FR2912816A1 - Impedance measuring device for e.g. printed circuit of capacitor, has measuring apparatus with processing circuit to produce impedance measurement between pins based on pre-recorded measurement corresponding to space during measurement - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 title abstract description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 244000007853 Sarothamnus scoparius Species 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07392—Multiple probes manipulating each probe element or tip individually
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Abstract
Description
Dispositif de mesure d'une impédanceImpedance measuring device
La présente invention a pour objet un dispositif de mesure d'une impédance. Elle est destinée à être utilisée dans le domaine des composants électroniques (par exemple des condensateurs) et ou des circuits imprimés, voire des circuits intégrés. Dans ce domaine, elle est plus particulièrement destinée à mesurer le comportement de ces circuits en haute fréquence ou très haute fréquence. En effet, ces circuits présentent dans tous les cas une dimension non négligeable par exemple jusqu'à quelques dizaines de centimètres pour les circuits imprimés. Les réseaux de connexion qui se développent dans ces circuits engendrent la naissance de boucles de courant particulièrement gênantes. Ces boucles provoquent des résonances en haute fréquence. Pour résoudre ce problème, il est connu de filtrer les ondes qui naissent dans le circuit en lui adjoignant des capacités de découplage. Les capacités de découplage permettent de filtrer des harmoniques hautes fréquences en jouant le rôle de filtres passe-bas. La fréquence de coupure de ces filtres dépend de la valeur de ces capacités et des inductances en série avec celles-ci. The present invention relates to a device for measuring an impedance. It is intended to be used in the field of electronic components (for example capacitors) and or printed circuits, or even integrated circuits. In this field, it is more particularly intended to measure the behavior of these circuits in high frequency or very high frequency. Indeed, these circuits have in all cases a significant dimension for example up to a few tens of centimeters for printed circuits. The networks of connection that develop in these circuits generate the birth of current loops particularly troublesome. These loops cause resonances in high frequency. To solve this problem, it is known to filter the waves that are born in the circuit by adding decoupling capabilities. The decoupling capabilities allow filtering of high frequency harmonics by acting as low-pass filters. The cutoff frequency of these filters depends on the value of these capacitors and the inductances in series with them.
Il importe donc de connaître les paramètres électriques des circuits imprimés : capacité entre plans de masse et d'alimentation, résistances et inductances des vias et des composants (notamment des capacités de découplage). La connaissance de ces paramètres permet lors de la conception d'éviter que les résonances n'aient lieu aux fréquences correspondant au spectre harmonique du signal. Pour un circuit donné, il convient notamment d'établir une réponse fréquentielle et de déterminer la valeur des capacités des condensateurs de découplage qu'il est nécessaire d'y adjoindre pour neutraliser l'apparition de ces phénomènes de résonances électriques. It is therefore important to know the electrical parameters of the printed circuits: capacitance between ground and power planes, resistances and inductances of the vias and components (in particular decoupling capacitors). The knowledge of these parameters makes it possible during the design to prevent the resonances from taking place at the frequencies corresponding to the harmonic spectrum of the signal. For a given circuit, it is particularly appropriate to establish a frequency response and determine the capacitance value of the decoupling capacitors that must be added to neutralize the occurrence of these phenomena of electrical resonance.
Une première approche peut être expérimentale, elle consiste tout d'abord à mesurer la réactance ou l'impédance du circuit à vide afin de déterminer les capacités constituées par la superposition des plans de masse et d'alimentation du circuit imprimé sans composant, en pratique, sa capacité. Elle revient, après calcul et adjonction des condensateurs de découplage, à mesurer l'efficacité de la neutralisation des résonances parasites envisagées. Il convient donc de disposer d'une chaîne de mesure. Une telle chaîne comporte dans son principe un connecteur relié d'une part, par un câble, à un appareil de mesure. D'autre part, le connecteur comporte deux broches. Les deux broches sont plaquées sur deux endroits du circuit, deux plages métallisées, entre lesquelles il convient de mesurer l'impédance. Pour des raisons de maniabilité, les broches ont une longueur d'environ 1 cm ou moins. Cette distance sépare, lors de la mesure, l'embase du connecteur, sa base, du composant électronique, du circuit imprimé ou de la carte électronique. Malheureusement, la longueur de ces broches constitue une boucle de courant créatrice d'une inductance qui elle-même vient fausser la mesure. Pour résoudre ce problème, il est connu de mesurer, au préalable, l'impédance ainsi apportée, ce qui permet d'établir un modèle du connecteur et d'en tenir compte dans la mesure effectuée avec l'appareil. Un autre problème survient alors. Il est lié au fait que les écarts entre les broches ne correspondent pas toujours aux écarts entre les plages métalliques du circuit dont il faut mesurer l'impédance. Les opérateurs prennent alors l'habitude de tordre légèrement les broches pour les faire toucher correctement les plages métalliques concernées. Bien entendu, dans ces conditions, les mesures sont faussées et les résultats de neutralisation des ondes parasites ne sont pas parfaits. Il devient en particulier impossible de maîtriser correctement le modèle du connecteur et les mesures sont donc difficilement interprétables. A first approach can be experimental, it consists first of all in measuring the reactance or the impedance of the vacuum circuit in order to determine the capacitances constituted by the superposition of the ground and power planes of the circuit board without component, in practice , his capacity. It returns, after calculation and addition of the decoupling capacitors, to measure the effectiveness of the neutralization of the parasitic resonances envisaged. It is therefore necessary to have a measurement chain. Such a chain comprises in principle a connector connected on the one hand, by a cable, to a measuring device. On the other hand, the connector has two pins. The two pins are plated on two parts of the circuit, two metallized areas, between which it is necessary to measure the impedance. For ease of handling, the pins have a length of about 1 cm or less. This distance separates, during measurement, the base of the connector, its base, the electronic component, the printed circuit or the electronic card. Unfortunately, the length of these pins is a current loop creating an inductance which itself distorts the measurement. To solve this problem, it is known to measure, beforehand, the impedance thus provided, which allows to establish a model of the connector and to take into account in the measurement made with the device. Another problem then arises. It is linked to the fact that the gaps between the pins do not always correspond to the gaps between the metal areas of the circuit whose impedance must be measured. The operators then make the habit of slightly twisting the pins to make them touch correctly the metal areas concerned. Of course, under these conditions, the measurements are distorted and the results of neutralization of the parasitic waves are not perfect. In particular, it becomes impossible to control the connector model correctly and the measurements are therefore difficult to interpret.
En effet, on a pu estimer que, pour un circuit imprimé par exemple, une épaisseur de circuit de 1 mm pouvait conduire facilement à la création d'une inductance de boucle d'une valeur de 1 nH. Dans ces conditions, à des fréquences de l'ordre de plusieurs centaines de MégaHertz, des impédances élevées créées peuvent fausser totalement le fonctionnement. Indeed, it has been estimated that, for a printed circuit for example, a circuit thickness of 1 mm could easily lead to the creation of a loop inductance of a value of 1 nH. Under these conditions, at frequencies of the order of several hundred MegaHertz, high impedances created can completely distort the operation.
Il en va de même pour les broches : les décaler d'un millimètre fait diverger les résultats de la mesure d'une manière inacceptable. L'invention apporte une solution à ce problème de l'adaptation de la dimension des écarts entre les plages métallisées à prendre en considération. Dans ce but, le dispositif de mesure de l'invention comporte un connecteur dont les broches sont mobiles, l'une par rapport à l'autre. Un modèle mathématique permet en outre de relier les dimensions géométriques et la nature des matériaux du connecteur à une valeur d'impédance, cela en fonction de la distance entre les deux broches de l'embase du connecteur. En agissant ainsi, on peut tenir compte, dans la mesure, de l'écart réel des broches et produire un résultat fiable et interprétable. La mesure des écarts peut être réalisée de différentes façons. Elle peut être soit une mesure directe de longueur, soit une mesure indirecte par une connaissance d'une géométrie du système mesuré, ou un index renseignant sur la valeur de l'écart. En pratique, la mesure indirecte peut être une mesure préalablement effectuée sur le circuit lui-même, et correspondant à un index. L'invention a donc pour objet un dispositif de mesure d'impédance, pour mesurer une impédance entre deux points d'un circuit, comportant, - un appareil de mesure, - un câble, - un connecteur muni d'une part d'une prise normalisée pour être relié par le câble à l'appareil, - le connecteur étant muni d'autre part de deux broches formant un point chaud et un point froid, caractérisé en ce que -les broches du connecteur sont mobiles l'une par rapport à l'autre et leurs positions au moment d'une mesure effective déterminent entre elles un écart parmi plusieurs écarts possibles, - le dispositif comporte une table de mesures préenregistrées correspondant à des paramètres d'écart, -chacune des mesures préenregistrées correspondant à une valeur d'une impédance apportée, au cours d'une mesure, par les broches en fonction d'un écart, et - l'appareil comportant un circuit de traitement pour produire une mesure d'une impédance, présente entre les deux broches, en fonction d'une mesure préenregistrée correspondant à un écart effectif pendant cette mesure d'impédance. Dans un exemple, le circuit de traitement met en oeuvre un modèle électrique du connecteur, intégré dans un programme permettant de connaître l'impédance du connecteur en fonction de la distance entre les deux broches afin de s'affranchir des modifications de la chaîne de mesure. L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui suit puis à l'examen des figures qui l'accompagnent. Celles-ci ne sont présentées qu'à titre indicatif et nullement limitatif de l'invention. Les figures montrent : Figure 1 : Un dispositif de mesure d'impédance selon l'invention ; Figures 2 et 3 : Une représentation des circuits dont on cherche à mesurer les impédances, les capacitances ou les inductances, notamment en présence des condensateurs de découplage, en fonction de la fréquence ; Figures 4 et 5 : Des représentations schématiques de broches du dispositif de mesure de l'invention ; Figures 6a à 6c : Une représentation d'une première variante de réalisation d'une embase permettant la mobilité des broches du connecteur ; Figures 7a et 7b : Une représentation d'une deuxième variante permettant la mobilité des broches du connecteur. La figure 1 montre un dispositif de mesure d'impédance selon l'invention. Ce dispositif de mesure comporte un appareil de mesure 1 relié par un câble 2 à un connecteur 3. Le connecteur 3 comporte d'une part une prise normalisée 4 pour être reliée au câble 2 et d'autre part, deux broches 5 et 6. Les broches 5 et 6 sont destinées à entrer au contact de zones métallisées respectivement 7 et 8 d'un circuit électronique schématisé 9. Entre les points 7 et 8 se développe une impédance schématisée par une résistance 10, une inductance 11 et une capacité 12. Ces caractéristiques doivent être connues avec le maximum de précision afin de les intégrer dans la modélisation d'un réseau de découplage. Alors que la dimension du circuit électronique 9 ne correspond pas a priori à l'écart entre les broches 5 et 6, l'invention prévoit que le connecteur 3 permet la mobilité des broches 5 et 6, l'une par rapport à l'autre. Dans la pratique, l'une de ces broches sera appelée le point chaud, et l'autre, le point froid (la masse). Dans un exemple, la broche de point chaud est fixe par rapport au connecteur 3. La broche de point froid est alors mobile dans le connecteur 3. Ces appellations peuvent être interverties. Dans la pratique, la broche reliée au point froid sera également reliée à la tresse du câble 2 par l'intermédiaire du connecteur 3. Le câble 2 utilisé sera de préférence un câble coaxial afin d'assurer une bonne impédance caractéristique. Le dispositif est un analyseur de réseau permettant de calculer les paramètres, ou un réflectomètre En correspondance d'un écart 13 des broches les unes par rapport aux autres, l'appareil 1 comporte un ensemble de mesures préenregistrées dans une mémoire 14. L'appareil 1 comporte à cet effet un microprocesseur 15 relié par un bus d'adresses de données et de commandes 16 à une mémoire programme 17 comportant un programme 18 de mesures, à la mémoire de données 14, à une interface d'entrée et sortie 19, reliée au câble 2, à des périphériques de commande 20, à un capteur de mesures 21 et éventuellement à un dispositif d'affichage 22. La structure de l'appareil 1 peut être changée, notamment s'il est relié à une imprimante pour éditer le résultat de mesure, voire à un dispositif automatique de création ou de sélection de condensateur de découplage. En fonction des mesures effectuées par le capteur 21, le microprocesseur 15 fait exécuter le programme 18 pour produire un résultat de mesure, exprimé en termes de capacité ou d'inductance, pour l'impédance ou la réactance mesurée entre les deux broches 5 et 6. Le programme 18 comporte dans son principe le calcul de la contribution réactive du circuit mesuré, compte tenu de la participation de la réactance apportée par les broches 5 et 6. Le programme 18 peut de préférence comporter un sous programme 23 de calcul d'une capacité équivalente à connecter entre les deux métallisations 7 et 8 pour neutraliser au mieux les effets des ondes parasites haute fréquences qui se développent dans le circuit 9. L'appareil 1 est de type connu. Sa particularité, dans l'invention, est de disposer de la mémoire 14 dont les enregistrements 24 sont chacun représentatifs d'un écart donné 13 des broches 5 et 6. Le principe de la mesure est le suivant : on indique, par exemple à l'aide du périphérique, du bouton de commande 20, à l'appareil 1, quel est l'écart entre les broches 5 et 6. Cet écart peut être par exemple un écart mesuré avec un pied à coulisse sur le circuit 9, ou un écart correspondant à une indication portée par ce dernier. Il peut par ailleurs être une indication donnée avec un colisage du circuit 9, selon lequel le circuit mesure une longueur donnée. L'indication peut résulter d'une autre mesure. L'indication apportée par le périphérique de commande 20 est exploitée par le microprocesseur 15 pour aller chercher dans la mémoire 14 une valeur d'inductance 24 qui correspond à l'écart ainsi imposé. Cette valeur 24 est utilisée dans le programme 18 pour paramètrer la mesure effectuée par le capteur de mesure 21 et produire le résultat de l'impédance ainsi mesurée. L'impédance mesurée est celle présente entre les bornes 7 et 8 du circuit 9, indépendamment de la présence des broches 5 et 6. Les broches 5 et 6 sont donc mobiles l'une par rapport à l'autre entre des positions déterminant des écarts 13. et la table 14 comporte des mesures préenregistrées qui correspondent à des valeurs de réactance qui sont justement fonction de ces écarts . The same goes for the pins: to offset them by one millimeter makes the results of the measurement diverge in an unacceptable way. The invention provides a solution to this problem of the adaptation of the size of the gaps between the metallized areas to be considered. For this purpose, the measuring device of the invention comprises a connector whose pins are movable relative to each other. A mathematical model also makes it possible to connect the geometric dimensions and the nature of the connector materials to an impedance value, as a function of the distance between the two pins of the connector base. By doing so, one can take into account, to the extent, the actual gap of the pins and produce a reliable and interpretable result. The measurement of deviations can be done in different ways. It can be either a direct measure of length, or an indirect measure by a knowledge of a geometry of the measured system, or an index informing on the value of the difference. In practice, the indirect measurement may be a measurement previously performed on the circuit itself, and corresponding to an index. The subject of the invention is therefore an impedance measuring device, for measuring an impedance between two points of a circuit, comprising, - a measuring device, - a cable, - a connector provided on the one hand with a standardized plug for being connected by the cable to the apparatus, - the connector being provided on the other hand with two pins forming a hot spot and a cold spot, characterized in that-the connector pins are movable relative to one another to the other and their positions at the time of an effective measurement determine between them a difference among several possible deviations, - the device comprises a table of pre-recorded measurements corresponding to deviation parameters, -each pre-recorded measurements corresponding to a value an impedance provided during a measurement by the pins as a function of a deviation, and - the apparatus comprising a processing circuit for producing a measurement of an impedance, present between the two pins, in function n of a prerecorded measurement corresponding to an effective distance during this impedance measurement. In one example, the processing circuit implements an electrical model of the connector integrated in a program making it possible to know the impedance of the connector as a function of the distance between the two pins in order to overcome the modifications of the measurement chain. . The invention will be better understood on reading the description which follows and on examining the figures that accompany it. These are presented only as an indication and in no way limitative of the invention. The figures show: FIG. 1: An impedance measuring device according to the invention; FIGS. 2 and 3: a representation of the circuits whose impedances, capacitances or inductances are to be measured, especially in the presence of the decoupling capacitors, as a function of frequency; Figures 4 and 5: Schematic representations of pins of the measuring device of the invention; Figures 6a to 6c: A representation of a first embodiment of a base allowing the mobility of the pins of the connector; Figures 7a and 7b: A representation of a second variant for the mobility of the pins of the connector. Figure 1 shows an impedance measuring device according to the invention. This measurement device comprises a measuring device 1 connected by a cable 2 to a connector 3. The connector 3 comprises firstly a standard socket 4 to be connected to the cable 2 and secondly, two pins 5 and 6. The pins 5 and 6 are intended to come into contact with metallized zones 7 and 8 respectively of a schematic electronic circuit 9. Between points 7 and 8 is developed an impedance schematized by a resistor 10, an inductor 11 and a capacitor 12. These characteristics must be known with the maximum of precision in order to integrate them into the modeling of a decoupling network. While the size of the electronic circuit 9 does not correspond a priori to the distance between the pins 5 and 6, the invention provides that the connector 3 allows the mobility of the pins 5 and 6, relative to each other . In practice, one of these pins will be called the hot spot, and the other, the cold point (the mass). In one example, the hot-point pin is fixed relative to the connector 3. The cold-point pin is then movable in the connector 3. These names can be inverted. In practice, the pin connected to the cold point will also be connected to the braid of the cable 2 via the connector 3. The cable 2 used is preferably a coaxial cable to ensure a good characteristic impedance. The device is a network analyzer making it possible to calculate the parameters, or a reflectometer. In correspondence of a difference 13 of the pins relative to each other, the apparatus 1 comprises a set of measurements prerecorded in a memory 14. The apparatus 1 comprises for this purpose a microprocessor 15 connected by a data and command address bus 16 to a program memory 17 comprising a program 18 of measurements, to the data memory 14, to an input and output interface 19, connected to the cable 2, to control peripherals 20, to a measurement sensor 21 and possibly to a display device 22. The structure of the apparatus 1 can be changed, especially if it is connected to a printer for editing the measurement result, or even an automatic device for creating or selecting a decoupling capacitor. According to the measurements made by the sensor 21, the microprocessor 15 causes the program 18 to produce a measurement result, expressed in terms of capacitance or inductance, for the impedance or the reactance measured between the two pins 5 and 6 The program 18 comprises in principle the calculation of the reactive contribution of the measured circuit, taking into account the participation of the reactance provided by the pins 5 and 6. The program 18 may preferably comprise a subroutine 23 for calculating a equivalent capacity to connect between the two metallizations 7 and 8 to best neutralize the effects of high frequency spurious waves that develop in the circuit 9. The apparatus 1 is of known type. Its particularity in the invention is to dispose of the memory 14 whose records 24 are each representative of a given distance 13 of the pins 5 and 6. The principle of the measurement is the following: it is indicated, for example at Using the device, from the control button 20, to the device 1, what is the difference between the pins 5 and 6. This difference can be for example a difference measured with a caliper on the circuit 9, or a difference corresponding to an indication carried by the latter. It can also be a given indication with a package of the circuit 9, according to which the circuit measures a given length. The indication may result from another measurement. The indication provided by the control device 20 is used by the microprocessor 15 to fetch in the memory 14 an inductance value 24 which corresponds to the difference thus imposed. This value 24 is used in the program 18 to parameterize the measurement made by the measurement sensor 21 and produce the result of the impedance thus measured. The impedance measured is that present between the terminals 7 and 8 of the circuit 9, independently of the presence of the pins 5 and 6. The pins 5 and 6 are therefore movable relative to one another between positions determining deviations 13. and the table 14 comprises prerecorded measurements which correspond to reactance values which are precisely a function of these deviations.
La figure 2 montre trois capacités de découplage 25 à 27 en position, en regard d'un circuit imprimé 28. Le circuit imprimé 28 peut être un circuit multi-couches avec un certain nombre de vias, tels que 29, formant des liaisons électriques en profondeur dans le circuit entre les couches de ce circuit. Les vias peuvent être creux ou pleins. L'appareil 1 peut être utilisé pour mesurer l'impédance du réseau de capacités de découplage positionnées sur le circuit imprimé 28. Dans un exemple, les composants électroniques tels que 9 où les condensateurs tels que 25 à 27 peuvent avoir des dimensions de l'ordre de quelques millimètres, mais l'écart entre des empreintes 28 peut être de plusieurs centimètres. Le connecteur 3 est capable de produire des écarts 13 avec un tel débattement. Sur la figure 3, on a montré un circuit imprimé 28 dans lequel on cherche à mesurer une impédance entre un point, ou via, quelconque de coordonnées xi yi et un autre point, ou via, de coordonnées xj yj. Dans la pratique, il y a ainsi N métallisations permettant de souder des circuits intégrés. Le nombre d'écarts possibles est N !. Dans la mémoire 14, en fonction de ces écarts, on calcule, ou on enregistre, donc N ! valeurs ou index 24 correspondant à des d'inductances apportées par les broches 5 et 6. Dans la pratique, des valeurs d'inductance peuvent être mesurées en connectant entre les broches 5 et 6 des réactances calibrées connues et en mesurant avec le capteur de mesures 21 la réactance résultant de l'écart. La contribution de l'écart des broches est déduite de la modification de la réactance connue à la réactance mesurée. De préférence, si le nombre N est élevé, on procédera par calcul analytique ou expérimental, avec ou sans interpolation entre des mesures clefs, correspondant à des écarts clefs. Au cours de l'utilisation, plutôt que de mesurer l'écart entre les plots du circuit imprimé 28, il pourra suffire d'indiquer à l'appareil 1 les coordonnées xi, yi et xj, yj des deux points destinés à être connectés pour que celui-ci aille chercher dans la mémoire 14, la valeur 24 correspondant. Ces coordonnées ou différences de coordonnées forment un index de la contribution. FIG. 2 shows three decoupling capacitors 25 to 27 in position, facing a printed circuit 28. The printed circuit 28 may be a multi-layer circuit with a number of vias, such as 29, forming electrical connections in FIG. depth in the circuit between the layers of this circuit. The vias can be hollow or full. The apparatus 1 may be used to measure the impedance of the decoupling capacitance network positioned on the printed circuit 28. In one example, the electronic components such as 9 where the capacitors such as 25 to 27 may have dimensions of the order of a few millimeters, but the gap between footprints 28 may be several centimeters. The connector 3 is capable of producing gaps 13 with such a clearance. FIG. 3 shows a printed circuit 28 in which it is sought to measure an impedance between a point, or via any one of coordinates xi yi and another point, or via coordinates xj yj. In practice, there are thus N metallizations for soldering integrated circuits. The number of possible gaps is N! In the memory 14, as a function of these differences, one calculates, or one records, thus N! values or index 24 corresponding to inductances provided by the pins 5 and 6. In practice, inductance values can be measured by connecting between the pins 5 and 6 of known calibrated reactances and measuring with the measurement sensor 21 the reactance resulting from the deviation. The contribution of the pin gap is deduced from the modification of the known reactance to the measured reactance. Preferably, if the number N is high, one will proceed by analytical or experimental calculation, with or without interpolation between key measurements, corresponding to key gaps. During use, rather than measuring the gap between the pads of the printed circuit board 28, it will suffice to indicate to the apparatus 1 the coordinates xi, yi and xj, yj of the two points intended to be connected for that it goes to search in the memory 14, the value 24 corresponding. These coordinates or coordinate differences form an index of the contribution.
Les figures 4 et 5 montrent différentes formes utilisées pour réaliser les broches 5 et 6. Figure 4, une telle broche a une forme cylindrique et comporte à son extrémité de contact une partie effilée 30 conique, se terminant de préférence par une partie pointue ou 31 hémisphérique. La partie effilée 30 est prévue pour pénétrer et se bloquer dans un via 29 creux du circuit imprimé 28. Figure 5, les broches 5 et 6 comportent un profil en marche d'escalier avec une marche 32, un creux de marche 33 et des contre marches 34 et 35. Les contremarches 34 et 35 sont destinées à venir se plaquer contre des chants respectivement 36 et 37 du composant électronique 9 de manière à l'enserrer alors que le creux 33 de marche et la marche 32 viennent appuyer sur les zones de contact 7 et 8 pour former le contact de mesure. Dans ces exemples des figures 4 et 5, les broches sont particulièrement robustes ; elles peuvent avoir un diamètre de l'ordre de 1 mm, réduit de moitié à l'endroit de la marche d'escalier, et avoir une longueur de l'ordre de 15 mm. FIGS. 4 and 5 show different shapes used to make the pins 5 and 6. FIG. 4 shows that such a pin has a cylindrical shape and has at its contact end a tapered tapered portion 30, preferably terminating in a pointed portion or 31 hemispherical. The tapered portion 30 is provided to penetrate and lock in a hollow via 29 of the printed circuit 28. Figure 5, the pins 5 and 6 comprise a staircase profile with a step 32, a trough 33 and against steps 34 and 35. The risers 34 and 35 are intended to be pressed against edges respectively 36 and 37 of the electronic component 9 so as to grip it while the trough 33 and the step 32 come to press the zones of contact 7 and 8 to form the measuring contact. In these examples of Figures 4 and 5, the pins are particularly robust; they may have a diameter of the order of 1 mm, halved at the location of the step, and have a length of the order of 15 mm.
Pour assurer la mobilité contrôlée des broches les unes par rapport aux autres, le connecteur comporte, figures 6a à 6c et figures 7a à 7b, une embase fixe 36, reliée à un brin du câble 2 et à une platine mobile 37. L'embase 36 peut être reliée à la tresse du câble 2 (non représentée), typiquement par un boîtier externe normalisé 38. Le boîtier 38 est un connecteur de type connu, par exemple, de type dit SMA, ou BNC ou plus généralement de tout connecteur de type radio fréquence. Il est intégré à l'embase 36. La platine mobile 37, dans les deux cas de figures, porte une broche, ici la broche 6. Cette broche est donc mobile par l'intermédiaire de la platine 37. Dans un exemple, l'embase 36 est en métal et la platine 37 est également en métal. L'embase 36 maintient une autre broche 5. La broche 5 est fixe dans l'embase 36. La broche 6 est reliée électriquement à la platine 37 et à l'embase 36. La broche 5 n'est pas reliée électriquement à l'embase 36 car elle est séparée de l'embase 36 par une épaisseur de diélectrique 51 qui permet au connecteur de respecter une impédance caractéristique normalisée (en général 50 ohms). La broche 5 est reliée électriquement à l'âme du câble 2. Elle est située dans le prolongement du contact central du connecteur 3. Le coulissement de l'embase 36 contre la platine 37 assure leur connexion électrique mutuelle. De ce fait, la broche 6 fichée dans la platine 37 est reliée à la tresse du câble 2 auquel est relié la platine 36. Dans la variante de la figure 6a à la figure 6c, la platine 37 est mobile en translation dans l'embase 36. A cet effet, l'embase 36 comporte une cavité 39 avec deux flancs internes 40 et 41, parallèles l'un à l'autre. La platine 37 est glissée dans cette cavité 39, entre ces flancs 40 et 41 et possède elle-même des flancs parallèles 42 et 43, parallèles à ces flancs 40 et 41. Un premier ressort, ou un ensemble de ressorts, 44, prend appui contre un chant 45 de la platine 37, entre ces deux flancs 42 et 43. Par réaction, le ressort 44 appuie sur un fond 46 de la cavité 39. Le ressort 44 tend ainsi à repousser la platine 37 en direction d'un pied droit 47, de l'embase 36. Le pied droit 47 s'élève à partir du flanc 40, perpendiculairement à ces flancs 40, 41. Le ressort 44 est calibré pour être juste suffisant pour maintenir entre les broches 5 et 6 un composant électronique, un circuit intégré, par exemple un circuit intégré monolithique, bloqué par les contremarches 34 et 35. Pour la mesure de l'impédance entre les deux plages 7 et 8 du composant 9, il suffit de placer ce composant 9 entre les marches 32 des deux broches 5 et 6, et de laisser le ressort 44 venir prendre appui sur les chants 36 et 37. De manière à assurer un déplacement correct de la platine 37 dans l'embase 36, celles-ci peuvent comporter une cannelure et une feuillure coopérant ensemble pour guider leur coulissement mutuel. Par exemple, le profil de la cannelure peut être en queue d'aronde, de même que celui de la feuillure. Pour le montage, on peut prévoir que la platine 36 soit réalisée en deux parties. Après mise en place de la platine 37 dans la feuillure ou la cannelure du flanc 41, ces deux parties sont assemblées. De manière à assurer le maintien en position de la platine 37 dans l'embase 36, on peut prévoir par ailleurs un deuxième jeu de ressorts, tel que 48, tendant à repousser la platine 37 pour qu'elle appuie contre le flanc 41. Dans la variante de la figure 7a et de la figure 7b, l'utilisation est plutôt celle correspondant à la mesure des différents points d'un circuit imprimé. To ensure the controlled mobility of the pins relative to each other, the connector comprises, FIGS. 6a to 6c and FIGS. 7a to 7b, a fixed base 36, connected to a strand of the cable 2 and to a mobile plate 37. The base 36 can be connected to the braid of the cable 2 (not shown), typically by a standardized outer casing 38. The casing 38 is a connector of known type, for example of the so-called SMA type, or BNC or more generally any connector of radio frequency type. It is integrated in the base 36. The movable plate 37, in both cases, carries a pin, here the pin 6. This pin is movable via the plate 37. In one example, the base 36 is metal and the plate 37 is also metal. The base 36 holds another pin 5. The pin 5 is fixed in the base 36. The pin 6 is electrically connected to the plate 37 and the base 36. The pin 5 is not electrically connected to the pin base 36 because it is separated from the base 36 by a dielectric thickness 51 which allows the connector to comply with a standardized characteristic impedance (generally 50 ohms). The pin 5 is electrically connected to the core of the cable 2. It is located in the extension of the central contact of the connector 3. The sliding of the base 36 against the plate 37 ensures their mutual electrical connection. Therefore, the pin 6 plugged into the plate 37 is connected to the braid of the cable 2 which is connected to the plate 36. In the variant of Figure 6a to Figure 6c, the plate 37 is movable in translation in the base 36. For this purpose, the base 36 has a cavity 39 with two internal flanks 40 and 41, parallel to each other. The plate 37 is slid into this cavity 39, between these flanks 40 and 41 and itself has parallel flanks 42 and 43, parallel to these flanks 40 and 41. A first spring, or a set of springs, 44, bears against a song 45 of the plate 37, between these two flanks 42 and 43. By reaction, the spring 44 presses against a bottom 46 of the cavity 39. The spring 44 thus tends to push the plate 37 towards a right foot 47, of the base 36. The right foot 47 rises from the flank 40, perpendicularly to these flanks 40, 41. The spring 44 is calibrated to be just sufficient to maintain between the pins 5 and 6 an electronic component, an integrated circuit, for example a monolithic integrated circuit, blocked by the risers 34 and 35. For the measurement of the impedance between the two areas 7 and 8 of the component 9, it suffices to place this component 9 between the steps 32 of the two pins 5 and 6, and let the spring 44 come to bear On the edges 36 and 37. In order to ensure a correct displacement of the plate 37 in the base 36, they may comprise a groove and a rabbet cooperating together to guide their mutual sliding. For example, the profile of the groove may be dovetail, as well as that of the rabbet. For mounting, it can be provided that the plate 36 is made in two parts. After placing the plate 37 in the rabbet or the flank flank 41, these two parts are assembled. In order to ensure that the plate 37 is held in position in the base 36, a second set of springs, such as 48, can be provided which pushes the plate 37 to bear against the sidewall 41. the variant of Figure 7a and Figure 7b, the use is rather that corresponding to the measurement of the different points of a printed circuit.
Typiquement, la variante des figures 7a et 7b correspond à l'utilisation d'un circuit de la figure 3. Dans celle-ci, l'embase 36 a une forme circulaire alors que la platine 37 qui porte la broche de point froid 6 a une forme en couronne qui s'adapte justement à la forme circulaire de la platine 36. Dans le cas présent, comme dans le cas de la figure 6, les platine et embase 36 et 37 étant en métal, leur coulissement mutuel assure leur connexion électrique mutuelle. Au besoin, on pourrait prévoir un balai de connexion attaché à l'une ou l'autre de ces platine ou embase, et balayant l'autre de manière à assurer une connexion sûre. Dans le cas des figures 7a et 7 b, la platine est mobile en rotation. On peut prévoir, dans ce cas, que la platine puisse être maintenue dans une position en rotation donnée par rapport à l'embase 36. Une visse de serrage 49 peut être ainsi enfoncée au travers d'un chant de la couronne de platine 37 pour venir se mater contre un chant circulaire de l'embase 36. La seconde broche de point chaud 6, reliée à l'âme du câble 2, est là aussi reliée à une connexion centrale 50 du connecteur 3. Cette connexion centrale 50 et la broche 5 sont par ailleurs isolées de l'embase 36 par un cylindre isolant 51. Typically, the variant of FIGS. 7a and 7b corresponds to the use of a circuit of FIG. 3. In this, the base 36 has a circular shape while the plate 37 which carries the cold point pin 6 has a crown shape that fits precisely the circular shape of the plate 36. In this case, as in the case of Figure 6, the plate and base 36 and 37 being metal, their mutual sliding ensures their electrical connection mutual. If necessary, it could provide a connection broom attached to one or other of these platinum or base, and sweeping the other to ensure a secure connection. In the case of Figures 7a and 7b, the plate is movable in rotation. In this case, it can be provided that the platen can be maintained in a given rotational position relative to the base 36. A clamping screw 49 can thus be driven through a ring of the platinum ring 37 to The second hot-point pin 6, connected to the core of the cable 2, is also connected to a central connection 50 of the connector 3. This central connection 50 and the pin 5 are further isolated from the base 36 by an insulating cylinder 51.
Claims (13)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0753396A FR2912816B1 (en) | 2007-02-21 | 2007-02-21 | DEVICE FOR MEASURING AN IMPEDANCE. |
PCT/FR2008/050294 WO2008113943A2 (en) | 2007-02-21 | 2008-02-21 | Impedance measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0753396A FR2912816B1 (en) | 2007-02-21 | 2007-02-21 | DEVICE FOR MEASURING AN IMPEDANCE. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2912816A1 true FR2912816A1 (en) | 2008-08-22 |
FR2912816B1 FR2912816B1 (en) | 2009-04-24 |
Family
ID=38430569
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR0753396A Expired - Fee Related FR2912816B1 (en) | 2007-02-21 | 2007-02-21 | DEVICE FOR MEASURING AN IMPEDANCE. |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
FR (1) | FR2912816B1 (en) |
WO (1) | WO2008113943A2 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2655738A1 (en) * | 1989-12-11 | 1991-06-14 | Itis | Method and apparatus for electrical measurement |
US5596283A (en) * | 1991-06-26 | 1997-01-21 | Digital Equipment Corporation | Continuous motion electrical circuit interconnect test method and apparatus |
-
2007
- 2007-02-21 FR FR0753396A patent/FR2912816B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-02-21 WO PCT/FR2008/050294 patent/WO2008113943A2/en active Application Filing
Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
FR2655738A1 (en) * | 1989-12-11 | 1991-06-14 | Itis | Method and apparatus for electrical measurement |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2912816B1 (en) | 2009-04-24 |
WO2008113943A2 (en) | 2008-09-25 |
WO2008113943A3 (en) | 2008-12-31 |
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