HU213823B - Method, test circuit and apparatus for teaching purpose - Google Patents
Method, test circuit and apparatus for teaching purpose Download PDFInfo
- Publication number
- HU213823B HU213823B HU9301863A HU9301863A HU213823B HU 213823 B HU213823 B HU 213823B HU 9301863 A HU9301863 A HU 9301863A HU 9301863 A HU9301863 A HU 9301863A HU 213823 B HU213823 B HU 213823B
- Authority
- HU
- Hungary
- Prior art keywords
- output
- input
- binary counter
- external
- circuits
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instructional Devices (AREA)
Abstract
A találmány szerinti eljárás, tesztelő áramkör ésberendezés lehetővé teszi, hőgy egymástól eltérő elektrőnikűsáramköröket, a külső csatlakőztatőtt alkatrészekkel kiegészítetváltőzatlan alaphardverrel őktassanak, tővábbá lehetővé teszi, hőgy afelhasználó határőzza meg ezen áramkörök adatait, melyeket teljeskörűen lehet tesztelni. Az eljárás sőrán minden külső csatlakőztatőttalkatrészen egy négy időegységre tagőlt mérési sőrőzatőt végzünk el: –az első ciklűsban lőgikai "0" szintet, – a másődik és a negyedikciklűsban nagy impedanciát és – a harmadik ciklűsban lőgikai "1"szintet kapcsőlűnk a külső csatlakőztatőtt alkatrészekre. A külsőfeszültségkényszer nélküli állapőtban az impedanciára jellemzőidőállandójú váltőzást bemeneti füg vényegységgel (8), mintfeszültségkőmparátőrral figyeljük és ezen feszültségkőmparátőrátbillenését 1:n ősztásmódú kiértékelő bináris számlálóvalidőkvantáljűk. Ezen eljárással meghatárőzzűk a külső satlakőztatőttalkatrészre jellemző mintavételezési értéket. Így maximálisan 2n-2darab különböző típűsú külső csatlakőztatőtt alkatrészt különböztetünkmeg. A találmány szerinti tesztelő áramkör vezérlő bináris számlálót(14), kiértékelő bináris számlálót (15) és digitális kőmparátőrt (16)tartalmaz. A kiértékelő bináris számláló (15) órajel bemenetére ( k) avezérlő bináris számláló (14) legkisebb helyiértékű kimenete (T(1))van kapcsőlva, engedélyező bemenetére (CE) a tesztelendő alkatrészekbűsza (Ti) egyik vezetéke csatlakőzik és kimenete egy min avételezésiértékbűsz (SM), amely a digitális kőmparátőr (16) egyik bemenetére (B)kapcsőlódik. A vezérlő bináris számláló (14) egy másik kimenete akövetkező-alkalmazás-kérelem vezeték (N), a legnag őbb helyiértékűkimenete az állapőtjelző vezeték (S), és tővábbi kimenetei atesztelendő alkatrészek bűszára (Ti) vannak csatlakőztatva. Adigitális kőmparátőr (16) másik bemenete (A) tesztelőprőgram űsszal(Pit), kimenete tesztet indít/elfőgad jelvezetékkel (T) vanösszekötve. A találmány szerinti berendezés az őktatási célúáramkörök, ún. alkalmazásők leképzését tartalmazó prőgramtárőlót,annak kimenetére csatlakőztatőtt vezérlőegységet és tesztelő áramkört(2) tartalmaz, amelyhez rendszerillesztő egységen keresztül kijelző éshangkeltő van csatlakőztatva. A vezérlőegységhez kimeneti függvény –egységen (7) és bemeneti függvényegységen (8) keresztülbemeneti/kiviteli átrix (9) van csatlakőztatva, és az űtóbbira vanhelyezve egy alkalmazásválasztó lap (10), amely a megvalósítandóáramkört ábrázőlja, tővábbá segíti a külső csatlakőztatőtt alkatrészek(Z(1),..., Z(i ,..., Z(p)) helyes elrendezését.ŕ The method according to the invention, the test circuit device enables, by means of thermocouple, different electrical circuits, with the unchanged basic hardware with the external connection components, allows the user to specify the data of these circuits which can be tested completely. On the outer ring of the process, a measurement bristle for four time units is performed on each external connection part: - in the first cycle, the "0" level, - the crawling and the fourth cycle is high impedance, and - in the third cycle, the "1" level is clamped on the external connection components. In a state without external voltage constraint, the impedance characteristic time-constant change is monitored by an input control unit (8), a sample voltage limiter, and a bias counter quantization quantization quantization of this voltage limiter. With this procedure you define the sampling value for the external sifting part. Thus, a maximum of 2n-2 pieces of different types of external connectors is distinguished. The test circuit according to the invention comprises a control binary counter (14), an evaluation binary counter (15), and a digital stone barrier (16). The least-valued output (T (1)) of the binary counter (14) controlling the clock input (k) of the evaluating binary counter (15) is switched on, one of its conducting inputs (CE) is connected to one of the wires (Ti) of the parts to be tested, and its output is a min. SM) which connects to one of the inputs (B) of the digital stone transmitter (16). Another output of the control binary counter (14) is a subsequent application request wire (N), the highest local value output being connected to the status signal (S), and further outputs to the components (Ti) of the components to be upgraded. The other input of the Adaptive Stone Parameter (16) (A) is a test lead with a pit (Pit), and output output is triggered / coupled to a main signal signal line (T). The apparatus according to the invention is a plurality of circulating circuits, i. includes a master library with application mapping, a control unit connected to its output, and a test circuit (2) coupled to a display unit and a speaker via a system interface. The control unit is connected to an output function unit (7) and an input / output matrix (9) through an input function unit (8), and an application selection sheet (10) for plotting the circuit to be implemented is mounted on the heater, further supported by the external plug-in components (Z ( 1), ..., Z (i, ..., Z (p)) correct layout.ŕ
Description
(57) KIVONAT(57) EXTRAS
A találmány szerinti eljárás, tesztelő áramkör és berendezés lehetővé teszi, hogy egymástól eltérő elektronikus áramköröket, a külső csatlakoztatott alkatrészekkel kiegészített változatlan alaphardverrel oktassanak, továbbá lehetővé teszi, hogy a felhasználó határozza meg ezen áramkörök adatait, melyeket teljes körűen lehet tesztelni.The method, test circuit and apparatus of the present invention allow for the teaching of different electronic circuits with unchanged basic hardware with external connected components, and allow the user to determine the details of these circuits, which can be fully tested.
Az eljárás során minden külső csatlakoztatott alkatrészen egy négy időegységre tagolt mérési sorozatot végzünk el:During the procedure, a series of measurements is made on each external connected component, divided into four time units:
- az első ciklusban logikai „0” szintet,- a logical "0" level in the first cycle,
- a második és a negyedik ciklusban nagy impedanciát éshigh impedance in the second and fourth cycles, and
- a harmadik ciklusban logikai „ 1 ” szintet kapcsolunk a külső csatlakoztatott alkatrészekre. A külső feszültségkényszer nélküli állapotban az impedanciára jellemző időállandójú változást bemeneti fuggvényegységgel (8), mint feszültségkomparátorral figyeljük és ezen feszültségkomparátor átbillenését l:n osztásmódú kiértékelő bináris számlálóval időkvantáljuk. Ezen eljárással meghatározzuk a külső csatlakoztatott alkatrészre jel-- in the third cycle, switching logical level "1" to the external connected components. In the non-external voltage compression state, the change in impedance with a constant time constant is monitored by an input function unit (8) as a voltage comparator and the tilt of this voltage comparator is time-quantized by a l: n evaluation binary counter. This procedure determines the signal for the external connected part.
A leírás terjedelme: 8 oldal (ezen belül 3 lap ábra)Description: 8 pages (including 3 pages)
HU 213 823 BHU 213 823 B
HU 213 823 Β lemző mintavételezési értéket. így maximálisan 2n'2 darab különböző típusú külső csatlakoztatott alkatrészt különböztetünk meg.EN 213 823 Β of the sample size. Thus, a maximum of 2 n ' 2 different types of external connected components are distinguished.
A találmány szerinti tesztelő áramkör vezérlő bináris számlálót (14), kiértékelő bináris számlálót (15) és digitális komparátort (16) tartalmaz. A kiértékelő bináris számláló (15) órajel bemenetére (Ck) a vezérlő bináris számláló (14) legkisebb helyiértékű kimenete (T( 1)) van kapcsolva, engedélyező bemenetére (CE) a tesztelendő alkatrészek busza (Ti) egyik vezetéke csatlakozik és kimenete egy mintavételezési értékbusz (SM), amely a digitális komparátor (16) egyik bemenetére (B) kapcsolódik. A vezérlő bináris számláló (14) egy másik kimenete a következő-alkalmazás-kérelem vezeték (N), a legnagyobb helyiértékű kimenete az állapotjelző vezeték (S), és további kimenetei a tesztelendő alkatrészek buszára (Ti) vannak csatlakoztatva. A digitális komparátor (16) másik bemenete (A) tesztelőprogrambusszal (Pit), kimenete tesztet indít/elfogad jelvezetékkel (T) van összekötve.The test circuit of the invention comprises a controller binary counter (14), an evaluation binary counter (15) and a digital comparator (16). The clock input (Ck) of the evaluating binary counter (15) is connected to the smallest local output (T (1)) of the control binary counter (14), its enable input (CE) is connected to one of the wires of the test bus (Ti) value bus (SM) connected to one of the inputs (B) of the digital comparator (16). Another output of the controller binary counter (14) is the following-application-request line (N), the highest local value output is the status line (S), and its other outputs are connected to the component bus (Ti) to be tested. The other input (A) of the digital comparator (16) is connected to a test program bus (Pit), the output of which starts / receives a test line (T).
A találmány szerinti berendezés az oktatási célú áramkörök, ún. alkalmazások leképzését tartalmazó programtárolót, annak kimenetére csatlakoztatott vezérlőegységet és tesztelő áramkört (2) tartalmaz, amelyhez rendszerillesztő egységen keresztül kijelző és hangkeltő van csatlakoztatva. A vezérlőegységhez kimeneti függvény - egységen (7) és bemeneti függvényegységen (8) keresztül bemeneti/kiviteli mátrix (9) van csatlakoztatva, és az utóbbira van helyezve egy alkalmazásválasztó lap (10), amely a megvalósítandó áramkört ábrázolja, továbbá segíti a külső csatlakoztatott alkatrészek (Z(l),..., Z(i),..., Z(p)) helyes elrendezését.The apparatus according to the invention is a so-called circuit board for educational purposes. It comprises a program memory containing application mapping, a control unit connected to its output and a test circuit (2) to which a display and a sound generator are connected via a system interface unit. An input / output matrix (9) is connected to the control unit via an output function unit (7) and an input function unit (8), and an application selection board (10) is placed on the latter, illustrating the circuit to be implemented and (Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p)).
A találmány tárgya eljárás, tesztelő áramkör és berendezés oktatási célú áramkörökhöz, melyek alkalmasak az eltérő felhasználások oktatására az alapáramkör megváltoztatása nélkül, továbbá a felhasználó által meghatározott kialakítású programozható elektronikus áramkörök tesztelésére is.BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a method, a test circuit and apparatus for teaching circuits which are capable of teaching different applications without changing the basic circuitry, and of testing user-defined programmable electronic circuits.
Elektronikus áramkörök elemeinek és rendszereinek oktatására ismeretesek olyan berendezések, melyeknél igyekeztek megvalósítani az eltérő tematikákhoz egyaránt használható oktatási elrendezés kialakítását. Ezen rendszerekre példa: a DEGEM (Izrael) EB 2000 típusjelű „Számítógépes oktató laboratóriuma”, a Feedback Instrument Ltd. (Egyesült Királyság) MICAMASTER típusjelű mikroprocesszor oktató rendszere, vagy az ELWE cég (Németország) EXPERIMENTAL PANELSYSTEM (TG 7.0 alapberendezés) oktató rendszere.Equipment for teaching electronic circuit elements and systems is known to have been designed to provide an educational layout that can be used for different topics. Examples of these systems are DEGEM (Israel) EB 2000 "Computer Training Laboratory", Feedback Instrument Ltd (United Kingdom) MICAMASTER Microprocessor Training System, or ELWE (Germany) EXPERIMENTAL PANELSYSTEM (TG 7.0 Basic) Training System.
Oktatási célú eszközt ismertet az US 4 316 720 lajstromszámú szabadalmi leírás is, amelyben egy elektronikus rendszernek és javításának, karbantartásának oktatásához szükséges a hibátlan rendszer, a hibakeresés érdekében a beépített hibákat tartalmazó másik rendszer és egy vezérlő számítógép a célprogramjával is. A fenti oktató rendszerekben minden egyes elektronikai rendszer vagy más szóval alkalmazás bemutatásához szükséges az alaprendszerhez csatlakoztatandó egyedi megvalósítású elektronikus áramkör. Az ismert rendszereknél az oktatás tárgyát képező elektronikus áramkört egyedileg kell megvalósítani, beleértve a hardvert, a szoftvert és az oktatási módszertant is. Ez nem csak költséges, de a gyorsuló fejlődésben egyre nehezebben elviselhető időkésést okoz.An educational device is also disclosed in U.S. Patent No. 4,316,720, which teaches an electronic system and its repair and maintenance with a fault-free system, another system with built-in bugs for debugging, and a control computer with its target program. In the above training systems, each electronic system or, in other words, application, requires a customized electronic circuit to be connected to the base system. In the case of known systems, the electronic circuit to be taught must be implemented individually, including hardware, software and teaching methodology. Not only is this costly, but it also causes time delays that are becoming increasingly difficult to bear with accelerating development.
Találmányunk elé azt a célt tüztük ki, hogy olyan eljárást, tesztelő áramkört és berendezést hozzunk létre, mely sokoldalúan, több - például néhányszor tíz - elektronikus áramkör oktatására alkalmas a külső csatlakoztatott alkatrészekkel kiegészített változatlan alaphardverrel és a felhasználó határozza meg ezen áramkörök adatait, melyeket teljeskörűen lehet tesztelni. Példaként megemlíthetjük az SSI, MSI, TTL integrált áramkörök, az autóriasztó, az elmozdulásérzékelő és -kiértékelő áramkörök, a soros/párhuzamos átalakítók, vagyis digitális rendszerek és áramköri elemek megvalósítását és azok lehetséges hibáinak a keresését.The object of the present invention is to provide a method, test circuit and apparatus capable of training multiple electronic circuits, such as several times ten, with unchanged basic hardware with external connected components, and the user defines the data of these circuits, can be tested. Examples include the implementation of SSI, MSI, TTL integrated circuits, car alarms, motion detecting and evaluating circuits, serial / parallel converters, i.e. digital systems and circuit elements, and troubleshooting.
A kitűzött célt olyan oktatási célú áramkörhöz hasz20 nálható eljárás kidolgozásával értük el, melynek során oktatandó áramkörök közül adaptív módon is kiválaszthatjuk a kívánt alkalmazást képező áramkört. A találmány szerinti eljárás lényege, hogy az egyértelmű kiválasztást és az áramkör működőképességét feszültségge25 nerátorral és digitális komparátorral összekötött külső csatlakoztatott alkatrészek eltérő impedanciájának megkülönböztetésével valósítjuk meg oly módon, hogy minden külső csatlakoztatott alkatrészen egy négy időegységre tagolt mérési sorozatot végzünk el:The object has been achieved by providing a method for use in an educational circuit, wherein the circuitry to be taught can be adaptively selected from the circuit to be taught. The essence of the method according to the invention is that the clear selection and the functionality of the circuit is achieved by discriminating the different impedances of the external connected components connected to a voltage generator and a digital comparator by performing a series of measurements on each external connected component:
- az első ciklusban logikai „0” szintet,- a logical "0" level in the first cycle,
- a második ciklusban nagy impedanciát, éshigh impedance in the second cycle, and
- a harmadik ciklusban logikai „1” szintet kapcsolunk,- in the third cycle, switch to logical level 1,
- a negyedik ciklusban pedig ismét nagy impedanciát kapcsolunk a külső csatlakoztatott alkatrészekre; a külső feszültségkényszer nélküli állapotokban az impedanciára jellemző időállandójú változást a digitális komparátorral figyeljük és a digitális komparátor átbillenését 1 :n osztás módusú kiértékelő bináris számlálóval időkvantáljuk, ezzel meghatározzuk a külső csatlakoztatott alkatrészre jellemző mintavételezési értéket, és maximálisan 2n'2 darab különböző típusú külső csatlakoztatott alkatrészt különböztetünk meg.- in the fourth cycle, high impedance is again applied to the external connected components; conditions without external tension force characteristic of the impedance time constant change in watching the digital comparator and a digital comparator tilting 1: időkvantáljuk n division mode evaluating binary counter, thereby determining sampling value characteristic of the external connected component, and a maximum of 2 N '2 different type connected externally component.
Előnyös, ha az oktató áramköröket programtárolóban képezzük le és egy felhasználó által specifikált programozható kapuáramkört alkalmazunk.Advantageously, the training circuits are mapped to a program store and a user-defined programmable gate circuit is used.
A kitűzött célt továbbá olyan, oktatási célú áramkörökhöz használható tesztelő áramkör kialakításával értük el, mely egy vezérlő bináris számlálót, azzal összekötött kiértékelő bináris számlálót és digitális komparátort tartalmaz, ahol a vezérlő bináris számláló legkisebb helyiértékű kimenete a kiértékelő bináris számláló órajel bemenetére van kapcsolva, melynek kimenete egy mintavételezési értékbusz, amely a digitális komparátor egyik bemenetére kapcsolódik, a vezérlő bináris számláló egy másik kimenete az állapotjelző vezeték, és további kimenetei a tesztelendő alkatrészek buszára vannak csatlakoztatva, amely célszerűen kimeneti függvényegységre és bemeneti függvényegységre kapcsolódik, mely utóbbinak kimenete - a tesztelendő alkatrészek buszaThe object is further achieved by providing a test circuit for educational circuits comprising a control binary counter, an associated evaluation binary counter and a digital comparator, wherein the smallest local output of the control binary counter is connected to the clock input of the evaluation binary counter, its output is a sampling value bus which is connected to one of the inputs of the digital comparator, another output of the control binary counter is the status wire, and its other outputs are connected to a component bus to be tested, preferably to an output function unit and input function unit bus
HU 213 823 Β egyik vezetékeként — a kiértékelő bináris számláló engedélyező bemenetére van kapcsolva a digitális komparátor másik bemenete tesztelő programbusszal, kimenete teszt indít/elfogad vezetékkel van összekötve; a kimeneti függvény egység kimenete bemenetek buszán, és a bemeneti fuggvényegység bemenete kimenetek buszán keresztül a bemeneti/kimeneti mátrixpontjaira kapcsolódnak, amely különböző impedanciájú külső csatlakoztatott alkatrészek számára be/kimenetekkel rendelkezik.21 as one of the wires - the other input of the digital comparator is connected to the enable input of the evaluator binary counter by a test program bus, the output of which is connected to a test start / receive wire; the output of the output function unit is connected to the input / output matrix points of the input function output bus, and the input of the input function unit to the input / output matrix points, which have inputs / outputs for external connected components with different impedances.
Végül a kitűzött célt olyan oktatási célú áramkörökhöz használható, adaptív működésre is alkalmas berendezés kifejlesztésével értük el, amely programtárolót, ahhoz kapcsolódó vezérlőegységet és tesztelő áramkört, az utóbbival összekötött rendszerillesztö egységet, kijelzőt és hangkeltőt tartalmaz. A találmány szerinti berendezés lényege, hogy az oktatási célú áramkörök, ún. alkalmazások leképzését a programtároló tartalmazza, a vezérlőegységhez kimeneti fuggvényegységen és bemeneti függvényegységen keresztül bemeneti/kimeneti mátrix van csatlakoztatva, és ez utóbbira van helyezve egy alkalmazásválasztó lap.Finally, the object has been achieved by developing an adaptive operation apparatus for educational circuits comprising a program store, a related control unit and a test circuit, a system interface unit connected to the latter, a display and a sound generator. The essence of the device according to the invention is that educational circuits, so called the mapping of applications is contained in the program store, an input / output matrix is connected to the control unit via an output function unit and an input function unit, and an application selection tab is placed on the latter.
A berendezés tesztelő áramköre és valamennyi funkciója ismert eszközökkel, például számítógép-vezérelt impedanciamérővel is megvalósítható.The test circuit of the device and all its functions can also be implemented by known means, such as a computer-controlled impedance meter.
A berendezés az alkalmazásválasztó lap és a maszk információ segítségével egy és csakis egy alkalmazás adaptív felismerését teszi lehetővé. Az alkalmazásválasztó lap és a maszk információ célszerűen az oktatandó, vagyis a megvalósítandó elektronikus áramkör ábráját mutatja, továbbá segíti a külső csatlakoztatott alkatrészek helyes elrendezését és behelyezését a bemeneti/kimeneti mátrixba. A felhasználó így a berendezés változatlan alaphardverével, a külső csatlakoztatott alkatrészek célszerű elrendezéseivel, valamint a programtárolóval és a programozható kapuáramkörökkel több eltérő alkalmazást valósíthat meg.The device allows adaptive recognition of one and only one application using the application selection page and mask information. The application selection sheet and the mask information preferably show a diagram of the electronic circuit to be taught, i.e. to be implemented, and assist in the correct arrangement and placement of the external connected components in the input / output matrix. Thus, the user can implement a variety of applications with the same basic hardware of the equipment, expedient layouts of external connected components, as well as program memory and programmable gate circuits.
A találmány szerinti berendezés egy előnyös kiviteli változatánál a vezérlőegységhez analóg illesztőegység van csatlakoztatva, melynek analóg feszültségbemenete és analóg feszültségkimenete van. Ezen analóg illesztőegység segítségével digitalizált feszültség digitálisan kiértékelhető, illetve digitális jelsorozatból analóg feszültséget generálhatunk, vagyis a berendezés képessé tehető analóg jellegű folyamatszabályozásra, jelfeldolgozásra is.In a preferred embodiment of the apparatus according to the invention, an analog interface unit having an analog voltage input and an analog voltage output is connected to the control unit. With the help of this analog interface unit, the digitized voltage can be digitally evaluated, or analog voltage can be generated from a digital signal sequence, that is, the device can be enabled for analog process control and signal processing.
A találmány szerinti eljárást, tesztelő áramkört és berendezést az alábbiakban kiviteli példa kapcsán, rajz alapján ismertetjük részletesebben. A rajzon az 1. ábrán a találmány szerinti kapcsolási elrendezés részletes rajza; a 2. ábrán a találmány szerinti oktatási célú áramkörhöz használható berendezés villamos kapcsolási tömbvázlata; és végül a 3. ábrán a találmány szerinti berendezés egy lehetséges alkalmazása látható.The process, test circuit and apparatus of the present invention will be described in more detail below with reference to an exemplary embodiment. 1 is a detailed view of a circuit arrangement according to the invention; Figure 2 is a schematic block diagram of an electrical circuit for use in an educational circuit according to the present invention; and finally, Figure 3 illustrates a possible application of the device according to the invention.
Az 1. ábrán a találmány szerinti oktatási célú áramkörhöz használható (2) tesztelő áramkör látható a találmány szerinti külső csatlakoztatott alkatrészeket illesztő-egységekkel. A 2 tesztelő áramkör egy 14 vezérlő bináris számlálót, azzal összekötött 15 kiértékelő bináris számlálót és 16 digitális komparátort tartalmaz. A 14 vezérlő bináris számláló legkisebb helyiértékü T(l) kimenete a 15 kiértékelő bináris számláló Ck órajel bemenetére van kapcsolva, melynek kimenete egy SM mintavételezési értékbusz, amely a 16 digitális komparátor B bemenetére kapcsolódik. A 14 vezérlő bináris számláló T(m+1) kimenete az N következő-alkalmazás-kérelem vezeték, T(k+1) kimenete az S állapotjelző vezeték és T(n+1),..., T(m) kimenetei a Ti tesztelendő alkatrészek busza, amely a 7 kimeneti fuggvényegységre és a 8 bemeneti fuggvényegységre kapcsolódik, mely utóbbinak kimenete - a Ti tesztelendő alkatrészek busza egyik vezetékeként - kiértékelő bináris számláló CE engedélyező bemenetére van kapcsolva. A 16 digitális komporátor A bemenete a Pit tesztelőprogram busszal, A=B kimenete a T tesztet indít/elfogad jelvezetékkel van összekötve. A 7 kimeneti fuggvényegység kimenete képezi az Oi kimenetek buszát és a 8 bemeneti függvényegység bemenete pedig az fi bemenetek buszát, melyek a 9 bemeneti/kimeneti mátrix pontjaira kapcsolódnak, amelyre különböző impedanciájú Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészeket kapcsolunk, a 10 alkalmazás választó lap segítségével.Figure 1 shows a test circuit (2) for use in the educational circuitry of the present invention with external connected component interface units according to the invention. The test circuit 2 comprises a control binary counter 14, an evaluation binary counter 15 connected thereto, and a digital comparator 16. The smallest local output T (1) of the control binary counter 14 is coupled to the clock input Ck of the evaluation binary counter 15, the output of which is a sampling value bus SM connected to the input B of the digital comparator 16. The output T (m + 1) of the controller binary counter 14 is the next-application request line N, the output T (k + 1) of the status line S and the outputs T (n + 1), ..., T (m) The test bus for components Ti, which is connected to the output function unit 7 and the input function unit 8, the output of which is connected to the CE enable input of the evaluating binary counter as one of the wires of the Ti component to be tested bus. Input A of digital 16 is connected to the Pit test program bus, output A = B is connected to T test start / receive signal line. The output of the output function unit 7 is the bus of the outputs Oi and the input of the input function unit 8 is the bus of the inputs fi connected to the points of the input / output matrix 9 to which different impedances Z (l), ..., Z (i). .., Z (p) externally connected components by means of the application selection tab 10.
Az 1. ábra szerinti tesztelő áramkör a következőképpen működik:The test circuit of FIG. 1 operates as follows:
A 14 vezérlő bináris számláló CE engedélyező bemenetére kapcsolt T tesztet indít/elfogad jelvezetéken keresztül érkező bemenőjel hatására a Ck órajel bemenetére kapcsolt Clk órajel ütemében a legkisebb helyiértékű T(l) kimenetén kiadott jelsorozatával addig lépteti a 15 kiértékelő bináris számlálót, ameddig a 14 vezérlő bináris számláló T(n+1),..., T(m) kimenetei által a 7 kimeneti függvényegységen keresztül kiválasztott Z( f),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek impedanciájára jellemző valamennyi mintavételezési értéket megmérte a 15 kiértékelő bináris számláló a 8 bemeneti függvényegységen, mint feszültségkomparátoron keresztül. A Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészre jellemző mintavételezési érték a 15 kiértékelő bináris számláló kimenetéről mint mért érték az SM mintavételezési értékbuszon keresztül a 16 digitális komparátor B bemenetére kapcsolódik, amelynek A bemenetére a Pit tesztelőprogrambuszon keresztül az alkalmazás mátrixpontjainak kívánt mintavételezési értékét kapcsoljuk. Ha a mért és kívánt mintavételezési érték valamennyi mátrixponton egyenlő, akkor a 16 digitális komparátor a T tesztet indít/elfogad jelvezetéken megjelenő kimenőjével a tesztelés eredményességét nyugtázza. Az eredményes teszt hatására a T tesztet indít/elfogad jelvezetéken megjelenő kimenőjel felhasználható az alkalmazás adaptív elindítására. Ha a 14 vezérlő bináris számláló legnagyobb helyiértékű T(k+1) kimenetén az S állapotjelző vezetéken lévő jel logikai „1” szintbe billen, akkor ez azt jelenti, hogy nem volt adaptív módon elindítható alkalmazás, vagyis a mért és kívánt mintavételezési értékek egyenlősége egyetlen alkalmazásnál sem teljesült.The control binary counter 14 initiates a T test connected to the CE enable input of the control input / receives the input signal received via the signal line at the rate of the lowest local value output T (l) of the clock input Clk at the input of the clock signal Ck. for the impedance of external connected components Z (f), ..., Z (i), ..., Z (p) selected by the outputs T (n + 1), ..., T (m) of the counter Typically, all sampling values are measured by the evaluating binary counter 15 via the input function unit 8 as a voltage comparator. The sampling value of the external connected component Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) is output from the output of the evaluation binary counter 15 as a measured value via the SM sampling value bus to input B of digital comparator 16, whose A input is coupled via the Pit test program bus to the desired sampling value of the application matrix points. If the measured and desired sampling value is the same at all matrix points, then digital comparator 16, with its T test start / receive signal line output, confirms the test performance. As a result of the successful test, the output of the T test initiating / accepting signal line can be used to adaptively launch the application. If the signal on the status signal line S at the highest local value T (k + 1) output of the controller binary counter 14 is tilted to a logical level of "1", this means that there was no adaptively triggered application, i.e. application.
A Clk órajel periódusidejének és a 14 vezérlő bináris számláló T(n) kimenet osztásmódusának szorzata meghatározza a Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészeken mérhető maximális időállandót, továbbá T(n) kimenet n számossága egyrészt meghatározza az impedanciamérés feloldását, másrészt maximálisan 2n’2 The product of the time period of the clock Clk times the dividing mode T (n) of the control binary counter 14 determines the maximum time constant for the external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) and T (n) the cardinality of output n determines, on the one hand, the resolution of the impedance measurement and, on the other, a maximum of 2 n ' 2
HU 213 823 Β féle impedanciát tesz megkülönböztethetővé. A 9 bemeneti/kimeneti mátrixpontjainak számát a 14 vezérlő bináris számláló T(m) és T(n+1) kimenetének számossága határozza meg, továbbá a 2 tesztelő áramkörrel ellenőrizhető alkalmazások maximális számát a 14 vezérlő bináris számláló T(k) és T(m+1) kimenetének számossága határozza meg.EN 213 823 Β impedance can be distinguished. The number of matrix points of the input / output 9 is determined by the cardinality of the outputs T (m) and T (n + 1) of the controller binary counter 14 and the maximum number of applications that can be controlled by the test circuit 2 +1) determines the cardinality of its output.
A 2. ábra szerint a találmány szerinti oktatási célú áramkörökhöz használható berendezés 1 programtárolót, ahhoz kapcsolódó 2 tesztelő áramkört, azzal összekötött 3 vezérlőegységet, 6 rendszerillesztő egységet, 5 órajel-generátort, továbbá a 2 tesztelő áramkörrel és a 3 vezérlőegységgel összekötött 4 időzítő egységet, a 6 rendszerillesztő egységgel összekötött 11 kijelzőt és 12 hangkeltőt, a 3 vezérlőegységgel összekötött 13 analóg illesztőegységet, 7 kimeneti fuggvényegységet és 8 bemeneti fiiggvényegységet, valamint e két utóbbival összekötött 9 bemeneti/kimeneti mátrixot tartalmaz, amelyre 10 alkalmazásválasztó lap helyezhető. Ez utóbbi egy olyan lap, amely lehetővé teszi a külső csatlakoztatott alkatrészek csatlakoztatását a 9 bemeneti/kimeneti mátrixba.Referring to Figure 2, the apparatus for use in the educational circuits of the present invention includes a program store 1, a test circuit 2 associated therewith, a control unit 3 connected thereto, a system interface unit 6, a clock generator 5 and a timing unit 4 connected to the test circuit 2 and the control unit a display interface 11 connected to the system interface unit 6 and a sound generator 12, an analog interface unit 13 connected to the control unit 3, an output function unit 7 and an input function unit 8, and an input / output matrix 9 connected thereto. The latter is a tab that allows external connected components to be connected to the 9 input / output matrix.
A 2. ábrán a 2 tesztelő áramkört, 3 vezérlőegységet, 4 időzítőegységet, 5 órajel generátort, 6 rendszerillesztő egységet, 7 kimeneti függvényegységet és 8 bemeneti fuggvényegységet egy egységként tüntettük fel, mert ezen egységeket egyetlen FPGA felhasználó által specifikált programozható áramkörben célszerű megvalósítani. E célra megfelelő például a XILINX (USA) XC 3000-es sorozatának bármelyik eleme.In Figure 2, the test circuit 2, the control unit 3, the timer unit 4, the clock generator 5, the system interface unit 6, the output function unit 7 and the input function unit 8 are shown as one unit, these units being conveniently implemented in a single FPGA user-defined programmable circuit. For example, any element of the XILINX (USA) XC 3000 series is suitable for this purpose.
A 2. ábra szerinti berendezés a következőképpen működik:The apparatus of Figure 2 operates as follows:
A 3 vezérlőegység R törlőjel bemenetének vezérlése után Ai címzés buszon keresztül megcímezi az 1 programtárolót, és ezzel kezdeményezi az alkalmazásnak megfelelő program betöltését az 1 programtárolóból Pit tesztelőprogrambuszon keresztül a 2 tesztelő áramkörbe, illetve Piv vezérlőprogrambuszon keresztül a 3 vezérlőegységbe. Ezt követően az 5 órajel-generátor által, annak Clk órajelvezetékén, a 4 időzítőegység L léptetés jelvezetékén és a 3 vezérlőegység kimenetét képező ST időzítőegység-állapot vezérlőbusz által meghatározott ütemezésben a 2 tesztelő áramkör ellenőrzi a rendszer és az alkalmazás működőképességét. A rendszer működőképességének ellenőrzésekor a 3 vezérlőegységet ellenőrizzük, SF fuggvényegységbuszon át a 7 kimeneti fiiggvényegységen, mint demultiplexeren, és a 8 bemeneti fíiggvényegységen, mint multiplexeren keresztül. Az alkalmazás működőképességét a 10 alkalmazásválasztó lap által hordozott M maszk információval meghatározott és a 9 bemeneti/kimeneti mátrixban elhelyezett Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek eltérő impedanciája alapján ellenőrizzük úgy, hogy a 2 tesztelő áramkör összehasonlítja a Ti tesztelendő alkatrészek buszán keresztül megcímzett 9 bemeneti/kimeneti mátrix pontjain a Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek impedanciájára jellemző SM mintavételezési értékbusz tartalmát, mint mért adatot a Pit tesztelőprogrambuszon levő kívánt értékkel. Ha a mérés során az SM mintavételezési értékbuszon és a Pit tesztelőprogrambuszon az alkalmazást egyértelműen azonosító valamennyi számpár megegyezik, akkor ezt a 2 tesztelő áramkör a T tesztet indít/elfogad jelvezetéken keresztül közli a 3 vezérlőegységgel. Az alkalmazás működőképességekor a 3 vezérlőegység elindítja az alkalmazást és a 2 tesztelő áramkör S állapotjelző vezetékén, a 6 rendszerillesztő egységen, Ki kijelző buszon és a 11 kijelzőn keresztül informálja erről a kezelő személyt. Hiba esetén a 3 vezérlőegység az alkalmazást nem indítja el, és a 2 tesztelőegység a 6 rendszerillesztő egységen keresztül a 11 kijelzőre és H hangkeltés jel vezetéken keresztül a 12 hangkeltőre.After controlling the wipe signal input R of the control unit 3, the addressing address Ai addresses the program store 1 via bus, thereby initiating loading of the program according to the application from the program store 1 via the pilot test bus 2 to the test circuit 2 and Piv control program bus 3. Thereafter, the test circuit 2 checks the functionality of the system and the application in a schedule determined by the clock generator 5, its clock line Clk, the clock line L of the timer unit 4 and the timer unit status bus ST which outputs the control unit 3. When checking the functionality of the system, the control unit 3 is checked by means of the SF function bus through the output function unit 7 as a demultiplexer and the input function unit 8 as a multiplexer. Application functionality is verified by the differential impedance of external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) determined by mask information M carried by application selection board 10 and contained in the input / output matrix 9 so that the test circuit 2 compares the SM impedance of the external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) at the points of the input / output matrix 9 addressed through the bus of components to be tested Ti content of the sampling value bus as measured data with the desired value on the Pit test program bus. If all pairs of numbers clearly identifying the application on the SM sampling value bus and the Pit test program bus during the measurement are identical, then this test circuit 2 communicates with the control unit 3 via a T test start / receive signal line. When the application is operational, the control unit 3 starts the application and informs the operator via the status signal line S of the test circuit 2, the system interface unit 6, the Off display bus and the display 11. In case of an error, the control unit 3 does not start the application, and the test unit 2 through the system interface unit 6 to the display 11 and through the sound generation signal line H to the sound generator 12.
A berendezés adaptív üzemmódú működtetésekor az aktuális alkalmazást a 10 alkalmazás választó lap szerinti Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek alapján választjuk ki. Az adaptív működtetéskor ha az első alkalmazást - előző bekezdésben leírt - ellenőrzés után nem indítja a 2 tesztelő áramkör, akkor N következő-alkalmazás-kérelem vezetéken keresztül elindítja a második alkalmazás vizsgálatát. Ezen eljárást addig folytatja, amíg vagy meg nem találja a 10 alkalmazásválasztó lap által meghatározott áramkört, vagy az 1 programtárolóban levő utolsó alkalmazást sem indította el. Ha az alkalmazás megfelelő, akkor a 2 tesztelő áramkör - előző bekezdésében leírtak szerint - elindítja azt, és a 6 rendszerillesztő egységen és a 11 kijelzőn keresztül informálja erről a kezelő személyt. Ha az utolsó alkalmazást is ellenőrizte és nem indította el, akkor ez vagy a 2(1),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek valamelyikének hibájára utal, vagy egy, az 1 programtárolóban nem megtalálható alkalmazást jelent. Ekkor az adaptív működtetés nem lehetséges, ezért a 2 tesztelő áramkör a 6 rendszerillesztő egységen keresztül a hibaüzenetet küld a 11 kijelzőre és a 12 hangkeltőre. Az adaptív működtetés helyett, ha - például a Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek valamelyikének hibája miatt - egy, az 1 programtárolóban megtalálható alkalmazást kívánunk indítani, akkor ezt egy alkalmazásazonosító sorszámnak megfelelő számú impulzussorozat bevitelével megtehetjük. Az alkalmazásazonosító sorszámot a 3 vezérlőegységbe például egy nyomógomb segítségével a 9 bemeneti/kimeneti mátrixon és a 8 bemeneti fíiggvényegységen keresztül adhatjuk be.When the unit is operated in adaptive mode, the current application is selected based on the external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) of the application selection sheet 10. In adaptive operation, if the first application, as described in the preceding paragraph, is not triggered by the test circuit 2 after verification, then the N next-application request wire will initiate the second application test. It continues this process until it either finds the circuit defined by the application selection board 10 or starts the last application in the program store 1. If the application is correct, the test circuit 2, as described in the preceding paragraph, starts it and informs the operator via the system interface unit 6 and the display 11. If you checked the last application and did not start it, this indicates either an error in one of the external connected components 2 (1), ..., Z (i), ..., Z (p) or in a program store 1 means no application found. In this case, adaptive actuation is not possible, so the test circuit 2 sends an error message via the system interface unit 6 to the display 11 and the sound generator 12. Instead of adaptive operation, if, for example, due to an error in one of the external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p), we want to run an application in the program store 1, this can be done by entering a number of pulse sequences corresponding to an application ID sequence number. The application identification number can be entered into the control unit 3 via, for example, a push-button via the input / output matrix 9 and the input function unit 8.
A 13 analóg illesztőegység egy lehetséges kialakításában 8 bites analóg/digitális és 8 bites digitális/analóg átalakító. Ezen 13 analóg illesztőegység analóg/digitális átalakítójának Iái analóg bemenetére kapcsolt feszültséget digitalizáljuk, digitálisan kiértékelhetővé alakítjuk. A 13 analóg illesztőegység digitális/analóg átalakítója arra alkalmas, hogy a berendezés digitális adatait átalakítva az Oai analóg kimenetére kapcsolja, ami alkalmas például analóg jellegű folyamatszabályozásra.In one embodiment, the analog interface unit 13 is an 8-bit analog / digital and 8-bit digital / analog converter. The voltage applied to the analogue input of the analog / digital converter of these analog interface units 13 is digitized and digitally evaluated. The digital / analog converter of the analog interface unit 13 is capable of converting the digital data of the device to the analog output of Oai, for example suitable for analog process control.
Végezetül a 3. ábra szerinti autóriasztó megvalósításának ismertetésével bemutatunk egy lehetséges példát a találmány alkalmazására. A 10 alkalmazásválasztó lapot a 9 bemeneti/kimeneti mátrixra helyezve az M maszk információ egyrészt tartalmazza az adott alkalmazás működtetésének megkönnyítését szolgáló ábrát, másrészt azoknak a Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatottFinally, a possible exemplary embodiment of the present invention will be described by illustrating the embodiment of the car alarm of Figure 3. By placing the application selection sheet 10 on the input / output matrix 9, the mask information M contains, on the one hand, a diagram to facilitate the operation of the application and, on the other hand, their Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) external connected
HU 213 823 Β alkatrészeknek az ábráját, amelyek alapján az adott alkalmazást a 2 tesztelő áramkör segítségével a berendezés adaptív módon felismerheti. A Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek lehetnek például olyan kétpólusok, amelyek típusukra j ellemző R, L, C, elemekkel meghatározott időállandóval rendelkeznek. Az M maszk információ jelen esetben egy személygépkocsi felülnézeti körvonalrajzát mutatja a Z(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek típusára, csatlakoztatási helyére és polaritására vonatkozó információkkal együtt. Az M maszk információnak megfelelően elrendezett Z( 1),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek csatlakoztatása után az R törlőjel bemenetre adott jel hatására a 3 vezérlőegység az 1 programtárolóban levő első alkalmazást betölti a 2 tesztelő áramkörbe. A 2 tesztelő áramkör a 9 bemeneti/kimeneti mátrix valamennyi pontját a találmány szerinti eljárás alapján úgy teszteli, hogy aZ(l),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek mindegyikén egy négy időegységre tagolt mérési sorozatot végez el:EN 213 823 Β components, which allow the device to adaptively identify a given application using the test circuit 2. For example, the external connected parts Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) may be bipolar having a time constant defined by elements R, L, C, of the type j. The mask information M in this case shows a top view outline drawing of a passenger car, together with information about the type, position and polarity of the exterior connected parts Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p). After connecting external connected components Z (1), ..., Z (i), ..., Z (p) arranged according to the mask information M, the control unit 3 loads the first application in the program memory 1 as a result of the signal given to the erase signal input R to the 2 test circuits. The test circuit 2 tests each point of the input / output matrix 9 according to the method of the present invention such that each of the external connected components Z (l), ..., Z (i), ..., Z (p) has four time units. performs a series of delimited measurements:
- az első ciklusban logikai „0” szintet,- a logical "0" level in the first cycle,
- a második ciklusban nagy impedanciát éshigh impedance in the second cycle, and
- a harmadik ciklusban logikai „1” szintet kapcsol,- switches to logical level 1 in the third cycle,
- a negyedik ciklusban pedig ismét nagy impedanciát kapcsol a Z(1),..., Z(i),..., Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészekre. A külső feszültségkényszer nélküli állapotokban az impedanciára jellemző időállandót a 15 kiértékelő bináris számlálóval meghatározzuk és a 16 digitális komparátorral az SM mintavételezési értékbusz tartalmát mint mért értéket a Pit tesztelőprogrambuszon levő és az adott alkalmazás, adott mátrixpontján elvárt értékkel hasonlítjuk össze. Ha a tesztelés során a 9 bemeneti/kimeneti mátrix valamennyi pontján a mért érték és az elvárt érték megegyezik, akkor a berendezés az adott alkalmazást adaptív módon felismerte és - a 2. ábra működésénél leírtak szerint - a T tesztet indít/elfogad jelvezetékeken levő jel hatására a 3 vezérlőegység működtetésével a berendezést autóriasztóként kezdi működtetni. Az autóriasztót a Z(l) külső csatlakoztatott alkatrésznek - egy nyomógombnak - megnyomásával élesíthetjük vagy altathatjuk. A Z(i) külső csatlakoztatott alkatrész, a személygépkocsi másik három irányjelzőjével együtt, - sárga színű LED-ek jelzésével - az élesítést, riasztást és altatást jelzi, miközben a 12 hangkeltő is figyelemfelhívó hangjelzést adhat. Az M maszk információn látható további, például a Z(p) külső csatlakoztatott alkatrészek is a személygépkocsi nyílászáróinak, a mozgásérzékelőjének megvalósítására szolgálnak, valamint az oktatási céloknak megfelelő léptetett üzemmódot vagy hibás működés beállítását teszik lehetővé.- in the fourth cycle, it again switches high impedance to the external connected parts Z (1), ..., Z (i), ..., Z (p). The impedance time constant in external non-volatile states is determined by the evaluating binary counter 15 and the digital sampler 16 is compared with the content of the SM sampling bus as measured value on the Pit test program bus and expected at a given matrix point of the application. If the measured value and the expected value are the same at all points in the input / output matrix during testing, the application is adaptively recognized and triggered / accepted by the signal on the signal lines as described in Figure 2. by actuating the control unit 3, it starts to operate the system as a car alarm. You can arm or disarm the car alarm by pressing the external connected part Z (l) - a push button. The external connected component Z (i), together with the other three passenger car direction indicators, indicates, with yellow LEDs, arming, alarm, and anesthetic, while the buzzer 12 can also sound an alarm. Other connected components shown in the M mask information, such as the exterior Z (p), are used to implement the car doors, motion detector, and allow for step-by-step or malfunction adjustment for educational purposes.
SZABADLMI IGÉNYPONTOKLIBRARY CLAIMS
Claims (5)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| HU9301863A HU213823B (en) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | Method, test circuit and apparatus for teaching purpose |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| HU9301863A HU213823B (en) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | Method, test circuit and apparatus for teaching purpose |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| HU9301863D0 HU9301863D0 (en) | 1993-10-28 |
| HUT68425A HUT68425A (en) | 1995-06-28 |
| HU213823B true HU213823B (en) | 1997-10-28 |
Family
ID=10983735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| HU9301863A HU213823B (en) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | Method, test circuit and apparatus for teaching purpose |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| HU (1) | HU213823B (en) |
-
1993
- 1993-06-25 HU HU9301863A patent/HU213823B/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| HU9301863D0 (en) | 1993-10-28 |
| HUT68425A (en) | 1995-06-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6154715A (en) | Integrated circuit tester with real time branching | |
| US5285152A (en) | Apparatus and methods for testing circuit board interconnect integrity | |
| US4102491A (en) | Variable function digital word generating, receiving and monitoring device | |
| JP4828700B2 (en) | Integrated multichannel analog test equipment architecture. | |
| GB2209224A (en) | Fault diagnosis in circuits | |
| CN106257854B (en) | Single-side nibble transmission error generator | |
| GB2194348A (en) | Multimeters | |
| US3826909A (en) | Dynamic comparison tester for go-no-go testing of digital circuit packages in normal environment | |
| US20070022346A1 (en) | Test apparatus and test method | |
| EP1763678B1 (en) | Evaluation of an output signal of a device under test | |
| HU213823B (en) | Method, test circuit and apparatus for teaching purpose | |
| EP0714170B1 (en) | Analog-to-digital converter with writable result register | |
| US6052807A (en) | Multiple probe test equipment with channel identification | |
| US5130648A (en) | Instrument for checking the operational state of an ic-circuit | |
| JPH0513583B2 (en) | ||
| WO1986003303A1 (en) | Fail-safe apparatus and method for reading switches | |
| JP3210236B2 (en) | Pattern generator for IC test equipment | |
| JP3601680B2 (en) | IC tester | |
| GB2094009A (en) | Method and apparatus for displaying logic functions | |
| JP3101686B2 (en) | IC tester | |
| JP2606208Y2 (en) | Wire harness test equipment | |
| JPH1185251A (en) | Digital control device and input/output substrate testing device for the digital | |
| SU830405A1 (en) | Wiring testing device | |
| JPH06265594A (en) | Ic test equipment | |
| SU760103A1 (en) | Programmed monitoring device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| DGB9 | Succession in title of applicant |
Owner name: MIKROVOLT FEJLESZTOE ES KERESKEDELMI KFT., HU |
|
| HMM4 | Cancellation of final prot. due to non-payment of fee |