ES2353155T3 - Procedimiento y dispositivo de diagnóstico de fallos múltiples que ocurren en los materiales. - Google Patents
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Abstract
Un procedimiento de diagnóstico de averías o fallos múltiples sobrevenidos en materiales (Vi) y representados por ficheros de datos (JDDi), caracterizado por que consiste, en presencia de un vector denominado "forma" xi (xi = (xi1, ..., xiN)) que resulta de la transformación de un fichero de datos (JDDi) emitido desde un material en estado de fallo (Vi), i) en proyectar dicho vector forma xi en unos sub-espacios EPj (siendo j = 1 a M) asociados, respectivamente, a M fallos simples identificados ωj que pueden sobrevenir en dicho material en estado de fallo (Vi), y constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de variables xikj escogidas entre N variables (xik) asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CDik que pueden sobrevenir en dicho material en estado de fallo (Vi), con el fin de obtener M sub-vectores formas xij, y, a continuación, ii) calcular valores representativos de similitudes entre cada sub-vector forma xij y vectores denominados "prototipo" que forman parte de una base de datos de fallos simples X y que son representativos del fallo simple identificado ωj del mismo índice j y del conjunto de M-1 fallos simples ωj' (siendo j'≠q j), excluido este fallo simple identificado ωj, y iii) deducir de estos valores de similitud al menos un fallo simple del material en estado de fallo (Vi).
Description
Procedimiento y dispositivo de diagnóstico de
fallos múltiples que ocurren en los materiales.
La invención se refiere a los diagnósticos de
averías o fallos que sobrevienen en los materiales y, más
precisamente, a los dispositivos y procedimientos encargados de
efectuar diagnósticos de averías a partir de una base de datos de
fallos.
Se entiende aquí por "fallo" un conjunto de
al menos un defecto de funcionamiento, permanente o intermitente (o
fugaz) y que puede constituir el objeto de una detección encaminada
a la generación, por parte de una función de diagnóstico, de
mensaje(s) de error reagrupado(s) en un fichero de
datos. Se dice que un defecto es permanente si únicamente desaparece
tras una intervención de reparación. Un defecto se denomina fugaz si
aparece y desaparece de forma aleatoria o cíclica, sin intervención
de reparación.
Por otra parte, se entiende aquí por
"material" todo tipo de equipo provisto de al menos un elemento
que puede ser el objeto de al menos un defecto de funcionamiento tal
como se ha descrito aquí, en lo anterior. Podrá tratarse, por
ejemplo, aunque no limitativamente, de un vehículo automóvil.
En ciertos materiales, como, por ejemplo, los
vehículos automóviles, la electrónica denominada "de a bordo"
ocupa un lugar cada vez más importante. Así, en la aplicación
anteriormente mencionada, se la encuentra, en particular, en el
motor, en el chasis, en los órganos de seguridad y dentro del
habitáculo (en particular, para gestionar la climatización). Es, por
tanto, frecuente encontrar que coexisten en el seno de un mismo
vehículo varias decenas de calculadores (o microprocesadores). Con
el fin de facilitar la gestión de un número tan elevado de
calculadores, se ha propuesto poner en práctica una técnica de
intercambio de datos por multiplexación. Para llevar esto a cabo,
puede constituirse, por ejemplo, una red global a partir de varias
sub-redes o redes subordinadas, por ejemplo, del
tipo de CAN ("Controller Area Network" -Red de Área de
Controlador), conectados entre sí por la intermediación de un
calculador central (maestro o principal).
La multiplexación resulta particularmente útil
pero, por desgracia, lleva consigo ciertos inconvenientes. Así,
puede estar en el origen de problemas de seguridad de funcionamiento
y puede dificultar la determinación del origen de las averías o
fallos como consecuencia de la propagación en la red global de los
síntomas de fallo debido a las interdependencias entre calculadores
y funciones (frecuentemente repartidas). Puede igualmente revelarse
defectuosa como consecuencia de incompatibilidades de funcionamiento
entre calculadores provenientes de equipos diferentes.
Aunque no sea la única en este caso (esto puede
ser igualmente debido a una estrategia de diagnóstico de a bordo
poco robusta), la multiplexación puede encontrarse igualmente en el
origen de la iluminación permanente en falso de ciertos testigos del
cuadro de mandos (esto es lo que se denomina falsos fallos), o del
funcionamiento defectuoso por la intermitencia de ciertas funciones
(esto es lo que se denomina los defectos intermitentes o
fugaces).
El documento EP 1418481 divulga un procedimiento
de diagnóstico de fallos múltiples.
A fin de permitir a los técnicos determinar el
origen de los fallos, se ponen a su disposición unos ficheros, en
ocasiones denominados "log", que contienen mensajes de error
generados por funciones de diagnóstico embarcadas consecutivamente
en la detección o en la desaparición de defectos de funcionamiento
(o funcionamientos defectuosos), permanentes o intermitentes.
Los contenidos de estos ficheros "log" son,
a menudo, sin embargo, difíciles de aprovechar debido al hecho de
que son analizados por medio de métodos básicos de diagnóstico de
fallos y de bases de datos de defectos. Esto resulta, en particular,
del hecho de que no hay relaciones biyectivas entre los códigos de
defecto (repertorios dentro de las bases de datos de defectos) y los
fallos reales debidos a interdependencias funcionales, y, por tanto,
un fallo puede estar representado por un conjunto de códigos de
defecto. Esto es resultado, igualmente, del hecho de que los
ficheros "log" pueden ser "contaminados" por falsas
alarmas y son, además, de tipo multidimensional.
Con el fin de facilitar el trabajo de los
técnicos, se ha propuesto poner a su disposición dispositivos (o
herramientas) de diagnóstico de fallos acoplados a la(s)
base(s) de datos de fallos. De esta forma, el documento de
Patente WO 2006/127051 propone recoger en una base de datos, por
ejemplo, a través de la Internet, las informaciones que describen
los fallos que pueden sobrevenir en materiales, y efectuar a
continuación un análisis estadístico de datos almacenados con el fin
de sintetizar los datos correspondientes a un fallo para un número
muy limitado de vectores de informaciones que conservan las
propiedades estadísticas principales de los datos iniciales. Este
tipo de análisis estadístico mejora la situación, pero de forma
insuficiente puesto que, en un buen número de casos, suministra a
los técnicos más pistas para determinar el origen real de los fallos
que verdaderos diagnósticos que les indiquen el origen real de los
fallos. Además, este tipo de análisis estadístico no está bien
adaptado a las situaciones de fallos múltiples, en particular cuando
varios códigos de fallos son comunes a varios fallos simples.
La invención tiene, por tanto, como propósito
mejorar la situación en el caso de fallos múltiples. Se entiende
aquí por "fallo múltiple" el hecho de tener simultáneamente
varios fallos simples.
\newpage
Esta propone, a este efecto, un procedimiento
dedicado al diagnóstico de fallos múltiples sobrevenidos en
materiales y representados por ficheros de datos, y que consiste, en
presencia de un vector denominado "forma" x_{i}
(x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN})) que resulta de la transformación de un fichero de datos emitido desde un material en estado de fallo:
(x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN})) que resulta de la transformación de un fichero de datos emitido desde un material en estado de fallo:
i) en proyectar este vector forma x_{i} en el
plano de los sub-espacios EP_{j} (siendo j = 1 a
M) asociados, respectivamente, a M fallos simples identificados
\omega_{j} que pueden sobrevenir en el material en estado de
fallo, y constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de
variables x_{ik}^{j} escogidas entre N variables (x_{ik})
asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que
pueden sobrevenir en el material en estado de fallo, con el fin de
obtener M sub-vectores formas x_{i}^{j}, y, a
continuación,
ii) calcular valores representativos de
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y vectores denominados "prototipo" que forman
parte de una base de datos de fallos simples X y que son
representativos del fallo simple identificado \omega_{j} del
mismo índice j y del conjunto de M-1 fallos simples
\omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido este fallo simple
identificado \omega_{j}, y
iii) deducir de estos valores de similitud al
menos un fallo simple del material en estado de fallo.
\vskip1.000000\baselineskip
El procedimiento de acuerdo con la invención
puede comprender otras características que pueden tomadas por
separado o en combinación, y, en particular:
- en i) los valores de similitud pueden ser los
resultados de mediciones de disimilitud entre cada
sub-vector forma x_{i}^{j} y unos vectores
prototipos correspondientes;
\blacktriangleright en presencia de una base
de datos de fallos X que contiene M primeros vectores prototipos
P1_{j} representativos, respectivamente, de los M fallos
identificados \omega_{j}, y M segundos vectores prototipos
P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos de
M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo j' \neq
j), excluidos cada uno de los M fallos identificados \omega_{j},
puede efectuarse en ii), para cada fallo identificado
\omega_{j}, una primera medición de disimilitud entre el
sub-vector forma x_{i}^{j} y el primer vector
prototipo P1_{j} asociado a este fallo identificado
\omega_{i}^{j}, con el fin de obtener un primer valor de
disimilitud S1_{j}, y una segunda medición de disimilitud entre el
sub-vector forma x_{i}^{j} y el segundo vector
prototipo P2_{j} asociado a este fallo identificado
\omega_{j}, con el fin de obtener un segundo valor de similitud
S2_{j}, y, a continuación, en iii), puede retenerse cada primer
valor de similitud S1_{j} que sea inferior al segundo valor de
similitud S2_{j} correspondiente y que corresponda, entonces, a un
fallo del material en estado de fallo;
\bullet en iii), en presencia de primeros
vectores prototipos P1_{j} constituidos, por un lado, por un
primer vector a1_{j}, cada variable constitutiva a1_{jk} del
cual es representativa del valor de variable x_{ik} (k = 1 a N)
que es mayoritario en los vectores formas x_{i} (x_{i} =
(x_{i1}, ..., x_{iN})) considerados de un primer subconjunto
X1_{j}, que corresponden al fallo \omega_{j}, y por otro lado,
por un segundo vector \varepsilon1_{j}, cada variable
constitutiva \varepsilon1_{jk} del cual es representativa de la
variación de los valores de variable x_{ik} del primer subconjunto
X1_{j} con respecto a la variable a1_{jk} correspondiente, y en
presencia de segundos vectores prototipos P2_{j} constituidos, por
un lado, por un primer vector a2_{j} cada una de cuyas variables
constitutivas a2_{jk} es representativa del valor de variable
x_{ik} que es mayoritario en los vectores formas x_{i}
considerados de un segundo subconjunto X2_{j}, que no corresponden
al fallo \omega_{j}, y, por otro lado, por un segundo vector
\varepsilon2_{j}, cada variable constitutiva
\varepsilon2_{jk} del cual es representativa de la variación de
los valores de variable x_{ik} del segundo subconjunto X2_{j}
con respecto a la variable a2_{jk} correspondiente, puede
determinarse cada primer valor de similitud S1_{j} efectuando una
suma ponderada de las diferencias entre las variables del mismo
índice k del sub-vector forma x_{i}^{j} y del
primer vector a1_{j}, y puede determinarse cada segundo valor de
similitud S2_{j} efectuando una suma ponderada de las diferencias
entre las variables del mismo índice k del
sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer vector
a2_{j};
\circ cada primera medición de disimilitud
puede ser definida, por ejemplo, por la relación
1 y cada segunda medición de disimilitud puede ser
definida, por ejemplo, por la relación 2
- en caso de recepción de un fichero de datos,
puede transformarse éste último en un vector forma x_{i}
constituido por un conjunto de N variables x_{ik} (x_{i} =
(x_{i1}, ..., x_{iN}) con k = 1 a N) asociadas, respectivamente,
a los N códigos de defecto CD_{ik} que pueden sobrevenir en el
material en estado de fallo;
- cada variable x_{ik} puede tomar unos primer
y segundo valores representativos, respectivamente, de la detección
al menos una vez y de la ausencia de detección del código de defecto
CD_{ik} dentro de dicho fichero;
\newpage
\global\parskip0.900000\baselineskip
\blacktriangleright Cada
sub-espacio EP_{j} puede, por ejemplo, reagrupar
variables x_{ik}^{j} definidas por la relación
3 tiene, por tanto, un primer valor representativo
de la detección al menos una vez del código de defecto CD_{ik}
dentro de los ficheros de datos JDD_{i} correspondientes al fallo
\omega_{j} con una probabilidad superior a 0,5 cuando está
presente el fallo identificado como \omega_{j}.
\vskip1.000000\baselineskip
La invención propone igualmente un dispositivo
dedicado al diagnóstico de averías o fallos múltiples sobrevenidos
en materiales y representados por ficheros de datos, y que comprende
medios de tratamiento encargados, en presencia de un vector forma
x_{i} (x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN})) resultante de la
transformación de un fichero de datos emitido desde un material en
estado de fallo:
- de proyectar este vector de forma x_{i} en
sub-espacios EP_{j} (siendo j = 1 a M) asociados,
respectivamente, a M fallos simples identificados como
\omega_{j} que pueden sobrevenir en el material en estado de
fallo y constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de
variables x_{ik}^{j} escogidas entre N variables (x_{ik})
asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que
pueden sobrevenir en el material en estado de fallo, a fin de
obtener M sub-vectores formas x_{i}^{j}, y, a
continuación,
- calcular valores representativos de
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y unos valores prototipos que forman parte de una base
de datos de fallos simples X y que son representativos del fallo
simple identificado \omega_{j} del mismo índice j y del conjunto
de M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo
j'\neq j), excluido este fallo simple identificado \omega_{j},
y
- deducir de estos valores de similitud al menos
un fallo simple del material en estado de fallo.
\vskip1.000000\baselineskip
El procedimiento de acuerdo con la invención
puede comprender otras características que pueden tomadas por
separado o en combinación, y, en particular:
- sus medios de tratamiento pueden estar
encargados de calcular mediciones de disimilitud entre cada
sub-vector forma x_{i}^{j} y vectores prototipos
correspondientes, de manera que los resultados de estos cálculos son
los valores de similitud;
\blacktriangleright en presencia de una base
de datos de fallos X que contiene M primeros vectores prototipos
P1_{j} representativos, respectivamente, de los M fallos
identificados \omega_{j}, y M segundos vectores prototipos
P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos de
M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo j' \neq
j), excluidos cada uno de los M fallos identificados \omega_{j},
sus medios de tratamiento pueden estar encargados i) de efectuar,
para cada fallo identificado \omega_{j}, por un lado, una
primera medición de disimilitud entre el sub-vector
forma x_{i}^{j} y el primer vector prototipo P1_{j} asociado a
este fallo identificado \omega_{i}^{j}, con el fin de obtener
un primer valor de disimilitud S1_{j}, y, por otro lado, una
segunda medición de disimilitud entre el sub-vector
forma x_{i}^{j} y el segundo vector prototipo P2_{j} asociado
a este fallo identificado \omega_{j}, con el fin de obtener un
segundo valor de similitud S2_{j}, y ii) de retener cada primer
valor de similitud S1_{j} que sea inferior al segundo valor de
similitud S2_{j} correspondiente y que corresponda a un fallo del
material en estado de fallo;
\bullet en presencia de primeros vectores
prototipos P1_{j} constituidos, por un lado, por un primer vector
a1_{j}, cada variable constitutiva a1_{jk} del cual es
representativa del valor de variable x_{ik} (k = 1 a N) que es
mayoritario en los vectores formas x_{i} (x_{i} = (x_{i1},
..., x_{iN})) considerados de un primer subconjunto X1_{j}, que
corresponden al fallo \omega_{j}, y por otro lado, por un
segundo vector \varepsilon1_{j}, cada variable constitutiva
\varepsilon1_{jk} del cual es representativa de la variación de
los valores de variable x_{ik} del primer subconjunto X1_{j} con
respecto a la variable a1_{jk} correspondiente, y en presencia de
segundos vectores prototipos P2_{j} constituidos, por un lado, por
un primer vector a2_{j} cada una de cuyas variables constitutivas
a2_{jk} es representativa del valor de variable x_{ik} que es
mayoritario en los vectores formas x_{i} considerados de un
segundo subconjunto X2_{j}, que no corresponden al fallo
\omega_{j}, y, por otro lado, por un segundo vector
\varepsilon2_{j}, cada variable constitutiva
\varepsilon2_{jk} del cual es representativa de la variación de
los valores de variable x_{ik} del segundo subconjunto X2_{j}
con respecto a la variable a2_{jk} correspondiente, sus medios de
tratamiento pueden estar encargados i) de determinar cada primer
valor de similitud S1_{j} efectuando una suma ponderada de las
diferencias entre las variables del mismo índice k del
sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer vector
a1_{j}, y ii) de determinar cada segundo valor de similitud
S2_{j} efectuando una suma
ponderada de las diferencias entre las variables del mismo índice k del sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer vector a2_{j};
ponderada de las diferencias entre las variables del mismo índice k del sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer vector a2_{j};
\circ sus medios de tratamiento pueden estar
encargados de determinar i) cada primera medición de disimilitud a
partir de la relación 4 y ii) cada segunda medición
de disimilitud a partir de la relación 5
\global\parskip1.000000\baselineskip
- en caso de recepción de un fichero de datos,
sus medios de tratamiento pueden estar encargados de transformar
este fichero de datos en un vector forma x_{i} constituido por un
conjunto de N variables x_{ik} (x_{i} = (x_{i1}, ...,
x_{iN}) con k = 1 a N) asociadas, respectivamente, a los N códigos
de defecto CD_{ik} que pueden sobrevenir en el material en estado
de fallo;
- cada variable x_{ik} puede tomar unos primer
y segundo valores representativos, respectivamente, de la detección
al menos una vez y de la ausencia de detección del código de defecto
CD_{ik} dentro del fichero;
\blacktriangleright Cada
sub-espacio EP_{j} puede, por ejemplo, reagrupar
variables x_{ik}^{j} definidas por la relación
6 tiene, por tanto, un primer valor representativo
de la detección al menos una vez del código de defecto CD_{ik}
dentro de los ficheros de datos JDD_{i} correspondientes al fallo
\omega_{j} con una probabilidad superior a 0,5 cuando está
presente el fallo identificado \omega_{j}.
\vskip1.000000\baselineskip
De preferencia, la base de datos se obtiene por
un procedimiento de generación de base(s) de datos
representativa(s)
de fallos sobrevenidos en materiales (V_{i}), consiste en i) almacenar ficheros de datos (JDD_{i}) emitidos desde materiales (V_{i}) y representativos de defectos sobrevenidos en ciertos de sus elementos, para seguidamente ii) transformar cada fichero de datos (JDD_{i}) en un vector denominado "forma" x_{i}, y iii) construir para cada uno de M fallos identificados \omega_{j} vectores denominados "prototipos" a partir de los vectores formas x_{i}, de manera que se constituye una base de datos X que contiene vectores prototipos representativos de M fallos identificados \omega_{j} y de M conjuntos de M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido cada uno de los M fallos identificados \omega_{j}. Preferiblemente, en ii) se transforma cada fichero de datos (JDD_{i}) en un vector forma x_{i} constituido por un conjunto de N variables x_{ik} (x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN}), siendo k = 1 a N) asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que pueden sobrevenir en el material (V_{i}) correspondiente, de tal modo que cada variable x_{ik} puede tomar unos primer y segundo valores representativos, respectivamente, de la detección al menos una vez y de la ausencia de detección del código de fallo CD_{ik} en dicho fichero (JDD_{i}). Ventajosamente, en ii) se determinan entre los vectores formas x_{i} los que corresponden únicamente a un solo fallo y, a continuación, de entre éstos últimos, los que corresponden a un fallo \omega_{j} (j = 1 a M) escogido de entre los M fallos identificados \omega_{j}, de manera que se reagrupan, para cada fallo identificado \omega_{j}, dentro de los primer X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, los vectores formas x_{i} que, respectivamente, corresponden y no corresponden a este fallo \omega_{j}, y en iii) se construye, para cada fallo identificado \omega_{j} unos primer P1_{j} y segundo P2_{j} vectores prototipos a partir de los vectores formas x_{i} que están, respectivamente, contenidos en dichos primer X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, de manera que se constituye una base de datos de fallos X que contiene M primeros vectores prototipos P1_{j} representativos, respectivamente, de M fallos \omega_{j} identificados, y M segundos vectores prototipos P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos de M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j' \neq j), excluido cada uno de los M fallos identificados \omega_{j}.
de fallos sobrevenidos en materiales (V_{i}), consiste en i) almacenar ficheros de datos (JDD_{i}) emitidos desde materiales (V_{i}) y representativos de defectos sobrevenidos en ciertos de sus elementos, para seguidamente ii) transformar cada fichero de datos (JDD_{i}) en un vector denominado "forma" x_{i}, y iii) construir para cada uno de M fallos identificados \omega_{j} vectores denominados "prototipos" a partir de los vectores formas x_{i}, de manera que se constituye una base de datos X que contiene vectores prototipos representativos de M fallos identificados \omega_{j} y de M conjuntos de M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido cada uno de los M fallos identificados \omega_{j}. Preferiblemente, en ii) se transforma cada fichero de datos (JDD_{i}) en un vector forma x_{i} constituido por un conjunto de N variables x_{ik} (x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN}), siendo k = 1 a N) asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que pueden sobrevenir en el material (V_{i}) correspondiente, de tal modo que cada variable x_{ik} puede tomar unos primer y segundo valores representativos, respectivamente, de la detección al menos una vez y de la ausencia de detección del código de fallo CD_{ik} en dicho fichero (JDD_{i}). Ventajosamente, en ii) se determinan entre los vectores formas x_{i} los que corresponden únicamente a un solo fallo y, a continuación, de entre éstos últimos, los que corresponden a un fallo \omega_{j} (j = 1 a M) escogido de entre los M fallos identificados \omega_{j}, de manera que se reagrupan, para cada fallo identificado \omega_{j}, dentro de los primer X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, los vectores formas x_{i} que, respectivamente, corresponden y no corresponden a este fallo \omega_{j}, y en iii) se construye, para cada fallo identificado \omega_{j} unos primer P1_{j} y segundo P2_{j} vectores prototipos a partir de los vectores formas x_{i} que están, respectivamente, contenidos en dichos primer X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, de manera que se constituye una base de datos de fallos X que contiene M primeros vectores prototipos P1_{j} representativos, respectivamente, de M fallos \omega_{j} identificados, y M segundos vectores prototipos P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos de M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j' \neq j), excluido cada uno de los M fallos identificados \omega_{j}.
Otras características y ventajas de la invención
se pondrán de manifiesto por el examen de la descripción detallada
que sigue y del dibujo que se acompaña, en el cual la única Figura
ilustra de forma esquemática y funcional un ejemplo de realización
de un dispositivo (o herramienta) de diagnóstico de averías o fallos
múltiples según la invención, que recibe un fichero "log" de un
material.
El dibujo anexo no sólo podrá servir para
completar la invención, sino también contribuir a su definición,
llegado el caso.
La invención tiene como propósito facilitar la
determinación del origen real de los fallos múltiples que
sobrevienen en los materiales.
En lo que sigue, se considera, a título de
ejemplo no limitativo, que los materiales (V_{i}) son vehículos
automóviles. Sin embargo, la invención no está limitada a este tipo
de material. Se refiere, en efecto, a cualquier tipo de material (o
equipo) que comprenda al menos un elemento, que pueda ser el objeto
de al menos un defecto de funcionamiento detectable, y al menos un
módulo de diagnóstico instalado a bordo, encargado al menos de
generar mensajes de errores consecutivamente a la detección o a la
desaparición de defectos de funcionamiento (o funcionamientos
defectuosos), permanentes o intermitentes. Se recuerda que estos
mensajes de error son reagrupados en un fichero de datos JDD_{i},
denominado "log", que se encuentra almacenado en el material
V_{i} correspondiente y que puede ser extraído de cara a un
análisis por parte de un dispositivo (o herramienta) de diagnóstico
de fallos externo.
Un fichero "log" JDD_{i} puede
considerarse como un conjunto de registros correspondientes, cada
uno de ellos, a un mensaje de error, generalmente constituido por
tres campos principales. El primer campo principal, denominado
"aparición/desaparición", indica si el mensaje es el resultado
de la detección o de la desaparición de un defecto de
funcionamiento, Puede comprender, por ejemplo, el signo "+"
(aparición) o el "-" (desaparición). El segundo campo
principal, denominado "código de defecto" CD_{ik}, es un
código generalmente de tipo hexadecimal que designa el defecto
detectado. El tercer campo principal, en ocasiones denominado
"leyenda", describe el defecto detectado.
\newpage
Un fichero "log" JDD_{i} puede
representarse esquemáticamente con la forma de un cuadro del tipo
del que se proporciona aquí, en lo que sigue:
Se considera en lo que sigue que se han
identificado M fallos \omega_{j}, siendo j = 1 a M, para un
modelo de vehículos V_{i}. Por otra parte, se considera en lo que
sigue que existen N códigos de defecto CD_{ik}, siendo k = 1 a N,
para el modelo de vehículos V_{i} aquí considerado. Además, se
dispone de una tabla de correspondencia entre cada uno de los M
fallos \omega_{j} y un conjunto de al menos un código de defecto
CD_{ik}.
Con el fin de conseguir el propósito
anteriormente citado, la invención propone un procedimiento y un
dispositivo D dedicados al diagnóstico de fallos múltiples
sobrevenidos en estos materiales V_{i}, aquí vehículos
automóviles. En el ejemplo no limitativo que se ilustra, únicamente
se han representado cuatro vehículos V_{1} a V_{4} (i = 1 a 4),
aunque la invención no está limitada a este número. Ésta se refiere,
en efecto, a cualquier número de vehículo, siempre y cuando sea al
menos igual a uno (1).
Un dispositivo D de acuerdo con la invención
comprende al menos un módulo de tratamiento MT encargado, en
presencia de un vector denominado "forma" x_{i} (x_{i} =
(x_{i1}, ..., x_{iN})), que es el resultado de la
transformación de un fichero de datos JDD_{i} emitido desde un
vehículo en estado de fallo V_{i}, por ejemplo, el V_{3}, de
proyectar este vector forma x_{i} en sub-espacios
EP_{j} (j = 1 a M) que están asociados, respectivamente, a los M
fallos simples identificados \omega_{j}, que son susceptibles
de sobrevenir en el material en estado de fallo V_{3} (teniendo en
cuenta su modelo), y que están constituidos, cada uno de ellos, por
un subconjunto de variables x_{ik}^{j} escogidas de entre N
variables (x_{ik}) asociadas, respectivamente, a los N códigos de
defecto CD_{ik}, a fin de obtener M sub-vectores
formas x_{i}^{j}, constituidos, respectivamente, por las
variables x_{ik}^{j} (derivadas del vector forma x_{i})
definidas por los subconjuntos de los sub-espacios
EP_{j} del mismo índice j.
Se apreciará que los
sub-espacios EP_{j} no son disjuntos y tienen, en
general, dimensiones (número de variables x_{ik}^{j})
diferentes.
Se comprenderá, en efecto, que la presencia de
varios fallos simultáneos puede engendrar un vector forma x_{i}
cuya "firma" sea muy próxima a la de un fallo diferente de
entre cada uno de los fallos simples considerados, lo que falsearía
el diagnóstico. Según esto, la presencia de un fallo simple
identificado \omega_{j} está ligada únicamente a la presencia
(o la activación) de un conjunto de al menos un código de defectos
CD_{ik} escogido. En consecuencia, si se considera que los fallos
simples identificados \omega_{j} son independientes unos de
otros, cada uno de ellos puede estar asociado a un
sub-espacio EP_{j} que está constituido por los
subconjuntos de variables x_{ik}^{j} que están asociados a los
códigos de defecto CD_{ik} que lo definen.
Una vez que se han terminado las proyecciones,
el módulo de tratamiento MT calcula valores que representan
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y vectores denominados "prototipos", que forman
parte de la base de datos de fallos simples X y que son
representativos del fallo simple identificado \omega_{j} del
mismo índice j y del conjunto de los M-1 fallos
\omega_{j'} (siendo j' \neq j), excluido este fallo simple
identificado \omega_{j}. A continuación, se deduce de estos
valores de similitud al menos un fallo simple del material en estado
de fallo V_{3}.
Se comprenderá que a un vector prototipo que
representa un fallo simple \omega_{1} le corresponde otro
vector prototipo que representa el conjunto de los
M-1 otros fallos simples \omega_{2} a
\omega_{M}, en ocasiones denominado fallo complementario de
este fallo simple \omega_{1} y, por tanto, diferente de éste
último. De la misma manera, a un vector prototipo que representa un
fallo simple \omega_{2} le corresponde otro vector prototipo
que representa el conjunto de los M-1 otros fallos
simples \omega_{1} y \omega_{3} a \omega_{N}, en
ocasiones denominado fallo complementario de este fallo simple
\omega_{2} y, por tanto, diferente de éste último, y así
sucesivamente.
Es importante apreciar que la base de datos de
fallos simples X puede ser externa al dispositivo D (como en el
ejemplo no limitativo que se ilustra), pero accesible a éste, por
ejemplo, por medio de una red de comunicación (eventualmente, a
través de la Internet), o bien formar parte de dicho dispositivo D.
Por otra parte, una base de datos de fallos X puede ser, bien
específica de un único modelo (de vehículos V_{i}), o bien
dedicada a varios modelos (por ejemplo, todos los de una misma
marca, o incluso de varias marcas). Una base de datos de fallos X
puede ser almacenada en cualquier tipo de medios de almacenamiento
y, en particular, en una memoria.
Es igualmente importante apreciar que el
dispositivo D puede haberse dispuesto únicamente para recibir
vectores formas x_{i} resultantes de la transformación de
ficheros de datos JDD_{i} generados dentro de los vehículos en
estado de fallo V_{i}. Pero, en una variante, éste puede haberse
dispuesto, igualmente, de manera que reciba los ficheros de datos
JDD_{i} generados dentro de los vehículos en estado de fallo
V_{i}. En este caso, su módulo de tratamiento MT se encarga de
transformar cada fichero de datos JDD_{i} recibido en un vector
forma x_{i} constituido por un conjunto de N variables x_{ik}
(con x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN})), asociadas,
respectivamente, a los N códigos de defecto CD_{ik} que pueden
sobrevenir en un vehículo del mismo modelo que el que está en estado
de fallo (aquí, el V_{3}).
Cada variable x_{ik} de un vector forma
x_{i} correspondiente a uno de los N códigos de defecto CD_{ik},
puede tomar, por ejemplo, ya sea un primer valor representativo de
la detección al menos una vez del código de defecto CD_{ik}
dentro del fichero JDD_{i} (del cual se ha derivado el vector
forma x_{i}), ya sea de un segundo valor representativo de la
ausencia de detección del código de defecto CD_{ik} dentro de
dicho fichero JDD_{i}. Se dice que una variable x_{ik} está
activa cuando su valor en el seno de un vector x_{i} es un primer
valor, y se dice que está inactiva cuando su valor en el seno de un
vector forma x_{i} es un segundo valor.
Se apreciará que si un mismo código de defecto
CD_{ik} puede ser generado por P calculadores diferentes (P \geq
2) en el seno de un mismo vehículo V_{i}, se prevén entonces P
variables diferentes x_{ik} dentro del vector forma x_{i}.
A título de ejemplo no limitativo, cada variable
x_{ik} puede ser binaria. En este caso, su primer valor puede ser
igual a 1, en tanto que su segundo valor es igual a 0. Pero la
inversa es igualmente posible. Se comprenderá que con esta
codificación binaria, únicamente se tiene en cuenta un sola vez la
ocurrencia de un suceso. En otras palabras, un defecto intermitente
se contabiliza tan sólo una vez. Esta solución es actualmente la
preferida, ya que se considera que el número y/o la frecuencia de un
defecto no aportan información suplementaria. No obstante, esta
contabilización puede ser reconsiderada.
Los valores de similitud que se utilizan por
parte del módulo de tratamiento MT son, por ejemplo, los resultados
de las mediciones de disimilitud entre cada
sub-vector forma x_{i}^{j}, resultante de la
proyección del vector forma x_{i} sobre los M
sub-espacios EP_{j}, y unos vectores prototipos
que están contenidos en la base de datos de fallos X (que
corresponde al vehículo en estado de fallo V_{3}).
Resulta ventajoso que esta base de datos de
fallos X contenga, para cada uno de los M fallos \omega_{j},
identificados por el vehículo en estado de fallo V_{3}, un primer
vector prototipo P1_{j} que lo representa, así como un segundo
vector prototipo P2_{j} que representa el conjunto de los
M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo j'
\neq j), denominado, en ocasiones, fallo complementario del fallo
simple identificado \omega_{j} (y que, por tanto, difiere de
éste último). En otras palabras, la base de datos de fallos X
contiene M primeros vectores prototipos P1_{j} representativos,
respectivamente, de M fallos identificados \omega_{j}, y M
segundos vectores prototipos P2_{j} representativos,
respectivamente, de M conjuntos de M-1 fallos
simples \omega_{j'} (siendo j' \neq j), cada uno de ellos
complementario a uno de los M fallos simples identificados
\omega_{j}.
Por ejemplo, cada primer vector prototipo
P1_{j} está constituido por un primer vector a1_{j} y por un
segundo vector \varepsilon1_{j}.
Cada primer vector a1_{j} está constituido,
por ejemplo, por N variables a1_{jk}, es decir, a1_{j} =
(a1_{j1}, a1_{j2}, ..., a1_{jN}). Cada variable a1_{jk}
representa, por ejemplo, el valor de variable x_{ik} que es
mayoritario en el seno de los vectores formas x_{i} considerados
dentro del primer subconjunto X1_{j} y correspondiente al fallo
identificado \omega_{j}. En consecuencia, cada variable
a1_{jk} tan sólo puede tomar los mismos valores que las variables
x_{ik} (por ejemplo, 0 y 1). Por ejemplo, si X1_{j} comprende
cinco vectores formas (n1_{j} = 5), y tres valores de x_{ik}
dentro de estos vectores formas son nulos (0), en tanto que los
otros dos valores son iguales a uno (1), entonces el valor de
variable x_{ik} que es mayoritario dentro del subconjunto
X1_{j} es el valor nulo (0) y, en consecuencia, el valor de
a1_{jk} es nulo (0).
\newpage
Cada segundo vector \varepsilon1_{j} está
constituido, por ejemplo, por N variables \varepsilon1_{jk},
esto es, \varepsilon1_{jk} = (\varepsilon1_{j1},
\varepsilon1_{j2}, ..., \varepsilon1_{jN}). Cada variable
\varepsilon1_{jk} representa la variación (o dispersión) de los
valores de variable x_{ik} con respecto a la variable a1_{jk}
correspondiente. En consecuencia, cuando las variables a1_{jk}
toman los valores 0 y 1, las variables \varepsilon1_{jk}
únicamente pueden adoptar valores comprendidos entre 0 (como valor
superior) y ½ (como valor inferior). Por ejemplo, cada variable
\varepsilon1_{jk} puede determinarse a partir de la relación
siguiente:
donde n1_{j} es igual al número
de vectores formas x_{i} dentro del primer subconjunto X1_{j} y
"||" designa el operador de valor
absoluto.
\vskip1.000000\baselineskip
De la misma manera, cada segundo vector
prototipo P2_{j} está constituido, por ejemplo, por un primer
vector a2_{j} y por un segundo vector \varepsilon2_{j}.
Cada primer vector a2_{j} está constituido,
por ejemplo, por N variables a2_{jk}, es decir, a2_{j} =
(a2_{j1}, a2_{j2}, ..., a2_{jN}). Cada variable a2_{jk}
representa el valor de variable x_{ik} que es mayoritario en el
seno de los vectores formas x_{i} considerados dentro del segundo
subconjunto X2_{j} y correspondiente al conjunto de los
M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j' \neq j), en
ocasiones denominado fallo complementario al fallo \omega_{j}.
En consecuencia, cada variable a2_{jk} tan sólo puede tomar los
mismos valores que las variables x_{ik} (por ejemplo, 0 y 1). Por
ejemplo, si X2_{j} comprende cinco vectores formas (n2_{j} =
5), y dos valores de x_{ik} dentro de estos vectores formas son
nulos (0), en tanto que tres de ellos son iguales a uno (1),
entonces el valor de variable x_{ik} que es mayoritario es el
valor uno (1) y, en consecuencia, el valor de a1_{jk} es igual a
uno (1).
Cada segundo vector \varepsilon2_{j} está
constituido, por ejemplo, por N variables \varepsilon2_{jk},
esto es, \varepsilon2_{jk} = (\varepsilon2_{j1},
\varepsilon2_{j2}, ..., \varepsilon2_{jN}). Cada variable
\varepsilon2_{jk} representa la variación (o dispersión) de los
valores de variable x_{ik} con respecto a la variable a2_{jk}
correspondiente. En consecuencia, cuando las variables a2_{jk}
toman los valores 0 y 1, las variables \varepsilon2_{jk}
únicamente pueden adoptar valores comprendidos entre 0 (como valor
superior) y ½ (como valor inferior). Por ejemplo, cada variable
\varepsilon2_{jk} puede determinarse a partir de la relación
siguiente:
donde n2_{j} es igual al número
de vectores formas x_{i} dentro del segundo subconjunto
X2_{j}.
\vskip1.000000\baselineskip
En presencia de vectores prototipos P1_{j} y
P2_{j} del tipo de los anteriormente descritos, cada
sub-espacio EP_{j} reagrupa variables
x_{ik}^{j} que pueden ser definidas por la relación
10 Esta relación significa que cada
sub-espacio EP_{j} reagrupa variables
x_{ik}^{j} que presentan un primer valor representativo de la
detección al menos una vez del código de defecto CD_{ik} dentro de
los ficheros JDD_{i} correspondientes al fallo \omega_{j} con
una probabilidad superior a 0,5 cuando está presente el fallo
identificado \omega_{j}.
Cuando la base de datos de fallos X está
constituida por M pares de vectores prototipos P1_{j} y P2_{j},
y el módulo de tratamiento MT dispone de M
sub-vectores formas x_{i}^{j}, éste puede
efectuar, por ejemplo, unas primera y segunda mediciones de
disimilitud para cada fallo identificado \omega_{j}.
Cada primera medición de disimilitud se lleva a
cabo entre un sub-vector forma x_{i}^{j} (del
vector forma x_{i}) y el primer vector prototipo P1_{j} asociado
al fallo identificado \omega_{j} que presenta el mismo índice j
que el sub-vector forma x_{i}^{j} considerado.
Ésta suministra un primer valor de similitud S1_{j}.
Por ejemplo, el módulo de tratamiento MT puede
determinar cada primer valor de similitud S1_{j} efectuando una
suma ponderada ds1(x_{i}^{j}, P1_{j}) de las
diferencias entre las variables del mismo índice k del
sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer vector
a1_{j}. Para llevar esto a cabo, puede utilizarse, por ejemplo, la
relación:
donde "ln" designa el operador
logaritmo
neperiano.
\vskip1.000000\baselineskip
Cada segunda medición de disimilitud se lleva a
cabo entre un sub-vector forma x_{i}^{j} (del
vector forma x_{i}) y el segundo vector prototipo P2_{j}
asociado al fallo identificado \omega_{j} que presenta el mismo
índice j que el sub-vector forma x_{i}^{j}
considerado. Ésta suministra un segundo valor de similitud
S2_{j}.
Por ejemplo, el módulo de tratamiento MT puede
determinar cada segundo valor de similitud S2_{j} efectuando una
suma ponderada ds2(x_{i}^{j}, P2_{j}) de las
diferencias entre las variables del mismo índice k del
sub-vector forma x_{i}^{j} y del segundo vector
a2_{j}. Para llevar esto a cabo, puede utilizarse, por ejemplo, la
relación:
Es importante constatar que los valores de
similitud que son utilizados por el módulo de tratamiento MT no son
obligatoriamente los resultados de las mediciones de disimilitud
anteriormente descritas. Éstos pueden ser, igualmente, los
resultados de mediciones de disimilitud diferentes de las aquí
descritas en lo anterior. En particular, pueden utilizarse otros
tipos de ponderación que los anteriormente descritos aquí
13 y 14 De la misma manera, pueden
ser igualmente los resultados de mediciones de similitud.
En el caso de mediciones de disimilitud, el
módulo de tratamiento MT compara cada primer valor de similitud
S1_{j} con el segundo valor de similitud S2_{j} correspondiente,
a fin de determinar cuál es el más pequeño.
Se comprenderá, en efecto, que si un primer
valor de similitud S1_{j} es inferior al segundo valor de
similitud S2_{j} correspondiente, ello significa que el
sub-vector forma x_{i}^{j} analizado tiene una
probabilidad más importante de corresponder al fallo identificado
\omega_{j} (representado por el primer vector prototipo
P1_{j}) que a los M-1 fallos \omega_{j'}
(siendo j' \neq j), en ocasiones denominados fallo complementario
de este fallo identificado \omega_{j} (representado por el
segundo vector prototipo P2_{j}).
A continuación, el módulo de tratamiento MT
retiene cada primer valor de similitud S1_{j} que es inferior al
segundo valor de similitud S2_{j} correspondiente. En
consecuencia, el módulo de tratamiento MT designa como
fallo(s) del vehículo en estado de fallo V_{3}, el (los)
(entre los M) que corresponde(n) al (a uno de los)
primer(os) valor(es) de similitud S1_{j}
retenido(s).
Se apreciará que si se utilizan mediciones de
similitud en lugar de mediciones de disimilitud, el módulo de
tratamiento MT compara cada primer valor de similitud S1_{j}
(resultado de una primera medición de similitud) con el segundo
valor de similitud S2_{j} correspondiente (resultado de una
segunda medición de similitud), con el fin de determinar cuál es el
más grande. Se comprenderá, en efecto, que, en este caso, si un
primer valor de similitud S1_{j} es superior al segundo valor de
similitud S2_{j} correspondiente, ello significa que el
sub-vector forma x_{i}^{j} analizado tiene una
probabilidad más importante de corresponder al fallo identificado
\omega_{j} (representado por el primer vector prototipo
P1_{j}) que a los M-1 fallos \omega_{j'}
(siendo j' \neq j), en ocasiones denominados fallo complementario
de este fallo identificado \omega_{j} (representado por el
segundo vector prototipo P2_{j}). De la misma manera, en este
caso, el módulo de tratamiento MT retiene cada primer valor de
similitud S1_{j} que es superior al segundo valor de similitud
S2_{j} correspondiente. En consecuencia, en este caso, el módulo
de tratamiento MT designa como fallo(s) del vehículo en
estado de fallo V_{3}, el (los) (entre los M) que
corresponde(n) al (a uno de los) primer(os)
valor(es) de similitud S1_{j} retenido(s).
Se apreciará igualmente que, cuando un vector
forma x_{i} da lugar a primeros valores de similitud S1_{j} que
son, todos ellos, superiores o inferiores (según se utilicen,
respectivamente, mediciones de disimilitud o de similitud) a los
segundos valores de similitud S2_{j} correspondientes, o bien
cuando el primer valor de similitud retenido indica una similitud
insuficiente con los fallos identificados \omega_{j}, el módulo
de tratamiento MT puede, eventualmente, almacenar este vector forma
x_{i} en la base de datos de vectores formas. En efecto, este
curso de los acontecimientos significa que los fallos
correspondientes al vector forma x_{i} no están representados en
la base de datos de fallos X. El caso considerado debe entonces ser
sometido a examen con el fin de estudiar los nuevos fallos y la
base de conocimientos será entonces sometida a una actualización
con el fin de tener en cuenta los nuevos fallos estudiados. Esto se
traducirá en la definición de nuevos primeros P1_{j} y segundos
P2_{j} vectores prototipos que serán asociados a los nuevos fallos
identificados.
El dispositivo de diagnóstico de fallos
múltiples D de acuerdo con la invención y, en particular, su módulo
de tratamiento MT así como, eventualmente, la base de datos de
fallos X (que eventualmente contienen), pueden ser realizados bajo
la forma de circuitos electrónicos, módulos logiciales o lógicos (o
informáticos), o en una combinación de circuitos y de logiciales o
software.
\newpage
La invención puede ser igualmente considerada
desde el punto de vista de un procedimiento dedicado al diagnóstico
de fallos múltiples sobrevenidos en los materiales V_{i} y
representados por ficheros de datos JDD_{i}, y que puede ser
llevado a la práctica, por ejemplo, por un dispositivo de
diagnóstico de fallos múltiples D del tipo del que se ha descrito
aquí, en lo anterior. Este procedimiento toma las capacidades
funcionales principales y auxiliares aquí representadas
anteriormente, de las que únicamente se presentan aquí, en lo que
sigue, su combinación de capacidades funcionales principales.
Este procedimiento consiste, en presencia de un
vector "forma" x_{i} (x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN}))
que resulta de la transformación de un fichero de datos emitido
desde un material en estado de fallo V_{i}:
i) en proyectar este vector forma x_{i} en
unos sub-espacios EP_{j} (siendo j = 1 a M)
asociados, respectivamente, a M fallos simples identificados
\omega_{j} que pueden sobrevenir en el material en estado de
fallo, y constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de
variables x_{ik}^{j} escogidas entre N variables (x_{ik})
asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que
pueden sobrevenir en el material en estado de fallo, con el fin de
obtener M sub-vectores formas x_{i}^{j}, y, a
continuación,
ii) calcular valores representativos de
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y vectores prototipos que forman parte de una base de
datos de fallos simples X y que son representativos del fallo simple
identificado \omega_{j} del mismo índice j y del conjunto de
M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo j'\neq
j), excluido este fallo simple identificado \omega_{j}, y
iii) deducir de estos valores de similitud al
menos un fallo simple del material en estado de fallo.
\vskip1.000000\baselineskip
La invención no se limita a los modos de
realización de dispositivo y de procedimiento de diagnóstico de
fallos múltiples anteriormente descritos, únicamente a título de
ejemplo, sino que engloba todas las variantes que podrá considerar
el experto de la técnica en el marco de las reivindicaciones
siguientes.
Claims (13)
1. Un procedimiento de diagnóstico de averías o
fallos múltiples sobrevenidos en materiales (V_{i}) y
representados por ficheros de datos (JDD_{i}),
caracterizado por que consiste, en presencia de un vector
denominado "forma" x_{i} (x_{i} = (x_{i1}, ...,
x_{iN})) que resulta de la transformación de un fichero de datos
(JDD_{i}) emitido desde un material en estado de fallo (V_{i}),
i) en proyectar dicho vector forma x_{i} en unos
sub-espacios EP_{j} (siendo j = 1 a M) asociados,
respectivamente, a M fallos simples identificados \omega_{j} que
pueden sobrevenir en dicho material en estado de fallo (V_{i}), y
constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de variables
x_{ik}^{j} escogidas entre N variables (x_{ik}) asociadas,
respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que pueden
sobrevenir en dicho material en estado de fallo (V_{i}), con el
fin de obtener M sub-vectores formas x_{i}^{j},
y, a continuación, ii) calcular valores representativos de
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y vectores denominados "prototipo" que forman
parte de una base de datos de fallos simples X y que son
representativos del fallo simple identificado \omega_{j} del
mismo índice j y del conjunto de M-1 fallos simples
\omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido este fallo simple
identificado \omega_{j}, y iii) deducir de estos valores de
similitud al menos un fallo simple del material en estado de fallo
(V_{i}).
2. Un procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado por que en ii), dichos
valores de similitud son los resultados de mediciones de disimilitud
entre cada sub-vector forma x_{i}^{j} y vectores
prototipos correspondientes.
3. Un procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 2, caracterizado por que, en presencia de una
base de datos de fallos X que contiene M primeros vectores
prototipos P1_{j} representativos, respectivamente, de los M
fallos identificados \omega_{j}, y M segundos vectores
prototipos P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos
de M-1 fallos simples \omega_{j'} (siendo j'
\neq j), excluidos cada uno de los M fallos identificados
\omega_{j}, se efectúa en ii), para cada fallo identificado
\omega_{j}, una primera medición de disimilitud entre dicho
sub-vector forma x_{i}^{j} y el primer vector
prototipo P1_{j} asociado a este fallo identificado
\omega_{i}^{j}, con el fin de obtener un primer valor de
disimilitud S1_{j}, y una segunda medición de disimilitud entre el
sub-vector forma x_{i}^{j} y el segundo vector
prototipo P2_{j} asociado a este fallo identificado
\omega_{j}, con el fin de obtener un segundo valor de similitud
S2_{j}, y, a continuación, en iii), se retiene cada primer valor
de similitud S1_{j} que es inferior al segundo valor de similitud
S2_{j} correspondiente y que corresponde, entonces, a un fallo del
material en estado de fallo (V_{i}).
4. Un procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 3, caracterizado por que, en iii) en presencia
de primeros vectores prototipos P1_{j} constituidos, por un lado,
por un primer vector a1_{j}, cada variable constitutiva a1_{jk}
del cual es representativa del valor de variable x_{ik} (k = 1 a
N) que es mayoritario en los vectores formas x_{i} (x_{i} =
(x_{i1}, ..., x_{iN})) considerados de un primer subconjunto
X1_{j}, que corresponden al fallo \omega_{j}, y por otro lado,
por un segundo vector \varepsilon1_{j}, cada variable
constitutiva \varepsilon1_{jk} del cual es representativa de la
variación de los valores de variable x_{ik} del primer subconjunto
X1_{j} con respecto a la variable a1_{jk} correspondiente, y en
presencia de segundos vectores prototipos P2_{j} constituidos, por
un lado, por un primer vector a2_{j} cada una de cuyas variables
constitutivas a2_{jk} es representativa del valor de variable
x_{ik} que es mayoritario en los vectores formas x_{i}
considerados de un segundo subconjunto X2_{j}, que no corresponden
al fallo \omega_{j}, y, por otro lado, por un segundo vector
\varepsilon2_{j}, cada variable constitutiva
\varepsilon2_{jk} del cual es representativa de la variación de
los valores de variable x_{ik} del segundo subconjunto X2_{j}
con respecto a la variable a2_{jk} correspondiente, se determina
cada primer valor de similitud S1_{j} efectuando una suma
ponderada de las diferencias entre las variables del mismo índice k
del sub-vector forma x_{i}^{j} y del primer
vector a1_{j}, y se determina cada segundo valor de similitud
S2_{j} efectuando una suma ponderada de las diferencias entre las
variables del mismo índice k del sub-vector forma
x_{i}^{j} y del primer vector a2_{j}.
5. Un procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 4, caracterizado por que cada primera medición
de disimilitud se define por la relación 15 y por
que cada segunda medición de disimilitud se define por la relación
16
6. Un procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones 1 a 5, caracterizado por que, en caso de
recepción de un fichero de datos (JDD_{i}), se transforma éste
último en un vector forma x_{i} constituido por un conjunto de N
variables x_{ik} (x_{i} = (x_{i1}, ..., x_{iN}) con k = 1 a
N) asociadas, respectivamente, a los N códigos de defecto CD_{ik}
que pueden sobrevenir en el material en estado de fallo
(V_{i}).
7. Un procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones 1 a 6, caracterizado por que cada variable
x_{ik} toma unos primer y segundo valores representativos,
respectivamente, de la detección al menos una vez y de la ausencia
de detección del código de defecto CD_{ik} dentro de dicho fichero
(JDD_{i}).
\newpage
8. Un procedimiento de acuerdo con la
combinación de las reivindicaciones 4 a 7, caracterizado por
que cada sub-espacio EP_{j} reagrupa variables
x_{ik}^{j} definidas por la relación 17 y tiene,
por tanto, un primer valor representativo de la detección al menos
una vez del código de defecto CD_{ik} dentro de dichos ficheros de
datos (JDD_{i}) correspondientes al fallo \omega_{j} con una
probabilidad superior a 0,5 cuando está presente el fallo
identificado \omega_{j}.
9. Un procedimiento de diagnóstico de fallos
múltiples sobrevenidos en materiales (V_{i}) y representados por
ficheros de datos (JDD_{i}), de acuerdo con una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes, caracterizado por que la base
de datos se obtiene por un procedimiento de generación de
base(s) de datos representativa(s) de fallos
sobrevenidos en materiales (V_{i}), que consiste en i) almacenar
ficheros de datos (JDD_{i}) emitidos desde materiales (V_{i}) y
representativos de defectos sobrevenidos en ciertos de sus
elementos, para seguidamente ii) transformar cada fichero de datos
(JDD_{i}) en un vector denominado "forma" x_{i}, y iii)
construir para cada uno de M fallos identificados \omega_{j}
vectores denominados "prototipos" a partir de los vectores
formas x_{i}, de manera que se constituye una base de datos X que
contiene vectores prototipos representativos de M fallos
identificados \omega_{j} y de M conjuntos de M-1
fallos \omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido cada uno de los
M fallos identificados \omega_{j}.
10. Un procedimiento de diagnóstico de fallos
múltiples sobrevenidos en materiales (V_{i}) y representados por
ficheros de datos (JDD_{i}), de acuerdo con la reivindicación 9,
caracterizado por que en ii), se transforma cada fichero de
datos (JDD_{i}) en un vector forma x_{i} constituido por un
conjunto de N variables x_{ik} (x_{i} = (x_{i1}, ...,
x_{iN}), siendo k = 1 a N) asociadas, respectivamente, a N códigos
de defecto CD_{ik} que pueden sobrevenir en el material (V_{i})
correspondiente, de tal modo que cada variable x_{ik} puede tomar
unos primer y segundo valores representativos, respectivamente, de
la detección al menos una vez y de la ausencia de detección del
código de fallo CD_{ik} en dicho fichero (JDD_{i}).
11. Un procedimiento de diagnóstico de fallos
múltiples en materiales (V_{i}) y representados por ficheros de
datos (JDD_{i}), de acuerdo con la reivindicación 10,
caracterizado por que en ii), se determinan entre los
vectores formas x_{i} los que corresponden únicamente a un solo
fallo y, a continuación, de entre éstos últimos, los que
corresponden a un fallo \omega_{j} (j = 1 a M) escogido de entre
los M fallos identificados \omega_{j}, de manera que se
reagrupan, para cada fallo identificado \omega_{j}, dentro de
los primer X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, los vectores
formas x_{i} que, respectivamente, corresponden y no corresponden
a este fallo \omega_{j}, y por que, en iii), se construye, para
cada fallo identificado \omega_{j} unos primer P1_{j} y
segundo P2_{j} vectores prototipos a partir de los vectores formas
x_{i} que están, respectivamente, contenidos en dichos primer
X1_{j} y segundo X2_{j} subconjuntos, de manera que se
constituye una base de datos de fallos X que contiene M primeros
vectores prototipos P1_{j} representativos, respectivamente, de M
fallos \omega_{j} identificados, y M segundos vectores
prototipos P2_{j} representativos, respectivamente, de M conjuntos
de M-1 fallos \omega_{j'} (siendo j' \neq j),
excluido cada uno de los M fallos identificados \omega_{j}.
12. Un dispositivo (D) de diagnóstico de fallos
múltiples sobrevenidos en materiales (V_{i}) y representados por
ficheros de datos (JDD_{i}), caracterizado por que
comprende medios de tratamiento (MT) dispuestos, en presencia de un
vector denominado "forma" x_{i} (x_{i} = (x_{i1}, ...,
x_{iN})) que resulta de la transformación de un fichero de datos
(JDD_{i}) emitido desde un material en estado de fallo (V_{i}),
i) para proyectar dicho vector forma x_{i} en unos
sub-espacios EP_{j} (siendo j = 1 a M) asociados,
respectivamente, a M fallos simples identificados \omega_{j} que
pueden sobrevenir en el material en estado de fallo (V_{i}), y
constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de variables
x_{ik}^{j} escogidas entre N variables (x_{ik}) asociadas,
respectivamente, a N códigos de defecto CD_{ik} que pueden
sobrevenir en el material en estado de fallo (V_{i}), con el fin
de obtener M sub-vectores formas x_{i}^{j}, y, a
continuación, ii) para calcular valores representativos de
similitudes entre cada sub-vector forma
x_{i}^{j} y vectores denominados "prototipo" que forman
parte de una base de datos de fallos simples X y que son
representativos del fallo simple identificado \omega_{j} del
mismo índice j y del conjunto de M-1 fallos simples
\omega_{j'} (siendo j'\neq j), excluido este fallo simple
identificado \omega_{j}, y iii) para deducir de dichos valores
de similitud al menos un fallo simple del material en estado de
fallo (V_{i}).
13. Uso de los procedimiento y dispositivo (D)
de acuerdo con una de las reivindicaciones precedentes, en el caso
de materiales (V_{i}) del tipo de vehículos automóviles.
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