DE760135C - Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope with high resolution (over microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image) - Google Patents

Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope with high resolution (over microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image)

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DE760135C
DE760135C DEL97579D DEL0097579D DE760135C DE 760135 C DE760135 C DE 760135C DE L97579 D DEL97579 D DE L97579D DE L0097579 D DEL0097579 D DE L0097579D DE 760135 C DE760135 C DE 760135C
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement

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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Auflösung (Übermikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild) In einem zweistufigen Elektronenmikroskop, besonders also in einem. Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop), besteht das Bedürfnis, außer dem hochvergrößerten Bild der zweiten Stufe noch ein Bild geringer Vergrößerung zu haben, welches einerseits eineBestimmung des gewähltenBildausschnitts ermöglicht, andererseits durch die Bezugnahme auf spezielle Einzelheiten die Vergrößerung zu bestimmen gestattet. Es ist bereits bekannt, zu diesem Zwecke das Zwischenbild auf einem. in der Zwischenbildebene befindlichen Leuchtschirm sichtbar zu machen. Diese Anordnung erweist sich jedoch beim praktischen Gebrauch des Elektronenmikroskops (Übermikroskops) als äußerst unzweckmäßig, da bei der großen Länge des Mikroskops eine gleichzeitige Beobachtung des Bildes der ersten Stufe und desjenigen der zweiten Stufe nicht möglich ist, Man kann nicht erreichen, daß der Beobachter, der das Bild der zweiten Stufe betrachtet, ohne seinen Platz zu wechseln, auch das Bild der ersten Stufe sehen kann. Die Erfindung will diesen in der Praxis erheblichen Mangel beseitigen, indem sie davon abgeht, daß das Zwischenbild beobachtet wird.Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope high resolution (over microscope), and with an overview image of low magnification (Intermediate image) In a two-stage electron microscope, especially in one. A high magnification electron microscope (super microscope) exists, besides the high-magnification image of the second stage is still a lower-magnification image which, on the one hand, enables the selected image section to be determined, on the other hand, by referring to specific details, the enlargement increases determine permitted. It is already known to use the intermediate image for this purpose one. to make visible the luminescent screen located in the intermediate image plane. These However, the arrangement is found in practical use of the electron microscope (Over microscope) as extremely inexpedient because of the great length of the microscope simultaneous observation of the image of the first stage and that of the second Stage is not possible, one cannot reach the observer who is the picture of the second stage, without changing its place, also looks at the image of the first Level can see. The invention aims to eliminate this deficiency, which is considerable in practice, by assuming that the intermediate image is observed.

Es ist bereits eine Anordnung zur Beobachtung der im Strahlengang eines Elektronenmikroskops mit zwei oder mehr elektronen@ optischen Vergrößerungsstufen auftretenden elektronenoptischen Bilder torgeschlagen «-orden. bei der an den Stellen der Bilder mit einem oder mehreren Löchern versehene Leuchtschirme. die als Marstab ausgebildet sein können, vorgesehen sind. Bei dieser An- ordnung können die Auffangschirme gegebe- nenfalls wahlweise durch Klappen in den Strahlengang gebracht oder aus ihm entfernt ,werden, um nur mit dem Objektiv arbeiten zu können. Gemäß der Erfindung bildet eine zwischen der Linse der ersten Stufe und der Zwischen- bildeb2ne angebrachte Hilfslinse ein Bild so in die Leuchtschirmebene ab, daß die engste Stelle des die Abbildung vermittelnden Strahlenganges in der nun ausgeschalteten Linse der zweiten Stufe liegt. Die gleiche Wirkung läßt sich erzielen, wenn nach der Erfindung eine zwischen der Linse der ersten Stufe und der Zwischenbild- ebenA angebrachte Hilfslinse bei ausgeschal- teter Linse der ersten Stufe ein gegenüber dem Gegenstand vorzugsweise i : i abgebil- detes Hilfsbild in der Zwischenbildebene ent- wirft, «,-elches alsdann die Linse der zweiten Stufe auf den Leuchtschirm abbildet. Ferner kann nach der Erfindung bei Aus- schaltung der Linse der zweiten Stufe unter Ausnutzung der geringen Divergenz der ab- bildenden Strahlung die Linse der ersten Stufe, gegebenenfalls unter Änderung der Brennweite. das Bild unmittelbar auf den Leuchtschirm werfen. Gegebenenfalls sind dabei die Linse der zweiten Stufe, zum'ndest die Blenden geringer C)fnung ;. und ge- geb°nenfalls di°Zwischenbildblende bewegbar angeordnet, daß sie aus dem Strahlengang zu entfernen. vorzugsweise herauszuklappen, sind. Es kann auch zweckmäßig sein, die An- ordnung so auszubilden, daß eine zwischen der Linse der zweiten Stufe und der Zwischen- bildebene angebrachte Hilfslinse im Zusam- menivirken mit der Linse der ersten Stufe ein gegenüber dem Zwischenbild verkleinertes, gegenüber dem Gegenstand vorzugsweise i : i abgebildetes Hilfsbild entwirft. welches die Linse der zweiten Stufe alsdann auf den l Leuchtschirm abbildet. Die Beobachtung des Zwischenbildleucht- schirmes kann überdies nach der Erfindung vermieden i:-erderi. @v°nnbei Abbildungdtircli- strahlter oder bestrahlter Objekte zur Erzie- lung einer genügend kleinen Divergenz zwi- schen Objekt und Strahlerzeugungssystein eine Hilfslinse einen in der 'Nähe des Objek- tes liegenden Elektronenfleck derart herstellt, ! daß die durch diesen Fleck gellend-n Elektro- nen ein Schattenbild geringer Vergrößerung in der Zwischenbildbene entwerfen. Bei einem Elektronenmikroskop mit zwei- ; stufiger Abbildung, insbesondere einem Elek- 3 trotrentnihroacap hoher Vergrößerung (Cber- inikroskol). ,und mit einen #Cbersichtsbild geringer Vergrößerung ohne Zwisclieiiliildleuclitscliii-iii ist ferner die Mög- lichkeit gegeben, daß bei Ausschaltung der Linse der ersten Stute unter Ausnutzung der geringen Divergenz der abbildenden Strahlung die Linse der zweiten Stufe ,vie bei der z«-ei- lachen Abbildung die Zwischenbildel)ene auf i den Leuchtschirm abbildet. Der Gegenstand der Erfindung ist iiii folgen- ' den an Hand der Abbildungen nähr erläutert. In Abb. i bedeutet G den Gegeiistaild, der durchstrahlt oder bestrahlt «-erden kann oder 4 auch selbst zur Emission von Elektronen ge- efgn.et sein kann. Das Bild dieses Cegen- standeswird mit Hilfeeiner-erst-en elektrischen oder magnetischen Linse I abgebildet. Es ent- i steht ein Zwischctibild Z_. In der Ebene dieses Bildes ist vielfach, aber nicht notwendiger- weise. eine Blende B angebracht. 'Mit Hilfe einer weiteren elektrischen oder magnetischen Linse II wird dieses Zwischenbild in die Ebene des zweiten Bildes, die im folgenden kurz Leuchtschirm genannt wird und mit I_ bezeichnet ist, abgebildet. -Natürlich können statt des Leuchtschirms im Bedarfsfalle auch andere Auffanglektroden. wie z. B. photo- grarhische Platten oder Abtastson(Ien, ein- gesetzt «-erden. Eine Möglichkeit. in der Leuchtschirmebene ein L be:-siclitst),ld zu erhalten. besteht null darin. die Linse I der ersten Stufe auszuschalten und wie vorli.r mit der Linse der zweiten Stufe die Zwischen- bildebene auf den Leuchtschirm abzubilden. nee den hohen Spannungen, mit denen ein Elelztroneiimil#:roslzop hoher Vergrößerung be- trieben werden muß, ist nämlich im allgemei- nen die Strahlung so wenig divergent, daß praktisch in der Zwischenhildebene bei aus- geschalteter erster Linse ein Schattenbild des Objektes entstellt, welche: dann von der zweiten Linse abgebildet werden kann. Das Übersichtsbild entsteht in diesem Falle also nur in der der Vergrößerung der zweiten Stufe entsprechenden Vergrößerung. Es ist möglich, zur Erzielung einer ge- nügend kleinen Divergenz bei der Abbildung bestrahlter oder durchstrahlter Obiekte be- sondere Hilfsmittel vorzusehen. -Man kann z. B. zwischen Objekt und Bestrahlungsquelle eine Hilfslinse anordil°n. welche die von der Strahlenquelle ausgehende Strahlung in einen Fleck konzentriert. der in der \ ähe des Objektes liegt. Es verläuft also die abbildende Strahlung durch einen Punkt und entwirft, weine dieser Punkt nicht zu nahe am Objekt liegt. von diesem ein Schattenbild geringer Vergrößerung in die Zwisclienbildebene. In ähnlicher Weise kann man. die Linse der zweiten ,Stufe ausschalten und mit der Linse der ersten Stufe das Bild unmittelbar auf den Leuchtschirm werfen. Gegenüber dem Zwischenbild ist. dieses Leuchtschirmbild wegen der größeren Entfernung in geringem Maße vergrößert. Diese Vergrößerung kann man durch entsprechende Änderung der Brennweite der ersten Linse wieder kompensieren. Auch in diesem Falle wird von der geringen Divergenz der abbildenden Strahlung Gebrauch gemacht; praktisch erscheint auch ohne besondere Nachstellung der Linse das Bild in der Leuchtschirmebene scharf. Allerdings wirkt hier die zweite Linse mit ihren engen Blenden oder Polschuhen als Begrenzung des Bildfeldes. Es ist daher zweckmäßig, diese Linse oder zum. mindesten die engen Blenden dieser Linse aus dem Strahlengang zu entfernen Zweckmäßig ist daher, die ganze Linse bzw. die Blenden geringer Öffnung, klappbar anzuordnen. -Ist in der Zwischenbildebene eine Blende vorgesehen, so wird auch diese zweckmäßig bei der Herstellung des Zwischenbildes entfernt, z. B. aus dem Strahlengang geklappt.It is already an arrangement for observing the in the beam path of an electron microscope with two or more electrons @ optical magnification levels occurring defeated electron optical images "-medal. at the places of the pictures provided with one or more holes Luminous screens. who trained as a martyr can be provided. At this the safety screens can be provided if necessary, optionally by flaps into the Beam path brought or removed from it , are going to only work with the lens to be able to. According to the invention, one forms between the lens of the first stage and the intermediate bildeb2ne attached auxiliary lens a picture like this into the luminescent screen level that the closest Place of the mediating figure Beam path in the now switched off Second stage lens is located. The same effect can be achieved if according to the invention one between the First stage lens and intermediate image Auxiliary lens that has just been attached when the teter lens of the first stage one opposite the object preferably i: i depicted the auxiliary image in the intermediate image plane throws, "- what then the lens of the second Level on the luminescent screen. Furthermore, according to the invention, when training switching the lens of the second stage under Utilization of the low divergence of the forming radiation the lens of the first Stage, if necessary by changing the Focal length. the image immediately on the Throw fluorescent screen. If applicable, are at the same time the lens of the second stage, at least one the apertures lower C) fnun g ; . and If necessary, the intermediate image diaphragm can be moved arranged that they are out of the beam path to remove. preferably to fold out, are. It can also be useful to order so that one between the second stage lens and the intermediate auxiliary lens attached to the image plane in menivirken with the first stage lens a smaller than the intermediate image, over the object preferably i: i illustrated auxiliary image designs. which the Lens of the second stage then on the first Luminous screen depicts. The observation of the intermediate image luminous umbrella can also according to the invention avoided i: -erderi. @ v ° nnbei picturedtircli- radiated or irradiated objects to educate a sufficiently small divergence between between object and beam generating system an auxiliary lens near the object tes lying electron spot in such a way! that the electro- a shadow image of low magnification design in the intermediate image plane. With an electron microscope with two ; stepped mapping, in particular an elec- 3 trotrentnihroacap high magnification (cber- inicroscol). , and with a #Coverview picture low magnification without In the meantime, there is also the possibility of possibility given that when the Lens of the first mare taking advantage of the low divergence of the imaging radiation the lens of the second stage, as in the case of the z «-ei- laugh out the intermediate images i shows the luminescent screen. The subject of the invention is iiii the following 'which is explained in detail on the basis of the illustrations. In Fig. I, G means the opposite, the irradiated or irradiated «- can or 4 also used to emit electrons efgn.et can be. The picture of this status is achieved with the help of a first electrical or magnetic lens I. It is i is an intermediate image Z_. In the plane of this Image is multiple, but not necessary- way. a panel B attached. 'With help another electric or magnetic Lens II is this intermediate image in the Level of the second image, the following is called fluorescent screen for short and with I_ is designated, shown. -Of course you can instead of the fluorescent screen, if necessary other collecting electrodes. such as B. photo- Grammar plates or scanning son (Ien, a set «-ground. A possibility. in the Luminous screen level a L be: -siclitst), ld to obtain. is zero in it. the lens I the switch off the first level and press as above the lens of the second stage the intermediate image plane on the luminescent screen. nee the high tensions with which one Elelztroneiimil #: roslzop high magnification loading must be driven is in general The radiation diverges so little that practically in the interdigid plane with switched first lens a silhouette of the Object disfigured, which: then by the second lens can be imaged. That In this case, an overview image is created only in the enlargement of the second Level corresponding to the magnification. It is possible to achieve a good sufficiently small divergence in the image irradiated or irradiated objects special aids are to be provided. -One can z. B. between object and radiation source an auxiliary lens anordil ° n. which of the Radiation source outgoing radiation in one Concentrated spot. the one near the Object lies. So it is the imaging Radiation through a point and drafts, don't cry this point too close to the object lies. of this one less shadow Enlargement in the intermediate image plane. Similarly, you can. switch off the lens of the second stage and use the lens of the first stage to cast the image directly onto the fluorescent screen. Opposite the intermediate image is. this fluorescent screen is enlarged slightly because of the greater distance. This enlargement can be compensated for by changing the focal length of the first lens accordingly. In this case too, use is made of the slight divergence of the imaging radiation; in practice, the image in the plane of the luminescent screen appears sharp even without special adjustment of the lens. However, here the second lens with its narrow diaphragms or pole pieces acts as a delimitation of the image field. It is therefore appropriate to use this lens or to. To remove at least the narrow diaphragms of this lens from the beam path, it is therefore expedient to arrange the entire lens or the diaphragms with a small opening so that they can be folded. -If a diaphragm is provided in the intermediate image plane, this is also expediently removed during the production of the intermediate image, e.g. B. folded out of the beam path.

Eine andere Möglichkeit zur Beobachtung des Zwischenbildes sei an Hand der Abb. 2 beschrieben. Die Bezeichnungen haben hier dieselbe Bedeutung wie in Abb. i. Gegenüber dem Elektronenmikroskop nach Abb. i ist hier aber noch eine Hilfslinse H vorgesehen. Auch hier wird zur Erzeugung des Übersichtsbildes, wie soeben beschrieben, die Linse II ausgeschaltet. Um aber zu vermeiden, daß die Elektroden oder Polschuhe als Blenden wirken, ist die Hilfslinse 9 so eingestellt, daß der durch sie und die Linse I erzeugte Strahlengang seine engste Stelle in der Linse II hat. Wegen der geringen Entfernung zwischen der Linse II und der Blende B wird dadurch praktisch zugleich erreicht, da,ß die Strahlung auch die Blendenöffnung B ungehindert durchsetzt. Ort und Brennweite der Hilfslinse H sind dabei so eingestellt, daß das Übersichtsbild in der Leuchtschirmebene keine zu hohe Vergrößerung aufweist. Zur Beobachtung des Bildes der zweiten Stufe wird dann die Hilfslinse H wieder ausgeschaltet und die Linse II eingeschaltet.Another possibility to observe the intermediate image is on Hand of Fig. 2 described. The terms here have the same meaning as in Fig. i. Compared to the electron microscope according to Fig. I, there is one more Auxiliary lens H is provided. Here too, how to generate the overview image just described, the lens II switched off. But to avoid that the electrodes or pole shoes act as apertures, the auxiliary lens 9 is set so that the through it and the lens I, the beam path produced its narrowest point in the lens II has. Because of the small distance between the lens II and the diaphragm B. thereby practically at the same time achieved that the radiation also the aperture B penetrated unhindered. The location and focal length of the auxiliary lens H are set so that that the overview image in the luminescent screen plane does not have too high a magnification. The auxiliary lens H is then switched off again to observe the image of the second stage and the lens II switched on.

Eine andere Möglichkeit, mittels einer Hilfslinse die erwünschte Abbildung zu erhalten, besteht nach Abb. 3 darin, daß man durch Einschalten der Hilfslinse im Zusammenwirken mit der Linse I ein möglichst verkleinertes Bild des Gegenstandes in der Nähe der Zwischenbildebene entwirft. Dieses Bild kann dann wegen der vorhandenen Tiefenschärfe praktisch mit derselben Einstellung der Linse II auf den Leuchtschirm abgebildet werden, wie das Zwischenbild. Bei diesem Verfahren, bei dem zur Erzielung eines Übersichtsbildes sämtliche drei Linsen eingeschaltet sind, soll das mit I und H hergestellte Zwischenbild gegenüber dem eigentlichen Zwischenbild verkleinert, gegenüber dem Objekt aber zweckmäßig im Verhältnis i : i abgebildet sein.Another possibility, using an auxiliary lens, the desired image to get, consists according to Fig. 3 in that one by switching on the auxiliary lens in cooperation with the lens I, an image of the object that is as reduced as possible designs near the intermediate image plane. This image can then be used because of the existing Depth of field practically with the same setting of lens II on the fluorescent screen like the intermediate image. In this process, in which to achieve of an overview image all three lenses are switched on, this should be marked with I. and H produced intermediate image reduced in size compared to the actual intermediate image, but expediently be mapped in relation to the object in the ratio i: i.

Gemäß Abb. q, wird bei sonst ähnlicher Anordnung zurr Erzielung des Übe-rsicht.sbildes die Linse I ausgeschaltet, die Linse H eingeschaltet, so daß diese ein kleineres Zwischenbild in der Zwischenbildebene entwirft, welches gegenüber dem Gegenstand vorzugsweise im Verhältnis i : i abgebildet ist. Dieses kleinere Zwischenbild wird mit Hilfe der Linse II auf den Leuchtschirm ab,-gebildet und liefert das Übersichtsbild.According to Fig. Q, if the arrangement is otherwise similar to achieve the Ube-richt.sbildes the lens I switched off, the lens H switched on, so that this creates a smaller intermediate image in the intermediate image plane, the opposite the object is preferably depicted in the ratio i: i. This smaller one With the help of the lens II, the intermediate image is displayed, -formed and delivered on the fluorescent screen the overview image.

Während das an Hand der Abb. i erläuterte Verfahren, in weitgehendem Maße von der großen Tiefenschärfe der Abbildung Gebrauch macht, was bis zu einem gewissen Grad auch bei dem Verfahren nach Abb.3 der Fall ist, liefern die Verfahren nach Abb. 2 und 4. auch dann brauchbare Ergebnisse, wenn infolge besonderer Eigentümlichkeiten des Strahlenganges die sonst beobachtete Tiefenschärfe nicht vorhanden ist.While the method explained on the basis of Fig. I, to a large extent Measures of the great depth of field of the figure makes use of what up to a To a certain extent this is also the case with the method according to Fig. 3, the methods provide according to Fig. 2 and 4. also usable results if due to special peculiarities of the beam path the otherwise observed depth of field is not available.

Claims (1)

PATENTANSPRÜCHE: i. Elektronenmikroskop, mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein, Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild), dadurch gekennzeichnet, daß eine zwischen der Linse der ersten Stufe und der Z.wischenbildebene angebrachte Hilfslinse ein Bild so in die Leuchtachirmebene, abbildet, daß die engste Stelle des die Abbildung vermittelnden Strahlenganges in der nun ausgeschalteten Linse der zweiten Stufe liegt. z. Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop) und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild), dadurch gekennzeichnet, daß eine zwischen der Linse der ersten Stufe und der Zwischenbildebene angebrachte Hilfslinse bei ausgeschalteter Linse der ersten Stufe ein gegenüber dem Gegenstand vorzugsweise i : i abgebildetes Hilfsbild in der Z.wischenbildebene entwirft, welches alsdann die Linse der zweiten Stufe auf den Leuchtschirm abbildet. 3. Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild). dadurch gekennzeichnet, daß bei Ausschaltung der Linse der zweiten Stufe unter Ausnutzung der geringen Divergenz der abbildenden Strahlung die Linse der ersten Stufe, gegebenenfalls unter Änderung der Brennweite, das Bild unmittelbar auf den Leuchtschirm wirft. .1. Elektronenmikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Linse der zweiten Stufe, zum mindesten die Blenden geringer Öffnung, und gegebenenfalls die Zwischenbildblende b2-,vegbar angeordnet sind, daß sie aus dein Strahlengang zu entfernen. vorzugsweise herauszukIappen, sind. 5. Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild). dadurch gekennzeichnet, daß eine zwischen der Linse der zweiten Stufe und der Zwischenbildebene angebrachte Hilfslinse im Zusammenwirken mit der Linse der ersten Stufe ein gegenüber dem Zwischenbild verkleinertes, gegenüber dem Gegenstand vorzugsweise 1:1 abgebildetes Hilfsbild entwirft, welches die Linse der zweiten Stufe alsdann auf den Leuchtschirm abbildet. 6. Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (tUr- j mikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild). dadurch gekennzeichnet, daß bei Abbildung durchstrahlter oder bestrahlter Objekte zur Erzielung einer genügend kleinen Divergenz zwischen Objekt und Strahlerzeugungssystem eine Hilfslinse einen in der -Nähe des Objektes liegenden Elektronenfleck derart herstellt, daß die durch diesen Fleck gehenden Elektronen ein Schattenbild geringer Vergrößerung in der Zwischenbildebene entwerfen. . Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (LTt)ermikroskop), und mit einem Übersichtsbild geringer Vergrößerung (Zwischenbild) ohne Zwischenbildleuchtschirm. dadurch gekennzeichnet, daß bei Ausschaltung der Linse der ersten Stufe unter _Ausnutzung der geringen Divergenz der abbildenden Strahlung die Linse der zweiten Stufe wie bei der zweifachen Abbildung die Zwischenbildebene auf den Leuchtschirm abbildet. Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden: Deutsche Patentschrift -Nr. 679 857; »A New Electron Microscope« im Journal of Scientific Instruments Vol. _XIV, 1937, S. 17, Fig. I, S.22, Abs.3; Zeitschrift Physik 1934, S. 9.1, Fig. 1; Busch u. Brücke. »Beiträge zur Elektronenoptik«, Leipzig 1937, S..19 bis 51, insbesondere Abb. 56 auf S. 5o.PATENT CLAIMS: i. Electron microscope, with two-stage imaging, in particular an electron microscope of high magnification (super microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image), characterized in that an auxiliary lens attached between the lens of the first stage and the intermediate image plane places an image in the lamp screen plane , shows that the narrowest point of the beam path providing the image lies in the lens of the second stage, which is now switched off. z. Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope with high magnification (super microscope) and with an overview image of low magnification (intermediate image), characterized in that an auxiliary lens attached between the lens of the first stage and the intermediate image plane, when the lens of the first stage is switched off, is preferably one over the object i: i designs the displayed auxiliary image in the intermediate image plane, which then images the lens of the second stage onto the luminescent screen. 3. Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope of high magnification (super microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image). characterized in that when the lens of the second stage is switched off, taking advantage of the slight divergence of the imaging radiation, the lens of the first stage, optionally changing the focal length, throws the image directly onto the luminescent screen. .1. Electron microscope according to Claim 3, characterized in that the lens of the second stage, at least the diaphragms with a small opening, and optionally the intermediate image diaphragm b2- are arranged so that they can be removed from the beam path. preferably to be folded out. 5. Electron microscope with two-stage imaging, in particular an electron microscope of high magnification (super microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image). characterized in that an auxiliary lens attached between the lens of the second stage and the intermediate image plane, in cooperation with the lens of the first stage, creates an auxiliary image which is smaller than the intermediate image and is preferably 1: 1 imaged with respect to the object, which the lens of the second stage then applies to the Luminous screen depicts. 6. Electron microscope with two-stage imaging, in particular a high magnification electron microscope (tUr- j microscope), and with an overview image of low magnification (intermediate image). characterized in that when imaging irradiated or irradiated objects to achieve a sufficiently small divergence between the object and the beam generating system, an auxiliary lens produces an electron spot in the vicinity of the object in such a way that the electrons passing through this spot create a shadow image of low magnification in the intermediate image plane. . Electron microscope with two-stage imaging, in particular a high magnification electron microscope (LTt), and with an overview image of low magnification (intermediate image) without an intermediate fluorescent screen. characterized in that when the lens of the first stage is switched off, taking advantage of the small divergence of the imaging radiation, the lens of the second stage images the intermediate image plane on the luminescent screen as in the case of double imaging. To distinguish the subject matter of the invention from the state of the art, the following publications were taken into account in the granting procedure: German patent specification no. 679,857; "A New Electron Microscope" in the Journal of Scientific Instruments Vol. _XIV, 1937, p. 17, Fig. I, p.22, paragraph 3; Zeitschrift Physik 1934, p. 9.1, Fig. 1; Bush and bridge. "Contributions to electron optics", Leipzig 1937, pp. 19 to 51, especially Fig. 56 on p. 50.
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