EP0876627A2 - Optical surveillance device - Google Patents

Optical surveillance device

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Publication number
EP0876627A2
EP0876627A2 EP97948791A EP97948791A EP0876627A2 EP 0876627 A2 EP0876627 A2 EP 0876627A2 EP 97948791 A EP97948791 A EP 97948791A EP 97948791 A EP97948791 A EP 97948791A EP 0876627 A2 EP0876627 A2 EP 0876627A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
image
lens
pattern
partial areas
pattern field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP97948791A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Josef Femböck
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
INES Elektronik-Systementwicklung-Produktions GmbH
Original Assignee
INES Elektronik-Systementwicklung-Produktions GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by INES Elektronik-Systementwicklung-Produktions GmbH filed Critical INES Elektronik-Systementwicklung-Produktions GmbH
Publication of EP0876627A2 publication Critical patent/EP0876627A2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
    • G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
    • G01V8/20—Detecting, e.g. by using light barriers using multiple transmitters or receivers
    • G01V8/22—Detecting, e.g. by using light barriers using multiple transmitters or receivers using reflectors

Definitions

  • the invention relates to an optical monitoring device.
  • DE 38 42 142 Cl discloses a method for optically recognizing objects, the device having a sensor device onto which a lens images the image of a pattern field and an evaluation device to determine whether the image received by the sensor device is the same has optical characteristics like the pattern field.
  • a passive element namely the pattern field, is thus located at one end of the monitoring area, while the sensor device with the associated objective is located at the other end of the monitoring area, so that supply and control lines no longer have to be routed from one end of the monitoring area to the other end .
  • the number of active elements is also reduced.
  • the invention has for its object to provide an optical monitoring device that can be constructed inexpensively can, the number of active elements is reduced and a compact
  • the optical monitoring device is characterized by a plurality of pattern fields, which are arranged at one end of a monitoring area, lenses at the other end of the monitoring area, which are each assigned to the pattern fields, reflectors, which reflect the image beams emitted by the lenses deflect an imaging surface, a sensor device onto which the lenses image the image of the pattern field, which scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device which determines whether the image received by the sensor device has the same optical characteristics as the pattern fields.
  • the monitoring device is composed of optical barriers of the type mentioned above and has several barriers one above the other. This arrangement creates a monitoring device, the function of which is comparable to that of a light grid, with a plurality of optical barriers being used to build up the grid of the monitoring device. Nevertheless, a single sensor device, advantageously a CCD camera, is sufficient to capture the image on the imaging surface and to supply corresponding signals to the evaluation device.
  • the invention relates to a monitoring device made of optical barriers of the type mentioned, which is characterized in that a number of pattern fields are arranged on the opposite sides of a monitoring area, that two units, each having a lens and a reflector diametrically opposite corners of the surveillance area are arranged such that the units are rotatably arranged such that a lens scans the pattern field opposite it, and that a sensor device is arranged opposite each reflector, onto which the lenses image the pattern field, which scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device which determines whether this is from the sensor device received image has the same optical characteristics as the pattern fields.
  • two sensor devices are required, a number of optical components are saved.
  • the sensor device is a CCD camera as it is inexpensively commercially available today.
  • Such a camera can also be controlled in a simple manner so that it supplies the necessary signals for the evaluation device.
  • a further advantageous embodiment of the invention consists in the fact that the optical characteristics of the pattern field consist in that the pattern field is subdivided in a defined manner into light and dark partial areas. With such a pattern field, both the brightness or color of the partial areas and the contrast between the light and dark partial areas can be used for the evaluation.
  • the bright partial areas have an orange color (signal color), in particular a fluorescent color, since this improves the visibility of the bright areas.
  • a further advantageous embodiment of the invention consists in the light partial areas and the dark partial areas having complementary colors, for example yellow and green, which creates a particularly simple type of evaluation.
  • the pattern field is constructed in such a way that four partial areas are provided, diametrically opposite partial areas being light and the other two partial areas being dark.
  • the pattern fields are provided in the form of strips which can be easily attached to the required locations.
  • a convex lens and a collimator are advantageously sufficient as the objective in order to generate a sufficiently sharp image of the pattern field on the sensor device.
  • the lens device or at least the convex lens is arranged displaceably along the optical axis, so that precise focusing can be achieved.
  • the barrier is characterized in that a diaphragm is provided in the objective which fades out the image depicted by the objective on the sensor device except for the image of the partial areas.
  • Each reflector is advantageously at 45 ° to the optical axis of the associated lens, so that an image of the pattern surfaces and only such an image is generated on the imaging surface.
  • the reflectors are preferably offset from top to bottom in the direction of the objective by a step corresponding to the pattern field from a barrier.
  • the images of the individual sample fields in the image area fit together seamlessly.
  • the device is characterized in that the reflector is a half mirror and that a reference image to the image on the image surface is provided on a base surface which is opposite the image mirror surface with respect to the half mirror arrangement in order to ensure the proper function of the arrangement check.
  • the sensor device CCD camera which scans the image on the imaging surface "sees" the reference surface through the half mirror, so that when the sensor device detects a change in the optical characteristics of the image without the beam path of a barrier being interrupted, it points to one Malfunction of the arrangement can be closed.
  • the reflectors can be realized in a particularly simple manner by working them out of a side surface of a plexiglass body, the upper end surface of which is perpendicular to the side surface and forms the imaging surface.
  • the units can be rotated through complete revolutions, a reference image for checking the correct functioning of the arrangement being acquired when the lens is turned away from the pattern field. Although this creates a small gap between one monitoring barrier and the next, the function of the arrangement is constantly monitored.
  • Figure 1 is a schematic representation of an optical barrier.
  • Fig. 2 is a schematic representation of a monitoring device which in
  • FIG. 1 Fig. 3 is a detailed view of Fig. 2; Fig. 4 is a monitoring device according to a modified
  • FIG. 5 shows a schematic illustration of the optical device
  • the optical barrier 2 which has a pattern field 4 at one end of a monitoring area B.
  • a lens 6 at the other end of the monitoring area images the image of the sample image 4 on a sensor device 8, in particular a CCD camera.
  • An evaluation device 10 is connected to the CCD camera 8 to determine whether the image received by the CCD camera 8 has the same optical characteristics as the pattern field 4.
  • a reference pattern field with the characteristics of the actual pattern field can be stored in the monitoring device 10.
  • the optical characteristics of the pattern field 4 consist in that the pattern field 4 is subdivided in a defined manner into light and dark sub-areas 12, 14, four sub-areas being provided, two of which are diametrically opposed sub-areas light and the other two sub-areas are dark.
  • the light sections can have an orange color or a fluorescent color, while the dark sections can be black.
  • the light partial areas 12 and the dark partial areas 14 can also have complementary colors, for example yellow and green.
  • the objective 6 can comprise a convex lens and a collimator in order to ensure an exact imaging of the pattern field 4 on the sensor device 8. Furthermore, the objective 6 or at least the convex lens can be arranged displaceably along the optical axis. A lens (not shown) can be provided in the lens 6, which fades out the image imaged by the lens 6 onto the sensor device 8 except for the image of the partial areas in order to eliminate interference.
  • the barrier works as follows.
  • the object When an object is introduced into the monitoring area, the object generally has a different brightness or color than the light partial area and / or the dark partial area of the pattern field.
  • the camera detects the difference in brightness or color and the evaluation device switches off the monitored machine, for example.
  • a pattern field with light and dark partial areas ensures that even if the object introduced into the monitoring area has the same color or brightness as, for example, the light partial area, the penetration of this object is nevertheless determined because the object then also covers the dark partial area , so that the detected optical characteristics differ from those of the pattern field. This ensures that the barrier reacts every time an object penetrates.
  • Monitoring devices are constructed from such a barrier, with which larger monitoring areas are to be monitored, two or more of the optical barriers being used and the Evaluation of several barriers can be combined in one or two evaluation devices.
  • FIG. 2 schematically shows a monitoring device 20 which is constructed in principle from optical barriers of the type described above, the barriers being arranged one above the other. From the top barrier, for example, the pattern field 4-, and the lens 6 consisting of the lens 22 and the collimator 24 are shown. The lens can be moved along the optical axis in relation to the collimator in order to obtain a sharp image of the pattern field.
  • reflectors 26 to 26 which deflect the image beams emitted by the objectives on an imaging surface 28, where they are scanned by the sensor device, which emits the corresponding signals to the evaluation device (not shown).
  • Each of the reflectors 26 ⁇ to 26 is at 45 ° to the optical axis of the associated lens, and the reflectors are each offset from top to bottom in the direction of the lens by a step corresponding to a pattern field from a barrier, as in FIG. 2 you can see. This results in a seamless mapping of the pattern fields 4 to 4 on the imaging surface 28.
  • the reflectors are worked out on a side surface 30 of a plexiglass body 32, the end surface of which forms the imaging surface 28.
  • the reflectors can be produced by coating or vapor deposition on the corresponding surfaces of the plexiglass body 32.
  • the plexiglass body 32 is supplemented by a second plexiglass body 34, on the underside of which a reference image 36 is provided for the image on the imaging surface 28.
  • the reference image 36 is shown separately from the underside of the plexiglass body 34 for simplification, but in practice the reference image 36 is attached to the underside of the plexiglass body 34.
  • the reflectors 26 are half mirrors, so that the sensor device, which is arranged opposite the imaging surface 28, “sees” both the image of the pattern surfaces and the reference surface 36, so that the reference surface 36 can be included in the evaluation, and can be used in particular to check the proper functioning of the arrangement.
  • FIG. 4 schematically shows another embodiment of a monitoring device 40 made of optical barriers of the type described above.
  • a number of pattern fields 42, 44 are arranged on the sides of a monitoring area C.
  • Two units 46, 48, each having a lens 50 and a reflector 52 (FIG. 5), are arranged at diametrically opposite corners of the monitoring area C.
  • the units 46, 48 are rotatably arranged so that the opposite pattern fields 42 and 48 can be scanned.
  • the axis of rotation is perpendicular to the plane of the drawing in FIG. 5.
  • the beam path leads from the objective 50 via the reflector 52 to a filter 54, which is intended for example for an orange color, to a receiver 56, which thus responds to the fields of corresponding color.
  • a receiver 56 detects the other side of the pattern field 4 (FIG. 1), so that the two receivers emit signals which are phase-shifted by 90 ° when a pattern field according to FIG. 1 is used. If a number of pattern fields according to FIG. 1 are strung together, a strip-shaped pattern field results, consisting of individual pattern fields.
  • the units 46, 48 can only be rotated back and forth so far that the pattern fields are successively scanned in one direction and then in the other direction, which are opposite to that unit. Alternatively, the units 46, 48 can be rotated through full revolutions. If the lens 50 faces away from the pattern field during such a revolution, it acquires a reference image which is provided at a suitable location on the rear of the unit 46 or 48 in order to check the correct functioning of the arrangement. It can be seen that with this arrangement the Unit 46 monitors area C- and unit 48 monitors area Co, and at the same time the functionality of both units is monitored.

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Abstract

A surveillance device is composed of several optical barriers (2) and has several patterned fields (4) arranged at one end of a surveillance zone (B), objectives (6) at the other end of the surveillance zone (B) and associated to the patterned fields (4), and reflectors which deflect image beams supplied by the objectives onto a reproduction surface. A sensor (8) upon which the objectives (6) reproduce the image of the patterned field (4) scans the image and transmits corresponding signals to an evaluation device (10) which determines if the image received by the sensor (8) has the same optical characteristics as the patterned fields (4).

Description

Optische Überwachungseinrichtung Optical monitoring device
Die Erfindung betrifft eine optische Überwachungseinrichtung.The invention relates to an optical monitoring device.
Zur Überwachung von Gefahrenbereichen an Maschinen, von Sicherheitsbereichen, von Fahrstuhleingängen oder zur Sicherheitsüberwachung von Wohnungen werden Lichtschranken und daraus aufgebaute Lichtgitter bisher eingesetzt. Derartige Lichtgitter haben den Nachteil, daß eine Vielzahl aktiver Elemente, d.h. Lichtquellen und Sensoren, auf den beiden Seiten des Überwachungsbereiches angeordnet werden müssen, was die Kosten für solch ein Lichtgitter erhöht. Außerdem müssen alle aktiven Elemente untereinander verdrahtet sein, um eine Synchronisation und Auswertung zu ermöglichen. Auch die hierfür erforderliche Elektronik trägt erheblich zu den Kosten bei.To date, light barriers and light grids constructed from them have been used to monitor danger areas on machines, safety areas, elevator entrances or to monitor the safety of apartments. Such light grids have the disadvantage that a large number of active elements, i.e. Light sources and sensors must be arranged on both sides of the monitoring area, which increases the costs for such a light grid. In addition, all active elements must be wired to each other to enable synchronization and evaluation. The electronics required for this also contribute significantly to the costs.
Aus der DE 38 42 142 Cl ist ein Verfahren zum optischen Erkennen von Objekten bekannt, wobei die Einrichtung eine Sensoreinrichtung, auf die ein Objektiv das Bild eines Musterfeldes abbildet, und eine Auswertungseinrichtung aufweist, um festzustellen, ob das von der Sensoreinrichtung empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie das Musterfeld hat. An dem einen Ende des Überwachungsbereiches liegt somit ein passives Element, nämlich das Musterfeld, während die Sensoreinrichtung mit dem zugehörigen Objektiv am anderen Ende des Überwachungsbereichs liegt, so daß keine Versorgungs- und Steuerleitungen mehr von dem einen Ende des Überwachungsbereiches zum anderen Ende geführt werden müssen. Außerdem wird die Zahl der aktiven Elemente verringert.DE 38 42 142 Cl discloses a method for optically recognizing objects, the device having a sensor device onto which a lens images the image of a pattern field and an evaluation device to determine whether the image received by the sensor device is the same has optical characteristics like the pattern field. A passive element, namely the pattern field, is thus located at one end of the monitoring area, while the sensor device with the associated objective is located at the other end of the monitoring area, so that supply and control lines no longer have to be routed from one end of the monitoring area to the other end . The number of active elements is also reduced.
Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine optische Überwachungseinrichtung zu schaffen, die kostengünstig aufgebaut werden kann, wobei die Zahl der aktiven Elemente reduziert wird und ein kompakterIn contrast, the invention has for its object to provide an optical monitoring device that can be constructed inexpensively can, the number of active elements is reduced and a compact
Aufbau gewährleistet werden kann.Construction can be guaranteed.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist die erfmdungsgemäße optische Überwachungseinrichtung gekennzeichnet durch mehrere Musterfelder, die an einem Ende eines Überwachungs-bereiches angeordnet sind, Objektive an dem anderen Ende des Überwachungsbereiches, die jeweils den Musterfeldern zugeordnet sind, Reflektoren, die die von den Objektiven abgegebenen Bildstrahlen auf eine Abbildungsfläche umlenken, eine Sensoreinrichtung, auf die die Objektive das Bild des Musterfeldes abbilden, die das Bild abtastet und entsprechende Signale an eine Auswertungseinrichtung abgibt, die feststellt, ob das von der Sensoreinrichtung empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie die Musterfelder aufweist.To achieve this object, the optical monitoring device according to the invention is characterized by a plurality of pattern fields, which are arranged at one end of a monitoring area, lenses at the other end of the monitoring area, which are each assigned to the pattern fields, reflectors, which reflect the image beams emitted by the lenses deflect an imaging surface, a sensor device onto which the lenses image the image of the pattern field, which scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device which determines whether the image received by the sensor device has the same optical characteristics as the pattern fields.
Die Überwachungseinrichtung ist aus optischen Schranken der oben genannten Art zusammengesetzt und weist mehere Schranken übereinander auf. Durch diese Anordnung wird eine Überwachungseinrichtung geschaffen, deren Funktion der eines Lichtgitters vergleichbar ist, wobei mehrere optische Schranken verwendet werden, um das Gitter der Überwachungseinrichtung aufzubauen. Dennoch genügt eine einzige Sensoreinrichtung, vorteilhafterweise eine CCD Kamera, um das Bild auf der Abbildungsfläche zu erfassen und entsprechende Signale der Auswertungseinrichtung zuzuführen.The monitoring device is composed of optical barriers of the type mentioned above and has several barriers one above the other. This arrangement creates a monitoring device, the function of which is comparable to that of a light grid, with a plurality of optical barriers being used to build up the grid of the monitoring device. Nevertheless, a single sensor device, advantageously a CCD camera, is sufficient to capture the image on the imaging surface and to supply corresponding signals to the evaluation device.
Desweiteren bezieht sich die Erfindung auf eine Überwachungseinrichtung aus optischen Schranken der eingangs genannten Art, die dadurch gekennzeichnet ist, daß eine Reihe von Musterfeldern an den gegenüberliegenden Seiten eines Überwachungsbereiches angeordnet sind, daß zwei Einheiten, die je ein Objektiv und je einen Reflektor aufweisen, an diametral gegenüberliegenden Ecken des Überwachungsbereiches angeordnet sind, daß die Einheiten derart drehbar angeordnet sind, daß ein Objektiv jeweils das ihm gegenüberliegende Musterfeld abtastet, und daß gegenüber jedem Reflektor eine Sensoreinrichtung angeordnet ist, auf die die Objektive das Bild des Musterfeldes abbilden, die das Bild abtastet und entsprechende Signale an eine Auswertungseinrichtung abgibt, die feststellt, ob das von der Sensoreinrichtung empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie die Musterfelder aufweist. Dabei sind zwar zwei Sensoreinrichtungen erforderlich, es werden jedoch eine Reihe von optischen Komponenten eingespart.Furthermore, the invention relates to a monitoring device made of optical barriers of the type mentioned, which is characterized in that a number of pattern fields are arranged on the opposite sides of a monitoring area, that two units, each having a lens and a reflector diametrically opposite corners of the surveillance area are arranged such that the units are rotatably arranged such that a lens scans the pattern field opposite it, and that a sensor device is arranged opposite each reflector, onto which the lenses image the pattern field, which scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device which determines whether this is from the sensor device received image has the same optical characteristics as the pattern fields. Although two sensor devices are required, a number of optical components are saved.
Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die Sensoreinrichtung eine CCD-Kamera wie sie heute preiswert im Handel erhältlich ist. Eine derartige Kamera kann auch in einfacher Weise so angesteuert werden, daß sie die erforderlichen Signale für die Auswertungseinrichtung liefert.According to an advantageous embodiment of the invention, the sensor device is a CCD camera as it is inexpensively commercially available today. Such a camera can also be controlled in a simple manner so that it supplies the necessary signals for the evaluation device.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung besteht darin, daß die optischen Charakteristika des Musterfeldes darin bestehen, daß das Musterfeld in definierter Weise in helle und dunkle Teilbereiche unterteilt ist. Bei einem derartigen Musterfeld kann man sowohl die Helligkeit beziehungsweise Farbe der Teilbereiche als auch den Kontrast zwischen den hellen und dunklen Teilbereichen zur Auswertung heranziehen.A further advantageous embodiment of the invention consists in the fact that the optical characteristics of the pattern field consist in that the pattern field is subdivided in a defined manner into light and dark partial areas. With such a pattern field, both the brightness or color of the partial areas and the contrast between the light and dark partial areas can be used for the evaluation.
Es ist vorteilhaft, wenn die hellen Teilbereiche eine orange Farbe (Signalfarbe) haben, insbesondere eine Fluoreszenzfarbe aufweisen, da dadurch die Erkennbarkeit der hellen Bereiche verbessert wird.It is advantageous if the bright partial areas have an orange color (signal color), in particular a fluorescent color, since this improves the visibility of the bright areas.
Eine weitere vorteilhaft Ausgestaltung der Erfindung besteht darin, daß die hellen Teibereiche und die dunklen Teilbereiche Komplementärfarben, beispielsweise Gelb und Grün, aufweisen, wodurch eine besonders einfache Art der Auswertung geschaffen wird..A further advantageous embodiment of the invention consists in the light partial areas and the dark partial areas having complementary colors, for example yellow and green, which creates a particularly simple type of evaluation.
Im einfachsten Fall ist das Musterfeld so aufgebaut, daß vier Teilbereiche vorgesehen sind, wobei diametral gegenüberliegende Teilbereiche hell und die beiden anderen Teilbereiche dunkel sind.In the simplest case, the pattern field is constructed in such a way that four partial areas are provided, diametrically opposite partial areas being light and the other two partial areas being dark.
Bei der Überwachungseinrichtung ist es vorteilhaft, wenn die Musterfelder in Form von Streifen vorgesehen sind, die sich einfach an den erforderlichen Stellen anbringen lassen.With the monitoring device, it is advantageous if the pattern fields are provided in the form of strips which can be easily attached to the required locations.
Als Objektiv genügt in vorteilhafter Weise eine Konvexlinse und ein Kollimator, um ein hinreichend scharfes Bild des Musterfeldes auf der Sensoreinrichtung zu erzeugen. Zur Verbesserung der Abbildung des Musterfeldes auf derA convex lens and a collimator are advantageously sufficient as the objective in order to generate a sufficiently sharp image of the pattern field on the sensor device. To improve the image of the pattern field on the
Sensoreinrichtung ist das Objektiv oder wenigstens die Konvexlinse entlang der optischen Achse verschiebbar angeordnet, sodaß eine genaue Fokussierung erreichbar ist.The lens device or at least the convex lens is arranged displaceably along the optical axis, so that precise focusing can be achieved.
Um äußere Einflüsse möglichst auszuschalten, ist die Schranke dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Objektiv eine Blende vorgesehen ist, die das von dem Objektiv auf die Sensoreinrichtung abgebildete Bild bis auf das Bild der Teilbereiche ausblendet.In order to eliminate external influences as much as possible, the barrier is characterized in that a diaphragm is provided in the objective which fades out the image depicted by the objective on the sensor device except for the image of the partial areas.
In vorteilhafter Weise steht jeder Reflektor unter 45 ° zu der optischen Achse des zugeordneten Objektivs, so daß auf der Abbildungsfläche eine Abbildung der Musterflächen und nur eine solche Abbildung erzeugt wird.Each reflector is advantageously at 45 ° to the optical axis of the associated lens, so that an image of the pattern surfaces and only such an image is generated on the imaging surface.
Die Reflektoren sind dabei vorzugsweise von oben nach unten jeweils in Richtung auf das Objektiv um einen, dem Musterfeld von einer Schranke entsprechenden Schritt versetzt angeordnet. Damit fügen sich die Abbildungen der einzelnen Musterfelder in der Abbildungsfläche nahtlos aneinander.The reflectors are preferably offset from top to bottom in the direction of the objective by a step corresponding to the pattern field from a barrier. The images of the individual sample fields in the image area fit together seamlessly.
Nach einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die Einrichtung dadurch gekennzeichnet, daß der Reflektor ein Halbspiegel ist und daß auf einer Grundfläche, die bezüglich der Halbspiegelanordnung der Abbildungsfläche gegenüberliegt, ein Referenzbild zu der Abbildung auf der Abbildungsfläche vorgesehen ist, um die ordnungsgemäße Funktion der Anordnung zu überprüfen. Die Sensoreinrichtung (CCD Kamera) die die Abbildung auf der Abbildungsfläche abtastet, „sieht" durch die Halbspiegel hindurch die Referenzfläche, so daß, wenn die Sensoreinrichtung eine Veränderung der optischen Charakteristika der Abbildung feststellt, ohne daß der Strahlengang einer Schranke unterbrochen ist, auf eine Fehlfunktion der Anordnung geschlossen werden kann.According to an advantageous embodiment of the invention, the device is characterized in that the reflector is a half mirror and that a reference image to the image on the image surface is provided on a base surface which is opposite the image mirror surface with respect to the half mirror arrangement in order to ensure the proper function of the arrangement check. The sensor device (CCD camera) which scans the image on the imaging surface "sees" the reference surface through the half mirror, so that when the sensor device detects a change in the optical characteristics of the image without the beam path of a barrier being interrupted, it points to one Malfunction of the arrangement can be closed.
Die Reflektoren können in besonders einfacher Weise dadurch verwirklicht werden, daß sie aus einer Seitenfläche eines Plexiglaskörpers herausgearbeitet sind, dessen obere Stirnfläche, die senkrecht zu der Seitenfläche steht, die Abbildungsfläche bildet. Bei dem zuletzt genannten Ausführungsbeispiel ist es vorteilhaft, wenn die Einheiten nur soweit hin und her drehbar sind, daß die Musterfelder abgetastet werden. Damit gibt es zwischen einer Überwachungsschranke und der nächsten keine zeitliche Lücke.The reflectors can be realized in a particularly simple manner by working them out of a side surface of a plexiglass body, the upper end surface of which is perpendicular to the side surface and forms the imaging surface. In the last-mentioned exemplary embodiment, it is advantageous if the units can only be rotated back and forth to such an extent that the pattern fields are scanned. There is therefore no time gap between one surveillance barrier and the next.
Andererseits kann es vorteilhaft sein, daß die Einheiten um ganze Umdrehungen drehbar sind, wobei dann, wenn das Objektiv von dem Musterfeld abgewandt ist, ein Referenzbild zum Überprüfen der ordnungsgemäßen Funktion der Anordnung erfaßt wird. Dadurch entsteht zwar zwischen einer Überwachungsschranke und der nächsten eine kleine Lücke, andererseits wird die Funktion der Anordnung ständig überwacht.On the other hand, it can be advantageous that the units can be rotated through complete revolutions, a reference image for checking the correct functioning of the arrangement being acquired when the lens is turned away from the pattern field. Although this creates a small gap between one monitoring barrier and the next, the function of the arrangement is constantly monitored.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand der beiliegenden Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:Embodiments of the invention will now be described with reference to the accompanying drawings. Show it:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer optischen Schranke;Figure 1 is a schematic representation of an optical barrier.
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer Überwachungseinrichtung, die imFig. 2 is a schematic representation of a monitoring device which in
Prinzip aus optischen Schranken gemäß Fig. 1 aufgebaut ist; Fig. 3 eine Detailansicht von Fig. 2; Fig. 4 eine Überwachungseinrichtung gemäß einer abgewandeltenPrinciple is constructed from optical barriers according to FIG. 1; Fig. 3 is a detailed view of Fig. 2; Fig. 4 is a monitoring device according to a modified
Ausführungsform; und Fig. 5 eine schematische Darstellung der optischen Einrichtung und derEmbodiment; and FIG. 5 shows a schematic illustration of the optical device and the
Sensoreinrichtung bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 4.Sensor device in the exemplary embodiment according to FIG. 4.
Fig. 1 zeigt eine optische Schranke 2, die ein Musterfeld 4 an einem Ende eines Überwachungsbereiches B aufweist. Ein Objektiv 6 an dem anderen Ende des Überwachungsbereiches bildet das Bild des Musterbildes 4 auf einer Sensoreinrichtung 8, insbesondere einer CCD Kamera, ab. Eine Auswertungseinrichtung 10 ist mit der CCD Kamera 8 verbunden, um festzustellen, ob das von der CCD Kamera 8 empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie das Musterfeld 4 aufweist. Hierzu kann ein Referenz-Musterfeld mit den Charakteristika des tatsächlichen Musterfeldes in der Überwachungseinrichtung 10 gespeichert sein. Die optischen Charakteristika des Musterfeldes 4 bestehen darin, daß das Musterfeld 4 in definierter Weise in helle und dunkle Teilbereiche 12, 14 unterteilt ist, wobei vier Teilbereiche vorgesehen sind, von denen zwei diametral gegenüberliegende Teilbereiche hell und die beiden anderen Teilbereiche dunkel sind. Die hellen Teilbereiche können eine orange Farbe haben oder eine Fluoreszenzfarbe aufweisen, während die dunklen Teilbereiche schwarz sein können. Die hellen Teibereiche 12 und die dunklen Teilbereiche 14 können auch Komplementärfarben, beispielsweise Gelb und Grün, aufweisen.1 shows an optical barrier 2 which has a pattern field 4 at one end of a monitoring area B. A lens 6 at the other end of the monitoring area images the image of the sample image 4 on a sensor device 8, in particular a CCD camera. An evaluation device 10 is connected to the CCD camera 8 to determine whether the image received by the CCD camera 8 has the same optical characteristics as the pattern field 4. For this purpose, a reference pattern field with the characteristics of the actual pattern field can be stored in the monitoring device 10. The optical characteristics of the pattern field 4 consist in that the pattern field 4 is subdivided in a defined manner into light and dark sub-areas 12, 14, four sub-areas being provided, two of which are diametrically opposed sub-areas light and the other two sub-areas are dark. The light sections can have an orange color or a fluorescent color, while the dark sections can be black. The light partial areas 12 and the dark partial areas 14 can also have complementary colors, for example yellow and green.
Das Objektiv 6 kann eine Konvexlinse und einen Kollimator umfassen, um eine genaue Abbildung des Musterfeldes 4 auf der Sensoreinrichtung 8 zu gewährleisten. Ferner kann das Objektiv 6 oder wenigstens die Konvexlinse entlang der optischen Achse verschiebbar angeordnet sein. Bei dem Objektiv 6 kann eine Blende (nicht gezeigt) vorgesehen sein, die das von dem Objektiv 6 auf die Sensoreinrichtung 8 abgebildete Bild bis auf das Bild der Teilbereiche ausblendet, um Störeinflüsse auszuschalten.The objective 6 can comprise a convex lens and a collimator in order to ensure an exact imaging of the pattern field 4 on the sensor device 8. Furthermore, the objective 6 or at least the convex lens can be arranged displaceably along the optical axis. A lens (not shown) can be provided in the lens 6, which fades out the image imaged by the lens 6 onto the sensor device 8 except for the image of the partial areas in order to eliminate interference.
Die Schranke funktioniert wie folgt. Wenn ein Gegenstand in den Überwachungsbereich eingeführt wird, hat der Gegenstand in der Regel eine andere Helligkeit beziehungsweise Farbe als der helle Teilbereich und/oder der dunkle Teilbereich des Musterfeldes. Die Kamera stellt den Helligkeits- oder Farbunterschied fest und die Auswertungseinrichtung schaltet beispielsweise die überwachte Maschine ab. Ein Musterfeld mit hellen und dunklen Teilbereichen sorgt dafür, daß auch dann, wenn der in den Überwachungsbereich eingeführte Gegenstand die gleiche Farbe oder Helligkeit wie beispielsweise der helle Teilbereich hat, trotzdem das Eindringen dieses Gegenstandes festgestellt wird, weil der Gegenstand dann auch den dunklen Teilbereich überdeckt, so daß die erfaßten optischen Charakteristika sich von denen des Musterfeldes unterscheiden. Auf diese Weise ist sichergestellt, daß die Schranke bei jedem Eindringen eines Gegenstandes reagiert.The barrier works as follows. When an object is introduced into the monitoring area, the object generally has a different brightness or color than the light partial area and / or the dark partial area of the pattern field. The camera detects the difference in brightness or color and the evaluation device switches off the monitored machine, for example. A pattern field with light and dark partial areas ensures that even if the object introduced into the monitoring area has the same color or brightness as, for example, the light partial area, the penetration of this object is nevertheless determined because the object then also covers the dark partial area , so that the detected optical characteristics differ from those of the pattern field. This ensures that the barrier reacts every time an object penetrates.
Aus einer derartigen Schranke werden Überwachungseinrichtungen aufgebaut, mit denen größere Überwachungsbereiche zu überwachen sind, wobei zwei oder mehrere der optischen Schranken eingesetzt werden und die Auswertung mehrerer Schranken in einer oder in zwei Auswertungseinrichtungen zusammengefaßt werden.Monitoring devices are constructed from such a barrier, with which larger monitoring areas are to be monitored, two or more of the optical barriers being used and the Evaluation of several barriers can be combined in one or two evaluation devices.
Fig. 2 zeigt schematisch eine Überwachungseinrichtung 20, die im Prinzip aus optischen Schranken der vorgehend beschriebenen Art aufgebaut ist, wobei die Schranken übereinander angeordnet sind. Von der obersten Schranke ist beispielsweise das Musterfeld 4-, , sowie das aus der Linse 22 und dem Kollimator 24 bestehende Objektiv 6 dargestellt. Die linse ist gegenüber dem Kollimator entlang der optischen Achse verschiebbar, um eine schrfe Abbildung des Musterfeldes zu erhalten. Hinter dem Objektiv 6 sind Reflektoren 26-, bis 26 vorgesehen, die die von den Objektiven abgegebenen Bildstrahlen auf einer Abbildungsfläche 28 ablenken, wo sie von der Sensoreinrichtung abgetastet werden, die die entsprechenden Signale an die Auswertungseinrichtung (nicht gezeigt) abgibt.FIG. 2 schematically shows a monitoring device 20 which is constructed in principle from optical barriers of the type described above, the barriers being arranged one above the other. From the top barrier, for example, the pattern field 4-, and the lens 6 consisting of the lens 22 and the collimator 24 are shown. The lens can be moved along the optical axis in relation to the collimator in order to obtain a sharp image of the pattern field. Provided behind the objective 6 are reflectors 26 to 26, which deflect the image beams emitted by the objectives on an imaging surface 28, where they are scanned by the sensor device, which emits the corresponding signals to the evaluation device (not shown).
Jeder der Reflektoren 26 ^ bis 26 steht unter 45° zu der optischen Achse des zugeordneten Objektivs, und die Reflektoren sind von oben nach unten jeweils in Richtung auf das Objektiv um einen einem Musterfeld von einer Schranke entsprechenden Schritt versetzt angeordnet, wie in Fig. 2 zu sehen ist. Dadurch ergibt sich eine nahtlose Abbildung der Musterfelder 4-, bis 4 auf der Abbildungsfläche 28.Each of the reflectors 26 ^ to 26 is at 45 ° to the optical axis of the associated lens, and the reflectors are each offset from top to bottom in the direction of the lens by a step corresponding to a pattern field from a barrier, as in FIG. 2 you can see. This results in a seamless mapping of the pattern fields 4 to 4 on the imaging surface 28.
Wie aus Fig. 3 zu ersehen ist, sind die Reflektoren an einer Seitenfläche 30 eines Plexiglaskörpers 32 herausgearbeitet, dessen Stirnfläche die Abbildungsfläche 28 bildet. Die Reflektoren können durch Beschichtung oder Bedampfung der entsprechenden Flächen des Plexiglaskörpers 32 hergestellt sein.As can be seen from FIG. 3, the reflectors are worked out on a side surface 30 of a plexiglass body 32, the end surface of which forms the imaging surface 28. The reflectors can be produced by coating or vapor deposition on the corresponding surfaces of the plexiglass body 32.
Wie aus Fig. 2 zu ersehen ist, wird der Plexiglaskörper 32 von einem zweiten Plexiglaskörper 34 ergänzt, an dessen Unterseite ein Referenzbild 36 zu der Abbildung auf der Abbildungsfläche 28 vorgesehen ist. In Fig. 2 ist das Referenzbild 36 getrennt von der Unterseite des Plexiglaskörpers 34 zur Vereinfachung dargestellt, wobei das Referenzbild 36 jedoch in der Praxis an der Unterseite des Plexiglaskörpers 34 angebracht ist. Die Reflektoren 26 sind bei diesem Ausführungsbeispiel Halbspiegel, so daß die Sensoreinrichtung, die gegenüber der Abbildungsfläche 28 angeordnet ist, sowohl die Abbildung der Musterflächen als auch die Referenzfläche 36 „sieht", so daß die Referenzfläche 36 in die Auswertung mit einbezogen werden kann, und insbesondere zur Überprüfung der ordnungsgemäßen Funktion der Anordnung herangezogen werden kann.As can be seen from FIG. 2, the plexiglass body 32 is supplemented by a second plexiglass body 34, on the underside of which a reference image 36 is provided for the image on the imaging surface 28. 2, the reference image 36 is shown separately from the underside of the plexiglass body 34 for simplification, but in practice the reference image 36 is attached to the underside of the plexiglass body 34. In this exemplary embodiment, the reflectors 26 are half mirrors, so that the sensor device, which is arranged opposite the imaging surface 28, “sees” both the image of the pattern surfaces and the reference surface 36, so that the reference surface 36 can be included in the evaluation, and can be used in particular to check the proper functioning of the arrangement.
Fig. 4 zeigt schematisch eine andere Ausführungsform einer Überwachungseinrichtung 40 aus optischen Schranken der oben beschriebenen Art. Bei der Überwachungseinrichtung 40 sind eine Reihe von Musterfeldern 42, 44 an den Seiten eines Überwachungsbereiches C angeordnet. Zwei Einheiten 46, 48, die jeweils ein Objektiv 50 und einen Reflektor 52 (Fig. 5) aufweisen, sind an diametral gegenüberliegenden Ecken des Überwachungsbereichs C angeordnet. Die Einheiten 46, 48 sind drehbar angeordnet, so daß die gegenüberliegenden Musterfelder 42 beziehungsweise 48 abgetastet werden können. Die Drehachse liegt dabei in der Zeichenebene von Fig. 5 senkrecht.4 schematically shows another embodiment of a monitoring device 40 made of optical barriers of the type described above. In the monitoring device 40, a number of pattern fields 42, 44 are arranged on the sides of a monitoring area C. Two units 46, 48, each having a lens 50 and a reflector 52 (FIG. 5), are arranged at diametrically opposite corners of the monitoring area C. The units 46, 48 are rotatably arranged so that the opposite pattern fields 42 and 48 can be scanned. The axis of rotation is perpendicular to the plane of the drawing in FIG. 5.
Wie in Fig. 5 dargestellt ist, führt der Strahlengang von dem Objektiv 50 über den Reflektor 52 zu einem Filter 54 der beispielsweise für eine orange Farbe vorgesehen ist, zu einem Empfänger 56, der damit auf die Felder entsprechender Farbe anspricht. Ein weiterer Empfänger 58 erfaßt die andere Seite des Musterfeldes 4 (Fig. 1), so daß die beiden Empfänger um 90° phasenverschobene Signale abgeben, wenn ein Musterfeld gemäß Fig. 1 verwendet wird. Wenn mehrere Musterfelder gemäß Fig. 1 aneinander gereiht werden, ergibt sich ein streifenförmiges Musterfeld, bestehend aus einzelnen Musterfeldern.As shown in FIG. 5, the beam path leads from the objective 50 via the reflector 52 to a filter 54, which is intended for example for an orange color, to a receiver 56, which thus responds to the fields of corresponding color. Another receiver 58 detects the other side of the pattern field 4 (FIG. 1), so that the two receivers emit signals which are phase-shifted by 90 ° when a pattern field according to FIG. 1 is used. If a number of pattern fields according to FIG. 1 are strung together, a strip-shaped pattern field results, consisting of individual pattern fields.
Die Einheiten 46, 48 können nur soweit hin und her drehbar sein, daß die Musterfelder nacheinander in einer Richtung und dann in der anderen Richtung abgetastet werden, die derjenigen Einheit gegenüberliegen. Alternativ können die Einheiten 46, 48 um ganze Umdrehungen drehbar sein. Wenn das Objektiv 50 bei einer solchen Umdrehung dem Musterfeld abgewandt ist, erfaßt es ein Referenzbild, welches an einer geeigneten Stelle auf der Rückseite der Einheit 46 beziehungsweise 48 vorgesehen ist, um die ordnungsgemäße Funktion der Anordnung zu überprüfen. Es ist ersichtlich, daß bei dieser Anordnung die Einheit 46 den Bereich C-, und die Einheit 48 den Bereich Co überwacht, und daß gleichzeitig die Funktionsfähigkeit beider Einheiten überwacht wird. The units 46, 48 can only be rotated back and forth so far that the pattern fields are successively scanned in one direction and then in the other direction, which are opposite to that unit. Alternatively, the units 46, 48 can be rotated through full revolutions. If the lens 50 faces away from the pattern field during such a revolution, it acquires a reference image which is provided at a suitable location on the rear of the unit 46 or 48 in order to check the correct functioning of the arrangement. It can be seen that with this arrangement the Unit 46 monitors area C- and unit 48 monitors area Co, and at the same time the functionality of both units is monitored.

Claims

Patentansprüche claims
1. Überwachungseinrichtung aus optischen Schranken, gekennzeichnet, durch mehrere Musterfelder (4), die an einem Ende eines Überwachungsbereiches (B) angeordnet sind, Objektive (6) an dem anderen Ende des Überwachungsbereiches (B), die jeweils den Musterfeldern zugeordnet sind, Reflektoren (26-. bis 26 ), die die von den Objektiven (6) abgegebenen Bildstrahlen auf eine Abbildungsfläche (28) umlenken, eine Sensoreinrichtung (8), auf die die Objektive (6) das Bild des Musterfeldes (4) abbilden, die das Bild abtastet und entsprechende Signale an eine Auswertungseinrichtung (10) abgibt, die feststellt, ob das von der Sensoreinrichtung (6) empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie die Musterfelder (4) aufweist.1. Monitoring device from optical barriers, characterized by a plurality of pattern fields (4) which are arranged at one end of a monitoring area (B), lenses (6) at the other end of the monitoring area (B), each of which is assigned to the pattern fields, reflectors (26-. To 26), which deflect the image beams emitted by the lenses (6) onto an imaging surface (28), a sensor device (8) on which the lenses (6) image the image of the pattern field (4), which the Scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device (10) which determines whether the image received by the sensor device (6) has the same optical characteristics as the pattern fields (4).
2. Überwachungseinrichtung aus optischen Schranken, dadurch gekennzeichnet, daß eine Reihe von Musterfeldern (4) an den gegenüberliegenden Seiten eines Überwachungsbereiches (C) angeordnet sind, daß zwei Einheiten (46, 48), die je ein Objektiv (50) und einen Reflektor (52) aufweisen, an diametral gegenüberliegenden Ecken des Überwachungsbereiches (C) angeordnet sind, daß die Einheiten (46, 48) derart drehbar angeordnet sind, daß ein Objektiv (50) jeweils das ihm gegenüberliegende Musterfeld (42, 44) abtastet, und daß gegenüber jedem Reflektor (54) eine Sensoreinrichtung (56, 58) angeordnet ist, auf die die Objektive (6) das Bild des Musterfeldes (4) abbilden und die das Bild abtastet und entsprechende Signale an eine Auswertungseinrichtung (10) abgibt, die feststellt, ob das von der Sensoreinrichtung (6) empfangene Bild die gleichen optischen Charakteristika wie die Musterfelder (4) aufweist.2. Monitoring device from optical barriers, characterized in that a number of pattern fields (4) are arranged on the opposite sides of a monitoring area (C), that two units (46, 48), each with a lens (50) and a reflector ( 52) are arranged at diametrically opposite corners of the monitoring area (C) in such a way that the units (46, 48) are rotatably arranged in such a way that a lens (50) scans the pattern field (42, 44) opposite it, and that opposite a sensor device (56, 58) is arranged on each reflector (54), onto which the lenses (6) image the image of the pattern field (4) and which scans the image and emits corresponding signals to an evaluation device (10) which determines whether the image received by the sensor device (6) has the same optical characteristics as the pattern fields (4).
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the
Sensoreinrichtung (6) eine CCD Kamera ist. Sensor device (6) is a CCD camera.
4. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die optischen Charakteristika des Musterfeldes (4) darin bestehen, daß das Musterfeld (4) in definierter Weise in helle (12) und dunkle (14) Teilbereiche unterteilt ist.4. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the optical characteristics of the pattern field (4) consist in that the pattern field (4) is subdivided in a defined manner into light (12) and dark (14) sections.
5. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die hellen Teilbereiche (12) eine orange Farbe haben.5. Device according to claim 4, characterized in that the light partial areas (12) have an orange color.
6. Einrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die hellen Teilbereiche (12) eine Fluoreszenzfarbe aufweisen.6. Device according to claim 4 or 5, characterized in that the bright partial areas (12) have a fluorescent color.
7. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die hellen Teibereiche (12) und die dunklen Teilbereiche (14) Komplementärfarben, beispielsweise Gelb und Grün, aufweisen.7. Device according to claim 4, characterized in that the light partial areas (12) and the dark partial areas (14) have complementary colors, for example yellow and green.
8. Einrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß vier Teilbereiche vorgesehen sind, wobei zwei diametral gegenüberliegende Teilbereiche hell (12) und die beiden anderen Teilbereiche dunkel (14) sind.8. Device according to claim 4, characterized in that four partial areas are provided, two diametrically opposite partial areas being light (12) and the other two partial areas being dark (14).
9. Einrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Musterfelder in Form von Streifen vorgesehen sind.9. Device according to one of claims 4 to 8, characterized in that the pattern fields are provided in the form of strips.
10. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein10. Device according to claim 1 or 2, characterized in that a
Objektiv (6) eine Konvexlinse und einen Kollimator umfaßt.Objective (6) comprises a convex lens and a collimator.
11. Einrichtung nach Anspruch 1,2 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß ein Objektiv oder wenigstens die Konvexlinse entlang der optischen Achse verschiebbar angeordnet ist.11. The device according to claim 1, 2 or 10, characterized in that a lens or at least the convex lens is arranged displaceably along the optical axis.
12. Einrichtung nach Anspruch 1,2 oder 10, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Objektiv eine Blende vorgesehen ist, die das von dem Objektiv (6) auf die Sensoreinrichtung (8) abgebildete Bild bis auf das Bild der Teilbereiche (12, 14) ausblendet.12. The device according to claim 1, 2 or 10, characterized in that an aperture is provided in the lens, which from the lens (6) on the Sensor device (8) hides the image shown except for the image of the partial areas (12, 14).
13. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Reflektor unter 45° zu der optischen Achse des zugeordneten Objektivs (6) steht.13. The device according to claim 1 or 2, characterized in that each reflector is at 45 ° to the optical axis of the associated lens (6).
14. Einrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die14. Device according to claim 13, characterized in that the
Reflektoren von oben nach unten jeweils in Richtung auf das Objektiv (6) um einen einem Musterfeld von einer Schranke entsprechenden Schritt versetzt angeordnet sind.Reflectors are arranged from top to bottom in the direction of the lens (6) offset by a step corresponding to a pattern field from a barrier.
15. Einrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Reflektor (26) ein Halbspiegel ist und daß auf einer Grundfläche, die bezüglich der Halb Spiegelanordnung der Abbildungsfläche (28) gegenüberliegt, ein Referenzbild (36) zu der Abbildung auf der Abbildungsfläche (28) vorgesehen ist.15. Device according to one of claims 2 to 14, characterized in that the reflector (26) is a half mirror and that on a base surface, which is opposite the half mirror arrangement of the imaging surface (28), a reference image (36) to the image the imaging surface (28) is provided.
16. Einrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Reflektoren (26) an einer Seitenfläche eines Plexiglaskörpers (32) herausgearbeitet sind, dessen obere Stirnfläche, die senkrecht zu der Seitenfläche (30) steht, die Abbildungsfläche (28) bildet.16. Device according to one of claims 2 to 15, characterized in that the reflectors (26) on a side surface of a plexiglass body (32) are worked out, the upper end surface, which is perpendicular to the side surface (30), the imaging surface (28) forms.
17. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die17. The device according to claim 2, characterized in that the
Einheiten (46, 48) nur so weit hin und her drehbar sind, daß nur die Musterfelder (42, 44) abgetastet werden.Units (46, 48) can only be rotated back and forth so far that only the pattern fields (42, 44) are scanned.
18. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die18. Device according to claim 2, characterized in that the
Einheiten (46, 48) um ganze Umdrehungen drehbar sind, wobei dann, wenn das Objektiv (50) von dem Musterfeld (42 oder 44) abgewandt ist, ein Referenzbild zur Überprüfung der ordnungsgemäßen Funktionen der Anordnung erfaßt wird. Units (46, 48) can be rotated through complete revolutions, a reference image for checking the correct functions of the arrangement being acquired when the lens (50) faces away from the pattern field (42 or 44).
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