EP1423658A1 - Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same - Google Patents

Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same

Info

Publication number
EP1423658A1
EP1423658A1 EP02776961A EP02776961A EP1423658A1 EP 1423658 A1 EP1423658 A1 EP 1423658A1 EP 02776961 A EP02776961 A EP 02776961A EP 02776961 A EP02776961 A EP 02776961A EP 1423658 A1 EP1423658 A1 EP 1423658A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
diff
measuring
plate
correction values
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
EP02776961A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Hartmut Schneider
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
E Zoller GmbH and Co KG
Original Assignee
E Zoller GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by E Zoller GmbH and Co KG filed Critical E Zoller GmbH and Co KG
Priority to DE20221533U priority Critical patent/DE20221533U1/en
Publication of EP1423658A1 publication Critical patent/EP1423658A1/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042—Calibration or calibration artifacts

Definitions

  • test gauge is inserted to a diameter of 100 mm provides.
  • the test gauge is then measured, the amount deviating from 100 mm being stored as a correction value in the presetting and measuring device, so that 100 mm are measured when measured again.
  • new measurements must be carried out.
  • the invention is particularly based on the object of providing a method in which an adjustment can be achieved with high accuracy, while at the same time a high level of operating convenience and time savings are to be achieved. It is solved according to the invention by the features of claim 1. Further configurations result from the subclaims and the subsidiary claims.
  • Measuring device with a computing unit and a storage unit as well as with a camera are proposed, with an at least two-dimensional, calibrated field being measured for adjustment.
  • a highly precise, quick and comfortable adjustment of the setting and measuring device can be achieved, in particular by determining correction values for at least one axis as a function of at least one second axis. Correction values for position deviations, translational deviations, rotatory deviations and perpendicularity deviations and in particular correction values for several linear movement axes can be can be easily determined.
  • a particularly compact device for adjusting a setting and measuring device can be achieved. The adjustment can be carried out in a few minutes and therefore every hour, depending on temperature changes. Instead of measuring a calibrated, two-dimensional field, it is fundamentally also conceivable to measure a calibrated, three-dimensional field.
  • the correction values are advantageously stored as a map, specifically in that the correction values are stored in accordance with the kinematics of rigid bodies or graphs are determined by interpolation between the individual correction values and an area-wide map is determined.
  • the characteristic diagram enables an advantageously precise adjustment over a large measuring range, in particular over the entire measuring range of the setting and measuring device.
  • the calibrated field can be measured manually, partially automated or fully automated for adjustment, whereby increasing comfort and time gain can be achieved with an increasing degree of automation.
  • the calibrated field can be formed by various devices which appear useful to the person skilled in the art. Particularly advantageous, however, of a plate with several, calibrated measuring points, which can be produced simply and inexpensively.
  • Measuring points arranged with a small distance The more Measuring points has the field, the more accurate map can be achieved.
  • the plate be made from a fiber ceramic, and particularly advantageously from a fiber ceramic with an expansion coefficient that is negative in sign and small in magnitude.
  • a temperature dependency of the device can be at least largely avoided, and an accurate adjustment of the setting and measuring device can advantageously be achieved at least largely independently of the temperature.
  • the measuring points are advantageously formed by channels passing through the plate.
  • the solution according to the invention can also be used in setting and measuring devices which operate according to a so-called incident light method.
  • the measuring points can be easily captured by the camera. Expensive cameras with a particularly high image resolution can be avoided.
  • At least one measuring point of the calibrated field can be specifically controlled to correct a correction value, adjustment errors can easily be avoided and, in particular, a highly precise characteristic diagram can be achieved.
  • FIG. 1 shows a setting and measuring device
  • FIG. 2 shows a device with a plate that has several calibrated measuring points
  • FIG. 2a shows a section of the device from FIG. 2 with a holding device in a side view
  • FIG. 3 shows a screen from FIG. 1 in an enlarged representation during a measurement process
  • FIG. 4 the screen from FIG. 1 after the measurement process
  • FIG. 5 the screen from FIG. 1 after the calculation of a characteristic diagram.
  • the optics carrier 28 can be moved along two axes X, Z and carries a CCD camera 14 and a lighting unit (not shown in more detail) on the side opposite the camera 14.
  • the optics carrier 28 can be driven by a drive unit and can also be moved manually with an operating element 30.
  • a special holding device 34 with a conical insertion means 36 and a receiving means 38 with a dovetail guide 40 is inserted in a tool holder 32, in which a device with a support part 42 adapted to the dovetail guide 40 is held (FIGS. 1, 2 and 2a).
  • the engagement means can also have other, the skilled person that appear useful shapes such as cylinder, etc.
  • the device comprises a rectangular plate 18 made from fiber ceramics, ⁇ a coefficient of expansion comprising of L-10 "s l / K.
  • the plate 18 includes over 100 calibrated, numbered measuring points 20, 22, 24, which are arranged along the X-axis and Z-axis and span a two-dimensional, calibrated field 16.
  • the measuring points 20 are at a constant distance parallel to the edges of the plate 18 15 mm, but smaller and larger distances are also conceivable.
  • the measuring points 24 are arranged at different Z values in rows running along the X-axis, while the measuring points 22 essentially in the middle region of the plate 18 are arranged in a row running along the Z axis.
  • the measuring points 20, 22, 24 are formed by conical channels which pass through the plate 18 and which are formed in hard tallbuchsen 44 are introduced by means of a reamer or similar tools and taper from a back 50 to a front 52 of the plate 18.
  • bores for the measuring points 20, 22, 24 are made in the plate 18 in a first step.
  • the hard metal bushings 44 with the conical channels are inserted into the plate 18, evenly aligned and glued.
  • the center points of the conical channels are then calibrated or their position on the plate 18 is measured by means of standards or by means of normal measuring devices, the standards and the normal measuring devices being traceable to national standards of the Federal Physical Technical Institute.
  • the positions of the center points on the plate 18 or relative to one another are then stored in file form. Each plate 18 thus receives its own measurement file.
  • the plate 18 is then clamped at a first end in the carrier part 42 between two holding plates 46, 48 with a tensioning screw 54, the position of the plate 18 between the holding plates 46, 48 being able to be adjusted by means of distance means 56, 58, 60.
  • distance means 56, 58, 60 At a second end of the plate 18 there are further spacing means 56 ', 58', 60 'and a mounting opening 62 in order to be able to mount the plate 18 in a position rotated by 180 ° between the holding plates 46, 48.
  • the two-dimensional, calibrated field 16 is measured automatically, with correction values X-Diff for the
  • the plate 18 is pivoted in the tool holder 32 until the measuring points 20, 22, 24 lie in a plane of focus of the camera 14.
  • the camera 14 is then moved manually to the measuring point 20 numbered one.
  • the measuring point 20 approached by the camera 14 becomes the number one, namely the center of the measuring point 20 as
  • the automated measuring process is started by clicking on a menu key F5.
  • the positions of the measuring points 20 along the edges of the plate 18 are measured in succession in accordance with a program stored in the presetting and measuring device 1, namely by measuring the openings of the conical channels on the front 52 and then calculating the position of their centers in the tool coordinate system (FIG 3).
  • the measurement results are compared with the measurement data of the measurement file of the plate 18 used previously imported into the setting and measuring device 1 (FIG. 4).
  • a map is calculated from the correction values X-Diff, Z-Diff by interpolation, from which the correction values X-Diff, which are spanned by the measuring points 20, 22, 24, cover the entire area.
  • Z-Diff can be read out.
  • Resulting graphs can be displayed by clicking a menu key F1 (Fig. 5). By clicking on the menu key F8, the determined characteristic diagram can then be stored in the memory unit 12 of the setting and measuring device 1.
  • the positions of individual measuring points 20, 22, 24 can be measured by clicking on a menu key F6, specifically the positions of the measuring points 22 can be measured, in particular after the characteristic diagram has been determined, in order to determine whether by taking into account the characteristics from the characteristic diagram - Read correction values X-Diff, Z-Diff measurement results with desired small tolerances can be achieved.
  • a characteristic map can be achieved in any partial measuring range and particularly advantageously in the entire measuring range of the setting and measuring device 1.
  • the plate 18 is also conceivable for the plate 18 to be measured manually in order to adjust the setting and measuring device 1, i.e. that all or individual measuring points 20 are approached manually.
  • correction measurements are always read out from the map stored in the memory unit 12 for future measurements and added to the current measurement results in order to be able to subsequently output corrected measurement results.

Abstract

The invention relates to a method for aligning an adjustment and measuring device comprising an arithmetic unit, a memory unit and also a camera. According to said method, to carry out the alignment, a calibrated field that is at least two-dimensional is measured.

Description

Einstell- und Messgerät sowie Verfahren und Vorrichtung zur Justierung desselbenSetting and measuring device and method and device for adjusting the same
Stand der TechnikState of the art
Es ist bekannt, bei Einstell- und Messgeräten mit einer Recheneinheit, einer Speichereinheit und einer Kamera eine Ab- laufgeradheit von linearen Bewegungsachsen mit einem Kon- trolldorn und einer Lehre durchzuführen. Hierbei wird das Einstell- und Messgerät über mechanische Hilfsmittel entsprechend den Vorgaben des Herstellers ausgerichtet. Der Kon- trolldorn wird entlang einer linearen Bewegungsachse über ei- ne Länge von beispielsweise 500 mm abgefahren, wobei mit einem Feinzeiger bzw. mit einer Messuhr oder Kamera ca. 10 Messpunkte aufgenommen werden. Mittels Ausricht- und Abdrückschrauben oder Software wird die entsprechende lineare Bewegungsachse angepasst, so dass alle Messwerte innerhalb der vom Hersteller vorgegebenen Toleranz liegen. Die Art der Ausrichtung erfolgt in allen linearen Bewegungsachsen.It is known for setting and measuring devices with a computing unit, a storage unit and a camera to carry out a straightness of motion of linear movement axes with a control mandrel and a gauge. The setting and measuring device is aligned using mechanical aids in accordance with the manufacturer's specifications. The control mandrel is traversed along a linear movement axis over a length of, for example, 500 mm, about 10 measuring points being recorded with a precision pointer or with a dial gauge or camera. The corresponding linear movement axis is adjusted by means of alignment and forcing screws or software so that all measured values are within the tolerance specified by the manufacturer. The type of alignment takes place in all linear movement axes.
Ferner ist bekannt, bei Einstell- und Messgeräten eine Län- genmessabweichung, beispielsweise mittels Parallelendmaße o- der mittels Prüflehren, zu korrigieren. Dabei wird die Prüflehre beispielsweise auf einen Durchmesser von 100 mm einge- stellt. Anschließend wird die Prüflehre vermessen, wobei der von 100 mm abweichende Betrag als Korrekturwert im Einstell- und Messgerät abgespeichert wird, so dass bei einer erneuten Messung 100 mm gemessen werden. Zur Korrektur anderer linearer Bewegungsachsen müssen erneute Messungen durchgeführt werde .It is also known to correct a length measurement deviation in setting and measuring devices, for example by means of parallel gauge blocks or by means of test gauges. For example, the test gauge is inserted to a diameter of 100 mm provides. The test gauge is then measured, the amount deviating from 100 mm being stored as a correction value in the presetting and measuring device, so that 100 mm are measured when measured again. To correct other linear axes of motion, new measurements must be carried out.
Der Erfindung liegt insbesondere die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren bereitzustellen, bei dem eine Justierung mit hoher Genauigkeit erreicht werden kann, wobei gleichzeitig ein hoher Bedienkomfort und Zeitersparnis erzielt werden sollen. Sie wird gemäß der Erfindung durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst. Weitere Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unter- ansprüchen und den Nebenansprüchen.The invention is particularly based on the object of providing a method in which an adjustment can be achieved with high accuracy, while at the same time a high level of operating convenience and time savings are to be achieved. It is solved according to the invention by the features of claim 1. Further configurations result from the subclaims and the subsidiary claims.
Vorteile der ErfindungAdvantages of the invention
Es wird ein Verfahren zur Justierung eines Einstell- undThere is a procedure for adjusting a setting and
Messgeräts mit einer Recheneinheit und einer Speichereinheit sowie mit einer Kamera vorgeschlagen, wobei zur Justierung ein zumindest z eidi ensionales, kalibriertes Feld vermessen wird. Es kann ein hochgenaues, schnelles und komfortables Justieren des Einstell- und Messgeräts erreicht werden, und zwar insbesondere indem für wenigstens eine Achse in Abhängigkeit zumindest einer zweiten Achse Korrekturwerte ermittelt werden. Es können in einem Messvorgang Korrekturwerte für Positionsabweichungen, translatorische Abweichungen, ro- tatorische Abweichungen und Rechtwinkligkeitsabweichungen und insbesondere Korrekturwerte für mehrere lineare Bewegungsach- sen einfach ermittelt werden. Ferner kann eine besonders kompakte Vorrichtung zur Justierung eines Einstell- und Messgeräts erreicht werden. Die Justierung kann in wenigen Minuten erfolgen und somit stündlich, abhängig von Temperaturänderun- gen erfolgen. Anstatt der Vermessung eines kalibrierten, zweidimensionalen Felds ist es grundsätzlich auch denkbar, ein kalibriertes, dreidimensionales Feld zu vermessen.Measuring device with a computing unit and a storage unit as well as with a camera are proposed, with an at least two-dimensional, calibrated field being measured for adjustment. A highly precise, quick and comfortable adjustment of the setting and measuring device can be achieved, in particular by determining correction values for at least one axis as a function of at least one second axis. Correction values for position deviations, translational deviations, rotatory deviations and perpendicularity deviations and in particular correction values for several linear movement axes can be can be easily determined. Furthermore, a particularly compact device for adjusting a setting and measuring device can be achieved. The adjustment can be carried out in a few minutes and therefore every hour, depending on temperature changes. Instead of measuring a calibrated, two-dimensional field, it is fundamentally also conceivable to measure a calibrated, three-dimensional field.
Vorteilhaft werden die Korrekturwerte als Kennfeld gespei- chert, und zwar indem die Korrekturwerte entsprechend der Kinematik starrer Körper abgelegt bzw. durch Interpolation zwischen den einzelnen Korrekturwerten Graphen bestimmt und ein flächendeckendes Kennfeld ermittelt wird. Durch das Kennfeld kann eine vorteilhaft genaue Justierung über einen großen Messbereich, insbesondere über den gesamten Messbereich des Einstell- und Messgeräts erreicht werden.The correction values are advantageously stored as a map, specifically in that the correction values are stored in accordance with the kinematics of rigid bodies or graphs are determined by interpolation between the individual correction values and an area-wide map is determined. The characteristic diagram enables an advantageously precise adjustment over a large measuring range, in particular over the entire measuring range of the setting and measuring device.
Das kalibrierte Feld kann zur Justierung manuell, teilweise automatisiert oder vollautomatisiert vermessen werden, wobei mit ansteigendem Automatisierungsgrad ein zunehmender Komfort und Zeitgewinn erreicht werden kann.The calibrated field can be measured manually, partially automated or fully automated for adjustment, whereby increasing comfort and time gain can be achieved with an increasing degree of automation.
Das kalibrierte Feld kann von verschiedenen, dem Fachmann als sinnvoll erscheinenden Vorrichtungen gebildet sein. Besonders vorteilhaft jedoch von einer Platte mit mehreren, kalibrierten Messstellen, die einfach und kostengünstig herstellbar ist .The calibrated field can be formed by various devices which appear useful to the person skilled in the art. Particularly advantageous, however, of a plate with several, calibrated measuring points, which can be produced simply and inexpensively.
Vorteilhaft sind entlang zumindest zwei Achsen jeweils zu in- dest zwei Messstellen und besondere vorteilhaft zahlreicheIt is advantageous to have at least two measuring points along at least two axes, and particularly advantageously numerous
Messstellen mit einem kleinen Abstand angeordnet. Je mehr Messstellen das Feld aufweist, umso ein genaueres Kennfeld kann erreicht werden.Measuring points arranged with a small distance. The more Measuring points has the field, the more accurate map can be achieved.
Ferner wird vorgeschlagen, dass die Platte aus einer Faserke- ramik hergestellt ist, und zwar besonders vorteilhaft aus einer Faserkeramik mit einem im Vorzeichen negativen und im Betrag kleinen Ausdehnungskoeffizienten. Eine Temperaturabhängigkeit der Vorrichtung kann zumindest weitgehend vermieden und es kann vorteilhaft zumindest weitgehend unabhängig von der Temperatur stets eine genaue Justierung des Einstell- und Messgeräts erreicht werden.It is also proposed that the plate be made from a fiber ceramic, and particularly advantageously from a fiber ceramic with an expansion coefficient that is negative in sign and small in magnitude. A temperature dependency of the device can be at least largely avoided, and an accurate adjustment of the setting and measuring device can advantageously be achieved at least largely independently of the temperature.
Um die Vorrichtung vorteilhaft bei Einstell- und Messgeräten anwenden zu können, die mit einem so genannten Durchlichtver- fahren arbeiten, sind die Messstellen vorteilhaft von durch die Platte hindurchtretenden Kanälen gebildet. Grundsätzlich kann jedoch die erfindungsgemäße Lösung auch bei Einstell- und Messgeräten eingesetzt werden, die nach einem so genannten Auflichtverfahren arbeiten.In order to be able to use the device advantageously in setting and measuring devices which work with a so-called transmitted light method, the measuring points are advantageously formed by channels passing through the plate. In principle, however, the solution according to the invention can also be used in setting and measuring devices which operate according to a so-called incident light method.
Sind die Kanäle konisch ausgebildet, können die Messstellen durch die Kamera einfach scharf erfasst werden. Teure Kameras mit einer besonders hohen Bildauflösung können vermieden werden.If the channels are conical, the measuring points can be easily captured by the camera. Expensive cameras with a particularly high image resolution can be avoided.
Ist nach einem Messvorgang, insbesondere nach einem automatisierten Messvorgang, wenigstens eine Messstelle des kalibrierten Felds zur Korrektur eines Korrekturwerts erneut gezielt ansteuerbar, können Justierfehler einfach vermieden und insbesondere kann ein hochgenaues Kennfeld erreicht werden. ZeichnungIf, after a measurement process, in particular after an automated measurement process, at least one measuring point of the calibrated field can be specifically controlled to correct a correction value, adjustment errors can easily be avoided and, in particular, a highly precise characteristic diagram can be achieved. drawing
Weitere Vorteile ergeben sich aus der folgenden Zeichnungsbeschreibung. In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt. Die Zeichnung, die Beschreibung und die Ansprüche enthalten zahlreiche Merkmale in Kombination. Der Fachmann wird die Merkmale zweckmäßigerweise auch einzeln betrachten und zu sinnvollen weiteren Kombinationen zusammenfassen.Further advantages result from the following description of the drawing. In the drawing, an embodiment of the invention is shown. The drawing, the description and the claims contain numerous features in combination. The person skilled in the art will expediently also consider the features individually and combine them into useful further combinations.
Es zeigen:Show it:
Fig. 1 ein Einstell- und Messgerät, Fig. 2 eine Vorrichtung mit einer Platte, die mehrere kalibrierte Messstellen aufweist, Fig. 2a einen Ausschnitt der Vorrichtung aus Fig. 2 mit einer Haltevorrichtung in einer Seitenansicht, Fig. 3 ein Bildschirm aus Fig. 1 in vergrößerter Darstellung bei einem Messvorgang, Fig. 4 der Bildschirm aus Fig. 1 nach dem Messvorgang und Fig. 5 der Bildschirm aus Fig. 1 nach der Berechnung eines Kennfelds.1 shows a setting and measuring device, FIG. 2 shows a device with a plate that has several calibrated measuring points, FIG. 2a shows a section of the device from FIG. 2 with a holding device in a side view, FIG. 3 shows a screen from FIG. 1 in an enlarged representation during a measurement process, FIG. 4 the screen from FIG. 1 after the measurement process and FIG. 5 the screen from FIG. 1 after the calculation of a characteristic diagram.
Beschreibung des AusführungsbeispielsDescription of the embodiment
Fig. 1 zeigt ein Einstell- und Messgerät 1 mit einer Recheneinheit 10, einer Speichereinheit 12, einem Bildschirm 26 so- wie mit einem verfahrbaren Optikträger 28. Der Optikträger 28 ist entlang zwei Achsen X, Z verfahrbar und trägt eine CCD- Kamera 14 sowie eine nicht näher dargestellte Beleuchtungseinheit auf der der Kamera 14 gegenüberliegenden Seite. Der Optikträger 28 kann angetrieben von einer Antriebseinheit und auch manuell mit einem Bedienelement 30 verfahren werden.1 shows a setting and measuring device 1 with a computing unit 10, a storage unit 12, a screen 26 and as with a movable optics carrier 28. The optics carrier 28 can be moved along two axes X, Z and carries a CCD camera 14 and a lighting unit (not shown in more detail) on the side opposite the camera 14. The optics carrier 28 can be driven by a drive unit and can also be moved manually with an operating element 30.
In einer Werkzeugaufnahme 32 ist eine spezielle Haltevorrichtung 34 mit einem konischen Einsteckmittel 36 und einem Auf- nahmemittel 38 mit einer Schwalbenschwanzführung 40 eingesetzt, in der eine Vorrichtung mit einem der Schwalbenschwanzführung 40 angepassten Trägerteil 42 gehalten ist (Fig. 1, 2 und 2a) . Das Einsteckmittel kann jedoch auch andere, dem Fachmann als sinnvoll erscheinende Formen aufweisen, wie z.B. zylindrisch usw. Die Vorrichtung umfasst eine rechteckige Platte 18 aus Faserkeramik, die einen Ausdehnungskoeffizienten α von -l-10"s l/K aufweist. Die Platte 18 umfasst über 100 kalibrierte, bezifferte Messstellen 20, 22, 24, die entlang der X-Achse und Z-Achse angeordnet sind und ein zwei- dimensionales, kalibriertes Feld 16 aufspannen. Die Messstellen 20 sind in einem gleichbleibenden Abstand parallel zu den Rändern der Platte 18 in einer umlaufenden Reihe mit einem Abstand von ca. 15 mm angeordnet. Es sind jedoch auch kleinere und größere Abstände denkbar. Die Messstellen 24 sind bei unterschiedlichen Z-Werten in entlang der X-Achse verlaufenden Reihen angeordnet, während die Messstellen 22 im Wesentlichen im mittleren Bereich der Platte 18 in einer entlang der Z-Achse verlaufenden Reihe angeordnet sind.A special holding device 34 with a conical insertion means 36 and a receiving means 38 with a dovetail guide 40 is inserted in a tool holder 32, in which a device with a support part 42 adapted to the dovetail guide 40 is held (FIGS. 1, 2 and 2a). However, the engagement means can also have other, the skilled person that appear useful shapes such as cylinder, etc., the device comprises a rectangular plate 18 made from fiber ceramics, α a coefficient of expansion comprising of L-10 "s l / K. The plate 18 includes over 100 calibrated, numbered measuring points 20, 22, 24, which are arranged along the X-axis and Z-axis and span a two-dimensional, calibrated field 16. The measuring points 20 are at a constant distance parallel to the edges of the plate 18 15 mm, but smaller and larger distances are also conceivable. The measuring points 24 are arranged at different Z values in rows running along the X-axis, while the measuring points 22 essentially in the middle region of the plate 18 are arranged in a row running along the Z axis.
Die Messstellen 20, 22, 24 werden von durch die Platte 18 hindurchtretenden, konischen Kanälen gebildet, die in Hart e- tallbuchsen 44 mittels einer Reibahle oder ähnlichen Werkzeugen eingebracht sind und die sich von einer Rückseite 50 zu einer Vorderseite 52 der Platte 18 verjüngen. Bei der Herstellung der Platte 18 werden in einem ersten Schritt Bohrun- gen für die Messstellen 20, 22, 24 in die Platte 18 eingebracht. Anschließend werden die Hartmetallbuchsen 44 mit den konischen Kanälen in die Platte 18 eingesetzt, gleichmäßig ausgerichtet und verklebt. Darauf folgend werden die Mittelpunkte der konischen Kanäle kalibriert bzw. deren Position auf der Platte 18 mittels Normalen bzw. mittels Normalmesseinrichtungen vermessen, wobei die Normale und die Normal- esseinrichtungen auf nationale Normale der physikalischen technischen Bundesanstalt rückführbar sind. Die Positionen der Mittelpunkte auf der Platte 18 bzw. zueinander werden an- schließend in Dateiform abgelegt. Jede Platte 18 erhält somit ihre eigene Messdatei .The measuring points 20, 22, 24 are formed by conical channels which pass through the plate 18 and which are formed in hard tallbuchsen 44 are introduced by means of a reamer or similar tools and taper from a back 50 to a front 52 of the plate 18. In the production of the plate 18, bores for the measuring points 20, 22, 24 are made in the plate 18 in a first step. Then the hard metal bushings 44 with the conical channels are inserted into the plate 18, evenly aligned and glued. The center points of the conical channels are then calibrated or their position on the plate 18 is measured by means of standards or by means of normal measuring devices, the standards and the normal measuring devices being traceable to national standards of the Federal Physical Technical Institute. The positions of the center points on the plate 18 or relative to one another are then stored in file form. Each plate 18 thus receives its own measurement file.
Anschließend wird die Platte 18 an einem ersten Ende im Trägerteil 42 zwischen zwei Halteplatten 46, 48 mit einer Spann- schraube 54 eingespannt, wobei die Lage der Platte 18 zwischen den Halteplatten 46, 48 mittels Distanzmitteln 56, 58, 60 justiert werden kann. An einem zweiten Ende der Platte 18 befinden sich weitere Distanzmittel 56', 58', 60' und eine Montageöffnung 62, um die Platte 18 auch in einer um 180° verdrehten Stellung zwischen den Halteplatten 46, 48 montieren zu können.The plate 18 is then clamped at a first end in the carrier part 42 between two holding plates 46, 48 with a tensioning screw 54, the position of the plate 18 between the holding plates 46, 48 being able to be adjusted by means of distance means 56, 58, 60. At a second end of the plate 18 there are further spacing means 56 ', 58', 60 'and a mounting opening 62 in order to be able to mount the plate 18 in a position rotated by 180 ° between the holding plates 46, 48.
Bei der Justierung des Einstell- und Messgeräts 1 mit der Vorrichtung wird das zweidimensionale, kalibrierte Feld 16 automatisiert vermessen, wobei Korrekturwerte X-Diff für dieWhen adjusting the setting and measuring device 1 with the device, the two-dimensional, calibrated field 16 is measured automatically, with correction values X-Diff for the
X-Achse in Abhängigkeit der Z-Achse und Korrekturwerte Z-Diff für die Z-Achse in Abhängigkeit von der X-Achse ermittelt werde .X axis depending on the Z axis and correction values Z diff for the Z axis as a function of the X axis.
Zum Start des Messvorgangs wird die Platte 18 soweit in der Werkzeugaufnahme 32 geschwenkt, bis die Messstellen 20, 22, 24 in einer Schärfeebene der Kamera 14 liegen. Anschließend wird die Kamera 14 manuell zu der mit eins bezifferten Messstelle 20 verfahren. Durch Klicken auf eine Menütaste F3 wird die mit der Kamera 14 angefahrene Messstelle 20 mit der Zif- fer eins, und zwar der Mittelpunkt der Messstelle 20 alsAt the start of the measuring process, the plate 18 is pivoted in the tool holder 32 until the measuring points 20, 22, 24 lie in a plane of focus of the camera 14. The camera 14 is then moved manually to the measuring point 20 numbered one. By clicking on a menu key F3, the measuring point 20 approached by the camera 14 becomes the number one, namely the center of the measuring point 20 as
Startpunkt übernommen. Durch Klicken auf eine Menütaste F5 wird der automatisierte Messvorgang gestartet. Die Positionen der Messstellen 20 entlang den Rändern der Platte 18 werden gemäß einem im Einstell- und Messgerät 1 abgelegten Programm nacheinander vermessen, und zwar indem die Öffnungen der konischen Kanäle auf der Vorderseite 52 vermessen und die Lage deren Mittelpunkte im Werkzeugkoordinatensystem anschließend berechnet werden (Fig. 3). Zur Ermittlung der Korrekturwerte X-Diff, Z-Diff werden die Messergebnisse mit den zuvor in das Einstell- und Messgerät 1 eingespielten Messdaten der Messdatei der verwendeten Platte 18 verglichen (Fig. 4) . Sollten bei einer Messstelle 20 ungewöhnlich große Korrekturwerte X- Diff , Z-Diff ermittelt worden sein, kann diese Messstelle 20 einfach durch Klicken auf die Menütaste F6 und auf die in ei- ner Tabelle aufgelisteten Werte für die Messstelle 20 erneut vermessen werden. Die Messstelle 20 wird anschließend vom Optikträger 28 automatisch angefahren. Möglich ist auch, dass ein Messergebnis eliminiert und bei der weiteren Berechnung des Kennfelds unberücksichtigt bleibt. Mit Menütasten F9 und Fll können sowohl alle wie auch einzelne Koordinaten der Messstellen 20, 22, 24 überprüft werden, wobei hier bereits bei den Messergebnissen die Korrekturwerte X-Diff, Z-Diff addiert sind.Starting point accepted. The automated measuring process is started by clicking on a menu key F5. The positions of the measuring points 20 along the edges of the plate 18 are measured in succession in accordance with a program stored in the presetting and measuring device 1, namely by measuring the openings of the conical channels on the front 52 and then calculating the position of their centers in the tool coordinate system (FIG 3). To determine the correction values X-Diff, Z-Diff, the measurement results are compared with the measurement data of the measurement file of the plate 18 used previously imported into the setting and measuring device 1 (FIG. 4). If unusually large correction values X-Diff, Z-Diff have been determined for a measuring point 20, this measuring point 20 can be measured again simply by clicking on the menu key F6 and on the values for the measuring point 20 listed in a table. The measuring point 20 is then automatically moved to by the optics carrier 28. It is also possible that a measurement result is eliminated and is not taken into account in the further calculation of the map. With menu keys F9 and F1, both all and individual coordinates of the measuring points 20, 22, 24 can be checked, the correction values X-Diff, Z-Diff already being added to the measurement results.
Sind sämtliche Korrekturwerte X-Diff, Z-Diff ermittelt, wird aus den Korrekturwerten X-Diff, Z-Diff durch Interpolation ein Kennfeld errechnet, aus dem flächendeckend über das von den Messstellen 20, 22, 24 aufgespannte zweidimensionale Feld Korrekturwerte X-Diff, Z-Diff ausgelesen werden können. Sich ergebende Graphe können durch Klicken auf eine Menütaste Fl angezeigt werden (Fig. 5) . Durch Klicken auf die Menütaste F8 kann anschließend das ermittelte Kennfeld in der Speichereinheit 12 des Einstell- und Messgeräts 1 abgespeichert werden.If all the correction values X-Diff, Z-Diff have been determined, a map is calculated from the correction values X-Diff, Z-Diff by interpolation, from which the correction values X-Diff, which are spanned by the measuring points 20, 22, 24, cover the entire area. Z-Diff can be read out. Resulting graphs can be displayed by clicking a menu key F1 (Fig. 5). By clicking on the menu key F8, the determined characteristic diagram can then be stored in the memory unit 12 of the setting and measuring device 1.
Durch Klicken auf eine Menütaste F6 können die Positionen einzelner Messstellen 20, 22, 24 vermessen werden, und zwar können insbesondere nach der Ermittlung des Kennfelds die Positionen der Messstellen 22 vermessen werden, um festzustel- len, ob durch die Berücksichtigung der aus dem Kennfeld aus- gelesenen Korrekturwerte X-Diff, Z-Diff Messergebnisse mit gewünscht kleinen Toleranzen erreicht werden können.The positions of individual measuring points 20, 22, 24 can be measured by clicking on a menu key F6, specifically the positions of the measuring points 22 can be measured, in particular after the characteristic diagram has been determined, in order to determine whether by taking into account the characteristics from the characteristic diagram - Read correction values X-Diff, Z-Diff measurement results with desired small tolerances can be achieved.
Mit einer Menütaste F7 kann eine Menüebene zurückgegangen werden und mit einer Menütaste F12 kann ein Hilfeprogramm aufgerufen werden.You can go back one menu level with a menu key F7 and a help program can be called up with a menu key F12.
Durch die erfindungsgemäße Lösung kann ein Kennfeld in beliebigen Messteilbereichen und besonders vorteilhaft im gesamten Messbereich des Einstell- und Messgeräts 1 erreicht werden.By means of the solution according to the invention, a characteristic map can be achieved in any partial measuring range and particularly advantageously in the entire measuring range of the setting and measuring device 1.
Es können unterschiedlich große Platten mit unterschiedlichen Formen vermessen werden, es können nur Teilbereiche der Platte 18 vermessen werden, beispielsweise können anstatt der Messstellen 20 entlang des linken oder des rechten Rands der Platte 18 die Messstellen 22 vermessen werden, oder die Plat- te 18 kann mit ihrem Trägerteil 42 in der Schwalbenschwanz- führung 40 verschoben werden, um das Einstell- und Messgerät 1 in unterschiedlichen Messteilbereichen zu justieren.It can be different sized plates with different Forms are measured, only partial areas of the plate 18 can be measured, for example instead of the measuring points 20 along the left or right edge of the plate 18 the measuring points 22 can be measured, or the plate 18 can be in the dovetail with its carrier part 42 - Guide 40 are moved to adjust the presetting and measuring device 1 in different measuring sections.
Anstatt einer automatisierten Vermessung der Platte 18 ist auch denkbar, dass die Platte 18 zur Justierung des Einstell - und Messgeräts 1 manuell vermessen wird, d.h. dass sämtliche oder einzelne Messstellen 20 manuell angefahren werden.Instead of an automated measurement of the plate 18, it is also conceivable for the plate 18 to be measured manually in order to adjust the setting and measuring device 1, i.e. that all or individual measuring points 20 are approached manually.
Ist das Einstell- und Messgerät 1 justiert, werden bei zu- künftigen Messungen stets aus dem in der Speichereinheit 12 abgespeicherten Kennfeld Korrekturwerte ausgelesen und bei den aktuellen Messergebnissen hinzuaddiert, um anschließend korrigierte Messergebnisse ausgeben zu können. If the setting and measuring device 1 is adjusted, correction measurements are always read out from the map stored in the memory unit 12 for future measurements and added to the current measurement results in order to be able to subsequently output corrected measurement results.
Bezugszeichenreference numeral
1 Einstell- und Mess56 Distanzmittel gerät 58 Distanzmittel 10 Recheneinheit 60 Distanzmittel 12 Speichereinheit 62 Montageöffnung 14 Kamera X Achse 16 Feld Z Achse 18 Platte X-Diff Korrekturwert 20 Messstelle Z-Diff Korrekturwert 22 Messstelle α Ausdehnungskoeffi 24 Messstelle zient 26 Bildschirm 28 Optikträger 30 Bedienelement 32 Werkzeugaufnahme 34 Haltevorrichtung 36 Einsteckmittel1 setting and measuring device 56 distance device 58 distance device 10 computing unit 60 distance device 12 storage unit 62 mounting opening 14 camera X axis 16 field Z axis 18 plate X-diff correction value 20 measuring point Z-diff correction value 22 measuring point α expansion coefficient 24 measuring point 26 screen 28 optics carrier 30 control element 32 Tool holder 34 Holding device 36 Insert means
38 Aufnahmemittel38 receiving means
40 Schwalbenschwanz- führung 42 Trägerteil 44 Hartmetallbuchsen 46 Halteplatte 48 Halteplatte40 dovetail guide 42 carrier part 44 hard metal bushings 46 holding plate 48 holding plate
50 Rückseite 52 Vorderseite 54 Spannschraube 50 Rear 52 Front 54 Tension screw

Claims

Ansprüche Expectations
1. Verfahren zur Justierung eines Einstell- und Messgeräts (1) mit einer Recheneinheit (10) und einer Speichereinheit (12) sowie mit einer Kamera (14) , wobei zur Justierung ein zumindest zweidimensionales, kalibriertes Feld (16) vermessen wird.1. Method for adjusting a setting and measuring device (1) with a computing unit (10) and a storage unit (12) and with a camera (14), an at least two-dimensional, calibrated field (16) being measured for the adjustment.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass für wenigstens eine Achse (X, Z) in Abhängigkeit zumindest einer zweiten Achse (X, Z) Korrekturwerte (X-Diff, Z- Diff) ermittelt werden.2. The method as claimed in claim 1, which also means that correction values (X-Diff, Z-Diff) are determined for at least one axis (X, Z) as a function of at least one second axis (X, Z).
3. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Korrekturwerte (X-Diff, Z-Diff) als Kennfeld gespeichert werden .3. The method as claimed in claim 2, so that the correction values (X-Diff, Z-Diff) are stored as a characteristic map.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass das kalibrierte Feld (16) zumindest teilweise automatisiert vermessen wird. 4. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the calibrated field (16) is measured at least partially automatically.
5. Vorrichtung mit einem zumindest zweidimensionalen, kalibrierten Feld (16) zur Durchführung eines Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche .5. Device with an at least two-dimensional, calibrated field (16) for performing a method according to one of the preceding claims.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h eine Platte (18) mit mehreren, kalibrierten Messstellen (20, 22, 24) .6. The device according to claim 5, a plate (18) with a plurality of calibrated measuring points (20, 22, 24).
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Platte (18) entlang zumindest zwei Achsen (Z, X) jeweils zumindest zwei Messstellen (20, 22, 24) aufweist.7. The device as claimed in claim 6, so that the plate (18) has at least two measuring points (20, 22, 24) along at least two axes (Z, X).
8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Platte (18) aus Faserkeramik hergestellt ist.8. The device according to claim 6 or 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the plate (18) is made of fiber ceramic.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Platte (18) einen negativen Ausdehnungskoeffizienten (α) aufweist.9. Device according to one of claims 6 to 8, so that the plate (18) has a negative coefficient of expansion (α).
10. Vorrichtung nach einem der Patentansprüche 6 bis 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Messstellen (20, 22, 24) von durch die Platte (18) hindurchtretenden Kanälen gebildet sind.10. Device according to one of the claims 6 to 9, so that the measuring points (20, 22, 24) are formed by channels passing through the plate (18).
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Kanäle konisch ausgeführt sind. 11. The device according to claim 10, characterized in that the channels are designed conically.
12. Vorrichtung, insbesondere Einstell- und Messgerät (1), zur Erfassung von Informationen eines Werkzeugs mit einer Recheneinheit (10) und einer Speichereinheit (12) sowie mit wenigstens einer Kamera (14) zur Erfassung von Werkzeuginformationen, wobei mit der Recheneinheit (10) zur Justierung bei der Vermessung eines zumindest zweidimensionalen, kalibrierten Felds (16) Korrekturwerte (X-Diff, Z-Diff) für wenigstens eine Achse (X, Z) in Abhängigkeit zumindest einer zweiten Achse (X, Z) bestimmbar sind.12. Device, in particular setting and measuring device (1), for acquiring information of a tool with a computing unit (10) and a storage unit (12) and with at least one camera (14) for acquiring tool information, with the computing unit (10 ) for adjustment when measuring an at least two-dimensional, calibrated field (16), correction values (X-Diff, Z-Diff) for at least one axis (X, Z) depending on at least one second axis (X, Z) can be determined.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Korrekturwerte (X-Diff, Z-Diff) als Kennfeld in der Speichereinheit (12) speicherbar sind.13. The apparatus of claim 12, so that the correction values (X-Diff, Z-Diff) can be stored as a map in the memory unit (12).
14. Vorrichtung nach Anspruch 12 oder 13, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass das kalibrierte Feld (16) zumindest teilweise automatisiert vermessbar ist .14. The apparatus of claim 12 or 13, so that the calibrated field (16) can be measured at least partially in an automated manner.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass nach einem Messvorgang wenigstens eine Messstelle (20, 22, 24) des kalibrierten Felds (16) zur Korrektur eines Korrekturwerts (X-Diff, Z-Diff) erneut gezielt ansteuerbar ist. 15. The apparatus according to claim 14, characterized in that after a measuring process at least one measuring point (20, 22, 24) of the calibrated field (16) for correcting a correction value (X-Diff, Z-Diff) can be controlled again in a targeted manner.
16. Vorrichtung, insbesondere Einstell- und Messgerät (1), zur Erfassung von Informationen eines Werkzeugs mit einer Recheneinheit (10) und einer Speichereinheit (12) sowie mit wenigstens einer Kamera (14) zur Erfassung von Werkzeuginformationen, wobei Korrekturwerte (X-Diff, Z-Diff) als Kennfeld in der Speichereinheit (12) gespeichert sind. 16. Device, in particular setting and measuring device (1), for recording information of a tool with a computing unit (10) and a storage unit (12) and with at least one camera (14) for recording tool information, correction values (X-Diff , Z-Diff) are stored as a map in the memory unit (12).
EP02776961A 2001-09-08 2002-09-03 Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same Ceased EP1423658A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE20221533U DE20221533U1 (en) 2001-09-08 2002-09-03 Calibration of an adjustment and measuring device using a calibration device with a base plate and a number of calibration points that are measured using the device being calibrated in a quick, precise and convenient method

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2001144203 DE10144203A1 (en) 2001-09-08 2001-09-08 Calibration of an adjustment and measuring device using a calibration device with a base plate and a number of calibration points that are measured using the device being calibrated in a quick, precise and convenient method
DE10144203 2001-09-08
PCT/EP2002/009809 WO2003023321A1 (en) 2001-09-08 2002-09-03 Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP1423658A1 true EP1423658A1 (en) 2004-06-02

Family

ID=7698270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP02776961A Ceased EP1423658A1 (en) 2001-09-08 2002-09-03 Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1423658A1 (en)
DE (1) DE10144203A1 (en)
WO (1) WO2003023321A1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202017107883U1 (en) 2017-12-22 2018-01-12 Carl Mahr Holding Gmbh Calibration template and holding device for a calibration template
DE202017107915U1 (en) 2017-12-27 2018-01-15 Carl Mahr Holding Gmbh Calibration template and holding device for a calibration template

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5313410A (en) * 1991-03-28 1994-05-17 Alpha Q, Inc. Artifact and method for verifying accuracy of a positioning apparatus
DE4326275C2 (en) * 1993-08-05 1997-10-09 Erowa Ag Method for positioning a workpiece carrier in a processing machine and workpiece carrier for performing the method
DE19507806A1 (en) * 1995-03-06 1996-09-12 Eugen Dr Ing Trapet Test body for testing co-ordinate measuring units and machine tools
DE19545802C2 (en) * 1995-12-08 2000-02-17 Zoller Gmbh & Co Kg E Measuring device
JP3511450B2 (en) * 1997-09-12 2004-03-29 株式会社ミツトヨ Position calibration method for optical measuring device
DE19914862B4 (en) * 1999-04-01 2006-11-23 E. Zoller Gmbh & Co. Kg Method and device for measuring a contour profile of a workpiece

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO03023321A1 *

Also Published As

Publication number Publication date
DE10144203A1 (en) 2003-03-27
WO2003023321A1 (en) 2003-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60126900T2 (en) METHOD FOR EVALUATING AN ERROR POSITION FOR A MOVING OBJECT AND IMPROVING MOTION ACCURACY BASED ON THE RESULTING FOUNDED
EP1407224B1 (en) Method for measuring surface properties and co-ordinate measuring device
EP2603767B1 (en) Method for calibrating a measurement system and device for carrying out the method
DE102007033814B4 (en) Apparatus and method for measuring the position of marks on a mask
EP0881461A2 (en) Method and system for the metrological spatial 3D detection of surface points
DE60018412T2 (en) CONTROL UNIT FOR MEASURING INSTRUMENT
DE2557675A1 (en) METHOD FOR ALIGNMENT OF TWO PLANAR WORKPIECES, E.G. A MASK TO A WAFER OR REVERSE
EP0931241A1 (en) Method for correcting measurement errors in a machine measuring co-ordinates
DE102009003503A1 (en) Method for calibrating a measuring table of a coordinate measuring machine
DE112008002259T5 (en) A calibration method for laser processing by forming a fiducial mark on a workpiece and measuring the offset of that fiducial from a reference point
DE102017112976A1 (en) Method for calibrating an optical arrangement of a coordinate measuring machine
DE4406538A1 (en) Printed circuit board test device with test adapter and method for setting the same
DE202005015438U1 (en) Tool measuring and positioning device, has evaluation unit determining image positions of characteristic of calibration object from two images, and determining aberration of camera by comparing image positions with target positions
WO2021069382A1 (en) Sensor arrangement
DE102007033345A1 (en) Method for correcting an error of the imaging system of a coordinate measuring machine
DE102004001029A1 (en) Camera module with a toothed lens barrel
DE102014107044A1 (en) Improved autofocus method for a coordinate measuring machine
EP1423658A1 (en) Adjustment and measuring device and method and device for aligning the same
DE102004058655A1 (en) Two dimensional coordinate geometry or structure measurement for object, uses image processing, combines partial images to produce results with equidistant pixels
DE602004005388T2 (en) Apparatus and method for measuring and analyzing the shape of an object, and corresponding program
EP1185397A1 (en) Method for measuring a handling device
DE102008042333B4 (en) Three-dimensional measuring apparatus and method for adjusting an image pickup apparatus
DE102005043112A1 (en) Tool measuring and positioning device, has evaluation unit determining image positions of characteristic of calibration object from two images, and determining aberration of camera by comparing image positions with target positions
DE20221533U1 (en) Calibration of an adjustment and measuring device using a calibration device with a base plate and a number of calibration points that are measured using the device being calibrated in a quick, precise and convenient method
DE19642521C1 (en) End-dimension checking method for workpiece dimension checking

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20040110

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR

AX Request for extension of the european patent

Extension state: AL LT LV MK RO SI

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION HAS BEEN REFUSED

18R Application refused

Effective date: 20060227