FR3123145A1 - Method of manufacturing an optoelectronic device - Google Patents

Method of manufacturing an optoelectronic device Download PDF

Info

Publication number
FR3123145A1
FR3123145A1 FR2111479A FR2111479A FR3123145A1 FR 3123145 A1 FR3123145 A1 FR 3123145A1 FR 2111479 A FR2111479 A FR 2111479A FR 2111479 A FR2111479 A FR 2111479A FR 3123145 A1 FR3123145 A1 FR 3123145A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
active
stack
leds
substrate
photosensitive diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
FR2111479A
Other languages
French (fr)
Inventor
François Templier
Sébastien Becker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA, Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Priority to EP22172226.7A priority Critical patent/EP4092739A1/en
Priority to US17/741,238 priority patent/US20220375912A1/en
Priority to CN202210528828.9A priority patent/CN115377083A/en
Publication of FR3123145A1 publication Critical patent/FR3123145A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • H01L25/167Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • H01L31/14Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the light source or sources being controlled by the semiconductor device sensitive to radiation, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices
    • H01L31/147Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the light source or sources being controlled by the semiconductor device sensitive to radiation, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices the light sources and the devices sensitive to radiation all being semiconductor devices characterised by at least one potential or surface barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0066Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0095Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system containing nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials

Abstract

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique La présente description concerne un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes : a) disposer un empilement actif de diode photosensible (103) sur un premier substrat ; b) reporter l'empilement actif de diode photosensible (103) sur un circuit intégré de contrôle (151) préalablement formé dans et sur un deuxième substrat semiconducteur, puis retirer le premier substrat ; c) disposer un empilement actif de LED (113) sur un troisième substrat ; et d) après les étapes b) et c), reporter l'empilement actif de LED (113) sur l'empilement actif de diode photosensible (103), puis retirer le troisième substrat (111). Figure pour l'abrégé : Fig. 1JProcess for manufacturing an optoelectronic device The present description relates to a process for manufacturing an optoelectronic device, comprising the following steps: a) placing an active stack of photosensitive diodes (103) on a first substrate; b) transferring the active photosensitive diode stack (103) onto an integrated control circuit (151) formed beforehand in and onto a second semiconductor substrate, then removing the first substrate; c) disposing an active stack of LEDs (113) on a third substrate; and d) after steps b) and c), transfer the active LED stack (113) onto the active photosensitive diode stack (103), then remove the third substrate (111). Figure for the abstract: Fig. 1D

Description

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectroniqueMethod of manufacturing an optoelectronic device

La présente description concerne de façon générale le domaine des dispositifs optoélectroniques, et vise plus particulièrement un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique.The present description generally relates to the field of optoelectronic devices, and more particularly aims at a method of manufacturing an optoelectronic device combining a light emission function and an optical capture function.

Diverses applications sont susceptibles de tirer profit d'un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique. Un tel dispositif peut par exemple être utilisé pour réaliser un écran d'affichage interactif.Various applications are likely to benefit from an optoelectronic device combining a light emission function and an optical capture function. Such a device can for example be used to produce an interactive display screen.

Un objet d'un mode de réalisation est de pallier tout ou partie des inconvénients des solutions connues pour réaliser un dispositif optoélectronique combinant une fonction d'émission lumineuse et une fonction de capture optique.An object of an embodiment is to overcome all or part of the drawbacks of known solutions for producing an optoelectronic device combining a light emission function and an optical capture function.

Un mode de réalisation prévoit un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes :
a) disposer un empilement actif de diode photosensible sur un premier substrat ;
b) reporter l'empilement actif de diode photosensible sur un circuit intégré de contrôle préalablement formé dans et sur un deuxième substrat semiconducteur, puis retirer le premier substrat ;
c) disposer un empilement actif de LED sur un troisième substrat ; et
d) après les étapes b) et c), reporter l'empilement actif de LED sur l'empilement actif de diode photosensible, puis retirer le troisième substrat.
One embodiment provides a method for manufacturing an optoelectronic device, comprising the following steps:
a) arranging an active photosensitive diode stack on a first substrate;
b) transferring the active photosensitive diode stack onto an integrated control circuit previously formed in and onto a second semiconductor substrate, then removing the first substrate;
c) arranging an active stack of LEDs on a third substrate; And
d) after steps b) and c), transfer the active stack of LEDs onto the active stack of photosensitive diodes, then remove the third substrate.

Selon un mode de réalisation, l'empilement actif de diode photosensible comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V, et l'empilement actif de LED comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V.According to one embodiment, the active stack of photosensitive diode comprises at least one inorganic semiconductor layer, for example made of a III-V material, and the active stack of LEDs comprises at least one inorganic semiconductor layer, for example made of a material III-V.

Selon un mode de réalisation, l'empilement actif de diode photosensible comprend des première, deuxième et troisième couches semiconductrices, la deuxième couche étant disposée entre les première et troisième couches.According to one embodiment, the active photosensitive diode stack comprises first, second and third semiconductor layers, the second layer being placed between the first and third layers.

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend une étape de dopage de type P de portions localisées de la première couche, lesdites portions définissant des régions d'anode de diodes photosensibles du dispositif.According to one embodiment, the method comprises a step of P-type doping of localized portions of the first layer, said portions defining anode regions of photosensitive diodes of the device.

Selon un mode de réalisation, l'étape de dopage de type P des portions localisées de la première couche est mise en oeuvre après l'étape b) et avant l'étape d).According to one embodiment, the step of P-type doping of the localized portions of the first layer is implemented after step b) and before step d).

Selon un mode de réalisation, l'étape de dopage de type P des portions localisées de la première couche est mise en oeuvre avant l'étape b).According to one embodiment, the step of P-type doping of the localized portions of the first layer is implemented before step b).

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre une étape de formation de métallisations de connexion sur et en contact avec lesdites portions localisées de la première couche.According to one embodiment, the method further comprises a step of forming connection metallizations on and in contact with said localized portions of the first layer.

Selon un mode de réalisation, à l'issue de l'étape b), l'empilement actif de diode photosensible s'étend de façon continue sur toute la surface du circuit intégré de contrôle.According to one embodiment, at the end of step b), the active photosensitive diode stack extends continuously over the entire surface of the integrated control circuit.

Selon un mode de réalisation, à l'issue de l'étape d), l'empilement actif de LED s'étend de façon continue sur toute la surface du circuit intégré de contrôle.According to one embodiment, at the end of step d), the active stack of LEDs extends continuously over the entire surface of the integrated control circuit.

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, après l'étape b) et avant l'étape d), une étape de formation de vias conducteurs traversant l'empilement actif de diode photosensible.According to one embodiment, the method further comprises, after step b) and before step d), a step of forming conductive vias passing through the active photosensitive diode stack.

Selon un mode de réalisation, les vias conducteurs sont connectés électriquement à des plots métalliques de connexion du circuit intégré.According to one embodiment, the conductive vias are electrically connected to metal connection pads of the integrated circuit.

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, après l'étape d), une étape de gravure localisée de l'empilement actif de LED de façon à former dans l'empilement actif de LED une pluralité de pavés définissant chacun une LED.According to one embodiment, the method further comprises, after step d), a step of localized etching of the active stack of LEDs so as to form in the active stack of LEDs a plurality of blocks each defining an LED .

Selon un mode de réalisation, le procédé comprend la formation d'éléments de conversion de couleur au-dessus d'au moins certaines des LED.According to one embodiment, the method includes forming color conversion elements above at least some of the LEDs.

Selon un mode de réalisation, au moins une des LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent adapté à convertir la lumière émise par la LED vers une longueur d'onde visible et au moins une autre des LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent adapté à convertir la lumière émise par la LED en un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.According to one embodiment, at least one of the LEDs is surmounted by a photoluminescent conversion element suitable for converting the light emitted by the LED to a visible wavelength and at least one other of the LEDs is surmounted by a photoluminescent conversion element. photoluminescent conversion suitable for converting the light emitted by the LED into light radiation in the sensitivity wavelength range of the active photosensitive diode stack, preferably infrared radiation.

Selon un mode de réalisation, au moins une des LED n'est pas surmontée par un élément de conversion photoluminescent.According to one embodiment, at least one of the LEDs is not surmounted by a photoluminescent conversion element.

Selon un mode de réalisation, les éléments de conversion photoluminescents sont réalisés à base de boîtes quantiques ou de matériaux pérovskites.According to one embodiment, the photoluminescent conversion elements are produced based on quantum dots or perovskite materials.

Selon un mode de réalisation, le procédé comporte, après l'étape d), une étape de fixation d'un substrat de support temporaire du côté de l'empilement actif de LED opposé au circuit intégré, suivie d'une étape de découpe de l'ensemble comportant le circuit intégré, l'empilement actif de diode photosensible et l'empilement actif de LED en une pluralité de puces élémentaires.According to one embodiment, the method comprises, after step d), a step of fixing a temporary support substrate on the side of the active stack of LEDs opposite the integrated circuit, followed by a step of cutting the assembly comprising the integrated circuit, the active photosensitive diode stack and the active LED stack in a plurality of elementary chips.

Selon un mode de réalisation, le procédé comporte en outre une étape de transfert et de fixation des puces élémentaires sur un substrat de report du dispositif, puis une étape de retrait du substrat de support temporaire.According to one embodiment, the method further comprises a step of transferring and fixing the elementary chips on a transfer substrate of the device, then a step of removing the temporary support substrate.

Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif optoélectronique comportant un substrat de report et une pluralité de puces élémentaires fixées et connectées électriquement au substrat de report, chaque puce élémentaire comportant un empilement comportant, dans l'ordre à partir de la face supérieure du substrat de report, un circuit intégré de contrôle formé dans et sur un substrat semiconducteur, un étage de photodétection comportant au moins une diode photosensible, et un étage d'émission comportant au moins une LED.Another embodiment provides an optoelectronic device comprising a transfer substrate and a plurality of elementary chips fixed and electrically connected to the transfer substrate, each elementary chip comprising a stack comprising, in order from the upper face of the substrate, transfer, an integrated control circuit formed in and on a semiconductor substrate, a photodetection stage comprising at least one photosensitive diode, and an emission stage comprising at least one LED.

Selon un mode de réalisation, dans chaque puce élémentaire, l'étage de photodétection est disposé entre le circuit intégré de contrôle et l'étage d'émission, et la diode photosensible a une couche semiconductrice d'anode disposée du côté de l'étage d'émission et une couche semiconductrice de cathode disposée du côté du circuit intégré de contrôle.According to one embodiment, in each elementary chip, the photodetection stage is arranged between the integrated control circuit and the emission stage, and the photosensitive diode has an anode semiconductor layer arranged on the side of the stage transmission and a cathode semiconductor layer disposed on the side of the control integrated circuit.

Un autre mode de réalisation prévoit un système comportant un dispositif optoélectronique réalisé par un procédé tel que défini ci-dessus, et une source lumineuse adaptée à émettre un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.Another embodiment provides a system comprising an optoelectronic device produced by a method as defined above, and a light source adapted to emit light radiation in the sensitivity wavelength range of the active diode stack photosensitive, preferably infrared radiation.

Selon un mode de réalisation, la source lumineuse est une source déportée.According to one embodiment, the light source is a remote source.

Selon un mode de réalisation, la source lumineuse est intégrée au dispositif optoélectronique et comprend au moins une LED formée dans l'empilement actif de LED.According to one embodiment, the light source is integrated into the optoelectronic device and comprises at least one LED formed in the active stack of LEDs.

Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes de réalisation particuliers faite à titre non limitatif en relation avec les figures jointes parmi lesquelles :These characteristics and advantages, as well as others, will be set out in detail in the following description of particular embodiments given on a non-limiting basis in relation to the attached figures, among which:

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

les figures 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F, 1G, 1H, 1I et 1J sont des vues en coupe illustrant des étapes successives d'un exemple d'un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;FIGS. 1A, 1B, 1C, 1D, 1E, 1F, 1G, 1H, 1I and 1J are cross-sectional views illustrating successive steps of an example of a method of manufacturing an optoelectronic device according to one embodiment ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

; ;

les figures 2A, 2B, 2C, 2D, 2E, 2F, et 2G sont des vues en coupe illustrant d'autres étapes successives d'un exemple d'un procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;FIGS. 2A, 2B, 2C, 2D, 2E, 2F, and 2G are sectional views illustrating other successive steps of an example of a method for manufacturing an optoelectronic device according to one embodiment;

la représente de façon schématique un exemple d'un système comprenant un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ;there schematically represents an example of a system comprising an optoelectronic device according to one embodiment;

la est une vue en coupe illustrant de façon schématique et partielle un autre exemple d'un dispositif optoélectronique selon un mode de réalisation ; etthere is a sectional view schematically and partially illustrating another example of an optoelectronic device according to one embodiment; And

la est une vue en coupe illustrant de façon schématique et partielle une variante de réalisation du dispositif de la .there is a sectional view schematically and partially illustrating an alternative embodiment of the device of the .

Claims (23)

Procédé de fabrication d'un dispositif optoélectronique, comportant les étapes suivantes :
a) disposer un empilement actif de diode photosensible (103) sur un premier substrat (101) ;
b) reporter l'empilement actif de diode photosensible (103) sur un circuit intégré de contrôle (151) préalablement formé dans et sur un deuxième substrat semiconducteur, puis retirer le premier substrat (101) ;
c) disposer un empilement actif de LED (113) sur un troisième substrat (111) ; et
d) après les étapes b) et c), reporter l'empilement actif de LED (113) sur l'empilement actif de diode photosensible (103), puis retirer le troisième substrat (111).
Method for manufacturing an optoelectronic device, comprising the following steps:
a) disposing an active photosensitive diode stack (103) on a first substrate (101);
b) transferring the active photosensitive diode stack (103) onto an integrated control circuit (151) formed beforehand in and onto a second semiconductor substrate, then removing the first substrate (101);
c) disposing an active stack of LEDs (113) on a third substrate (111); And
d) after steps b) and c), transfer the active LED stack (113) onto the active photosensitive diode stack (103), then remove the third substrate (111).
Procédé selon la revendication 1, dans lequel l'empilement actif de diode photosensible (103) comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V, et dans lequel l'empilement actif de LED (113) comprend au moins une couche semiconductrice inorganique, par exemple en un matériau III-V.Method according to claim 1, in which the active stack of photosensitive diodes (103) comprises at least one inorganic semiconductor layer, for example of a III-V material, and in which the active stack of LEDs (113) comprises at least an inorganic semiconductor layer, for example made of a III-V material. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel l'empilement actif de diode photosensible (103) comprend des première (103a), deuxième (103b) et troisième (103c) couches semiconductrices, la deuxième couche (103b) étant disposée entre les première (103a) et troisième (103c) couches.A method according to claim 1 or 2, wherein the active photosensitive diode stack (103) comprises first (103a), second (103b) and third (103c) semiconductor layers, the second layer (103b) being disposed between the first (103a) and third (103c) layers. Procédé selon la revendication 3, comprenant une étape de dopage de type P de portions localisées (125) de la première couche (103a), lesdites portions définissant des régions d'anode de diodes photosensibles (171) du dispositif.Method according to claim 3, comprising a step of p-type doping of localized portions (125) of the first layer (103a), said portions defining anode regions of photosensitive diodes (171) of the device. Procédé selon la revendication 4, dans lequel ladite étape de dopage de type P des portions localisées (125) de la première couche (103a) est mise en oeuvre après l'étape b) et avant l'étape d).Method according to claim 4, wherein said step of p-type doping of the localized portions (125) of the first layer (103a) is carried out after step b) and before step d). Procédé selon la revendication 4, dans lequel ladite étape de dopage de type P des portions localisées (125) de la première couche (103a) est mise en oeuvre avant l'étape b).A method according to claim 4, wherein said step of p-type doping of the localized portions (125) of the first layer (103a) is carried out before step b). Procédé selon l'une quelconque des revendications 4 à 6, comprenant en outre une étape de formation de métallisations de connexion (127) sur et en contact avec lesdites portions localisées (125) de la première couche (103a).A method according to any of claims 4 to 6, further comprising the step of forming bond metallizations (127) on and in contact with said localized portions (125) of the first layer (103a). Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, dans lequel, à l'issue de l'étape b), l'empilement actif de diode photosensible (103) s'étend de façon continue sur toute la surface du circuit intégré de contrôle (151).Method according to any one of Claims 1 to 7, in which, at the end of step b), the active photosensitive diode stack (103) extends continuously over the entire surface of the integrated circuit of control (151). Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 8, dans lequel, à l'issue de l'étape d), l'empilement actif de LED (113) s'étend de façon continue sur toute la surface du circuit intégré de contrôle (151).Method according to any one of Claims 1 to 8, in which, at the end of step d), the active stack of LEDs (113) extends continuously over the entire surface of the integrated control circuit (151). Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9, comprenant en outre, après l'étape b) et avant l'étape d), une étape de formation de vias conducteurs (129) traversant l'empilement actif de diode photosensible (103).Method according to any one of claims 1 to 9, further comprising, after step b) and before step d), a step of forming conductive vias (129) passing through the active photosensitive diode stack (103 ). Procédé selon la revendication 10, dans lequel les vias conducteurs (129) sont connectés électriquement à des plots métalliques de connexion (153) du circuit intégré (151).Method according to claim 10, in which the conductive vias (129) are electrically connected to metal connection pads (153) of the integrated circuit (151). Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 11, comprenant en outre, après l'étape d), une étape de gravure localisée de l'empilement actif de LED (113) de façon à former dans l'empilement actif de LED une pluralité de pavés (161) définissant chacun une LED.Method according to any one of claims 1 to 11, further comprising, after step d), a step of localized etching of the active stack of LEDs (113) so as to form in the active stack of LEDs a plurality of tiles (161) each defining an LED. Procédé selon la revendication 12, comprenant la formation d'éléments de conversion de couleur (181(a), 181(b)) au-dessus d'au moins certaines des LED (161).A method according to claim 12, comprising forming color conversion elements (181(a), 181(b)) above at least some of the LEDs (161). Procédé selon la revendication 13, dans lequel au moins une (161(a)) desdites LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent (181(a)) adapté à convertir la lumière émise par la LED vers une longueur d'onde visible et au moins une autre (161(b)) desdites LED est surmontée d'un élément de conversion photoluminescent (181(b)) adapté à convertir la lumière émise par la LED en un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible, de préférence un rayonnement infrarouge.A method according to claim 13, wherein at least one (161(a)) of said LEDs is surmounted by a photoluminescent conversion element (181(a)) adapted to convert the light emitted by the LED to a visible wavelength and at least another (161(b)) of said LEDs is surmounted by a photoluminescent conversion element (181(b)) suitable for converting the light emitted by the LED into light radiation in the wavelength range of sensitivity of the active photosensitive diode stack, preferably infrared radiation. Procédé selon la revendication 14, dans lequel au moins une desdites LED (161) n'est pas surmontée par un élément de conversion photoluminescent.A method according to claim 14, wherein at least one of said LEDs (161) is not surmounted by a photoluminescent conversion element. Procédé selon la revendication 14 ou 15, dans lequel lesdits éléments de conversion photoluminescents (181(a), 181(b)) sont réalisés à base de boîtes quantiques ou de matériaux pérovskites.A method according to claim 14 or 15, wherein said photoluminescent conversion elements (181(a), 181(b)) are made from quantum dots or perovskite materials. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 12, comportant, après l'étape d), une étape de fixation d'un substrat de support temporaire (210) du côté de l'empilement actif de LED (113) opposé au circuit intégré (151), suivie d'une étape de découpe de l'ensemble comportant le circuit intégré (151), l'empilement actif de diode photosensible (103) et l'empilement actif de LED (113) en une pluralité de puces élémentaires (232).Method according to any one of Claims 1 to 12, comprising, after step d), a step of attaching a temporary support substrate (210) to the side of the active stack of LEDs (113) opposite the circuit integrated circuit (151), followed by a step of cutting the assembly comprising the integrated circuit (151), the active photosensitive diode stack (103) and the active LED stack (113) into a plurality of elementary chips (232). Procédé selon la revendication 17, comportant en outre une étape de transfert et de fixation desdites puces élémentaires (232) sur un substrat de report (250) du dispositif, puis une étape de retrait du substrat de support temporaire (210).Method according to claim 17, further comprising a step of transferring and fixing said elementary chips (232) on a transfer substrate (250) of the device, then a step of removing the temporary support substrate (210). Dispositif optoélectronique comportant un substrat de report (250) et une pluralité de puces élémentaires (232) fixées et connectées électriquement au substrat de report (250), chaque puce élémentaire (232) comportant un empilement comportant, dans l'ordre à partir de la face supérieure du substrat de report (250), un circuit intégré de contrôle (151) formé dans et sur un substrat semiconducteur, un étage de photodétection (201) comportant au moins une diode photosensible (171), et un étage d'émission (203) comportant au moins une LED (161).Optoelectronic device comprising a transfer substrate (250) and a plurality of elementary chips (232) fixed and electrically connected to the transfer substrate (250), each elementary chip (232) comprising a stack comprising, in order from the upper face of the transfer substrate (250), an integrated control circuit (151) formed in and on a semiconductor substrate, a photodetection stage (201) comprising at least one photosensitive diode (171), and an emission stage ( 203) comprising at least one LED (161). Dispositif selon la revendication 19, dans lequel, dans chaque puce élémentaire, l'étage de photodétection (201) est disposé entre le circuit intégré de contrôle (151) et l'étage d'émission (203), et dans lequel ladite au moins une diode photosensible (171) a une couche semiconductrice d'anode (103a) disposée du côté de l'étage d'émission (203) et une couche semiconductrice de cathode (103c) disposée du côté du circuit intégré de contrôle (151).Device according to Claim 19, in which, in each elementary chip, the photodetection stage (201) is arranged between the integrated control circuit (151) and the emission stage (203), and in which the said at least a photosensitive diode (171) has an anode semiconductor layer (103a) disposed on the emission stage (203) side and a cathode semiconductor layer (103c) disposed on the control IC (151) side. Système comportant un dispositif optoélectronique (300) réalisé par un procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 18, et une source lumineuse adaptée à émettre un rayonnement lumineux dans la gamme de longueurs d'ondes de sensibilité de l'empilement actif de diode photosensible (103), de préférence un rayonnement infrarouge.System comprising an optoelectronic device (300) produced by a method according to any one of Claims 1 to 18, and a light source adapted to emit light radiation in the sensitivity wavelength range of the active diode stack photosensitive (103), preferably infrared radiation. Système selon la revendication 21, dans lequel la source lumineuse est une source déportée (310).System according to claim 21, in which the light source is a remote source (310). Système selon la revendication 21, dans lequel la source lumineuse est intégrée au dispositif optoélectronique (300) et comprend au moins une LED (161(b)) formée dans l'empilement actif de LED (113).A system according to claim 21, wherein the light source is integrated with the optoelectronic device (300) and comprises at least one LED (161(b)) formed in the active LED stack (113).
FR2111479A 2021-05-18 2021-10-28 Method of manufacturing an optoelectronic device Pending FR3123145A1 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP22172226.7A EP4092739A1 (en) 2021-05-18 2022-05-09 Method for manufacturing an optoelectronic device, corresponding device and system comprising the same
US17/741,238 US20220375912A1 (en) 2021-05-18 2022-05-10 Optoelectronic device manufacturing method
CN202210528828.9A CN115377083A (en) 2021-05-18 2022-05-16 Method for manufacturing photoelectric device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR2105160A FR3123152B1 (en) 2021-05-18 2021-05-18 Method of manufacturing an optoelectronic device
FR2105160 2021-05-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
FR3123145A1 true FR3123145A1 (en) 2022-11-25

Family

ID=77710861

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR2105160A Active FR3123152B1 (en) 2021-05-18 2021-05-18 Method of manufacturing an optoelectronic device
FR2111479A Pending FR3123145A1 (en) 2021-05-18 2021-10-28 Method of manufacturing an optoelectronic device

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR2105160A Active FR3123152B1 (en) 2021-05-18 2021-05-18 Method of manufacturing an optoelectronic device

Country Status (1)

Country Link
FR (2) FR3123152B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170155020A1 (en) * 2015-11-30 2017-06-01 Lextar Electronics Corporation Wavelength-converting material and application thereof
EP3667728A1 (en) * 2018-12-13 2020-06-17 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Method for manufacturing a device with photo-emitting and/or photo-receiving diodes and with a self-aligned collimation grid
US20210134654A1 (en) * 2010-10-13 2021-05-06 Monolithic 3D Inc. Multilevel semiconductor device and structure with waveguides

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20210134654A1 (en) * 2010-10-13 2021-05-06 Monolithic 3D Inc. Multilevel semiconductor device and structure with waveguides
US20170155020A1 (en) * 2015-11-30 2017-06-01 Lextar Electronics Corporation Wavelength-converting material and application thereof
EP3667728A1 (en) * 2018-12-13 2020-06-17 Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives Method for manufacturing a device with photo-emitting and/or photo-receiving diodes and with a self-aligned collimation grid

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ERIC Z X LIU ET AL: "Recent progress of heterogeneous integration for semiconductor materials and microsystems", SOLID-STATE AND INTEGRATED CIRCUIT TECHNOLOGY, 2006. ICSICT '06. 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON, IEEE, PI, 1 October 2006 (2006-10-01), pages 520 - 523, XP031045635, ISBN: 978-1-4244-0160-4 *
LIU XIAOYAN ET AL: "High-Bandwidth InGaN Self-Powered Detector Arrays toward MIMO Visible Light Communication Based on Micro-LED Arrays", ACS PHOTONICS, 18 December 2019 (2019-12-18), pages 3186 - 3195, XP055870321, Retrieved from the Internet <URL:https://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/acsphotonics.9b00799> [retrieved on 20211207], DOI: 10.1021/acsphotonics.9b00799 *

Also Published As

Publication number Publication date
FR3123152B1 (en) 2023-04-14
FR3123152A1 (en) 2022-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI762930B (en) Optoelectronic device
US6657236B1 (en) Enhanced light extraction in LEDs through the use of internal and external optical elements
KR100843787B1 (en) Iii-nitride light-emitting device with increased light generating capability
US9196653B2 (en) Pixelated LED
KR100707955B1 (en) Light emitting diode and manufacturing method for the same
US20080169479A1 (en) Light-emitting diode
US8624262B2 (en) Light emitting diode
KR100780175B1 (en) Method for Manufacturing Light Emitting Diode
US20180204975A1 (en) Front-side emitting mid-infrared light emitting diode
JP4311173B2 (en) Semiconductor light emitting device
US11735691B2 (en) Micro light emitting devices
FR3123145A1 (en) Method of manufacturing an optoelectronic device
KR102657311B1 (en) Semiconductor device
FR3123146A1 (en) Method of manufacturing an optoelectronic device
JP2022003678A (en) Light emitting diode
FR3126256A1 (en) Method of manufacturing an optoelectronic device
JP2005347700A (en) Light emitting device and its manufacturing method
EP4082037A1 (en) Laser treatment device and laser treatment method
KR102571788B1 (en) Semiconductive device, light emitting device and lighting apparatus having the same
WO2020069467A1 (en) Micro light emitting devices
US20220238596A1 (en) Micro light emitting diode display device
EP3608977B1 (en) Optocoupler
FR3128311A1 (en) Method of manufacturing an optoelectronic device
JPWO2020055537A5 (en)
JP2018078192A (en) Semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
PLSC Publication of the preliminary search report

Effective date: 20221125

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 2

PLFP Fee payment

Year of fee payment: 3