EP4288236A1 - Vorrichtung und verfahren zur laserbearbeitung eines werkstücks - Google Patents

Vorrichtung und verfahren zur laserbearbeitung eines werkstücks

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EP4288236A1
EP4288236A1 EP22701616.9A EP22701616A EP4288236A1 EP 4288236 A1 EP4288236 A1 EP 4288236A1 EP 22701616 A EP22701616 A EP 22701616A EP 4288236 A1 EP4288236 A1 EP 4288236A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
focus
shaping device
workpiece
zone
shaping
Prior art date
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Pending
Application number
EP22701616.9A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Myriam Kaiser
Daniel FLAMM
Felix Zimmermann
Jonas Kleiner
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Trumpf Laser und Systemtechnik GmbH
Original Assignee
Trumpf Laser und Systemtechnik GmbH
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Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102021108509.8A external-priority patent/DE102021108509A1/de
Application filed by Trumpf Laser und Systemtechnik GmbH filed Critical Trumpf Laser und Systemtechnik GmbH
Publication of EP4288236A1 publication Critical patent/EP4288236A1/de
Pending legal-status Critical Current

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    • B23K2103/50Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
    • B23K2103/54Glass

Definitions

  • the invention relates to a device for laser processing of a workpiece, which has a material that is transparent for laser processing.
  • the invention further relates to a method for laser processing a workpiece which has a material that is transparent for the laser processing.
  • US 2020/0147729 A1 discloses a method for forming a beveled edge area on a glass substrate by means of a laser beam, the shape of the beveled edge area being adapted by adjusting an axial energy distribution of the laser beam.
  • the invention is based on the object of providing a device mentioned at the outset and a method mentioned at the outset which can be used flexibly and in a variety of ways and by means of which, in particular, laser processing of the workpiece along different processing geometries can be carried out in a technically simple manner.
  • the device comprises a first beam shaping device with a beam splitting element for splitting a first input beam coupled into the first beam shaping device into a plurality of partial beams, and one of the first
  • the at least one focus zone can be formed with different geometries in a technically simple manner by splitting the first input beam by means of the beam splitting element based on phase imprinting and subsequent focusing of the formed partial beams.
  • the at least one focal zone can be formed in particular with different sections, each of which has a different geometry and/or a different setting angle. In this way, laser processing of the workpiece with different processing geometries can be achieved in a technically simple manner.
  • the at least one focus zone can be introduced into the material at the angle of incidence without it being necessary to position an optical system with respect to the workpiece.
  • the fact that the material modifications are associated with a change in the refractive index of the material means in particular that the material modifications are accompanied by a change in the refractive index of the material and/or that the refractive index in the material changes when the material modifications are formed.
  • the beam splitting element is designed in particular as a diffractive beam splitting element and/or as a 3D beam splitting element.
  • the beam splitting element is preferably used to impress a phase on a beam cross section of the first input beam.
  • the first input beam is split by means of the beam splitting element by pure phase manipulation of the phase of the first input beam.
  • the phase imprinting on the first input beam which is carried out by means of the beam splitting element, can be set and/or defined in a variable manner.
  • the at least one focus zone has a plurality of focus distributions and/or is formed from a plurality of focus distributions.
  • the focus distributions are arranged in the different partial areas of the focus zone.
  • Respective focus distributions of the focus zone are arranged in particular at a distance from one another in the focus zone. However, it is possible for the respective focus distributions to spatially overlap at least in sections.
  • the at least one focal zone extends in one plane.
  • the focus distributions from which the at least one focus zone is formed are preferably arranged in one plane.
  • this plane is oriented perpendicular to a feed direction in which the at least one focus zone for laser processing of the workpiece is moved relative to the workpiece.
  • each focus distribution of the at least one focus zone is assigned a lens component and/or grating component of the phase distribution imposed by the beam splitting element.
  • the imposed phase distribution comprises a plurality of superimposed lens components and/or grating components, with each focus distribution of the at least one focus zone being assigned a lens component and/or grating component.
  • the first beam-shaping device is designed as a far-field beam-shaping element or includes one or more far-field beam-shaping elements.
  • the at least one focal zone is formed, for example, by focusing partial beams decoupled from the first beam-shaping device by means of the focusing optics in the respective partial areas of the focal zone.
  • the focusing optics are designed as a microscope objective or lens element.
  • the first beam-shaping device can be rotated or is rotated about an axis parallel to a main propagation direction of the first input beam.
  • the at least one focus zone can be rotated, for example, about an axis of rotation oriented perpendicularly to a feed direction in which the at least one focus zone is moved relative to the workpiece for laser processing of the workpiece.
  • the material of the workpiece is made from a material that is transparent to a laser beam from which the at least one focal zone is formed.
  • a transparent material is to be understood in particular as a material through which at least 70% and in particular at least 80% and in particular at least 90% of a laser energy of a laser beam from which the at least one focal zone is formed is transmitted.
  • the first input beam is a first input beam coupled into the first beam shaping device and/or into the beam splitting element.
  • the material modifications produced in the material by means of the at least one focal zone are type I and/or type II modifications.
  • material modifications are produced in the material of the workpiece during laser processing, which are accompanied by a change in the refractive index of the material. at these Material modifications can be carried out, in particular, by separating the material.
  • the device comprises a second beam-shaping device for beam-shaping the first input beam coupled into the first beam-shaping device, with the second beam-shaping device providing the first input beam with a focus distribution with a defined geometric shape and/or with phase impingement on a second input beam incident on the second beam-shaping device is assigned to a defined intensity profile, so that focus distributions based on this geometric shape and/or based on this intensity profile are formed by focusing the partial beams coupled out of the first beam-shaping device using the focusing optics in different sub-areas of the focal zone.
  • a geometry of focus distributions from which the at least one focus zone is formed can be adapted. This enables a flexible and versatile use of the device.
  • the second beam-shaping device is arranged in front of the first beam-shaping device with respect to a main propagation direction of laser beams guided through the device.
  • the second input beam is in particular an input beam of the second beam-shaping device.
  • the second input beam is a laser beam provided by a laser source of the device and has, in particular, a Gaussian beam profile.
  • the first input beam is a beam coupled out of the second beam-shaping device and/or a beam provided by the second beam-shaping device.
  • the second beam-shaping device is used to modify and/or adapt a focus distribution associated with the second input beam coupled into the second beam-shaping device.
  • a means of the second Beam shaping device modified and / or adapted focus distribution assigned to the first input beam provided by the second beam shaping device.
  • the second beam-shaping device can be rotated or is rotated about an axis parallel to a main propagation direction of the second input beam.
  • the at least one focus zone can be rotated, for example, about an axis of rotation oriented perpendicularly to a feed direction in which the at least one focus zone is moved relative to the workpiece for laser processing of the workpiece.
  • the phase imprint on the second input beam is such that the focus distribution has an elongated shape with respect to an associated main extension direction, and/or that the phase imprint on the second input beam is such that the focus distribution is a quasi-non-diffractive and/or or Bessel-like intensity profile.
  • the at least one focus zone can be built up, for example, from a plurality of focus distributions with an elongated shape.
  • correspondingly elongated and/or linear material modifications can be formed, as a result of which, for example, an improved introduction of etching liquid for material separation is made possible.
  • the second beam-shaping device is or includes, in particular, a beam-shaping element for carrying out the phase imprinting, e.g. a diffractive optical element and/or an axicon element.
  • a beam-shaping element for carrying out the phase imprinting e.g. a diffractive optical element and/or an axicon element.
  • the main extension direction of the focus distribution with an elongated shape is oriented transversely and in particular perpendicularly to a feed direction in which the at least one focus zone for laser processing of the workpiece is moved relative to the workpiece.
  • Input beam is such that the focus distribution with respect to an associated Main extension direction has an intensity profile which, starting from a maximum intensity at an intensity maximum of the intensity profile, drops to l/e 2 times the maximum intensity by approximately a factor of 3 faster than is the case with a Gaussian intensity profile, and/or if the phase imprint on the second input beam is such that the focus distribution has an abrupt self-focusing beam shape and/or intensity profile.
  • the rapid drop in intensity of these focus distributions results in more precise material processing with reduced damage to the material to be processed. As a result, the material can be separated in particular with a particularly flat and/or smooth edge.
  • the drop in intensity from the maximum intensity to 1/e 2 times the maximum intensity is faster by at least a factor of 2.5 and/or faster by a factor of at most 3.5 than is the case with a Gaussian intensity profile.
  • the intensity profile has an intensity drop edge, on which the intensity drop is formed.
  • the intensity of the intensity profile in the main extension direction following the intensity drop edge is below the value of l/e 2 times the maximum intensity.
  • the intensity drop edge faces a workpiece segment during laser processing of the workpiece.
  • a particularly smooth cutting edge can be achieved when cutting the material.
  • the intensity maximum mentioned is in particular a main maximum and/or global maximum of the intensity profile.
  • the intensity profile has one or more secondary maxima, which adjoin the intensity maximum counter to the main direction of extent.
  • a respective maximum intensity of the secondary maxima decreases with increasing distance from the main maximum.
  • the secondary maxima lie in a residual workpiece segment and/or waste segment during laser processing of the workpiece.
  • cracks and/or channels can be formed in the remaining workpiece segment and/or waste segment, which favor an etching attack for material separation.
  • the main extension direction of these focus distributions is in particular oriented parallel or approximately parallel to a main propagation direction of the second input beam.
  • the second beam-shaping device is designed in particular as a near-field beam-shaping device, i.e. the focus distribution is imaged as an intermediate image in particular by means of the second beam-shaping device.
  • the intermediate image formed by means of the second beam-shaping device is in particular an image of the focus distribution which is associated with the first input beam coupled into the first beam-shaping device.
  • the device comprises far-field optics assigned to the second beam-shaping device, with the far-field optics being used to far-field focus an output beam coupled out of the second beam-shaping device into a focal plane of the far-field optics, and with the first beam-shaping device in particular being arranged in a region of this focal plane.
  • an output beam coupled out of the far-field optics corresponds to the first input beam to be coupled into the first beam-shaping device.
  • the area of the focal plane is to be understood in particular as an area extending around the focal plane, which in particular has a maximum distance of 10% of a focal length of the far-field optics from the focal plane.
  • far-field focusing of the intermediate image of the focus distribution formed by the second beam-shaping device takes place in the focal plane by means of the far-field optics.
  • the far-field optics perform a Fourier transformation of the intermediate image generated by the second beam-shaping device and/or of the focus distribution generated by the second beam-shaping device.
  • a transverse intensity distribution of the first input beam in the focal plane has a ring structure and/or a ring segment structure.
  • the far-field optics and the focusing optics form a telescope device and/or that the far-field optics and the focusing optics have a common focal plane, with the first beam-shaping device in particular being arranged in a region of this common focal plane.
  • a focal length of the far-field optics is greater than a focal length of the focusing optics.
  • the first input beam can be assigned a focus distribution with a defined geometric shape and/or with a defined intensity profile, with the partial beams coupled out of the first beam-shaping device likewise being assigned this geometric shape and/or this intensity profile is assigned, and/or focus distributions based on this geometric shape and/or based on this intensity profile being formed by focusing the partial beams coupled out of the first beam-shaping device using the focusing optics in different partial areas of the at least one focus zone.
  • the at least one focus zone can be constructed from focus distributions that are spaced apart from and/or adjacent to one another and have a defined geometry. This also results, for example, in a formation of the at least one focus zone by arranging focus distributions in a row as approximately identical copies due to beam splitting by means of the beam splitting element.
  • a defined geometric shape and/or a defined intensity profile is assigned to the first input beam, for example, by means of a laser source that provides the first input beam.
  • the assignment takes place by means of the second beam-shaping device described above.
  • the first input beam incident on the beam splitting element and/or on the first beam shaping device has a Gaussian intensity profile, e.g., when it originates directly from a laser source.
  • the at least one focus zone is then built up and/or formed from a plurality of adjacent "focus points" with a Gaussian shape and/or Gaussian intensity profile.
  • the first beam-shaping device has a beam-shaping element for modifying the focus distribution assigned to the first input beam, with the beam-shaping element being used to modify and/or align the geometric shape and/or the intensity profile of the focus distribution mapped into the at least one focus zone in a a feed direction, in which the at least one focus zone for laser processing of the workpiece is moved relative to the workpiece, occurs in a vertically oriented cross-sectional plane, and/or wherein the beam shaping element is used to modify and/or align the geometric shape and/or the intensity profile the focus distribution imaged in the at least one focus zone takes place in a cross-sectional plane oriented parallel to a feed direction in which the at least one focus zone is moved relative to the workpiece for laser processing of the workpiece.
  • the cross-sectional plane oriented parallel to the feed direction is oriented perpendicular to a main propagation direction of rays from which the focus distribution is formed.
  • the beam-shaping element of the first beam-shaping device is used in particular to modify the input beam coupled into the first beam-shaping device within and/or by means of the first beam-shaping device.
  • the beam-shaping element is or includes a diffractive or refractive beam-shaping element, and/or the beam-shaping element is or includes a diffractive field mapper.
  • wavefront aberrations defined by the beam-shaping element can be impressed on an input beam coupled into the beam-shaping element.
  • the beam-shaping element is set up in particular in such a way that the partial beams coupled out of the first beam-shaping device are assigned the focus distribution modified by means of the beam-shaping element, so that focus distributions with this modified geometric shape and /or be formed with this modified intensity profile.
  • this modified shape and/or this modified intensity distribution is based on an original shape and/or on an original intensity profile which is assigned to the first input beam.
  • a modified shape and/or modified intensity distribution is to be understood in particular as a modification based on the original shape and/or on the original intensity profile. It can be favorable if an alignment of a main extension direction of the geometric shape and/or the intensity profile of the focus distribution can be set or is adjusted by means of the beam-shaping element in a cross-sectional plane oriented perpendicularly to the feed direction, and in particular if the alignment is adjusted in such a way that the main extension direction is parallel or is oriented approximately parallel to a corresponding local extension direction of the focal zone. This makes it possible, for example, to achieve a formation of material modifications in the material of the workpiece that is oriented approximately parallel to the local extension direction of the focal zone. This enables in particular an optimized separation of the material.
  • the main extension direction encloses a smallest angle of at least 1° and/or at most 90° with the local extension direction.
  • the focus distribution lies, for example, at least in sections in a residual workpiece segment and/or waste segment that occurs during the laser processing of the workpiece.
  • material modifications and/or channels are formed, for example in the remaining workpiece segment and/or waste segment, which promote an etching attack for material separation.
  • the beam-shaping element to modify the focus distribution in the cross-sectional plane perpendicular to the feed direction in such a way that it has a main extension direction in this cross-sectional plane perpendicular to the feed direction.
  • the focus distribution is oriented perpendicularly to the feed direction by means of the beam-shaping element
  • Cross-sectional plane is modified such that it has a curved central longitudinal axis.
  • the intensity profile of the focus distribution is modified in a cross-sectional plane oriented parallel to the feed direction by means of the beam-shaping element in such a way that the intensity profile has at least one preferred direction, with the at least one preferred direction being oriented parallel or transverse or perpendicular to the feed direction.
  • the intensity profile has at least one preferred direction, with the at least one preferred direction being oriented parallel or transverse or perpendicular to the feed direction.
  • the at least one preferred direction and the feed direction lie in a common plane.
  • the intensity profile of the focus distribution in the plane parallel to the feed direction is formed, for example, elliptically or rectangularly or squarely by means of the beam-shaping element.
  • the preferred direction of a focus distribution designed as an ellipse is to be understood as meaning, for example, a major semi-axis of the ellipse.
  • the preferred direction of the focus distribution designed as an ellipse is oriented parallel or approximately parallel to the feed direction.
  • a focus distribution designed as a square or rectangle has, for example, two preferred directions which are each oriented parallel to a direction connecting two opposite points of the square. For example, one of the preferred directions is then oriented parallel to the feed direction and the other perpendicular to it.
  • the beam-shaping element of the first beam-shaping device is used to align the at least one Preferred direction of the focus distribution in the cross-sectional plane oriented parallel to the feed direction can be set or is set. In this way, it is possible in particular to control and/or optimize the formation of material modifications in the material of the workpiece during laser processing.
  • the at least one angle of incidence of the at least one focus zone is at least 1° and/or at most 90°.
  • the at least one angle of attack is preferably at least 10°.
  • the setting angle is to be understood in particular as a smallest angle between one of the local extension directions associated with the at least one focus zone and an outside of the workpiece.
  • the at least one focus zone is coupled and/or introduced through this outside into the material of the workpiece.
  • the first beam-shaping device has a polarization beam-splitting element, which is set up in such a way that the partial beams coupled out of the first beam-shaping device each have one of at least two different polarization states, with the focusing optics being used to direct partial beams with different polarization states into adjacent partial regions of the at least be focused on a focal zone.
  • the at least one focal zone can be formed by lining up focal points and/or focal distributions with different states of polarization.
  • Focus points and/or focus distributions with different states of polarization are formed in particular from mutually incoherent partial beams.
  • the focus points and/or focus distributions can be arranged and/or lined up with a particularly small distance from one another.
  • the polarization beam splitting element is used to split a beam coupled into the polarization beam splitting element into a plurality of polarized partial beams, each of which has one of at least two different polarization states.
  • the polarization beam splitting element comprises a birefringent wedge element and/or a birefringent lens element.
  • a directional offset and/or an angular offset of partial beams with different states of polarization can thus be generated, for example, before the focusing of the partial beams by means of the focusing optics.
  • the partial beams with different states of polarization can be imaged in spatially different sub-areas of the at least one focal zone.
  • the polarization beam splitting element includes a quartz crystal for polarization beam splitting.
  • a first input beam incident on the beam splitting element is divided into a plurality of partial beams by means of a beam splitting element of a first beam shaping device, and the partial beams coupled out of the first beam shaping device are divided into at least one focal zone by means of focusing optics assigned to the first beam shaping device be focused, whereby the splitting of the first input beam takes place by means of the beam splitting element by phase impingement on the first input beam, the partial beams are focused into different partial areas of the at least one focus zone to form the at least one focus zone, for laser processing of the workpiece the at least one focus zone using the focusing optics at least one angle of attack to an outside of the workpiece is introduced into the material and by acting on the M aterials are generated in the material by means of the at least one focal zone material modifications, which are associated with a change in a refractive index of the material.
  • the method according to the invention has in particular one or more features and/or advantages of the device according to the invention.
  • the method according to the invention can be carried out using the device according to the invention.
  • the device according to the invention carries out the method according to the invention.
  • the at least one focus zone is moved in a feed direction relative to the material of the workpiece.
  • a relative speed between the material and the at least one focus zone, which is oriented in the feed direction, is set or can be set.
  • material modifications are formed in the material of the workpiece along a machining line and/or machining surface by moving the at least one focal zone relative to the workpiece. In particular, this allows the workpiece to be separated along the machining line and/or machining surface.
  • the material of the workpiece can be separated or is separated along the processing line and/or processing surface by applying thermal stress and/or mechanical stress and/or by etching using at least one wet-chemical solution.
  • the etching takes place in an ultrasonically assisted etching bath.
  • the device according to the invention and/or the method according to the invention have one or more of the following features:
  • the at least one focal zone extends between two different and/or opposite outer sides of the workpiece and in particular extends continuously.
  • these outer sides are oriented parallel to one another or oriented transversely to one another. This allows the workpiece, for example, in two separate segments that are different from each other or a segment can be separated from the workpiece for edge processing. This allows the edge area to be beveled or chamfered, for example.
  • the at least one focus zone has focus distributions which are arranged in such a way that material modifications are formed in a residual workpiece segment and/or waste segment to be separated from the workpiece.
  • material modifications form, for example, channels for improved introduction of etching liquid for material separation.
  • the focus distributions of the at least one focus zone are arranged in such a way that they are arranged at least in sections in a residual workpiece segment and/or waste segment formed during the laser processing of the workpiece or at least partially protrude into a residual workpiece segment formed in the laser processing of the workpiece.
  • material modifications and/or channels can be formed in the remaining workpiece segment and/or offcut segment, which promote a supply of etching liquid to material modifications formed during laser processing. This enables improved material separation along a machining surface on which the material modifications are arranged.
  • the focus distributions of the at least one focus zone are arranged in such a way that a main maximum and/or a global maximum of the respective focus distribution faces a workpiece segment produced during the laser processing of the workpiece and/or faces away from a residual workpiece segment.
  • a good piece segment is to be understood, for example, as a useful segment (in contrast to a remaining workpiece segment and/or waste segment) that occurs when the workpiece is separated.
  • the device includes a workpiece holder for the workpiece, which preferably has a non-reflective and/or highly scattering surface.
  • the device has a laser source for providing a laser beam, from which the at least one focus zone can be formed or is formed.
  • a pulsed laser beam and/or an ultra-short pulsed laser beam is provided by the laser source.
  • the at least one focal zone is formed from an ultracourse pulsed laser beam or is provided by means of an ultracourse pulsed laser beam.
  • This ultra-short-pulse laser beam includes, in particular, ultra-short laser pulses.
  • a wavelength of the laser beam from which the at least one focus zone can be formed or is formed is at least 300 nm and/or at most 1500 nm.
  • the wavelength is 515 nm or 1030 nm.
  • the laser beam from which the at least one focus zone can be formed or is formed has an average power of at least IW to 1 kW.
  • the laser beam includes pulses with a pulse energy of at least 10 pJ and/or at most 50 mJ. It can be provided that the laser beam comprises individual pulses or bursts, the bursts having 2 to 20 sub-pulses and in particular a time interval of approximately 20 ns.
  • the at least one focal zone can be rotatable about an axis of rotation oriented perpendicularly to a feed direction in which the at least one focal zone is moved relative to the workpiece for laser processing of the workpiece.
  • the workpiece can be machined, for example, along a curved machining line and/or machining surface.
  • the at least one focal zone forms a spatially coherent interaction area for laser processing of the workpiece, in which case localized material modifications can be formed in the interaction area, in particular by subjecting the material of the workpiece to this interaction area, by means of which a separation of the material is made possible in particular.
  • cracking and/or a change in a refractive index of the material occurs between adjacent material modifications.
  • Type I is an isotropic refractive index change
  • Type II is a birefringent refractive index change
  • Type III is a so-called void.
  • the material modification produced depends on the laser parameters of the laser beam from which the focal zone is formed, such as the pulse duration, the wavelength, the pulse energy and the repetition frequency of the laser beam, and on the material properties, such as the electronic structure and the thermal expansion coefficient, as well as on the numerical aperture (NA) of focusing.
  • NA numerical aperture
  • the type I isotropic refractive index changes are attributed to localized melting caused by the laser pulses and rapid resolidification of the transparent material.
  • the density and refractive index of the material is higher when the fused silica is rapidly cooled from a higher temperature. So if the material in the focus volume melts and then cools down quickly, the quartz glass has a higher refractive index in the areas of material modification than in the unmodified areas.
  • the type II birefringent refractive index changes can arise, for example, as a result of interference between the ultrashort laser pulse and the electric field of the plasma generated by the laser pulses. This Interference leads to periodic modulations in the electron plasma density, which when solidified leads to a birefringent property, i.e. direction-dependent refractive indices, of the transparent material.
  • a type II modification is also accompanied, for example, by the formation of so-called nanogratings.
  • the voids (cavities) of the type III modifications can be generated with a high laser pulse energy, for example.
  • the formation of the voids is attributed to an explosive expansion of highly excited, vaporized material from the focus volume into the surrounding material. This process is also known as a micro-explosion. Because this expansion occurs within the bulk of the material, the microblast leaves behind a less dense or hollow core (the void), or submicron or atomic-scale microscopic defect, surrounded by a densified shell of material. Due to the compression at the impact front of the microexplosion, stresses arise in the transparent material, which can lead to spontaneous cracking or can promote cracking.
  • voids can also be associated with type I and type II modifications.
  • Type I and Type II modifications can arise in the less stressed areas around the introduced laser pulses. Therefore, if a type III modification is introduced, then in any case a less dense or hollow core or a defect is present.
  • a type III modification of sapphire the microexplosion does not create a cavity, but rather an area of lower density. Due to the material stresses that occur in a type III modification, such a modification is often accompanied by cracking or at least promotes it. The formation of type I and type II modifications cannot be completely prevented or avoided when introducing type III modifications. Finding "pure" type III modifications is therefore not likely.
  • the material cannot cool down completely between the pulses, so that cumulative effects of the introduced Heat from pulse to pulse can have an impact on the material modification.
  • the repetition frequency of the laser beam can be higher than the reciprocal of the thermal diffusion time of the material, so that heat accumulation can take place in the focal zone by successive absorption of laser energy until the melting temperature of the material is reached.
  • a larger area than the focus zone can be melted due to the thermal transport of the heat energy into the areas surrounding the focus zone.
  • the at least one focal zone comprises in particular a plurality of mutually spaced and/or adjacent focal distributions, with the focal zone being able to have interruptions and/or zero points between adjacent focal distributions, at which in particular there is no or negligible interaction with the material.
  • these interruptions in the focal zone have a spatial extent of at most 10% of a maximum extent and/or a maximum length of the focal zone.
  • these interruptions have a spatial extent of at most 100 ⁇ m and in particular at most 50 ⁇ m. If there are larger interruptions in intensity distributions, this means different focal zones.
  • the at least one focal zone has an overall length of between 50 ⁇ m and 5000 ⁇ m.
  • the focal zone is viewed in a modified intensity distribution that only has intensity values that are above a specific intensity threshold.
  • the intensity threshold is selected here, for example, in such a way that values lying below this intensity threshold have such a low intensity that they are no longer relevant for an interaction with the material for the formation of material modifications.
  • the intensity threshold is 50% of a global intensity maximum of the actual intensity distribution.
  • the terms “at least approximately” or “approximately” generally mean a deviation of at most 10%. Unless otherwise stated, the terms “at least approximately” or “approximately” mean in particular that an actual value and/or distance and/or angle deviates by no more than 10% from an ideal value and/or distance and/or angle , and/or that an actual geometric shape deviates from an ideal geometric shape by no more than 10%.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of an exemplary embodiment of a device for laser machining a workpiece
  • FIG. 2 shows a schematic representation of a further exemplary embodiment of a device for laser machining a workpiece
  • 3a shows schematic cross-sectional representations of an exemplary embodiment of a focus distribution of a focus zone for laser processing of the workpiece
  • 3b shows schematic cross-sectional representations of a further exemplary embodiment of a focus distribution of a focus zone for laser processing of the workpiece
  • 3c shows schematic cross-sectional representations of a further exemplary embodiment of a focus distribution of a focus zone for laser processing of the workpiece
  • FIG. 4a shows a schematic cross-sectional illustration of a portion of an example of a focal zone which is introduced into a material of the workpiece
  • FIG. 4b shows a schematic cross-sectional illustration of a section of a further example of a focal zone which is introduced into a material of the workpiece
  • FIG. 5 shows a schematic cross-sectional illustration of a focal zone which completely penetrates the workpiece from a first outer side to a second outer side;
  • FIG. 6 shows a schematic cross-sectional illustration of material modifications in the material of the workpiece produced by means of a focal zone, these material modifications being associated with crack formation in the material;
  • FIG. 7 shows a schematic cross-sectional illustration of material modifications in the material of the workpiece produced by means of a focal zone, these material modifications being produced by means of heat accumulation and/or being accompanied by a change in the refractive index of the material;
  • FIG. 8 shows a cross-sectional illustration of a simulated intensity distribution of an example of a focal zone which has a plurality of spaced-apart elongated focal distributions
  • FIG. 9a is a cross-sectional representation of a simulated intensity distribution of an example of an abrupt self-focusing laser beam
  • FIG. 9b shows an intensity distribution of the abruptly self-focusing laser beam according to FIG. 9a along a main extension direction of this laser beam
  • FIG. 10 is a cross-sectional representation of a simulated intensity distribution of a focal zone having a plurality of spaced apart focal distributions formed as abrupt self-focusing beams;
  • FIG. 11 is a schematic representation of a phase distribution associated with abrupt self-focusing beams
  • 13a shows a schematic perspective illustration of material modifications which are produced in the material of the workpiece along a machining line and/or machining surface
  • 13b shows a schematic representation of two segments of the workpiece, which are formed by separating the workpiece at the machining line and/or machining surface.
  • FIG. 1 An exemplary embodiment of a device for laser machining a workpiece is shown in FIG. 1 and is denoted by 100 there.
  • the device 100 can be used in a material 102 of the workpiece 104 localized material modifications, such as defects in the submicrometer range or atomic level, which result in a weakening of the material.
  • the workpiece can be separated into different segments, for example, in a subsequent step, or a segment can be separated from the workpiece 104, for example.
  • the device 100 can be used to introduce material modifications into the material 102 at an angle of attack, so that an edge region of the workpiece 104 can be chamfered or beveled by separating a corresponding segment from the workpiece 104 .
  • the device 100 comprises a first beam shaping device 106 into which a first input beam 108 is coupled.
  • This first input beam 108 is a laser beam, for example, which is provided, for example, by means of a laser source 110 and/or is coupled out of a laser source 110.
  • the first input beam 108 is to be understood, in particular, as a bundle of rays which comprises a plurality of beams running in particular in parallel.
  • the laser beam provided by the laser source 110 is in particular a pulsed laser beam and/or an ultra-short pulse laser beam.
  • the first beam shaping device 106 comprises a beam splitting element 112, by means of which the first input beam 108 is divided into a plurality of partial beams 114 and/or partial beam bundles. In the example shown in FIG. 1, two different partial beams 114a and 114b are indicated.
  • the first beam-shaping device 106 and/or the beam-splitting element 112 are each embodied as a far-field beam-shaping element, for example.
  • the device 100 comprises focusing optics 116, into which the partial beams 114 are coupled.
  • focusing optics 116 are designed as a microscope objective or lens element.
  • the partial beams 114 are focused by means of the focusing optics 116 in different partial areas 120 of a focus zone 122, which is introduced into the material 102 of the workpiece 104 for laser processing.
  • the partial area 120a is assigned to the partial beam 114a, for example, and the partial area 120b is assigned to the partial beam 114b.
  • a specific focus distribution is assigned to the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • This focus distribution is to be understood as meaning a geometric shape and/or an intensity profile which would be formed by focusing the first input beam 108 before it is coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • the first input beam 108 which is provided, for example, by means of the laser source 108, has a Gaussian beam profile.
  • a focus distribution with a Gaussian shape and/or a Gaussian intensity profile would be formed by focusing the first input beam 108 before it is coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • the form of the focus distribution means a characteristic spatial form and/or spatial extent of the focus distribution.
  • the first input beam 108 coupled into the first beam shaping device 106 is split by means of the beam splitting element 112 in such a way that the partial beams 114 are also assigned this focus distribution.
  • Focus distributions 124 are formed, these focus distributions 124 being based on the focus distribution assigned to the first input beam 108 .
  • the focus zone 122 is thereby built up and/or formed by arranging different focus distributions 124 in a row.
  • different focus distributions 124 are to be understood as meaning focus distributions 124 at different spatial positions of the focus zone 122, these different focus distributions 124 having at least approximately the same geometric shape and/or the same geometric intensity profile.
  • Different focus distributions 124 are arranged at a distance from one another in the focus zone 122 . In principle, it is possible for different focus distributions 124 that are adjacent to one another to spatially overlap.
  • focus distributions are formed as identical copies by beam splitting by means of the beam splitting element 112 , which are imaged in different partial regions 120 of the focus zone 122 .
  • the beam splitting element 112 is designed as a 3D beam splitting element.
  • the technical implementation and properties of the beam splitting element 112 reference is made to the scientific publication "Structured light for ultrafast laser micro- and nanoprocessing" by D. Flamm et al., arXiv:2012.10119vl [physics. optics], December 18, 2020.
  • a distance dl and/or a spatial offset between adjacent focus distributions 124 can be set by means of the beam splitting element 112 .
  • a distance dx and/or a spatial offset in an x-direction and a distance dz and/or a spatial offset in a z-direction oriented perpendicularly to the x-direction can be set between mutually adjacent focus distributions 124 .
  • partial beams 114 that differ from one another are formed, for example by means of the beam splitting element 112, in such a way that they impinge on the focusing optics 116 with a specific spatial offset and/or with a specific convergence and/or divergence.
  • the mutually different partial beams 114 are then imaged by means of the focusing optics 116 with a resulting spatial offset in the x-direction and/or z-direction.
  • a defined transverse phase distribution is impressed on a transverse beam cross section of the first input beam 108 in order to carry out the beam splitting by means of the beam splitting element 112 .
  • Examples of transverse phase distributions of beams coupled out of the beam splitting element 112 and associated focus zones 112 are shown, for example, in FIGS. 12a, b and 12c, d and 12e, f.
  • the phase is impressed by means of the beam splitting element 112, for example in such a way that the assigned phase distribution for each focus distribution 124 has a specific optical grating component and/or optical lens component. Due to the optical grating portion, there is an angular deflection of partial beams 114 in front of the focusing optics 116, which results in a spatial offset in the x-direction after focusing has taken place. Due to the optical lens component, partial beams 116 with different convergence and/or divergence impinge on the focusing optics 116, which results in a spatial offset in the z-direction after focusing has taken place.
  • a polarization beam splitting of the first input beam 108 and/or a beam coupled out of the beam splitting element 112 is carried out by means of the polarization beam splitting element 126 into beams which each have one of at least two different polarization states.
  • Partial beams 114 each have one of at least two different polarization states. These partial beams 114 with different states of polarization are focused into the different partial regions 120 of the focal zone 122 by means of the focusing optics 116 .
  • the polarization beam splitting element 126 is arranged in front of or behind the beam splitting element 116 with respect to a main propagation direction 128 of the first input beam 108 coupled into the first beam shaping device 106 .
  • the main propagation direction 128 is oriented parallel or approximately parallel to the z-direction.
  • the x-direction and the z-direction are each oriented perpendicular to a y-direction.
  • this y-direction is oriented parallel or approximately parallel to a feed direction 129 in which the focus distributions 124 for laser processing of the workpiece 104 are moved relative to the workpiece 104 .
  • the polarization states of the partial beams 114 are linear polarization states, with two different polarization states being provided, for example, and/or with the respective polarization directions of partial beams that are different from one another being aligned at an angle of 90° to one another.
  • the partial beams 114 are polarized in such a way that an electric field is oriented in a plane perpendicular to their direction of propagation (transversally electric).
  • the polarization beam splitting element 126 has, for example, a birefringent lens element and/or a birefringent wedge element.
  • the birefringent lens element and/or the birefringent wedge element are made of, for example, a quartz crystal or comprise a quartz crystal.
  • the birefringent lens element is used, for example, to form partial beams 114 with different polarization states in such a way that they are imaged with a spatial offset in the z-direction and/or x-direction by focusing using the focusing optics 116 .
  • focus distributions 124 formed from partial beams 114 with different polarization states can be arranged in the focus zone 122 with a spatial offset in the z-direction and/or x-direction.
  • polarization beam splitting element 126 By means of the polarization beam splitting element 126, for example, a series of focus distributions 124 can be implemented in the focus zone 122, wherein mutually adjacent focus distributions 124 are each formed from partial beams 114 with different polarization states.
  • the first beam-shaping device 106 has a beam-shaping element 130, by means of which the focus distribution assigned to the first input beam 108 can be modified after it has been coupled into the first beam-shaping device 106.
  • the beam-shaping element 130 is defined, for example, as a diffractive or refractive phase element for impressing
  • the beam-shaping element 130 is designed as a diffractive field mapper.
  • the beam-shaping element 130 is arranged in front of or behind the beam-splitting element 112 with respect to the main propagation direction 128 of the first input beam 108 .
  • the beam shaping element 130 is arranged between the beam splitting element 112 and the polarization beam splitting element 126 .
  • the input beam 108 is first processed with the beam splitting element 112 and then with the beam shaping element 130 and/or with the polarization beam splitting element 126.
  • a geometric shape and/or an intensity profile of the focus distributions 124 imaged in the focus zone 122 can be modified by means of the beam-shaping element 130 .
  • a modification of the focus distributions 124 of the focus zone 122 by means of the beam-shaping element 130 can take place in a cross-sectional plane parallel to the feed direction 129, with this cross-sectional plane being oriented in particular perpendicular to the main propagation direction 128 and/or perpendicular to the z-direction (Fig. 3a, 3b and 3c ).
  • the focus distributions 124 of the focus zone 122 can be modified by means of the beam-shaping element 130 in a cross-sectional plane perpendicular to the feed direction 129 (FIGS. 4a and 4b).
  • this cross-sectional plane is oriented parallel to the x-direction and parallel to the main propagation direction 128 and/or z-direction.
  • the focus distribution 124 is modified, for example, in such a way that the shape and/or the intensity profile of the focus distribution 124 has a preferred direction 132 in this cross-sectional plane.
  • This preferred direction 132 is to be understood in particular as a direction in which an extension length of the focus distribution 124 is maximized locally or globally.
  • the preferred direction 132 is to be understood as meaning a main extension direction of the focus distribution 124 .
  • the focus distribution 124 in the plane parallel to the feed direction 129 is elliptical and/or embodied as an ellipse.
  • the preferred direction 132 is oriented parallel to a major semi-axis of this ellipse.
  • the focus distribution 124 it is also possible for the focus distribution 124 to have a plurality of preferred directions 132 .
  • the focus distribution 124 in the plane parallel to the feed direction 129 is rectangular and/or rectangular and in particular square.
  • the focus distribution 124 has a first preferred direction 132'a, which is oriented, for example, parallel to the x-direction, and a second preferred direction 132'b, which is oriented, for example, transverse and in particular perpendicular to the x-direction, i.e. in the shown Example parallel to the y-direction.
  • first preferred direction 132'a and the second preferred direction 132'b are each parallel to connecting lines between opposite corners of the rectangle.
  • the focus distribution 124 has, for example, a main extension direction 134 along which the focus distribution 124 has in particular a greatest length and/or in particular a greatest extent in the cross-sectional plane oriented perpendicularly to the feed direction 129 (see also Fig. 3c).
  • the direction of main extent 134 is oriented parallel to a connecting line between a starting point and an end point of the focus distribution 124 with respect to a direction of greatest extent of the focus distribution 124 .
  • an alignment 136 and/or orientation of the focus distribution 124 in the cross-sectional plane oriented perpendicularly to the feed direction 129 can be adjusted by means of the beam-shaping element 130, with the alignment 136 of the respective main extension direction 134 of the focus distribution 124 being adjustable, for example.
  • the alignment 136 of the respective focus distribution 124 in the x-z plane is adjustable.
  • the respective alignment 136 of the focus distributions 124 is adjusted by means of the beam-shaping element 130, for example, in such a way that the alignment 136 is oriented parallel or approximately parallel to a local direction of extension 138 of the focus zone 122 associated with the respective focus distribution 124 .
  • the local extension direction 138 of the focus zone 122 is to be understood, for example, as a local distance direction from adjacent focus distributions 124, for example from two or three adjacent focus distributions 124.
  • the focus distributions 124 of the focus zone 122 can be arranged, for example, in different sections of the focus zone 122 with different local directions of extension 138 .
  • the focus distribution 124 can be provided with a curved shape, for example, by adaptation using the beam-shaping element 130 (FIG. 4b).
  • the focus distribution 124 can thereby be generated as a curved Bessel-like beam and/or as an accelerated Bessel-like beam.
  • the focus distribution 124 has a longitudinal central axis 140 along which it extends.
  • This longitudinal central axis 140 is, for example, formed in a straight line (FIG. 4a).
  • the longitudinal center axis 140 has a curved shape or a shape that is curved in sections (FIG. 4b).
  • the focus distributions 124 assigned to the focus zone 122 are arranged by means of the first beam shaping device 106 along a longitudinal axis 142 of the focus zone 122, which is, for example, rectilinear (FIGS. 4a and 4b).
  • the longitudinal axis 142 is not necessarily formed in a straight line and/or continuously.
  • the longitudinal axis 142 can be curved at least in sections. It is also possible for the longitudinal axis 142 to have changes of direction and, in particular, discontinuous changes of direction.
  • the focal zone 122 in the material 102 of the workpiece 104 extends from a first outer side 144 of the workpiece 104 to a second outer side 146 of the workpiece 104, the second outer side 146 relative to a depth direction 148 of the workpiece 104 the first outside 144 is spaced.
  • the focus zone 122 runs through the workpiece 104 completely and/or without interruption in the depth direction 144 .
  • the first outside 144 and the second outside 146 of the workpiece 104 are oriented parallel or approximately parallel to one another, for example.
  • the focal zone 122 is introduced and/or coupled into the material 102 of the workpiece 104, for example through the first outer side 144 or through the second outer side 146.
  • the focus zone 122 has a first section 150 emanating from the first outer side 144 , which is adjoined by a second section 152 of the focus zone 122 in the depth direction 148 .
  • the focal zone 122 has a third section 154 following this second section 152 in the depth direction 148 .
  • the longitudinal axis 142 of the focal zone 122 is rectilinear in each of the sections 150, 152 and 154, with the longitudinal axis 142 being at the transitions from the first section 150 to the second section 152 and from the second section 152 to the third section 154 in particular has a change of direction in each case.
  • Each of these sections 150, 152 and 154 is assigned a different local extension direction 138 with which the focus distributions 122 are arranged.
  • each of the sections 150, 152 and 154 is assigned a specific angle of attack ⁇ .
  • This angle of attack o is understood to mean a smallest angle between the local extension direction 138 of the corresponding section 150, 152, 154 and the first outer side 144 and/or second outer side 146.
  • first section 150 and the third section 154 have an angle of attack ⁇ of 45° and the second section 152 has an angle of attack ⁇ of 90°.
  • the material 102 of the workpiece 104 is made of transparent material for a wavelength of laser beams from which the focus zone 122 and/or the focus distributions 124 are formed.
  • the focal zone 122 is introduced into the material 102 for the laser processing of the material 102 .
  • localized material modifications 156 are formed on the focal distributions 124 (FIG. 6), which, for example, along the longitudinal axis 142 of the focal zone 122 are arranged at a distance from one another.
  • the material modifications 156 can be produced as type III modifications, which lead to the spontaneous formation of cracks 157 in the material 102 (FIG. 6).
  • the cracks 157 formed during the laser processing of the material 102 extend in particular between adjacent material modifications 156.
  • the feed rate is a speed of a relative movement between the focus zone 122 and the material 102 in the feed direction 129 .
  • the material modifications 156 as type I and/or type II modifications by suitably selecting the processing parameters, which are associated with heat accumulation in the material 102 and/or with a change in a refractive index of the material 102 .
  • the formation of the material modifications 156 as Type I and/or Type II modifications is associated with heat accumulation in the material 102 of the workpiece 104 .
  • the material modifications 156 produced are so close to one another in this case that this accumulation of heat occurs when the material 102 is acted upon by the focal zone 122 (indicated in FIG. 7).
  • the device 100 comprises a second beam-shaping device 158 which is arranged in front of this first beam-shaping device 106 with respect to the main propagation direction 128 of the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • the focus distribution assigned to the first input beam 108 can be adapted by means of the second beam-shaping device 158 before it is coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • a second input beam 160 is coupled into the second beam-shaping device 158, which is provided in particular by means of the laser source 110 and/or is a laser beam coupled out of the laser source 100.
  • the second input beam 160 is therefore to be understood in particular as a bundle of rays which comprises a plurality of rays, in particular running parallel.
  • the first input beam 128 coupled into the first beam-shaping device 106 is a beam coupled out of the second beam-shaping device 158 and/or a beam bundle coupled out of the second beam-shaping device 158 .
  • the second beam-shaping device 158 applies a phase to the second input beam 160, as a result of which the focus distribution associated with the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106 is defined.
  • the geometric shape and/or the intensity profile of the focus distribution assigned to the first input beam 108 can be defined by means of the second beam shaping device 158 .
  • the second input beam 160 coupled into the second beam-shaping device 158 has, for example, a Gaussian beam profile, i.e. the second input beam 160 has a Gaussian shape and/or a Gaussian intensity profile.
  • the second beam-shaping device 158 is set up and configured such that the second beam-shaping device 158 is used to assign a quasi-non-diffracting and/or Bessel-like beam profile to the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • the first input beam 108 can be imaged in particular in a focus distribution with a quasi-non-diffracting and/or Bessel-like beam profile.
  • the focus distribution 124 mapped into the focal zone 122 has an elongated shape and/or an elongated intensity profile (FIGS. 2 and 8).
  • the focus distribution 124 in this embodiment has a main extension direction 162 along which it extends.
  • the second beam shaping device 158 is or includes a diffractive optical element and/or an axicon element for impressing the phase distribution on the second input beam 160 to form the focus distribution 124 with an elongated shape and/or elongated intensity profile.
  • the first input beam 108 provided by the second beam-shaping device 158 in this specific embodiment is coupled into the first beam-shaping device 106 .
  • this first input beam 108 is divided into mutually different partial beams 114 by means of the beam splitting element 112 of the first beam shaping device 106 , which are imaged in the different partial regions 120 of the focal zone 122 by means of the focusing optics 116 .
  • Focus distributions 124 imaged in focus zone 122 by means of focusing optics 116 represent, in terms of their shape and/or their intensity profile, copies of the focus distribution assigned to first input beam 108, with focusing by means of focusing optics 116 in particular resulting in reduced imaging of focus distributions 124.
  • FIG. 8 An example of focus distributions 124 with an elongated shape and/or elongated intensity profile that are imaged into the focal zone 122 by means of the focusing optics 116 is shown in FIG. 8 as a gray scale distribution, with lighter gray scale values standing for greater intensities.
  • the focus distributions 124 are oriented transversely to the longitudinal axis 142 and/or to the local direction of extension 138 . It can be provided that in the first beam shaping device 106, as described above, beam shaping is carried out by means of the beam shaping element 130 and/or beam splitting by means of the polarization beam splitting element 126.
  • the shape and/or intensity profile of the focus distributions 124 imaged by the focusing optics 116 are based on the focus distribution assigned to the first input beam 108, but due to the processing by the beam-shaping element 130 and/or the polarization beam-splitting element 126 they point in comparison to that of the first Input beam 108 associated focus distribution has a modified shape and / or modified polarization properties.
  • the second beam-shaping device 158 is set up and configured such that the second beam-shaping device 158 is used to assign a beam profile to the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106, the intensity profile of which is based on an intensity maximum 164 with respect to a main extension direction 166 and/or main extension axis exhibits an abrupt drop in intensity ( Figures 9a and 9b). Such beams are referred to, for example, as abrupt self-focusing beams.
  • the focus zone 122 can be formed from a plurality of focus distributions 124 with such an intensity profile by imaging the partial beams 114 coupled out of the first beam-shaping device 106 (FIG. 10).
  • the intensity profile of each of the focus distributions 124 of the focus zone 122 then has the abrupt drop in intensity.
  • a grayscale representation of an associated two-dimensional phase distribution of beams coupled out of the second beam-shaping device 158 is shown in FIG. 11, with the associated grayscale scale ranging from white (phase +Pi) to black (phase -Pi).
  • phase distribution is radially symmetrical with respect to an associated center axis 167 and/or beam center axis and/or rotationally symmetrical.
  • This central axis 167 is oriented, for example, parallel or approximately parallel to a main propagation direction 267 of the second input beam 160 incident on the second beam-shaping device 158 .
  • a phase frequency associated with the phase distribution increases in the radial direction 367 starting from the central axis 167 with an increasing radial distance from the central axis 167 .
  • the first input beam 108 coupled into the first beam-shaping device 106 is assigned a shape and/or an intensity profile of an abruptly self-focusing beam.
  • the focus distribution 124 has an intensity drop edge 165 starting from the intensity maximum 164 in the main extension direction 166.
  • the intensity maximum 164 is a main maximum and/or global maximum of the intensity profile of the abrupt self-focusing beam.
  • the intensity profile has one or more secondary maxima 164a, which, starting from the intensity maximum 164, follow the intensity maximum 164 counter to the main extension direction 166.
  • the secondary maxima 164 with increasing distance from Intensity maximum 164 with respect to the main extension direction 166 has lower maximum intensity values.
  • the second beam-shaping device 158 can be in the form of a near-field beam-shaping device.
  • an intermediate image 168 (indicated in FIG. 2 ) of the focus distribution assigned to the first input beam 108 is formed by means of the second beam shaping device 158 .
  • This intermediate image 168 is arranged between the second beam-shaping device 158 and the first beam-shaping device 106 with respect to the main propagation direction 128 of the first input beam 108 .
  • the second beam-shaping device 158 is assigned far-field optics 170, by means of which far-field focusing of an output beam 172 and/or output beam bundle coupled out of the second beam-shaping device 158 into a focal plane 174 of the far-field optics 170 takes place.
  • the far-field optics 170 are used to focus the intermediate image 168 far-field into the focal plane 174.
  • An intensity distribution in the form of a ring structure and/or ring segment structure is formed in this focal plane 174 by the far-field focusing of the output beam 172 and/or output beam bundle, which is arranged in particular around an optical axis 176 of the far-field optics 170 .
  • a telescope device 178 of the device 100 is formed by means of the far-field optics 170 and the focusing optics 116 .
  • the far-field optics 170 have, in particular, a greater focal length than the focusing optics 116.
  • the focal plane 174 is in particular a common focal plane of the far-field optics 170 and the focusing optics 116.
  • the focal plane 174 is a focal plane of the telescope device 178.
  • the first beam-shaping device 106 is arranged in particular in the focal plane 174 and/or in a region of the focal plane 174. This area is understood to be an area that extends around the focal plane 174 and has a maximum distance of 10% of the focal length of the far-field optics 170 from the focal plane 174, for example. A distance direction of this maximum distance is in particular oriented parallel to the optical axis 176 and/or to the main propagation direction 128 of the first input beam 108 .
  • the region of focal plane 174 mentioned is to be understood in particular as a far-field region of telescope device 178 in which, in particular, there is a far-field focusing of output beam 172 coupled out of second beam-shaping device 158 and/or of first input beam 108 to be coupled into first beam-shaping device 106.
  • the beam splitting element 112 of the device 100 it is basically possible to arrange the focus distributions 124 along different paths and thereby form focus zones with different geometries.
  • the focus distributions 124 are arranged along the longitudinal axis 142 of the focus zone 122, with the longitudinal axis 142 being formed in a straight line.
  • the focal zone 122 is assigned, for example, a single angle of incidence ⁇ , with which the focal zone 122 is angled with respect to the first outer side 144 and/or the second outer side 146 .
  • the focus zone 122 in this exemplary embodiment has the same local direction of extent 138 throughout, i.e. the local direction of extent 138 is constant in particular over the entire extent of the focus zone 122.
  • the focus zone 122 has a first section 180 and a second section 182, the focus distributions 124 of the focus zone 122 in the first section 180 and in the second section 182 each having a different local Extension direction 138 are arranged.
  • the focal zone 122 has the same local direction of extent 138 throughout in the first section 180 and in the second section 182 .
  • the focal zone 122 in the first section 180 and in the second section 182 has the same angle of incidence ⁇ , at which the focal zone 122 is angled with respect to the first outer side 144 and/or the second outer side 146 .
  • a smallest angle between the respective local direction of extent 138 of the first section 180 and the second section 182 is then twice as large as the angle of attack o.
  • the longitudinal axis 142 of the focal zone 122, along which the focal distributions 124 are arranged, is not necessarily formed in a straight line.
  • the longitudinal axis 142 has a curved shape at least in sections.
  • the focal zone 122 has a continuously curved shape.
  • the focus zone 122 then has a varying local direction of extent 138, i.e. the local direction of extent 138 of the focus zone 122 is different at different positions of the focus zone 122 and/or at different focus distributions 124 of the focus zone 122.
  • Figures 12b, 12d and 12f each show a phase distribution of beams coupled out of beam splitting element 112, associated with figures 12a, 12c and 12e, with the associated gray scale ranging from white (phase +Pi) to black (phase -Pi).
  • the device 100 according to the invention works as follows:
  • the material 102 of the workpiece 104 is acted upon by the focal zone 122 and the focal zone 122 is moved in the feed direction 129 relative to the workpiece 104 through its material 102 .
  • the material 102 is in particular a material that is transparent or partially transparent for a wavelength of rays from which the focal zone 122 is formed.
  • the material 102 is a glass material.
  • the focal zone 122 is moved through the material 102 of the workpiece 104 along a predefined processing line 184 and/or processing surface, for example.
  • the processing line 184 can have straight and/or curved sections, for example.
  • modification lines 186 are formed in the material, on which the material modifications 156 are arranged, these modification lines 186 in particular having a shape corresponding to the longitudinal axis 142 of the focal zone 122 .
  • the modification lines 186 extend from the first outer side 144 to the second outer side 146.
  • a plurality of modification lines 186 are formed, which are positioned parallel to the feed direction 129 at a distance. This results in particular in a planar formation of material modifications 156 in the material 102 (FIG. 13a).
  • a distance between modification lines 186 that are adjacent in feed direction 129 can be defined, for example, by suitably selecting a pulse duration of a laser beam from which focal zone 122 is formed and/or a feed rate oriented in feed direction 129 .
  • the material modifications 156 formed along the processing line 184 and/or processing surface result in particular in a reduction in the strength of the material 102 .
  • segment 188b is a good item segment with a desired edge shape.
  • segment 188a is a residual workpiece segment and/or waste segment.
  • the material 102 is preferably acted upon by the focal zone 122 in such a way that the focal zone 122 penetrates the material 102 .
  • the focal zone 122 extends continuously and/or without interruption through the material 102 over an entire thickness D of the material 102. As a result, for example, as shown in FIGS. 13a and 13b, a complete separation of the material over its thickness D can be achieved .
  • an edge region 190 of the material 102 by means of the focal zone 122 (indicated in FIG. 13a).
  • the focus zone 122 then extends continuously and/or without interruption between outer sides of the workpiece 104 oriented transversely to one another.
  • An edge segment can thereby be separated from the workpiece 104 in the edge region 190, for example.
  • the workpiece 104 can be beveled and/or chamfered in the edge region 190, for example.
  • the material 102 of the workpiece 104 is quartz glass, for example.
  • a laser beam from which the focus distributions 124 of the focus zone 122 are formed has a wavelength of 1030 nm and a pulse duration of 1 ps. Furthermore, a numerical aperture assigned to the focusing optics 116 is 0.4 and a pulse energy assigned to a single focus distribution 124 is 100 nJ.
  • the pulse energy assigned to a single focus distribution 124 is 1000 nJ.
  • Telescopic device first section second section processing line modification line a segment b segment edge area

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks (104), welches ein für die Laserbearbeitung transparentes Material (102) aufweist, umfassend eine erste Strahlformungseinrichtung (106) mit einem Strahlteilungselement (112) zur Aufteilung eines in die erste Strahlformungseinrichtung (106) eingekoppelten ersten Eingangsstrahls (108) in eine Mehrzahl von Teilstrahlen (114), und eine der ersten Strahlformungseinrichtung (106) zugeordnete Fokussieroptik (116) zur Abbildung von aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) in mindestens eine Fokuszone (122), wobei die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls (108) mittels dem Strahlteilungselement (112) durch Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl (108) erfolgt, die Teilstrahlen (114) zur Ausbildung der mindestens einen Fokuszone (122) in unterschiedliche Teilbereiche (120) der mindestens einen Fokuszone (122) fokussiert werden, zur Laserbearbeitung des Werkstücks (104) die mindestens eine Fokuszone (122) mittels der Fokussieroptik (116) unter mindestens einem Anstellwinkel (α) zu einer Außenseite (144; 146) des Werkstücks (104) in das Material (102) eingebracht wird und wobei durch Beaufschlagung des Materials (102) mittels der mindestens einen Fokuszone (122) Materialmodifikationen (156) in dem Material (102) erzeugt werden, welche mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials (102) assoziiert sind.

Description

Vorrichtung und Verfahren zur Laserbearbeitung eines Werkstücks
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks, welches ein für die Laserbearbeitung transparentes Material aufweist.
Weiter betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Laserbearbeitung eines Werkstücks, welches ein für die Laserbearbeitung transparentes Material aufweist.
Aus der US 2020/0147729 Al ist ein Verfahren zur Ausbildung eines abgeschrägten Kantenbereichs an einem Glassubstrat mittels eines Laserstrahls bekannt, wobei eine Form des abgeschrägten Kantenbereichs durch Anpassung einer axialen Energieverteilung des Laserstrahls angepasst wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine eingangs genannte Vorrichtung und ein eingangs genanntes Verfahren bereitzustellen, welche flexibel und vielseitig einsetzbar sind und mittels welchen insbesondere eine Laserbearbeitung des Werkstücks entlang unterschiedlicher Bearbeitungsgeometrien auf technisch einfache Weise durchführbar ist.
Diese Aufgabe wird bei der eingangs genannten Vorrichtung erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass die Vorrichtung eine erste Strahlformungseinrichtung mit einem Strahlteilungselement zur Aufteilung eines in die erste Strahlformungseinrichtung eingekoppelten ersten Eingangsstrahls in eine Mehrzahl von Teilstrahlen umfasst, und eine der ersten
Strahlformungseinrichtung zugeordnete Fokussieroptik zur Abbildung von aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen in mindestens eine Fokuszone, wobei die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls mittels dem Strahlteilungselement durch Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl erfolgt, die Teilstrahlen zur Ausbildung der mindestens einen Fokuszone in unterschiedliche Teilbereiche der mindestens einen Fokuszone fokussiert werden, zur Laserbearbeitung des Werkstücks die mindestens eine Fokuszone mittels der Fokussieroptik unter mindestens einem Anstellwinkel zu einer Außenseite des Werkstücks in das Material eingebracht wird und wobei durch Beaufschlagung des Materials mittels der mindestens einen Fokuszone Materialmodifikationen in dem Material erzeugt werden, welche mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials assoziiert sind.
Durch Aufteilung des ersten Eingangsstrahls mittels dem Strahlteilungselement basierend auf Phasenaufprägung und anschließendes Fokussieren der ausgebildeten Teilstrahlen lässt sich die mindestens eine Fokuszone auf technisch einfache Weise mit unterschiedlichen Geometrien ausbilden. Die mindestens eine Fokuszone lässt sich dadurch insbesondere mit unterschiedlichen Abschnitten ausbilden, welche jeweils eine unterschiedliche Geometrie und/oder einen unterschiedlichen Anstellwinkel aufweisen. Es lässt sich dadurch auf technisch einfache Weise eine Laserbearbeitung des Werkstücks mit unterschiedlichen Bearbeitungsgeometrien erreichen.
Bei der erfindungsgemäßen Lösung lässt sich insbesondere die mindestens eine Fokuszone unter dem Anstellwinkel in das Material einbringen, ohne dass hierfür ein Anstellen einer Optik bezüglich dem Werkstück erforderlich ist.
Darunter, dass die Materialmodifikationen mit einer Änderung des Brechungsindex des Materials assoziiert sind, ist insbesondere zu verstehen, dass die Materialmodifikationen mit einer Änderung des Brechungsindex des Materials einhergehen und/oder dass bei Ausbildung der Materialmodifikationen eine Änderung des Brechungsindex im Material erfolgt.
Das Strahlteilungselement ist insbesondere als diffraktives Strahlteilungselement ausgebildet und/oder als 3D-Strahlteilungselement ausgebildet. Mittels dem Strahlteilungselement erfolgt vorzugsweise eine Phasenaufprägung auf einen Strahlquerschnitt des ersten Eingangsstrahls.
Insbesondere erfolgt die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls mittels dem Strahlteilungselement durch reine Phasenmanipulation der Phase des ersten Eingangsstrahls. Insbesondere ist die mittels dem Strahlteilungselement durchgeführte Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl variabel einstellbar und/oder definierbar. Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die mindestens eine Fokuszone eine Mehrzahl von Fokusverteilungen aufweist und/oder aus einer Mehrzahl von Fokusverteilungen gebildet ist. Beispielsweise sind die Fokusverteilungen in den unterschiedlichen Teilbereichen der Fokuszone angeordnet.
Jeweilige Fokusverteilungen der Fokuszone sind in der Fokuszone insbesondere zueinander beabstandet angeordnet. Es ist allerdings möglich, dass sich die jeweiligen Fokusverteilungen zumindest abschnittsweise räumlich überlappen.
Insbesondere erstreckt sich die mindestens eine Fokuszone in einer Ebene. Vorzugsweise sind die Fokusverteilungen, aus welchen die mindestens eine Fokuszone gebildet ist, in einer Ebene angeordnet. Insbesondere ist diese Ebene senkrecht zu einer Vorschubrichtung orientiert, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird.
Insbesondere ist jeder Fokusverteilung der mindestens einen Fokuszone ein Linsenanteil und/oder Gitteranteil der mittels dem Strahlteilungselement aufgeprägten Phasenverteilung zugeordnet. Insbesondere umfasst die aufgeprägte Phasenverteilung eine Mehrzahl überlagerter Linsenanteile und/oder Gitteranteile, wobei jeder Fokusverteilung der mindestens einen Fokuszone ein Linsenanteil und/oder Gitteranteil zugeordnet ist. Es lassen sich dadurch unterschiedliche Fokusverteilungen der Fokuszone mit einem Ortsversatz in einer zu einer Vorschubrichtung, in welche die Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, senkrecht orientierten Ebene anordnen.
Beispielsweise ist die erste Strahlformungseinrichtung als Fernfeldstrahlformungselement ausgebildet oder umfasst ein oder mehrere Fernfeldstrahlformungselemente. Die mindestens eine Fokuszone wird beispielsweise durch Fokussierung von aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen mittels der Fokussieroptik in die jeweiligen Teilbereiche der Fokuszone ausgebildet. Beispielsweise ist die Fokussieroptik als Mikroskopobjektiv oder Linsenelement ausgebildet.
Bei einer Ausführungsform kann es vorgesehen sein, dass die erste Strahlformungseinrichtung um eine zu einer Haupt-Propagationsrichtung des ersten Eingangsstrahls parallele Achse drehbar ist oder gedreht wird. Es lässt sich dadurch die mindestens eine Fokuszone beispielsweise um eine zu einer Vorschubrichtung, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, senkrecht orientierte Drehachse drehen.
Es kann vorgesehen sein, dass die Fokussieroptik in die erste Strahlformungseinrichtung integriert ist und/oder dass die Fokussieroptik Teil der ersten Strahlformungseinrichtung ist und/oder dass eine Funktionalität der Fokussieroptik in die erste Strahlformungseinrichtung integriert ist.
Insbesondere ist das Material des Werkstücks aus einem für einen Laserstrahl, aus welchem die mindestens eine Fokuszone gebildet ist, transparenten Material hergestellt.
Unter einem transparenten Material ist insbesondere ein Material zu verstehen, durch welches mindestens 70 % und insbesondere mindestens 80 % und insbesondere mindestens 90 % einer Laserenergie eines Laserstrahls, aus welchem die mindestens eine Fokuszone gebildet ist, transmittiert wird.
Insbesondere ist der erste Eingangsstrahl ein in die erste Strahlformungseinrichtung und/oder in das Strahlteilungselement eingekoppelter erster Eingangsstrahl.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die mittels der mindestens einen Fokuszone in dem Material erzeugten Materialmodifikationen Typ I und/oder Typ II Modifikationen sind. Es werden dadurch bei der Laserbearbeitung Materialmodifikationen im Material des Werkstücks erzeugt, welche mit einer Änderung des Brechungsindex des Materials einhergehen. An diesen Materialmodifikationen lässt sich insbesondere eine Trennung des Materials durchführen.
Bei einer Ausführungsform umfasst die Vorrichtung eine zweite Strahlformungseinrichtung zur Strahlformung des in die erste Strahlformungseinrichtung eingekoppelten ersten Eingangsstrahls, wobei mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung durch Phasenaufprägung auf einen auf die zweite Strahlformungseinrichtung einfallenden zweiten Eingangsstrahl dem ersten Eingangsstrahl eine Fokusverteilung mit einer definierten geometrischen Form und/oder mit einem definierten Intensitätsprofil zugeordnet wird, sodass durch Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen mittels der Fokussieroptik in unterschiedlichen Teilbereichen der Fokuszone jeweils Fokusverteilungen basierend auf dieser geometrischen Form und/oder basierend auf diesem Intensitätsprofil ausgebildet werden. Es lässt sich dadurch eine Geometrie von Fokusverteilungen, aus welchen die mindestens eine Fokuszone gebildet ist, anpassen. Dadurch wird ein flexibler und vielseitiger Einsatz der Vorrichtung ermöglicht.
Insbesondere ist die zweite Strahlformungseinrichtung bezüglich einer Haupt- Propagationsrichtung von durch die Vorrichtung geführten Laserstrahlen vor der ersten Strahlformungseinrichtung angeordnet.
Der zweite Eingangsstrahl ist insbesondere ein Eingangsstrahl der zweiten Strahlformungseinrichtung. Beispielsweise ist der zweite Eingangsstrahl ein von einer Laserquelle der Vorrichtung bereitgestellter Laserstrahl mit insbesondere gaußförmigem Strahlprofil.
Insbesondere ist der erste Eingangsstrahl ein aus der zweiten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelter Strahl und/oder ein mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung bereitgestellter strahl.
Insbesondere erfolgt mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung eine Modifikation und/oder Anpassung einer dem in die zweite Strahlformungseinrichtung eingekoppelten zweiten Eingangsstrahl zugeordneten Fokusverteilung. Insbesondere wird eine mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung modifizierte und/oder angepasste Fokusverteilung dem mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung bereitgestellten ersten Eingangsstrahl zugeordnet.
Bei einer Ausführungsform kann es vorgesehen sein, dass die zweite Strahlformungseinrichtung um eine zu einer Haupt-Propagationsrichtung des zweiten Eingangsstrahls parallele Achse drehbar ist oder gedreht wird. Es lässt sich dadurch die mindestens eine Fokuszone beispielsweise um eine zu einer Vorschubrichtung, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, senkrecht orientierte Drehachse drehen.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl derart ist, dass die Fokusverteilung bezüglich einer zugeordneten Haupterstreckungsrichtung eine langgezogene Form aufweist, und/oder dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl derart ist, dass die Fokusverteilung ein quasi-nichtbeugendes und/oder Bessel-artiges Intensitätsprofil aufweist. Es lässt sich dadurch die mindestens eine Fokuszone beispielsweise aus einer Mehrzahl von Fokusverteilungen mit langgezogener Form aufbauen. Dadurch lässt sich insbesondere entsprechend längliche und/oder linienartige Materialmodifikationen ausbilden, wodurch beispielsweise eine verbesserte Einbringung von Ätzflüssigkeit zur Materialtrennung ermöglicht wird.
Die zweite Strahlformungseinrichtung ist oder umfasst insbesondere ein Strahlformungselement zur Durchführung der Phasenaufprägung, z.B. ein diffraktives optisches Element und/oder ein Axiconelement.
Insbesondere ist die Haupterstreckungsrichtung der Fokusverteilung mit langgezogener Form quer und insbesondere senkrecht zu einer Vorschubrichtung orientiert, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird.
Günstig kann es sein, wenn die Phasenaufprägung auf den zweiten
Eingangsstrahl derart ist, dass die Fokusverteilung bezüglich einer zugeordneten Haupterstreckungsrichtung ein Intensitätsprofil aufweist, welches ausgehend von einer Maximalintensität an einem Intensitätsmaximum des Intensitätsprofils auf das l/e2-Fache der Maximalintensität um näherungsweise einen Faktor 3 schneller abfällt als dies bei einem gaußförmigen Intensitätsprofil der Fall ist , und/oder wenn die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl derart ist, dass die Fokusverteilung eine Form und/oder ein Intensitätsprofil eines abruptselbstfokussierenden Strahls aufweist. Durch den schnellen Intensitätsabfall dieser Fokusverteilungen ergibt sich eine präzisere Materialbearbeitung bei verringerter Beschädigung des zu bearbeitenden Materials. Das Material lässt sich dadurch insbesondere mit einer besonderes ebenen und/oder glatten Kante trennen.
Beispielsweise ist der Intensitätsabfall von der Maximalintensität auf das 1/e2- Fache der Maximalintensität um mindestens einen Faktor 2,5 schneller und/oder um höchstens einen Faktor 3,5 schneller als dies bei einem gaußförmigen Intensitätsprofil der Fall ist.
Insbesondere weist das Intensitätsprofil ausgehend von dem Intensitätsmaximum in Haupterstreckungsrichtung eine Intensitätsabfallflanke auf, an welcher der Intensitätsabfall ausgebildet ist. Insbesondere liegt die Intensität des Intensitätsprofils in Haupterstreckungsrichtung auf die Intensitätsabfallflanke folgend unter dem Wert des l/e2-Fachen der Maximalintensität.
Vorzugsweise ist die Intensitätsabfallflanke bei Laserbearbeitung des Werkstücks einem Gutstücksegment zugewandt. Es lässt sich dadurch bei einer Materialtrennung insbesondere eine besonders glatte Schnittkante realisieren.
Das genannte Intensitätsmaximum ist insbesondere ein Hauptmaximum und/oder globales maximum des Intensitätsprofils. Insbesondere weist das Intensitätsprofil ein oder mehrere Nebenmaxima auf, welche sich an das Intensitätsmaximum entgegen der Haupterstreckungsrichtung anschließen. Insbesondere nimmt eine jeweilige Maximalintensität der Nebenmaxima mit zunehmendem Abstand zu dem Hauptmaximum ab. Insbesondere liegen die Nebenmaxima bei Laserbearbeitung des Werkstücks in einem Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment. Es lassen sich dadurch in dem Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment beispielsweise Risse und/oder Kanäle ausbilden, welche einen Ätzangriff zur Materialtrennung begünstigen.
Die Haupterstreckungsrichtung dieser Fokusverteilungen ist insbesondere parallel oder näherungsweise parallel zu einer Haupt-Propagationsrichtung des zweiten Eingangsstrahls orientiert.
Es kann vorgesehen sein, dass mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung ein Zwischenbild der Fokusverteilung ausgebildet wird, wobei insbesondere das Zwischenbild der Fokusverteilung bezüglich einer Haupt-Propagationsrichtung des zweiten Eingangsstrahls vor der ersten Strahlformungseinrichtung angeordnet ist.
Die zweite Strahlformungseinrichtung ist insbesondere als Nahfeldstrahlformungseinrichtung ausgebildet, d.h. eine Abbildung der Fokusverteilung als Zwischenbild erfolgt insbesondere mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung.
Das mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung ausgebildete Zwischenbild ist insbesondere ein Abbild der Fokusverteilung, welche dem in die erste Strahlformungseinrichtung eingekoppelten ersten Eingangsstrahl zugeordnet ist.
Bei einer Ausführungsform umfasst die Vorrichtung eine der zweiten Strahlformungseinrichtung zugeordnete Fernfeldoptik, wobei mittels der Fernfeldoptik eine Fernfeldfokussierung eines aus der zweiten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Ausgangsstrahls in eine Brennebene der Fernfeldoptik erfolgt, und wobei insbesondere die erste Strahlformungseinrichtung in einem Bereich dieser Brennebene angeordnet ist.
Insbesondere entspricht dann ein aus der Fernfeldoptik ausgekoppelter Ausgangsstrahl dem in die erste Strahlformungseinrichtung einzukoppelnden ersten Eingangsstrahl. Unter dem Bereich der Brennebene ist insbesondere ein sich um die Brennebene erstreckender Bereich zu verstehen, welcher insbesondere zu der Brennebene einen maximalen Abstand von 10 % einer Brennweite der Fernfeldoptik aufweist.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass mittels der Fernfeldoptik eine Fernfeldfokussierung des mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung ausgebildeten Zwischenbilds der Fokusverteilung in die Brennebene erfolgt.
Insbesondere erfolgt mittels der Fernfeldoptik eine Fouriertransformation des mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung erzeugten Zwischenbilds und/oder der mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung erzeugten Fokusverteilung.
Es kann vorgesehen sein, dass die Fernfeldoptik in die zweite Strahlformungseinrichtung integriert ist und/oder dass die Fernfeldoptik Teil der zweiten Strahlformungseinrichtung ist und/oder dass eine Funktionalität der Fernfeldoptik in die zweite Strahlformungseinrichtung integriert ist.
Insbesondere weist eine transversale Intensitätsverteilung des ersten Eingangsstrahls in der Brennebene eine Ringstruktur und/oder eine Ringsegmentstruktur auf.
Es kann vorgesehen sein, dass die Fernfeldoptik und die Fokussieroptik eine Teleskopeinrichtung ausbilden, und/oder dass die Fernfeldoptik und die Fokussieroptik eine gemeinsame Brennebene aufweisen, wobei insbesondere die erste Strahlformungseinrichtung in einem Bereich dieser gemeinsamen Brennebene angeordnet ist.
Insbesondere ist eine Brennweite der Fernfeldoptik größer als eine Brennweite der Fokussieroptik.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass dem ersten Eingangsstrahl eine Fokusverteilung mit einer definierten geometrischen Form und/oder mit einem definierten Intensitätsprofil zugeordnet ist, wobei den aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen ebenfalls diese geometrische Form und/oder dieses Intensitätsprofil zugeordnet ist, und/oder wobei durch Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen mittels der Fokussieroptik in unterschiedlichen Teilbereichen der mindestens einen Fokuszone jeweils Fokusverteilungen basierend auf dieser geometrischen Form und/oder basierend auf diesem Intensitätsprofil ausgebildet werden. Es lässt sich dadurch insbesondere die mindestens eine Fokuszone aus zueinander beabstandeten und/oder benachbarten Fokusverteilungen mit definierter Geometrie aufbauen. Weiter ergibt sich dadurch beispielsweise eine Ausbildung der mindestens einen Fokuszone durch Aneinanderreihung von Fokusverteilungen als näherungsweise identische Kopien aufgrund von Strahlteilung mittels des Strahlteilungselements.
Eine Zuordnung einer definierten geometrischen Form und/oder eines definierten Intensitätsprofils zu dem ersten Eingangsstrahl erfolgt beispielsweise mittels einer Laserquelle, welche den ersten Eingangsstrahl bereitstellt. Alternativ hierzu erfolgt die Zuordnung mittels der vorstehend beschriebenen zweiten Strahlformungseinrichtung.
Bei einer Ausführungsform weist der auf das Strahlteilungselement und/oder auf die erste Strahlformungseinrichtung einfallende erste Eingangsstrahl ein gaußförmiges Intensitätsprofil auf, z.B. wenn er direkt aus einer Laserquelle stammt. Dadurch wird dann beispielsweise die mindestens eine Fokuszone aus einer Mehrzahl von benachbarten "Fokuspunkten" mit gaußförmiger Form und/oder gaußförmigem Intensitätsprofil aufgebaut und/oder ausgebildet.
Günstig kann es sein, wenn die erste Strahlformungseinrichtung ein Strahlformungselement zur Modifikation der dem ersten Eingangsstrahl zugeordneten Fokusverteilung aufweist, wobei mittels dem Strahlformungselement eine Modifikation und/oder Ausrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der in die mindestens eine Fokuszone abgebildeten Fokusverteilung in einer zu einer Vorschubrichtung, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, senkrecht orientierten Querschnittsebene erfolgt, und/oder wobei mittels dem Strahlformungselement eine Modifikation und/oder Ausrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der in die mindestens eine Fokuszone abgebildeten Fokusverteilung in einer zu einer Vorschubrichtung, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, parallel orientierten Querschnittsebene erfolgt.
Insbesondere ist die zur Vorschubrichtung parallel orientierte Querschnittsebene senkrecht zu einer Haupt-Propagationsrichtung von Strahlen orientiert, aus welchen die Fokusverteilung gebildet wird.
Mittels dem Strahlformungselement der ersten Strahlformungseinrichtung erfolgt insbesondere eine Modifikation des in die erste Strahlformungseinrichtung eingekoppelten Eingangsstrahls innerhalb und/oder mittels der ersten Strahlformungseinrichtung.
Insbesondere ist oder umfasst das Strahlformungselement ein diffraktives oder refraktives Strahlformungselement, und/oder das Strahlformungselement ist oder umfasst einen diffraktiven field mapper. Insbesondere lassen sich mittels dem Strahlformungselement definierte Wellenfrontaberrationen auf einen in das Strahlformungselement eingekoppelten Eingangsstrahl aufprägen.
Das Strahlformungselement ist insbesondere derart eingerichtet, dass den aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen die mittels dem Strahlformungselement modifizierte Fokusverteilung zugeordnet werden, sodass durch Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen mittels der Fokussieroptik in unterschiedlichen Teilbereichen der Fokuszone jeweils Fokusverteilungen mit dieser modifizierten geometrischen Form und/oder mit diesem modifiziertem Intensitätsprofil ausgebildet werden.
Insbesondere basiert diese modifizierte Form und/oder dieses modifizierte Intensitätsverteilung auf einer ursprünglichen Form und/oder auf einem ursprünglichen Intensitätsprofil, welches dem erstem Eingangsstrahl zugeordnet ist. Unter einer modifizierten Form und/oder modifizierten Intensitätsverteilung ist insbesondere eine auf der ursprünglichen Form und/oder auf dem ursprünglichen Intensitätsprofil basierende Abwandlung zu verstehen. Günstig kann es sein, wenn mittels dem Strahlformungselement eine Ausrichtung einer Haupterstreckungsrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der Fokusverteilung in einer zur Vorschubrichtung senkrecht orientierten Querschnittsebene einstellbar ist oder eingestellt wird, und insbesondere wenn eine Einstellung der Ausrichtung derart erfolgt, dass die Haupterstreckungsrichtung parallel oder näherungsweise parallel zu einer korrespondierenden lokalen Erstreckungsrichtung der Fokuszone orientiert ist. Es lässt sich dadurch beispielsweise eine zur lokalen Erstreckungsrichtung der Fokuszone näherungsweise parallel orientierte Ausbildung von Materialmodifikationen im Material des Werkstücks erreichen. Dies ermöglicht insbesondere eine optimierte Trennung des Materials.
Es kann auch vorgesehen sein, dass die Ausrichtung der Haupterstreckungsrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der Fokusverteilung derart erfolgt, dass die Haupterstreckungsrichtung quer zur korrespondierenden lokalen Erstreckungsrichtung orientiert ist. Beispielsweise schließt die Haupterstreckungsrichtung mit der lokalen Erstreckungsrichtung einen kleinsten Winkel von mindestens 1° und/oder höchstens 90° ein. Dadurch liegt die Fokusverteilung beispielsweise zumindest abschnittsweise in einem bei der Laserbearbeitung des Werkstücks entstehenden Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment. Dadurch werden beispielsweise in dem Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment Materialmodifikationen und/oder Kanäle ausgebildet, welche einen Ätzangriff zur Materialtrennung begünstigen.
Es ist grundsätzlich zusätzlich auch möglich, dass mittels dem Strahlformungselement die Fokusverteilung in der zur Vorschubrichtung senkrecht orientierten Querschnittsebene derart modifiziert wird, dass diese eine Haupterstreckungsrichtung in dieser zur Vorschubrichtung senkrechten Querschnittsebene aufweist.
Es kann vorgesehen sein, dass mittels dem Strahlformungselement die Fokusverteilung in der zur Vorschubrichtung senkrecht orientierten Querschnittsebene derart modifiziert wird, dass diese eine gekrümmte Längsmittelachse aufweist.
Günstig kann es sein, wenn mittels dem Strahlformungselement eine Modifikation des Intensitätsprofils der Fokusverteilung in einer zur Vorschubrichtung parallel orientierten Querschnittsebene derart erfolgt, dass das Intensitätsprofil mindestens eine Vorzugsrichtung aufweist, wobei insbesondere die mindestens eine Vorzugsrichtung parallel oder quer oder senkrecht zur Vorschubrichtung orientiert ist. Es lässt sich dadurch insbesondere eine Ausbildung von Materialmodifikationen im Material des Werkstücks bei der Laserbearbeitung kontrollieren und/oder optimieren. Dadurch wird beispielsweise eine verbesserte Einbringung von Ätzflüssigkeit zur Materialtrennung ermöglicht.
Insbesondere liegen die mindestens eine Vorzugsrichtung und die Vorschubrichtung in einer gemeinsamen Ebene.
Beispielsweise wird das Intensitätsprofil der Fokusverteilung ist der zur Vorschubrichtung parallelen Ebene mittels dem Strahlformungselement beispielsweise elliptisch oder rechteckig oder quadratisch ausgebildet.
Unter der Vorzugsrichtung einer als Ellipse ausgebildeten Fokusverteilung ist beispielsweise eine große Halbachse der Ellipse zu verstehen.
Beispielsweise ist die Vorzugsrichtung der als Ellipse ausgebildeten Fokusverteilung parallel oder näherungsweise parallel zur Vorschubrichtung orientiert.
Eine als Quadrat oder Rechteck ausgebildete Fokusverteilung weist beispielsweise zwei Vorzugsrichtungen auf, welche jeweils parallel zu einer Verbindungsrichtung zweier gegenüberliegender Punkte des Quadrats orientiert sind. Beispiel ist dann eine der Vorzugsrichtungen parallel zur Vorschubrichtung orientiert und die andere senkrecht hierzu.
Vorteilhaft kann es sein, wenn mittels dem Strahlformungselement der ersten Strahlformungseinrichtung eine Ausrichtung der mindestens einen Vorzugsrichtung der Fokusverteilung in der zur Vorschubrichtung parallel orientierten Querschnittsebene einstellbar ist oder eingestellt wird. Es lässt sich dadurch insbesondere eine Ausbildung von Materialmodifikationen im Material des Werkstücks bei der Laserbearbeitung kontrollieren und/oder optimieren.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass der mindestens eine Anstellwinkel der mindestens einen Fokuszone mindestens 1° und/oder höchstens 90° beträgt. Vorzugsweise beträgt der mindestens eine Anstellwinkel mindestens 10°.
Unter dem Anstellwinkel ist insbesondere ein kleinster Winkel zwischen einer der mindestens einen Fokuszone zugeordneten lokalen Erstreckungsrichtung und einer Außenseite des Werkstücks zu verstehen. Beispielsweise wird die mindestens eine Fokuszone durch diese Außenseite hindurch in das Material des Werkstücks eingekoppelt und/oder eingebracht.
Es kann vorgesehen sein, dass die mindestens eine Fokuszone unterschiedliche Abschnitte mit unterschiedlichen lokalen Erstreckungsrichtungen und/oder Anstellwinkeln aufweist.
Günstig kann es sein, wenn die erste Strahlformungseinrichtung ein Polarisations-Strahlteilungselement aufweist, welches derart eingerichtet ist, dass die aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen jeweils einen von mindestens zwei unterschiedlichen Polarisationszuständen aufweisen, wobei mittels der Fokussieroptik Teilstrahlen mit unterschiedlichen Polarisationszuständen in benachbarte Teilbereiche der mindestens einen Fokuszone fokussiert werden. Es lässt sich dadurch die mindestens eine Fokuszone durch Aneinanderreihung von Fokuspunkten und/oder Fokusverteilungen mit unterschiedlichen Polarisationszuständen ausbilden.
Fokuspunkte und/oder Fokusverteilungen mit unterschiedlichen Polarisationszuständen sind insbesondere aus zueinander inkohärenten Teilstrahlen gebildet. Dadurch lassen sich die Fokuspunkte und/oder Fokusverteilungen mit besonders geringem Abstand zueinander anordnen und/oder aneinanderreihen. Mittels des Polarisations-Strahlteilungselements erfolgt insbesondere eine Aufteilung eines in das Polarisations-Strahlteilungselement eingekoppelten Strahls in eine Mehrzahl von polarisierten Teilstrahlen, welche jeweils einen von mindestens zwei unterschiedlichen Polarisationszuständen aufweisen.
Beispielsweise umfasst das Polarisations-Strahlteilungselement ein doppelbrechendes Keilelement und/oder ein doppelbrechendes Linsenelement. Es lässt sich dadurch beispielsweise vor der Fokussierung der Teilstrahlen mittels der Fokussieroptik ein Richtungsversatz und/oder ein Winkelversatz von Teilstrahlen mit unterschiedlichen Polarisationszuständen erzeugen. Dadurch lassen sich die Teilstrahlen mit unterschiedlichen Polarisationszuständen in räumlich unterschiedliche Teilbereiche der mindestens einen Fokuszone abbilden.
Insbesondere sind unter unterschiedlichen Polarisationszuständen unterschiedliche lineare Polarisationszustände zu verstehen.
Beispielsweise umfasst das Polarisations-Strahlteilungselement einen Quarzkristall zur Polarisationsstrahlteilung.
Erfindungsgemäß ist es bei dem eingangs genannten Verfahren vorgesehen, dass mittels eines Strahlteilungselements einer ersten Strahlformungseinrichtung ein auf das Strahlteilungselement einfallender erster Eingangsstrahl in eine Mehrzahl von Teilstrahlen aufgeteilt wird und die aus der ersten Strahlformungseinrichtung ausgekoppelten Teilstrahlen mittels einer der ersten Strahlformungseinrichtung zugeordneten Fokussieroptik in mindestens eine Fokuszone fokussiert werden, wobei die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls mittels dem Strahlteilungselement durch Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl erfolgt, die Teilstrahlen zur Ausbildung der mindestens einen Fokuszone in unterschiedliche Teilbereiche der mindestens einen Fokuszone fokussiert werden, zur Laserbearbeitung des Werkstücks die mindestens eine Fokuszone mittels der Fokussieroptik unter mindestens einem Anstellwinkel zu einer Außenseite des Werkstücks in das Material eingebracht wird und wobei durch Beaufschlagung des Materials mittels der mindestens einen Fokuszone Materialmodifikationen in dem Material erzeugt werden, welche mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials assoziiert sind. Das erfindungsgemäße Verfahren weist insbesondere ein oder mehrere Merkmale und/oder Vorteile der erfindungsgemäßen Vorrichtung auf.
Insbesondere ist das erfindungsgemäße Verfahren mittels der erfindungsgemäßen Vorrichtung durchführbar. Insbesondere führt die erfindungsgemäße Vorrichtung das erfindungsgemäße Verfahren aus.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass zur Laserbearbeitung des Werkstücks die mindestens eine Fokuszone relativ zu dem Material des Werkstücks in eine Vorschubrichtung bewegt wird. Insbesondere wird eine in Vorschubrichtung orientierte Relativgeschwindigkeit zwischen dem Material und der mindestens einen Fokuszone eingestellt oder ist einstellbar.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass durch Relativbewegung der mindestens einen Fokuszone bezüglich des Werkstücks in dem Material des Werkstücks Materialmodifikationen entlang einer Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche ausgebildet werden. Insbesondere lässt sich dadurch das Werkstück entlang der Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche trennen.
Vorteilhaft kann es sein, wenn das Material des Werkstücks entlang der Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche durch Ausübung einer thermischen Beaufschlagung und/oder einer mechanischen Spannung und/oder durch Ätzen mittels mindestens einer nasschemischen Lösung trennbar ist oder getrennt wird. Beispielsweise erfolgt das Ätzen in einem ultraschallunterstützten Ätzbad.
Insbesondere weisen die erfindungsgemäße Vorrichtung und/oder das erfindungsgemäße Verfahren ein oder mehrere der nachfolgenden Merkmale auf:
Es kann vorgesehen sein, dass sich die mindestens eine Fokuszone zwischen zwei unterschiedlichen und/oder gegenüberliegenden Außenseiten des Werkstücks erstreckt und insbesondere durchgängig erstreckt. Beispielsweise sind diese Außenseiten parallel zueinander orientiert oder quer zueinander orientiert. Es lässt sich dadurch das Werkstück beispielsweise in zwei voneinander verschiedene Segmente trennen oder es lässt sich zur Kantenbearbeitung ein Segment vom Werkstück abtrennen. Dadurch lässt sich der Kantenbereich beispielsweise abschrägen oder anfasen.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die mindestens eine Fokuszone Fokusverteilungen aufweist, welche derart angeordnet sind, dass Materialmodifikationen in einem von dem Werkstück abzutrennenden Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment ausgebildet werden. Diese Materialmodifikationen bilden beispielsweise Kanäle zur verbesserten Einbringung von Ätzflüssigkeit zur Materialtrennung.
Beispielsweise sind die Fokusverteilungen der mindestens einen Fokuszone so angeordnet, dass diese zumindest abschnittsweise in einem bei der Laserbearbeitung des Werkstücks gebildetes Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment angeordnet sind oder zumindest abschnittsweise in einem bei der Laserbearbeitung des Werkstücks gebildetes Restwerkstücksegment hineinragen. Es lassen sich dadurch in dem Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment beispielsweise Materialmodifikationen und/oder Kanäle ausbilden, welche eine Zuleitung von Ätzflüssigkeit an bei der Laserbearbeitung ausgebildete Materialmodifikationen begünstigen. Dadurch wird eine Verbesserte Materialtrennung entlang einer Bearbeitungsfläche ermöglicht, an welcher die Materialmodifikationen angeordnet sind.
Aus dem gleichen Grund kann es günstig sein, wenn die Fokusverteilungen der mindestens einen Fokuszone so angeordnet werden, dass ein Hauptmaximum und/oder ein globales Maximum der jeweiligen Fokusverteilung einem bei der Laserbearbeitung des Werkstücks entstehenden Gutstücksegment zugewandt ist und/oder einem Restwerkstücksegment abgewandt ist.
Unter einem Gutstücksegment ist beispielsweise ein bei einer Trennung des Werkstück entstehendes Nutzsegment (im Gegensatz zu einem Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment) zu verstehen.
Insbesondere weisen Fokusverteilungen der Fokuszone, aus welchen die Fokuszone gebildet ist, Intensitätsschwankungen von höchstens 20 % auf. Insbesondere umfasst die Vorrichtung eine Werkstückhalterung für das Werkstück, welche vorzugsweise eine nicht-reflektierende und/oder stark streuende Oberfläche aufweist.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die Vorrichtung eine Laserquelle zur Bereitstellung eines Laserstrahls aufweist, aus welchem die mindestens eine Fokuszone ausbildbar ist oder ausgebildet wird. Insbesondere wird mittels der Laserquelle ein gepulster Laserstrahl und/oder ein Ultrakurzpulslaserstrahl bereitgestellt.
Insbesondere ist die mindestens eine Fokuszone aus einem Ultrakurspulslaserstrahl ausgebildet oder mittels eines Ultrakurspulslaserstrahls bereitgestellt. Dieser Ultrakurzpulslaserstrahl umfasst insbesondere ultrakurze Laserpulse.
Beispielsweise beträgt eine Wellenlänge des Laserstrahls, aus welchem die mindestens eine Fokuszone ausbildbar ist oder ausgebildet wird, mindestens 300 nm und/oder höchstens 1500 nm. Beispielsweise beträgt die Wellenlänge 515 nm oder 1030 nm.
Insbesondere weist der Laserstrahl, aus welchem die mindestens eine Fokuszone ausbildbar ist oder ausgebildet wird, eine mittlere Leistung von mindestens IW bis 1kW auf. Beispielsweise umfasst der Laserstrahl Pulse mit einer Pulsenergie von mindestens 10 pJ und/oder höchstens 50 mJ. Es kann vorgesehen sein, dass der Laserstrahl Einzelpulse oder Bursts umfasst, wobei die Bursts 2 bis 20 Subpulse und insbesondere einen zeitlichen Abstand von näherungsweise 20ns aufweisen.
Es kann vorgesehen sein, dass die mindestens eine Fokuszone um eine zu einer Vorschubrichtung, in welche die mindestens eine Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks relativ zu dem Werkstück bewegt wird, senkrecht orientierte Drehachse drehbar ist. Es lässt sich dadurch das Werkstück beispielsweise entlang einer gekrümmten Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche bearbeiten. Insbesondere bildet die mindestens eine Fokuszone einen räumlich zusammenhängenden Wechselwirkungsbereich zur Laserbearbeitung des Werkstücks, wobei sich insbesondere durch Beaufschlagung des Materials des Werkstücks mit diesem Wechselwirkungsbereich an dem Wechselwirkungsbereich lokalisierte Materialmodifikationen ausbilden lassen, mittels welchen insbesondere eine Trennung des Materials ermöglicht wird. Insbesondere erfolgt zwischen einander benachbarten Materialmodifikationen eine Rissbildung und/oder eine Änderung eines Brechungsindex des Materials.
Die durch ultrakurze Laserpulse in transparente Materialien eingebrachten Materialmodifikationen werden in drei verschiedene Klassen unterteilt, siehe K. Itoh et al. "Ultrafast Processes for Bulk Modification of Transparent Materials" MRS Bulletin, vol. 31 p.620 (2006): Typ I ist eine isotrope Brechungsindexänderung; Typ II ist eine doppelbrechende Brechungsindexänderung; und Typ III ist ein sogenannter Void beziehungsweise Hohlraum. Die erzeugte Materialmodifikation hängt hierbei von Laserparametern des Laserstrahls, aus welchem die Fokuszone gebildet ist, wie z.B. der Pulsdauer, der Wellenlänge, der Pulsenergie und der Repetitionsfrequenz des Laserstrahls, und von den Materialeigenschaften, wie unter Anderem der elektronischen Struktur und dem thermischen Ausdehnungskoeffizient, sowie von der numerischen Apertur (NA) der Fokussierung, ab.
Die isotropen Brechungsindexänderungen des Typs I werden auf ein örtlich begrenztes Aufschmelzen durch die Laserpulse und eine schnelle Wiedererstarrung des transparenten Materials zurückgeführt. Beispielsweise ist bei Quarzglas die Dichte und der Brechungsindex des Materials höher, wenn das Quarzglas von einer höheren Temperatur schnell herunter gekühlt wird. Wenn also das Material im Fokusvolumen schmilzt und dann schnell abkühlt, weist das Quarzglas in den Bereichen der Materialmodifikation einen höheren Brechungsindex auf, als in den nicht modifizierten Bereichen.
Die doppelbrechenden Brechungsindexänderungen des Typs II können beispielsweise durch Interferenzen zwischen dem ultrakurzen Laserpuls und dem elektrischen Feld des durch die Laserpulse erzeugten Plasmas entstehen. Diese Interferenz führt zu periodischen Modulationen in der Elektronenplasmadichte, welche beim Erstarren zu einer doppelbrechenden Eigenschaft, also richtungsabhängigen Brechungsindizes, des transparenten Materials führt. Eine Typ II Modifikation geht beispielsweise auch mit der Bildung von sogenannten Nanogratings einher.
Die Voids (Hohlräume) der Typ III-Modifikationen können beispielsweise mit einer hohen Laserpulsenergie erzeugt werden. Hierbei wird die Bildung der Voids einer explosionsartigen Ausdehnung von hoch angeregtem, verdampftem Material aus dem Fokusvolumen in das umgebende Material zugeschrieben. Dieser Prozess wird auch als Mikroexplosion bezeichnet. Da diese Ausdehnung innerhalb der Masse des Materials stattfindet, hinterlässt die Mikroexplosion einen weniger dichten oder hohlen Kern (der Void), beziehungsweise eine mikroskopische Fehlstelle im Submikrometer-Bereich oder im atomaren Bereich, der oder die von einer verdichteten Materialhülle umgeben ist. Durch die Verdichtung an der Stoßfront der Mikroexplosion entstehen in dem transparenten Material Spannungen, die zu einer spontanen Rissbildung führen können, beziehungsweise eine Rissbildung begünstigen können.
Insbesondere kann die Bildung von Voids auch mit Typ I und Typ II Modifikationen einhergehen. Beispielsweise können Typ I und Typ II Modifikationen in den weniger beanspruchten Gebieten um die eingebrachten Laserpulse herum entstehen. Wenn demnach vom Einbringen einer Typ III Modifikation die Rede ist, dann ist in jedem Fall ein weniger dichter oder hohler Kern beziehungsweise eine Fehlstelle vorhanden. Beispielsweise wird in Saphir bei einer Typ III Modifikation durch die Mikroexplosion kein Hohlraum erzeugt, sondern ein Bereich geringerer Dichte. Aufgrund der auftretenden Materialspannungen bei einer Typ III Modifikation geht eine solche Modifikation zudem oft mit einer Rissbildung einher oder begünstig diese zumindest. Die Bildung von Typ I und Typ II Modifikationen kann beim Einbringen von Typ III Modifikationen nicht vollständig unterbunden oder vermieden werden. Das Auffinden von "reinen" Typ III Modifikationen ist daher nicht wahrscheinlich.
Bei hohen Repetitionsraten des Laserstrahls kann das Material zwischen den Pulsen nicht vollständig abkühlen, sodass kumulative Effekte der eingebrachten Wärme von Puls zu Puls einen Einfluss auf die Materialmodifikation nehmen können. Beispielsweise kann die Repetitionsfrequenz des Laserstrahls höher sein als der Kehrwert der Wärmediffusionszeit des Materials, sodass in der Fokuszone durch sukzessive Absorption von Laserenergie eine Wärmeakkumulation stattfinden kann, bis die Schmelztemperatur des Materials erreicht ist. Durch den thermischen Transport der Wärmeenergie in die die Fokuszone umliegenden Gebiete kann zudem ein größerer Bereich als die Fokuszone aufgeschmolzen werden. Nach dem Einbringen von ultrakurzen Laserpulsen, kühlt das erwärmte Material schnell ab, so dass die Dichte und andere strukturelle Eigenschaften des Hochtemperaturzustands im Material gewissermaßen eingefroren werden.
Die mindestens eine Fokuszone umfasst insbesondere eine Mehrzahl von zueinander beabstandeten und/oder benachbarten Fokusverteilungen, wobei zwischen einander benachbarten Fokusverteilungen die Fokuszone Unterbrechungen und/oder Nullstellen aufweisen kann, an denen es insbesondere zu keiner oder zu einer vernachlässigbaren Wechselwirkung mit dem Material kommt. Insbesondere weisen diese Unterbrechungen der Fokuszone eine räumliche Ausdehnung von höchstens 10 % einer maximalen Ausdehnung und/oder einer maximalen Länge der Fokuszone auf. Insbesondere weisen diese Unterbrechungen eine räumliche Ausdehnung von höchstens 100 pm und insbesondere höchstens 50 pm auf. Falls größere Unterbrechungen von Intensitätsverteilungen vorliegen, sind hierunter unterschiedliche Fokuszonen zu verstehen.
Beispielsweise weist die mindestens eine Fokuszone eine Gesamtlänge zwischen 50 pm und 5000 pm auf.
Zur Bestimmung von räumlichen Dimensionen der mindestens einen Fokuszone, wie z.B. einer jeweiligen Länge und/oder eines jeweiligen Durchmessers, wird die Fokuszone in einer modifizierten Intensitätsverteilung betrachtet, welche nur Intensitätswerte aufweist, die oberhalb einer bestimmten Intensitätsschwelle liegen. Die Intensitätsschwelle wird hierbei beispielsweise so gewählt, dass unterhalb dieser Intensitätsschwelle liegende Werte eine derart geringe Intensität aufweisen, sodass diese für eine Wechselwirkung mit dem Material zur Ausbildung von Materialmodifikationen nicht mehr relevant sind. Beispielsweise beträgt die Intensitätsschwelle 50% eines globalen Intensitätsmaximums der tatsächlichen Intensitätsverteilung. Unter einer Länge der jeweiligen Fokuszone bzw. unter einem Durchmesser der jeweiligen Fokuszone ist dann eine maximale Erstreckungslänge und/oder eine Länge maximaler Ausdehnung der jeweiligen Fokuszone entlang einer Längsmittelachse der Fokuszone bzw. in einer zu der Längsmittelachse senkrecht orientierten Ebene unter Zugrundelegung der modifizierten Intensitätsverteilung zu verstehen.
Insbesondere ist unter den Angaben "zumindest näherungsweise" oder "näherungsweise" im Allgemeinen eine Abweichung von höchstens 10 % zu verstehen. Falls nicht anders angegeben, ist unter den Angaben "zumindest näherungsweise" oder "näherungsweise" insbesondere zu verstehen, dass ein tatsächlicher Wert und/oder Abstand und/oder Winkel um höchstens 10 % von einem idealen Wert und/oder Abstand und/oder Winkel abweicht, und/oder dass eine tatsächliche geometrische Form von einer idealen geometrischen Form um höchstens 10 % abweicht.
Die nachfolgende Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen dient im Zusammenhang mit den Zeichnungen der näheren Erläuterung der Erfindung. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks;
Fig. 3a schematische Querschnittsdarstellungen eines Ausführungsbeispiels einer Fokusverteilung einer Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks;
Fig. 3b schematische Querschnittsdarstellungen eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Fokusverteilung einer Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks; Fig. 3c schematische Querschnittsdarstellungen eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Fokusverteilung einer Fokuszone zur Laserbearbeitung des Werkstücks;
Fig. 4a eine schematische Querschnittsdarstellung eines Abschnitts eines Beispiels einer Fokuszone, welche in ein Material des Werkstücks eingebracht ist;
Fig. 4b eine schematische Querschnittsdarstellung eines Abschnitts eines weiteren Beispiels einer Fokuszone, welche in ein Material des Werkstücks eingebracht ist;
Fig. 5 eine schematische Querschnittsdarstellung einer Fokuszone, welche das Werkstück von einer ersten Außenseite zu einer zweiten Außenseite vollständig durchdringt;
Fig. 6 eine schematische Querschnittsdarstellung von mittels einer Fokuszone erzeugten Materialmodifikationen im Material des Werkstücks, wobei diese Materialmodifikationen mit einer Rissbildung des Materials einhergehen;
Fig. 7 eine schematische Querschnittsdarstellung von mittels einer Fokuszone erzeugten Materialmodifikationen im Material des Werkstücks, wobei diese Materialmodifikationen mittels Wärmeakkumulation erzeugt sind und/oder mit einer Brechungsindexänderung des Materials einhergehen;
Fig. 8 eine Querschnittsdarstellung einer simulierten Intensitätsverteilung eines Beispiels einer Fokuszone, welche eine Mehrzahl zueinander beabstandeter langgezogener Fokusverteilungen aufweist;
Fig. 9a eine Querschnittsdarstellung einer simulierten Intensitätsverteilung eines Beispiels eines abrupt-selbstfokussierenden Laserstrahls; Fig. 9b eine Intensitätsverteilung des abrupt-selbstfokussierenden Laserstrahls gemäß Fig. 9a entlang einer Haupterstreckungsrichtung dieses Laserstrahls;
Fig. 10 eine Querschnittsdarstellung einer simulierten Intensitätsverteilung einer Fokuszone, welche eine Mehrzahl zueinander beabstandeter Fokusverteilungen aufweist, die als abrupt-selbstfokussierende Strahlen ausgebildet sind;
Fig. 11 eine schematische Darstellung einer den abrupt- selbstfokussierenden Strahlen zugeordneten Phasenverteilung;
Fig. 12a, c,e Querschnittsdarstellungen von simulierten Intensitätsverteilungen von drei unterschiedlichen Ausführungsbeispielen der Fokuszone,
Fig. 12b, d,f schematische Darstellungen von Phasenverteilungen, welchen den Querschnittsdarstellungen gemäß Fig. 12a bzw. Fig. 12c bzw. Fig. 12e zugeordnet sind;
Fig. 13a eine schematische perspektivische Darstellung von Materialmodifikationen, welche in dem Material des Werkstücks entlang einer Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche erzeugt werden; und
Fig. 13b eine schematische Darstellung von zwei Segmenten des Werkstücks, welche durch Trennung des Werkstücks an der Bearbeitungslinie und/oder Bearbeitungsfläche gebildet werden.
Gleiche oder funktional äquivalente Elemente sind in sämtlichen Ausführungsbeispielen mit denselben Bezugszeichen bezeichnet.
Ein Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks ist in Fig. 1 gezeigt und dort mit 100 bezeichnet. Mittels der Vorrichtung 100 lassen sich in einem Material 102 des Werkstücks 104 lokalisierte Materialmodifikationen, wie beispielsweise Fehlstellen im Submikrometerbereich oder atomaren Bereich, erzeugen, welche eine Materialschwächung zur Folge haben. An diesen Materialmodifikationen lässt sich das Werkstück beispielsweise in einem Folgeschritt in voneinander verschiedene Segmente trennen oder es lässt sich beispielsweise ein Segment von dem Werkstück 104 abtrennen. Insbesondere können mittels der Vorrichtung 100 Materialmodifikationen unter einem Anstellwinkel in das Material 102 eingebracht werden, sodass sich durch Abtrennung eines entsprechenden Segments von dem Werkstück 104 ein Kantenbereich des Werkstücks 104 anfasen oder abschrägen lässt.
Die Vorrichtung 100 umfasst eine erste Strahlformungseinrichtung 106, in welche ein erster Eingangsstrahl 108 eingekoppelt wird. Dieser erste Eingangsstrahl 108 ist beispielsweise ein Laserstrahl, welcher z.B. mittels einer Laserquelle 110 bereitgestellt wird und/oder aus einer Laserquelle 110 ausgekoppelt wird. Unter dem ersten Eingangsstrahl 108 ist insbesondere ein Strahlenbündel zu verstehen, welches eine Mehrzahl insbesondere parallel verlaufender Strahlen umfasst.
Der mittels der Laserquelle 110 bereitgestellte Laserstrahl ist insbesondere ein gepulster Laserstrahl und/oder ein Ultrakurzpulslaserstrahl.
Die erste Strahlformungseinrichtung 106 umfasst ein Strahlteilungselement 112, mittels welchem der erste Eingangsstrahl 108 in eine Mehrzahl von Teilstrahlen 114 und/oder Teilstrahlenbündeln aufgeteilt wird. Bei dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel sind zwei voneinander verschiedene Teilstrahlen 114a und 114b angedeutet.
Die erste Strahlformungseinrichtung 106 und/oder das Strahlteilungselement 112 sind beispielsweise jeweils als Fernfeldstrahlformungselement ausgebildet.
Zur Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung 106 ausgekoppelten Teilstrahlen 114 umfasst die Vorrichtung 100 eine Fokussieroptik 116, in welche die Teilstrahlen 114 eingekoppelt werden. Beispielsweise treffen voneinander verschiedene Teilstrahlen 114 mit einem Ortsversatz und/oder Winkelversatz auf die Fokussieroptik 116 auf. Beispielsweise ist die Fokussieroptik 116 als Mikroskopobjektiv oder Linsenelement ausgebildet.
Die Teilstrahlen 114 werden mittels der Fokussieroptik 116 in unterschiedliche Teilbereiche 120 einer Fokuszone 122 fokussiert, welche zur Laserbearbeitung des Werkstücks 104 wird in dessen Material 102 eingebracht wird.
In Fig. 1 sind beispielsweise zwei unterschiedliche Teilbereiche 120a und 120b angedeutet, in welche die Teilstrahlen 114 zur Ausbildung der Fokuszone 122 fokussiert werden. Der Teilbereich 120a ist dabei beispielsweise dem Teilstrahl 114a zugeordnet und der Teilbereich 120b ist dem Teilstrahl 114b zugeordnet.
Dem in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahl 108 ist eine bestimmte Fokusverteilung zugeordnet. Unter dieser Fokusverteilung ist eine geometrische Form und/oder ein Intensitätsprofil zu verstehen, welche bzw. welches durch Fokussierung des ersten Eingangsstrahls 108 vor Einkopplung in die erste Strahlformungseinrichtung 106 ausgebildet werden würde.
Beispielsweise weist der erste Eingangsstrahl 108, welcher z.B. mittels der Laserquelle 108 bereitgestellt wird, ein gaußförmiges Strahlprofil auf. Durch Fokussierung des ersten Eingangsstrahls 108 vor Einkopplung in die erste Strahlformungseinrichtung 106 würde in diesem Fall eine Fokusverteilung mit gaußförmiger Form und/oder gaußförmigem Intensitätsprofil ausgebildet werden.
Insbesondere ist unter der Form der Fokusverteilung eine charakteristische räumliche Form und/oder räumliche Ausdehnung der Fokusverteilung zu verstehen.
Mittels des Strahlteilungselements 112 wird der in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelte erste Eingangsstrahl 108 derart aufgeteilt, dass den Teilstrahlen 114 ebenfalls diese Fokusverteilung zugeordnet ist. Durch Fokussierung dieser Teilstrahlen 114 mittels der Fokussieroptik 116 werden in den unterschiedlichen Teilbereichen 120 der Fokuszone 122 jeweils Fokusverteilungen 124 ausgebildet, wobei diese Fokusverteilungen 124 auf der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung basieren.
Die Fokuszone 122 wird dadurch durch Aneinanderreihung unterschiedlicher Fokusverteilungen 124 aufgebaut und/oder ausgebildet. Unter unterschiedlichen Fokusverteilungen 124 sind vorliegend Fokusverteilungen 124 an unterschiedlichen räumlichen Positionen der Fokuszone 122 zu verstehen, wobei diese unterschiedlichen Fokusverteilungen 124 zumindest näherungsweise die gleiche geometrische Form und/oder das gleiche geometrische Intensitätsprofil aufweisen.
Unterschiedliche Fokusverteilungen 124 sind in der Fokuszone 122 zueinander beabstandet angeordnet. Es ist grundsätzlich möglich, dass sich zueinander benachbarte unterschiedliche Fokusverteilungen 124 räumlich überlappen.
Durch Strahlteilung mittels dem Strahlteilungselement 112 werden insbesondere Fokusverteilungen als identische Kopien ausgebildet, welche in unterschiedliche Teilbereiche 120 der Fokuszone 122 abgebildet werden.
Beispielsweise ist das Strahlteilungselement 112 als 3D-Strahlteilungselement ausgebildet. Hinsichtlich der technischen Realisierung und Eigenschaften des Strahlteilungselements 112 wird auf die wissenschaftliche Veröffentlichung "Structured light for ultrafast laser micro- and nanoprocessing " von D. Flamm et al., arXiv:2012.10119vl [physics. optics], 18. Dezember 2020, verwiesen.
Hierauf wird ausdrücklich und vollinhaltlich Bezug genommen.
Insbesondere lässt sich mittels des Strahlteilungselements 112 ein Abstand dl und/oder ein Ortsversatz zwischen einander benachbarten Fokusverteilungen 124 einstellen.
Zwischen einander benachbarten Fokusverteilungen 124 lassen sich beispielsweise ein Abstand dx und/oder ein Ortsversatz in einer x-Richtung und ein Abstand dz und/oder ein Ortsversatz in einer zu der x-Richtung senkrecht orientierten z-Richtung einstellen. Hierzu werden beispielsweise mittels des Strahlteilungselements 112 voneinander verschiedene Teilstrahlen 114 derart ausgebildet, dass diese mit einem bestimmten Ortsversatz und/oder mit einer bestimmten Konvergenz und/oder Divergenz auf die Fokussieroptik 116 treffen. Die voneinander verschiedenen Teilstrahlen 114 werden dann mittels der Fokussieroptik 116 mit einem sich hieraus ergebenden Ortsversatz in x-Richtung und/oder z-Richtung abgebildet.
Zur Durchführung der Strahlteilung mittels dem Strahlteilungselement 112 wird auf einen transversalen Strahlquerschnitt des ersten Eingangsstrahls 108 eine definierte transversale Phasenverteilung aufgeprägt. Beispiele für transversale Phasenverteilungen von aus dem Strahlteilungselement 112 ausgekoppelten Strahlen und zugehörige Fokuszonen 112 sind beispielsweise in den Fig. 12a, b bzw. 12c, d bzw. 12 e, f gezeigt.
Zur Erzeugung des Ortsversatzes in x-Richtung und/oder in z-Richtung erfolgt die Phasenaufprägung mittels dem Strahlteilungselement 112 beispielsweise derart, dass die zugeordnete Phasenverteilung für jede Fokusverteilung 124 einen bestimmten optischen Gitteranteil und/oder optischen Linsenanteil aufweist. Aufgrund des optischen Gitteranteil ergibt sich eine Winkelablenkung von Teilstrahlen 114 vor der Fokussieroptik 116, welcher nach erfolgter Fokussierung in einem Ortsversatz in x-Richtung resultiert. Aufgrund des optischen Linsenanteils treffen Teilstrahlen 116 mit unterschiedlicher Konvergenz und/oder Divergenz auf die Fokussieroptik 116, was nach erfolgter Fokussierung in einem Ortsversatz in z-Richtung resultiert.
Es kann vorgesehen sein, dass die erste Strahlformungseinrichtung 106 ein Polarisations-Strahlteilungselement 126 aufweist. Mittels des Polarisations- Strahlteilungselements 126 wird eine Polarisationsstrahlteilung des ersten Eingangsstrahls 108 und/oder eines aus dem Strahlteilungselement 112 ausgekoppelten Strahls in Strahlen durchgeführt, welche jeweils einen von mindestens zwei unterschiedlichen Polarisationszuständen aufweisen.
Durch Polarisationsstrahlteilung mittels dem Polarisations-Strahlteilungselement
126 weisen die aus der ersten Strahlformungseinrichtung 106 ausgekoppelten Teilstrahlen 114 jeweils einen von mindestens zwei unterschiedlichen Polarisationszuständen auf. Diese Teilstrahlen 114 mit unterschiedlichen Polarisationszuständen werden mittels der Fokussieroptik 116 in die unterschiedlichen Teilbereiche 120 der Fokuszone 122 fokussiert.
Beispielsweise ist das Polarisations-Strahlteilungselement 126 bezüglich einer Haupt-Propagationsrichtung 128 des in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahls 108 vor oder hinter dem Strahlteilungselement 116 angeordnet.
Bei dem gezeigten Beispiel ist die Haupt-Propagationsrichtung 128 parallel oder näherungsweise parallel zur z-Richtung orientiert. Insbesondere sind die x- Richtung und die z-Richtung jeweils senkrecht zu einer y-Richtung orientiert. Diese y-Richtung ist bei dem gezeigten Beispiel parallel oder näherungsweise parallel zu einer Vorschubrichtung 129 orientiert, in welche die Fokusverteilungen 124 zur Laserbearbeitung des Werkstücks 104 relativ zu dem Werkstück 104 bewegt werden.
Hinsichtlich der Funktionsweise und Ausführung des Polarisations- Strahlteilungselements 126 wird auf die nicht vorveröffentlichten deutschen Patentanmeldungen mit Aktenzeichen 10 2020 207 715.0 (Anmeldetag: 22. Juni 2020) und mit Aktenzeichen 10 2019 217 577.5 (Anmeldetag: 14. November 2019) der gleichen Anmelderin verwiesen. Hierauf wird ausdrücklich und vollinhaltlich Bezug genommen.
Insbesondere sind unter den Polarisationszuständen der Teilstrahlen 114 lineare Polarisationszustände zu verstehen, wobei beispielsweise zwei unterschiedliche Polarisationszustände vorgesehen sind und/oder wobei beispielsweise jeweilige Polarisationsrichtungen voneinander verschiedener Teilstrahlen unter einem Winkel von 90° zueinander ausgerichtet sind.
Insbesondere sind die Teilstrahlen 114 derart polarisiert, dass ein elektrisches Feld in einer Ebene senkrecht zu deren Propagationsrichtung orientiert ist (transversal elektrisch). Zur Polarisationsstrahlteilung weist das Polarisations-Strahlteilungselement 126 beispielsweise ein doppelbrechendes Linsenelement und/oder ein doppelbrechendes Keilelement auf. Das doppelbrechende Linsenelement und/oder das doppelbrechende Keilelement sind beispielsweise aus einem Quarzkristall hergestellt oder umfassen einen Quarzkristall.
Mittels des doppelbrechenden Linsenelements werden beispielsweise Teilstrahlen 114 mit unterschiedlichem Polarisationszustand derart ausgebildet, dass diese durch Fokussierung mittels der Fokussieroptik 116 mit einem Ortsversatz in z- Richtung und/oder x-Richtung abgebildet werden. Es lassen sich dadurch beispielsweise in der Fokuszone 122 aus Teilstrahlen 114 mit unterschiedlichem Polarisationszustand ausgebildete Fokusverteilungen 124 mit einem Ortsversatz in z-Richtung und/oder x-Richtung anordnen.
Mittels des Polarisations-Strahlteilungselements 126 lässt sich beispielsweise eine Aneinanderreihung von Fokusverteilungen 124 in der Fokuszone 122 realisieren, wobei zueinander benachbarte Fokusverteilungen 124 jeweils aus Teilstrahlen 114 mit unterschiedlichen Polarisationszuständen gebildet sind.
Weiter kann es vorgesehen sein, dass die erste Strahlformungseinrichtung 106 ein Strahlformungselement 130 aufweist, mittels welchem die dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordnete Fokusverteilung nach dessen Einkopplung in die erste Strahlformungseinrichtung 106 modifizierbar ist.
Hinsichtlich der technischen Realisierung und Eigenschaften des Strahlformungselements 130 wird auf die wissenschaftliche Veröffentlichung "Structured light for ultrafast laser micro- and nanoprocessing " von D. Flamm et al., arXiv:2012.10119vl [physics. optics], 18. Dezember 2020, und auf das Buch "Laser Beam Shaping: Theory and Techniques", Fred M. Dickey, ed., CRC press, 2014, verwiesen. Hierauf wird ausdrücklich und vollinhaltlich Bezug genommen.
Das Strahlformungselement 130 ist beispielsweise als diffraktives oder refraktives Phasenelement zur Aufprägung von definierten
Wellenfrontaberrationen auf einen in das Strahlformungselement 130 eingekoppelten Strahl ausgebildet. Beispielsweise ist das Strahlformungselement 130 als diffraktiver field mapper ausgebildet.
Beispielsweise ist das Strahlformungselement 130 bezüglich der Haupt- Propagationsrichtung 128 des ersten Eingangsstrahls 108 vor oder hinter dem Strahlteilungselement 112 angeordnet.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel ist das Strahlformungselement 130 zwischen dem Strahlteilungselement 112 und dem Polarisations-Strahlteilungselement 126 angeordnet. Beispielsweise wird der Eingangsstrahl 108 zuerst mit dem Strahlteilungselement 112 bearbeitet und anschließend mit dem Strahlformungselement 130 und/oder mit dem Polarisations- Strahlteilungselement 126.
Mittels dem Strahlformungselement 130 sind eine geometrische Form und/oder ein Intensitätsprofil der in die Fokuszone 122 abgebildeten Fokusverteilungen 124 modifizierbar.
Eine Modifikation der Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 mittels dem Strahlformungselement 130 kann in einer zur Vorschubrichtung 129 parallelen Querschnittsebene erfolgen, wobei diese Querschnittsebene insbesondere senkrecht zur Haupt-Propagationsrichtung 128 und/oder senkrecht zur z- Richtung orientiert ist (Fig. 3a, 3b und 3c).
Weiter kann eine Modifikation der Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 mittels dem Strahlformungselement 130 in einer zur Vorschubrichtung 129 senkrechten Querschnittsebene erfolgen (Fig. 4a und 4b). Diese Querschnittsebene ist bei dem gezeigten Beispiel parallel zur x-Richtung und parallel zur Haupt-Propagationsrichtung 128 und/oder z-Richtung orientiert.
Bezüglich der zur Vorschubrichtung 129 parallel orientierten Querschnittsebene erfolgt die Modifikation der Fokusverteilung 124 beispielsweise derart, dass die Form und/oder das Intensitätsprofil der Fokusverteilung 124 in dieser Querschnittsebene eine Vorzugsrichtung 132 aufweist. Unter dieser Vorzugsrichtung 132 ist insbesondere eine Richtung zu verstehen, in welcher eine Erstreckungslänge der Fokusverteilung 124 lokal oder global maximiert ist. Beispielsweise ist unter der Vorzugsrichtung 132 eine Haupt- Erstreckungsrichtung der Fokusverteilung 124 zu verstehen.
Bei dem in Fig. 3b gezeigten Beispiel ist die Fokusverteilung 124 in der zur Vorschubrichtung 129 parallelen Ebene elliptisch und/oder als Ellipse ausgebildet. Die Vorzugsrichtung 132 ist in diesem Fall parallel zu einer großen Halbachse dieser Ellipse orientiert.
Es ist grundsätzlich auch möglich, dass die Fokusverteilung 124 mehrere Vorzugsrichtungen 132 aufweist. Bei dem in Fig. 3c gezeigten Beispiel ist die Fokusverteilung 124 in der zur Vorschubrichtung 129 parallelen Ebene rechteckförmig und/oder als Rechteck und insbesondere quadratisch ausgebildet. In diesem Fall weist die Fokusverteilung 124 eine erste Vorzugsrichtung 132'a auf, welche beispielsweise parallel zur x-Richtung orientiert ist, und eine zweite Vorzugsrichtung 132'b, welche beispielsweise quer und insbesondere senkrecht zur x-Richtung orientiert ist, d.h. in dem gezeigten Beispiel parallel zur y- Richtung.
Beispielsweise liegen die erste Vorzugsrichtung 132'a und die zweite Vorzugsrichtung 132'b jeweils parallel zu Verbindungslinien zwischen einander gegenüberliegenden Ecken des Rechtecks.
Es kann vorgesehen sein, dass die dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordnete Fokusverteilung 124 in der zur Vorschubrichtung 129 senkrecht orientierten Querschnittsebene eine längliche und/oder langgezogene Form aufweist (Fig. 4a und 4b). Dies wird beispielsweise dadurch realisiert, dass dem ersten Eingangsstrahl 108, welcher in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelt wird, ein quasi-nichtbeugendes und/oder Bessel-artiges Strahlprofil zugeordnet ist.
Die Fokusverteilung 124 weist beispielsweise eine Haupterstreckungsrichtung 134 auf, entlang welcher die Fokusverteilung 124 in der zur Vorschubrichtung 129 senkrecht orientierten Querschnittsebene insbesondere eine größte Länge und/oder insbesondere eine größte Ausdehnung aufweist (siehe auch Fig. 3c). Beispielsweise ist die Haupterstreckungsrichtung 134 parallel zu einer Verbindungslinie zwischen einem Anfangspunkt und einem Endpunkt der Fokusverteilung 124 bezüglich einer Richtung größter Ausdehnung der Fokusverteilung 124 orientiert.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass mittels dem Strahlformungselement 130 eine Ausrichtung 136 und/oder Orientierung der Fokusverteilung 124 in der zur Vorschubrichtung 129 senkrecht orientierten Querschnittsebene anpassbar ist, wobei beispielsweise die Ausrichtung 136 der jeweiligen Haupterstreckungsrichtung 134 der Fokusverteilung 124 anpassbar ist.
Bei dem in den Fig. 4a und 4b gezeigten Beispielen ist die Ausrichtung 136 der jeweiligen Fokusverteilung 124 in der x-z-Ebene anpassbar.
Die jeweilige Ausrichtung 136 der Fokusverteilungen 124 wird mittels dem Strahlformungselement 130 beispielsweise derart angepasst, dass die Ausrichtung 136 parallel oder näherungsweise parallel zu einer der jeweiligen Fokusverteilung 124 zugeordneten lokalen Erstreckungsrichtung 138 der Fokuszone 122 orientiert ist.
Unter der lokalen Erstreckungsrichtung 138 der Fokuszone 122 ist beispielsweise eine lokale Abstandsrichtung von benachbarten Fokusverteilungen 124, beispielsweise von zwei oder drei benachbarten Fokusverteilungen 124, zu verstehen. Die Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 können beispielsweise in unterschiedlichen Abschnitten der Fokuszone 122 mit unterschiedlichen lokalen Erstreckungsrichtungen 138 angeordnet sein.
In der zur Vorschubrichtung 129 senkrecht orientierten Querschnittsebene kann die Fokusverteilung 124 durch Anpassung mittels dem Strahlformungselement 130 beispielsweise mit einer gekrümmten Form versehen werden (Fig. 4b). Beispielsweise lässt sich dadurch die Fokusverteilung 124 als gekrümmter Bessel-artiger Strahl und/oder als beschleunigter Bessel-artiger Strahl erzeugen.
Hinsichtlich der Ausbildung und Eigenschaften von quasi-nichtbeugenden und/oder Bessel-artigen Strahlen mit gekrümmter Form wird auf die wissenschaftliche Veröffentlichung "Bessel-like optical beams with arbitrary trajectories" von I. Chremmos et al., Optics Letters, Vol. 37, No. 23, 1. Dezember 2012, verwiesen.
Beispielsweise weist die Fokusverteilung 124 eine Längsmittelachse 140 auf, entlang welcher sie sich erstreckt. Diese Längsmittelachse 140 ist beispielsweise geradlinig ausgebildet (Fig. 4a). Im Fall einer Fokusverteilung mit gekrümmter Form weist die Längsmittelachse 140 eine gekrümmte Form oder eine abschnittsweise gekrümmte Form auf (Fig. 4b).
Die der Fokuszone 122 zugeordneten Fokusverteilungen 124 werden mittels der ersten Strahlformungseinrichtung 106 entlang einer Längsachse 142 der Fokuszone 122 angeordnet, welche beispielsweise geradlinig ausgebildet ist (Fig. 4a und 4b).
Die Längsachse 142 ist nicht notwendigerweise geradlinig und/oder stetig ausgebildet. Beispielsweise kann die Längsachse 142 zumindest abschnittsweise gekrümmt sein. Es ist auch möglich, dass die Längsachse 142 Richtungswechsel und insbesondere unstetige Richtungswechsel aufweist.
Bei dem in Fig. 5 gezeigten Beispiel erstreckt sich die Fokuszone 122 in dem Material 102 des Werkstücks 104 von einer ersten Außenseite 144 des Werkstücks 104 zu einer zweiten Außenseite 146 des Werkstücks 104, wobei die zweite Außenseite 146 bezüglich einer Tiefenrichtung 148 des Werkstücks 104 zu der ersten Außenseite 144 beabstandet ist. Insbesondere durchläuft die Fokuszone 122 das Werkstück 104 in Tiefenrichtung 144 vollständig und/oder unterbrechungsfrei.
Die erste Außenseite 144 und die zweite Außenseite 146 des Werkstücks 104 sind beispielsweise parallel oder näherungsweise parallel zueinander orientiert.
Zur Laserbearbeitung des Werkstücks 104 wird die Fokuszone 122 beispielsweise durch die erste Außenseite 144 oder durch die zweite Außenseite 146 in das Material 102 des Werkstücks 104 eingebracht und/oder eingekoppelt. Die Fokuszone 122 weist einen von der ersten Außenseite 144 ausgehenden ersten Abschnitt 150 auf, an welchen sich in Tiefenrichtung 148 ein zweiter Abschnitt 152 der Fokuszone 122 anschließt. Weiter weist die Fokuszone 122 einen auf diesen zweiten Abschnitt 152 in Tiefenrichtung 148 folgenden dritten Abschnitt 154 auf.
Bei dem gezeigten Beispiel ist die Längsachse 142 der Fokuszone 122 in jedem der Abschnitte 150, 152 und 154 geradlinig ausgebildet, wobei die Längsachse 142 an den Übergängen von dem ersten Abschnitt 150 zu dem zweiten Abschnitt 152 und von dem zweiten Abschnitt 152 zu dem dritten Abschnitt 154 insbesondere jeweils einen Richtungswechsel aufweist.
Jedem dieser Abschnitte 150, 152 und 154 ist eine unterschiedliche lokale Erstreckungsrichtung 138 zugeordnet, mit welcher die Fokusverteilungen 122 angeordnet sind.
Weiter ist jedem der Abschnitte 150, 152 und 154 ein bestimmter Anstellwinkel o zugeordnet. Unter diesem Anstellwinkel o ist ein kleinster Winkel zwischen der lokalen Erstreckungsrichtung 138 des entsprechenden Abschnitts 150, 152, 154 und der ersten Außenseite 144 und/oder oder zweiten Außenseite 146 zu verstehen.
Beispielsweise weisen der erste Abschnitt 150 und der dritte Abschnitt 154 einen Anstellwinkel o von 45° auf und der zweite Abschnitt 152 weist einen Anstellwinkel o von 90° auf.
Das Material 102 des Werkstücks 104 ist für eine Wellenlänge von Laserstrahlen, aus welchen die Fokuszone 122 und/oder die Fokusverteilungen 124 gebildet sind, transparenten Material hergestellt.
Zur Laserbearbeitung des Materials 102 wird die Fokuszone 122 in das Material 102 eingebracht. Durch diese Beaufschlagung des Materials 102 mit der Fokuszone 122 werden an den Fokusverteilungen 124 jeweils lokalisierte Materialmodifikationen 156 ausgebildet (Fig. 6), welche beispielsweise entlang der Längsachse 142 der Fokuszone 122 beabstandet zueinander angeordnet sind.
Durch geeignete Wahl von Bearbeitungsparametern, wie beispielsweise Laserparametern und/oder Vorschubgeschwindigkeit, können die Materialmodifikationen 156 als Typ III Modifikationen erzeugt werden, welche zu einer spontanen Bildung von Rissen 157 im Material 102 führen (Fig. 6). Die bei der Laserbearbeitung des Materials 102 ausgebildeten Risse 157 erstrecken sich insbesondere zwischen einander benachbarten Materialmodifikationen 156.
Unter der Vorschubgeschwindigkeit ist eine Geschwindigkeit einer Relativbewegung zwischen der Fokuszone 122 und dem Material 102 in Vorschubrichtung 129 zu verstehen.
Alternativ hierzu ist es möglich, durch geeignete Wahl der Bearbeitungsparameter die Materialmodifikationen 156 als Typ I und/oder Typ II Modifikationen zu erzeugen, welche mit einer Wärmeakkumulation im Material 102 und/oder mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials 102 einhergehen.
Die Ausbildung der Materialmodifikationen 156 als Typ I und/oder Typ II Modifikationen ist mit einer Wärmeakkumulation im Material 102 des Werkstücks 104 assoziiert. Insbesondere liegen die erzeugten Materialmodifikationen 156 in diesem Fall derart dicht aneinander, dass es bei deren Ausbildung durch Beaufschlagung des Materials 102 mit der Fokuszone 122 zu dieser Wärmeakkumulation kommt (angedeutet in Fig. 7).
Bei einer Ausführungsform umfasst die Vorrichtung 100 eine zweite Strahlformungseinrichtung 158, welche bezüglich der Haupt- Propagationsrichtung 128 des in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahls 108 vor dieser ersten Strahlformungseinrichtung 106 angeordnet ist. Mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 lässt sich die dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordnete Fokusverteilung vor dessen Einkopplung in die erste Strahlformungseinrichtung 106 anpassen. Bei dieser Ausführungsform wird in die zweite Strahlformungseinrichtung 158 ein zweiter Eingangsstrahl 160 eingekoppelt, welche insbesondere mittels der Laserquelle 110 bereitgestellt ist und/oder ein aus der Laserquelle 100 ausgekoppelter Laserstrahl ist.
Analog zu dem ersten Eingangsstrahl 108 ist demnach unter dem zweiten Eingangsstrahl 160 insbesondere ein Strahlenbündel verstehen, welches eine Mehrzahl insbesondere parallel verlaufender Strahlen umfasst.
Der in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelte erste Eingangsstrahl 128 ist bei dem gezeigten Beispiel ein aus der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ausgekoppelter Strahl und/oder ein aus der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ausgekoppeltes Strahlenbündel.
Mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 erfolgt eine Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl 160, wodurch die dem in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahl 108 zugeordnete Fokusverteilung definiert wird. Es lässt sich dadurch die geometrische Form und/oder das Intensitätsprofil der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 definieren.
Der in die zweite Strahlformungseinrichtung 158 eingekoppelte zweite Eingangsstrahl 160 weist beispielsweise ein gaußförmiges Strahlprofil auf, d.h. der zweite Eingangsstrahl 160 weist eine gaußförmige Form und/oder ein gaußförmiges Intensitätsprofil auf.
Bei einer Ausführungsform ist die zweite Strahlformungseinrichtung 158 derart eingerichtet und ausgebildet, dass mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 dem in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahl 108 ein quasi-nichtbeugendes und/oder Bessel-artiges Strahlprofil zugeordnet wird. Der erste Eingangsstrahl 108 lässt sich dadurch insbesondere in eine Fokusverteilung mit einem quasi-nichtbeugenden und/oder Bessel-artigem Strahlprofil abbilden. Bei dieser Ausführungsform weist die in die Fokuszone 122 abgebildete Fokusverteilung 124 eine langgezogene Form und/oder ein langgezogenes Intensitätsprofil auf (Fig. 2 und Fig. 8). Insbesondere weist die Fokusverteilung 124 bei dieser Ausführungsform eine Haupterstreckungsrichtung 162 auf, entlang welcher sie sich erstreckt.
Beispielsweise ist oder umfasst die zweite Strahlformungseinrichtung 158 ein diffraktives optisches Element und/oder ein Axiconelement zur Aufprägung der Phasenverteilung auf den zweiten Eingangsstrahl 160 zur Ausbildung der Fokusverteilung 124 mit langgezogener Form und/oder langgezogenem Intensitätsprofil.
Der bei dieser Ausführungsform mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 bereitgestellte erste Eingangsstrahl 108 wird in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelt. Dieser erste Eingangsstrahl 108 wird, wie vorstehend beschrieben, mittels des Strahlteilungselements 112 der ersten Strahlformungseinrichtung 106 in voneinander verschiedene Teilstrahlen 114 aufgeteilt, welche mittels der Fokussieroptik 116 in die unterschiedlichen Teilbereiche 120 der Fokuszone 122 abgebildet werden. Die mittels der Fokussieroptik 116 in die Fokuszone 122 abgebildeten Fokusverteilungen 124 stellen hinsichtlich ihrer Form und/oder ihrem Intensitätsprofil Kopien der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung dar, wobei durch Fokussierung mittels der Fokussieroptik 116 insbesondere eine verkleinerte Abbildung der Fokusverteilungen 124 erfolgt.
Ein Beispiel von mittels der Fokussieroptik 116 in die Fokuszone 122 abgebildeten Fokusverteilungen 124 mit langgezogener Form und/oder langgezogenem Intensitätsprofil ist in Fig. 8 als Graustufenverteilung dargestellt, wobei hellere Graustufenwerte für größere Intensitäten stehen.
Bei dem in Fig. 8 gezeigten Beispiel sind die Fokusverteilungen 124 quer zur Längsachse 142 und/oder zur lokalen Erstreckungsrichtung 138 orientiert. Es kann vorgesehen sein, dass in der ersten Strahlformungseinrichtung 106 wie vorstehend beschrieben eine Strahlformung mittels dem Strahlformungselement 130 und/oder eine Strahlteilung mittels dem Polarisations-Strahlteilungselement 126 durchgeführt wird. In diesem Fall basieren die mittels der Fokussieroptik 116 abgebildeten Fokusverteilungen 124 hinsichtlich ihrer Form und/oder ihrem Intensitätsprofil auf der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung, weisen aber aufgrund der Bearbeitung mittels dem Strahlformungselement 130 und/oder dem Polarisations-Strahlteilungselement 126 gegenüber der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung eine modifizierte Form und/oder modifizierte Polarisationseigenschaften auf.
Bei einer weiteren Ausführungsform ist die zweite Strahlformungseinrichtung 158 derart eingerichtet und ausgebildet, dass mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 dem in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahl 108 ein Strahlprofil zugeordnet wird, dessen Intensitätsprofil ausgehend von einem Intensitätsmaximum 164 bezüglich einer Haupterstreckungsrichtung 166 und/oder Haupterstreckungsachse einen abrupten Intensitätsabfall aufweist (Fig. 9a und 9b). Derartige Strahlen werden beispielsweise als abrupt-selbstfokussierende Strahlen bezeichnet.
Es lässt sich dadurch durch Abbildung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung 106 ausgekoppelten Teilstrahlen 114 die Fokuszone 122 aus einer Mehrzahl von Fokusverteilungen 124 mit einem solchen Intensitätsprofil ausbilden (Fig. 10). Insbesondere weist dann das Intensitätsprofil jeder der Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 den abrupten Intensitätsabfall auf.
Eine Graustufendarstellung einer zugehörigen zweidimensionalen Phasenverteilung von aus der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ausgekoppelten Strahlen ist in Fig. 11 dargestellt, wobei die zugeordnete Graustufenskala von Weiß (Phase +Pi) bis Schwarz (Phase -Pi) reicht.
Insbesondere ist die Phasenverteilung bezüglich einer zugeordneten Mittelachse 167 und/oder Strahlmittelachse radialsymmetrisch und/oder rotationssymmetrisch ausgebildet. Diese Mittelachse 167 ist beispielsweise parallel oder näherungsweise parallel zur einer Haupt-Propagationsrichtung 267 des auf die zweite Strahlformungseinrichtung 158 einfallenden zweiten Eingangsstrahls 160 orientiert.
Insbesondere nimmt eine der Phasenverteilung zugeordnete Phasenfrequenz in radialer Richtung 367 ausgehend von der Mittelachse 167 mit zunehmendem radialen Abstand zu der Mittelachse 167 zu.
Bei dieser Ausführungsform wird dem in die erste Strahlformungseinrichtung 106 eingekoppelten ersten Eingangsstrahl 108 eine Form und/oder ein Intensitätsprofil eines abrupt-selbstfokussierenden Strahls zugeordnet.
Hinsichtlich der Ausbildung und Eigenschaften derartiger Strahlen wird auf die wissenschaftlichen Veröffentlichungen "Abruptly autofocusing waves" von Efremidis, Nikolaos K., and Demetrios N. Christodoulides, Optics letters 35.23 (2010): 4045-4047 und "Observation of abruptly autofocusing waves" von Papazoglou et al., Optics letters 36.10 (2011): 1842-1844, verwiesen. Hierauf wird ausdrücklich und vollinhaltlich Bezug genommen.
Bei der in den Fig. 9a und 9b gezeigten Ausführungsform weist die Fokusverteilung 124 ausgehend von dem Intensitätsmaximum 164 in Haupterstreckungsrichtung 166 eine Intensitätsabfallflanke 165 auf.
Charakteristisch für den abrupt-selbstfokussierenden Strahl ist, dass an der Intensitätsabfallflanke 165 die Intensität ausgehend von dem Intensitätsmaximum 164 auf einen Wert von 1/e2 näherungsweise 3-Fach schneller abfällt als dies bei einem gaußförmigen Intensitätsprofil der Fall wäre.
Das Intensitätsmaximum 164 ist insbesondere ein Hauptmaximum und/oder globales Maximum des Intensitätsprofils des abrupt-selbstfokussierenden Strahls. Insbesondere weist das Intensitätsprofil ein oder mehrere Nebenmaxima 164a auf, welche ausgehend von dem Intensitätsmaximum 164 entgegen der Haupterstreckungsrichtung 166 auf das Intensitätsmaximum 164 folgen. Insbesondere weisen die Nebenmaxima 164 mit zunehmendem Abstand vom Intensitätsmaximum 164 bezüglich der Haupterstreckungsrichtung 166 jeweils geringere maximale Intensitätswerte auf.
Insbesondere kann es vorgesehen sein, dass die zweite Strahlformungseinrichtung 158 als Nahfeldstrahlformungseinrichtung ausgebildet ist.
Beispielsweise wird mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ein Zwischenbild 168 (angedeutet in Fig. 2) der dem ersten Eingangsstrahl 108 zugeordneten Fokusverteilung ausgebildet. Dieses Zwischenbild 168 ist bezüglich der Haupt-Propagationsrichtung 128 des ersten Eingangsstrahls 108 zwischen der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 und der ersten Strahlformungseinrichtung 106 angeordnet.
Insbesondere ist der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 eine Fernfeldoptik 170 zugeordnet, mittels welcher eine Fernfeldfokussierung eines aus der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ausgekoppelten Ausgangsstrahls 172 und/oder Ausgangsstrahlbündels in eine Brennebene 174 der Fernfeldoptik 170 erfolgt.
Insbesondere erfolgt mittels der Fernfeldoptik 170 eine Fernfeldfokussierung des Zwischenbilds 168 in die Brennebene 174.
In dieser Brennebene 174 wird durch die Fernfeldfokussierung des Ausgangsstrahls 172 und/oder Ausgangsstrahlbündels eine Intensitätsverteilung in Form einer Ringstruktur und/oder Ringsegmentstruktur ausgebildet, welche insbesondere um eine optische Achse 176 der Fernfeldoptik 170 angeordnet ist.
Bei dem in Fig. 2 gezeigten Beispiel wird mittels der Fernfeldoptik 170 und der Fokussieroptik 116 eine Teleskopeinrichtung 178 der Vorrichtung 100 ausgebildet. Hierzu weist die Fernfeldoptik 170 insbesondere eine größere Brennweite auf als die Fokussieroptik 116.
Die Brennebene 174 ist insbesondere eine gemeinsame Brennebene der Fernfeldoptik 170 und der Fokussieroptik 116. Insbesondere ist die Brennebene 174 eine Brennebene der Teleskopeinrichtung 178. Die erste Strahlformungseinrichtung 106 ist insbesondere in der Brennebene 174 und/oder in einem Bereich der Brennebene 174 angeordnet. Unter diesem Bereich ist ein sich um die Brennebene 174 erstreckender Bereich zu verstehen, welcher beispielsweise zu der Brennebene 174 einen maximalen Abstand von 10 % der Brennweite der Fernfeldoptik 170 aufweist. Eine Abstandsrichtung dieses maximalen Abstands ist insbesondere parallel zur optischen Achse 176 und/oder zur Haupt-Propagationsrichtung 128 des ersten Eingangsstrahls 108 orientiert.
Unter dem genannten Bereich der Brennebene 174 ist insbesondere ein Fernfeldbereich der Teleskopeinrichtung 178 zu verstehen, in welchem insbesondere eine Fernfeldfokussierung des aus der zweiten Strahlformungseinrichtung 158 ausgekoppelten Ausgangsstrahls 172 und/oder des in die erste Strahlformungseinrichtung 106 einzukoppelnden ersten Eingangsstrahls 108 vorliegt.
Mittels dem Strahlteilungselement 112 der Vorrichtung 100 ist es grundsätzlich möglich, die Fokusverteilungen 124 entlang unterschiedlicher Pfade anzuordnen und dadurch Fokuszonen mit unterschiedlicher Geometrie auszubilden.
Bei dem in den Fig. 12a und 12b gezeigten Beispiel sind die Fokusverteilungen 124 entlang der Längsachse 142 der Fokuszone 122 angeordnet, wobei die Längsachse 142 geradlinig ausgebildet ist. Der Fokuszone 122 ist in diesem Fall beispielsweise ein einziger Anstellwinkel o zugeordnet, mit welchem die Fokuszone 122 bezüglich der ersten Außenseite 144 und/oder der zweiten Außenseite 146 angewinkelt ist. Insbesondere weist die Fokuszone 122 bei diesem Ausführungsbeispiel durchgängig die gleiche lokale Erstreckungsrichtung 138 auf, d.h. die lokale Erstreckungsrichtung 138 ist insbesondere über die gesamte Erstreckung der Fokuszone 122 konstant.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß den Fig. 12c und 12d weist die Fokuszone 122 einen ersten Abschnitt 180 und einen zweiten Abschnitt 182 auf, wobei die Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 in dem ersten Abschnitt 180 und in dem zweiten Abschnitt 182 jeweils mit einer unterschiedlichen lokalen Erstreckungsrichtung 138 angeordnet sind. Beispielsweise weist die Fokuszone 122 bei diesem Ausführungsbeispiel im ersten Abschnitt 180 und im zweiten Abschnitt 182 jeweils durchgängig die gleiche lokale Erstreckungsrichtung 138 auf.
Insbesondere weist die Fokuszone 122 in dem ersten Abschnitt 180 und in dem zweiten Abschnitt 182 den gleichen Anstellwinkel o auf, mit welchem die Fokuszone 122 bezüglich der ersten Außenseite 144 und/oder der zweiten Außenseite 146 angewinkelt ist. Insbesondere ist dann ein kleinster Winkel zwischen der jeweiligen lokalen Erstreckungsrichtung 138 des ersten Abschnitts 180 und des zweiten Abschnitts 182 doppelt so groß wie der Anstellwinkel o.
Die Längsachse 142 der Fokuszone 122, entlang welcher die Fokusverteilungen 124 angeordnet sind, ist nicht notwendigerweise geradlinig ausgebildet. Beispielsweise kann es vorgesehen sein, dass die Längsachse 142 zumindest abschnittsweise eine gekrümmte Form aufweist. Beispielsweise weist die Fokuszone 122 bei dem in den Fig. 12e und 12f gezeigten Beispielen eine durchgängig gekrümmte Form auf.
Beispielsweise weist dann die Fokuszone 122 eine vaiierende lokale Erstreckungsrichtung 138 auf, d.h. die lokale Erstreckungsrichtung 138 der Fokuszone 122 ist an verschiedenen Positionen der Fokuszone 122 und/oder an verschiedenen Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 jeweils unterschiedlich.
In den Abbildungen 12b, 12d und 12f ist jeweils eine den Abbildungen 12a, 12c bzw. 12e zugeordnete Phasenverteilung von aus dem Strahlteilungselement 112 ausgekoppelten Strahlen dargestellt, wobei die zugeordnete Graustufenskale von Weiß (Phase +Pi) bis Schwarz (Phase -Pi) reicht.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung 100 funktioniert wie folgt:
Zur Durchführung der Laserbearbeitung wird das Material 102 des Werkstücks 104 mit der Fokuszone 122 beaufschlagt und die Fokuszone 122 wird in Vorschubrichtung 129 relativ zu dem Werkstück 104 durch dessen Material 102 bewegt. Das Material 102 ist hierbei insbesondere ein für eine Wellenlänge von Strahlen, aus welchen die Fokuszone 122 gebildet ist, transparentes oder teiltransparentes Material. Beispielsweise ist das Material 102 ein Glasmaterial.
Die Fokuszone 122 wird beispielsweise entlang einer vordefinierten Bearbeitungslinie 184 und/oder Bearbeitungsfläche durch das Material 102 des Werkstücks 104 bewegt. Die Bearbeitungslinie 184 kann beispielsweise gerade und/oder gekrümmte Abschnitte aufweisen.
Durch Beaufschlagung des Materials 102 mit der Fokuszone 122 werden in dem Material 102 Materialmodifikationen 156 ausgebildet, welche entlang der Längsachse 142 der Fokuszone 122 angeordnet sind (Fig. 5 und Fig. 13a). Es werden dadurch in dem Material Modifikationslinien 186 ausgebildet, an welchen die Materialmodifikationen 156 angeordnet sind, wobei diese Modifikationslinien 186 insbesondere eine der Längsachse 142 der Fokuszone 122 entsprechende Form aufweisen. Bei dem in Fig. 13a gezeigten Beispiel erstrecken sich die Modifikationslinien 186 von der ersten Außenseite 144 bis zur zweiten Außenseite 146.
Aufgrund der Relativbewegung der Fokuszone 122 bezüglich dem Material 102 wird eine Mehrzahl von Modifikationslinien 186 ausgebildet, welche parallel zur Vorschubrichtung 129 beabstandet positioniert sind. Es ergibt sich dadurch insbesondere eine flächige Ausbildung von Materialmodifikationen 156 in dem Material 102 (Fig. 13a).
Ein Abstand von in Vorschubrichtung 129 benachbarten Modifikationslinien 186 lässt sich beispielsweise durch geeignete Wahl einer Pulsdauer eines Laserstrahls, aus welchem die Fokuszone 122 gebildet ist, und/oder einer in Vorschubrichtung 129 orientierten Vorschubgeschwindigkeit definieren.
Die entlang der Bearbeitungslinie 184 und/oder Bearbeitungsfläche ausgebildeten Materialmodifikationen 156 haben insbesondere eine Verringerung einer Festigkeit des Materials 102 zur Folge. Es lässt sich dadurch das Material 102 nach Ausbildung der Materialmodifikationen 156 an der Bearbeitungslinie 184 und/oder Bearbeitungsfläche, beispielsweise durch Ausübung einer mechanischen Kraft, in zwei voneinander verschiedene Segmente 188a und 188b trennen (Fig. 13b).
Das Segment 188b ist bei dem gezeigten Beispiel ein Gutstücksegment mit einer gewünschten Kantenform. Das Segment 188a ist in diesem Fall ein Restwerkstücksegment und/oder Verschnittsegment.
Vorzugsweise erfolgt eine Beaufschlagung des Materials 102 mit der Fokuszone 122 derart, dass die Fokuszone 122 das Material 102 durchdringt. Beispielsweise erstreckt sich die Fokuszone 122 durchgängig und/oder unterbrechungsfrei über eine gesamte Dicke D des Materials 102 durch das Material 102. Es lässt sich dadurch beispielsweise, wie in den Fig. 13a und 13b gezeigt, eine vollständige Trennung des Materials über seine Dicke D erreichen.
Es ist auch möglich, mittels der Fokuszone 122 einen Kantenbereich 190 des Materials 102 zu bearbeiten (angedeutet in Fig. 13a). Beispielsweise erstreckt sich die Fokuszone 122 dann durchgängig und/oder unterbrechungsfrei zwischen zueinander quer orientierten Außenseiten des Werkstücks 104. Es lässt sich dadurch beispielsweise in dem Kantenbereich 190 ein Kantensegment von dem Werkstück 104 abtrennen. Dadurch kann das Werkstück 104 in dem Kantenbereich 190 beispielsweise abgeschrägt und/oder angefast werden.
Das Material 102 des Werkstücks 104 ist beispielsweise Quarzglas.
Beispielsweise weist dann zur Ausbildung der Materialmodifikationen 156 als Typ I und/oder Typ II Modifikationen ein Laserstrahl, aus welchem die Fokusverteilungen 124 der Fokuszone 122 gebildet sind, eine Wellenlänge von 1030 nm und eine Pulsdauer von 1 ps auf. Weiter beträgt dann eine der Fokussieroptik 116 zugeordnete numerische Apertur 0,4 und eine einer einzigen Fokusverteilung 124 zugeordnete Pulsenergie 100 nJ.
Zur Ausbildung der Materialmodifikationen 156 als Typ III Modifikationen beträgt, bei ansonsten gleichen Parametern, die einer einzigen Fokusverteilung 124 zugeordnete Pulsenergie 1000 nJ. Bezugszeichenliste
0 Anstellwinkel
D Dicke dl Abstand dx Abstand in x-Richtung dz Abstand in z-Richtung
100 Vorrichtung
102 Material
104 Werkstück
106 erste Strahlformungseinrichtung
108 erster Eingangsstrahl
110 Laserquelle
112 Strahlteilungselement
114 Teilstrahl
114a Teilstrahl
114b Teilstrahl
116 Fokussieroptik
120 Teilbereich
120a Teilbereich
120b Teilbereich
122 Fokuszone
124 Fokusverteilung
126 Polarisations-Strahlteilungselement
128 Haupt-Propagationsrichtung
129 Vorschubrichtung
130 Strahlformungselement
132 Vorzugsrichtung
132'a erste Vorzugsrichtung
132'b zweite Vorzugsrichtung
134 Haupterstreckungsrichtung
136 Ausrichtung
138 lokale Erstreckungsrichtung
140 Längsmittelachse
142 Längsachse erste Außenseite zweite Außenseite
Tiefenrichtung erster Abschnitt zweiter Abschnitt dritter Abschnitt
Materialmodifikation
Riss zweite Strahlformungseinrichtung zweiter Eingangsstrahl Haupterstreckungsrichtung Intensitätsmaximum a Nebenmaximum
Intensitätsabfallflanke Haupterstreckungsrichtung Mittelachse
Haupt-Propagationsrichtung radiale Richtung
Zwischenbild Fernfeldoptik Ausgangsstrahl Brennebene optische Achse
Teleskopeinrichtung erster Abschnitt zweiter Abschnitt Bearbeitungslinie Modifikationslinie a Segment b Segment Kantenbereich

Claims

48
Patentansprüche Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Werkstücks (104), welches ein für die Laserbearbeitung transparentes Material (102) aufweist, umfassend eine erste Strahlformungseinrichtung (106) mit einem Strahlteilungselement (112) zur Aufteilung eines in die erste Strahlformungseinrichtung (106) eingekoppelten ersten Eingangsstrahls (108) in eine Mehrzahl von Teilstrahlen (114), und eine der ersten Strahlformungseinrichtung (106) zugeordnete Fokussieroptik (116) zur Abbildung von aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) in mindestens eine Fokuszone (122), wobei die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls (108) mittels dem Strahlteilungselement (112) durch Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl (108) erfolgt, die Teilstrahlen (114) zur Ausbildung der mindestens einen Fokuszone (122) in unterschiedliche Teilbereiche (120) der mindestens einen Fokuszone (122) fokussiert werden, zur Laserbearbeitung des Werkstücks (104) die mindestens eine Fokuszone (122) mittels der Fokussieroptik (116) unter mindestens einem Anstellwinkel (o) zu einer Außenseite (144; 146) des Werkstücks (104) in das Material (102) eingebracht wird und wobei durch Beaufschlagung des Materials (102) mittels der mindestens einen Fokuszone (122) Materialmodifikationen (156) in dem Material (102) erzeugt werden, welche mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials (102) assoziiert sind. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mittels der mindestens einen Fokuszone (122) in dem Material (102) erzeugten Materialmodifikationen (156) Typ I und/oder Typ II Modifikationen sind. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine zweite Strahlformungseinrichtung (158) zur Strahlformung des in die erste Strahlformungseinrichtung (106) eingekoppelten ersten Eingangsstrahls (108), wobei mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung (158) durch Phasenaufprägung auf einen auf die zweite Strahlformungseinrichtung (158) einfallenden zweiten Eingangsstrahl (160) dem ersten Eingangsstrahl (108) 49 eine Fokusverteilung mit einer definierten geometrischen Form und/oder mit einem definierten Intensitätsprofil zugeordnet wird, sodass durch Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) mittels der Fokussieroptik (116) in unterschiedlichen Teilbereichen (120) der Fokuszone (122) jeweils Fokusverteilungen (124) basierend auf dieser geometrischen Form und/oder basierend auf diesem Intensitätsprofil ausgebildet werden. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl (160) derart ist, dass die Fokusverteilung (124) bezüglich einer zugeordneten Haupterstreckungsrichtung (162) eine langgezogene Form aufweist, und/oder dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl (160) derart ist, dass die Fokusverteilung (124) ein quasi-nichtbeugendes und/oder Bessel- artiges Intensitätsprofil aufweist. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl (160) derart ist, dass die Fokusverteilung (124) bezüglich einer zugeordneten Haupterstreckungsrichtung (166) ein Intensitätsprofil aufweist, welches ausgehend von einer Maximalintensität an einem Intensitätsmaximum (164) des Intensitätsprofils auf das l/e2-Fache der Maximalintensität um näherungsweise einen Faktor 3 schneller abfällt als dies bei einem gaußförmigen Intensitätsprofil der Fall ist, und/oder dass die Phasenaufprägung auf den zweiten Eingangsstrahl (160) derart ist, dass die Fokusverteilung (124) eine Form und/oder ein Intensitätsprofil eines abruptselbstfokussierenden Strahls aufweist. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung (158) ein Zwischenbild (168) der Fokusverteilung (124) ausgebildet wird, und insbesondere dadurch gekennzeichnet, dass das Zwischenbild (168) der Fokusverteilung (124) bezüglich einer Haupt-Propagationsrichtung (267) des zweiten Eingangsstrahls (160) vor der ersten Strahlformungseinrichtung (106) 50 angeordnet ist. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, gekennzeichnet durch eine der zweiten Strahlformungseinrichtung (158) zugeordnete Fernfeldoptik (170), wobei mittels der Fernfeldoptik (170) eine Fernfeldfokussierung eines aus der zweiten Strahlformungseinrichtung (158) ausgekoppelten Ausgangsstrahls (172) in eine Brennebene (174) der Fernfeldoptik (170) erfolgt, und insbesondere dadurch gekennzeichnet, dass die erste Strahlformungseinrichtung (106) in einem Bereich dieser Brennebene (174) angeordnet ist. Vorrichtung nach Anspruch 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, dass mittels der Fernfeldoptik (170) eine Fernfeldfokussierung des mittels der zweiten Strahlformungseinrichtung (158) ausgebildeten Zwischenbilds (168) der Fokusverteilung (124) in die Brennebene (174) erfolgt. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Fernfeldoptik (170) und die Fokussieroptik (116) eine Teleskopeinrichtung (178) ausbilden, und/oder dass die Fernfeldoptik (170) und die Fokussieroptik (116) eine gemeinsame Brennebene (174) aufweisen, wobei insbesondere die erste Strahlformungseinrichtung (106) in einem Bereich dieser gemeinsamen Brennebene (174) angeordnet ist. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass dem ersten Eingangsstrahl (108) eine Fokusverteilung mit einer definierten geometrischen Form und/oder mit einem definierten Intensitätsprofil zugeordnet ist, wobei den aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) ebenfalls diese geometrische Form und/oder dieses Intensitätsprofil zugeordnet ist, und/oder wobei durch Fokussierung der aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) mittels der Fokussieroptik (116) in unterschiedlichen Teilbereichen (120) der Fokuszone (122) jeweils Fokusverteilungen (124) basierend auf dieser geometrischen Form und/oder basierend auf diesem Intensitätsprofil 51 ausgebildet werden. orrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Strahlformungseinrichtung (106) ein Strahlformungselement (130) zur Modifikation einer dem ersten Eingangsstrahl (108) zugeordneten Fokusverteilung aufweist, wobei mittels dem Strahlformungselement (130) eine Modifikation und/oder Ausrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der in die mindestens eine Fokuszone (122) abgebildeten Fokusverteilung (124) in einer zu einer Vorschubrichtung (129), in welche die mindestens eine Fokuszone (122) zur Laserbearbeitung des Werkstücks (104) relativ zu dem Werkstück (104) bewegt wird, senkrecht orientierten Querschnittsebene erfolgt, und/oder wobei mittels dem Strahlformungselement (130) eine Modifikation und/oder Ausrichtung der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der in die mindestens eine Fokuszone (122) abgebildeten Fokusverteilung (124) in einer zu einer Vorschubrichtung (129), in welche die mindestens eine Fokuszone (122) zur Laserbearbeitung des Werkstücks (104) relativ zu dem Werkstück (104) bewegt wird, parallel orientierten Querschnittsebene erfolgt. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass mittels dem Strahlformungselement (130) eine Ausrichtung (136) einer Haupterstreckungsrichtung (134) der geometrischen Form und/oder des Intensitätsprofils der Fokusverteilung (124) in einer zur Vorschubrichtung (129) senkrecht orientierten Querschnittsebene einstellbar ist oder eingestellt wird, und insbesondere dadurch gekennzeichnet, dass eine Einstellung der Ausrichtung (136) derart erfolgt, dass die Haupterstreckungsrichtung (134) parallel oder näherungsweise parallel zu einer korrespondierenden lokalen Erstreckungsrichtung (138) der Fokuszone (122) orientiert ist. Vorrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, dass mittels dem Strahlformungselement (130) eine Modifikation des Intensitätsprofils der Fokusverteilung (124) in einer zur Vorschubrichtung (129) parallel orientierten Querschnittsebene derart erfolgt, dass das Intensitätsprofil mindestens eine Vorzugsrichtung (132) aufweist, wobei insbesondere die mindestens eine Vorzugsrichtung (132) parallel oder quer oder senkrecht zur Vorschubrichtung (129) orientiert ist. orrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Strahlformungseinrichtung (106) ein Polarisations-Strahlteilungselement (126) aufweist, welches derart eingerichtet ist, dass die aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) jeweils einen von mindestens zwei unterschiedlichen Polarisationszuständen aufweisen, wobei mittels der Fokussieroptik (116) Teilstrahlen (114) mit unterschiedlichen Polarisationszuständen in benachbarte Teilbereiche (120) der mindestens einen Fokuszone (122) fokussiert werden. Verfahren zur Laserbearbeitung eines Werkstücks (104), welches ein für die Laserbearbeitung transparentes Material (102) aufweist, bei dem mittels eines Strahlteilungselements (112) einer ersten Strahlformungseinrichtung (106) ein in die erste Strahlformungseinrichtung (106) eingekoppelter erster Eingangsstrahl (108) in eine Mehrzahl von Teilstrahlen (114) aufgeteilt wird und die aus der ersten Strahlformungseinrichtung (106) ausgekoppelten Teilstrahlen (114) mittels einer der ersten Strahlformungseinrichtung (106) zugeordneten Fokussieroptik (116) in mindestens eine Fokuszone (122) fokussiert werden, wobei die Aufteilung des ersten Eingangsstrahls (108) mittels dem Strahlteilungselement (112) durch Phasenaufprägung auf den ersten Eingangsstrahl (108) erfolgt, die Teilstrahlen (114) zur Ausbildung der mindestens einen Fokuszone (122) in unterschiedliche Teilbereiche (120) der mindestens einen Fokuszone (122) fokussiert werden, zur Laserbearbeitung des Werkstücks (104) die mindestens eine Fokuszone (122) mittels der Fokussieroptik (116) unter mindestens einem Anstellwinkel (o) zu einer Außenseite (144; 146) des Werkstücks (104) in das Material (102) eingebracht wird und wobei durch Beaufschlagung des Materials (102) mittels der mindestens einen Fokuszone (122) Materialmodifikationen (156) in dem Material (102) erzeugt werden, welche mit einer Änderung eines Brechungsindex des Materials (102) assoziiert sind.
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