FI110342B

FI110342B - Menetelmä ja laitteisto aineiden analysoimiseksi atomiabsorptiospektroskopialla

Info

Publication number: FI110342B
Application number: FI982501A
Authority: FI
Inventors: Ville Haeyrinen; Rolf Hernberg; Risto Oikari
Original assignee: Ville Haeyrinen; Rolf Hernberg; Risto Oikari
Priority date: 1998-11-19
Filing date: 1998-11-19
Publication date: 2002-12-31
Also published as: FI982501A0; FI982501A; EP1141676A1; WO2000031513A1; AU1660200A

Description

1 110342

Menetelmä ja laitteisto aineiden analysoimiseksi atomiabsorptiospek-troskopialla

Keksintö kohdistuu menetelmään aineiden analysoimiseksi atomiab-5 sorptiospektroskopialla. Keksintö kohdistuu myös laitteistoon menetelmän toteuttamiseksi.

Teollisten prosessien yhteydessä on tarvetta valvoa prosessin sisältämien aineiden, kuten prosessin eri ainevirtauksissa kulkevien aineiden 10 pitoisuuksia. Prosessin ulosvirtauksen pitoisuudet, eli erilaiset päästöt ympäristöön ovat erityisesti kiinnostavia. Tällaisia päästöjä syntyy tuotantoprosessien ohella myös jätteiden käsittelyprosesseissa. Jätteiden hävittäminen polttamalla on eräs lupaava jätteiden käsittelymenetelmä, jonka ongelmana on kuitenkin ilmakehään joutuvat savukaasut, jotka 15 sisältävät mm. elolliselle luonnolle vaarallisia raskasmetalleja. Esimerkiksi EU:n komissio on määritellyt uusille jätteenpolttolaitoksille tiukat päästörajat savukaasuilla esiintyville kaasumaisille raskasmetalleille, mm. elohopealle, kadmiumille ja lyijylle.

20 Edellä mainitut vaatimukset merkitsevät sitä, että prosessista ulosvir-taavia aineita tulee pystyä analysoimaan reaaliajassa ja suurella tark-.··. kuudella. Esimerkiksi juuri jätteenpoltossa poltettavan aineen koostu- mus voi vaihdella hyvinkin voimakkaasti, jolloin myös savukaasun ; koostumuksessa voi tapahtua nopeasti muutoksia. Jotta sallitut rajat / 25 ylittäviin pitoisuuksiin pystyttäisiin puuttumaan välittömästi täytyy savu- kaasuanalysaattoreiden olla osa prosessihallintaa. Tämä on tavoitteena luonnollisesti myös kaikissa prosesseissa riippumatta siitä, onko tarkkailtava ja analysoitava ainevirta tuotantoon vai prosessista ympäristöön suuntautuvaan poistoon liittyvää.

30

Eräs tapa analysoida prosessin kulkua, kuten sen ainevirtauksia on ottaa tietyin määräajoin näyte ja analysoida se esim. laitoksen yhteydes-sä olevassa analyysilaboratoriossa. Jotta valvonta olisi jatkuvaa, tulisi '··· näytteenottotiheyden olla suuri. Väliajoin tapahtuva näytteenotto vaatii 35 lisäksi erikoisjärjestelyltä, saattaa olla työlästä ja kallista, ja tulokset tu-; ;' · levät aina tietyllä viiveellä, eli reaaliaikaisuus ei toteudu.

2 110342

Atomiabsorptiospektroskopia (AAS) on yleisesti tunnettu alkuaineiden analyysimenetelmä. Analyysit suoritetaan yleensä laboratorioissa sinne tuoduista näytteistä. Atomiabsorptiospektroskopiaa itse menetelmänä on kehitetty jatkuvasti, ja yksi tärkeimmistä käytäntöön sovelletuista il-5 miöistä on ns. Zeeman-ilmiö, jossa magneettikenttää apuna käyttämällä voidaan mitata taustan (näytteen matriisin) aiheuttama absorptio ja näin parantaa analyysitarkkuutta. Atomiabsorptio-spektrometri, jolla mitataan prosessin yhteydessä alkuaineiden pitoisuuksia käyttäen Zeeman-ilmiö-tä tarkkuuden lisäämiseksi on esitetty US-patentissa 3937577. Tällä 10 menetelmällä ei saada kuitenkaan reaaliaikaista mittausta, koska näytteen valmistelu vie aikaa. Näytteen atomisointiin käytetään uunia, jossa atomisointi tulee suorittaa omana erillisenä vaiheenaan, ja näin esimerkiksi prosessin ainevirtauksen jatkuva seuranta ei ole mahdollista.

15 Keksinnön tarkoitus on poistaa em. epäkohdat ja esittää menetelmä, jolla voidaan toteuttaa prosessien valvonta reaaliajassa ja hyvällä tarkkuudella. Tämän tarkoituksen toteuttamiseksi keksinnön mukaiselle menetelmälle on pääasiassa tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisen patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa. Keksinnön mukaiselle 20 laitteistolle taas on pääasiassa tunnusomaista se, mikä on esitetty • .: oheisen patenttivaatimuksen 13 tunnusmerkkiosassa.

Menetelmä perustuu atomiabsorptiospektroskopiaan (AAS), jossa käy-tetään hyväksi plasmaa ja edullisesti Zeeman-ilmiötä. Prosessista tai 25 prosessissa kulkevasta ainevirtauksesta, esim. polttolaitoksen savu-'; · kaasukanavasta, on suora yhteys näytelinjaa pitkin analyysilaitteeseen, jossa näyte sekoitetaan plasmalla kuumennettuun kaasusuihkuun analysoitavien atomien muodostamiseksi ja atomeita analysoidaan AAS:n avulla analysoitavista aineista riippuvalla resonanssiaallonpituudella.

30 Analysoitavaan kohtaan vapaita atomeita sisältävässä plasmalla kuu-:'·.· mennetussa kaasusuihkussa aiheutetaan magneettikenttä taustan kor jauksen aikaansaamiseksi Zeeman-ilmiön avulla.

Plasmalla kuumennetulla kaasusuihkulla atomisointiin vaadittavan ter-’·’ 35 misen energian tuottajana on-line atomiabsorptiospektrometrissä on ; useita etuja verrattuna liekki- ja uuniatomisaattoreilla varustettuihin atomiabsorptiospektrometreihin. Molempien em. atomisointimenetel-mien yhteinen piirre on se, että ne vaativat joko nestemäisen tai kiin- 3 110342 teän näytteen, jolloin esimerkiksi prosessin ainevirtauksesta otettu kaasumainen näyte pitäisi ensin johtaa absorptioliuoksen läpi, johon vain osa kaasun sisältämistä atomeista absorboituu, ja vasta tämän jälkeen voidaan nestemäinen näyte syöttää atomisaattoriin. Liekkiatomi-5 saattoreiden ongelmana on vielä erittäin suuri laimennuskerroin. Liekkiin voidaan sekoittaa vain erittäin pieni määrä näytettä liekin stabiili-suuden kärsimättä. Lisäksi liekkiatomisaattoreiden ongelmana on räjähdysvaara. Uuni-atomisaattoria ei voida käyttää jatkuvatoimisessa mittalaitteessa, koska atomisointi on monivaiheinen prosessi, jossa 10 optinen mittaus täytyy suorittaa tarkalleen oikeassa vaiheessa. Tällöin jatkuvatoiminen näytteensyöttö ei onnistu. Uuniatomisaattorin atomi-sointiprosessin pituus on n. 2-4 minuuttia.

Atomisoinnin aikaansaamiseksi kuumennus tapahtuu keksinnössä 15 oleellisesti ennen näytteen lisäystä, jolloin em. haitat voidaan välttää, ja samalla voidaan toteuttaa jatkuva näytteen virtaus prosessin ainevirtauksesta ja jatkuva mittaus ilman erillistä näytteenmuodostus- ja käsit-telyjaksoa, jolloin mittaus on keskeytetty.

20 Keksintöä selostetaan seuraavassa lähemmin viittaamalla oheisiin piirustuksiin, joissa kuva 1 esittää kaaviona tekniikan tason mukaista näytteen atomi-sointia, 25 kuva 2 esittää kaaviona keksinnön mukaista näytteen atomisointia, kuva 3 esittää menetelmän periaatetta, 30 kuva 4 esittää kaaviona Zeeman-ilmiötä, ... kuva 5 esittää laitteistoon kuuluvaa atomisointiyksikköä, ja :. kuva 6 esittää laitteistoa menetelmän toteuttamiseksi.

*:··· 35

Kuva 1 esittää AAS-menetelmissä tunnettuja näytteen atomisointitapoja T kuvaten prosessin vaiheita, joissa näyte sekoitetaan kaasuun. Tyypillis- • tä tunnetuille menetelmille on se, että näyte sekoitetaan kaasuun joko 4 110342 ennen kuumennusta (uuni, esisekoituspolttimen liekki) tai samanaikaisesti kuumennuksen kanssa (kokonaiskulutuspolttimen liekki).

Menetelmässä otetaan prosessista, kuten prosessin ainevirtauksesta ohutta näytekanavaa pitkin jatkuvasti näytettä, joka edustaa näytteenot-5 tokohdan ainekoostumusta. Näytekanavan päässä näyte atomisoidaan termisesti käyttäen plasmakuumennusta siten, että näytteessä olevista analysoitavista aineista muodostuu vapaita atomeita, joihin sopivalla alueella kohdistetaan valonlähteestä valoa, jota virittymättömät atomit absorboivat tietyllä aallonpituudella virittyessään. Samalle alueelle voi-10 daan järjestää vaikuttamaan magneettikenttä Zeeman- taustankorjauk-sen aikaansaamiseksi. Alueen läpi kulkeneen valon intensiteetti tällä ns. resonanssiaallonpituudella mitataan tunnetuilla mittausmenetelmillä ja tulokset käsitellään varsinaisten pitoisuustietojen saamiseksi. Kuvassa 2 on esitetty kaaviona atomisoinnin eri vaiheet. Virtaava apukaasu 15 kuumennetaan plasmalla ja näyte sekoitetaan näin saatuun kuumaan apukaasuun, jonka lämpötila on ilman näytettä nostettu jo atomisoinnin vaatimalle tasolle. Mittaus suoritetaan kuuman apukaasun muodostamassa kaasusuihkussa olevasta atomisoidusta näytteestä. Apukaasus-ta käytetään myöhemmin myös nimitystä kaasu.

20 ... Kuvassa 3 on esitetty pääperiaate analyysimenetelmästä. Näyte ohja taan sopivasta kohdasta prosessia, kuten prosessin virtauskanavasta, esim. jätteenpolttoprosessin savukaasukanavasta C näytelinjaa 3 pitkin sekoitussuuttimeen 5, jossa näyte sekoitetaan plasmasoihdulla 4 syn-25 nytetyn kuuman kaasusuihkun kanssa. Sekoittumisen seurauksena näytekaasun lämpötila nousee atomisointiin vaadittavalle tasolle. Plas-masoihtua 4 seuraa kaasun virtaussuunnassa sekoitussuutin 5, johon näytelinja 3 päättyy ja jossa analysoitavien metallien vapaat atomit syntyvät plasmasoihdusta 4 tulevaan kaasusuihkuun. Plasma muodos-30 tetaan plasmasoihdussa 4 tasavirtaplasmana ennen näytteen sekoit-tamista kaasusuihkuun, eli atomisointiin vaadittava terminen energia muodostetaan oleellisesti ennen näytteen sekoittamista. Menetelmä ’· · eroaa näin kuumennusuuni- ja liekkiabsorptiomenetelmistä, joissa ter- :··· minen energia muodostetaan aikaisintaan yhtäaikaisesti sekoittamisen 35 kanssa tai vasta näytteen sekoittamisen jälkeen, jolloin näytteen ; ,* matriisi vaikuttaa voimakkaasti atomisointitehokkuuteen ja näytteen .·! määrä verrattuna kokonaistilavuuteen/virtaukseen on rajoitettu suhteellisen pieneksi. Käyttämällä plasmaa kaasun kuumentamiseksi ja 5 110342 näytteen sekoittamista kaasuun vasta termisen energian muodostuksen j jälkeen, voidaan sekoitussuhde nostaa hyvinkin korkeaksi atomisoinnin I stabiilisuuden häiriintymättä. Näyte ei kulje plasmasoihdun kautta, jolloin näytteen kemialliset ominaisuudet eivät häiritse plasman 5 muodostumista.

Kuumennettavana apukaasuna, johon näyte sekoitetaan, voidaan käyttää sopivaa inerttiä kantajakaasua, jolla on hyvä lämmönsiirtokyky, kuten typpeä.

10

Tarkan AAS-mittauksen toteuttamiseksi valonlähteenä 1 käytetään spektrilamppua, jolloin taustan absorptio kompensoidaan mittaustuloksesta Zeeman-ilmiöllä. Toteutus on seuraavanlainen: Tutkittavat atomit sisältävään kaasusuihkuun nähden on sijoitettu magneetti 6 siten, että 15 kaasusuihkun yli vaikuttaa poikittainen magneettikenttä, joka pilkkoo atomien energiatilat Zeeman-ilmiön mukaisesti. Alkuperäiselle paikalleen jäänyt energiatila absorboi vain magneettikentän suunnassa polarisoitunutta valoa ja siirtyneet tilat vain magneettikenttää vastaan kohtisuoraan polarisoitunutta valoa. Mitattavan valon polarisoinen mukaan 20 saadaan näin joko tutkittavan metallin atomien ja taustan aiheuttama absorptio alkuperäisellä absorptioaallonpituudella (resonanssiaallonpi-tuudella) tai vain taustan absorptio samalla aallonpituudella. Tutkittavan metalliatomin absorptioaallonpituudella valoa emittoivasta kapeakaistaisesta valonlähteenä 1 toimivasta spektrilampusta johdetaan valo yhden 25 tai useamman linssin 2 kautta magneetin 6 magneettinapojen N, S välissä olevaan kaasusuihkuun, jossa on analysoitavia atomeita. Kaasu-suihkun läpäissyt valo johdetaan toisen linssin/linssien 2, pyörivän polarisaattorin 7 ja monokromaattorin 8 läpi valoilmaisimelle 9. Valoilmaisimelle 9 saatu signaali riippuu näin polarisaattorin 7 asennosta, t.s. kun 30 polarisaatiosuunta on magneettikentän suuntainen, sekä tausta, että tutkittavat atomit absorboivat valoa. Kun polarisaatiosuunta on magneettikenttää kohtisuoraan, vain tausta absorboi valoa. Näiden signaa-;.· lien suhteesta saadaan laskettua tutkittavien atomien pitoisuus käyttäen hyväksi Beerin lakia, kun absorptiovaikutusala (tutkittavasta atomista 35 riippuvainen) ja absorptiomatka (kaasusuihkun kokoon verrannollinen) tiedetään. Zeeman-ilmiötä on havainnollistettu kuvassa 4.

6 110342

Kuvassa 5 on esitetty tarkemmin vapaiden atomien muodostaminen AAS-analyysiä varten atomiabsorptiospektrometrilaitteistossa. Prosessista, kuten prosessin ainevirtauksesta tuleva näytelinja 3 päättyy se-koitussuuttimen 5 suutinkanavaan 5a, joka suuntautuu kohtisuoraan 5 näytelinjaan 3 nähden. Sekoitussuuttimeen 5 on kiinnitetty plasmasoih-tu 4, josta on suunnattu kaasusuihku P suutinkanavaan 5a poikittain näytelinjan 3 suhteen. Katkoviivalla ympyröidyllä optisen mittauksen alueella kaasusuihkussa P oleviin vapaisiin atomeihin kohdistuu valonlähteestä 1 tuleva valo sekä magneetin 6 aikaansaama magneettikent-10 tä, joka on kohtisuorassa näytteen sisältävän kaasusuihkun P virtaus-suuntaaja valonlähteestä 1 tulevan valon suuntaa vastaan.

Kuvassa 6 on esitetty atomiabsorptiospektrometrilaitteisto prosessin ai-nevirtauksen yhteydessä. Savukaasukanavasta C tai muusta virtaus-15 kanavasta on johdettu sähköllä kuumennettu näytelinja 3 kanavaan liitetyn näyteyhteen B läpi. Näytelinja 3 voidaan johtaa myös muusta kohdasta, jossa tarvitaan aineiden pitoisuuksien jatkuvaa seuraamista, kuten suoraan prosessista, esim. polttokattilan perästä. Näytelinjan kuumennuksella saadaan näyte pidettyä vähintään alkuperäisen aine-20 virtauksen, kuten palokaasuvirtauksen lämpötilassa, mutta lämpötilaa voidaan kuumennuksella myös nostaa alkuperäisestä. Virtaus näytelin-jaa 3 pitkin voi olla jatkuvaa tai jaksottaista, jolloin näytelinja 3 on varus-: tettu sulkimella, joka päästää vain tietyn ajan näytettä sekoitussuutti meen 5, ja plasmasoihtu 4 toimii vain lyhyen aikaa tämän jakson aikana 25 analyysin suorittamiseksi. Näytelinja 3 päättyy sekoitussuuttimeen 5 edellä kuvatulla tavalla. Atomiabsorptiospektrometri on sijoitettu kompaktina kokonaisuutena lähelle virtauskanavaa siten, että näytelinjan 3 pituus pysyy mahdollisimman lyhyenä. Kuten kuvassa on esitetty, ato-miabsorptiospektrometrin sisältävä runko voidaan kiinnittää näyteyh-30 teeseen B, esimerkiksi laippakiinnityksellä, mutta muutkin kiinnitystavat ovat mahdollisia. Runko sisältää optiikan osalta valonlähteenä 1 toimi-y. van spektrilampun, linssit 2, pyörivän polarisaattorin 7, monokromaat- : . torin 8 ja valoilmaisimen 9, ja näytteen käsittelyn osalta plasmasoihdun 4, sekoitussuuttimen 5 ja DC-magneetin 6. Atomiabsorptiospektrometri :· 35 on yhdyskaapelin 11 välityksellä yhteydessä laitoksen valvomossa ole- V vaan ohjaus- ja tiedonkeruuyksikköön 10, jossa valoilmaisimelta 9 tule via signaaleita käsitellään varsinaisten pitoisuustietojen laskemiseksi ja joka ohjaa valonlähdettä 1 oikean aallonpituuden valitsemiseksi, mag- 7 110342 neettia 6 magneettikentän voimakkuuden säätämiseksi ja polarisaattoria 7 polarisaattorin pyörimisnopeuden säätämiseksi.

Apukaasu kuumennetaan plasmasoihdulla 4 aikaansaadulla sähkö-5 purkauksella.

Plasmasoihdussa 4 käytetään apukaasun kuumennukseen tasavirta-plasmaa tai vaihtovirtaplasmaa, mutta myös induktioplasma on mahdollinen, jos siinä käytetty magneettikenttä ei aiheuta hajakenttiä tai 10 niillä ei ole vaikutusta analyysiin haitallisessa määrin.

Apukaasu kuumennetaan edullisesti plasmalla, mutta plasmasoihdun tilalle voidaan ajatella myös muita tapoja kaasun kuumentamiseksi ennen näytteen sekoittamista siihen, esim. poltinta. Näyte sekoitetaan 15 tässäkin kuumiin palamiskaasuihin vasta palamisen jälkeen.

Magneettina 6 käytetään edullisesti tasavirtamagneettia. Tasavirta-magneetteina, jotka saavat aikaan ajallisesti muuttumattoman magneettikentän, voidaan käyttää sähkömagneettia tai kestomagneettia.

20 Magneettikenttä vaikuttaa koko ajan kaasusuihkussa, ja muutos sig-. , naalissa Zeeman-taustakorjausta varten saadaan polarisaattorilla 7, jo- , · ka voi olla valonlähteen 1 ja kaasusuihkun P tai kaasusuihkun P ja va loilmaisimen 9 välissä.

’ 25 Termillä valo tarkoitetaan tässä yhteydessä atomiabsorptiospektrosko- • piassa normaalisti käytettyjä aallonpituuksia, eikä se rajoita keksintöä ainoastaan näkyvään valoon.

Keksintö ei ole rajoittunut edellä esitettyyn suoritusmuotoon, vaan sitä 30 voidaan muunnella patenttivaatimusten esittämän keksinnöllisen ajatuksen puitteissa. Keksintö sopii erityisesti raskasmetallien Hg, Pb ja Cd analysointiin eri prosesseista ja ainevirtauksista, erityisesti prosessien poistovirtauksista, kuten polttoprosessien savukaasukanavista. Elohopea, lyijy ja kadmium noudattavat kaikki normaalia Zeeman-35 jakautumaa. Keksintö sopii myös muiden alkuaineiden, kuten normaalia

Zeeman-jakautumaa noudattavien alkuaineiden analysointiin eri aine-virtauksista. Keksinnön avulla voidaan analysoida myös muista prosesseista otettuja näytteitä. Keksintö ei ole rajoittunut vain kaasumaisten i » 8 110342 ainevirtauksista otettujen aineiden analysointiin, vaan sillä voidaan analysoida myös nestemuodossa olevia näytteitä, mikäli neste sumutetaan pieninä aerosolihiukkasina sekoitussuuttimeen. Lopuksi keksintö ei ole rajoittunut yksinomaan sellaisiin menetelmiin, joissa käytetään 5 Zeeman-taustankorjausta, mutta Zeeman-taustankorjaus on edullinen vaihtoehto, koska sillä voidaan parantaa mittaustarkkuutta.

< t * * }

Claims

9 110342
1. Menetelmä aineiden analysoimiseksi atomiabsorptiospektroskopial-la, jossa näytettä atomisoidaan analysoitavan aineen vapaiden atomien 5 aikaansaamiseksi ja vapaiden atomien aiheuttamaa valon absorptiota tietyllä aallonpituudella mitataan, tunnettu siitä, että näytteen atomi-soinnissa näyte kuumennetaan atomisoinnin edellyttämään lämpötilaan sekoittamalla se kuumaan apukaasuun.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että näytteen atomisointi tapahtuu kuumennetussa kaasusuihkussa (P).
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että apukaasu on kuumennettu tasavirta-, vaihtovirta- tai induktio- 15 plasmalla.
4. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että spektroskooppinen mittaus tapahtuu kaasusuihkussa (P).
5. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnet tu siitä, että näytettä johdetaan jatkuvana näytevirtana atomisointiin ja mittaus atomisoidusta näytteestä on jatkuvaa.
6. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 1-4 mukainen menetelmä, .. .: 25 tunnettu siitä, että näytettä johdetaan jaksottaisesti atomisointiin ja , ·. mittaus atomisoidusta näytteestä on jaksottaista. : : ; 7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnet- ’· tu siitä, että näytettä kuumennetaan samalla kun sitä johdetaan ato- ' ·’ 30 misointiin.
8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnet- V; tu siitä, että käytetään hyväksi magneettikentän avulla aiheutettua Zeeman-ilmiötä mittauksen taustankorjauksessa. 35
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että analysoitavan aineen ja taustan absorptiot mitataan valoilmaisimeen (9) :': tulevan valon polarisaatiota vaihtamalla. 10 110342
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että polarisaatio vaihdetaan pyörivällä polarisaattorilla (7).
11. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tun nettu siitä, että näytettä otetaan prosessista, kuten prosessin ainevir-tauksesta, esim. polttoprosessin savukaasukanavasta.
12. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tun-10 nettu siitä, että näytteestä analysoidaan yksi tai useampi seuraavista metalleista: Hg, Cd ja Pb.
13. Laitteisto aineiden analysoimiseksi atomiabsorptiospektroskopialla, joka laitteisto käsittää näytelinjan (3), näytelinjan (3) päässä atomisointi- 15 laitteen näytteen atomisoimiseksi, valonlähteen (1) ja optiikan, jotka on järjestetty johtamaan valonsäde näytteen läpi, sekä valoilmaisimen (9) näytteen läpi kulkeneen valonsäteen vastaanottamiseksi, tunnettu siitä, että atomisointilaitteessa näytelinja (3) tulee sekoituskohtaan, joka sijaitsee erillään kuumennuskohdasta sen jälkeen siten, että näyte saa-20 vuttaa atomisointiin vaadittavan lämpötilan sekoittuessaan aikaisemmin kuumennuskohdassa kuumennettuun apukaasuun.
14. Patenttivaatimuksen 13 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että atomisointilaite käsittää sekoitussuuttimen (5), johon näytelinja (3) 25 päättyy ja johon on suunnattu kuumennuskohdasta kaasusuihku (P) • · . .t näytteen sekoittamiseksi ja atomisoimiseksi.
15. Patenttivaatimuksen 13 tai 14 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että kuumennuskohta on plasmasoihdulla (4) aikaansaatu sähkö-\v 30 purkaus.
16. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 13-15 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että se käsittää magneetin (6) Zeeman-taustankorjauk-sen aikaansaamiseksi. ; . 35
17. Patenttivaatimuksen 16 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että se * käsittää polarisaattorin (7) valonlähteen (1) ja valoilmaisimen (9) välissä ·/i*: valoilmaisimeen (9) tulevan valon polarisaation vaihtamiseksi. 5 11 110342
18. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 13-17 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että näytelinja (3) on tuotu prosessista, kuten prosessin ainevirtauskanavasta, esim. savukaasukanavasta (C). 12 110342 I Patentkrav: