FR3086753A1

FR3086753A1 - Procede et dispositif de detection d'une temperature

Info

Publication number: FR3086753A1
Application number: FR1859036A
Authority: FR
Inventors: Bruno Gailhard
Original assignee: STMicroelectronics Rousset SAS
Current assignee: STMicroelectronics Rousset SAS
Priority date: 2018-09-28
Filing date: 2018-09-28
Publication date: 2020-04-03
Anticipated expiration: 2038-09-28
Also published as: US20230019539A1; FR3086753B1; US20200103292A1; US11454554B2

Abstract

La présente description concerne un procédé comprenant les étapes suivantes : a) déterminer (201), parmi des ensembles de tensions continues, deux ensembles tels qu'une première tension d'un des deux ensembles et une première tension de l'autre des deux ensemble encadrent, à une première température (Ttrim), une tension de détection (VT) variant sensiblement proportionnellement ou proportionnellement avec la température ; b) comparer (203) la tension de détection (VT) à une deuxième tension (VS1-i) d'un des deux ensembles.

Description

DESCRIPTION

TITRE : Procédé et dispositif de détection d’une température

Domaine technique [0001] La présente description concerne de façon générale le domaine des circuits électroniques, et plus particulièrement la détection d'une température dans un circuit électronique.

Technique antérieure [0002] On connaît des circuits électroniques, par exemple des circuits intégrés, conçus pour fonctionner dans des plages données de températures.

[0003] Lorsqu'un tel circuit atteint une température hors de la plage pour laquelle il est conçu, des disfonctionnements peuvent se produire dans le circuit.

Résumé de l'invention [0004] Il existe un besoin d'un procédé et/ou d'un dispositif de détection d'une température.

[0005] Un mode de réalisation pallie tout ou partie des inconvénients des procédés et/ou des dispositifs connus de détection d'une température.

[0006] Un mode de réalisation prévoit un procédé et/ou un dispositif de détection de deux températures.

[0007] Un mode de réalisation prévoit un dispositif qui est étalonné à une température d'étalonnage différente de la ou des températures qu'il détecte, notamment à une température d'étalonnage comprise entre 10 et 50°C.

[0008] Un mode de réalisation prévoit un procédé comprenant des étapes d'étalonnage d'un tel dispositif de détection.

[0009] Un mode de réalisation prévoit un dispositif de détection d'une température qui puisse être testé, notamment à température ambiante.

B17332- 18-RO-0294 [0010] Un mode de réalisation prévoit un procédé comprenant une étape de test d'un tel dispositif de détection.

[0011] Un mode de réalisation prévoit un procédé comprenant les étapes suivantes : a) déterminer, parmi des ensembles de tensions continues, deux ensembles tels qu'une première tension d'un des deux ensembles et une première tension de l'autre des deux ensemble encadrent, à une première température, une tension de détection variant sensiblement proportionnellement ou proportionnellement avec la température ; b) comparer la tension de détection à une deuxième tension d'un des deux ensembles.

[0012] Selon un mode de réalisation, un premier écart sensiblement constant ou constant pour chacun des ensembles sépare les première et deuxième tensions de chaque ensemble, le premier écart étant de préférence sensiblement égal ou égal à la variation théorique de la tension de détection entre la première température et une deuxième température.

[0013] Selon un mode de réalisation, la première température est comprise entre 10 et 50°C, de préférence entre 20 et 40°C, de préférence entre 25 et 35°C, de préférence environ égale ou égale à 30°C.

[0014] Selon un mode de réalisation, la première tension de chaque ensemble est égale, à plus ou moins quelques millivolts par exemple à plus ou moins 10 mV, à la valeur théorique de la tension de détection à la première température.

[0015] Selon un mode de réalisation, chaque ensemble comprend de plus une troisième tension, le procédé comprenant en outre une étape c) de comparaison de la troisième tension dudit un des deux ensembles à la tension de détection.

[0016] Selon un mode de réalisation, un deuxième écart sensiblement constant ou constant sépare, pour chacun des ensembles, les première et troisième tensions de l'ensemble,

B17332- 18-RO-0294 le deuxième écart étant de préférence sensiblement égal ou égal à la variation théorique de la tension de détection entre la première température et une troisième température.

[0017] Selon un mode de réalisation, les étapes b) et c) sont effectuées simultanément, ou l'étape b) ou c) est sélectionnée sur la base d'une comparaison de la tension de détection à une quatrième tension continue comprise entre les deuxièmes tensions et les troisièmes tensions.

[0018] Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre les étapes suivantes : placer, dans un environnement à la première température, un dispositif adapté à mettre en oeuvre le procédé ; mesurer la température du dispositif ; et appliquer, à toutes les tensions continues, un décalage basé sur une différence entre la température mesurée et la première température.

[0019] Selon un mode de réalisation, le procédé comprend en outre, à une température sensiblement égale ou égale à la première température, une comparaison de la tension de détection à une cinquième tension continue supérieure à toutes les premières tensions et une comparaison de la tension de détection à une sixième tension continue inférieure à toutes les premières tensions.

[0020] Un autre mode de réalisation prévoit un dispositif adapté à mettre en oeuvre le procédé ci-dessus.

[0021] Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend : un premier circuit de sélection d'un des ensembles ; un deuxième circuit de sélection d'une première tension de seuil parmi au moins les tensions de l'ensemble sélectionné ; et un premier comparateur de la première tension de seuil à la tension de détection.

B17332- 18-RO-0294 [0022] Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend un deuxième comparateur d'une deuxième tension de seuil à la tension de détection.

[0023] Selon un mode de réalisation, la deuxième tension de seuil est la quatrième tension et le deuxième circuit est configuré pour sélectionner la première tension de seuil parmi les première, deuxième et troisième tensions de l'ensemble sélectionné, au moins en partie sur la base d'un signal de sortie du deuxième comparateur ; ou alors la deuxième tension de seuil est la troisième tension de l'ensemble sélectionné et le deuxième circuit est configuré pour sélectionner la première tension de seuil parmi les première et deuxième tensions de l'ensemble sélectionné.

[0024] Selon un mode de réalisation, le deuxième circuit est configuré pour sélectionner la première tension de seuil en outre parmi les cinquième et sixième tensions.

[0025] Selon un mode de réalisation, le deuxième circuit est configuré pour sélectionner la deuxième tension de seuil parmi les quatrième, cinquième et sixième tensions, et pour sélectionner la première tension de seuil parmi les première et deuxième tensions de l'ensemble sélectionné et les cinquième et sixième tensions, au moins en partie sur la base d'un signal de sortie du deuxième comparateur ; ou alors le deuxième circuit est configuré pour sélectionner la deuxième tension de seuil parmi la troisième tension de l'ensemble sélectionné et les cinquième et sixième tensions et pour sélectionner la première tension de seuil parmi les première et deuxième tensions de l'ensemble sélectionné et les cinquième et sixième tensions.

[0026] Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend en outre un troisième circuit de fourniture de chaque tension continue.

B17332- 18-RO-0294 [0027] Selon un mode de réalisation, le dispositif comprend en outre un capteur de température et un quatrième circuit configuré pour appliquer à chaque tension continue un même décalage déterminé à partir d'un signal de sortie du capteur lorsque le dispositif est dans un environnement à la première température.

Brève description des dessins [0028] Ces caractéristiques et avantages, ainsi que d'autres, seront exposés en détail dans la description suivante de modes

de réalisation particuliers faite à titre non

limitatif en

relation avec les figures jointes parmi lesquelles :

[0029] [Fig. 1] la figure 1 représente,

de manière

schématique, un mode de réalisation d'un dispositif de

détection d'au moins une température,

et plus

particulièrement de deux températures ;

0030] [Fig. 2] la figure 2 représente, sous forme de blocs, un mode de réalisation d'un procédé de détection d'au moins une température ;

[0031] [Fig. 3] la figure 3 représente,

de manière

schématique, une variante de réalisation du dispositif de la figure 1 ;

[0032] [Fig. 4] la figure 4 représente,	de manière
schématique, une autre variante de réalisation	du dispositif

de la figure 1 ;

[0033] [Fig. 5] la figure 5 représente,	de manière
schématique, un autre mode de réalisation d'un	dispositif de

détection de deux températures ; et

0034] [Fig. 6] la figure 6 représente, sous forme de bloc,

un autre mode de réalisation d'un procédé de

détection de

deux températures.

Description des modes de réalisation

B17332- 18-RO-0294 [0035] De mêmes éléments ont été désignés par de mêmes références dans les différentes figures. En particulier, les éléments structurels et/ou fonctionnels communs aux différents modes de réalisation peuvent présenter les mêmes références et peuvent disposer de propriétés structurelles, dimensionnelles et matérielles identiques.

[0036] Par souci de clarté, seuls les étapes et éléments utiles à la compréhension des modes de réalisation décrits ont été représentés et sont détaillés. En particulier, les circuits électroniques, notamment des microcontrôleurs, dans lesquels peuvent être prévus les modes de réalisation décrits n'ont pas été détaillés, ces modes de réalisation étant compatibles avec les circuits usuels.

[0037] Sauf précision contraire, lorsque l'on fait référence à deux éléments connectés entre eux, cela signifie directement connectés sans éléments intermédiaires autres que des conducteurs, et lorsque l'on fait référence à deux éléments reliés ou couplés entre eux, cela signifie que ces deux éléments peuvent être connectés ou être reliés ou couplés par l'intermédiaire d'un ou plusieurs autres éléments.

[0038] Dans la description qui suit, lorsque l'on fait référence à des qualificatifs de position absolue, tels que les termes avant, arrière, haut, bas, gauche, droite, etc., ou relative, tels que les termes dessus, dessous, supérieur, inférieur, etc., ou à des qualificatifs d'orientation, tels que les termes horizontal vertical, etc., il est fait référence, sauf précision contraire, à l'orientation des figures.

[0039]

Sauf précision contraire, les expressions environ, approximativement, sensiblement, et de l'ordre de signifient à 10 % près, de préférence à 5 % près.

B17332- 18-RO-0294 [0040] Dans la suite de la description, lorsque l'on fait référence à une tension continue (DC), sauf précision contraire, cela signifie une tension dont la valeur est sensiblement constante, de préférence constante.

[0041] La figure 1 représente, de manière schématique, un mode de réalisation d'un dispositif 1 de détection d'au moins une température, dans cet exemple de deux températures.

[0042] Le dispositif 1 comprend une source (non représentée) d'une tension de détection VT. La tension VT varie sensiblement proportionnellement, de préférence proportionnellement, avec la température du dispositif 1. Dans l'exemple décrit, la valeur de la tension VT augmente quand la température du dispositif 1 augmente. En variante, la valeur de la tension VT diminue quand la température du dispositif 1 augmente.

[0043] Dans une variante de réalisation non illustrée, la source de tension VT est externe au dispositif 1, la source de tension VT appartenant par exemple à un circuit électronique comprenant le dispositif 1, par exemple un circuit intégré tel qu'un microcontrôleur.

[0044] Le dispositif 1 comprend en outre un circuit 10 recevant, entre des bornes 101 et 102, une tension continue VDD sensiblement constante, de préférence constante. La tension VDD est par exemple positive et référencée à la borne 102, par exemple la masse GND. Le circuit 10 fournit, à partir de la tension d'alimentation VDD, N ensembles de tensions continues, avec N entier strictement supérieur à 2, de préférence supérieur à 3. Chaque ensemble comprend une tension Vtrim-i d'étalonnage, avec i l'indice de l'ensemble considéré compris entre 1 et N, et une tension pour chaque température que l'on souhaite détecter, à savoir, dans cet exemple, une tension VSl-i pour détecter une température TS1 et une tension VS2-i pour détecter une température TS2, avec i l'indice de

B17332- 18-RO-0294 l'ensemble considéré. Les tensions VSl-i, Vtrim-i et VS2-1 fournies par le circuit 10 ont des valeurs sensiblement constantes, de préférence constantes, quelle que soit la température du dispositif 1. A titre d'exemple, le circuit 10 est un pont diviseur de tension résistif.

[0045] Dans une variante de réalisation non illustrée, le circuit 10 est externe au dispositif 1, le circuit 10 appartenant par exemple à un circuit électronique comprenant le dispositif 1, par exemple un circuit intégré tel qu'un microcontrôleur.

[0046] Les tensions Vtrim-i ont des valeurs différentes les unes des autres. De préférence, les tensions Vtrim-i sont ordonnées, leurs valeurs étant soient décroissantes avec l'indice i comme c'est le cas dans l'exemple représenté, soit croissantes avec l'indice i. Les tensions Vtrim-i sont choisies de sorte que, à une température d'étalonnage Ttrim, on puisse déterminer deux tensions Vtrim-i encadrant la valeur réelle ou pratique de la tension VT. Lorsque l'on considère que deux tensions sélectionnées parmi les N tensions Vtrim-i encadrent la tension VT, cela signifie que l'une de ces deux tensions est la plus proche de la tension VT parmi les tensions Vtrim-i supérieures à la tension VT, et que l'autre de ces deux tensions est la tension Vtrim-i la plus proche de la tension VT parmi les tensions Vtrim-i inférieures à la tension VT. Les tensions Vtrim-i sont par exemple égales, à plus ou moins quelques millivolts, par exemple 10 mV, à la valeur théorique de la tension VT à la température d'étalonnage Ttrim. A titre d'exemple, la température Ttrim est comprise entre 10 et 50°C, par exemple entre 20 et 40°C, de préférence entre 25 et 35°C, encore plus préférentiellement environ égale à 30°C, par exemple égale à 30°C. L'écart entre deux tensions Vtrim-i successives est par exemple sensiblement constant, de préférence constant.

B17332- 18-RO-0294 [0047] Dans chaque ensemble, un même écart de tension Δνΐ sensiblement constant, de préférence constant, sépare les tensions VSl-i et Vtrim-i de l'ensemble. L'écart Δνΐ est sensiblement égal, de préférence égal, à la variation théorique de la tension VT entre la température d'étalonnage Ttrim et la température TS1. A titre d'exemple, la température TS1 est supérieure à 100°C, par exemple comprise entre 100 et 150°C, de préférence comprise entre 120 et 130°C, par exemple environ égale à 125°C, de préférence égale à 125°C. La température TS1 est par exemple la limite haute d'une plage de températures dans laquelle un circuit électronique comprenant le dispositif 1 est destiné à fonctionner.

[0048] De manière similaire, dans chaque ensemble, un même écart de tension Δν2 sensiblement constant, de préférence constant, sépare les tensions VS2-1 et Vtrim-i de cet ensemble L'écart Δν2 est sensiblement égal, de préférence égal, à la variation théorique de la tension VT entre la température d'étalonnage Ttrim et la température TS2. A titre d'exemple, la température TS2 est inférieure à -20°C, de préférence comprise entre -25 et -35°C, par exemple égale à environ 30°C, de préférence égale à -30°C. La température TS2 est par exemple la limite basse d'une plage de températures dans laquelle un circuit électronique comprenant le dispositif 1 est destiné à fonctionner.

[0049] Le dispositif 1 comprend de plus un circuit 12 de sélection d'un ensemble de tensions continues parmi les N ensembles de tensions continues. Le circuit 12 comprend autant d'entrées 121 que de tensions VSl-i (VS1-1,.., VSl-i,.., VS1N), Vtrim-i (Vtrim-1,.., Vtrim-i,.., Vtrim-N) et VS2-1 (VS21,.., VS2-1,.., VS2-N) fournies par le circuit 10, chaque entrée 121 recevant l'une de ces tensions. Le circuit 12 comprend autant de sorties qu'il y a de tensions par ensemble, à savoir trois sorties 1221, 1222 et 1223 dans cet exemple.

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Le circuit 12 comprend aussi une entrée 123 recevant un signal de commande TRIM, de préférence un signal de commande numérique, par exemple codé sur plusieurs bits. Le circuit 12 est configuré pour sélectionner l'un des N ensembles en fonction de la valeur du signal TRIM et pour fournir les tensions VSl-i, Vtrim-i et VS2-i de l'ensemble sélectionné sur ses sorties respectives 1221, 1222 et 1223.

[0050] Dans l'exemple représenté, le circuit 12 comprend N interrupteurs 125-i (i allant de 1 à N), chaque interrupteur

125- i reliant l'entrée 121 recevant la tension VSl-i à la sortie 1221. Le circuit 12 comprend également N interrupteurs

126- i (i allant de 1 à N), chaque interrupteur 126-i reliant l'entrée 121 recevant la tension Vtrim-i à la sortie 1222. Le circuit 12 comprend en outre N interrupteurs 127-i (i allant de 1 à N) , chaque interrupteur 127-i reliant l'entrée 121 recevant la tension VS2-i à la sortie 1223. Lorsque le signal TRIM commande la sélection de l'ensemble d'indice i, les interrupteurs 125-i, 126-i et 127-i se ferment, les autres interrupteurs du circuit 12 étant laissés ouverts.

[0051] Le dispositif 1 comprend également un circuit 13 de sélection d'une tension de seuil Vcompl parmi les tensions VSl-i, Vtrim-i et VS2-i de l'ensemble sélectionné, et, plus particulièrement dans ce mode de réalisation, parmi les tensions VSl-i et Vtrim-i de l'ensemble sélectionné. La sélection de la tension Vcompl parmi ces tensions est déterminée par un signal de commande MODE, de préférence un signal de commande numérique, par exemple codé sur plusieurs bits, reçu par une entrée 131 du circuit 13.

[0052] Dans cet exemple, des entrées 132 et 133 du circuit reçoivent les tensions respectives VSl-i et Vtrim-i de l'ensemble sélectionné, et une sortie 134 du circuit 13 fournit la tension Vcompl. Dans l'exemple représenté, le circuit 13 comprend deux interrupteurs 135 reliant la sortie

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134 aux entrées respectives 132 et 133. Les interrupteurs 135 sont commandés par le signal MODE.

[0053] La tension de seuil Vcompl est fournie à un comparateur de tension Cl du dispositif 1. Le comparateur Cl compare la tension Vcompl à la tension VT et fournit un signal de sortie OUT1, de préférence un signal binaire, représentatif de cette comparaison, par exemple dans un premier état logique quand la tension VT est inférieure à la tension Vcompl, et dans un deuxième état logique sinon. A titre d'exemple, le comparateur Cl est un amplificateur opérationnel dont l'entrée inverseuse (-) reçoit par exemple la tension Vcompl, et dont l'entrée non inverseuse (+) reçoit par exemple la tension VT.

[0054] Dans cet exemple où le dispositif 1 est configuré pour détecter deux températures TS1 et TS2, le dispositif 1 comprend un autre comparateur C2. Le comparateur C2 compare une tension de seuil Vcomp2 à la tension VT et fournit un signal de sortie OUT2, par exemple un signal binaire, représentatif de cette comparaison, par exemple dans un premier état logique quand la tension VT est inférieure à la tension Vcomp2, et dans un deuxième état logique sinon. A titre d'exemple, le comparateur C2 est un amplificateur opérationnel dont l'entrée inverseuse (-) reçoit par exemple la tension Vcomp2, et dont l'entrée non inverseuse (+) reçoit par exemple la tension VT.

[0055] Dans ce mode de réalisation, la tension de seuil Vcomp2 correspond à la tension VS2-i de l'ensemble sélectionné par le circuit 12. Dans l'exemple représenté, la tension Vcomp2 est fournie au comparateur C2 par une sortie 136 du circuit 13, le circuit 13 comprenant une entrée 137 connectée à la sortie 1223 du circuit 12 et à la sortie 136 du circuit

13. En variante, la sortie 1223 du circuit 12 est directement connectée au comparateur C2, sans utiliser le circuit 13.

B17332- 18-RO-0294 [0056] Le dispositif 1 décrit ci-dessus est adapté à mettre en oeuvre un procédé de détection des températures TS1 et TS2 qui va maintenant être décrit en relation avec la figure 2.

[0057] La figure 2 représente, sous forme de blocs, un mode de réalisation d'un procédé de détection d'une température. Dans l'exemple décrit, le procédé est mis en oeuvre par le dispositif 1 pour détecter les températures TS1 et TS2.

[0058] Le procédé comprend des étapes 200, 201 et 202 d'étalonnage, et des étapes 203 et 204 de détection des températures respectives TS1 et TS2.

[0059] A l'étape 200 (bloc Device at Ttrim), le dispositif 1, est mis à la température d'étalonnage Ttrim. A titre d'exemple cette étape effectuée au moyen d'un banc de test permettant de contrôler la température d'une enceinte dans laquelle est placé le dispositif 1, la température de l'enceinte étant alors amenée puis maintenue à la température d'étalonnage Ttrim.

[0060] A l'étape suivante 201 (bloc Frame VT at Ttrim), effectuée alors que l'enceinte dans laquelle est disposé le dispositif 1 est maintenue à la température Ttrim, on détermine les deux ensembles dont les tensions Vtrim-i encadrent la tension VT à la température Ttrim. Pour cela, le circuit 13 est commandé par le signal MODE de sorte que la tension Vcompl soit égale à la tension Vtrim-i reçue du circuit 12. En outre, le circuit 12 est commandé par le signal TRIM de manière à sélectionner successivement au moins certains, de préférence la totalité, des N ensembles de tensions. Ainsi, pour chaque ensemble sélectionné, le signal de sortie OUT1 permet de déterminer si la tension Vtrim-i de cet ensemble est supérieure ou inférieure à la valeur réelle ou pratique de la tension VT à la température d'étalonnage Ttrim. Connaissant les valeurs des tensions Vtrim-i, ou au moins les relations d'ordre entre les valeurs des tensions

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Vtrim-i, on en déduit les deux tensions Vtrim-i encadrant la tension VT à la température Ttrim. A titre d'exemple, l'étape

201 est mise en oeuvre en déterminant les deux tensions Vtrimi de valeurs successives qui correspondent à deux états logiques différents du signal OUT1. A titre d'exemple, une information représentative des deux tensions Vtrim-i encadrant la tension VT à la température Ttrim est mémorisée.

[0061] A l'étape 202 suivante (bloc Choose one set), l'un des deux ensembles déterminés à l'étape 201 est sélectionné. Le signal TRIM correspondant à l'ensemble sélectionné est mémorisé, de préférence de manière non volatile.

[0062] La fin de l'étape 202 marque la fin de l'étalonnage. Une fois étalonné, le dispositif 1 est utilisé pour détecter les températures TS1 et TS2, lors des étapes respectives 203 et 204.

[0063] L'étape 203 (bloc Compare VSl-i to VT) suivant l'étape

202 consiste à comparer la tension VSl-i de l'ensemble sélectionné à l'étape 202 à la tension VT. Pour cela, le circuit 12 sélectionne l'ensemble sélectionné à l'étape 202, par exemple en fournissant au circuit 12 le signal TRIM mémorisé à l'étape 202, et le circuit 13 est commandé par le signal MODE de sorte que la tension Vcompl est égale à la tension VSl-i de l'ensemble sélectionné. Lorsque la température du dispositif 1 augmente jusqu'à atteindre puis dépasser la température TS1, la tension VT augmente jusqu'à atteindre puis dépasser la tension Vcompl, d'où il résulte que le signal OUT1 change d'état, ce qui permet de détecter la température TS1.

[0064] Dans cet exemple, le procédé comprend en outre l'étape 204 (bloc Compare VS2-i to VT) qui consiste à comparer la tension VS2-i de l'ensemble sélectionné à l'étape 202 à la tension VT. Dans ce mode de réalisation, les étapes 203 et 204 sont effectuées simultanément, c'est-à-dire les signaux

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TRIM et MODE sont identiques pour les deux étapes 203 et 204. La comparaison de la tension VS2-1 de l'ensemble sélectionné à la tension VT est ici effectuée par le comparateur C2, ce dernier recevant la tension Vcomp2 égale à la tension VS2-1 de l'ensemble sélectionné. Lorsque la température du dispositif 1 diminue jusqu'à atteindre puis devenir inférieure à la température TS2, la tension VT diminue jusqu'à atteindre puis devenir inférieure à la tension Vcomp2, d'où il résulte que le signal OUT2 change d'état, ce qui permet de détecter la température TS2.

[0065] Dans le procédé ci-dessus, l'étalonnage permet la sélection d'une tension Vtrim-i, et plus généralement d'un ensemble de tensions Vtrim-i, VSl-i et VS2-1, en tenant compte de l'éventuel décalage en tension (offset) du comparateur Cl et/ou de l'éventuel décalage entre les valeurs théorique et pratique de la tension VT. Il en résulte une diminution, voir une suppression, de l'effet de ces décalages sur la détection des températures TS1 et TS2, donc une meilleure précision de détection.

[0066] On aurait pu penser réaliser, au moyen d'un banc de test, une étape d'étalonnage à chacune des températures TS1 et TS2 à détecter, toutefois cela aurait conduit à une augmentation du nombre d'étapes nécessaires pour étalonner le dispositif 1. En outre, aux températures considérées ici, un banc de test prévu pour une température TS1 ou TS2 est plus complexe et plus cher qu'un banc de test prévu pour la température Ttrim. De plus, pour les températures considérées le temps nécessaire à l'obtention d'une température TS1 ou TS2 stable dans un banc de test est significativement plus long que celui nécessaire à l'obtention d'une température Ttrim stable.

[0067] Dans une variante de réalisation du procédé décrit cidessus, on prévoit une étape supplémentaire de test du

B17332- 18-RO-0294 dispositif mettant en oeuvre le procédé, et plus particulièrement une étape de test des comparateurs de tension de ce dispositif. On prévoit alors deux tensions continues de test Vtestl et Vtest2, éventuellement choisies parmi les tensions respectivement VSl-i et VS2-i. L'une des tensions Vtestl et Vtest2, par exemple la tension Vtestl, est choisie strictement supérieure à la tension VT à une température de test, de préférence la température ambiante, l'autre des tensions Vtestl et Vtest2 étant choisie strictement inférieure à la tension VT à la température de test, de préférence avec une marge de sécurité tenant compte de l'éventuel écart entre valeurs théorique et pratique de la tension VT à la température de test et/ou des éventuels décalages en tensions des comparateurs. A titre d'exemple, cette marge de sécurité est comprise entre 10 et 20 mV. Selon un mode de réalisation préféré, la température d'étalonnage est sensiblement égale à la température de test et les tensions Vtestl et Vtest2 sont respectivement supérieure et inférieure aux tensions Vtrim-i, bien qu'en variante, elles puissent être respectivement supérieure et inférieure aux tensions Vtrim-i.

[0068] Lors d'une première phase de l'étape de test mise en oeuvre à la température de test, l'une des deux tensions Vtestl et Vtest2 est fournie à chaque comparateur du dispositif. Dans une deuxième phase de l'étape de test, également mise en oeuvre à la température de test, l'autre des tensions Vtestl et Vtest2 est fournie à chaque comparateur du dispositif. Chaque comparateur est considéré comme fonctionnel si le signal de sortie qu'il fournit change d'état entre les deux phases de test, le dispositif étant considéré comme fonctionnel si tous ces comparateurs sont fonctionnels.

[0069] Dans une autre variante du procédé décrit ci-dessus, on prévoit une étape supplémentaire d'étalonnage du

B17332- 18-RO-0294 dispositif mettant en oeuvre le procédé. Cette étape supplémentaire est de préférence effectuée entre les étapes 200 et 201. Cette étape supplémentaire d'étalonnage consiste à appliquer, à toutes les tensions continues indépendantes de la température, un même décalage déterminé de manière à compenser un éventuel écart entre la température interne du dispositif et la température de l'environnement dans lequel il est placé lors de l'étalonnage. Une fois déterminé, ce décalage est appliqué pendant les étapes restantes d'étalonnage et pendant les étapes de détection de température. Il en résulte une meilleure précision de la détection de température. A titre d'exemple, lors de cette étape supplémentaire d'étalonnage, la température interne du dispositif est mesurée, par exemple au moyen d'un capteur de température, et le décalage à appliquer est par exemple choisi sensiblement égal ou égal à la variation théorique de la tension VT entre la température d'étalonnage Ttrim et la température mesurée.

[0070] Les deux variantes décrites ci-dessus peuvent être combinées.

[0071] La figure 3 représente une variante de réalisation du dispositif 1 de la figure 1. Afin de simplifier la description, seules les différences entre le dispositif 1 de la figure 1 et le dispositif 1 de la figure 3 sont détaillées. Dans cette variante, le dispositif 1 est adapté à mettre en oeuvre la

variante de	réalisation	du	procédé de la figure	2 dans
laquelle on	prévoit une	étape supplémentaire	de	test du
dispositif 1.
0072] Dans	cet	exemple,	les	tensions Vtestl et	Vte	st2 sont
fournies par	le	circuit	10 .	Dans cet exemple	de	mode de
réalisation,	la	température	d'étalonnage est	sensiblement

égale à la température ambiante et les tensions Vtestl et

Vtest2 sont respectivement supérieure et inférieure aux

B17332- 18-RO-0294 tensions Vtrim-i, bien qu'en variante, elles puissent être respectivement supérieure et inférieure aux tensions Vtrim-i.

[0073] Le circuit 13 est configuré pour sélectionner les tensions Vcompl et Vcomp2 parmi les tensions VSl-i, Vtrim-i et VS2-1 de l'ensemble sélectionné par le circuit 12, et, en outre, parmi les tensions Vtestl et Vtest2. Plus particulièrement, lorsque que le dispositif 1 est en cours de test, le circuit 13 est configuré pour sélectionner les tensions Vcompl et Vcomp2 parmi les tensions Vtestl et Vtest2. Les tensions Vcompl et Vcomp2 sont par exemple égales à la tension Vtestl dans la première phase du test, et à la tension Vtest2 dans la deuxième phase du test. En variante, les tensions Vcompl et Vcomp2 peuvent être différentes l'une de l'autre pendant chacune des première et deuxième phases du test.

[0074] Dans l'exemple de la figure 3, le circuit 13 comprend deux entrées supplémentaires 1381 et 1382 recevant les tensions respectives Vtestl et Vtest2. Le circuit comprend en outre deux interrupteurs 1383 et 1384 connectant la sortie 134 aux entrées respectives 1381 et 1382. Le circuit comprend de plus des interrupteurs 1385, 1386 et 1387 connectant la sortie 136 aux entrées respectives 1381, 1382 et 137. Lors de la première phase de test, un des interrupteurs 1383 et 1384 est fermé et un des interrupteurs 1385 et 1386 est fermé, les autres interrupteurs du circuit 13 étant laissés ouverts, et, lors de la deuxième phase de test, l'autre des interrupteurs 1383 et 1384 est fermé et l'autre des interrupteurs 1385 et 1386 est fermé, les autres interrupteurs du circuit 13 étant laissés ouverts. L'état ouvert ou fermé de chaque interrupteur du circuit 13 est déterminé par le signal MODE, par exemple à une première valeur lors de l'étalonnage (étapes 200, 201 et 203, figure 2), à une deuxième valeur lors de la détection des températures TS1 et TS2 (étapes 203 et 204, figure 2), à

B17332- 18-RO-0294 une troisième valeur lors de la première phase de l'étape de test, et à une quatrième valeur lors de la deuxième phase de l'étape de test.

[0075] On notera que, dans cet exemple, lors de la détection de la température TS2 (étape 204, figure 2), l'interrupteur 1387 est fermé alors que les interrupteurs 1385 et 1386 sont ouverts de sorte que la tension Vcomp2 soit égale à la tension VS2-i de l'ensemble sélectionné par le circuit 12.

[0076] La figure 4 représente une autre variante de réalisation du dispositif de la figure 1. Afin de simplifier la description, seules les différences entre le dispositif 1 de la figure 1 et le dispositif 1 de la figure 4 sont détaillées. Dans cette variante, le dispositif 1 est adapté à mettre en oeuvre la variante de réalisation du procédé de la figure 2 dans laquelle on prévoit une étape supplémentaire d'étalonnage.

[0077] Le dispositif 1 comprend un dispositif ou circuit d'étalonnage 103, par exemple interne au circuit 10, commandé par un signal TRIM2, par exemple reçu par une entrée 104 du circuit 10. Le dispositif 103 est configuré pour appliquer, à toutes les tensions fournies par le circuit 10, un même décalage de manière à compenser un éventuel écart entre la température interne du dispositif 1 et la température Ttrim de l'environnement du dispositif 1 lors de l'étalonnage. Dans cet exemple où le circuit 10 est un pont diviseur résistif, le circuit 103 est configuré pour modifier la résistance totale du pont diviseur 10 en fonction du signal TRIM2 qu'il reçoit. A titre d'exemple, le circuit 103 comprend des résistances R en série entre la borne 102 et la partie du pont résistif 10 fournissant les tensions Vtrim-i, VSl-i et VS2-i, et, pour chaque noeud de connexion entre deux résistances R, entre une résistance R et la borne 102 et/ou entre une résistance R et le reste du pont 10, un interrupteur

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107 reliant ce noeud à la borne 102. En fonction du signal TRIM2, un interrupteur 107 sélectionné est maintenu fermé, les autres interrupteurs 107 étant laissés ouverts.

[0078] Le dispositif 1 comprend en outre un capteur de température (non représenté). En variante, le capteur de température peut être externe au dispositif 1, par exemple prévu dans un circuit intégré comprenant le dispositif 1. La valeur du décalage à appliquer est déterminée à partir du signal de sortie du capteur de température, ce signal étant représentatif d'une mesure de la température interne du dispositif 1 ou du circuit intégré comprenant le dispositif

1. Le signal TRIM2 est alors déterminé de sorte que le circuit 103 applique ce décalage, ou du moins un décalage sensiblement égal au décalage déterminé, aux tensions fournies par le circuit 10. Le signal TRIM2 ainsi déterminé est mémorisé, de préférence de manière non volatile.

[0079] Les variantes de réalisation des dispositifs des figures 3 et 4 peuvent être combinées.

[0080] Dans une autre variante non représentée, le procédé de la figure 2 est prévu pour ne détecter qu'une seule température TS1. Dans ce cas, l'étape 204 est omise. En outre, le dispositif 1 des figures 1, 3 et 4 est adapté en conséquence et ne comprend ni le comparateur C2, ni aucun des éléments utilisés pour fournir la tension Vcomp2 au comparateur C2.

[0081] La figure 5 représente, de manière schématique, un autre mode de réalisation d'un dispositif 5 de détection d'au moins deux températures, dans cet exemple les deux températures TS1 et TS2. Afin de simplifier la description, seules les différences entre le dispositif 5 et le dispositif 1 de la figure 1 sont détaillées.

[0082] Dans ce mode de réalisation, le circuit 10 fournit une tension intermédiaire Vint. La tension Vint a une valeur

B17332- 18-RO-0294 inférieure aux valeurs des tensions VSl-i et supérieure aux valeurs des tensions VS2-1. La tension Vint est donc représentative d'une température intermédiaire Tint comprise entre les températures TS1 et TS2. Dans cet exemple, la tension Vint est une tension supplémentaire fournie par le circuit 10. En variante, la tension Vint correspond à l'une des tensions Vtrim-i.

[0083] Dans ce mode de réalisation, le circuit 13 est configuré pour sélectionner la tension Vcompl parmi les tensions Vtrim-i, VSl-i et VS2-1 de l'ensemble sélectionné par le circuit 12. Plus particulièrement, dans l'exemple illustré, le circuit 13 comprend un troisième interrupteur 135 reliant son entrée 137 à sa sortie 134.

[0084] Dans ce mode de réalisation, la tension Vcomp2 est égale à la tension Vint. Dans l'exemple représenté, la tension Vint est directement fournie au comparateur C2. En variante, la tension Vcomp2 égale à Vint peut être fournie au comparateur C2 par l'intermédiaire du circuit 13, par exemple par une sortie du circuit 13 directement connectée à une entrée du circuit 13 recevant la tension Vint.

[0085] Dans ce mode de réalisation, le signal MODE est déterminé au moins en partie à partir du signal OUT2.

[0086] La figure 6 représente, sous forme de bloc, un autre mode de réalisation d'un procédé de détection de deux températures, dans cet exemple les températures TS1 et TS2. Dans l'exemple décrit, le procédé est mis en oeuvre par le dispositif 5 de la figure 5.

[0087] Le procédé comprend les mêmes étapes successives 200, 201 et 202 gue le procédé décrit en relation avec la figure

2. Le procédé de la figure 6 comprend également les étapes 203 et 204. Toutefois, à la différence du procédé de la figure 2 dans leguel les étapes 203 et 204 sont effectuées

B17332- 18-RO-0294 simultanément, dans le procédé de la figure 6, une seule des étapes 203 et 204 est sélectionnée et mise en oeuvre, en fonction du résultat d'un test 600 (bloc Vint>VT?) suivant l'étape 202. Dans le dispositif 5 de la figure 5, ce test est mis en oeuvre par le comparateur C2, le signal OUT2 étant représentatif du résultat de ce test.

[0088] Si la tension Vint est supérieure à la tension VT (sortie Yes du bloc 600), cela signifie que la température du dispositif 5 est, comme la température TS2 dans cet exemple, inférieure à la température intermédiaire Tint et l'étape 204 est alors mise en oeuvre. Pour cela, le signal MODE est déterminé à partir du signal OUT2 de sorte que la tension Vcompl est égale à la tension VS2-i de l'ensemble sélectionné. Autrement dit, le signal MODE est tel que l'interrupteur 135 connectant l'entrée 137 et la sortie 134 du circuit 13 est fermé, les autres interrupteurs 135 étant ouverts.

[0089] A l'inverse, si la tension Vint est inférieure à la tension VT (sortie No du bloc 600), cela signifie que la température du dispositif 5 est, comme la température TS1 dans cet exemple, supérieure à la température intermédiaire Tint et l'étape 203 est alors mise en oeuvre. Pour cela, le signal MODE est déterminé à partir du signal OUT2 de sorte que la tension Vcompl est égale à la tension VSl-i de l'ensemble sélectionné. Autrement dit, le signal MODE est tel que l'interrupteur 135 connectant l'entrée 132 et la sortie 134 du circuit 13 est fermé, les autres interrupteurs 135 étant ouverts.

[0090] Par rapport au dispositif 1 dans lequel deux comparateurs différents Cl et 02 sont utilisés pour comparer la tension VT aux tensions respectives VSl-i et VS2-i de l'ensemble sélectionné, dans le dispositif 5, le même comparateur Cl est utilisé pour comparer la tension VT à ces deux tensions VSl-i et VS2-i. Du fait que l'étalonnage du

B17332- 18-RO-0294 dispositif (étapes 200, 201 et 203, figure 2) prend en compte l'éventuel décalage en tension du comparateur Cl, le dispositif 5 permet une détection plus précise de la température TS2 que le dispositif 1 quand les comparateurs Cl et C2 ont des décalages en tension différents.

[0091] Les variantes de réalisation du procédé décrit en relation avec la figure 2 et leur combinaison s'appliquent au procédé de la figure 6, et, les variantes de réalisation correspondantes du dispositif 1 telles que décrites en relation avec les figures 3 et 4 sont transposables au dispositif 5 de la figure 5. Par exemple, lorsque la variante de réalisation de la figure 3 est appliquée au dispositif de la figure 5, le circuit 13 est configuré pour sélectionner, en fonction du signal de commande MODE, la tension Vcompl parmi les tensions Vtestl, Vtest2 et les tensions VSl-i, VS2i et Vtrim-i de l'ensemble sélectionné, et la tension Vcomp2 parmi les tensions Vtestl, Vtest2 et Vint. Plus particulièrement, lorsque que le dispositif est en cours de test des comparateurs Cl et C2, le circuit 13 fournit la tension Vtestl ou Vtest2 aux comparateurs Cl et C2, lorsque le dispositif 5 est en cours d'étalonnage, le circuit 13 fournit la tension Vtrim-i qu'il reçoit au comparateur Cl, et, lorsque le dispositif est dans une phase de détection des températures TS1 et TS2, le circuit 13 fournit la tension Vint au comparateur C2, et, en fonction du signal OUT2, l'une des tensions VSl-i et VS2-1 qu'il reçoit au comparateur Cl.

[0092] En outre, bien que l'on ait décrit des dispositifs 1 et 5 détectant deux températures TS1 et TS2, ces dispositifs peuvent être adaptés pour détecter plus de deux températures, par exemple en adaptant le nombre de tensions de chaque ensemble de tensions continues fournit par le circuit 10, le circuit 12, et en adaptant en outre le circuit 13, et, le cas

B17332- 18-RO-0294 échéant, le nombre de comparateurs, les procédés des figures 2 et 6 et leurs variantes étant adaptés en conséquence.

[0093] Divers modes de réalisation et variantes ont été décrits. L'homme de l'art comprendra que certaines caractéristiques de ces divers modes de réalisation et variantes pourraient être combinées, et d'autres variantes apparaîtront à l'homme de l'art. En particulier, bien que l'on ait décrit ici des modes de réalisation dans lesquels la tension VT augmente avec la température, ces modes de réalisation et variantes peuvent être adaptés au cas d'une tension VT diminuant quand la température augmente. En outre, la tension VDD, donc les tensions VSl-i, Vtrim-i, VS2-i, Vtestl, Vtest2 et Vint, peuvent toutes être négatives.

[0094] Par ailleurs, bien que cela ne soit pas représenté sur les figures 1, 3, 4 et 5, chacun des dispositifs 1 et 5 peut comprendre un circuit de traitement et de contrôle, par exemple connecté à la sortie de chaque comparateur du dispositif et, le cas échéant, à un capteur de température, ce circuit étant configuré pour déterminer et fournir les signaux MODE, TRIM et, le cas échéant, TRIM2, et/ou pour mémoriser des informations relatives à la mise en oeuvre des procédés décrits.

[0095] Enfin, la mise en oeuvre pratique des modes de réalisation et variantes décrits est à la portée de l'homme du métier à partir des indications fonctionnelles données cidessus. En particulier, pour ce qui est du choix des valeurs des tensions VSl-i, Vtrim-i, VS2-i, Vtestl, Vtest2 et Vint, l'homme du métier est en mesure, à la lumière de la présente description, de choisir ces valeurs, notamment en fonction de la précision d'étalonnage et/ou de détection souhaitée.

Claims

REVENDICATIONS

1. Procédé d'étalonnage d'un dispositif de détection d'une température comprenant les étapes suivantes :

a) déterminer (201). parmi des ensembles de tensions continues comprenant chacun une première tension et une deuxième tension, deux ensembles tels que la première tension d'un des deux ensembles et la première tension de l'autre des deux ensemble encadrent, à une première température (Ttrim), une tension de détection (VT) variant sens ib1ement proporti onne11ement ou preport i onne11ement avec la température, en comparant, à la première température (Ttrim), les premières tensions de plusieurs desdits ensembles à la tension de détection (VT) ;

b) comparer (203) la tension de détection (VT) à une deuxième tension d'un des deux ensembles.
2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel un premier écart (Δνΐ) sensiblement constant ou constant pour chacun des ensembles sépare les première et deuxième tensions de chaque ensemble, le premier écart étant de préférence sensiblement égal ou égal à la variation théorique de la tension de détection (VT) entre la première température (Ttrim) et une deuxième température.
3. Procédé selon la revendication 1 ou dans lequel la première température est comprise entre 10 et 50“C, de préférence entre 20 et 40°C, de préférence entre 25 et 35°C, de préférence environ égale ou égale à 30 °C
4. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 3, dans lequel la première tension de chaque ensemble est égale, à plus ou moins quelques millivolts, par exemple à plus ou moins 10 mV, à la valeur théorique de la tension de détection (VT) à la première température (Ttrim).

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5. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, dans lequel chaque ensemble comprend de plus une troisième tension, le procédé comprenant en outre une étape c) de comparaison (204) de la troisième tension dudit un des deux ensembles à la tension de détection (VT).
6. Procédé selon la revendication 5, dans lequel un deuxième écart (AV2) sensiblement constant, ou constant, sépare, poui chacun des ensembles, les première et troisième tensions de l'ensemble, le deuxième écart étant de préférence sensiblement égal ou égal à la variation théorique de la tension de détection entre la première température (Ttrim) et une troisième température.
7. Procédé selon la revendication 5 ou 6, dans lequel les étapes b) et c) sont effectuées simultanément, ou dans lequel l'étape b) ou a) est. sélectionnée sur la base d'une comparaison (600) de la tension de détection (VT) à une quatrième tension continue (Vint) comprise entre les deuxièmes tensions et les troisièmes tensions.
8. Procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, comprenant en outre les étapes suivantes :

placer (200), dans un environnement à la première température (Ttrim), ledit dispositif (1, 5) ;

mesurer la température du dispositif ; et appliquer, à toutes les tensions continues, un décalage basé sur une différence entre la température mesurée et la p r emi è r e t emp é r at ure.
9. Procédé selon l'une quelconque des revendications là 8, comprenant en outre, à une température sensiblement égale ou égale à la première température (Ttrim), une comparaison de la tension de détection (VT) à une cinquième tension continue (Vtestl) supérieure à toutes les premières tensions et une comparaison de la tension de détection à

B17332 - 18-RO-0294 une sixième tension continue (Vtest2) inférieure à toutes les premières tensions.
10. Dispositif de détection de température comprenant des moyens adaptés à mettre en oeuvre le procédé selon l'une quelconque des revendications 1 à 9.
11. Dispositif selon la revendication 10 comprenant :

-un premier circuit (12) de sélection d'un des ensembles ; -un deuxième circuit (13) de sélection d'une première tension de seuil (Vcompl) parmi au moins les tensions (Vtrim-i, VSl-i, VS2-i) de l’ensemble sélectionné ; et

-un premier comparateur (Cl) de la première tension de seuil à la tension de détection (VT).
12. Dispositif selon la revendication 11, comprenant un deuxième comparateur (C2) d'une deuxième tension de seuil (Vcomp2) à la tension de détection (VT).
13. Dispositif selon la revendication 12,

-dans lequel la deuxième tension de seuil (Vcorap2) est la quatrième tension (Vint) et le deuxième circuit (13) est configuré pour sélectionner la première tension de seuil (Vcompl) parmi les première, deuxième et troisième tensions de l'ensemble sélectionné, au moins en partie sur la base d'un signal de sortie (OUT2) du deuxième comparateur (C2) ;

ou

-dans lequel la deuxième tension de seuil (Vcomp2) est la troisième tension de l'ensemble sélectionné et le deuxième circuit (13) est configuré pour sélectionner la première tension de seuil (Vcompl) parmi les première et deuxième tensions de l'ensemble sélectionné.
14. Dispositif selon l'une quelconque des revendications

10 à 12, dans lequel le deuxième circuit (13) est configuré pour sélectionner la première tension de seuil (Vcompl) en

B17332 - 18-RO-0294 outre parmi les cinquième et sixième tensions (Vtestl, Vtestl).

15 . D i s p o s i t i f selon --dans lequel le deuxième sélection n e r la deuxième les quatrièm (Vint),

.es revendications 12 et 14, circuit (13) est configuré pour tension de seuil (Vcomp2) parmi cinquième (Vtestl) et sixième .ectionner la première tension première et deuxième (VS2--i) otionné et les cinauième et (Vtest.2) tensions, et. pou de seuil (Vcompl) parmi les tensions de l'ensemble séle sixième tensions (Vtestl, Vtest2), au moins en partie sur

la base d' un s i g n ai t de sortie (OUT2) du deuxième c omp a r a t e u r (C2) ; ou -dans lequel le deuxième circuit (13 ) est configuré pour sélectionner la deuxième tension de seuil (Vcomp2) parmi

la troisième tension de l'ensemble sélectionné et les cinquième et. sixième tensions (Vtestl, Vtest.2) et pour sélectionner la première tension de seuil (Vcompl) parmi les première et deuxième tensions de l'ensemble sélectionné et les cinquième et sixième tensions (Vtestl, Vtest2).

Dispositif selon l'une quelconque des revendications 10 à 15, comprenant en outre un troisième circuit (10) de fourniture de chaque tension continue (Vtestl, Vtest2,

Vint).

Dispositif selon l'une quelconque des revendications 10 à 16, comprenant en. outre un capteur de température et un quatrième circuit (103) configuré pour appliquer à chaque tension continue (Vtestl, Vtest2, Vint) un même décalage déterminé à partir d'un signal de sortie du capteur lorsque le dispositif est dans un environnement à la première température (Ttrim).