ITRM20100003A1 - Metodo di identificazione di dipinti - Google Patents

Description

TITOLO: “Metodo di identificazione di dipintiâ€

Campo dell’invenzione

La presente invenzione si riferisce ad un metodo di identificazione di dipinti, in particolare per verificarne l’autenticità.

Stato della tecnica

Esistono diversi metodi di identificazione di dipinti per l’antifalsificazione, alcuni dei quali sono riconducibili, all’applicazione di un’etichetta, quale un ologramma, etichette speciali e inchiostri invisibili ad occhio nudo. Questi metodi, col tempo vengono elusi con la conseguente contraffazione di copie dei dipinti autentici. Un altro metodo consiste nello scrivere un testo grande nanometri tramite luce di sincrotrone, ma anche questo può essere contraffatto da un altro sistema simile potendo il falsario riconoscere il punto di applicazione tramite semplice luce ultravioletta.

Altri metodi sono riconducibili ad un’analisi ottica del dipinto, sia essa nel campo della luce visibile, sia nel campo dell’infrarosso che dell’ultravioletto.

Queste, tecniche sono certamente non-invasive, ma non danno alcun valore aggiunto rispetto ad un’analisi meramente visiva, se non quando si analizzano dipinti realizzati su tele usate, consentendo di rilevare una particolare stratigrafia della pittura.

Sommario dell’invenzione

Scopo della presente invenzione à ̈ quello di fornire un metodo di identificazione di dipinti, atto a risolvere il suddetto problema ed in particolare adatto per qualunque tipo di dipinto, sia esso realizzato su una tela nuova, sia su una tela già dipinta. Ciò tenendo conto che molti autori riciclano e riciclavano tele usate.

E’ oggetto della presente invenzione un metodo di identificazione di dipinti, conformemente alla rivendicazione 1.

Dunque, un confronto tra i risultati ottenuti da due o più analisi consente di verificare che il dipinto sia il medesimo e che non sia stato contraffatto.

Il termine identificazione qui à ̈ usato anche col significato di riconoscimento.

Il metodo oggetto del presente trovato, dunque, si basa sull’impiego di un dispositivo XRF, cioà ̈ basato sulla fluorescenza X (acronimo dell’espressione anglosassone X-Ray Fluorescence).

Vantaggiosamente, una tecnica di fluorescenza X o XRF à ̈ una tecnica spettroscopica che, in maniera non invasiva, consente di identificare gli elementi chimici costitutivi di un punto analizzato, grazie all’analisi della radiazione X da esso emessa, cioà ̈ una cosiddetta fluorescenza X caratteristica, sollecitata a seguito di una eccitazione atomica realizzata con una opportuna energia di eccitazione. Per realizzare detta tecnica vengono comunemente impiegati cosiddetti apparecchi XRF.

L’analisi à ̈ assolutamente non invasiva, in quanto non richiede l’asportazione o l’alterazione del campione da analizzare e può operare attraverso l’aria. Inoltre, detto metodo à ̈ realizzabile attraverso apparecchi portatili, rivelandosi estremamente utile nel caso in cui non si vuole o non si può spostare il dipinto da analizzare.

Secondo un altro aspetto del trovato, detto metodo basato sulla fluorescenza X, può essere opportunamente combinato con metodi basati sulla riflessione o sull’attraversamento della tela da parte di una radiazione elettromagnetica nel campo visibile e/o infrarosso e/o ultravioletto.

Secondo un ulteriore aspetto del trovato, un elemento chimico, un cosiddetto tracciante, particolarmente sensibile ad un esame basato sulla fluorescenza X, può essere predisposto in una vernice protettiva da applicarsi a protezione del dipinto, per esempio in occasione di un suo restauro. Allora, un particolare dosaggio di detto tracciante, su una o più zone della patina protettiva depositata sulla superficie del dipinto, soprattutto in combinazione con le intrinseche caratteristiche chimiche della pittura del dipinto, consentono una identificazione/riconoscimento non ambigua/o del dipinto.

Vantaggiosamente, il metodo risulta particolarmente attendibile in virtù del fatto che le caratteristiche chimiche del dipinto non variano o variano molto lentamente. Inoltre, vantaggiosamente, il metodo oggetto della presente invenzione risulta particolarmente economico da realizzarsi e praticamente impossibile da eludere.

Le rivendicazioni dipendenti descrivono realizzazioni preferite dell’invenzione, formando parte integrante della presente descrizione.

Descrizione in dettaglio di una forma di realizzazione preferita dell’invenzione Tramite una analisi mediante XRF di un predefinito punto di un dipinto à ̈ possibile caratterizzare non solamente gli elementi chimici degli strati più superficiali, ma anche di quelli più profondi grazie alle capacità penetranti della radiazione X, restituendo un’analisi degli strati univoca per ciascun punto di un dipinto, sia in relazione a dipinti d’epoca, in cui le pitture erano realizzate artigianalmente con additivi e ingredienti diversi da artista ad artista e sia in dipinti moderni e contemporanei, per i quali ogni punto ha la sua precisa composizione chimicostratigrafica.

Dunque, il metodo comprende una prima procedura di analisi di almeno un punto del dipinto ed una successiva procedura di certificazione del dipinto volta a condurre una seconda procedura di analisi e a confrontarne i risultati con detta prima procedura di analisi sul medesimo punto.

In altri termini, il metodo comprende i seguenti passi:

- una prima analisi di almeno un punto del dipinto mediante un apparecchio XRF, - una seconda analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF,

- un confronto tra risultati ottenuti durante dette analisi.

E’ evidente che se i risultati discordano il dipinto non à ̈ il medesimo oppure à ̈ stato alterato.

Vantaggiosamente, un falsario, pur venendo a conoscenza della composizione stratigrafica di detto punto del dipinto non sarebbe in grado di riprodurre oltre che la fedele riproduzione dell’immagine anche la fedele riproduzione dei componenti chimici definenti detti strati di detto punto.

Un tentativo di falsificazione risulta ancora più complessa per un falsario, se le coordinate X e Y del punto (o dei punti) analizzato vengono mantenute segrete da un soggetto certificatore dell’autenticità del dipinto, così che un falsario sarebbe costretto, non conoscendo il punto esatto (o i punti esatti), su cui à ̈ stata condotta l’analisi a dover riprodurre la medesima stratigrafia chimica dell’intero dipinto, rendendo l’operazione al quanto complicata se non impossibile.

Dunque, il punto analizzato una prima volta potrebbe essere successivamente analizzato un indefinito numero di volte, e se il dipinto non à ̈ stato alterato, i risultati dell’indagine secondo il presente metodo risultano costantemente coerenti o costanti.

Secondo una variante preferita del metodo, il punto di analisi può essere univocamente determinato attraverso le sue coordinate X e Y, oppure a mezzo di una fotografia su cui il punto à ̈ indicato.

Il metodo oggetto della presente invenzione trova applicazione sia su dipinti d’epoca, sia su dipinti di autori contemporanei.

Per esempio, in un colore può essere inserito un opportuno componente chimico, un cosiddetto tracciante, in modo da caratterizzare in termini di emissione X almeno un punto del dipinto.

Secondo un’altra variante del trovato, detto tracciante può essere inserito e mescolato ad una miscela protettiva da applicare a protezione di un dipinto. Preferibilmente, può prevedersi una diversa concentrazione di detto tracciante tra almeno due zone differenti della superficie del dipinto trattato con detto protettivo comprendente detto tracciante.

Il metodo descritto può risultare particolarmente utile durante la catalogazione di dipinti, ma anche, più in generale, di opere d’arte da parte di musei e fondazioni o proprietari privati.

Inoltre, indipendentemente dall’autenticità di un dipinto, il metodo descritto può essere applicato al dipinto per poterlo riconoscere a seguito di un furto oppure a seguito del suo prestito per mostre ed eventi.

Si preferisce che i punti analizzati secondo il presente metodo siano molteplici in modo da poter riconoscere un medesimo dipinto anche a seguito di un suo danneggiamento anche parziale.

Secondo una ulteriore variante del metodo, un punto analizzato viene reso pubblico sia in termini di collocazione del punto, sia in termini di regolazione di funzionamento del dispositivo XRF, che in termini di risultato dell’analisi condotta. Detta prima procedura di analisi comprende preferibilmente i seguenti passi:

- selezione di almeno un punto del dipinto

- memorizzazione della posizione di detto punto

- definizione di parametri di funzionamento di un apparecchio XRF, tra cui tensione di funzionamento, corrente di filamento, filtraggi eventuali, materiale definente l’anodo, tipo di rivelatore impiegato dall’apparecchio

- analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF configurato secondo il passo precedente

- associazione dell’analisi rilevata e dei parametri di funzionamento dell’apparecchio XRF a detto punto

- memorizzazione di tutti i dati necessari a ripetere i passi precedenti.

Inoltre, detta seconda analisi, volta alla certificazione di un dipinto, comprende i seguenti passi:

- selezione di almeno un punto del dipinto precedentemente memorizzato

- definizione di parametri di funzionamento di un apparecchio XRF, associati a detto punto, tra cui tensione di funzionamento, corrente di filamento, filtraggi eventuali, materiale definente l’anodo, tipo di rivelatore impiegato dall’apparecchio - analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF configurato secondo il passo precedente

- confronto del risultato dell’analisi del passo precedente con un risultato precedentemente memorizzato di un’altra analisi.

Gli elementi e le caratteristiche illustrate nelle diverse forme di realizzazione preferite possono essere combinate senza peraltro uscire dall’ambito di protezione della presente domanda.

Claims (10)

1. RIVENDICAZIONI 1. Metodo di identificazione di dipinti comprendente i seguenti passi - una prima analisi di almeno un punto del dipinto mediante un apparecchio XRF, - una seconda analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF, - un confronto tra risultati ottenuti da dette analisi.
2. 2. Metodo secondo la rivendicazione 1, comprendente un passo preliminare a dette analisi di predisposizione dell’apparecchio XRF secondo almeno un predefinito parametro di funzionamento.
3. 3. Metodo secondo la rivendicazione 2, in cui detto parametro di funzionamento à ̈ una tensione di funzionamento e/o corrente di filamento e/o filtraggi e/o materiale definente l’anodo e/o tipo di rivelatore.
4. 4. Metodo secondo le rivendicazioni precedenti, comprendente due o più punti di analisi, per ciascuno dei quali à ̈ associato un relativo risultato di analisi ed almeno un parametro di funzionamento dell’apparecchio XRF.
5. 5. Metodo secondo la rivendicazione 4, comprendente un passo di rendere pubblici la posizione di almeno un punto precedentemente analizzato, il relativo risultato di analisi e tutti i parametri di funzionamento dell’apparecchio XRF.
6. 6. Metodo secondo le rivendicazioni precedenti, in cui detta prima analisi comprende i seguenti passi: - selezione di almeno un punto del dipinto - memorizzazione della posizione di detto punto - definizione di parametri di funzionamento di un apparecchio XRF - analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF configurato secondo il passo precedente - associazione dell’analisi rilevata e dei parametri di funzionamento dell’apparecchio XRF a detto punto - memorizzazione dei dati essenziali a ripetere i passi precedenti.
7. 7. Metodo secondo le rivendicazioni precedenti, in cui detta seconda analisi comprende i seguenti passi: - selezione di almeno un punto del dipinto precedentemente memorizzato - definizione di parametri di funzionamento di un apparecchio XRF, - analisi di detto punto mediante un apparecchio XRF configurato secondo il passo precedente.
8. 8. Metodo secondo le rivendicazioni precedenti, ulteriormente comprendente un passo di inserire un tracciante in almeno una pittura definente almeno un colore e/o un passo di inserire un tracciante in un protettivo destinato ad essere impiegato a protezione del dipinto.
9. 9. Metodo secondo la rivendicazione 8, in cui detto tracciante à ̈ inserito in concentrazioni differenti per due o più punti di test del dipinto.
10. 10. Metodo secondo le rivendicazioni precedenti, in cui detta prima e seconda analisi comprendono ulteriormente ciascuna una rilevazione di una radiazione elettromagnetica riflessa e/o di una radiazione elettromagnetica attraversante il dipinto, essendo detta radiazione nel campo del visibile e/o infrarosso e/o ultravioletto.