FR1180707A - Perfectionnements aux détecteurs de particules alpha - Google Patents

Perfectionnements aux détecteurs de particules alpha

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1288696B (de) * 1966-03-08 1969-02-06 Philips Nv Verfahren zur Herstellung einer Kunststoff-Schutzschicht auf einem flachen Szintillationsschirm
NL8204539A (nl) * 1981-11-24 1983-06-16 Hitachi Chemical Co Ltd Scintillator en werkwijze voor het vervaardigen daarvan.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1288696B (de) * 1966-03-08 1969-02-06 Philips Nv Verfahren zur Herstellung einer Kunststoff-Schutzschicht auf einem flachen Szintillationsschirm
NL8204539A (nl) * 1981-11-24 1983-06-16 Hitachi Chemical Co Ltd Scintillator en werkwijze voor het vervaardigen daarvan.

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