FR3114206B1 - Système et Procédé pour la détection de défauts dans des guides d’ondes allongés. - Google Patents

Système et Procédé pour la détection de défauts dans des guides d’ondes allongés. Download PDF

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Abstract

L’invention concerne un procédé et un dispositif de détection de défaut dans une structure allongée pouvant faire office de guide d’ondes élastiques, la structure allongée étant instrumentée d’une pluralité de transducteurs aptes à acquérir des signaux de mesure de grandeurs caractéristiques d’ondes élastiques se propageant dans ladite structure allongée, chaque transducteur étant couplé à un dispositif électronique, l’ensemble des dispositifs électroniques constituant un réseau de nœuds configurés pour traiter des signaux de mesure reçus d’au moins un transducteur. Le procédé est mis en œuvre par ordinateur et comprend des étapes consistant à: - effectuer une pluralité de diagnostics locaux de défaut, à partir de signaux de mesure reçus par une pluralité de dispositifs électroniques, lesdits signaux de mesure étant acquis pour plusieurs phases d’émission d’ondes élastiques ; - transmettre vers un serveur distant selon un protocole de communication à faible consommation énergétique, des messages contenant des informations relatives à chaque diagnostic local, lesdits messages étant formatés selon ledit protocole de communication à faible consommation énergétique; - agréger les informations contenues dans lesdits messages reçus ; et - effectuer un diagnostic global de défaut permettant de déterminer la présence ou non de défaut dans la structure allongée. Figure pour l’abrégé : Fig.1
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