EP2418610A1 - Method and system for counting stacked elements - Google Patents

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Publication number
EP2418610A1
EP2418610A1 EP11177016A EP11177016A EP2418610A1 EP 2418610 A1 EP2418610 A1 EP 2418610A1 EP 11177016 A EP11177016 A EP 11177016A EP 11177016 A EP11177016 A EP 11177016A EP 2418610 A1 EP2418610 A1 EP 2418610A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
signal
stack
elements
counting
raw signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP11177016A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Jacob Rutti
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of EP2418610A1 publication Critical patent/EP2418610A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06MCOUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06M9/00Counting of objects in a stack thereof
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06MCOUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06M7/00Counting of objects carried by a conveyor
    • G06M7/08Counting of objects carried by a conveyor wherein the direction of movement of the objects is changed at the station where they are sensed
    • G06M7/10Counting of flat overlapped articles, e.g. of cards
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06MCOUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06M2207/00Indexing scheme relating to counting of objects carried by a conveyor
    • G06M2207/02Counting of generally flat and overlapped articles, e.g. cards, newspapers

Definitions

  • the present invention relates to the non-contact counting of stacked elements and more particularly to the counting of postal folds.
  • the increasing specifics of postal folds associated with a smaller volume of mail result in increasing heterogeneity postal folds grouped in a stack for counting.
  • the counting methods evoked face a variety of technical challenges such as taking into account the presence of reflective envelopes, envelopes glued together, envelopes not uniformly arranged in the stack, envelopes arranged fan, envelopes of different proportions, damaged envelopes, etc.
  • the current counting methods are mainly intended for the counting of homogeneous elements and these methods are faulted by the problems mentioned above.
  • the present invention provides a method and a system for counting stacked elements which particularly provides excellent reliability in the counting of stacked elements, even in cases where said elements are in the form of a heterogeneous stack.
  • the invention proposes a method of counting stacked elements forming on a slice of the stack at least one line of variation of level.
  • the method includes measuring by telemetry a level variation on a line of points crossing the edge of the stack and recording a corresponding raw signal.
  • the method then comprises analyzing the raw signal to estimate one or more parameters relating to the structure of the stack followed by the processing of the raw signal by one or more statistical processing based on the estimated parameters and the signal analysis. processed to determine the number of stacked items.
  • the present method notably implements the recording of the telemetric signal relating to the entire stack and the analysis of said signal to assess the structure of the stack prior to signal processing. This makes it possible to obtain information on the stack of elements, for example recognize inhomogeneities, so as to apply a suitable treatment.
  • the present method can make it possible to customize raw signal processing and improve the reliability of the counting of inhomogeneous cell elements. The count made on the basis of a raw signal from a measurement signal recorded over the entire width of the slice is more reliable than that achieved by the methods of the prior art.
  • the method may include estimating an average thickness of the cells of the stack and a dispersion factor of the thicknesses of the cells in the stack. This makes it possible to obtain information on the composition of the elements in the stack.
  • the raw signal processing step comprises determining a parasitic threshold.
  • the interference threshold may be used to define a spreading limit below which a probability of finding a peak in the raw signal corresponding to a cell element is low.
  • the interference threshold is proportional to the product of the dispersion factor and the average thickness.
  • the interference threshold is a function of an average thickness of the elements of the stack whose thickness is less than a limiting thickness.
  • the limiting thickness can for example be determined on the basis of the dispersion coefficient and the first average thickness and the average thickness of the thin elements of the stack can be obtained by analysis of the raw signal.
  • the interference threshold makes it possible to take into account inhomogeneous cells where elements of very different proportions can coexist.
  • the interference threshold is a function of the thickness of the weakest elements in order to process the signal with sufficient accuracy. This makes it possible not to underestimate the count.
  • the average thickness of the elements of the stack is determined according to a raw number of stacked elements estimated on the basis of the recorded raw signal. This minimizes the calculations required to determine the average thickness of the cells in the stack.
  • the raw signal processing includes the suppression of parasitic peaks based on the interference threshold. This makes it possible to suppress parasitic peaks that do not correspond to elements of the stack.
  • the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the slope of the signal before and after the interruption when the interruption is longer than the interference threshold. This makes it possible to reconstruct the signal accurately by keeping the slope of the signal at the edges of the interruption.
  • the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the value of the signal before and after the interruption when the interrupt is shorter than the interference threshold. This allows to reconstruct the signal simply when the probability is low that a peak corresponding to an element can be masked by the interruption.
  • the step of processing the recorded raw signal comprises sliding average filtering of the signal, the number of points of the signal on which said sliding average is calculated being determined on the basis of the interference threshold. This makes it possible to filter the signal by taking into account the structure of the stack in order to limit the peeling of peaks corresponding to an element.
  • the step of analyzing the processed signal may comprise, for example, the count of the number of sign changes of the derivative of the processed signal and / or the counting of the number of changes of direction of the signal processed point-to-point, and / or a control presence of glued elements in the stack based on the recorded raw signal.
  • the recording step may comprise recording a plurality of raw signals corresponding to the level variation measurement on one or more lines of points traversing the entire slice of the stack.
  • This recording may be performed using a plurality of rangefinders, a rangefinder comprising a plurality of beams and / or scanning the wafer of the stack a plurality of times. This also increases the reliability of the count.
  • each of the raw signals is recorded and processed and the convergence of the count results of the stacked elements provided by the plurality of processed signals is verified.
  • the invention relates to a device for counting stacked elements
  • a device for counting stacked elements comprising a telemetry measurement system adapted to measure a signal corresponding to the level variation of at least one line crossing a slice of the stack formed. by said stacked elements; data storage means adapted to record said signal; calculation means adapted to implement the counting method according to the first aspect of the invention.
  • the present method relates to the non-contact counting of stacked elements and more particularly of substantially flat elements, such as for example a magazine, an envelope, a bank note, a credit card, etc.
  • the elements are arranged so that they form on a slice of the stack at least one level variation line that can be detected by telemetry, for example by laser telemetry.
  • an "edge" of the stacked element refers to a face of the reduced surface element that extends over almost a single dimension.
  • a rectangular envelope comprises four edges within the meaning of this description.
  • a slice of the stack of elements is thus formed by a grouping of edges of stacked elements.
  • a rangefinder 10 is generally composed of a transmission source 11 emitting a light beam 13, for example a laser emission source, and a sensor 12, for example a CCD type matrix sensor.
  • the sensor is arranged to receive a retroreflected beam by a wafer 300 of a stack 30 of elements 31 which passes in front of the light beam 13.
  • the elements 31 are arranged on one of their edges 311, that is to say on a face of the element 31 of reduced surface which extends over almost a single dimension.
  • the term slice 300 of the stack 30 refers to one of the four faces of the stack 30 formed by edges 310 of the elements 31 on which the light beam 13 is reflected. For example, it may be edges opposite the edges 311 on which the elements are arranged.
  • the beam retroreflected by the element 31 is received by the sensor 12.
  • the sensor 12 provides in response an electrical signal whose value is a function of the position of a point of impact of the incident light beam 13 on the element 31. Indeed, the position of the impact of the beam 13 on the element 31 is geometrically related to the impact position of the beam retroreflected on the sensor 12.
  • the electrical signal supplied by the sensor can be viewed on a screen 23 and can be used to deduce a distance between the light source 11 and the point of impact on the element 31 of the incident beam 13 from the source bright 11.
  • the figure 2 illustrates a device for counting stacked elements according to one embodiment of the invention. Similar elements on the figure 1 and 2 are noted by the same references.
  • the device comprises a rangefinder 10 comprising a light source 11 which emits a light beam 13, for example a laser, and a sensor 12, for example a CCD matrix sensor.
  • the sensor 12 is arranged to receive a retroreflected beam by the wafer 300 of a stack 30 of elements 31 which passes in front of the beam 13.
  • the beam retroreflected by the wafer 300 is received by the sensor 12.
  • the sensor 12 provides in response a raw electrical signal 40 which is transmitted to a computer system 20.
  • the computer system 20 comprises a computer data storage unit 21, a computing unit 22 and a display unit 23.
  • the computing unit 22 processes the raw signal 40 recorded on the storage unit 21 to obtain a processed signal 50 according to a process step of the method described in the following description.
  • the raw signal 40 and / or the processed signal 50 can be displayed on the display unit 23.
  • a scanning method is now described with reference to Figures 3 to 11 .
  • a scan of the slice 300 of the stack of elements is performed. The scanning is carried out so as to obtain a telemetric measurement on a line of points passing through the entire portion 300 of the cell 30.
  • the telemeter 10 has a fixed position and the cell 30 is moved relative to the telemeter 10, for example using a
  • the stack 30 of elements is fixed and the rangefinder 10 is moved relative to the stack 30, for example by using a trolley on which the telemeter 10 is mounted.
  • the raw signal 40 at the output of the rangefinder 10 is recorded on the storage unit 21 of the computer system 20.
  • the raw signal 40 is in the form of a time record of the amplitude of the electrical signal measured at the output of the sensor 12 during the scanning of the battery.
  • the raw signal 40 corresponds directly to a level variation measurement of the line of points passing through the entire portion 300 of the stack 30.
  • the raw signal is a discrete signal whose values over time can be described by the values (X 1 ... X n ).
  • a derivative of the raw signal can be determined between two clouds of N 1 consecutive points whose centroids are separated by N 2 points by the formula:
  • the derivative thus defined represents a slope between two means of N 1 consecutive points of the signal separated by N 2 points.
  • the wafer 300 is formed by the edges 310 of the elements 31 forming a level line or ridge line.
  • the corresponding raw signal comprises amplitude peaks.
  • peak is generally used to denote amplitude peaks in the raw signal.
  • spreading of a peak refers to the largest width of a peak in the raw signal. The spreading of a peak corresponds to a measured thickness of an element 31.
  • a mean spreading of the peaks, a dispersion factor of the spreads of the peaks with respect to the average spreading and an average amplitude of the peaks can be determined.
  • the average peak spreading corresponds to the average thickness of the elements 31 of the stack 30 and can be determined by the quotient of the sum of the peak spreads in the raw signal by the number of peaks.
  • the scatter factor of peak spreads over average spread can be deduced from the standard deviation of peak spreading over mean spreading.
  • the dispersion factor is an indicator of the inhomogeneity of the elements 31 of the stack 30.
  • the average spreading of the peaks can be determined on the basis of an estimate of the number of stacked elements (also called the raw number in the remainder of the description).
  • the estimation of the raw number of stacked elements can for example be carried out by the counting of the peaks in the raw signal. Such an enumeration can for example be performed by analyzing the derivative of the raw signal 40. More precisely, the counting of the peaks in the raw signal can be based on counting the sign changes of the derivative of the computed point-to-point signal.
  • the average peak spread in the raw signal can then be obtained by the quotient of the product of the thickness of the stack and a basic resolution of the telemetric record by the raw number of elements.
  • the basic resolution of the telemetric recording is for example defined by the quotient of a sampling frequency of the rangefinder by a speed of movement of the edge of the stack relative to the rangefinder.
  • the estimation step can be conducted using the computing means 22 of the computer system 20 connected to the rangefinder 10.
  • the average spreading of the peaks can be deduced from a fundamental frequency resulting from a spectral analysis of the raw signal, for example by decomposing the raw signal in Fourier series and looking for the average frequency corresponding to the frequency at which the cumulative energy crosses a threshold of 50% of the total energy of the spectrum.
  • This average frequency corresponds to an average period of folds. Given that the speed of travel of the wafer of the stack relative to the rangefinder is constant, the average thickness of the elements 31 is deduced therefrom.
  • the scatter factor of peak spreads over average spread can be determined by the quotient of the standard deviation of peak spread and average spread.
  • a fourth step S4 of treatment of signal the raw signal 40 is processed by one or more statistical processing based on the parameters estimated from the raw signal. This improves the quality of the recorded signal.
  • the processing step is performed on the basis of the recorded raw signal 40 corresponding to the entire slice of the stack taking into account the estimated structure of the stack. This makes it possible to process the raw signal by taking into account the inhomogeneity of the stack and to identify abnormalities in the raw signal. The applicant has shown that by treating the entire measured signal over a whole line, a much more reliable count can be obtained even with a stack of heterogeneous elements.
  • the processing of the raw signal 40 can be performed by considering a parasitic threshold in the raw signal.
  • the parasitic threshold represents a threshold below which the spreading of a peak can be considered abnormal for a given cell.
  • the interference threshold may result from an observation of the stack of elements by the user and a visual appreciation of the presence of fine elements in the stack. Setting the interference threshold may make it possible to adapt the processing of the raw signal according to the stack of elements to improve the quality of the signal without unduly suppressing a peak corresponding to an element of the stack.
  • the interference threshold can be determined on the basis of the recorded raw signal. For example, if the dispersion factor is less than a predetermined value, for example between 0.4 and 0.5, the interference threshold may be proportional to the product of the average spread of the peaks in the raw signal. by the dispersion factor of peak spreading. This makes it possible to take into account the disparity of the stacked elements in the signal processing.
  • the interference threshold is then a function of a second average spread calculated on the thinnest peaks whose thickness is less than a limiting thickness.
  • the limiting thickness can be determined on the basis of the first average thickness and the dispersion factor. This allows, in case of strong inhomogeneity of the elements of the stack, not to neglect fine peaks corresponding to small proportion elements in the stack.
  • the limiting thickness can be determined as an average thickness of a portion of the thinnest folds. For example, we can classify the elements in order of increasing thickness and take the average thickness of the elements included in the 20% the finer.
  • the signal processing step S4 comprises one or more statistical treatments applied to the signal such as spurious peak elimination, interrupt elimination and fine sliding averaging.
  • a first treatment may include the removal of spurious peaks in the raw signal.
  • the Figures 4A and 4B illustrate the presence of a parasitic peak 41 in the raw signal 40 respectively before the raw signal and in the raw signal.
  • parasitic peaks may be caused by a glare of the sensor 12 caused, for example, by abnormal reflection of the light beam.
  • Reflective material envelopes commonly used for promotional campaigns, can cause such glare. Paper dust deposited on the edge of envelopes can also cause such dazzling.
  • a detection of the spurious peaks in the raw signal can be achieved by comparing a spurious peak spreading value with a threshold, for example the parasitic threshold and / or by comparing the amplitude value of the spurious peak with the average amplitude. of the raw signal.
  • the parasitic peaks generally have a spread much lower than the parasitic threshold and a very strong amplitude, greater than an average amplitude of the peaks.
  • a paper dust is about 0.1 millimeter thick.
  • a parasitic peak due to the presence of a dust generally has a thickness of 2 points.
  • a second treatment includes eliminating interruptions in the raw signal.
  • the Figures 5A to 5D respectively illustrate interrupts 42 of the raw signal 40 positioned on a peak, in a trough, ascent of a peak and downward of a peak of the signal. Such interruptions may be caused by an absence of reflection due for example to a deterioration of the envelopes.
  • the elimination of the interrupt 42 is carried out by reconstruction of the raw signal 40 on the basis of the derivative of the signal calculated between two clouds of N 1 consecutive points separated by N 2 points before and after the interruption.
  • N1 can be chosen between 2 and 5 so as to limit the influence of disturbances in the calculation.
  • N2 is usually chosen close to the parasitic threshold. This treatment makes it possible to quickly provide an approximation of the slope of the signal near the edges. This treatment can advantageously be implemented when the size of the interrupt 42 is greater than the parasitic threshold.
  • the elimination of the interrupt 42 is performed by reconstructing the raw signal 40 on the basis of the derivative of the calculated point-to-point signal before and after the interruption. This processing makes it possible to precisely determine the slope of the signal at the edges of the interruption 42. This processing can advantageously be implemented when the size of the interrupt 42 is greater than the parasitic threshold.
  • the elimination of the interruption 42 is performed by reconstructing the raw signal 40 based on the value of the signal before and after the interruption. This processing makes it possible to reconstitute the signal simply by a linear approximation of the signal. This treatment is advantageously implemented when the size of the interrupt 42 is less than the parasitic threshold.
  • a third treatment may include fine filtering of the gross signal by moving average.
  • the choice of the number N of points of the signal on which said sliding average is calculated may be performed on the basis of a threshold, for example the interference threshold determined during the analysis step S3 of the raw signal.
  • the number N can be chosen equal to half the parasitic threshold. This treatment makes it possible to ensure a low-pass filter of the raw signal and to free itself from micro-waves.
  • FIGS 9A and 9B respectively illustrate a raw signal 40 and a processed signal 50 in an embodiment in which the signal processing step S4 successively comprises the removal of spurious peaks, the reconstruction of the interrupts and the fine sliding average filtering.
  • a fifth counting step S5 the processed signal 50 is analyzed to precisely determine the number of elements 31 of the stack 30.
  • the determination of the number of elements 31 in the processed signal 50 is performed by serial analysis of the derivative of the processed signal calculated between two clouds of N 1 consecutive points separated by N 2 points.
  • N 1 between 1 and 5 as a function of the compactness of the stack and N 2 equal to the parasitic threshold. The more the elements of the pile are tight, the more N 1 is generally chosen small.
  • the analysis of the derivative includes counting the number of sign changes of the derivative.
  • a detection of glued elements in the stack is performed. This makes it possible to improve the counting of the elements 31.
  • elements of the stack may, for example, be damaged by a fall of an object on the edge 300 of the stack 30.
  • the edges 310 of the damaged elements may then form a flat line almost continuous.
  • the raw signal corresponding to such damaged peaks has an almost constant amplitude.
  • the spreading of the peaks in the processed signal 50 can be determined.
  • the spreading of the peaks can be deduced from an analysis of the sign changes of the derivative of the processed signal 50.
  • a peak is framed by two minima and the analysis of the derivative of the signal makes it possible to deduce the spreading peaks in the signal.
  • a device for implementing the detection of glued elements may include a Schmitt flip-flop configured to switch when the derivative of the raw signal input to the flip-flop changes from sign.
  • the flip-flop outputs a square-wave signal and the size of the slots corresponds to the spreading of the peaks of the processed signal.
  • the spreading of the peaks is compared with a threshold to determine the peaks likely to contain glued elements.
  • the threshold may be equal to the interference threshold or the average spreading value in the raw signal. For a given peak, if the spread of the peak is below the threshold, the control ends.
  • a portion of raw signal corresponding to a processed signal portion comprising the determined peak is analyzed. This allows a finer analysis because the processed signal has undergone changes that may have removed small amplitude variations. Said portion of the raw signal may advantageously be finely filtered by sliding average filtering. This eliminates high frequency disturbances.
  • a step S13 of the detection of the glued elements the point-to-point derivative of the portion of the raw signal corresponding to the determined peak is calculated.
  • the calculated derivative is analyzed. If a change of sign of the derivative of the raw signal which was not detected on the derivative of the processed signal is detected in the raw signal, then it can be considered that there are two elements glued to each other. other and can be incremented a counter in a step S16. The additional peak detected could be masked in the signal processed by statistical processing. The control ends after the step of incrementing.
  • the figure 11A illustrates a raw signal 40 having a peak additional 402 of low amplitude.
  • a determination of a second derivative of the portion of the raw signal corresponding to the processed signal portion comprising the determined peak is performed in a step S16.
  • the second derivative can be obtained point-to-point from the derivative calculated in step S13.
  • the Figure 11B illustrates a derivative 43 and a second derivative 44 of a raw signal 40 (not shown).
  • the second derivative 44 comprises a peak 441 corresponding to an inflection point 431 of the derivative.
  • a peak of the second derivative can be considered to represent glued folds if the peak is detected at a distance D less than about half of the spread E a of the abnormal peak.
  • the glued-ply capture window is equal to about 50% of the spreading of the abnormal spike determined and centered on the peak. This corresponds to a factor of four in dispersion, that is to say twice as big or twice as fine as an average element.
  • determining the number of elements 31 in the processed signal 50 comprises the serial analysis of consecutive quadruplets of points of the processed signal.
  • the analysis can include the determination of a slope between first two points (X p , X p + 1 ) of the quadruplet and a slope between the last two points (X p + 2 , X p + 3 ) of the quadruplet.
  • a peak of the processed signal can be determined by a change of direction of the determined slopes.
  • flat peaks can be identified by the identification of high and low half-peaks distant from each other.
  • the high half-peaks and the low half-peaks can be respectively determined on a given quadruplet of points in the signal processed by the passage of a horizontal slope (respectively negative) for the first two points (X p , X p + 1 ) a quadruplet at a positive slope (respectively horizontal) for the last two points (X p + 2 , X p + 3 ) of the quadruplet.
  • the determination of the number of elements in the processed signal can be carried out successively according to the three embodiments presented above so as to obtain several counting results of the number of elements of the pile.
  • the counting method can be performed several times successively to obtain several counting results of the number of elements of the stack. It is also possible to use a multibeam rangefinder or a plurality of rangefinders to obtain a plurality of counting results.
  • the counting step S5 may be followed by a convergence determination step S6 in which at least one disturbing measure can be eliminated.
  • the counting device operator may be notified if the counting results have a standard deviation greater than a predetermined tolerated value.
  • the counting method and the device according to the invention comprise various variants, modifications and improvements which will be obvious to those skilled in the art, it being understood that these various alternatives, modifications and improvements are within the scope of the invention as defined by the following claims.

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Abstract

The method involves storing a raw signal corresponding to the laser telemeter measurement of the level variation on a line of points traversing a wafer (300) of a stack (30) of elements (31). The raw signal is analysed to estimate parameters relative to the structure of the stack. The stored raw signal is processed by statistical processing based on the estimated parameters. The processed signal is analysed to determine the number of stacked elements, where the parameters are average thickness of the elements of the stack, and dispersion factor of the thickness of the elements of the stack. An independent claim is also included for a device for counting stacked elements.

Description

La présente invention concerne le comptage sans contact d'éléments empilés et s'applique plus particulièrement au comptage de plis postaux.The present invention relates to the non-contact counting of stacked elements and more particularly to the counting of postal folds.

ETAT DE L'ARTSTATE OF THE ART

Il existe des appareils pour compter des feuilles de média fin en illuminant avec un réseau de LED le bord d'une pluralité de feuilles comme décrit dans la demande de brevet européen EP-A2-0743616 pour compter des paquets de photographies. Dans un appareil de ce type, un réseau de caméras CCD linéaires reçoit la lumière réfléchie par les feuilles et génère un signal en forme d'onde correspondant aux variations d'intensité de la lumière réfléchie.There are devices for counting thin media sheets by illuminating with an LED array the edge of a plurality of sheets as described in the European patent application. EP-A2-0743616 to count packs of photographs. In such an apparatus, a network of linear CCD cameras receives light reflected from the sheets and generates a waveform signal corresponding to the intensity variations of the reflected light.

Il existe également d'autres systèmes de comptage sans contact pour le comptage d'enveloppes et de magazines tels que décrits par exemple dans les brevets US 4,384,195 et US 5,221,837 .There are also other non-contact counting systems for counting envelopes and magazines as described for example in patents US 4,384,195 and US5,221,837 .

Cependant, les spécificités grandissantes des plis postaux associées à un volume de courrier moindre ont pour conséquence une hétérogénéité croissante des plis postaux regroupés dans une pile destinée au comptage. Ainsi, les méthodes de comptage évoquées sont confrontées à une variété de défis techniques tels que la prise en compte de la présence d'enveloppes réfléchissantes, d'enveloppes collées entre elles, d'enveloppes non uniformément disposées dans la pile, d'enveloppes disposées en éventail, d'enveloppes de proportions différentes, d'enveloppes abimées, etc. Les méthodes de comptages actuelles sont principalement destinées au comptage d'éléments homogènes et ces méthodes sont mises en défaut par les problèmes évoqués ci-avant.However, the increasing specifics of postal folds associated with a smaller volume of mail result in increasing heterogeneity postal folds grouped in a stack for counting. Thus, the counting methods evoked face a variety of technical challenges such as taking into account the presence of reflective envelopes, envelopes glued together, envelopes not uniformly arranged in the stack, envelopes arranged fan, envelopes of different proportions, damaged envelopes, etc. The current counting methods are mainly intended for the counting of homogeneous elements and these methods are faulted by the problems mentioned above.

La présente invention présente une méthode et un système de comptage d'éléments empilés qui offre notamment une excellente fiabilité dans le comptage d'éléments empilés, même dans des cas où lesdits éléments se présentent sous la forme d'une pile hétérogène.The present invention provides a method and a system for counting stacked elements which particularly provides excellent reliability in the counting of stacked elements, even in cases where said elements are in the form of a heterogeneous stack.

RESUME DE L'INVENTIONSUMMARY OF THE INVENTION

A cet effet, l'invention propose selon un premier aspect une méthode de comptage d'éléments empilés formant sur une tranche de la pile au moins une ligne de variation de niveau. La méthode comprend la mesure par télémétrie d'une variation de niveau sur une ligne de points traversant la tranche de la pile et l'enregistrement d'un signal brut correspondant. La méthode comprend par la suite l'analyse du signal brut pour estimer un ou plusieurs paramètres relatifs à la structure de la pile suivi par le traitement du signal brut par un ou plusieurs traitements statistiques sur la base des paramètres estimés et l'analyse du signal traité afin de déterminer le nombre d'éléments empilés.For this purpose, according to a first aspect, the invention proposes a method of counting stacked elements forming on a slice of the stack at least one line of variation of level. The method includes measuring by telemetry a level variation on a line of points crossing the edge of the stack and recording a corresponding raw signal. The method then comprises analyzing the raw signal to estimate one or more parameters relating to the structure of the stack followed by the processing of the raw signal by one or more statistical processing based on the estimated parameters and the signal analysis. processed to determine the number of stacked items.

La présente méthode met notamment en oeuvre l'enregistrement du signal télémétrique relatif à la totalité de la pile et l'analyse dudit signal pour apprécier la structure de la pile préalablement au traitement du signal. Ceci permet d'obtenir des informations sur la pile d'éléments, par exemple de reconnaître des inhomogénéités, de manière à appliquer un traitement adapté. La présente méthode peut permettre de personnaliser le traitement du signal brut et d'améliorer la fiabilité du comptage des éléments de piles inhomogènes. Le comptage réalisé sur la base d'un signal brut à partir d'un signal de mesure enregistré sur toute la largeur de la tranche s'avère plus fiable que celui réalisé par les méthodes de l'art antérieur.The present method notably implements the recording of the telemetric signal relating to the entire stack and the analysis of said signal to assess the structure of the stack prior to signal processing. This makes it possible to obtain information on the stack of elements, for example recognize inhomogeneities, so as to apply a suitable treatment. The present method can make it possible to customize raw signal processing and improve the reliability of the counting of inhomogeneous cell elements. The count made on the basis of a raw signal from a measurement signal recorded over the entire width of the slice is more reliable than that achieved by the methods of the prior art.

La méthode peut comprendre l'estimation d'une épaisseur moyenne des éléments de la pile et d'un facteur de dispersion des épaisseurs des éléments de la pile. Ceci permet d'obtenir une information sur la composition des éléments dans la pile.The method may include estimating an average thickness of the cells of the stack and a dispersion factor of the thicknesses of the cells in the stack. This makes it possible to obtain information on the composition of the elements in the stack.

Avantageusement, l'étape de traitement du signal brut comprend la détermination d'un seuil de parasitage. Le seuil de parasitage peut permettre de définir une limite d'étalement en dessous de laquelle une probabilité de trouver un pic dans le signal brut correspondant à un élément de la pile est faible.Advantageously, the raw signal processing step comprises determining a parasitic threshold. The interference threshold may be used to define a spreading limit below which a probability of finding a peak in the raw signal corresponding to a cell element is low.

Avantageusement, si le facteur de dispersion de la pile est inférieur à une valeur prédéterminée, alors le seuil de parasitage est proportionnel au produit du facteur de dispersion et de l'épaisseur moyenne. Alternativement, si le facteur de dispersion de la pile est supérieur à ladite valeur prédéterminée, alors le seuil de parasitage est fonction d'une épaisseur moyenne des éléments de la pile dont l'épaisseur est inférieure à une épaisseur limite. L'épaisseur limite peut par exemple être déterminée sur la base du coefficient de dispersion et de la première épaisseur moyenne et l'épaisseur moyenne des éléments fins de la pile peut être obtenue par analyse du signal brut.Advantageously, if the dispersion factor of the stack is lower than a predetermined value, then the interference threshold is proportional to the product of the dispersion factor and the average thickness. Alternatively, if the dispersion factor of the stack is greater than said predetermined value, then the interference threshold is a function of an average thickness of the elements of the stack whose thickness is less than a limiting thickness. The limiting thickness can for example be determined on the basis of the dispersion coefficient and the first average thickness and the average thickness of the thin elements of the stack can be obtained by analysis of the raw signal.

La présente définition du seuil de parasitage permet de prendre en compte les piles inhomogènes où des éléments de proportions très différentes peuvent coexister. Ainsi, quand le facteur de dispersion est élevé, le seuil de parasitage est fonction de l'épaisseur des éléments les plus faibles afin de traiter le signal avec une précision suffisante. Ceci permet de ne pas sous évaluer le comptage.The present definition of the interference threshold makes it possible to take into account inhomogeneous cells where elements of very different proportions can coexist. Thus, when the dispersion factor is high, the interference threshold is a function of the thickness of the weakest elements in order to process the signal with sufficient accuracy. This makes it possible not to underestimate the count.

Avantageusement, l'épaisseur moyenne des éléments de la pile est déterminée en fonction d'un nombre brut d'éléments empilés estimé sur la base du signal brut enregistré. Ceci permet de minimiser les calculs nécessaires pour déterminer l'épaisseur moyenne des éléments de la pile.Advantageously, the average thickness of the elements of the stack is determined according to a raw number of stacked elements estimated on the basis of the recorded raw signal. This minimizes the calculations required to determine the average thickness of the cells in the stack.

Selon un mode de réalisation, le traitement du signal brut comprend la suppression de pics parasites sur la base du seuil de parasitage. Ceci permet de supprimer des pics parasites qui ne correspondent pas à des éléments de la pile.According to one embodiment, the raw signal processing includes the suppression of parasitic peaks based on the interference threshold. This makes it possible to suppress parasitic peaks that do not correspond to elements of the stack.

Selon un mode de réalisation, l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend la reconstruction d'interruptions sur la base de la pente du signal avant et après l'interruption quand l'interruption est plus longue que le seuil de parasitage. Ceci permet de reconstruire avec précision le signal en conservant la pente du signal aux bords de l'interruption.According to one embodiment, the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the slope of the signal before and after the interruption when the interruption is longer than the interference threshold. This makes it possible to reconstruct the signal accurately by keeping the slope of the signal at the edges of the interruption.

Selon un mode de réalisation, l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend la reconstruction d'interruptions sur la base de la valeur du signal avant et après l'interruption quand l'interruption est plus courte que le seuil de parasitage. Ceci permet de reconstruire le signal simplement quand la probabilité est faible qu'un pic correspondant à un élément puisse être masqué par l'interruption.According to one embodiment, the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the value of the signal before and after the interruption when the interrupt is shorter than the interference threshold. This allows to reconstruct the signal simply when the probability is low that a peak corresponding to an element can be masked by the interruption.

Selon un mode de réalisation, l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend le filtrage par moyenne glissante du signal, le nombre de points du signal sur lequel ladite moyenne glissante est calculée étant déterminé sur la base du seuil de parasitage. Ceci permet de filtrer le signal en prenant en compte la structure de la pile pour limiter le gommage de pics correspondant à un élément.According to one embodiment, the step of processing the recorded raw signal comprises sliding average filtering of the signal, the number of points of the signal on which said sliding average is calculated being determined on the basis of the interference threshold. This makes it possible to filter the signal by taking into account the structure of the stack in order to limit the peeling of peaks corresponding to an element.

L'étape d'analyse du signal traité peut comprendre par exemple le comptage du nombre de changement de signe de la dérivée du signal traité et/ou le comptage du nombre de changement de sens du signal traité point à point, et/ou un contrôle de présence d'éléments collés dans la pile sur la base du signal brut enregistré.The step of analyzing the processed signal may comprise, for example, the count of the number of sign changes of the derivative of the processed signal and / or the counting of the number of changes of direction of the signal processed point-to-point, and / or a control presence of glued elements in the stack based on the recorded raw signal.

Avantageusement, la mise en oeuvre de plusieurs de ces méthodes est effectuée pour permettre d'augmenter la fiabilité du comptage.Advantageously, the implementation of several of these methods is performed to increase the reliability of the count.

Selon une variante, l'étape d'enregistrement peut comprendre l'enregistrement d'une pluralité de signaux bruts correspondant à la mesure de variation de niveau sur une ou plusieurs lignes de points traversant toute la tranche de la pile. Cet enregistrement peut être effectué en utilisant une pluralité de télémètres, un télémètre comprenant une pluralité de faisceaux et/ou en balayant la tranche de la pile une pluralité de fois. Ceci permet également d'augmenter la fiabilité du comptage.Alternatively, the recording step may comprise recording a plurality of raw signals corresponding to the level variation measurement on one or more lines of points traversing the entire slice of the stack. This recording may be performed using a plurality of rangefinders, a rangefinder comprising a plurality of beams and / or scanning the wafer of the stack a plurality of times. This also increases the reliability of the count.

Avantageusement, chacun des signaux bruts est enregistré et traité et la convergence des résultats de comptage des éléments empilés fournis par la pluralité de signaux traités est vérifiée.Advantageously, each of the raw signals is recorded and processed and the convergence of the count results of the stacked elements provided by the plurality of processed signals is verified.

Selon un deuxième aspect, l'invention se rapporte à un dispositif de comptage d'éléments empilés comprenant un système de mesure par télémétrie adapté pour mesurer un signal correspondant à la variation de niveau d'au moins une ligne traversant une tranche de la pile formée par lesdits éléments empilés; des moyens de stockage de données adaptés pour enregistrer ledit signal; des moyens de calcul adaptés pour mettre en oeuvre la méthode de comptage selon le premier aspect de l'invention.According to a second aspect, the invention relates to a device for counting stacked elements comprising a telemetry measurement system adapted to measure a signal corresponding to the level variation of at least one line crossing a slice of the stack formed. by said stacked elements; data storage means adapted to record said signal; calculation means adapted to implement the counting method according to the first aspect of the invention.

BREVE DESCRIPTION DES FIGURESBRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES

D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description qui suit, illustrée par les figures suivantes :

  • La figure 1 représente un schéma de fonctionnement d'un télémètre à triangulation pour le comptage d'enveloppes.
  • La figure 2 représente un dispositif de comptage d'éléments empilés selon un mode de réalisation de l'invention.
  • La figure 3 illustre schématiquement des étapes d'une méthode de comptage d'éléments empilés selon un mode de réalisation de l'invention.
  • Les figures 4A et 4B illustrent un pic parasite dans un signal brut enregistré selon un mode de réalisation de l'invention.
  • Les figures 5Aà 5D illustrent une interruption parasite dans un signal brut enregistré selon un mode de réalisation de l'invention.
  • Les figures 6A et 6B illustrent la reconstruction d'une interruption dans un signal brut enregistré selon un mode de réalisation d'une étape de traitement du signal de l'invention.
  • Les figures 7Aà 7C illustrent la reconstruction d'une interruption dans un signal brut enregistré selon un mode de réalisation d'une étape de traitement du signal de l'invention.
  • Les figures 8A et 8B illustrent la reconstruction d'une interruption dans un signal brut enregistré selon un mode de réalisation d'une étape de traitement du signal de l'invention.
  • Les figures 9A et 9B illustrent respectivement un signal brut enregistré et un signal traité selon un mode de réalisation de l'invention.
  • La figure 10 illustre un schéma général d'une détection d'éléments collés dans la pile selon un mode de réalisation de l'invention.
  • Les figures 11A et 11B illustrent des étapes intermédiaires de la détection d'éléments collés dans un mode de réalisation de l'invention.
Other features and advantages of the invention will appear on reading the description which follows, illustrated by the following figures:
  • The figure 1 represents an operation diagram of a triangulation range finder for counting envelopes.
  • The figure 2 represents a device for counting stacked elements according to one embodiment of the invention.
  • The figure 3 schematically illustrates steps of a method of counting stacked elements according to one embodiment of the invention.
  • The Figures 4A and 4B illustrate a parasitic peak in a raw signal recorded according to an embodiment of the invention.
  • The Figures 5A at 5D illustrate a parasitic interruption in a raw signal recorded according to a mode of embodiment of the invention.
  • The Figures 6A and 6B illustrate the reconstruction of an interrupt in a raw signal recorded according to an embodiment of a signal processing step of the invention.
  • The Figures 7A at 7C illustrate the reconstruction of an interrupt in a raw signal recorded according to an embodiment of a signal processing step of the invention.
  • The Figures 8A and 8B illustrate the reconstruction of an interrupt in a raw signal recorded according to an embodiment of a signal processing step of the invention.
  • The Figures 9A and 9B respectively illustrate a raw signal recorded and a processed signal according to an embodiment of the invention.
  • The figure 10 illustrates a general diagram of a detection of elements stuck in the stack according to one embodiment of the invention.
  • The Figures 11A and 11B illustrate intermediate steps of the detection of glued elements in one embodiment of the invention.

DESCRIPTION DETAILLEEDETAILED DESCRIPTION

La présente méthode concerne le comptage sans contact d'éléments empilés et plus particulièrement d'éléments substantiellement plats, tels que par exemple un magazine, une enveloppe, un billet de banque, une carte de crédit, etc. Les éléments sont disposés de telle sorte qu'ils forment sur une tranche de la pile au moins une ligne de variation de niveau que l'on peut détecter par télémétrie, par exemple par télémétrie laser.The present method relates to the non-contact counting of stacked elements and more particularly of substantially flat elements, such as for example a magazine, an envelope, a bank note, a credit card, etc. The elements are arranged so that they form on a slice of the stack at least one level variation line that can be detected by telemetry, for example by laser telemetry.

Dans la présente demande, un « bord » de l'élément empilé se réfère à une face de l'élément de surface réduite qui s'étend sur presque une seule dimension. Par exemple, une enveloppe rectangulaire comprend quatre bords au sens de la présente description.In the present application, an "edge" of the stacked element refers to a face of the reduced surface element that extends over almost a single dimension. For example, a rectangular envelope comprises four edges within the meaning of this description.

Une tranche de la pile d'éléments est ainsi formée par un regroupement de bords d'éléments empilés.A slice of the stack of elements is thus formed by a grouping of edges of stacked elements.

Le principe général d'un télémètre par triangulation appliqué au comptage d'éléments empilés, par exemple des enveloppes, est détaillé sur le schéma de la figure 1. Un télémètre 10 est généralement composé d'une source d'émission 11 émettant un faisceau lumineux 13, par exemple une source d'émission laser, et d'un capteur 12, par exemple un capteur matriciel de type CCD. Le capteur est agencé pour recevoir un faisceau rétroréfléchi par une tranche 300 d'une pile 30 d'éléments 31 qui défile devant le faisceau lumineux 13. Les éléments 31 sont disposés sur un de leurs bords 311, c'est-à-dire sur une face de l'élément 31 de surface réduite qui s'étend sur presque une seule dimension. Le terme tranche 300 de la pile 30 se réfère à une des quatre faces de la pile 30 formée par des bords 310 des éléments 31 sur lesquels le faisceau lumineux 13 est réfléchi. Par exemple, il peut s'agir des bords opposés aux bords 311 sur lesquels les éléments sont disposés.The general principle of a triangulation rangefinder applied to the counting of stacked elements, for example envelopes, is detailed on the diagram of the figure 1 . A rangefinder 10 is generally composed of a transmission source 11 emitting a light beam 13, for example a laser emission source, and a sensor 12, for example a CCD type matrix sensor. The sensor is arranged to receive a retroreflected beam by a wafer 300 of a stack 30 of elements 31 which passes in front of the light beam 13. The elements 31 are arranged on one of their edges 311, that is to say on a face of the element 31 of reduced surface which extends over almost a single dimension. The term slice 300 of the stack 30 refers to one of the four faces of the stack 30 formed by edges 310 of the elements 31 on which the light beam 13 is reflected. For example, it may be edges opposite the edges 311 on which the elements are arranged.

Le faisceau rétroréfléchi par l'élément 31 est reçu par le capteur 12. Le capteur 12 fournit en réponse un signal électrique dont la valeur est fonction de la position d'un point d'impact du faisceau lumineux 13 incident sur l'élément 31. En effet, la position de l'impact du faisceau 13 sur l'élément 31 est géométriquement liée à la position d'impact du faisceau rétroréfléchi sur le capteur 12. Le signal électrique fourni par le capteur peut être visualisé sur un écran 23 et permet de déduire une distance entre la source lumineuse 11 et le point d'impact sur l'élément 31 du faisceau 13 incident issu de la source lumineuse 11.The beam retroreflected by the element 31 is received by the sensor 12. The sensor 12 provides in response an electrical signal whose value is a function of the position of a point of impact of the incident light beam 13 on the element 31. Indeed, the position of the impact of the beam 13 on the element 31 is geometrically related to the impact position of the beam retroreflected on the sensor 12. The electrical signal supplied by the sensor can be viewed on a screen 23 and can be used to deduce a distance between the light source 11 and the point of impact on the element 31 of the incident beam 13 from the source bright 11.

La figure 2 illustre un dispositif de comptage d'éléments empilés selon un mode de réalisation de l'invention. Les éléments similaires sur la figure 1 et 2 sont notés par les mêmes références. Le dispositif comprend un télémètre 10 comprenant une source lumineuse 11 qui émet un faisceau lumineux 13, par exemple un laser, et un capteur 12, par exemple un capteur matriciel CCD. Le capteur 12 est agencé pour recevoir un faisceau rétroréfléchi par la tranche 300 d'une pile 30 d'éléments 31 qui défile devant le faisceau 13. Le faisceau rétroréfléchi par la tranche 300 est reçu par le capteur 12. Le capteur 12 fournit en réponse un signal électrique brut 40 qui est transmis à un système informatique 20. Le système informatique 20 comprend une unité de stockage de données informatiques 21, une unité de calcul informatique 22 et une unité d'affichage 23. L'unité de calcul 22 traite le signal brut 40 enregistré sur l'unité de stockage 21 pour obtenir un signal traité 50 selon une étape de traitement de la méthode décrite dans la suite de la description. Le signal brut 40 et/ou le signal traité 50 peuvent être visualisés sur l'unité d'affichage 23.The figure 2 illustrates a device for counting stacked elements according to one embodiment of the invention. Similar elements on the figure 1 and 2 are noted by the same references. The device comprises a rangefinder 10 comprising a light source 11 which emits a light beam 13, for example a laser, and a sensor 12, for example a CCD matrix sensor. The sensor 12 is arranged to receive a retroreflected beam by the wafer 300 of a stack 30 of elements 31 which passes in front of the beam 13. The beam retroreflected by the wafer 300 is received by the sensor 12. The sensor 12 provides in response a raw electrical signal 40 which is transmitted to a computer system 20. The computer system 20 comprises a computer data storage unit 21, a computing unit 22 and a display unit 23. The computing unit 22 processes the raw signal 40 recorded on the storage unit 21 to obtain a processed signal 50 according to a process step of the method described in the following description. The raw signal 40 and / or the processed signal 50 can be displayed on the display unit 23.

Une méthode de comptage selon un mode de réalisation de l'invention est maintenant décrite en référence aux figures 3 à 11. Dans une première étape S1, un balayage de la tranche 300 de la pile d'éléments est effectué. Le balayage est réalisé de manière à obtenir une mesure télémétrique sur une ligne de points traversant toute la tranche 300 de la pile 30. Dans un mode de réalisation, le télémètre 10 a une position fixe et la pile 30 d'éléments est déplacée relativement au télémètre 10, par exemple en utilisant un tapis roulant 60. Dans un autre mode de réalisation, la pile 30 d'éléments est fixe et le télémètre 10 est déplacé relativement à la pile 30, par exemple en utilisant un chariot sur rail sur lequel le télémètre 10 est monté.A counting method according to one embodiment of the invention is now described with reference to Figures 3 to 11 . In a first step S1, a scan of the slice 300 of the stack of elements is performed. The scanning is carried out so as to obtain a telemetric measurement on a line of points passing through the entire portion 300 of the cell 30. In one embodiment, the telemeter 10 has a fixed position and the cell 30 is moved relative to the telemeter 10, for example using a In another embodiment, the stack 30 of elements is fixed and the rangefinder 10 is moved relative to the stack 30, for example by using a trolley on which the telemeter 10 is mounted.

Dans une deuxième étape S2 d'enregistrement, le signal brut 40 en sortie du télémètre 10 est enregistré sur l'unité de stockage 21 du système informatique 20. Le signal brut 40 se présente sous la forme d'un relevé temporel de l'amplitude du signal électrique mesuré en sortie du capteur 12 au cours du balayage de la pile. Le signal brut 40 correspond directement à une mesure de variation de niveau de la ligne de points traversant toute la tranche 300 de la pile 30.In a second recording step S2, the raw signal 40 at the output of the rangefinder 10 is recorded on the storage unit 21 of the computer system 20. The raw signal 40 is in the form of a time record of the amplitude of the electrical signal measured at the output of the sensor 12 during the scanning of the battery. The raw signal 40 corresponds directly to a level variation measurement of the line of points passing through the entire portion 300 of the stack 30.

Dans la suite, on considère que le signal brut est un signal discret dont les valeurs au cours du temps peuvent être décrites par les valeurs (X1...Xn). Une dérivée du signal brut peut être déterminée entre deux nuages de N1 points consécutifs dont les barycentres sont séparés par N2 points par la formule : X k ʹ = 1 N 1 + N 2 1 N 1 p = 0 N 1 - 1 X k + N 1 + N 2 + p - X k + p ,

Figure imgb0001
où p, k, N1, N2 sont des entiers.In the following, we consider that the raw signal is a discrete signal whose values over time can be described by the values (X 1 ... X n ). A derivative of the raw signal can be determined between two clouds of N 1 consecutive points whose centroids are separated by N 2 points by the formula: X k ' = 1 NOT 1 + NOT 2 1 NOT 1 Σ p = 0 NOT 1 - 1 X k + NOT 1 + NOT 2 + p - X k + p ,
Figure imgb0001
where p, k, N 1 , N 2 are integers.

La dérivée ainsi définie représente une pente entre deux moyennes de N1 points consécutifs du signal séparés par N2 points. Dans la suite, une dérivée calculée point à point se réfère à un calcul de dérivée selon la précédente formule dans laquelle on fixe N1=1 et N2=0.The derivative thus defined represents a slope between two means of N 1 consecutive points of the signal separated by N 2 points. In the following, a computed point-to-point derivative refers to a derivative calculation according to the preceding formula in which N 1 = 1 and N 2 = 0 are fixed.

De plus, la tranche 300 est formée par les bords 310 des éléments 31 formant une ligne de niveau ou ligne de crête. En conséquence, le signal brut correspondant comprend des pics d'amplitude. Dans la suite, on se réfère généralement au terme « pic » pour désigner les pics d'amplitude dans le signal brut. Le terme « étalement » d'un pic se réfère à la plus grande largeur d'un pic dans le signal brut. L'étalement d'un pic correspond à une épaisseur mesurée d'un élément 31.In addition, the wafer 300 is formed by the edges 310 of the elements 31 forming a level line or ridge line. As a result, the corresponding raw signal comprises amplitude peaks. In the following, the term "peak" is generally used to denote amplitude peaks in the raw signal. The term "spreading" of a peak refers to the largest width of a peak in the raw signal. The spreading of a peak corresponds to a measured thickness of an element 31.

Dans une troisième étape S3 d'analyse du signal brut, un étalement moyen des pics, un facteur de dispersion des étalements des pics par rapport à l'étalement moyen et une amplitude moyenne des pics peuvent être déterminés. Ces paramètres relatifs à la structure de la pile peuvent permettre d'adapter le traitement dans la suite de la méthode. L'étalement moyen des pics correspond à l'épaisseur moyenne des éléments 31 de la pile 30 et peut être déterminé par le quotient de la somme des étalements des pics dans le signal brut par le nombre de pics. Le facteur de dispersion des étalements des pics par rapport à l'étalement moyen peut se déduire de l'écart type de l'étalement des pics par rapport à l'étalement moyen. Le facteur de dispersion est un indicateur de l'inhomogénéité des éléments 31 de la pile 30.In a third step S3 of analyzing the raw signal, a mean spreading of the peaks, a dispersion factor of the spreads of the peaks with respect to the average spreading and an average amplitude of the peaks can be determined. These parameters relating to the structure of the stack can make it possible to adapt the treatment in the rest of the method. The average peak spreading corresponds to the average thickness of the elements 31 of the stack 30 and can be determined by the quotient of the sum of the peak spreads in the raw signal by the number of peaks. The scatter factor of peak spreads over average spread can be deduced from the standard deviation of peak spreading over mean spreading. The dispersion factor is an indicator of the inhomogeneity of the elements 31 of the stack 30.

Dans un premier mode de réalisation, l'étalement moyen des pics peut être déterminé sur la base d'une estimation du nombre d'éléments empilés (aussi appelé nombre brut dans la suite de la description). L'estimation du nombre brut d'éléments empilés peut par exemple être réalisée par le dénombrement des pics dans le signal brut. Un tel dénombrement peut par exemple être effectué en analysant la dérivée du signal brut 40. Plus précisément, le dénombrement des pics dans le signal brut peut être basé sur le comptage des changements de signe de la dérivée du signal calculée point à point. L'étalement moyen des pics dans le signal brut peut être alors obtenu par le quotient du produit de l'épaisseur de la pile et d'une résolution de base de l'enregistrement télémétrique par le nombre brut d'éléments. La résolution de base de l'enregistrement télémétrique est par exemple définie par le quotient d'une fréquence d'échantillonnage du télémètre par une vitesse de défilement de la tranche de la pile relativement au télémètre. L'étape d'estimation peut être menée en utilisant les moyens de calculs 22 du système informatique 20 relié au télémètre 10.In a first embodiment, the average spreading of the peaks can be determined on the basis of an estimate of the number of stacked elements (also called the raw number in the remainder of the description). The estimation of the raw number of stacked elements can for example be carried out by the counting of the peaks in the raw signal. Such an enumeration can for example be performed by analyzing the derivative of the raw signal 40. More precisely, the counting of the peaks in the raw signal can be based on counting the sign changes of the derivative of the computed point-to-point signal. The average peak spread in the raw signal can then be obtained by the quotient of the product of the thickness of the stack and a basic resolution of the telemetric record by the raw number of elements. The basic resolution of the telemetric recording is for example defined by the quotient of a sampling frequency of the rangefinder by a speed of movement of the edge of the stack relative to the rangefinder. The estimation step can be conducted using the computing means 22 of the computer system 20 connected to the rangefinder 10.

Dans un deuxième mode de réalisation, l'étalement moyen des pics peut être déduit d'une fréquence fondamentale résultant d'une analyse spectrale du signal brut, par exemple en décomposant le signal brut en série de Fourier et en recherchant la fréquence moyenne correspondant à la fréquence à laquelle l'énergie cumulée franchit un seuil de 50% de l'énergie totale du spectre. Cette fréquence moyenne correspond à une période moyenne des plis. Compte tenu du fait que la vitesse de défilement de la tranche de la pile relativement au télémètre est constante, on en déduit l'épaisseur moyenne des éléments 31.In a second embodiment, the average spreading of the peaks can be deduced from a fundamental frequency resulting from a spectral analysis of the raw signal, for example by decomposing the raw signal in Fourier series and looking for the average frequency corresponding to the frequency at which the cumulative energy crosses a threshold of 50% of the total energy of the spectrum. This average frequency corresponds to an average period of folds. Given that the speed of travel of the wafer of the stack relative to the rangefinder is constant, the average thickness of the elements 31 is deduced therefrom.

Le facteur de dispersion des étalements des pics par rapport à l'étalement moyen peut être déterminé par le quotient de l'écart type de l'étalement des pics et de l'étalement moyen.The scatter factor of peak spreads over average spread can be determined by the quotient of the standard deviation of peak spread and average spread.

Dans une quatrième étape S4 de traitement du signal, le signal brut 40 est traité par un ou plusieurs traitements statistiques sur la base des paramètres estimés à partir du signal brut. Ceci permet d'améliorer la qualité du signal enregistré. L'étape de traitement est réalisée sur la base du signal brut 40 enregistré correspondant à toute la tranche de la pile en tenant compte de la structure estimée de la pile. Ceci permet de traiter le signal brut en prenant en compte l'inhomogénéité de la pile et de repérer des anormalités dans le signal brut. La déposante a montré qu'en traitant l'intégralité du signal mesuré sur toute une ligne, on peut obtenir un comptage beaucoup plus fiable même avec une pile d'éléments hétérogènes.In a fourth step S4 of treatment of signal, the raw signal 40 is processed by one or more statistical processing based on the parameters estimated from the raw signal. This improves the quality of the recorded signal. The processing step is performed on the basis of the recorded raw signal 40 corresponding to the entire slice of the stack taking into account the estimated structure of the stack. This makes it possible to process the raw signal by taking into account the inhomogeneity of the stack and to identify abnormalities in the raw signal. The applicant has shown that by treating the entire measured signal over a whole line, a much more reliable count can be obtained even with a stack of heterogeneous elements.

Le traitement du signal brut 40 peut être effectué en considérant un seuil de parasitage dans le signal brut. Le seuil de parasitage représente un seuil au dessous duquel l'étalement d'un pic peut être considéré comme anormal pour une pile donnée. Le seuil de parasitage peut résulter d'une observation de la pile d'éléments par l'utilisateur et d'une appréciation visuelle de la présence d'éléments fins dans la pile. La fixation du seuil de parasitage peut permettre d'adapter les traitements du signal brut en fonction de la pile d'éléments pour améliorer la qualité du signal sans indument supprimer un pic correspondant à un élément de la pile.The processing of the raw signal 40 can be performed by considering a parasitic threshold in the raw signal. The parasitic threshold represents a threshold below which the spreading of a peak can be considered abnormal for a given cell. The interference threshold may result from an observation of the stack of elements by the user and a visual appreciation of the presence of fine elements in the stack. Setting the interference threshold may make it possible to adapt the processing of the raw signal according to the stack of elements to improve the quality of the signal without unduly suppressing a peak corresponding to an element of the stack.

Avantageusement, le seuil de parasitage peut être déterminé sur la base du signal brut enregistré. Par exemple, si le facteur de dispersion est inférieur à une valeur prédéterminée, par exemple comprise entre 0.4 et 0.5, le seuil de parasitage peut être proportionnel au produit de l'étalement moyen des pics dans le signal brut par le facteur de dispersion de l'étalement des pics. Ceci permet de prendre en compte la disparité des éléments empilés dans le traitement du signal.Advantageously, the interference threshold can be determined on the basis of the recorded raw signal. For example, if the dispersion factor is less than a predetermined value, for example between 0.4 and 0.5, the interference threshold may be proportional to the product of the average spread of the peaks in the raw signal. by the dispersion factor of peak spreading. This makes it possible to take into account the disparity of the stacked elements in the signal processing.

Par exemple, en référence au premier mode de réalisation pour la détermination de l'étalement moyen, en supposant la fréquence d'échantillonnage f du télémètre égale à 2000 points par seconde, la vitesse v de déplacement des éléments empilés relativement au télémètre égale à 0.1 m/s, la largeur D de la pile égale à 0.5 m, le nombre brut estimé B d'éléments empilés égal à 623 et le facteur de dispersion σ égal à 50%, on obtient un seuil de parasitage Sp : Sp = D × f B × v × σ 8 points

Figure imgb0002
For example, with reference to the first embodiment for determining the average spread, assuming the sampling frequency f of the range finder equal to 2000 points per second, the speed v of displacement of the stacked elements relative to the range finder equal to 0.1 m / s, the width D of the stack equal to 0.5 m, the estimated rough number B of stacked elements equal to 623 and the dispersion factor σ equal to 50%, we obtain a parasitic threshold S p : sp = D × f B × v × σ 8 points
Figure imgb0002

Alternativement, quand le facteur de dispersion est supérieur à la valeur prédéterminée on peut filtrer les basses fréquences dans le signal brut et déterminer le seuil de parasitage sur la base d'une valeur moyenne d'étalement des pics dans le signal brut filtré. En d'autres termes, le seuil de parasitage est alors fonction d'un deuxième étalement moyen calculé sur les pics les plus fins dont l'épaisseur est inférieure à une épaisseur limite. L'épaisseur limite peut être déterminée sur la base de la première épaisseur moyenne et du facteur de dispersion. Ceci permet, en cas de forte inhomogénéité des éléments de la pile, de ne pas négliger des pics fins correspondant à des éléments de petite proportion dans la pile. L'épaisseur limite peut être déterminée comme une épaisseur moyenne d'une portion des plis les plus fins. Par exemple, on peut classer les éléments par ordre d'épaisseur croissante et prendre l'épaisseur moyenne des éléments compris dans les 20% les plus fins.Alternatively, when the dispersion factor is greater than the predetermined value, it is possible to filter the low frequencies in the raw signal and determine the interference threshold based on a mean peak spreading value in the filtered raw signal. In other words, the interference threshold is then a function of a second average spread calculated on the thinnest peaks whose thickness is less than a limiting thickness. The limiting thickness can be determined on the basis of the first average thickness and the dispersion factor. This allows, in case of strong inhomogeneity of the elements of the stack, not to neglect fine peaks corresponding to small proportion elements in the stack. The limiting thickness can be determined as an average thickness of a portion of the thinnest folds. For example, we can classify the elements in order of increasing thickness and take the average thickness of the elements included in the 20% the finer.

L'étape S4 de traitement du signal comprend un ou plusieurs traitements statistiques appliqués au signal tels qu'une élimination de pics parasites, une élimination des interruptions et un filtrage fin par moyenne glissante.The signal processing step S4 comprises one or more statistical treatments applied to the signal such as spurious peak elimination, interrupt elimination and fine sliding averaging.

Un premier traitement peut comprendre l'élimination de pics parasites dans le signal brut. Les figures 4A et 4B illustrent la présence d'un pic parasite 41 dans le signal brut 40 respectivement avant le signal brut et dans le signal brut. De tels pics parasites peuvent être causés par un éblouissement du capteur 12 causé, par exemple, par une réflexion anormale du faisceau lumineux. Des enveloppes en matériau réfléchissant, couramment utilisées pour des campagnes promotionnelles, peuvent causer un tel éblouissement. Des poussières de papier déposées sur le bord des enveloppes peuvent également causer de tels éblouissements. Un repérage des pics parasites dans le signal brut peut être réalisé en comparant une valeur d'étalement du pic parasite à un seuil, par exemple le seuil de parasitage et/ou en comparant la valeur d'amplitude du pic parasite à l'amplitude moyenne du signal brut. En effet, les pics parasites présentent généralement un étalement très inférieur au seuil de parasitage et une amplitude très forte, supérieure à une amplitude moyenne des pics. Typiquement, une poussière de papier a une épaisseur d'environ 0.1 millimètre. En reprenant les hypothèses de l'exemple précédent, un pic parasite du à la présence d'une poussière a généralement une épaisseur de 2 points.A first treatment may include the removal of spurious peaks in the raw signal. The Figures 4A and 4B illustrate the presence of a parasitic peak 41 in the raw signal 40 respectively before the raw signal and in the raw signal. Such parasitic peaks may be caused by a glare of the sensor 12 caused, for example, by abnormal reflection of the light beam. Reflective material envelopes, commonly used for promotional campaigns, can cause such glare. Paper dust deposited on the edge of envelopes can also cause such dazzling. A detection of the spurious peaks in the raw signal can be achieved by comparing a spurious peak spreading value with a threshold, for example the parasitic threshold and / or by comparing the amplitude value of the spurious peak with the average amplitude. of the raw signal. Indeed, the parasitic peaks generally have a spread much lower than the parasitic threshold and a very strong amplitude, greater than an average amplitude of the peaks. Typically, a paper dust is about 0.1 millimeter thick. Taking again the hypotheses of the previous example, a parasitic peak due to the presence of a dust generally has a thickness of 2 points.

Un deuxième traitement comprend l'élimination des interruptions dans le signal brut. Les figures 5A à 5D illustrent respectivement des interruptions 42 du signal brut 40 positionnées sur un pic, dans un creux, en montée d'un pic et en descente d'un pic du signal. De telles interruptions peuvent être causées par une absence de réflexion due par exemple à une détérioration des enveloppes.A second treatment includes eliminating interruptions in the raw signal. The Figures 5A to 5D respectively illustrate interrupts 42 of the raw signal 40 positioned on a peak, in a trough, ascent of a peak and downward of a peak of the signal. Such interruptions may be caused by an absence of reflection due for example to a deterioration of the envelopes.

Dans un premier mode de réalisation de l'élimination des interruptions illustré par les figures 6A et 6B, l'élimination de l'interruption 42 est réalisée par reconstruction du signal brut 40 sur la base de la dérivée du signal calculée entre deux nuages de N1 points consécutifs séparés par N2 points avant et après l'interruption. Typiquement, N1 peut être choisi entre 2 et 5 de manière à limiter l'influence des perturbations dans le calcul. N2 est généralement choisi proche du seuil de parasitage. Ce traitement permet de fournir rapidement une approximation de la pente du signal près des bords. Ce traitement peut avantageusement être mis en oeuvre lorsque la taille de l'interruption 42 est supérieure au seuil de parasitage.In a first embodiment of the elimination of interruptions illustrated by the Figures 6A and 6B the elimination of the interrupt 42 is carried out by reconstruction of the raw signal 40 on the basis of the derivative of the signal calculated between two clouds of N 1 consecutive points separated by N 2 points before and after the interruption. Typically, N1 can be chosen between 2 and 5 so as to limit the influence of disturbances in the calculation. N2 is usually chosen close to the parasitic threshold. This treatment makes it possible to quickly provide an approximation of the slope of the signal near the edges. This treatment can advantageously be implemented when the size of the interrupt 42 is greater than the parasitic threshold.

Dans un deuxième mode de réalisation de l'élimination des interruptions illustré aux figures 7A-7C, l'élimination de l'interruption 42 est réalisée par reconstruction du signal brut 40 sur la base de la dérivée du signal calculée point à point avant et après l'interruption. Ce traitement permet de déterminer précisément la pente du signal aux bords de l'interruption 42. Ce traitement peut avantageusement être mis en oeuvre lorsque la taille de l'interruption 42 est supérieure au seuil de parasitage.In a second embodiment of the elimination of interruptions illustrated in Figures 7A-7C the elimination of the interrupt 42 is performed by reconstructing the raw signal 40 on the basis of the derivative of the calculated point-to-point signal before and after the interruption. This processing makes it possible to precisely determine the slope of the signal at the edges of the interruption 42. This processing can advantageously be implemented when the size of the interrupt 42 is greater than the parasitic threshold.

Dans un troisième mode de réalisation illustré aux figures 8A et 8B, l'élimination de l'interruption 42 est réalisée par reconstruction du signal brut 40 sur la base de la valeur du signal avant et après l'interruption. Ce traitement permet de reconstituer le signal simplement par une approximation linéaire du signal. Ce traitement est avantageusement mis en oeuvre lorsque la taille de l'interruption 42 est inférieure au seuil de parasitage.In a third embodiment illustrated in Figures 8A and 8B , the elimination of the interruption 42 is performed by reconstructing the raw signal 40 based on the value of the signal before and after the interruption. This processing makes it possible to reconstitute the signal simply by a linear approximation of the signal. This treatment is advantageously implemented when the size of the interrupt 42 is less than the parasitic threshold.

Un troisième traitement peut comprendre le filtrage fin du signal brut par moyenne glissante. Une formule mathématique pour réaliser un tel filtrage peut être de la forme : X n = 1 N p = 0 N X n - p

Figure imgb0003
A third treatment may include fine filtering of the gross signal by moving average. A mathematical formula for performing such filtering can be of the form: X not ~ = 1 NOT Σ p = 0 NOT X not - p
Figure imgb0003

Le choix du nombre N de points du signal sur lequel ladite moyenne glissante est calculée peut être effectué sur la base d'un seuil, par exemple le seuil de parasitage déterminé lors de l'étape d'analyse S3 du signal brut. Dans un mode de réalisation, le nombre N peut être choisi égal à la moitié du seuil de parasitage. Ce traitement permet d'assurer un filtre passe bas du signal brut et de s'affranchir de micro-ondulations.The choice of the number N of points of the signal on which said sliding average is calculated may be performed on the basis of a threshold, for example the interference threshold determined during the analysis step S3 of the raw signal. In one embodiment, the number N can be chosen equal to half the parasitic threshold. This treatment makes it possible to ensure a low-pass filter of the raw signal and to free itself from micro-waves.

Les figures 9A et 9B illustrent respectivement un signal brut 40 et un signal traité 50 dans un mode de réalisation dans lequel l'étape S4 de traitement du signal comprend successivement l'élimination des pics parasites, la reconstruction des interruptions et le filtrage fin par moyenne glissante.The Figures 9A and 9B respectively illustrate a raw signal 40 and a processed signal 50 in an embodiment in which the signal processing step S4 successively comprises the removal of spurious peaks, the reconstruction of the interrupts and the fine sliding average filtering.

Dans une cinquième étape S5 de comptage, le signal traité 50 est analysé pour déterminer précisément le nombre d'éléments 31 de la pile 30.In a fifth counting step S5, the processed signal 50 is analyzed to precisely determine the number of elements 31 of the stack 30.

Dans un premier mode de réalisation de l'étape S5 de comptage, la détermination du nombre d'éléments 31 dans le signal traité 50 est réalisée par l'analyse en série de la dérivée du signal traité calculée entre deux nuages de N1 points consécutifs séparés par N2 points. Dans ce calcul, on peut par exemple choisir N1 entre 1 et 5 en fonction de la compacité de la pile et N2 égal au seuil de parasitage. Plus les éléments de la pile sont serrés plus N1 est généralement choisi petit. L'analyse de la dérivée comprend le comptage du nombre de changements de signe de la dérivée.In a first embodiment of the step S5 of counting, the determination of the number of elements 31 in the processed signal 50 is performed by serial analysis of the derivative of the processed signal calculated between two clouds of N 1 consecutive points separated by N 2 points. In this calculation, it is possible for example to choose N 1 between 1 and 5 as a function of the compactness of the stack and N 2 equal to the parasitic threshold. The more the elements of the pile are tight, the more N 1 is generally chosen small. The analysis of the derivative includes counting the number of sign changes of the derivative.

Dans un deuxième mode de réalisation de l'étape S5 de comptage illustré à la figure 11, on effectue, en plus de la détermination du nombre d'éléments sur la base de l'analyse en série de la dérivée du signal traité, une détection d'éléments collés dans la pile. Ceci permet d'améliorer le comptage des éléments 31. En effet, des éléments de la pile peuvent par exemple être endommagés par une chute d'un objet sur la tranche 300 de la pile 30. Les bords 310 des éléments endommagés peuvent alors former une ligne plate quasiment continue. Le signal brut correspondant à de tels pics endommagés présente une amplitude quasiment constante.In a second embodiment of the step S5 counting illustrated in FIG. figure 11 in addition to determining the number of elements on the basis of the serial analysis of the derivative of the processed signal, a detection of glued elements in the stack is performed. This makes it possible to improve the counting of the elements 31. In fact, elements of the stack may, for example, be damaged by a fall of an object on the edge 300 of the stack 30. The edges 310 of the damaged elements may then form a flat line almost continuous. The raw signal corresponding to such damaged peaks has an almost constant amplitude.

Dans une première étape S11 de la détection des éléments collés, l'étalement des pics dans le signal traité 50 peut être déterminé. Par exemple, l'étalement des pics peut être déduit d'une analyse des changements de signe de la dérivée du signal traité 50. En effet, un pic est encadré par deux minima et l'analyse de la dérivée du signal permet de déduire l'étalement des pics dans le signal. Un dispositif pour implémenter la détection des éléments collés peut comprendre une bascule de Schmitt configurée pour basculer quand la dérivée du signal brut fournie en entrée de la bascule change de signe. Ainsi, la bascule fournit en sortie un signal en créneau et la taille des créneaux correspond à l'étalement des pics du signal traité.In a first step S11 of the detection of the glued elements, the spreading of the peaks in the processed signal 50 can be determined. For example, the spreading of the peaks can be deduced from an analysis of the sign changes of the derivative of the processed signal 50. Indeed, a peak is framed by two minima and the analysis of the derivative of the signal makes it possible to deduce the spreading peaks in the signal. A device for implementing the detection of glued elements may include a Schmitt flip-flop configured to switch when the derivative of the raw signal input to the flip-flop changes from sign. Thus, the flip-flop outputs a square-wave signal and the size of the slots corresponds to the spreading of the peaks of the processed signal.

Dans une étape S12 de la détection des éléments collés, l'étalement des pics est comparé à un seuil pour déterminer les pics susceptibles de contenir des éléments collés. Le seuil peut être égal au seuil de parasitage ou à la valeur moyenne d'étalement dans le signal brut. Pour un pic déterminé, si l'étalement du pic est inférieur au seuil, le contrôle prend fin.In a step S12 of the detection of the glued elements, the spreading of the peaks is compared with a threshold to determine the peaks likely to contain glued elements. The threshold may be equal to the interference threshold or the average spreading value in the raw signal. For a given peak, if the spread of the peak is below the threshold, the control ends.

Si l'étalement du pic est supérieur au seuil, on analyse une portion de signal brut correspondant à une portion de signal traité comprenant le pic déterminé. Ceci permet de faire une analyse plus fine car le signal traité a subi des modifications qui ont pu faire disparaître des faibles variations d'amplitude. Ladite portion du signal brut peut avantageusement être finement filtrée par un filtrage par moyenne glissante. Ceci permet d'éliminer des perturbations de hautes fréquences.If the spread of the peak is greater than the threshold, a portion of raw signal corresponding to a processed signal portion comprising the determined peak is analyzed. This allows a finer analysis because the processed signal has undergone changes that may have removed small amplitude variations. Said portion of the raw signal may advantageously be finely filtered by sliding average filtering. This eliminates high frequency disturbances.

Dans une étape S13 de la détection des éléments collés, la dérivée point à point de la portion du signal brut correspondant au pic déterminé est calculée. Dans une étape S14, la dérivée calculée est analysée. Si un changement de signe de la dérivée du signal brut qui n'était pas détecté sur la dérivée du signal traité est détecté dans le signal brut, alors on peut considérer qu'il y a existence de deux éléments collés l'un à l'autre et on peut incrémenter un compteur dans une étape S16. Le pic supplémentaire détecté a pu être masqué dans le signal traité par les traitements statistiques. Le contrôle prend fin après l'étape d'incrémentation. La figure 11A illustre un signal brut 40 comportant un pic supplémentaire 402 de faible amplitude.In a step S13 of the detection of the glued elements, the point-to-point derivative of the portion of the raw signal corresponding to the determined peak is calculated. In a step S14, the calculated derivative is analyzed. If a change of sign of the derivative of the raw signal which was not detected on the derivative of the processed signal is detected in the raw signal, then it can be considered that there are two elements glued to each other. other and can be incremented a counter in a step S16. The additional peak detected could be masked in the signal processed by statistical processing. The control ends after the step of incrementing. The figure 11A illustrates a raw signal 40 having a peak additional 402 of low amplitude.

Si un pic supplémentaire n'est pas détecté, une détermination d'une dérivée seconde de la portion du signal brut correspondant à la portion de signal traité comprenant le pic déterminé est réalisée dans une étape S16. La dérivée seconde peut être obtenue point à point à partir de la dérivée calculée à l'étape S13.If an additional peak is not detected, a determination of a second derivative of the portion of the raw signal corresponding to the processed signal portion comprising the determined peak is performed in a step S16. The second derivative can be obtained point-to-point from the derivative calculated in step S13.

Si un pic de la dérivée seconde est détecté dans ladite portion du signal brut à une distance inférieure à la valeur moyenne d'étalement d'un pic du signal alors on peut considérer qu'il y a existence de deux éléments collés l'un à l'autre et on peut incrémenter un compteur dans une étape S16. Sinon, le contrôle prend fin. La figure 11B illustre une dérivée 43 et une dérivée seconde 44 d'un signal brut 40 (non représenté). La dérivée seconde 44 comporte un pic 441 correspondant à un point d'inflexion 431 de la dérivée. Dans un mode de réalisation, un pic de la dérivée seconde peut être considéré comme représentant des plis collés si le pic est détecté à une distance D inférieure à environ la moitié de l'étalement Ea du pic anormal. Ainsi, la fenêtre de capture des plis collés est égale à environ 50% de l'étalement du pic d'étalement anormal déterminé et centré sur le pic. Ceci correspond à un facteur quatre en dispersion, c'est-à-dire deux fois plus gros ou deux fois plus fin qu'un élément moyen.If a peak of the second derivative is detected in said portion of the raw signal at a distance less than the mean value of spreading a peak of the signal then it can be considered that there are two elements glued one to the other and a counter can be incremented in a step S16. Otherwise, the control ends. The Figure 11B illustrates a derivative 43 and a second derivative 44 of a raw signal 40 (not shown). The second derivative 44 comprises a peak 441 corresponding to an inflection point 431 of the derivative. In one embodiment, a peak of the second derivative can be considered to represent glued folds if the peak is detected at a distance D less than about half of the spread E a of the abnormal peak. Thus, the glued-ply capture window is equal to about 50% of the spreading of the abnormal spike determined and centered on the peak. This corresponds to a factor of four in dispersion, that is to say twice as big or twice as fine as an average element.

Dans un troisième mode de réalisation de l'étape S5 de comptage, la détermination du nombre d'éléments 31 dans le signal traité 50 comprend l'analyse en série de quadruplets consécutifs de points du signal traité. Pour un quadruplet déterminé (Xp, Xp+1, Xp+2, Xp+3) l'analyse peut comprendre la détermination d'une pente entre les deux premiers points (Xp, Xp+1) du quadruplet et d'une pente entre les deux derniers points (Xp+2, Xp+3) du quadruplet. Un pic du signal traité peut être déterminé par un changement de sens des pentes déterminées. On peut de manière complémentaire repérer des pics plats par le repérage de demi-pics hauts et de demi-pics bas éloignés l'un de l'autre. Les demi-pics haut et les demi-pics bas peuvent être respectivement déterminés sur un quadruplet de points déterminé dans le signal traité par le passage d'une pente horizontale (respectivement négative) pour les deux premiers points (Xp, Xp+1) d'un quadruplet à une pente positive (respectivement horizontale) pour les deux derniers points (Xp+2, Xp+3) du quadruplet. Ceci permet de repérer des pics presque plats d'étalement significatif.In a third embodiment of the counting step S5, determining the number of elements 31 in the processed signal 50 comprises the serial analysis of consecutive quadruplets of points of the processed signal. For a given quadruplet (X p , X p + 1 , X p + 2 , X p + 3 ) the analysis can include the determination of a slope between first two points (X p , X p + 1 ) of the quadruplet and a slope between the last two points (X p + 2 , X p + 3 ) of the quadruplet. A peak of the processed signal can be determined by a change of direction of the determined slopes. Complementarily, flat peaks can be identified by the identification of high and low half-peaks distant from each other. The high half-peaks and the low half-peaks can be respectively determined on a given quadruplet of points in the signal processed by the passage of a horizontal slope (respectively negative) for the first two points (X p , X p + 1 ) a quadruplet at a positive slope (respectively horizontal) for the last two points (X p + 2 , X p + 3 ) of the quadruplet. This makes it possible to detect almost flat peaks of significant spreading.

Dans un mode de réalisation de l'étape S5 de comptage, la détermination du nombre d'éléments dans le signal traité peut être réalisée successivement selon les trois modes de réalisation présentés ci-avant de manière à obtenir plusieurs résultats de comptage du nombre d'éléments de la pile.In one embodiment of the step S5 of counting, the determination of the number of elements in the processed signal can be carried out successively according to the three embodiments presented above so as to obtain several counting results of the number of elements of the pile.

Dans un mode de réalisation, la méthode de comptage peut être effectuée plusieurs fois successivement pour obtenir plusieurs résultats de comptage du nombre d'éléments de la pile. Il est également possible d'utiliser un télémètre multifaisceaux ou une pluralité de télémètres pour obtenir une pluralité de résultats de comptage.In one embodiment, the counting method can be performed several times successively to obtain several counting results of the number of elements of the stack. It is also possible to use a multibeam rangefinder or a plurality of rangefinders to obtain a plurality of counting results.

Dans les modes de réalisation dans lesquels plusieurs résultats de comptage sont obtenus, l'étape S5 de comptage peut être suivie d'une étape S6 de détermination de convergence dans laquelle au moins une mesure perturbatrice peut être éliminée. Avantageusement, l'opérateur du dispositif de comptage peut être averti si les résultats de comptage présentent un écart type supérieur à une valeur tolérée prédéterminée.In embodiments in which a plurality of counting results are obtained, the counting step S5 may be followed by a convergence determination step S6 in which at least one disturbing measure can be eliminated. advantageously, the counting device operator may be notified if the counting results have a standard deviation greater than a predetermined tolerated value.

Bien que décrite à travers un certain nombre d'exemples de réalisation, la méthode de comptage et le dispositif selon l'invention comprennent différentes variantes, modifications et perfectionnements qui apparaitront de façon évidente à l'homme de l'art, étant entendu que ces différentes variantes, modifications et perfectionnements font partie de la portée de l'invention telle que définie par les revendications qui suivent.Although described through a certain number of exemplary embodiments, the counting method and the device according to the invention comprise various variants, modifications and improvements which will be obvious to those skilled in the art, it being understood that these various alternatives, modifications and improvements are within the scope of the invention as defined by the following claims.

Claims (15)

Méthode de comptage d'éléments empilés formant sur une tranche de la pile au moins une ligne de variation de niveau formée par les bords des éléments empilés comprenant les étapes de: - enregistrement d'un signal brut correspondant à la mesure par télémétrie de la variation de niveau sur une ligne de points traversant la tranche de la pile; - analyse du signal brut pour estimer un ou plusieurs paramètres relatifs à la structure de la pile; - traitement du signal brut enregistré par un ou plusieurs traitements statistiques sur la base des paramètres estimés; - analyse du signal traité pour déterminer le nombre d'éléments empilés. A method of counting stacked elements forming on a slice of the stack at least one level variation line formed by the edges of the stacked elements comprising the steps of: recording a raw signal corresponding to the measurement by telemetry of the variation of level on a line of points crossing the edge of the stack; - analysis of the raw signal to estimate one or more parameters relating to the structure of the stack; processing of the raw signal recorded by one or more statistical processes on the basis of the estimated parameters; analyzing the signal processed to determine the number of stacked elements. Méthode de comptage selon la revendication 1, dans laquelle les paramètres estimés comprennent: - une épaisseur moyenne des éléments de la pile, et - un facteur de dispersion des épaisseurs des éléments de la pile. Counting method according to claim 1, wherein the estimated parameters comprise: an average thickness of the elements of the stack, and a dispersion factor of the thicknesses of the elements of the stack. Méthode de comptage selon la revendication 2, dans laquelle le traitement du signal brut comprend la détermination d'un seuil de parasitage proportionnel au produit du facteur de dispersion et de l'épaisseur moyenne.The counting method of claim 2, wherein the raw signal processing includes determining a parasitic threshold proportional to the product of the dispersion factor and the average thickness. Méthode de comptage selon la revendication 2, dans laquelle le traitement du signal brut comprend la détermination d'un seuil de parasitage estimé sur la base d'une épaisseur moyenne des éléments de la pile dont l'épaisseur est inférieure à une épaisseur limite.The counting method of claim 2, wherein the raw signal processing includes determining an estimated interference threshold based on an average thickness of the stack elements having a thickness less than a limiting thickness. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications 2 à 4, dans laquelle l'épaisseur moyenne est déterminée en fonction d'un nombre brut d'éléments empilés estimé sur la base du signal brut enregistré.The counting method according to at least one of claims 2 to 4, wherein the average thickness is determined as a function of a raw number of stacked elements estimated on the basis of the recorded raw signal. Méthode de comptage selon l'une des revendications 3 à 5, dans laquelle le traitement du signal brut comprend la suppression de pics parasites sur la base du seuil de parasitage.The counting method according to one of claims 3 to 5, wherein the raw signal processing includes the suppression of spurious peaks based on the interference threshold. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications 3 à 6, dans laquelle l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend la reconstruction d'interruptions sur la base de la pente du signal avant et après l'interruption quand l'interruption est plus longue que le seuil de parasitage.The counting method according to at least one of claims 3 to 6, wherein the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the slope of the signal before and after the interruption when the interruption is longer than the parasitic threshold. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications 3 à 7, dans laquelle l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend la reconstruction d'interruptions sur la base de la valeur du signal avant et après l'interruption quand l'interruption est plus courte que le seuil de parasitage.The counting method according to at least one of claims 3 to 7, wherein the step of processing the recorded raw signal comprises reconstructing interrupts based on the value of the signal before and after the interruption when the interruption is shorter than the interference threshold. Méthode de comptage selon l'une des revendications 3 à 8, dans laquelle l'étape de traitement du signal brut enregistré comprend le filtrage par moyenne glissante du signal, le nombre de points du signal sur lequel ladite moyenne glissante est calculée étant déterminé sur la base du seuil de parasitage.Counting method according to one of claims 3 to 8, wherein the step of processing the recorded raw signal comprises the sliding average filtering of the signal, the number of points of the signal on which said sliding average is calculated being determined on the base of the parasitic threshold. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications précédentes, dans laquelle l'étape d'analyse du signal traité comprend le comptage du nombre de changement de signe de la dérivée du signal traité et/ou le comptage du nombre de changement de sens du signal traité point à point.Counting method according to at least one of the preceding claims, wherein the step of analyzing the processed signal comprises counting the number of sign changes of the derivative of the processed signal and / or counting the number of change of direction. of the point-to-point signal. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications précédentes, dans laquelle l'étape d'analyse comprend un contrôle de présence d'éléments collés dans la pile sur la base du signal brut enregistré.The counting method according to at least one of the preceding claims, wherein the analyzing step comprises checking for the presence of pasted elements in the stack on the basis of the recorded raw signal. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications précédentes, dans laquelle l'étape d'enregistrement comprend l'enregistrement d'une pluralité de signaux bruts correspondant à la mesure de variation de niveau sur une ou plusieurs lignes de points traversant toute la tranche de la pile.A counting method according to at least one of the preceding claims, wherein the step of recording comprises recording a plurality of raw signals corresponding to the level variation measure on one or more lines of points traversing the entire slice of the pile. Méthode de comptage selon la revendication 12, dans laquelle l'enregistrement de la pluralité de signaux bruts est effectué en utilisant une pluralité de télémètres, un télémètre comprenant une pluralité de faisceaux et/ou en balayant la tranche de la pile une pluralité de fois.Counting method according to claim 12, wherein the recording of the plurality of signals The roughs are performed using a plurality of rangefinders, a range finder comprising a plurality of beams and / or sweeping the wafer of the stack a plurality of times. Méthode de comptage selon l'une au moins des revendications 12 et 13, comprenant en outre une étape de vérification de la convergence des résultats de comptage des éléments empilés fournis par la pluralité de signaux bruts.The counting method according to at least one of claims 12 and 13, further comprising a step of verifying the convergence of the count results of the stacked elements provided by the plurality of raw signals. Dispositif de comptage d'éléments empilés comprenant : - un système de mesure par télémétrie adapté pour mesurer un signal correspondant à la variation de niveau d'au moins une ligne traversant une tranche de la pile formée par lesdits éléments empilés; - des moyens de stockage de données adaptés pour enregistrer ledit signal; - des moyens de calcul adaptés pour mettre en oeuvre la méthode de comptage selon au moins une des revendications 1 à 14. Device for counting stacked elements comprising: a telemetry measurement system adapted to measure a signal corresponding to the level variation of at least one line crossing a slice of the stack formed by said stacked elements; data storage means adapted to record said signal; calculation means adapted to implement the counting method according to at least one of claims 1 to 14.
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