ES2363284B1 - BINARY ACTIVE LIGHTING SYSTEM - Google Patents

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ES2363284B1 ES200930628A ES200930628A ES2363284B1 ES 2363284 B1 ES2363284 B1 ES 2363284B1 ES 200930628 A ES200930628 A ES 200930628A ES 200930628 A ES200930628 A ES 200930628A ES 2363284 B1 ES2363284 B1 ES 2363284B1
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Abstract

Dispositivo de iluminación activo binario para piezas transparentes con superficies planas o curvas que comprende una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes, caracterizado porque los medios capaces de generar el patrón binario son una malla de un panel LCD y la fuente de iluminación es de gran luminancia. Gracias a que el sistema incorpora una malla de LCD se facilita el procesamiento de los datos y se da al sistema más dinamismo en cuanto a tamaño de las franjas, etc.Binary active lighting device for transparent parts with flat or curved surfaces comprising a source of lighting and means capable of generating a binary pattern of alternating light and dark stripes, characterized in that the means capable of generating the binary pattern are a panel mesh LCD and lighting source is of great luminance. Thanks to the fact that the system incorporates an LCD mesh, data processing is facilitated and the system is given more dynamism in terms of strip size, etc.

Description

Sistema de iluminación activo binario. Binary active lighting system.

Campo de la invención Field of the Invention

La presente invención se aplica al campo de la inspección de piezas utilizando sistemas de visión por computador. En particular, se aplica a la inspección de piezas transparentes. The present invention applies to the field of inspection of parts using computer vision systems. In particular, it applies to the inspection of transparent parts.

Antecedentes de la invención Background of the invention

Para un control de calidad superficial satisfactorio en objetos transparentes hay que caracterizar qué tipos de defectos interesa detectar y por supuesto la geometría y material de la superficie objeto de inspección. For a satisfactory surface quality control on transparent objects, it is necessary to characterize what types of defects are interested in detecting and of course the geometry and material of the surface under inspection.

Un ejemplo de superficies transparentes a inspeccionar serian los cristales de los proyectores de vehículos, los cuales son transparentes y tienen una forma convexa con algunas regiones planas o de muy poca curvatura. Estas zonas se localizan, fundamentalmente, en su partes vistas, por lo que el nivel de calidad del acabado, es decir, la ausencia de defectos, es extremadamente importante. An example of transparent surfaces to be inspected would be the lenses of the vehicle projectors, which are transparent and have a convex shape with some flat regions or very little curvature. These areas are located, essentially, in their parts seen, so the level of quality of the finish, that is, the absence of defects, is extremely important.

La inspección de piezas transparentes es una tarea complicada, ya que hay que controlar perfectamente el entorno para no tener reflejos indeseados. Utilizando el sistema de iluminación apropiado es posible obtener una imagen sin reflejos en la que sea posible la caracterización de defectos. The inspection of transparent parts is a complicated task, since the environment must be perfectly controlled so as not to have unwanted reflections. Using the appropriate lighting system it is possible to obtain an image without reflections in which the characterization of defects is possible.

La selección de un sistema de iluminación adecuado para una aplicación basada en visión por computador requiere de una fase experimental en la que el tipo de iluminación a probar dependerá de las características de la aplicación que estamos interesados en resolver. La mayoría de los sistemas de visión industriales se relacionan con uno de los siguientes tipos de inspección: The selection of a suitable lighting system for an application based on computer vision requires an experimental phase in which the type of lighting to be tested will depend on the characteristics of the application we are interested in solving. Most industrial vision systems relate to one of the following types of inspection:

1. one.
Inspección de calidad dimensional. Dimensional quality inspection.

2. 2.
Inspección de calidad superficial. Surface quality inspection.

3. 3.
Inspección del ensamblado de componentes. Component assembly inspection.

4. Four.
Inspección de calidad operacional (funcionamiento correcto). Operational quality inspection (correct operation).

Considerando este tipo de piezas a inspeccionar, interesa que el sistema de iluminación sea difuso para evitar en la medida de lo posible sombras y reflejos que puedan dificultar el proceso de extracción del defecto en la imagen captada por el sensor de visión. Considering these types of parts to be inspected, it is important that the lighting system is diffuse to avoid as far as possible shadows and reflections that may hinder the process of extracting the defect in the image captured by the vision sensor.

Como en el caso de las superficies transparentes, las reflectantes también tienen problemas de reflejos indeseados pero su inspección automática ha sido estudiada con mayor profundidad. Una técnica de iluminación ampliamente utilizada es la iluminación estructurada (Aluze, D., 2002; Puente León, F. & Kammel, S., 2006; Leopold, J. et al., 2003; Seulin, R., 2001; Seulin, R., 2002). Las imperfecciones en una superficie provocan importantes desviaciones en la reflexión de la luz y esta propiedad se emplea para poder detectarlas. La iluminación estructurada es de tipo binario y está compuesta por una sucesión de franjas sin intensidad luminosa y con máxima intensidad. Con estas condiciones, un defecto aparece en la imagen capturada como un conjunto de píxeles blancos sobre un fondo oscuro. En estos sistemas se usan dispositivos mecánicos para mover las franjas, lo que los hace poco flexibles. As in the case of transparent surfaces, the reflectants also have problems of unwanted reflections but their automatic inspection has been studied in greater depth. A widely used lighting technique is structured lighting (Aluze, D., 2002; Puente León, F. & Kammel, S., 2006; Leopold, J. et al., 2003; Seulin, R., 2001; Seulin, R., 2002). Imperfections on a surface cause significant deviations in the reflection of light and this property is used to detect them. Structured lighting is of a binary type and is composed of a succession of strips without light intensity and with maximum intensity. Under these conditions, a defect appears in the captured image as a set of white pixels on a dark background. In these systems, mechanical devices are used to move the strips, which makes them less flexible.

Entre los sistemas de iluminación existentes en el mercado, los que en principio podrían ser aptos para resaltar defectos en superficies transparentes serian: Among the existing lighting systems in the market, those that in principle could be able to highlight defects on transparent surfaces would be:

a. Sistema de retroiluminación difuso (basado en fluorescentes o en leds) to. Diffuse backlight system (based on fluorescent or LED)

En esta forma de iluminación, el sensor está dirigido directamente a la fuente de luz, observando una superficie blanca totalmente uniforme. Cualquier objeto interpuesto entre el sensor y la fuente de luz produce una sombra que es detectada por el sensor como una forma en negro sobre el fondo blanco. Este tipo de iluminación es habitualmente empleado para la detección de impurezas en objetos transparentes o translúcidos. Sin embargo, la desventaja de este sistema es que sólo se consigue caracterizar los tipos de defectos no transparentes como puntos negros y manchas de grasa. In this form of illumination, the sensor is directed directly to the light source, observing a completely uniform white surface. Any object interposed between the sensor and the light source produces a shadow that is detected by the sensor as a black shape on the white background. This type of lighting is usually used for the detection of impurities in transparent or translucent objects. However, the disadvantage of this system is that it is only possible to characterize the types of non-transparent defects such as blackheads and grease spots.

b. Sistemas de iluminación de bajo ángulo difuso (también denominado de campo oscuro) b. Low angle diffused lighting systems (also called dark field)

Consta de una luz directa de alta intensidad que se hace incidir con un ángulo muy elevado respecto a la normal de la superficie objeto de inspección. De esta manera se consigue que sobre superficies que presentan hendiduras o elevaciones, éstas interfieran en la trayectoria de la luz produciéndose zonas brillantes. Una aplicación típica en la que se utiliza es para resaltar imperfecciones y contornos en superficies planas. En este caso, la desventaja de este sistema es que si se aplica a objetos transparentes, con zonas de menos curvatura, sólo consigue resaltar la suciedad superficial como motas de polvo. It consists of a high intensity direct light that is struck at a very high angle to the normal of the surface under inspection. In this way, it is achieved that on surfaces that have crevices or elevations, they interfere with the light path, producing bright areas. A typical application in which it is used is to highlight imperfections and contours on flat surfaces. In this case, the disadvantage of this system is that if it is applied to transparent objects, with areas of less curvature, it only manages to highlight surface dirt such as dust spots.

Otra técnica de iluminación referenciada (Dallas et al., 2003 y Rosati et al., 2008), que se emplea a la hora de caracterizar defectos en superficies reflectantes curvas, no utiliza iluminación estructurada y si un sistema de espejos que permite concentrar la imagen reflejada en el sensor de visión. Para detectar defectos transparentes sobre superficies que también lo son, utilizando técnicas de la iluminación estructurada, es fundamental que la cámara CCD esté saturada, y para que esto ocurra se necesitan unos tiempos de exposición elevados. Esto no permitirla su aplicabilidad a nivel industrial, ya que el tiempo de adquisición de imágenes, y por tanto el tiempo de ciclo, impediría que el proceso de inspección se realizase dentro de los tiempos definidos para obtener las cadencias establecidas. Another referenced lighting technique (Dallas et al., 2003 and Rosati et al., 2008), which is used when characterizing defects on curved reflective surfaces, does not use structured lighting and a mirror system that allows the image to be concentrated. re fl ected in the vision sensor. To detect transparent defects on surfaces that are too, using structured lighting techniques, it is essential that the CCD camera is saturated, and for this to occur, high exposure times are required. This would not allow its applicability at the industrial level, since the image acquisition time, and therefore the cycle time, would prevent the inspection process from being carried out within the defined times to obtain the established rates.

Objeto de la invención Object of the invention

La invención tiene por objeto paliar los problemas técnicos citados en el apartado anterior. Para ello, propone un dispositivo de iluminación activo binario para piezas transparentes que comprende una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes, donde los medios capaces de generar el patrón binario son una malla de un panel LCD y la fuente de iluminación es de una luminancia entre 100 y 50000 lux. El dispositivo puede comprender además un difusor de luz y/o un aislante térmico (compuesto por ejemplo de un cristal doble separado por aire) entre la fuente de iluminación y la malla LCD. La fuente de iluminación puede ser por ejemplo una pluralidad de LEDs o una pluralidad de tubos fluorescentes. The invention aims to alleviate the technical problems mentioned in the previous section. To do this, it proposes a binary active lighting device for transparent parts that comprises a source of lighting and means capable of generating a binary pattern of alternating light and dark stripes, where the means capable of generating the binary pattern are a mesh of an LCD panel and the source of illumination is of a luminance between 100 and 50,000 lux. The device may further comprise a light diffuser and / or a thermal insulator (composed for example of a double glass separated by air) between the light source and the LCD mesh. The lighting source may be for example a plurality of LEDs or a plurality of fluorescent tubes.

La malla de un panel LCD (cristal líquido) se compone esencialmente de: The mesh of an LCD panel (liquid crystal) consists essentially of:

--
Fuente de alimentación conmutada. Switching power supply

--
Panel de cristal líquido (LCD), la cual también puede incorporar tecnología de transistor de película delgada (TFT). Liquid crystal panel (LCD), which can also incorporate thin film transistor (TFT) technology.

--
Tarjeta/s electrónica/s para el procesamiento y acondicionamiento de las señales de control del panel líquido. Electronic card / s for processing and conditioning the control signals of the liquid panel.

--
Interfaz de datos digital (por ejemplo: DVI, HDMI...) o bien analógica (p.e. VGA). Digital data interface (for example: DVI, HDMI ...) or analog (e.g. VGA).

El dispositivo la invención incorpora un sistema de retroiluminación basado en este sistema LCD sobreiluminado Posteriormente, las imágenes captadas por el sistema de visión por computador encargado de realizar la inspección son procesadas con el fin de conseguir una imagen de aspecto en la que queden caracterizados los defectos. The device the invention incorporates a backlight system based on this LCD system that is subsequently illuminated. Subsequently, the images captured by the computer vision system in charge of performing the inspection are processed in order to achieve an aspect image in which the defects are characterized. .

La ventaja fundamental que aporta este sistema de iluminación activo binario respecto a otros sistemas es la alta flexibilidad que ofrece un LCD como fuente de iluminación, facilitando su aplicación a sistemas automatizados de caracterización de defectos. La orientación, tamaño de franjas, desfase entre franjas en imágenes consecutivas e incluso la posibilidad de configurar un fondo uniforme hacen que el mismo sistema de iluminación sea apto para detectar defectos transparentes de diversos tamaños, orientaciones e incluso defectos no transparentes, si se configura el sistema sin franjas, actuando como sistema convencional de retroiluminación. The fundamental advantage of this binary active lighting system compared to other systems is the high flexibility offered by an LCD as a light source, facilitating its application to automated defect characterization systems. The orientation, size of stripes, lag between stripes in consecutive images and even the possibility of setting up a uniform background make the same lighting system suitable for detecting transparent defects of various sizes, orientations and even non-transparent defects, if the Stripless system, acting as a conventional backlight system.

Además, con el sistema propuesto, es posible configurar fácilmente, a nivel de software, el patrón de franjas óptimo para poder poner de manifiesto defectos de distinto tamaño, orientación y tipología. Ésta es otra de las ventajas del sistema propuesto con respecto a otros sistemas anteriores, pues para realizar este tipo de ajustes era necesario modificar estructuralmente el dispositivo de iluminación con el consiguiente coste económico. In addition, with the proposed system, it is possible to easily configure, at the software level, the optimal strip pattern to be able to show defects of different size, orientation and typology. This is another advantage of the proposed system with respect to other previous systems, since to make this type of adjustment it was necessary to structurally modify the lighting device with the consequent economic cost.

La segunda ventaja de este sistema es su potencia lumínica, lo cual le permite reducir los tiempos de detección y caracterización de los defectos. The second advantage of this system is its light output, which allows it to reduce the detection and characterization times of defects.

Otra de las ventajas que ofrece este sistema es que elimina la necesidad de utilizar sistemas previos de simulación que permitan optimizar el número y tamaño de franjas con el que ha de contar el sistema de iluminación definitivo, ya que, el propio sistema sirve de plataforma de experimentación para el ajuste de dichos parámetros. Another of the advantages offered by this system is that it eliminates the need to use previous simulation systems that allow optimizing the number and size of strips that the definitive lighting system should have, since the system itself serves as a platform for experimentation for the adjustment of said parameters.

Finalmente, una última ventaja de este sistema de iluminación es que reduce notablemente el coste computacional necesario para procesar las imágenes captadas por el sistema de visión. Finally, one last advantage of this lighting system is that it significantly reduces the computational cost necessary to process the images captured by the vision system.

Breve descripción de las figuras Brief description of the fi gures

Con objeto de ayudar a una mejor comprensión de las características de la invención de acuerdo con un ejemplo preferente de realización práctica de la misma, se acompaña la siguiente descripción de un juego de dibujos en donde con carácter ilustrativo se ha representado lo siguiente: In order to help a better understanding of the features of the invention in accordance with a preferred example of practical realization thereof, the following description of a set of drawings is attached, where the following has been represented by way of illustration:

La figura 1 es un esquema del dispositivo de la invención y su colocación respecto a la superficie a estudiar. Figure 1 is a diagram of the device of the invention and its placement with respect to the surface to be studied.

La figura 2 es un diagrama de flujo del proceso de caracterización de defectos. Figure 2 is a flow chart of the defect characterization process.

La figura 3 describe el principio físico de detección de defectos con luz estructurada. Figure 3 describes the physical principle of defect detection with structured light.

Descripción detallada de la invención Detailed description of the invention

La presente invención plantea como solución a los problemas técnicos planteados anteriormente utilizar una malla LCD (panel de cristal líquido con una fuente de alimentación conmutada, tarjeta electrónica para el procesamiento y acondicionamiento de la señal y un interfaz de datos digital), a la que se le ha colocado en su parte posterior unafuente de sobreiluminación. Ésta puede estar formada, por ejemplo, por fluorescentes de alta frecuencia, o bien leds, a los que posteriormente se podría interponer un difusor entre el LCD y la fuente de sobreiluminación. Los distintos elementos del dispositivo (9) se pueden ver en la figura 1. La fuente de iluminación (1) y la malla de LCD (3) pueden estar acompañados de y un difusor y/o aislante térmico (2). La luz emitida (4) se convierte en luz difusa (5) gracias ala actuación del filtro. Ésta se convierte en luz estructurada (6) a su paso por la malla (3). Tras pasar por el objeto a inspeccionar (7) la luz es recogida por la cámara de visión por computador (8). The present invention raises as a solution to the technical problems raised above using an LCD mesh (liquid crystal panel with a switched power supply, electronic card for signal processing and conditioning and a digital data interface), to which You have placed a light source on its back. This can be formed, for example, by high-frequency fluorescent, or LEDs, to which a diffuser could subsequently be interposed between the LCD and the light source. The different elements of the device (9) can be seen in Figure 1. The light source (1) and the LCD screen (3) can be accompanied by a diffuser and / or thermal insulator (2). The emitted light (4) becomes diffused light (5) thanks to the fi lter performance. This becomes structured light (6) as it passes through the mesh (3). After passing through the object to be inspected (7) the light is collected by the computer vision camera (8).

La fuente de iluminación debe ser de elevada luminancia, en un rango de iluminación entre 100 y 50000 lux y lo más homogénea posible para evitar concentraciones puntuales. Además interesa que no alcance elevadas temperaturas para no dañar la malla LDC que se posiciona próxima a esta. Una opción seria el uso de iluminación basada en LEDs de alta intensidad, en cuyo caso, y por tratarse de iluminación puntual, seria ventajoso el uso de un difusor. Otra opción seria el uso de fluorescentes convencionales de elevada luminancia a los que se podría incluir también un difusor y un aislante térmico, ya que alcanzan elevadas temperaturas pero son más económicos que otros sistemas. En este se ha de contemplar la posibilidad de incluir un filtro térmico transparente o difuso entre ambos la malla y los fluorescentes. El filtro puede estar compuesto por ejemplo un cristal doble separado por aire. El difusor está fabricado con un material no opaco que permita homogeneizar la luz recibida. The lighting source should be of high luminance, in a lighting range between 100 and 50,000 lux and as homogeneous as possible to avoid specific concentrations. It is also interesting that it does not reach high temperatures so as not to damage the LDC mesh that is positioned next to it. One option would be the use of lighting based on high intensity LEDs, in which case, and because it is a point lighting, it would be advantageous to use a diffuser. Another option would be the use of conventional fluorescent high luminance which could also include a diffuser and a thermal insulator, since they reach high temperatures but are cheaper than other systems. In this, the possibility of including a transparent or diffuse thermal fi lter between both the mesh and the fluorescent should be considered. The fi lter can be composed for example of a double crystal separated by air. The diffuser is made of a non-opaque material that allows the received light to be homogenized.

A continuación se describe con más detalle el principio de funcionamiento de la invención: The operation principle of the invention is described in more detail below:

La figura 3 muestra el principio físico de la detección de defectos mediante luz estructurada, es decir, con franjas claras (5) y oscuras (6), y el tipo de imagen que obtendría el sensor de visión (1). En el caso de que no existiese defecto Figure 3 shows the physical principle of defect detection by structured light, that is, with light (5) and dark stripes (6), and the type of image that the vision sensor (1) would obtain. In the event that there was no defect

(4) en la superficie, la refracción de la luz no alcanzarla la franja no iluminada. Por el contrario, si existe un defecto (2, 3), la refracción de la luz alcanzarla la franja no iluminada y el defecto aparecería como un conjunto de píxeles iluminados en la franja negra. Además, para que el defecto aparezca contrastado y los algoritmos de procesamiento necesarios para caracterizarlo se simplifiquen, es conveniente saturar el sensor de visión. (4) On the surface, the refraction of the light does not reach the unlit strip. On the contrary, if there is a defect (2, 3), the refraction of the light will reach the unlit strip and the defect would appear as a set of illuminated pixels in the black strip. In addition, for the defect to appear contrasted and the processing algorithms necessary to characterize it are simplified, it is convenient to saturate the vision sensor.

La invención propone utilizar una malla de LCD sobre iluminada. Esto representa una gran ventaja con respecto a los sistemas anteriores, ya que el sistema LCD en cooperación con una fuente de luz de elevada luminancia, en el rango de 100 a 50000 lux, ofrece mayor flexibilidad que los sistemas mecánicos, no teniendo limitaciones a la hora de configurar y mover el patrón de franjas o incluso eliminarlo y colocar un fondo blanco. The invention proposes to use an illuminated LCD mesh. This represents a great advantage over previous systems, since the LCD system in cooperation with a high luminance light source, in the range of 100 to 50,000 lux, offers greater flexibility than mechanical systems, with no limitations on the time to set and move the stripe pattern or even remove it and place a white background.

Para asegurar la detección de cualquier defecto en el campo de visión del sensor, el patrón de franjas debe escanear la totalidad de esta superficie. Para los tipos de defectos no transparentes que podría ser interesante detectar también (puntos negros y otras manchas), seria interesante disponer de un sistema de retroiluminación sin franjas. En nuestro caso, la invención aporta un sistema de iluminación más eficiente pues ofrece además las siguientes ventajas: To ensure the detection of any defect in the sensor's field of vision, the strip pattern must scan all of this surface. For the types of non-transparent defects that might be interesting to detect as well (black dots and other spots), it would be interesting to have a backlight system without stripes. In our case, the invention provides a more efficient lighting system as it also offers the following advantages:

Disponer de un patrón de franjas dinámico configurable en orientación y tamaño (sobre todo anchura). Have a dynamic strip pattern configurable in orientation and size (especially width).

Tener la posibilidad de eliminar las franjas para, iluminando con luz blanca, detectar defectos opacos. Having the possibility of eliminating the strips to, illuminating with white light, detect opaque defects.

Reducir enormemente los tiempos de sobreexposición al sobre-iluminar el objeto. Greatly reduce overexposure times by overlighting the object.

La proporción existente entre la anchura de franjas de distinta luminancia permite detectar defectos de distinto tamaño. Esta proporción se ajustará para resaltar el defecto transparente de menor tamaño que estemos interesados en inspeccionar. The proportion between the width of strips of different luminance allows to detect defects of different sizes. This ratio will be adjusted to highlight the smaller transparent defect that we are interested in inspecting.

El método empleado para conseguir la caracterización de defectos estéticos transparentes utilizando el sistema de iluminación propuesto se muestra en la figura 2. The method used to achieve the characterization of transparent aesthetic defects using the proposed lighting system is shown in Figure 2.

En primer lugar, la iluminación binaria debe barrer el campo de visión de la cámara, por lo tanto se alternan la captura de imágenes con el movimiento de franjas. Todas las imágenes capturadas se componen de lo que se denomina imagen de aspecto. En esta imagen el fondo aparece en un nivel de gris intermedio y los defectos en un nivel de gris muy alto. Al estar tan contrastados, la segmentación (división de la imagen en regiones que tengan atributos o propiedades similares) no requiere de complejas técnicas de procesamiento y sólo se aplicará a las zonas de la imagen de aspecto que no tengan bordes, definidas como regiones de interés (ROIs). Una vez segmentados los defectos en la imagen debería procederse a la aceptación o rechazo del objeto transparente en función de las dimensiones del defecto y de la zona del cristal en la que éste haya sido detectado. First, the binary lighting must sweep the field of vision of the camera, therefore alternating the capture of images with the movement of stripes. All captured images are made up of what is called aspect image. In this image the background appears in an intermediate gray level and the defects in a very high gray level. Being so contrasted, segmentation (division of the image into regions that have similar attributes or properties) does not require complex processing techniques and will only be applied to areas of the image that have no borders, defined as regions of interest. (ROIs). Once the defects in the image are segmented, the transparent object should be accepted or rejected based on the dimensions of the defect and the area of the glass in which it was detected.

Obtención de la imagen de aspecto Obtaining the aspect image

Defínase la iluminación dinámica binaria como una forma de onda cuadrada periódica que debe ser desplazada N veces de forma que la anchura de la franja blanca Tb recorra la totalidad del periodo. Define binary dynamic illumination as a periodic square waveform that must be displaced N times so that the width of the white strip Tb covers the entire period.

Siendo Being

Δ: Desfase entre franjas en dos imágenes consecutivas Δ: Offset between stripes in two consecutive images

α: Ciclo de trabajo, α: Duty cycle,

el fondo homogéneo de la imagen de aspecto se obtendrá realizando el promedio (M) de las N formas de onda cuadradas desfasadas Δ. the homogeneous background of the aspect image will be obtained by averaging (M) the N outdated square waveforms Δ.

Dado que la iluminación dinámica se consigue con un monitor, el desplazamiento mínimo entre franjas será el que se corresponde a un píxel. Cuanto menor sea el desplazamiento entre franjas menor será el nivel de intensidad medio en la imagen de aspecto dando lugar a un menor contraste entre los defectos y el fondo; sin embargo, la homogeneidad del fondo aumentará. El sistema de visión de la invención además no está sujeto a las imprecisiones de movimiento del sistema mecánico. Las imágenes de aspecto obtenidas con el monitor y desplazamientos entre franjas unitarios son de una homogenidad de fondo tal que permite obviar el preprocesamiento de la imagen antes de realizar la segmentación de defectos, reduciendo en gran medida la carga computacional del procesamiento de la imagen. Since dynamic lighting is achieved with a monitor, the minimum displacement between strips will be that corresponding to a pixel. The lower the offset between strips, the lower the intensity level will be in the aspect image, resulting in a lower contrast between the defects and the background; however, the homogeneity of the fund will increase. The vision system of the invention is also not subject to the inaccuracies of movement of the mechanical system. The appearance images obtained with the monitor and movements between unit strips are of a background homogeneity that allows to avoid the preprocessing of the image before performing the segmentation of defects, greatly reducing the computational load of the image processing.

Además definimos: In addition we define:

Si consideramos un único periodo tendremos: Expresando p(x) de la función signo tendremos: If we consider a single period we will have: Expressing p (x) of the sign function we will have:

La homogeneidad del nivel de gris intermedio es critica a la hora de segmentar defectos en la imagen de aspecto, por lo que para obtener una imagen de aspecto con un fondo homogéneo, en la que los defectos aparezcan contrastados, es fundamental considerar los siguientes parámetros: The homogeneity of the intermediate gray level is critical when it comes to segmenting defects in the aspect image, so to obtain an aspect image with a homogeneous background, in which the defects appear contrasted, it is essential to consider the following parameters:

Tamaño de la franja blanca. White stripe size.

Periodo de las franjas. Period of the fringes.

Desfase entre franjas en imágenes consecutivas. Offset between stripes in consecutive images.

Como máximo el desfase puede llegar a alcanzar el tamaño de la franja blanca. De esta forma el número de imágenes necesarias para componer la imagen de aspecto será menor pero el fondo de ésta no será uniforme. At most the offset can reach the size of the white strip. In this way the number of images necessary to compose the aspect image will be smaller but the background of it will not be uniform.

La homogeneidad de la imagen (h) puede obtenerse a partir de la ecuación (Seulin, R., 2002): The homogeneity of the image (h) can be obtained from the equation (Seulin, R., 2002):

DondeMyNson las dimensiones de la imagen, μ el nivel de intensidad medio en la imagen y f(x,y) el nivel de 10 intensidad del píxel x,y. Cuanto más se aproximaha1 mayor es la homogeneidad de la imagen. Where MyN are the dimensions of the image, μ the level of average intensity in the image and f (x, y) the level of intensity of the pixel x, y. The closer it gets, the greater the homogeneity of the image.

Por tanto, con el sistema propuesto, es posible configurar fácilmente, y a nivel de software, el patrón de franjas óptimo para poder poner de manifiesto defectos de distinto tamaño, orientación y tipología. Ésta es otra de las ventajas del sistema propuesto con respecto a otros sistemas anteriores, pues para realizar este tipo de ajustes era necesario 15 modificar estructuralmente el dispositivo de iluminación. Therefore, with the proposed system, it is possible to easily configure, and at the software level, the optimal strip pattern to be able to show defects of different size, orientation and typology. This is another advantage of the proposed system with respect to other previous systems, since to make this type of adjustment it was necessary to structurally modify the lighting device.

Además, el sistema propuesto elimina la necesidad de utilizar sistemas previos de simulación que permitan optimizar el número y tamaño de franjas que ha de contar el sistema de iluminación definitivo, ya que, el dispositivo de la invención sirve de plataforma de calibración para el ajuste de dichos parámetros. La calibración se realiza dependiendo In addition, the proposed system eliminates the need to use previous simulation systems that allow optimizing the number and size of strips to be counted by the definitive lighting system, since the device of the invention serves as a calibration platform for the adjustment of these parameters. Calibration is performed depending

20 del tipo de defecto a encontrar, ya que el tamaño de las franjas es directamente proporcional a dicho tamaño. 20 of the type of defect to be found, since the size of the strips is directly proportional to that size.

Claims (5)

REIVINDICACIONES 1. Dispositivo de iluminación activo binario para piezas transparentes que comprende una fuente de iluminación (1) y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes (3), caracterizado porque1. Binary active lighting device for transparent parts comprising a lighting source (1) and means capable of generating a binary pattern of alternating light and dark stripes (3), characterized in that 5 los medios capaces de generar el patrón binario son una malla de un panel LCD y la fuente de iluminación es de una luminancia entre 100 y 50000 lux. 5 the means capable of generating the binary pattern are a mesh of an LCD panel and the illumination source is of a luminance between 100 and 50,000 lux. 2. Dispositivo según la reivindicación 1 caracterizado porque comprende además un difusor (2) de luz entre la 10 fuente de iluminación (1) y la malla LCD (3). 2. Device according to claim 1 characterized in that it further comprises a light diffuser (2) between the light source (1) and the LCD mesh (3). 3. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores caracterizado porque comprende un aislante térmico entre la fuente de luz (1) y la malla de LCD. 3. Device according to any of the preceding claims characterized in that it comprises a thermal insulator between the light source (1) and the LCD mesh.
15 4. Dispositivo según la reivindicación 3 caracterizado porque el aislante térmico está compuesto de un cristal doble separado por aire. Device according to claim 3 characterized in that the thermal insulator is composed of a double glass separated by air.
5. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores caracterizado porque la fuente de iluminación es una pluralidad de LEDs. 5. Device according to any of the preceding claims characterized in that the lighting source is a plurality of LEDs.
20 6. Dispositivo según cualquiera de las reivindicaciones 1-4 caracterizado porque la fuente de iluminación es una pluralidad de tubos fluorescentes. Device according to any of claims 1-4 characterized in that the source of illumination is a plurality of fluorescent tubes.
OFICINA ESPANOLA DE PATENTES Y MARCAS ESPANA SPANISH OFFICE OF PATENTS AND BRANDS SPAIN INFORME SOBRE EL ESTADO DE LA TECNICA REPORT ON THE STATE OF THE TECHNIQUE 51 Int. Cl. Ver Hoja Adicional 51 Int. Cl. See Additional Sheet 21 N.O solicitud: 200930628 22 Fecha de presentaci6n de la solicitud: 27.08.2009 32 Fecha de prioridad: twenty-one Application No.: 200930628 22 Date of submission of the application: 27.08.2009 32 Date of priority: DOCUMENTOS RELEVANTES RELEVANT DOCUMENTS
Categoria  Category
Documentos citados Reivindicaciones afectadas  Documents cited  Claims Affected
x x
US 2008111989 A1 (DUFOUR CHRISTIAN ET AL.) 15/05/2008, 1,2 US 2008111989 A1 (DUFOUR CHRISTIAN ET AL.) 05/15/2008, 1.2
figura 1, parrafo [11]. Figure 1, paragraph [11].
Y Y
3-6    3-6
Y Y
US 2007081344 A1 (CAPPAERT BART ET AL.) 12/04/2007, 3-6 US 2007 081344 A1 (CAPPAERT BART ET AL.) 04/12/2007, 3-6
figura 14, parrafos [107 - 109]; parrafo [4]. Figure 14, paragraphs [107-109]; paragraph [4].
A TO
US 2005035311 A1 (ASAKAWA JIN ET AL.) 17/02/2005, 2 US 2005035311 A1 (ASAKAWA JIN ET AL.) 02/17/2005, 2
parrafos [14 - 15]; parrafo [78]. paragraphs [14-15]; paragraph [78].
Categoria de los documentos citados x: de particular relevancia Y: de particular relevancia combinado con otro/s de la misma categoria A: refleja el estado de la tecnica O: referido a divulgaci6n no escrita P: publicado entre la fecha de prioridad y la de presentaci6n de la solicitud E: documento anterior, pero publicado despues de la fecha de presentaci6n de la solicitud   Category of the documents cited x: of particular relevance Y: of particular relevance combined with other / s of the same category A: reflects the state of the art O: refers to unwritten disclosure P: published between the priority date and the date of priority submission of the application E: previous document, but published after the date of submission of the application
El presente informe ha sido realizado � para todas las reivindicaciones � para las reivindicaciones nO:   This report has been produced � for all claims � for claims No:
Fecha de realizaci6n del informe 13.07.2011  Date of realization of the report 13.07.2011
Examinador R. Molinera de Diego Pagina 1/5  Examiner R. Molinera de Diego  Page 1/5
INFORME DEL ESTADO DE LA TECNICA TECHNICAL STATUS REPORT CLASIFICACION OBJETO DE LA SOLICITUD CLASSIFICATION OBJECT OF THE APPLICATION G01N211958 (2006.01) G01N21188 (2006.01) G01811125 (2006.01) G01811130 (2006.01) G02F1113 (2006.01) G01N211958 (2006.01) G01N21188 (2006.01) G01811125 (2006.01) G01811130 (2006.01) G02F1113 (2006.01) Documentaci6n minima buscada (sistema de clasificaci6n seguido de los simbolos de clasificaci6n) Minimum documentation sought (classification system followed by classification symbols) G01N, G01B, G02F G01N, G01B, G02F Bases de datos electr6nicas consultadas durante la busqueda (nombre de la base de datos y, si es posible, terminos de busqueda utilizados) Electronic databases consulted during the search (name of the database and, if possible, search terms used) INVENES, EPODOC INVENTIONS, EPODOC OPINION ESCRITA  WRITTEN OPINION Fecha de Realizaci6n de la Opini6n Escrita: 13.07.2011 Date of Written Opinion: 13.07.2011 Declaraci6n Statement
Novedad (Art. 6.1 LP 11/1986) Novelty (Art. 6.1 LP 11/1986)
Reivindicaciones 1-6 SI Claims 1-6 YES
Reivindicaciones Claims
NO NO
Actividad inventiva (Art. 8.1 LP11/1986) Inventive activity (Art. 8.1 LP11 / 1986)
Reivindicaciones SI Claims YES
Reivindicaciones 1-6 Claims 1-6
NO NO
Se considera que la solicitud cumple con el requisito de aplicaci6n industrial. Este requisito fue evaluado durante la fase de examen formal y tecnico de la solicitud (Articulo 31.2 Ley 11/1986). The application is considered to comply with the industrial application requirement. This requirement was evaluated during the formal and technical examination phase of the application (Article 31.2 Law 11/1986). Base de la Opini6n.-  Basis of Opinion.- La presente opini6n se ha realizado sobre la base de la solicitud de patente tal y como se publica. This opinion has been made on the basis of the patent application as published. OPINION ESCRITA  WRITTEN OPINION 1. Documentos considerados.-1. Documents considered.- A continuaci6n se relacionanlos documentos pertenecientes al estado de la tecnica tomados en consideraci6n para la realizaci6n de esta opini6n. Below are the documents pertaining to the state of the art taken into consideration for the realization of this opinion.
Documento Document
Numero Publicaci6n o Identificaci6n Fecha Publicaci6n Publication or Identification Number Publication Date
D01 D01
US 2008111989 A1 (DUFOUR CHRISTIAN et al.) 15.05.2008 US 2008111989 A1 (DUFOUR CHRISTIAN et al.) 05.15.2008
D02 D02
US 2007081344 A1 (CAPPAERT BART et al.) 12.04.2007 US 2007 081344 A1 (CAPPAERT BART et al.) 04/12/2007
D03 D03
US 2005035311 A1 (ASAKAWA JIN et al.) 17.02.2005 US 2005035311 A1 (ASAKAWA JIN et al.) 02.17.2005
2. Declaraci6n motivada segun los articulos 29.6 y 29.7 del Reglamento de ejecuci6n de la Ley 11/1986, de 20 de marzo, de Patentes sobre la novedad y la actividad inventiva; citas y explicaciones en apoyo de esta declaraci6n 2. Statement motivated according to articles 29.6 and 29.7 of the Regulations for the execution of Law 11/1986, of March 20, on Patents on novelty and inventive activity; quotes and explanations in support of this statement De todos los documentos encontrados se considera que el documento US 2008111989 A1 es el mas pr6ximo del estado de la tecnica, a partir de ahora se nombrara como D1. El documento US 2007081344 se nombrara como D2. A continuaci6n se comparan las reivindicaciones de la solicitud con este documento. Of all the documents found, document US 2008111989 A1 is considered to be the closest to the state of the technique, from now on it will be named as D1. US 2007081344 will be named as D2. The claims of the application are then compared with this document. Primera reivindicaci6n  First claim El documento D1 muestra un dispositivo de iluminaci6n activo binario para piezas transparentes (ver parrafo 11) que comprende una fuente de iluminaci6n (100) y medios capaces de generar un patr6n binario de franjas luminosas y oscuras alternantes (100), en el que los medios capaces de generar el patr6n binario son una malla de un panel LCD. Por lo tanto la primera reivindicaci6n de la solicitud que se analiza presenta las siguientes diferencias respecto al documento D1: Document D1 shows a binary active lighting device for transparent parts (see paragraph 11) comprising a lighting source (100) and means capable of generating a binary pattern of alternating light and dark stripes (100), in which the means capable of generating the binary pattern are a mesh of an LCD panel. Therefore, the first claim of the application analyzed presents the following differences with respect to document D1:
--
Primera diferencia: el documento D1 no contempla de manera separada una fuente de iluminaci6n y una pantalla de cristal liquido. Respecto a esta primera diferencia es preciso indicar que el documento D1 tiene integrado dentro del propio dispositivo de pantalla de cristal liquido o LCD la fuente de iluminaci6n. Por lo tanto, la diferencia anteriormente mencionada no tendria un efecto tecnico sobre el documento D1. El problema tecnico objetivo en este caso seria c6mo encontrar una alternativa a la soluci6n estructural contemplada en la primera reivindicaci6n. Dicha variante constructiva se considera dentro del alcance de la practica habitual seguida por el experto en la materia en la fecha en la que la solicitud se present6, puesto que es conocido que las pantallas modernas LCD son construidas con una fuente de luz interna que es usualmente la primera capa del fondo del panel. First difference: document D1 does not separately contemplate a source of illumination and a liquid crystal display. Regarding this first difference, it is necessary to indicate that the document D1 has the illumination source integrated into the liquid crystal display device or LCD itself. Therefore, the aforementioned difference would not have a technical effect on document D1. The objective technical problem in this case would be how to find an alternative to the structural solution contemplated in the first claim. Said constructive variant is considered within the scope of the usual practice followed by the person skilled in the art on the date on which the application was filed, since it is known that modern LCD screens are constructed with an internal light source that is usually the first layer of the bottom of the panel.
--
Segunda diferencia: la primera reivindicaci6n de la solicitud indica que la fuente de iluminaci6n es de una iluminancia entre 100 y 50000 lux. Se considera que esta diferencia respecto al documento D1 consiste en la selecci6n de un rango que no presenta efectos o propiedades inesperadas. Ademas, de la lectura de la solicitud no se desprenden detallesque justifiquen la elecci6n de dicho rango de valores y la elecci6n de tal valor seria arbitraria. Por lo tanto, la primera reivindicaci6n careceria de actividad inventivatal y como se establece en el Articulo 8 de la Ley Espanola de Patentes, Ley 11/1986 del 20 de Marzo. Second difference: the first claim of the application indicates that the source of illumination is of an illuminance between 100 and 50,000 lux. It is considered that this difference with respect to document D1 consists in the selection of a range that has no unexpected effects or properties. In addition, the reading of the request does not reveal details that justify the choice of such range of values and the choice of such value would be arbitrary. Therefore, the first claim would lack inventive activity and as set forth in Article 8 of the Spanish Patent Law, Law 11/1986 of March 20.
Segunda reivindicaci6n  Second claim El documento D1 no muestra un difusor de luz ente la fuente de iluminaci6n (100) y la malla LCD (100). Se considera que el hecho de integrar un difusor entre la fuente de iluminaci6n y la malla LCD es algo perteneciente al conocimiento comun tecnico y su implementaci6n en el documento D1 seria evidente para un experto en la materia en la fecha de la solicitud. Para apoyar esta afirmaci6n basta dirigirse, por ejemplo, al documento citado con la categoria A en el informe US2005035311, que divulga un difusor ubicado sobre unos LEDs para obtener luz difusa, transmitiendo una luz con una distribuci6n de brillo uniforme, evitando sombras y reflejos. Por lo tanto, la segunda reivindicaci6n careceria de actividad inventiva . Document D1 does not show a light diffuser between the lighting source (100) and the LCD mesh (100). It is considered that the fact of integrating a diffuser between the illumination source and the LCD mesh is something belonging to the common technical knowledge and its implementation in document D1 would be evident to a person skilled in the art on the date of the request. To support this statement, it is sufficient to address, for example, the document cited with category A in report US2005035311, which discloses a diffuser located on LEDs to obtain diffused light, transmitting a light with a uniform brightness distribution, avoiding shadows and reflections. Therefore, the second claim would lack inventive activity. Tercera reivindicaci6n  Third claim El documento D1 no muestra un aislante termico entre la fuente de luz y la malla LCD. El efecto tecnico de esta diferencia es que se evita el paso de calor generado por la fuente de luz hacia la malla LCD. El problema del calor generado por las fuentes luminosas de estas aplicaciones es bien conocido. Por lo tanto, la identificaci6n de est e pr oblema n o entranaria actividad i nventiva. La so luci6n pr opuesta t ampoco ent ranaria a ctividad i nventiva. E l documento D2 (figura 14, parrafos 0107 y 0108) recoge un aislante termico entre la fuente de luz y la malla LCD. La combinaci6n de D1 con D2 no entranaria actividad inventiva: ambos documentos pertenecen al mismo campo del estado de la tecnica, pantallas de cristal liquido o LCD. Por lo tanto, la inclusi6n del aislante termico entre la fuente de luz y la malla LCD del documento D1 seria evidente para un experto en la materia, y la tercera reivindicaci6n careceria de actividad inventiva. Document D1 does not show a thermal insulator between the light source and the LCD mesh. The technical effect of this difference is that the passage of heat generated by the light source towards the LCD mesh is avoided. The problem of heat generated by the light sources of these applications is well known. Therefore, the identification of this problem or would involve preventive activity. The opposite solution would also be timeless to preventive activity. Document D2 (Figure 14, paragraphs 0107 and 0108) collects a thermal insulator between the light source and the LCD screen. The combination of D1 with D2 would not involve inventive activity: both documents belong to the same field of state of the art, liquid crystal displays or LCDs. Therefore, the inclusion of the thermal insulator between the light source and the LCD mesh of document D1 would be apparent to one skilled in the art, and the third claim would lack inventive activity. OPINION ESCRITA WRITTEN OPINION Cuarta reivindicaci6n  Fourth Claim El documento D2, aunque no muestra especificamente un aislante termico compuesto de un cristal doble separado por aire, si muestra una cavidad aislada termicamente o camara de aire que es montada alrededor del panel LCD. Entre la fuente de luz y y el panel LCD se situa una barrera termica (75) que incluye paredes que tienen partes transparentes con el objetivo de permitir el paso de la luz, ademas indica que pueden ser hechos de cristal para aumentar la resistencia. Por lo tanto esta caracteristica proporciona las mismas ventajas que en la presente solicitud. Por todo lo anterior, la cuarta reivindicaci6n careceria de actividad inventiva. Document D2, although it does not specifically show a thermal insulator composed of a double glass separated by air, if it shows a thermally insulated cavity or air chamber that is mounted around the LCD panel. Enter the source of light and and the LCD panel is located a thermal barrier (75) that includes walls that have transparent parts with the aim of allow the passage of light, also indicates that they can be made of glass to increase resistance. Therefore this feature provides the same advantages as in the present application. For all the above, the fourth claim would lack inventive activity. Reivindicaciones �uinta y sexta  Claims � fifth and sixth El documento D2 muestra que la fuente de iluminaci6n es una pluralidad de LEDs o lamparas fluorescentes. Por esta raz6n, las reivindicaciones quinta y sextas carecerian de actividad inventiva . Document D2 shows that the source of illumination is a plurality of LEDs or fluorescent lamps. For this reason, the fifth and sixth claims would lack inventive activity. Tal como indica el articulo 5.2.c del Reglamento 2245/1986 de ejecuci6n de la Ley de Patentes, y con objeto de obtener una mejor comprensi6n de la invenci6n, se sugiere que en fases posteriores del procedimiento se incluya en la descripci6n una indicaci6n de los documentos D1 y D2, comentando cual es la aportaci6n mas importante que hacen al estado de la tecnica. Dicha indicaci6n no puede ampliar el objeto de la invenci6n, tal y como fue originalmente presentada As indicated in article 5.2.c of Regulation 2245/1986 for the execution of the Patent Law, and in order to obtain a better understanding of the invention, it is suggested that in the later stages of the procedure an indication of the documents D1 and D2, commenting on the most important contribution they make to the state of the art. Such indication cannot extend the object of the invention, as originally presented.
ES200930628A 2009-08-27 2009-08-27 BINARY ACTIVE LIGHTING SYSTEM Active ES2363284B1 (en)

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