FR1453769A - Procédé et appareil pour la préparation d'échantillons destinés à l'analyse aux rayons x - Google Patents

Procédé et appareil pour la préparation d'échantillons destinés à l'analyse aux rayons x

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    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
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