IT201800004001A1 - Sistema e metodo per la misura della temperatura di una giunzione a stato solido - Google Patents
Sistema e metodo per la misura della temperatura di una giunzione a stato solidoInfo
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---|---|---|---|---|
US20040071189A1 (en) * | 2002-10-09 | 2004-04-15 | Nec Electronics Corporation | Temperature measuring sensor incorporated in semiconductor substrate, and semiconductor device containing such temperature measuring sensor |
EP2336741A1 (en) * | 2009-12-18 | 2011-06-22 | Nxp B.V. | Self-calibration circuit and method for junction temperature estimation |
US20160202129A1 (en) * | 2015-01-14 | 2016-07-14 | Samsung Display Co., Ltd. | Apparatus and method for measuring temperature of led |
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2018
- 2018-03-27 IT IT102018000004001A patent/IT201800004001A1/it unknown
Patent Citations (3)
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