DE840124C - Arrangement on cathode ray tubes - Google Patents

Arrangement on cathode ray tubes

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Publication number
DE840124C
DE840124C DEC2736A DEC0002736A DE840124C DE 840124 C DE840124 C DE 840124C DE C2736 A DEC2736 A DE C2736A DE C0002736 A DEC0002736 A DE C0002736A DE 840124 C DE840124 C DE 840124C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
arrangement
cathode ray
ray tubes
plates
deflection
Prior art date
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Expired
Application number
DEC2736A
Other languages
German (de)
Inventor
Rene Barthe Fontenay-Aux-Roses
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Compteurs Schlumberger SA
Original Assignee
Compteurs Schlumberger SA
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Application granted granted Critical
Publication of DE840124C publication Critical patent/DE840124C/en
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/02Cathode ray tubes; Electron beam tubes having one or more output electrodes which may be impacted selectively by the ray or beam, and onto, from, or over which the ray or beam may be deflected or de-focused

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Description

Die Ablenkempfindlichkeit von Kathodenstrahlröhren wird im allgemeinen in Millimeter der Leuchtfleckverschiebung pro Volt der den Ablenkplatten zugeführten Spannung ausgedrückt. Diese Empfindlichkeit ist proportional zu der Länge des Strahles zwischen diesen Platten und dem Leuchtschirm des Kolbens. Man könnte sie daher durch Ausbildung eines sehr langen Kolbens steigern, jedoch besitzt eine solche Ausbildung zahlreiche Nachteile.The deflection sensitivity of cathode ray tubes is generally increased in millimeters of the spot displacement per volt of the deflection plates supplied Expressed tension. This sensitivity is proportional to the length of the beam between these plates and the flask's luminescent screen. You could therefore go through it Increase training of a very long piston, but has such a training numerous disadvantages.

Die Erfindung ermöglicht es, ein gleichwertiges Ergebnis wie mit einer sehr langen Röhre, aber unter Beibehaltung eines verhältnismäßig beschränkten Raumbedarfs zu erzielen. Sie beruht auf der in der Zeichnung schematisch dargestellten Anordnung.The invention makes it possible to obtain an equivalent result as with a very long tube, but while maintaining a relatively limited space requirement to achieve. It is based on the arrangement shown schematically in the drawing.

Nach der Zeichnung liefert ein Elektronenerzeuger C ein Bündel F, welches zwischen den Ablenkplatten P1 und P2 hindurchgeht. Dieses Bündel, welches beispielsweise parallel zu der Achse O Y des Bezugssystems O X YZ ist, durchdringt die Ebene X O Z bei A. Es sei angenommen, daß es von diesem Punkt an einem zu O X parallelen Magnetfeld Hx unterworfen ist. Die Elektronen beschreiben dann, wenn Hx gleichförmig ist, eine Schraubenlinie mit einer gewissen Steigung und treffen nach n. Umläufen, z. B. in der Ebene X O Z, bei Al'auf eine Leuchtfläche. Wenn man den Platten eine Potentialdifferenz zuführt, wird der erste Auf stoß des Bündels auf der Ebene X O Z nach A' verschoben, wobei die anfängliche Ablenkung durch den Abstand A-A' gemessen wird. Die Komponente der Geschwindigkeit in der Richtung O X wird erhöht und die Steigung der Schraubenlinie vergrößert. Am Ende von n Umläufen wird der letzte Aufstoß auf der Leuchtschicht nach A; verschoben. Wie ersichtlich, ist die letzte Verschiebung Al-Al' merklich größer als A-A', und die Zunahme ist eine Funktion der Anzahl n der Elektronenumläufe. Die Wirkung ist dieselbe, wie wenn man die letzte Ablenkung Al-Al' mit einem geradlinigen Bündel herstellen würde, welches die Länge der abgewickelten Schraubenlinie besitzt. Offenbar liegt der Vorteil in der Verminderung des von dem Bündel eingenommenen Raumes. Insbesondere erzielt man ein Minimum an Raumbedarf und ein Maximum an Empfindlichkeit, wenn man eine Anfangsrichtung des Bündels bei Abwesenheit jeder Potentialdifferenz zwischen den Platten wählt, die zu dem Feld Hx senkrecht steht. Unter diesen Umständen beschränkt sich die Schraubenlinie in der Nullage auf einen Kreis.According to the drawing, an electron generator C delivers a beam F which passes between the baffles P1 and P2. This bundle, which is, for example, parallel to the axis OY of the reference system OX YZ, penetrates the plane XOZ at A. It is assumed that from this point it is subjected to a magnetic field Hx parallel to OX. If Hx is uniform, the electrons describe a helix with a certain slope and meet after nth revolutions, e.g. B. in the plane XOZ, at Al 'on a luminous surface. If a potential difference is applied to the plates, the first impact of the bundle on the plane XOZ is shifted to A ', the initial deflection being measured by the distance AA'. The component of the speed in the direction OX is increased and the pitch of the helix is increased. At the end of n revolutions, the last impact on the luminescent layer is after A; postponed. As can be seen, the final Al-Al 'shift is markedly larger than A-A' and the increase is a function of the number n of electron revolutions. The effect is the same as if one were to produce the last deflection Al-Al 'with a straight bundle which has the length of the unwound helix. Apparently the advantage lies in the reduction of the space occupied by the bundle. In particular, a minimum of space and a maximum of sensitivity is obtained by choosing an initial direction of the beam in the absence of any potential difference between the plates which is perpendicular to the field Hx. Under these circumstances the helix is limited to a circle in the zero position.

Die Empfindlichkeitszunahme kann noch in einem großen Verhältnis erhöht werden, wenn darauf geachtet wird, daß die anfängliche Ablenkung des Bündels für einen gegebenen Endabstand verhältnismäßig klein ist und daß die Entfernung zwischen den Ablenkplatten erheblich vermindert werden kann, ohne daß das Bündel auf die Ränder trifft.The increase in sensitivity can still be increased in a large proportion if care is taken that the initial deflection of the beam for a given end distance is relatively small and that the distance between the baffles can be reduced significantly without the bundle on the Edges meet.

Neben den Anwendungen zu Meßzwecken eignet sich diese Anordnung für alle mit einem Verstärker durchführbaren Anwendungen: Modulation eines Bündels, welches in eine in der Nähe von A' angeordnete Blende geht, Unterhaltung von Schwingungen durch Rückkopplung eines geeigneten Ausgangskreises auf die Ablenkplatten USW. In addition to the applications for measuring purposes, this arrangement is suitable for all applications that can be carried out with an amplifier: modulation of a beam which goes into a diaphragm arranged in the vicinity of A ', maintenance of vibrations by feeding back a suitable output circuit to the deflection plates, etc.

Wohlgemerkt können diese Platten durch ein elektromagnetisches Ablenksystem ersetzt werden, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.Mind you, these plates can be deflected by an electromagnetic system can be replaced without departing from the scope of the invention.

Claims (1)

PATEN TANSPRCCHE: i. Anordnung an Kathodenstrahlröhren, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahl nach Durchlauf durch die üblichen Ablenkeinrichtungen durch ein Magnetfeld gewendelt wird. a. Anordnung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß das Magnetfeld zu der geradlinigen Anfangsrichtung des Strahles senkrecht verläuft. PATENT CLAIMS: i. Arrangement on cathode ray tubes, characterized in that the beam is coiled by a magnetic field after passing through the usual deflection devices. a. Arrangement according to claim i, characterized in that the magnetic field runs perpendicular to the straight line starting direction of the beam.
DEC2736A 1942-10-23 1950-09-29 Arrangement on cathode ray tubes Expired DE840124C (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR840124X 1942-10-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE840124C true DE840124C (en) 1952-05-29

Family

ID=9300516

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEC2736A Expired DE840124C (en) 1942-10-23 1950-09-29 Arrangement on cathode ray tubes

Country Status (1)

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DE (1) DE840124C (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6989243B2 (en) 2000-02-02 2006-01-24 Lifescan, Inc. Method of determining the concentration of an analyte in a physiological sample

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6989243B2 (en) 2000-02-02 2006-01-24 Lifescan, Inc. Method of determining the concentration of an analyte in a physiological sample

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