EP1468586A2 - Diagnostic circuit for a tweeter in a loudspeaker combination - Google Patents

Diagnostic circuit for a tweeter in a loudspeaker combination

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EP1468586A2
EP1468586A2 EP03729411A EP03729411A EP1468586A2 EP 1468586 A2 EP1468586 A2 EP 1468586A2 EP 03729411 A EP03729411 A EP 03729411A EP 03729411 A EP03729411 A EP 03729411A EP 1468586 A2 EP1468586 A2 EP 1468586A2
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EP
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measuring
voltage
loudspeaker
tweeter
ual
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EP03729411A
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Wolfgang Heuer
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Robert Bosch GmbH
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Robert Bosch GmbH
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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
    • H04R29/00—Monitoring arrangements; Testing arrangements
    • H04R29/001—Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers

Definitions

  • the invention relates to a diagnostic circuit for a tweeter speaker of a speaker combination and a method for checking a tweeter speaker of a speaker combination.
  • a woofer and a mid-range speaker or a mid-range speaker is connected directly to the amplifiers of the low-frequency power amplifiers and a tweeter is capacitively coupled.
  • the functionality of this speaker combination is checked in particular when installed in a vehicle and, if necessary, in maintenance intervals or in the event of malfunctions. In particular, interruptions or short circuits in the supply lines or in the loudspeakers can occur.
  • the check of the low-range, mid-range or mid-range speakers can be carried out directly resistively via an applied DC voltage.
  • a corresponding check of the capacitively connected tweeters is however, this is not possible. Accordingly, this check is usually carried out by inputting a high tone signal and acoustic perception. However, such a check is time-consuming and inaccurate in the case of automated production.
  • circuit arrangements are known in which the current consumption of an output stage IC is measured when it is exposed to a high LF frequency and a high output level.
  • a measuring device must be provided in the power supply of the power output stages.
  • the diagnostic circuit according to the invention as claimed in claim 1 and the method according to the invention as claimed in claim 13, in particular, have the advantage that an accurate measurement of the functionality of a high-frequency loudspeaker of a loudspeaker combination is possible with relatively little effort.
  • the sub-claims describe preferred further developments.
  • a check of the high-frequency loudspeaker is thus made possible in that a voltage divider circuit is formed from a preferably purely ohmic resistor and the loudspeaker combination and one
  • Voltage drop within this voltage divider circuit is measured and evaluated.
  • the voltage drop across the speaker combination can be measured as a complex measurement voltage; in principle, however, it is also possible to measure the voltage drop across the measuring resistor.
  • the woofer, mid-range or mid-range speaker is connected in parallel with the coupling capacitor and the tweeter speaker.
  • the functionality or state of the tweeter affects the complex overall resistance of the speaker combination at the RF frequency. An interruption on the tweeter or its leads leads to an increase in the total resistance, a short circuit correspondingly to a decrease in the total resistance compared to the total resistance with a functional tweeter. Since the loudspeakers designed for lower frequencies have a higher inductance than the high-frequency loudspeaker, they influence the measurement signal only slightly.
  • the evaluation of the measured complex measuring voltage can e.g. by measuring the peak value out of phase with the output signal or by means of a rectifier circuit.
  • FIG. 1 shows a block diagram of a power output stage with a diagnostic circuit according to a first embodiment of the invention
  • FIG. 2 shows a block diagram of a power output stage with a diagnostic circuit according to a second embodiment of the invention.
  • a first output amplifier VI of a low-frequency output stage is connected via a first connection AI to the positive pole on the loudspeaker combination 4 and a second output amplifier V2 of the low-frequency output stage is connected to the negative pole of the loudspeaker combination 4 via a second connection A2.
  • the loudspeaker combination 4 has a mid-range speaker LSI, which is connected to the connections AI, A2, and a tweeter LS2 connected in parallel with LSI via a capacitor C7.
  • a processor 10 outputs an RF input signal sl, which is output via an impedance converter 3 as an RF voltage signal s2.
  • the processor 10 thus forms an RF voltage generating device 2 with the impedance converter 3.
  • the RF input signal sl is given via a resistor R2 and a capacitor C4 to the first connection AI, ie the positive pole of the loudspeaker combination 4.
  • the second connection A2 is connected to ground via a connecting device 6.
  • the voltage dropping across the loudspeaker combination 4 and the connecting device 6 is tapped off at AI as a complex measuring voltage UAl.
  • the processor 10 In the RF voltage generating device 2, the processor 10 outputs the RF input signal sl with a frequency of 20 KHz or greater and a diagnostic signal d as a DC voltage signal. A diagnostic mode is set by the diagnostic signal d. In this case, the processor 10 switches the output amplifiers VI, V2 to high impedance in a manner not shown by the diagnostic signal d.
  • the RF voltage signal s is via a capacitor C2 together with the diagnostic signal d an emitter follower transistor V3 of the impedance converter 3, the operating point of the base of the emitter follower transistor V3 being set via resistors R4, R ⁇ .
  • Another transistor V4 and a resistor R3 form a constant current source connected to the emitter of V3, V4 being turned on when the diagnostic signal d an_ is applied to its base.
  • the impedance converter 3 outputs an RF voltage signal S2, which drops to ground via the measuring resistor R2, the capacitor C4, the loudspeaker combination 4 and the connecting device 6.
  • the connecting device 6 has a transistor V5, which is driven by the diagnostic signal d and applies an AC voltage present at the second connection A2 to ground with low resistance. With suitable dimensioning of the capacitors C4, C7, the RF voltage signal S2 essentially drops across a series connection of R2 and the loudspeakers LSI and LS2 connected in parallel.
  • the measuring voltage UAl applied to AI is received by a measuring device 11, which is formed by a resistor R1, a capacitor C8 and the processor 10 serving as an evaluation device.
  • the measuring voltage UAl is phase-shifted in relation to S1, in particular because of the impedances of LSI and LS2.
  • the phase-shifted peak value is determined by the measuring device 11 and the impedance of the loudspeaker combination 4 is determined therefrom if R2 is known. Since LSI has a high inductance, the voltage drop between AI and A2 is largely determined by LS2.
  • the Measuring device 11 detects a low measuring voltage (or measuring voltage with a small amount), a high measuring voltage in the event of an interruption in LS2 and a medium measuring voltage when LS2 is in a functional state.
  • a measuring device 12 in which a resistor Rl, the capacitor C7, a Schottky diode Dl and a capacitor C1 connected to ground serve to rectify the ac voltage signal picked up, so that the Processor 10 can receive a rectified voltage.

Abstract

The invention relates to a diagnostic circuit for a tweeter in a low-frequency final stage of a loudspeaker combination, in addition to a method for diagnosing the functional capability of the tweeter. In order to determine the functional capability of the tweeter in a relatively low-cost, reliable manner, a diagnostic circuit comprising the following is provided: a device that generates an HF signal (2) for emitting an HF voltage signal (s2), at least one connection (A1, A2) for a loudspeaker combination (4), a measuring resistance (R2), which forms a potentiometer circuit (R2, 4) with the loudspeaker combination (4) when the latter is connected to the connection (A1), in addition to a measuring device (10, 11, 12) for measuring a complex decreasing measurement voltage (UA1) in the potentiometer circuit (R2, 4) and for determining the condition of the tweeter (LS2) of the loudspeaker combination (4).

Description

Diagnoseschaltkreis für einen Hochton-Lautsprecher einer Lautsprecherkombination Diagnostic circuit for a tweeter speaker of a speaker combination
Die Erfindung betrifft einen Diagnoseschaltkreis für einen Hochton-Lautsprecher einer Lautsprecherkombination sowie ein Verfahren zum Überprüfen eines Hochton- Lautsprechers einer Lautsprecherkombination.The invention relates to a diagnostic circuit for a tweeter speaker of a speaker combination and a method for checking a tweeter speaker of a speaker combination.
In Niederfrequenz-Endstufen von Lautsprecheranlagen, die z. B. in einem Kraftfahrzeug vorgesehen sind, ist im allgemeinen ein Tiefton- und ein Mittelton-Lautsprecher oder ein Mitteltiefton-Lautsprecher direkt mit den Verstärkern der Niederfrequenz-Endstufen verbunden und ein Hochton-Lautsprecher kapazitiv angekoppelt. Die Funktionsfähigkeit dieser Lautsprecherkombination wird insbesondere beim Einbau in ein Fahrzeug und ggf. in Wartungsintervallen oder bei Fehlfunktionen überprüft. Hierbei können insbesondere Unterbrechungen oder Kurzschlüsse in den Zulei- tungen oder in den Lautsprechern auftreten. Die Überprüfung der Tiefton-, Mittelton-, oder Mitteltiefton- Lautsprecher kann direkt resistiv über eine angelegte Gleichspannung erfolgen. Eine entsprechende Überprüfung der kapazitiv angeschlossenen Hochton-Lautsprecher ist hierdurch jedoch nicht möglich. Dementsprechend wird diese Überprüfung in der Regel durch Eingabe eines Hochtonsignals und akustische Wahrnemung durchgeführt. Eine derartige Überprüfung ist jedoch bei einer automatisierten Ferti- gung zeitaufwendig und ungenau.In low-frequency power amplifiers from loudspeaker systems, e.g. B. are provided in a motor vehicle, a woofer and a mid-range speaker or a mid-range speaker is connected directly to the amplifiers of the low-frequency power amplifiers and a tweeter is capacitively coupled. The functionality of this speaker combination is checked in particular when installed in a vehicle and, if necessary, in maintenance intervals or in the event of malfunctions. In particular, interruptions or short circuits in the supply lines or in the loudspeakers can occur. The check of the low-range, mid-range or mid-range speakers can be carried out directly resistively via an applied DC voltage. A corresponding check of the capacitively connected tweeters is however, this is not possible. Accordingly, this check is usually carried out by inputting a high tone signal and acoustic perception. However, such a check is time-consuming and inaccurate in the case of automated production.
Weiterhin sind Schaltungsanordnungen bekannt, bei denen die Stromaufnahme eines Endstufen-ICs bei Beaufschlagung mit hoher NF-Frequenz und hohem Ausgangspegel gemessen wird. Hierzu muß entsprechend eine Messeinrichtung in der Stromversorgung der Leistungsendstufen vorgesehen sein.Furthermore, circuit arrangements are known in which the current consumption of an output stage IC is measured when it is exposed to a high LF frequency and a high output level. For this purpose, a measuring device must be provided in the power supply of the power output stages.
Der erfindungsgemässe Diagnoseschaltkreis nach An- spruch 1 sowie das erfindungsgemässe Verfahren nach Anspruch 13 weisen demgegenüber insbesondere den Vorteil auf, dass mit relativ geringem Aufwand eine genaue Messung der Funktionsfähigkeit eines Hochton-Lautsprechers einer Lautsprecherkombination möglich ist. Die ünteransprüche beschreiben bevorzugte Weiterbildungen.The diagnostic circuit according to the invention as claimed in claim 1 and the method according to the invention as claimed in claim 13, in particular, have the advantage that an accurate measurement of the functionality of a high-frequency loudspeaker of a loudspeaker combination is possible with relatively little effort. The sub-claims describe preferred further developments.
Erfindungsgemäß wird somit eine Überprüfung des Hochton-Lautsprechers ermöglicht, indem eine Spannungsteilerschaltung aus einem vorzugsweise rein ohmschen Wider- stand und der Lautsprecherkombination gebildet und einAccording to the invention, a check of the high-frequency loudspeaker is thus made possible in that a voltage divider circuit is formed from a preferably purely ohmic resistor and the loudspeaker combination and one
Spannungsabfall innerhalb dieser Spannungsteilerschaltung gemessen und ausgewertet wird. Hierbei kann insbesondere der Spannungsabfall an an der Lautsprecherkombination als komplexe Messspannung gemessen werden; grundsätzlich ist jedoch auch eine Messung des Spannungsabfalls an dem Messwiderstand möglich. In der Spannungsteilerschaltung sind der oder die Tiefton-, Mittelton- oder Mitteltieflautsprecher mit dem Koppelkondensator und dem Hochton-Lautsprecher parallel geschaltet. Die Funktionsfähigkeit bzw. der Zustand des Hochton-Lautsprechers wirkt sich hierbei auf den komplexen Gesamtwiderstand der Lautsprecher-Kombination bei der HF- Frequenz aus. Eine Unterbrechung am Hochton-Lautsprecher oder seinen Zuleitungen führt zu einer Erhöhung des Gesamtwiderstandes, ein Kurzschluß entsprechend zu einer Verringerung des Gesamtwiderstandes gegenüber dem Gesamtwiderstand bei funktionsfähigem Hochton-Lautsprecher. Da die für niedrigere Frequenzen ausgelegten Lautsprecher eine höhere Induktivität aufweisen als der Hochton- Lautsprecher, beeinflussen sie das Messsignal hierbei nur gering.Voltage drop within this voltage divider circuit is measured and evaluated. In particular, the voltage drop across the speaker combination can be measured as a complex measurement voltage; in principle, however, it is also possible to measure the voltage drop across the measuring resistor. In the voltage divider circuit, the woofer, mid-range or mid-range speaker is connected in parallel with the coupling capacitor and the tweeter speaker. The functionality or state of the tweeter affects the complex overall resistance of the speaker combination at the RF frequency. An interruption on the tweeter or its leads leads to an increase in the total resistance, a short circuit correspondingly to a decrease in the total resistance compared to the total resistance with a functional tweeter. Since the loudspeakers designed for lower frequencies have a higher inductance than the high-frequency loudspeaker, they influence the measurement signal only slightly.
Die Auswertung der gemessenen komplexen Messspannung kann z.B. durch Messung des gegenüber dem Ausgangssignal phasenverschobenen Spitzenwertes oder über eine Gleich- richterschaltung erfolgen.The evaluation of the measured complex measuring voltage can e.g. by measuring the peak value out of phase with the output signal or by means of a rectifier circuit.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der beiliegenden Zeichnungen an einigen Ausführungsformen erläutert. Es zeigen:The invention is explained below with reference to the accompanying drawings of some embodiments. Show it:
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer Leistungsendstufe mit einer Diagnoseschaltung gemäss einer ersten Ausführungsform der Erfindung;1 shows a block diagram of a power output stage with a diagnostic circuit according to a first embodiment of the invention;
Fig. 2 ein Blockschaltbild einer Leistungsendstufe mit einem Diagnoseschaltkreis gemäss einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. Gemäss Fig. 1 ist ein erster Ausgangsverstärker VI einer Niederfrequenz-Endstufe über einen ersten Anschluss AI mit dem Pluspol an der Lautsprecherkombination 4 und ein zweiter Ausgangsverstärker V2 der Niederfrequenz- Endstufe über einen zweiten Anschluss A2 mit dem Minuspol der Lautsprecherkombination 4 verbunden. Die Lautsprecherkombination 4 weist einen Mitteltieftpn-Lautsprecher LSI, der an die Anschlüsse AI, A2 angeschlossen ist, und einen über einen Kondensator C7 parallel zu LSI geschalteten Hochton-Lautsprecher LS2 auf. Zur Diagnose des Hochton- Lautsprechers LS2 sind die Lautsprecher LSI und LS2 angeschaltet und die Verstärker VI, V2 ausgeschaltet und somit hochohmig. Ein Prozessor 10 gibt ein HF-Eingangssignal sl aus, das über einen Impedanzwandler 3 als HF- Spannungssignal s2 ausgegeben wird. Der Prozessor 10 bildet somit mit dem Impedanzwandler 3 eine HF-Spannung erzeugende Einrichtung 2. Das HF-Eingangssignal sl wird über einen Widerstand R2 und einen Kondensator C4 an den ersten Anschluss AI, d.h. den Pluspol der Lautsprecherkombination 4 gegeben. Der zweite Anschluss A2 ist über eine Verbindungseinrichtung 6 an Masse gelegt. An AI wird von einer Messeinrichtung 11 die an der Lautsprecherkombination 4 sowie der Verbindungseinrichtung 6 abfallende Spannung als komplexe Messspannung UAl abgegriffen.2 shows a block diagram of a power output stage with a diagnostic circuit according to a second embodiment of the invention. 1, a first output amplifier VI of a low-frequency output stage is connected via a first connection AI to the positive pole on the loudspeaker combination 4 and a second output amplifier V2 of the low-frequency output stage is connected to the negative pole of the loudspeaker combination 4 via a second connection A2. The loudspeaker combination 4 has a mid-range speaker LSI, which is connected to the connections AI, A2, and a tweeter LS2 connected in parallel with LSI via a capacitor C7. To diagnose the high-frequency loudspeaker LS2, the loudspeakers LSI and LS2 are switched on and the amplifiers VI, V2 are switched off and are thus high-impedance. A processor 10 outputs an RF input signal sl, which is output via an impedance converter 3 as an RF voltage signal s2. The processor 10 thus forms an RF voltage generating device 2 with the impedance converter 3. The RF input signal sl is given via a resistor R2 and a capacitor C4 to the first connection AI, ie the positive pole of the loudspeaker combination 4. The second connection A2 is connected to ground via a connecting device 6. The voltage dropping across the loudspeaker combination 4 and the connecting device 6 is tapped off at AI as a complex measuring voltage UAl.
In der HF-Spannungs-erzeugenden Einrichtung 2 wird von dem Prozessor 10 das HF-Eingangssignal sl mit einer Frequenz von größer/gleich 20 KHz und ein Diagnosesignal d als Gleichspannungssignal ausgegeben. Durch das Diagnose- signal d wird ein Diagnosemodus gesetzt. Der Prozessor 10 schaltet hierbei in nicht gezeigter Weise durch das Diagnosesignal d auch die Ausgangsverstärker VI, V2 hochohmig. Das HF-Spannungssignal s wird über einen Kondensator C2 zusammen mit dem Diagnosesignal d einem Emitterfolge- Transistor V3 des Impedanzwandlers 3 zugeführt, wobei der Arbeitspunkt der Basis des Emitterfolger-Transistors V3 über Widerstände R4, Rβ eingestellt ist. Ein weiterer Transistor V4 und ein Widerstand R3 bilden eine an den E- mitter von V3 angeschlossene Konstantstromquelle, wobei V4 bei Anliegen des Diagnosesignals d an_ seiner Basis durchgesteuert wird. Der Impedanzwandler 3 gibt ein HF- Spannungssignal S2 aus, das über den Messwiderstand R2, den Kondensator C4, die Lautsprecherkombination 4 und die Verbindungseinrichtung 6 auf Masse abfällt.In the RF voltage generating device 2, the processor 10 outputs the RF input signal sl with a frequency of 20 KHz or greater and a diagnostic signal d as a DC voltage signal. A diagnostic mode is set by the diagnostic signal d. In this case, the processor 10 switches the output amplifiers VI, V2 to high impedance in a manner not shown by the diagnostic signal d. The RF voltage signal s is via a capacitor C2 together with the diagnostic signal d an emitter follower transistor V3 of the impedance converter 3, the operating point of the base of the emitter follower transistor V3 being set via resistors R4, Rβ. Another transistor V4 and a resistor R3 form a constant current source connected to the emitter of V3, V4 being turned on when the diagnostic signal d an_ is applied to its base. The impedance converter 3 outputs an RF voltage signal S2, which drops to ground via the measuring resistor R2, the capacitor C4, the loudspeaker combination 4 and the connecting device 6.
Die Verbindungseinrichtung 6 weist einen Transistor V5 auf, der von dem Diagnosesignal d ausgesteuert wird und eine an dem zweiten Anschluss A2 anliegende Wechselspannung niederohmig an Masse anlegt. Bei geeigneter Dimensionierung der Kondensatoren C4, C7 fällt somit das HF- Spannungssignal S2 im wesentlichen an einer Reihenschaltung von R2 und den parallel geschalteten Lautsprechern LSI und LS2 ab.The connecting device 6 has a transistor V5, which is driven by the diagnostic signal d and applies an AC voltage present at the second connection A2 to ground with low resistance. With suitable dimensioning of the capacitors C4, C7, the RF voltage signal S2 essentially drops across a series connection of R2 and the loudspeakers LSI and LS2 connected in parallel.
Die an AI anliegende Messspannung UAl wird von einer Messeinrichtung 11 aufgenommen, die durch einen Widerstand Rl, einen Kondensator C8 und den als Auswerteeinrichtung dienenden Prozessor 10 gebildet wird. Die Messspannung UAl ist insbesondere wegen der Impedanzen von LSI und LS2 gegenüber Sl phasenverschoben. Bei der in Fig. 1 gezeigten Ausführungsform wird von der Messeinrichtung 11 der phasenverschobene Spitzenwert bestimmt und hieraus bei be- kanntem R2 die Impedanz der Lautsprecherkombination 4 ermittelt. Da LSI eine hohe Induktivität aufweist, wird der Spannungsabfall zwischen AI und A2 wesentlich durch LS2 bestimmt. Im Fall eines Kurzschlusses wird somit von der Messeinrichtung 11 eine niedrige Messspannung (bzw. Messspannung mit niedrigem Betrag) , im Fall einer Unterbrechung bei LS2 eine hohe Messspannung und bei funktionsfähigem Zustand von LS2 eine mittlere Messspannung er it- telt.The measuring voltage UAl applied to AI is received by a measuring device 11, which is formed by a resistor R1, a capacitor C8 and the processor 10 serving as an evaluation device. The measuring voltage UAl is phase-shifted in relation to S1, in particular because of the impedances of LSI and LS2. In the embodiment shown in FIG. 1, the phase-shifted peak value is determined by the measuring device 11 and the impedance of the loudspeaker combination 4 is determined therefrom if R2 is known. Since LSI has a high inductance, the voltage drop between AI and A2 is largely determined by LS2. In the event of a short circuit, the Measuring device 11 detects a low measuring voltage (or measuring voltage with a small amount), a high measuring voltage in the event of an interruption in LS2 and a medium measuring voltage when LS2 is in a functional state.
Bei der in Fig. 2 gezeigten Ausführungsform wird gegenüber der ersten Ausführungsform eine Messeinrichtung 12 verwendet, bei der ein Widerstand Rl, der Kondensator C7, eine Schottky-Diode Dl und ein auf Masse gelegter Kondensator Cl zur Gleichrichtung des aufgenommenen Wechselspannungssignals dienen, so dass der Prozessor 10 eine gleichgerichtete Spannung aufnehmen kann. In the embodiment shown in FIG. 2, compared to the first embodiment, a measuring device 12 is used, in which a resistor Rl, the capacitor C7, a Schottky diode Dl and a capacitor C1 connected to ground serve to rectify the ac voltage signal picked up, so that the Processor 10 can receive a rectified voltage.

Claims

Patentansprüche Patent claims
Diagnoseschaltkreis für einen Hochton-Lautsprecher einer Lautsprecherkombination, wobei der Diagnoseschaltkreis aufweist: eine HF-Signal erzeugende Einrichtung (2) zum Ausgeben eines HF-Spannungssignals (s2) , mindestens einen Anschluss (AI, A2) für eine Lautsprecher-Kombination (4) , einen Messwiderstand (R2), der bei Anschluss der Lautsprecher-Kombination (4) an den Anschluss (AI) mit dieser eine Spannungsteilerschaltung (R2, 4) bildet, eine Messeinrichtung (10, 11, 12) zur Messung einer in der Spannungsteilerschaltung (R2, 4) abfallenden komplexen Messspannung (UAl) und Ermittlung eines Zustan- des des Hochton-Lautsprechers (LS2) der Lautsprecherkombination (4) .Diagnostic circuit for a tweeter loudspeaker of a loudspeaker combination, the diagnostic circuit having: an HF signal generating device (2) for outputting an HF voltage signal (s2), at least one connection (AI, A2) for a loudspeaker combination (4), a measuring resistor (R2), which forms a voltage divider circuit (R2, 4) when the loudspeaker combination (4) is connected to the connection (AI), a measuring device (10, 11, 12) for measuring a voltage in the voltage divider circuit (R2 , 4) falling complex measuring voltage (UAl) and determining a state of the tweeter loudspeaker (LS2) of the loudspeaker combination (4).
Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Messwiderstand (R2) zwischen der HF-Signal erzeugenden Einrichtung (2) und dem Anschluss (AI) vorgesehen ist und die Messeinrichtung (11, 12) eine im wesentlichen an der Lautsprecherkombination (4) abfallende Messspannung (UAl) misst.Diagnostic circuit according to claim 1, characterized in that the measuring resistor (R2) is provided between the HF signal generating device (2) and the connection (AI) and the measuring device (11, 12) has a drop essentially at the loudspeaker combination (4). Measuring voltage (UAl) measures.
Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem Messwiderstand (R2) und dem Anschluss (AI) ein Kondensator (C4) vorgesehen ist. Diagnoseschaltkreis nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die HF-Signal erzeu- gende Einrichtung (2) eine HF-Signalquelle (10) zur Ausgabe eines HF-Eingangssignals (sl) und einen nachgeschalteten, durch ein Gleichspannungs-Diagnosesignal (d) einschaltbaren Impedanzwandler (3) aufweist.Diagnostic circuit according to claim 2, characterized in that a capacitor (C4) is provided between the measuring resistor (R2) and the connection (AI). Diagnostic circuit according to one of the preceding claims, characterized in that the HF signal generates ing device (2) has an HF signal source (10) for outputting an HF input signal (sl) and a downstream impedance converter (3) which can be switched on by a DC diagnostic signal (d).
Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Impedanzwandler_ (3) einen das HF- Eingangssignal (sl) und das Diagnosesignal (d) aufnehmenden Emitterfolger-Transistor (V3) aufweist.Diagnostic circuit according to claim 4, characterized in that the impedance converter (3) has an emitter follower transistor (V3) which receives the HF input signal (sl) and the diagnostic signal (d).
Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass als Emitterwiderstand des Emitterfolger- Transistors (3) eine durch das Diagnosesignal (d) einschaltbare Stromquelle vorgesehen ist, vorzugsweise mit einem zweiten Transistor (V4), wobei der Kollektor des zweiten Transistors (V4) an den Emitter des Emitterfolgers (V3) angeschlossen ist, der Emitter des zweiten Transistors (V4) über einen Widerstand (R3) an Masse gelegt ist und die Basis des zweiten Transistors (V4) durch das Diagnosesignal (d) , vorzugsweise auch das HF- Eingangssignal (sl) , angesteuert wird.Diagnostic circuit according to claim 5, characterized in that a current source which can be switched on by the diagnostic signal (d) is provided as the emitter resistor of the emitter follower transistor (3), preferably with a second transistor (V4), the collector of the second transistor (V4) being connected to the Emitter of the emitter follower (V3) is connected, the emitter of the second transistor (V4) is connected to ground via a resistor (R3) and the base of the second transistor (V4) is connected by the diagnostic signal (d), preferably also the HF input signal ( sl), is controlled.
Diagnoseschaltkreis nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (11) einen Spitzenwert der Messspannung ermittelt.Diagnostic circuit according to one of the preceding claims, characterized in that the measuring device (11) determines a peak value of the measuring voltage.
Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (11) einen mit der Anschlusseinrichtung (AI) verbundenen Widerstand (Rl) , einen mit dem Widerstand (Rl) verbundenen Kondensator Diagnostic circuit according to claim 7, characterized in that the measuring device (11) has a resistor (Rl) connected to the connection device (AI), a capacitor connected to the resistor (Rl).
(C8) und eine Auswerteeinrichtung (10) aufweist. (C8) and an evaluation device (10).
9. Diagnoseschaltkreis nach einem der Ansprüche 1 - 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (12) eine Gleichrichterschaltung (C7, Dl, Cl) zur Gleichrichtung der aufgenommenen Messspannung (UAl) und Ausgabe eines gleichgerichteten Messspannungssignals an eine Auswerteeinrichtung (10) aufweist.9. Diagnostic circuit according to one of claims 1 - 7, characterized in that the measuring device (12) has a rectifier circuit (C7, Dl, Cl) for rectifying the recorded measuring voltage (UAl) and outputting a rectified measuring voltage signal to an evaluation device (10).
10. Diagnoseschaltkreis nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Gleichrichterschaltung eine Reihen- Schaltung aus einem Widerstand (Rl) , einem Kondensator (C7) und einer Schottkydiode (Dl) aufweist, wobei die Reihenschaltung über einen Kondensator (Cl) an Masse gelegt ist.10. Diagnostic circuit according to claim 9, characterized in that the rectifier circuit has a series circuit consisting of a resistor (Rl), a capacitor (C7) and a Schottky diode (Dl), the series circuit being connected to ground via a capacitor (Cl). .
11. Diagnoseschaltkreis nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung bei Ermittlung einer niedrigen Messspannung (UAl) auf einen Kurzschluß des Hochton-Lautsprechers (LS2), aus einer mittleren Messspannung (UAl) auf einen ordnungs- gemässen Zustand des Hochton-Lautsprechers (LS2) und aus einer hohen Messspannung (UAl) auf eine Unterbrechung am Hochton-Lautsprecher (LS2) schließt.11. Diagnostic circuit according to one of the preceding claims, characterized in that the measuring device, when determining a low measuring voltage (UAl), indicates a short circuit in the tweeter loudspeaker (LS2), from a medium measuring voltage (UAl) to a correct state of the tweeter. Loudspeaker (LS2) and a high measuring voltage (UAl) indicates an interruption in the tweeter loudspeaker (LS2).
12. Diagnoseschaltkreis nach einem der vorherigen Ansprü- ehe, dadurch • gekennzeichnet, dass der Messwiderstand12. Diagnostic circuit according to one of the previous claims, characterized in that the measuring resistor
(R2) ein rein ohmscher Widerstand ist.(R2) is a purely ohmic resistance.
13. Verfahren zum Überprüfen eines Hochton-Lautsprechers einer Lautsprecherkombination, bei dem ein HF-Spannungssignal (s2) an eine Spannungsteilerschaltung aus einem Messwiderstand (R2) und der Lautsprecherkombination (4) ausgegeben wird, eine in der Spannungsteilerschaltung (R2, 4) abfallende komplexe Messspannung (UAl) gemessen wird, und aus der Messspannung (UAl) auf einen Zustand des Hochton-Lautsprechers (LS2) geschlossen wird.13. Method for checking a tweeter loudspeaker of a loudspeaker combination, in which an HF voltage signal (s2) is output to a voltage divider circuit consisting of a measuring resistor (R2) and the loudspeaker combination (4), a voltage drop in the voltage divider circuit (R2, 4). complex measuring voltage (UAl) is measured, and from the measuring voltage (UAl) a conclusion is drawn about the state of the tweeter loudspeaker (LS2).
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Messspannung (UAl) als Spannungsabfall an der Lautsprecherkombination gemessen wird.14. The method according to claim 13, characterized in that the measuring voltage (UAl) is measured as a voltage drop across the loudspeaker combination.
15. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekenn- zeichnet, dass bei Ermittlung einer geringen Messspannung (UAl) an der Lautsprecherkombination (4) auf einen Kurzschluß am Hochton-Lautsprecher (LS2), bei Ermittlung einer mittleren Messspannung (UAl) an der Lautsprecher-Kombination (4) auf einen ordnungsge- ässen Zustand des Hochton-Lautsprechers (LS2), und bei Ermittlung einer hohen Messspannung (UAl) an der Lautsprecher-Kombination (4) auf eine Unterbrechung am Hochton-Lautsprecher (LS2) geschlossen wird.15. The method according to claim 13 or 14, characterized in that when determining a low measuring voltage (UAl) on the loudspeaker combination (4) there is a short circuit on the tweeter loudspeaker (LS2), when determining a medium measuring voltage (UAl) on the Loudspeaker combination (4) indicates that the tweeter loudspeaker (LS2) is in good condition, and if a high measuring voltage (UAl) is detected at the loudspeaker combination (4), it is concluded that there is an interruption in the tweeter loudspeaker (LS2).
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Spitzenwert der komplexen Messspannung gemessen und nachfolgend ausgewertet wird.16. Method according to one of claims 13 to 15, characterized in that the peak value of the complex measuring voltage is measured and subsequently evaluated.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die komplexe Messspannung gleichgerichtet und nachfolgend ausgewertet wird. 17. Method according to one of claims 13 to 15, characterized in that the complex measuring voltage is rectified and subsequently evaluated.
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101434302B1 (en) * 2007-07-25 2014-08-27 삼성전자주식회사 Method for detecting badness speaker and the sound apparatus using the same
EP2048896B1 (en) * 2007-10-12 2011-12-21 STMicroelectronics Srl Method and circuit for testing an audio high-frequency loudspeaker being part of a loudspeaker system
EP2094030B1 (en) 2008-02-21 2012-06-20 STMicroelectronics Srl Method for testing the operating conditions of an electric network and apparatus using said method
FR2950146B1 (en) * 2009-09-15 2011-12-09 Sierra Wireless Inc DIAGNOSTIC DEVICE FOR A CORRESPONDING OHIM DEVICE, EQUIPMENT AND ELECTRONIC CIRCUIT
DE102010005746A1 (en) * 2010-01-26 2011-07-28 Fresenius Medical Care Deutschland GmbH, 61352 Medical device
CN104717595B (en) * 2015-03-16 2018-01-26 高创(苏州)电子有限公司 A kind of detection method, the detection means of loudspeaker module function
FR3104115B1 (en) * 2019-12-10 2021-11-26 Psa Automobiles Sa Device for monitoring, on board a motor vehicle, the operation of a vehicle speaker and vehicle fitted with such a device

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA956576A (en) * 1972-09-06 1974-10-22 General Signal Corporation Circuit integrity checking means for audio signal circuit
US3912883A (en) * 1974-03-26 1975-10-14 Gen Signal Corp Direct current supervisory system
US3989908A (en) * 1975-06-26 1976-11-02 General Signal Corporation Speaker supervision in a public address system
US4330686A (en) * 1978-12-21 1982-05-18 Stephen Roe Loudspeaker systems
US4583245A (en) * 1984-06-14 1986-04-15 Renkus-Heinz, Inc. Speaker system protection circuit
DE3627960C1 (en) * 1986-08-18 1987-09-03 Philips Patentverwaltung Monitoring device for loudspeaker installations
US4887298A (en) * 1988-06-15 1989-12-12 Renkus-Heinz Electronic circuit for sensing disconnect or failure of a power output sense line in an audio power system
US5255324A (en) * 1990-12-26 1993-10-19 Ford Motor Company Digitally controlled audio amplifier with voltage limiting
US5345510A (en) * 1992-07-13 1994-09-06 Rauland-Borg Corporation Integrated speaker supervision and alarm system
US5548650A (en) * 1994-10-18 1996-08-20 Prince Corporation Speaker excursion control system
DE19513066A1 (en) * 1995-04-07 1996-10-10 Philips Patentverwaltung Circuit arrangement for checking the connection of a sound reproduction device to a sound signal source
JP3127813B2 (en) * 1995-12-05 2001-01-29 ヤマハ株式会社 Audio amplifier protection circuit
DE19628014C2 (en) * 1996-07-02 1998-10-08 Johannes Von Reusner Crossover for loudspeakers and loudspeaker with such a crossover
DE19629781C1 (en) * 1996-07-24 1997-08-21 Bosch Gmbh Robert Bridge terminating stage impedance testing method
JPH10136493A (en) * 1996-10-28 1998-05-22 Toa Corp Inspection device for speaker line
JP3908434B2 (en) * 2000-03-06 2007-04-25 パイオニア株式会社 Information equipment with speakers

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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