FR1457778A - Méthode nucléaire pour la mesure des épaisseurs de bandes ou de feuilles - Google Patents

Méthode nucléaire pour la mesure des épaisseurs de bandes ou de feuilles

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    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
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