
（Ｓ８０）。補償処理は、例えば受光手段の露光時間を
長くして直接的に受光手段での受光量を増加させて実現
したり、発光手段における発光量を増加させることで、
結果として受光手段における受光量を増加させる。ま
た、受光手段が受光可能な状態にある時間帯内での、発
光手段の発光時間を長くして受光量を増加させたり、受
光手段への反射光の通過が絞りにより制限されている構
成であれば、絞り開時間を調節して受光量を増加させる
こともできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、バーコードなどの
読み取り対象に光を照射し、その反射光から読み取り対
象の画像を読み取る光学的読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】記録票等に記録されたバーコード等を光
学的センサに結像して、そのバーコード等の情報を読み
取る光学的読取装置が存在する。このような光学的読取
装置の良く知られた例はバーコードリーダであり、ＬＥ
Ｄ光源を用いた発光手段からの照射光をバーコードに照
射することで、バーコードからの反射光をＣＣＤセンサ
などの受光手段に結像し、この受光手段にてバーコード
の画像を読み取り、更に、その明暗パターンからバーコ
ードが表している情報を解読するものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このような光学的読取
装置は、寿命等により光源が劣化して輝度が低下した場
合には、画像の明暗パターンが不明確となり解読に失敗
し易くなる。このように解読失敗を繰り返すようになる
と、光学的読取装置のユーザは、光学的読取装置の寿命
が来たものとして光学的読取装置自体や内部の回路を取
り替えたり、あるいは光学的読取装置が故障であるとし
て、修理に出す必要があった。

【０００４】しかし、光学的読取装置自体の寿命や故障
と考えられる場合には、発光ダイオード（以下、ＬＥ
Ｄ）等の光源の劣化を原因とする場合が多く存在する。
光源が劣化している場合には、光源自体の調整処理、あ
るいは他の手段での受光光量の補正をすれば、正常に解
読できる状態に戻すことができる。このため、光学的読
取装置自体あるいは回路を取り替えたりするよりも、コ
スト的に極めて有利である処置を採用することができ
る。

【０００５】そして、この光源の劣化の原因として最も
多く考えられるのがいわゆる寿命によるもの、すなわち
経年変化による劣化である。そこで本発明は、ＬＥＤ光
源の経年変化による劣化を推定し、自動的に補償処理を
実行することで、製品寿命自体を延ばし、長期にわたっ
て十分な読み取り能力を維持できる光学的読取装置を提
供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段及び発明の効果】上記目的
を達成するためになされた請求項１記載の光学的読取装
置は、発光ダイオード光源を用いた発光手段からの照射
光を読み取り対象に照射することで、読み取り対象から
の反射光を受光手段に結像し、受光手段にて読み取り対
象の画像を読み取る。このような読み取り動作をしてい
る際、積算時間計測手段は、発光手段による使用積算時
間を計測する。そして、推定手段が、その積算時間記憶
手段によって計測された使用積算時間に基づいて発光手
段が劣化したかどうかを推定し、推定手段での推定結果
が発光手段の劣化を示している場合には、補正手段が受
光手段の受光量を増加させる処理を行う。

【０００７】発光手段の劣化の原因として最も多く考え
られるのがいわゆる寿命によるもの、すなわち経年変化
によるＬＥＤ光源の輝度低下である。したがって、発光
手段の使用積算時間に基づけば、経年変化によるＬＥＤ
光源の輝度の低下、つまり劣化を推定することができ
る。具体的には、劣化度合いの試験を行い、どの程度の
経年変化でどの程度の劣化が生じるかを予め確認してお
き、そのデータに基づいて劣化を推定する積算時間を決
定するようにすればよい。

【０００８】本発明の光学的読取装置は、このようにＬ
ＥＤ光源の経年変化による劣化を推定し、ある一定時間
経過していれば受光手段の受光量を増加させる処理を行
うことで、製品寿命自体を延ばすことを可能とし、コス
トや資源の無駄を避けることができるようになる。

【０００９】補正手段による受光量の増加は、例えば受
光手段の露光時間を長くすることにより達成できる（請
求項２参照）。この場合、受光手段の露光時間がシャッ
タにより制限されている構成であれば、補正手段は、シ
ャッタを開く時間を長くすることにより、露光時間を長
くさせることができる（請求項３参照）。

【００１０】また発光手段における発光量を増加させる
ことにより、結果として、受光手段における受光量を増
加させることができる（請求項４参照）。また、受光手
段が受光可能な状態にある時間帯内での、発光手段の発
光時間を長くすることにより、受光量を増加させること
ができる（請求項５参照）。

【００１１】また、受光手段への反射光の通過が絞りに
より制限されている構成であれば、補正手段は、絞りを
開くことにより、受光量を増加させることができる（請
求項６参照）。一方、積算時間計測手段による使用積算
時間の計測に関しては、例えば光学的読取装置において
電源がＯＮした時点からＯＦＦされるまでの時間を使用
時間と考え、それを積算するようにしてもよいが、発光
手段がＬＥＤ光源の点滅によって照射光を断続的に出し
ている場合には、その点滅動作の内の点灯時間のみを使
用時間として考え、それを積算するようにしてもよい。

【００１２】ところで、推定手段における推定及びその
推定結果に基づく補正手段の補正に関しては、例えば唯
一の推定時間を決めておき、積算時間がその推定時間を
超えた場合に１回だけ補正するようにしてもよいが、請
求項７に示すように、推定手段は発光手段の劣化度合い
を複数段階で推定し、補正手段は、その推定手段にて推
定された劣化度合いに応じた複数段階の補正を実行する
ようにしてもよい。例えば、３００００時間と５０００
０時間という２つの推定時間を準備しておき、それぞれ
の推定時間を超えた時点で、各推定時間に対応する補正
を行うのである。上述したように、劣化度合いの試験を
行い、例えばＬＥＤ光源の輝度が１０％劣化する経年時
間と２０％劣化する経年時間を各推定時間とすればよ
い。そして、この場合には、１０％，２０％の劣化をそ
れぞれ補正できるような補正内容とすればよい。

【００１３】一方、請求項８に示すように、発光量や受
光量を大きくするのではなく、増幅率補正手段を設け
て、推定手段での推定結果が発光手段の劣化を示してい
る場合には、増幅率補正手段が受光手段の出力波形の増
幅率を高める処理を行うようにしても良い。このように
すると、発光手段の劣化に伴い受光手段における受光量
が低下したため画像自体の明暗差が小さくなったとして
も、増幅により十分な明暗の差を得ることができる。光
学的読取装置は、長期にわたって十分な読み取り能力を
維持できる。

【００１４】もちろん、請求項９に示すように、増幅率
補正手段に加えて上述の補正手段を備え、増幅率の補正
及び受光手段の受光量を増加させる補正を共に行うよう
にしてもよい。なお、上述した光学的読取装置の各手段
をコンピュータシステムにて実現する機能は、例えば、
コンピュータシステム側で起動するプログラムとして備
えることができる。このようなプログラムの場合、例え
ば、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ、ハードディスク等のコンピュータ読み取り可能な記
録媒体に記録し、必要に応じてコンピュータシステムに
ロードして起動することにより用いることができる。こ
の他、ＲＯＭやバックアップＲＡＭをコンピュータ読み
取り可能な記録媒体として前記プログラムを記録してお
き、このＲＯＭあるいはバックアップＲＡＭをコンピュ
ータシステムに組み込んで用いても良い。

【００１５】

【発明の実施の形態】［実施の形態１］本発明の一実施
の形態について、図に基づいて説明する。図１はバーコ
ードリーダ４の概略断面図であり、図２はその制御系統
のブロック図である。

【００１６】バーコードリーダ４は、ケース１２、読取
部１４、データ処理出力部１６などを備えている。ケー
ス１２の前方部の内部には読取部１４が配置され、ま
た、ケース１２の後方部は操作者が手で握るための把持
部２０を形成している。ケース１２の前方部の下部に
は、読取口２２が設けられ、読取口２２の奥には、防塵
プレート２４が配置されて、読取口２２を閉塞してい
る。このことにより、塵が読取口２２からケース１２内
部に侵入するのを防止している。また、防塵プレート２
４は、少なくとも下に述べる読み取り光としての赤色の
光は通過可能である。

【００１７】読取部１４は、照明用赤色発光ダイオード
２６（発光手段に該当）、発光駆動回路２８、集光レン
ズ３０、反射鏡３２、結像レンズ部３４および光学的セ
ンサ３６（受光手段に該当）を備えている。発光駆動回
路２８により照明用赤色発光ダイオード２６が発光する
と、その赤色光は防塵プレート２４を通過して、ケース
１２外部のバーコード８を照射する。ここでは、バーコ
ード８は読取口２２にほぼ接触された状態で赤色光に照
射される。

【００１８】バーコード８により反射された赤色光は、
再度、防塵プレート２４からケース１２内に入り、反射
鏡３２で反射されて結像レンズ部３４に入射し、受光素
子がリニアに一列配列された光学的センサ３６にバーコ
ード８の像を、その各バーの配列方向と光学的センサ３
６の受光素子の配列方向とが同じ方向で結像させる。こ
のバーコード８の像を光電変換して読み取った光学的セ
ンサ３６は、像のパターンを表す電気信号としてデータ
処理出力部１６側に出力する。

【００１９】ケース１２内部のデータ処理出力部１６に
は、基板３８上に、波形整形部４０、メモリ４２、マイ
クロコンピュータ４４、およびレジスタやホストコンピ
ュータ等の本体装置への出力回路４６が備えられてい
る。データ処理出力部１６は、読取部１４からバーコー
ド８の読み取りデータを、波形整形部４０を介して入力
すると、マイクロコンピュータ４４の処理により、その
データをデコード（解読）して、バーコード８が表して
いる情報を得、その情報をメモリ４２に一旦記憶する。
次に、このメモリ４２内に記憶された情報を出力回路４
６により、所定タイミングで、光や電波による無線通信
あるいはケーブルを通して本体装置へ送信する。

【００２０】また読取部１４が収納されている部分の、
光路に影響しない位置に、ブザー装置４８が設けられ、
マイクロコンピュータ４４にてバーコード８のデコード
に成功した場合に、ブザー装置４８を鳴動させるように
している。マイクロコンピュータ４４は、ＣＰＵ，ＲＯ
Ｍ，ＲＡＭ，Ｉ／Ｏ等を備えて、上述したデータ処理出
力部１６として必要な処理を実行している。

【００２１】ここで、光学的な配置状態を図３に模式的
に示す。照明用赤色発光ダイオード２６からの照射光は
集光レンズ３０を介して読取口２２から、ケース１２の
外部に存在するバーコード８を照射する。バーコードリ
ーダ４としてのバーコード８の読み取りおよび解読は、
領域Ｄの部分から読み取った出力を用いて行う。もし、
照明用赤色発光ダイオード２６の劣化により、照明用赤
色発光ダイオード２６からの照射光が弱まれば、照明用
赤色発光ダイオード２６により照射されるバーコード８
からの反射光も減少し、図４に示すバーコード８の黒と
白とのバーからの反射光の強度差Ｈが小さくなり、ある
程度小さくなると解読不能となる。そして、照明用赤色
発光ダイオード２６の劣化の原因として最も多く考えら
れるのがいわゆる寿命によるもの、すなわち経年変化に
よる輝度低下である。したがって、照明用赤色発光ダイ
オード２６を使用した積算時間に基づけば、経年変化に
よる輝度の低下、つまり劣化を推定することができる。
具体的には、経年変化に対する輝度の低下度合いを試験
にて調べておく。例えば図６に示すような輝度変化曲線
が得られ、本実施形態では、３００００時間と５０００
０時間の２つを劣化推定時間とする。

【００２２】この照明用赤色発光ダイオード２６の劣化
推定および推定に伴う処置を行う劣化補償処理のフロー
チャートを図５に示す。本処理は、マイクロコンピュー
タ４４により実行される。この劣化補償処理は、バーコ
ードリーダ４に設けられた図示しない電源スイッチが操
作されて電源が供給されると、開始する。

【００２３】処理が開始されると、ソフトウェアタイマ
によって経年時間のカウント処理が実行される（Ｓ１
０）。そして、１時間経過すると（Ｓ２０：ＹＥＳ）、
メモリ４２内のＥＥＰＲＯＭへ書き込む。そして、３０
０００時間経過したかどうか判断し（Ｓ４０）、積算時
間が３００００時間を経過していなければ（Ｓ４０：Ｎ
Ｏ）、Ｓ１０へ戻る。つまり、１時間単位で経年時間を
カウントしていき、３００００時間経過するのを待ち、
３００００時間経過すると（Ｓ４０：ＹＥＳ）、Ｓ５０
へ移行する。

【００２４】Ｓ５０では、Ｓ６０での劣化補償処理その
１を既に実行しているかどうか判断し、実行していなけ
れば（Ｓ５０：ＮＯ）、Ｓ６０へ移行して劣化補償処理
その１を実行し、その後Ｓ１０へ戻る。一方、劣化補償
処理その１を既に実行している場合には（Ｓ５０：ＹＥ
Ｓ）、Ｓ７０へ移行して、今度は５００００時間経過し
たかどうか判断する。積算時間が５００００時間を経過
していなければ（Ｓ７０：ＮＯ）、Ｓ１０へ戻る。そし
て、５００００時間経過すると（Ｓ７０：ＹＥＳ）、Ｓ
８０へ移行し、劣化補償処理その２を実行して、本処理
を終了する。

【００２５】ここで、Ｓ６０での劣化補償処理その１、
及びＳ８０での劣化補償処理その２の内容について説明
する。これらの劣化補償処理は、光学的センサ３６の受
光量を増加するため、図７（ａ）に示すごとく、感光素
子に蓄えられた電荷を放出させるシフトゲートパルスφ
ＲＯＧのパルス間隔ＴE をΔＴ分増加させる処理を行
う。このことにより、光学的センサ３６の全感光素子の
受光時間が長くなり、それだけ蓄積する電荷の量が増加
する。但し、各経年時間（３００００時間、５００００
時間）での劣化度合いは異なるので、各劣化度合いに対
応するように、シフトゲートパルスφＲＯＧのパルス間
隔ＴE の増加分ΔＴは設定されている。

【００２６】このように劣化補償処理その１あるいはそ
の２にては、照明用赤色発光ダイオード２６の劣化によ
り輝度が低下した場合には、光学的センサ３６側の受光
量を増加させているので、バーコード８の黒と白とのバ
ーからの反射光の強度差Ｈを十分大きく維持させること
ができ、解読不能に陥ることを防止することができる。
また、照明用赤色発光ダイオード２６が完全に劣化し
て、上述の劣化補償処理その２による受光量の増加でも
補償が不可能となれば、そのときに初めて、バーコード
リーダ４の解読が不能となり、ユーザにとって真にバー
コードリーダ４の補修や取り替えが必要なことが判明す
る。

【００２７】したがって、照明用赤色発光ダイオード２
６が単に劣化したのみでは解読不能とならず、照明用赤
色発光ダイオード２６の本当の寿命が来るまで、バーコ
ードリーダ４を使用することができ、バーコードリーダ
４の使用期間が長くなり、補修や取り替えのコストを低
減させることができる。

【００２８】本実施の形態において、ステップＳ１０〜
Ｓ３０が積算時間計測手段としての処理に該当し、ステ
ップＳ４０，Ｓ７０が推定手段としての処理に該当す
る。また、ステップＳ６０，Ｓ８０が補正手段としての
処理に該当する。 ［実施の形態２］前記実施の形態１では、光学的センサ
３６の受光量を増加する手段として、感光素子に蓄えら
れた電荷を放出するシフトゲートパルスφＲＯＧのパル
ス間隔ＴE をΔＴ分増加させる処理を行ったが、図８
（ａ）の正面説明図および図８（ｂ）の側面説明図に示
すごとく、結像レンズ部３４の縦長絞り３４ａの長手方
向にて２枚の遮蔽板５０ａ，５０ｂを上下するシャッタ
５０を設け、このシャッタ５０の開時間をマイクロコン
ピュータ４４が制御することで、受光量を増加させるよ
うにしても良い。すなわち、図５のＳ６０の劣化補償処
理その１及びＳ８０の劣化補償処理その２において、シ
フトゲートパルスφＲＯＧのパルス間隔ＴE の代わり
に、シャッタ５０の開時間を用いることにより、実施の
形態１と同様の処理が可能となる。なお、当然である
が、劣化補償処理その１の場合よりも劣化補償処理その
２の方がシャッタ５０の開時間が長くなる。

【００２９】［実施の形態３］前記実施の形態１では、
光学的センサ３６の受光量を増加することで照明用赤色
発光ダイオード２６の劣化の補償をしていたが、照明用
赤色発光ダイオード２６の輝度を増加することで、補償
しても良い。

【００３０】例えば、図９に示すごとくであり、ここで
は、照明用赤色発光ダイオード２６と電源Ｖｃｃとの間
に、３つの直列の制限抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３を設け、そ
の内の２つの抵抗Ｒ１，Ｒ２には、並列でスイッチ回路
ＳＷ１，ＳＷ２が設けられている。また、照明用赤色発
光ダイオード２６の低電位側にはトランジスタＴＲが接
続されている。これら制限抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、スイ
ッチ回路ＳＷ１，ＳＷ２およびトランジスタＴＲが発光
駆動回路２８に該当する。

【００３１】照明用赤色発光ダイオード２６を発光させ
る場合は、マイクロコンピュータ４４がトランジスタＴ
Ｒに発光信号Ｐ３を出力することにより、照明用赤色発
光ダイオード２６に電流が流れて発光する。最初はスイ
ッチ回路ＳＷ１，ＳＷ２はオフであるので、直列の制限
抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３に制限された電流で照明用赤色発
光ダイオード２６は必要な輝度を維持している。

【００３２】照明用赤色発光ダイオード２６の劣化に対
しては、経年時間に応じて次のように段階的に対処す
る。まず、経年時間が３００００時間を経過した場合
は、実施の形態１の劣化補償処理その１（Ｓ６０）に対
応する処理として、スイッチ回路ＳＷ１をオンする信号
Ｐ１が出力される。このことにより、照明用赤色発光ダ
イオード２６の電流量を制限するのは、制限抵抗Ｒ２及
びＲ３となり、照明用赤色発光ダイオード２６に流れる
電流量が増加する。また、経年時間が５００００時間を
経過した場合は、実施の形態１の劣化補償処理その２
（Ｓ８０）に対応する処理として、スイッチ回路ＳＷ１
をオンする信号Ｐ１に加え、スイッチ回路ＳＷ２をオン
する信号Ｐ２も出力される。このことにより、照明用赤
色発光ダイオード２６の電流量を制限するのは、制限抵
抗Ｒ３のみとなり、照明用赤色発光ダイオード２６に流
れる電流量がさらに増加する。したがって、照明用赤色
発光ダイオード２６の輝度が各経年時間での劣化度合い
に応じて段階的に回復し、解読可能状態を維持すること
ができる。

【００３３】また、スイッチ回路ＳＷ１，ＳＷ２のオン
・オフ調節でなく、トランジスタＴＲへの信号Ｐ３によ
る電流量調節により、照明用赤色発光ダイオード２６の
輝度を段階的に回復させても良い。また、スイッチ回路
ＳＷ，ＳＷ２に対する調節と、トランジスタＴＲに対す
る調節との両方を組み合わせて、照明用赤色発光ダイオ
ード２６の輝度を調節しても良い。

【００３４】なお、本実施の形態３の処理と前述した実
施の形態１，２の処理とを組み合わせても良い。 ［実施の形態４］上述した各実施形態では、発光量（輝
度）や受光量を高めていたが、波形整形部４０等におけ
る増幅率を高めるように調節しても良い。このようにす
ると、画像自体の明暗差が小さくても、増幅により十分
な明暗の差を得ることができ、バーコードリーダ４は、
長期にわたって十分な読み取り能力を維持できる。

【００３５】また、現実的には、本実施の形態４での増
幅率を高める処理と前述した実施の形態１〜３での発光
量（輝度）や受光量を高める処理とを組み合わせて実行
することが好ましい。その場合の一例として、波形整形
部４０等における増幅率（ゲイン）と光学的センサ３６
における露光時間をどのように変化させるかを図１０に
示した。図１０は制御値の記憶された露光テーブルであ
り、番号１〜１２は制御パターンを示している。なお、
１２の制御パターンがあるのは、種々の読取環境に対応
するためであり、この１２のパターンをランダムに用い
る。

【００３６】ゲインとしてはＬ，Ｍ，Ｈの３段階のレベ
ルが設定可能である。したがって、１２のパターンそれ
ぞれについて、ゲイン及び露光時間の一方あるいは両方
を、劣化補償処理その１の場合は初期設定時よりも大き
くする。同様に、劣化補償処理その２の場合は劣化補償
処理その１の場合よりもさらに大きくする。

【００３７】［その他］実施の形態１では、図７（ａ）
に示すごとく、照明用赤色発光ダイオード２６がオンし
ている期間に、シフトゲートパルスφＲＯＧのパルス間
隔ＴE を調節することにより、受光量を調節したが、こ
れ以外に図７（ｂ）に示すごとく、十分にパルス間隔が
長いシフトゲートパルスφＲＯＧのパルスとパルスとの
間に存在する照明用赤色発光ダイオード２６のオン期間
ＴE2を、ステップＳ２２０にてΔＴ2 分長くすることに
より、受光量を増加する処理を行っても良い。

【００３８】また、上記各実施形態においては、劣化を
推定する時間として３００００時間と５００００時間の
２つを準備し、２段階で補正するようにしたが、当然な
がら、３段階以上の補正を行うようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施の形態１としてのバーコードリーダの概
略断面図である。

【図２】 実施の形態１としての制御系統のブロック図
である。

【図３】 実施の形態１としてのバーコードリーダの構
成の光学的な配置説明図である。

【図４】 実施の形態１としての光学的センサの感光部
における光度分布を示す説明図である。

【図５】 マイクロコンピュータが実行する劣化推定及
び補償処理のフローチャートである。

【図６】 ＬＥＤ光源の寿命曲線を示す説明図である。

【図７】 実施の形態１としての受光量調節メカニズム
を示すタイミングチャートである。

【図８】 実施の形態２としてのシャッタの構成説明図
である。

【図９】 実施の形態３としての照明用赤色発光ダイオ
ードの輝度調節メカニズムを示す回路図である。

【図１０】 実施の形態４としての波形整形回路におけ
る増幅率の調整も含めた補正のための露光テーブルを示
す説明図である。

【符号の説明】

４…バーコードリーダ ８…バーコード １２…ケース １４…読取部 １６…データ処理出力部 ２２…読取口 ２４…防塵プレート ２６…照明用赤色
発光ダイオード ２８…発光駆動回路 ３０…集光レンズ ３２…反射鏡 ３４…結像レンズ
部 ３４ａ…縦長絞り ３６…光学的セ
ンサ ３８…基板 ４０…波形整形部 ４２…メモリ ４４…マイクロコ
ンピュータ ４６…出力回路 ４８…ブザー装置 ５０…シャッタ ５０ａ，５０ｂ…遮蔽板 Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３…制限抵抗 ＴＲ…トランジ
スタ ＳＷ１，ＳＷ２…スイッチ回路

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】発光ダイオードを光源として用いた発光手
   段からの照射光を読み取り対象に照射することで、読み
   取り対象からの反射光を受光手段に結像し、該受光手段
   にて読み取り対象の画像を読み取る光学的読取装置であ
   って、 前記発光手段の使用積算時間を計測する積算時間計測手
   段と、 該積算時間計測手段によって計測された使用積算時間に
   基づいて前記発光手段が劣化したかどうかを推定する推
   定手段と、 該推定手段での推定結果が前記発光手段の劣化を示して
   いる場合には、前記受光手段の受光量を増加させる処理
   を行う補正手段と、 を備えることを特徴とする光学的読取装置。
2. 【請求項２】請求項１記載の光学的読取装置において、 前記補正手段は、前記受光手段の露光時間を長くするこ
   とにより、受光量を増加させる処理を行うこと、 を特徴とする光学的読取装置。
3. 【請求項３】請求項１記載の光学的読取装置において、 前記受光手段の露光時間がシャッタにより制限されてい
   ると共に、前記補正手段は、該シャッタを開く時間を長
   くすることにより、露光時間を長くさせる処理を行うこ
   と、 を特徴とする光学的読取装置。
4. 【請求項４】請求項１記載の光学的読取装置において、 前記補正手段は、前記発光手段における発光量を増加さ
   せることにより、結果として前記受光手段における受光
   量を増加させる処理を行うこと、 を特徴とする光学的読取装置。
5. 【請求項５】請求項１記載の光学的読取装置において、 前記補正手段は、前記受光手段が受光可能な状態にある
   時間帯内での、前記発光手段の発光時間を長くすること
   により、受光量を増加させる処理を行うこと、 を特徴とする光学的読取装置。
6. 【請求項６】請求項１記載の光学的読取装置において、 前記受光手段への反射光の通過が絞りにより制限されて
   いると共に、前記補正手段は、該絞りを開くことによ
   り、受光量を増加させる処理を行うこと、 を特徴とする光学的読取装置。
7. 【請求項７】請求項１〜６のいずれか記載の光学的読取
   装置において、 前記推定手段は、前記発光手段の劣化度合いを複数段階
   で推定し、 前記補正手段は、前記推定手段にて推定された劣化度合
   いに応じた複数段階の補正を実行すること、 を特徴とする光学的読取装置。
8. 【請求項８】発光ダイオード光源を用いた発光手段から
   の照射光を読み取り対象に照射することで、読み取り対
   象からの反射光を受光手段に結像し、該受光手段にて読
   み取り対象の画像を読み取る光学的読取装置であって、 前記発光手段の発光時間を計測する計時手段と、 該計時手段によって計時された発光時間の積算時間を記
   憶しておく積算時間記憶手段と、 該積算時間記憶手段に記憶された積算時間に基づいて前
   記発光手段が劣化したものと推定する推定手段と、 該推定手段での推定結果が前記発光手段の劣化を示して
   いる場合には、前記受光手段の出力波形の増幅率を高め
   る処理を行う増幅率補正手段と、 を備えることを特徴とする光学的読取装置。
9. 【請求項９】請求項８記載の光学的読取装置において、 請求項１〜７のいずれか記載の補正手段も備えること、 を特徴とする光学的読取装置。