ES2332065T3 - Modulo de muestreo y procedimiento para muestrear una o mas caracteristicas analogicas de un sistema de transmision de potencia. - Google Patents

Modulo de muestreo y procedimiento para muestrear una o mas caracteristicas analogicas de un sistema de transmision de potencia. Download PDF

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Abstract

Módulo (30) de muestreo para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia, comprendiendo el módulo de muestreo al menos un circuito de entrada para muestrear una respectiva característica analógica, incluyendo el circuito de entrada: un circuito (34) de escalado para reducir la magnitud de la característica analógica hasta un nivel deseado; un circuito (40) de aislamiento para crear una barrera eléctrica entre respectivas partes aguas arriba y aguas abajo del circuito de entrada; un convertidor (22) de analógico a digital para digitalizar la característica analógica para generar un flujo de datos digitales en serie de 1 bit, estando conectado eléctricamente el circuito (34) de escalado a una entrada del convertidor (22) de analógico a digital y estando conectado eléctricamente el circuito (40) de aislamiento directamente a una salida del mismo, caracterizado porque: el módulo de muestreo comprende además un módulo (44) de procesamiento de señales en serie con el circuito (40) de aislamiento y que comprende un filtro (46) digital para el filtrado digital del flujo de datos digitales en serie de 1 bit y un módulo (48) de remuestreo para volver a muestrear el flujo de datos filtrados transmitido desde el filtro digital, y porque el módulo de muestreo comprende además un módulo (24) de procesamiento adicional en serie con el módulo (44) de procesamiento de señales digitales, generando el módulo (44) de procesamiento de señales digitales paquetes de muestras a una velocidad de muestra requerida por el módulo (24) de procesamiento adicional, configurando el módulo (24) de procesamiento adicional los parámetros del filtro digital y el periodo del módulo de remuestreo para adaptarlos a un algoritmo particular.

Description

Módulo de muestreo y procedimiento para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia.
Esta invención se refiere en particular, pero no exclusivamente, a un módulo de muestreo y a un procedimiento para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia.
Un dispositivo electrónico inteligente (IED, intelligent electronic device) utiliza muestras de las características analógicas de tensión y de corriente de un sistema de transmisión de potencia para ayudar a proteger y controlar el sistema.
Una disposición convencional para muestrear tales características analógicas es el denominado "sistema de muliplexación", mostrado de manera esquemática en la figura 1.
Un sistema 10 de muliplexación típico incluye una pluralidad de entradas 12, cada una para muestrear una respectiva característica analógica.
Cada entrada 12 incluye un transformador 14 de aislamiento y un filtro antisolapamiento 16 conectado eléctricamente en serie con el mismo.
Una salida de cada filtro antisolapamiento 16 está conectada a un multiplexor 18 analógico que, a su vez, está conectado en serie con un filtro 20 de retención.
El filtro 20 de retención está conectado en serie con un convertidor 22 de analógico a digital (ADC, analogue to digital converter).
Durante su utilización, cada transformador 14 de aislamiento disminuye, es decir, reduce, la magnitud de la característica analógica muestreada hasta un nivel adecuado para una conversión de analógico a digital mediante el ADC. Además, cada transformador 14 de aislamiento aísla la parte restante del sistema 10 de muliplexación.
El aislamiento es necesario ya que cada entrada 12 está conectada a través de un transformador de reducción (no mostrado) al sistema de transmisión de potencia que funciona a una tensión superior.
El transformador de aislamiento proporciona protección contra tensiones inducidas en el cableado y diferencias en el potencial de tierra que puedan existir entre la ubicación del transformador de reducción y la ubicación del IED. El aislamiento proporcionado también protege a un operador humano y a los demás componentes del sistema contra las altas tensiones en las entradas 12.
La característica analógica se introduce desde cada transformador 14 de aislamiento a través de un filtro antisolapamiento 16 correspondiente para eliminar ruido y armónicos de alta frecuencia.
El multiplexor analógico 18 introduce después secuencialmente cada característica analógica filtrada en el filtro 20 de retención, el cual estabiliza la respectiva característica analógica. Esto permite que el ADC 22 digitalice cada característica antes de transmitir un flujo de datos digitales a un módulo de procesamiento.
Existen varias desventajas asociadas con el sistema 10 de muliplexación mencionado anteriormente.
Cada uno de los transformadores 14 de aislamiento necesita tener grandes dimensiones con el fin de reproducir de manera precisa la característica analógica. En consecuencia, el sistema 10 es grande y pesado.
Además, cada uno de los transformadores 14 de aislamiento presenta un intervalo de funcionamiento lineal limitado. Esto da como resultado errores de no linealidad que normalmente son más graves cuando se necesita la mayor precisión.
Además, cada transformador 14 de aislamiento tiende a dispersar el flujo. Por consiguiente, un empaquetado compacto de los transformadores 14 de aislamiento genera diafonías entre transformadores 14 adyacentes.
Por otro lado se conoce, a partir de la técnica anterior, la solicitud de patente británica GB 2 321 713 que desvela un circuito electrónico para procesar información de una línea de transmisión de alta tensión y la solicitud de patente japonesa 55 110 428 que desvela una unidad altamente precisa que lleva a cabo el aislamiento y la separación de una señal de entrada después de una conversión A/D sin aumentar la precisión de un circuito de aislamien-
to.
Un objetivo general de la invención es proporcionar un módulo de muestreo que sea más compacto y más preciso que los sistemas de muestreo de muliplexación convencionales.
\newpage
Según un primer aspecto de la invención se proporciona un módulo de muestreo, para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia, que comprende al menos un circuito de entrada para muestrear una respectiva característica analógica, incluyendo el o cada circuito de entrada:
un circuito de escalado para reducir la magnitud de la característica analógica hasta un nivel deseado;
un circuito de aislamiento para crear una barrera eléctrica entre respectivas partes aguas arriba y aguas abajo del circuito de entrada; y
un convertidor de analógico a digital para digitalizar la característica analógica para generar un flujo de datos digitales,
estando conectados eléctricamente en serie el circuito de escalado, el circuito de aislamiento y el convertidor de analógico a digital.
La inclusión de circuitos de escalado y de aislamiento distintos permite la optimización de las funciones de escalado y de aislamiento, eliminando al mismo tiempo la necesidad de transformadores de aislamiento convencionales.
Esto da como resultado un módulo de muestreo más compacto y ligero que un sistema de muliplexación convencional. La invención también puede proporcionar un muestreo más preciso ya que permite la reducción de diafonías y errores de no linealidad.
Además, la inclusión de un convertidor de analógico a digital (ADC) en cada circuito de entrada permite el muestreo concurrente de una pluralidad de características analógicas, eliminando de ese modo el cuello de botella asociado con el multiplexor analógico 18 de los sistemas 10 de muliplexación convencionales.
Además, el muestreo concurrente elimina la distorsión introducida en los sistemas 10 de muliplexación convencionales cuando las muestras sólo pueden tomarse de manera consecutiva.
El muestreo concurrente también hace posible configurar diferentes velocidades de muestra para las respectivas características analógicas según el grado de resolución requerido.
Preferentemente, el circuito de escalado está conectado eléctricamente a una entrada del convertidor de analógico a digital y el circuito de aislamiento está conectado eléctricamente a una salida del mismo.
De esta manera, el aislamiento del flujo de datos digitales reduce la posibilidad de cualquier ruido externo que corrompa al flujo de datos.
Además, el aislamiento del flujo de datos digitales también significa que no es necesario reproducir fielmente los datos digitales cuando se transfieren a través de la barrera eléctrica. Esto se debe a que sólo es necesario que la parte aguas abajo de la barrera eléctrica pueda distinguir un 0 o un 1 en lugar de, por ejemplo, una forma de onda analógica completa.
Convenientemente, el circuito de escalado es o incluye una red de resistencias. Esto da como resultado que el circuito de escalado presente una respuesta lineal en un intervalo de medición deseado, ayudando de ese modo a minimizar los errores de no linealidad.
Opcionalmente, la red de resistencias define un divisor de tensión.
Como alternativa, la red de resistencias define una derivación.
Las disposiciones anteriores permiten el muestreo de características analógicas de tensión y de corriente, respectivamente.
En una realización preferida de la invención, el convertidor de analógico a digital es o incluye un modulador sigma-delta. La inclusión de un modulador sigma-delta permite la transferencia de una palabra de un único bit, es decir un 0 o un 1, a través de la barrera eléctrica del circuito de aislamiento a una alta frecuencia.
Esto da como resultado que la característica analógica digitalizada presente una mejor resolución en comparación con la generada por un ACD de 16 bits convencional.
Preferentemente, el circuito de aislamiento es o incluye un transformador de pulso único. Un transformador de este tipo presenta características de transferencia particularmente deseables, proporcionando al mismo tiempo un grado deseado de aislamiento eléctrico aguas abajo del mismo.
Opcionalmente, el módulo de muestreo incluye además una interfaz de datos conectada eléctricamente al o a cada circuito de entrada para permitir la transmisión de un flujo de datos digitales respectivo a un módulo de procesamiento.
Convenientemente, la parte aguas abajo del o de cada circuito de entrada incluye un módulo de procesamiento de señales digitales.
En otra realización preferida de la invención, el módulo de procesamiento de señales digitales incluye un filtro digital.
En una realización preferida adicional de la invención, el módulo de procesamiento de señales digitales incluye un módulo de remuestreo.
En aún otra realización preferida adicional de la invención, el módulo de muestreo incluye además una interfaz de control conectada eléctricamente al o a cada circuito de entrada para permitir la configuración del módulo de procesamiento de señales digitales y del ADC mediante un módulo de control.
Las características anteriores permiten procesar la característica analógica digitalizada en un grado deseado antes de transmitirse a un módulo de procesamiento.
Según un segundo aspecto de la invención, se proporciona un procedimiento para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia, que comprende las etapas de proporcionar al menos un circuito de entrada para muestrear una respectiva característica analógica, y de conectar eléctricamente en serie en el o en cada circuito de entrada:
un circuito de escalado para reducir la magnitud de la característica analógica hasta un nivel deseado;
un circuito de aislamiento para crear una barrera eléctrica entre respectivas partes aguas arriba y aguas abajo del circuito de entrada; y
un convertidor de analógico a digital para digitalizar la característica analógica para generar un flujo de datos digitales.
El procedimiento de la invención comparte las ventajas asociadas con el módulo de muestreo mencionado anteriormente según la invención.
A continuación se proporciona una breve descripción de una realización preferida de la invención, a modo de ejemplo no limitativo, haciendo referencia a los dibujos adjuntos, en los que:
la figura 1 es una representación esquemática de un sistema de muestreo de muliplexación conocido;
la figura 2 es una representación esquemática de un módulo de muestreo según una primera realización de la invención;
la figura 3 es una representación esquemática más detallada del módulo de muestreo mostrado en la figura 2; y
la figura 4 es una representación esquemática de un circuito de aislamiento preferido según la invención.
Un módulo de muestreo según una primera realización de la invención está designado de manera genérica mediante el número de referencia 30.
El módulo 30 de muestreo incluye una pluralidad de circuitos 32 de entrada, sirviendo cada circuito 32 de entrada para muestrear una característica analógica particular de un sistema de transmisión de potencia (no mostrado) al cual está conectado eléctricamente el módulo 30 de muestreo.
En la realización mostrada, cada circuito 32 de entrada incluye un circuito 34 de escalado en un extremo 36 de entrada aguas arriba del mismo. El circuito 34 de escalado está conectado eléctricamente en serie a una entrada de un convertidor 22 de analógico a digital (ADC). Se muestra un ADC 22 preferido, en forma de un modulador 38 sigma-delta.
Una salida del modulador 38 sigma-delta está conectado eléctricamente en serie a un circuito 40 de aislamiento.
En otras realizaciones de la invención también son posibles diferentes disposiciones en serie del circuito 34 de escalado, del ADC 22 y del circuito 40 de aislamiento.
En cada circuito 32 de entrada, el circuito 34 de escalado es una red de resistencias (no mostrada). La red de resistencias puede presentar la forma de un divisor de tensión o de una derivación para muestrear características analógicas de tensión y de corriente, respectivamente.
Cada circuito 40 de aislamiento incluye un transformador 42 de pulso único, tal y como se muestra de manera esquemática en la figura 4.
Una parte de cada circuito 32 de entrada aguas abajo del circuito 40 de aislamiento incluye un módulo 44 de procesamiento de señales digitales, incluyendo cada uno de los cuales un filtro 46 digital y un módulo 48 de remuestreo.
La salida de cada módulo 44 de procesamiento de señales digitales está conectada eléctricamente a una interfaz de datos que, a su vez, puede conectarse a un módulo 24 de procesamiento.
El módulo 30 de muestreo también incluye una interfaz 52 de control que está conectada eléctricamente a cada circuito 32 de entrada. La interfaz 52 de control está configurada para poder conectarse a un módulo de control (no mostrado), que permite la configuración del módulo 44 de procesamiento de señales digitales y del ADC 22.
Además, la realización del módulo 30 de muestreo mostrado incluye además un reloj 54 maestro (figura 3).
Durante su utilización, cada circuito 34 de escalado escala una respectiva característica analógica muestreada hasta un nivel adecuado para una conversión de analógico a digital mediante el modulador 38 sigma-delta correspondiente. Es posible determinar el intervalo de medición de cada circuito 34 de escalado seleccionando los valores de las resistencias de los mismos.
Además, es posible mejorar la precisión de cada característica analógica muestreada calibrando cada circuito 34 de escalado. La calibración puede corregir cualquier error de desfase o de ganancia lineal introducido por un circuito 34 de escalado dado. La calibración también puede corregir cualquier inversión de la característica analógica muestreada provocada por un ensamblado incorrecto del circuito 34 de escalado.
Cada modulador 38 sigma-delta transmite un flujo de datos digitales en serie de 1 bit, correspondiente a una característica analógica muestreada dada. Una señal de reloj controla la velocidad de muestreo de cada modulador 38 sigma-delta.
Respectivos transformadores 42 de pulso único transfieren el flujo de datos digitales en una primera dirección desde el modulador 38 sigma-delta hasta un procesador 44 de señales digitales, creando al mismo tiempo una barrera eléctrica entre estos componentes respectivos. Cada procesador 44 de señales digitales puede estar configurado para recibir uno o más flujos de datos digitales.
Cada transformador 42 de pulso único también transfiere potencia para activar el modulador 38 sigma-delta correspondiente, y la señal de reloj mencionada anteriormente, en una segunda dirección opuesta.
Cada transformador 42 de pulso único implementa una topología de convertidor directo con una frecuencia de funcionamiento igual a la de la señal de reloj, permitiendo de ese modo que el modulador 38 sigma-delta correspondiente obtenga la señal de reloj directamente de la potencia transferida.
La transferencia del flujo de datos de señales binarias se consigue modificando la amplitud de la tensión utilizada para reajustar el flujo del transformador, sobre una base de ciclo a ciclo, desde el lado secundario del convertidor directo. La supervisión de la forma de onda primaria del convertidor determina si se ha utilizado una tensión alta para reajustar rápidamente el flujo o si se ha utilizado una tensión baja para reajustar el flujo más lentamente.
El filtro digital 46 de cada módulo 44 de procesamiento de señales digitales filtra un flujo de datos digitales respectivo para, por ejemplo, eliminar cualquier ruido extraño.
El módulo 48 de remuestreo de cada módulo 44 de procesamiento de señales digitales puede generar un flujo de datos digitales que presente una velocidad de muestreo deseada.
La configuración del módulo 44 de procesamiento de señales digitales y de la velocidad de muestreo de cada modulador 38 sigma-delta se lleva a cabo a través de la interfaz 52 de control, permitiendo de ese modo diferentes velocidades de muestra y características de filtrado en cada circuito 32 de entrada según los requisitos de un módulo 24 de procesamiento acoplado, conectado a través de la interfaz 50 de datos.
Cada circuito 32 de entrada transmite su flujo de datos digitales, correspondiente a una característica analógica muestreada dada, al módulo 24 de procesamiento a través de la interfaz 50 de datos. El reloj 54 maestro marca el sincronismo de cada flujo de datos digitales para garantizar que los datos de un flujo particular estén correctamente sincronizados después de su transmisión al dispositivo externo.
Por consiguiente, cada circuito 32 de entrada aporta un valor de muestra filtrado de manera independiente a un flujo de datos digital dado.
Cada bloque de flujo de datos (44 en la figura 3) acepta los flujos de bit aislados de cada circuito de entrada (32 en la figura 3), los filtra para eliminar componentes de frecuencia no deseadas y después los vuelve a muestrear para generar paquetes de muestras a la velocidad de muestra requerida por el módulo de procesamiento (24 en la figura 2). Los parámetros del filtro digital (46 en la figura 3) y el periodo de la lógica de remuestreo (48 en la figura 3) pueden configurarse mediante el módulo (24) de procesamiento, sobre la marcha si fuera necesario, para adaptarse al algoritmo de protección particular. Puesto que la invención contiene múltiples bloques (44) de flujo de datos concurrentes, es posible proporcionar diferentes algoritmos de protección que se ejecuten de manera simultánea en el IED y que requieran datos de muestra a diferentes velocidades y con diferentes niveles de filtrado.

Claims (10)

1. Módulo (30) de muestreo para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia, comprendiendo el módulo de muestreo al menos un circuito de entrada para muestrear una respectiva característica analógica, incluyendo el circuito de entrada:
un circuito (34) de escalado para reducir la magnitud de la característica analógica hasta un nivel deseado;
un circuito (40) de aislamiento para crear una barrera eléctrica entre respectivas partes aguas arriba y aguas abajo del circuito de entrada;
un convertidor (22) de analógico a digital para digitalizar la característica analógica para generar un flujo de datos digitales en serie de 1 bit,
estando conectado eléctricamente el circuito (34) de escalado a una entrada del convertidor (22) de analógico a digital y estando conectado eléctricamente el circuito (40) de aislamiento directamente a una salida del mismo,
caracterizado porque:
el módulo de muestreo comprende además un módulo (44) de procesamiento de señales en serie con el circuito (40) de aislamiento y que comprende un filtro (46) digital para el filtrado digital del flujo de datos digitales en serie de 1 bit y un módulo (48) de remuestreo para volver a muestrear el flujo de datos filtrados transmitido desde el filtro digital, y porque el módulo de muestreo comprende además un módulo (24) de procesamiento adicional en serie con el módulo (44) de procesamiento de señales digitales, generando el módulo (44) de procesamiento de señales digitales paquetes de muestras a una velocidad de muestra requerida por el módulo (24) de procesamiento adicional, configurando el módulo (24) de procesamiento adicional los parámetros del filtro digital y el periodo del módulo de remuestreo para adaptarlos a un algoritmo particular.
2. Módulo de muestreo según la reivindicación 1, en el que el módulo (30) de muestreo comprende una pluralidad de circuitos de entrada en paralelo y una pluralidad de módulos de procesamiento de señales digitales en paralelo, estando conectada una salida de cada circuito de entrada a una entrada de cada módulo (44) de procesamiento de señales digitales, siendo configurados los parámetros de filtrado digital de los filtros (46) digitales de los módulos de procesamiento de señales digitales y el periodo de remuestreo de los módulos (48) de remuestreo por el módulo (24) de procesamiento adicional, para adaptarlos a diferentes algoritmos de protección que se ejecutan simultáneamente en el módulo (24) de procesamiento adicional y que requieren datos a diferentes velocidades y con diferentes niveles de filtrado.
3. Módulo de muestreo según la reivindicación 1 ó 2, en el que el circuito de escalado es o incluye una red de resistencias.
4. Módulo de muestreo según la reivindicación 3, en el que la red de resistencias define un divisor (34) de tensión.
5. Módulo de muestreo según la reivindicación 3, en el que la red de resistencias define una derivación.
6. Módulo de muestreo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores 1 a 5, en el que el convertidor de analógico a digital es o incluye un modulador (38) sigma-delta.
7. Módulo de muestreo según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el convertidor (22) de analógico a digital se controla con una señal de reloj y el circuito (40) de aislamiento es o incluye un transformador (42) de pulso único que transfiere a) el flujo de datos digitales de 1 bit en una primera dirección desde el convertidor de analógico a digital hasta el módulo (44) de procesamiento de señales digitales y b) potencia para activar el convertidor de analógico a digital correspondiente y la señal de reloj en una segunda dirección opuesta, implementando el transformador (42) de pulso único una topología de convertidor directo con una frecuencia de funcionamiento igual a la de la señal de reloj, permitiendo de ese modo que el convertidor de analógico a digital correspondiente obtenga la señal de reloj directamente de la potencia transferida.
8. Un procedimiento para muestrear una o más características analógicas de un sistema de transmisión de potencia que comprende al menos un circuito de entrada, comprendiendo dicho procedimiento de muestreo al menos una etapa de entrada que comprende:
-
reducir la magnitud de la característica analógica hasta un nivel deseado;
-
crear una barrera eléctrica entre respectivas partes aguas arriba y aguas abajo del circuito de entrada;
-
digitalizar la característica analógica para generar un flujo de datos digitales de 1 bit,
\newpage
caracterizado porque:
dicho procedimiento de muestreo comprende además una etapa (44) de procesamiento de señales digitales después de dicha etapa de entrada y que comprende una etapa de filtrado (46) digital del flujo de datos digitales de 1 bit seguida de una etapa de remuestreo (48) del flujo de datos filtrados transmitido desde la etapa de filtrado digital, y porque el procedimiento de procesamiento comprende además una etapa (24) de procesamiento adicional, generando la etapa de procesamiento de señales digitales paquetes de muestras a una velocidad de muestra requerida por la etapa (24) de procesamiento adicional, configurando la etapa de procesamiento adicional los parámetros de filtrado digital y el periodo del remuestreo para adaptarlos a un algoritmo particular.
9. Procedimiento de muestreo según la reivindicación 8, que comprende además una pluralidad de etapas de entrada en paralelo y una pluralidad de etapas de procesamiento de señales digitales en paralelo, procesando cada etapa de procesamiento de señales digitales datos transmitidos por cada etapa de entrada, configurando la etapa (24) de procesamiento adicional los parámetros de filtrado digital y el periodo de remuestreo de dichas etapas (44) de procesamiento de señales digitales en paralelo para adaptarlos a diferentes algoritmos de protección que se ejecutan simultáneamente en la etapa (24) de procesamiento adicional y que requieren datos a diferentes velocidades y con diferentes niveles de filtrado.
10. Procedimiento de muestreo según las reivindicaciones 8 y 9, en el que la digitalización se controla con una señal de reloj y la etapa de crear una barrera eléctrica transfiere a) el flujo de datos digitales de 1 bit en una primera dirección desde un convertidor de analógico a digital que implementa la digitalización hasta un módulo de procesamiento de señales digitales que implementa la etapa de procesamiento de señales digitales y b) potencia para activar el convertidor de analógico a digital correspondiente y la señal de reloj en una segunda dirección opuesta, implementando un transformador (42) de pulso único una topología de convertidor directo con una frecuencia de funcionamiento igual a la de la señal de reloj, permitiendo de ese modo que el convertidor de analógico a digital correspondiente obtenga la señal de reloj directamente de la potencia transferida.
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