FR90148E - Perfectionnements apportés aux procédés et dispositifs pour la détermination des constantes des matériaux en haute fréquence - Google Patents

Perfectionnements apportés aux procédés et dispositifs pour la détermination des constantes des matériaux en haute fréquence

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G01R27/2635—Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells
    • G01R27/2647—Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells of coaxial or concentric type, e.g. with the sample in a coaxial line
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2623291A1 (fr) * 1987-11-17 1989-05-19 France Etat Dispositif de caracterisation electrique d'echantillons et application a la cartographie electrique d'echantillons semi-conducteurs de grande surface
FR2675258A1 (fr) * 1991-04-12 1992-10-16 Alsthom Cge Alcatel Dispositif de maintien d'echantillons de materiaux a tester sur la surface plane d'un plan support.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2623291A1 (fr) * 1987-11-17 1989-05-19 France Etat Dispositif de caracterisation electrique d'echantillons et application a la cartographie electrique d'echantillons semi-conducteurs de grande surface
FR2675258A1 (fr) * 1991-04-12 1992-10-16 Alsthom Cge Alcatel Dispositif de maintien d'echantillons de materiaux a tester sur la surface plane d'un plan support.

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