FR2998967A1 - Spectroscopy apparatus i.e. spectroscope, for spectroscopy of door sample for study of e.g. Raman diffusion, has adjusting unit regulating position of sample support according to three translation axes and fulcrum pin - Google Patents
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Abstract
Description
APPAREIL ET METHODE DE SPECTROSCOPIE Domaine technique La présente invention se rapporte à un appareil de spectroscopie tel qu'un spectroscope pour l'étude de la diffusion Raman ou de la fluorescence. Elle concerne également une méthode d'observation d'un échantillon avec un tel appareil. Dans la description ci-dessous, les références entre crochets (E]) renvoient à la liste des références présentée à la fin du texte. Etat de la technique On connaît différentes méthodes d'observation d'échantillon selon lesquelles on excite l'échantillon par un éclairement particulier et on observe le comportement du matériau lorsqu'il est soumis à cet éclairement. Une telle méthode exploite par exemple des phénomènes de fluorescence, de seconde harmonique, de diffusion Raman et d'hyperRaman. Dans le cas du phénomène de Raman, l'échantillon est éclairé avec un rayon laser à une fréquence déterminée. Selon ses propres caractéristiques, l'échantillon diffuse cette lumière avec une part de lumière ayant un décalage de la fréquence. On accède ainsi à des propriétés de l'échantillon en analysant l'intensité et le décalage de fréquence de la lumière diffusée.TECHNICAL FIELD The present invention relates to a spectroscopy apparatus such as a spectroscope for studying Raman scattering or fluorescence. It also relates to a method of observing a sample with such a device. In the description below, references in square brackets (E) refer to the list of references at the end of the text. STATE OF THE ART Various sample observation methods are known according to which the sample is excited by a particular illumination and the behavior of the material when it is subjected to this illumination is observed. Such a method exploits, for example, fluorescence, second harmonic, Raman scattering and hyperRaman phenomena. In the case of the Raman phenomenon, the sample is illuminated with a laser beam at a determined frequency. According to its own characteristics, the sample diffuses this light with a part of light having a shift of the frequency. Thus, properties of the sample are accessed by analyzing the intensity and frequency shift of the scattered light.
Le document EP 502 752 Al [1] montre un spectroscope mettant en oeuvre une telle méthode. La lumière émise par un laser passe par un premier système optique, puis est réfléchie par un miroir semi-transparent et est focalisée sur l'échantillon par un deuxième système optique. La lumière réfléchie passe par le deuxième système optique, traverse en partie le miroir semi-réfléchissant et atteint un système d'analyse de la lumière. Le système d'analyse comporte un filtre à élimination de bande centré sur la fréquence de la lumière du laser, appelé en anglais « notch filter ». Ce filtre ne laisse passer que la lumière qui n'est pas à la fréquence du laser. Il permet donc d'éliminer la lumière simplement réfléchie, et de diffusion Rayleigh. Les filtres à élimination de bande ne sont pas parfaits, et on constate que certaines fréquences très proches de la fréquence du laser sont aussi éliminées. Le même document [1] montre également sur la figure 6 un dispositif par lequel l'axe d'observation et l'axe d'éclairement de l'échantillon ne sont pas confondus. Une manivelle optique permet de régler l'angle d'incidence du rayon laser par rapport à l'échantillon et à l'axe d'observation. Une telle disposition permet de diminuer fortement la diffusion Rayleigh et de s'affranchir du filtre à élimination de bande. La qualité de l'observation en est améliorée. Cependant, ce dispositif ne permet pas d'observer toutes les parties de l'échantillon.EP 502 752 A1 [1] shows a spectroscope implementing such a method. The light emitted by a laser passes through a first optical system, then is reflected by a semi-transparent mirror and is focused on the sample by a second optical system. The reflected light passes through the second optical system, partially passes through the semi-reflective mirror and reaches a light analysis system. The analysis system comprises a band elimination filter centered on the frequency of the laser light, called in English "notch filter". This filter only passes light that is not at the laser frequency. It thus makes it possible to eliminate the light simply reflected, and Rayleigh scattering. The band elimination filters are not perfect, and it is found that some frequencies very close to the frequency of the laser are also eliminated. The same document [1] also shows in FIG. 6 a device by which the observation axis and the illumination axis of the sample are not merged. An optical crank is used to adjust the angle of incidence of the laser beam with respect to the sample and the axis of observation. Such an arrangement makes it possible to greatly reduce the Rayleigh scattering and to get rid of the band elimination filter. The quality of observation is improved. However, this device does not allow to observe all parts of the sample.
On connaît également par le document US 3 610 757 [2] une cellule d'observation d'un échantillon liquide ou gazeux à haute pression par un analyseur de spectre Raman. L'axe d'éclairement est sensiblement perpendiculaire à l'axe d'observation. Un tel dispositif est inadapté à l'observation d'échantillons solides.No. 3,610,757 [2] also discloses a cell for observing a liquid or gaseous sample at high pressure by a Raman spectrum analyzer. The illumination axis is substantially perpendicular to the observation axis. Such a device is unsuited to the observation of solid samples.
C'est donc un objectif de l'invention de fournir un appareil et une méthode de spectroscopie dans laquelle un échantillon solide est soumis à un éclairement selon un axe d'éclairement et observé selon un axe d'observation qui permette d'observer le phénomène de fluorescence ou de Raman même proche de la diffusion Rayleigh et sur ou dans la majeure partie de l'échantillon. Description de l'invention Avec ces objectifs en vue, l'invention a pour objet un appareil de spectroscopie comportant un support d'échantillon, pour maintenir fixe un échantillon solide à observer, un dispositif d'observation optique pour observer l'échantillon selon un axe d'observation, et une source d'éclairement laser pour exciter l'échantillon par un faisceau laser selon un axe d'éclairement oblique par rapport à l'axe d'observation, caractérisé en ce que l'appareil comporte de premiers moyens de réglage pour régler la position du support d'échantillon selon au moins un axe de translation.It is therefore an object of the invention to provide an apparatus and a method of spectroscopy in which a solid sample is subjected to illumination along an illumination axis and observed along an observation axis which makes it possible to observe the phenomenon fluorescence or Raman even close to Rayleigh scattering and on or in most of the sample. DESCRIPTION OF THE INVENTION With these objectives in view, the subject of the invention is a spectroscopy apparatus comprising a sample support, for maintaining fixed a solid sample to be observed, an optical observation device for observing the sample according to a axis of observation, and a source of laser illumination for exciting the sample by a laser beam along an axis of illumination oblique with respect to the axis of observation, characterized in that the apparatus comprises first means of adjustment for adjusting the position of the sample holder according to at least one translation axis.
L'appareil de spectroscopie permet ainsi de déplacer l'échantillon tout en l'observant et d'explorer ses caractéristiques au moins le long d'un axe de translation. Le déplacement de l'échantillon peut être relatif à l'axe d'observation ou par rapport à l'axe d'éclairement, ou encore par rapport aux deux axes. On dispose ainsi de capacités d'exploration des échantillons inconnues jusqu'alors. Cette exploration est réalisée avec un éclairement oblique par rapport à l'observation, ce qui permet de s'affranchir de l'utilisation d'un filtre à élimination de bande et d'accéder ainsi à la lumière dont la fréquence est très proche de celle de la diffusion Rayleigh.The spectroscopy apparatus thus makes it possible to move the sample while observing it and to explore its characteristics at least along an axis of translation. The displacement of the sample may be relative to the axis of observation or with respect to the axis of illumination, or relative to the two axes. We thus have the ability to explore previously unknown samples. This exploration is carried out with an oblique illumination with respect to the observation, which makes it possible to overcome the use of a band elimination filter and to thus access the light whose frequency is very close to that of of the Rayleigh broadcast.
Selon un perfectionnement, les premiers moyens de réglage sont prévus pour régler en outre la position du support d'échantillon selon trois axes de translation. L'échantillon peut être placé sans contrainte de position dans l'espace. Selon un autre perfectionnement, les premiers moyens de réglage sont prévus pour régler en outre la position du support d'échantillon selon au moins un axe de pivotement. On peut ainsi régler une position angulaire de l'échantillon par rapport aux axes. Dans un premier mode de réalisation, l'appareil comporte de seconds moyens de réglage pour régler l'orientation et/ou la position de l'axe d'éclairement par rapport au support d'échantillon. Dans ce mode de réalisation, l'axe d'éclairement et le support d'échantillon sont liés l'un à l'autre et les seconds moyens de réglage déterminent leur position relative, en réglant par exemple l'éclairement d'un point ou d'un chemin de l'échantillon. L'échantillon est ensuite déplacé par les premiers moyens de réglage de sorte à détecter la manière dont la lumière est diffusée dans l'échantillon. Par exemple, dans le cas où l'échantillon est un guide de lumière, les pertes de transmission de la lumière dans le guide se traduisent par l'émission d'ondes Rayleigh et Raman. En introduisant la lumière dans le guide et en observant les ondes de Raman en différents lieux de l'échantillon, on peut caractériser les pertes non pas globalement, mais à chaque point particulier le long du parcours de la lumière dans le guide. Dans le premier mode de réalisation, les premiers moyens de réglage peuvent comporter une table à mouvements croisés sur laquelle sont fixés la source d'éclairement et les deuxièmes moyens de réglage supportant le support d'échantillon. La table à mouvements croisés comporte deux ou trois axes de translation et permet de déplacer ensemble la source d'éclairement et le porte échantillon, en conservant le réglage effectué grâce aux premiers moyens de réglage entre l'axe d'éclairement et l'échantillon.According to an improvement, the first adjustment means are provided to further adjust the position of the sample holder along three axes of translation. The sample can be placed without positional constraint in the space. According to another improvement, the first adjustment means are provided to further adjust the position of the sample holder according to at least one pivot axis. It is thus possible to adjust an angular position of the sample with respect to the axes. In a first embodiment, the apparatus comprises second adjustment means for adjusting the orientation and / or the position of the illumination axis with respect to the sample support. In this embodiment, the illumination axis and the sample support are connected to each other and the second adjustment means determines their relative position, for example by adjusting the illumination of a point or a sample path. The sample is then moved by the first adjustment means so as to detect how the light is diffused in the sample. For example, in the case where the sample is a light guide, the light transmission losses in the guide result in the emission of Rayleigh and Raman waves. By introducing light into the guide and observing Raman waves at different locations in the sample, losses can be characterized not globally, but at each particular point along the path of light in the guide. In the first embodiment, the first adjustment means may comprise a cross-motion table on which are fixed the illumination source and the second adjustment means supporting the sample support. The cross-motion table has two or three translation axes and makes it possible to move together the illumination source and the sample holder, while retaining the adjustment made by the first adjustment means between the illumination axis and the sample.
Selon une disposition particulière, la source d'éclairement et les deuxièmes moyens de réglage supportant le support d'échantillon sont fixés sur une même platine, laquelle est fixée de manière amovible sur la table à mouvements croisés. La platine, la source d'éclairement et le support d'échantillon constituent ainsi un sous-ensemble amovible, ce qui permet de moduler facilement l'utilisation de l'appareil, ou de modifier un appareil de spectroscopie classique en appareil conforme à l'invention. Dans un deuxième mode de réalisation, l'appareil comporte de seconds moyens de réglage pour régler l'orientation et/ou la position de l'axe d'éclairement par rapport à l'axe d'observation. Les deux axes sont liés l'un à l'autre et les seconds moyens de réglage déterminent leur position relative, en réglant par exemple un point de convergence des deux axes. L'échantillon est ensuite déplacé par les premiers moyens de réglage de telle sorte que le point de convergence est déplacé sur ou à l'intérieur de l'échantillon. On peut ainsi cartographier les propriétés de l'échantillon.According to a particular arrangement, the illumination source and the second adjustment means supporting the sample support are fixed on the same plate, which is removably fixed on the cross-motion table. The stage, the illumination source and the sample support thus constitute a removable subassembly, which makes it possible to easily modulate the use of the apparatus, or to modify a conventional spectroscopy apparatus into apparatus conforming to the invention. In a second embodiment, the apparatus comprises second adjustment means for adjusting the orientation and / or the position of the illumination axis with respect to the observation axis. The two axes are connected to each other and the second adjustment means determine their relative position, for example by adjusting a point of convergence of the two axes. The sample is then moved by the first adjustment means so that the point of convergence is moved on or within the sample. It is thus possible to map the properties of the sample.
Le dispositif d'observation est par exemple un analyseur de spectre Raman. L'invention a aussi pour objet une méthode de spectroscopie d'un échantillon solide selon laquelle on observe l'échantillon selon un axe d'observation, on éclaire l'échantillon avec un faisceau laser selon un axe d'éclairement oblique par rapport à l'axe d'observation, caractérisée en ce qu'on règle la position de l'échantillon par rapport à l'axe d'observation selon au moins un axe de translation. Selon une première application de la méthode, l'axe d'éclairement est fixe par rapport à l'échantillon et on observe différents lieux de l'échantillon en le déplaçant. Selon une deuxième application de la méthode, l'axe d'éclairement est fixe par rapport à l'axe d'observation et on déplace l'échantillon pour déplacer un point d'observation défini par l'intersection des axes d'éclairement et d'observation. L'appareil selon l'invention peut être utilisé par exemple pour les applications suivantes : - observation du signal diffusé par des nano-objets inorganiques ou organiques, en observant en oblique ; - l'imagerie de milieux diffusants, pour évaluer l'intensité diffusée ; - l'étude spectroscopique de la section transverse d'un faisceau laser, pour la recherche d'effets non-linéaires et leur quantification ; - l'étude de composants optoélectroniques tels que des guides d'onde, des fibres optiques, afin d'observer et quantifier les pertes optiques ; - l'étude des surfaces par spectroscopie Raman, de fluorescence, de seconde harmonique ou hyperRaman en réalisant un éclairement latéral ou en incidence oblique de la surface.30 D'autres avantages pourront encore apparaître à l'homme du métier à la lecture des exemples ci-dessous, illustrés par les figures annexées, donnés à titre illustratif.The observation device is for example a Raman spectrum analyzer. The invention also relates to a method of spectroscopy of a solid sample according to which the sample is observed along an observation axis, the sample is illuminated with a laser beam along an oblique illumination axis with respect to the observation axis, characterized in that the position of the sample is adjusted with respect to the observation axis along at least one axis of translation. According to a first application of the method, the illumination axis is fixed relative to the sample and different places of the sample are observed by moving it. According to a second application of the method, the illumination axis is fixed with respect to the observation axis and the sample is moved to move a point of observation defined by the intersection of the illumination and the illumination axes. 'observation. The apparatus according to the invention can be used for example for the following applications: observation of the signal diffused by inorganic or organic nano-objects, observing obliquely; - Imaging of diffusing media, to evaluate the diffused intensity; - the spectroscopic study of the cross section of a laser beam, for the search for nonlinear effects and their quantification; the study of optoelectronic components such as waveguides, optical fibers, in order to observe and quantify the optical losses; - The study of surfaces by Raman spectroscopy, fluorescence, second harmonic or hyperRaman by performing a lateral illumination or oblique incidence of the surface.30 Other advantages may still appear to those skilled in the art on reading the examples below, illustrated by the appended figures, given for illustrative purposes.
Brève description des figures - La figure 1 est une vue schématique d'un appareil selon un premier mode de réalisation de l'invention. - La figure 2 est une vue similaire à la figure 1 d'un deuxième mode de réalisation de l'invention. - La figure 3 est une vue similaire à la figure 1 dans une autre position de réglage. - La figure 4 est un diagramme représentant l'intensité en fonction du décalage de longueur d'onde par rapport à la longueur d'onde de la lumière excitatrice pour différentes excitations d'un même échantillon. 15 DESCRIPTION DETAILLEE Premier mode de réalisation Un appareil selon un premier mode de réalisation est montré sur la figure 1. L'appareil comporte un dispositif d'observation 1 comportant un 20 système optique de collection 11 et un système d'analyse optique 12 pour l'analyse des spectres Raman. L'observation est réalisée le long d'un axe d'observation O. Pour la facilité de la description, on considère qu'il est vertical, même s'il peut être orienté différemment, seule comptant la disposition relative des éléments de l'appareil. Le dispositif d'observation 1 25 est classique et n'est pas décrit de manière détaillée ici. L'appareil comporte en outre une table 2 à mouvements croisés apte à se déplacer en translation dans l'espace, c'est-à-dire selon trois axes de translation, de préférence orthogonaux entre eux. La table 2 constitue de premiers moyens de réglage. L'appareil comporte en outre une source 30 d'éclairement 3 laser liée à la table 2. La source d'éclairement 3 est apte à générer un rayon laser se diffusant selon un axe d'éclairement E. La source d'éclairement 3 est apte à pivoter autour d'un axe de pivotement P1 horizontal, perpendiculaire à l'axe d'éclairement E, de telle sorte que l'axe d'éclairement E peut s'orienter de manière oblique par rapport à l'axe d'observation 0, comme le montre l'angle 0 entre l'horizontale et l'axe d'éclairement E sur la figure 3. L'appareil comporte en outre un support d'échantillon 4 pour maintenir un échantillon S solide devant la source d'éclairement 3 et devant le dispositif d'observation 1. Le support d'échantillon 4 est fixé sur la table 2 et comporte de seconds moyens de réglage 5 pour déplacer l'échantillon S selon trois axes de translation par rapport à la table 2. Les seconds moyens de réglage 5 comporte en outre un axe de pivotement P2 parallèle à l'axe de pivotement P1 de la source d'éclairement 3. Dans une variante du premier mode de réalisation, non représentée, la source d'éclairement 3 et le support d'échantillon 4 sont montés sur une même platine, laquelle est prévue pour être fixée sur la table 2 de l'appareil. On dispose ainsi d'un sous-ensemble de l'appareil permettant de changer facilement sa configuration et ses utilisations. Le sous-ensemble permet par exemple de modifier un appareil de spectroscopie confocale, c'est-à-dire dont les axes d'éclairement et d'observation sont confondus, et dont on n'utiliserait pas la source d'éclairement dans l'axe d'observation O. Utilisation Un échantillon S est placé sur le porte échantillon. On commence par régler la position relative de l'échantillon S et de l'axe d'éclairement E par l'intermédiaire des seconds moyens de réglage 5. Lorsque ce premier réglage est réalisé, on déplace la table 2, donc en conservant le réglage précédent, pour observer différents lieux de l'échantillon S par le dispositif d'observation 1. Deuxième mode de réalisation Un appareil selon un deuxième mode de réalisation est montré sur la figure 2. L'appareil comporte également un dispositif d'observation 1 pour l'analyse des spectres de Raman.BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES FIG. 1 is a schematic view of an apparatus according to a first embodiment of the invention. FIG. 2 is a view similar to FIG. 1 of a second embodiment of the invention. - Figure 3 is a view similar to Figure 1 in another setting position. FIG. 4 is a diagram representing the intensity as a function of the wavelength shift with respect to the wavelength of the exciter light for different excitations of the same sample. DETAILED DESCRIPTION First Embodiment An apparatus according to a first embodiment is shown in FIG. 1. The apparatus comprises an observation device 1 having an optical collection system 11 and an optical analysis system 12 for analysis of Raman spectra. The observation is carried out along an observation axis O. For the ease of the description, it is considered to be vertical, even if it can be oriented differently, only counting the relative disposition of the elements of the apparatus. The observation device 1 is conventional and not described in detail here. The apparatus further comprises a table 2 with crossed movements able to move in translation in space, that is to say along three axes of translation, preferably orthogonal to each other. Table 2 constitutes first adjustment means. The apparatus further comprises a source 30 of illumination 3 laser linked to the table 2. The illumination source 3 is capable of generating a laser beam diffusing along an illumination axis E. The illumination source 3 is capable of pivoting about a horizontal pivot axis P1, perpendicular to the illumination axis E, so that the illumination axis E can be oriented obliquely with respect to the observation axis 0, as shown by the angle θ between the horizontal and the illumination axis E in FIG. 3. The apparatus further comprises a sample support 4 for holding a solid sample S in front of the illumination source. 3 and in front of the observation device 1. The sample support 4 is fixed on the table 2 and comprises second adjustment means 5 for moving the sample S along three axes of translation with respect to the table 2. The second adjusting means 5 further comprises a pivot axis P2 parallel to the pivot axis P1 of the illumination source 3. In a variant of the first embodiment, not shown, the illumination source 3 and the sample support 4 are mounted on the same plate, which is intended to be fixed on the table 2 of the device. This provides a subset of the device to easily change its configuration and its uses. The subset makes it possible, for example, to modify a confocal spectroscopy apparatus, that is to say one whose illumination and observation axes are combined, and whose illumination source would not be used in the observation axis O. Use A sample S is placed on the sample holder. We first set the relative position of the sample S and the illumination axis E by means of the second adjustment means 5. When this first adjustment is made, we move the table 2, so retaining the setting previous, to observe different locations of the sample S by the observation device 1. Second embodiment An apparatus according to a second embodiment is shown in FIG. 2. The apparatus also comprises an observation device 1 for analysis of Raman spectra.
L'appareil comporte en outre de premiers moyens de réglage 2' comprenant une table 20 à mouvements croisés comme dans le premier mode de réalisation. L'appareil comporte en outre une source d'éclairement 3' laser liée au dispositif d'observation 1 par de deuxièmes moyens de réglage 5'. La source d'éclairement 3' est apte à générer un rayon laser se diffusant selon un axe d'éclairement E. Les deuxièmes moyens de réglage 5' permettant de régler la position relative des axes d'éclairement E et d'observation 0, par un déplacement selon un axe vertical et un axe horizontal perpendiculaire à l'axe d'éclairement E.The apparatus further comprises first adjustment means 2 'comprising a table 20 with crossed movements as in the first embodiment. The apparatus further comprises a source of illumination 3 'laser linked to the observation device 1 by second adjustment means 5'. The illumination source 3 'is able to generate a laser beam that is diffused along an illumination axis E. The second adjustment means 5' makes it possible to adjust the relative position of the illumination axes E and the observation axis 0, by a displacement along a vertical axis and a horizontal axis perpendicular to the illumination axis E.
L'appareil comporte en outre un support d'échantillon 4' pour maintenir un échantillon S solide devant la source d'éclairement 3' et devant le dispositif d'observation 1. Le support d'échantillon 4' est fixé sur la table 20 et comporte en outre un axe de pivotement P2' parallèle à l'axe de pivotement P1' de la source d'éclairement 3', l'axe de pivotement P2' faisant partie des premiers moyens de réglage 2'. Utilisation On règle les deuxièmes moyens de réglage 5' pour que les axes d'éclairement E et d'observation 0 soient concourants en un point d'observation P. Pendant l'observation, on déplace l'échantillon S à l'aide des premiers moyens de réglage 2' afin d'explorer les propriétés de l'échantillon S en différents endroits. Exemple Un échantillon de PbTiO3 a été placé sur un appareil conforme à l'invention. L'échantillon de 1x1x0.5 mm présente plusieurs microdomaines. L'appareil selon l'invention a permis de placer l'un des microdomaines à l'intersection de l'axe d'éclairement et de l'axe d'observation. Différentes mesures ont été effectuées, en faisant varier la polarisation de l'éclairement et celle de l'observation, ce qui est repéré sur chaque chaque courbe par une indication conforme à la notation de Porto, avec un repère correspondant aux axes propres du cristal orienté au rayons X. On a fait l'observation soit en rétrodiffusion, soit de manière latérale par rapport à l'axe d'éclairement, ce qui est indiqué par les références 1800 ou 90° respectivement. Les mesures latérales montrent que le système conserve bien les règles de sélection, en observant les mêmes modes activés, et ne nécessitent pas de filtre à élimination de bande. La réponse avec la configuration y(xz)x est nulle, ce qui montre que l'observation est bien focalisée sur un domaine et n'est pas perturbuée par les autres domaines de l'échantillon. L'invention n'est pas limitée aux modes de réalisation cités à titre d'exemple. Le dispositif d'observation 1 peut être un spectromètre de fluorescence, multiphoton, hyperRaman ou Brillouin ou un microscope optique de champ proche. La source d'éclairement peut être l'extrémité d'une fibre optique connectée à une source lumineuse déportée.The apparatus further comprises a sample holder 4 'for holding a solid sample S in front of the illumination source 3' and in front of the observation device 1. The sample holder 4 'is fixed on the table 20 and further comprises a pivot axis P2 'parallel to the pivot axis P1' of the illumination source 3 ', the pivot axis P2' being part of the first adjustment means 2 '. Use The second adjustment means 5 'are adjusted so that the illumination E and observation 0 axes are concurrent at a point of observation P. During the observation, the sample S is displaced using the first adjusting means 2 'to explore the properties of the sample S in different places. Example A sample of PbTiO3 was placed on an apparatus according to the invention. The 1x1x0.5 mm sample has several microdomains. The apparatus according to the invention made it possible to place one of the microdomains at the intersection of the illumination axis and the observation axis. Different measurements were made, by varying the polarization of the illumination and that of the observation, which is marked on each curve by an indication according to the notation of Porto, with a mark corresponding to the proper axes of the oriented crystal. X-rays. The observation was made either in backscattering or sideways with respect to the illumination axis, which is indicated by the references 1800 or 90 ° respectively. Lateral measurements show that the system retains the selection rules, observing the same activated modes, and does not require a band elimination filter. The response with the configuration y (xz) x is zero, which shows that the observation is well focused on one domain and is not disturbed by the other domains of the sample. The invention is not limited to the embodiments given by way of example. The observation device 1 may be a fluorescence spectrometer, multiphoton, hyperRaman or Brillouin or a near field optical microscope. The illumination source may be the end of an optical fiber connected to a remote light source.
Listes des références [1] EP 502 752 Al publié le 20-01-1992 [2] US 3 610 757 publié le 5-1 0-1 971List of references [1] EP 502 752 Al published on 20-01-1992 [2] US 3,610,757 published 5-1 0-1 971
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