EA001536B1 - Способ определения действительной температуры реального тела - Google Patents

Способ определения действительной температуры реального тела Download PDF

Info

Publication number
EA001536B1
EA001536B1 EA199800981A EA199800981A EA001536B1 EA 001536 B1 EA001536 B1 EA 001536B1 EA 199800981 A EA199800981 A EA 199800981A EA 199800981 A EA199800981 A EA 199800981A EA 001536 B1 EA001536 B1 EA 001536B1
Authority
EA
Eurasian Patent Office
Prior art keywords
radiation
temperature
actual temperature
wavelength
formula
Prior art date
Application number
EA199800981A
Other languages
English (en)
Other versions
EA199800981A1 (ru
Inventor
Юрий Карлович Лингарт
Original Assignee
Юрий Карлович Лингарт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Юрий Карлович Лингарт filed Critical Юрий Карлович Лингарт
Priority to EA199800981A priority Critical patent/EA001536B1/ru
Priority to CZ19994336A priority patent/CZ295910B6/cs
Publication of EA199800981A1 publication Critical patent/EA199800981A1/ru
Publication of EA001536B1 publication Critical patent/EA001536B1/ru

Links

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

Способ определения действительной температуры реального тела путем измерения неселективным приемником спектральной интенсивности и длин волн теплового излучения, причем в процессе измерения регистрируют величины длины волны излучения λ, λ, соответствующие точкам перегиба зависимости спектральной интенсивности излучения от длины волны излученияIλT = f(λ, T),или величины длины волны, соответствующие одной из точек перегиба (λ), и λ, соответствующую максимуму зависимости IλT = f(λ,T), а абсолютную действительную температуру реального тела Т определяют по соответствующим формулам в зависимости от λ, λи λ

Description

Данное изобретение относится к области температурных измерений, в частности, к измерению действительной температуры реального тела бесконтактным способом по интенсивности теплового излучения от его поверхности.
Известен способ определения температуры тела по его тепловому излучению путем измерения полного потока излучения с помощью приемника излучения, предварительно градуированного по модели абсолютно черного тела с известной температурой [1].
Недостатком этого способа является необходимость индивидуальной градуировки приемника. Кроме того, при измерении температуры реальных физических тел, ввиду их меньшей излучательной способности по сравнению с абсолютно черным телом, пирометры дают заниженные показания, соответствующие некоторой условной температуре, называемой радиационной температурой тела, которая при малых значениях излучательной способности может отличаться от истинной на несколько сотен градусов. Истинная температура вычисляется при этом по формуле т = где тр - радиационная температура, ετ - значение излучательной способности тела при измеряемой температуре.
Если излучательная способность исследуемого тела неизвестна, то сколько-нибудь точное измерение его температуры оказывается невозможным.
Наиболее близким аналогом данного изобретения является способ определения действительной температуры реального тела путем измерения неселективным приемником спектральной интенсивности и длин волн теплового излучения, называемый методом пирометрии спектрального отношения [2]. В рамках способа измеряется цветовая температура, являющаяся температурой абсолютно черного тела, которое для длин волн λ1 и λ2 обладает таким же отношением монохроматических яркостей, что и исследуемое тело. При этом действительную температуру вычисляют по формуле
1/Т - 1/Тс = 1η(ελιΤ/ελ2Τ)/θ2(1/λι-1/λ2), где Тс - цветовая температура тела, λ1 и λ2 длины волн, при которых измеряется монохроматическая яркость, ελ1Τ, ελ2Τ - соответствующие этим длинам волн значения излучательной способности при температуре Т.
Этот способ имеет следующие недостатки. Пирометр спектрального отношения, как и пирометр полного излучения, должен градуироваться по модели абсолютно черного тела. У реального тела излучательные способности ελ1Τ, ελ2Τ для длин волн λ1 и λ2 могут различаться, следовательно, отношение монохроматических яркостей для этого тела может отличаться от аналогичного отношения для абсо лютно черного тела при той же температуре и реальная температура будет отличаться от измеренной. Равенство этих температур имеет место только для так называемых серых тел, когда монохроматические излучательные способности ελ1Τ, ελ2Τ равны.
Данное изобретение позволяет устранить эти недостатки. Это достигается тем, что в способе определения действительной температуры реального тела путем измерения неселективным приемником спектральной интенсивности и длин волн теплового излучения, в процессе измерения регистрируют величины длины волны излучения λι, λ2, соответствующие точкам перегиба зависимости спектральной интенсивности излучения от длины волны излучения ΙλΤ = Γ(λ,Τ) или величины длины волны, соответствующие одной из точек перегиба (λΕ2) и λ^, соответствующую максимуму зависимости ΙλΤ=Γ(λΤ), причем в первом случае абсолютную действительную температуру реального тела Т определяют по формуле
Т = Ο2(λ2-λι)2/2λι·λ2(λι+λ2), где С2=1,4388Т04 [мкм К] - вторая постоянная излучения, а во втором - по формуле Т = С2(^тах - λ1,2)2/λ1,2·λ™3χ (2Атах - λ1,2).
Ниже приведены примеры осуществления данного изобретения.
Пример 1 .
В рамках данного примера в процессе измерения интенсивности излучения с поверхности исследуемого тела неселективным приемником регистрируют величины длины волны излучения λι, λ2, соответствующие точкам перегиба зависимости спектральной интенсивности излучения от длины волны излучения ΙλΤ = ГА.Т). Затем абсолютную действительную температуру реального тела Т определяют по формуле
Т = ^-^/2^(^), где С2 =1,4388·104 [мкм К].
Пример 2.
В процессе измерения интенсивности теплового излучения исследуемого тела неселективным приемником регистрируют величины длины волны излучения, соответствующие одной из точек перегиба (λι,2) и λ^, соответствующую максимуму зависимости ΙλΤ = ГА,Т), причем абсолютную действительную температуру реального тела Т определяют по формуле Т = С2(^тах-^4,2)2/^4,2^^тах(2^тах — λ1,2).
Ниже приведено теоретическое обоснование данного способа по приведенным выше примерам.
Спектральное распределение интенсивности излучения любого типа описывается функцией Планка
ΙλΤ = ελΤ·С1λ-5[ехр (САТ)-1]-1 (1), где С1 = 3,7413· 10-16Вт^м2 - первая постоянная излучения;
С2 = 1,4388-104 мкм К - вторая постоянная излучения;
ελΤ - излучательная способность;
λ - длина волны излучения;
Т - температура излучателя.
Эта зависимость характеризуется наличием максимума на длине волны λ^χ и двух точек перегиба, коротковолновой на длине волны λ1 и длинноволновой на длине волны λ2. Для дальнейшего описания сущности данного способа воспользуемся известным приближением Вина ΙλΤ = ελΤ-СЛДехр (<ΑΤ)] (2), погрешность которого до температуры 2500 К менее 0,3% (табл. 1). Значения длин волн указанных выше характерных точек определяется из условий
1'Атах = 0 - для точки максимума;
Ι''λ1 = 0 и Ι''λ2 = 0 - для точек перегиба. Проведя дифференцирование и подставляя значение С2, получим λ^ = 2877,6/Т, λ1 = 1704/Т, λ2 = 4056/Т (3)
Отсюда, зная положение одной из характерных точек, можно найти положение двух других при той же температуре.
Таким образом, для абсолютно черного и серых тел задача измерения действительной температуры сводится к определению положения одной из характерных точек и отпадает необходимость градуировки прибора по модели абсолютно черного тела, что является существенным преимуществом данного способа, так как погрешность градуировки является одной из максимальных составляющих общей погрешности пирометров.
Результаты расчетов при разрешающей способности оптико-акустического фильтра 2 нм для точек перегиба и точки максимума кривой интенсивности излучения Планка (табл. 2) показывают, что чувствительность данного способа в точках перегиба на несколько порядков выше, чем в точке максимума, а также, что чувствительность в точке λ1 выше, чем в точке λ2 (табл. 3).
Оценка погрешности предлагаемого метода с учетом погрешности в определении точек перегиба на основании общей формы записи полученных выше выражений Т = К/λ, после дифференцирования ΔΤ = (К/λ2) Δλ, показывает, что она не превышает 0,11% для точки перегиба λ1 и 0,05% для точки перегиба λ2 (табл. 4).
У реальных физических тел излучательная способность является функцией длины волны и температуры. Обозначая функцию Планка в приближении Вина через ί и опуская индексы в функции, получим
ΙλΤ = εί
Ι'λΤ = εί1 + ίε' (4)
ΙλΤ = ε''ί + 2εΤ + εί
Для характерных точек в результате дифференцирования получаем ε'/ε + С2Ат - 5/λ = 0 - в максимуме, ε''/ε+2ε'/ε(Αλ2Τ-5/λ)+1/λ2[(^/λ2Τ)212С;/ДТ +30] = 0 (5) - в точках перегиба.
Результаты расчетов положения характерных точек для различных сведены в табл. 5.
На основании полученных результатов можем вывести формулы, позволяющие определить действительную температуру реальных физических тел по положению характерных точек λ1 и λ2. Предполагая возможность представления излучательной способности зависимостью ε = Κλη + Κι, что допустимо практически для всех материалов, так как ε является гладкой непрерывной функцией длины волны (3), получаем ε' = Κηλη-1 и ε'' = Κη(η-1)λη-2 (6) и после проведения соответствующих преобразований для действительной температуры Т получаем
Τ = С2 (л/6 - η ± 1)/ λ,ι2(5 - η)(6 - η)1/2 (7), где знак плюс определяет длинноволновую точку перегиба, а знак минус коротковолновую.
Далее из этого выражения может быть найдено значение показателя степени η при λ в зависимости ε = ι<λ на основании знания положения характерных точек λ2 и λ1 η = 6 -[(λ1+λ2)/(λ1-λ2)]2 (8).
Окончательно для определения действительной температуры получаем
Т = [^/2λιλ2 - (λ21)2/(λ1 + λ2)] или Т = -(/.-,,. - λ - )2 (2/... ,, - λι,2) (9).
Преимущество данного изобретения заключается в возможности измерения действительной температуры реальных тел без знания излучательной способности исследуемого объекта, а также резкое уменьшение погрешности измерений. С целью подтверждения преимуществ способа был проведен машинный эксперимент, который заключался в следующем.
Рассчитывалась спектральная зависимость интенсивности излучения тел с заранее заданной зависимостью излучательной способности от длины волны (шаг по λ составлял 1 нм). Далее ЭВМ находила длину волн, в которых вторая производная интенсивности по длине волны равна 0, после чего по формуле (8) находилось значение η и определялась температура. Полученные результаты сведены в табл. 6, откуда видно, что максимальная погрешность составляет 0,25%, что значительно меньше всех других бесконтактных методов, известных до настоящего времени. При этом необходимо отметить, что данный способ не предусматривает дорогостоящую градуировку приборов по эталонным средствам и их периодическую провер ку, которая проводится, как правило, ежегодно в специально оснащенных для этой цели центрах.
Литература.
1. Температурные измерения. Справочник. Геращенко О.А. и др., Киев,: Наукова думка, 1984, с. 315.
2. Измерение температуры в технике. Справочник. Линевег Ф., М.: Металлургия, 1980, с. 350, 353-358.
3. Излучательные свойства твердых материалов. Справочник под ред. Шейндлина А.Е., М.: Энергия, 1974.
Таблица 1 Погрешность апроксимации функции Планка с
помощью приближения Вина
λ,Τ 2000 2500 3000 3500 4000
1А,Т)Планк Ι(λ, Т) Вин 1,0008 1,003 1,008 1,017 1,056
Таблица 2 Результаты расчетов для точек перегиба и точки максимума функции Планка при температурах 1000, 1500, 2000 К и разрешающей способности фильтра 2 нм
Т= 1000 К
λυ мкм V, мВ ^'тахл мкм V, мВ мкм V, мВ
1,702 873,9 2,878 2,01330 4,053 1,57910
1,703 875,7 2,879 2,01230 4,054 1,57858
1,704 877,5 2,880 2,01228 4,055 1,57805
1,705 879,3 2,881 2,012274 4,056 1,57753
1,706 881,1 2,882 2,012275 4,057 1,57670
Т=1500
λ1, нкм V, мВ ^гаах, нкм V, мВ нкм V, мВ
1,132 6,6363 1,918 15,28060 2,718 11,9950
1,133 6,6577 1,919 15,28070 2,719 11,9890
1,134 6,6770 1,920 15,28080 2,720 11,9830
1,135 6,6970 1,921 15,28070 2,721 11,9770
1,136 6,7170 1,922 15,28050 2,722 11,9710
Т = 2000
λ1, нкм V, мВ ^гаах, нкм V, мВ нкм V, мВ
0,848 27,85 1,438 64,39300 2,038 50,5654
0,849 27,96 1,439 64,39310 2,039 50,5314
0,850 28,08 1,440 64,39312 2,040 50,4976
0,851 28,19 1,441 64,39220 2,041 50,4638
0,852 28,31 1,442 64,39217 2,042 50,4430
Таблица 3
Изменение выходного сигнала приемника излучения, рассчитанного по формуле ΔΙ/Ι дЛЯ λ1, λ^χ, λ2
Т1К 1000 1500 2000
λ1 0,2 0,3 0,4
^^тах 7-10-5 3,2-10-4 1-10-3
λ2 3,3-10-2 5,1-10-2 6,7-10-2
Таблица 4 Погрешность измерения температуры предлагаемым способом в точках перегиба λ1 и λ2
Т1К Δϊ(λ1) Δϊ(Μ
1000 0,6 0,25
1500 1,3 0,55
2000 2,3 1,00
Таблица 5
Положение характерных точек на кривой интенсивности излучения при различной зависимости коэффициента излучения от длины волны
ε = ε(λ) Ат, мкм К
А1Т А^тахТ Λ.-Т
ε = К/λ2 1329 2057 2785
ε = К/λ 1493 2400 3307
ε = К-λ 1991 3600 5209
8 = К-λ2 2400 4800 7200
Таблица 6 Значения температуры, вычисленные по положению точек перегиба при различной зависимости ε от λ
ε = к//' Τ1Κ λ1, ткт ^гаах, ткт λη, ткт Τ1Κ Τ2Κ
ε = к/λ5 1000 1,0058 1,440 1,8748 999,8 1000,1
2000 0,5029 0,720 0,9371 1999,7 2000,2
3000 0,3353 0,480 0,6247 2998,8 2998,8
ε =1</λ2 1000 1,3290 2,0570 2,7840 1001,6 1002,4
2000 0,6645 1,0286 1,3920 2003,3 2005,4
3000 0,4430 0,6857 0,9280 3004,9 3007,8
ε = к/λ 1000 1,4930 2,400 3,3070 999,7 999,7
2000 0,7465 1,200 1,6535 1999,4 1999,4
3000 0,4977 0,800 1,1020 2998,5 2998,3
ε= кЖ 1000 1,8355 3,200 4,5640 999,8 1000,0
2000 0,9178 1,600 2,2820 1999,4 2000,0
3000 0,6118 1,067 1,5210 3000,0 3000,6
ε = 1<λ 1000 1,9900 3,600 5,2100 1000,0 998,5
2000 0,9955 1,800 2,6050 1997,5 1997,0
3000 0,6637 1,200 1,7370 2996,9 2995,0
ε = кХ2 1000 2,400 4,800 7,200 1000,0 1000,0
2000 1,200 2,400 3,600 2000,0 2000,0
3000 0,800 1,600 2,400 3000,0 3000,0
ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

Claims (1)

  1. ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ
    Способ определения действительной температуры реального тела путем измерения неселективным приемником спектральной интенсивности и длин волн теплового излучения, отличающийся тем, что в процессе измерения регистрируют величины длины волны излучения λι, λ2, соответствующие точкам перегиба зависимости спектральной интенсивности излучения от длины волны излучения ΙλΤ = £ (λ, Τ), или величины длины волны, соответствующие одной из точек перегиба (λι,2), и λ^, соответствующую максимуму зависимости ΙλΤ = £(λ,Τ), причем в первом случае абсолютную действительную температуру реального тела Т определяют по формуле
    Т = С'2(Л2—Л|)2/2Л|7.2(Л|+Л2), где С2 = 1,4388-104 [мкм К] - вторая постоянная излучения,а во втором - по формуле Т = С2(^-шах - λ1,2)2/λ1,2Μ3χ (2λΜ3χ - λ1,2)·
EA199800981A 1998-12-04 1998-12-04 Способ определения действительной температуры реального тела EA001536B1 (ru)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EA199800981A EA001536B1 (ru) 1998-12-04 1998-12-04 Способ определения действительной температуры реального тела
CZ19994336A CZ295910B6 (cs) 1998-12-04 1999-12-02 Způsob určování skutečné teploty reálných těles

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EA199800981A EA001536B1 (ru) 1998-12-04 1998-12-04 Способ определения действительной температуры реального тела

Publications (2)

Publication Number Publication Date
EA199800981A1 EA199800981A1 (ru) 2000-06-26
EA001536B1 true EA001536B1 (ru) 2001-04-23

Family

ID=8161469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA199800981A EA001536B1 (ru) 1998-12-04 1998-12-04 Способ определения действительной температуры реального тела

Country Status (2)

Country Link
CZ (1) CZ295910B6 (ru)
EA (1) EA001536B1 (ru)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU241753A1 (ru) * Д. Я. Свет Способ измерения истинной температуры металлов по их излучению
SU521786A1 (ru) * 1974-11-11 1983-12-07 Предприятие П/Я Р-6543 Способ измерени температуры
EP0420108A1 (de) * 1989-09-25 1991-04-03 Europäische Atomgemeinschaft (Euratom) Mehrwellenlängen-Pyrometer

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU241753A1 (ru) * Д. Я. Свет Способ измерения истинной температуры металлов по их излучению
SU521786A1 (ru) * 1974-11-11 1983-12-07 Предприятие П/Я Р-6543 Способ измерени температуры
EP0420108A1 (de) * 1989-09-25 1991-04-03 Europäische Atomgemeinschaft (Euratom) Mehrwellenlängen-Pyrometer
RU2083961C1 (ru) * 1989-09-25 1997-07-10 Ойропеише Атомгемайншафт (Ойратом) Способ измерения температуры и коэффициента излучения поверхности

Also Published As

Publication number Publication date
EA199800981A1 (ru) 2000-06-26
CZ9904336A3 (en) 2001-06-13
CZ295910B6 (cs) 2005-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Coates Multi-wavelength pyrometry
CN105241575B (zh) 基于宽带荧光光谱的强度比测温方法
Duvaut Comparison between multiwavelength infrared and visible pyrometry: Application to metals
Wang et al. Measurement technology for material emissivity under high temperature dynamic heating conditions
CN103913238A (zh) 双温双波段红外辐射精确测温方法
Cagran et al. Spectral emissivities and emissivity X-points of pure molybdenum and tungsten
Corliss Oscillator Strengths for Lines of NiI
EA001536B1 (ru) Способ определения действительной температуры реального тела
Pajusalu et al. Temperature dependent electron–phonon coupling in chlorin-doped impurity glass and in photosynthetic FMO protein containing bacteriochlorophyll a
Saunders Uncertainty Arising from the Use of the Mean Effective Wavelength in Realizing ITS‐90
CN108489631A (zh) 一种吸收光谱强度比测温方法
Marciniak et al. Comment on ‘A strategy for enhancing the sensitivity of optical thermometers in β-NaLuF 4: Yb 3+/Er 3+ nanocrystals’
Seletskiy et al. Fast differential luminescence thermometry
Zhang et al. Overview of radiation thermometry
Bauer et al. Device for spectral emissivity measurements of ceramics using a FT-IR spectrometer
Farrer et al. Substrate temperature measurement using a commercial band-edge detection system
EP1006345A1 (en) Method of determining the actual temperature of real bodies
Yuan et al. Linearity study of a spectral emissivity measurement facility
Barela et al. Pyrometer for temperature measurement of selective objects of unknown and variable emissivity
Xue et al. Uncertainty model and estimation for emissivity of a steel plate with a multi-wavelength pyrometer
Yamaguchi et al. Uncertainty due to non-linearity in radiation thermometers calibrated by multiple fixed points
SU167328A1 (ru) Бесконтактный способ измерения истинныхтемператур
JPS6215424A (ja) 放射を利用した物体の温度測定方法
Bielecki et al. Infrared pyrometer for temperature measurement of objects, emissivity of which depends on wavelength and time
JPH0510822A (ja) 放射温度計測装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s)

Designated state(s): AM AZ BY KZ KG MD TJ TM RU