FR1508232A - Méthode pour la détermination des variations de densité superficielle d'un matériau en nappe et appareil pour sa mise en oeuvre - Google Patents

Méthode pour la détermination des variations de densité superficielle d'un matériau en nappe et appareil pour sa mise en oeuvre

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FR1508232A
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Jean-Pierre Lefebvre
Jean Menard
Henri Charles
Jean-Pierre Chevrier
Gerard Alezard
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/16Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2582810A1 (fr) * 1985-05-28 1986-12-05 Vejdirektor Stat Vejlabor Procede de determination de la densite de substrats

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