FI97645C

FI97645C - Puuviilujen lujuuslajittelu

Info

Publication number: FI97645C
Application number: FI931139A
Authority: FI
Inventors: Matti Kairi; Pertti Helminen
Original assignee: Finnforest Oy
Priority date: 1993-03-15
Filing date: 1993-03-15
Publication date: 1997-01-27
Also published as: FI97645B; ATE209347T1; US5524771A; FI931139A0; EP0616209A3; DE69429124D1; CA2116732A1; FI931139A; CA2116732C; EP0616209B1; DE69429124T2; EP0616209A2

Description

97645

Puuviilujen lujuusiajittelu - Hällfasthetssortering av trä-fanerskivor 5 Keksintö koskee menetelmää kertopuun, vanerin tai vastaavien lujuuden lisäämiseksi ja lujuusvaihtelun pienentämiseksi, mittaamalla niiden valmistukseen käytettävien viilujen tiheyttä ja lajittelemalla viilut sen perusteella.

10 Sinänsä on jo suhteellisen kauan tiedetty, että puun lujuus kasvaa sen tiheyden mukana silloin, kun puun rakenne pysyy muuttumattomana, ts. siinä ei esimerkiksi oksaisuus muutu oleellisesti. Useissa puun käyttömuodoissa olisi erittäin hyvä tietää puun lujuus, koska tällöin voitaisiin luja puu 15 valita kohteisiin ja käyttötarkoituksiin, missä sitä erityisesti tarvitaan ja heikompilujuuksista puuta valita vähemmän tärkeisiin tai vaativiin kohteisiin. Puun lujuusvaihtelut ovat huomattavat. Puun tiheyden ja lujuuden välisistä riippuvuuksista on olemassa useita tutkimustuloksia, joista yh-20 tenä voidaan mainita: Kollman, F.F.P., Wilfred, A.C.Jr.: Principles of Wood Science and Technology I Solid Wood, Springer-Verlag, Berlin Heidelberg, 1968. Voidaan karkeasti sanoa, että puun lujuus riippuu lähes lineaarisesti sen tiheydestä, jolloin tämä riippuvuus voidaan esittää yleis-25 luontoisella kaavalla s = a · db, missä s on lujuus (MPa), a on vakio, d on suhteellinen tiheys ja b on vakio, jonka arvo on likimain 1,03. Esimerkiksi kertopuun, vanerin tai vastaavien valmistukseen käytettävien viilujen paino vaihtelee välillä 2,8 - 5,6 kg/arkki kun arkin mitat ovat 1,6 m/ 1,93 m 30 ja paksuus 3,2 mm. Arkin tiheys vaihtelee tämän mukaan ja lujuus vastaavasti, joten tästäkin on selvästi nähtävissä, että lujuusvaihtelut ovat oleellisia.

On tunnettua lajitella viiluja tiheyden mukaan mittaamalla 35 jokaisen viiluarkin paino ns. pikavaa'alla ja lajittelemalla arkit sen perusteella. Tämä on mahdollista, koska viiluarkin mitat ovat määrätyt sorvausasetusten ja leikkurien vuoksi. Punnitus mittausmenetelmänä on kuitenkin käytännön tuotanto- 2 97645 linjalla valmistusta oleellisesti hidastava menettelytapa, joten se ei ole yleistynyt. Lisäksi siinä on haittapuolena se, että sillä voidaan todeta vain viiluarkin keskimääräinen tiheys kun taas arkin käytölle saattaa olla ratkaisevaa se, 5 onko siinä todettavissa esimerkiksi yksittäisiä heikkoja ja siten tiheydeltään pienempiä kohtia, vaikka arkki keskimäärin olisikin lujuudeltaan hyvä. Lisäksi tässä punnitusme-netelmässä viilujen kosteusvaihtelut aiheuttavat virhettä, koska punnituksessa ei pystytä erottamaan painon syytä, ts.

10 johtuuko esim. suuri paino kuiva-aineesta vai vesipitoisuudesta. Toinen tunnettu tapa mitata tiheyttä on käyttää mittaukseen ultraääntä. Ultraäänilaite on kuitenkin erittäin kallis investointi ja siinä on haittapuolena se, että ultraäänianturi pitää saada kosketuksiin viilun kanssa, mikä on 15 kuivatun ja käyristyneen viilun kohdalta vaikeaa. Lisäksi tällainen kosketuksellinen mittaus saattaa kuluttaa ultraäänianturia ja vaurioittaa viilua.

Patenttijulkaisuissa US-4 739 249, FI-74816 ja FI-77936 on 20 kuvattu radiotaajuuksilla toimiva sähkömagneettinen resonaattori huonosti sähköä johtavan ainelevyn tai kalvon sähköisten tai niihin vaikuttavien ominaisuuksien, ja erityisesti kosteuden määrittämiseksi. Tällä anturilla on valmistettavissa kohtuuhintainen mittausjärjestely, jolloin anturi 25 mittaa kosteutta koskettamatta viilua tai paperirainaa. Mittaustulos ei myöskään ole kovin herkkä rainan tai viilun sijainnille anturiin nähden. On myös tunnettua, että tämän anturin mittasignaaleista voidaan laskennallisesti määrätä mitattavan materiaalin pintapaino, ts. massa pinta-alayksikköä 3 0 kohden.

Keksinnön tavoitteena on siten saada aikaan menetelmä, jolla kertopuun, vanerin tai muun levymäisistä puuosista kerrostamalla kootun materiaalin tai vastaavan lujuutta saadaan li-35 sättyä ja lujuusvaihtelua pienennettyä. Keksinnön toisena tavoitteena on tällainen menetelmä, jolla kertopuun, vanerin tai vastaavan valmistukseen tulevan jokaisen viilun tai vastaavan puuosan tiheys ja siten lujuus voidaan määrätä yksi- 3 97645 löllisesti ja se sijoittaa ensimmäisen tavoitteen kannalta tarkoituksenmukaisimmalla tavalla. Keksinnön kolmantena tavoitteena on tällainen menetelmä, jolla mittausnopeus on niin suuri, ettei se oleellisesti hidasta normaalia tuotan-5 tonopeutta. Keksinnön neljäntenä tavoitteena on tällainen menetelmä, joka samalla mittaa viilusta kosteuden kuten kosteat kohdat, jolloin kosteuden vaikutus voidaan laskea pois tiheydestä, kosteudesta riippumattoman puuaineksen tiheyden, ts. kuiva-ainetiheyden saamiseksi ja jota käyttäen mitatta-10 vasta viilusta tai vastaavasta saadaan myös tiheysjakautuma tarvittavaa ohjausta varten ja jolla viilun tai vastaavan mittaus tapahtuu mieluiten viilua koskettamatta sekä viilun että anturin vaurioitumisen ja kulumisen välttämiseksi.

15 Yllättäen on nyt todettu, että kaikki edellä määritellyt tavoitteet ja edellä kuvatut haittapuolet saadaan ratkaistua sellaisella menetelmällä, jolle on tunnusomaista se, mitä on määritelty patenttivaatimuksen l tunnusmerkkiosassa.

20 Keksinnön tärkeimpänä etuna on se, että sen mukaisella menetelmällä saadaan kertopuun, vanerin tai vastaavan pintakerroksiin lajitettua lujimmat viilut, mikä lisää tuotteen lujuutta. Samalla voidaan keskiviiluiksi, joiden lujuudella ei ole niin suurta merkitystä koko kertopuun tai vanerin lujuu-25 den kannalta, käyttää heikompilaatuista viilua, jolloin huk-kamateriaalia ei tule. Keksinnön toisena etuna on se, että kertopuun, vanerin tai vastaavan sisäosiin tulevien viilujen lujuusvaihtelut saadaan tasoitettua viilujen uudelleenjärjestelyllä pitkin tuotetta, jolloin sen eri kohdasta mitat-30 tujen lujuuksien vaihtelu pienenee ratkaisevasti. Keksinnön kolmantena etuna on se, että tämä kaikki on toteutettavissa ainetta rikkomattomalla ja viilua koskettamattomalla sekä erittäin nopealla ja luotettavalla mittausmenetelmällä.

35 Seuraavassa keksintöä selostetaan yksityiskohtaisesti oheisiin piirustuksiin viittaamalla.

4 97645

Kuvio 1 esittää kaaviomaisesti keksinnön mukaista tuotantolinjaa, jossa on ainetta rikkomaton viilun lujuutta mittaava anturi viiluradalla sekä viilujen uudelleenjärjestelyjärjestelmä, viilurata päältäpäin kuvion 2 suunnasta I nähtynä.

5

Kuvio 2 esittää poikkileikkausta viiluradasta mainitun anturin alueelta kuvion 1 suunnasta II.

Kuvioista on nähtävissä mittaus- ja lejittelulaitteen 1 kul-10 jetusrata 5, jota pitkin määrämittaiset viiluarkit 10 kulkevat suuntaan Dl sinänsä tunnetun mittausanturin 2 läpi, joka on tyypiltään suurtaajuinen sähkömagneettinen resonaattori. Eräs tällainen anturi on kuvattu esimerkiksi mainituissa patenttijulkaisuissa FI-77936, FI-74816 ja US-4 739 249. Tä-15 mäntyyppisellä anturilla saadaan kuitenkin viiluarkista vain mittausarvojen jakautuma arkkien kulkusuunnassa Dl, koska anturi mittaa tätä vastaan poikittaisessa suunnassa keskimääräisen arvon. Edullisinta on käyttää tällaisen kvasi-TEM-siirtojohtoresonaattorin edelleenkehitettyä tyyppiä, jossa 20 sekä resonaattorin yläosassa 2b että alaosassa 2a olevien maatasojen ja likimain keskellä olevan viilun välissä sijaitsevat molemmat keskijohtimet on muodostettu p-i-n-dio-deilla ohjatuiksi anturiosiksi. Tällainen rakenne on esitetty julkaisussa IEEE Transactions on Instrumentation and Mea-25 surement, Voi. IM-36, n:o 4, joulukuu 1987: Vainikainen,

Nyfors, Fischer -"Radiowave Sensor for Measuring the Properties of Dielectric Sheets: Application to Veneer Moisture Content and Mass per Unit Area Measurement". Tässä patenttihakemuksessa jäljempänä tarkoitetaan ensisijaisesti em. jul-30 kaisussa kuvatun tyyppistä anturia, kun puhutaan tiheyttä ja siten lujuutta mittaavasta anturista. Tämän anturin rakennetta ei tässä hakemuksessa siten yksityiskohtaisesti käydä läpi.

35 Edellä todetussa viitejulkaisussa kuvatun mittausanturin a-vulla viilun tai vastaavan tuotteen kuiva kokonaismassa pinta-alayksikköä kohti voidaan laskea anturin antamasta resonanssi taajuudesta fr tai hyvyysluvusta Q. Nämä taas tunne- 5 97645 tusti riippuvat viilun di-elektrisyysvakion reaaliosasta ja imaginaariosasta. Siten kuvioiden 1 ja 2 anturi 2 koostuu ylemmästä ja alemmasta osasta 2a, 2b, joissa molemmissa on metalliset maatasot 6a, 6b ja näihin muovisilla tuilla 7a, 5 7b kiinnitetyt keskijohtimet 8a, 8b. Nämä keskijohtimet 8 taas ovat jaettu p-i-n-diodeilla 9a-9d ohjatuiksi erillisiksi anturiyksiköiksi, joita kuvion tapauksessa on neljä kappaletta viilun 10 leveydellä. Tämä mahdollistaa mittauksen neljästä viilun eri kohdasta sen leveydellä, mikä on merkit-10 ty mittauspisteinä 11 yhteen viiluista. Jos mittaus suoritetaan esimerkiksi kolme kertaa viilun liikesuuntaisella Dl pituudella, saadaan tässä suunnassa kolme mittapisteriviä kuten mittauspisteillä 11 on kuvattu. Käytännössä on anturissa 2 mainittua useampia anturiyksiköitä 9 rinnakkain ja 15 nämä suorittavat useampia mittauksia viilun liikesuunnassa. Käytännössä esimerkiksi 60 mittauspistettä viiluarkilla 10 on aivan käyttökelpoinen määrä. Tämä mittausmäärä on käytännössä suoritettavissa ainakin viilun liikenopeudella 140 m/min, joten mittaus ei mitenkään hidasta tuotantoa. Tällä 20 tavoin saadaan kustakin viiluarkista 10 mitattua sen ominaisuus jakautuma sekä pituussuunnassa että poikkisuunnassa ja tietenkin kaikki tarpeelliset keskiarvot. Mainitulla mittausmenetelmällä saadaan mitattua myös viilun kosteuspitoisuus näistä pisteistä, jolloin saadaan laskettua viilun kui-25 va-aineen tiheys, ts. viilun todellinen tiheys.

Koska viiluarkin mitat ovat täsmälleen määrättyjä niiden sorvausasetusten perusteella, ts. viiluarkin pituus, leveys ja paksuus pysyvät erittäin tarkkaan vakiona, on näiden pe-30 rusteella helposti laskettavissa viiluarkin tiheys. Erityi sesti tällä järjestelyllä saadaan viiluarkin tiheys ja siten lujuus arkin eri kohdissa 11 ja ohjausperusteenä lajitteluun ja/tai uudelleenjärjestelyyn voidaan käyttää esimerkiksi huonointa tai määrättyä määrää huonoimpia mittausarvoja ja/ 35 tai erilaisia keskiarvoja.

Tämä edellä kuvattu kvasi-TEM-siirtojohtoresonaattori 2 on kytketty esimerkiksi tietokoneeseen 3 ja tämä edelleen la- 6 97645 jittelijaan 4, jonka järjestelyn toimintaa kuvataan seuraa-vassa. Lajittelijan 4 konstruktio voi olla mitä tahansa tunnettua tyyppiä, joten sitä ei tässä kuvata.

5 Ensinnäkin viiluarkeista ne, joiden tiheys on suuri ja siten lujuus hyvä, lajitellaan laitteessa 1 anturin 2, tietokoneen 3 ja lajittelijan 4 avulla kertopuun 12 pintaviiluiksi 13a, 13b. Näitä pintaviiluja 13 varten on järjestetty puskuriva-rasto P. Viilut, joiden tiheys on poikkeuksellisen alhainen 10 ja siten lujuus erittäin heikko, voidaan haluttaessa poistaa kokonaan tuotannosta jätemateriaalina R tai muuhun käyttöön. Loput hyväksytyt viilut järjestetään kertopuun 12 keskivii-luiksi 14 ja erityisesti siten, että niiden mitattujen tiheyksien ja siten lujuuksien perusteella aina kertopuussa 12 15 samalla kohtaa päällekkäin olevien keskiviilujen 14 tiheyksien keskiarvo pysyy muuttumattomana pitkin kertopuun pituutta ts. sen ladontasuunnassa D4. Siten esimerkiksi jos viilun 14a tiheys ja lujuus on hyvin alhainen, tulee sillä kohtaa olevien viilujen 14b, 14c molempien tiheyksien olla 20 melko korkeita tai niistä toinen tiheys erityisen korkea, jotta näiden kolmen viilun keskimääräinen tiheys ja siten lujuus olisi sama kuin kaikkien keskiviilujen tiheys keskimäärin.

25 Keksinnön mukaisesti tämä viilujen lajittelu ja järjestely toteutetaan edullisesti kuviosta l ilmenevällä tavalla. Ensinnäkin pintaviiluiksi riittävän tiheät ja lujat viilut lajitellaan siirrolla D2 anturin 2 ja lajittelijan 4 avulla omaan puskurivaraston muodostavaan pinoon P, josta ne siir-30 retään siirtona D3 kertopuun 12 ladontaan pintaviiluiksi 13. Keskiviiluiksi 14 tulevat viilut tulevat lajittelijasta 4 siirtona D2 vähintään kahteen, mutta edullisesti kolmeen pinoon A, B ja C, jotka muodostavat keskiviilujen puskurivaraston. Tiheydeltään mitattu viilu siirtyy radalta 5 lajit-35 telijalla 4 aina siihen pinoista A, B, C, missä se muuttaa kyseisen pinon viilujen liukuvaa keskiarvoa lähimmäksi kaikkien keskiviiluiksi 14 tulevien viilujen kokonaiskeskiarvoa. Jos esimerkiksi pinossa C on tällä mekanismilla juuri edel- 7 97645 lisenä tullut suhteellisen pienitiheyksisiä viiluarkkeja, siirretään seuraavaksi todettu suhteellisen suuritiheyksinen viiluarkki tähän pinoon kuten ehjällä nuolella kuviossa on merkitty, jolloin pinon tietyn osuuden matkalla tiheys kes-5 kimäärin pysyy muuttumattomana, ts. keskiarvossa.

Erityisesti käytettyjä keskiarvoja ja liukuvan keskiarvon laskentaa voidaan muunnella erityyppisiksi tilanteen mukaan edullisimman lopputuloksen saamiseksi. Esimerkiksi siksi 10 keskiarvoksi, jota viilujen siirrolla lajittelulaitteesta 4 pinoihin A, B, C pyritään tavoittelemaan, voidaan ottaa paitsi edellä mainittu viilutiheyksien kokonaiskeskiarvo myös pinojen A, B, C yhteinen vastaavasta arkkilukumäärästä laskettu liukuva keskiarvo. Tällä voidaan välttyä ongelmilta 15 tapauksessa, jossa puun tiheys keskimäärin hieman pitkällä ajanjaksolla vaihtelee. Samoin päätösperusteena olevaa kunkin pinon mainittuna liukuvana keskiarvona voidaan käyttää pinossa kulloinkin olevien kaikkien viilujen keskiarvoa tai keskiarvo voidaan laskea tietystä viilujen lukumäärästä vii-20 meksi tuotuja viiluja. Tämä lukumäärä voi olla esimerkiksi sama kuin mikä kertopuuhun tai vaneriin menee päällekkäin keskiviiluja. Kuvion 1 esimerkissä tämä viilujen lukumäärä on kolme. Voidaan tietenkin käyttää hieman suurempaa viilu-lukumäärää tai hieman pienempää lukumäärää viiluja laskenta-25 perusteena. Tässä tapauksessa voidaan jokaiselle näistä las-- . kentaan sisällytetyistä viiluista antaa sama painoarvo kes- kiarvolaskennassa. Toisena vaihtoehtona on käyttää erilaisia painokertoimia liukuvan keskiarvon laskennassa siten, että viimeksi tulleella viilulla on suurin painokerroin ja mitä 30 aikaisemmin viilu on tullut pinoon A, B, C sitä pienempi painokerroin sillä on. Tällöin ei mitään erityistä lukumäärää ole välttämättä valittava vaan laskennassa voidaan huomioida varsin suuri lukumäärä viiluja kuitenkin pienillä kertoimilla. On selvää, että voidaan käyttää edellä kuvattu-35 jen liukuvan keskiarvon laskentamenetelmien yhdistelmää ts. otetaan keskiarvolaskentaan tietty lukumäärä viimeisiä viiluja samalla ja suurella painokertoimella ja tästä aikaisemmin tuotuja viiluja selvästi pienemmällä painokertoimella.

8 97645

Myös muita liukuvan keskiarvon laskentatapoja voidaan kuvitella käytettävän.

Käytännössä tietokone 3 toteuttaa kuvatun laskennan, koska 5 sen muistissa on käytettävissä tieto siitä mihin pinoon kukin viilu on mennyt, missä kohtaa pinoa kukin viilu on ja kunkin viilun tiheys. Tiheyksien keskiarvoja siis lasketaan jokaisen pinon A, B, C kohdalta ja lisäksi lasketaan koko-naiskeskiarvoa, ja näiden kaikkien perusteella määritellään 10 yksittäisen arkin sijoitus.

Keksinnön mukaan voidaan puskurivarastona toimivia viilupi-noja A, B, C, P käyttää esimerkiksi siten, että viilut tuodaan pinoihin päältä ja niistä viilut otetaan kertopuun tai 15 vanerin kerrostamista varten alta. Edullisesti kustakin pinosta otetaan aina kerrallaan se lukumäärä viiluarkkeja, jotka arkit tulevat päällekkäin kertopuun 12 keskiviiluiksi 14a, 14b, 14c. Voidaan tietenkin ajatella, että viiluja otetaan pinosta hieman toisia määriä. Koska viilut 14a, 14b, 20 14c vanerissa ja kertopuussa käytännössä aina hieman lomite taan kuten kuviosta 1 näkyy, ei viiluja aina käytännössä o-teta esimerkiksi kolmea yhtäaikaa vaan kolme peräkkäin lyhyin välein, minkä jälkeen siirrytään toiseen pinoon, josta otetaan myös sama lukumäärä viiluja lyhyin välein.

25

On myös mahdollista järjestellä mitattujen viiluarkkien lajittelu ja järjestely jollain muulla menetelmällä kuin mitä edellä on kuvion 1 yhteydessä kuvattu. Siten voidaan esimerkiksi käyttää vain yhtä puskurivarastoa ja järjestellä 30 tässä tai tähän tulevia viiluarkkeja ohjauslaitteen 3 muistissa olevien tietojen perusteella. On myös mahdollista päästää likimain keskimääräiset viilut yhteen puskurivaras-topinoon ja lajitella kevyet ja raskaat viilut toisessa pus-kurivarastossa liukuvalta keskiarvoltaan kokonaiskeskiarvoa 35 vastaaviksi. Näissä järjestelyissä on yleensä otettava vii-lujonossa tai -pinossa välistä pois viiluja ja/tai työnnettävä väliin viiluja. Siten nämä järjestelyt eivät liene tek- l! 9 97645 nisesti kovin edullisia ratkaisuja, vaikka teoriassa tulos on sama kuin edellä kuvatun järjestelyn aikaansaama.

On myös mahdollista soveltaa edellä kuvattuja mittaus- ja 5 lajittelu- ja järjestelymenetelmiä laatutasoltaan erilaisten tuotteiden valmistamiseksi.

Claims

1. Menetelmä kertopuun, vanerin tai vastaavien lujuuden lisäämiseksi ja lujuus-vaihtelun pienentämiseksi, mittaamalla niiden valmistukseen käytettävien viilujen tiheyttä ja lajittelemalla viilut sen perusteella, tunnettu siitä, että viilujen kuiva-ai- 5 neen tiheys mitataan sinänsä tunnetulla suurtaajuisella sähkömagneettisella resonaattorilla (2) ja että kertopuun, vanerin tai vastaavan (12) kerroksittaista ladontaa varten lajitellaan pintaviiluiksi (13) suuren kuiva-ainetiheyden omaavia viiluja ja/tai keski-viilujen (14) paikallista kuiva-aineen tiheysvaihtelua pienennetään sekoittamalla eri kuiva-ainetiheyksisiä viiluja. 10

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mainittu resonaattori (2) on kvasi-TEM-siirtojohtoresonaattori, jossa on edullisesti maatasot (6) ja keskijohtimet (8) molemmilla puoli tarkastettavaa viilua (10) ja että resonaattori on muodostettu sinänsä tunnetusti p-i-n-diodeilla useiksi viilun leveydellä ole- 15 viksi toisistaan erikseen oh-jatuiksi ja toimiviksi anturiyksiköiksi (9) poikittaisen ti-heysjakautuman mittaamiseksi viiluista kosteuspitoisuus eliminoiden.

3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että viilun kuiva-ainetiheys mitataan sen pituudella useista kohdista ja edullisesti viilun liikku- 2. essa resonaattorin (2) kautta pitkittäisen kuiva-aineen tiheysjakautuman mittaamiseksi viiluista.

4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että keskiviilut (14) järjestetään viiluarkkien mitattujen kuiva-ainetiheyksien perusteella siten, että 2. mainittuun ladontaan menevien (D3) viilujen kuiva-ainetiheyksien liukuva keskiarvo pysyy mahdollisimman lähellä keskiviiluiksi käytettyjen viiluarkkien kokonaiskes-kiarvoa.

5. Patenttivaatimuksen 1 tai 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ladon- 3. taan menevien viiluarkkien (10) jonosta muodostetaan puskurivarasto tai tästä jo nosta otetaan keskiarvosta oleellisesti poikkeavia viiluarkkeja puskurivarastoon ja että ladonnassa oleellisesti päällekkäin sijoittuvien viiluarkkien joukon kuiva-ainetiheyden liukuva keskiarvo asetellaan lähelle viiluarkkien kuiva-ainetiheyden koko-naiskeskiarvoa muuttamalla viilujen järjestystä ja/tai ottamalla välistä pois ja/tai li-3 5 säämällä väliin viiluja.

6. Patenttivaatimuksen 1 tai 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ladontaan menevien viiluarkkien (10) jonosta muodostetaan vähintään kaksi ja edullisesti 11 97645 ainakin kolme viilupinoa (A, B, C) ainakin keskiviilujen (14) puskurivarastoiksi ja että tuleva ja tiheydeltään mitattu viilu (10) siirretään (D2) aina siihen viilupinoon, niissä se muuttaa kyseisen pinon viilujen kuiva-ainetiheyden liukuvaa keskiarvoa lähimmäksi kaikkien pinojen vastaavasti liukuvaa yhteistä keskiarvoa. 5

7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kuiva-ainetiheyden liukuvina keskiarvoina käytetään pinoissa kulloinkin olevien viilujen keskiarvoa ja että viilut tuodaan pinoihin (A, B, C) päältäpäin ja pinosta viilut otetaan altapäin se viilulukumäärä kerrallaan, joka kertopuuhun tai vaneriin tai vastaavaan käyte- 10 tään päällekkäin.

8. Patenttivaatimuksen 6 tai 7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kuiva-ainetiheyden liukuva keskiarvo lasketaan kussakin pinossa (A, B, C) likimain kertopuuhun, vaneriin tai vastaavaan päällekkäin tulevien viilujen lukumäärän mukaisesta 15 joukosta ja/tai sopivilla painokertoimilla suuremmasta viilulukumäärästä.

9. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että viilujen (10) tiheyden mittauksen perusteella erityisen pienen kuiva-ainetiheyden omaavat viilut (R) poistetaan korkealaatuisten ladontaan menevien viilujen joukosta. 20

10. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että viilujen kuiva-aineen tiheyden mittauksen ja lajittelun perusteella valmistetaan laatuluokiltaan erilaisia tuotteita. 12 97645