FR2529328A1 - Marqueurs de frequence - Google Patents

Marqueurs de frequence Download PDF

Info

Publication number
FR2529328A1
FR2529328A1 FR8305039A FR8305039A FR2529328A1 FR 2529328 A1 FR2529328 A1 FR 2529328A1 FR 8305039 A FR8305039 A FR 8305039A FR 8305039 A FR8305039 A FR 8305039A FR 2529328 A1 FR2529328 A1 FR 2529328A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
frequency
wavelength
moiré
light
changes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8305039A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2529328B1 (fr
Inventor
Oded Kafri
Ziv Karny
Dan Meyerstein
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Israel Atomic Energy Commission
Original Assignee
Israel Atomic Energy Commission
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Israel Atomic Energy Commission filed Critical Israel Atomic Energy Commission
Publication of FR2529328A1 publication Critical patent/FR2529328A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2529328B1 publication Critical patent/FR2529328B1/fr
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/60Systems using moiré fringes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

CET APPAREIL MARQUEUR DE FREQUENCES, SERVANT A INDIQUER LA LONGUEUR D'ONDE DE RAYONS LUMINEUX, COMPREND UN COLLIMATEUR 15 POUR COLLIMATER LESDITS RAYONS LUMINEUX, DEUX RESEAUX G1 ET G2 ALIGNES AVEC AU MOINS UNE PARTIE DE LA LUMIERE COLLIMATEE ET SEPARES L'UN DE L'AUTRE D'UNE DISTANCE POUR PRODUIRE DES FIGURES DE MOIRE ET DES MOYENS 13, D POUR DETERMINER LES CHANGEMENTS DE LONGUEUR D'ONDE FONCTION DES CHANGEMENTS DE FREQUENCE EN DETERMINANT LES DEFLEXIONS DES FIGURES DE MOIRE.

Description

La présente invention se rapporte à des procédés et à des appareils
servant à repérer ou marquer des fréquences et elle se rapporte plus particulièrement à des marqueurs de fréquences du genre utilisé dans les expériences, essais et processus optiques.
Les marqueurs de fréquences sont des dispositifs essen-
tiels dans de nombreux processus optiques,tels que les expé-
riences et essais spectroscopiques Le marqueur de fréquences sert à produire un signal à certaines fréquences de sorte que la longueur d'onde à laquelle une partie particulière d'un
essai ou d'un processus est effectuée peut être déterminée.
Les procédés actuellement disponibles pour indiquer les lon-
gueurs d'ondes dans de tels essais spectroscopiques, par
exemple, sont des procédés mécaniques et des procédés op-
tiques Les procédés mécaniques sont sensibles aux imperfec-
tions mécaniques et ne sont, par conséquent, utilisés que pour donner des indications grossières Les procédés optiques sont basés sur l'interférométrie Les marquages de fréquences
effectués en utilisant l'interférométrie nécessitent l'em-
ploi d'un équipement extrêmement sensible et relativement
onéreux En outre, l'interférométrie nécessite l'interven-
tion de techniciens hautement qualifiés Ainsi, il n'existe
actuellement aucun procédé disponible pour obtenir des mar-
quages de fréquence qui présentent une fiabilité et une répé-
tabilité convenables tout en n'utilisant qu'un équipement relativement peu onéreux et qu'un personnel relativement
non spécialisé.
Par conséquent, l'un des buts de la présente invention est de réaliser un nouvel équipement marqueur de fréquences
et de nouveaux procédés de marquage de fréquences perfection-
nés dans lequel et au moyen desquels les inconvénients ci-
dessus mentionnés sont considérablement diminués voire sup-
primés Par conséquent, conformément à la présente invention, un appareil marqueur de fréquences pour indiquer la longueur d'onde de rayons lumineux comprend: des moyens pour collimater lesdits rayons lumineux; des premier et second réseaux alignés avec au moins une partie des ondes lumineuses collimatées pour produire des figures de moiré; et des moyens pour déterminer les changements de longueur d'onde fonction des changements de fréquence en déterminant les déflexions des figures de moiré. En outre, selon la présente invention, il est prévu un nouveau procédé pour déterminer la longueur d'onde de rayons lumineux modulés en fréquence, ledit procédé comprenant les étapes qui consistent: à mesurer les changements de l'angle de diffraction des rayons lumineux en fonction de la variation de la fréquence
par déflect ométrie de moiré.
Selon une caractéristique de l'appareil et du procédé de l'invention, un réseau de franges de moiré est projeté à travers des moyens formant iris, des moyens de détection de
la lumière étant alignés avec ledit iris pour détecter la dé-
flexion desdites configurations, des moyens étant actionnés en réponse au signal de sortie des moyens de détection de la lumière pour enregistrer l'amplitude de sortie en fonction dela longueur d'onde de sorte que ledit signal de sortie indique
les distances dont la configuration est déplacée par les va-
riations de la longueur d'onde provoquées par la fréquence
de modulation.
Le procédé présenteen outre, la caractéristique qui consiste à déterminer chaque déplacement d'une période du réseau de moiré et à indiquer ledit déplacement de façon à indiquer de cette manière le changement de longueur d'onde
de la source de lumière modulée en fréquence.
Une autre caractéristique de l'invention consiste à enregistrer simultanément les changements de longueur d'onde et les résultats des essais de sorte que les résultats des
essais sont automatiquement rapportés à la fréquence.
On comprendra plus facilement le fonctionnement et l'u-
tilisation de la présente invention en se référant à la des-
cription d'un mode de réalisation préféré de l'invention con-
sidéré à la lumière des dessins annexés dans lesquels:
la Fig 1 représente un déflectomètre de moiré ser-
vant à expliquer l'invention; la Fig 2 représente schématiquement l'appareil de l'invention qui utilise le déflectomètre de moiré pour le marquage des fréquences; et les Fig 3 a et 3 b représentent les signaux obtenus au-
moyen du marqueur de fréquences de la Fig 2 pour des sépa-
rations des réseaux respectivement de 40 cm et de 80 cm.
De nombreuses applications de la déflectométrie de
moiré ont été révélées dans le passé-par la demanderesse.
Des exemples de tellesapplications sont l'analyse d'objets
de phase, la représentation topographique d'objets réflé-
chissants (voir, par exemple, les demandes de brevet israé-
lien no 61405 déposée le 4 novembre 1980 et N O 62742 déposée le 28 avril 1981) En outre, l'emploi de la déflectométrie de moiré pour déterminer l'indice de réfraction du fluide est décrite dans une demande de brevet français déposée au nom de la demanderesse le même jour que la présente demande sous le titre "Procédé et appareil pour mesurer l'indice de
réfraction de fluides".
La technique de déflectométrie de moiré utilisée
pour déterminer des longueurs d'onde ou des fréquences four-
nit des résultats équivalents de ceux obtenus par l'inter-
férométrie Au lieu de mesurer des différences de distances
optiques (qui sont proportionnelles aux indices de réfrac-
tion),elle mesure les déflexions des rayons de faisceaux
collimatés (qui sont proportionnelles à des gradients d'in-
dice de réfraction) Cette même technique est utilisée ici pour mesurer l'angle de diffraction de la lumière qui est
proportionnel à la longueur d'onde de la lumière.
Le déflectomètre de moiré 11 comprend une source de lumière collimatée, désignée par la référence générale 12 et une paire de réseaux Gi et G 2 espacés l'un de l'autre d'une distance Un iris 13 est utilisé pour projeter une
partie choisie d'une figure de moiré sur un détec-
teur D Le détecteur peut être un tube photomultiplicateur ou l'un de nombreux types de dispositifs qui réagissent à
la lumière La sortie du détecteur D est couplée à un dis-
positif enrgistreur 16 par un conducteur 14.
Une source lumineuse 17 représentée comme étant consti-
tuée par un laser à colorant 18 et par un laser au N 219 fonc-
tionnent en combinaison pour fournir une lumière d'entrée à une lunette ou collimateur 15 qui produit un faisceau de
lumière collimatée 21 Le réseau Gi est le réseau diffrac-
teur et le réseau G 2 est le réseau analyseur Les deux ré-
seaux sont séparés d'une distance 4 N et sont déplacés en rotation ou angulairement décalés l'un par rapport à l'autre de sorte que les lignes d'un réseau font un angle e avec
celles de l'autre réseau.
La Fig 1 montre que lorsqu'un faisceau de lumière collimatée traverse le réseau de transmission Gi il se divise en plusieurs faisceaux, un faisceau dbrdre zéro se propageant dans la direction d'origine de la lumière collimatée Les autres faisceaux sont inclinés à des angles de N 0, formule dans laquelle N est l'ordre du faisceau et 0 est donné par la formule: 0 = arc tg (
dans laquelle P est égal au pas du réseau (une période).
Lorsque le réseau de moiré est sinusoldal,on n'obtient que le faisceau zéro et les faisceaux des premiers ordres
positif et négatif.
Pour le marquage de fréquences,le réseau analyseur G 2 peut être placé à une distance du réseau Gi, désignée fi sur les Fig 1 et 2 La distancei est telle que le faisceau du premier ordre ne chevauche que partiellement le faisceau d'ordre zéro Ce régime produit la configuration de franges
de moiré sinus oidales désirée La configuration sinusol-
dale a la même période que le réseau Gi Lorsque la longueur
d'onde est modifiée, la configuration d'interférence se dé-
place à une plus grande distance dans la direction Y lorsque
la longueur d'onde \ est accrue et à une plus petite dis-
tance lorsque la longueur d'onde X est diminuée Par consé-
fquent, les franges de moiré formées sur le réseau analyseur se déplacent dans le sens positif ou dans le sens négatif
dans la direction Z Le déplacement de la configuration d'in-
terférence d'une période dans la direction Y se traduit par un déplacement d'une période de la frange de moiré dans la direction Z (approximation valable pour les petits
angles) Etant donné que les franges de moiré sont agran-
dies d'un facteur qui peut dépasser 10, il est possible de suivre de petits changements de longueur d'onde au moyen de cette technique 2 On peut démontrer que À -^ = 2 P formule dans laquelle
A est la variation de longueur d'onde qui provoque le dé-
placement de la figure de moiré d'une période com-
plète. Ainsi, si la figure de moiré est réglée par
rapport à un iris de façon qu'une quantité maximale de lu-
mière traverse l'iris, le détecteur appliquera un signal de
sortie maximal à l'enregistreur à chaque changement de lon-
gueur d'onde égal àX O Lorsque le dispositif est en service, comme représenté
sur la Fig 2, on utilise une source de lumière collimatée.
La lumière collimatée est divisée Une partie de la lumière collimatée est utilisée en spectrométrie et l'autre partie est envoyée ou transmise à travers la paire de réseaux Gi et G 2 qui sont séparés l'un de l'autre d'une distance A La configuration de déflectométrie de moiré est réglée par rapport à un iris qui permet à un détecteur de lumière de
détecter le moment o la figure de moiré a été dé-
placée d'une période Le signal de sortie du détecteur est enregistré en même temps que les résultats des essais du spectromètre fournissant ainsi automatiquement un marquage
des fréquences.
Les Fig 3 a et 3 b représentent des enregistrements ty-
piques produits par l'enregistreur de la Fig 3 lorsque la
distance t est respectivement de 40 cm et de 80 cm On note-
ra qu'à 40 cm la valeur ?-o_ mesurée est égale au double de la valeur k X à 80 cm, c'est-à-dire que cette valeur
est respectivement de 2,8 nm ( 28 A) et 1,4 nm ( 14 A).
Par conséquent, la sensibilité et la résolution de l'ap-
pareil sont une fonction de la distance A entre les réseaux.
On peut facilement modifier la distance à du fait, entre autres choses, que l'exigence du parallélisme entre les deux réseaux n'est pas rigide et, par conséquent, on peut obtenir une bonne résolution L'avantage de cet appareil par rapport à ceux de la technique antérieure, tels que l'interféromètre de Fabry Pérot, est sa simplicité qui le rend d'un emploi particulièrement avantageux pour les mesures à
faible résolution Il ne nécessite que l'emploi de deux ré-
seaux et d'une source de lumière collimatée Pour les réso-
lutions relativement faibles,c'est-à-dire d'une différence de longueur d'onde d'un ordre supérieur à 0,1 nm ( 1 A) on
peut utiliser une optique bon marché.
Bien qu'on ait décrit ci-dessus les principes de l'in-
vention en se référant à un appareil et à des applications
spécifiques, il est bien entendu que cette description n'a
été donnée qu'à titre de simple exemple et qu'elle ne doit
pas être considérée comme limitant la portée de l'invention.
B

Claims (5)

REVENDICATIONS
1 Un appareil marqueur de fréquences pour indiquer la longueur d'onde de rayons lumineux, caractérisé en ce qu'il
comporte: des moyens ( 15) pour collimater lesdits rayons lu-
mineux, des premier et second réseaux (Gi, G 2) alignés avec
au moins une partie des ondes lumineuses collimatées et sépa-
rés l'un de l'autre d'une distance à pour produire des fiaures de moiré; et des moyens ( 13, D) pour déterminer les changements de longueur d'onde fonction des changements de fréquence en déterminant les déflexions des figures
de moiré.
2 Appareil marqueur de fréquences selon la revendication 1,
caractérisé en ce que les moyens servant à déterminer la dé-
flexion de la figure de moiré comprennent un iris ( 13) aligné avec l'ombre d'une frange de moiré, et des moyens (D) de détection de la lumière disposés derrière l'iris pour déterminer les changements de l'amplitude de la
lumière qui traverse l'iris.
3 Appareil marqueur de fréquences selon la revendication 2,
caractérisé en ce que des moyens enregistreurs ( 16) sont con-
nectés aux moyens (D) de détection de la lumière pour enregis-
trer les variations de l'amplitude de la lumière détectée en
fonction des longueurs d'onde.
4 Appareil marqueur de fréquences selon la revendication 3, caractérisé en ce que des moyens sont prévus pour déterminer
chaque déplacement d'une période de la figure de moi-
ré et des moyens sont prévus pour indiquer ledit déplace-
ment,indiquant ainsi un changement de la longueur d'onde
d'une source lumineuse modulée en fréquence.
5 Appareil marqueur de fréquences selon la revendication 4,
caractérisé en ce que les moyens enregistreurs ( 16) enre-
gistrent simultanément les changements de longueur d'onde et les résultats d'essais de sorte que les résultats des essais
sont automatiquement rapportés à la fréquence.
FR8305039A 1982-06-24 1983-03-28 Marqueurs de frequence Expired FR2529328B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IL66126A IL66126A (en) 1982-06-24 1982-06-24 Moire light-based frequency marking systems

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2529328A1 true FR2529328A1 (fr) 1983-12-30
FR2529328B1 FR2529328B1 (fr) 1987-07-17

Family

ID=11053588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8305039A Expired FR2529328B1 (fr) 1982-06-24 1983-03-28 Marqueurs de frequence

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4553839A (fr)
FR (1) FR2529328B1 (fr)
IL (1) IL66126A (fr)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5075560A (en) * 1990-09-20 1991-12-24 Eastman Kodak Company Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
US5075562A (en) * 1990-09-20 1991-12-24 Eastman Kodak Company Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
JP3435019B2 (ja) * 1997-05-09 2003-08-11 株式会社ニデック レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0031027A2 (fr) * 1979-12-22 1981-07-01 Ibm Deutschland Gmbh Dispositif pour la dispersion spectrale de la lumière; dispositif pour la transmission optique d'informations utilisant un tel dispositif de dispersion; dispositif pour l'enregistrement d'images optiques utilisant un tel dispositif

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0031027A2 (fr) * 1979-12-22 1981-07-01 Ibm Deutschland Gmbh Dispositif pour la dispersion spectrale de la lumière; dispositif pour la transmission optique d'informations utilisant un tel dispositif de dispersion; dispositif pour l'enregistrement d'images optiques utilisant un tel dispositif

Also Published As

Publication number Publication date
IL66126A0 (en) 1982-09-30
FR2529328B1 (fr) 1987-07-17
IL66126A (en) 1985-10-31
US4553839A (en) 1985-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2493541A1 (fr) Procede et equipement pour analyser une deviation de rayonnement
EP0242250B1 (fr) Dispositif de détection opto-électronique à distance d'une grandeur physique
JP6403682B2 (ja) 干渉装置およびそのような装置を使用する試料特性判定装置
JPH021251B2 (fr)
US8797543B2 (en) Coherent and non-coherent interferometry with cold mirror for contact lens thickness measurement
FR2531482A1 (fr) Instrument, et notamment sonde, de mesure et de controle de sondages
CN103954589B (zh) 一种光学材料折射率的精密测量装置及方法
FR2530802A1 (fr) Procede et appareil pour mesurer optiquement des distances lineaires
FR2624273A1 (fr) Dispositif pour detecter une agglutination
CN100549615C (zh) 测量光学透明体的光学和物理厚度的方法
US7515275B2 (en) Optical apparatus and method for distance measuring
CN103727901A (zh) 基于波长移相法检测平面间平行度的方法
US20040227952A1 (en) Characterization of optical fiber using fourier domain optical coherence tomography
FR2529328A1 (fr) Marqueurs de frequence
EP0601081B1 (fr) Microcapteur à poutre vibrante compensé en température
FR2532417A1 (fr) Disposition interferometrique pour la mesure de distances opto-electriques
EP0534288A1 (fr) Dispositif opto-électronique de mesure de dimensions
CN204855140U (zh) 基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置
CN105115940A (zh) 光学材料折射率曲线测量方法及装置
CN110243760A (zh) 线域频域光学相干层析系统及其纵向坐标标定方法
EP0591912B1 (fr) Interféromètre, comprenant un ensemble intégré et un miroir séparés l'un de l'autre par une région de mesure
CN109084908A (zh) 一种光纤温度传感器解调方法
CN203405410U (zh) 角度调制与波长调制spr共用系统
CN203432539U (zh) 一种光纤位移传感器
CN105067229A (zh) 基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse