JP2000021946A - Apparatus for manufacturing semiconductor - Google Patents

Apparatus for manufacturing semiconductor

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JP2000021946A
JP2000021946A JP19644898A JP19644898A JP2000021946A JP 2000021946 A JP2000021946 A JP 2000021946A JP 19644898 A JP19644898 A JP 19644898A JP 19644898 A JP19644898 A JP 19644898A JP 2000021946 A JP2000021946 A JP 2000021946A
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JP
Japan
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chamber
vacuum
substrate
stage
turntable
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Application number
JP19644898A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Kawaura
廣 川浦
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C Bui Res Kk
Original Assignee
C Bui Res Kk
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for manufacturing a semiconductor, which can decrease the load on a mechanism for vertically moving stage units, when carrying a substrate into or out of an auxiliary vacuum chamber, and facilitates evacuation of air with a vacuum pump, and facilitates addition of various heating and cooling mechanisms and control of a stage temperature. SOLUTION: An apparatus for manufacturing a semiconductor has first auxiliary vacuum chamber 21, a second auxiliary vacuum chamber 22, and a substrate processing chamber 23, and is provided with a turnable 30 which is freely rotatable and movable vertically in the second auxiliary vacuum chamber, and the turnable 30 has at least four substrate placement portions 33. The apparatus has stage units 40 which can move vertically, in response to each substrate placement portion 33 at the bottom plate portion of the second auxiliary vacuum chamber responding to the underside of the first auxiliary vacuum chamber 21 and the substrate processing chamber 23, and semiconductor substrates are carried from the substrate placement portions into the first auxiliary vacuum chamber and the substrate processing chamber, respectively by moving each stage of the stage units 40 in the vertical directions, or conversely carrying the semiconductor substrate to the substrate placement portions 33.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】アッシング、エッチング、成膜処
理等の中でも減圧処理を行う為の半導体製造装置におい
て、生産性を向上するために真空予備室を持つ装置であ
って、尚且つ2枚以上の半導体基板の同時一括処理を行
う枚葉式半導体製造装置に関し、特に、基板載置ステー
ジ及びターンテーブルの構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION In a semiconductor manufacturing apparatus for performing a reduced pressure processing among ashing, etching, film forming processing, etc., an apparatus having a vacuum preparatory chamber for improving productivity, and two or more sheets. More specifically, the present invention relates to a structure of a substrate mounting stage and a turntable.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7、図8は、実開平1−84428号
公報に記載されたごとき公知の半導体基板の処理装置で
あって、ターンテーブルと基板載置ステージが別個に駆
動される形式の従来例を示している。これら図におい
て、真空チャンバー50は全体円形の中空体に構成さ
れ、該真空チャンバー内は常時、本体51の底面周縁に
開口された複数の排気口52から真空排気されて所定の
真空度に保たれるようになっている。真空チャンバー5
0の上部に120度の等角度をもって開口された3つの
円形開口部53、54、55と対応する部位には、基板
搬入側予備室部56、基板処理室部57、基板搬出側予
備室部58が配設されている。
2. Description of the Related Art FIGS. 7 and 8 show a known semiconductor substrate processing apparatus as disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 84428/1994, in which a turntable and a substrate mounting stage are driven separately. This shows a conventional example. In these figures, a vacuum chamber 50 is formed as a circular hollow body, and the inside of the vacuum chamber is constantly evacuated from a plurality of exhaust ports 52 opened on the periphery of the bottom surface of the main body 51 to maintain a predetermined degree of vacuum. It is supposed to be. Vacuum chamber 5
In the area corresponding to the three circular openings 53, 54, 55 opened at an equal angle of 120 degrees at the upper part of 0, a substrate loading side preliminary chamber 56, a substrate processing chamber 57, and a substrate unloading side preliminary chamber are provided. 58 are provided.

【0003】基板搬入側予備室部56は排気口59を有
すると共にゲート60が付設され、該ゲートはゲートシ
リンダー61により上下動して予備室部56の開口部を
開閉し、かつシールリングで予備室部56内の気密を保
持するようになっている。また、処理室部57は上部に
プラズマ発生器(図示せず)を有し、該プラズマ発生器
に所定の処理ガスが流され、ここに高周波やマイクロ波
等が印加されてプラズマが処理室部57内に発生し、基
板の処理がなされるようになっている。
[0003] The substrate loading side preliminary chamber 56 has an exhaust port 59 and is provided with a gate 60. The gate is moved up and down by a gate cylinder 61 to open and close the opening of the preliminary chamber 56, and is further protected by a seal ring. The inside of the chamber 56 is kept airtight. The processing chamber 57 has a plasma generator (not shown) in the upper part, and a predetermined processing gas is flowed into the plasma generator. This occurs inside the substrate 57 so that the substrate can be processed.

【0004】真空チャンバー50内の中央部位には、支
柱65が立設されると共に、該支柱にはベアリング付き
の回転筒66が回転可能に設けられ、更に該回転筒の上
端面には、前記真空チャンバー上面板の3つの円形開口
部53、54、55と応対する3ヶ所にサセプター72
を載置する円形開口部71が設けられた回転円板70
が、真空チャンバー上面板と平行して、かつ回転筒65
と一体回転可能に設けられている。
[0004] At a central portion in the vacuum chamber 50, a column 65 is erected, and a rotary cylinder 66 with a bearing is rotatably provided on the column. Susceptors 72 are provided at three locations corresponding to the three circular openings 53, 54, 55 of the upper plate of the vacuum chamber.
Disk 70 provided with a circular opening 71 for mounting
Is parallel to the top plate of the vacuum chamber, and
It is provided so as to be integrally rotatable.

【0005】そして、真空チャンバー本体51の下面に
付設されたモータMの原動力が、シールリングを介して
気密的に設けられた駆動軸のギアと回転筒66に取り付
けられたギアに伝達されて回転筒66が回転し、これと
一体に回転円板70が正確に120度づつ回転して、基
板Pを基板搬入側予備室部56→基板処理室部57→基
板搬出側予備室部58ヘと順々に自動搬送するようにな
っている。
The driving force of the motor M attached to the lower surface of the vacuum chamber main body 51 is transmitted to the gear of the drive shaft provided hermetically via a seal ring and the gear attached to the rotary cylinder 66 for rotation. The cylinder 66 is rotated, and the rotating disk 70 is rotated by exactly 120 degrees integrally therewith, and the substrate P is transferred to the substrate loading side preliminary chamber 56 → the substrate processing chamber 57 → the substrate unloading side preliminary chamber 58. They are automatically transported in sequence.

【0006】予備室部56、58に対応してプッシャー
67が、また処理室部57に対応して処理室プッシャー
68がそれぞれ配設されている。プッシャー67は、開
口部71を介してサセプター72を押し上げるに充分な
直径を有する円板状であって、その上面には、サセプタ
ー72に載置される基板Pを水平に押し上げる3本のピ
ン69が立設されると共に、上面外周縁にはシールリン
グが設けられている。
[0006] A pusher 67 is provided corresponding to the preliminary chambers 56 and 58, and a processing chamber pusher 68 is provided corresponding to the processing chamber 57. The pusher 67 has a disk shape having a diameter sufficient to push up the susceptor 72 through the opening 71, and has three pins 69 on the upper surface thereof for pushing up the substrate P mounted on the susceptor 72 horizontally. And a seal ring is provided on the outer peripheral edge of the upper surface.

【0007】プッシャー67の下面中心部位には、真空
チャンバー本体51に開口部53と同心状に設けられた
径の小さい開口部を介して上下動するシリンダーの駆動
軸73が連結されると共に、ボックス74内における真
空チャンバー本体51とシリンダー駆動軸73との間に
は、開口部を囲繞してベローズ75が装着され、真空チ
ャンバー50内の気密が漏れないようになっている。
At the center of the lower surface of the pusher 67, a drive shaft 73 of a cylinder which moves up and down is connected via a small-diameter opening provided concentrically with the opening 53 in the vacuum chamber main body 51. A bellows 75 is attached between the vacuum chamber main body 51 and the cylinder drive shaft 73 in the 74 so as to surround the opening so that the airtightness in the vacuum chamber 50 does not leak.

【0008】この様な構造の処理装置にあっては、基板
Pの搬入搬出の際、真空予備室56、58を大気に解放
しないため、搬出側予備室58、搬入側予備室56のプ
ッシャー67の上下動作にかかる負荷が大きくなり、機
構部分の安全性に問題を生ずる。また、基板の搬入、搬
出は3本のピン69で行うため、温度制御を段階的に行
うことは不可能であり、更に、真空搬送部内におけるサ
セプターからピン又はステージへの基板の移送が不安定
となる欠点があった。
In the processing apparatus having such a structure, the vacuum preparatory chambers 56, 58 are not released to the atmosphere when the substrate P is loaded and unloaded, so that the pusher 67 of the unloading side preliminary chamber 58 and the loading side preliminary chamber 56 is used. The load imposed on the up and down movement of the motor increases, which causes a problem in the safety of the mechanism. Further, since the loading and unloading of the substrate is performed by the three pins 69, it is impossible to perform the temperature control stepwise, and furthermore, the transfer of the substrate from the susceptor to the pin or the stage in the vacuum transfer unit is unstable. There was a disadvantage.

【0009】その他に、この様な従来例においては回転
円板70が上下動しないために真空チャンバー50の中
央部に支柱65を設置可能であり、これにより真空チャ
ンバー50の上面板である天板の圧力変動による変形を
防止することができるけれども、その結果該真空チャン
バー内の回転円板70のため、駆動手段であるギア又は
ベルトを用いて動力の導入を行う必要がある。そのた
め、真空チャンバー50内にこれらの動力導入手段を種
々設ける必要から、これらによる発塵の増加が避けられ
ないという重要な問題が生じる。加えて、この様な装置
においてはその構成が処理室1個、基板搬入、搬出用真
空予備室が夫々1個であり、処理能力が低い欠点もあっ
た。
In addition, in such a conventional example, since the rotating disk 70 does not move up and down, the column 65 can be installed at the center of the vacuum chamber 50. Although it is possible to prevent the deformation due to the pressure fluctuation, it is necessary to introduce power using a gear or a belt as a driving means for the rotating disk 70 in the vacuum chamber. For this reason, since it is necessary to provide these power introducing means in the vacuum chamber 50, there is an important problem that an increase in dust generation due to them is inevitable. In addition, such an apparatus has one processing chamber and one vacuum preparatory chamber for loading and unloading substrates, and has a drawback of low processing capacity.

【0010】これに対して、同様にアッシング、エッチ
ング、成膜処理等プラズマを用いる減圧処理装置におい
て、2枚同時一括処理装置が使われる従来例としては次
の様なものがある。図9、図10に示す半導体製造装置
80は、本発明者が先に提案した装置の概略であって、
同時に2枚の半導体基板Pを処理するための処理室81
と、第1の真空予備室82と第2の真空予備室83とを
有するとともに、これら半導体基板Pのためのロード/
アンロードを真空中で搬送ロボットを使うことなく行う
ために、モーターMで回転可能かつ昇降装置89により
昇降可能な(図1参照)ターンテーブル85と4個のス
テージ86とを有している。
[0010] On the other hand, in a reduced pressure processing apparatus using plasma such as ashing, etching, and film forming processing, there is the following conventional example in which a two-packet simultaneous processing apparatus is used. The semiconductor manufacturing apparatus 80 shown in FIGS. 9 and 10 is an outline of the apparatus previously proposed by the present inventors,
Processing chamber 81 for processing two semiconductor substrates P at the same time
And a first vacuum preparatory chamber 82 and a second vacuum preparatory chamber 83, and a load / load for these semiconductor substrates P.
In order to perform unloading in a vacuum without using a transfer robot, it has a turntable 85 that can be rotated by a motor M and can be moved up and down by an elevating device 89 (see FIG. 1) and four stages 86.

【0011】また、2個の搬送ロボット87、88は大
気中に配置されており、各搬送ロボット87、88に対
して夫々1個又は2個の基板収納カセットのためのカセ
ットステージ90、91を同じく大気中に備えている。
そして、カセットステージ90、91と第1の真空予備
室82の中間には、バッファーステージ84が設けられ
ている。該バッファーステージ84は少なくとも2段以
上の未処理半導体基板を載置可能なステージと、同じく
2段以上の既処理半導体基板が載置され放熱されるステ
ージを有し、かつ各ステージは自動的に半導体基板の位
置合わせが可能な構造となっている。
The two transfer robots 87 and 88 are arranged in the atmosphere, and each of the transfer robots 87 and 88 has one or two cassette stages 90 and 91 for a substrate storage cassette. Also prepared in the atmosphere.
A buffer stage 84 is provided between the cassette stages 90 and 91 and the first pre-vacuum chamber 82. The buffer stage 84 has a stage on which at least two or more unprocessed semiconductor substrates can be mounted and a stage on which two or more processed semiconductor substrates are mounted and dissipates heat, and each stage is automatically The structure is such that the semiconductor substrate can be positioned.

【0012】特に図10において、処理室81と第1真
空予備室82と第2真空予備室83及び半導体基板のロ
ード/アンロードを行う構成が明らかにされている。モ
ーターMにより180°回転駆動されかつ昇降装置89
にて昇降駆動されるターンテーブル85上には、4個の
ステージ86が設けられている。夫々2個のステージが
収納可能な処理室81と、第1真空予備室82及び該処
理室と第1真空予備室とを連通又は隔離自在な第2真空
予備室83は、上記昇降装置89でテーブル85を昇降
させることにより、処理室81、第1真空予備室82、
第2真空予備室83の間を第2真空予備室83の上板部
と各ステージ86との間でシール及びシール解除する構
成とされている。
In particular, FIG. 10 shows a structure for loading / unloading the processing chamber 81, the first vacuum preliminary chamber 82, the second vacuum preliminary chamber 83, and the semiconductor substrate. 180 ° rotated by a motor M and a lifting device 89
Four stages 86 are provided on a turntable 85 driven up and down by. A processing chamber 81 capable of accommodating two stages, a first vacuum preliminary chamber 82, and a second vacuum preliminary chamber 83 that can communicate with or separate the processing chamber from the first vacuum preliminary chamber are provided by the elevating device 89. By raising and lowering the table 85, the processing chamber 81, the first vacuum preliminary chamber 82,
The space between the second pre-vacuum chambers 83 is sealed and released between the upper plate portion of the second pre-vacuum chamber 83 and each stage 86.

【0013】なお、処理室81、第1真空予備室82、
第2真空予備室83等は当然に、図示しない減圧、パー
ジその他の半導体処理に必要な各種手段を夫々備えてお
り、処理室81にはN2 ガスパージ用開口H1、減圧用
開口H2が、第1真空予備室82にはN2 ガスパージ用
開口H3、減圧用開口H4が、第2真空予備室83には
エアーパージ用開口H5、減圧用開口H6が夫々設けら
れている。また、第1真空予備室82の頂部は、半導体
基板の搬入、搬出のために開閉可能な蓋体を構成してい
る。
The processing chamber 81, the first pre-vacuum chamber 82,
The second pre-vacuum chamber 83 and the like naturally include various means (not shown) required for decompression, purging, and other semiconductor processing. The processing chamber 81 includes an N 2 gas purge opening H 1 and a decompression opening H 2. The first vacuum preliminary chamber 82 is provided with an N 2 gas purge opening H3 and a pressure reducing opening H4, and the second vacuum preliminary chamber 83 is provided with an air purge opening H5 and a pressure reducing opening H6. The top of the first pre-vacuum chamber 82 constitutes a lid that can be opened and closed for loading and unloading semiconductor substrates.

【0014】ところで、この様な装置にあっては真空搬
送部内での基板の移送が安定し、しかもスループットを
向上させ得るけれども、真空系内の容量が大きくなる欠
点があり、更にステージユニット全体が回動するために
加熱、冷却機構の追加が困難であった。また、各ステー
ジは全て同一温度に設定しなければならず、基板温度の
段階的なコントロールが困難である等の欠点を有してい
た。
In such an apparatus, although the transfer of the substrate in the vacuum transfer section can be stabilized and the throughput can be improved, there is a disadvantage that the capacity in the vacuum system is increased, and further, the entire stage unit is required. Due to the rotation, it was difficult to add a heating and cooling mechanism. In addition, each stage must be set to the same temperature, which has a disadvantage that it is difficult to control the substrate temperature stepwise.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】上記従来公知の半導体
処理装置にあっては、真空中での搬送系において基板載
置ステージとターンテーブルが一体となっているもの
は、真空ポンプの排気容量が大きくなる難点があった。
また、真空予備室の減圧、パージの際のゴミの巻き上が
りを防止するためにソフトバキューム、ソフトパージを
行うとスループットが低下してしまう。更に従来の装置
にあっては、ステージユニットに対して抵抗加熱ヒータ
ーの他に、ランプ加熱機構、水冷機構、高周波印加機構
等の追加が困難であり、また、4つのステージを全て同
一の温度設定にする必要から装置内の雰囲気温度のコン
トロールが比較的困難であった。
In the above-mentioned conventional semiconductor processing apparatus, when a substrate mounting stage and a turntable are integrated in a transfer system in a vacuum, the exhaust capacity of a vacuum pump is reduced. There was a disadvantage that it grew.
Further, if soft vacuum or soft purge is performed to prevent debris from rising during depressurization and purging of the pre-vacuum chamber, throughput is reduced. Further, in the conventional apparatus, it is difficult to add a lamp heating mechanism, a water cooling mechanism, a high frequency applying mechanism, etc. to the stage unit in addition to the resistance heater, and all four stages have the same temperature setting. Therefore, it was relatively difficult to control the ambient temperature in the apparatus.

【0016】本発明はこの様な種々の難点を解消し、真
空予備室への基板の搬入、搬出時にステージユニットの
上下動作のための機構への負荷を小さくでき、真空ポン
プの排気容易を低減し、また、種々の加熱、冷却機構の
追加を容易にし、ステージ温度のコントロールを容易に
できる装置を提供するものである。又、第2の真空予備
室を構成する天板の変形を防止するために、その断面形
状を改良することによってその中央支持手段を不要とす
ると共に、ターンテーブルのダイレクトドライブによる
強度低下を解消するものである。更に、ステージを6
個、8個と増設する場合にも、大型基板の処理の場合に
も駆動機構部分の大型化を低くできる装置を提供するも
のである。
The present invention solves these various difficulties, reduces the load on the mechanism for moving the stage unit up and down when loading and unloading the substrate into and from the vacuum preparatory chamber, and reduces the ease of evacuation of the vacuum pump. It is another object of the present invention to provide a device that facilitates the addition of various heating and cooling mechanisms and facilitates the control of the stage temperature. Further, in order to prevent deformation of the top plate constituting the second pre-vacuum chamber, by improving the cross-sectional shape, the center support means is not required, and the strength reduction due to the direct drive of the turntable is eliminated. Things. In addition, stage 6
It is an object of the present invention to provide an apparatus capable of reducing the size of a driving mechanism portion in the case where the number is increased to eight or in the case of processing a large substrate.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明は第1真空予備
室、第2真空予備室及び基板処理室を有する半導体製造
装置であって、第2真空予備室内には回動自在でかつ上
下動自在なターンテーブルを有し、該ターンテーブルは
少なくとも4個の基板載置部を有し、上記第1真空予備
室及び基板処理室の下方対応位置の第2真空予備室底板
部には、上記基板載置部の夫々に対応して上下動可能な
ステージユニットを有し、これらステージユニットの各
ステージを上下動することにより基板載置部から第1真
空予備室内及び処理室内へ夫々半導体基板を搬送し、ま
た逆に該基板載置部に半導体基板を搬送載置することを
特徴とする半導体製造装置。また、ターンテーブルは9
0度毎の間欠回動又は180度の正・逆転が可能である
と共に、その基板載置部はその上下両面において、上記
第2真空予備室の天板及び各ステージのシール面との間
にシール部材を挟持することにより、第1真空予備室、
第2真空予備室及び処理室の間に減圧室を画成可能であ
る。そして、該ターンテーブルの基板載置部は、夫々対
応する各ステージの上部が貫通する穴を有しており、該
穴の内方には、処理基板を載置係止するための段部を有
する複数の爪を備えている。一方、各ステージの上端面
には、基板を載置係止するための円形凹部が設けられて
おり、そのための各ステージユニットは、ランプ加熱機
構及び水冷冷却機構、高周波印加機構が追加可能であ
る。更に本発明の半導体製造装置においては、第2真空
予備室の天板の断面形状を笠型とすることによって減圧
時の変形を防止する構造である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a semiconductor manufacturing apparatus having a first vacuum preliminary chamber, a second vacuum preliminary chamber, and a substrate processing chamber, wherein the second vacuum preliminary chamber is rotatable and vertically movable. A turntable having at least four substrate mounting portions; a second vacuum preliminary chamber bottom plate at a position corresponding to a position below the first vacuum preliminary chamber and the substrate processing chamber; It has a stage unit that can move up and down corresponding to each of the substrate mounting units. By moving each stage of these stage units up and down, the semiconductor substrate is respectively moved from the substrate mounting unit into the first vacuum preliminary chamber and the processing chamber. A semiconductor manufacturing apparatus for transporting and, conversely, transporting and mounting a semiconductor substrate on the substrate mounting portion. The turntable is 9
Intermittent rotation of every 0 degree or forward / reverse rotation of 180 degrees is possible, and the substrate mounting part is located between the top plate of the second vacuum preparatory chamber and the sealing surface of each stage on both upper and lower surfaces. By holding the seal member, the first vacuum preliminary chamber,
A decompression chamber can be defined between the second pre-vacuum chamber and the processing chamber. Further, the substrate mounting portion of the turntable has a hole through which the upper part of each corresponding stage penetrates, and a step portion for mounting and locking the processing substrate is provided inside the hole. Having a plurality of claws. On the other hand, a circular concave portion for placing and locking the substrate is provided on the upper end surface of each stage, and for each stage unit, a lamp heating mechanism, a water cooling cooling mechanism, and a high frequency applying mechanism can be added. . Further, in the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention, the top plate of the second pre-vacuum chamber has a cross-sectional shape of a hat-shape to prevent deformation during pressure reduction.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】本発明に係る半導体製造装置の構
成を、図1乃至図6により説明する。図1は、先に本発
明者が提案した半導体製造装置(図9、10参照)と概
略同様の配置をもつ、各手段の配置を示す本発明装置1
0の平面図である。大気中での搬送部を構成する例えば
2個の搬送ロボット11、12を有しており、これら搬
送ロボット11、12によって例えば未処理の半導体基
板をカセットステージ13、14から真空装置部20に
おける第1真空予備室21ヘ、また該真空予備室21か
らバッファステージ15へと各種処理済みの半導体基板
を搬送する。なお、これら大気中での搬送部自体の構成
は特に新規なものでないので、詳細な説明は省略する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows an apparatus 1 of the present invention showing the arrangement of each means having an arrangement substantially similar to that of the semiconductor manufacturing apparatus proposed by the present inventors (see FIGS. 9 and 10).
0 is a plan view. It has, for example, two transfer robots 11 and 12 that constitute a transfer unit in the atmosphere. The transfer robots 11 and 12 remove, for example, unprocessed semiconductor substrates from the cassette stages 13 and 14 in the vacuum device unit 20. The variously processed semiconductor substrates are transported to one vacuum preliminary chamber 21 and from the vacuum preliminary chamber 21 to the buffer stage 15. Since the configuration of the transport unit itself in the atmosphere is not particularly novel, detailed description thereof will be omitted.

【0019】図中の符号20は上述のごとく、本発明の
特徴的構成を有する真空装置部全体の平面配置を示して
おり、概略、第1真空予備室21、第2真空予備室22
及び処理室23を有している。図2は、上記図1におけ
る真空装置部20部分のA−A断面を模式的に示してお
り、上記第1真空予備室21、第2真空予備室22、処
理室23の他に、該真空装置部20における半導体基板
の処理行程に伴うこれら各室の画成及び基板移動等の種
々の手段を示している。
As shown above, reference numeral 20 in the drawing indicates the planar arrangement of the entire vacuum device having the characteristic structure of the present invention.
And a processing chamber 23. FIG. 2 schematically shows an AA cross section of the vacuum device section 20 in FIG. 1, and in addition to the first vacuum preliminary chamber 21, the second vacuum preliminary chamber 22, and the processing chamber 23, Various means for defining each chamber and moving the substrate during the processing of the semiconductor substrate in the apparatus section 20 are shown.

【0020】特にハッチングを施した部分で構成される
第2真空予備室22内に位置して、90度毎の間欠回動
及び180度反転回動自在なターンテーブル30は、タ
ーンテーブル駆動モータMにより回動され、更にターン
テーブル上下動機構31によって駆動される軸32に固
定されている、いわゆるダイレクトドライブである。上
記ターンテーブル30の外周部分には、対称位置に4個
の基板Pを載置する基板載置部33を有しており、夫々
の基板載置部33にはステージ41が挿通可能な穴35
が設けられている。
The turntable 30, which is located in the second pre-vacuum chamber 22 constituted by a hatched portion and is rotatable intermittently every 90 degrees and can be turned 180 degrees, is provided with a turntable driving motor M. This is a so-called direct drive that is rotated by the motor and further fixed to a shaft 32 driven by a turntable vertical movement mechanism 31. On the outer peripheral portion of the turntable 30, there are provided substrate mounting portions 33 on which four substrates P are mounted at symmetrical positions. Each of the substrate mounting portions 33 has a hole 35 through which the stage 41 can be inserted.
Is provided.

【0021】符号40で示すステージユニットは、上記
第1真空予備室21と処理室23の下方に各々2個設け
られており、夫々のステージユニット40にはステージ
41が各ステージ昇降機構43により上下する構成であ
る。そして、夫々のステージ41が上記ターンテーブル
30の基板載置部33に設けた穴35を貫通して上下動
し、従って該ステージ41又はその上面によって基板P
を上下移動させることが可能である。
Two stage units indicated by reference numeral 40 are provided below the first vacuum preliminary chamber 21 and the processing chamber 23, respectively. It is a configuration to do. Then, each stage 41 moves up and down through a hole 35 provided in the substrate mounting portion 33 of the turntable 30. Therefore, the substrate P is moved by the stage 41 or its upper surface.
Can be moved up and down.

【0022】図2から明らかなように、第2真空予備室
22の底板部分には当然に、上記ターンテーブル30を
駆動する軸32及び各ステージ41が貫通する開口2
4、25が設けられているが、これらの部分の気密は、
いずれも後述する様にベローズBによって保たれてい
る。又、第1真空予備室21、第2真空予備室22、処
理室23を画成するために、それらの構成部材間及びタ
ーンテーブル30の基板載置部33等には、図面におい
てはその概略のみ記載されているけれども、夫々Oリン
グOLが設けられており、これにより必要に応じて各部
材間の気密を形成することが可能である。
As is apparent from FIG. 2, the shaft 32 for driving the turntable 30 and the opening 2 through which each stage 41 penetrates are naturally formed in the bottom plate portion of the second pre-vacuum chamber 22.
4 and 25 are provided, but the airtightness of these parts is
Both are held by bellows B as described later. In order to define the first vacuum preparatory chamber 21, the second vacuum preparatory chamber 22, and the processing chamber 23, the components between them and the substrate mounting portion 33 of the turntable 30 are schematically illustrated in the drawings. Although only described, each is provided with an O-ring OL, whereby it is possible to form an airtightness between the members as required.

【0023】更に、第2真空予備室22を構成する天板
TPは、その円筒容器部と共にハッチングを施して図示
されているけれども、その断面形状が特に笠型を程して
おり、該予備室22内の減圧力による大径の天板部分の
変形を、格別の補強又は支持構造を必要とすることなく
防止できる構成としている。そして、該中央部が笠型に
盛り上がった天板TPには、夫々第1真空予備室21及
び処理室23が結合されている。
Further, although the top plate TP constituting the second vacuum preparatory chamber 22 is shown hatched together with its cylindrical container portion, its cross-sectional shape is particularly a hat-shape. The large-diameter top plate portion can be prevented from being deformed by the decompression force inside 22 without any special reinforcement or support structure. The first vacuum preparatory chamber 21 and the processing chamber 23 are respectively connected to the top plate TP whose central portion is raised in a hat shape.

【0024】なお、処理室23、第1真空予備室21、
第2真空予備室22等は前記図9に示す従来例と同様
に、図示しない減圧、パージその他の半導体処理に必要
な各種手段を夫々備えており、処理室23にはN2 ガス
パージ用開口H1、減圧用開口H2が、第1真空予備室
21にはN2 ガスパージ用開口H3、減圧用開口H4
が、第2真空予備室22にはエアーパージ用開口H5、
減圧用開口H6が夫々設けられている。また、第1真空
予備室21の頂部は、半導体基板の搬入、搬出のために
開閉可能な蓋体を構成している。
The processing chamber 23, the first pre-vacuum chamber 21,
Like the conventional example shown in FIG. 9, the second vacuum preparatory chamber 22 and the like are equipped with various means (not shown) required for decompression, purging, and other semiconductor processing. The processing chamber 23 has an N 2 gas purge opening H1. , An opening H2 for depressurization, an opening H3 for purging N 2 gas, an opening H4 for depressurizing in the first vacuum preliminary chamber 21.
However, an air purge opening H5 is provided in the second vacuum preliminary chamber 22.
The decompression openings H6 are provided respectively. The top of the first pre-vacuum chamber 21 forms a lid that can be opened and closed for loading and unloading semiconductor substrates.

【0025】図3は、上記図2における基板載置部33
の構成を示しており、すなわち駆動軸32によって直接
回動されるターンテーブル30と、これに一体的に設け
た例えば4個のリング状部分34を有しており、各リン
グ状部分34の上記ステージ貫通穴35内方には後述す
るごとく、基板Pを載置及び位置決めするための複数の
爪36を有している。
FIG. 3 is a sectional view of the substrate mounting portion 33 shown in FIG.
In other words, it has a turntable 30 directly rotated by a drive shaft 32 and, for example, four ring-shaped portions 34 provided integrally therewith. As described later, a plurality of claws 36 for mounting and positioning the substrate P are provided inside the stage through hole 35.

【0026】図中40で示すステージユニットは、図2
において模式的に示した各ステージユニット40の上方
部分をより具体的に表わしており、各ステージ41と、
これらを第2真空予備室22の底板における開口部分2
5に位置させるためのシール用フランジ体26が示され
ている。そして、上述の各ベローズBは、いずれもこれ
らシール用フランジ体26内部と、図示しない基台上に
設けた各ステージ昇降機構43(図2に模式的に示す)
のシール部とに結合されている。なお、ターンテーブル
30の駆動軸32のための開口部分24における気密保
持用ベローズBの取付けも上記とほぼ同様であるが、こ
れらの構成はいずれも公知の手段を適宜に適用できるも
ので、細部の説明は省略されている。
The stage unit indicated by reference numeral 40 in FIG.
The upper part of each stage unit 40 schematically shown in FIG.
These are connected to the opening 2 in the bottom plate of the second vacuum preliminary chamber 22.
5, a sealing flange 26 for positioning is shown. Each of the bellows B described above has a stage elevating mechanism 43 (schematically shown in FIG. 2) provided inside the sealing flange body 26 and on a base (not shown).
And a seal portion. The attachment of the bellows B for maintaining the airtightness in the opening 24 for the drive shaft 32 of the turntable 30 is substantially the same as described above, but any of these configurations can be appropriately applied by a known means. Is omitted.

【0027】図3及び図4によって一層明らかなごと
く、円筒状のステージ41の外周壁面には複数の縦溝4
2が設けられている。そして、該縦溝42の大きさと位
置は、上記基板載置部33のリング状部分34の内方に
突設されている爪36の大きさと位置に対応しており、
後述するごとく基板Pの上下移動操作時に両者が係合、
離脱するものである。また、図4から特に明らかな様
に、ターンテーブル30と一体である基板載置部33の
リング状部分34に設けた複数の爪36には、その先端
部分に基板Pの載置位置を確定するための段部37が夫
々設けられている。
As is clear from FIGS. 3 and 4, a plurality of vertical grooves 4 are formed on the outer peripheral wall surface of the cylindrical stage 41.
2 are provided. The size and position of the vertical groove 42 correspond to the size and position of the claw 36 projecting inward from the ring-shaped portion 34 of the substrate mounting portion 33,
As will be described later, both are engaged during the vertical movement operation of the substrate P,
Is to leave. 4, the plurality of claws 36 provided on the ring-shaped portion 34 of the substrate mounting portion 33 integrated with the turntable 30 determine the mounting position of the substrate P at the tip thereof. Step portions 37 are provided.

【0028】この様にして、基板Pの外径は複数の爪3
6に設けられた段部37が形成する円内に収納載置され
る関係であり、該爪36の先端部分は、いずれも上記ス
テージ41の外周壁面に設けられた縦溝42が通過可能
な寸法関係であり、従ってステージ41の外径は、その
上昇位置において基板Pを、その外周縁部45において
確実に支持することが出来る構造である。即ち図4及び
図5において明らかなように、ステージ41の外径はリ
ング状部分34の穴35に嵌入自在であるが、爪36は
縦溝42内を通過する構造であるから、該爪36の段部
37に載置された基板Pは、ステージ41の上昇時に該
ステージの上端部に於ける外周縁部45内に格納支持さ
れる状態となり、ステージ上での温度コントロールを確
実にできるようにしている。
In this manner, the outer diameter of the substrate P is
6 are housed and placed in a circle formed by a step portion 37 provided in the stage 6, and the distal end portion of the claw 36 can pass through a vertical groove 42 provided on the outer peripheral wall surface of the stage 41. Because of the dimensional relationship, the outer diameter of the stage 41 is a structure that can reliably support the substrate P at its outer peripheral edge 45 at its raised position. 4 and 5, the outer diameter of the stage 41 can be freely inserted into the hole 35 of the ring-shaped portion 34, but the claw 36 has a structure passing through the vertical groove 42. The substrate P placed on the stepped portion 37 is stored and supported in the outer peripheral edge 45 at the upper end of the stage 41 when the stage 41 is raised, so that the temperature control on the stage can be reliably performed. I have to.

【0029】図5及び図6は、各ステージ41が下降位
置及び上昇位置にある場合の、第2真空予備室22の天
板部TP(具体的な構成は図2参照)の下側面と第1真
空予備室21(又は処理室23)と、ターンテーブル3
0の基板載置部33と基板Pとの相互位置関係を示して
いる。先ず、図5においては(例えば全ての)ステージ
41が下降した状態を示しており、ターンテーブル30
も図2に示す位置に下降した状態である。従って、図2
における第2真空予備室22と第1真空予備室21及び
/又は処理室23とは互いに連通状態である。
FIGS. 5 and 6 show the lower surface of the top plate TP (see FIG. 2 for the specific configuration) and the lower surface of the second vacuum auxiliary chamber 22 when each stage 41 is at the lowered position and the raised position. 1 vacuum preparatory chamber 21 (or processing chamber 23) and turntable 3
0 shows a mutual positional relationship between the substrate mounting portion 33 and the substrate P. First, FIG. 5 shows a state in which the stages 41 (for example, all) are lowered, and the turntable 30 is turned off.
Is also lowered to the position shown in FIG. Therefore, FIG.
The second pre-vacuum chamber 22 and the first pre-vacuum chamber 21 and / or the processing chamber 23 are in communication with each other.

【0030】これに対して図6は、図2に示すステージ
昇降機構43によってステージ41を上昇させた状態を
示しており、ターンテーブル30の基板載置部33にお
いて、その上下面に設けられたシール用OリングOL
(該上面側のOリングは第2真空予備室22側の天板T
Pの下側面に設けてもよい)は、ステージ41の円筒状
外周面上端であるシール面44と、第2真空予備室22
の天板下面との間に挟持され、この状態で第1真空予備
室21及び/又は処理室23と第2真空予備室22との
間の気密が構成される。
FIG. 6 shows a state in which the stage 41 is raised by the stage elevating mechanism 43 shown in FIG. 2, and is provided on the upper and lower surfaces of the substrate mounting portion 33 of the turntable 30. O-ring OL for seal
(The O-ring on the upper surface side is the top plate T on the second vacuum preliminary chamber 22 side.
P may be provided on the lower side surface of the stage 41, the seal surface 44 at the upper end of the cylindrical outer peripheral surface of the stage 41, and the second vacuum preliminary chamber 22.
Between the first vacuum preliminary chamber 21 and / or the processing chamber 23 and the second vacuum preliminary chamber 22 in this state.

【0031】更にこれら図5、図6より明らかなごと
く、ターンテーブル30の基板載置部33を構成するリ
ング状部分34の、内方に向かう爪36に設けた段部3
7(図4参照)には、図5におけるステージ41の下降
位置状態において基板Pが係合載置され、図6に示すス
テージ41の上昇位置状態においては、該基板Pがステ
ージ41の上端面外周部に設けられている上述の円形縁
部45内に載置固定されているものである。
Further, as is apparent from FIGS. 5 and 6, the stepped portion 3 provided on the inwardly extending claw 36 of the ring-shaped portion 34 constituting the substrate mounting portion 33 of the turntable 30.
In FIG. 7 (see FIG. 4), the substrate P is engaged and mounted when the stage 41 is in the lowered position in FIG. 5, and when the stage 41 is in the raised position shown in FIG. It is mounted and fixed in the above-mentioned circular edge 45 provided on the outer peripheral portion.

【0032】続いて、本発明の処理装置における稼動時
の、特に搬送システムの動作を図2において説明する。
先ず、ターンテーブル30及び各ステージ41は夫々の
昇降手段31、43により上昇させられており、かつ、
第2真空予備室22と第1真空予備室21、処理室23
は共にシール手段によって隔絶された状態になされる。
この時点では、第1真空予備室21、第2真空予備室2
2、処理室23は何れも略々等圧の減圧状態である。
Next, the operation of the processing apparatus of the present invention, particularly the operation of the transport system, will be described with reference to FIG.
First, the turntable 30 and each stage 41 are lifted by the respective lifting / lowering means 31, 43, and
Second vacuum preparatory chamber 22, first vacuum preparatory chamber 21, processing chamber 23
Are both isolated by the sealing means.
At this time, the first vacuum preliminary chamber 21 and the second vacuum preliminary chamber 2
2. Each of the processing chambers 23 is in a depressurized state of substantially equal pressure.

【0033】次に、第2真空予備室22は開口H5より
エアーがパージされ、続いて第1真空予備室21も開口
H5からN2 によりパージされる。次いで、該第1真空
予備室21のパージ後にその上蓋を開け、未処理基板P
を図1に示すロボット11、12によって、カセットス
テージ13、14から該真空予備室21内のステージ4
1、41上端面における各円形縁部45内に載置固定す
る。この場合、少なくとも該第1真空予備室21は他の
室と隔絶されており、かつ当然に大気圧中での搬送であ
る。従って、第1真空予備室内での基板の搬送中は第2
真空予備室22も大気圧とされているので、ステージユ
ニットに係る負荷を除くことができる。
Next, the second pre-vacuum chamber 22 is purged with air from the opening H5, and then the first pre-vacuum chamber 21 is also purged with N 2 from the opening H5. Next, after purging the first vacuum preliminary chamber 21, the upper lid is opened, and the unprocessed substrate P
Are moved from the cassette stages 13 and 14 by the robots 11 and 12 shown in FIG.
1 and 41 are placed and fixed in each circular edge 45 at the upper end surface. In this case, at least the first pre-vacuum chamber 21 is isolated from other chambers, and is naturally transported under atmospheric pressure. Therefore, during the transfer of the substrate in the first vacuum preliminary chamber, the second
Since the pre-vacuum chamber 22 is also at atmospheric pressure, the load on the stage unit can be eliminated.

【0034】続いて、第1真空予備室21内は減圧用開
口H4から真空引きされ、所定圧力まで減圧されると同
時に、第2真空予備室22も減圧用開口H6から真空引
きされ、互いに隔絶された各室はいずれも等圧の減圧状
態とされる。また、この間は処理室23が任意の減圧状
態において種々の処理工程が実行可能であるが、該処理
室23内の負圧によってターンテーブル30及び該当側
のステージ41は、第2真空予備室22の天板TPにO
リングを介して圧着シールされるので、ステージユニッ
トに対する負荷は極めて小さい。
Subsequently, the inside of the first vacuum preliminary chamber 21 is evacuated from the depressurizing opening H4 to be depressurized to a predetermined pressure, and at the same time, the second vacuum preliminary chamber 22 is also evacuated from the depressurizing opening H6 to be isolated from each other. Each of the chambers thus set is kept at a constant pressure. During this time, various processing steps can be performed while the processing chamber 23 is in an arbitrary reduced pressure state. However, the negative pressure in the processing chamber 23 causes the turntable 30 and the corresponding stage 41 to move to the second vacuum preparatory chamber 22. O on the top plate TP
Since the pressure seal is performed via the ring, the load on the stage unit is extremely small.

【0035】次に、各室が等圧状態の下で、第1真空予
備室21及び処理室23のステージ41は夫々のステー
ジ昇降機構43を駆動して下降され、続いてターンテー
ブル30が同様に、テーブル昇降手段31を駆動して下
降され、図2に示す状態とされる。その後、モータMを
作動させてターンテーブル30を例えば180度回動さ
せることにより、図2に示す状態から各基板載置部33
が、第1真空予備室21と処理室23の位置で入れ替る
こととなる。そして、ターンテーブル30がテーブル昇
降手段31によって上昇されて、第2真空予備室22の
天板TPに圧接された後に、第1真空予備室21及び処
理室23の夫々のステージ41は、前記と同様にステー
ジ昇降機構43の駆動により上昇される。この時第1真
空予備室21内では、もし先行の処理済み基板が載置さ
れていればこれを基板載置部33から受け取り上昇さ
せ、さもなければ次の新たな未処理基板を受入れるため
に上昇させられる。
Next, while the respective chambers are under a uniform pressure, the stages 41 of the first vacuum preliminary chamber 21 and the processing chamber 23 are lowered by driving the respective stage elevating mechanisms 43, and then the turntable 30 is similarly moved. Then, the table lifting / lowering means 31 is driven to be lowered and brought into the state shown in FIG. After that, the motor M is operated to rotate the turntable 30 by, for example, 180 degrees, so that each of the substrate mounting portions 33 is moved from the state shown in FIG.
However, the positions of the first vacuum preliminary chamber 21 and the processing chamber 23 are switched. Then, after the turntable 30 is raised by the table lifting / lowering means 31 and pressed against the top plate TP of the second vacuum preparatory chamber 22, the respective stages 41 of the first vacuum preparatory chamber 21 and the processing chamber 23 are Similarly, the stage is raised by driving the stage elevating mechanism 43. At this time, in the first vacuum preparatory chamber 21, if a preceding processed substrate is mounted, it is received from the substrate mounting portion 33 and raised, otherwise, in order to receive the next new unprocessed substrate. Can be raised.

【0036】又、処理室23内では、上記第1真空予備
室21からターンテーブル30により搬送された未処理
基板を、基板載置部33から受け取り上昇させる。そし
て、これらのステージ41はいずれも、最上昇位置で図
6に示す状態位置となることによって、上記同様に各基
板載置部33のシール手段であるOリングOLと協動し
て、第2真空予備室22と第1真空予備室21及び処理
室23とを隔絶し、夫々独立した減圧室を構成するもの
である。
In the processing chamber 23, the unprocessed substrate transported by the turntable 30 from the first pre-vacuum chamber 21 is received from the substrate mounting portion 33 and raised. Each of these stages 41 is brought into the state shown in FIG. 6 at the highest position, and cooperates with the O-ring OL which is the sealing means of each substrate mounting portion 33 in the same manner as described above, thereby forming the second stage. The vacuum preparatory chamber 22 is isolated from the first vacuum preparatory chamber 21 and the processing chamber 23 to form independent pressure reducing chambers.

【0037】その後前述の通りに、第1真空予備室21
においてはH3からN2 ガスをパージすることによって
常圧に戻すと共に、次の、処理済み基板のロボット1
1、12による搬出及び新たな未処理基板の受入れの準
備がなされる。この場合、処理済み基板はいずれも、該
ロボット11、12によって前述のバッファステージ1
5へ搬送される。
Thereafter, as described above, the first vacuum preliminary chamber 21
With return to normal pressure by purging with N 2 gas from H3 in, the next, the processed substrates robot 1
Preparations for unloading and receiving a new unprocessed substrate by means of 1 and 12 are made. In this case, the processed substrates are all processed by the robots 11 and 12 in the buffer stage 1 described above.
5 is conveyed.

【0038】また、処理室23においては各種の基板処
理作業がなされると共に、その処理終了後に、パージ用
開口H1からN2 ガスをパージすることによって、基板
処理後は第2真空予備室22の圧力と等圧になるように
加減されるが、何れにしても処理室23の圧力は処理に
必要な任意の減圧状態に、別個に制御される。またその
間は、第2真空予備室22に対してはパージ用開口H5
を通してエアーを導入し、同様に常圧まで昇圧させて、
第1真空予備室とバランスさせている。
Further, the substrate processing operations for various are made in the processing chamber 23, after the processing ends, by purging with N 2 gas from the purge opening H1, after the substrate treatment of the second lock chamber 22 The pressure is adjusted so as to be equal to the pressure, but in any case, the pressure in the processing chamber 23 is separately controlled to an arbitrary reduced pressure necessary for the processing. In the meantime, the purge opening H5 is
And pressurize it to normal pressure,
It is balanced with the first vacuum reserve chamber.

【0039】更に他の実施例のごとく、ターンテーブル
が90度毎に間欠的に回動される場合も、上記減圧及び
パージの手順はほぼ同様である。そして、この様に一定
方向に90度づつ回動される搬送形態にあっては、各基
板載置部33上に固定された基板Pは、いずれも同一の
処理室23内に2ステップ時間滞在させられることとな
り、この間に例えば前処理と後処理を、或は2段階のよ
り精密処理を行う等、多用途への利用を可能とするもの
である。
When the turntable is intermittently rotated every 90 degrees as in the other embodiments, the above-described procedures of the pressure reduction and the purge are substantially the same. In this manner, in the transport mode in which the substrate P is rotated by 90 degrees in a certain direction, all the substrates P fixed on the respective substrate mounting portions 33 stay in the same processing chamber 23 for two steps. During this time, it can be used for various purposes such as performing pre-processing and post-processing, or performing two-stage more precise processing.

【0040】[0040]

【効果】本発明は、上述のごとき構成であるから第1
に、真空中での搬送手段であるターンテーブル30を収
納し且つ駆動するための、第2真空予備室22の容量を
極めて小さくすることができ、このため、他の第1真空
予備室21及び処理室23と比較すると必然的に大きく
なる第2真空予備室22の減圧を、小容量の真空ポンプ
で短時間に行うことが可能となった。又、第2に、各ス
テージ41はいずれも回動することなく上下移動のみで
あるから、該ステージ41内に種々の加熱、冷却機構等
を組み込むことが容易となった。このため、第1真空予
備室、第2真空予備室、処理室を夫々個別に温度制御が
可能となり、処理基板温度の段階的制御が極めて容易と
なった。第3に、上述のごとく夫々の真空室を個別に画
成できることから、基板の搬入、搬出時にステージユニ
ットに掛る圧力負荷を大きく軽減することが可能となっ
た。第4に、容量の比較的小さい第1真空予備室21、
処理室23を夫々個別に加減圧可能にできるので、ソフ
トバキューム、ソフトパージを実施してもスループット
の低下を防ぐことが可能となった。更に、ターンテーブ
ルとステージを一体駆動する場合に比べてテーブル等の
駆動機構が小型化できるため、ステージの増設や基板の
大型化に容易に対応可能となり、又ターンテーブルの回
転駆動方式の変更により種々異なった多様な処理が可能
となり、且つ、第2真空予備室の天板の工夫により、簡
単な構成によってその変形を防止することができるの
で、減圧室の小型による利点を十分に活用することが可
能となった。更にまた、基板Pはステージ41上端の円
形縁部内に格納状態で搬送又は支持されるから、その間
の種々の温度コントロールが極めて容易となった。
According to the present invention, since the present invention has the above configuration, the first
In addition, the capacity of the second pre-vacuum chamber 22 for accommodating and driving the turntable 30, which is a transport means in a vacuum, can be made extremely small. The decompression of the second pre-vacuum chamber 22, which is inevitably larger than that of the processing chamber 23, can be performed in a short time by a small-capacity vacuum pump. Secondly, since each stage 41 only moves up and down without rotating, it becomes easy to incorporate various heating and cooling mechanisms and the like in the stage 41. For this reason, the first vacuum preliminary chamber, the second vacuum preliminary chamber, and the processing chamber can be individually controlled in temperature, and the stepwise control of the processing substrate temperature becomes extremely easy. Third, since the respective vacuum chambers can be individually defined as described above, it has become possible to greatly reduce the pressure load applied to the stage unit when loading and unloading the substrate. Fourth, the first vacuum preliminary chamber 21 having a relatively small capacity,
Since the processing chambers 23 can be individually pressurized and decompressed, it is possible to prevent a decrease in throughput even when soft vacuum and soft purge are performed. Furthermore, since the drive mechanism such as the table can be made smaller than when the turntable and stage are driven integrally, it is possible to easily cope with the expansion of the stage and the enlargement of the substrate, and by changing the rotation drive system of the turntable. A variety of different treatments can be performed, and the modification of the top plate of the second vacuum preparatory chamber can prevent the deformation by a simple configuration, so that the advantage of the reduced size of the decompression chamber can be fully utilized. Became possible. Furthermore, since the substrate P is conveyed or supported in a stored state in the circular edge at the upper end of the stage 41, various temperature controls during the period are extremely easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る半導体処理装置の概略平面図であ
る。
FIG. 1 is a schematic plan view of a semiconductor processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1のA−A断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.

【図3】基板載置部の拡大斜視図である。FIG. 3 is an enlarged perspective view of a substrate mounting portion.

【図4】図3の一部の基板載置部及びステージユニット
の拡大斜視図である。
FIG. 4 is an enlarged perspective view of a part of a substrate mounting portion and a stage unit in FIG. 3;

【図5】ステージユニットによる基板搬送説明図であ
る。
FIG. 5 is an explanatory diagram of substrate transfer by a stage unit.

【図6】ステージユニットによる基板搬送説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory view of substrate transfer by a stage unit.

【図7】従来公知の半導体製造装置の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a conventionally known semiconductor manufacturing apparatus.

【図8】図7の断面図である。FIG. 8 is a sectional view of FIG. 7;

【図9】本発明者が先に提案した半導体製造装置の平面
図である。
FIG. 9 is a plan view of a semiconductor manufacturing apparatus previously proposed by the present inventors.

【図10】図9のB−B断面図である。FIG. 10 is a sectional view taken along the line BB of FIG. 9;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 半導体処理装置 20 真空装置部 21 第1真空予備室 22 第2真空予備室 23 処理室 30 ターンテーブル 31 ターンテーブル昇降手段 33 基板載置部 34 リング状部 36 爪 37 段部 40 ステージユニット 41 ステージ 43 ステージ昇降機構 45 ステージ上端円形縁部 OL シール用Oリング B ベローズ P 半導体基板 TP 第2真空予備室天板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Semiconductor processing apparatus 20 Vacuum apparatus part 21 First vacuum preparatory chamber 22 Second vacuum preparatory chamber 23 Processing chamber 30 Turntable 31 Turntable elevating means 33 Substrate mounting part 34 Ring part 36 Claw 37 Step part 40 Stage unit 41 Stage 43 Stage lifting mechanism 45 Stage top circular edge OL seal O-ring B Bellows P Semiconductor substrate TP Second vacuum spare chamber top plate

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1真空予備室、第2真空予備室及び基
板処理室を有する半導体製造装置であって、第2真空予
備室内には回動自在かつ上下動自在なターンテーブルを
有し、該ターンテーブルは少なくとも4個の基板載置部
を有し、上記第1真空予備室及び基板処理室の夫々の下
方対応位置における第2真空予備室底板部には、上記タ
ーンテーブルの基板載置部の夫々に対応して上下動可能
なステージユニットを有し、これらステージユニットの
各ステージを上下動することにより基板載置部から第1
真空予備室内及び処理室内へ夫々半導体基板を搬送し、
また逆に該基板載置部に半導体基板を搬送載置すること
を特徴とする半導体製造装置。
1. A semiconductor manufacturing apparatus having a first pre-vacuum chamber, a second pre-vacuum chamber, and a substrate processing chamber, wherein the second pre-vacuum chamber has a rotatable and vertically movable turntable, The turntable has at least four substrate mounting portions, and the second vacuum auxiliary chamber bottom plate at a corresponding position below the first vacuum auxiliary chamber and the substrate processing chamber respectively has the substrate mounting portion of the turntable. A stage unit that can move up and down in correspondence with each of the stages.
The semiconductor substrate is transported into the vacuum preliminary chamber and the processing chamber, respectively.
Conversely, a semiconductor manufacturing apparatus wherein a semiconductor substrate is transported and mounted on the substrate mounting portion.
【請求項2】 上記ターンテーブルの回動は、90度毎
に順次同一方向に行われることを特徴とする請求項1記
載の半導体製造装置。
2. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the turntable is sequentially rotated in the same direction every 90 degrees.
【請求項3】 上記ターンテーブルの回動は、180度
の正・逆転であることを特徴とする請求項1記載の半導
体製造装置。
3. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein said turntable is rotated forward and backward by 180 degrees.
【請求項4】 上記基板載置部はその上下両面におい
て、上記第2真空予備室の天板及び各ステージのシール
面との間にシール部材を挟持することにより、第1真空
予備室、第2真空予備室及び処理室の間に減圧室を画成
可能であることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに
記載の半導体製造装置。
4. The first vacuum preliminary chamber, the first vacuum preliminary chamber and the second vacuum preliminary chamber by sandwiching a sealing member between a top plate of the second vacuum preliminary chamber and a sealing surface of each stage on both upper and lower surfaces of the substrate mounting section. 4. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein a decompression chamber can be defined between the pre-vacuum chamber and the processing chamber.
【請求項5】 上記ターンテーブルの基板載置部は、夫
々対応する各ステージの上部が貫通する穴を有してお
り、該穴の内方には、処理基板を載置係止するための段
部を有する複数の爪を備えていることを特徴とする請求
項1乃至4の何れかに記載の半導体製造装置。
5. The substrate mounting portion of the turntable has a hole through which an upper portion of each corresponding stage penetrates, and a hole for mounting and locking a processing substrate is provided inside the hole. 5. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, comprising a plurality of claws having a step.
【請求項6】 上記各ステージの上端面には、基板を載
置係止するための円形凹部が設けられていることを特徴
とする請求項5記載の半導体製造装置。
6. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 5, wherein a circular recess for mounting and locking a substrate is provided on an upper end surface of each of said stages.
【請求項7】 上記各ステージユニットは、ランプ加熱
機構、水冷冷却機構、高周波印加機構等が追加設置可能
である請求項1乃至3の何れかに記載の半導体製造装
置。
7. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein each of said stage units can be additionally provided with a lamp heating mechanism, a water cooling / cooling mechanism, a high frequency applying mechanism, and the like.
【請求項8】 上記第2真空予備室を構成する天板が、
断面笠型であることを特徴とする請求項1乃至3の何れ
かに記載の半導体製造装置。
8. A top plate constituting the second pre-vacuum chamber,
The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the semiconductor manufacturing apparatus has a cross-sectional shape.
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