FR2783918A1 - Measuring forces in transparent materials, particularly applicable to production of sheet glass for windows - Google Patents
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Abstract
Description
Z Procédé et dispositif pour la mesure des contraintes de forme dans unZ Method and device for measuring form stresses in a
vitrage recouvert surglazing covered on
l'une de ses faces d'une couche opaque. one of its faces with an opaque layer.
DOMAINE DE L'INVENTIONFIELD OF THE INVENTION
La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour la mesure des contraintes de forme dans un vitrage recouvert sur l'une de ses faces d'une couche The present invention relates to a method and a device for measuring the shape constraints in a glazing covered on one of its faces with a layer
sensiblement opaque.noticeably opaque.
Il est connu de revêtir certaines parties d'un vitrage d'une couche de matière opaque afin d'obtenir certains effets souhaités. Par exemple, les vitrages automobiles et plus particulièrement les pare-brise sont recouverts sur leur périphérie d'une couche d'émail de couleur très foncée, afin de protéger la colle qui est nécessaire à la pose du vitrage contre l'action des rayons ultra-violets et It is known to coat certain parts of a glazing with a layer of opaque material in order to obtain certain desired effects. For example, automobile glazing and more particularly windshields are covered on their periphery with a layer of very dark colored enamel, in order to protect the glue which is necessary for fitting the glazing against the action of ultra rays. - violets and
également afin de cacher les défauts de jointure. also to hide joint defects.
Il est connu également de créer dans la zone du bord périphérique du vitrage un certain état de précontrainte, afin de conférer une résistance accrue à cette zone qui est généralement fragile. Ceci a pour conséquence de générer des contraintes de compression dans la zone du bord et en contrepartie, des contraintes en extension sur une bande de quelques centimètres de largeur, intérieure par rapport à It is also known to create in the zone of the peripheral edge of the glazing a certain state of prestressing, in order to confer an increased resistance on this zone which is generally fragile. This has the consequence of generating compressive stresses in the edge area and, in return, stresses in extension on a strip a few centimeters in width, inside with respect to
cette zone. Ce phénomène est illustré par la figure 1 ci- this zone. This phenomenon is illustrated by Figure 1 below.
jointe qui représente la courbe de variation de la contrainte en fonction de la distance au bord. La zone en compression a une largeur 1 et la zone en extension a une largeur L. De tels vitrages présentent des faiblesses mécaniques liées à des répartitions mal maîtrisées des contraintes résiduelles sur le bord. On a ainsi constaté que lorsque les contraintes en compression dans le bord périphérique sont trop faibles, les risques de casse lors des manipulations sont plus fréquents et que la zone en extension est le siège attached which represents the curve of variation of the stress according to the distance to the edge. The compression zone has a width 1 and the extension zone has a width L. Such glazing has mechanical weaknesses linked to poorly controlled distributions of residual stresses on the edge. It has thus been found that when the compressive stresses in the peripheral edge are too low, the risks of breakage during handling are more frequent and that the extended area is the seat
d'une forte détérioration de la résistance au gravillonnage. a sharp deterioration in resistance to graveling.
Actuellement, les constructeurs d'automobiles s'intéressent de plus en plus à réduire le niveau des Currently, automakers are increasingly interested in reducing the level of
contraintes en extension près du bord des vitrages. stresses in extension near the edge of the glazing.
ETAT ANTERIEUR DE LA TECHNIQUEPRIOR STATE OF THE ART
On connaît dans la technique un dispositif de mesure des There is known in the art a device for measuring
contraintes dans un vitrage, comme sous le nom de Sharples. constraints in a glazing, as under the name of Sharples.
Ce dispositif comprend une source de lumière qui émet un faisceau de lumière, lequel traverse successivement un polariseur, le vitrage, une lame quart d'onde et un This device comprises a light source which emits a beam of light, which passes successively through a polarizer, the glazing, a quarter-wave plate and a
analyseur.analyzer.
On montre par la théorie de la photoélasticité que la contrainte o existant en un point du vitrage est donnée par la formule: k a2tCoE o X est la longueur d'onde de la lumière, E est l'épaisseur du vitrage, Co est la constante de photoélasticité du vitrage, et V est le déphasage introduit par la biréfringence du We show by the photoelastic theory that the stress o existing at a point in the glazing is given by the formula: k a2tCoE o X is the wavelength of light, E is the thickness of the glazing, Co is the constant of photoelasticity of the glazing, and V is the phase shift introduced by the birefringence of the
vitrage en raison de l'existence d'une contrainte. glazing due to the existence of a constraint.
On mesure 4 en faisant tourner l'analyseur jusqu'à ce que l'intensité lumineuse observée à sa sortie soit nulle. A ce moment, on observe une bande noire à l'endroit du vitrage Measure 4 by rotating the analyzer until the light intensity observed at its output is zero. At this moment, we observe a black band at the place of the glazing
o l'on mesure le déphasage.o the phase shift is measured.
Toutefois, l'appareil de Sharples est peu fiable car les mesures qu'il permet d'effectuer intègrent un facteur humain non négligeable et des procédures différentes selon l'utilisateur. La visualisation de la ligne noire dépend en However, the Sharples device is not very reliable because the measurements it allows to carry out include a significant human factor and different procedures depending on the user. The visualization of the black line depends on
effet de la vision de chacun.effect of everyone's vision.
En outre, la valeur de la contrainte maximale en extension est difficile à mesurer car il faut au préalable retirer la couche d'émail opaque qui recouvre le bord du vitrage et se placer à l'endroit exact o la contrainte en In addition, the value of the maximum stress in extension is difficult to measure because it is necessary beforehand to remove the layer of opaque enamel which covers the edge of the glazing and to be placed at the exact place where the stress in
extension est maximale.extension is maximum.
Avec l'appareil Sharples, il existe donc une forte dispersion des mesures, notamment pour l'extension, cette dispersion pouvant être de l'ordre de 2 MPa pour une valeur With the Sharples device, there is therefore a large dispersion of measurements, in particular for extension, this dispersion being able to be of the order of 2 MPa for a value
de contrainte de l'ordre de 5 MPa.of stress of the order of 5 MPa.
Par la demande de brevet N 98 07836 au nom de la même Demanderesse, on connaît un procédé et un dispositif pour effectuer des mesures de contrainte en continu sur toute la largeur d'un vitrage. On se reportera à ce document pour une By patent application N 98 07836 in the name of the same Applicant, a method and a device are known for carrying out stress measurements continuously over the entire width of a glazing. We will refer to this document for a
description détaillée de ce procédé et de ce dispositif. detailed description of this process and this device.
L'invention réside dans l'application de ce procédé et de ce dispositif à la mesure des contraintes dans un substrat transparent pourvu d'une couche opaque, notamment dans la zone périphérique d'un vitrage automobile émaillé The invention resides in the application of this method and of this device to the measurement of stresses in a transparent substrate provided with an opaque layer, in particular in the peripheral zone of an enamelled automobile glazing.
sur le bord.on the edge.
RESUME DE L'INVENTIONSUMMARY OF THE INVENTION
L'invention concerne donc un procédé de mesure des contraintes de forme dans une zone de vitrage transparent recouverte sur une de ses faces d'une couche de matière sensiblement opaque, ledit procédé étant du type consistant: à faire passer un faisceau lumineux monochromatique polarisé à travers un modulateur, notamment photoélastique, ayant deux fréquences de référence, de préférence fo et 2 fo, et étant caractérisé en ce qu'il consiste en outre: à balayer avec le faisceau lumineux qui émerge du modulateur, ladite zone à mesurer sur toute sa largeur, à recevoir au travers d'un polariseur analyseur le faisceau qui est diffusé par la couche sensiblement opaque afin de déterminer les modifications introduites par la biréfringence de ladite zone à mesurer, à transformer le faisceau lumineux reçu en un signal électrique correspondant, à détecter les composantes fréquentielles B (fo) et B (2 fo) du signal électrique qui correspondent auxdites fréquences de référence du modulateur, à calculer à partir desdites composantes fréquentielles, le déphasage > par la formule J2 (Ao) B(fo) A = Arctg. (1) J1 (Ao) B(2 fo) o J1 et J2 sont des fonctions de Bessel du ler ordre et du 2ème ordre, et Ao est l'amplitude de modulation du modulateur et à calculer la contrainte O par la formule The invention therefore relates to a method for measuring the shape constraints in a transparent glazing zone covered on one of its faces with a layer of substantially opaque material, said method being of the type consisting in: passing a polarized monochromatic light beam through through a modulator, in particular photoelastic, having two reference frequencies, preferably fo and 2 fo, and being characterized in that it further consists in: scanning with the light beam which emerges from the modulator, said area to be measured over its entire width, to receive through an analyzer polarizer the beam which is diffused by the substantially opaque layer in order to determine the modifications introduced by the birefringence of said area to be measured, to transform the received light beam into a corresponding electrical signal, to detect the frequency components B (fo) and B (2 fo) of the electrical signal which correspond to said frequencies of modulator reference, to be calculated from said frequency components, the phase shift> by the formula J2 (Ao) B (fo) A = Arctg. (1) J1 (Ao) B (2 fo) o J1 and J2 are Bessel functions of the 1st and 2nd order, and Ao is the modulation amplitude of the modulator and to calculate the constraint O by the formula
= - (2)= - (2)
o X est la longueur d'onde de la lumière, E est l'épaisseur du vitrage, Co est la constante de photoélasticité du vitrage, L'analyse du faisceau peut être effectuée soit sur le faisceau obtenu par diffusiontransmission à travers la couche sensiblement opaque, soit sur le faisceau obtenu par diffusion-réflexion (rétrodiffusion) sur la couche o X is the wavelength of light, E is the thickness of the glazing, Co is the photoelasticity constant of the glazing, The beam analysis can be carried out either on the beam obtained by diffusion transmission through the substantially opaque layer , or on the beam obtained by diffusion-reflection (backscatter) on the layer
sensiblement opaque.noticeably opaque.
L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre du procédé décrit ci-dessus, du type comprenant: - un dispositif d'émission de lumière qui comprend une source de lumière monochromatique, un polariseur fixe, un modulateur photoélastique qui fournit deux fréquences de référence, et caractérisé en ce qu'il comprend en outre: des moyens de déplacement relatif du faisceau lumineux par rapport à la zone de mesure du vitrage, un dispositif de réception de la lumière diffusée par la couche opaque, comprenant un polariseur analyseur, une photodiode à avalanche, deux amplificateurs à détection synchrone ayant pour références les deux fréquences qui sont fournies par le modulateur, et un banc d'acquisition permettant de calculer le The invention also relates to a device for implementing the method described above, of the type comprising: - a light emission device which comprises a monochromatic light source, a fixed polarizer, a photoelastic modulator which supplies two frequencies reference, and characterized in that it further comprises: means for relative displacement of the light beam relative to the measurement zone of the glazing, a device for receiving the light scattered by the opaque layer, comprising an analyzer polarizer, an avalanche photodiode, two synchronous detection amplifiers having for reference the two frequencies which are supplied by the modulator, and an acquisition bench allowing to calculate the
déphasage W puis la contrainte v.phase shift W then the constraint v.
Le procédé et le dispositif selon l'invention permettent de tracer le profil des contraintes sur toute la largeur de The method and the device according to the invention make it possible to trace the profile of the stresses over the entire width of
la zone à mesurer.the area to be measured.
BREVE DESCRIPTION DES FIGURES.BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la The invention will be better understood on reading the
description qui va suivre, faite en regard des dessins description which follows, made with reference to the drawings
annexés dans lesquels: la figure 1 montre la courbe théorique de variation de la contrainte dans la zone périphérique d'un vitrage recouverte d'une couche opaque en fonction de la distance au bord du vitrage; la figure 2 représente un premier mode de réalisation d'un dispositif de mesure des contraintes dans ladite zone, les mesures étant effectuées en transmission-diffusion; la figure 3 montre la courbe de variation du déphasage en fonction de la position sur la zone à mesurer du vitrage, obtenue avec le dispositif de la figure 2; la figure 4 représente la même courbe mais corrigée pour éliminer le saut de déphasage; la figure 5 représente le profil de contrainte déduit de la courbe de la figure 4; la figure 6 représente un second mode de réalisation d'un dispositif de mesure de contrainte dans lequel les mesures sont effectuées en réflexion-diffusion; les figures 7 et 8 sont des courbes de variation du déphasage analogues respectivement aux figures 3 et 4 et obtenues avec le dispositif de la figure 6; la figure 9 représente le profil de contrainte déduit de la courbe de la figure 8; la figure 10 montre les deux courbes des figures 5 et 9 superposées, et la figure 11 montre une variante de réalisation de vitrage auquel le procédé de l'invention peut être appliqué, le vitrage étant feuilleté et comprenant une couche opaque annexed in which: FIG. 1 shows the theoretical curve of variation of the stress in the peripheral zone of a glazing covered with an opaque layer as a function of the distance from the edge of the glazing; FIG. 2 represents a first embodiment of a device for measuring the stresses in said zone, the measurements being carried out in transmission-diffusion; FIG. 3 shows the variation curve of the phase shift as a function of the position on the area to be measured of the glazing, obtained with the device of FIG. 2; FIG. 4 represents the same curve but corrected to eliminate the phase shift jump; FIG. 5 represents the stress profile deduced from the curve of FIG. 4; FIG. 6 represents a second embodiment of a strain measurement device in which the measurements are made in reflection-diffusion; Figures 7 and 8 are variation curves of the phase shift similar to Figures 3 and 4 respectively and obtained with the device of Figure 6; FIG. 9 represents the stress profile deduced from the curve of FIG. 8; FIG. 10 shows the two curves of FIGS. 5 and 9 superimposed, and FIG. 11 shows an alternative embodiment of glazing to which the method of the invention can be applied, the glazing being laminated and comprising an opaque layer
comprise entre deux de ses couches constitutives. between two of its constituent layers.
DESCRIPTION DETAILLEE DE MODES DE REALISATION PREFERES DETAILED DESCRIPTION OF PREFERRED EMBODIMENTS
La figure 1 ayant déjà été décrite, on passera Figure 1 having already been described, we will pass
directement à la description de la figure 2 qui représente directly to the description of Figure 2 which represents
un premier mode de réalisation d'un dispositif de mesure de a first embodiment of a device for measuring
la contrainte de forme selon l'invention. the form constraint according to the invention.
On a représenté sur la figure 2 un système de coordonnées Oxyz, dont les axes Ox, Oy et Oz sont respectivement parallèles aux directions longitudinale, transversale et normale au plan d'un échantillon de vitrage à analyser. Celui-ci est recouvert sur une face extérieure d'une couche sensiblement opaque 41, par exemple en émail de couleur foncée et possède une direction de FIG. 2 shows an Oxyz coordinate system, the axes of which Ox, Oy and Oz are respectively parallel to the longitudinal, transverse and normal directions in the plane of a glazing sample to be analyzed. This is covered on an outer face with a substantially opaque layer 41, for example in dark colored enamel and has a direction of
contrainte parallèle à l'axe Ox ou Oy. stress parallel to the axis Ox or Oy.
Le dispositif de mesure de la figure 2 comprend un dispositif émetteur de lumière comprenant une source de lumière monochromatique 42, un polarisateur fixe 44 orienté à 45 de l'axe Oy et un modulateur 46, par exemple photoélastique, qui est orienté de façon que ses axes soient confondus avec les axes Ox et Oy et qui fournit deux fréquences de référence, de préférence égales à fo et 2fo. Le faisceau pénètre dans l'échantillon par la face opposée à la The measurement device of FIG. 2 comprises a light emitting device comprising a monochromatic light source 42, a fixed polarizer 44 oriented at 45 from the Oy axis and a modulator 46, for example photoelastic, which is oriented so that its axes are confused with the axes Ox and Oy and which provides two reference frequencies, preferably equal to fo and 2fo. The beam enters the sample from the side opposite the
face revêtue de la couche opaque.face coated with opaque layer.
Le faisceau 49 qui est diffusé par la couche opaque est intercepté par un dispositif récepteur situé du côté de ladite couche opaque. Le dispositif récepteur comprend un polariseur analyseur 48 qui est orienté à 45 par rapport à l'axe Oy, une lentille convergente 51 prévue pour faire converger le faisceau sortant du polariseur analyseur, une photodiode à avalanche 50 qui convertit la lumière reçue en un signal électrique, et un dispositif de détection synchrone 52 comprenant deux amplificateurs à détection synchrone 54, 56 dont les fréquences de référence f0 et 2fo sont fournies par le modulateur photoélastique 46. On récupère à la sortie des amplificateurs 54, 56 deux signaux analogiques correspondant aux composantes spectrales en f0 The beam 49 which is diffused by the opaque layer is intercepted by a receiving device located on the side of said opaque layer. The receiving device comprises an analyzer polarizer 48 which is oriented at 45 relative to the axis Oy, a converging lens 51 provided for converging the beam leaving the analyzer polarizer, an avalanche photodiode 50 which converts the received light into an electrical signal , and a synchronous detection device 52 comprising two synchronous detection amplifiers 54, 56 whose reference frequencies f0 and 2fo are supplied by the photoelastic modulator 46. Two analog signals corresponding to the spectral components are recovered at the output of the amplifiers 54, 56 in f0
et 2fo du signal mesuré par la photodiode. and 2fo of the signal measured by the photodiode.
Ces deux signaux analogiques sont convertis en signaux numériques B(fo) et B(2fo) par un banc d'acquisition 58 qui détermine la valeur du déphasage i et la contrainte a par les formules (1) et (2). En déplaçant d'un mouvement relatif le système optique et l'échantillon l'un par rapport à l'autre, on peut obtenir ainsi directement le tracé du profil de contrainte de l'échantillon de vitrage dans la These two analog signals are converted into digital signals B (fo) and B (2fo) by an acquisition bench 58 which determines the value of the phase shift i and the constraint a by the formulas (1) and (2). By moving the optical system and the sample relative to each other, the stress profile of the glazing sample can be directly plotted in the
zone de mesure.measurement area.
Dans un exemple de réalisation particulier o le modulateur travaille avec une amplitude d'oscillation égale o le vitrage est un pare-brise feuilleté avec une épaisseur de 4,8 mm et o on l'éclaire avec une lumière ayant une longueur d'onde de k = 675nm, on obtient le profil représenté sur la figure 3. Ce profil donne le déphasage i en fonction de la distance au bord du point o est effectuée la mesure, l'unité de distance étant arbitraire. 9 est In a particular embodiment where the modulator works with an equal amplitude of oscillation where the glazing is a laminated windshield with a thickness of 4.8 mm and where it is illuminated with light having a wavelength of k = 675nm, the profile shown in FIG. 3 is obtained. This profile gives the phase shift i as a function of the distance at the edge of the point at which the measurement is made, the unit of distance being arbitrary. 9 is
calculé par la formule (1) donnée plus haut. calculated by formula (1) given above.
On remarque déjà que ce profil a la même allure que le profil théorique représenté à la figure 1. Les sauts de phase observés au début du profil sont dus au fait que la fonction Arctangente a ses valeurs comprises entre -90 et +90 . Comme la valeur du déphasage est supérieure à 90 , le résultat présente un décalage d'une période de 180 dans l'Arctangente. Pour corriger ce défaut, on procède comme suit: - on découpe aux ciseaux les trois tronçons AB, BC et DE de la courbe, - on élimine le tronçon horizontal AB qui correspond à des mesures effectuées dans l'air, avant le bord de l'échantillon, et donc sans intérêt, - on fait subir au tronçon BC une translation verticale vers le bas d'amplitude 90 de manière à faire coïncider le point C avec le point D. On obtient ainsi le tronçon B'D, on fait subir à la courbe B'DE ainsi obtenue une translation horizontale vers la gauche de manière à amener le point B' sur l'axe des ordonnées. On obtient alors la courbe de la figure 4. On effectue ensuite la conversion du déphasage en valeurs de contrainte, ce qui donne la courbe de la figure 5. On relève sur les courbes 4 et 5 les valeurs maximales du déphasage et de la contrainte en extension. Elles sont respectivement de 34 et de 5,1 MPa. Les valeurs minimales du déphasage et de la contrainte en compression sont We already note that this profile has the same appearance as the theoretical profile shown in Figure 1. The phase jumps observed at the start of the profile are due to the fact that the Arctangent function has its values between -90 and +90. As the value of the phase shift is greater than 90, the result presents a shift of a period of 180 in the Arctangente. To correct this defect, proceed as follows: - cut the three sections AB, BC and DE of the curve with scissors, - eliminate the horizontal section AB which corresponds to measurements made in the air, before the edge of l sample, and therefore without interest, - the section BC is subjected to a vertical downward translation of amplitude 90 so as to make the point C coincide with the point D. The section B'D is thus obtained, it is subjected to to the curve B'DE thus obtained a horizontal translation to the left so as to bring the point B 'on the ordinate axis. We then obtain the curve of figure 4. We then carry out the conversion of the phase shift into stress values, which gives the curve of figure 5. We note on curves 4 and 5 the maximum values of the phase shift and the stress in extension. They are respectively 34 and 5.1 MPa. The minimum values of the phase shift and the compressive stress are
respectivement de -160 et - 24,0 MPa. -160 and - 24.0 MPa respectively.
On décrira à présent un second mode de réalisation du dispositif de mesure des contraintes en regard de la figure 6. Ce dispositif diffère de celui de la figure 2 par le fait que le dispositif émetteur (qui comprend la source de lumière 42, le polariseur 44 et le modulateur 46) et le dispositif récepteur (qui comprend le polariseur analyseur 48, la lentille 51 et le photodiode à avalanche 50) se trouvent tous deux du même côté de l'échantillon de vitrage, à savoir du côté opposé à la face qui est recouverte de la couche opaque. Ces deux dispositifs sont regroupés dans un même boîtier qui est monté en un point fixe et qui est animé d'un mouvement oscillant afin de balayer la zone à mesurer de l'échantillon. Le dispositif récepteur intercepte donc une partie du faisceau diffusé 62 qui a été réfléchi sur la A second embodiment of the stress measurement device will now be described with reference to FIG. 6. This device differs from that of FIG. 2 by the fact that the emitting device (which comprises the light source 42, the polarizer 44 and the modulator 46) and the receiving device (which includes the analyzer polarizer 48, the lens 51 and the avalanche photodiode 50) are both on the same side of the glazing sample, namely on the side opposite to the face which is covered with the opaque layer. These two devices are grouped together in a single box which is mounted at a fixed point and which is driven by an oscillating movement in order to scan the area to be measured of the sample. The receiving device therefore intercepts part of the scattered beam 62 which has been reflected on the
couche opaque.opaque layer.
Une autre différence par rapport au dispositif de la figure 2 réside dans le fait que la lumière traverse deux fois l'échantillon avant d'être détectée par la photodiode 50. Comme l'angle entre l'axe d'émission et l'axe de réception est faible, on mesure deux fois la contrainte, ce Another difference from the device in FIG. 2 is that light passes through the sample twice before being detected by photodiode 50. As the angle between the emission axis and the axis of reception is weak, we measure twice the stress, this
qui double la sensibilité de la mesure. which doubles the sensitivity of the measurement.
Comme précédemment, on effectue les mesures du déphasage sur toute la largeur de l'échantillon en entraînant celui-ci par un moteur pas à pas. On obtient ainsi la courbe de la figure 7. Cette courbe présente des sauts de phase plus nombreux que dans le cas de la figure 3, parce que la sensibilité de la mesure est multipliée par deux dans ce As before, the phase shift measurements are carried out over the entire width of the sample by driving it by a stepping motor. The curve of FIG. 7 is thus obtained. This curve has more phase jumps than in the case of FIG. 3, because the sensitivity of the measurement is multiplied by two in this
mode de réalisation.embodiment.
Par le procédé de découpage expliqué précédemment, on construit la figure 8 et, à partir de celle-ci, on déduit le By the cutting process explained above, we build Figure 8 and, from this, we deduce the
profil des contraintes représenté sur la figure 9. stress profile shown in Figure 9.
Sur la figure 8, on lit 70 pour le déphasage maximum en In FIG. 8, we read 70 for the maximum phase shift in
extension et -330 pour le déphasage minimum en compression. extension and -330 for minimum phase shift in compression.
Ces valeurs correspondent respectivement à 5,2 MPa en These values correspond respectively to 5.2 MPa in
extension et à -24,8 MPa en compression. extension and at -24.8 MPa in compression.
On peut remarquer que les valeurs des contraintes trouvées dans le cas de la réflexion sont pratiquement We can notice that the values of the constraints found in the case of reflection are practically
égales à celles trouvées en transmission. equal to those found in transmission.
On remarque également que ces valeurs concordent aussi avec celles trouvées avec l'appareil de Sharples. En effet, lors d'une expérimentation au cours de laquelle l'échantillon est éclairé par une longueur d'onde de 523 nm, on a trouvé 5,1 MPa pour l'extension et -23,3 MPa pour la We also note that these values also agree with those found with the Sharples apparatus. Indeed, during an experiment during which the sample is illuminated by a wavelength of 523 nm, we found 5.1 MPa for the extension and -23.3 MPa for the
compression.compression.
Pour mieux se rendre compte de la concordance entre les mesures effectuées par le procédé en transmission et le procédé en réflexion, on superpose les courbes des figures 5 To better understand the agreement between the measurements made by the transmission method and the reflection method, we superimpose the curves of Figures 5
et 9 comme cela est montré à la figure 10. and 9 as shown in Figure 10.
Toutefois, malgré la coïncidence des résultats, on donne la préférence au montage en transmission car sa sensibilité est largement suffisante. La sensibilité double du montage en réflexion est plutôt un inconvénient car les sauts de phase que l'on rencontre au début du profil sont gênants et inutiles et il faut les éliminer par un traitement numérique. De plus, on constate que le profil en transmission est plus lisse que celui en réflexion. Enfin, l'interprétation des résultats en réflexion est délicate car la face avant de l'échantillon, qui est claire et souvent sale, produit beaucoup de lumière diffusée, qui est de la lumière parasite par rapport à la lumière diffusée par la However, despite the coincidence of results, preference is given to mounting in transmission because its sensitivity is largely sufficient. The double sensitivity of the assembly in reflection is rather a disadvantage because the phase jumps which one meets at the beginning of the profile are troublesome and unnecessary and must be eliminated by digital processing. In addition, it can be seen that the profile in transmission is smoother than that in reflection. Finally, the interpretation of the results in reflection is delicate because the front face of the sample, which is clear and often dirty, produces a lot of scattered light, which is stray light compared to the light scattered by the
couche opaque, seule utile pour la mesure. opaque layer, only useful for measurement.
On a supposé dans ce qui précède que la couche opaque recouvre une face extérieure du vitrage, mais l'invention s'applique également au vitrage de la figure 11 dans lequel la couche opaque 41 est comprise entre deux couches voisines du vitrage, par exemple entre une feuille de verre 43 et une It has been assumed in the above that the opaque layer covers an outer face of the glazing, but the invention also applies to the glazing of FIG. 11 in which the opaque layer 41 is between two neighboring layers of the glazing, for example between a sheet of glass 43 and a
couche intercalaire adhésive en matière plastique 45. adhesive plastic interlayer 45.
Claims (9)
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Cited By (1)
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| DE202005022110U1 (en) | 2005-05-26 | 2014-03-14 | Saint-Gobain Glass France | Insulating glazing, in particular for a door leaf of a refrigerated room |
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| US4320966A (en) * | 1979-05-16 | 1982-03-23 | Reytblatt Zinovy V | Fourier processor of photoelastic data and method of using same |
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- 1998-09-24 FR FR9811932A patent/FR2783918B1/en not_active Expired - Fee Related
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