DE8709031U1 - Vorrichtung zur Messung kleiner Längen - Google Patents

Description

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LEINE & KÖNIG··

PATENTANWÄLTE DlpMng. Slgurd Lein» · Dipl.-Phys. Dr. Norbert K6nlg Burdchardl«lrt8e 1 Telefon (0511) $23005

D-3000 Hannover 1

Unter Zeichen Datum

Hommelwerke GmbH 820/101 25. Juni 1987

Vorrichtung zur Messung kleiner Längen

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung der im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art zur Messung kleiner Längen.

Vorrichtungen der betreffenden Art zur Messung kleiner Längen sind seit langem bekannt. Beispielsweise die DE-PS 11 00 978 zeigt in Abbildung 9 eine solche Vorrichtung, die als mechanischinduktiver Wandler ausgebildet ist. Die Tastspitze bewegt einen Eisenkern in einem Spulensystem, das in eine Meßbrücke einbezogen ist, die ein elektrisches Ausgangssignal in Abhängigkeit von den Bewegungen der Tastspitze abgibt. Das verhältnismäßig hohe Gewicht des zu bewegenden Eisenkerns ist nachteilig für die Abtastgeschwindigkeit und bewirkt außerdem einen starken Verschleiß der Tastspitze. Dies um so mehr, je feiner die Tastspitze ist. Feine Tastspitzen sind jedoch zur Abtastung der Feinstruktur einer Oberfläche erforderlich. Ein weiterer Nachteil ist die begrenzte Linearität, insbesondere bei großen Meßhüben.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der betreffenden Art zur Messung kleiner Längen zu schaffen, deren bewegte Teile ein niedriges Gewicht haben können, deren Tastspitze einen kleinen Abrundungsradius haben kann und die darüber hinaus eine hohe Abtastgeschwindigkeit bei der Abtastung der Feinstruktur einer Oberfläche sowie eine hohe Linearität auch bei großen Meßhüben ermöglicht.

Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe wird durch

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die im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegebene Lehre gelöst.

Die Erfindung beruht auf dem Grundgedanken, die Stellung bzw, die Bewegungen des mechanischen Abtastgliedes für die abzutastende Länge praktisch gewichtslos mit einer optischen Methode allein mit Hilfe einer spiegelnden Oberfläche an dem Abtastglied mit Hilfe von optischen Phasenmessungen abzutasten. Die Phasenmessung erfolgt dabei mit Hilfe eines Interferometers, das in Teilen, aus der Zeitschrift "Laser und Optoelektronik", 1/1984, S. 19, Bild 3, bekannt ist. Dieses bekannte Interferometer wird jedoch so abgewandelt, daß das Licht aus dem Meßwellenleiter mit Hilfe einer optischen Einrichtung ausgekoppelt, auf den mit der Tastspitze verbundenen Spiegel geleitet und von diesem auf dem gleichen Wege in den Meßwellenleiter zurückgeführt wird. Außer den Mitteln zur Halterung und Führung der Tastspitze ist diese mit keinem zusätzlichen Gewicht belastet, so daß das Gewicht der abtastenden Mittel minimal ist, so daß ein geringer Auflagedruck genügt, damit die Tastspitze beispielsweise bei der Abtastung der Feinkontur einer Werkstückoberfläche sicher der Oberfläche folgt und damit genau die der Oberflächenkontur entsprechenden Längenänderungen abtastet, die dann durch das Interferometer in entsprechende elektrische Signale umgewandelt werden. Die Abtastgeschwindigkeit kann dabei gleichzeitig sehr hoch sein. Die optische Einrichtung zur Auskopplung des Lichts auf den Meßwellenleiter besteht zweckmäßigerweise aus einem Beugungsgitter, wie es an sich beispielsweise durch die Zeitschrift "LASER MAGAZIN", 4/1965, S.75 in Verbindung mit einem Abtastkopf zur Abtastung von Schallplatten mit optischer Aufzeichnungespur bekannt ist. Es eignen sich aber auch andere optische Vorrichtungen, mit denen das Licht aus dem Meßwellenleiter auf den Spiegel gerichtet werden kann, und zwar vorzugsweise in Form eines Paralleletrahls oder Parallelstrahlenbündels, obwohl auch in manchen Fällen eine teilweise oder vollständige Fokussierung auf den Meßepiegel zweckmäßig sein kann.

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Das Interferometer kann jede beliebige Ausführungsform haben. Statt begrenzter Lichtleiter können auch lichtleitende flächige Schichten verwendet werden.

Obwohl sich nach der Lehre des Anspruchs 1 der Meßspiegel an einer Tastspitze oder einem sich damit bewegenden TeiJ. befindet, so daß die Länge mechanisch abgetastet wird, liegt es doch im Rahmen der Erfindung, als Heß spiegel unmittel bar eine Oberfläche zu verwenden, deren Abstand als Längenwert gemessen werden soll und die ausreichend spiegelnde Eigenschäften hat.

Die bewegliche Lagerung der Tastspitze kann die Form eines doppelarmigen Hebels haben, an dessen einem Ende sich

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die Tastspitze und an dessen anderem Ende sich der Meßspiegel befindet. Es ist aber auch möglich, nur einen einarmigen Hebel zn verwenden, bei dem sich der Spiegel im Bereich der Tastspitze befindet. Dadurch wird die bei Auslenkungen der· Tastspitze zu bewegende Masse noch weiter verrxngert. Der Meßspiegel kann sich aber auch an dem einen Ende eines parallel geführten Meßstößeis befinden, an dessen anderem Ende sich die Tastspitze befindet.

Bei beiden Formen der beweglichen Lagerung, insbesondere aber bei der Hebellagerung der Tastspitze, ist es zweckmäßig, deii Meßspiegel als Tripelspiegel oder als Glaskugel auszuführen, so daß sichergestellt ist, daß auch bei Änderungen der Winkelstellung des Meßspiegeis das Licht immer in die gleiche Richtung zu der optischen Einrichtung zurückgeworfen wird, die das Licht aus dem Meßwellenleiter auskoppelt und es auch wieder einkoppelt.

Obwohl bei Längenmessungen, die im Bereich unterhalb der halben Wellenlänge des von dem Laser abgegebenen Lichts als Anzeigeeinrichtung auch ein Spannungs- oder Strommesser verwendbar ist, dessen Ausschlag der Intensität des von dem lichtelektrischen Wandler aufgefangenen Lichts bzw. der von diesem abgegebenen elektrischen Spannung oder dem entsprechenden Strom entspricht, ist es zur Erfassung eines großen Meßbereichs mit einem Vielfachen der Wellenlänge des Meßlichts zweckmäßig, als Anzeigeeinrichtung einen Zähler zu verwenden, der die der gemessenen Längenänderung entsprechenden Lichtintensitätsänderungen aufgrund der Interferenz zählt und somit einen Zählwert anzeigt, der unter Berücksichtigung der Wellenlänge des Meßlichts völlig proportional ist der von der Tastspitze abgetasteten Länge oder Längenänderung. Ein Meßvorgang läuft dabei beispielsweise so ab, daß die Tastspitze auf den Anfang dez zu messenden Länge gebracht und dabei der Zähler auf null gestellt wird. Danach wird die Tastspitze auf den Endwert der zu messenden Länge gebracht und der Zähler abgelesen.

Soll eine neue Länge gemessen werden, so muß dieser Vorgang wiederholt werden.

Um eine Nullstellung des Zählers zu vermeiden und Längen

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eindeutig in unterschiedlichen Auslenkungsrichtungen der Tastspitze messen zu können, ist es zweckmäßig, gemäß Anspruch 7 dafür Sorge zu tragen, die Richtung der Bewegung dar Tastspitze festzustellen und in Abhängigkeit von dieser Richtung die Zählrichtung des als Vor-Rückwärtszähler ausgebildeten Zählers zu steuern. Die Feststellung der Richtung der Bewegung der Tastspitze erfolgt in der Weise, daß von der Meßleitung mit Hilfe eines Kopplers, wie er beispielsweise durch die Dissertation von Dipl.-Ing. H. Schlaak, Berlin 1984,

S. 28,29 bekannt ist, ein Teil des Lichts aus <3em Bezugswellenleiter ausgekoppelt und mit Hilfe eines Phas^nmodulators, wie er beispielsweise durch die Zeitschrift "Laser und Optoelektronik", 1/1984, S. 27, Bild 33, bekannt ist, in einer gegenüber der Phasenlage am Ende des Bezugswellenleiters um 90° verschobenen Phasenlage an einen weiteren lichtelektrischen Wander geführt wird, so daß die beiden lichtelektrischen Wandler bei Bewegungen der Tastspitze zwei um 90° gegeneinander verschobene Meßspannungen abgeben, die zusammen ein Drehfeld bilden, dessen Drehrichtung der Bewegungsrichtung der Tastspitze entspricht. Mit Hilfe dieser Drehrichtung wird dann die Zählrichtung des Vor-Rückwärtszählers gesteuert;. Diese Art der Erkennung der Bewegungsrichtung ist für sich beispielsweise in der Dissertationsschrift "Ein Laser-Interferometer zur fotoelektrischen Bewegungsvermessu-ag in beiden Lateralkoordinaten" von Gerd ülbers, 1981, Universität Hannover, S. 58 ff, insbesondere S. 68, Abb. 29, beschrieben. In dieser Dissertationsschrift ist auch eine Möglichkeit beschrieben, die Meßgenauigkeit durch Unterteilung der Periode der Drehspannung zu erhöhen, s. dort Abschnitt 10.4. Die Weiterbildung der Erfindung geiuää Anspruch 8 besteht darin, diese Signalperiodenunterteilung auch öei der erfinduiigsgemäßen Vorrichtung zur Erhöhung der Auflösung einzusetzen.

Eine besondere zweckmäßige Weiterbildung der erfindungsgemäßen Grundlehre 1st in Anspruch 9 angegeben, wonach der Meßwellenleiter, der Bezugswellenleiter und gegebenenfalls auch der Abzweigwellenleiter in an sich bekannter Weise in oder auf der Oberfläche einer gemeinsamen Platte gebildet sind.

Laser und/oder lichtelektrische Wandler sind ganz einfach an die Seitenkanten der Platte angeschlossen/ an denen auch die Wellenleiter münden« Der Spiegel des Bezugswellenleiters ist ganz einfach durch eine Verspiegelung der Kante im Bereich | des an dieser Kante mündenden Bezugswellenleiters gebildet. | Die Ausbildung der Wellenleiter in der Platte kann dabei in <j an sich bekannter Weise erfolgen, und zwar entweder durch Aufbringen von Glasfasern auf die Platte oder durch Ausbildung der Wellenleiter in der Oberfläche der Platte, wie das beispielsweise an sich durch die Zeitschrift "Laser und Optoelektronik", 1934, Nr. 1, S. 26, Bild 31, bekannt ist. Auch die Phaseneinstelleinrichtung bei der Weiterbildung gemäß Anspruch 7 läßt sich unmittelbar auf der Oberfläche der Platte ausbilden, wie das an sich beispielsweise bereits durch die oben zitierte Zeitschrift "Laser und Optoelektronik", 1983, S. 112, Bild 3, bekannt ist. SchlieSlcih läßt sich auch gemäß einer anderen Weiterbildung die optische Einrichtung, die das Licht aus dem Meßwellenleiter auf den Meßspiegel richtet und auch von dort wieder auffängt, unmittelbar auf der Oberfläche der Platte ausbilden, und zwar in Form eines auf der Platte angebrachten Beugungsgitters entsprechend der oben zitierten Literaturstelle "LASER MAGAZIN", 1985, S. 75. Insgesamt lassen sich also alle optischen bzw. optoelektrischen Teile wie auch die lichtelektrischen Wandler und/oder der Laser der erfindungsgemäßen Vorrichtung auf einer einzigen Platte integrieren, so daß eine einfache, billige Fertigung bei geringsten Abmessungen möglich ist. Um Temperatureinflüsse fernzuhalten, kann die gesamte Platte mit den optoelektronischen Komponenten auf einem geregelten Peltierelement angeordnet sein.

Eine besonders zweckmäßige Ergänzung der Erfindung ist im Anspruch 13 angegeben, wonach ein optoelektronischer Ent= fernungsmesser vorgesehen ist, der bei einem vorgegebenen Entfernungswert ein elektrisches Signal abgibt, das den für die Anzeigeeinrichtung verwendeten Zähler auf null stellt.

Dieser optoelektronische Entfernungsmesser braucht keine große Genauigkeit über einen größeren Heßweg zu haben, sondern lediglich eine große Genauigkeit bei dem vorgegebenen Entfernungswert bzw. Längenmeßwert, um dort exakt den Zähler auf null zu stellen,

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Als optoelektronischer Entfernungsmesser eignet sich für diesen Zweck besonders gut ein in seinen Grundprinzipien an sich bekanntes Fokuslagenmeßsystent/ wie es im Anspruch 14 angegeben ist. Es hat eine hohe Genauigkeit, wenn die in der Entfernung gemessene, reflektierende Fläche genau in Fokuslage ist. Dies wird bei der Erfindung zur Nullstellung ausgenutzt, um das zwar äußerst genau im nm-Bereich über große Strecken, jedoch nur relativ messende Interfe r.ometer mit einem Bezugsoder Nullwert zu versehen, so daß zu den genannten guten Eigenschaften auch noch die Möglichkeit hinzu kommt, absolute Längen messen zu können.

Als Fokussiereinrichtung können Linsen verwendet werden, in gleicher Weise jedoch auch fokussierende optische Gitter, wobei es zweckmäßig ist, das gesamte optische System in einer lichtleitenden Schicht einer Platte auszubilden, wobei Laser und Fotodioden an den entsprechenden Stellen an- oder eingekoppelt sind. Ein derartiges optoelektronisches System ist aus der Zeitschrift "LASER MAGAZIN", 4/85, S. 75, bekannt.

Das Fokuslagenme &bgr; system kann ein von dem Interferometer völlig unabhängiges System sein mit einem separaten Spiegel an der Tastspitze oder an einem sich damit bewegenden Teil. Diese Ausführungsform hat den Vorteil, daß bei fokussiertem Strahl des Interfe r ometers der Störabstand des Interferometersignals gegenüber parallelem Licht groß ist.

Grundsätzlich ist es aber gemäß einer anderen Ausführungsform der Kombination von Interfe r ometer und Fokuslagenmeßsystem auch möglich, für beide Systeme den gleichen Laser zu verwenden, indem aus dem Licht, das von dem Meßspiegel reflektiert worden ist, ein Teil mittels eines halbdurchlässigen Spiegels abgezweigt und dann in der für das Fokuslagenmeßsystem typischen Heise weiterverwendet wird.

Sind sowohl Interfe rometer als auch FokuslagenmeBsystem in oder auf optisch leitenden Platten ausgebildet, so ist es zweckmäßig, diese Platten als gemeinsames Stück auszubilden.

Dadurch ergibt sich eine stabile und geringe Bauhöhe. Dies wird auch durch eine andere Weiterbildung der Erfindung ermöglicht, bei der über dem ersten Fokussiergitter ein ümlenk-

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spiegel mit einer Neigung von ungefähr 45° zur Platte angeordnet ist/ der den im wesentlichen senkrecht aus der Platte austretenden Strahl in die Plattenebene umlenkt, so daß auch der Strahlengang außerhalb der Platte in Plattenrichtung verläuft, was besonders vorteilhaft ist, wenn sich der Meßspiegel am hinteren Ende eines Meßstößels befindet, dessen vorderes Ende die Tastspitze aufweist.

Anhand der Zeichnung soll die Erfindung näher erläutert werden.

Fig. 1 zeigt den wesentlichen optoelektronischen Teil eines Ausführungsbeispiels der Erfindung in der Draufsicht,

Fig. 2 ist eine Seitenansicht der Fig. 1 einschließlich des mechanischen Abtastteils der Vorrichtung,

Fig. 3 zeigt eine Abwandlung der Fig. 2, Fig. 4 zeigt ein Blockschaltbild der an die

optoelektrische Einrichtung gemäß Fig. 1 angeschlossenen Anzeigeeinrichtung, Fig. 5 zeigt im Schnitt ein Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung gemäß der Erfindung zur Absolutmessung,
Fig. 6 zeigt den optischen Teil von Fig. 5 von der einen Seite,
Fig. 7 zeigt den optischen Teil von Fig. 5

von der anderen Seite,
Fig. 8 verdeutlicht den Schichtaufbau des optischen

Teils gemäß den Fig. 6 und 7,

Fig. 9 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel in prinzipieller Darstellung,

Fig. 10 ist eine Seitenansicht der Fig. 9, und Fig. 11 zeigt im Schnitt ein drittes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung gemäß der Erfindung zur Absolutmessung.

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Die optoelektronische Einrichtung gemäß Fig. 1 zeigt eine Platte 1 aus Lithiuir_niobatkristall oder SiliziumkristalX, in deren Oberfläche in an sich bekannter, oben angegebener Weise ein Meßwellenleiter 2, ein Bezugswellenleiter 3 und ein Abzweigwellenleiter 4 gebildet sind. Der Meßwellenleiter führt zu einer Kante 5 der Platte 1, wo ein Laser 6 unmittelbar beispielsweise durch Kleben so angebracht ist, daß sein Licht in den Meßwellenleiter 2 gelangt. Am anderen Ende mündet der Meßwellenleiter 2 in ein Beugungsgitter 7, das das Licht im wesentlichen senkrecht zu der Platte 1 auskoppelt, wie das aus der Seitenansicht in Fig. 2 durch eine Pfeillinie 8 angedeutet ist. Das Licht gelangt auf einen Tripelspiegel 9, der es entsprechend einer Pfeillinie 10 zu dem Beugungsgitter 7 zurückwirft, das es in den Meßwellenleiter 2 zurückleitet.

Das Licht gemäß den Pfeillinien 8 und 10 verläuft im. wesentlichen parallel.

Der Tripelspiegel 9 befindet sich am Ende eines Armes 11 eines zweiarmigen Hebels 12, dessen anderer Arm 13 an seinem Ende eine Tastspitze 14 aufweist, die zur Verdeutlichung ihrer Funktion als auf einer Oberfläche 15 eines Werkstückes 16 aufliegend dargestellt ist, deren Höhenprofil als Längenänderung in Abhängigkeit von der Profilrichtunr/ beispieleweise festgestellt werden soll.

Der in Fig. 1 gezeigte Bezugswellenleiter 3 erstreckt sich zu der Kante 5, an der eine Fotodiode 17 so angebracht ist, daß sie das Licht aus dem Bezugswellenleiter 3 auffängt

Strom- oder und es in ein entsprechendes elektrisches/Spannungssignal umwandelt. Das andere Ende des Bezugswellenleiters 3 erstreck' sich bis zu einer Kante 18 der Platce 1, die glatt geschliffen und wenigstens im Bereich der Mündung des Bezugswellenleiters 3 spiegelnd ist, so daß an dem Ende des Bezugswellenleiters 3 ein Spiegel 19 gebildet ist.

Der Bezugswellenleiter 3 nähert sich über eine kurze Wegstrecke dem Meßwellenleiter 2, so daß ein Koppelelement gebildet ist. Der Abzweigwellenleiter 4 nähert sich mit seinem Ende dem Bezugswellenleiter 3, so daß ein Koppelelement 21 gebildet ist. Mit seinem anderen Ende mündet der Abzweig-

wellenleiter 4 im Bereich einer dort angebrachten Fotodiode 22 _r die das Licht aus dem Abzweigwellenleiter 4 auffängt und in ein entsprechendes elektrisches Spannungssignal umwandelt, über eine kurze Wegstrecke sind zu beiden Seiten des Abzweig-Wellenleiters 4 Elektroden 23 und 24 angeordnet, die über Leitungen 25 und 26 an eine einstellbare Gleichspannungsguelle angeschlossen sind, was rein schematisch durch ein Plus- und Minuszeichen angedeutet ist. Durch Einstellung der Gleichspannung an den Elektroden 25 und 26 ist die Phasenlage des Lichts an der Fotodiode 22 gegenüber der des Lichts an der Fotodiode 17 so eingestellt, daß die Phase des elektrischen Stroms an. Ausgang der Fotodiode 22 gegenüber der an der Fotodiode 17 um 90° verschoben ist.

Um die Stabilität zu vergrößern, ist mit der Platte 1 in

den Fig. 2 und 3 ein Peltierelement 32 fest verbunden, das die Aufgabe hat, die Temperatur des Interferometers auf einen konstanten Wert zu stabilisieren.

Zur Eliminierung von Rausch- und Drifterscheinungen kann der Laser oder das Laserlicht mit einer Trägerfrequenz modu liert sein, das dann in üblicher Technik zur trägerfreguenten Signalverarbeitung weitexverarbeitet wird.

Wird bei Gebrauch der Einrichtung gemäß den Fig. 1 und 2 die Tastspitze 14 relativ zu der Oberfläche 15 des Werkstücks 16 in der Ebene der Oberfläche 15 verschoben, so ändert sich die Höhenlage der Tastspitze 14 entsprechend dem Feinprofil der Oberfläche 15. Der Tripelspiegel 9 ändert seine Lage relativ zu dem Beugungsgitter 7 auf der Platte 1 entsprechend, so daß sich der Weg des Lichte entlang den Pfeillinien 8 und 10 zu dem Tripelspiegel 9 hin und zurück entsprechend ändert, wodurch sich das Interferenzmuster in dem Bezugswellenleiter 3 ändert, das proportional der Bewegung der Tastspitze 14 ist und an der Fotodiode 17 als Änderung des Ausgangestromes erscheint.

Fig. 3 zeigt eine Abwandlung der Ausführungsform gemäß Flg. 1. Übereinstimmende Teile sind mit gleichen Bezugsziffern verfl**¹»*»* **- "«+-erschied besteht; darin, daß sich der Tripelspiegel 9 am oberen Ende eines durcn «.ine Führung 27 vertikal verschieblich gehaltenen Meßatößels 28 angeordnet ist, an

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dessen unteren Ende sich eine Tastspitze 29 befindet, die auf einem Werkstück 30 aufliegt, das auf einem Tisch 31 ruht. Fig. 4 zeigt ein Blockschaltbild zur Auswertung und Anzeige der Ausgangsspannungen der Fotodioden 17 und 22, die zur Verdeutlichung ihrer gegenseitigen Phasenlage als Sinus- und Kosinus-Signale angedeutet sind. Nach Strom-Spannungswandlung und Verstärkung in Verstärkern 33 und 34 folgt die Drehfeldinterpolation in einem Drehfeldinterpolator 35, der eine volle Periode des Drehfeldes von 360° in &eegr; Teile u&ser teilen kann. Eine volle Drehfeldperiode entspricht einer Ver schiebung des Meßspiegels um Aj2 der Laserwellenlänge. Ein folgender Rechteckformer 36 mit Zählrichtungsdiskriminator 37 bereitet das Signal für einen Vor-Rückwärtszähler 38 auf, an den eine Anzeigeeinrichtung 39 angeschlossen ist. Bewegt sich der Tripelspiegel 9 in eine Richtung, so eilt das Signal an der Fotodiode 22 dem an der Fotodiode 17 um 90° vor, und der Vor-Rückwärtszähler 38 zählt in eine Richtung. Kehrt der Tripelspiegel 9 die Bewegungsrichtung um, so eilt das Signal an der Fotodiode 22 dem an der Fotodiode 17 um 90° nach, und der Vor-Rückwärtszähler 38 kehrt auch seine Zählrichtung um. Der Vor-Rückwärtszähler 35 zählt jeweils &eegr; Teile von Drehfeldumläufen. Die so erreichbare Auflösung für den Meßhub hängt somit nur von der Größe der Drehfeldunterteilung und von der Stabilität des Gesamtsystems ab.

Fig. 5 zeigt im Schnitt einen Längenmeßtaster zur Abeolutmessung.ln einem Gehäuse 40 ist ein Stößel 41 mittels einer Rollenführung 42 in Achsrichtung verschieblich gelagert. Der Stößel 41 ragt aus dem Gehäuse 40 heraus und ist dort mit einem getrennt dargestellten Teil 43 versehen, an dessen Ende eich eine kugelförmige Tastspitze 44 befindet. Der Stößel 41 ist durch einen Balg 45 gegen Staub geschützt.

Der Stößel 41 ist durch eine Wendelfeder 46 in Auflagerichtung der Tastepitze 44 vorgespannt und in seiner Bewegung durch einen Zapfen 47 begrenzt, der in eine Mut 48 eingreift.

Der Stößel 41 weist an seinem hinteren Ende eine Stange 49 auf, an deren Ende sich ein Teller 50 befindet, auf dem ein Planspiegel 51 und eine Glaskugel 52 aufgeklebt sind.

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Im Abstand zu diesem ist eine optoelektronische Baueinheit 53 angeordnet, die über Steckkontakte 54 an einen nicht dargestellten Zähler für das Interfer ometer und an einen nicht dargestellten Vergleicher für das Fokuslagenmeßsys«_em angeordnet sind.

Fig. 6 zeigt vereinfacht die optoelektronische Einheit und verdeutlicht ihren Aufbau aus zwei Platten 1 und 54 mit lichtleitenden Schichten 55 und 56. Die Platte 1 ist die aus dem Ausf Uhrungsbeispiel gemäß Fig. 1, wobei in der licht leitenden Schicht 55 die gleichen optischen Mittel wie in Fig. 1 vorgesehen sind, und daher sind die gleichen Bezugszeichen verwendet. Lediglich ist das Beugungsgitter 7 entfallen, so daß das Licht aus dem Meßwellenleiter 2 an der Kante in Plattenrichtung austritt, wie das in den Fig. 5 bis gezeigt ist. Die Funktion der optischen Elemente auf der Platte 1 als Interferometer ist die gleiche wie die, die in Verbindung mit Fig. 1 beschrieben worden ist. Bei Änderung des Abstancles ("er Kugel 52 zu der Platte 1 entstehen an den Fotodioden 17 ur-d 22 elektrische Spannungen, die entsprechend der Interferenz und damit der relativen Änderung des Abstandes zwischen Kugel 52 und Platte 1 entsprechen.

Entsprechend dem Aufbau gemäß Fig. 6 ist die tiatte &idiagr; mit einer Platte 54 verklebt. Die lichtleitende Schicht 56 ist über ihre gesamte Ausdehnung gleichförmig, so daß sich ein Strahlengang gemäß Fig. 7 ausbilden kann. Ein Laser 57 ist seitlich an der Platte 54 angebracht und strahlt auf einen um 45° geneigten Spiegel 58, der das Licht auf Fokussiergitter 59 und 60 richtet, so daß austretende Strahlen 61 und 62 auf die Oberfläche des Spiegels 51 fokussiert sind.

Von dem Spiegel 51 gelangt das Licht wieder zurück in

die Fokussiergitter 60 und 59, wobei das letztere als Strahlen* teiler wirkt und jeweils die Hälfte des Lichts auf zwei verschiedene Fokuspunkt: 63 und 64 fokussiert, die genau zwischen Dioden 65 und 66 einerseits und Dioden 67 und 68 andererseits liegen, wenn sich der Spiegel 51 genau im Fokus der Strahlen 61 und 62 befindet. An die Dioden 65 bis 68 sind Vergleicher angeschlossen,, die bei der dargestellten Fokuslage ein Signal

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an den zuvor erwähnten Zähler für die Interferenzwerte abgibt, van den Zähler auf null zu stellen.

Bewegt sich der Spiegel 51 aufgrund einer Bewegung der Tastspitzs 44, so wird der Zähler immer dann auf null gestellt und damit der Absolutwert hergestellt, wenn der Spiegel 51 die genaue Fokuslage durchläuft.

Fig. 9 zeigt in der Draufsicht und Fig. 10 in der Seitenansicht eine Platte 69 mit einer lichüeitenden Schicht 70, auf der in Fig. 9 auf der rechten Seite ein Interfe.r ometer ausgebildet ist, wie es in Fig. 1 gezeigt ist. Daher sind auch hier die gleichen Bezugsziffern für die gleichen Veile verwendet. Die Anordnurg des Meßstößels 28 ist die aus Fig. 3, so daß auch hier wieder gleiche Bezugsziffern verwendet sind. Statt des Tripelspiegel 9 am oberen Ende des Meß stößeis 28 ist eine Glaskugel 71 vorgesehen. Das von dieser zurückgeworfene Licht gelangt in genau der gleichen Weise in das Interferometer,wie das in Verbindung mit Fig. 1 beschrieben worden ist. Zusätzlich ist hier ein Umlenkspiegel 72 vorgesehen, so daß sich der Meßstößel 28 ungefähr in Richtung der Platte 69 erstrecken kann, so daß ein insgesamt flaches Gebilde vorhanden istT/das eine sehr geringe Bauhöhe oder Breite erzielbar ist.

Das von der Glaskugel 71 zurückgeworfene Licht wird durch einen teildurchlässigen Spiegel teilweise abgezweigt und gelangt über einen Umlenkspiegel 74 zu Fokussiergittern 75 und 76, die jeweils die Hälfte des Lichts auf Fokuspunkte 77 und 78 fokussieren,die genau zwischen Paaren von Fotodioden 79, 80 und 81, 82 liegen, wenn sich der reflektierende Punkt der Glaskugel 71 genau im Fokus befindet. An die Fotodioden 79-82 sind genauso wie bei der Ausführungsfonn gemäß Fig. 7 nicht dargestellte Vergleicher angeschlossen, die dann, wenn die Fotodioden der jeweiligen Paare gleichmäßig belichtet sind/ also die Fokuspunkte 77, 78 genau zwischen den Fotodioden liegen, ein Signal abgeben, um den an die Fotodioden 17 und 22 angeschlossenen Zähler auf null zu stellen.

Fig. 11 zeigt ein Ausführungsbeispiel mit einem zylindrischen Gehäuse 83, in dem wie bei dem Ausführungsbeispiel

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gemäß Pig. 5 eine optoelektronische Einheit 84 ähnlich der optoelektrischen Einheit 53 in Fig. 5 angeordnet iat. Der prinzipielle Aufbau ist der gleiche wie in den Fig. 6 und 7. Ein Unterschied besteht darin, daß zusätzlich ein Umlenkspiegel 85 für das Interferometer vorgesehen ist, um das Licht aus dem Meßwellenleiter 2 (Fig. 6) um 90° umzulenken, und zwar in die Bewegungsrichtung einer Kugel 86, die sich an einem hinteren Ende eines Doppelhebels 88 befindet, an dessen äußerem Arm 89 sich eine Tastspitze 90 befindet. Der Doppel hebel 88 dreht sich um einen Zapfen 9i und ist mittels einer Wendelfeder 92 in Abtastrichtung vorgespannt.

Ein weiterer Unterschied bezüglich der optoelektronischen Einheit 84 gegenüber der optoelektronischen Einheit 53 gemäß Fig. 5 besteht darin, daß Strahlen 93 und 94 seitlich aus der optoelektronischen Einheit 84 austraten und dort auf einen Spiegel 95 gerichtet sind, der dem Spiegel 51 in den Fig. 6 oder 7 entspricht. Innerhalb der optoelektronischen Einheit befindetsich ein nicht dargestellter Umlenkspiegel, so daß der Strahlengang danach wieder der gleiche ist wie in Fig. 7.

Der Arm 89 ist durch ein Rohr 96 geschützt, aus dem die Tastspitze 9 durch eine öffnung ragt. Am anderen Ende des Gehäuses 83 befinden sich wieder Steckkontakte 96, die den Steckkontakten 53· in Fig. 5 entsprechen.

Claims (1)

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   DlpL-lng. Sigurd Leine · Dipl.-Phys. Dr. Norbert König

   BurckhardtstnBe 1 Telefon (0511) 623005

   D-300D Hannover 1

   Unser Zeichen Datum

   Hommelwerke GmbH 820/101 25. Juni 1987

   Ansprüche :

   1. Vorrichtung zur Messung kleiner Längen, mit einer in Richtung der zu messenden Länge beweglich gelagerten Tastspitze, mit einem Wandler zur !Anwandlung der Bewegungen der Tastspitze in entsprechende elektrische Signale und mit einer Anzeigeeinrichtung zur Anzeige dieser Signale, dadurch gekennzeichnet, daS der Wandler ein optisches Interferometer enthält, das einen Meßwelleniei .er (2) aufweist, dessen eines Ende mit einem Laser (6) und dessen anderes Ende mit einer optischen Ein richtung verbunden ist, die das Licht auf einen im Abstand angeordneten Meßspiegel richtet, der das Licht zu der optischen Einrichtung zurückwirft und der mit der Tastspitze oder einem sich mit dieser bewegenden Teil (12) verbunden ist, daß das Interferometer einen Bezugswellenleiter (3) aufweist, der mit dem Meßwellenleiter (2) gekoppelt ist, an seinem einen Ende einen Spiegel (19) und an seinem anderen Ende einen lichtelektrischen Wandler (17) aufweist, der mit der Anzeigeeinrichtung zur Anzeige des elektrischen Ausgangssignals des lichtelektrischen Wandlers

   (17) verbunden ist.

   2, Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dag die optische Einrichtung eine Linsenanordnung oder ein Beugungsgitter (7) ist, die bzw. das dae Licht im wesentlichen parallel auf den Spiegel lenkt.

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   3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Meß spiegel an einem Ende eines zweiarmigen Hebels (12) befindet, dessen anderes Ende die Tastspitze (14) aufweist.

   4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sich der Meßspiegel an einem Ende eines parallel geführten Meßstößeis (28) befindet, dessen anderes Ende die Tastspitze (29) aufweist.

   5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch &ngr; e k e &eegr; &eegr; zeichnet, daß der Meßspiegel ein Planspiegel, ein Tripelspiegel (9) oder eine Glaskugel ist.

   6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigeeinrichtung ein Zähler ist.

   7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Bezugswellenleiter mit einem Abzweigwellenleiter (4) gekoppelt ist, dessen Ende mit einem weiteren lichtelektrischen Wandler (22) verbunden ist und der eine Phaseneinstelleinrichtung (23-26) zur Einstellung der Phase an dem weiteren lichtelektrischen Wandler (22) aufweist, derart, daß die Phase des Lichts an dem weiteren lichtelektrischen Wandler (22) um 90° verschoben ist gegenüber dem an den Bezugswellenleiter (3) angeschlossenen lichtelektrischen Wandler (17) und so ein Drehfeld gebildet ist, und daß eine Einrichtung (Fig. 4; 17-26) vorgesehen ist, die die Drehrichtung des Drehfeldes bestimmt und in Abhängigkeit davon die Zählrichtung des als Vor-Rückwärtszähler ausgebildeten Zählere steuert.

   8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß «ine Teilereinrichtung vorgesehen ist, die einen Drehfeldumlauf in eine Anzahl von Einzelwerten unterteilt, und daß der Vor-Rückwärtszähler diese Einzelwerte zählt.

   9. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 7, dadurch gekennzeichnet/ daß der Meßwellenleiter (2), der Bezugswellenleiter (3) bzw. der Abzweigwellenleiter (4) in an sich bekannter Weise in oder auf der Oberfläche einer gemeinsamen Platte (1) gebildet sind, daß der Laser (6) und/oder die lichtelektrischen Wandler (17, 22) unmittelbar an einer Kante (5) der Platte (1) angebracht sind, an der das zugehörige Ende des jeweiligen Wellenleiters (2, 3, 4) endet, und daß der an dem einen Ende des Bezugswellenleiters (3) angeordnete Spiegel (19) durch eine spiegelnde, insbesondere verspiegelte Seitenkante (18) der Platte (1) gebildet ist, bis zu der sich der Bezugswellenleiter (3) erstreckt.

   10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Phaseneinstelleinrichtung durch zwei Elektroden (23, 24) gebildet ist, die sich zu beiden Seiten des Abzweigleiters (4) über einen Teil desselben erstrecken und an eine einstellbare Gleichspannung angeschlossen sind.

   11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die das Licht auf den Meßspiegel richtende optische Einrichtung durch ein Beugungsgitter (7) gebildet ist, das auf der Oberfläche der Platte (1) angeordnet ist.

   12. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die lichtelektrischen Wandler (17, 22) und/oder der Laser in die Platte (1) integriert sind.

   13. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein optoelektronischer Entfernungsmesser vorgesehen ist, der ein von der Entfernung der Tastspitze zu dem Interferometer abhängiges elektrisches Signal erzeugt, und daß Mittel vorgesehen sind, die auf einen vorgegebenen Wert des elektrischen Signals an-

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   sprechen und den Zähler auf null stellen.

   14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der optoelektronische Entfernungsmesser ein Fokuslagenmeßsystem ist mit einem Laser (57), dessen Licht über eine erste Fokussiereinrichtung auf einen an der Tastspitze oder einem sich mit dieser bewegenden Einrichtung (41, 49, 50) angeordneten Spiegel (51) fällt, der das Licht in die Fokussiereinrichtung zurückwirft, der eine zweite Fokussiereinrichtung naehgeordnet ist, die das Licht auf zwei dicht benachbarte Fotodioden (65, 66) fokussiert, derart, daß bei genau im Fokus liegenden Spiegel (51) der Fokus des auf die Fotodioden (65, 66) fokussierten Lichts symmetrisch auf oder zwischen die Fotodioden (65, 66) fällt, wobei an die Fotodioden (65, 66) ein Vergleicher angeschlossen ist, der bei Gleichheit der von den beiden Fotodioden (65, 66) abgegebenen elektrischen Signale ein Ausgangssignal erzeugt, das den mit dem Vergleicher verbundenen Zähler auf null zurückstellt.

   15. Vorrichtung nach Anspruch 14, gekennzeichnet durch eine Platte (54) mit einer lichtleitenden Schicht (56), in der die erste und zweite Fokussiereinrichtung in an sich bekannter Weise als Fokussiergitter (60, 59) ausgebildet und an die der Laser (57) und die Fotodioden (65, 66) angekoppelt sind.

   16. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß der Laser (6) für das Fokuslagenmeßsystem durch den Laser (6) für das Interferometer gebildet ist, daß der Spiegel der Meßspiegel (71) ist und daß in dem Meßwellenleiter (2) schräg ein. teildurchlässiger Spiegel (73) angeordnet ist, der einen Teil des von dem Meßspiegel (71) reflektierten Lichts abzweigt und auf die zweite Fokussiereinrichtung (75, 76) lenkt.

   17. Vorrichtung nach den Ansprüchen 9 und 15, dadurch

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   gekennzeichnet, daß die beiden Platten (1, 54) für das Interferrometer und das Fokuslagenmeßs ystem flächig miteinander verklebt sind oder wenigstens teilweise aus einem gemeinsamen Stück bestehen.

   18. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß vorzugsweise dicht über dem ersten Fokussiergitter (V) ein Umlenkspiegel (72) mit einer Neigung von ungefähr 45° zur Platte (69) angeordnet ist.