JP2000010814A - Chip with debugging capability - Google Patents

Chip with debugging capability

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JP2000010814A
JP2000010814A JP11133326A JP13332699A JP2000010814A JP 2000010814 A JP2000010814 A JP 2000010814A JP 11133326 A JP11133326 A JP 11133326A JP 13332699 A JP13332699 A JP 13332699A JP 2000010814 A JP2000010814 A JP 2000010814A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To monitor the execution of a program in real time over a wide range by making a chip include a debug bus which can be connected to another identical chip so that while a MONITOR mode and a DUT mode are set to complementary modes, signals enabling a chip and another chip to be operated in parallel are transferred. SOLUTION: When a power source is turned on, not only a debug chip 110C in a DUT mode, but also MONITOR-mode chips 110A to 110B are reset with an energized RESET signal. In this case, when the RESET signal is energized, the MONITOR-mode chips 110A to 110B reports the debug bus 140 that an enable signal is generated and the DUT-mode debug chip 110C that the debug bus of its CODEC is enabled. The 2nd synchronization unit of the debug chip 110C in the DUT mode, on the other hand, synchronizes the reset signal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、一般的にはコンピ
ュータチップおよびコンピュータ装置に関し、より詳細
には、プログラムデバッギングに完全に適したコンピュ
ータチップおよび装置に関し、デバッギングシステムに
も関する。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates generally to computer chips and computer devices, and more particularly to computer chips and devices that are perfectly suited for program debugging, and also to debugging systems.

【0002】[0002]

【従来技術】新しいコンピュータプログラムの開発する
際の重要な工程は、プログラムエラーを訂正するために
プログラムをデバッグすることである。このプログラム
デバッギングはコンピュータ上でプログラムを実行し、
コンピュータと周辺機器との間で外部で通信されるだけ
でなく、コンピュータの異なる回路の間で内部で通信さ
れる異なる信号をモニタすることによって行われる。か
かる回路としては、例えば中央処理ユニット(CPU)
と、ダイレクトメモリアクセス(DMA)ユニットと、
メインメモリと、入出力(I/O)インターフェース回
路とが挙げられる。コンピュータを作動させながらプロ
グラムのデバッギングを可能にするために、これまでコ
ンピュータ回路が搭載されたサーキットボードにプロー
ブによってロジックアナライザを接続していた。
BACKGROUND OF THE INVENTION An important step in developing a new computer program is to debug the program to correct program errors. This program debugging runs a program on a computer,
This is done by monitoring different signals that are communicated internally between different circuits of the computer, as well as communicated externally between the computer and the peripherals. Such a circuit includes, for example, a central processing unit (CPU)
A direct memory access (DMA) unit;
There are a main memory and an input / output (I / O) interface circuit. In order to enable debugging of a program while operating a computer, a logic analyzer has been connected by a probe to a circuit board on which a computer circuit is mounted.

【0003】メモリアクセスをスピードアップするた
め、一般にコンピュータにはキャッシュメモリが設けら
れている。このメモリは主にCPUによって高速の、す
なわちアクセス時間の短い一時メモリとして使用され
る。この一時メモリは、最も頻繁に使用され、最も最近
に使用されたメインメモリのアドレスおよびデータしか
ホールドしない。CPUメインメモリのすべてのアクセ
スの主要な部分はキャッシュメモリによってしか処理さ
れず、アクセスの主要でない部分だけがメインメモリと
キャッシュメモリとの間のデータ交換によりメインメモ
リを使用している。従って、プログラムの実行ではCP
Uとキャッシュメモリとの間の信号のやり取りが中心と
なるので、この信号のやり取りをデバッグをすることが
好ましい。
In order to speed up memory access, computers generally have a cache memory. This memory is mainly used by the CPU as a high-speed temporary memory, that is, a short access time. This temporary memory only holds the addresses and data of the most frequently used and most recently used main memory. The main part of all accesses of the CPU main memory is processed only by the cache memory, and only the minor part of the access uses the main memory by exchanging data between the main memory and the cache memory. Therefore, in the execution of the program, the CP
Since the exchange of signals between the U and the cache memory mainly takes place, it is preferable to debug the exchange of signals.

【0004】しかしながら、最新のコンピュータ構造で
はコンピュータ回路のできるだけ多くを1つのチップに
集積しようとする傾向がある。とりわけ一般に、CPU
とキャッシュメモリの双方を同じチップに集積化する
が、他方、通常、メインメモリは同じサーキットボード
に搭載され、チップに対して外付けされる。このメイン
メモリは通常、いくつかの相互に接続されたチップから
製造される。ワンチップに集積化することにより、CP
Uとメインメモリとの間だけをデバッギングしながら、
CPUとキャッシュメモリとの信号のやり取りをモニタ
することは不可能となっている。
However, modern computer architectures tend to integrate as much of the computer circuitry as possible on a single chip. Especially in general, CPU
And the cache memory are integrated on the same chip, while the main memory is usually mounted on the same circuit board and external to the chip. This main memory is typically manufactured from a number of interconnected chips. By integrating into one chip, CP
While debugging only between U and main memory,
It is impossible to monitor the exchange of signals between the CPU and the cache memory.

【0005】この問題を解決しようとするいくつかの試
みがこれまでなされている。従来の1つの解決案は、デ
バッギング操作中にキャッシュメモリをオフにすること
である。こうしてすべてのメモリアクセスはメインメモ
リに対してなされ、モニタが可能となる。しかしなが
ら、このことは真の状況でプログラムをモニタする可能
性が失われ、すべての実行レートが低下することを意味
する。かかる状況では、わからないいくつかのタイプの
エラー状の動きがある。キャッシュの取り扱いはプログ
ラムの動作の重要な部分となっている。
Some attempts have been made to solve this problem. One conventional solution is to turn off the cache memory during a debugging operation. In this way, all memory accesses are made to the main memory and monitoring becomes possible. However, this means that the possibility of monitoring the program in a true situation is lost and all execution rates are reduced. In such a situation, there are several types of error-like movements that are unknown. Handling caches is an important part of program operation.

【0006】他の従来の解決案は、通常のチップの特別
バージョンであるいわゆるボンドアウトチップを製造す
ることであり、この特別バージョンのチップは、チップ
の内部バスに接続されるエクストラチップを有する。こ
の解決案は通常のチップに平行して特殊なチップを製造
しなければならないので、高価な解決案となる。更にこ
の方法によって、とりわけ引出し線が延びていることに
起因し、クロック周波数が低下する。従って、リアルタ
イムのデバッギングは行えず、これによりリアルタイム
で実行する際にエラーを生じさせる所定のバグを検出で
きない状態となり得る。
Another prior solution is to produce a special version of a normal chip, the so-called bondout chip, which has an extra chip connected to the chip's internal bus. This solution is expensive because special chips have to be manufactured in parallel with normal chips. Furthermore, this method reduces the clock frequency, especially due to the extension of the leader lines. Therefore, real-time debugging cannot be performed, and a predetermined bug that causes an error when executed in real time cannot be detected.

【0007】従来の更に別の解決案は、デバッグサポー
トを可能にする所定のレジスタを設けることである。ブ
レークポイントレジスタと称されることが多いこれらレ
ジスタはプログラム実行の所定の点でソフトウェアブレ
ークポイントを使用できるようにするものである。これ
らブレークポイントではモニタシステムによって読み出
しすべきブレークポイントレジスタ内に現在アドレスお
よびデータ情報がロードされる。この解決案は、プログ
ラムの実行が安全にこれらブレークポイントに達したか
どうかを検出することを可能にするものである。しかし
ながら、主な欠点は、リアルタイムでデバッギングを行
えないことである。更に、ブレークポイントの間で何が
生じているかはモニタできない。
[0007] Yet another prior art solution is to provide certain registers to enable debug support. These registers, often referred to as breakpoint registers, allow the use of software breakpoints at certain points in program execution. At these breakpoints, the current address and data information is loaded into the breakpoint register to be read by the monitor system. This solution makes it possible to detect whether the execution of the program has safely reached these breakpoints. However, the main disadvantage is that debugging cannot be performed in real time. In addition, what happens between breakpoints cannot be monitored.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従って、コンピュータ
をフルクロックレートで作動させながら、同一チップに
集積化されたCPUとキャッシュメモリとの間の信号の
やり取りもモニタできるようにする新しいコンピュータ
装置が望まれている。
Therefore, there is a need for a new computer device that allows the computer to operate at full clock rate while also monitoring the signal exchange between the CPU and cache memory integrated on the same chip. It is rare.

【0009】本発明の目的は、デバッギングのために特
別なバージョンのチップを設けることなく、フルクロッ
クレートでCPUを作動させながら、すなわちリアルタ
イムでデバッギングしながら、従来可能であったよりも
広範にプログラムの実行をモニタすることを可能にする
ことにある。
It is an object of the present invention to operate a CPU at a full clock rate, ie, debugging in real time, without providing a special version of the chip for debugging, and to program the program more widely than previously possible. The object is to make it possible to monitor the execution.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、上記目
的は相互に接続されたCPUとキャッシュシステムとが
集積化され、少なくとも2つの異なる作動モード、例え
ばデバイステスト(DUT)モードである第1モード
と、MONITOR(モニタ)モードである第2モード
のいずれかに設定可能なコンピュータチップ、および少
なくとも1つの同期化ユニットにより達成される。上記
MONITORモードとDUTモードとは相補的であ
る。このチップはチップを相補的なモードに設定しなが
ら、チップと別のチップとをパラレルに作動できるよう
にする信号をやり取りするよう、もう1つの同一チップ
に接続可能なデバッグバスを含む。これら信号は前記同
期化ユニットによって発生される同期化信号を含む。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided an integrated system in which an interconnected CPU and cache system are integrated and at least two different modes of operation, for example, a device test (DUT) mode. This is achieved by a computer chip that can be set to one of a first mode and a second mode that is a MONITOR mode, and at least one synchronization unit. The MONITOR mode and the DUT mode are complementary. The chip includes a debug bus connectable to another identical chip for exchanging signals allowing the chip to operate in parallel with another chip while setting the chip in a complementary mode. These signals include the synchronization signals generated by the synchronization unit.

【0011】デバッグ動作するようにこのように構成さ
れたコンピュータチップは、デバッグ用の特別バージョ
ンのチップを製造する過剰なコストをなくすことができ
る。デバッグバスと同期化回路との組み合わせはMON
ITORモード、すなわちデバッグモードに設定される
もう1つの同一のチップに本質的な信号の小さい組を効
率的に交換できることを考慮したものである。これら異
なるモードが準備されているので、プログラム実行に関
するフル情報を得るフルレートのデバッグを行うことが
できる。
A computer chip so configured for debug operation can eliminate the excessive costs of manufacturing a special version of the chip for debugging. The combination of the debug bus and the synchronization circuit is MON
This takes into account the fact that a small set of essential signals can be efficiently exchanged for another identical chip set to ITOR mode, ie debug mode. Since these different modes are prepared, it is possible to perform full-rate debugging to obtain full information on program execution.

【0012】[0012]

【実施の形態】図1は、デバッグ能力が高められたチッ
プのテストコンフィギュレーションのハードウェアブロ
ック図である。本発明の一実施例におけるこのチップは
中央プロセッサ、キャッシュ、DMAユニット、ローカ
ルバスおよびメモリマネージャを含む「チップ上のコン
ピュータ」の基本的機能のすべてを有する。更にこのチ
ップは、マスターモード(デバイステスト中として(D
UT)モードまたはいくつかのスレーブ(例えばMON
ITOR)モードのうちの任意のモードのいずれかで機
能できるようにする回路を含む。DUTモードとなって
いるチップの内部での作動およびプログラムコードの実
行は、MONITORモードに対してイネーブルされる
1つ以上の同一チップを使って現される。MONITO
RモードではDUTモードのチップの内部状態が現され
るので、DUTモードのチップおよび/またはこのDU
Tモードチップで作動するプログラムコードをデバッグ
する作業が簡略化される。
FIG. 1 is a hardware block diagram of a test configuration of a chip having an enhanced debugging capability. This chip in one embodiment of the present invention has all of the basic functions of a "computer on chip" including a central processor, cache, DMA unit, local bus and memory manager. In addition, this chip is in master mode (During device testing (D
UT) mode or some slaves (eg MON
(ITOR) mode. Operation and execution of program code inside a chip that is in DUT mode is manifested using one or more identical chips enabled for MONITOR mode. MONITO
Since the internal state of the DUT mode chip is displayed in the R mode, the DUT mode chip and / or the DU
The task of debugging program code running on a T-mode chip is simplified.

【0013】いくつかの同一チップは共通する組のバス
上で結合されている。同じチップがMONITORモー
ドで作動する間、1つのチップがマスターモードとなる
ように構成されている。システムバスのアドレス部分を
制御するよう、チップにマスターモード、例えばデバイ
ステスト中(DUT)モードとなるようにさせることに
よりデバッグが行われる。DUTモードとなっているチ
ップはアドレスバスマスターとしてアドレスバス上に存
在するアドレス、従ってすべてのマスターモードおよび
スレーブモードチップを含むシステムに対するメモリお
よびデバイスアクセスリクエストを制御する。システム
バスのデータ部分にはスレーブモードおよびマスターモ
ードの双方のすべてのチップが接続されているので、す
べてのチップはシステムバスのデータ部分を通して同一
のデータおよびプログラムコードを受信し、処理する。
更にすべてのチップはプログラムコードおよびデータの
同期的処理を保証するための同期化回路を含む。
Some identical chips are coupled on a common set of buses. One chip is configured to be in the master mode while the same chip operates in the MONITOR mode. Debugging is performed by causing the chip to enter a master mode, for example, a device under test (DUT) mode, to control the address portion of the system bus. The chip in DUT mode controls the addresses present on the address bus as the address bus master, and thus the memory and device access requests for the system, including all master mode and slave mode chips. All chips in both the slave mode and the master mode are connected to the data portion of the system bus, so that all chips receive and process the same data and program codes through the data portion of the system bus.
Further, all chips include synchronization circuits to ensure synchronous processing of program code and data.

【0014】マスターモードのチップはアドレスバスに
アドレス情報を出力する機能を奏するので、アドレスバ
スにアドレス情報を出力するのにスレーブ/モニタモー
ドのチップのアドレスラインは必要ではない。その代わ
りMONITORモードとなっているチップの各々のア
ドレスライン出力は、MONITORモードのチップの
アドレスライン/ピンを外部ピン接続が設けられていな
いチップの内部の種々の部品または信号ラインに切替可
能に接続することにより、チップ内部からの情報を「外
部」へ搬送するのに使用される。これら部品または信号
ラインは、キャッシュ、ローカルバスデータおよびアド
レスライン、インタラプトユニットおよびDMAユニッ
トを含む。通常、かかる情報は利用できないので、チッ
プおよび/またはこのチップ上で作動するプログラムコ
ードをデバッグすることが困難となる。
Since the chip in the master mode has a function of outputting address information to the address bus, the address line of the chip in the slave / monitor mode is not required to output the address information to the address bus. Instead, each address line output of the chip in the MONITOR mode is switchably connected to the address lines / pins of the chip in the MONITOR mode to various components or signal lines inside the chip that are not provided with external pin connections. This is used to carry information from inside the chip to the "outside." These components or signal lines include cache, local bus data and address lines, interrupt units and DMA units. Typically, such information is not available, making it difficult to debug the chip and / or the program code running on the chip.

【0015】図1は、コンピュータシステム98、モニ
タ100、ロジックアナライザ102、コンピュータ1
04およびネットワーク106を備えたテストコンフィ
ギュレーションを示す。コンピュータシステム98は、
計算システムのコアとして働くDUTモードのチップ1
10Cを含む。この計算システム98は発信機120、
パワーオンリセット118、関連するシステムハードウ
ェア112、メモリ114および入出力(I/O)ユニ
ット116も含む。本例においてDUTモードに構成さ
れ、デバッグ能力の高められたチップ110Cは、ロー
カルバス130C、コーデック(Codec)ユニット
132Cおよびメモリ制御ユニット134Cを含む。こ
のメモリ制御ユニットは第1ローカルバスのデバッグス
イッチ136Cを含む。モニタ100はMONITOR
モードに構成され、デバッグ能力が高められた2つのチ
ップ110A〜Bを含む。すべてのチップ110A〜C
はそれぞれ添え字A〜Cの付いた番号で表示された同様
な部品を有する。
FIG. 1 shows a computer system 98, a monitor 100, a logic analyzer 102, and a computer 1.
4 shows a test configuration comprising a network 04 and a network 106. Computer system 98
DUT mode chip 1 acting as the core of the computing system
10C. The computing system 98 includes a transmitter 120,
It also includes a power-on reset 118, associated system hardware 112, memory 114, and input / output (I / O) unit 116. In this example, the chip 110C configured in the DUT mode and having enhanced debugging capability includes a local bus 130C, a codec (Codec) unit 132C, and a memory control unit 134C. This memory control unit includes a first local bus debug switch 136C. Monitor 100 is MONITOR
Mode, and includes two chips 110A-B with enhanced debugging capabilities. All chips 110A-C
Have similar parts indicated by numbers with subscripts A to C, respectively.

【0016】図示された実施例では、共通バスが計算シ
ステム98とモニタ100とを接続している。これらバ
スはコーデックバス/デバッグバス/符号化された事象
バス140と、リセットおよび発振器バス142A〜B
と、非同期事象バス164と、モード選択バス144
と、システムバス146〜148のデータ/命令部分1
48である。DUTモードのデバッグチップ110Cは
データライン152Cおよびアドレスライン160Cを
介し、システムバス146〜148のデータ部分148
およびアドレス部分146にそれぞれ接続されている。
データライン152A〜Bを介してシステムバスのデー
タ部分にはそれぞれMONITORモードのチップ11
0A〜Bも結合されている。システムバス146〜14
8はシステムハードウェア112、メモリ114および
I/Oユニット116にも結合されている。DUTモー
ドのデバッグチップ110CおよびMONITORモー
ドのチップ110A〜Bは、バス142A〜Bを介し、
パワーオンリセット118および発振器120にも結合
されている。更にMONITORモードおよびDUTモ
ードのチップ110A〜Cはそれぞれモード選択モード
入力ピン150A〜Cをそれぞれ介し、各チップの作動
モードをセットするためのモード選択バス144にも結
合されている。また、DUTモードおよびMONITO
Rモードのチップは非同期事象バス164にも結合され
ている。最終的に、デバッグバス140はパワーオンリ
セット、インタラプト、ウエイトステート、DMAアク
セスおよびその他の非同期事象を含む活動を同期化する
ために、すべてのチップ110A〜Cに結合されてい
る。
In the illustrated embodiment, a common bus connects the computing system 98 and the monitor 100. These buses include a codec bus / debug bus / encoded event bus 140 and reset and oscillator buses 142A-B.
An asynchronous event bus 164 and a mode selection bus 144
And data / instruction part 1 of system buses 146 to 148
48. The debug chip 110C in the DUT mode receives the data portion 148 of the system bus 146-148 via the data line 152C and the address line 160C.
And the address portion 146, respectively.
The data portion of the system bus is connected via the data lines 152A-B to the chip 11 in the MONITOR mode, respectively.
OA and B are also combined. System bus 146-14
8 is also coupled to system hardware 112, memory 114 and I / O unit 116. The debug chip 110C in the DUT mode and the chips 110A-B in the MONITOR mode are connected via buses 142A-B,
It is also coupled to power-on reset 118 and oscillator 120. Further, the MONITOR mode and DUT mode chips 110A-C are also coupled to mode select bus 144 for setting the operating mode of each chip via mode select mode input pins 150A-C, respectively. DUT mode and MONITO
The R-mode chip is also coupled to asynchronous event bus 164. Finally, debug bus 140 is coupled to all chips 110A-C to synchronize activities including power-on resets, interrupts, wait states, DMA accesses and other asynchronous events.

【0017】DUTモードのデバッグチップ110Cの
アドレスライン160Cと対照的に、デバッグチップ1
10A〜Cのそれぞれの対応するアドレスライン160
A〜Bはその代わりにロジックアナライザ102に結合
されている。コンピュータ104上に表示し、ここで分
析するためのロジックアナライザ102にDUTモード
のデバッグチップ110C内のチップのローカルバスの
活動および/またはインタラプト、すなわちDMA活動
に対応する信号が送られるのは、これらライン160A
〜Bを通してである。
In contrast to address line 160C of debug chip 110C in DUT mode, debug chip 1
The corresponding address lines 160 of each of 10A-C
AB are instead coupled to logic analyzer 102. It is these signals that are sent to the logic analyzer 102 for display and analysis on the computer 104 that correspond to the local bus activity and / or interrupts of the chip in the debug chip 110C in DUT mode, ie, DMA activity. Line 160A
~ B.

【0018】能力が高められたデバッグチップ110A
〜Cの各々は、作動時にメモリ114に記憶されたプロ
グラムコード180から生じた同一のプロセス170を
実行する。本発明の一実施例では、すべてのチップ11
0A〜Cはメインメモリ内の同一のアドレスにブート
(起動)する。しかしながら、DUTモードにされたデ
バッグチップ110Cしか、システムバス146〜14
8のアドレス部分146に結合されたアドレスを有しな
い。従って、システムバスのアドレス部分のマスターと
して働くのはこのチップ110Cである。バスマスター
チップ110Cはアドレスバス上でどのアクセスリクエ
ストを処理するかを決定し、従って、システムバスのデ
ータ部分148にどのデータおよび/またはプログラム
コードが存在するかを決定する。システムバスのデータ
部分を通してチップ110A〜Cの各々に与えられる代
表的なプログラムシーケンスは特定アドレスへの読み出
しまたは書き込み命令を含み、この命令の次には上記チ
ップの各々によりこの特定アドレスから読み出したり、
または書き込んだりするデータが続く。従って、MON
ITORモードのチップ110A〜Bの各々は同一のデ
ータおよび命令を受信し、メインメモリに記憶されてい
る、例えばプログラムコード180に応答し、同一の動
作170Cを実行するマスターチップ110Cの活動を
シャドー化する。モニタチップのどれも、外部メモリ1
14への書き込みを行わない。常にDUTモードのデバ
ッグチップ110Cによってしか、外部メモリへの書き
込みは行われない。
Debug chip 110A with enhanced capabilities
-C each execute the same process 170 that resulted from the program code 180 stored in the memory 114 during operation. In one embodiment of the present invention, all chips 11
0A to 0C boot to the same address in the main memory. However, only the debug chip 110C in the DUT mode is used for the system buses 146-14.
8 has no address bound to the address portion 146. Therefore, it is this chip 110C that acts as the master of the address portion of the system bus. The bus master chip 110C determines which access requests are processed on the address bus, and thus determines what data and / or program code is present in the data portion 148 of the system bus. A typical program sequence provided to each of the chips 110A-C through the data portion of the system bus includes a read or write command to a particular address, which is followed by reading from that particular address by each of the chips,
Or the data to be written follows. Therefore, MON
Each of the ITOR mode chips 110A-B receives the same data and instructions and shadows the activity of the master chip 110C, which is stored in main memory and performs the same operation 170C, for example, in response to program code 180. I do. None of the monitor chips are external memory 1
14 is not written. Writing to the external memory is always performed only by the debug chip 110C in the DUT mode.

【0019】チップ自体、および/またはこのチップで
作動するプログラムコードをデバッグするには、ピン接
続のないチップの内部の種々の部品および信号ラインに
アクセスし、これらのステートをモニタすることが有利
である。一般に、このコンピュータチップおよびその他
のチップ、例えば論理ユニット、デジタル信号プロセッ
サ、グラフィックプロセッサ等の計算活動の大部分は、
外部ピンでは得られない。図示した実施例、例えばデバ
ッグ能力が高められた「コンピュータ」チップ110A
〜Cでは、ローカルバス130A〜Cとして知られるメ
モリ制御ユニット136A〜Cの上流部でかかる活動が
行われる。図示した実施例では、ローカルバスは同期部
品、例えばキャッシュメモリと非同期部品、例えばDM
Aおよびインタラプトユニットとを結合している。チッ
プの各々における処理のほとんどは、そのCPUとキャ
ッシュメモリとの間のローカルバスで生じることができ
る。すなわちシステムバスではDMAユニットとその活
動が表示されることはない。
To debug the chip itself and / or the program code running on the chip, it is advantageous to access the various components and signal lines inside the chip without pins and monitor these states. is there. Generally, most of the computational activity of this computer chip and other chips, such as logic units, digital signal processors, graphics processors, etc.
Not available with external pins. The illustrated embodiment, for example, a "computer" chip 110A with enhanced debugging capabilities
At ~ C, such activities take place upstream of the memory control units 136A-C known as local buses 130A-C. In the illustrated embodiment, the local bus is a synchronous component, eg, a cache memory and an asynchronous component, eg, a DM.
A and the interrupt unit. Most of the processing in each of the chips can occur on a local bus between its CPU and cache memory. That is, the DMA unit and its activity are not displayed on the system bus.

【0020】一般にプログラムコードの実行はシステム
バスのデータ部分148からチップ110A〜Cの各々
によって受信された命令と関連している。プログラムコ
ードにより各チップの中央処理ユニットCPUは論理的
および代数的演算を実行し、更にプログラムコードは、
これら操作を行うのにシステムバスのデータ部分を通
し、メモリ114との間でデータを読み書きすることを
求めることがある。これらチップの各々は同一プログラ
ムコードおよび同一シーケンスで作動するので、1つの
チップがバスをマスター制御するだけでよく、図示され
た実施例ではDUTモードに構成されたチップ110C
がこのチップとなっている。システムバス146〜14
8のアドレス部分146には、そのチップの読み出しお
よび書き込みリクエストが記憶されており、よってその
バスのデータ部分148の内容を決定する。
In general, execution of the program code is associated with instructions received by each of chips 110A-C from data portion 148 of the system bus. The program code causes the central processing unit CPU of each chip to perform logical and algebraic operations, and the program code further comprises
Performing these operations may require reading and writing data to and from memory 114 through the data portion of the system bus. Since each of these chips operates with the same program code and the same sequence, only one chip needs to master the bus, and in the illustrated embodiment chip 110C configured in DUT mode.
Is this chip. System bus 146-14
Eight address portions 146 store read and write requests for that chip, thus determining the contents of the data portion 148 of the bus.

【0021】各チップ110A〜Cはそれぞれモード入
力ピン150A〜C上の信号によりDUTモードまたは
いくつかのMONITORモードのいずれかに構成され
る。デバイスのポート上の2進シーケンス「000」に
対応するデジタルシーケンスにより、デバイスをDUT
モードとすることができる。また、2進シーケンス「0
01〜111」に対応する信号により、デバイスをいく
つかのMONITORモードのいずれかにすることがで
きる。個々の各モード信号に応答し、多数の内部ステー
トの変更が行われる。これら変更の1つとして、チップ
の各々のデバッグスイッチ136A〜Cを接続すること
が挙げられる。チップ110CはDUTモードとなって
おり、この場合、そのデバッグスイッチ136Cはメモ
リ制御ユニット134C内のメモリインターフェースユ
ニット110C(図3参照)を介し、ローカルバス13
0Cのアドレス部分にアドレス出力160Cを結合す
る。このモードでは、キャッシュポリシーおよびチップ
のオンチップキャッシュメモリ244C(図2参照)の
ステートに関連し、適当な場合にはアドレス出力160
C上にはローカルバスのアドレス部分に生じるアドレス
しか発生しない。これとは逆に、モニタモードに構成さ
れた1つ以上のデバッグチップ、例えばデバッグチップ
110A〜Bは、メモリ制御によるフィルタリングを行
うことなく、ローカルバスのアドレス部分およびローカ
ルバスのデータ部分に接続された関連するデバッグスイ
ッチ136A〜Bを有する。これらラインの活動は、こ
れらチップのアドレス出力ライン160A〜Bによりロ
ジックアナライザ102に与えられる。これらMONI
TORモードのチップ110A〜Bの各々では、ローカ
ルバスアドレスラインは関連するアドレスにより読み出
しおよび書き込みコマンドを表示し続ける。MONIT
ORモードのこれらチップとDUTモードのチップ11
0Cとの違いは、MONITORモードのチップではロ
ーカルアドレス上に存在するアドレスがシステムバスの
アドレス部分146に到達せず、従って、インターフェ
アレンスを除き、システムバスのデータ部分148上で
利用できるデータを制御しないということである。むし
ろその代わりに、データバス上のデータは実際にはマス
ターモードまたはDUTモードに構成されたチップ11
0Cによって得られたアドレスによって実際にデータバ
ス上のデータが決定される。従って、システムバスのア
ドレス部分をマスターし、(従って、システムバスのデ
ータ部分148の内容を決定するように)チップを構成
できるようにすることにより、MONITORモードの
チップの活動がDUTモードのチップの活動をシャドー
化するようにできる。次の図面および明細書では、チッ
プのモードに従属した別の機能について説明する。従っ
て、インタラプトおよびDMAアクセスステートの外部
化、およびいくつかのチップの処理の同期化について開
示する。
Each chip 110A-C is configured in either a DUT mode or some MONITOR mode by signals on mode input pins 150A-C, respectively. The device is DUT based on the digital sequence corresponding to the binary sequence "000" on the device port.
Mode. Also, the binary sequence "0
The signals corresponding to "01-111" allow the device to be in any of several MONITOR modes. Numerous internal state changes are made in response to each individual mode signal. One of these changes is to connect the debug switches 136A-C of each of the chips. The chip 110C is in the DUT mode. In this case, the debug switch 136C is connected to the local bus 13 via the memory interface unit 110C (see FIG. 3) in the memory control unit 134C.
The address output 160C is coupled to the address portion of 0C. This mode relates to the cache policy and the state of the chip's on-chip cache memory 244C (see FIG. 2) and, where appropriate, to address
Only addresses occurring in the address portion of the local bus are generated on C. Conversely, one or more debug chips configured in monitor mode, for example debug chips 110A-B, are connected to the address portion of the local bus and the data portion of the local bus without filtering by memory control. Associated debug switches 136A-B. The activity of these lines is provided to logic analyzer 102 by the address output lines 160A-B of these chips. These MONI
In each of the TOR mode chips 110A-B, the local bus address line continues to indicate read and write commands by the associated address. MONT
OR mode chip and DUT mode chip 11
The difference from 0C is that in the MONITOR mode chip, the address present on the local address does not reach the address portion 146 of the system bus, and therefore, except for interference, the data available on the data portion 148 of the system bus is lost. It is not controlled. Rather, the data on the data bus is actually a chip 11 configured in master mode or DUT mode.
The data on the data bus is actually determined by the address obtained by 0C. Thus, by mastering the address portion of the system bus and enabling the chip to be configured (and thus determine the contents of the data portion 148 of the system bus), the activity of the MONITOR mode chip is reduced to that of the DUT mode chip. Activities can be shadowed. The following figures and specification describe another function dependent on the mode of the chip. Thus, externalization of interrupt and DMA access states and synchronization of processing of some chips is disclosed.

【0022】当業者には明らかなように、チップ上の専
用モード選択ピンを用いることなく、モード選択を行う
こともできる。本発明の別の実施例では、チップのデバ
ッグ部品の構成を始動時のチップまたはチップ上に存在
する多重化ピンによって受信されるデータシーケンスに
より行うことができる。
As will be apparent to those skilled in the art, mode selection can be performed without using dedicated mode selection pins on the chip. In another embodiment of the invention, the configuration of the debug components of the chip can be performed by a data sequence received by the chip at start up or by multiplexing pins present on the chip.

【0023】図2は、図1の実施例を参照してこれまで
説明したデバッグチップ110A〜Cの代表的なチッ
プ、例えばチップ110Cの詳細なブロック図である。
このチップはクロック232Cと、CPU238Cと、
キャッシュコントローラ242Cおよびキャッシュメモ
リ244Cを含むキャッシュシステム240Cと、DM
Aコントローラ248C、DMAアービトレータ250
Cおよび関連するDMAI/Oバッファ252Cを含む
DMAユニット246Cを含む。更にこのチップは図1
を参照してこれまで説明したように、DUTモードまた
はいくつかのMONITORモードのいずれかでチップ
を作動できるようにする次のデバッグ部品を含む。これ
らデバッグ部品としては、インタラプトユニット236
Cを含む第1同期化回路/ユニット234Cと、第2同
期化回路/ユニット230Cと、コーデック132C
と、デバッグスイッチ136Cとがある。このデバッグ
スイッチはチップのアドレスピンを通して外部へ同期お
よび非同期処理ステートを送る。デバッグ部品の各々を
モード入力ピン150Cへ結合する制御接続部を有す
る。各部品の構成はモード入力ピン150C上のモード
信号に応答して変わる。モード信号は各部品をDUTモ
ードまたはいくつかのMONITORモードのいずれか
にする。
FIG. 2 is a detailed block diagram of a representative chip of the debug chips 110A-C described above with reference to the embodiment of FIG. 1, for example, the chip 110C.
This chip has a clock 232C, a CPU 238C,
A cache system 240C including a cache controller 242C and a cache memory 244C;
A controller 248C, DMA arbitrator 250
C and a DMA unit 246C including an associated DMA I / O buffer 252C. Further, this chip is shown in FIG.
And the following debug components that allow the chip to operate in either the DUT mode or some MONITOR modes, as described above with reference to FIG. These debug components include the interrupt unit 236
C, a first synchronization circuit / unit 234C, a second synchronization circuit / unit 230C, and a codec 132C
And a debug switch 136C. This debug switch sends synchronous and asynchronous processing states externally through the address pins of the chip. It has a control connection coupling each of the debug components to the mode input pin 150C. The configuration of each component changes in response to a mode signal on mode input pin 150C. The mode signal places each part in either the DUT mode or some MONITOR modes.

【0024】チップ自体はバス280Cを通してネット
ワークインターフェース200に接続され、リセットラ
イン142Aを通してリセットユニット118に接続さ
れ、発振器信号ライン142Bを通して発振器120に
接続され、デバッグバス140を通してコーデック13
2Cおよび関連するシスターチップ、すなわち110A
〜Bに接続され、システムバスのアドレス部分146お
よびデータ部分148を介してメモリ114およびI/
Oユニット116に接続され、モード入力ピン150C
を介し、モード選択バス144に接続され、DMA I
/Oインターフェース254Cを介し、周辺DMAデバ
イスに接続され、最終的に非同期事象バス164を介
し、シスターチップ110A〜Bに接続されるように示
されている。本発明の一実施例では、ネットワークイン
ターフェースはネットワークインターフェースバス28
8Cを介し、チップ110Cに結合しており、このイン
ターフェースバスは例えばIEEE規格802.3のM
IIバスである。
The chip itself is connected to network interface 200 via bus 280C, to reset unit 118 via reset line 142A, to oscillator 120 via oscillator signal line 142B, and to codec 13 via debug bus 140.
2C and associated sister chip, ie 110A
-B via the address portion 146 and the data portion 148 of the system bus.
O unit 116, and a mode input pin 150C
, And to the mode selection bus 144,
It is shown connected via I / O interface 254C to peripheral DMA devices and ultimately via asynchronous event bus 164 to sister chips 110A-B. In one embodiment of the present invention, the network interface is a network interface bus 28.
8C, and the interface bus is, for example, an IEEE standard 802.3 M.
II bus.

【0025】チップ内ではCPU238Cおよびキャッ
シュシステム240Cがローカルバス130Cに結合さ
れている。キャッシュコントローラ242Cはライトス
ルーおよびコピーバッグを含む多数のキャッシュポリシ
ーのうちのいずれか1つを実行できる。本発明の一実施
例では、チップは関連するI/Oバッファ252Cを備
えたオンボードDMAユニット246Cの別の特徴を提
供し、I/Oバッファ252Cは多数の周辺デバイス
(図示せず)との間でアクセスを行うよう、外部DMA
I/Oインターフェース254Cに結合している。こ
の新規なDMAユニット246Cの更なる細部について
は、米国特許出願第09/160,513号として発明者ジャン・
ベンクツォン、ケニー・ラナーアップ、パー・ザンダー
により1998年10月9日に「DMAユニットによる
改良されたメモリアクセスのための方法およびコンピュ
ータシステム」を発明の名称とする係属中の米国特許出
願に記載されている。この米国特許出願を引用によって
ここに含める。
In the chip, a CPU 238C and a cache system 240C are coupled to a local bus 130C. The cache controller 242C can execute any one of a number of cache policies, including write-through and copy bags. In one embodiment of the present invention, the chip provides another feature of on-board DMA unit 246C with an associated I / O buffer 252C, where I / O buffer 252C is compatible with a number of peripheral devices (not shown). External DMA to access between
It is coupled to an I / O interface 254C. Further details of this new DMA unit 246C are described in US patent application Ser.
In a pending U.S. patent application entitled "Method and Computer System for Improved Memory Access by DMA Units" by Bencson, Kenny Runnerup and Par Sander on October 9, 1998. I have. This US patent application is incorporated herein by reference.

【0026】クロック232CはCPU238Cだけで
なく第1同期化ユニット234Cおよび第2同期化ユニ
ット230Cにも結合している。第1同期化ユニット2
34Cは信号ライン166C上の外部インタラプト信号
を受け入れ、DMAユニット246Cから信号ライン2
78Cを介し、デバッグバス140上のDMA情報のた
めの時間スロットをリザーブするための入力信号を受け
入れることができる。この第1同期化ユニットは信号ラ
イン274Cを介し、メモリ制御ユニット134Cへ出
力信号を与える。更にこの第1同期化ユニットは信号ラ
イン282Cを通し、CPU238Cへ出力信号を送
り、信号ライン926Cを通してコーデック132Cへ
出力信号を送る。第2同期化ユニット230Cは、I/
Oユニット116から信号ライン164を介し、非同期
入力信号を受信する。この第2同期化ユニットの出力端
はコーデックおよびCPUに結合されており、DMA信
号ライン276Cを介し、コーデック132CにDMA
ユニット246Cが結合されている。
The clock 232C is coupled not only to the CPU 238C, but also to the first synchronization unit 234C and the second synchronization unit 230C. First synchronization unit 2
34C accepts an external interrupt signal on signal line 166C and receives signal line 2 from DMA unit 246C.
Via 78C, an input signal can be accepted to reserve a time slot for DMA information on debug bus 140. This first synchronization unit provides an output signal to memory control unit 134C via signal line 274C. Further, the first synchronization unit sends an output signal to CPU 238C over signal line 282C and sends an output signal to codec 132C over signal line 926C. The second synchronization unit 230C is configured to
An asynchronous input signal is received from the O unit 116 via a signal line 164. The output of this second synchronization unit is coupled to the codec and the CPU and to the codec 132C via a DMA signal line 276C.
Unit 246C is connected.

【0027】モード入力ピン150C上のモード信号は
作動時にデバイスがマスター/DUTモードで作動する
のか、またはMONITORモードで作動するのかを判
断する。MONITORモードの場合、モード入力ピン
150Cへの入力信号はデバッグスイッチ136C、第
1同期化ユニット234C、第2同期化ユニット230
Cおよびコーデック132Cのステートを決定する。
The mode signal on mode input pin 150C determines whether the device will operate in master / DUT mode or MONITOR mode when activated. In the case of the MONITOR mode, the input signal to the mode input pin 150C is the debug switch 136C, the first synchronization unit 234C, and the second synchronization unit 230.
C and the state of the codec 132C are determined.

【0028】モード入力ピン150C上のモード信号が
マスター/DUTモードに設定されると、第1同期化ユ
ニット234Cおよび第2同期化ユニット230Cは非
同期入力信号例えばインタラプト信号およびDMAアク
セスをを受け入れ、モニタユニット110A〜Bの同期
化を可能にするのに十分な数のクロックサイクルの間、
その入力信号の処理を支援する。この同期化は次の図8
に示されるように実行できる。DUT/マスターモード
では、デバッグスイッチ136Cは従来どおりキャッシ
ュメモリ244Cの書き込みおよび読み出しにしか関係
しないローカルバスのアドレス活動のシステムアドレス
バス部分からアイソレートするように、ローカルアドレ
スバスにデバッグスイッチ136Cが結合される。
When the mode signal on mode input pin 150C is set to master / DUT mode, first synchronization unit 234C and second synchronization unit 230C accept asynchronous input signals, eg, interrupt signals and DMA access, and monitor. During a sufficient number of clock cycles to allow synchronization of units 110A-B,
Support the processing of the input signal. This synchronization is shown in FIG.
Can be performed as shown in In the DUT / master mode, debug switch 136C is coupled to the local address bus such that debug switch 136C is isolated from the system address bus portion of the local bus address activity which conventionally only involves writing and reading cache memory 244C. You.

【0029】上記のように、チップ110A〜Bは、図
2に示されたチップ110Cと同一である。唯一の違い
は、これら違いのデバッグ部分、例えばコーデック13
2A〜B第1同期化ユニット234Aおよび第2同期化
ユニット230C、およびデバッグスイッチ136A〜
Bがそれらの活動とデバッグスイッチ110Cとの活動
を同期化させるだけでなく、通常は外部に現れない対応
するチップの所定の内部ステートを現すように構成され
ている。これら機能の第1機能、例えばシスターチップ
と同期化する機能は、第1および第2同期化ユニットな
らびにコーデックによって得られる。
As described above, chips 110A-B are identical to chip 110C shown in FIG. The only difference is the debugging part of these differences, for example codec 13
2A-B first synchronization unit 234A and second synchronization unit 230C, and debug switch 136A-
B is configured not only to synchronize their activity with the activity of debug switch 110C, but also to represent a predetermined internal state of the corresponding chip which normally does not appear externally. The first of these functions, for example the function of synchronizing with the sister chip, is obtained by the first and second synchronization units and the codec.

【0030】図示した実施例における、主にMONIT
ORモードでは、チップ110A〜Bの内部には多数の
異なるステートがあり、これらはロジックアナライザ1
02による処理を行うためのアドレス出力160A〜B
のいずれかで表示できる(図1参照)。これらステート
にはローカルデータバス300A〜Bまたはローカルア
ドレスバス302A〜Bのうちの所定の1つを、対応す
るデバッグスイッチ136A〜Bに結合することを含
む。これら出力はロジックアナライザによる処理を行う
ために、チップの対応するアドレス出力、例えば160
A/Bで利用できる(図1参照)。従って、マスター/
デバイステストモードに構成されたチップ110Cが完
全な特徴の計算ユニットとしてDUTモードで作動する
間、MONITORモードに構成されたそのシスターチ
ップは同一のプログラムコードを実行し、バスマスター
として構成されたDUTモードのデバッグチップ110
Cに同じ態様で非同期事象に応答することにより、DU
Tモードのチップで実行される処理に関連した内部ステ
ートを露出する。
In the illustrated embodiment, mainly
In the OR mode, there are a number of different states inside the chips 110A-B, which are
Address output 160A-B for performing the process according to F.02
(See FIG. 1). These states include coupling a predetermined one of local data buses 300A-B or local address buses 302A-B to a corresponding debug switch 136A-B. These outputs are output to the corresponding address outputs of the chip, e.g.
Available for A / B (see FIG. 1). Therefore, Master /
While the chip 110C configured in the device test mode operates in the DUT mode as a full featured computing unit, its sister chip configured in the MONITOR mode executes the same program code and the DUT mode configured as the bus master. Debug chip 110
By responding to C in the same manner to asynchronous events, DU
Exposes internal states associated with processing performed on the chip in T mode.

【0031】本発明では、第1チップはテスト中のデバ
イスとして構成されており、このアドレス出力がどのメ
モリロケーションとの間で読み出し、書き込みを行うか
を制御し、従って、データバス上で、どの時点でどのデ
ータおよび命令を与えるか、という意味でバスマスター
となっている。MONITORモードで作動するように
構成されたシスターチップはマスターモードのチップの
エンドデータアクセス活動をシャドー化し、同じ処理を
これに同期化させて実行する。従って、デバッグ機能専
用の最小の付加的オンボードリアルエステートと、モー
ド入力ピン150A〜Cおよびデバッグバス140に関
連したピンを除き、デバッグ機能を有しない従来のチッ
プのそれに類似するピンアウトとを含むテストおよび製
造に適した単一チップを製造できる。
In the present invention, the first chip is configured as a device under test, and this address output controls which memory location to read and write to, and therefore, It is a bus master in terms of which data and instructions are given at the time. A sister chip configured to operate in the MONITOR mode shadows the end data access activity of the chip in the master mode and performs the same processing synchronously therewith. Thus, a test including a minimum additional onboard real estate dedicated to debug functions and a pinout similar to that of a conventional chip without debug functions, except for the mode input pins 150A-C and the pins associated with the debug bus 140. And a single chip suitable for manufacturing can be manufactured.

【0032】図3は、図1に示されたメモリ制御ユニッ
ト134A〜Cの詳細な実施例を示す。メモリ制御ユニ
ットの各々はメモリインターフェースユニット110A
〜Cとデバッグスイッチ136A〜Cとを含む。メモリ
インターフェースユニット310A〜Cの各々は制御バ
ス(図示せず)を通してキャッシュコントローラ242
A〜C、CPU238A〜CおよびDMAユニット24
6A〜Cのうちの対応する1つに結合されている(図2
参照)。ローカルバス側では制御ユニットはローカルバ
スのアドレスバス部分300A〜Cおよびデータバス部
分302A〜Cに結合されている。システムバス側では
制御ユニットはデータライン152A〜Cおよび中間シ
ステムアドレスバス104A〜Cに結合されている。デ
バッグスイッチ136A〜Cの各々はモード入力ピン1
50A〜Cの対応する1つに結合されている。図示され
た実施例では、デバッグスイッチはアドレス出力160
A〜Cを直接ローカルバスに結合するか、またはメモリ
インターフェースユニット310A〜Cからの中間シス
テムアドレスバス304A〜Cを介して間接的にローカ
ルバスに結合する。メモリ制御ユニットに直接結合され
ている時は、チップはキャッシュコントローラ242A
〜Cおよびキャッシュメモリ244A〜Cの任意の時点
における内容によって実行されるキャッシュポリシーに
よって決定されるアドレス出力ライン160A〜Cとロ
ーカルバスのアドレス部分との間が結合されたDUTコ
ンピュータとして働く。これとは異なり、デバッグスイ
ッチ136Cはローカルデータバス300A〜C、ロー
カルアドレスバス302A〜Cまたは信号ライン上のす
べての活動をモニタするように構成できる。本発明の別
の実施例では、内部事象ライン306A〜Cを通して、
例えばCPUまたはキャッシュコントローラのステータ
スもモニタできる(図3参照)。これら出力は対応する
アドレス出力ライン160A〜Cを通して直接得られ
る。
FIG. 3 shows a detailed embodiment of the memory control units 134A-C shown in FIG. Each of the memory control units is a memory interface unit 110A
To C and the debug switches 136A to 136C. Each of the memory interface units 310A-C is connected to a cache controller 242 through a control bus (not shown).
A to C, CPU 238A to C and DMA unit 24
6A-C (see FIG. 2).
reference). On the local bus side, the control unit is coupled to the address bus portions 300A-C and data bus portions 302A-C of the local bus. On the system bus side, the control unit is coupled to data lines 152A-C and intermediate system address buses 104A-C. Each of the debug switches 136A-C has a mode input pin 1
50A-C. In the illustrated embodiment, the debug switch has an address output 160
AC are coupled directly to the local bus, or indirectly to the local bus via intermediate system address buses 304A-C from memory interface units 310A-C. When directly coupled to the memory control unit, the chip is
-C and the address portions of the cache memories 244A-C act as a DUT computer coupled between the address output lines 160A-C and the address portion of the local bus, as determined by the cache policy enforced by the contents at any time. Alternatively, debug switch 136C may be configured to monitor all activity on local data buses 300A-C, local address buses 302A-C or signal lines. In another embodiment of the present invention, through internal event lines 306A-C,
For example, the status of the CPU or the cache controller can be monitored (see FIG. 3). These outputs are obtained directly through the corresponding address output lines 160A-C.

【0033】当業者には明らかとなるように、本明細書
に開示した装置はモード選択可能なデバッグスイッチン
グおよび同期化機能をチップに組み込むことにより、複
雑な集積回路の計算チップの内部ステートを現す。この
デバッグ能力が高められたチップはローカルバスを有す
る必要はない。その代わり、デバッグスイッチは内部信
号ラインおよび/またはモニタの必要なチップ上の部品
にスイッチの入力端を接続するだけでよい。デバッグス
イッチの出力はチップのアドレスラインに接続されてい
る。本発明の一実施例では、同期化回路は共通クロック
のように単純な何かを含むことができる。例えばチップ
によって非同期事象を処理しないような場合には、この
ことは実際的になり得る。チップが非同期事象を取り扱
うような本発明の別の実施例では、図9に示し、説明し
た同期化回路が適当となる。この同期化回路はチップ上
の非同期信号入力端およびピンの数を低減する多重化機
能を備えたデバッグバスに接続される。最後に、デバッ
グスイッチおよび同期化回路の双方は、それ自身がDU
TステートまたはいくつかのMONITORステートの
うちの1つにするよう、チップ上のモードピンにおける
モード信号に応答し得る。上記スイッチを使って多数の
タイプのチップおよびこのチップ上で使用するようにな
っているプログラムコードをデバッグできる。これらチ
ップはデジタル信号プロセッサ、グラフィックスプロセ
ッサ、ビデオプロセッサ、信号プロセッサ、パターンプ
ロセッサ、プログラマブルロジックデバイス、フィール
ドプログラマブルデバイス、マイクロコントローラ....
等を含むが、これらのみに限定されるものではない。M
ONITORモードのいくつかのチップをDUTモード
のチップに結合することにより、MONITORモード
のチップはそのアドレスラインにDUTモードのチップ
の内部処理ステートを出力しながら、DUTモードチッ
プ上で生じる処理を表示することができる。MONIT
ORモードのチップの各々を別のモニタモードに設定す
ることにより、DUTモードチップの2つ以上の内部ス
テートを同時に得ることができる。MONITORモー
ドチップのアドレスラインをロジックアナライザに接続
することにより、内部ステートを詳細に評価できる。
As will be apparent to those skilled in the art, the apparatus disclosed herein exposes the internal state of a complex integrated circuit computing chip by incorporating mode selectable debug switching and synchronization functions on the chip. . This enhanced chip does not need to have a local bus. Instead, the debug switch need only connect the input of the switch to internal signal lines and / or components on the chip that require monitoring. The output of the debug switch is connected to the address line of the chip. In one embodiment of the present invention, the synchronization circuit can include something as simple as a common clock. This can be practical if, for example, the chip does not handle asynchronous events. In another embodiment of the invention where the chip handles asynchronous events, the synchronization circuit shown and described in FIG. 9 is appropriate. The synchronizer is connected to a debug bus with a multiplexing function to reduce the number of asynchronous signal inputs and pins on the chip. Finally, both the debug switch and the synchronization circuit are themselves DUs.
It may respond to a mode signal at a mode pin on the chip to be in the T state or one of several MONITOR states. The switches can be used to debug many types of chips and the program code intended for use on this chip. These chips are digital signal processors, graphics processors, video processors, signal processors, pattern processors, programmable logic devices, field programmable devices, microcontrollers ...
Etc., but is not limited thereto. M
By coupling several chips in the ONITOR mode to chips in the DUT mode, the MONITOR mode chip outputs the internal processing state of the DUT mode chip on its address line while indicating the processing that occurs on the DUT mode chip. be able to. MONT
By setting each of the chips in the OR mode to a different monitor mode, two or more internal states of the DUT mode chip can be obtained simultaneously. The internal state can be evaluated in detail by connecting the address line of the MONITOR mode chip to the logic analyzer.

【0034】次に図4を参照すると、デバッグバス14
0は5つのパス(path)しか含まない。これら5つ
のパスのうちの1つであるBCLKは入出力(I/O)
ユニットに接続されたバスを通してシステムバス146
〜148に接続されたI/Oユニットからの外部非同期
信号、例えばDMAリクエスト信号またはウエイト信号
上の同期化情報を送信するための第2同期化回路230
Cによって使用される。外部非同期信号はI/Oユニッ
ト116により第2同期化回路230Cおよびモニタ1
00へ送られる。I/Oユニット116によって発生さ
れる外部インタラプトリクエストは第1同期化回路23
4Cへ送られる。
Referring now to FIG. 4, debug bus 14
0 includes only 5 paths. BCLK, one of these five paths, is an input / output (I / O)
The system bus 146 through the bus connected to the unit
148, a second synchronization circuit 230 for transmitting an external asynchronous signal from an I / O unit such as a DMA request signal or synchronization information on a wait signal.
Used by C. The external asynchronous signal is supplied to the second synchronization circuit 230C and the monitor 1 by the I / O unit 116.
Sent to 00. The external interrupt request generated by the I / O unit 116 is
Sent to 4C.

【0035】他の4つのパスBS0〜BS3はDUTモ
ードのデバッグチップ110Cからモニタ100へのC
PUおよびDMAステータス情報の送信に使用される。
更に、これらデバッグバスパスBS0〜BS3は、対応
するコードが第1同期化回路234Cから発生される場
合、システムリセット動作中にモニタ100とDUTモ
ードデバッグチップ110Cとの上記同期化に使用され
る。
The other four paths BS0 to BS3 are connected to the CUT from the debug chip 110C in the DUT mode to the monitor 100.
Used for transmitting PU and DMA status information.
Further, these debug bus paths BS0 to BS3 are used for the above-mentioned synchronization between the monitor 100 and the DUT mode debug chip 110C during the system reset operation when the corresponding code is generated from the first synchronization circuit 234C.

【0036】従って、デジタル的に総計16の異なる4
ビットワードまたはコードを利用できる。本実施例で使
用される10本のDMAチャンネルに対応する下位の1
0個のコード、すなわち論理的に0〜9のコードがDM
Aステータスの送信に使用される。この情報はどのDM
Aチャンネルを受け入れるか、更にいつ読み出しが行わ
れるのか、必要な場合にはどれだけ多くのバイトが受信
に残されているのかを伝える。データはブロック状、本
例では4バイトのブロックで受信され、更にモニタ10
0へDMAステータス情報を送信するための時間により
必要である。従って、I/Oユニットから受信するよう
に残されているデータが8バイト以下であり、かつデー
タのI/Oユニット信号の終了部である場合、その情報
をモニタ100へ送信しなければならない。このステー
タス情報はデバッグバス140を通してアービトレータ
250CからDMAコントローラ248Bへ送信される
だけでなく、DMA信号ライン276Cを通してDMA
コントローラ248Cへも送られる。
Therefore, digitally, a total of 16 different 4
Bit words or codes are available. The lower one corresponding to the ten DMA channels used in this embodiment
0 codes, that is, logically 0-9 codes are DM
Used for transmitting A status. This information is
It tells you whether to accept the A channel, when to read, and how many bytes are left to receive if needed. The data is received in the form of a block, in this example, a 4-byte block.
0 is required depending on the time for transmitting the DMA status information. Therefore, if the data remaining to be received from the I / O unit is 8 bytes or less and is the end of an I / O unit signal of data, that information must be transmitted to the monitor 100. This status information is not only transmitted from the arbitrator 250C through the debug bus 140 to the DMA controller 248B, but also through the DMA signal line 276C.
It is also sent to the controller 248C.

【0037】コード10〜15は次のような第1同期化
回路234Cによって発生されるCPUインタラプトス
テータスに対して使用される。 10 外部ベクトル番号を備えたIRQ、NMIなし 11 外部ベクトル番号を備えたIRQおよびNMI 12 IROなし、NMIなし 13 NMI、IRQなし 14 内部ベクトル番号を備えたIRO、NMIなし 15 内部ベクトル番号を備えたIRQおよびNMI
The codes 10 to 15 are used for the CPU interrupt status generated by the first synchronization circuit 234C as follows. 10 IRQ with external vector number, no NMI 11 IRQ and NMI with external vector number 12 No IRO, no NMI 13 NMI, no IRQ 14 IRO with internal vector number, no NMI 15 with internal vector number IRQ and NMI

【0038】IRQとはインタラプトリクエストを意味
し、NMIとはノンマスカブルインタラプトを意味す
る。モニタ100に対してDUTモードのデバッグチッ
プ110C内でのインタラプトの取り扱いをアンバラン
スにさせないように、DMAユニット246Cがデバッ
グバス140を使用しようとしている時に、DMAユニ
ット246Cにより、第1同期化回路234Cへ信号が
送信される。この信号により、第1同期化回路234C
はインタラプトステータスをホールドする。DMAユニ
ット246Cによりデバッグバス140が解放されて初
めて、DUTモードのデバッグチップ110Cおよびモ
ニタ100のそれぞれのCPU238C、238A〜B
へ新しいインタラプトステータス情報が送信される。
[0038] IRQ means an interrupt request, and NMI means non-maskable interrupt. When the DMA unit 246C is trying to use the debug bus 140, the DMA unit 246C uses the first synchronization circuit 234C so that the monitor 100 does not unbalance the handling of the interrupt in the debug chip 110C in the DUT mode. The signal is transmitted to. By this signal, the first synchronization circuit 234C
Holds the interrupt status. Only after the debug bus 140 is released by the DMA unit 246C is the CPU 238C, 238A-B of the debug chip 110C and the monitor 100 in the DUT mode.
The new interrupt status information is sent to.

【0039】オンボードDMAユニット246CはDU
Tのバッファ252C内で同期化され、アービトレータ
250C内で優先順序が決定される。この同期化および
アービトレーションの結果はDMAコントローラ248
Cへ与えられ、更にコーデック132C、デバッグバス
140およびコーデック132A〜Bを介し、DMA制
御ユニット248A〜Bへ送られる。従って、オンボー
ドDMAの動作の制御部分はMONITORモードのチ
ップ110A〜B内でミラー化される。オンボードDM
Aのデータ部分は外部メモリデータバスを通してすべて
のDMAデータを出すことにより処理される。次にこの
データは、MONITORモードのチップに対して利用
できる。
The on-board DMA unit 246C is a DU
Synchronized in T's buffer 252C and prioritized in arbitrator 250C. The result of this synchronization and arbitration is DMA controller 248
C, and further to the DMA control units 248A-B via the codec 132C, the debug bus 140 and the codecs 132A-B. Accordingly, the control portion of the operation of the on-board DMA is mirrored in the MONITOR mode chips 110A-B. On-board DM
The data portion of A is processed by issuing all DMA data through the external memory data bus. This data is then available for MONITOR mode chips.

【0040】チップ上に集積化されたキャッシュシステ
ム240Cにかかわらず、DUTモードのデバッグチッ
プ110Cが作動している間、完全なデータ、アドレス
および非同期の事象情報を備えたロジックアナライザを
設けるように、本デバッグシステム98〜100が構成
されているので、後述するように、メモリ制御ユニット
134Cによりメモリアクセスを改善することが可能で
ある。
Regardless of the cache system 240C integrated on the chip, while the debug chip 110C in DUT mode is operating, to provide a logic analyzer with complete data, address and asynchronous event information, Since the present debugging systems 98 to 100 are configured, it is possible to improve memory access by the memory control unit 134C as described later.

【0041】図5は、図1〜2に示された性能の高めら
れたデバッグチップのメモリ制御ユニットとメインメモ
リとの間のインターフェースの詳細なハードウェアブロ
ック図である。本発明の一実施例では、メインメモリは
一般にいくつかのDRAM、すなわちダイナミックラン
ダムアクセスメモリを含む。各DRAM550A〜Cは
2つの部分のアドレス(ここで下方部分は列アドレス5
54であり、上方部分552は行アドレスである)によ
ってアドレス指定される、マトリックス状に配置された
メモリエリア556を有する。好ましい実施例では、メ
モリ制御ユニット134A〜Cは更に改良されたメモリ
アクセスを実行し、その後のメモリアクセスは頻繁にそ
の後のアドレスに関係するという事実を活用する。従っ
て、メモリ制御ユニット134Cにはメインメモリ11
4の各DRAM回路550A〜Cのための別個の行アド
レスレジスタ500A〜Cおよび比較ユニット502A
〜Cが設けられている。フルメインメモリアドレスをホ
ールドするメモリ制御ユニット134Cのアドレスバッ
ファ504A〜Cは2つの部分に分割されており、各部
分はそれぞれ別個にメインメモリへボード可能となって
いる。その後のメインメモリアクセスに対し、その後の
メインメモリアドレスの行アドレスは先のアクセスに対
するのと同じであるが、列アドレス部分504Bをロー
ドするだけでよい。このことは、その都度、全アドレス
をロードすること、すなわち最初に行アドレスをロード
し、次に列アドレスをロードすることと比較して時間の
節約となる。行アドレスが先のアドレスと同じであるか
どうかを判断するために、比較ユニットは行アドレス部
分504Aと現在作動中のDRAMの行アドレスレジス
タの内容とを比較する。一致していれば、列アドレス部
分504Bを入力するだけであり、一致していなければ
行アドレスと列アドレスの双方を入力し、同時にレジス
タを更新する。これら2つのバッファ部分504A〜B
はメモリ制御ユニット134A〜Cのデバッグスイッチ
136A〜Cによってシステムバス146〜148に多
重化されている。
FIG. 5 is a detailed hardware block diagram of the interface between the memory control unit and the main memory of the enhanced debug chip shown in FIGS. In one embodiment of the present invention, the main memory generally includes several DRAMs, a dynamic random access memory. Each DRAM 550A-C has two parts of addresses (where the lower part is the column address 5).
54, the upper portion 552 being a row address) and having a memory area 556 arranged in a matrix. In the preferred embodiment, memory control units 134A-C perform further improved memory accesses, taking advantage of the fact that subsequent memory accesses are frequently related to subsequent addresses. Therefore, the memory control unit 134C has the main memory 11
4 separate row address registers 500A-C and a comparison unit 502A for each of the four DRAM circuits 550A-C.
To C are provided. The address buffers 504A to 504C of the memory control unit 134C for holding the full main memory address are divided into two parts, and each part can be separately boarded to the main memory. For a subsequent main memory access, the row address of the subsequent main memory address is the same as for the previous access, but only the column address portion 504B need be loaded. This saves time as compared to loading the entire address each time, ie loading the row address first and then the column address. To determine if the row address is the same as the previous address, the compare unit compares the row address portion 504A with the contents of the row address register of the currently active DRAM. If they match, only the column address portion 504B is input. If they do not match, both the row address and the column address are input, and the register is updated at the same time. These two buffer portions 504A-B
Are multiplexed on the system buses 146 to 148 by the debug switches 136A to 136C of the memory control units 134A to 134C.

【0042】図6は、図1〜2に示された、能力の高め
られたデバッグチップと低速周辺デバイスとの間のイン
ターフェースを示すブロック略図である。特に、低速周
辺ユニット710、主に古いユニットに対しては、外部
再実行ユニット700を利用できる。データ伝送時間が
長くなりすぎる場合、過度に長い時間、システムバス1
46〜148が占有され、これにより別のユニットが時
間にクリティカルなアクセスに従属するという問題が生
じ得る。以下、再実行ユニットと称す再実行ユニット7
00は、かかる低速周辺ユニットにおける読み出しおよ
び書き込み操作時にCPU238Cを補助する。例えば
周辺ユニット710からデータを読み出すと仮定する。
FIG. 6 is a block diagram illustrating the interface between the enhanced debug chip and the low speed peripheral devices shown in FIGS. In particular, the external re-execution unit 700 can be used for the low-speed peripheral unit 710, mainly for older units. If the data transmission time is too long, the system bus 1
46 to 148 are occupied, which can cause a problem in that another unit is subject to time critical access. Hereinafter, a re-execution unit 7 referred to as a re-execution unit
00 assists the CPU 238C during read and write operations in such low speed peripheral units. For example, assume that data is read from the peripheral unit 710.

【0043】CPUのアクセスの開始より、この再実行
ユニット700はアドレスバッファ116Bにおいてア
ドレス情報をバッファ化し、タイムアウトを設定し、C
UP238Cへ再実行リクエストを伝える再実行ルーチ
ンを開始する。これによりCUP238Cはバスをリリ
ースさせ、デバッグチップ110C、例えばDMAユニ
ット246C内の他のバスマスターがアクセスできるよ
うにする他のタスクを続ける。一方、再実行ユニット7
00は周辺ユニットと通信する。その後、CPU238
Cが読み出し操作を再び実行する際にタイムアウトが経
過しているか、経過していないかのいずれかになる。タ
イムアウトが経過していれば、CPU238Cは読み出
し操作を続け、経過していなければ、再実行ユニット7
00はCPU238Cへ別の再実行リクエストを送る。
周辺ユニット710へデータを書き込まなければならな
い時、対応するアドレスおよびデータバッファ116B
〜A内のアドレスおよびデータをバッファ化することを
含む対応する工程を実行する。システムバス146〜1
48が他のタスクに対しリリースされる間、再実行ユニ
ット700によりデータの書き込みが続けられる。DU
Tモードのデバッグチップ110Cから再実行ユニット
700へCPUから送られる信号はチップセレクト信
号、読み出し信号および書き込み信号である。
From the start of CPU access, the re-execution unit 700 buffers address information in the address buffer 116B, sets a timeout,
A re-execution routine for transmitting a re-execution request to the UP 238C is started. This causes CUP 238C to release the bus and continue with other tasks that allow other bus masters in debug chip 110C, eg, DMA unit 246C, to access. On the other hand, the re-execution unit 7
00 communicates with peripheral units. After that, the CPU 238
Either the timeout has elapsed or the timeout has not elapsed when C performs the read operation again. If the time-out has elapsed, the CPU 238C continues the read operation.
00 sends another re-execution request to the CPU 238C.
When data must be written to the peripheral unit 710, the corresponding address and data buffer 116B
Perform the corresponding steps including buffering the addresses and data in ~ A. System bus 146-1
While the 48 is released to another task, data writing is continued by the re-execution unit 700. DU
The signals sent from the CPU from the T-mode debug chip 110C to the re-execution unit 700 are a chip select signal, a read signal, and a write signal.

【0044】モニタ100へプログラムの実行がミラー
化することにより、インタラプトの処理は適当な同期化
およびタイミングを得るために処理しなければならない
問題である。この問題は特にいくつかのインタラプトを
同時に処理しなければならない時に生じる。
With the mirroring of program execution on the monitor 100, interrupt handling is a problem that must be handled to obtain proper synchronization and timing. This problem occurs especially when several interrupts have to be processed simultaneously.

【0045】従って、次に図7を参照すると、本発明の
別の実施例によればダイナミック優先処理方法が使用さ
れる。図7は、インタラプトユニット236A〜Cの各
々に対応する代表的なユニットを示す(図2参照)。例
えばチップ110CはDUTモードとなっているデバイ
スに限りインタラプトユニットアクティブである。図示
された実施例では、このインタラプトユニットは信号ラ
イン166Cを介し、I/Oユニット116からの非同
期入力信号を受け入れる(図2参照)。これらインタラ
プト信号は、インタラプトマスキング前、またはインタ
ラプトマスキングおよびDUTチップによる信号ライン
274Cを介し、外部メモリデータバスへの処理の後に
得ることができるので、DUTモードのCPU238C
がインタラプト信号を読み出す時に、モニタモードのチ
ップCPU238A〜Bに利用できるようになる。イン
タラプトユニット236Cの優先化された出力850C
は第1同期化ユニット234Cを通過し、この第1同期
化ユニットから出力がコーデック132Cへの入力信号
として与えられる(図2参照)。チップ110A〜Cの
各々は同一のインタラプトユニット236A〜Cを含む
が、DUTモードのチップ110Cだけがインタラプト
ユニットアクティブとなっている。
Thus, referring now to FIG. 7, according to another embodiment of the present invention, a dynamic priority processing method is used. FIG. 7 shows a representative unit corresponding to each of the interrupt units 236A-C (see FIG. 2). For example, the chip 110C is active in the interrupt unit only for devices in the DUT mode. In the illustrated embodiment, this interrupt unit accepts an asynchronous input signal from I / O unit 116 via signal line 166C (see FIG. 2). These interrupt signals can be obtained before the interrupt masking or after the interrupt masking and processing to the external memory data bus via the signal line 274C by the DUT chip, so that the CPU 238C in the DUT mode is used.
Is available to the chip CPUs 238A-B in the monitor mode when reading the interrupt signal. Prioritized output 850C of interrupt unit 236C
Pass through a first synchronization unit 234C, the output of which is provided as an input signal to codec 132C (see FIG. 2). Each of the chips 110A-C includes the same interrupt unit 236A-C, but only the DUT mode chip 110C is active.

【0046】インタラプトライン166Cを通していく
つかの個々のインタラプトリクエスト信号が受信され
る。これらラインは第1マスクレジスタ802およびA
NDゲートの第1アレイにより、略図で示された個々の
インタラプトマスクに接続されている。従って、個々の
インタラプト信号の各々は前記第1アレイのそれぞれの
ANDゲート802A〜Mの入力端へ送られ、マスクレ
ジスタ802はANDゲート802A〜Mの各々の他の
入力端に接続されている。それぞれのORゲート804
A〜Nの入力端にはいくつかのインタラプト信号ライン
166Cおよび対応するANDゲートの出力端が接続さ
れている。よって、これらインタラプト信号は信号ライ
ン166Cに対する1つの信号にまとめられる。ORゲ
ート804A〜Nの出力信号は、個々のマスクおよび付
随するANDゲート802A〜Mと同様に配置された、
第2マスクレジスタ806およびANDゲート806A
〜Nの第2アレイによって示されるグループマスクによ
りマスク可能である。
Several individual interrupt request signals are received via interrupt line 166C. These lines are the first mask registers 802 and A
A first array of ND gates connects to the individual interrupt masks shown schematically. Accordingly, each of the individual interrupt signals is sent to the input of a respective AND gate 802A-M of the first array, and the mask register 802 is connected to the other input of each of the AND gates 802A-M. Each OR gate 804
The inputs of A to N are connected to several interrupt signal lines 166C and the outputs of the corresponding AND gates. Thus, these interrupt signals are combined into one signal for signal line 166C. The output signals of the OR gates 804A-N are arranged similarly to the individual masks and associated AND gates 802A-M.
Second mask register 806 and AND gate 806A
.. N can be masked by the group mask indicated by the second array.

【0047】ANDゲート806A〜Nの第2アレイの
出力端はORゲート808のn個の入力端に接続されて
おり、ORゲート808の出力端は同期化回路234C
を介し、DUTモードのデバッグチップ110CのCP
U238Cおよびコーデック132Cに接続されてお
り、このコーデックでステータスがコード化され、モニ
タ100へ送られる。
The output terminals of the second array of AND gates 806A-N are connected to n input terminals of OR gate 808, and the output terminal of OR gate 808 is connected to synchronization circuit 234C.
Through the CP of the debug chip 110C in the DUT mode
It is connected to a U238C and a codec 132C, where the status is coded and sent to the monitor 100.

【0048】受信されたインタラプト信号を検出し、分
離し、これらの信号の間の優先付けを可能にするため
に、所望する異なるレベルでの読み出しを認める。少な
くともANDゲート804A〜Nの第2アレイの出力信
号を優先ロジックで読み出し、ベクトル番号にコード化
することが好ましい。このベクトル番号はインタラプト
信号の異なる組み合わせに対して異なる。システムバス
146〜148上でベクトル番号は出力される。よって
このベクトル番号はDUTモードのデバッグチップ11
0Cおよびモニタ100の双方に対して利用可能であ
る。従って、このベクトル番号はDUTモードのデバッ
グチップ110Cによって発生されるが、DUTモード
のデバッグチップ110Cとモニタ100の双方によっ
て同じように使用される。これらインタラプト信号は第
1同期化回路234Cを通して伝送される。このベクト
ル番号はインタラプトベクトルをホールドするルックア
ップテーブルのインデックス番号としてCPUによって
使用される。たいていは1つのデバイスインタラプト信
号、すなわち、わずか1つのユニット260C、264
Cからのデバイスインタラプトしかなく、どのインタラ
プトベクトルをフェッチすべきかが明らかである。2つ
以上の同時インタラプト信号がある場合、ベクトル番号
はインタラプト信号の優先順序を決定する優先ルーチン
に対応する。こうしてその順序で異なるインタラプト信
号を処理する。
To detect and isolate received interrupt signals and allow prioritization between these signals, allow readout at different desired levels. Preferably, at least the output signals of the second array of AND gates 804A-N are read out by priority logic and encoded into vector numbers. This vector number is different for different combinations of interrupt signals. The vector numbers are output on the system buses 146 to 148. Therefore, this vector number is used for the debug chip 11 in the DUT mode.
Available for both OC and monitor 100. Therefore, this vector number is generated by the debug chip 110C in the DUT mode, but is similarly used by both the debug chip 110C in the DUT mode and the monitor 100. These interrupt signals are transmitted through the first synchronization circuit 234C. This vector number is used by the CPU as the index number of the lookup table that holds the interrupt vector. Mostly one device interrupt signal, ie only one unit 260C, 264
There is only a device interrupt from C and it is clear which interrupt vector to fetch. If there is more than one simultaneous interrupt signal, the vector numbers correspond to a priority routine that determines the priority of the interrupt signals. Thus, different interrupt signals are processed in that order.

【0049】従って、1つのインタラプト信号しか存在
しないほとんどのケースでは、高速のインタラプト処理
がなされ、2つ以上のユニットからの複数のインタラプ
ト信号がある場合に限り、より時間のかかる優先順序決
定方法に基づく処理がなされる。処理すべきユニットか
らどんなインタラプト信号が存在するかを正確に決定す
るために、当然、個々のマスク802A〜Nの入力端ま
たは出力端のいずれかの上に信号ラインを検出する可能
性がある。更に、インタラプトリクエストがCPUに達
すると、この信号が内部で発生されるだけでなく、I/
Oデバイスから外部より発生されることがあり、更にマ
スクできないインタラプト信号が生じることもある。
Therefore, in most cases where there is only one interrupt signal, a fast interrupt process is performed, and a time-consuming priority determination method is required only when there are a plurality of interrupt signals from two or more units. Based processing is performed. In order to determine exactly what interrupt signals are present from the unit to be processed, it is of course possible to detect signal lines on either the input or the output of the individual masks 802A-N. In addition, when an interrupt request reaches the CPU, this signal is not only generated internally, but also
O-devices can be generated externally, and interrupt signals that cannot be masked can also occur.

【0050】図8は、図1に示されたMONITORモ
ードチップ110BおよびDUTモードのデバッグチッ
プ110Cの第1および第2同期化ユニットの詳細を示
すハードウェアブロック図である。これらユニットはD
UTモードのデバッグチップおよびMONITORモー
ドのデバッグチップの間における内外非同期事象の同期
化を一般に取り扱う。上記のように各チップはモード入
力ピン150B〜C上の入力信号によって測定されるチ
ップのモードに応じた態様に構成された同一のハードウ
ェアを含む。
FIG. 8 is a hardware block diagram showing details of the first and second synchronization units of the MONITOR mode chip 110B and the DUT mode debug chip 110C shown in FIG. These units are D
Synchronization of internal and external asynchronous events between a debug chip in UT mode and a debug chip in MONITOR mode is generally addressed. As described above, each chip includes the same hardware configured in a manner that depends on the mode of the chip as measured by the input signals on mode input pins 150B-C.

【0051】2つのデバッグチップ110B〜Cの部分
ブロック図が示されており、双方のチップの第1および
第2同期化ユニットが示されている。第1デバッグチッ
プの同期化ユニットはチップのモード入力ピン150B
上のモード信号によって設定されるチップ110Bのス
テートに対応するMONITORモードとなっており、
第2デバッグチップの同期化ユニットはチップのモード
入力ピン150C上のモード信号によって設定されるチ
ップ110Cのステートに対応するDUTモードとなっ
ている。
A partial block diagram of two debug chips 110B-C is shown, showing first and second synchronization units of both chips. The synchronization unit of the first debug chip is the mode input pin 150B of the chip.
A MONITOR mode corresponding to the state of the chip 110B set by the above mode signal,
The synchronization unit of the second debug chip is in the DUT mode corresponding to the state of chip 110C set by the mode signal on mode input pin 150C of the chip.

【0052】構造的には双方のチップにおける同期化器
は同一の部品を含むが、上記のようにこれら部品の間の
結合はチップに対するモード設定に応じて変わり得る。
このような理由から、DUTモードおよびMONITO
Rモードの双方における同期化器の各々について説明す
る。添え字Bのついた部品はMONITORモードとな
っているチップ110B内に存在し、添え字Cのついた
部品はDUTモード内のチップ110C内にある。
Structurally, the synchronizers on both chips include the same components, but as noted above, the coupling between these components can vary depending on the mode settings for the chips.
For this reason, DUT mode and MONITO
Each of the synchronizers in both R modes will be described. The component with the suffix B is in the chip 110B in the MONITOR mode, and the component with the suffix C is in the chip 110C in the DUT mode.

【0053】第2同期化回路230B〜Cの各々は、ラ
ッチ960B〜Cと変化検出ユニット958B〜Cと、
同期化器950B〜Cとを含む。第1同期化ユニット2
34B〜Cの各々はラッチ902B〜Cと同期化器90
0B〜Cと、インタラプトユニット236B〜Cとを含
む。図には関連するコーデック132B〜C、クロック
232B〜Cおよび対応する接続が示されている。
Each of the second synchronization circuits 230B-C includes a latch 960B-C, a change detection unit 958B-C,
And synchronizers 950B-C. First synchronization unit 2
Each of the latches 902B-C and the synchronizer 90
0B-C and interrupt units 236B-C. The figure shows the associated codecs 132B-C, clocks 232B-C and corresponding connections.

【0054】第2同期化ユニット 第2同期化ユニットはモード入力ピン150上のモード
選択信号に応答自在な2つのコンフィギュレーションの
1つを採用している。DUTモードに関連する第1コン
フィギュレーションでは、第2同期化ユニット230C
はモニタモードチップとDUTモードチップ110B〜
Cの双方をリンクする非同期信号バス上の非同期信号を
検出する。第2同期化ユニットは信号とDUTクロック
232とを同期化し、この信号をラッチする。次にこの
第2同期化ユニットは非同期信号の受信後に変化なし時
間があるかどうかを判断し、変化なし時間が生じた後に
シスターチップ100Bにイネーブル信号を出力し、こ
のチップを処理のためのチップの内部部品にリリースす
る信号をアンラッチする。DUTモードに対応する第2
コンフィギュレーションでは、第2同期化ユニット23
0Bは非同期信号バス上の非同期信号を検出し、この信
号とMONITORクロック232Bとを同期化し、こ
の信号をラッチする。次に第2同期化ユニットは、シス
ターチップ110Cからのイネーブリング信号の受信時
に、処理するためのチップの内部部品に対し、チップを
リリースする信号をアンラッチする。当業者には明らか
となるように、固定遅延時間、DUTモードおよびMO
NITORモードにおける可変遅延時間、同期化情報だ
けでなく、DUTモードチップにより発生され、MON
ITORモードチップへ送られるラッチイネーブリング
信号の受信に応答する遅延時間を含むラッチを同期化す
るための方法および装置が多数ある。
Second Synchronization Unit The second synchronization unit employs one of two configurations responsive to a mode select signal on mode input pin 150. In a first configuration related to the DUT mode, the second synchronization unit 230C
Are the monitor mode chip and the DUT mode chip 110B ~
C detects an asynchronous signal on the asynchronous signal bus linking both of them. The second synchronization unit synchronizes the signal with the DUT clock 232 and latches this signal. Next, the second synchronization unit determines whether there is a no-change time after receiving the asynchronous signal, and outputs an enable signal to the sister chip 100B after the no-change time has occurred. Unlatch the signal to be released to the internal components of. 2nd corresponding to DUT mode
In the configuration, the second synchronization unit 23
OB detects an asynchronous signal on the asynchronous signal bus, synchronizes this signal with the MONITOR clock 232B, and latches this signal. Next, the second synchronization unit, upon receiving the enabling signal from the sister chip 110C, unlatches the chip release signal to the internal components of the chip for processing. As will be apparent to those skilled in the art, the fixed delay, DUT mode and MO
Variable delay time in NITOR mode, synchronization information as well as MON generated by DUT mode chip
There are a number of methods and apparatus for synchronizing latches that include a delay in response to receiving a latch enabling signal sent to an ITOR mode chip.

【0055】第2同期化ユニット230B〜Cのコンフ
ィギュレーションは次のとおりである。双方の同期化ユ
ニットは各ユニットの同期化器950B〜Cに結合した
信号ライン164B〜C(図1参照)を介した非同期バ
ス164からの入力端を有する。このバスでは、内部非
同期事象、例えば外部DMAアクセスおよびウエイトス
テートが受信される。双方の同期化ユニットでは、同期
化器950B〜Cの出力は信号ライン974B〜Cを通
し、変化検出ユニット958B〜Cおよびラッチユニッ
ト960B〜Cの入力端のそれぞれの1つに接続されて
いる。DUTモードのデバッグチップでは、変化検出ユ
ニット958Cの出力端はラッチ960Cのイネーブル
入力端およびデバッグバス140のBCLKラインに結
合されている。MONITORモードのデバッグチップ
110Bでは、変化検出ユニット958Bは不作動であ
り、ラッチ960Bはその代わりにBCLKラインを介
し、そのイネーブル入力信号を受信する。
The configuration of the second synchronization units 230B to 230C is as follows. Both synchronization units have inputs from an asynchronous bus 164 via signal lines 164B-C (see FIG. 1) coupled to synchronizers 950B-C of each unit. On this bus, internal asynchronous events such as external DMA accesses and wait states are received. In both synchronization units, the outputs of the synchronizers 950B-C are connected via signal lines 974B-C to respective ones of the inputs of the change detection units 958B-C and the latch units 960B-C. In a debug chip in DUT mode, the output of change detection unit 958C is coupled to the enable input of latch 960C and to the BCLK line of debug bus 140. For the debug chip 110B in MONITOR mode, the change detection unit 958B is inactive and the latch 960B instead receives its enable input signal via the BCLK line.

【0056】作動時に第2同期化ユニット230B〜C
のアクティビティはDUTモードの変化検出ユニット9
58Cによってコーディネートされる。双方のユニット
230B〜Cはそれぞれの信号ライン164B〜Cを通
し、非同期バス164上の非同期DMA信号またはウエ
イトステート信号を受信する。この信号は対応する同期
化器950B〜Cにより、各チップのクロック232B
〜Cに同期化される。本発明の実施例は、こられ同期化
器は1つ以上のフリップフロップから構成される。DU
Tモードのデバッグチップ110Cの変化検出ユニット
958Cが、非アクティビティが続く変化時間を検出す
ると、このユニットは双方のチップの第2同期化ユニッ
トのラッチ960B〜Cのイネーブル入力端にイネーブ
ル信号を出力する。ラッチ960Bに対する信号はデバ
ッグバス140のBCLKラインを通して到達する。従
って、変化ユニット958Cによって発生される共通信
号により、ラッチユニット960C〜Bをトリガーする
ことにより同期化が達成される。それぞれのラッチ96
0B〜Cの出力信号284B〜Cは、CPU238B〜
Cおよびそれぞれのチップ110B〜Cのメモリ制御ユ
ニット134B〜Cへ与えられる。パワーオンおよびウ
エイトステート中のチップの同期化は、非同期バス16
4への接続を介し、DUTモードのチップおよびMON
ITORモードのチップの双方の第2同期化ユニットに
より処理され、非同期バス164を通し、バスパワーオ
ンリセットおよびウエイトステートがこれらチップへ導
入される。これまで説明した同期化装置は第1チップの
クロック232Bと第2チップのクロック232Cとを
同期化するものではなく、これらクロックは実際には互
いにずらすことができることに留意されたい。その代わ
りに、同じクロックサイクルをずらすことができても、
同期化器は外部非同期信号の実行を遅延し、すべてのチ
ップにおける同じクロックサイクルにおけるそれらの処
理を可能にする。
In operation, the second synchronization units 230B-C
Of the DUT mode change detection unit 9
Coordinated by 58C. Both units 230B-C receive asynchronous DMA or wait state signals on asynchronous bus 164 over respective signal lines 164B-C. This signal is output to the clock 232B of each chip by the corresponding synchronizers 950B-C.
~ C. In an embodiment of the present invention, the synchronizer comprises one or more flip-flops. DU
When the change detection unit 958C of the T-mode debug chip 110C detects a change time during which inactivity continues, it outputs an enable signal to the enable inputs of the latches 960B-C of the second synchronization unit of both chips. . The signal for latch 960B arrives via the BCLK line on debug bus 140. Thus, synchronization is achieved by triggering latch units 960C-B with a common signal generated by change unit 958C. Each latch 96
Output signals 284B-C of 0B-C are output from CPUs 238B-C.
C and the memory control units 134B-C of the respective chips 110B-C. Synchronization of the chip during power-on and wait states is performed by the asynchronous bus 16.
DUT mode chip and MON via connection to 4
Bus power-on resets and wait states are introduced to these chips via asynchronous bus 164, processed by both second synchronization units of the ITOR mode chips. It should be noted that the synchronizers described so far do not synchronize the first chip clock 232B and the second chip clock 232C, and these clocks can in fact be offset from each other. Instead, even if you can stagger the same clock cycle,
The synchronizer delays the execution of external asynchronous signals and allows their processing on the same clock cycle on all chips.

【0057】第1同期化ユニット 第1同期化ユニットはモード入力ピン150上のモード
選択信号に応答自在な2つのコンフィギュレーションの
1つを採用している。DUTモードに関連する第1コン
フィギュレーションでは、第1同期化ユニット234C
は1つ以上の非同期信号を検出し、これら信号をDUT
クロック234Cと同期化し、インタラプトレジスタ内
でこれらの優先順序を決定し、これらをラッチし、コー
デック132Cを介し、そのシスターチップ110Bの
コーデックへ非同期信号に関する同期化情報を送り、適
当な遅延時間後、処理のためのチップの内部部品へラッ
チされた信号をリリースする。MONITORモードに
対応する第2コンフィギュレーションでは、第1同期化
ユニットはコーデック132Bからの同期化情報を受信
し、その情報をラッチし、適当な遅延時間後、第1ラッ
チと同時にラッチされた信号を処理のためのチップの内
部部品にリリースする。当業者には明らかとなるよう
に、固定遅延時間、DUTモードおよびMONITOR
モードにおける可変遅延時間、同期化情報だけでなく、
DUTモードチップにより発生され、MONITORモ
ードチップへ送られるラッチイネーブル信号の受信に応
答する遅延時間を含むラッチを同期化するための方法お
よび装置が多数ある。
First Synchronization Unit The first synchronization unit employs one of two configurations responsive to a mode select signal on mode input pin 150. In a first configuration related to the DUT mode, the first synchronization unit 234C
Detects one or more asynchronous signals and converts these signals to the DUT
Synchronize with the clock 234C, determine their priority in the interrupt register, latch them, and send the synchronization information regarding the asynchronous signal to the codec of the sister chip 110B via the codec 132C, and after an appropriate delay time, Release the latched signal to the internal components of the chip for processing. In a second configuration corresponding to the MONITOR mode, the first synchronization unit receives synchronization information from the codec 132B, latches the information, and after an appropriate delay time, outputs the signal latched simultaneously with the first latch. Release to internal parts of chip for processing. As will be apparent to those skilled in the art, fixed delay, DUT mode and MONITOR
Not only variable delay time in mode, synchronization information,
There are a number of methods and apparatus for synchronizing latches that include a delay in response to receiving a latch enable signal generated by a DUT mode chip and sent to a MONITOR mode chip.

【0058】第1同期化ユニット234B〜Cのコンフ
ィギュレーションは次のとおりである。同期化ユニット
234Cは、インタラプトユニット236Cに結合して
いる信号ライン166C(図1参照)を介し、I/Oユ
ニット116の外部インタラプトライン166からの入
力信号を受け入れる。これらインタラプト信号はインタ
ラプトユニット236C内で優先順序が決定され、同期
化ユニット900C内で同期化される。次に、DUTモ
ードのコーデック132Cを介し、同期化情報はバス1
40を通ってモニタモードのチップ110A〜Bへ送ら
れる。同期化器の出力端は、信号ライン942B〜Cを
通し、ラッチ902B〜Cに結合され、信号ライン92
6B〜Cを介し、コーデック132B〜Cへ結合されて
いる。
The configuration of the first synchronization units 234B-C is as follows. The synchronization unit 234C accepts input signals from an external interrupt line 166 of the I / O unit 116 via a signal line 166C (see FIG. 1) coupled to the interrupt unit 236C. These interrupt signals are prioritized in interrupt unit 236C and synchronized in synchronization unit 900C. Next, the synchronization information is transmitted to the bus 1 via the codec 132C in the DUT mode.
It is sent through 40 to the monitor mode chips 110A-B. The output of the synchronizer is coupled to latches 902B-C through signal lines 942B-C and to signal line 92B-C.
6B-C, are coupled to codecs 132B-C.

【0059】DUTモードのデバッグチップ110Cで
は、ラッチ902Cへの入力信号はインタラプトユニッ
ト236Cから同期化器900Cによって与えられる。
これと対照的にMONITORモードのデバッグチップ
110Bでは、同期化器900Bおよびインタラプトユ
ニット236Bはディスエーブルされる。ラッチ902
Bは信号ライン928Bを介し、コーデック132Bか
らの入力信号を受信する。この信号自身はデバッグバス
140を介し、コーデック110Cからコーデック11
0Bへ送られたコード化されたインタラプト情報から生
じたものである。コーデック110Cは信号ライン92
6Cを介し、第2同期化ユニット234Cからその情報
を発生する。本発明の実施例では、DMAユニット24
6Cは信号ライン278Cを介し、デバッグバス140
上のDMA情報に対するタイムスロットをリザーブでき
る。同期化ユニット900Cがライン278C上のリザ
ーブ情報を受信すると、このユニットはDMAユニット
246Cがそのリザーブ信号をリリースするまで、ライ
ン942C上に現在のインタラプトステータスをホール
ドする。MONITORモードチップでは、コーデック
132Bがデバッグバス142上にDMAに関連したコ
ード化された事象を受信する限り、その現在のインタラ
プトステータス出力信号928Bをホールドする。従っ
て、インタラプト信号282Bおよび282C上の変化
は同じクロックサイクルに同期化される。ラッチ902
B〜Cは信号ライン282B〜C上の同期化されたイン
タラプト信号をMONITORモードのデバッグチップ
110BおよびDUTモードのデバッグチップ110C
のCPU238B〜Cのうちの対応する1つに出力す
る。従って、これら出力信号は内容およびタイミングの
点で同一であるので、双方のチップにおけるインタラプ
ト信号の同期的な処理が可能である。
In the debug chip 110C in the DUT mode, the input signal to the latch 902C is provided by the synchronizer 900C from the interrupt unit 236C.
In contrast, in the MONITOR mode debug chip 110B, the synchronizer 900B and interrupt unit 236B are disabled. Latch 902
B receives the input signal from codec 132B via signal line 928B. This signal itself is transmitted from the codec 110C to the codec 11C via the debug bus 140.
This results from the coded interrupt information sent to OB. The codec 110C has a signal line 92
The information is generated from the second synchronization unit 234C via 6C. In the embodiment of the present invention, the DMA unit 24
6C is connected to the debug bus 140 via a signal line 278C.
A time slot for the above DMA information can be reserved. When synchronization unit 900C receives the reserve information on line 278C, it holds the current interrupt status on line 942C until DMA unit 246C releases its reserve signal. The MONITOR mode chip holds its current interrupt status output signal 928B for as long as the codec 132B receives a coded event associated with the DMA on the debug bus 142. Therefore, changes on interrupt signals 282B and 282C are synchronized to the same clock cycle. Latch 902
BC denote the synchronized interrupt signals on signal lines 282B-C as debug chips 110B in MONITOR mode and debug chips 110C in DUT mode.
To the corresponding one of the CPUs 238B to 238C. Therefore, since these output signals are the same in content and timing, synchronous processing of the interrupt signal in both chips is possible.

【0060】従って、第1同期化ユニット234B〜C
と、第2同期化ユニット230B〜Cは同様な機能的特
徴を共用する。DUTモードでは同期化ユニットのいず
れかが非同期事象を検出し、これをDUTクロックと同
期化させる。各チップのCPU238、DMAユニット
136およびメモリ制御ユニット134へのこの同期化
された非同期事象の提供は、DUTモードチップによっ
て制御される。DUTモードチップの変化検出ユニット
958Cは第2同期化器のラッチ960B〜Cをいつイ
ネーブルするかを制御する。
Accordingly, the first synchronization units 234B-C
And the second synchronization units 230B-C share similar functional features. In DUT mode, any of the synchronization units detects an asynchronous event and synchronizes it with the DUT clock. The provision of this synchronized asynchronous event to the CPU 238, DMA unit 136 and memory control unit 134 of each chip is controlled by the DUT mode chip. The change detection unit 958C of the DUT mode chip controls when to enable the second synchronizer latches 960B-C.

【0061】MONITORモードおよびDUTモード
のチップ110B〜Cのそれぞれの第1同期化ユニット
234B〜Cは、第2同期化ユニット230B〜Cに類
似した作動上の機能、例えば同期化およびラッチ機能を
共用する。当業者には明らかとなるように、これら同期
化およびラッチ機能は、記憶および転送回路および簡単
なホールド回路を含む種々の電気的回路を使って実現で
きるが、これら電気的回路はこれら回路のみに限定され
るものではない。
The first synchronization units 234B-C of each of the MONITOR mode and DUT mode chips 110B-C share operational functions similar to the second synchronization units 230B-C, for example, synchronization and latch functions. I do. As will be apparent to those skilled in the art, these synchronization and latch functions can be implemented using a variety of electrical circuits, including storage and transfer circuits and simple hold circuits, but these electrical circuits can be implemented only in these circuits. It is not limited.

【0062】DUTモードデバイスにおける第1および
第2同期化ユニットはパラレルに独立して作動する。デ
バッグバス140上のDMA情報に対するタイムスロッ
トのリザーブは第1同期化ユニット内全体で処理され
る。
The first and second synchronization units in a DUT mode device operate independently in parallel. The time slot reservation for DMA information on debug bus 140 is handled entirely within the first synchronization unit.

【0063】コード化された事象バス コード化された事象デバッグバス140上ですべての信
号が符号化され、多重化される。コーディングおよび多
重化はDUTモードとなっているコーデック132Cに
よって実行され、デコーディングおよび逆多重化はモニ
タモードとなっているコーデック132A〜Bによって
実行される。このデバッグシステムは次のように作動す
る。電源がオンにされると、附勢されるRESET信号
によりDUTモードのデバッグチップ110cだけでな
くMONITORモードチップ110A〜Bがリセット
される。本発明の一実施例ではRESET信号が附勢さ
れると、MONITORモードチップ110A〜Bはデ
バッグバス140にイネーブル信号に発生し、DUTモ
ードデバッグチップ110Cにそのコーデックのデバッ
グバス140Cをイネーブルにすることを伝える。一
方、DUTモードのデバッグチップ110Cの第2同期
化ユニット230Cはリセット信号RESETを同期化
させる。この後者の機能は上記とは異なり、図示してい
ない専用同期化ユニットによって行ってもよい。次に、
RESETが除勢されると、モニタ100はイネーブル
信号をオフにする。その後、DUTモードのデバッグチ
ップ110Cは同期化されたリセット信号をモニタ10
0へ送り、モニタ100は次にその内部クロックとDU
Tモードのデバッグチップ110Cのクロックとを同期
化させる。本発明の一実施例では、内部クロックでは明
示していないクロック逓倍手段により20MHzの基本
周波数を200MHzまで逓倍することによって内部ク
ロックを発生できる。この逓倍手段はPLL回路を含む
ことができる。
Encoded Event Bus All signals are encoded and multiplexed on the encoded event debug bus 140. Coding and multiplexing are performed by codec 132C in DUT mode, and decoding and demultiplexing are performed by codecs 132A-B in monitor mode. This debug system works as follows. When the power is turned on, not only the debug chip 110c in the DUT mode but also the MONITOR mode chips 110A and 110B are reset by the activated RESET signal. In one embodiment of the present invention, when the RESET signal is activated, the MONITOR mode chips 110A-B generate an enable signal on the debug bus 140, causing the DUT mode debug chip 110C to enable the debug bus 140C for that codec. Tell On the other hand, the second synchronization unit 230C of the debug chip 110C in the DUT mode synchronizes the reset signal RESET. This latter function is different from the above and may be performed by a dedicated synchronization unit not shown. next,
When RESET is de-energized, monitor 100 turns off the enable signal. Thereafter, the debug chip 110C in the DUT mode monitors the synchronized reset signal by the monitor 10C.
0, the monitor 100 then sends its internal clock and DU
The clock of the debug chip 110C in the T mode is synchronized. In one embodiment of the present invention, the internal clock can be generated by multiplying the basic frequency of 20 MHz to 200 MHz by a clock multiplying means not explicitly shown in the internal clock. This multiplying means can include a PLL circuit.

【0064】ロジックアナライザ MONITORモードチップ110A〜Bからロジック
アナライザ102により抽出される情報、例えばローカ
ルバスデータ、ローカルバスアドレスだけでなく、非同
期事象、DMAアクセスおよびインタラプトは、例えば
コンピュータ104に容易に読み取りできるようにディ
スプレイすべきである(図1参照)。本発明の一実施例
では、このロジックアナライザはネットワークを通して
アナライザを遠隔モニタできるようにするネットワーク
接続を含むことができる。更に、情報を提供するための
ウェブサーバーまたはネットワーク106上に表示する
ためのウェブブラウザとしてワークステーションを使用
することもできる。更に、このような構造により、ネッ
トワークを通し、デバッグ方法全体を制御するために汎
用コンピュータ104を使用することが可能となる。従
って、このコンピュータはデバッグ中のプログラムの異
なる部分をテストするようDUTモードのデバッグチッ
プ110Cに異なる刺激を与えるために使用される。こ
のようなアナライザシステムの好ましい解決案により、
通常のロジックアナライザと比較して比較的簡単で安価
なロジックアナライザを使用できるという利点が得られ
る。この理由はデータ処理の主要部分がロジックアナラ
イザ102からコンピュータ104へ切り替えられてい
るからである。データ処理のための適当な一般的ソフト
ウェアおよび結果を表示するための適当な一般的ソフト
ウェアを使用することにより、デバッグ操作のために汎
用コンピュータを容易かつ効率的に使用することが可能
となる。
Logic Analyzer Information extracted by logic analyzer 102 from MONITOR mode chips 110A-B, such as local bus data, local bus address, as well as asynchronous events, DMA accesses and interrupts, can be easily read by computer 104, for example. (See FIG. 1). In one embodiment of the present invention, the logic analyzer may include a network connection that allows the analyzer to be monitored remotely over a network. In addition, the workstation may be used as a web server to provide information or a web browser to display on network 106. Further, such a structure allows the general-purpose computer 104 to be used over a network to control the entire debugging method. Thus, the computer is used to provide different stimuli to the debug chip 110C in DUT mode to test different portions of the program being debugged. With the preferred solution of such an analyzer system,
The advantage is that a relatively simple and inexpensive logic analyzer can be used as compared with a normal logic analyzer. The reason for this is that the main part of the data processing has been switched from the logic analyzer 102 to the computer 104. The use of suitable general software for data processing and for displaying results allows easy and efficient use of a general purpose computer for debugging operations.

【0065】以上で本発明の好ましい実施例を参照し、
本発明について詳細に図示し、説明したが、当業者であ
れば本発明の精神および範囲から逸脱することなく、形
態および細部を種々に変更できることが理解できよう。
次にこれらの例について検討する。
With reference to the preferred embodiment of the present invention,
While the invention has been illustrated and described in detail, those skilled in the art will recognize that changes may be made in form and detail without departing from the spirit and scope of the invention.
Now consider these examples.

【0066】サーキットボードにメモリユニットを組み
込む代わりに、そのサーキットボードでメモリユニット
を設けず、むしろ外部接続可能なメモリユニットを使用
したり、チップ上のキャッシュメモリを除き、メモリを
設けないようにすることも可能である。
Instead of incorporating a memory unit into a circuit board, a memory unit is not provided on the circuit board, but rather a memory unit that can be connected externally is used, and no memory is provided except for a cache memory on a chip. It is also possible.

【0067】別の変更例は、アナライザ装置に異なるど
の出力信号を与えたいかに応じて、モニタモードの1つ
のチップを設けたり、または3つ以上のチップを設けた
りすることである。
Another modification is to provide one chip in monitor mode, or more than two chips, depending on which different output signal it is desired to provide to the analyzer device.

【0068】更に、アドレスおよびデータ信号の他にロ
ジックアナライザに別の信号、例えばCPUのステータ
ス信号、またはCPU、DMAユニット等の内部ステー
トを出力することができる。
Further, in addition to the address and data signals, other signals, for example, a status signal of the CPU or internal states of the CPU, the DMA unit, etc., can be output to the logic analyzer.

【0069】更に別の実施例では、DMAユニットをチ
ップに集積化するのではなく、チップの外部に設けるこ
ともできる。
In still another embodiment, the DMA unit can be provided outside the chip instead of being integrated on the chip.

【0070】本願は、「デバッグ能力が高められたコン
ピュータチップおよび装置」を発明の名称として199
8年5月13日に出願されたスウェーデン特許出願第98
01678-5号に基づく優先権を主張するものである。
The present application refers to “computer chips and devices with enhanced debugging capabilities” as the title of the invention of 199.
Swedish Patent Application No. 98, filed May 13, 2008
Claims priority based on 01678-5.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】デバッグ能力を備えたチップを利用するテスト
コンフィギュレーションのハードウェアブロック図であ
る。
FIG. 1 is a hardware block diagram of a test configuration using a chip having debugging capability.

【図2】図1に示されたチップの詳細なハードウェアブ
ロック図である。
FIG. 2 is a detailed hardware block diagram of the chip shown in FIG. 1;

【図3】図1〜2に示されたデバッグチップのローカル
バススイッチ部分の拡張ハードウェアブロック図であ
る。
FIG. 3 is an extended hardware block diagram of a local bus switch portion of the debug chip shown in FIGS.

【図4】図1に示されたデバッグバス140の信号ライ
ンを示す。
FIG. 4 shows signal lines of the debug bus 140 shown in FIG.

【図5】図1〜2に示されたデバッグチップのメモリ制
御ユニットとメインメモリとの間のインターフェースの
詳細なハードウェアブロック図である。
FIG. 5 is a detailed hardware block diagram of an interface between a memory control unit and a main memory of the debug chip shown in FIGS.

【図6】図1〜2に示されたデバッグチップと低速の周
辺デバイスとの間のインターフェースを示すブロック略
図である。
FIG. 6 is a schematic block diagram showing an interface between the debug chip shown in FIGS. 1-2 and a low-speed peripheral device.

【図7】図1〜2に示されたデバッグチップ内でのイン
タラプト処理を示すブロック略図である。
FIG. 7 is a schematic block diagram showing an interrupt process in the debug chip shown in FIGS.

【図8】図1に示されたデバッグチップの同期化ユニッ
トを示す。
FIG. 8 shows a synchronization unit of the debug chip shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

98 コンピュータシステム 100 モニタ 102 ロジックアナライザ 104 コンピュータ 106 ネットワーク 110C チップ 108 パワーオンリセット 120 発振器 112 システムハードウェア 114 メモリ 116 入出力(I/O)ユニット 118 パワーオンリセット 130C ローカルバス130C 132C コーデックユニット 134C メモリ制御ユニット 136C 第1ローカルバスデバッグスイッチ 98 Computer system 100 Monitor 102 Logic analyzer 104 Computer 106 Network 110C Chip 108 Power-on reset 120 Oscillator 112 System hardware 114 Memory 116 Input / output (I / O) unit 118 Power-on reset 130C Local bus 130C 132C Codec unit 134C Memory control unit 136C 1st local bus debug switch

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ペル ザンデル スウェーデン国 ルンド,レビンゲガタン 3 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Per Sandel Sweden Lund, Lebingegatan 3

Claims (21)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも1つの同期化されたユニット
と、相互接続されたCPUおよびキャッシュシステムと
が、上部に集積化されたコンピュータチップであり、該
チップが少なくとも2つの異なる作動モードのうちのい
ずれかのモードに設定可能であり、第1のモードがDU
Tモードであり、第2のモードがMONITORモード
であり、該MONITORモードと前記DUTモードと
が相補的であり、チップと別の同一のチップとが相補的
モードにある間、これらチップをパラレルに作動できる
ようにする信号を送ることができるよう、別の同一のチ
ップに接続可能なデバッグバスを含み、前記信号が前記
同期化ユニットによって発生される同期化信号を含むコ
ンピュータチップ。
1. A computer chip, wherein at least one synchronized unit and an interconnected CPU and cache system are integrated on top of one another, wherein the chip has one of at least two different modes of operation. Mode can be set, and the first mode is DU
A second mode is a MONITOR mode, wherein the MONITOR mode and the DUT mode are complementary, and the chips and another identical chip are in a complementary mode while the chips are in parallel. A computer chip comprising a debug bus connectable to another and the same chip so as to be able to send a signal enabling it to operate, said signal comprising a synchronization signal generated by said synchronization unit.
【請求項2】 アドレスバス部分およびデータバス部分
を含むメモリバスに接続されたメモリコントローラを更
に含み、前記モニタモードが少なくとも2つの異なるテ
ストモードを含み、前記メモリコントローラがそれぞれ
の異なるテストモードに対しアドレスバス部分上に異な
るタイプのデータを出力できるようにするモード設定回
路を含む、請求項1記載のコンピュータチップ。
2. The system of claim 2, further comprising a memory controller connected to a memory bus including an address bus portion and a data bus portion, wherein the monitor mode includes at least two different test modes, and wherein the memory controller is configured for each different test mode. The computer chip of claim 1, including a mode setting circuit that allows different types of data to be output on the address bus portion.
【請求項3】 前記モード設定回路が多重化回路を含
み、該多重化回路の出力端がメモリバスのアドレスバス
部分に接続されており、多重化回路の第1入力端がチッ
プ内通信のための通信手段内に設けられたアドレスバス
部分に接続されており、第2入力端が前記通信手段内に
設けられたデータバス部分に接続されており、前記多重
化回路が前記テストモードのうちの第1モードにある
時、前記第1入力端を前記出力端に接続し、前記テスト
モードの第2モードにある時、前記第2入力端を前記出
力端に接続する、請求項2記載のコンピュータチップ。
3. The mode setting circuit includes a multiplexing circuit, an output terminal of the multiplexing circuit is connected to an address bus of a memory bus, and a first input terminal of the multiplexing circuit is used for in-chip communication. The second input terminal is connected to a data bus portion provided in the communication means, and the multiplexing circuit is connected to an address bus portion provided in the communication means. 3. The computer according to claim 2, wherein the first input terminal is connected to the output terminal when in the first mode, and the second input terminal is connected to the output terminal when in the second mode of the test mode. Chips.
【請求項4】 デバッグバス上で通信される前記信号が
更にCPUおよびDMAユニットのステータス情報を更
に含む、請求項1記載のコンピュータチップ。
4. The computer chip of claim 1, wherein said signals communicated on a debug bus further include CPU and DMA unit status information.
【請求項5】 前記同期化信号がチップにより受信され
る外部非同期信号に関する同期化情報を搬送する信号お
よびインタラプトに関する同期化信号を搬送する信号を
含む、請求項1記載のコンピュータチップ。
5. The computer chip of claim 1, wherein the synchronization signal includes a signal carrying synchronization information for an external asynchronous signal received by the chip and a signal carrying a synchronization signal for an interrupt.
【請求項6】 少なくとも1つの同期化ユニットと、す
べてが相互に接続されたCPUと、キャッシュシステム
と、DMAユニットと、メモリコントローラとが上部に
集積化されたメインチップを含み、該チップが少なくと
も2つの異なる作動モードのうちのいずれかのモードに
設定可能であり、第1のモードがDUTモードであり、
第2のモードがMONITORモードであり、該MON
ITORモードと前記DUTモードとが相補的であり、
前記メインチップが相補的なモードとなっている間、コ
ンピュータ装置と別のコンピュータ装置をパラレルに作
動させることができる信号を送るための、同一のメイン
チップを含む別のコンピュータ装置に接続可能なデバッ
グポートを更に含む、コンピュータ装置。
6. A main chip on which at least one synchronization unit, a CPU, a cache system, a DMA unit, and a memory controller, all of which are interconnected, are integrated. Configurable to one of two different modes of operation, the first mode being a DUT mode,
The second mode is the MONITOR mode.
The ITOR mode and the DUT mode are complementary,
Debug connectable to another computer device containing the same main chip to send a signal that can operate a computer device and another computer device in parallel while the main chip is in a complementary mode A computing device further comprising a port.
【請求項7】 第1コンピュータ装置および第2コンピ
ュータ装置を含み、これらコンピュータ装置の各々がメ
インチップを含み、該メインチップが少なくとも1つの
同期化ユニットと、すべてが相互に接続されたCPU
と、キャッシュシステムと、DMAユニットと、メモリ
コントローラとが上部に集積化されたメインチップを含
み、各チップが少なくとも2つの異なる作動モードのう
ちの1つのモードに設定可能であり、第1モードがDU
T作動モードであり、第2モードがMONITORモー
ドであり、該MONITORモードとDUT作動モード
とが相補的であり、各コンピュータ装置が更にデバッグ
ポートを含み、該デバッグポートにより前記第1コンピ
ュータと第2コンピュータとが相互に接続されており、
第1コンピュータのメインチップがDUTモードに設定
され、第2コンピュータのメインチップがMONITO
Rモードに設定されており、第1コンピュータがこの第
1コンピュータ装置のメモリコントローラから引き出さ
れた第1メモリバスを含み、第2コンピュータ装置のメ
モリコントローラが第2コンピュータのメモリコントロ
ーラから引き出された第2メモリバスを通して少なくと
も部分的に第1メモリに接続されているデバッグシステ
ム。
7. A CPU including a first computer device and a second computer device, each of which includes a main chip, the main chip being at least one synchronization unit and all interconnected CPUs.
And a cache system, a DMA unit, and a memory controller including a main chip integrated thereon, each chip being configurable to one of at least two different operating modes, wherein the first mode is: DU
T operating mode, the second mode is a MONITOR mode, the MONITOR mode and the DUT operating mode are complementary, each computer device further includes a debug port, and the debug port allows the first computer and the second computer to communicate with each other. The computer is interconnected,
The main chip of the first computer is set to the DUT mode, and the main chip of the second computer is set to MONITO.
A first computer including a first memory bus derived from a memory controller of the first computer device, wherein a memory controller of a second computer device is configured to be in an R mode, wherein a first memory bus is derived from a memory controller of the first computer device; A debug system connected at least partially to the first memory through a two memory bus.
【請求項8】 前記第2メモリバスのアドレスバス部分
に接続されたロジカルアナライザを更に含む、請求項7
記載のデバッグシステム。
8. The system according to claim 7, further comprising a logical analyzer connected to an address bus portion of said second memory bus.
Debug system as described.
【請求項9】 前記ロジカルアナライザがオペレータの
コンピュータのウェブサーバーに接続可能なネットワー
クインターフェースを有する、請求項8記載のデバッグ
システム。
9. The debugging system according to claim 8, wherein said logical analyzer has a network interface connectable to a web server of an operator's computer.
【請求項10】 前記第2コンピュータが他のチップに
同一であり、MONITORモードに設定される少なく
とも1つの別のチップを含み、前記ロジカルアナライザ
が前記別のチップのメモリコントローラから引き出され
た別のメモリのアドレスバス部分に接続されており、M
ONITORモードが少なくとも2つの異なるテストモ
ードを含み、前記少なくとも2つのMONITORモー
ドのチップが異なるテストモードに設定されており、そ
れぞれのアドレスバス部分に異なる情報を出力する、請
求項8記載のデバッグシステム。
10. The second computer is identical to another chip and includes at least one other chip set in a MONITOR mode, wherein the logical analyzer is derived from another memory controller of the another chip. Connected to the address bus portion of the memory,
9. The debugging system according to claim 8, wherein the ONITOR mode includes at least two different test modes, wherein the at least two MONITOR mode chips are set to different test modes, and output different information to respective address bus portions.
【請求項11】 チップおよびアドレスピン、データピ
ンおよびチップとインターフェースするためのクロック
ピン上で処理を実行するよう、相互に結合された内部部
品を含む集積回路チップに組み込むためのデバッグ回路
であって、 該デバッグ回路が、入力端、出力端および制御接続部を
備えたデバッグスイッチを含み、前記入力端が前記内部
部品の所定の部品に結合されており、前記出力端がアド
レスピンに接続されており、前記制御接続部がチップと
インターフェースするためのモード選択ピンに結合され
ており、該デバッグスイッチがアドレスピンにてチップ
上の処理をモニタできるよう、入力端のうちの1つを出
力端に結合するよう、モード選択ピン上のモード信号に
応答自在であるデバッグ回路。
11. A debug circuit for incorporation into an integrated circuit chip including internal components interconnected to perform processing on a chip and address pins, data pins and clock pins for interfacing with the chip. Wherein the debug circuit includes a debug switch having an input terminal, an output terminal, and a control connection, wherein the input terminal is coupled to a predetermined component of the internal component, and the output terminal is connected to an address pin. The control connection is coupled to a mode select pin for interfacing with the chip, and one of the inputs is connected to the output so that the debug switch can monitor processing on the chip at the address pins. A debug circuit responsive to the mode signal on the mode select pin to couple.
【請求項12】 入力端、出力端および制御接続部を備
えた同期化回路を更に備え、前記制御接続部が前記モー
ド選択ピンに結合され、前記入力端が非同期信号ソース
に結合され、前記出力端が内部部品のうちの少なくとも
1つに結合されており、前記同期化回路が第1コンフィ
ギュレーションを採用するように、モード選択ピンにお
ける第1モード選択信号に応答自在であり、前記第1コ
ンフィギュレーションにおいて、信号ソースからの前記
非同期信号をラッチし、入力端における信号変化がない
時間中、デバッグバスにイネーブル信号を出力し、処理
のためのチップの内部部品に前記非同期信号をリリース
するよう、該非同期信号をアンラッチするようになって
いる、請求項11記載のデバッグ回路。
12. A synchronizing circuit having an input, an output and a control connection, wherein the control connection is coupled to the mode select pin, the input is coupled to an asynchronous signal source, and the output is An end coupled to at least one of the internal components, and responsive to a first mode select signal at a mode select pin such that the synchronization circuit adopts a first configuration; Latching the asynchronous signal from a signal source, outputting an enable signal to a debug bus during a time when there is no signal change at an input terminal, and releasing the asynchronous signal to an internal component of a chip for processing. 12. The debug circuit according to claim 11, wherein said asynchronous signal is unlatched.
【請求項13】 入力端、出力端および制御接続部を備
えた同期化回路を更に備え、前記制御接続部が前記モー
ド選択ピンに結合され、前記入力端が非同期信号ソース
に結合され、前記出力端が内部部品のうちの少なくとも
1つに結合されており、前記同期化回路が第2コンフィ
ギュレーションを採用するように、モード選択ピンにお
ける第2モード選択信号に応答自在であり、前記第2コ
ンフィギュレーションにおいて、信号ソースからの前記
非同期信号をラッチし、デバッグバスにおけるイネーブ
ル信号に応答し、処理のためのチップの内部部品に前記
非同期信号をリリースするよう、該非同期信号をアンラ
ッチするようになっている、請求項12記載のデバッグ
回路。
13. A synchronizing circuit having an input, an output, and a control connection, wherein the control connection is coupled to the mode select pin, the input is coupled to an asynchronous signal source, and the output is An end coupled to at least one of the internal components, and responsive to a second mode select signal at a mode select pin such that the synchronization circuit employs a second configuration; Latching the asynchronous signal from a signal source, responsive to an enable signal on a debug bus, and unlatching the asynchronous signal to release the asynchronous signal to internal components of the chip for processing. 13. The debugging circuit according to claim 12, wherein:
【請求項14】 入力端、出力端および制御接続部を備
えた同期化回路を更に備え、前記制御接続部が前記モー
ド選択ピンに結合され、前記入力端が非同期信号ソース
に結合され、前記出力端が内部部品のうちの少なくとも
1つに結合されており、前記同期化回路が第1コンフィ
ギュレーションを採用するように、モード選択ピンにお
ける第1モード選択信号に応答自在であり、前記第1コ
ンフィギュレーションにおいて、信号ソースからの前記
非同期信号をラッチし、デバッグバスにおける非同期信
号に対応するコード化された信号を出力し、処理のため
のチップの内部部品に前記非同期信号をリリースするよ
う、該非同期信号をアンラッチするようになっている、
請求項11記載のデバッグ回路。
14. A synchronizing circuit having an input, an output, and a control connection, wherein the control connection is coupled to the mode select pin, the input is coupled to an asynchronous signal source, and the output is An end coupled to at least one of the internal components, and responsive to a first mode select signal at a mode select pin such that the synchronization circuit adopts a first configuration; Latching the asynchronous signal from the signal source, outputting a coded signal corresponding to the asynchronous signal on the debug bus, and releasing the asynchronous signal to internal components of the chip for processing. Unlatch the signal,
The debug circuit according to claim 11.
【請求項15】 入力端、出力端および制御接続部を備
えた同期化回路を更に備え、前記制御接続部が前記モー
ド選択ピンに結合され、前記入力端が非同期信号ソース
に結合され、前記出力端が内部部品のうちの少なくとも
1つに結合されており、前記同期化回路が第2コンフィ
ギュレーションを採用するように、第2モード選択信号
に応答自在であり、前記第2コンフィギュレーションに
おいて、デバッグバスのコード化された信号を受信し、
このコード化された信号をデコードし、デコードされた
信号をラッチし、所定の遅延時間後、処理するためのチ
ップの内部部品にデコードされた信号をリリースするよ
う、デコードされた信号をアンラッチするようになって
いる、請求項14記載のデバッグ回路。
15. A synchronization circuit having an input, an output, and a control connection, wherein the control connection is coupled to the mode select pin, the input is coupled to an asynchronous signal source, and the output is An end is coupled to at least one of the internal components, and is responsive to a second mode select signal such that the synchronization circuit employs a second configuration, wherein the second configuration includes a debugger. Receiving the coded signal of the bus,
Decoding the coded signal, latching the decoded signal, and after a predetermined delay time, unlatching the decoded signal to release the decoded signal to internal components of the chip for processing. 15. The debug circuit according to claim 14, wherein:
【請求項16】 集積回路チップ上の内部部品がデータ
と、デジタル信号と、グラフィック信号、ビデオ信号、
オーディオ信号、パターン認識信号およびプログラマブ
ルロジックから成る処理の群のうちの少なくとも1つを
実行する、請求項11記載のデバッグチップ。
16. The internal components on the integrated circuit chip include data, digital signals, graphic signals, video signals,
The debug chip of claim 11, wherein the debug chip performs at least one of a group of processing consisting of an audio signal, a pattern recognition signal, and programmable logic.
【請求項17】 プロセッサと、キャッシュメモリと、
メモリコントローラユニットと、チップおよびアドレス
ピン、データピンおよび前記チップとインターフェース
するためのクロックピン上で処理を実行するよう前記プ
ロセッサ、前記キャッシュメモリおよび前記メモリコン
トローラユニットを互いに結合するローカルバスとを含
む集積回路チップに組み込むためのデバッグ回路であっ
て、 入力端、出力端および制御接続部を備えたデバッグスイ
ッチを含み、前記入力端が前記メモリコントローラユニ
ット、前記ローカルバスのデータ部分および前記ローカ
ルバスのアドレス部分に結合されており、出力端がアド
レスピンに接続されており、前記制御接続部が前記チッ
プとインターフェースするためのモード選択ピンに結合
されており、該デバッグスイッチがモード選択ピン上の
モード信号に応答し、入力端のうちの1つを出力端に結
合し、アドレスピンにおいてチップ上の処理をモニタす
るようになっているデバッグ回路。
17. A processor, a cache memory,
An integrated circuit comprising a memory controller unit and a local bus coupling the processor, the cache memory and the memory controller unit to each other to perform processing on a chip and address pins, a data pin and a clock pin for interfacing with the chip. A debug circuit for incorporation into a circuit chip, comprising: a debug switch having an input terminal, an output terminal, and a control connection, wherein the input terminal has an address of the memory controller unit, a data portion of the local bus, and an address of the local bus. And the output terminal is connected to an address pin, the control connection is connected to a mode selection pin for interfacing with the chip, and the debug switch is connected to a mode signal on the mode selection pin. To A debug circuit responsive and coupling one of the inputs to the output to monitor processing on the chip at the address pins.
【請求項18】 プログラムコードの実行中にチップの
内部ステートをモニタするためのテスト装置であって、 アドレスピンおよびデータピンを備え、プログラムコー
ドを記憶するのに適したアドレス指定可能なメモリと、 同一の第1チップおよび第2チップを含み、各チップが
その上で処理を実行するよう、互いに結合された内部部
品と、アドレスピンおよびデータピンを含む、各チップ
とインターフェースするためのピンと、前記アドレスピ
ンに2つの入力端のいずれかを結合するためのデバッグ
スイッチを含み、第1チップのアドレスピンが内部部品
のうちのアドレス発生部品に前記デバッグスイッチを介
して結合されており、前記第2チップのアドレスピンが
内部部品の別の部品に関連する処理をモニタするよう、
内部部品の別の部品に前記デバッグスイッチを介して結
合されており、 アドレス部分およびデータ部分を含み、前記アドレス部
分が前記第1チップおよび前記アドレス指定可能なメモ
リの前記アドレスピンに結合されており、データ部分が
前記第1チップ、前記第2チップおよび前記アドレス指
定可能なメモリのデータピンに結合されているシステム
バスを更に含むテスト装置。
18. A test device for monitoring an internal state of a chip during execution of a program code, comprising: an addressable memory having an address pin and a data pin, the addressable memory being suitable for storing the program code. An internal component including the same first chip and a second chip, each of which performs processing thereon, and internal components, and pins for interfacing with each chip, including address pins and data pins; A debug switch for coupling one of two input terminals to the address pin, wherein the address pin of the first chip is coupled to an address generating component of the internal components via the debug switch; So that the address pins of the chip monitor the processing of other internal components
Another of the internal components is coupled via the debug switch, including an address portion and a data portion, wherein the address portion is coupled to the address pins of the first chip and the addressable memory. A test bus further comprising a system bus having a data portion coupled to the first chip, the second chip, and data pins of the addressable memory.
【請求項19】 前記第1チップ上のプログラムコード
の実行と、前記第2チップ上のプログラムコードの実行
とを同期化させるための手段を更に含む、請求項18記
載のテスト装置。
19. The test apparatus according to claim 18, further comprising means for synchronizing execution of the program code on the first chip with execution of the program code on the second chip.
【請求項20】 前記第2チップの前記アドレスピンを
モニタし、前記内部部品の別の部分に関連した処理をモ
ニタするための手段を更に含む、請求項18記載のテス
ト装置。
20. The test apparatus according to claim 18, further comprising means for monitoring the address pins of the second chip and monitoring processing related to another part of the internal component.
【請求項21】 前記第1チップおよび前記第2チップ
の対応する前記デバッグスイッチが、前記第1チップお
よび前記第2チップの対応するチップの前記アドレスピ
ンを前記内部部品の前記アドレス発生部品に結合するよ
う、モード選択ピン上の第1モード信号に応答自在であ
り、前記第2チップの前記アドレスピンを内部部品の別
の部品に結合し、前記アドレスピンにおいてチップ上の
処理をモニタするよう、前記モード選択ピン上の第2モ
ード信号に応答自在である、請求項18記載のテスト装
置。
21. The debug switch corresponding to the first chip and the second chip couples the address pins of the corresponding chips of the first chip and the second chip to the address generating component of the internal component. Responsive to a first mode signal on a mode select pin, coupling the address pin of the second chip to another of the internal components, and monitoring processing on the chip at the address pin. 19. The test device of claim 18, responsive to a second mode signal on the mode select pin.
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