JP2000021163A - Refresh control circuit for storage device - Google Patents

Refresh control circuit for storage device

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JP2000021163A
JP2000021163A JP10187154A JP18715498A JP2000021163A JP 2000021163 A JP2000021163 A JP 2000021163A JP 10187154 A JP10187154 A JP 10187154A JP 18715498 A JP18715498 A JP 18715498A JP 2000021163 A JP2000021163 A JP 2000021163A
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JP
Japan
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memory module
refresh
memory
control circuit
self
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JP10187154A
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Japanese (ja)
Inventor
Makoto Kuboya
誠 久保谷
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NEC Ibaraki Ltd
Original Assignee
NEC Ibaraki Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable refreshing of a plurality of memory modules without adversely affecting a normal memory access operation by allowing the respective memory modules to be refreshed based on update history of each memory module. SOLUTION: A memory module update management circuit 11 manages update history of a memory access for each of memory modules 17 and 18, and contains memory module updating flags and self-refresh performing flags each corresponding to the respective memory modules. In addition, it is determined to which memory module an address corresponds based on a memory module address signal that has been input from a main control circuit 12, and it is further determined whether or not self-refreshing has been performed. The main control circuit 12 then performs the self-refreshing for the memory module that has not been updated for a long period of time, while simultaneously allowing an access to the other memory modules to be performed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、記憶装置のリフレ
ッシュ制御回路に関し、特に、複数個備えられたメモリ
モジュールをリフレッシュする記憶装置のリフレッシュ
制御回路に関する。
The present invention relates to a refresh control circuit for a storage device, and more particularly, to a refresh control circuit for a storage device for refreshing a plurality of memory modules.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、記憶装置のリフレッシュを行うリ
フレッシュ制御回路が知られている。この記憶装置のリ
フレッシュ制御回路では、非同期DRAM(dynam
icrandom access memory)で構
成された複数のメモリモジュールをリフレッシュする場
合、記憶素子へのアクセスを停止して、全メモリモジュ
ールのリフレッシュを行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, a refresh control circuit for refreshing a storage device has been known. In the refresh control circuit of this storage device, an asynchronous DRAM (dynam) is used.
When refreshing a plurality of memory modules configured by random access memory, access to a storage element is stopped and all memory modules are refreshed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、メモリ
モジュールをリフレッシュする毎に、記憶素子へのメモ
リアクセスを停止して、全メモリモジュールのリフレッ
シュを行っていたため、リフレッシュ期間中はメモリア
クセスが待機状態となってしまう。また、リフレッシュ
期間が長いことから、リフレッシュすることがシステム
の性能低下の要因となっていた。
However, every time the memory module is refreshed, the memory access to the storage elements is stopped and all the memory modules are refreshed. Therefore, the memory access is in a standby state during the refresh period. turn into. In addition, since the refresh period is long, refreshing has been a cause of system performance degradation.

【0004】本発明の目的は、メモリアクセスの通常動
作に影響を与えることなく、複数個備えられたメモリモ
ジュールのリフレッシュが可能な記憶装置のリフレッシ
ュ制御回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a refresh control circuit of a storage device capable of refreshing a plurality of memory modules without affecting a normal operation of memory access.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る記憶装置のリフレッシュ制御回路は、
複数個備えられたメモリモジュールをリフレッシュする
記憶装置のリフレッシュ制御回路において、各メモリモ
ジュールに対する更新履歴に基づき、各メモリモジュー
ル毎にリフレッシュすることを特徴としている。
In order to achieve the above object, a refresh control circuit of a storage device according to the present invention comprises:
In a refresh control circuit of a storage device for refreshing a plurality of memory modules, refresh is performed for each memory module based on an update history for each memory module.

【0006】上記構成を有することにより、複数個備え
られたメモリモジュールをリフレッシュする際、各メモ
リモジュールに対する更新履歴に基づいて各メモリモジ
ュール毎にリフレッシュが行われる。これにより、メモ
リアクセスの通常動作に影響を与えることなく、複数個
備えられたメモリモジュールのリフレッシュを行うこと
ができる。
With the above configuration, when refreshing a plurality of memory modules, refresh is performed for each memory module based on the update history for each memory module. Thus, a plurality of memory modules can be refreshed without affecting the normal operation of memory access.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0008】図1は、本発明の実施の形態に係る記憶装
置のリフレッシュ制御回路のブロック図である。図1に
示すように、リフレッシュ制御回路10は、メモリモジ
ュール更新管理回路11、主制御回路(メモリモジュー
ルアクセス制御手段)12、アドレス出力回路13、ク
ロックイネーブル出力回路14、タイミング信号出力回
路15、及びタイマー回路16を有している。
FIG. 1 is a block diagram of a refresh control circuit of a storage device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the refresh control circuit 10 includes a memory module update management circuit 11, a main control circuit (memory module access control means) 12, an address output circuit 13, a clock enable output circuit 14, a timing signal output circuit 15, and It has a timer circuit 16.

【0009】このリフレッシュ制御回路10は、2個の
メモリモジュール17,18に接続されている。これら
のメモリモジュール17,18は、セルフリフレッシュ
動作が可能な同期式DRAMから構成されている。
The refresh control circuit 10 is connected to two memory modules 17 and 18. These memory modules 17 and 18 are composed of a synchronous DRAM capable of performing a self-refresh operation.

【0010】メモリモジュール更新管理回路11は、各
メモリモジュール17,18に対するメモリアクセスの
更新履歴を管理しており、各メモリモジュール17,1
8に対応したメモリモジュール更新フラグ及びセルフリ
フレッシュ実行フラグを有する。
The memory module update management circuit 11 manages an update history of memory access to each of the memory modules 17 and 18, and
8 has a memory module update flag and a self-refresh execution flag.

【0011】このメモリモジュール更新管理回路11
は、主制御回路12から入力したメモリモジュールアド
レス信号により、メモリモジュール17,18のどちら
に対するアドレスかを判定し、また、セルフリフレッシ
ュが実行されているかどうかを判定する。
This memory module update management circuit 11
Determines which of the memory modules 17 and 18 is the address based on the memory module address signal input from the main control circuit 12, and determines whether or not the self refresh is being executed.

【0012】アドレス判定により、メモリモジュール1
7へのアクセスならばそれに対応したメモリモジュール
更新フラグに、メモリモジュール18へのアクセスなら
ばそれに対応したメモリモジュール更新フラグに、それ
ぞれ“1”をたてる。また、セルフリフレッシュの実行
判定により、セルフリフレッシュが実行されているなら
ば、それに対応したセルフリフレッシュ実行フラグに
“1”を立てる。
According to the address determination, the memory module 1
7 is set to the corresponding memory module update flag, and to the memory module 18, the corresponding memory module update flag is set to "1". If it is determined that the self-refresh is being executed, the corresponding self-refresh execution flag is set to "1".

【0013】メモリモジュール更新フラグ及びセルフリ
フレッシュ実行フラグのリセットは、定期的リフレッシ
ュが行われた時点で実行される。
The reset of the memory module update flag and the self-refresh execution flag is executed when the periodic refresh is performed.

【0014】主制御回路12は、未更新期間が長いメモ
リモジュールにはセルフリフレッシュを実行すると同時
に他のメモリモジュールにはアクセスが実行できるよう
に、アドレス出力回路13、クロックイネーブル出力回
路14及びタイミング信号出力回路15へ、制御信号を
出力する。
The main control circuit 12 performs an address output circuit 13, a clock enable output circuit 14, and a timing signal so that a self-refresh can be performed on a memory module having a long non-updated period and at the same time an access can be performed on another memory module. A control signal is output to the output circuit 15.

【0015】この制御信号の入力により、アドレス出力
回路13はメモリアドレス信号ADRを、クロックイネ
ーブル出力回路14はクロックイネーブル信号CKE
を、タイミング信号出力回路15は各種タイミング信号
を、それぞれメモリモジュール17,18に出力する。
By receiving the control signal, the address output circuit 13 outputs the memory address signal ADR, and the clock enable output circuit 14 outputs the clock enable signal CKE.
And the timing signal output circuit 15 outputs various timing signals to the memory modules 17 and 18, respectively.

【0016】タイマー回路16は、各メモリモジュール
17,18に対応したそれぞれのタイマー(図示しな
い)を持ち、定期的リフレッシュが行われた時点では全
タイマーがリセットされ、若しくは各メモリモジュール
17,18の更新毎にそのメモリモジュールに対応した
タイマーがリセットされ、再度タイマーのカウントが開
始される。
The timer circuit 16 has respective timers (not shown) corresponding to the respective memory modules 17 and 18. When the periodic refresh is performed, all the timers are reset or the timers of the respective memory modules 17 and 18 are reset. Each time the timer is updated, the timer corresponding to the memory module is reset, and the timer starts counting again.

【0017】主制御回路12には、アドレス信号ADR
とコマンド信号CMDが供給され、リフレッシュ制御回
路10及び両メモリモジュール17,18には、クロッ
ク信号CLKが供給される。
The main control circuit 12 has an address signal ADR
And the command signal CMD, and the clock signal CLK is supplied to the refresh control circuit 10 and both the memory modules 17 and 18.

【0018】図2は、セルフリフレッシュ動作時のアド
レス信号、クロックイネーブル信号及び各種タイミング
信号のタイムチャートである。図中、aはセルフリフレ
ッシュ開始タイミング、bはセルフリフレッシュ終了タ
イミングを示す。図3は、メモリアクセス動作時のアド
レス信号、クロックイネーブル信号及び各種タイミング
信号のタイムチャートである。図中、cは動作受付タイ
ミング、dはコマンド受付タイミング、eは動作終了タ
イミングである。
FIG. 2 is a time chart of an address signal, a clock enable signal, and various timing signals during a self-refresh operation. In the figure, a indicates a self refresh start timing, and b indicates a self refresh end timing. FIG. 3 is a time chart of an address signal, a clock enable signal, and various timing signals during a memory access operation. In the figure, c is the operation reception timing, d is the command reception timing, and e is the operation end timing.

【0019】先ず、プロセッサ(図示しない)からアド
レス信号ADRとコマンド信号CMDを受け取った主制
御回路12は、メモリモジュール更新管理回路11へモ
ジュールアドレス信号を出力する。メモリモジュール更
新管理回路11は、モジュールアドレス信号によってア
クセスしたメモリモジュールに対応した更新フラグを立
てると同時に、更新情報を主制御回路12に出力する。
First, the main control circuit 12 which has received the address signal ADR and the command signal CMD from a processor (not shown) outputs a module address signal to the memory module update management circuit 11. The memory module update management circuit 11 sets an update flag corresponding to the memory module accessed by the module address signal, and outputs update information to the main control circuit 12.

【0020】次に、主制御回路12は、タイマー回路1
6の内部のそれぞれのタイマーを監視する。あるタイマ
ーが8μsをカウントした場合、タイマー回路16から
出力された未更新報告信号を受け取った主制御回路12
は、どのメモリモジュールに対応したタイマーからの信
号かの判定を行って、8μsカウントの更新履歴の無い
メモリモジュールを決定する。
Next, the main control circuit 12 includes the timer circuit 1
6. Monitor each timer inside 6. When a certain timer counts 8 μs, the main control circuit 12 receiving the non-update report signal output from the timer circuit 16
Determines which memory module corresponds to the signal from the timer, and determines a memory module having no update history of 8 μs count.

【0021】この実施の形態において、例えば、メモリ
モジュール18の未更新期間が8μsを超えたとする
と、判定の結果、クロックイネーブル出力回路14は主
制御回路12からの制御信号を受け取り、メモリモジュ
ール18へクロックイネーブル信号CKEの否定値であ
るクロックディスイネーブル信号を出力する。
In this embodiment, for example, if the non-update period of the memory module 18 exceeds 8 μs, as a result of the determination, the clock enable output circuit 14 receives the control signal from the main control circuit 12 and sends it to the memory module 18. A clock disable signal which is a negative value of the clock enable signal CKE is output.

【0022】また、タイミング信号出力回路15は、主
制御回路12からの制御信号を受け取り、メモリモジュ
ール18へセルフリフレッシュを実行するため、図2に
示すように、セルフリフレッシュ開始タイミングaにお
いて、CS(chip select:チップ選択)、
RAS(row address strobe:行ア
ドレスストローブ)、CAS(column addr
ess strobe:列アドレスストローブ)、及び
WE(write enable:書き込み可能)等の
各種タイミング信号を出力する。
The timing signal output circuit 15 receives a control signal from the main control circuit 12 and executes a self-refresh to the memory module 18. Therefore, as shown in FIG. chip select: chip selection),
RAS (row address strobe: row address strobe), CAS (column addr)
It outputs various timing signals such as ess strobe: column address strobe and WE (write enable: writable).

【0023】上述したリフレッシュ制御回路10の動作
により、未更新期間が8μs以上のメモリモジュール1
8はセルフリフレッシュが実行される。同時に、主制御
回路12から出力されたメモリモジュール18のセルフ
リフレッシュ実行報告信号を受け取ったメモリモジュー
ル更新管理回路11は、メモリモジュール18に対応す
るセルフリフレッシュ実行フラグに“1”を立てる。こ
のセルフリフレッシュは、セルフリフレッシュ終了タイ
ミングbにより終了する。
By the operation of the refresh control circuit 10 described above, the memory module 1 whose non-update period is 8 μs or more is
8 executes self-refresh. At the same time, the memory module update management circuit 11 that has received the self-refresh execution report signal of the memory module 18 output from the main control circuit 12 sets the self-refresh execution flag corresponding to the memory module 18 to “1”. This self-refresh ends at the self-refresh end timing b.

【0024】定期的なリフレッシュ要求を受け付けた場
合、主制御回路12は、セルフリフレッシュ実施フラグ
が“0”に対応しているメモリモジュールだけをリフレ
ッシュするように、アドレス出力回路13、クロックイ
ネーブル出力回路14及びタイミング信号出力回路15
へ、制御信号を出力する。
When a periodic refresh request is received, the main control circuit 12 refreshes the address output circuit 13 and the clock enable output circuit so as to refresh only the memory module whose self-refresh execution flag corresponds to "0". 14 and timing signal output circuit 15
To output a control signal.

【0025】また、メモリモジュール18がセルフリフ
レッシュ実行中に、プロセッサがメモリモジュール17
にアクセスした場合、図3に示すように、動作受付タイ
ミングc、コマンド受付タイミングd及び動作終了タイ
ミングeにおいて、クロックイネーブル信号CKE、メ
モリアドレス信号ADR及び各種タイミング信号(C
S、RAS、CAS及びWE等)をメモリモジュール1
7に出力することにより、通常動作が実行される。
While the memory module 18 is performing the self-refresh, the processor
3, the clock enable signal CKE, the memory address signal ADR, and various timing signals (C) at the operation reception timing c, the command reception timing d, and the operation end timing e, as shown in FIG.
S, RAS, CAS, WE, etc.)
7, the normal operation is executed.

【0026】このように、本発明に係る記憶装置のリフ
レッシュ制御回路10は、各メモリモジュール17,1
8へのメモリアクセス更新履歴を管理するメモリモジュ
ール更新管理回路11と、未更新期間が長いメモリモジ
ュールにはセルフリフレッシュを実行すると同時に他の
メモリモジュールにはアクセスが実行できる主制御回路
12を有している。よって、メモリアクセスの通常動作
に影響を与えずにセルフリフレッシュ及び定期リフレッ
シュが可能となり、システムの性能向上を図ることがで
きる。
As described above, the refresh control circuit 10 of the storage device according to the present invention includes the memory modules 17 and 1
8 has a memory module update management circuit 11 for managing the update history of memory access, and a main control circuit 12 capable of executing a self-refresh for a memory module having a long non-updated period and simultaneously accessing other memory modules. ing. Therefore, self-refresh and periodic refresh can be performed without affecting the normal operation of memory access, and system performance can be improved.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
複数個備えられたメモリモジュールをリフレッシュする
際、各メモリモジュールに対する更新履歴に基づいて各
メモリモジュール毎にリフレッシュを行うので、メモリ
アクセスの通常動作に影響を与えることなく、複数個備
えられたメモリモジュールのリフレッシュを行うことが
でき、システムの性能低下をもたらさない。
As described above, according to the present invention,
When refreshing a plurality of memory modules, the refresh is performed for each memory module based on the update history for each memory module, so that the plurality of memory modules provided are not affected without affecting the normal operation of memory access. Refresh can be performed without deteriorating system performance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係る記憶装置のリフレッ
シュ制御回路のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a refresh control circuit of a storage device according to an embodiment of the present invention.

【図2】セルフリフレッシュ動作時のアドレス信号、ク
ロックイネーブル信号及び各種タイミング信号のタイム
チャートである。
FIG. 2 is a time chart of an address signal, a clock enable signal, and various timing signals during a self-refresh operation.

【図3】メモリアクセス動作時のアドレス信号、クロッ
クイネーブル信号及び各種タイミング信号のタイムチャ
ートである。
FIG. 3 is a time chart of an address signal, a clock enable signal, and various timing signals during a memory access operation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 リフレッシュ制御回路 11 メモリモジュール更新管理回路 12 主制御回路 13 アドレス出力回路 14 クロックイネーブル出力回路 15 タイミング信号出力回路 16 タイマー回路 17,18 メモリモジュール ADR メモリアドレス信号 CKE クロックイネーブル信号 CMD コマンド信号 CLK クロック信号 CS チップ選択タイミング信号 RAS 行アドレスストローブタイミング信号 CAS 列アドレスストローブタイミング信号 WE 書き込み可能タイミング信号 a セルフリフレッシュ開始タイミング b セルフリフレッシュ終了タイミング c 動作受付タイミング d コマンド受付タイミング e 動作終了タイミング Reference Signs List 10 refresh control circuit 11 memory module update management circuit 12 main control circuit 13 address output circuit 14 clock enable output circuit 15 timing signal output circuit 16 timer circuit 17, 18 memory module ADR memory address signal CKE clock enable signal CMD command signal CLK clock signal CS Chip select timing signal RAS Row address strobe timing signal CAS Column address strobe timing signal WE Writable timing signal a Self-refresh start timing b Self-refresh end timing c Operation reception timing d Command reception timing e Operation end timing

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数個備えられたメモリモジュールをリフ
レッシュする記憶装置のリフレッシュ制御回路におい
て、 各メモリモジュールに対する更新履歴に基づき、各メモ
リモジュール毎にリフレッシュすることを特徴とする記
憶装置のリフレッシュ制御回路。
1. A refresh control circuit of a storage device for refreshing a plurality of memory modules, wherein the refresh control circuit of the storage device refreshes each memory module based on an update history of each memory module. .
【請求項2】各メモリモジュールにおけるメモリアクセ
ス更新履歴を管理するメモリモジュール更新管理手段
と、 未更新期間が長いメモリモジュールへのセルフリフレッ
シュの実行、及びセルフリフレッシュ実行時に他のメモ
リモジュールへのアクセスを実行するメモリモジュール
アクセス制御手段とを有することを特徴とする請求項1
に記載の記憶装置のリフレッシュ制御回路。
2. A memory module update management means for managing a memory access update history in each memory module, a self-refresh execution for a memory module having a long non-updated period, and an access to another memory module during the self-refresh execution. 2. A memory module access control means for executing the program.
3. The refresh control circuit for a storage device according to claim 1.
【請求項3】前記メモリモジュール更新管理手段は、各
メモリモジュールに対応したメモリモジュール更新フラ
グ及びセルフリフレッシュ実行フラグを有することを特
徴とする請求項2に記載の記憶装置のリフレッシュ制御
回路。
3. The refresh control circuit according to claim 2, wherein said memory module update management means has a memory module update flag and a self-refresh execution flag corresponding to each memory module.
【請求項4】複数個備えられたメモリモジュールをリフ
レッシュする記憶装置のリフレッシュ制御回路におい
て、 前記各メモリモジュールに対応したメモリモジュール更
新フラグ及びセルフリフレッシュ実行フラグを有し、前
記各メモリモジュールにおけるメモリアクセス更新履歴
を管理するメモリモジュール更新管理手段と、 未更新期間が長いメモリモジュールへのセルフリフレッ
シュの実行と同時に、他のメモリモジュールへのアクセ
スを実行するための制御信号を出力するメモリモジュー
ルアクセス制御手段と、 前記制御信号の入力によりメモリアドレス信号を出力す
るアドレス出力手段と、 前記制御信号の入力によりクロックイネーブル信号を出
力するクロックイネーブル出力手段と、 前記制御信号の入力により各種タイミング信号を出力す
るタイミング信号出力手段と、 前記各メモリモジュール毎のタイマーリセットを行うタ
イマー手段とを有することを特徴とする記憶装置のリフ
レッシュ制御回路。
4. A refresh control circuit of a storage device for refreshing a plurality of memory modules, comprising: a memory module update flag and a self-refresh execution flag corresponding to each memory module; Memory module update management means for managing an update history, and memory module access control means for outputting a control signal for executing access to another memory module simultaneously with execution of self-refresh for a memory module having a long non-updated period Address output means for outputting a memory address signal in response to input of the control signal; clock enable output means for outputting a clock enable signal in response to input of the control signal; and various timings in response to input of the control signal Refresh control circuit of the memory device, wherein the timing signal output means for outputting the items, in that it has a timer means for performing a timer reset of the respective memory module.
【請求項5】前記メモリモジュールアクセス制御手段
は、未更新期間が所定値以上の場合、前記各メモリモジ
ュールのセルフリフレッシュを実行し、定期的なリフレ
ッシュ要求を受け付けた場合、セルフリフレッシュ実施
フラグが“0”に対応しているメモリモジュールだけを
リフレッシュすることを特徴とする請求項2〜4のいず
れかに記載の記憶装置のリフレッシュ制御回路。
5. The memory module access control means executes a self-refresh of each of the memory modules when the non-updated period is equal to or longer than a predetermined value, and sets a self-refresh execution flag to "0" when a periodic refresh request is received. 5. The refresh control circuit according to claim 2, wherein only the memory module corresponding to "0" is refreshed.
【請求項6】前記各メモリモジュールは、セルフリフレ
ッシュ動作が可能な同期式DRAMから構成されている
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の記憶
装置のリフレッシュ制御回路。
6. The refresh control circuit according to claim 1, wherein each of said memory modules comprises a synchronous DRAM capable of performing a self-refresh operation.
JP10187154A 1998-07-02 1998-07-02 Refresh control circuit for storage device Pending JP2000021163A (en)

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