DE756196C - Method for adjusting the frequency-temperature coefficient of a piezoelectric crystal - Google Patents

Method for adjusting the frequency-temperature coefficient of a piezoelectric crystal

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DE756196C
DE756196C DEJ61955A DE756196DA DE756196C DE 756196 C DE756196 C DE 756196C DE J61955 A DEJ61955 A DE J61955A DE 756196D A DE756196D A DE 756196DA DE 756196 C DE756196 C DE 756196C
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Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Abgleichen des Temperaturkoeffizienten der Schwingungsfrequenz einer rechteckigen piezoelektrischen Kristallplatte, deren Frequenz im wesentlichen von den Abmessungen ihrer Hauptflächen abhängt, ohne daß bei dem Verfahren eine wesentliche Veränderung der Frequenz der Kristallplatte erfolgt. The invention relates to a method for adjusting the temperature coefficient the oscillation frequency of a rectangular piezoelectric crystal plate, the frequency of which depends essentially on the dimensions depends on their main surfaces without any significant change in the process the frequency of the crystal plate takes place.

Gemäß der Erfindung werden eine oder beide der gegenüberliegenden, zur elektrischen Achse parallelen Hauptflächen einer rechteckigen Kristallplatte teilweise oder in ihrem ganzen Ausmaß derart abgeschliffen,According to the invention, one or both of the opposite, to the electrical Axis parallel main surfaces of a rectangular crystal plate partially or in so polished to their full extent,

daß neue, zur elektrischen Achse und gegebenenfalls zueinander parallele Ebenen entstehen, die mit der optischen Achse einen gegenüber den ursprünglichen ebenen Hauptflächen um geringe Beträge so veränderten Winkel einschließen, daß der Abgleich des Frequenztemperaturkoeffizienten verbessert wird.that new planes are created that are parallel to the electrical axis and possibly to each other, the one with the optical axis opposite the original planar main surfaces Include angle changed by small amounts so that the adjustment of the frequency temperature coefficient improves will.

Es ist bekannt, daß der Temperaturkoeffizient der Frequenz von dem Winkel abhängt, den die Hauptflächen der Kristallplatte mit der optischen Achse einschließen. Von dieser Erkenntnis ausgehend, macht es die Erfindung möglich, den Temperaturkoeffizienten derIt is known that the temperature coefficient of frequency depends on the angle which include the main surfaces of the crystal plate with the optical axis. Of this Based on this knowledge, the invention makes it possible to determine the temperature coefficient of the

Frequenz zu ändern, bei möglichster Konstanz der Frequenz selbst.To change the frequency, with the frequency itself as constant as possible.

In der nachstehenden Beschreibung bedeuten in üblicher Weise X3 Y und Z die elektrisehe, die mechanische und die optische Achse eines piezoelektrischen Kristalls. Die orthogonalen Achsen X', Y' und Z' ergeben die Richtungen der Flächen eines piezoelektrischen Körpers, welcher eine bestimmte Orientierung hinsichtlich der Achsen X3 Y und Z besitzt. Wo die Orientierung durch eine Drehung um die elektrische oder X-Achse erhalten wird, wird als Orientierungswinkel Θ der Winkel zwischen der optischen Achse Z und der Achse Z' bezeichnet.In the following description, X 3 Y and Z are conventionally the electrical, mechanical and optical axes of a piezoelectric crystal. The orthogonal axes X ', Y' and Z 'give the directions of the surfaces of a piezoelectric body which has a certain orientation with respect to the axes X 3 Y and Z. Where the orientation is obtained by a rotation about the electrical or X-axis, the angle between the optical axis Z and the axis Z 'is referred to as the orientation angle Θ.

Wenn eine oder zwei einander nicht gegenüberliegende Hälften der Hauptflächen 2 und 3 des in den Abb. 1 und 2 dargestellten Kristalls ι gleichmäßig abgeschliffen werden, und zwar in dem Bereich I3 so daß neue Ebenen 30 und 32 entstehen, so wird der wirksame Orientierungswinkel Θ etwas erhöht und der Temperaturkoeffizient der Frequenz etwas in positiver Richtung geändert. Werden andererseits eine oder zwei einander nicht gegenüberliegende Hälften der Hauptflächen 2 und 3 gleichmäßig in dem Bereich D abgeschliffen, so daß neue Ebenen 34 und 36 entstehen, so wird der wirksame Orientierungswinkel Θ leicht herabgesetzt und der Temperaturkoeffizient der Frequenz etwas in negativer Richtung geändert. Wenn man also bei dem bestimmten Kristall 1, der ursprünglich in bekannter Weise so geschnitten wurde, daß der Temperaturkoeffizient der Frequenz den Wert Null haben sollte, feststellt, daß er doch einen kleinen negativen oder positiven Temperaturkoeffizienten der Frequenz aufweist, so kann er in den Bereichen / oder D abgeschliffen werden, wodurch der Temperaturkoeffizient der Frequenz genau auf Null gebracht werden kann.If one or two non-opposing halves of the main surfaces 2 and 3 of the crystal ι shown in Figs. 1 and 2 are ground evenly, namely in the area I 3 so that new planes 30 and 32 arise, the effective orientation angle Θ slightly increased and the temperature coefficient of the frequency changed slightly in a positive direction. If, on the other hand, one or two non-opposing halves of the main surfaces 2 and 3 are ground evenly in the area D , so that new planes 34 and 36 are created, the effective orientation angle Θ is slightly reduced and the temperature coefficient of the frequency is changed somewhat in the negative direction. So if you find with the particular crystal 1, which was originally cut in a known manner so that the temperature coefficient of the frequency should have the value zero, that it does have a small negative or positive temperature coefficient of the frequency, then it can in the areas / or D are ground off, whereby the temperature coefficient of the frequency can be brought to exactly zero.

Die eben 'abgeschliffenen Bereiche / und D können einen größeren oder kleineren Teil einer jeden Elektrodenfläche 2 und 3 umfassen oder sich im wesentlichen über die halbe Fläche erstrecken, wie es bei 30, 32, 34 und 36 in den Abb. 1 und 2 dargestellt ist. Wenn die gesamten sich gegenüberliegenden Flächen eben abgeschliffen sind, so können die daraus entstehenden neuen Ebenen einander parallel sein, aber einen geringerenAbstand haben* wie es durch die Ebenen 38 und 39 in der Abb. 2 angedeutet ist. Der wirksame Orientierungswinkel Θ und der Temperaturkoeffizient der Frequenz des Kristalls 1 können bei dicken Platten über einen größeren Bereich als bei dünnen verändert werden.The planar ground areas / and D can comprise a larger or smaller part of each electrode surface 2 and 3 or extend essentially over half the surface, as is shown at 30, 32, 34 and 36 in FIGS. 1 and 2 . If all of the opposing surfaces are ground flat, the resulting new planes can be parallel to one another but have a smaller spacing * as indicated by planes 38 and 39 in FIG. The effective orientation angle Θ and the temperature coefficient of the frequency of the crystal 1 can be changed over a larger range in the case of thick plates than in the case of thin ones.

Die Verringerung der Stärke des Kristalls 1 durch ebenes Abschleifen der Hauptflächen 2 und 3, um den wirksamen Orientierungswinkel und den Temperaturkoeffizienten der Frequenz zu ändern, bewirkt nur eine kleine Veränderung der Frequenz, da die Frequenz des Kristalls nicht von der Stärke, sondern in erster Linie von den Abmessungen der Hauptflächen 2 und 3 abhängig ist. Soll nach dem Abgleich des Temperaturkoeffizienten eine bestimmte Änderung der Frequenz erfolgen, so muß dazu eine Methode gewählt werden, die nicht wieder den Temperaturkoeffizienten beeinflußt. Die in der Literatur beschriebenen Methoden zum Abgleich der Frequenz durch Anbringen einer Rinne oder durch Verbreitern von Teilen des Kristalls gegenüber anderen eignen sich wegen der Beeinflussung des Temperaturkoeffizienten hierzu nicht, dagegen kann in diesem Zusammenhang von einem Vorschlag zur Frequenzverminderung Gebrauch gemacht werden, demzufolge der mittlere Teil oder der Knotenbereich der Hauptflächen um einen bestimmten Betrag dünner gemacht wird, und zwar durch Ausschleifen von symmetrischen sphärischen Höhlungen 40 und 42 in der Abb. i. Die Frequenz des Kristalls 1 kann danach durch symmetrisches Abschleifen des Randes einer jeden Hauptfläche 2 und 3 wieder erhöht werden, wie bei 44 und 45 in der Abb. 1 dargestellt ist. Während die Frequenz des Kristalls χ auch durch Abschleifen einer oder aller vier Kanten 4 bis 7 erhöht werden kann, wodurch die Elektrodenflächen 2 und 3 verringert werden, verändert das vorhin beschriebene Verfahren zur Erhöhung oder zur Herabsetzung der Frequenz die Frequenz weniger, als wenn die Kanten abgeschliffen werden. Wenn eine Platte durch symmetrisches Ausschleifen der Mitte oder der Randzone dünner gemacht wird, kann die Frequenz auf einen bestimmten Wert herab- oder heraufgesetzt werden, ohne daß der wirksame Orientierungswinkel oder der Temperaturkoeffizient der Frequenz verändert wird.The reduction in the thickness of the crystal 1 by grinding the main surfaces 2 evenly and 3, the effective orientation angle and the temperature coefficient of the Changing frequency causes only a small change in frequency as frequency changes of the crystal not on the strength, but primarily on the dimensions of the Main surfaces 2 and 3 is dependent. Should be after the temperature coefficient has been calibrated If a certain change in frequency occurs, a method must be selected that does not again use the temperature coefficient influenced. The methods described in the literature for adjusting the frequency by attaching a gutter or by widening parts of the crystal towards others are suitable because of the influence of the temperature coefficient does not do this, on the other hand, in this context, a suggestion to reduce the frequency Use can be made, accordingly, the central part or the node area of the main surfaces around a certain Amount is made thinner by grinding out symmetrical spherical cavities 40 and 42 in the Fig.i. The frequency of the crystal 1 can then be adjusted by symmetrically grinding the Edge of each major surface 2 and 3 can be raised again, as at 44 and 45 in Fig. 1 is shown. While the frequency of the crystal χ also by grinding one or all four edges 4 to 7 can be raised, whereby the electrode surfaces 2 and 3 are decreased, changes the previously described method for increasing or to lower the frequency, the frequency is less than when the edges are ground off will. If a plate by symmetrically grinding out the center or the edge zone is made thinner, the frequency can be decreased or increased to a certain value without affecting the effective orientation angle or the temperature coefficient the frequency is changed.

Claims (2)

PaTENTANSPKÜCHE:PATENT KITCHEN: i. Verfahren zum Abgleichen des Frequenztemperaturkoeffizienten einer rechteckigen piezoelektrischen Kristallplatte, bei der die Frequenz in erster Linie von den Abmessungen ihrer Hauptflächen abhängt, dadurch gekennzeichnet, daß eine oder beide der gegenüberliegenden, zur elektrischen Achse parallelen Hauptflächen der Kristallplatte teilweise oder in ihrem ganzen Ausmaß derart abgeschliffen werden, daß neue, zur elektrischen Achse und gegebenenfalls zueinander parallele Ebenen (30, 32 oder 34, 36 bzw. 38, 39) entstehen, die mit der optischen Achse einen gegenüber den ursprünglichen ebeneni. Method for adjusting the frequency temperature coefficient a rectangular piezoelectric crystal plate in which the frequency is primarily from depends on the dimensions of their major surfaces, characterized in that one or both of the opposite, for electrical axis parallel main surfaces of the crystal plate partially or in their The entire extent are ground off in such a way that new ones are parallel to the electrical axis and, if necessary, to each other Planes (30, 32 or 34, 36 or 38, 39) are created that coincide with the optical axis one across from the original levels Hauptflächen um geringe Beträge so veränderten Winkel einschließen, daß der Abgleich des Frequenztemperaturkoeffizienten verbessert wird.Include major surfaces by small amounts so changed angles that the Adjustment of the frequency temperature coefficient is improved. 2. Verfahren zur Änderung der Frequenz einer nach dem Verfahren gemäß Anspruch ι in ihrem Frequenztemperaturkoeffizienten abgeglichenen rechteckigen Kristallplatte, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenz der Kristallplatte durch Ausschleifen von symmetrischen sphärischen Höhlungen im mittleren Teil oder im Knotenbereich der Hauptflächen verringert bzw. durch Dünnerschleifen ihrer Randzonen oder durch Abschleifen einer oder mehrerer Kanten erhöht wird.2. Procedure for changing the frequency of a according to the procedure Claim ι in their frequency temperature coefficient balanced rectangular Crystal plate, characterized in that the frequency of the crystal plate by Reduced grinding of symmetrical spherical cavities in the central part or in the nodal area of the main surfaces or is increased by thinning their edge zones or by sanding off one or more edges. Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden:To differentiate the subject matter of the invention from the state of the art, the granting procedure the following publications have been considered: Deutsche Patentschrift Nr. 509162; USA.-Patentschriften Nr. 1 925 577, 2 018 246;German Patent No. 509162; U.S. Patents No. 1 925 577, 2,018,246; Zeitschrift für Hochfrequenztechnik, Nov. 1934, Heft 5, S. 145 ff., insbes. Abschnitt II, S. 153 ft"., insbes. Absatz b, S. 159 fr.Journal for High Frequency Technology, Nov. 1934, Issue 5, pp. 145 ff., Esp. Section II, p. 153 ft "., Esp. Paragraph b, p. 159 fr. Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings © 5705 2.53© 5705 2.53
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