ES2206300T3 - Procedimiento y dispositivo de verificacion integrada para un convertidor analogico digital. - Google Patents

Procedimiento y dispositivo de verificacion integrada para un convertidor analogico digital.

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ES2206300T3 ES00960825T ES00960825T ES2206300T3 ES 2206300 T3 ES2206300 T3 ES 2206300T3 ES 00960825 T ES00960825 T ES 00960825T ES 00960825 T ES00960825 T ES 00960825T ES 2206300 T3 ES2206300 T3 ES 2206300T3
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Florence Azais
Serge Bernard
Yves Bertrand
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Centre National de la Recherche Scientifique CNRS
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
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    • H03M1/109Measuring or testing for dc performance, i.e. static testing
    • HELECTRICITY
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Abstract

Procedimiento de prueba por histograma de un convertidor analógico-digital, , consistente en descomponer en el tiempo, la acumulación y la explotación del histograma, caracterizado por el hecho de que utiliza recursos comunes para tratar sucesivamente las características funcionales del convertidor analógico-digital y y por el hecho de que consiste en inicializar y configurar sucesivamente dichos recursos en aras a adaptarlos a la determinación de cada una de las características funcionales de dicho convertidor.

Description

Procedimiento y dispositivo de verificación integrada para un convertidor analógico digital.
La presente invención se refiere a los convertidores analógico-digitales y se refiere particularmente a la integración de un módulo de autoprueba que permite medir las características funcionales del convertidor, como el desfase, la ganancia, las no linealidades y otras, utilizando el principio de la prueba por histograma.
En lo referente a la prueba de los convertidores analógico-digitales, los industriales utilizan principalmente dos métodos, a saber, la prueba por histograma y la prueba por Transformada de Fourier Rápida (TFR).
La implementación de estos métodos necesita un equipo de prueba externa eficaz y muy costoso, bajo la forma de un aparato de prueba industrial.
Una solución clásica para disminuir el coste de esta prueba externa consiste en integrar módulos de prueba en el interior del circuito.
Se acepta que este tipo de solución es económicamente viable en la medida en que la superficie de los módulos añadidos no representa más que el 10% al 15% de la superficie original del circuito.
La integración de un dispositivo de prueba por histograma en su forma clásica plantea un problema en la medida en que la superficie de los módulos de prueba añadida es excesiva habida cuenta del volumen extremadamente importante de datos a almacenar por una parte, y de las operaciones complejas a realizar para permitir la explotación por otra parte.
El documento EP 0 336 715 describe la arquitectura de un convertidor analógico-digital que comprende una lógica digital para acumular datos de densidad de códigos destinados a ser utilizados para caracterizar el convertidor. A continuación, los datos acumulados por esta lógica digital son transmitidos a un ordenador para ser tratados.
El documento de J. Raczkowycz y otros, "Embedded ADC characterization techniques using a BIST structure, an ADC model and histogram data", Microelectronics Journal, GB, Mackintosh Publications, Ltd., Luton, vol. 27, nº 6, 1 de septiembre de 1996, páginas 539-549, XP004007233, describe una técnica de prueba para caracterizar un convertidor analógico-digital. Esta técnica utiliza una memoria RAM y una célula de incremento embarcadas con el convertidor analógico-digital a fin de reducir el número de informaciones intercambiadas entre el convertidor analógico a probar y un aparato de prueba externo.
El documento de Franck K.Y. MOK y otros, "Strech: Self testing reliability evaluation chip" Proceedings of the Custom Integrated Circuit Conference, US, New York, IEEE vol. Conf. 15, 1993, páginas 30.4.1-30.4.4, XP000409779, describe un circuito ASIC equipado con una sección digital apta para determinar una no linealidad diferencial a partir de un histograma de datos de códigos.
La invención trata de remediar este inconveniente redefiniendo la técnica de prueba por histograma a fin de no tener más que un número reducido de informaciones a almacenar en el circuito integrado y evaluar las características del convertidor a partir de operaciones simples.
Igualmente trata de realizar un módulo de prueba integrado que ocupa una débil superficie a fin de hacer la solución de la prueba por histograma económicamente interesante.
Por lo tanto, tiene por objeto un procedimiento de prueba por histograma de un convertidor analógico-digital, consistente en descomponer en el tiempo, la acumulación y la explotación del histograma, caracterizado por el hecho de que utiliza recursos comunes para tratar sucesivamente las características funcionales del convertidor analógico-digital y por el hecho de que consiste en inicializar y configurar sucesivamente dichos recursos en aras a adaptarlos a la determinación de cada una de las características funcionales de dicho convertidor.
Igualmente, la invención tiene por objeto un dispositivo de autoprueba de un convertidor analógico-digital para la implementación del procedimiento definido previamente, que comprende medios de aplicación al convertidor de señales de prueba, y medios de análisis, caracterizado por el hecho de que dichos medios de análisis comprenden recursos comunes integrados con el convertidor y configurables para determinar sucesivamente características funcionales del convertidor y medios de configuración de dichos medios de análisis en aras de adaptarlos a las características a determinar.
Según otras características, el dispositivo comprende un contador de un código de referencia-comparador conectado a la salida del convertidor analógico-digital, un contador/descontador de explotación y de almacenamiento cuya salida entrega señales relativas a las características funcionales del convertidor y un controlador de gestión de las fases de prueba por medio de dicho contador-comparador y de dicho contador-descontador.
La invención se comprenderá más adecuadamente con la lectura de la descripción siguiente, dada únicamente a título de ejemplo y hecha en referencia a los dibujos anexos, en los cuales:
la figura 1 es un esquema sinóptico de un convertidor analógico-digital con un circuito de prueba incorporado a su circuito integrado;
la figura 2 es un esquema sinóptico más detallado de un modo de realización de un módulo de análisis según la invención;
la figura 3 es una representación más detallada del contador del esquema de la figura 2;
la figura 4 es una representación más detallada del contador/descontador del esquema de la figura 2;
la figura 5 es un esquema detallado de un organigrama que ilustra el cálculo del desfase, de la ganancia y de las no linealidades con la ayuda del módulo según la invención;
la figura 6 es un gráfico que muestra la determinación del desfase;
la figura 7 es un gráfico que muestra la determinación de la ganancia;
la figura 8 representa un algoritmo de prueba de los parámetros esenciales del convertidor;
la figura 9 representa un algoritmo de cálculo del desfase;
la figura 10 representa un algoritmo de cálculo de la ganancia;
la figura 11 representa un algoritmo de cálculo de las no linealidades diferenciales; y
la figura 12 representa un algoritmo de cálculo de las no linealidades integrales.
La invención se refiere a la prueba integrada de los convertidores analógico-digitales.
De forma clásica, según una solución de este tipo, se trata de integrar en el mismo silicio que el CAN, un módulo que permite aplicar en la entrada del convertidor de los estímulos de prueba y un módulo que permite observar y analizar las respuestas de salida del convertidor.
Una disposición de este tipo se representa en la figura 1, que representa un convertidor analógico-digital CAN 1 a cuya entrada se conecta un multiplexor 2 con una entrada conectada a la entrada analógica 3 del circuito, una entrada conectada a una línea 4 de aplicación de una señal de prueba y una entrada unida a la salida de un generador 5 de estímulos de prueba.
En su salida, el CAN 1 está conectado a un módulo de análisis 6 que comprende una entrada por la cual se conecta a la línea 4 de aplicación de las señales de prueba y una salida de prueba 7, mientras que el CAN comprende una salida digital 8 independiente.
Sabiendo que ya existen soluciones desarrolladas para la generación de estímulos, la invención se dirige de forma más específica al módulo de análisis a fin de favorecer la posibilidad de integración en el CAN de la técnica de prueba por histograma.
La prueba por histograma está basada en un análisis estadístico de la frecuencia de aparición de los códigos a la salida del convertidor a probar.
En efecto, un CAN de n bits posee 2^{n} códigos posibles en su salida.
Cuando un estímulo de prueba es aplicado a la entrada del CAN 1, cada código debe aparecer un número dado de veces.
Por lo tanto, el principio del histograma consiste en contar el número de veces H(i), que cada código i aparece efectivamente.
Estas frecuencias de aparición H(i) son explotadas a continuación para determinar las características funcionales (desfase, ganancia, no linealidades y otras) del convertidor.
En externo, de forma clásica, este tipo de prueba necesita recursos materiales importantes.
En efecto, para efectuar la prueba de un CAN de n bits, es necesario utilizar 2^{n+1} palabras de memoria para el almacenamiento del histograma y un procesador de señal digital DSP o un microprocesador para su explotación.
La integración directa de esta técnica representa consiguientemente una solución inaceptable porque la superficie ocupada por la memoria y el microprocesador es ampliamente superior a la del propio convertidor.
A fin de hacer económicamente viable la integración de la prueba por histograma, se redefine la técnica para disminuir los recursos necesarios para su funcionamiento preservando sus prestaciones.
La idea fundamental de la invención consiste en descomponer en el tiempo, la acumulación y la explotación del histograma.
En efecto, la prueba por histograma considerada como un algoritmo, puede ser descompuesta según dos dimensiones: una temporal y la otra espacial.
Con la restricción de una superficie mínima impuesta para el módulo de prueba integrado en el convertidor, la solución según la invención consiste en privilegiar la descomposición temporal del algoritmo.
Por tanto, la invención está basada en la acumulación código a código del histograma y en un tratamiento secuencial de las informaciones relativas a cada código.
Para restricciones de superficie menos estrictas, es posible calcular y explotar el histograma por grupo de códigos (2 códigos por 2 códigos...).
En un instante dado del tratamiento secuencial, los recursos materiales requeridos no tienen que ver más que con el código en curso.
En efecto, después del tratamiento de un código, estos recursos son liberados y liberados para el código siguiente.
Además, una segunda descomposición temporal consiste en no determinar más que una sola de las características funcionales a la vez.
Por consiguiente, el análisis es descompuesto en tres fases.
1. Determinación del desfase,
2. Determinación de la ganancia,
3. Determinación de las no linealidades.
Durante la aplicación de estas tres fases, se ha escogido un estímulo de entrada triangular que permite minimizar los recursos de cálculo necesarios para la explotación del histograma.
En la primera fase, sólo los códigos extremos son explotados para determinar el desfase.
Desfase=k_{1} [p(2^{n})-p(1)]
siendo k_{1} una constante conocida.
En la segunda fase, sólo una parte de los códigos del medio son explotados secuencialmente para determinar la ganancia.
Ganancia=K_{2}\sum^{n}_{i=1}p(i+A)
siendo k_{2} una constante conocida,
siendo A una constante conocida dependiente del número de bits del convertidor.
En la tercera fase, cada código es tratado secuencialmente. De este modo se obtiene la no linealidad diferencial NLD(i) asociada a cada código i.
NLD(i)=k_{3}p(i)
siendo k_{3} una constante conocida.
Además, la acumulación secuencial de NLD permite obtener la no linealidad integral NLI(i) asociada a cada código
\hbox{ i:}
NLI(i)=\sum^{i}_{j=1}NLD(j)
\newpage
Finalmente, el balance de los recursos materiales necesarios para la aplicación de la técnica según la invención es el siguiente.
La detección de la presencia de un código a la salida puede ser realizada con la ayuda de un simple comparador y un contador para posicionar el código de referencia.
Los diferentes tratamientos sólo hacen intervenir operaciones simples que pueden ser implantadas con la ayuda de un contador-descontador.
La gestión de las tres fases de prueba es asegurada por un controlador poco complejo.
El esquema de principio de una implantación posible de un módulo de prueba según la invención se representa en la figura 2.
Este módulo que es de hecho el módulo de análisis del esquema de la figura 1, comprende un contador-comparador 10 de n entradas 11 In<7:0> conectadas a las salidas correspondientes del CAN (no representado) y que representan el código de salida de 8 bits de éste.
Además comprende una entrada de borrado o de puesta a cero 12, una entrada de reloj 13, una entrada de control 14 y una entrada de establecimiento 15.
Además comprende salidas 16 unidas a tres entradas outB2, outB6, outB8, 17a, 17b, 17c de un controlador 20 y una salida 21 unida a una entrada 22 del controlador 20.
El controlador 20 comprende además una entrada 23 unida a las salidas del CAN, una salida de borrado 24 unida a la entrada 12 del contador-comparador 10, una salida de código siguiente 25 conectada a la entrada de reloj 13, una salida de control 26 conectada a la entrada de control 14 del circuito 10 y una salida de establecimiento 27 conectada a la entrada de establecimiento 15 del contador-comparador 10.
El controlador comprende además una entrada de reloj ck28, una entrada de borrado clear 29, una entrada de comienzo 30 y una entrada de fin 31.
Además comprende una salida C1 32 y una salida C2 33, conectadas respectivamente a entradas C1, C2, 34, 35 de un contador-descontador 36 y una salida de borrado 37 conectada a una entrada de borrado 38 del contador-descontador 36.
Finalmente, el controlador 20 comprende una entrada múltiple 40 a través de la cual se conecta a salidas 41 correspondientes del contador-descontador 36.
Este último comprende una entrada de reloj 42 y una salida múltiple 43 S<6:0> que es la salida de las básculas sobre 8 bits más una salida de arrastre y representa el código de referencia.
El contador-comparador 10 ha sido representado en detalle en la figura 3.
En el presente ejemplo está realizado a partir de un contador de ocho bits, cada una de cuyas ocho etapas comprende un conjunto de puertas 45a a 45h a la que se asocia una báscula 46a a 46h. Las funciones contador o comparador de este circuito son determinadas por la señal procedente del circuito de control 20 y aplicadas a la entrada de control 14 + arrastre.
La función de comparación es asegurada por una puerta NOR EXCLUSIVA 47a, una de cuyas entradas está unida a la entrada 11 de recepción de las señales de salida del convertidor analógico-digital por medio de un multiplexor 48a, otra de cuyas entradas está unida por medio de una puerta NAND 49a al borne Q de la báscula 46b de la etapa siguiente.
La salida de cada una de las puertas NOR EXCLUSIVA 47a a 47h se conecta a una entrada correspondiente de una puerta NAND 50.
La salida de esta puerta constituye la salida 21 del contador-comparador que entrega la señal Ini-A destinada al controlador 20, y que da el resultado de la comparación entre el código de referencia y el código de salida del CAN.
El contador-descontador 36 del circuito de la figura 2 es representado en detalle en la figura 4.
Comprende seis grupos de puertas 52a a 52f a los que se asocian básculas correspondientes 53a a 53g.
Cada grupo de puertas como el grupo 52a comprende tres puertas NAND 54a, 55a, 56a.
La puerta 54a tiene dos entradas conectadas respectivamente a las entradas 34, 35 de las señales C_{2} y C_{1}.
La puerta 55a es una puerta de tres entradas, una de las cuales está unida a la entrada 35 de la señal C_{2}, una segunda entrada está conectada por medio de un inversor 57a a una entrada de una puerta OR EXCLUSIVA del grupo de puertas 52b siguiente, y una tercera entrada está conectada a la salida de una puerta NAND del grupo de puertas 52b.
La tercera puerta 56a es una puerta de tres entradas, la primera de las cuales está conectada a la salida de la puerta NAND del grupo de puertas 52b, la segunda entrada está conectada a la entrada 34 de la señal C_{1} y la tercera entrada está conectada a la entrada de la puerta OR EXCLUSIVA del grupo de puertas 52b siguiente.
Las salidas de las puertas 54a, 55a, 56a están conectadas a tres entradas respectivas de una puerta NAND 58a cuya salida está unida a una entrada de una puerta OR EXCLUSIVA 59a.
La salida de la puerta 59a está unida al borne D de la báscula 53 mientras que la otra entrada de la puerta OR EXCLUSIVA está conectada al borne Q de la báscula 53a.
El borne C de dicha báscula está conectado a la entrada de reloj ck 42, mientras que su borne RN está conectado al borne de borrado 38.
Las otras etapas del contador-descontador son idénticas y no serán descritas.
Las señales C_{1} y C_{2} son, por otra parte, aplicadas a una puerta NOR cuya salida está conectada por medio de un inversor 61 a una entrada de una puerta OR EXCLUSIVA 62 cuya otra entrada está unida al borne Q de una báscula 53g suplementaria. La salida de la puerta 62 está conectada al borne D de la báscula 53g unida a la salida 41 del circuito. El borne Q de la báscula 53g está unido a la salida 43, mientras que sus bornes C y RN están conectados respectivamente a las entradas de reloj y de borrado 42 y 38.
La técnica presentada permite determinar las características funcionales como el desfase, la ganancia y las no linealidades de un convertidor analógico-digital.
Esta prueba dinámica se basa en un análisis estadístico de la frecuencia de aparición H(i) de cada código i a la salida de un CAN de n bits.
El conjunto de la prueba se efectúa con una entrada triangular a la frecuencia máxima de funcionamiento del convertidor.
Para este tipo de señal, la frecuencia de aparición teórica H_{teo} tiene el mismo valor para todos los códigos
H_{teo} = \frac{N}{2^{n}}
Depende únicamente del número N de muestras y del número n de bits del convertidor.
A continuación se describe en referencia a las figuras 6 y 7, la determinación del desfase y de la ganancia.
La definición clásica del error de desfase es la siguiente. En un CAN, el error de desfase es la diferencia entre las tensiones real y teórica de la entrada que hace conmutar el bit de menor peso.
Según la invención, el desfase es calculado con la ayuda de dos códigos extremos que son los únicos códigos modificados en el caso de un error de desfase para una señal triangular como la señal de la figura 6.
Aquí, el error tiene un efecto lineal sobre la frecuencia de aparición de cada código.
Por consiguiente, se llega a una expresión muy simple del desfase expresado en LSB:
(1)Desfase = \frac{(H(2^{n})-H(1))\cdot A \cdot Te \cdot 2^{n}}{Tin\cdot PE}+C
en la cual:
A es la amplitud de la señal de entrada,
Te es el período de muestreo,
Tin es el período de la señal de entrada,
PE es la escala total del convertidor,
C es una constante conocida teniendo en cuenta el desfase de la característica ideal.
Si, por ejemplo, se desea medir un error superior a 1 LSB, hay que aumentar la amplitud de la señal de entrada. En efecto, si la amplitud de la señal de entrada corresponde a la escala total PE del convertidor y si el desfase es superior a 1 LSB, el código 00....00 no será presente nunca a la salida del convertidor.
El valor mínimo de la amplitud de entrada depende directamente del desfase máximo medido.
A\geq desfase_{max}+PE
A continuación se describe la determinación de la ganancia en referencia a la figura 7, que representa el paso de cuantificación en función del número N de muestras para cada código.
Si el convertidor tiene una ganancia g diferente de 1, su paso de cuantificación qr siempre es constante, pero tiene un valor g veces menor que en el caso ideal qr=q/g.
Para un estudio similar al del desfase, qr puede ser obtenido con bastante facilidad:
qr = \frac{Ncod\cdot A\cdot fin}{fe}
\hskip2cm
q = \frac{PE}{2^{n-1}}
El error de la ganancia expresado en LSB puede ser determinado gracias a qr.
(2)Error \ de \ ganancia = \frac{qr-q}{q}=\frac{Ncod\cdot 2^{n-1}\cdot A\cdot Te- PE\cdot Tin}{PE-Tin}
En esta ecuación, A, Te, Tin, PE y q representan respectivamente la amplitud de la señal de entrada, el período de muestreo, el período de la señal de entrada, la tensión de escala total del convertidor y el paso de cuantificación ideal.
Esta medida no puede ser realizada sobre un solo código, porque hay que tener en cuenta las variaciones del paso de cuantificación debidas a las no linealidades del convertidor.
El menor error de no linealidad sobre el código tomado como referencia será repercutido en la medida de la ganancia.
Por consiguiente, la medida se llevará sobre códigos diferentes. La variación del paso de cuantificación para un código i es causada por la no linealidad diferencial de este código.
Por el contrario, para una variación debida a varios códigos, es interesante estudiar la influencia de la incertidumbre sobre la no linealidad integral.
Situémonos en el caso extremo en el que la variación del paso de cuantificación debida a las no linealidades de los códigos estudiados es igual a la no linealidad integral máxima admitida.
Para una precisión de medida sobre la ganancia de \Deltag y un error de no linealidad integral máximo, NLI_{max}, el número de códigos es igual a la división NLI_{max} por \Deltag.
Número \ de \ códigos = \frac{NLI_{max}}{\Delta g}
La precisión de la medida de la ganancia es muy importante en lo sucesivo porque influye en todas las medidas futuras.
Por ejemplo, con restricciones bastante estrictas:
NLI_{max}=1. LSB y una buena precisión de medida, sea \Deltag=0,02 LSB.
Es necesario calcular la media del error de ganancia sobre 50 códigos.
A continuación se describe la determinación de las no linealidades.
Se pueden definir dos tipos de no linealidades:
- las no linealidades diferenciales (NLD)
- las no linealidades integrales.
Las no linealidades diferenciales representan la diferencia con respecto a un LSB, de los valores analógicos correspondientes a dos códigos sucesivos.
En la presente técnica, son determinadas directamente a partir de la frecuencia de aparición del código con el que se relacionan.
(3)NLD(i) = \frac{H(i)-H_{teo}}{H_{teo}}
con H_{teo} = \frac{N}{2^{n}}
Las no linealidades integrales (NLI) representan la máxima diferencia entre la característica real y la recta de transferencia ideal.
Son calculadas acumulando las NLD.
(4)NLI(i) = \sum^{i}_{j=1}NLD(j)
A continuación se describe en referencia a la figura 5, el algoritmo global de la técnica según la invención.
Se observará que todos los recursos del sistema son reutilizables después de cada inicialización. Como consecuencia, los recursos globales necesarios para la aplicación de la técnica de la invención son pocos y por lo tanto la estructura es fácilmente integrable en un convertidor analógico-digital.
El algoritmo se ha representado en la figura 5 bajo la forma de un organigrama.
Comprende:
- una fase 1 de cálculo del desfase,
- una fase 2 de cálculo de la ganancia,
- una fase 3 de cálculo de las no linealidades diferenciales e integrales.
La fase 1 comprende una etapa 70 de inicialización de todos los recursos H_{dec}=0.
Después, durante una etapa 71, se calcula la frecuencia de aparición H(0) del código 0.
Durante la fase 72, se calcula la frecuencia de aparición H(2^{n}) del código 2^{n}.
Durante la etapa 73, se procede al cálculo de H_{dec}=H(2^{n})-H(0).
Estas operaciones son realizadas con los recursos descritos en referencia a las figuras 2 a 4 programadas para asegurar el cálculo del desfase.
Durante la etapa 74, se procede a la inicialización de los recursos para la fase 2 de cálculo de la ganancia. Después de esta inicialización H_{gan}=0.
Después, durante la etapa 75, se calcula la frecuencia de aparición H(N1) del código N1.
Durante la etapa 76, se acumula con el valor de ganancia anterior, H_{gan}=H_{gan}+H(N1).
Durante la etapa 77, se procede al incremento del código de referencia N1:N1=N1+1.
Durante la etapa 78, se determina si N1<N2.
En el caso afirmativo, se vuelve a la etapa 75 de cálculo de la frecuencia de aparición H(N1) del código N1.
En el caso negativo, se pasa a la etapa 79 de inicialización de los recursos H_{NLD}=0 para el paso a la fase 3 de cálculo de las no linealidades.
Durante la etapa 80, se calcula la frecuencia de aparición H(2) del código 2, H_{NLD}(2)=H(2).
Durante la etapa 81, se inicializan de nuevo todos los recursos H_{NLD}=0.
Durante la etapa 82, se calcula la frecuencia de aparición H(3) del código 3, H_{NLD}(3)=H(3).
Durante la etapa 83, se inicializa de nuevo el conjunto de recursos para el cálculo de la frecuencia de aparición del código i, y después se reinician estas operaciones hasta el cálculo durante la etapa 84 de la frecuencia de aparición H (2^{n}-1) del código 2^{n}-1. H_{NLD} (2^{n}-1) =H (2^{n}-1).
Durante la etapa 85, se inicializan todos los recursos para el cálculo de las no linealidades integrales.
Después, durante la etapa 86, se calcula la frecuencia de aparición H(2) del código 2.
Durante la etapa 87, se procede a la acumulación con el valor anterior H_{NLI}=H_{NLI}+H(2).
Durante la etapa 88, se calcula la frecuencia de aparición H(3) del código 3.
Durante la etapa 89, se procede a la acumulación con el valor anterior H_{NLI}=H_{NLI}+H(3) y así sucesivamente hasta el cálculo durante la etapa 90 de la frecuencia de aparición H(2^{n}-1) del código 2^{n}-1.
Durante la etapa 91, se procede a la acumulación con el valor anterior y se llega a la obtención de la no linealidad integral H_{NLI}=H_{NLI}+(2^{n}-1).
Finalmente, en la etapa 92, se inicializa el conjunto de los recursos para la serie de cálculos siguiente.
A continuación se da un ejemplo práctico de realización de un convertidor analógico-digital con módulo de autoprueba implantado.
-
Convertidor analógico-digital de 8 bits (256 códigos),
-
frecuencia de muestreo 10MHz
-
frecuencia de la señal de entrada 1,22MHz
-
8192 muestras por trama de prueba. Por lo tanto, 1000 períodos de la señal de entrada para cada trama,
-
error de desfase admitido \pm1,5 LSB
-
error de ganancia admitido \pm1,5 LSB,
-
no linealidades diferenciales admitidas \pm0,5 LSB,
-
no linealidades integrales admitidas \pm0,5 LSB.
Los recursos materiales necesarios para la implementación de la invención se representan en la figura 2.
Comprenden
-
un bloque de detección de la presencia de un código a la salida del convertidor analógico-digital.
Este bloque representado como 10 en la figura 2, es como se indica anteriormente, un contador comparador para posicionar el código de referencia.
-
un bloque 36 de explotación de histograma es realizado bajo la forma de un contador-descontador de complemento a 1,
-
un bloque 20 de gestión de las tres fases de prueba o controlador.
Los dos bloques 36 y 10 pueden ser reagrupados en un mismo bloque.
La implantación de esta técnica es descrita en referencia a las figuras 3 y 4. Ventajosamente es realizada en tecnología AMSO, 8\mum.
A continuación se detalla la construcción y el funcionamiento de cada bloque.
El bloque contador-comparador 10 permite posicionar en el contador el código de referencia que se desea tratar y compararlo con el código de salida del convertidor.
\newpage
Está constituido por 8 básculas 46a a 46h con puesta a uno y puesta a cero unidos por la lógica combinatoria descrita en referencia a la figura 3.
Este bloque tiene dos funciones: poner el código de referencia y compararlo con el código de salida del convertidor.
La ubicación del código de referencia es realizada incrementando la salida del bloque que funciona en modo contador y la comparación en modo comparador se efectúa reutilizando las puertas OR EXCLUSIVA 47a a 47h del contador.
La entrada de control 12 es necesaria para pasar de un modo al otro.
Si la entrada de control 12 recibe una señal ctr=0, el bloque es puesto en modo contador y la salida es incrementada a cada flanco de reloj.
Si la entrada de control 12 recibe una señal ctr=1, el bloque efectúa la comparación entre el código de referencia, out y el código de salida del convertidor I_{1}<7:0>.
Si los dos códigos son iguales, Ini-A pasa a cero.
Si los dos códigos son diferentes, Ini-A pasa a uno.
El bloque de tratamiento representado en la figura 4 permite efectuar todas las operaciones necesarias para la explotación del histograma. Como se representa en la figura 4, está constituido por siete básculas 53a a 53f y 63 con puesta a cero y una lógica combinatoria entre estas diferentes básculas.
La salida 41 es una salida de ocho bits que representa las diferentes características.
La salida 43 es la salida de la última báscula 53g y forma una entrada del controlador.
Para calcular el desfase, el bloque de tratamiento debe efectuar la sustracción entre la frecuencia de aparición de los dos códigos extremos y debe almacenar el resultado.
Esta operación es realizada configurando el bloque de tratamiento como contador-descontador de 7b bits. Para el cálculo de las otras características, el bloque de tratamiento tiene una sola función de acumulador permaneciendo en configuración de contador.
El resultado contenido en el bloque de tratamiento representa la diferencia entre el valor teórico y el valor real de la frecuencia de aparición H(i)-H_{teo}.
Para poder explotar el resultado, hay que tener en cuenta el signo de esta diferencia.
Si el valor almacenado en el bloque 36 es negativo, la salida es complementada a 1.
Las dos entradas de control C1, C2, 34, 35 son utilizadas para configurar el bloque de tratamiento.
Hay cuatro modos de funcionamiento:
1.
Modo de transparencia: la salida S es igual a la salida de las básculas 53a a 53f (C1=C2=1).
2.
Modo complemento: la salida S es igual al complemento a 1 de la salida de las básculas (C1=C2=0).
3.
Modo contador: la salida es incrementada con cada flanco de reloj (C1=1; C2=0).
4.
Modo descontador: la salida es decrementada con cada flanco de reloj (C1=0; C2=1).
El controlador 20 permite gestionar el conjunto de las fases de prueba.
Las entradas reciben las señales siguientes:
-
Ini-A 22 da el resultado de la comparación entre el código de salida del CAN y el código de referencia.
-
InO 23 recibe el bit de menor peso del código de salida del convertidor.
-
La entrada 28 es la entrada de la señal de reloj ck del controlador.
-
Las entradas 17a, 17b, 17c, reciben outB2, outB6, y outB8, que son respectivamente los bits 3, 7 y el arrastre del bloque contador-comparador 10.
Las entradas outA5 y outA7 40 representan los bits de arrastre 0 y 1 de la salida 41 del bloque de tratamiento 36.
Las entradas 30, 31 de comienzo y fin están unidas a un generador de estímulos (no representado) e indican cuando los códigos de salida del convertidor son explotables. La entrada de borrado o clear permite la inicialización del controlador.
Las salidas 32, 33 y 37 entregan bits de control C1, C2 y clr-A hacia el bloque de tratamiento 36.
La salida 25 es conectada al reloj del bloque contador-comparador 10 para entregarle una señal código siguiente.
Las salidas 24, 26, 27 entregan bits de control ctr, clr-B y set-B al contador-comparador 10.
El funcionamiento general del comparador se detalla en el algoritmo representado en la figura 8.
Durante todas las fases de prueba descritas anteriormente, se considera que el generador de estímulos entrega dos señales binarias Comienzo y Fin además de la señal triangular.
Estas señales indican el comienzo y el fin de cada trama de prueba.
El número de períodos P de la señal de entrada comprendidos en la trama depende de la frecuencia de la señal de entrada f_{in}, de la frecuencia de muestreo f_{e} y del número de muestras a tratar N.
P=\frac{fe*N}{fin}
Es necesario gestionar tantas tramas como códigos a tratar durante las diferentes fases.
1. Fases de determinación del desfase
En esta fase cuyo algoritmo de cálculo se representa en la figura 9, el contador del contador-comparador 10 sólo debe tener a su salida dos valores 00....00 ó 11....11.
Por consiguiente, el controlador no controla más que la entrada de puesta a cero y a uno del contador.
El bloque de tratamiento 36 es configurado como descontador si el código de salida es el código 00000000 y como contador si el código de salida es 11111111.
Como consecuencia, el bloque 36 efectúa la sustracción entre las frecuencias de aparición de los dos códigos extremos.
Esta diferencia es proporcional al desfase como se puede ver en la ecuación (1).
Durante esta fase, el tratamiento de los dos códigos extremos se efectúa simultáneamente no necesitando más que una trama de prueba.
Se observa en el algoritmo de cálculo de la figura 9 que los bits C1, C2, clr-A, clr-B, set-B, cod-sig y ctr, tienen respectivamente los valores 100010 y 1.
La inicialización del conjunto de los bloques es asegurada por:
-
la puesta a cero del bloque de tratamiento 36(clr-A=0)
-
la puesta a cero del contador-comparador 10 B(clr-B=0).
Entonces los bits citados pasan a los estados siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B set-B cod-sig ctr
0 0 1 1 1 0 1
Entonces el controlador espera la señal (comienzo) procedente del generador de estímulos para comenzar el cálculo del desfase.
La señal comienzo pasa a 1 y el cálculo del desfase tiene lugar. Esto continúa mientras que la señal Fin=0.
Este cálculo es asegurado por el posicionamiento del contador del contador-comparador 10 en el código 0 ó 1 (clr-B/set-B) según si In0 es igual a 0 o a 1.
A continuación se compara la salida del contador y el código de salida del CAN (In).
A continuación se incrementa o decrementa el contador 36 según el resultado y el valor de In0 y el resultado de la comparación (valor de Ini-A).
Al final del cálculo del desfase, los bits citados tienen los valores siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
Ini-A=0 y In0=1 0 1 1 1 0 0 1
Ini-A=0 y In0=0 1 0 1 0 1 0 1
Ini-A=1 0 0 1 1 1 0 1
El resultado es leído en el bloque de tratamiento o contador-descontador 36 y se toma o no el complemento de resultado según el valor de arrastre 0.
Entonces los bits citados tienen los valores respectivos siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
outA7=0 0 0 1 0 1 0 1
outA7=1 1 1 1 0 1 0 1
2. Fase de determinación de la ganancia
La fase de determinación de la ganancia va a ser descrita en referencia al algoritmo de cálculo de la ganancia representado en la figura 10.
La ganancia es calculada con la ayuda de los códigos centrales. Es necesario tratar un número de códigos lo bastante importante como para obtener una buena precisión de medida.
A este efecto, se acumula por ejemplo la frecuencia de aparición de 61 códigos repartidos entre el tercero y el sexagésimo cuarto.
Se comenzará poniendo el primer código de referencia en el contador del contador-comparador 10 (código
00000100).
Se calcula la frecuencia de aparición de este código.
A continuación, el contador es incrementado (código 00000101) y el valor de la frecuencia de aparición es añadido al anterior.
Esta operación es repetida hasta el último código a tratar (código 01000000). Entonces el resultado puede ser extraído del bloque de tratamiento 36.
Para cada código, el generador debe entregar una trama de prueba completa.
Para el ejemplo tratado aquí, la medida de la ganancia necesita 61 tramas.
Las operaciones son las siguientes.
Durante la inicialización, los bits C1, C2, clr-A, clr-B, set-B, cod-sig, crt, tienen inicialmente los valores respectivos 0001100.
Entonces se inicializa el contador-descontador 36 y el contador-comparador 10.
A continuación los bits citados pasan a los valores respectivos siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
0 0 1 1 1 1 0
Hay puesta del código de referencia en el contador del contador-comparador 10, a continuación incremento de este contador hasta el código 00000100=primer código tratado para determinar la ganancia, incremento mientras que outB2=0.
Cuando outB2=1, los bits citados toman los valores 0011110.
El sistema está en espera: el controlador 20 espera la señal (comienzo) procedente del generador de estímulos para comenzar el cálculo de la ganancia.
La señal de comienzo pasa a Comienzo=1.
Los bits citados pasan a los valores siguientes:
C1 C2 Clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
IniA=0 1 0 1 1 1 0 1
IniA=1 0 0 1 1 1 1 0
Hay cálculo de ganancia mientras que la señal Fin=0.
Hay comparación entre la salida del contador del contador-comparador 10 y el código de salida del CAN (In).
Según el resultado de esta comparación, hay incremento del contador-descontador 36.
Entonces los bits citados pasan a los valores siguientes 0011100.
Entonces se incrementa el contador del contador-comparador 10 si el código de referencia no es igual al último código a tratar (01000000) para determinar la ganancia y se vuelve a empezar sin inicializar el contador-descontador.
Cuando la señal outB6=1, los bits citados pasan a los valores siguientes:
C1 C2 Clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
outA5=0 0 0 1 0 1 0 0
outA5=1 1 1 1 0 1 0 0
Se lee el resultado en el bloque de tratamiento 36 y se toma o no el complemento del resultado según el valor de outA5.
A continuación se describe la fase de determinación de las no linealidades.
3. Fase de determinación de las no linealidades
Se comienza por las no linealidades diferenciales. La fase de determinación de las no linealidades diferenciales va a ser descrita en referencia al algoritmo de cálculo de las NLD representado en la figura 11.
El primer código a tratar es posicionado en la salida del contador-comparador 10.
La frecuencia de aparición de este código es calculada en el contador-descontador 36. A continuación, el contador-descontador 36 es inicializado y se incrementa el contador del contador-comparador 10 para situar el código siguiente y así sucesivamente.
Una trama completa (Pperíodos) de la señal de entrada es necesaria para cada código (tratamiento secuencial).
Durante la inicialización, los bits C1, C2, clr-A, clr-B, set-B, cod-sig, ctr, tienen respectivamente los valores siguientes 0000100.
Hay inicialización de los circuitos 36 y 10.
A continuación, los bits citados pasan a los valores siguientes 0011110. El controlador 20 espera la señal "comienzo" procedente del generador de estímulos (no representado) para comenzar el cálculo de las no linealidades.
Cuando las señales comienzo=1 y outB8=0, los bits citados toman los valores siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
IniA=0 1 0 1 1 1 0 1
IniA=1 0 0 1 1 1 0 1
Mientras que Fin=0, hay cálculo de las no linealidades. Hay comparación entre la salida del circuito 10 y el código de salida del CAN(In), y después incremento o no del circuito 36 según el resultado.
Cuando Fin=1, los bits citados pasan a continuación a los valores siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
outA5=0 0 0 1 1 1 0 0
outA5=1 1 1 1 1 1 0 0
Después, hay lectura del resultado en el circuito 36 y complemento o no de este resultado según el valor de outA5.
Finalmente, los bits citados toman los valores siguientes 0001100.
Entonces se incrementa el contador del contador-comparador 10 y se inicializa el contador-descontador 36 (ctr-A=0).
Las no linealidades integrales NLI son determinadas como sigue en referencia al algoritmo de cálculo representado en la figura 12.
La misma operación que para la determinación de las no linealidades diferenciales es repetida, pero sin inicializar el contador-descontador 36 antes de cada trama.
En el algoritmo de la figura 12 se observa que a la inicialización del dispositivo, los bits citados tienen los valores siguientes: 0000100.
Hay inicialización de los bloques 36 y 10 (figura 2).
A continuación, estos bits pasan respectivamente a los valores siguientes 0011110.
El controlador 20 espera la señal "comienzo" procedente del generador de estímulos para comenzar el cálculo de las no linealidades.
Si outB8=1, los bits citados pasan a los valores:
0000100. Se inicializan los bloques 36 y 10.
Si outB8=0, el controlador 20 espera la señal "comienzo" procedente del generador de estímulos para comenzar el cálculo de las no linealidades integrales.
Con la aparición de las señales de Comienzo=1 y outB8=0, los bits citados toman los valores siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
IniA=0 0 1 1 1 1 0 1
IniA=1 0 0 1 1 1 1 0
El cálculo de las no linealidades integrales tiene lugar mientras que Fin=0.
Cuando Fin=1, se compara la salida del circuito 10 con el código de salida del CAN(In) y se incrementa o no el circuito 36 según el resultado.
Entonces los bits citados tienen los valores siguientes:
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
outA7=0 0 0 1 1 1 0 0
C1 C2 clr-A clr-B Set-B Cod-sig ctr
outA7=1 1 1 1 1 1 0 0
Entonces se lee el resultado en el bloque de tratamiento o contador-descontador 36 y se complementa o no según el valor de outA5.
Los bits pasan a los valores: 0011100.
Finalmente, se incrementa el contador del contador-comparador 10.

Claims (15)

1. Procedimiento de prueba por histograma de un convertidor analógico-digital, consistente en descomponer en el tiempo, la acumulación y la explotación del histograma, caracterizado por el hecho de que utiliza recursos comunes para tratar sucesivamente las características funcionales del convertidor analógico-digital y por el hecho de que consiste en inicializar y configurar sucesivamente dichos recursos en aras a adaptarlos a la determinación de cada una de las características funcionales de dicho convertidor.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, caracterizado por el hecho de que, en un instante dado del tratamiento de una característica funcional, los recursos comunes no tienen que ver más que con un código o un grupo de códigos tratados simultáneamente.
3. Procedimiento según la reivindicación 1 ó 2, caracterizado por el hecho de que dichas características funcionales del convertidor son el desfase, la ganancia y las no linealidades.
4. Procedimiento según la reivindicación 3, caracterizado por el hecho de que la determinación del desfase es asegurada por muestreo de una señal triangular aplicada al convertidor y por cálculo a partir de dos códigos extremos resultantes del muestreo de dicha señal triangular, que son los únicos códigos modificados en el caso de un error de desfase, con la ayuda de la relación
Desfase = \frac{(H(2^{n})-H(1))\cdot A\cdot Te\cdot 2^{n}}{Tin\cdot PE}+C
en la cual:
A es la amplitud de la señal de entrada,
C es una constante conocida que tiene en cuenta el desfase de la característica ideal,
Te es el período de muestreo,
Tin es el período de la señal de entrada,
H(2^{n}) es el número de muestras para el código 111...11,
H(1) es el número de muestras para el código 000...00,
PE es la escala total del convertidor.
5. Procedimiento según una de las reivindicaciones 3 y 4, caracterizado por el hecho de que la determinación de la ganancia es asegurada por muestreo de una señal triangular aplicada al convertidor, y la formación de códigos sucesivos, comprendiendo cada uno de ellos un número de muestras de dicha señal y definiendo un paso de cuantificación qr y el cálculo del error de ganancia con la ayuda de la relación:
Error \ de \ ganancia = \frac{qr-q}{q}=\frac{Ncod\cdot 2^{n-1}\cdot A\cdot Te- PE\cdot Tin}{PE-Tin}
en la cual, A, Te, Tin, y PE representan respectivamente la amplitud de la señal de entrada, el período de muestreo, el período de la señal de entrada y la tensión de referencia del convertidor.
6. Procedimiento según una de las reivindicaciones 3 a 5, caracterizado por el hecho de que las no linealidades son no linealidades diferenciales y no linealidades integrales.
7. Procedimiento según una de las reivindicaciones 3 a 6, caracterizado por el hecho de que la determinación de las no linealidades diferenciales, que representan la diferencia con respecto al bit menos significativo LSB, de los valores analógicos correspondientes a dos códigos sucesivos, es asegurada con la ayuda de la relación:
NLD(i) = \frac{H(i)-H_{teo}}{H_{teo}}
con H_{teo} = \frac{N}{2^{n}}
siendo H(i) la frecuencia de aparición de cada código i a la salida del convertidor analógico-digital.
8. Procedimiento según una de las reivindicaciones 3 a 7, caracterizado por el hecho de que la determinación de las no linealidades integrales, que representan la diferencia con respecto al bit menos significativo LSB entre la característica real y la recta ideal, es asegurada por la relación siguiente:
NLI(i) = \sum^{i}_{j=1}NLD(j)
siendo las no linealidades integrales calculadas por acumulación de las no linealidades diferenciales.
9. Dispositivo de autoprueba de un convertidor analógico-digital para la implementación del procedimiento según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8, que comprende medios (2, 5) de aplicación al convertidor de señales de prueba, y medios de análisis (6), caracterizado por el hecho de que dichos medios de análisis comprenden recursos comunes integrados y configurables para tratar sucesivamente características funcionales del convertidor y medios (20) de configuración de dichos recursos comunes para adaptarlos a las características a tratar.
10. Dispositivo según la reivindicación 9, caracterizado por el hecho de que los medios de análisis están integrados en el mismo silicio que el convertidor analógico-digital.
11. Dispositivo según la reivindicación 9 ó 10, caracterizado por el hecho de que dichos medios de análisis comprenden un contador de un código de referencia-comparador (10) conectado a la salida del convertidor analógico-digital, un contador/descontador (36) de explotación y de almacenamiento cuya salida entrega señales relativas a las características funcionales del convertidor y un controlador (20) de gestión de las fases de prueba por medio de dicho contador-comparador (10) y de dicho contador-descontador (36).
12. Dispositivo según la reivindicación 11, caracterizado por el hecho de que dicho contador de código de referencia-comparador (10) y el contador-descontador (36) están unidos en un mismo bloque.
13. Dispositivo según la reivindicación 11, caracterizado por el hecho de que dicho contador-comparador (10) comprende un contador de ocho bits, cada una de cuyas ocho etapas comprende un conjunto de puertas (45a a 45h) a la que se asocia una báscula (46a a 46h) y un comparador que comprende para cada etapa, una puerta NOR EXCLUSIVA (47a a 47h), una de cuyas entradas está unida a la entrada (11) de recepción de las señales de salida del convertidor analógico-digital por medio de un multiplexor (48a a 48h), otra de cuyas entradas está unida por medio de una puerta NAND (49a a 49h) al borne Q de la báscula (46b) de la etapa siguiente.
14. Dispositivo según una de las reivindicaciones 9 a 11, caracterizado por el hecho de que el contador-descontador (36) comprende grupos de puertas (52a a 52f) a las cuales son asociadas básculas correspondientes (53a a 53g) y entradas (34, 35) para señales (C1, C2) de configuración del contador-descontador (36) como contador o como descontador por dicho controlador (20) de gestión de las fases de prueba.
15. Convertidor analógico-digital, caracterizado por el hecho de que comprende un dispositivo de prueba integrado según una de las reivindicaciones 9 a 14.
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