JP2000019062A - Optical member-inspecting apparatus and holder - Google Patents
Optical member-inspecting apparatus and holderInfo
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Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明が属する技術分野】本発明は、レンズ等の光学部
材の不良要因を検出するための光学部材検査装置及びこ
の光学部材検査装置に光学部材を装着するためのホルダ
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical member inspection apparatus for detecting a cause of a defect of an optical member such as a lens, and a holder for mounting an optical member on the optical member inspection apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】レンズ,プリズム等の光学部材は、入射
した光束が規則正しく屈折したり、平行に進行したり、
一点又は線状に収束したり発散するように設計されてい
る。しかしながら、光学部材の形成時において糸くず等
が光学部材内に混入してしまっていたり(いわゆる「ケ
バ」)、成形後の人的取り扱いによって光学部材の表面
上にキズ等が生じていると、入射した光束が乱れてしま
うので、所望の性能を得ることができなくなる。2. Description of the Related Art An optical member such as a lens or a prism is used to refract an incident light beam regularly or to travel in parallel.
It is designed to converge or diverge at one point or linearly. However, when lint or the like is mixed in the optical member during the formation of the optical member (so-called “burr”), scratches or the like are generated on the surface of the optical member due to human handling after molding, Since the incident light flux is disturbed, desired performance cannot be obtained.
【0003】そのため、光学部材の不良要因を検出して
自動的に良否判定を行うための光学部材検査装置が、従
来、種々提案されている。例えば、本出願人は、特願平
9−50760号において、検査対象光学部材をその光
軸を中心に回転させつつこの光軸上に配置された結像光
学系及びラインセンサを用いてこの検査対象光学部材を
撮像し、極座標系による画像データを生成する光学部材
検査装置を、提案した。[0003] For this reason, various optical member inspection apparatuses for automatically detecting the cause of a defect in an optical member and automatically determining the quality of the optical member have been proposed. For example, the present applicant discloses in Japanese Patent Application No. 9-50760 that this inspection is performed by using an imaging optical system and a line sensor arranged on the optical axis while rotating the optical member to be inspected around its optical axis. An optical member inspection apparatus that images a target optical member and generates image data in a polar coordinate system has been proposed.
【0004】これらの光学部材検査装置には、照明光が
透過可能に検査対象光学部材を保持するために、この検
査対象光学部材の端面の周縁を保持するホルダが備えら
れている。図9は、従来用いられた典型的なホルダの形
状を示すものである。この図9に示されるように、従来
のホルダは、筒状部材100の上端面101における開
口内縁に、光学部材であるレンズの周縁をはめ込むため
に一段低くなった段差部102が形成された形状を、有
している。[0004] These optical member inspection apparatuses are provided with a holder for holding a peripheral edge of an end surface of the optical member to be inspected in order to hold the optical member to be inspected so that illumination light can pass therethrough. FIG. 9 shows the shape of a typical holder conventionally used. As shown in FIG. 9, the conventional holder has a shape in which a stepped portion 102 which is lowered by one step to fit a peripheral edge of a lens which is an optical member is formed on an inner edge of an opening in an upper end surface 101 of a cylindrical member 100. have.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな形状を有する従来のホルダによってレンズの凸面を
保持する場合,即ち、レンズの凸面を下方に向けて段差
部102にはめ込む場合には、当該凸面における外縁の
内側が、段差部102の縁に接触することによって傷付
けられてしまう可能性がある。However, when the convex surface of the lens is held by the conventional holder having such a shape, that is, when the convex surface of the lens is fitted to the step portion 102 with the convex surface facing downward, the convex surface is required. May be damaged by contacting the inside of the outer edge of the step with the edge of the stepped portion 102.
【0006】本発明は、従来のホルダにおけるかかる問
題に鑑みてなされたものであり、その課題は、検査対象
光学部材をその表面に接触することなく簡単な操作にて
保持することができるホルダを、提供することである。
また、本発明は、このようなホルダを備える光学部材検
査装置の提供をも、課題としている。The present invention has been made in view of such a problem in the conventional holder, and an object thereof is to provide a holder capable of holding an optical member to be inspected by a simple operation without contacting the surface thereof. Is to provide.
Another object of the present invention is to provide an optical member inspection apparatus including such a holder.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、以下の構成を採用した。The present invention has the following features to attain the object mentioned above.
【0008】即ち、請求項1記載の発明は、その内部に
光学部材を保持するホルダであって、少なくとも2箇所
の接触点において前記光学部材の側面に当接する枠部材
と、前記各接触点に向けて移動可能に前記枠部材に取り
付けられているとともに、前記光学部材の側面に当接し
てこの光学部材を前記各接触点に押圧する様に付勢され
ている可動部材とを、備えることを特徴とする。[0008] That is, the invention according to claim 1 is a holder for holding an optical member therein, wherein the frame member abuts on the side surface of the optical member at at least two contact points; A movable member that is movably attached to the frame member and that is urged to abut the side surface of the optical member and press the optical member to each of the contact points. Features.
【0009】このように構成されると、枠部材における
少なくとも2箇所の接触点,及び、これら各接触点に向
けて付勢された可動部材が光学部材の側面に圧接して、
この光学部材を挟み込んで保持する。従って、光学部材
の表面にはホルダのいかなる部材も当接しないので、ホ
ルダによって光学部材の表面に傷が付くことがない。With this configuration, at least two contact points on the frame member and the movable member urged toward each of the contact points press against the side surface of the optical member,
This optical member is sandwiched and held. Therefore, since no member of the holder comes into contact with the surface of the optical member, the holder does not scratch the surface of the optical member.
【0010】枠部材における少なくとも2箇所の接触点
は、光学部材の側面に対して面接触する1連の面内の点
として構成されても良いし、夫々光学部材の側面に対し
て点接触する点として構成されても良い。後者の場合、
接触点の数は3箇所以上であっても良いが、2箇所であ
れば、保持可能な光学部材の径に幅を持たせることがで
きる。可動部材は、バネやゴム等の弾性部材からなる付
勢手段と一体に構成されていても良いし、これら付勢手
段とは別部材として構成されていても良い。また、可動
部材の移動軌跡は、直線状でも良いし、円弧状でも良
い。At least two contact points on the frame member may be formed as a series of points in surface contact with the side surface of the optical member, or each point contact with the side surface of the optical member. It may be configured as a point. In the latter case,
The number of contact points may be three or more, but if it is two, the diameter of the optical member that can be held can have a certain width. The movable member may be configured integrally with a biasing unit made of an elastic member such as a spring or rubber, or may be configured as a member separate from these biasing units. Further, the moving trajectory of the movable member may be linear or arcuate.
【0011】また、請求項2記載の発明は、請求項1の
枠部材が、その内部に前記光学部材を保持する筒状部材
であり、その内面の半径が、前記接触点においてのみ前
記光学部材の半径と略同径であり、それ以外の部分にお
いては前記光学部材の半径よりも大径であることで、特
定したものである。According to a second aspect of the present invention, the frame member of the first aspect is a cylindrical member for holding the optical member therein, and the radius of the inner surface of the frame member is only at the contact point. The diameter is substantially the same as the radius of the optical member, and the other portions are specified to be larger than the radius of the optical member.
【0012】また、請求項3記載の発明は、請求項2の
枠部材における前記光学部材を保持する空間を挟んで前
記各接触点と対向する部位が、前記可動部材を配置する
ために切り欠かれていることで、特定したものである。According to a third aspect of the present invention, in the frame member according to the second aspect, a portion facing each of the contact points across a space for holding the optical member is cut out to dispose the movable member. It is the one that has been identified.
【0013】また、請求項4記載の発明は、請求項1の
可動部材が、前記枠部材に対してリンク機構を介して取
り付けられており、バネによって前記接触点に向けて付
勢されていることで、特定したものである。According to a fourth aspect of the present invention, the movable member of the first aspect is attached to the frame member via a link mechanism, and is urged toward the contact point by a spring. That is what was specified.
【0014】また、請求項5記載の発明は、請求項4の
リンク機構が、平行四辺形型に配置されたリンク部材か
ら構成されていることで、特定したものである。The invention according to claim 5 specifies the link mechanism according to claim 4 as being constituted by link members arranged in a parallelogram shape.
【0015】また、請求項6記載の発明は、請求項1の
各接触点及び前記可動部材における前記光学部材と接触
する箇所には、夫々、高摩擦部材が取り付けられている
ことで、特定したものである。Further, the invention according to claim 6 is characterized in that a high friction member is attached to each contact point of claim 1 and a portion of the movable member that contacts the optical member. Things.
【0016】また、請求項7記載の発明は、光学部材に
対して一方の面側から照明光を照射するとともに、他方
の面側から撮影することによって、検査に用いる画像デ
ータを得る光学部材検査装置において、少なくとも2箇
所の接触点において前記光学部材の側面に当接する枠部
材と、前記各接触点に向けて移動可能に前記枠部材に取
り付けられているとともに、前記光学部材の側面に当接
してこの光学部材を前記各接触点に押圧する様に付勢さ
れている可動部材とから構成されているホルダを、備え
たことを特徴とする。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an optical member inspection apparatus for irradiating an optical member with illumination light from one side and photographing from the other side to obtain image data used for inspection. In the device, a frame member that contacts the side surface of the optical member at at least two contact points, and is attached to the frame member movably toward each of the contact points, and contacts the side surface of the optical member. A movable member biased so as to press the lever optical member to each of the contact points.
【0017】[0017]
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
実施の形態を説明する。 <光学部材検査装置の構成>本発明の実施の形態である
光学部材検査装置の概略構成を、図1の部分断面図に示
す。この図1に示すように、光学部材検査装置は、上方
から、撮像装置1,光学部材保持部2,拡散板保持部
3,及び、光源4を重ねて、構成されている。これらの
うち、撮像装置1,拡散板保持部3,及び光源4は、互
いに同軸に配置されている。また、光学部材保持部2
は、その中心軸Oがこれら各部1,3,4の中心を通る
線(撮影光軸l)から若干オフセットするように、配置
されている。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. <Configuration of Optical Member Inspection Apparatus> A schematic configuration of an optical member inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is shown in a partial cross-sectional view of FIG. As shown in FIG. 1, the optical member inspection apparatus is configured by stacking an imaging device 1, an optical member holding unit 2, a diffusion plate holding unit 3, and a light source 4 from above. Among them, the imaging device 1, the diffusion plate holding unit 3, and the light source 4 are coaxially arranged with each other. Also, the optical member holding unit 2
Are arranged such that the center axis O thereof is slightly offset from a line (photographing optical axis l) passing through the center of each of the parts 1, 3, and 4.
【0018】上記光源4は、図示せぬ光源ランプから発
光された照明光を伝送するライトガイドファイバ41
と、このライトガイドファイバ41の先端を図の左右方
向に並べて配置する配光部42とから、構成される。The light source 4 includes a light guide fiber 41 for transmitting illumination light emitted from a light source lamp (not shown).
And a light distribution unit 42 in which the distal ends of the light guide fibers 41 are arranged side by side in the left-right direction in the figure.
【0019】拡散板保持部3は、光学部材検査装置の図
示せぬフレームに固定されているとともに円形の開口3
1aが穿たれた保持板31と、この開口31aに填め込
まれた平面円形の拡散透過板32と、その長辺を図1の
左右方向に向けて拡散透過板32の表面に貼り付けられ
た短冊状の遮光板33とから、構成されている。この拡
散透過板32は、照明光をその全域から出射させ、遮光
板33は、この照明光の一部を遮蔽する。The diffusion plate holding portion 3 is fixed to a frame (not shown) of the optical member inspection apparatus and has a circular opening 3.
A holding plate 31 with a hole 1a, a flat circular diffusion transmission plate 32 inserted into the opening 31a, and a long side thereof are attached to the surface of the diffusion transmission plate 32 with the long side thereof facing left and right in FIG. It is composed of a strip-shaped light shielding plate 33. The diffuse transmission plate 32 emits illumination light from the entire area thereof, and the light shielding plate 33 shields a part of the illumination light.
【0020】光学部材保持部2は、光学部材検査装置の
図示せぬフレームに固定されているとともに円筒状の鏡
筒部20aが一体に形成された回転テーブル支持台20
と、ベアリング21を介して鏡筒部20aに対して回転
自在に被せられた円板状の回転テーブル22と、この回
転テーブル22の中心において鏡筒部20aと同軸に穿
たれた貫通孔22aに対して着脱自在に填め込まれた円
環状のホルダ23と、回転テーブル22の周囲に填めら
れたリング状の被駆動ギヤ24と、この被駆動ギヤ24
に噛合する駆動ギヤ25を回転駆動するモータ26とか
ら、構成されている。上述した回転テーブル22の貫通
孔22aは、その光源側(下側)半分がホルダ23の外
径よりも若干小径であり、その撮像装置側(上側)半分
がホルダ23の外径と略同径となっている。これによっ
て構成される段差部に、ホルダ23が係止される。ま
た、この貫通孔22aの上端側における大内径部分の一
部には、後で詳細に説明するホルダ23のキー231に
係合するキー溝22bが、切り欠かれている。従って、
ホルダ23は、回転テーブル22に対して相対回転不能
となっている。また、ホルダ23の内部には、検査対象
光学部材27が、同軸に保持される。その結果、モータ
26が駆動ギヤ25を回転させると、ホルダ23及び検
査対象光学部材27が、その中心軸Oを中心として回転
する。The optical member holding portion 2 is fixed to a frame (not shown) of the optical member inspection apparatus and has a rotary table support 20 integrally formed with a cylindrical lens barrel 20a.
And a disk-shaped rotary table 22 rotatably mounted on the lens barrel 20a via a bearing 21 and a through hole 22a formed coaxially with the lens barrel 20a at the center of the rotary table 22. An annular holder 23 removably mounted on the rotary table 22; a ring-shaped driven gear 24 mounted around the rotary table 22;
And a motor 26 that rotationally drives a driving gear 25 that meshes with the motor. The through hole 22a of the rotary table 22 has a light source side (lower side) half slightly smaller in diameter than the outer diameter of the holder 23, and an imaging device side (upper side) half of which has substantially the same diameter as the outer diameter of the holder 23. It has become. The holder 23 is locked to the step formed by this. A key groove 22b that engages with a key 231 of the holder 23, which will be described in detail later, is cut out in a part of the large-diameter portion on the upper end side of the through hole 22a. Therefore,
The holder 23 cannot rotate relative to the turntable 22. The inspection target optical member 27 is coaxially held inside the holder 23. As a result, when the motor 26 rotates the drive gear 25, the holder 23 and the inspection target optical member 27 rotate about the central axis O thereof.
【0021】撮像装置1は、その光軸lを中心軸Oと平
行にオフセットして配置された対物レンズ11と、この
対物レンズ11に関して検査対象光学部材27の表面と
共役な位置に配置されたラインセンサ12とから、構成
されている。このラインセンサ12は、検査対象光学部
材27の半径方向と平行,且つ、遮光板33の長辺と平
行(図1の左右方向)に、配置されている。従って、ラ
インセンサ12は、検査対象光学部材27を、その半径
方向における全域にわたって撮像することができる。但
し、上述した遮光板33は、拡散板32からの出射光
(照明光)が、検査対象光学部材27におけるラインセ
ンサ12による撮像対象範囲(対物レンズ11に関して
ラインセンサ12の撮像面と共役な範囲)を透過して直
接ラインセンサ12に入射しないように、その大きさ及
び位置が調整されている。従って、検査対象光学部材2
7に形状欠陥(表面のキズ又はゴミ,内部のケバ)がな
い限り、ラインセンサ12によって撮像される画像(ラ
インセンサ12の各画素の輝度値)は、その全域にわた
って暗くなっている。これに対して、検査対象光学部材
27におけるラインセンサ12による撮像対象範囲に形
状欠陥がある場合には、その形状欠陥によって散乱した
光が対物レンズ11を介してラインセンサ12に入射す
るので、このラインセンサ12の撮像面上に、この形状
欠陥の像が形成される。この像を撮像したラインセンサ
12からの画像データは、撮像装置1内の図示せぬA/
D変換器によってデジタル信号に変換されて、図示せぬ
画像処理装置へ出力される。The image pickup apparatus 1 has an objective lens 11 whose optical axis 1 is offset in parallel with the central axis O, and a position conjugate with the surface of the optical member 27 to be inspected with respect to the objective lens 11. And a line sensor 12. The line sensor 12 is disposed in parallel with the radial direction of the inspection target optical member 27 and in parallel with the long side of the light shielding plate 33 (in the horizontal direction in FIG. 1). Therefore, the line sensor 12 can image the inspection target optical member 27 over the entire area in the radial direction. However, in the above-mentioned light-shielding plate 33, the light (illumination light) emitted from the diffusion plate 32 is used for the range of the imaging target optical member 27 to be imaged by the line sensor 12 (the range conjugate with the imaging surface of the line sensor 12 with respect to the objective lens 11). ) Is adjusted in size and position so that the light does not pass through the line sensor 12 directly. Therefore, the inspection target optical member 2
As long as there is no shape defect in 7 (scratch or dust on the surface, fluff in the inside), the image picked up by the line sensor 12 (the luminance value of each pixel of the line sensor 12) is dark over the entire area. On the other hand, when there is a shape defect in the inspection target optical member 27 in the range to be imaged by the line sensor 12, light scattered by the shape defect enters the line sensor 12 via the objective lens 11. An image of the shape defect is formed on the imaging surface of the line sensor 12. Image data from the line sensor 12 that captures this image is stored in an A /
The signal is converted into a digital signal by a D converter and output to an image processing device (not shown).
【0022】次に、上述したホルダ23の具体的な構成
を、図2乃至図8を用いて説明する。図2は、図1と同
じ切断面を示すホルダ23の拡大断面図であり、図3
は、同じ方向から見たホルダ23の側面図である。ま
た、図4及び図5は、夫々、ホルダ23の平面図及び底
面図である。また、図6は、図4に示す状態からカバー
232のみを取り外して保持機構を示す分解平面図であ
る。さらに、図7及び図8は、夫々、光学部材着脱時に
おけるホルダ23の状態を示す分解平面図及び側面図で
ある。Next, a specific configuration of the holder 23 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is an enlarged sectional view of the holder 23 showing the same cross section as FIG.
Is a side view of the holder 23 viewed from the same direction. 4 and 5 are a plan view and a bottom view of the holder 23, respectively. FIG. 6 is an exploded plan view showing the holding mechanism by removing only the cover 232 from the state shown in FIG. 7 and 8 are an exploded plan view and a side view showing the state of the holder 23 when the optical member is attached and detached, respectively.
【0023】これら各図に示されるように、ホルダ23
は、全体として略円筒形状を有しており、その大部分を
占める枠部材としての本体部230と、この本体部23
0を一部切り欠くことによって形成された空間に構築さ
れた保持機構Mと、この保持機構Mを覆うカバー232
とから、大略構成されている。上述したキー231は、
その長軸を中心軸Oの方向と平行に向けた角柱形状を有
し、本体部230の外周面における一箇所にねじ止め固
定されている。以下の説明においては、このキー231
の中心及び中心軸Oを通る直径を、「X経線」と定義
し、このX経線に直交する直径を、「Y経線」と定義す
る。As shown in these figures, the holder 23
Has a substantially cylindrical shape as a whole, and a main body portion 230 as a frame member occupying most of the main body portion;
A holding mechanism M constructed in a space formed by partially cutting out a part 0, and a cover 232 covering the holding mechanism M
Therefore, it is roughly configured. The key 231 described above is
It has a prismatic shape with its major axis oriented parallel to the direction of the central axis O, and is screwed and fixed at one position on the outer peripheral surface of the main body 230. In the following description, this key 231
Is defined as an "X meridian", and a diameter orthogonal to the X meridian is defined as a "Y meridian".
【0024】この本体部230の外周面は略円柱面とし
て形成されているが、本体部230の内部は、図2に示
されるように、中心軸Oの方向に沿って、撮影装置1寄
りに位置する小内径部230aと拡散板保持部3寄りに
位置する大内径部230bとに区分される。Although the outer peripheral surface of the main body 230 is formed as a substantially cylindrical surface, the inside of the main body 230 is closer to the photographing device 1 along the direction of the central axis O as shown in FIG. It is divided into a small inner diameter portion 230a located and a large inner diameter portion 230b located near the diffusion plate holding portion 3.
【0025】この大内径部230bの形状は、回転対称
な円筒形状であり、その内周面は、検査対象光学部材2
7よりも十分に大径な円柱面となっている。The shape of the large-diameter portion 230b is a rotationally symmetric cylindrical shape, and the inner peripheral surface thereof is
The cylindrical surface has a diameter sufficiently larger than 7.
【0026】また、小内径部230aの厚さは、検査対
象光学部材27の厚さよりも十分厚く、図2の例におい
ては、検査対象光学部材27の厚さの約2倍となってい
る。但し、小内径部230aの平面形状は、その周方向
に沿って変化している。即ち、小内径部230aの内径
は、Y経線を境としてキー231から離れた部分におい
ては、検査対象光学部材27よりも若干大径な一定径と
なっているが、Y経線よりもキー231側の部分では漸
次変化している。具体的には、小内径部230aの内径
は、X経線に対して中心線Oを中心に+/−30度ずれ
た位置(最小径位置α,β)において、最も縮小し、検
査対象光学部材27の外径とほぼ同じになっている。そ
して、これら二箇所の最小径位置α,βにおいて、小内
径部230aの内面には夫々高摩擦部材としてのシリコ
ンラバー233が埋め込まれており、検査対象光学部材
27の側面(コバ)に対して高摩擦状態で線接触する。
即ち、これら最小径位置α,βが、接触点として機能す
る。なお、これら各最小径位置α,βの近傍において、
小内径部230aの内面は、ほぼ平面状となっている。The thickness of the small inner diameter portion 230a is sufficiently larger than the thickness of the optical member 27 to be inspected, and in the example of FIG. 2, is approximately twice the thickness of the optical member 27 to be inspected. However, the planar shape of the small inner diameter portion 230a changes along the circumferential direction. In other words, the inner diameter of the small inner diameter portion 230a is a constant diameter slightly larger than the optical member 27 to be inspected at a portion apart from the key 231 with the Y meridian as a boundary, but is closer to the key 231 than the Y meridian. Is gradually changing. Specifically, the inner diameter of the small inner diameter portion 230a is reduced most at a position (minimum diameter position α, β) shifted by +/− 30 degrees about the center line O with respect to the X meridian, and the optical member to be inspected. The outer diameter is almost the same as 27. At these two minimum diameter positions α and β, silicon rubber 233 as a high friction member is embedded in the inner surface of the small inner diameter portion 230a, respectively. Line contact in high friction state.
That is, these minimum diameter positions α and β function as contact points. In the vicinity of these minimum diameter positions α and β,
The inner surface of the small inner diameter portion 230a is substantially flat.
【0027】また、小内径部230aは、Y経線と平行
にキー231とは逆方向にずれた線Y1を境に、それよ
りもキー231から離れた部分が、X経線上におけるキ
ー231との対称位置に形成された支持柱部230cを
残して、全て切り欠かれている。即ち、検査対象光学部
材27を保持する空間を挟んで各最小径位置α,βと対
向する部位が、切り欠かれている。この切り欠きによっ
て形成された凹部(以下、「機構収容部S」という)
に、上述した保持機構Mが構築される。以下、この保持
機構Mの具体的構成を説明する。The small inner diameter portion 230a is separated from the key 231 on the X meridian by a portion separated from the key 231 by a line Y1 parallel to the Y meridian and displaced in the opposite direction from the key 231. All are cut out except for the support pillar 230c formed at the symmetrical position. That is, a portion facing each of the minimum diameter positions α and β across the space for holding the inspection target optical member 27 is notched. A concave portion formed by the notch (hereinafter, referred to as “mechanism housing portion S”)
Then, the above-described holding mechanism M is constructed. Hereinafter, a specific configuration of the holding mechanism M will be described.
【0028】いま、図6に示すように、機構収容部S及
び検査対象光学部材27を通ってX経線に直交する線Y
2を想定する。機構収容部Sの底面上において、X経線
に対して線対称となる当該線Y2上の二位置には、夫
々、ネジ穴(図示略)が形成されている。これら各ネジ
穴には、相互に同一のサイズ及び形状を有する2枚の長
板状のリンクアーム234,234の一端が、夫々、ネ
ジ235,235によって、中心軸Oに直交する面内で
回動自在に取り付けられている。これら両リンクアーム
234,234の他端には、各ネジ235,235間距
離と同じ長さを有する長板状の平行移動板236の各端
部が、夫々、ネジ237,237によって、回動自在に
取り付けられている。これにより、平行移動板236
は、Y経線に対して平行な姿勢を保ちつつ、中心軸Oに
対して接近及び離反する。即ち、これら両リンクアーム
234,234及び平行移動板236が、平行四辺形型
に配置されたリンク部材であり、リンク機構を構成す
る。Now, as shown in FIG. 6, a line Y orthogonal to the X meridian through the mechanism housing portion S and the optical member 27 to be inspected.
Assume 2. On the bottom surface of the mechanism accommodating portion S, screw holes (not shown) are formed at two positions on the line Y2 that is line-symmetric with respect to the X meridian. In each of these screw holes, one end of two long plate-like link arms 234 and 234 having the same size and shape are turned by screws 235 and 235 in a plane orthogonal to the central axis O. It is movably mounted. At the other ends of the link arms 234 and 234, the ends of a long plate-shaped parallel moving plate 236 having the same length as the distance between the screws 235 and 235 are rotated by the screws 237 and 237, respectively. Mounted freely. Thereby, the translation plate 236
Moves toward and away from the central axis O while maintaining a posture parallel to the Y meridian. That is, the link arms 234 and 234 and the translation plate 236 are link members arranged in a parallelogram shape, and constitute a link mechanism.
【0029】平行移動板236の中央には、機構収容部
Sの深さとほぼ同じ厚さを有する可動部材としての可動
ブロック238が、固定されている。この可動ブロック
238の中心軸O側に向いた側面(以下、「可動保持面
238a」という)は、平行移動板236の側縁及び中
心軸Oに対して平行に、この平行移動板236の側縁よ
りも中心軸O側に突出している。この可動保持面238
aにも、検査対象光学部材27の側面(コバ)に対して
高摩擦状態で線接触する高摩擦部材としてのシリコンラ
バー239が埋め込まれている。なお、可動ブロック2
38の平面形状は、その外側縁における両端が夫々斜め
に面取りされた形状となっている。そして、この可動ブ
ロック238は、平行移動板236と一体に、機構収容
部Sの底面上を摺動し、最小径位置α,βに向けて移動
する。At the center of the parallel moving plate 236, a movable block 238 as a movable member having substantially the same thickness as the depth of the mechanism housing portion S is fixed. A side surface of the movable block 238 facing the center axis O (hereinafter, referred to as a “movable holding surface 238a”) is parallel to the side edge of the parallel movement plate 236 and the center axis O, and is located on the side of the parallel movement plate 236. It protrudes toward the central axis O from the edge. This movable holding surface 238
Also in a, a silicon rubber 239 is embedded as a high friction member that is in line contact with the side surface (edge) of the inspection target optical member 27 in a high friction state. In addition, the movable block 2
The plane shape of 38 is a shape in which both ends at the outer edge are chamfered obliquely. Then, the movable block 238 slides on the bottom surface of the mechanism housing portion S integrally with the parallel moving plate 236, and moves toward the minimum diameter positions α and β.
【0030】機構収容部Sの底面における一方のネジ2
35の近傍には、ストッパピン244が植設されてい
る。このストッパピン244は、検査対象光学部材27
が無い状態において、検査対象光学部材27の外縁(図
6において二点鎖線によって図示)を大きく超えて可動
保持面238aが最小径位置α,βに接近しようとした
ときに、可動ブロック238の側面に当接することによ
って、その移動を阻止する。One screw 2 on the bottom of the mechanism housing S
In the vicinity of 35, a stopper pin 244 is implanted. The stopper pin 244 is connected to the optical member 27 to be inspected.
When the movable holding surface 238a approaches the minimum diameter positions α and β far beyond the outer edge of the inspection target optical member 27 (shown by a two-dot chain line in FIG. 6) in a state where there is no The movement is prevented by abutting the.
【0031】また、機構収容部Sの底面上において、各
ネジ235の位置からX経線と平行に中心軸O側に等距
離だけずれた位置には、夫々、固定バネ掛けピン240
が植設されている。一方、各リンクアーム234,23
4の中央にも、夫々、可動バネ掛けピン241が植設さ
れている。そして、各固定バネ掛けピン240と各可動
バネ掛けピン241との間には、夫々、引張バネ24
2,242が掛け渡されている。従って、これら各引張
バネ242,242により、可動ブロック238は、常
時最小径位置α,βに接近する方向に、付勢されてい
る。但し、図7に示すように、固定バネ掛けピン24
0,ネジ235,及び可動バネ掛けピン241が一直線
状に並ぶ死点においては、可動ブロック238には付勢
力が加わらずに安定する。なお、この死点においては、
上述のストッパピン244に一方のリンクアーム234
が当接するので、この死点を超えて両リンクアーム23
4,234が図4の反時計方向へ回転することが、防止
される。On the bottom surface of the mechanism accommodating portion S, fixed spring hooking pins 240 are respectively provided at positions displaced from the position of each screw 235 by an equal distance toward the central axis O in parallel with the X meridian.
Has been planted. On the other hand, each link arm 234, 23
A movable spring hook pin 241 is also implanted at the center of each of the four. And between each fixed spring hooking pin 240 and each movable spring hooking pin 241, a tension spring 24
2,242. Accordingly, the movable block 238 is constantly urged by the tension springs 242 and 242 in a direction approaching the minimum diameter positions α and β. However, as shown in FIG.
At the dead center where the 0, the screw 235 and the movable spring hook pin 241 are aligned in a straight line, the movable block 238 is stabilized without applying an urging force. In addition, at this dead point,
One of the link arms 234 is connected to the stopper pin 244 described above.
Comes into contact with each other, so that both link arms 23
4,234 is prevented from rotating counterclockwise in FIG.
【0032】小内径部230aにおける切り欠きの縁
(線Y1)からY経線側へ寄った一定幅の領域は、上述
したカバー232の取付代230d,230dとして、
このカバー232の厚さ分だけ、その表面が凹んでい
る。上述したカバー232は、図4に示すように、これ
ら両取付代230d,230dの間に掛け渡されてお
り、その中間部にて支持柱部230cに固定されてい
る。このカバー232は、大内径部230bと同じ幅及
び同じ径を有する円弧状の板である。このカバー232
は、可動ブロック238の移動を許容するために、その
移動範囲が切り欠かれている。但し、上述した死点を超
えて各リンクアーム234,234が逆方向(図6にお
ける反時計方向)に回転したと仮定した場合における可
動ブロック238の移動範囲には、切り欠きは形成され
ていない。Areas of a constant width which are shifted from the edge (line Y1) of the notch in the small inner diameter portion 230a toward the Y meridian side are used as the mounting margins 230d for the cover 232 described above.
The surface is recessed by the thickness of the cover 232. As shown in FIG. 4, the above-described cover 232 is stretched between the two mounting margins 230d, 230d, and is fixed to the support pillar 230c at an intermediate portion thereof. The cover 232 is an arc-shaped plate having the same width and the same diameter as the large inner diameter portion 230b. This cover 232
Has been cut out in the movable range to allow the movable block 238 to move. However, notches are not formed in the moving range of the movable block 238 when it is assumed that the link arms 234 and 234 have rotated in the opposite direction (counterclockwise in FIG. 6) beyond the above-mentioned dead center. .
【0033】なお、本体部230における大内径部23
0b側の外縁は一段細径となっており、ここに、円環状
のリング部材243が填め込まれて、ネジ止め固定され
ている。 <実施形態の作用>以上のように構成された本実施形態
による光学部材検査装置及びホルダ23を用いて、検査
対象光学部材27としてのメニスカスレンズの凹面を検
査する場合について説明する。The large-diameter portion 23 of the main body 230
The outer edge on the 0b side has a one-step narrow diameter, and an annular ring member 243 is fitted therein and fixed by screws. <Operation of Embodiment> A case where the concave surface of the meniscus lens as the inspection target optical member 27 is inspected using the optical member inspection apparatus and the holder 23 according to the present embodiment configured as described above will be described.
【0034】最初に、オペレータは、ホルダ23を、光
学部材検査装置の回転テーブル22から取り外す。この
時点では、ホルダ23には検査対象光学部材27が装着
されていないので、可動ブロック238が最も中心軸O
側に突出して、その側面がストッパピン244に当接し
ている。First, the operator removes the holder 23 from the turntable 22 of the optical member inspection device. At this time, since the inspection target optical member 27 is not mounted on the holder 23, the movable block 238 is most moved along the center axis O.
The side protruding to the side contacts the stopper pin 244.
【0035】次に、オペレータは、各引張バネ242,
242の弾性に抗して、各リンクアーム234、234
を図4及び図6における反時計方向に回転させて、図7
及び図8に示すように、上述した死点において安定させ
る。この状態では、各最小径部α,βと可動保持面23
8aとの間隔は、検査対象光学部材27の直径よりも十
分に広くなるので、検査対象光学部材27の着脱が可能
になる。しかる後に、オペレータは、このホルダ23を
上下逆さにして、水平且つ平坦な台上に置く。Next, the operator operates the tension springs 242,
242, each link arm 234, 234
Is rotated counterclockwise in FIGS. 4 and 6 to obtain FIG.
And as shown in FIG. 8, it stabilizes at the above-mentioned dead center. In this state, the minimum diameter portions α and β and the movable holding surface 23
Since the distance from the optical member 8a is sufficiently larger than the diameter of the optical member 27 to be inspected, the optical member 27 to be inspected can be attached and detached. Thereafter, the operator places the holder 23 upside down on a horizontal and flat table.
【0036】次に、オペレータは、凹面を下に向け且つ
凸面を上に向けた状態で、検査対象光学部材27の側面
(コバ)を摘んで、この検査対象光学部材27を小内径
部230aの内部に置く。このとき、台の表面には、検
査対象光学部材27の凹面における外縁のみが接し、凹
面表面には何も接触しないので、この凹面が傷付くこと
はない。また、ホルダ23の上面が台上面に面接触して
いるとともに、検査対象光学部材27の凹面の外縁が全
周にわたって台上面に接触しているので、ホルダに対し
て検査対象光学部材を正確に水平に保持させることがで
きる。Next, the operator grips the side surface (edge) of the optical member 27 to be inspected with the concave surface facing down and the convex surface facing upward, and attaches the optical member 27 to be inspected to the small inner diameter portion 230a. Put inside. At this time, only the outer edge of the concave surface of the inspection target optical member 27 comes into contact with the surface of the table, and nothing comes into contact with the concave surface, so that the concave surface is not damaged. Further, since the upper surface of the holder 23 is in surface contact with the upper surface of the table, and the outer edge of the concave surface of the optical member 27 to be inspected is in contact with the upper surface of the table over the entire circumference. It can be held horizontally.
【0037】次に、オペレータは、各リンクアーム23
4,234を図7における時計方向に回転させて、可動
ブロック238の可動保持面238aを中心軸O側に突
出させる。この突出の過程において、可動ブロック23
8の可動保持面238aは、検査対象光学部材27の側
面に当接し、更に各引張バネ242,242の復元力に
因ってこの検査対象光学部材27を押して移動させ、そ
の側面を小内径部230aの内面における最小径部α,
βに押し付ける。その結果、検査対象光学部材27は、
その側面に接触する最小径部α,βと可動保持面238
aとの間に挟まれることによって、ホルダ23内に保持
される。Next, the operator operates each link arm 23.
7, the movable holding surface 238a of the movable block 238 is projected toward the center axis O. In the process of this projection, the movable block 23
8, the movable holding surface 238a abuts against the side surface of the inspection target optical member 27, and further pushes and moves the inspection target optical member 27 due to the restoring force of each of the tension springs 242, 242. 230a, the smallest diameter portion α on the inner surface,
Press on β. As a result, the inspection target optical member 27 is
The minimum diameter portions α and β that contact the side surface and the movable holding surface 238
a, and is held in the holder 23.
【0038】次に、オペレータは、ホルダ23を裏返し
て、光学部材検査装置の回転テーブル22の貫通孔22
a内に填め込む。このとき、上述したように、ホルダ2
3のキー231を回転テーブル22のキー溝22bに係
合させる。Next, the operator turns the holder 23 upside down and turns the through-hole 22 of the rotary table 22 of the optical member inspection apparatus.
a. At this time, as described above, the holder 2
The third key 231 is engaged with the key groove 22b of the turntable 22.
【0039】以上のようにホルダ23をセットした後
で、オペレータは、光源4の配光部42から照明光を出
射させる。この結果、上述したようにして撮像装置1の
ラインセンサ12によって撮像がなされ、撮像によって
得られた画像データが図示せぬ画像処理装置の画像メモ
リに蓄積される。このような撮像は、光学部材保持部2
の回転盤21によって検査対象光学部材27がホルダ2
3ごと所定の単位角度づつ回転する毎に、なされる。そ
して、検査対象光学部材27が360度回転する間に画
像メモリに蓄積された画像データに基づいて、図示せぬ
画像処理装置は、検査対象光学部材27の良否判定を行
う。After setting the holder 23 as described above, the operator causes the light distribution section 42 of the light source 4 to emit illumination light. As a result, the image is captured by the line sensor 12 of the image capturing apparatus 1 as described above, and the image data obtained by the image capturing is stored in the image memory of the image processing apparatus (not shown). Such imaging is performed by the optical member holding unit 2.
Of the optical member 27 to be inspected by the turntable 21
This is performed every time when every three rotations are made by a predetermined unit angle. Then, based on the image data stored in the image memory while the inspection target optical member 27 rotates 360 degrees, an image processing apparatus (not shown) determines the quality of the inspection target optical member 27.
【0040】検査終了後、オペレータは、上述したのと
全く逆の操作を行うことによって、ホルダ23から検査
対象光学部材27を取り外す。After the inspection is completed, the operator removes the optical member 27 to be inspected from the holder 23 by performing an operation completely opposite to that described above.
【0041】このように本実施形態のホルダ23による
と、検査対象光学部材27の側面をを挟み込むことによ
ってこの検査対象光学部材27を保持するので、この検
査対象光学部材27の面形状如何に拘わらず、検査対象
光学部材27の表面を傷付けることなく、簡単な操作に
て、検査対象光学部材27の着脱が可能となる。As described above, according to the holder 23 of the present embodiment, since the inspection target optical member 27 is held by sandwiching the side surface of the inspection target optical member 27, regardless of the surface shape of the inspection target optical member 27. The inspection target optical member 27 can be attached and detached by a simple operation without damaging the surface of the inspection target optical member 27.
【0042】[0042]
【発明の効果】以上のように構成された本発明の光学部
材検査装置又はホルダによれば、検査対象光学部材を、
その表面に接触することなく簡単な操作にて保持するこ
とができる。According to the optical member inspection apparatus or holder of the present invention configured as described above, the optical member to be inspected can be
It can be held by a simple operation without touching the surface.
【図1】 本発明の実施の形態である光学部材検査装置
の概略構成を示す断面図FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of an optical member inspection apparatus according to an embodiment of the invention.
【図2】 図1に示すホルダの拡大縦断面図FIG. 2 is an enlarged vertical sectional view of the holder shown in FIG. 1;
【図3】 ホルダの側面図FIG. 3 is a side view of the holder.
【図4】 ホルダの平面図FIG. 4 is a plan view of a holder.
【図5】 ホルダの底面図FIG. 5 is a bottom view of the holder.
【図6】 カバーを外した状態におけるホルダの分解平
面図FIG. 6 is an exploded plan view of the holder with a cover removed.
【図7】 着脱時におけるホルダの分解平面図FIG. 7 is an exploded plan view of the holder at the time of attachment and detachment.
【図8】 着脱時におけるホルダの側面図FIG. 8 is a side view of the holder at the time of attachment and detachment.
【図9】 従来のホルダの縦断面図FIG. 9 is a longitudinal sectional view of a conventional holder.
2 光学部材保持部 23 ホルダ 27 検査対象光学部材 230 本体部 230a 小内径部 230b 大内径部 234 リンクアーム 236 平行移動板 238 可動ブロック 238a 可動保持面 239 ストッパピン 240 固定バネ掛けピン 241 可動バネ掛けピン 242 引張バネ α,β 最小径部 2 Optical Member Holder 23 Holder 27 Inspection Optical Member 230 Main Body 230a Small Inside Diameter 230b Large Inside Diameter 234 Link Arm 236 Parallel Moving Plate 238 Movable Block 238a Movable Holding Surface 239 Stopper Pin 240 Fixed Spring Hook Pin 241 Movable Spring Hook Pin 242 Tension spring α, β Minimum diameter part
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中西 太一 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光学 工業株式会社内 (72)発明者 東原 隆 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光学 工業株式会社内 (72)発明者 中村 聡 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光学 工業株式会社内 Fターム(参考) 2G086 EE08 FF01 FF04 2H044 AA03 AA04 AA14 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Taichi Nakanishi 2-36-9 Maenocho, Itabashi-ku, Tokyo Asahi Kogaku Kogyo Co., Ltd. (72) Takashi Higashihara 2-36-9 Maenocho, Itabashi-ku, Tokyo No. Asahi Kogaku Kogyo Co., Ltd. (72) Inventor Satoshi Nakamura 2-36-9 Maeno-cho, Itabashi-ku, Tokyo F-term in Asahi Kogaku Kogyo Co., Ltd. 2G086 EE08 FF01 FF04 2H044 AA03 AA04 AA14
Claims (7)
って、 少なくとも2箇所の接触点において前記光学部材の側面
に当接する枠部材と、 前記各接触点に向けて移動可能に前記枠部材に取り付け
られているとともに、前記光学部材の側面に当接してこ
の光学部材を前記各接触点に押圧する様に付勢されてい
る可動部材とを備えたことを特徴とするホルダ。1. A holder for holding an optical member therein, the frame member abutting on a side surface of the optical member at at least two contact points, and the frame member movably toward each of the contact points. A movable member attached to the optical member and urged to contact the side surface of the optical member and press the optical member to each of the contact points.
保持する筒状部材であり、 その内面の半径は、前記接触点においてのみ前記光学部
材の半径と略同径であり、それ以外の部分においては前
記光学部材の半径よりも大径であることを特徴とする請
求項1記載のホルダ。2. The frame member is a tubular member that holds the optical member therein, and the inner surface has a radius substantially equal to the radius of the optical member only at the contact point. 2. The holder according to claim 1, wherein the diameter of the portion is larger than the radius of the optical member.
間を挟んで前記各接触点と対向する部位が、前記可動部
材を配置するために切り欠かれていることを特徴とする
請求項2記載のホルダ。3. The frame member according to claim 1, wherein a portion facing each of the contact points across a space for holding the optical member is cut out to dispose the movable member. 2. The holder according to 2.
ク機構を介して取り付けられており、バネによって前記
接触点に向けて付勢されていることを特徴とする請求項
1記載のホルダ。4. The holder according to claim 1, wherein the movable member is attached to the frame member via a link mechanism, and is urged toward the contact point by a spring. .
れたリンク部材から構成されていることを特徴とする請
求項4記載のホルダ。5. The holder according to claim 4, wherein said link mechanism comprises link members arranged in a parallelogram shape.
記光学部材と接触する箇所には、夫々、高摩擦部材が取
り付けられていることを特徴とする請求項1記載のホル
ダ。6. The holder according to claim 1, wherein a high friction member is attached to each of said contact points and a portion of said movable member which contacts said optical member.
照射するとともに、他方の面側から撮影することによっ
て、検査に用いる画像データを得る光学部材検査装置に
おいて、 少なくとも2箇所の接触点において前記光学部材の側面
に当接する枠部材と、前記各接触点に向けて移動可能に
前記枠部材に取り付けられているとともに、前記光学部
材の側面に当接してこの光学部材を前記各接触点に押圧
する様に付勢されている可動部材とから構成されている
ホルダを備えたことを特徴とする光学部材検査装置。7. An optical member inspection apparatus for irradiating an optical member with illumination light from one surface side and photographing from the other surface side to obtain image data used for inspection, wherein at least two contact points are provided. A frame member that abuts on the side surface of the optical member at a point, and is attached to the frame member movably toward each of the contact points, and abuts on the side surface of the optical member to bring the optical member into contact with each of the contact members. An optical member inspection apparatus, comprising: a holder including a movable member biased so as to press against a point.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18795698A JP4005224B2 (en) | 1998-07-02 | 1998-07-02 | Optical member inspection apparatus and holder |
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JP4005224B2 JP4005224B2 (en) | 2007-11-07 |
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JP (1) | JP4005224B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005191204A (en) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Kyocera Corp | Optical element assembling body, assembling method, and electron beam apparatus using the same |
US7742159B2 (en) | 2007-01-26 | 2010-06-22 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Apparatus for checking concentricity between lens barrel and barrel holder |
-
1998
- 1998-07-02 JP JP18795698A patent/JP4005224B2/en not_active Expired - Fee Related
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US7742159B2 (en) | 2007-01-26 | 2010-06-22 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Apparatus for checking concentricity between lens barrel and barrel holder |
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